JP2003077886A - Wetting treatment device - Google Patents

Wetting treatment device

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JP2003077886A
JP2003077886A JP2002173103A JP2002173103A JP2003077886A JP 2003077886 A JP2003077886 A JP 2003077886A JP 2002173103 A JP2002173103 A JP 2002173103A JP 2002173103 A JP2002173103 A JP 2002173103A JP 2003077886 A JP2003077886 A JP 2003077886A
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JP
Japan
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processed
wet
substrate
processing
wet processing
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JP2002173103A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenichi Mimori
健一 三森
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Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wetting treatment device with which the using amount of wetting treatment liquid can be saved, which can be miniaturized, can be used for a manufacturing line and can rationally perform wetting treatment without needing a large facility cost and an occupation space in a wetting treatment process. SOLUTION: In the wetting treatment device, a substrate 21 is transferred into a treatment chamber 31a having a treatment area 32 in which a plurality of wetting treatment means supplying treatment liquid for wetting treatment on the substrate to be treated 21 is disposed, and wetting treatment is sequentially performed. Transfer rollers 25 for transferring the substrate 21 in an inclined state are disposed in the treatment chamber 31a. A plurality of wetting treatment means are constituted of a pair of push/pull nozzles 41 and 41 and a pair of push/pull nozzles 42 and 42. The substrate to be treated 21 is transferred between the facing parts of the pairs of push/pull nozzles, and wetting treatment is conducted.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は被処理物の表面に処
理液を供給して洗浄、剥離、現像、エッチング、メッ
キ、研磨等のうちの一種類以上のウエット処理を連続し
て行い、さらに必要に応じて乾燥を行うウエット処理装
置に係わり、特に、半導体デバイス、液晶表示パネル等
の製造工程におけるウエットエッチング、洗浄(リン
ス)等のウエット処理工程と、さらに必要に応じて乾燥
工程に用いて好適な技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention continuously supplies one or more kinds of wet treatments such as cleaning, peeling, development, etching, plating and polishing by supplying a treatment liquid to the surface of an object to be treated. Involved in a wet processing device that performs drying as necessary, particularly in a wet processing step such as wet etching and cleaning (rinsing) in the manufacturing process of semiconductor devices, liquid crystal display panels, etc. It relates to a suitable technique.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイス、液晶表示パネル等の電
子機器の分野においては、その製造プロセス中に被処理
物である半導体基板やガラス基板等の被処理基板をウエ
ット処理する工程と、ウエット処理した基板を乾燥させ
る工程が必須である。このようなウエット処理工程と乾
燥工程に用いられる従来のウエット処理装置の例を図1
1に示す。従来のウエット処理装置100は、被処理基
板をウエット処理後、乾燥を行う長尺の処理室101
と、この処理室101内に被処理基板を送り込むローダ
110、処理室101内で処理された基板を取り出すア
ンローダ114から概略構成されており、上記被処理基
板をローダ110から処理室101内を経てアンローダ
114まで自動的に搬送できるようになっている。
2. Description of the Related Art In the field of electronic devices such as semiconductor devices and liquid crystal display panels, a process of wet-treating a substrate to be processed such as a semiconductor substrate or a glass substrate, which is an object to be processed, during the manufacturing process, and a wet treatment. The step of drying the substrate is essential. FIG. 1 shows an example of a conventional wet treatment apparatus used in such a wet treatment process and a drying process.
Shown in 1. A conventional wet processing apparatus 100 includes a long processing chamber 101 for performing wet processing on a substrate to be processed and then drying the substrate.
And a unloader 114 for feeding the substrate to be processed into the processing chamber 101 and an unloader 114 for taking out the substrate processed in the processing chamber 101. The substrate to be processed is transferred from the loader 110 through the inside of the processing chamber 101. It can be automatically conveyed to the unloader 114.

【0003】長尺の処理室101には、被処理基板にエ
ッチング液を供給してウエットエッチングするエッチン
グ槽111、エッチング後の被処理基板を洗浄する洗浄
槽(リンス槽)112、洗浄後の被処理基板を乾燥させ
る乾燥槽113が順次設けられている。隣接する槽間に
は、図12に示すように隔壁115が設けられている。
洗浄槽(リンス槽)112には、図12に示すように被
処理基板121に洗浄液を供給するノズル112aがこ
の洗浄槽112内に搬送された被処理基板121に対し
て上下方向にそれぞれ複数ずつ設けられている。また、
乾燥槽113には、図12に示すように被処理基板12
1に高圧空気を吹き付けるエアナイフ113aが乾燥槽
113内に搬送された被処理基板121に対して上下方
向にそれぞれ複数ずつ設けられている。
In the long processing chamber 101, an etching bath 111 for supplying an etching liquid to the substrate to be processed for wet etching, a cleaning bath (rinsing bath) 112 for cleaning the substrate to be processed after etching, and a substrate to be cleaned after cleaning. A drying tank 113 for drying the processed substrate is sequentially provided. A partition 115 is provided between the adjacent tanks as shown in FIG.
In the cleaning tank (rinsing tank) 112, as shown in FIG. 12, a plurality of nozzles 112a for supplying a cleaning liquid to the substrate 121 to be processed are respectively provided in the vertical direction with respect to the substrate 121 to be processed conveyed into the cleaning tank 112. It is provided. Also,
In the drying tank 113, as shown in FIG.
A plurality of air knives 113a for blowing high-pressure air onto the substrate 1 are provided in the vertical direction with respect to the substrate 121 to be processed that has been transported into the drying tank 113.

【0004】この処理室101内には、ローダ110に
よって処理室101に送り込まれた被処理基板121を
エッチング槽111から洗浄槽112、乾燥槽113を
経てアンローダ114まで送り込むための搬送コロ12
5・・・が設けられている。これら搬送コロ125・・・のう
ち乾燥槽113のエアナイフ113aの近傍に設けられ
たものは、被処理基板121の移動方向に被処理基板1
21が上昇する角度で傾斜搬送できるように傾斜配置さ
れている。エッチング槽111や洗浄槽112内に設け
られた搬送コロ125・・・や、乾燥槽113のエアナイ
フ113aの近傍以外に設けられた搬送コロ125・・・
は、被処理基板121の移動方向に被処理基板121を
水平に保ったまま搬送できるように水平配置されてい
る。
In the processing chamber 101, a transfer roller 12 for sending the substrate 121 to be processed, which has been sent into the processing chamber 101 by the loader 110, from the etching tank 111 to the cleaning tank 112 and the drying tank 113 to the unloader 114.
5 is provided. Of the transport rollers 125, those provided in the vicinity of the air knife 113a of the drying tank 113 are the substrates 1 to be processed in the moving direction of the substrate 121 to be processed.
21 is inclined and arranged so that it can be conveyed by inclination at an angle. The transfer rollers 125 provided in the etching tank 111 and the cleaning tank 112, and the transfer rollers 125 provided in the drying tank 113 other than near the air knife 113a.
Are horizontally arranged in the moving direction of the substrate 121 so that the substrate 121 can be transported while being kept horizontal.

【0005】図11乃至図12に示したような従来のウ
エット処理装置100を用いて被処理基板21にウエッ
ト処理、乾燥を順次施すには以下のように行われる。ま
ず、ローダ110により被処理基板121を処理室10
1のエッチング槽111内に送り込む。ついで、エッチ
ング槽111内に送り込んだ被処理基板121を搬送コ
ロ125・・・により水平搬送しながらウエットエッチン
グする。ついで、ウエットエッチング後の被処理基板1
21を洗浄槽112内に送り込み、被処理基板121を
搬送コロ125・・・により洗浄槽112内を水平搬送し
ながらノズル112a・・・から超純水、オゾン水等の洗
浄液を被処理基板121の両面に吹き付けて、エッチン
グ槽111内で表面に付着したエッチング液を洗い流
す。ついで、洗浄後の被処理基板121を乾燥槽113
内に送り込み、被処理基板121を搬送コロ125・・・
により乾燥槽113内を傾斜搬送しながらエアナイフ1
13a・・・から高圧空気を被処理基板121の両面に吹
き付けて、洗浄槽112内で表面に付着した洗浄液を乾
燥した後、アンローダ114に搬送し、この後、例え
ば、カセット等に収容する。
Using the conventional wet processing apparatus 100 as shown in FIGS. 11 to 12, the substrate 21 to be processed is sequentially subjected to wet processing and drying in the following manner. First, the substrate 121 to be processed is loaded into the processing chamber 10 by the loader 110.
1 into the etching bath 111. Next, the substrate 121 to be processed fed into the etching bath 111 is wet-etched while being horizontally transported by the transport rollers 125 .... Then, the substrate 1 to be processed after the wet etching
21 is fed into the cleaning tank 112, and the substrate 121 to be processed is horizontally conveyed in the cleaning tank 112 by the transfer rollers 125 .. And is sprayed on both surfaces to wash away the etching liquid adhering to the surface in the etching bath 111. Then, the processed substrate 121 after cleaning is dried in the drying tank 113.
It is sent into the inside and the substrate 121 to be processed is conveyed by the roller 125 ...
The air knife 1 is conveyed while being slanted in the drying tank 113 by
High-pressure air is blown onto both surfaces of the substrate 121 to be processed from 13a ... to dry the cleaning liquid adhering to the surface in the cleaning tank 112, and then it is conveyed to the unloader 114, and then stored in, for example, a cassette or the like.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のウ
ェット処理装置100においては、エッチング槽111
内及び洗浄槽112内では被処理基板212を水平搬送
しているために洗浄処理工程の前工程で使用したウエッ
ト処理液、具体的にはエッチング液が洗浄槽112内に
持ち込まれてしまう。その結果、洗浄液が多く必要でこ
れにより洗浄槽112が長くなり、ウエット処理装置が
大型なものとなってしまうという問題があった。このよ
うにウエット処理装置が大型なものとなってしまうと、
このウエット処理装置100が配置されたクリーンルー
ム内の装置の占有スペースが大きくなり、また、洗浄処
理工程だけで多大な設備費を費やしてしまい、極めて非
合理的である。
However, in the conventional wet processing apparatus 100, the etching bath 111 is used.
Since the substrate 212 to be processed is conveyed horizontally inside and inside the cleaning tank 112, the wet processing liquid used in the preceding step of the cleaning processing step, specifically, the etching liquid is brought into the cleaning tank 112. As a result, there is a problem in that a large amount of cleaning liquid is required, which makes the cleaning tank 112 longer and the wet processing apparatus becomes larger. If the wet processing device becomes large in this way,
The space occupied by the apparatus in the clean room in which the wet processing apparatus 100 is disposed becomes large, and a large equipment cost is spent only in the cleaning process, which is extremely irrational.

【0007】また、洗浄槽112内で被処理基板121
を水平搬送しているので、乾燥槽113に送り込む前の
被処理基板121の表面に付着している洗浄液の液膜が
厚くなり、このために乾燥工程で使用する乾燥用気体の
使用量、即ち、エアナイフ113aから出す高圧空気の
使用量が多くなってしまう。このように乾燥用気体の使
用量が多くなると、処理室101内に発生するミストが
多くなるために、ミストが処理室内壁に衝突して被処理
基板121を汚染する場合があるために、処理室101
を大型にする必要があった。
Further, the substrate 121 to be processed is placed in the cleaning tank 112.
Of the cleaning liquid adhering to the surface of the substrate 121 to be processed before being sent to the drying tank 113 becomes thicker, the amount of the drying gas used in the drying process, that is, Therefore, the amount of high-pressure air discharged from the air knife 113a increases. When the amount of the drying gas thus used increases, the mist generated in the processing chamber 101 increases, and the mist may collide with the inner wall of the processing chamber to contaminate the substrate 121 to be processed. Room 101
Had to be large.

【0008】また、半導体デバイス、液晶表示パネル等
の分野においては、近年、被処理物としての基板がます
ます大型化する傾向にあるが、大型の基板のウエット処
理用の装置となればそれだけ装置の占有スペースも大き
くなるため、上記の問題点がより顕著になってくる。ま
た、このように被処理物としての基板の大型化に伴って
ウエット処理液の使用量も多くなるが、洗浄液として超
純水を用いる場合、この超純水の供給量には限界がある
ため、基板の洗浄に供給量が間に合わず、従って大型の
被処理基板のウエット処理に十分対応できないといった
問題があった。以上のような問題は、エッチング後に洗
浄を行う場合だけでなく、ウエット処理を連続して行う
場合においても前工程のウエット処理液が後工程のウエ
ット処理液に混入してしまうため、これを回避するため
にウエット処理装置が大型なものとなるといった問題が
生じてしまう。
In the fields of semiconductor devices, liquid crystal display panels, and the like, in recent years, substrates as objects to be processed have tended to become larger in size. The above-mentioned problem becomes more remarkable because the space occupied by the above becomes larger. Further, as the size of the substrate as the object to be processed increases, the amount of the wet processing liquid used also increases, but when ultrapure water is used as the cleaning liquid, the supply amount of this ultrapure water is limited. However, there is a problem in that the supply amount is not enough for cleaning the substrate, and thus it is not possible to sufficiently cope with the wet processing of a large substrate to be processed. Problems such as the above are avoided not only when performing cleaning after etching but also when performing wet processing continuously, because the wet processing liquid of the previous process mixes with the wet processing liquid of the subsequent process. Therefore, there arises a problem that the wet processing apparatus becomes large in size.

