JP2003044313A - 試験装置の設定値の更新方法 - Google Patents
試験装置の設定値の更新方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 Ｅ2ＰＲＯＭ１３内に記憶された設定値を簡
単に更新する。 【解決手段】 主メモリ８が接続されたシステムバス６
に対して、ＰＣＩバスブリッジ５及びＰＣＩバス４を介
して、試験対象３の仕様に対応する測定モジュール２４
が着脱自在に設けられ、測定モジュールを介して試験対
象に対する試験を実施する試験装置２０における、ＰＣ
Ｉターゲット１２の設定値を記憶するＥ2ＰＲＯＭ１３
の設定値を更新する試験装置の設定値の更新方法であっ
て、ＰＣＩバス４に接続されたＬＡＮインタフェース３
０に対して外部の情報端末２９を接続し、この情報端末
から設定値の更新データを、ファイル転送プロトコルを
用いて、システムバス６に接続された主メモリ８に書込
み、この主メモリ８に書込まれた更新データを順次読出
して、ＰＣＩバス４を介してＥ2ＰＲＯＭ１３に書込
む。
単に更新する。 【解決手段】 主メモリ８が接続されたシステムバス６
に対して、ＰＣＩバスブリッジ５及びＰＣＩバス４を介
して、試験対象３の仕様に対応する測定モジュール２４
が着脱自在に設けられ、測定モジュールを介して試験対
象に対する試験を実施する試験装置２０における、ＰＣ
Ｉターゲット１２の設定値を記憶するＥ2ＰＲＯＭ１３
の設定値を更新する試験装置の設定値の更新方法であっ
て、ＰＣＩバス４に接続されたＬＡＮインタフェース３
０に対して外部の情報端末２９を接続し、この情報端末
から設定値の更新データを、ファイル転送プロトコルを
用いて、システムバス６に接続された主メモリ８に書込
み、この主メモリ８に書込まれた更新データを順次読出
して、ＰＣＩバス４を介してＥ2ＰＲＯＭ１３に書込
む。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、インターネットを
始めとする各種通信ネットワークに組込まれた各種の通
信機器の性能や通信機器相互間で送受信されるデジタル
データのデータ品質の試験を行う試験装置に係わり、特
に、この試験装置に組込まれたＰＣＩカードにおける設
定値を更新する試験装置の設定値の更新方法に関する。 【０００２】 【従来の技術】インターネットを始めとする各種通信ネ
ットワークに組込まれた各種の通信機器の性能や通信機
器相互間で送受信されるデジタルデータのデータ品質を
試験して把握することは、新規の通信機器を開発した
り、新規の通信ネットワークを構築する場合に、欠かす
ことのできない重要な事項である。また、稼働中の通信
機器や通信ネットワークの保守、管理においても欠かす
ことのできない事項である。 【０００３】このような通信機器やデジタルデータに対
する試験項目や通信機器やデジタルデータの仕様毎に、
この通信機器やデジタルデータに対する物理的インタフ
ェースや通信のプロトコルが異なる。例えば、試験対象
がデジタルデータの場合、このデジタルデータの伝送速
度が、１０Ｍbps／１００Ｍbps 、２．５Ｇbps、１０Ｇ
bps等の複数種類存在し、さらにデジタルデータの信号
が光信号の場合、光の波長が１．３１ｎｍ、１，５５ｎ
ｍ等の複数種類が存在する。 【０００４】したがって、試験対象毎の物理的インタフ
ェースや通信プロトコルを試験装置に組込む必要がある
が、全ての試験対象の物理的インタフェースや通信プロ
トコルを試験装置に組込むと、試験装置全体が複雑化
し、製造費が上昇する問題がある。 【０００５】このような不都合を解消するために、図５
に示すように、試験装置１の裏面、又は側面にカード状
をした複数の測定モジュール２を着脱自在に設け、この
測定モジュール２に試験対象３を接続することが提唱さ
れている。各測定モジュール２内には、自己に接続され
る又は自己に入力される通信機器やデジタルデータ等の
試験対象３の仕様や規格に合致した物理的インタフェー
スや通信プロトコルが搭載されている。したがって、あ
る試験対象３に対する試験を実施する場合は、この試験
対象３の仕様や規格に対応する測定モジュール２を試験
装置１に装着して、この測定モジュール２に該当試験対
象３を接続すればよい。 【０００６】図６は、このような複数の測定モジュール
２が着脱自在に設けられた試験装置１の概略構成を示す
模式図である。着脱自在に設けられたＰＣＩカードと称
する各測定モジュール２は図示しないコネクタを介して
ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect 周辺機
器間接続）バス４に接続される。 【０００７】このＰＣＩバス４は、ＰＣＩバスブリッジ
５を介して、試験装置１本体のシステムバス６に接続さ
れている。このシステムバス６に試験対象３に対して試
験を実施するためのＣＰＵ７及び主メモリ８が接続され
ている。ＰＣＩバスブリッジ５は、バスクロックの周波
数が高いシステムバス（ＳＨバス）６とバスクロックの
周波数が低いＰＣＩバス４とを接続する機能を有する。 【０００８】図７は、ＰＣＩバス４に対して、図示しな
いコネクタを介して、着脱自在に設けられた測定モジュ
ール（ＰＣＩカード）２の概略構成図である。この測定
モジュール２も一種のマイクロ・コンピュータで構成さ
れている。すなわち、ローカルバス９に対して、試験対
象３からのデータを入力する入力インタフェース１０、
試験対象３に対して試験データを送出する出力インタフ
ェース１１、前記ＰＣＩバス４との間に介挿されたＰＣ
Ｉターゲット１２等が接続されている。 【０００９】ＰＣＩターゲット１２は、ＰＣＩバス４と
