JP2003078583A - 試験システムの測定情報設定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試験システムの測定情報３４を簡単に設定可
能とする。 【解決手段】 試験対象１に接続されるポート１２を有
した物理ＩＦモジュール１１を介して各試験対象に対す
る試験を実施する複数の試験機７と、各試験機を管理す
る管理機４０とをネットワーク８で接続した試験システ
ムの測定情報設定装置において、各試験機に対して、自
己の各ポートに接続される試験対象に対して実施される
試験の測定項目と測定条件を含む測定情報３４を記憶す
る測定情報ファイル３３を設け、管理機４０に対して、
試験システム全体の測定情報を記憶するシステム全体測
定情報ファイル４７を設けている。そして、システム全
体測定情報ファイル４７に記憶された各ポートの測定情
報３４を、ポート単位４９、物理ＩＦモジュール単位５
０、試験機単位５１で指定して、編集可能としている。

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は、インターネット等
の各種通信ネットワークに組込まれた各種通信機器の特
性を試験する試験システムに係わり、特にこの試験シス
テムを構成する各試験機が各試験対象に実施する試験の
各測定項目や測定条件を含む測定情報を設定する試験シ
ステムの測定情報設定装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】インターネットを始めとする各種通信ネ
ットワークに組込まれた各種通信機器が有する各種の特
性を試験することは、新規の通信機器を開発したり、新
規の通信ネットワークを構築する場合に、欠かすことの
できない重要な事項である。また、稼働中の通信機器や
通信ネットワークの保守、管理においても欠かすことの
できない事項である。 【０００３】通信ネットワークに組込まれた多数の通信
機器を効率的に試験するためには複数の試験機を各通信
機器に接続して、ある特定の通信機器に対して試験信号
を印加して、ネットワークで接続された他の通信機器に
おける該当試験信号の受信状態を同時に測定ずる場合も
ある。このような場合、試験機をＬＡＮ等のネットワー
クで接続して、各試験機に対して試験指示を一斉に配信
し、試験結果をネットワークを介して集計する。勿論、
各通信機器毎に専用の試験機で該当通信機器に入出力さ
れる信号を測定して、該当通信機器の特性の試験を行う
場合もある。 【０００４】また、各通信ネットワークに組込まれる通
信機器はこの通信ネットワークで定まる伝送速度でデー
タ送受信を行う。例えば、デジタルデータの伝送速度の
仕様や規格が、１０Ｍbps／１００Ｍbps 、２．５Ｇbp
s、１０Ｇbps等の複数種類存在し、さらにデジタルデー
タの信号が光信号の場合、光の波長が１．３１ｎｍ、
１，５５ｎｍ等の複数種類が存在する。したがって、１
０Ｍbps／１００Ｍbpsは電気信号で、２．５Ｇbps、１
０Ｇbpsが光信号の場合、合計５種類の送受信形態が存
在する。 【０００５】したがって、伝送速度や光波長がそれぞれ
異なる複数種類の通信機器等の試験対象に対する試験を
実施可能とするためには、各伝送速度と光波長との各組
合せに対応する送受信回路等のインタフェースを、各試
験機内に組込む必要がある。このように、多数の送受信
回路等のインタフェースを予め試験機内に組込むと、試
験機が複雑化し、高価格化する。 【０００６】このような不都合を解消するために、図１
３に示すように、通信機器等の各試験対象１が有する伝
送速度と光波長との各組合せに対応する送受信回路等の
インタフェースを、この試験機２に対して装着自在のカ
ード状の物理ＩＦ（インタフェース）モジュール３に組
込むことが考えられる。よって、試験を実施しようとす
る試験対象１のデータ通信の仕様や規格に対応した物理
ＩＦモジュール３を各試験機２に装着することによっ
て、該当試験対象１との間でデータの送受信が可能とな
る。 【０００７】さらに、各試験機２における試験効率を向
上させたり、前述した複数の試験対象１を用いて試験を
実施するために、１台の試験機２で同時に複数の試験対
象１に対する試験を実行可能とするために、各物理ＩＦ