【0009】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、ウエット処理液の使用量の省液化が可能で、装置を
小型化でき、ウエット処理工程に多大な設備費や占有ス
ペースを費やすこともなく、製造ライン等に用いて合理
的にウエット処理できるウエット処理装置を提供するこ
とを課題の1つとする。また、本発明はウエット処理液
の使用量だけでなく、ウエット処理工程後の乾燥工程で
使用する乾燥用気体の使用量の低減が可能で、装置を小
型化でき、ウエット処理工程や乾燥工程に多大な設備費
や占有スペースを費やすこともなく、製造ライン等に用
いて合理的にウエット処理並びに乾燥できるウエット処
理装置を提供することを課題の1つとする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to reduce the amount of wet processing liquid used, to downsize the apparatus, and to spend a large amount of equipment and occupied space in the wet processing step. It is another object of the present invention to provide a wet processing apparatus that can be reasonably used for wet processing in a manufacturing line or the like. Further, the present invention can reduce not only the amount of the wet treatment liquid used, but also the amount of the drying gas used in the drying step after the wet treatment step, the apparatus can be downsized, and the wet treatment step and the drying step can be performed. An object of the present invention is to provide a wet processing apparatus that can be reasonably used for wet processing and drying in a production line or the like without spending a large amount of equipment and occupied space.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明の第1の形態のウエット処理装置は、被処
理物のウエット処理のための処理液を被処理物に向けて
供給するウエット処理手段が設けられた複数のウエット
処理領域が備えられた処理室内に被処理物を搬送してウ
エット処理を順次行うウエット処理装置であって、前記
処理室内に前記被処理物を傾斜した状態で搬送する傾斜
搬送機構が設けられたことを特徴とする。かかる構成の
第1の形態のウエット処理装置によれば、各ウエット処
理領域において被処理物が斜めになるように配置される
こととなり、各ウエット処理領域においてウエット処理
のための処理液(ウエット処理液)で処理を行うときに
ウエット処理液を被処理物に効率良く接触させることが
でき、また、ウエット処理後の処理液は被処理物から効
率良く離れるので、ウエット処理を効率良く行うことが
できる。また、第1の形態のウエット処理装置によれ
ば、前工程のウエット処理を行うウエット処理領域で用
いる処理液が後工程のウエット処理を行うウエット処理
領域に入るのを防止できる(前工程で用いたウエット処
理液が後工程に入り込むのを防止できる)ので、後工程
のウエット処理領域で用いるウエット処理液の使用量の
省液化が可能であり、ウエット処理領域を短くでき、ウ
エット処理装置の小型化が可能である。
In order to solve the above-mentioned problems, the wet processing apparatus according to the first aspect of the present invention supplies a processing liquid for the wet processing of an object to be processed toward the object to be processed. A wet processing apparatus for sequentially carrying out wet processing by transporting an object to be processed into a processing chamber provided with a plurality of wet processing areas provided with wet processing means, wherein the object is inclined in the processing chamber. It is characterized in that an inclined transport mechanism for transporting in a state is provided. According to the wet processing apparatus of the first embodiment having such a configuration, the objects to be processed are arranged obliquely in each wet processing area, and the processing liquid for the wet processing (wet processing) in each wet processing area. The wet treatment liquid can be efficiently brought into contact with the object to be treated when the treatment is performed, and the treatment liquid after the wet treatment is efficiently separated from the object to be treated, so that the wet treatment can be performed efficiently. it can. Further, according to the wet processing apparatus of the first embodiment, it is possible to prevent the processing liquid used in the wet processing area for performing the wet processing in the previous step from entering the wet processing area for performing the wet processing in the subsequent step (used in the previous step). It is possible to prevent the wet processing liquid from entering the post-process), so it is possible to save the amount of the wet processing liquid used in the post-processing wet processing area, shorten the wet processing area, and reduce the size of the wet processing equipment. Is possible.

【0011】また、上記後工程が超純水を用いる洗浄工
程である場合、前工程のウエット処理を行うウエット処
理領域で用いる処理液が後工程の洗浄工程を行うウエッ
ト処理領域に入るのを防止できるので、洗浄工程のウエ
ット処理領域で用いる超純水の使用量の省液化が可能と
なり、被処理物としての基板が1〜2m角の大型になっ
ても超純水の供給不足を改善でき、従って大型の被処理
物のウエット処理に十分対応できる。このように第1の
形態のウエット処理装置では、ウエット処理液の使用量
の省液化と、ウエット処理装置の小型化が可能であるの
で、ウエット処理工程に多大な設備費や占有スペースを
費やすこともなく、製造ライン等に用いて合理的な装置
とすることができ、また、大型の被処理物のウエット処
理に十分対応できる装置とすることができる。
Further, when the post-process is a cleaning process using ultrapure water, it is possible to prevent the processing solution used in the wet process region for performing the wet process of the previous process from entering the wet process region for performing the cleaning process of the subsequent process. As a result, it is possible to reduce the amount of ultrapure water used in the wet processing area of the cleaning process, and it is possible to improve the supply shortage of ultrapure water even if the substrate to be processed becomes large by 1 to 2 m square. Therefore, it is possible to sufficiently cope with the wet processing of a large object to be processed. As described above, in the wet processing apparatus of the first embodiment, it is possible to save the amount of the wet processing liquid used and to reduce the size of the wet processing apparatus. Therefore, a large amount of equipment and occupied space are required for the wet processing process. In addition, it can be used as a rational device for a production line or the like, and can be a device that can sufficiently cope with wet processing of a large object to be processed.

【0012】本発明の第2の形態のウエット処理装置
は、被処理物のウエット処理のための処理液を被処理物
に向けて供給するウエット処理手段が設けられた複数の
ウエット処理領域と、ウエット処理された被処理物を乾
燥させる乾燥機構が設けられた乾燥処理領域とが備えら
れた処理室内に被処理物を搬送してウエット処理、乾燥
処理を順次行うウエット処理装置であって、前記処理室
内に前記被処理物を傾斜した状態で搬送させる傾斜搬送
機構が設けられたことを特徴とする。かかる構成の第2
の形態のウエット処理装置によれば、各ウエット処理領
域において被処理物が斜めになるように配置されること
となり、第1のウエット処理装置と同様の作用効果があ
る。
The wet processing apparatus according to the second aspect of the present invention comprises a plurality of wet processing regions provided with a wet processing means for supplying a processing liquid for the wet processing of the object to be processed toward the object. A wet processing apparatus for carrying out a wet process by sequentially transporting a target object into a processing chamber provided with a drying processing area provided with a drying mechanism for drying a target object subjected to wet processing, and It is characterized in that an inclined transfer mechanism for transferring the object to be processed in an inclined state is provided in the processing chamber. Second of such a configuration
According to the wet processing apparatus of the above-mentioned mode, the objects to be processed are arranged so as to be inclined in each wet processing area, and there is the same effect as the first wet processing apparatus.

【0013】さらにこの第2の形態のウエット処理装置
では、各ウエット処理領域だけでなく、乾燥処理領域に
おいても被処理物が斜めになるように配置されることと
なり、前工程のウエット処理を行うウエット処理領域で
用いる処理液が後工程の乾燥工程を行う乾燥処理領域に
入るのを防止できる(前工程で用いたウエット処理液が
後工程の乾燥工程に入り込むのを防止できる)ので、乾
燥処理領域に送り込まれる前の被処理物の表面に付着し
ているウエット処理液の液膜を薄くでき、乾燥処理領域
で使用する乾燥用気体の使用量を低減でき、また、この
ように乾燥用気体の使用量が少なくて済むので、処理室
内に発生するミストも少なく、従って、このミストに起
因する被処理物の汚染を防止するために処理室を大型化
しなくても済む。また、上記ミストに起因する被処理物
の汚染を防止するための排気風量を大幅に低減できる。
このように第2の形態のウエット処理装置では、ウエッ
ト処理液の使用量だけでなく、ウエット処理工程後の乾
燥工程で使用する乾燥用気体の使用量の低減が可能で、
装置を小型化でき、また排気風量を低減でき、ウエット
処理工程や乾燥工程に多大な設備費や占有スペースを費
やすこともなく、製造ライン等に用いて合理的にウエッ
ト処理並びに乾燥でき、また、大型の被処理物のウエッ
ト処理、乾燥に十分対応できる装置とすることができ
る。
Further, in the wet processing apparatus of the second embodiment, the object to be processed is arranged not only in each wet processing area but also in the dry processing area, and the wet processing of the previous step is performed. It is possible to prevent the treatment liquid used in the wet treatment area from entering the drying treatment area where the post-drying step is performed (it is possible to prevent the wet treatment liquid used in the previous step from entering the post-drying step). The liquid film of the wet processing liquid adhering to the surface of the object to be processed before being sent to the area can be thinned, and the amount of the drying gas used in the drying processing area can be reduced. Since a small amount of mist is used, the amount of mist generated in the processing chamber is small, and therefore, it is not necessary to enlarge the processing chamber in order to prevent contamination of the object to be processed due to this mist. In addition, the exhaust air volume for preventing the contamination of the object to be processed due to the mist can be significantly reduced.
As described above, in the wet treatment apparatus of the second embodiment, not only the amount of the wet treatment liquid used but also the amount of the drying gas used in the drying step after the wet treatment step can be reduced,
The device can be downsized, the exhaust air volume can be reduced, the wet processing and the drying can be reasonably performed by the wet processing and the drying process without spending a lot of equipment and occupied space in the manufacturing line, etc. The apparatus can sufficiently cope with wet processing and drying of a large object.

【0014】第3の形態のウエット処理装置は、被処理
物のウエット処理のための処理液を被処理物に向けて供
給する複数のウエット処理手段が設けられた処理領域が
備えられた処理室内に被処理物を搬送してウエット処理
を順次行うウエット処理装置であって、前記処理室内に
前記被処理物を傾斜した状態で搬送させる傾斜搬送機構
が設けられ、前記複数のウエット処理手段のうち少なく
とも一つは、一端にウエット処理液を導入するための導
入口を有する導入通路と一端にウエット処理後のウエッ
ト処理液をウエット処理の系外に排出するための排出通
路とが形成され、該導入通路と該排出通路とをそれぞれ
の他端において被処理物に向けて開口する開口部を設け
てなる一対のノズル構成体から構成され、これらノズル
構成体は前記開口部が設けられた側同士が隙間を隔てて
対向配置され、該対向部間に前記被処理物が搬送されて
ウエット処理を行うものであることを特徴とする。
The wet processing apparatus according to the third aspect is a processing chamber provided with a processing region provided with a plurality of wet processing means for supplying a processing liquid for the wet processing of an object to be processed toward the object. In the wet processing apparatus for sequentially carrying out the wet processing by carrying the object to be processed, an inclined transfer mechanism for carrying the object to be processed in an inclined state is provided in the processing chamber, and among the plurality of wet processing means. At least one is formed with an inlet passage having an inlet for introducing the wet treatment liquid at one end and an exhaust passage for discharging the wet treatment liquid after the wet treatment to the outside of the wet treatment system at one end, The introduction passage and the discharge passage are composed of a pair of nozzle constituents each having an opening at the other end that opens toward the object to be processed. Is disposed to face the side with each other a gap provided, the between the opposing portions to be treated is characterized by being conveyed and performs wet process.

【0015】かかる構成の第3の形態のウエット処理装
置によれば、特に、ウエット処理手段が上記の構成の一
対のノズル構成体から構成されているので、上記導入通
路からウエット処理液を被処理物表面に供給したら、そ
の処理液を供給した部分以外の被処理物表面にウエット
処理液を接触させることなく、上記排出通路から除去物
(被処理物から除去したもの)を含んだ処理液を外部に
排出できるので、効率良くウエット処理ができる(ウエ
ット処理液が洗浄液である場合は充分な清浄度が得られ
る)。また、上記開口部でのウエット処理液の圧力に対
して排出通路の他端の排出口(開口部が設けられた端部
と反対側の端部)からの吸引力を制御することでウエッ
ト処理液をノズルの外部に漏らすことがなく、排出する
ことができるので、少ない処理液で充分なウエット処理
(ウエット処理液が洗浄液である場合は充分な清浄度が
得られる)ができる。このように第3の形態のウエット
処理装置では、処理領域において被処理物が斜めになる
ように配置されているうえ、ウエット処理手段が上記の
構成のノズル構成体から構成されているので、ウエット
処理液の使用量をさらに少なくでき、ウエット処理装置
の小型化が可能であるので、ウエット処理工程に多大な
設備費や占有スペースを費やすこともなく、製造ライン
等に用いて合理的な装置とすることができ、また、大型
の被処理物のウエット処理に十分対応できる装置とする
ことができる。
According to the wet processing apparatus of the third aspect having such a structure, in particular, since the wet processing means is composed of the pair of nozzle constituent members having the above structure, the wet processing liquid is processed from the introduction passage. After supplying the treatment liquid to the surface of the object, the treatment liquid containing the removed substance (those removed from the substance to be treated) is discharged from the discharge passage without contacting the surface of the substance to be treated other than the portion to which the treatment liquid is supplied with the wet treatment liquid. Since it can be discharged to the outside, the wet treatment can be performed efficiently (sufficient cleanliness can be obtained when the wet treatment liquid is a cleaning liquid). Further, the wet processing is performed by controlling the suction force from the discharge port (the end opposite to the end where the opening is provided) at the other end of the discharge passage with respect to the pressure of the wet processing liquid in the opening. Since the liquid can be discharged without leaking to the outside of the nozzle, sufficient wet treatment can be performed with a small amount of treatment liquid (sufficient cleanliness can be obtained when the wet treatment liquid is a cleaning liquid). As described above, in the wet processing apparatus according to the third aspect, the objects to be processed are arranged so as to be inclined in the processing region, and the wet processing means is composed of the nozzle structure having the above-described structure. Since the amount of processing liquid used can be further reduced and the wet processing apparatus can be downsized, it does not require a large amount of equipment cost or occupied space for the wet processing process, and it can be used as a rational device for production lines. In addition, it is possible to provide an apparatus that can sufficiently cope with the wet processing of a large object to be processed.