内部のローカルバス９とを接続する機能（インタフェー
ス機能）を有する。また、電源遮断時においても記憶内
容が保持されるＥ2ＰＲＯＭ１３は、ＰＣＩターゲット
１２に対する各種の設定値を記憶する。この各種の設定
値とは、例えば、この測定モジュール２に接続される試
験対象３の識別番号、リード・ライトのサイクル、レベ
ル（利得）調整、初期値等のこの測定モジュール２の電
源投入時に、この測定モジュール２を正常に起動させる
ための最低限の情報である。 【００１０】この設定値は、この測定モジュール２を製
造する過程で、Ｅ2ＰＲＯＭ１３に対してデータを書込
むＥ2ＰＲＯＭ書込専用装置を用いて書込まれる。そし
て、設定値が書込まれた状態のＥ2ＰＲＯＭ１３を測定
モジュール２に組込むようにしている。 【００１１】このような構成の試験装置１において、操
作者が選択した試験対象３の測定モジュール２を試験装
置１に装着して、操作者が試験条件を指定して起動する
と、ＣＰＵ７が、主メモリ８に記憶された試験プログラ
ムに従って、ＰＣＩバスブリッジ５，ＰＣＩバス４、測
定モジュール２を介して試験対象３に対して各種の試験
を実施する。 【００１２】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図５、
図６、図７に示す試験装置においても、まだ改良すべき
次のような課題があった。 【００１３】すなわち、前述したように、Ｅ2ＰＲＯＭ
１３内に書込まれている設定値は、この測定モジュール
２に接続される試験対象３の識別番号、リード・ライト
のサイクル、レベル（利得）調整、初期値等の、この測
定モジュール２の電源投入時に、この測定モジュール２
を正常に起動させるための最低限の情報である。したが
って、この設定値は、測定モジュール２に接続される試
験対象３の仕様や規格が定まれば、一義的に定まる値で
あるので、測定モジュール２の製造時点で、Ｅ 2ＰＲＯ
Ｍ書込専用装置を用いて書込むことが良いとされてき
た。 【００１４】しかし、通信機器やデジタルデータ等の試
験対象３に対する試験項目には、多種、多様の試験条件
を設定する。この試験条件の中には、データ（信号）の
送受信条件を故意にベストモードから外す場合もある。
また、故意に試験対象３の識別番号を間違った識別番号
に設定する場合もある。さらに、この測定モジュール２
に接続される試験対象３の仕様や規格が変更になる場合
もある。 【００１５】このような場合、Ｅ2ＰＲＯＭ１３に書込
まれている設定値を変更（更新）する必要がある。しか
し、このＥ2ＰＲＯＭ１３の記憶内容を書換えるために
は、このＥ2ＰＲＯＭ１３を測定モジュール２から取外
して、再度、Ｅ2ＰＲＯＭ書込専用装置に装着し、記憶
内容を変更する必要がある。さらに、記憶内容の更新後
のＥ2ＰＲＯＭ１３を再度測定モジュール２に装着する
必要がある。その結果、Ｅ2ＰＲＯＭ１３の設定値を変
更（更新）するのに、煩雑な作業と、多大な作業時間を
必要とした。 【００１６】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、ＬＡＮを介して設定値を書込むことによっ
て、Ｅ2ＰＲＯＭを測定モジュールから取外すことな
く、またＥ2ＰＲＯＭ書込専用装置を用いることなく、
簡単にＥ2ＰＲＯＭの設定値を更新できる試験装置の設
定値の更新方法を提供することを目的とする。 【００１７】 【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に、本発明は、システムバスで接続された全体を所定制
御するための主ＣＰＵの主メモリとシステムバスにＰＣ
Ｉバスブリッジで接続されたＰＣＩバスとを有し、この
ＰＣＩバスに接続可能に試験対象の仕様に対応する測定
モジュールが着脱自在に設けられ、この測定モジュール
を介して前記試験対象に対する試験を実施する試験装置
における、ＰＣＩバスと測定モジュール内のローカルバ
スとのインタフェースを行うとともに測定モジュールが
試験対象を試験するために必要な条件を設定するＰＣＩ
ターゲットのその設定値を記憶するＥ2ＰＲＯＭの内容
を更新する試験装置の設定値の更新方法である。 【００１８】さらに、本発明においては、ＰＣＩバスに
接続されたＬＡＮインタフェースに対して外部の情報端
末を接続し、この情報端末から設定値の更新データを、
ファイル転送プロトコルを用いて、システムバスに接続
された主メモリに書込む。さたに、この主メモリに書込
まれた更新データを順次読出して、ＰＣＩバスを介して
Ｅ2ＰＲＯＭに書込む。 【００１９】このように構成された試験装置の設定値の
更新方法においては、操作者は外部の情報端末からＬＡ
Ｎを介して試験装置に設定値の更新データを入力するの
みで、この設定値の更新データは自動的にＥ2ＰＲＯＭ
に書込まれる。したがって、簡単にＥ2ＰＲＯＭの設定
値を変更できる。 【００２０】 【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
を用いて説明する。図１は実施形態に係る試験装置の設
定値の更新方法が適用される試験装置の外観図であり、
図２はこの実施形態の試験装置の概略構成を示すブロッ
ク図であり、図３は試験装置の詳細ブロック図である。 【００２１】図１（ａ）に示すように、試験装置２０の
正面２０ａには、ＧＵＩ（グラフィカル・ユーザ・イン
タフェース）の一部を構成する表示器２１及び操作パネ
ル２２が設けられている。試験装置２０の裏面２０ｂに
は、図１（ｂ）に示すように、ＰＣＩカードと称するカ
ード状の測定モジュール２４を装着するための５個のス
ロット（挿入口）２３が形成されている。操作者は、通