モジュール３に対してデータ信号送受のための複数のポ
ート４を設けている。そして、図１３に示すように、各
物理ＩＦモジュール３の各ポート４に各試験対象１を接
続して試験を実施する。 【０００８】このように、それぞれ複数のポート４を有
した複数の物理ＩＦモジュール３が装着自在に設けられ
た複数の試験機２をネットワークで接続してなる試験シ
ステムにおいて、通信ネットワークに組込まれた複数の
通信機器相互間のデータ送受信の試験のように複雑な試
験を実施する場合には、この試験システムを構成する各
試験機２に装着されている各物理ＩＦモジュール３の各
ポート４に接続された測定対象１に対して実施する試験
の各測定項目や測定条件等を含む測定情報を、実際の試
験実施に先立って各試験機２のメモリに設定する。 【０００９】そして、測定作業者は、各試験機２に装着
されている物理ＩＦモジュール３の各ポート４に対して
測定を実施しようとする試験対象１を接続する。その
後、メモリ内に各ポート毎に予め定められた測定情報が
示す各測定項目の試験を同じく測定条件に従って自動的
に実施される。そして、各試験機２で得られた試験結果
は、ネットワークを介して、一カ所に収集されて解析さ
れる。 【００１０】試験を実施する都度、この試験を実施する
ための測定情報を各ポートに測定作業者が設定するのは
非常に煩わしいので、試験実施後に、試験実施に使用し
た測定情報をクリアすることなく、システム全体の測定
情報を一括して保存して、次回に、同一測定情報を用い
る試験を実施する場合に再利用することが考えられる。 【００１１】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに一旦使用したシステム全体の測定情報を記憶保持し
て再利用する試験システムにおいても、未だ解消すべき
次のような課題があった。 【００１２】すなわち、この試験システムで実施する試
験項目は多岐に亘るので、各ポートに設定した測定情報
を変更したり、あるポートに設定していた測定情報を他
のポートで再利用したい場合が多々ある。このような場
合、記憶されている前回の測定情報を使用できないの
で、測定作業者は、システム全体の測定情報を、手作業
で再度設定して、試験機２のメモリに書込む必要があ
る。 【００１３】このシステム全体の測定情報を設定する作
業は、前述したように非常に煩わしいので、この試験シ
ステムを用いた通信ネットワークに組込まれた複数の通
信機器の特性を試験する場合の試験作業能率が大幅に低
下する。 【００１４】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであり、システム全体の測定情報のみならず、各
ポートの測定情報を、ポート単位、物理ＩＦモジュール
単位、及び試験機単位で扱い可能とすることにより、簡
単に新規のシステム全体の測定情報を設定でき、試験シ
ステムを用いた複数の測定対象を試験する場合における
試験作業能率を大幅に向上できる試験システムの測定情
報設定装置を提供することを目的とする。 【００１５】 【課題を解決するための手段】本発明は、それぞれ試験
対象に接続される１個以上のポートを有した複数の物理
ＩＦモジュールが装着自在に設けられ、各物理ＩＦモジ
ュールを介して各試験対象に対する試験を実施する複数
の試験機と、この各試験機を管理する管理機とをネット
ワークで接続した試験システムの測定情報設定装置に適
用される。 【００１６】そして、上記課題を解消するために、本発
明の試験システムの測定情報設定装置においては、各試
験機に対して、自己に装着される各物理ＩＦモジュール
の種別と各物理ＩＦモジュールの各ポートに接続される
試験対象に対して実施される試験の少なくとも測定項目
と測定条件を含む複数の測定情報を記憶する測定情報フ
ァイルを付加している。 【００１７】そして、管理機に対して、全ての試験機の
ＩＤと各試験機に装着される各物理ＩＦモジュールの種
別と各物理ＩＦモジュールの各ポートに接続される試験
対象に対して実施される試験の少なくとも測定項目と測
定条件を含む複数の測定情報を記憶するシステム全体測
定情報ファイルと、このシステム全体測定情報ファイル
に記憶された各ポートの測定情報を、ポート単位、物理
ＩＦモジュール単位、及び試験機単位で指定する測定情