【0016】本発明の第4の形態のウエット処理装置
は、被処理物のウエット処理のための処理液を被処理物
に向けて供給する複数のウエット処理手段と、ウエット
処理された被処理物を乾燥させる乾燥機構とが設けられ
た処理領域が備えられた処理室内に被処理物を搬送して
ウエット処理、乾燥処理を順次行うウエット処理装置で
あって、前記処理室内に前記被処理物を傾斜した状態で
搬送させる傾斜搬送機構が設けられ、前記複数のウエッ
ト処理手段のうち少なくとも一つは、一端にウエット処
理液を導入するための導入口を有する導入通路と一端に
ウエット処理後のウエット処理液をウエット処理の系外
に排出するための排出通路とが形成され、該導入通路と
該排出通路とをそれぞれの他端において被処理物に向け
て開口する開口部を設けてなる一対のノズル構成体から
構成され、これらノズル構成体は前記開口部が設けられ
た側同士が隙間を隔てて対向配置され、該対向部間に前
記被処理物が搬送されてウエット処理を行うものである
ことを特徴とする。
The wet processing apparatus according to the fourth aspect of the present invention comprises a plurality of wet processing means for supplying a processing liquid for the wet processing of an object to be processed toward the object, and the object subjected to the wet processing. A wet processing apparatus for sequentially carrying out wet processing and drying processing by carrying an object to be processed into a processing chamber provided with a processing region provided with a drying mechanism for drying the object to be processed in the processing chamber. An inclined transport mechanism for transporting in an inclined state is provided, and at least one of the plurality of wet treatment means has an introduction passage having an introduction port for introducing a wet treatment liquid at one end and a wet post-wet treatment at one end. A discharge passage for discharging the treatment liquid to the outside of the wet treatment system is formed, and an opening for opening the introduction passage and the discharge passage at the other end toward the object to be treated is formed. A pair of nozzle constructions formed by a pair of nozzles, and the nozzle constructions are arranged so that the sides provided with the openings are opposed to each other with a gap therebetween, and the object to be processed is conveyed between the opposed portions to perform a wet treatment. It is characterized by being performed.

【0017】このように第4の形態のウエット処理装置
では、ウエット処理および乾燥処理を行う処理領域にお
いて被処理物が斜めになるように配置されているうえ、
ウエット処理手段が上記の構成の一対のノズル構成体か
ら構成されているので、ウエット処理液の使用量をさら
に少なくでき、またウエット処理工程後の乾燥工程で使
用する乾燥用気体の使用量の低減が可能で、装置を小型
化でき、ウエット処理工程や乾燥工程に多大な設備費や
占有スペースを費やすこともなく、製造ライン等に用い
て合理的にウエット処理並びに乾燥でき、また、大型の
被処理物のウエット処理、乾燥に十分対応できる装置と
することができる。
As described above, in the wet processing apparatus of the fourth embodiment, the object to be processed is arranged so as to be inclined in the processing region where the wet processing and the drying processing are performed.
Since the wet treatment means is composed of the pair of nozzle constituents having the above-mentioned configuration, the amount of the wet treatment liquid used can be further reduced, and the amount of the drying gas used in the drying step after the wet treatment step can be reduced. It is possible to reduce the size of the equipment, and without using a large amount of equipment and occupied space in the wet treatment process and the drying process, the wet treatment and the drying can be rationally used in the production line, and the large-scale coating can be used. It is possible to provide an apparatus capable of sufficiently handling wet processing and drying of a processed material.

【0018】第5の形態のウエット処理装置は、上記第
3又は第4の形態のウエット処理装置において、前記一
対のノズル構成体の対向する対向部間の距離をa、ノズ
ル構成体の開口部を有する側で、被処理物の搬送方向に
沿った方向の幅をb、これらノズル構成体の対向部間に
搬送される被処理物の傾斜角度をθとしたとき、0<θ
<arctan(a/b)なる条件を満たすようにすること
が、各ノズル構成体にウエット処理液を安定して給排水
することができ、しかも被処理物をこれらノズル構成体
に接触させることなく、この一対のノズル構成体の対向
部間にこの被処理物を搬送してウエット処理を行うこと
ができる点で好ましい。
The wet processing apparatus according to the fifth aspect is the wet processing apparatus according to the third or fourth aspect, wherein the distance between the facing opposing portions of the pair of nozzle assemblies is a, and the opening of the nozzle assembly is Where the width in the direction along which the object to be processed is conveyed is b and the inclination angle of the object to be processed that is conveyed between the facing portions of these nozzle structures is θ, 0 <θ
By satisfying the condition of <arctan (a / b), the wet treatment liquid can be stably supplied to and drained from each nozzle constituent, and moreover, the object to be treated is not brought into contact with these nozzle constituents, This is preferable in that the object to be processed can be carried between the facing portions of the pair of nozzle constituents to perform the wet processing.

【0019】上記のいずれかの構成の本発明のウエット
処理装置において、前記傾斜搬送機構は、前記処理室内
を移動する被処理物の移動方向に被処理物が上昇する角
度で傾斜搬送するものであることを特徴とする。
In the wet processing apparatus of the present invention having any one of the above-mentioned constitutions, the inclined transfer mechanism is an apparatus for performing the inclined transfer at an angle at which the processing object moves in the moving direction of the processing object moving in the processing chamber. It is characterized by being.

【0020】また、上記のいずれかの構成の本発明のウ
エット処理装置において、前記乾燥機構は移動可能なも
のであることが、被処理物を乾燥する際に、被処理物の
移動量(搬送速度)が小さくても、乾燥機構を移動させ
ることで被処理物の表面を効率良く乾燥させることがで
き、このようにした場合には、被処理物の搬送速度が大
きいまま固定の乾燥機構により被処理物の表面を乾燥さ
せる場合と比べて、乾燥処理領域を短くでき、ウエット
処理装置の小型化が可能である。また、上記の第3乃至
第4の形態のウエット処理装置では、上記ウエット処理
手段を移動可能な構成としてもよい。
In the wet processing apparatus of any one of the above-described configurations of the present invention, the drying mechanism is movable so that when the object is dried, the amount of movement (conveyance) of the object is transferred. Even if the speed is low, the surface of the object to be processed can be efficiently dried by moving the drying mechanism. In such a case, the fixed drying mechanism can be used while the transportation speed of the object to be processed is high. Compared with the case where the surface of the object to be processed is dried, the dry processing area can be shortened and the wet processing apparatus can be downsized. Further, in the wet processing devices of the third to fourth embodiments, the wet processing means may be movable.

【0021】また、上記のいずれかの構成の本発明のウ
エット処理装置において、前記処理室内に被処理物を保
持する保持手段が設けられ、該保持手段で前記被処理物
の端部の近傍に位置する部分には多孔質部材が被処理物
の端部に接触あるいは非接触で設けられていることが好
ましい。また、上記多孔質部材は親水性であることが望
ましい。上記のような保持手段が前記処理室内に設けら
れていると、ウエット処理液として水系(溶媒が水のも
の)処理液使用時はウエット処理後に被処理物の表面に
付着しているウエット処理液の液滴が毛細管現象により
上記の多孔質部材に吸収されるので、被処理物の表面に
付着しているウエット処理液の液膜を薄くでき、特に、
前記処理室に乾燥処理領域が備えられている場合には、
被処理物の表面に付着しているウエット処理液の液滴が
毛細管現象により上記の多孔質部材に吸収されるので、
被処理物の表面に付着しているウエット処理液の液膜を
薄くでき、乾燥処理領域で使用する乾燥用気体の使用量
を低減でき、また、このように乾燥用気体の使用量が少
なくて済むので、処理室内に発生するミストも少なく、
従って、このミストに起因する被処理物の汚染を防止す
るために処理室を大型化しなくても済む。
Further, in the wet processing apparatus of the present invention having any one of the above-mentioned constitutions, holding means for holding an object to be processed is provided in the processing chamber, and the holding means is provided near the end of the object to be processed. It is preferable that a porous member is provided in the position where it is in contact or non-contact with the end of the object to be treated. Moreover, it is desirable that the porous member be hydrophilic. When the holding means as described above is provided in the processing chamber, the wet treatment liquid adhered to the surface of the object to be treated after the wet treatment when the aqueous treatment liquid (solvent is water) is used as the wet treatment liquid. Since the liquid droplet of is absorbed by the above porous member by the capillary phenomenon, the liquid film of the wet treatment liquid adhering to the surface of the object to be treated can be thinned, and in particular,
When the processing chamber is provided with a dry processing region,
Since the droplets of the wet treatment liquid adhering to the surface of the object to be treated are absorbed by the above porous member by the capillary phenomenon,
The liquid film of the wet processing liquid adhering to the surface of the object to be processed can be thinned, the amount of drying gas used in the drying processing area can be reduced, and in this way, the amount of drying gas used is small. Since there is no mist generated in the processing chamber,
Therefore, it is not necessary to upsize the processing chamber in order to prevent the contamination of the object to be processed due to this mist.

【0022】また、第3乃至第5のいずれかに記載のウ
エット処理装置において、前記一対のノズル構成体と、
被処理物の被処理面に沿って前記一対のノズル構成体と
前記被処理物とを相対移動させることにより前記被処理
物の被処理面全域を処理するためのノズル構成体・被処
理物相対移動手段とを有するものであることが、上記ノ
ズル構成体の利点を有したまま被処理物の被処理面全域
をウエット処理することができ、また、一対のノズル構
成体を被処理物に対して相対移動させることができるの
で、被処理物の搬送距離が短くて済み、ウエット処理領
域を短くでき、具体的にはウエット処理領域を被処理物
よりやや大きい程度の大きさとすることも可能で、ウエ
ット処理装置をさらに小型化することが可能である。ま
た、上記第1乃至第5のいずれかのウエット処理装置に
おいて、前記搬送機構には被処理物をその幅方向(被処
理部物の搬送方向と直交する方向)の中央部が高くなる
ように湾曲させながら搬送する機能が備えられているこ
とが好ましい。このような構成のウエット処理装置によ
れば、処理領域内を被処理物を搬送してウエット処理や
乾燥処理を行う際、被処理物はその長さ方向(被処理物
の搬送される方向)で傾斜した状態でウエット処理や乾
燥処理されるとともに幅方向の中央部が高くなるように
湾曲させながらウエット処理や乾燥処理されるので、被
処理基板21を傾斜させただけの状態でウエット処理や
乾燥処理する場合に比べてウエット処理後の処理液の液
切れをさらに向上でき、乾燥効率もさらに向上できる。
この場合、乾燥機構(例えば、エアナイフ)の形状も被
処理物の湾曲された形状に合わせて湾曲した形状にして
おくのがより好ましい。また、上記第2又は第4のウエ
ット処理装置において、前記乾燥機構は前記搬送機構の
邪魔にならないように配置されていることが好ましく、
具体的には被処理物の下側に配置される乾燥機構は、搬
送機構間に配置されていてもよく、さらに前記乾燥機構
は複数に分割して搬送コロ間に配置されていてもよい。
このような構成のウエット処理装置によれば、前記乾燥
機構が前記搬送機構の邪魔にならないように配置された
ことにより、乾燥機構から吹き出した高圧空気が搬送機
構により遮られるのを防止できるので、被処理物に付着
したウエット処理後の処理液を高圧空気により効率良く
乾燥できる。また、本発明のウエット処理装置によりウ
エット処理や乾燥処理が施される被処理物としては、プ
ラスチック基板やガラス基板、半導体基板等の基板等を
挙げることができるが、ウエット処理装置が上記のよう
に被処理物の幅方向の中央部が高くなるように湾曲させ
ながらウエット処理や乾燥処理を行う装置である場合に
は、被処理物はヤング率がヤング率が58〜75GPa
の範囲内のものを用いることが好ましく、また、被処理
物がガラス基板である場合は、0.04mm〜0.7m
mのガラス基板であることが好ましい。
Further, in the wet processing apparatus according to any one of the third to fifth aspects, the pair of nozzle constituents,
Nozzle structure / processing object relative for processing the entire area of the processing surface of the processing object by relatively moving the pair of nozzle components and the processing object along the processing surface of the processing object By having a moving means, it is possible to perform wet processing on the entire surface to be processed of the object to be processed while maintaining the advantages of the nozzle structure, and a pair of nozzle structures to the object to be processed. Since it can be moved relative to each other, the conveyance distance of the object to be processed can be short, the wet processing area can be shortened, and specifically, the wet processing area can be slightly larger than the object to be processed. It is possible to further reduce the size of the wet processing apparatus. Further, in any of the first to fifth wet processing apparatuses, the conveyance mechanism is configured such that a central portion of a processing object in a width direction (a direction orthogonal to a transportation direction of the processing target object) is higher. It is preferable to have a function of conveying while curving. According to the wet processing apparatus having such a configuration, when the object to be processed is transported in the processing region to perform the wet processing or the drying process, the object to be processed is in the length direction (direction in which the object to be processed is transported). The wet treatment and the dry treatment are performed while being inclined, and the wet treatment and the dry treatment are performed while curving so that the central portion in the width direction becomes high. Therefore, the wet treatment and the dry treatment are performed only when the substrate 21 is inclined. Compared with the case of performing the drying treatment, the drainage of the treatment liquid after the wet treatment can be further improved, and the drying efficiency can be further improved.
In this case, it is more preferable that the shape of the drying mechanism (for example, the air knife) is also curved according to the curved shape of the object to be treated. In the second or fourth wet processing apparatus, it is preferable that the drying mechanism is arranged so as not to interfere with the transport mechanism,
Specifically, the drying mechanism arranged on the lower side of the object to be processed may be arranged between the conveying mechanisms, and further, the drying mechanism may be divided into plural pieces and arranged between the conveying rollers.
According to the wet processing apparatus having such a configuration, since the drying mechanism is arranged so as not to interfere with the transport mechanism, it is possible to prevent high-pressure air blown from the drying mechanism from being blocked by the transport mechanism. The treatment liquid after the wet treatment attached to the object to be treated can be efficiently dried by high pressure air. Further, examples of the object to be subjected to the wet treatment or the drying treatment by the wet treatment apparatus of the present invention include plastic substrates, glass substrates, substrates such as semiconductor substrates, etc. In the case of an apparatus that performs a wet treatment or a drying treatment while curving the center of the object to be processed in the width direction to be high, the object has a Young's modulus of 58 to 75 GPa.
It is preferable to use one within the range of 0.04 mm to 0.7 m when the object to be processed is a glass substrate.
It is preferably a glass substrate of m.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。なお、以下に述べる実施形態では
本発明のウエット処理装置を、被処理物として数百mm
角程度、好ましくは1〜2m角の大型のガラス基板等の
被処理基板にウエットエッチング処理後、洗浄処理(リ
ンス処理)を施し、この後乾燥処理を施す工程を行う場
合に好適に用いられるウエット処理装置に適用する場合
について説明する。 [第1の実施の形態]図1は、本発明の第1の実施形態
のウエット処理装置の概略構成を示す図である。図2
は、図1のウエット処理装置のウエット処理領域、洗浄
処理領域、乾燥処理領域を示す断面図である。第1の実
施形態のウエット処理装置1は、被処理基板(被処理
物)をウエット処理後、乾燥を行う長尺の処理室1a
と、この処理室1a内に被処理基板を送り込むローダ1
0、処理室1a内で処理された被処理基板を取り出すア
ンローダ14から概略構成されており、上記被処理基板
をローダ10から処理室1a内を経てアンローダ14ま
で自動的に搬送できるようになっている。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the embodiment described below, the wet processing apparatus of the present invention is used as an object to be processed for several hundred mm.
Wet suitable for use in a step of performing a wet etching treatment on a substrate to be treated such as a large glass substrate having a square shape, preferably 1 to 2 square meters, a cleaning treatment (rinsing treatment), and then a drying treatment. A case of applying to a processing device will be described. [First Embodiment] FIG. 1 is a view showing the schematic arrangement of a wet processing apparatus according to the first embodiment of the present invention. Figure 2
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a wet processing area, a cleaning processing area, and a drying processing area of the wet processing apparatus of FIG. 1. The wet processing apparatus 1 according to the first embodiment is a long processing chamber 1a in which a substrate to be processed (object to be processed) is subjected to wet processing and then dried.
And a loader 1 for feeding the substrate to be processed into the processing chamber 1a
0, the unloader 14 for taking out the substrate to be processed processed in the processing chamber 1a is roughly configured, and the substrate to be processed can be automatically transferred from the loader 10 to the unloader 14 through the processing chamber 1a. There is.