信機器やデジタルデータ等の自己が試験を実施しようと
する試験対象３の仕様や規格に合致した物理的インタフ
ェースや通信プロトコルが搭載されている測定モジュー
ル２４を、任意のスロット（挿入口）２３に装着し、こ
の測定モジュール２４の入出力端子に試験対象３を接続
したのち、実際の試験を実施する。 【００２２】図２に示すように、この試験装置２０は、
大きく分けて、前述した試験装置２０の正面２０ａに設
けられた表示器２１及び操作パネル２２からなるＧＵＩ
２５が組込まれたメイン制御部としての操作クライアン
ト２６と、この操作クライアント２６に対してＬＡＮ２
７を介して接続された試験実施サーバ２８と、この試験
実施サーバ２８に対して着脱自在に設けられた複数の測
定モジュール２４とで構成されている。 【００２３】試験実施サーバ２８は、（ａ）測定モジュ
ール２４に対して測定用データの設定及び測定指示を行
う。（ｂ）測定モジュール２４から測定結果を取得す
る。（ｃ）操作クライアント２６からの要求をＬＡＮ２
７経由で受け、それに対する応答や通知をＬＡＮ２７経
由で操作クライアント２６へ送信する。（ｄ）操作クラ
イアント２６からのプログラム更新指示により、試験実
施サーバ２８自身や測定モジュール２４のプログラムを
更新する。 【００２４】操作クライアント２６には、例えばWindow
s98（登録商標）等の市販のＯＳが組込まれており、こ
の試験装置２０のユーザが自己のパーソナル・コンピュ
ータ（ＰＣ）等の情報端末２９を、ＬＡＮ２７を介して
この試験装置２０にアクセス可能である。そして、この
操作クライアント２６は、試験実施サーバ２８に対し
て、ＧＵＩ２５を介して操作者が指定した各種試験指示
を出力し、試験結果を表示器２１に表示出力する。 【００２５】図３は、試験実施サーバ２８の詳細ブロッ
ク図である。図６、図７に示す従来の試験装置のブロッ
ク図と同一部分には、同一符号を付して重複する部分の
詳細説明を省略する。 【００２６】着脱自在に設けられたＰＣＩカードと称す
る各測定モジュール２４はスロット２３内に設けられた
図示しないコネクタを介してＰＣＩバス４に接続され
る。このＰＣＩバス４は、ＰＣＩバスブリッジ５を介し
て、試験実施サーバ２８のＳＨバスと称されるシステム
バス６に接続されている。このシステムバス６に試験対
象３に対して試験を実施するためのＣＰＵ７及び主メモ
リ８が接続されている。ＰＣＩバスブリッジ５は、バス
クロックの周波数が高いシステムバス（ＳＨバス）６と
バスクロックの周波数が低いＰＣＩバス４とを接続する
機能を有する。 【００２７】主メモリ８内には、この試験実施サーバ２
８が、操作クライアント２６からの試験指示が指定する
各種の試験プログラムが記憶されている。さらに、この
主メモリ８内には試験結果を一時的に記憶する試験結果
領域、測定モジュール２４のＥ2ＰＲＯＭ１３に書込む
ための設定値の更新データを一時的に記憶する設定値領
域等が形成されている。 【００２８】ＰＣＩバス４には、先述した複数の測定モ
ジュール２４の他に、ＬＡＮ２７を介して前述した情報
端末２９及び操作クライアント２６が接続されたＬＡＮ
インタフェース３０が接続されている。 【００２９】ＰＣＩバス４に対して着脱自在に設けられ
た測定モジュール（ＰＣＩカード）２４において、ロー
カルバス９に対して、試験対象３から入力端子３１ａを
介してデータを入力する入力インタフェース１０、試験
対象３に対して出力端子３１ｂを介して試験データを送
出する出力インタフェース１１、入出力データを一時的
に記憶するメモリ３２、ＣＰＵ７から指示された試験指
示に対して、自己の測定モジュール２４が接続された試
験対象３との間で詳細通信プロトコルを実施するための
ＣＰＵ３３、及び前記ＰＣＩバス４との間に介挿された
ＰＣＩターゲット１２が接続されている。 【００３０】ＰＣＩターゲット１２は、前述したよう
に、ＰＣＩバス４と内部のローカルバス９とを接続する
機能（インタフェース機能）を有する。また、電源遮断
時においても記憶内容が保持されるＥ2ＰＲＯＭ１３
は、ＰＣＩターゲット１２に対する各種の設定値を記憶
する。この各種の設定値とは、例えば、この測定モジュ
ール２に接続される試験対象３の識別番号、リード・ラ
イトのサイクル、レベル（利得）調整、初期値等のこの
測定モジュール２の電源投入時に、この測定モジュール
２を正常に起動させるための最低限の情報である。 【００３１】そして、この設定値は、この測定モジュー
ル２４を製造する過程で、Ｅ2ＰＲＯＭ１３に対してデ
ータを書込むＥ2ＰＲＯＭ書込専用装置を用いて書込ま
れる。 【００３２】このような構成の試験装置２９において、
操作者は、自己が選択した試験対象３の測定モジュール
２４を試験装置２０のスロット２３に装着して、該当試
験対象３を測定モジュール２４の入力端子３１ａと出力
端子３１ｂに接続する。そして、操作者が表示器２１と
操作パネル２２等のＧＵＩ２５を用いて試験項目と試験
条件とを操作入力すると、この試験項目と試験条件とか
らなる試験指示は、ＬＡＮ２７、ＰＣＩバス４、ＰＣＩ
バスブリッジ５及びシステムバス（ＳＨバス）６を介し
て試験実施サーバ２８のＣＰＵ７へ通知される。 【００３３】すると、ＣＰＵ７が、主メモリ８に記憶さ
れた試験プログラムに従って、ＰＣＩバスブリッジ５，
ＰＣＩバス４、測定モジュール２４を介して試験対象３
に対して各種の試験を実施する。この場合、試験を実施
する過程で、試験対象３との間で実施する必要がある詳
細通信プロトコルに基づく信号（データ）の授受は、測
定モジュール２４内に組込まれたＣＰＵ３２が実施す
る。 【００３４】試験結果は、一旦主メモリ８内の試験結果