報指定手段と、この測定情報指定手段で指定された単位
で、システム全体試験情報ファイルに記憶された各測定
情報を編集する測定情報編集手段と、編集された各ポー
トの測定情報を指定された単位で、該当単位で特定され
る試験機へ送出して、該当試験機に試験情報ファイルを
更新させる編集結果送信手段とを付加している。 【００１８】こように構成された試験システムの測定情
報設定装置においては、試験システムを構成する各試験
機には、自己の各ポートに対して設定される測定情報を
記憶する測定情報ファイルが形成されている。 【００１９】さらに、管理機においては、試験システム
を構成する全ての試験機の各ポートに設定される測定情
報を記憶するシステム全体測定情報ファイルが形成され
ている。そして、このシステム全体測定情報ファイル内
に設定された各ポートの測定情報に対する、他のポート
の測定情報との交換、他のポートの測定情報を流用、削
除、変更、新規設定等の編集作業が必要となると、測定
作業者は、編集対象の１個又は複数のポートの測定情報
を含むポート単位、又は物理ＩＦモジュール単位、又は
試験機単位で指定して、編集作業が実施できる。 【００２０】したがって、例えば、１つのポートの測定
情報のみを編集する場合は、測定情報をポート単位で指
定することにより、間単に、システム全体測定情報ファ
イルの設定内容を変更できる。 【００２１】よって、編集要求の発生都度、システム全
体測定情報を作成する必要があった従来の測定システム
に比較して、試験システムの測定情報設定作業能率がさ
れに向上する。 【００２２】 【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
を用いて説明する。図１は実施形態に係る測定情報設定
装置が組込まれた試験システムの全体構成を示す模式図
である。 【００２３】通信ネットワーク５内に多数の通信機器６
が組込まれている。この通信ネットワーク５内に組込ま
れた各通信機器６の特性を試験する試験システムを構成
する各試験機７には、前記各通信機器６が試験対象１と
して接続される。この場合、１台の試験機７に複数台の
試験対象１が接続されると共に、１台の試験対象１に複
数台の試験機７が接続される場合もある。 【００２４】さらに、試験システムを構成する各試験機
７は、インターネット８を介してコンピュータで構成さ
れた管理機４０と情報交換を行うことができる。さら
に、通信ネットワーク５内に組込まれた各通信機器６
（試験対象１）は固有のＩＤ（識別情報）を有してい
る。同様に、試験システムを構成する各試験機７も固有
のＩＤ（識別情報）を有している。 【００２５】図２は各試験機７の外観図であり、図３は
この各試験機７の概略構成を示すブロック図であり、図
４はこの各試験機７の詳細ブロック図である。 【００２６】図２（ａ）に示すように、試験機７の正面
７ａには、ＧＵＩ（グラフィカル・ユーザ・インタフェ
ース）の一部を構成する表示器９ａ及び操作パネル９ｂ
が設けられている。試験機７の裏面７ｂには、図２
（ｂ）に示すように、ＰＣＩ（Peripheral Component I
nterconnect 周辺機器間接続）カードと称するカード
状の物理ＩＦモジュール１１を装着するための５個のス
ロット（挿入口）１０が形成されている。各物理ＩＦモ
ジュール１１の端面には、それぞれ試験対象１を接続す
るための複数のポート１２が設けられている。 【００２７】前述したように、各物理ＩＦモジュール１
１内には、通信機器６等の各試験対象１が有する伝送速
度と光波長との各組合せに対応する送受信回路等のイン
タフェースが組込まれている。この実施形態において
は、前述したように、 （ａ）１０Ｍbps／１００Ｍbps 電気信号 ポート数 ８ （ｂ）Ｇbps 電気信号 ポート数 ２ （ｃ）２．５Ｇbps 光信号 光名長 １．３１ｎｍ ポート数 １ （ｄ）２．５Ｇbps 光信号 光名長 １．５５ｎｍ ポート数 １ （ｅ）１０ Ｇbps 光信号 光名長 １．３１ｎｍ ポート数 １ （ｆ）１０ Ｇbps 光信号 光名長 １．５５ｎｍ ポート数 １ の合計、６種類の物理ＩＦモジュール１１が予め準備さ
れている。なお、各ポート１２にはポート番号（Ｐ₁、