【0024】長尺の処理室1aには、被処理基板にエッ
チング液(ウエット処理液)を供給してウエットエッチ
ングするエッチング処理領域(ウエット処理領域)1
1、エッチング後の被処理基板を洗浄する洗浄処理領域
(ウエット処理領域)12、洗浄後の被処理基板を乾燥
させる乾燥処理領域13がローダ10側からアンローダ
14側にかけて順次設けられている。処理室1a内の隣
接する処理領域間には、図2に示すように隔壁15が上
下にそれぞれ設けられている。エッチング処理領域11
内には、図2に示すように被処理基板21にエッチング
液を供給するシャワーノズル(ウエット処理手段)11
aがこのエッチング処理領域11内に搬送された被処理
基板21に対して上下方向にそれぞれ複数ずつ設けられ
ている。なお、図中符号Sは、被処理基板21の搬送方
向(移動方向)である。
An etching treatment region (wet treatment region) 1 for supplying an etching liquid (wet treatment liquid) to a substrate to be processed and performing wet etching in the long processing chamber 1a.
1. A cleaning processing area (wet processing area) 12 for cleaning the processed substrate after etching and a drying processing area 13 for drying the processed substrate after cleaning are sequentially provided from the loader 10 side to the unloader 14 side. As shown in FIG. 2, partition walls 15 are vertically provided between the adjacent processing regions in the processing chamber 1a. Etching area 11
As shown in FIG. 2, a shower nozzle (wet processing means) 11 for supplying an etching liquid to the substrate to be processed 11 is provided therein.
A plurality of a are provided in the vertical direction with respect to the substrate to be processed 21 transported into the etching processing region 11. In addition, reference symbol S in the drawing indicates a conveyance direction (movement direction) of the substrate to be processed 21.

【0025】また、洗浄処理領域12内には、図2に示
すように被処理基板21に洗浄液を供給するシャワーノ
ズル(ウエット処理手段)12aがこの洗浄処理領域1
2内に搬送された被処理基板21に対して上下方向にそ
れぞれ複数ずつ設けられている。また、乾燥処理領域1
3内には、図2に示すように被処理基板21に高圧空気
(乾燥用気体)を吹き付けるエアナイフ(乾燥機構)1
3aが乾燥処理領域13内に搬送された被処理基板21
に対して上下方向にそれぞれ複数ずつ設けられている。
A shower nozzle (wet processing means) 12a for supplying a cleaning liquid to the substrate to be processed 21 is provided in the cleaning processing area 1 as shown in FIG.
A plurality of substrates 21 are provided in the vertical direction with respect to the substrate to be processed 21 that has been transported into the substrate 2. In addition, the dry processing area 1
An air knife (drying mechanism) 1 that blows high-pressure air (drying gas) onto the substrate 21 to be processed is shown in FIG.
The substrate 21 to be processed 3a is transported into the dry processing region 13.
In contrast, a plurality of them are provided in the vertical direction.

【0026】この処理室1a内には、ローダ10によっ
て処理室1aに送り込まれた被処理基板21をエッチン
グ処理領域11から洗浄処理領域12、乾燥処理領域1
3を経てアンローダ14まで送り込むための搬送コロ2
5・・・が設けられている。これら搬送コロ25・・・は、処
理室1a内において、即ち、エッチング処理領域11、
洗浄処理領域12、乾燥処理領域13の全ての領域にお
いて被処理基板21を傾斜搬送できるように傾斜配置さ
れている。詳しくは搬送コロ25・・・は、処理室1a内
に送り込まれた被処理基板21が移動方向(搬送方向)
に上昇するような角度で搬送できるように配置されてい
る。 さらに好ましくは搬送コロ25・・・は、処理室1
a内に送り込まれた被処理基板21が傾斜角度θ、0.
5度乃至30度、好ましくは1度乃至15度程度で傾斜
した状態で搬送できるように配置されていることが望ま
しい。
In the processing chamber 1a, the substrate 21 to be processed, which is sent into the processing chamber 1a by the loader 10, is transferred from the etching processing region 11 to the cleaning processing region 12 and the drying processing region 1.
Transport roller 2 for feeding to unloader 14 via 3
5 is provided. These transport rollers 25 ... Are located in the processing chamber 1a, that is, the etching processing area 11,
All of the cleaning processing region 12 and the drying processing region 13 are arranged so as to be inclined so that the substrate to be processed 21 can be conveyed by inclination. More specifically, the transfer rollers 25 ... The transfer target substrate 21 sent into the processing chamber 1a is in the moving direction (transfer direction).
It is arranged so that it can be conveyed at an angle so as to rise. More preferably, the transport roller 25 ... Is the processing chamber 1.
When the substrate 21 to be processed fed into the inside of the a is tilted at angles θ, 0.
It is desirable to arrange them so that they can be conveyed in an inclined state at an angle of 5 to 30 degrees, preferably about 1 to 15 degrees.

【0027】図1乃至図2に示したようなウエット処理
装置1を用いて被処理基板21にウエットエッチング処
理、洗浄処理、乾燥処理を順次施すには以下のように行
われる。まず、ローダ10により被処理基板21を処理
室1aのエッチング処理領域11内に送り込む。そして
エッチング処理領域11内に送り込んだ被処理基板21
を搬送コロ25・・・によりこの被処理基板21が移動方
向(搬送方向)に上昇するような角度で傾斜搬送しなが
ら上下のシャワーノズル11a・・・からエッチング液を
被処理基板21の両面に吹き付けてウエットエッチング
する。ここでの被処理基板21が移動方向(搬送方向)
Sは、ローダ10側からアンローダ14側に移動する方
向、言い換えれば、図2の紙面の左側から右側に移動す
る方向である。
The wet etching process, the cleaning process, and the drying process are sequentially performed on the substrate to be processed 21 by using the wet processing apparatus 1 as shown in FIGS. 1 and 2 as follows. First, the substrate to be processed 21 is sent into the etching processing region 11 of the processing chamber 1a by the loader 10. Then, the processed substrate 21 sent into the etching processing region 11
While conveying the substrate 21 at an angle so as to rise in the moving direction (conveying direction) by the conveying rollers 25 ... Spray and wet etch. The substrate 21 to be processed here is in the moving direction (conveying direction)
S is the direction of movement from the loader 10 side to the unloader 14 side, in other words, the direction of movement from the left side to the right side of the paper surface of FIG.

【0028】ついで、ウエットエッチング後の被処理基
板21を洗浄処理領域12内に送り込む。そして洗浄処
理領域12内に送りんだ被処理基板21を搬送コロ25
・・・によりこの被処理基板21が移動方向(搬送方向)
に上昇するような角度で傾斜搬送しながら上下のシャワ
ーノズル12a・・・から超純水、オゾン水、水素水等の
洗浄液を被処理基板21の両面に吹き付けて、エッチン
グ槽11内で表面に付着したエッチング液を洗い流す。
Then, the substrate 21 to be processed after the wet etching is sent into the cleaning processing region 12. Then, the substrate to be processed 21 sent into the cleaning processing region 12 is conveyed by the transfer roller 25.
The substrate 21 to be processed is moved in the moving direction (conveying direction).
While being conveyed at an angle so as to rise, cleaning liquids such as ultrapure water, ozone water, and hydrogen water are sprayed onto both surfaces of the substrate 21 to be processed from the upper and lower shower nozzles 12a ... Rinse away the attached etching liquid.

【0029】ついで、洗浄後の被処理基板21を乾燥処
理領域13内に送り込む。そして乾燥処理領域13内に
送り込んだ被処理基板21を搬送コロ25・・・によりこ
の被処理基板21が移動方向(搬送方向)に上昇するよ
うな角度で傾斜搬送しながら上下のエアナイフ13a・・
・から高圧空気を被処理基板21の両面に吹き付けて、
洗浄処理領域12内で表面に付着した洗浄液を乾燥した
後、アンローダ14に搬送し、この後、例えば、カセッ
ト等に収容する。
Then, the cleaned substrate 21 is sent into the dry processing region 13. The upper and lower air knives 13a, ...
・ By blowing high pressure air from both sides of the substrate 21 to be processed,
After the cleaning liquid adhering to the surface in the cleaning region 12 is dried, it is transported to the unloader 14 and then stored in, for example, a cassette or the like.

【0030】第1の実施形態のウエット処理装置1によ
れば、処理室1a内に被処理基板21を傾斜した状態で
搬送させる傾斜搬送機構としての搬送コロ25・・・が設
けられたエッチング処理領域11と洗浄処理領域12に
おいて被処理基板21が斜めに配置された状態で処理さ
れることとなり、これらエッチング処理領域11と洗浄
処理領域12においてウエットエッチング処理や洗浄処
理を行うときにエッチング液や洗浄液を被処理基板21
に効率良く接触させることができ、また、各処理領域に
おいてウエット処理後の処理液は被処理基板21から効
率良く離れるので、エッチング処理や洗浄処理を効率良
く行うことができる。
According to the wet processing apparatus 1 of the first embodiment, the etching process is provided with the transfer rollers 25 ... As an inclined transfer mechanism for transferring the substrate 21 to be processed in an inclined state into the processing chamber 1a. In the region 11 and the cleaning process region 12, the substrate 21 to be processed is processed in a state of being arranged obliquely, and when the wet etching process or the cleaning process is performed in the etching process region 11 and the cleaning process region 12, an etching solution or The cleaning liquid is applied to the substrate 21 to be processed.
Since the processing liquid after the wet processing is efficiently separated from the substrate 21 to be processed in each processing region, the etching processing and the cleaning processing can be efficiently performed.

【0031】また、第1の実施形態のウエット処理装置
1によれば、前工程のウエット処理を行うエッチング処
理領域11で用いるエッチング液が後工程のウエット処
理を行う洗浄処理領域12に入るのを防止できる(前工
程で用いたエッチング液が後工程に入り込むのを防止で
きる)ので、後工程の洗浄処理領域12で用いる洗浄液
の使用量の省液化が可能であり、洗浄処理領域12を短
くでき、ウエット処理装置の小型化が可能である。ま
た、上記後工程のウエット処理を行う工程が超純水を用
いる洗浄工程である場合、前工程のウエット処理を行う
エッチング処理領域11で用いるエッチング液が後工程
の洗浄工程を行う洗浄処理領域12に入るのを防止でき
るので、洗浄工程の洗浄処理領域12で用いる超純水の
使用量の省液化が可能となり、被処理基板21が1〜2
m角の大型になっても超純水の供給不足を改善でき、従
って大型の被処理基板のウエットエッチング処理や洗浄
処理等のウエット処理に十分対応できる。
Further, according to the wet processing apparatus 1 of the first embodiment, the etching solution used in the etching processing area 11 for performing the wet processing of the previous step enters the cleaning processing area 12 for performing the wet processing of the subsequent step. Since this can be prevented (the etching liquid used in the previous process can be prevented from entering the subsequent process), the amount of the cleaning liquid used in the cleaning process region 12 in the subsequent process can be saved and the cleaning process region 12 can be shortened. The size of the wet processing device can be reduced. Further, when the step of performing the wet treatment in the subsequent step is a cleaning step using ultrapure water, the etching solution used in the etching processing region 11 for performing the wet processing in the previous step is the cleaning processing region 12 for performing the cleaning step in the subsequent step. Since it is possible to prevent entry into the cleaning process area 12, it is possible to reduce the amount of ultrapure water used in the cleaning process region 12 in the cleaning process, and the substrate 21 to be processed is 1-2.
Even if the size of m-square becomes large, the shortage of supply of ultrapure water can be improved, and therefore, wet processing such as wet etching or cleaning of a large substrate to be processed can be sufficiently dealt with.