領域へ記憶されたのち、ＣＰＵ７の指示に基づいて、Ｌ
ＡＮインタフェース３０、ＬＡＮ２７を介して、操作ク
ライアント２６へ送信する。操作クライアント２６は、
試験実施サーバ２８から受信した試験結果を表示器２１
に表示出力する。 【００３５】このように構成された試験装置２０におい
て、試験対象３に対する試験項目における試験条件にお
いて、データ（信号）の送受信条件を故意にベストモー
ドから外す場合や、故意に試験対象３の識別番号を間違
った識別番号に設定する場合や、測定モジュール２４に
接続される試験対象３の仕様や規格が変更になる場合等
に起因して、測定モジュール２４のＥ2ＰＲＯＭ１３に
書込まれている設定値を変更（更新）する必要が生じた
場合は、図４に示す手順で、Ｅ2ＰＲＯＭ１３内に書込
まれている設定値を変更（更新）する。 【００３６】先ず、操作者は、自己のパーソナル・コン
ピュータ（ＰＣ）からなる情報端末２９をＬＡＮ２７に
接続して、この情報端末２９へ変更したい設定値の更新
データを例えばキーボードから入力する（ステップＳ
１）。 【００３７】ＰＣからなる情報端末２９は、この入力さ
れた設定値の更新データを試験実施サーバ２８のシステ
ムバス（ＳＨバス）６に接続された主メモリ８の設定値
領域へファイル転送プロトコル（ＴＦＴＰ）を用いて一
括転送する（ステップＳ２）。 【００３８】主メモリ８の設定値領域に対する設定値の
更新データのファイル転送処理が終了すると、試験実施
サーバ２８のＣＰＵ７は、主メモリ８の設定値領域に書
込まれた設定値の更新データを順次読出して、ＰＣＩバ
ス４に接続された測定モジュール２４のＥ2ＰＲＯＭ１
３に順次書込む（ステップＳ３）。 【００３９】このように構成された、試験装置の設定値
の更新方法においては、測定モジュール２４のＥ2ＰＲ
ＯＭ１３内に書込まれた設定値を変更する必要が生じた
場合、ＰＣ等の情報端末２９を用いて、設定値の更新デ
ータを、ＬＡＮ２７を介して試験実施サーバ２８の主メ
モリ８に一括してファイル転送するのみでよい。 【００４０】したがって、従来手法のように、Ｅ2ＰＲ
ＯＭ１３を測定モジュール２から取外して、Ｅ2ＰＲＯ
Ｍ書込専用装置に装着し、Ｅ2ＰＲＯＭ１３の記憶内容
を変更し、さらに、記憶内容の更新後のＥ2ＰＲＯＭ１
３を再度測定モジュール２に装着する作業を実施する必
要がない。 【００４１】よって、測定モジュール２４のＥ2ＰＲＯ
Ｍ１３に書込まれた設定値を変更する作業時間を大幅に
短縮できるとともに、Ｅ2ＰＲＯＭの取扱いに不慣れな
操作者であっても、簡単にＥ2ＰＲＯＭ１３に記憶され
た設定値を変更でき、試験装置としての操作性を大幅に
向上できる。 【００４２】 【発明の効果】以上説明したように、本発明における試
験装置の設定値の更新方法においては、ＬＡＮを介して
接続された情報端末から設定値の更新データを、ファイ
ル転送プロトコルを用いて試験実施サーバのメモリに書
込み、このメモリに書込まれた更新データを順次読出し
て、ＣＰＩバスを介してＥ2ＰＲＯＭに順次書込むよう
にしている。 【００４３】したがって、Ｅ2ＰＲＯＭを測定モジュー
ルから取外すことなく、またＥ2ＰＲＯＭ書込専用装置
を用いることなく、簡単にＥ2ＰＲＯＭの設定値を更新
でき、試験装置の操作性を大幅に向上できる。
始めとする各種通信ネットワークに組込まれた各種の通
信機器の性能や通信機器相互間で送受信されるデジタル
データのデータ品質の試験を行う試験装置に係わり、特
に、この試験装置に組込まれたＰＣＩカードにおける設
定値を更新する試験装置の設定値の更新方法に関する。 【０００２】 【従来の技術】インターネットを始めとする各種通信ネ
ットワークに組込まれた各種の通信機器の性能や通信機
器相互間で送受信されるデジタルデータのデータ品質を
試験して把握することは、新規の通信機器を開発した
り、新規の通信ネットワークを構築する場合に、欠かす
ことのできない重要な事項である。また、稼働中の通信
機器や通信ネットワークの保守、管理においても欠かす
ことのできない事項である。 【０００３】このような通信機器やデジタルデータに対
する試験項目や通信機器やデジタルデータの仕様毎に、
この通信機器やデジタルデータに対する物理的インタフ
ェースや通信のプロトコルが異なる。例えば、試験対象
がデジタルデータの場合、このデジタルデータの伝送速
度が、１０Ｍbps／１００Ｍbps 、２．５Ｇbps、１０Ｇ
bps等の複数種類存在し、さらにデジタルデータの信号
が光信号の場合、光の波長が１．３１ｎｍ、１，５５ｎ
ｍ等の複数種類が存在する。 【０００４】したがって、試験対象毎の物理的インタフ
ェースや通信プロトコルを試験装置に組込む必要がある
が、全ての試験対象の物理的インタフェースや通信プロ
トコルを試験装置に組込むと、試験装置全体が複雑化
し、製造費が上昇する問題がある。 【０００５】このような不都合を解消するために、図５
に示すように、試験装置１の裏面、又は側面にカード状
をした複数の測定モジュール２を着脱自在に設け、この
測定モジュール２に試験対象３を接続することが提唱さ
れている。各測定モジュール２内には、自己に接続され
る又は自己に入力される通信機器やデジタルデータ等の
試験対象３の仕様や規格に合致した物理的インタフェー
スや通信プロトコルが搭載されている。したがって、あ
る試験対象３に対する試験を実施する場合は、この試験
対象３の仕様や規格に対応する測定モジュール２を試験
装置１に装着して、この測定モジュール２に該当試験対
象３を接続すればよい。 【０００６】図６は、このような複数の測定モジュール
２が着脱自在に設けられた試験装置１の概略構成を示す
模式図である。着脱自在に設けられたＰＣＩカードと称