Ｐ₂、Ｐ₃、…、Ｐ_ｎ）が付されている。 【００２８】測定作業者は、通信ネットワーク５に組込
まれた通信機器６等の自己が試験しようとする試験対象
１におけるデータ送受信に関する仕様や規格に合致した
物理ＩＦモジュール１１をスロット（挿入口）１０に装
着し、この物理ＩＦモジュール１１のポート１２に試験
対象１を接続する。 【００２９】図３に示すように、この試験機７は、大き
く分けて、前述した試験機７の正面７ａに設けられた表
示器９ａ及び操作パネル９ｂからなるＧＵＩ１３が組込
まれた操作クライアント１４と、この操作クライアント
１４に対してＬＡＮ１５を介して接続された試験実施サ
ーバ１６と、この試験実施サーバ１６に対して着脱自在
に設けられた複数の物理ＩＦモジュール１１とで構成さ
れている。前記ＬＡＮ１５は外部のインターネット８に
も接続されている。 【００３０】図４は試験実施サーバ１６及び物理ＩＦモ
ジュール１１の詳細ブロック図である。着脱自在に設け
られた各物理ＩＦモジュール１１はスロット１０内に設
けられた図示しないコネクタを介してＰＣＩバス１７に
接続される。このＰＣＩバス１７は、ＰＣＩバスブリッ
ジ１８を介して、試験実施サーバ１６のシステムバス１
９に接続されている。このシステムバス１９に、各試験
対象１に対して試験を実施するためのＣＰＵ２０及び主
メモリ２１が接続されている。ＰＣＩバスブリッジ１８
は、バスクロックの周波数が高いシステムバス１９とバ
スクロックの周波数が低いＰＣＩバス１７とを接続する
機能を有する。 【００３１】主メモリ２１内には、この試験実施サーバ
１６が各物理ＩＦモジュール１１の各ポート１２に接続
された各試験対象１に対して実行する各種試験の試験プ
ログラム及び図９に示す測定情報ファイル３３が記憶さ
れている。 【００３２】測定情報ファイル３３内には、自己の試験
機７（ＩＤ＝Ｕ₁、Ｕ₂、…、Ｕ_k）に装着される各物理
ＩＦモジュール１１の種別（ＩＤ＝Ｍ₁、Ｍ₂、Ｍ₃、
…、Ｍ_N）と各物理ＩＦモジュール１１の各ポート１２
（ポート番号Ｐ₁、Ｐ₂、Ｐ₃、…、Ｐ_n）に接続される試
験対象１に対して実施される試験の少なくとも測定項目
と測定条件を含む複数の測定情報３４が記憶されてい
る。 【００３３】ＰＣＩバス１７には、先述した複数の物理
ＩＦモジュール１１の他に、ＬＡＮ１５を介して前述し
た操作クライアント１４が接続されたＬＡＮインタフェ
ース２２が接続されている。 【００３４】ＰＣＩバス１７に対して着脱自在に設けら
れた物理ＩＦモジュール１１において、ローカルバス２
３に対して、試験対象１に対してポート１２を介してデ
ータ信号を送受信する複数の送受信器２４、送受信用の
ソフトウエアを記憶するメモリ２５、この送受信用のソ
フトウエアを用いてデータの送受信を実施するＣＰＵ２
６、及び前記ＰＣＩバス１７との間に介挿されたＰＣＩ
ターゲット２７が接続されている。ＰＣＩターゲット２
７は、ＰＣＩバス１７と内部のローカルバス２３とを接
続するインタフェース機能を有する。 【００３５】操作クライアント１４には、例えばWindow
s（登録商標）98等の市販のＯＳが組込まれており、Ｌ
ＡＮ１５及びインターネット８を介して管理機４０と情
報交換が可能である。そして、この操作クライアント１
４は、試験実施サーバ１６に対して、ＧＵＩ１３を介し
て測定作業者が指示した試験実行指示を出力し、試験結
果を表示器９ａに表示出力する。 【００３６】図５は、操作クライアント１４の概略構成
を示すブロック図である。データバス２８に対して、Ｃ
ＰＵ２９、ＧＵＩ１３を構成する表示器９ａ及び操作パ
ネル９ｂ、ＬＡＮ１５に接続されたＬＡＮインタフェー
ス３０、各種のアプリケーション・プログラムを記憶す
る主メモリ３１、ＨＤ等の補助記憶装置３２等が接続さ
れている。 【００３７】図６は、管理機４０の概略構成を示すブロ
ック図である。データバス４１に対して、ＣＰＵ４２、
ＧＵＩ４３を構成する表示器４３ａ及び操作パネ４３
ｂ、主メモリ４４、インターネット８に接続されたＬＡ
Ｎインタフェース４５等が接続されている。 【００３８】主メモリ４４内には、各試験機７に対する
測定情報の編集を含む各種の管理を実施するためのプロ
グラム４６、システム全体測定情報ファイル４７、保存
ファイル４８が設けられている。 【００３９】システム全体測定情報ファイル４７内に