【0032】さらにこのウエット処理装置1では、エッ
チング処理領域11や洗浄処理領域12だけでなく、乾
燥処理領域13においても被処理基板21が斜めに配置
された状態で処理されることとなり、前工程のウエット
処理を行う洗浄処理領域12で用いる洗浄液が後工程の
乾燥工程を行う乾燥処理領域13に入るのを防止できる
(前工程で用いた洗浄液が後工程の乾燥工程に入り込む
のを防止できる)ので、乾燥処理領域13に送り込まれ
る前の被処理基板21の表面に付着している洗浄液の液
膜を薄くでき、乾燥処理領域13で使用する圧力空気の
使用量を低減でき、具体的には本実施形態のウエット処
理装置の圧力空気の消費量は、図11乃至図12に示し
た従来のウエット処理装置における圧力空気の消費量の
1/10倍以下とすることができる。また、このウエッ
ト処理装置1ではこのように圧力空気の使用量が少なく
て済むので、処理室1a内に発生するミストも少なく、
従って、このミストに起因する被処理基板21の汚染を
防止するために処理室1aを大型化しなくても済む。ま
た、上記ミストに起因する被処理基板の汚染を防止する
ための排気風量も従来のウエット処理装置の排気風量の
1/10倍以下にすることができる。
Further, in the wet processing apparatus 1, the substrate 21 to be processed is processed not only in the etching processing region 11 and the cleaning processing region 12 but also in the drying processing region 13 in a state in which the substrate 21 is obliquely arranged. It is possible to prevent the cleaning liquid used in the cleaning processing region 12 for performing the wet processing of the above from entering the drying processing region 13 for performing the drying process in the subsequent process (the cleaning liquid used in the previous process can be prevented from entering the drying process in the subsequent process). Therefore, the liquid film of the cleaning liquid adhering to the surface of the substrate to be processed 21 before being sent to the dry processing region 13 can be made thin, and the amount of pressurized air used in the dry processing region 13 can be reduced. The pressure air consumption of the wet processing apparatus of this embodiment is 1/10 times or less of the pressure air consumption of the conventional wet processing apparatus shown in FIGS. 11 to 12. Rukoto can. Further, in this wet processing apparatus 1, since the amount of pressurized air used is small as described above, less mist is generated in the processing chamber 1a,
Therefore, it is not necessary to upsize the processing chamber 1a in order to prevent contamination of the substrate 21 to be processed due to this mist. Further, the exhaust air volume for preventing the contamination of the substrate to be processed due to the mist can be set to 1/10 times or less of the exhaust air volume of the conventional wet processing apparatus.

【0033】従って第1の実施形態のウエット処理装置
1では、エッチング液や洗浄液等のウエット処理液の使
用量だけでなく、ウエットエッチング処理や洗浄処理等
のウエット処理工程後の乾燥工程で使用する乾燥用気体
の使用量の低減が可能で、装置を小型化でき、ウエット
処理工程や乾燥工程に多大な設備費や占有スペースを費
やすこともなく、製造ライン等に用いて合理的にウエッ
ト処理並びに乾燥でき、また、大型の被処理基板のウエ
ット処理、乾燥に十分対応できる装置とすることができ
る。
Therefore, in the wet processing apparatus 1 of the first embodiment, not only the amount of the wet processing liquid such as the etching liquid or the cleaning liquid used, but also the drying process after the wet processing such as the wet etching process or the cleaning process is used. The amount of drying gas used can be reduced, the device can be downsized, and the wet processing and drying process can be reasonably performed without using a large amount of equipment and occupation space, and can be used for a wet process in a manufacturing line. It is possible to provide an apparatus which can be dried and can sufficiently cope with wet processing and drying of a large substrate to be processed.

【0034】なお、第1の実施形態のウエット処理装置
1においては、乾燥機構としてのエアナイフ13aが固
定式のものである場合について説明したが、図3に示す
ように矢印S方向(被処理基板21の移動方向やその
反対方向)移動可能なエアナイフ23aを設けてもよ
い。このようにエアナイフ23aが移動可能なものであ
れば、乾燥処理領域13において被処理基板21を乾燥
させる際に、被処理基板21の移動量(搬送速度)が小
さくても、エアナイフ23aをS方向にトラバースさ
せて被処理基板21の表面を効率良く乾燥させるように
することができ、このようにした場合には、被処理基板
21の搬送速度が大きい状態のまま固定のエアナイフ1
3aにより被処理基板21の表面を乾燥させる場合と比
べて、乾燥処理領域13を短くでき、ウエット処理装置
の小型化が可能である。
[0034] In the wet treatment apparatus 1 of the first embodiment has described the case the air knife 13a as drying mechanism is of fixed type, an arrow S 2 direction (to be processed as shown in FIG. 3 An air knife 23a capable of moving (the moving direction of the substrate 21 and the opposite direction) may be provided. If the air knife 23a is movable in this way, when the substrate 21 to be processed is dried in the drying processing area 13, even if the movement amount (conveyance speed) of the substrate 21 to be processed is small, the air knife 23a is moved to S 2 The surface of the substrate to be processed 21 can be efficiently dried by traversing in the same direction. In this case, the air knife 1 fixed while the transport speed of the substrate to be processed 21 is high.
Compared with the case where the surface of the substrate 21 to be processed is dried by 3a, the dry processing region 13 can be shortened, and the wet processing apparatus can be downsized.

【0035】[第2の実施の形態]図4は、本発明の第
2の実施形態のウエット処理装置の概略構成を示す図で
ある。図5は、図4のウエット処理装置の処理領域を示
す断面図である。図6は、図5の処理領域に備えられた
一対のプッシュ・プル型ノズルの構成を示す断面図であ
る。図7は、図5のプッシュ・プル型ノズルの被処理基
板21側から見た図である。第2の実施形態のウエット
処理装置31は、被処理基板(被処理物)をウエット処
理後、乾燥を行う長尺の処理室31aと、この処理室3
1a内に被処理基板を送り込むローダ10、処理室31
a内で処理された被処理基板を取り出すアンローダ14
から概略構成されており、上記被処理基板をローダ10
から処理室1a内を経てアンローダ14まで自動的に搬
送できるようになっている。
[Second Embodiment] FIG. 4 is a view showing the schematic arrangement of a wet processing apparatus according to the second embodiment of the present invention. FIG. 5 is a sectional view showing a processing region of the wet processing apparatus of FIG. FIG. 6 is a cross-sectional view showing a configuration of a pair of push-pull type nozzles provided in the processing region of FIG. FIG. 7 is a view of the push-pull type nozzle of FIG. 5 viewed from the substrate 21 side. The wet processing apparatus 31 of the second embodiment includes a long processing chamber 31a for drying a substrate to be processed (object to be processed) and then drying the substrate, and the processing chamber 3a.
Loader 10 for feeding the substrate to be processed into processing chamber 1a, processing chamber 31
Unloader 14 for taking out the substrate to be processed processed in a.
The substrate to be processed is loaded by the loader 10
Can be automatically conveyed to the unloader 14 via the processing chamber 1a.

【0036】長尺の処理室31aには、被処理基板にエ
ッチング液(ウエット処理液)を供給してウエットエッ
チングした後、洗浄し、洗浄、乾燥を行う処理領域32
が設けられている。すなわち、第2の実施形態の装置で
は、被処理基板にエッチング液(ウエット処理液)を供
給してウエットエッチングするエッチング処理領域(ウ
エット処理領域)と、エッチング後の被処理基板を洗浄
する洗浄処理領域(ウエット処理領域)と、洗浄後の被
処理基板を乾燥させる乾燥処理領域の3つの処理領域を
一つの処理領域32で兼用できるようにした構成になっ
ている。処理領域32内には、図5に示すように被処理
基板21にエッチング液を供給するウエット処理手段と
しての一対のプッシュ・プル型ノズル(ノズル構成体)
41、41が設けられている。なお、図中符号Sは、被
処理基板の搬送方向(移動方向)である。
A processing region 32 in which an etching liquid (wet processing liquid) is supplied to the substrate to be processed to perform wet etching in the long processing chamber 31a, and then cleaning, cleaning and drying are performed.
Is provided. That is, in the apparatus according to the second embodiment, an etching treatment region (wet treatment region) for supplying an etching liquid (wet treatment liquid) to the substrate to be treated to perform wet etching and a cleaning treatment for cleaning the substrate after etching. The three processing regions, that is, the region (wet processing region) and the dry processing region for drying the substrate to be processed after cleaning can be shared by one processing region 32. In the processing region 32, as shown in FIG. 5, a pair of push-pull type nozzles (nozzle structure) as a wet processing means for supplying an etching liquid to the substrate 21 to be processed.
41, 41 are provided. In addition, reference symbol S in the drawing indicates a conveyance direction (movement direction) of the substrate to be processed.

【0037】図6は、処理室31a内に備えられた一対
のプッシュ・プル型ノズル41、41の概略構成を示す
断面図であり、図7はこのプッシュ・プル型ノズル41
の被処理基板21側から見た図である。各プッシュ・プ
ル型ノズル41は、一端にウエット処理液としてのエッ
チング液50を導入するための導入口51aを有する導
入通路51と、一端にエッチング後のエッチング液(ウ
エット処理後のウエット処理液の排出液)を処理室31
aの外部(ウエット処理の系外)へ排出するための排出
口52aを有する排出通路52と、これら導入通路51
と排出通路52のそれぞれの他端が連結され、被処理基
板21に対向する連結部53が設けられ、さらに導入通
路51の他端に被処理基板21に向けて開口する第1の
開口部51bが設けられ、排出通路52の他端に被処理
基板21に向けて開口する2の開口部52bが設けられ
たものであり、省流量型ノズルと呼ばれるものである。
上記連結部53と被処理基板21の間の空間には、ウエ
ットエッチング処理(ウエット処理)を行う領域55が
形成されている。
FIG. 6 is a sectional view showing the schematic construction of a pair of push-pull type nozzles 41, 41 provided in the processing chamber 31a, and FIG.
It is the figure seen from the to-be-processed substrate 21 side. Each push-pull type nozzle 41 has an inlet passage 51a having an inlet 51a for introducing the etching liquid 50 as a wet processing liquid at one end, and an etching liquid after etching at one end (for the wet processing liquid after the wet processing). Discharged liquid) in the processing chamber 31
a, a discharge passage 52 having a discharge port 52a for discharging to the outside (outside of the wet processing system), and these introduction passages 51
The other end of each of the discharge passage 52 and the discharge passage 52 is connected to each other, and a connecting portion 53 facing the substrate to be processed 21 is provided. Is provided, and two openings 52b that open toward the target substrate 21 are provided at the other end of the discharge passage 52, which is called a flow-saving nozzle.
A region 55 for performing wet etching processing (wet processing) is formed in a space between the connecting portion 53 and the substrate to be processed 21.

【0038】また、排出通路52側には圧力制御部(図
示略)が設けられている。この圧力制御部は、排出口5
2a側に設けられた減圧ポンプにより構成されており、
被処理基板21に接触したエッチング液50がエッチン
グ後に排出通路52に流れるように、第1の開口部51
bの大気と接触しているエッチング液の圧力(エッチン
グ液の表面張力と被処理基板の被処理面の表面張力も含
む)と大気圧との均衡がとれるようにするためのもので
ある。
A pressure controller (not shown) is provided on the discharge passage 52 side. This pressure control unit has a discharge port 5
It is composed of a decompression pump provided on the 2a side,
The first opening 51 is formed so that the etching liquid 50 contacting the substrate 21 to be processed flows into the discharge passage 52 after etching.
This is to balance the pressure of the etching solution in contact with the atmosphere of b (including the surface tension of the etching solution and the surface tension of the surface to be processed of the substrate to be processed) with the atmospheric pressure.

【0039】したがって、排出通路52側の圧力制御部
に減圧ポンプを用いて、この減圧ポンプで連結部53の
エッチング液50を吸引する力を制御して、第1の開口
部51bの大気と接触しているエッチング液50の圧力
(エッチング液の表面張力と被処理基板21の被処理面
の表面張力も含む)と大気圧との均衡をとるようになっ
ている。つまり、第1の開口部51bの大気と接触して
いるエッチング液の圧力P(エッチング液の表面張力
と基板21の被処理面の表面張力も含む)と大気圧P
との関係をP≒Pとすることにより、第1の開口部
51bを通じて被処理基板21に供給され、被処理基板
21に接触したエッチング液は、プッシュ・プル型ノズ
ルの外部に漏れることなく、排出通路52に排出され
る。すなわち、ノズル41から被処理基板21上に供給
したエッチング液は、被処理基板21上のエッチング液
を供給した部分(第1と第2の開口部51b,52b)
以外の部分に接触することなく、基板21上から除去さ
れる。
Therefore, a decompression pump is used for the pressure control unit on the side of the discharge passage 52, and the decompression pump controls the force of sucking the etching liquid 50 in the connecting unit 53 to bring it into contact with the atmosphere in the first opening 51b. The pressure of the etching liquid 50 (including the surface tension of the etching liquid and the surface tension of the surface to be processed of the substrate to be processed 21) and the atmospheric pressure are balanced. That is, the pressure P w of the etching liquid (including the surface tension of the etching liquid and the surface tension of the surface to be processed of the substrate 21) of the etching liquid in contact with the atmosphere of the first opening 51 b and the atmospheric pressure P a
By setting the relation with P w ≈P a , the etching liquid supplied to the substrate to be processed 21 through the first opening 51b and contacting the substrate to be processed 21 leaks to the outside of the push-pull type nozzle. Instead, it is discharged to the discharge passage 52. That is, the etching liquid supplied from the nozzle 41 onto the substrate to be processed 21 is the portion on the substrate to be processed 21 supplied with the etching liquid (first and second openings 51b and 52b).
It is removed from the surface of the substrate 21 without contacting other parts.

【0040】このような構成のプッシュ・プル型ノズル
41、41は、連結部53、53が隙間を隔てて対向す
るように設けられている。即ち、プッシュ・プル型ノズ
ル41、41は、第1の開口部51b、51bも隙間を
隔てて対向しており、第2の開口部52b、52bも隙
間を隔てて対向している。このような一対のプッシュ・
プル型ノズル41、41の対向部間(第1の開口部51
b、51bの間や、連結部53、53間や、第2の開口
部52b、52b間)に被処理基板21が後述する搬送
コロ(搬送機構)25に搬送されて、被処理基板21と
プッシュ・プル型ノズル41、41との間の領域55、
55でエッチング処理(ウエット処理)が行えるように
なっている。
The push-pull type nozzles 41, 41 having such a structure are provided so that the connecting portions 53, 53 face each other with a gap. That is, in the push-pull type nozzles 41, 41, the first openings 51b, 51b also face each other with a gap, and the second openings 52b, 52b also face each other with a gap. Such a pair of pushes
Between the facing portions of the pull-type nozzles 41, 41 (the first opening 51
The substrate 21 to be processed is transferred to a transfer roller (transfer mechanism) 25 to be described later between b and 51b, between the connecting portions 53 and 53, and between the second openings 52b and 52b, and the processed substrate 21 and A region 55 between the push-pull type nozzles 41, 41,
An etching process (wet process) can be performed at 55.