する各測定モジュール２は図示しないコネクタを介して
ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect 周辺機
器間接続）バス４に接続される。 【０００７】このＰＣＩバス４は、ＰＣＩバスブリッジ
５を介して、試験装置１本体のシステムバス６に接続さ
れている。このシステムバス６に試験対象３に対して試
験を実施するためのＣＰＵ７及び主メモリ８が接続され
ている。ＰＣＩバスブリッジ５は、バスクロックの周波
数が高いシステムバス（ＳＨバス）６とバスクロックの
周波数が低いＰＣＩバス４とを接続する機能を有する。 【０００８】図７は、ＰＣＩバス４に対して、図示しな
いコネクタを介して、着脱自在に設けられた測定モジュ
ール（ＰＣＩカード）２の概略構成図である。この測定
モジュール２も一種のマイクロ・コンピュータで構成さ
れている。すなわち、ローカルバス９に対して、試験対
象３からのデータを入力する入力インタフェース１０、
試験対象３に対して試験データを送出する出力インタフ
ェース１１、前記ＰＣＩバス４との間に介挿されたＰＣ
Ｉターゲット１２等が接続されている。 【０００９】ＰＣＩターゲット１２は、ＰＣＩバス４と
内部のローカルバス９とを接続する機能（インタフェー
ス機能）を有する。また、電源遮断時においても記憶内
容が保持されるＥ2ＰＲＯＭ１３は、ＰＣＩターゲット
１２に対する各種の設定値を記憶する。この各種の設定
値とは、例えば、この測定モジュール２に接続される試
験対象３の識別番号、リード・ライトのサイクル、レベ
ル（利得）調整、初期値等のこの測定モジュール２の電
源投入時に、この測定モジュール２を正常に起動させる
ための最低限の情報である。 【００１０】この設定値は、この測定モジュール２を製
造する過程で、Ｅ2ＰＲＯＭ１３に対してデータを書込
むＥ2ＰＲＯＭ書込専用装置を用いて書込まれる。そし
て、設定値が書込まれた状態のＥ2ＰＲＯＭ１３を測定
モジュール２に組込むようにしている。 【００１１】このような構成の試験装置１において、操
作者が選択した試験対象３の測定モジュール２を試験装
置１に装着して、操作者が試験条件を指定して起動する
と、ＣＰＵ７が、主メモリ８に記憶された試験プログラ
ムに従って、ＰＣＩバスブリッジ５，ＰＣＩバス４、測
定モジュール２を介して試験対象３に対して各種の試験
を実施する。 【００１２】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図５、
図６、図７に示す試験装置においても、まだ改良すべき
次のような課題があった。 【００１３】すなわち、前述したように、Ｅ2ＰＲＯＭ
１３内に書込まれている設定値は、この測定モジュール
２に接続される試験対象３の識別番号、リード・ライト
のサイクル、レベル（利得）調整、初期値等の、この測
定モジュール２の電源投入時に、この測定モジュール２
を正常に起動させるための最低限の情報である。したが
って、この設定値は、測定モジュール２に接続される試
験対象３の仕様や規格が定まれば、一義的に定まる値で
あるので、測定モジュール２の製造時点で、Ｅ 2ＰＲＯ
Ｍ書込専用装置を用いて書込むことが良いとされてき
た。 【００１４】しかし、通信機器やデジタルデータ等の試
験対象３に対する試験項目には、多種、多様の試験条件
を設定する。この試験条件の中には、データ（信号）の
送受信条件を故意にベストモードから外す場合もある。
また、故意に試験対象３の識別番号を間違った識別番号
に設定する場合もある。さらに、この測定モジュール２
に接続される試験対象３の仕様や規格が変更になる場合
もある。 【００１５】このような場合、Ｅ2ＰＲＯＭ１３に書込
まれている設定値を変更（更新）する必要がある。しか
し、このＥ2ＰＲＯＭ１３の記憶内容を書換えるために
は、このＥ2ＰＲＯＭ１３を測定モジュール２から取外
して、再度、Ｅ2ＰＲＯＭ書込専用装置に装着し、記憶
内容を変更する必要がある。さらに、記憶内容の更新後
のＥ2ＰＲＯＭ１３を再度測定モジュール２に装着する
必要がある。その結果、Ｅ2ＰＲＯＭ１３の設定値を変
更（更新）するのに、煩雑な作業と、多大な作業時間を
必要とした。 【００１６】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、ＬＡＮを介して設定値を書込むことによっ
て、Ｅ2ＰＲＯＭを測定モジュールから取外すことな
く、またＥ2ＰＲＯＭ書込専用装置を用いることなく、
簡単にＥ2ＰＲＯＭの設定値を更新できる試験装置の設
定値の更新方法を提供することを目的とする。 【００１７】 【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に、本発明は、システムバスで接続された全体を所定制
御するための主ＣＰＵの主メモリとシステムバスにＰＣ
Ｉバスブリッジで接続されたＰＣＩバスとを有し、この
ＰＣＩバスに接続可能に試験対象の仕様に対応する測定
モジュールが着脱自在に設けられ、この測定モジュール
を介して前記試験対象に対する試験を実施する試験装置
における、ＰＣＩバスと測定モジュール内のローカルバ
スとのインタフェースを行うとともに測定モジュールが
試験対象を試験するために必要な条件を設定するＰＣＩ
ターゲットのその設定値を記憶するＥ2ＰＲＯＭの内容
を更新する試験装置の設定値の更新方法である。 【００１８】さらに、本発明においては、ＰＣＩバスに
接続されたＬＡＮインタフェースに対して外部の情報端
末を接続し、この情報端末から設定値の更新データを、
ファイル転送プロトコルを用いて、システムバスに接続