は、図７に示すように、この試験システムを構成する全
ての試験機７のＩＤ（＝Ｕ₁、Ｕ₂、…、Ｕ_k）に装着さ
れる各物理ＩＦモジュール１１の種別（ＩＤ＝Ｍ₁、
Ｍ₂、Ｍ₃、…、Ｍ_N）と各物理ＩＦモジュール１１の各
ポート１２（ポート番号Ｐ₁、Ｐ₂、Ｐ₃、…、Ｐ_n）に接
続される試験対象１に対して実施される試験の少なくと
も測定項目と測定条件を含む複数の測定情報３４が記憶
されている。 【００４０】従って、先述した、各試験機７の試験実施
サーバ１６の主メモリ２１に形成された測定情報ファイ
ル３２内には、このシステム全体測定情報ファイル４７
内の、自己の試験機７の物理ＩＦモジュール１１とポー
ト１２に関する測定情報３４が記憶されていることにな
る。 【００４１】図７のシステム全体測定情報ファイル４７
における各ポート１２（ポート番号Ｐ₁、Ｐ₂、Ｐ₃、
…、Ｐ_n）に対応して設けられた各測定情報３４は、図
８に示すように、例えば、「Ｕ₁―Ｍ₁―Ｐ₁」のよう
に、試験システム上の自己の位置を示す位置情報３３が
含まれる。さらに、複数の測定項目３６と測定条件３７
が含まれる。例えば、Ｆ１〜Ｆ４の測定項目として、誤
り測定（Ｆ１）、カウンタ（Ｆ２）、周波数測定（Ｆ
３）、遅延時間測定（Ｆ４）等が設定されている。 【００４２】管理機４０のＧＵＩ４３の表示器４３ａに
は、測定作業者が測定情報３４に対する編集作業の開始
操作を入力すると、図１０に示す、編集作業画面が表示
される。画面の左側に、この試験システムの試験機７―
物理ＩＦモジュール１１―ポート１２のツリー構造から
なる試験システム構造３８が表示され、画面の右側に、
測定作業者が、画面上で、マウスを用いてクリック操作
したポート１２に設定された測定情報３４が表示され
る。さらに、測定作業者は、表示画面上で、Ｆ１〜Ｆ４
の一つの測定項目３８を選択することによって、該当測
定項目３８の詳細な測定条件３７を表示出力させること
が可能である。 【００４３】さらに、この編集作業画面には、読出ボタ
ン３９ａと保存ボタン３９ｂとが設けられている。 【００４４】さらに、この編集作業画面上で、測定作業
者は、１個又は複数の測定情報３４を、ポート単位４
９、物理ＩＦモジュール単位５０、及び試験機単位５１
で指定することが可能である。具体的には、ポート単位
４９で１個の測定情報３４を指定する場合は、目標とす
る測定情報３４のポート１２をマウスでクリックする。
物理ＩＦモジュール単位５０で複数の測定情報３４を指
定する場合は、この複数の測定情報３４の各ポート１２
が所属する物理ＩＦモジュール１１をマウスでクリック
する。さらに、試験機単位５１で複数の測定情報３４を
指定する場合は、この複数の測定情報３４の各ポート１
２及び各物理ＩＦモジュール１１が所持区する試験機７
をマウスでクリックする。 【００４５】このように、測定作業者は、システム全体
測定情報ファイル４７に記憶された各測定情報３４を、
編集範囲に応じて、ポート単位４９、物理ＩＦモジュー
ル単位５０、又は試験機単位５１で指定することが可能
である。 【００４６】図６の主メモリ４６の保存ファイル４８内
には、測定作業者が、編集作業画面上で１個又は複数の
測定情報３４が、指定された単位４９、５０、５１で、
後から読出しができるように名前を付けて保存される。
すなわち、この保存ファイル４８は、システム全体測定
情報ファイル４７に記憶された各測定情報３４を、ポー
ト単位４９、物理ＩＦモジュール単位５０、及び試験機
単位５１で一時的に保存する機能を有する。 【００４７】そして、管理機４０は、図１１、図１２の
流れ図に従って、システム全体測定情報ファイル４７に
記憶された各ポート１２の測定情報３４に対する編集処
理を実行する。 【００４８】測定作業者が、ＧＵＩ４３を介して、編集
業務の開始を指示すると、図１０に示した編集作業画面
を表示器４３ａに表示出力する。なお、この状態におい
ては、試験システム構造３８のみ表示され、測定情報３
４は表示されていない（Ｓ１）。 【００４９】測定作業者が、マウスで一つのポート１２
を指定しその後に読出しボタン３９ａを操作すると（Ｓ
２）、システム全体測定情報ファイル４７に記憶されて
いる該当ポート１２の測定情報３４を読出して、図１０
に示すように、編集作業画面の右側領域に表示する（Ｓ