【0041】各プッシュ・プル型ノズル41の接液面
は、PFA等のフッ素樹脂や、用いるウエット処理液に
よっては最表面がクロム酸化物のみからなる不動態膜面
のステンレス、あるいは酸化アルミニウムとクロム酸化
物の混合膜を表面に備えたステンレス、オゾン水に対し
ては電解研磨表面を備えたチタン等とすることが、ウエ
ット処理液への不純物の溶出がないことから好ましい。
接液面を石英により構成すれば、フッ酸を除く全ての洗
浄液の供給に好ましい。
The liquid contact surface of each push-pull type nozzle 41 is made of a fluororesin such as PFA, stainless steel having a passivation film surface whose outermost surface is made of only chromium oxide, or aluminum oxide and chromium, depending on the wet treatment liquid used. It is preferable to use stainless steel having a mixed oxide film on its surface and titanium having an electropolishing surface for ozone water because impurities are not eluted into the wet treatment liquid.
If the liquid contact surface is made of quartz, it is preferable to supply all the cleaning liquids except hydrofluoric acid.

【0042】各プッシュ・プル型ノズル41の導入口5
1aには、ウエット処理液生成部(図示略)とウエット
処理液再生部(図示略)とが接続されている。また、各
プッシュ・プル型ノズル41の排出口52aには、ウエ
ット処理液再生部(図示略)が接続されている。このウ
エット処理液再生部には、使用後のウエット処理液中に
含まれたパーティクルや異物を除去するためのフィルタ
(図示略)が設けられており、このフィルタを通過した
後のウエット処理は、再度ノズル41に供給されるよう
になっている。また、導入口51aには弁機構(図示
略)が設けられており、この弁機構によって新しいウエ
ット処理液を導入するか、再生ウエット処理液を導入す
るかを切り換え可能とされている。
Inlet 5 of each push-pull type nozzle 41
A wet treatment liquid generation unit (not shown) and a wet treatment liquid regeneration unit (not shown) are connected to 1a. In addition, a wet treatment liquid regenerator (not shown) is connected to the outlet 52a of each push-pull type nozzle 41. The wet treatment liquid regenerating unit is provided with a filter (not shown) for removing particles and foreign matters contained in the wet treatment liquid after use, and the wet treatment after passing through this filter is It is supplied again to the nozzle 41. Further, a valve mechanism (not shown) is provided at the introduction port 51a, and it is possible to switch between introducing a new wet treatment liquid and a regenerated wet treatment liquid by this valve mechanism.

【0043】一対のプッシュ・プル型ノズル41、41
の対向部間(第1の開口部51b、51b間又は連結部
53、53間又は第2の開口部52b、52b間)距離
をa、プッシュ・プル型ノズルの開口部を有する側で、
被処理物の搬送方向に沿った方向の幅(第1の開口部5
1bから第2の開口部52bまでの幅)をb、これらプ
ッシュ・プル型ノズル41、41の対向部間(第1の開
口部51b、51bの間や連結部53、53間や第2の
開口部52b、52b間)に搬送される被処理基板21
の傾斜角度をθとしたとき、0<θ<arctan(a/b)
なる条件を満たすようにすることが、各ノズルにエッチ
ング液50を安定して給排水することができ、しかも被
処理基板21をこれらプッシュ・プル型ノズル41、4
1に接触させることなく、この一対のプッシュ・プル型
ノズル41、41の対向部間にこの被処理基板21を搬
送してウエットエッチング処理を行うことができる点で
好ましい。
A pair of push-pull type nozzles 41, 41
Between the facing portions (between the first openings 51b and 51b or between the connecting portions 53 and 53 or between the second openings 52b and 52b) on the side having the opening of the push-pull type nozzle,
Width in the direction along the conveyance direction of the object to be processed (first opening 5
The width from 1b to the second opening portion 52b) is b, and the facing portions of the push-pull type nozzles 41, 41 (between the first opening portions 51b, 51b, connecting portions 53, 53, and the second portion). The substrate 21 to be processed which is transported to the opening 52b, 52b).
Where θ is the inclination angle of 0 <θ <arctan (a / b)
By satisfying the following condition, the etching liquid 50 can be stably supplied / drained to / from each nozzle, and moreover, the substrate 21 to be processed is pushed / pulled by these push / pull type nozzles 41, 4.
This is preferable in that the substrate 21 to be processed can be carried between the facing portions of the pair of push-pull type nozzles 41, 41 without contacting the substrate 1 to perform wet etching processing.

【0044】被処理基板21の傾斜角度θが0以下であ
ると、ノズル41、41の対向する対向部間に基板21
が水平搬送されるか、あるいは基板21が搬送方向(移
動方向)Sに降下する角度で搬送される(負の傾きで搬
送される)こととなり、前工程で用いるエッチング液が
後工程の洗浄工程に入り込み易くなり、目的とする効果
が得られない。被処理基板21の傾斜角度θがarctan
(a/b)以上であると、各ノズル41にエッチング液
50を安定して給排水することが困難で、しかも被処理
基板21がこれらプッシュ・プル型ノズル41、41の
連結部53や第1や第2の開口部51b、52bに接触
する場合がある。
When the inclination angle θ of the substrate 21 to be processed is 0 or less, the substrate 21 is placed between the facing portions of the nozzles 41, 41.
Is transported horizontally or the substrate 21 is transported at an angle that descends in the transport direction (moving direction) S (transported with a negative inclination), and the etching liquid used in the previous step is the cleaning step in the subsequent step. It is easy to get in, and the desired effect cannot be obtained. The inclination angle θ of the substrate 21 to be processed is arctan
When it is (a / b) or more, it is difficult to stably supply / drain the etching liquid 50 to / from each nozzle 41, and the substrate 21 to be processed has the connecting portion 53 of the push-pull type nozzles 41, 41 and the first portion. Or, there is a case where the second openings 51b and 52b are contacted.

【0045】また、処理室31の処理領域32内には、
図5に示すように被処理基板21に洗浄液(ウエット処
理液)を供給する一対のプッシュ・プル型ノズル(ウエ
ット処理手段)42、42が設けられている。この一対
のプッシュ・プル型ノズル42、42は、ウエットエッ
チング処理用の一対のプッシュ・プル型ノズル41、4
1よりも後工程側(被処理基板21の移動方向Sの下流
側)に設けられている。この一対のプッシュ・プル型ノ
ズル42、42は、図6に示した一対のプッシュ・プル
型ノズル41、41と同様の構成であるが、各プッシュ
・プル型ノズル(ウエット処理手段)42の導入通路5
1に導入し、領域55を経て、排出通路52から排出さ
れるウエット処理液は、洗浄液70である。このような
一対のプッシュ・プル型ノズル42、42の対向間(第
1の開口部51b、51bの間や、連結部53、53間
や、第2の開口部52b、52b間)に被処理基板21
が後述する搬送コロ(搬送機構)25に搬送されて、被
処理基板21とプッシュ・プル型ノズル42、42との
間の領域55、55で洗浄処理(ウエット処理)が行え
るようになっている。
In the processing area 32 of the processing chamber 31,
As shown in FIG. 5, a pair of push-pull type nozzles (wet processing means) 42, 42 for supplying a cleaning liquid (wet processing liquid) to the target substrate 21 are provided. The pair of push-pull type nozzles 42, 42 is a pair of push-pull type nozzles 41, 4 for wet etching processing.
It is provided on the post-process side of 1 (downstream side in the moving direction S of the substrate to be processed 21). The pair of push-pull type nozzles 42, 42 has the same structure as the pair of push-pull type nozzles 41, 41 shown in FIG. 6, but the introduction of each push-pull type nozzle (wet processing means) 42. Passage 5
The wet treatment liquid introduced into the No. 1 and discharged from the discharge passage 52 through the region 55 is the cleaning liquid 70. Between the pair of such push-pull type nozzles 42, 42 facing each other (between the first openings 51b, 51b, between the connecting portions 53, 53, between the second openings 52b, 52b) Board 21
Are transported to a transport roller (transport mechanism) 25 to be described later, and a cleaning process (wet process) can be performed in regions 55 and 55 between the substrate 21 to be processed and the push-pull type nozzles 42 and 42. .

【0046】一対のプッシュ・プル型ノズル42、42
の対向する対向部部間(第1の開口部51b、51b間
又は連結部53、53間又は第2の開口部52b、52
b間)距離をa、プッシュ・プル型ノズルの開口部を有
する側で、被処理物の搬送方向に沿った方向の幅(第1
の開口部51bから第2の開口部52bまでの幅)を
b、これらプッシュ・プル型ノズル42、42の対向部
間(第1の開口部51b、51bの間や、連結部53、
53間、第2の開口部52b、52b間)に搬送される
被処理基板21の傾斜角度をθとしたとき、0<θ<ar
ctan(a/b)なる条件を満たすようにすることが、各
ノズルに洗浄液70を安定して給排水することができ、
しかも被処理基板21をこれらプッシュ・プル型ノズル
42、42に接触させることなく、この一対のプッシュ
・プル型ノズル42、42の対向部間にこの被処理基板
21を搬送して洗浄処理を行うことができる点で好まし
い。
A pair of push-pull type nozzles 42, 42
Between opposing facing portions (between the first opening portions 51b and 51b or between the connecting portions 53 and 53 or the second opening portions 52b and 52).
(b)), the distance is a, the side having the opening portion of the push-pull type nozzle, and the width in the direction along the conveyance direction of the object to be processed (first
From the opening 51b to the second opening 52b) of the push-pull type nozzles 42, 42 facing each other (between the first openings 51b, 51b, the connecting portion 53,
0 <θ <ar, where θ is the inclination angle of the substrate to be processed 21 transported to the second opening 52b, 52b).
By satisfying the condition of ctan (a / b), the cleaning liquid 70 can be stably supplied to and discharged from each nozzle,
Moreover, the substrate 21 to be processed is carried between the facing portions of the pair of push-pull type nozzles 42 and 42 without contacting the substrate 21 to be processed with the push-pull type nozzles 42 and 42 to perform a cleaning process. It is preferable because it can be obtained.

【0047】被処理基板21の傾斜角度θが0以下であ
ると、ノズル42、42の対向する対向部間に基板21
が水平搬送されるか、あるいは基板21が搬送方向(移
動方向)Sに降下する角度で搬送される(負の傾きで搬
送される)こととなり、前工程で用いる洗浄液が後工程
の乾燥工程に入り込み易くなり、目的とする効果が得ら
れない。被処理基板21の傾斜角度θがarctan(a/
b)以上であると、各ノズル42に洗浄液70を安定し
て給排水することが困難で、しかも被処理基板21がこ
れらプッシュ・プル型ノズル42、42の連結部53や
第1や第2の開口部51b、52bに接触する場合があ
る。
When the inclination angle θ of the substrate 21 to be processed is 0 or less, the substrate 21 is interposed between the facing portions of the nozzles 42, 42.
Will be transported horizontally or the substrate 21 will be transported at an angle that descends in the transport direction (moving direction) S (transported with a negative inclination), and the cleaning liquid used in the previous step will be used in the subsequent drying step. It is easy to get in, and the desired effect cannot be obtained. The inclination angle θ of the substrate 21 to be processed is arctan (a /
If b) or more, it is difficult to stably supply / drain the cleaning liquid 70 to / from each nozzle 42, and the substrate 21 to be processed is connected to the connecting portion 53 of the push-pull type nozzles 42, 42 and the first and second nozzles. The openings 51b and 52b may come into contact with each other.

【0048】特に、ここで用いるプッシュ・プル型ノズ
ル42は、図6に示すように連結部23には、被処理基
板21がウエット処理(特に洗浄処理)されている間、
上記領域55内のウエット処理液(特に洗浄液)に超音
波振動を付与するための超音波振動子60が設けられて
いることが好ましい。この超音波振動子60は、振動板
(振動部)66と、振動板66の主面の周縁部から立ち
上がる側板(側壁部)67と、側板67の内側の振動板
66の主面上に設けられ、振動板66に超音波振動を付
与する超音波振動子本体68とが備えられてなるもので
ある。側板67は振動板66と一体に形成されている。
これら振動板66と側板67を構成する材料としては、
ステンレス鋼、石英、サファイア、アルミナ等のセラミ
ックスなどのうちから選択されて用いられる。超音波振
動子本体68は、電源(図示略)に接続されている。
Particularly, in the push-pull type nozzle 42 used here, as shown in FIG. 6, while the substrate 21 to be processed is subjected to the wet treatment (particularly the cleaning treatment), the connecting portion 23 is
It is preferable to provide an ultrasonic transducer 60 for applying ultrasonic vibration to the wet processing liquid (particularly the cleaning liquid) in the area 55. This ultrasonic transducer 60 is provided on a vibrating plate (vibrating portion) 66, a side plate (side wall portion) 67 rising from the peripheral edge of the main surface of the vibrating plate 66, and on the main surface of the vibrating plate 66 inside the side plate 67. The vibration plate 66 is provided with an ultrasonic vibrator main body 68 for applying ultrasonic vibration. The side plate 67 is formed integrally with the diaphragm 66.
As a material forming the vibrating plate 66 and the side plate 67,
It is selected and used from ceramics such as stainless steel, quartz, sapphire, and alumina. The ultrasonic transducer body 68 is connected to a power source (not shown).

【0049】超音波振動子本体48は、約20kHz乃
至約10MHzの範囲の周波数の超音波振動を出力可能
なものであることがウエット処理(特に洗浄)を行う場
合に実用的なウエット処理(特に、超音波洗浄)が可能
である点で好ましく、特に、保持可能なウエット処理液
層(洗浄液層)の厚さの観点から0.2MHz以上の周
波数が好ましいが、約20kHzの周波数の超音波での
ウエット処理(特に洗浄)も可能である。この超音波振
動子60は、上下のプッシュ・プル型ノズル42、42
に両方に設けられていなくてもよく、一方のプッシュ・
プル型ノズル42のみに設けられていてもよい。
The ultrasonic vibrator main body 48 is capable of outputting ultrasonic vibrations having a frequency in the range of about 20 kHz to about 10 MHz. , Ultrasonic cleaning is possible, and in particular, a frequency of 0.2 MHz or higher is preferable from the viewpoint of the thickness of the wet treatment liquid layer (cleaning liquid layer) that can be held, but with ultrasonic waves having a frequency of about 20 kHz. Wet treatment (particularly cleaning) is also possible. The ultrasonic transducer 60 includes upper and lower push-pull type nozzles 42, 42.
It does not have to be provided on both
It may be provided only on the pull-type nozzle 42.