された主メモリに書込む。さたに、この主メモリに書込
まれた更新データを順次読出して、ＰＣＩバスを介して
Ｅ2ＰＲＯＭに書込む。 【００１９】このように構成された試験装置の設定値の
更新方法においては、操作者は外部の情報端末からＬＡ
Ｎを介して試験装置に設定値の更新データを入力するの
みで、この設定値の更新データは自動的にＥ2ＰＲＯＭ
に書込まれる。したがって、簡単にＥ2ＰＲＯＭの設定
値を変更できる。 【００２０】 【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
を用いて説明する。図１は実施形態に係る試験装置の設
定値の更新方法が適用される試験装置の外観図であり、
図２はこの実施形態の試験装置の概略構成を示すブロッ
ク図であり、図３は試験装置の詳細ブロック図である。 【００２１】図１（ａ）に示すように、試験装置２０の
正面２０ａには、ＧＵＩ（グラフィカル・ユーザ・イン
タフェース）の一部を構成する表示器２１及び操作パネ
ル２２が設けられている。試験装置２０の裏面２０ｂに
は、図１（ｂ）に示すように、ＰＣＩカードと称するカ
ード状の測定モジュール２４を装着するための５個のス
ロット（挿入口）２３が形成されている。操作者は、通
信機器やデジタルデータ等の自己が試験を実施しようと
する試験対象３の仕様や規格に合致した物理的インタフ
ェースや通信プロトコルが搭載されている測定モジュー
ル２４を、任意のスロット（挿入口）２３に装着し、こ
の測定モジュール２４の入出力端子に試験対象３を接続
したのち、実際の試験を実施する。 【００２２】図２に示すように、この試験装置２０は、
大きく分けて、前述した試験装置２０の正面２０ａに設
けられた表示器２１及び操作パネル２２からなるＧＵＩ
２５が組込まれたメイン制御部としての操作クライアン
ト２６と、この操作クライアント２６に対してＬＡＮ２
７を介して接続された試験実施サーバ２８と、この試験
実施サーバ２８に対して着脱自在に設けられた複数の測
定モジュール２４とで構成されている。 【００２３】試験実施サーバ２８は、（ａ）測定モジュ
ール２４に対して測定用データの設定及び測定指示を行
う。（ｂ）測定モジュール２４から測定結果を取得す
る。（ｃ）操作クライアント２６からの要求をＬＡＮ２
７経由で受け、それに対する応答や通知をＬＡＮ２７経
由で操作クライアント２６へ送信する。（ｄ）操作クラ
イアント２６からのプログラム更新指示により、試験実
施サーバ２８自身や測定モジュール２４のプログラムを
更新する。 【００２４】操作クライアント２６には、例えばWindow
s98（登録商標）等の市販のＯＳが組込まれており、こ
の試験装置２０のユーザが自己のパーソナル・コンピュ
ータ（ＰＣ）等の情報端末２９を、ＬＡＮ２７を介して
この試験装置２０にアクセス可能である。そして、この
操作クライアント２６は、試験実施サーバ２８に対し
て、ＧＵＩ２５を介して操作者が指定した各種試験指示
を出力し、試験結果を表示器２１に表示出力する。 【００２５】図３は、試験実施サーバ２８の詳細ブロッ
ク図である。図６、図７に示す従来の試験装置のブロッ
ク図と同一部分には、同一符号を付して重複する部分の
詳細説明を省略する。 【００２６】着脱自在に設けられたＰＣＩカードと称す
る各測定モジュール２４はスロット２３内に設けられた
図示しないコネクタを介してＰＣＩバス４に接続され
る。このＰＣＩバス４は、ＰＣＩバスブリッジ５を介し
て、試験実施サーバ２８のＳＨバスと称されるシステム
バス６に接続されている。このシステムバス６に試験対
象３に対して試験を実施するためのＣＰＵ７及び主メモ
リ８が接続されている。ＰＣＩバスブリッジ５は、バス
クロックの周波数が高いシステムバス（ＳＨバス）６と
バスクロックの周波数が低いＰＣＩバス４とを接続する
機能を有する。 【００２７】主メモリ８内には、この試験実施サーバ２
８が、操作クライアント２６からの試験指示が指定する
各種の試験プログラムが記憶されている。さらに、この
主メモリ８内には試験結果を一時的に記憶する試験結果
領域、測定モジュール２４のＥ2ＰＲＯＭ１３に書込む
ための設定値の更新データを一時的に記憶する設定値領
域等が形成されている。 【００２８】ＰＣＩバス４には、先述した複数の測定モ
ジュール２４の他に、ＬＡＮ２７を介して前述した情報
端末２９及び操作クライアント２６が接続されたＬＡＮ
インタフェース３０が接続されている。 【００２９】ＰＣＩバス４に対して着脱自在に設けられ
た測定モジュール（ＰＣＩカード）２４において、ロー
カルバス９に対して、試験対象３から入力端子３１ａを
介してデータを入力する入力インタフェース１０、試験
対象３に対して出力端子３１ｂを介して試験データを送
出する出力インタフェース１１、入出力データを一時的
に記憶するメモリ３２、ＣＰＵ７から指示された試験指
示に対して、自己の測定モジュール２４が接続された試
験対象３との間で詳細通信プロトコルを実施するための
ＣＰＵ３３、及び前記ＰＣＩバス４との間に介挿された
ＰＣＩターゲット１２が接続されている。 【００３０】ＰＣＩターゲット１２は、前述したよう
に、ＰＣＩバス４と内部のローカルバス９とを接続する
機能（インタフェース機能）を有する。また、電源遮断
時においても記憶内容が保持されるＥ2ＰＲＯＭ１３
は、ＰＣＩターゲット１２に対する各種の設定値を記憶
する。この各種の設定値とは、例えば、この測定モジュ
ール２に接続される試験対象３の識別番号、リード・ラ
イトのサイクル、レベル（利得）調整、初期値等のこの
測定モジュール２の電源投入時に、この測定モジュール
２を正常に起動させるための最低限の情報である。 【００３１】そして、この設定値は、この測定モジュー