３）。 【００５０】また、測定作業者が、マウスで、ポート単
位４９、物理ＩＦモジュール単位５０、又は試験機単位
５１を前述した手法で指定し、その後に保存ボタン３９
ｂを押すと（Ｓ４）、指定された単位４９、５０、５１
に所属する１個又は複数の測定情報３４をシステム全体
測定情報ファイル４７から読出す。そして、測定作業者
がこの単位４９、５０、５１に指定した名前を付して、
保存メモリ４８に書込む（Ｓ５）。 【００５１】測定作業者が、移動元の単位４９、５０、
５１と移動先の単位４９、５０、５１とを指定した測定
情報３４の移動指令を入力操作すると（Ｓ６）、システ
ム全体測定情報ファイル４７に記憶されている移動元の
単位に所属する各測定情報３４を読出して、この各測定
情報３４をシステム全体測定情報ファイル４７の移動先
の単位の各測定情報３４上に上書きする（Ｓ７）。 【００５２】測定作業者が、保存メモリ４８に記憶され
ている各測定情報３４を単位の名前を指定し、さらに移
動先の単位を指定した移動指令を入力操作すると（Ｓ
８）、保存メモリ４８に記憶されている移動元の単位に
所属する各測定情報３４を読出して、この各測定情報３
４をシステム全体測定情報ファイル４７内の移動先の単
位の各測定情報３４上に上書きする（Ｓ９）。 【００５３】そして、測定作業者が、編集終了指示を入
力すると（Ｓ１０）、今回の編集作業にて、システム全
体測定情報ファイル４７に記憶されている各測定情報３
４に変更が生じたか否かを判定する（Ｓ１１）。変更が
生じた場合は、変更の生じた１個又は複数の測定情報３
４を含む単位４９、５０、５１に含まれる変更なしも含
む各測定情報３４を該当単位で読出して、該当単位で特
定される試験機７へ送信する（Ｓ１２）。 【００５４】管理機４０から１個又は複数の測定情報３
４をポート単位４９、物理ＩＦモジュール単位５０、又
は試験機単位５１で受信した試験機７の試験実施サーバ
１６は、自己の主メモリ２１内に記憶されら自己の測定
情報ファイル３３に記憶された各測定情報３４を受信し
た測定情報３４で更新する。 【００５５】したがって、各試験機７の測定情報ファイ
ル３３に記憶された各測定情報３４と、管理機４０のシ
ステム全体測定情報ファイル４７における自己の試験機
７に対応する各測定情報３４に一致する。 【００５６】このように構成された試験システムの測定
情報設定装置においては、測定システムを構成する各試
験機７の試験実施する試験実施サーバ１６の主メモリ２
１内に、自己の各ポート１２に対して設定される測定情
報３４を記憶する測定情報ファイル３３が形成されてい
る。 【００５７】さらに、各測定機７に対してインターネッ
ト８を介して接続された管理機４０の主メモリ４４内に
は、試験システムを構成する全ての試験機７の各ポート
１２に設定される測定情報３４を記憶するシステム全体
測定情報ファイル４７が形成されている。 【００５８】そして、このシステム全体測定情報ファイ
ル４７内に設定された各ポート１２の測定情報３４に対
する、他のポート１２の測定情報３４との交換、他のポ
ート１２の測定情報３４を流用、削除、変更、新規設定
等の編集作業が必要となると、測定作業者は、管理機４
０の表示器４３ａ上に、図１０に示す編集作業画面を表
示させて、編集対象の１個又は複数のポート１２の測定
情報３４を含むポート単位４９、又は物理ＩＦモジュー
ル単位５０、又は試験機単位５１で指定して、編集作業
が実施できる。 【００５９】したがって、例えば、１つのポート１２の
測定情報３４のみを編集する場合は、この測定情報３４
をポート単位４９で指定することにより、簡単に、シス
テム全体測定情報ファイル４７の設定内容を変更でき
る。 【００６０】また、管理機４０のシステム全体測定情報
ファイル４７の設定内容が変更されると、その変更部分
に対応する各試験機７の測定情報ファイル３３の設定内
容も自動的に変更される。 【００６１】よって、編集要求の発生都度、システム全
体測定情報を作成する必要があった従来の試験システム
に比較して、試験システムの測定情報設定作業能率がさ
れに向上する。 【００６２】 【発明の効果】以上説明したように、本発明の試験シス
テムの測定情報設定装置においては、試験システム全体
の測定情報のみならず、各ポートの測定情報を、ポート