【0050】また、処理領域32内には図5に示すよう
に被処理基板21に高圧空気(乾燥用気体)を吹き付け
るエアナイフ(乾燥機構)43が洗浄後の被処理基板2
1に対して上下方向にそれぞれ設けられている。これら
エアナイフ43、43は、洗浄用の一対のプッシュ・プ
ル型ノズル42、42よりも後工程側(被処理基板21
の移動方向Sの下流側)に設けられている。
Further, as shown in FIG. 5, an air knife (drying mechanism) 43 for blowing high-pressure air (drying gas) onto the substrate to be processed 21 in the processing region 32 is the substrate to be processed 2 after cleaning.
1 are provided in the vertical direction. These air knives 43, 43 are located on the post-process side (the processed substrate 21
(Downstream side in the moving direction S).

【0051】この処理室31a内には、ローダ10によ
って処理室31aに送り込まれた被処理基板21を処理
室31内の処理領域32を経てアンローダ14まで送り
込むための搬送コロ25・・・が設けられている。これら
搬送コロ25・・・は、処理室31a内において、即ち、
処理領域32において被処理基板21を傾斜搬送できる
ように傾斜配置されている。詳しくは搬送コロ25・・・
は、処理室31a内に送り込まれた被処理基板21が移
動方向(搬送方向)に上昇するような角度で搬送できる
ように配置されている。さらに好ましくは搬送コロ25
・・・は、処理室31a内に送り込まれた被処理基板21
が0<θ<arctan(a/b)なる条件で傾斜した状態で
搬送できるように配置されていることが望ましい。
In the processing chamber 31a, there are provided transfer rollers 25 for transferring the substrate 21 to be processed, which has been sent into the processing chamber 31a by the loader 10, to the unloader 14 through the processing region 32 in the processing chamber 31. Has been. These transport rollers 25 ... Are inside the processing chamber 31a, that is,
In the processing region 32, the substrates 21 to be processed are arranged to be inclined so that the substrates 21 can be conveyed by inclination. For details, see the transport roller 25 ...
Are arranged so that the substrate to be processed 21 sent into the processing chamber 31a can be transported at an angle so as to rise in the moving direction (transporting direction). More preferably, the transport roller 25
... is the substrate to be processed 21 sent into the processing chamber 31a.
Is desirably arranged so that it can be conveyed in an inclined state under the condition of 0 <θ <arctan (a / b).

【0052】図4乃至図7に示したようなウエット処理
装置31を用いて被処理基板21にウエットエッチング
処理、洗浄処理、乾燥処理を順次施すには以下のように
行われる。まず、ローダ10により被処理基板21を処
理室31aの処理領域31内に送り込む。そして処理領
域32内に送り込んだ被処理基板21を搬送コロ25・・
・により一対のプッシュ・プル型ノズル41、41の対
向部間に0<θ<arctan(a/b)なる条件で傾斜搬送
しながら一対のプッシュ・プル型ノズル41、41の各
第1の開口部51bからエッチング液50を領域55に
供給して、被処理基板21に接触させてエッチングした
後、被処理基板21に接触後のエッチング液50を第2
の開口部52bから排出通路52に排出する。ここでの
被処理基板21の移動方向(搬送方向)Sは、ローダ1
0側からアンローダ14側に移動する方向、言い換えれ
ば、図5の紙面の左側から右側に移動する方向である。
ここでのウエットエッチング工程では、被処理基板21
の両面が一度にエッチングされるのでなく、被処理基板
21が一対のプッシュ・プル型ノズル41、41の対向
部間を通過する際にこの対向部間を通る部分が順次エッ
チングされるのである。
The wet etching process, the cleaning process, and the drying process are sequentially performed on the substrate to be processed 21 by using the wet processing apparatus 31 as shown in FIGS. 4 to 7 as follows. First, the substrate 21 to be processed is sent into the processing region 31 of the processing chamber 31a by the loader 10. Then, the substrate to be processed 21 sent into the processing area 32 is conveyed by the transfer rollers 25 ...
The first opening of each of the pair of push-pull type nozzles 41, 41 while being inclined and conveyed under the condition of 0 <θ <arctan (a / b) between the facing portions of the pair of push-pull type nozzles 41, 41. The etching liquid 50 is supplied from the portion 51b to the region 55, and is brought into contact with the substrate to be processed 21 for etching, and then the etching liquid 50 after being brought into contact with the substrate to be processed 21
It is discharged to the discharge passage 52 from the opening 52b. Here, the moving direction (conveying direction) S of the substrate to be processed 21 is the loader 1
The direction from the 0 side to the unloader 14 side, in other words, the direction from the left side to the right side of the paper surface of FIG.
In the wet etching process here, the substrate 21 to be processed is
However, when the substrate to be processed 21 passes between the facing portions of the pair of push-pull type nozzles 41, 41, the portions passing between the facing portions are sequentially etched instead of being etched at once.

【0053】ついで、ウエットエッチング後の被処理基
板21をさらに搬送コロ25・・・により一対のプッシュ
・プル型ノズル42、42の対向部間に0<θ<arctan
(a/b)なる条件で傾斜搬送しながら一対のプッシュ
・プル型ノズル42、42の各第1の開口部51bから
超純水、オゾン水、水素水等の洗浄液70を領域55に
供給して、被処理基板21に接触させて洗浄した後、被
処理基板21に接触後の洗浄液70を第2の開口部52
bから排出通路52に排出することにより、エッチング
工程で表面に付着したエッチング液や被処理基板21の
表面に付着しているパーティクル等の汚れ等を洗浄す
る。ここでの被処理基板21の移動方向(搬送方向)S
は、ローダ10側からアンローダ14側に移動する方
向、言い換えれば、図5の紙面の左側から右側に移動す
る方向である。ここでの洗浄工程では、被処理基板21
の両面が一度に洗浄されるのでなく、被処理基板21が
一対のプッシュ・プル型ノズル42、42の対向部間を
通過する際にこの対向部間を通る部分が順次洗浄される
のである。ここでの被処理基板21の洗浄の際、洗浄液
70を領域55に供給した状態で、超音波振動子本体6
8により超音波振動を付与し、洗浄液70と共働して被
処理基板21を超音波洗浄することが好ましい。
Next, the substrate 21 to be processed after the wet etching is further conveyed by the transport rollers 25 ...
The cleaning liquid 70 such as ultrapure water, ozone water, hydrogen water or the like is supplied to the region 55 from the first opening portions 51b of the pair of push-pull type nozzles 42, 42 while being conveyed under an inclination of (a / b). Then, the cleaning liquid 70 after contacting the substrate 21 to be processed is washed with the second opening 52 after contacting the substrate 21 to be processed.
By discharging from b to the discharge passage 52, the etching liquid adhering to the surface in the etching process and the dirt such as particles adhering to the surface of the substrate 21 to be processed are cleaned. The moving direction (conveying direction) S of the substrate to be processed 21 here
Is the direction of movement from the loader 10 side to the unloader 14 side, in other words, the direction of movement from the left side to the right side of the paper surface of FIG. In the cleaning process here, the substrate to be processed 21 is processed.
However, when the substrate to be processed 21 passes between the facing portions of the pair of push-pull type nozzles 42, 42, the portion passing between the facing portions is sequentially washed, instead of cleaning both surfaces at once. At the time of cleaning the substrate 21 to be processed here, with the cleaning liquid 70 supplied to the region 55, the ultrasonic transducer body 6
It is preferable that ultrasonic vibration is applied by means of 8, and the substrate 21 to be processed is ultrasonically cleaned in cooperation with the cleaning liquid 70.

【0054】ついで、洗浄後の被処理基板21を搬送コ
ロ25・・・によりこの被処理基板21が移動方向(搬送
方向)Sに上昇するような角度で傾斜搬送しながら上下
のエアナイフ43、43間に搬送しながらこれらエアナ
イフ43、43から高圧空気を被処理基板21の両面に
吹き付けて、洗浄工程で表面に付着した洗浄液を乾燥し
た後、アンローダ14に搬送し、この後、例えば、カセ
ット等に収容する。ここでの乾燥工程では、被処理基板
21の両面を一度に乾燥させるのでなく、被処理基板2
1がエアナイフ43、43間を通過する際にこれらエア
ナイフ43、43からの高圧空気がかかる部分が順次乾
燥される。
Then, the cleaning target substrate 21 is conveyed by the transfer rollers 25 ... While being inclined and conveyed at an angle such that the target substrate 21 rises in the moving direction (conveying direction) S, the upper and lower air knives 43, 43. High-pressure air is blown from both of these air knives 43, 43 to the both surfaces of the substrate to be processed 21 while being conveyed, and the cleaning liquid adhering to the surface in the cleaning step is dried and then conveyed to the unloader 14, and thereafter, for example, a cassette To house. In the drying step here, the both surfaces of the substrate to be processed 21 are not dried at once, but the substrate to be processed 2 is processed.
When 1 passes between the air knives 43, 43, the portions to which the high pressure air from the air knives 43, 43 is applied are sequentially dried.

【0055】第2の実施形態のウエット処理装置31に
よれば、処理室31a内に被処理基板21を傾斜した状
態で搬送させる傾斜搬送機構としての搬送コロ25・・・
が設けられた処理領域32において被処理基板21が斜
めに配置された状態で処理されることとなり、この処理
領域32においてウエットエッチング処理や洗浄処理を
行うときにエッチング液や洗浄液を被処理基板21に効
率良く接触させることができ、また、ウエット処理後の
処理液は被処理基板21から効率良く離れるので、エッ
チング処理や洗浄処理を効率良く行うことができる。
According to the wet processing apparatus 31 of the second embodiment, the transfer roller 25 as an inclined transfer mechanism for transferring the substrate 21 to be processed into the processing chamber 31a in an inclined state.
The processing target substrate 21 is processed in a state in which the processing target substrate 21 is obliquely arranged in the processing region 32 in which is provided. Since the treatment liquid after the wet treatment is efficiently separated from the substrate 21 to be treated, the etching treatment and the cleaning treatment can be performed efficiently.

【0056】また、第2の実施形態のウエット処理装置
31によれば、前工程のウエットエッチング処理で用い
るエッチング液が後工程の洗浄処理で用いる洗浄液に混
じるのを防止できる(前工程で用いたエッチング液が後
工程に入り込むのを防止できる)ので、後工程の洗浄処
理で用いる洗浄液の使用量の省液化が可能であり、洗浄
処理工程を短くでき、ウエット処理装置の小型化が可能
である。また、上記後工程のウエット処理を行う工程が
超純水を用いる洗浄工程である場合、前工程のウエット
処理を行うエッチング処理で用いるエッチング液が後工
程の洗浄工程に入るのを防止できるので、洗浄工程で用
いる超純水の使用量の省液化が可能となり、被処理基板
21が1〜2m角の大型になっても超純水の供給不足を
改善でき、従って大型の被処理基板のウエットエッチン
グ処理や洗浄処理等のウエット処理に十分対応できる。
Further, according to the wet processing apparatus 31 of the second embodiment, it is possible to prevent the etching solution used in the wet etching process of the previous process from mixing with the cleaning liquid used in the cleaning process of the subsequent process (used in the previous process. Since it is possible to prevent the etching solution from entering the subsequent process), it is possible to reduce the amount of cleaning liquid used in the cleaning process in the subsequent process, shorten the cleaning process, and downsize the wet processing device. . Further, when the step of performing the wet process of the subsequent step is a cleaning step using ultrapure water, it is possible to prevent the etching solution used in the etching process of performing the wet processing of the previous step from entering the cleaning step of the subsequent step, It is possible to reduce the amount of ultrapure water used in the cleaning step, and it is possible to improve the supply shortage of ultrapure water even if the substrate 21 to be processed is large in size of 1 to 2 m square, and thus wet the large substrate to be processed It can sufficiently support wet processing such as etching processing and cleaning processing.

【0057】また、このウエット処理装置31では、乾
燥工程においても被処理基板21が斜めに配置された状
態で処理されることとなり、前工程のウエット処理で用
いる洗浄液が後工程の乾燥工程に入るのを防止できるの
で、乾燥工程に送り込まれる前の被処理基板21の表面
に付着している洗浄液の液膜を薄くでき、乾燥工程で使
用する圧力空気の使用量を低減でき、また、このように
圧力空気の使用量が少なくて済むので、処理室31a内
に発生するミストも少なく、従って、このミストに起因
する被処理基板21の汚染を防止するために処理室31
aを大型化しなくても済む。
Further, in the wet processing apparatus 31, the substrate 21 to be processed is also processed in the obliquely arranged state even in the drying step, and the cleaning liquid used in the wet processing in the previous step enters the drying step in the subsequent step. Since it can be prevented, the liquid film of the cleaning liquid adhering to the surface of the substrate 21 to be processed before being sent to the drying process can be thinned, and the amount of the pressurized air used in the drying process can be reduced. Since the amount of pressurized air used is small, the amount of mist generated in the processing chamber 31a is also small. Therefore, in order to prevent contamination of the substrate 21 to be processed due to this mist, the processing chamber 31a is prevented.
There is no need to upsize a.