ル２４を製造する過程で、Ｅ2ＰＲＯＭ１３に対してデ
ータを書込むＥ2ＰＲＯＭ書込専用装置を用いて書込ま
れる。 【００３２】このような構成の試験装置２９において、
操作者は、自己が選択した試験対象３の測定モジュール
２４を試験装置２０のスロット２３に装着して、該当試
験対象３を測定モジュール２４の入力端子３１ａと出力
端子３１ｂに接続する。そして、操作者が表示器２１と
操作パネル２２等のＧＵＩ２５を用いて試験項目と試験
条件とを操作入力すると、この試験項目と試験条件とか
らなる試験指示は、ＬＡＮ２７、ＰＣＩバス４、ＰＣＩ
バスブリッジ５及びシステムバス（ＳＨバス）６を介し
て試験実施サーバ２８のＣＰＵ７へ通知される。 【００３３】すると、ＣＰＵ７が、主メモリ８に記憶さ
れた試験プログラムに従って、ＰＣＩバスブリッジ５，
ＰＣＩバス４、測定モジュール２４を介して試験対象３
に対して各種の試験を実施する。この場合、試験を実施
する過程で、試験対象３との間で実施する必要がある詳
細通信プロトコルに基づく信号（データ）の授受は、測
定モジュール２４内に組込まれたＣＰＵ３２が実施す
る。 【００３４】試験結果は、一旦主メモリ８内の試験結果
領域へ記憶されたのち、ＣＰＵ７の指示に基づいて、Ｌ
ＡＮインタフェース３０、ＬＡＮ２７を介して、操作ク
ライアント２６へ送信する。操作クライアント２６は、
試験実施サーバ２８から受信した試験結果を表示器２１
に表示出力する。 【００３５】このように構成された試験装置２０におい
て、試験対象３に対する試験項目における試験条件にお
いて、データ（信号）の送受信条件を故意にベストモー
ドから外す場合や、故意に試験対象３の識別番号を間違
った識別番号に設定する場合や、測定モジュール２４に
接続される試験対象３の仕様や規格が変更になる場合等
に起因して、測定モジュール２４のＥ2ＰＲＯＭ１３に
書込まれている設定値を変更（更新）する必要が生じた
場合は、図４に示す手順で、Ｅ2ＰＲＯＭ１３内に書込
まれている設定値を変更（更新）する。 【００３６】先ず、操作者は、自己のパーソナル・コン
ピュータ（ＰＣ）からなる情報端末２９をＬＡＮ２７に
接続して、この情報端末２９へ変更したい設定値の更新
データを例えばキーボードから入力する（ステップＳ
１）。 【００３７】ＰＣからなる情報端末２９は、この入力さ
れた設定値の更新データを試験実施サーバ２８のシステ
ムバス（ＳＨバス）６に接続された主メモリ８の設定値
領域へファイル転送プロトコル（ＴＦＴＰ）を用いて一
括転送する（ステップＳ２）。 【００３８】主メモリ８の設定値領域に対する設定値の
更新データのファイル転送処理が終了すると、試験実施
サーバ２８のＣＰＵ７は、主メモリ８の設定値領域に書
込まれた設定値の更新データを順次読出して、ＰＣＩバ
ス４に接続された測定モジュール２４のＥ2ＰＲＯＭ１
３に順次書込む（ステップＳ３）。 【００３９】このように構成された、試験装置の設定値
の更新方法においては、測定モジュール２４のＥ2ＰＲ
ＯＭ１３内に書込まれた設定値を変更する必要が生じた
場合、ＰＣ等の情報端末２９を用いて、設定値の更新デ
ータを、ＬＡＮ２７を介して試験実施サーバ２８の主メ
モリ８に一括してファイル転送するのみでよい。 【００４０】したがって、従来手法のように、Ｅ2ＰＲ
ＯＭ１３を測定モジュール２から取外して、Ｅ2ＰＲＯ
Ｍ書込専用装置に装着し、Ｅ2ＰＲＯＭ１３の記憶内容
を変更し、さらに、記憶内容の更新後のＥ2ＰＲＯＭ１
３を再度測定モジュール２に装着する作業を実施する必
要がない。 【００４１】よって、測定モジュール２４のＥ2ＰＲＯ
Ｍ１３に書込まれた設定値を変更する作業時間を大幅に
短縮できるとともに、Ｅ2ＰＲＯＭの取扱いに不慣れな
操作者であっても、簡単にＥ2ＰＲＯＭ１３に記憶され
た設定値を変更でき、試験装置としての操作性を大幅に
向上できる。 【００４２】 【発明の効果】以上説明したように、本発明における試
験装置の設定値の更新方法においては、ＬＡＮを介して
接続された情報端末から設定値の更新データを、ファイ
ル転送プロトコルを用いて試験実施サーバのメモリに書
込み、このメモリに書込まれた更新データを順次読出し
て、ＣＰＩバスを介してＥ2ＰＲＯＭに順次書込むよう
にしている。 【００４３】したがって、Ｅ2ＰＲＯＭを測定モジュー
ルから取外すことなく、またＥ2ＰＲＯＭ書込専用装置
を用いることなく、簡単にＥ2ＰＲＯＭの設定値を更新
でき、試験装置の操作性を大幅に向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る試験装置の設定値の
更新方法が適用される試験装置の外観図 【図２】同実施形態の試験装置の概略構成を示すブロッ
ク図 【図３】同実施形態の試験装置の詳細ブロック図 【図４】同実施形態に係わる試験装置の設定値の更新方
法を示す流れ図 【図５】従来の試験装置を示す模式図 【図６】同従来の試験装置の概略構成を示すブロック図 【図７】同従来の試験装置における測定モジュールの詳
細ブロック図 【符号の説明】 ３…試験対象 ４…ＰＣＩバス ５…ＰＣＩバスブリッジ ６…システムバス ７、３３…ＣＰＵ ８…主メモリ ９…ローカルバス １２…ＰＣＩターゲット １３…Ｅ2ＰＲＯＭ ２０…測定装置 ２４…測定モジュール ２５…ＧＵＩ ２６…操作クライアント ２７…ＬＡＮ ２８…試験実施サーバ ２９…情報端末 ３０…ＬＡＮインタフェース
更新方法が適用される試験装置の外観図 【図２】同実施形態の試験装置の概略構成を示すブロッ
ク図 【図３】同実施形態の試験装置の詳細ブロック図 【図４】同実施形態に係わる試験装置の設定値の更新方