単位、物理ＩＦモジュール単位、及び試験機単位で編集
等の扱いを可能としている。したがって、簡単に新規の
システム全体の測定情報を設定でき、試験システムを用
いた複数の通信ネットワークに組込まれた測定対象とし
ての通信機器を試験する場合における試験作業能率を大
幅に向上できる。

【図面の簡単な説明】 【図１】本発明の一実施形態の測定情報設定装置が組込
まれた試験システムの全体構成を示す模式図 【図２】同試験システムに組込まれた各試験機の外観図 【図３】同各試験機の概略構成を示すブロック図 【図４】同各試験機に組込まれた試験実施サーバの詳細
ブロック図 【図５】同各試験機に組込まれた操作クライアントの詳
細ブロック図 【図６】同試験システムに組込まれた管理機の概略構成
を示すブロック図 【図７】同管理機内に組込まれたシステム全体測定情報
ファイルの記憶内容を示す図 【図８】同システム全体測定情報ファイルに記憶された
測定情報の詳細内容を示す図 【図９】各試験機の試験実施サーバ内に組込まれた測定
情報ファイルの記憶内容を示す図 【図１０】管理機内の表示器に表示された編集作業画面
を示す図 【図１１】同管理機の測定情報編集処理動作を示す流れ
図 【図１２】同じく同管理機の測定情報編集処理動作を示
す流れ図 【図１３】従来の試験機の概略構成を示す模式図 【符号の説明】 １…試験対象 ５…通信ネットワーク ６…通信機器 ７…試験機 ８…インターネット １１…物理ＩＦモジュール １２…ポート １３、４３…ＧＵＩ １４…操作クライアント １５…ＬＡＮ １６…試験実施サーバ ３３…測定情報ファイル ３４…測定情報 ３８…試験システム構成 ４０…管理機 ４７…システム全体測定情報ファイル ４８…保存ファイル ４９…ポート単位 ５０…物理ＩＦモジュール単位 ５１…試験機単位

フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F073 AA19 AB01 BB07 CC01 CC07 CC12 DD02 EE03 FG01 FG02 GG01 GG04 GG08 2F076 BA05 BE04 BE06 BE07 BE17 5B048 AA00 BB00 CC05 CC07 EE00 5K035 AA07 BB02 FF04 KK01 KK07 MM03 MM06

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 【請求項１】 それぞれ試験対象（１）に接続される１
   個以上のポート（１２）を有した複数の物理ＩＦモジュ
   ール（１１）が装着自在に設けられ、前記各物理ＩＦモ
   ジュールを介して各試験対象に対する試験を実施する複
   数の試験機（７）と、この各試験機を管理する管理機
   （４０）とをネットワーク（８）で接続した試験システ
   ムの測定情報設定装置において、 前記各試験機（７）は、自己に装着される各物理ＩＦモ
   ジュールの種別と各物理ＩＦモジュールの各ポートに接
   続される試験対象に対して実施される試験の少なくとも
   測定項目と測定条件を含む複数の測定情報（３４）を記
   憶する測定情報ファイル（３３）を有し、 前記管理機（４０）は、 全ての試験機のＩＤと各試験機に装着される各物理ＩＦ
   モジュールの種別と各物理ＩＦモジュールの各ポートに
   接続される試験対象に対して実施される試験の少なくと
   も測定項目と測定条件を含む複数の測定情報（３４）を
   記憶するシステム全体測定情報ファイル（４７）と、 このシステム全体測定情報ファイルに記憶された各ポー
   トの測定情報を、ポート単位（４９）、物理ＩＦモジュ
   ール単位（５０）、及び試験機単位（５１）で指定する
   測定情報指定手段（Ｓ６、Ｓ８）と、 この測定情報指定手段で指定された単位で、前記システ
   ム全体試験情報ファイルに記憶された各測定情報を編集
   する測定情報編集手段（Ｓ７、Ｓ９）と、 この編集された各ポートの測定情報を前記指定された単
   位で、該当単位で特定される試験機へ送出して、該当試
   験機に試験情報ファイルを更新させる編集結果送信手段
   （Ｓ１２）とを有することを特徴とする試験システムの
   測定情報設定装置。