法を示す流れ図 【図５】従来の試験装置を示す模式図 【図６】同従来の試験装置の概略構成を示すブロック図 【図７】同従来の試験装置における測定モジュールの詳
細ブロック図 【符号の説明】 ３…試験対象 ４…ＰＣＩバス ５…ＰＣＩバスブリッジ ６…システムバス ７、３３…ＣＰＵ ８…主メモリ ９…ローカルバス １２…ＰＣＩターゲット １３…Ｅ2ＰＲＯＭ ２０…測定装置 ２４…測定モジュール ２５…ＧＵＩ ２６…操作クライアント ２７…ＬＡＮ ２８…試験実施サーバ ２９…情報端末 ３０…ＬＡＮインタフェース
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 5B048 AA08 AA15 CC07 DD08
5B060 MM02
5B083 BB06 DD10 GG08
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 システムバス（６）で接続された全体を
所定制御するための主ＣＰＵの主メモリ（８）と前記シ
ステムバスにＰＣＩバスブリッジ（５）で接続されたＰ
ＣＩバス（４）とを有し、このＰＣＩバスに接続可能に
試験対象（３）の仕様に対応する測定モジュール（２
４）が着脱自在に設けられ、この測定モジュールを介し
て前記試験対象に対する試験を実施する試験装置（２
０）における、前記ＰＣＩバスと前記測定モジュール内
のローカルバスとのインタフェースを行うとともに測定
モジュールが試験対象を試験するために必要な条件を設
定するＰＣＩターゲット（１２）のその前記設定値を記
憶するＥ2ＰＲＯＭ（１３）の内容を更新する試験装置
の設定値の更新方法であって、 前記ＰＣＩバスに接続されたＬＡＮインタフェース（３
０）に対して外部の情報端末（２９）を接続し、この情
報端末から前記設定値の更新データを、ファイル転送プ
ロトコルを用いて、前記システムバスに接続された主メ
モリ（８）に書込み、 この主メモリに書込まれた更新データを順次読出して、
前記ＰＣＩバスを介して前記Ｅ2ＰＲＯＭに書込むこと
を特徴とする試験装置の設定値の更新方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001232103A JP2003044313A (ja) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | 試験装置の設定値の更新方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001232103A JP2003044313A (ja) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | 試験装置の設定値の更新方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003044313A true JP2003044313A (ja) | 2003-02-14 |
Family
ID=19064072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001232103A Pending JP2003044313A (ja) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | 試験装置の設定値の更新方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003044313A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006050438A (ja) * | 2004-08-06 | 2006-02-16 | Seiko Instruments Inc | 通信装置の接続試験装置、接続試験ソフトウエア、該ソフトウエアを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、接続試験方法及び接続試験コンピュータシステム |
| CN108681497A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-10-19 | 天津市英贝特航天科技有限公司 | 一种cpci总线测试装置及方法 |
-
2001
- 2001-07-31 JP JP2001232103A patent/JP2003044313A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006050438A (ja) * | 2004-08-06 | 2006-02-16 | Seiko Instruments Inc | 通信装置の接続試験装置、接続試験ソフトウエア、該ソフトウエアを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、接続試験方法及び接続試験コンピュータシステム |
| CN108681497A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-10-19 | 天津市英贝特航天科技有限公司 | 一种cpci总线测试装置及方法 |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040217 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040415 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041109 |