【0058】さらにこのウエット処理装置31では、特
に、ウエット処理手段が上記の構成の一対のプッシュ・
プル型ノズル41、41や、一対のプッシュ・プル型ノ
ズル42、42から構成されているので、各導入通路5
1からエッチング液や洗浄液等のウエット処理液を被処
理基板表面に供給したら、その処理液を供給した部分以
外の被処理基板表面にウエット処理液を接触させること
なく、各排出通路52から除去物(被処理基板から除去
したもの)を含んだ処理液を外部に排出できるので、効
率良くウエットエッチング処理や洗浄処理等のウエット
処理ができる(ウエット処理液が洗浄液である場合は充
分な清浄度が得られる)。また、各プッシュ・プル型ノ
ズルの開口部(領域55)でのウエット処理液の圧力に
対して排出通路の他端の排出口(開口部が設けられた端
部と反対側の端部)からの吸引力を制御することでウエ
ット処理液をノズルの外部に漏らすことがなく、排出す
ることができるので、少ない処理液で充分なウエット処
理(ウエット処理液が洗浄液である場合は充分な清浄度
が得られる)ができる。
Further, in the wet processing apparatus 31, the wet processing means is a pair of push / push units having the above-mentioned structure.
Each of the introduction passages 5 is composed of the pull type nozzles 41, 41 and the pair of push-pull type nozzles 42, 42.
When a wet processing liquid such as an etching liquid or a cleaning liquid is supplied from 1 to the surface of the substrate to be processed, it is possible to remove the removed product from each discharge passage 52 without contacting the surface of the substrate to be processed other than the part to which the processing liquid is supplied. Since the processing solution containing (removed from the substrate to be processed) can be discharged to the outside, wet processing such as wet etching processing and cleaning processing can be efficiently performed (sufficient cleanliness is obtained when the wet processing solution is a cleaning solution). can get). In addition, from the discharge port (the end opposite to the end where the opening is provided) at the other end of the discharge passage with respect to the pressure of the wet processing liquid at the opening (region 55) of each push-pull type nozzle. The wet processing liquid can be discharged without leaking to the outside of the nozzle by controlling the suction force of, so that sufficient wet processing with a small amount of processing liquid (sufficient cleanliness when the wet processing liquid is a cleaning liquid) Can be obtained).

【0059】また、このウエット処理装置31では、ウ
エット処理手段が上記の構成の一対のプッシュ・プル型
ノズルが採用されているので、ウエット処理液を被処理
基板表面に供給したら、その処理液を供給した部分以外
の被処理基板表面にウエット処理液を接触させることな
く排出でき、また、処理室31a内の被処理基板21が
傾斜した状態で搬送されるようになっているので、前工
程のウエット処理で用いる洗浄液が後工程の乾燥工程に
入るのを防止できるので、処理室内を複数の処理領域に
区画しなくても、一つの処理領域でウエットエッチング
や洗浄等のウエット処理工程と、乾燥工程を順次行うこ
とができ、処理室の大きさを被処理基板が収まる程度の
大きさとすることができ、小型化が可能である。
Further, in this wet processing apparatus 31, since the wet processing means employs the pair of push-pull type nozzles having the above-mentioned constitution, when the wet processing liquid is supplied to the surface of the substrate to be processed, the processing liquid is supplied. The wet processing liquid can be discharged without coming into contact with the surface of the substrate to be processed other than the supplied portion, and since the substrate to be processed 21 in the processing chamber 31a is conveyed in an inclined state, Since it is possible to prevent the cleaning liquid used in the wet processing from entering the subsequent drying step, it is possible to dry the wet processing step such as wet etching and cleaning in one processing area without dividing the processing chamber into multiple processing areas. The steps can be sequentially performed, the size of the processing chamber can be set to a size in which the substrate to be processed can be accommodated, and the size can be reduced.

【0060】従って第2の実施形態のウエット処理装置
31では、処理領域32において被処理基板21が斜め
になるように配置されているうえ、ウエット処理手段が
上記の構成の一対のプッシュ・プル型ノズルから構成さ
れているので、エッチング液や洗浄液等のウエット処理
液の使用量をさらに少なくでき、またウエット処理工程
後の乾燥工程で使用する乾燥用気体の使用量の低減が可
能で、ウエット処理装置の小型化が可能であるので、ウ
エット処理工程や乾燥工程に多大な設備費や占有スペー
スを費やすこともなく、製造ライン等に用いて合理的に
ウエット処理並びに乾燥でき、また、大型の被処理基板
のウエット処理、乾燥に十分対応できる装置とすること
ができる。
Therefore, in the wet processing apparatus 31 of the second embodiment, the substrate 21 to be processed is arranged in a slanted manner in the processing region 32, and the wet processing means is a pair of push-pull type having the above-mentioned configuration. Since it is composed of nozzles, the amount of wet processing liquid such as etching liquid and cleaning liquid can be further reduced, and the amount of drying gas used in the drying process after the wet processing process can be reduced. Since the device can be downsized, it can be used reasonably for wet processing and drying in a production line without spending a large amount of equipment and occupied space in the wet processing and drying steps. It is possible to provide an apparatus capable of sufficiently handling wet processing and drying of a processed substrate.

【0061】なお、第2の実施形態のウエット処理装置
31では、ウエットエッチング工程および洗浄工程で用
いるノズルが共に上記の構成の一対のプッシュ・プル型
ノズルである場合について説明したが、ウエットエッチ
ング工程と洗浄工程のうち一方の工程で一対のプッシュ
・プル型ノズルを用い、他方の工程で通常のシャワーノ
ズルを用いる場合も本発明の範囲内である。
In the wet processing apparatus 31 of the second embodiment, the case where the nozzles used in the wet etching step and the cleaning step are both a pair of push-pull type nozzles having the above-mentioned configuration has been described. It is also within the scope of the present invention to use a pair of push-pull type nozzles in one of the cleaning step and the cleaning step and use a normal shower nozzle in the other step.

【0062】なお、第2の実施形態のウエット処理装置
1においては、乾燥機構としてのエアナイフ13aが固
定式のものである場合について説明したが、図8に示す
ように矢印S方向(被処理基板21の移動方向やその
反対方向)移動可能なエアナイフ83を設けてもよい。
このようにエアナイフ83が移動可能なものであれば、
処理領域32において被処理基板21を乾燥させる際
に、被処理基板21の移動量(搬送速度)が小さくて
も、エアナイフ83をS方向にトラバースさせて被処
理基板21の表面を効率良く乾燥させるようにすること
ができ、このようにした場合には、被処理基板21の搬
送速度が大きい状態のまま固定のエアナイフ13aによ
り被処理基板21の表面を乾燥させる場合と比べて、乾
燥工程を短くでき、ウエット処理装置の小型化が可能で
ある。
[0062] In the wet treatment apparatus 1 of the second embodiment has described the case the air knife 13a as drying mechanism is of fixed type, an arrow S 2 direction (to be processed as shown in FIG. 8 An air knife 83 that is movable in the moving direction of the substrate 21 or the opposite direction may be provided.
If the air knife 83 is movable in this way,
When the substrate 21 to be processed is dried in the processing region 32, even if the movement amount (conveyance speed) of the substrate 21 to be processed is small, the air knife 83 is traversed in the S 2 direction to efficiently dry the surface of the substrate 21 to be processed. In this case, compared to the case where the surface of the substrate to be processed 21 is dried by the fixed air knife 13a while the conveyance speed of the substrate to be processed 21 is high, the drying step is performed. It can be shortened and the wet processing apparatus can be downsized.

【0063】なお、第2の実施形態のウエット処理装置
においては、ウエット処理手段としての一対のプッシュ
・プル型ノズルが固定式である場合について説明した
が、この一対のプッシュ・プル型ノズルが移動可能なノ
ズル移動手段(ノズル構成体・被処理物相対移動手段)
が設けられていてもよい。このノズル移動手段の具体例
としては、図9に示すように、所定間隔を隔てて対向す
る一対のラックベース92、92が設けられ、これらラ
ックベース92、92間に一対のプッシュ・プル型ノズ
ル41、41が架設されている。各ラックベース92に
は、これの上に形成されたリニアガイド93に沿って移
動可能とされたスライダ94がそれぞれ設けられ、各ス
ライダ94の上面に支柱95がそれぞれ立設され、これ
ら支柱95に各プッシュ・プル型ノズル41の両端部が
固定されている。各スライダ94上にはモータ96等の
駆動源が設置されており、各スライダ94がラックベー
ス92上を自走する構成となっている。また、これらラ
ックベース92、92間には、図示していないが一対の
プッシュ・プル型ノズル42、42も一対のプッシュ・
プル型ノズル41、41と同様に架設されている。これ
ら一対のプッシュ・プル型ノズル41、41や一対のプ
ッシュ・プル型ノズル42、42が基板21との間隔を
一定に保ちながらラックベース92、92に沿って移動
することにより、基板21の被処理面全域がウエット処
理される構成となっている。
In the wet processing apparatus of the second embodiment, the case where the pair of push-pull type nozzles as the wet processing means is the fixed type has been described, but the pair of push-pull type nozzles move. Possible nozzle moving means (nozzle structure / object relative moving means)
May be provided. As a specific example of the nozzle moving means, as shown in FIG. 9, a pair of rack bases 92, 92 facing each other with a predetermined interval are provided, and a pair of push-pull type nozzles are provided between the rack bases 92, 92. 41, 41 are installed. Each rack base 92 is provided with a slider 94 that is movable along a linear guide 93 formed on the rack base 92, and a column 95 is erected on the upper surface of each slider 94. Both ends of each push-pull type nozzle 41 are fixed. A drive source such as a motor 96 is installed on each slider 94, and each slider 94 is configured to be self-propelled on the rack base 92. A pair of push-pull type nozzles 42, 42 (not shown) are provided between the rack bases 92, 92.
The pull-type nozzles 41, 41 are installed in the same manner. The pair of push-pull type nozzles 41, 41 and the pair of push-pull type nozzles 42, 42 move along the rack bases 92, 92 while keeping a constant distance from the substrate 21, thereby covering the substrate 21. The entire processing surface is wet-processed.

【0064】このようなノズル移動手段(ノズル構成体
・被処理物相対移動手段)が設けられていると、上記構
成の一対のプッシュ・プル型ノズルの利点を有したまま
被処理基板21の被処理面全域をウエット処理すること
ができ、また、一対のプッシュ・プル型ノズルを被処理
基板21に対して相対移動させることができるので、被
処理基板21の搬送距離が短くて済み、ウエット処理領
域を短くでき、具体的にはウエット処理領域を被処理物
よりやや大きい程度の大きさとすることも可能で、ウエ
ット処理装置をさらに小型化することが可能である。
When such a nozzle moving means (nozzle structure / object relative moving means) is provided, the substrate 21 to be processed can be processed while maintaining the advantages of the pair of push-pull type nozzles having the above-mentioned structure. The entire processing surface can be wet-processed, and the pair of push-pull type nozzles can be moved relative to the substrate 21 to be processed. The area can be shortened, specifically, the wet processing area can be made slightly larger than the object to be processed, and the wet processing apparatus can be further downsized.

【0065】なお、第1〜第2の実施形態のウエット処
理装置において、処理室内(第1の実施形態では特に乾
燥処理領域13内)に被処理基板21を保持する保持手
段が設けられていてもよい。図10は被処理基板21を
両側から挟む保持手段97が設けられている。この保持
手段97の各コーナ部にはホルダ支持板98が設けられ
ている。これらホルダ支持板98には、シリンダ等の駆
動源(図示略)が設けられ、該駆動源を作動させること
により支持板98を前後左右あるいは回転させることに
より、ウエット処理後に基板21に付着しているウエッ
ト処理液を乾燥させることができる。また、保持手段9
7で被処理基板21の端部の近傍に位置する部分にアル
ミナ等からなる多孔質部材97aが被処理板21の端部
に接触あるいは非接触(図面では非接触)で設けられて
いることが好ましい。多孔質部材97aが被処理板21
に非接触で設けられている場合、この多孔質部材97a
と被処理基板21の距離は1mm程度以下であることが
好ましい。
In the wet processing apparatuses of the first and second embodiments, holding means for holding the substrate 21 to be processed is provided in the processing chamber (particularly in the dry processing area 13 in the first embodiment). Good. In FIG. 10, holding means 97 for sandwiching the substrate to be processed 21 from both sides is provided. A holder support plate 98 is provided at each corner of the holding means 97. A drive source (not shown) such as a cylinder is provided on each of the holder support plates 98, and the support plate 98 is attached to the substrate 21 after the wet process by operating the drive source to rotate the support plate 98 back and forth or left and right. The wet processing liquid can be dried. Also, the holding means 9
In FIG. 7, a porous member 97a made of alumina or the like is provided at a portion located in the vicinity of the end of the substrate to be processed 21 in contact with or not in contact with the end of the substrate to be processed 21 (non-contact in the drawing). preferable. The porous member 97a is the processed plate 21.
If the porous member 97a
The distance between the substrate 21 and the substrate 21 is preferably about 1 mm or less.

【0066】このような多孔質部材97aが設けられた
保持手段97が上記処理室内に設けられていると、ウエ
ット処理後に被処理基板21の表面に付着しているウエ
ット処理液の液滴が毛細管現象により上記の多孔質部材
97aに吸収されるので、被処理基板21の表面に付着
しているウエット処理液の液膜を薄くでき、特に、前記
処理室に乾燥処理領域13が備えられている場合には、
被処理基板21の表面に付着しているウエット処理液の
液滴が毛細管現象により上記の多孔質部材97aに吸収
されるので、被処理基板21の表面に付着しているウエ
ット処理液の液膜を薄くでき、乾燥処理領域13で使用
する乾燥用気体の使用量を低減でき、また、このように
乾燥用気体の使用量が少なくて済むので、処理室内に発
生するミストも少なく、従って、このミストに起因する
被処理物の汚染を防止するために処理室を大型化しなく
ても済む。
When the holding means 97 provided with such a porous member 97a is provided in the processing chamber, the droplets of the wet processing liquid adhering to the surface of the substrate 21 to be processed after the wet processing are capillaries. Since it is absorbed by the porous member 97a due to the phenomenon, the liquid film of the wet processing liquid adhering to the surface of the substrate to be processed 21 can be made thin, and in particular, the drying chamber 13 is provided in the processing chamber. in case of,
Since the droplets of the wet processing liquid adhering to the surface of the substrate to be processed 21 are absorbed by the porous member 97a by the capillary phenomenon, the liquid film of the wet processing liquid adhering to the surface of the substrate to be processed 21. Since the amount of drying gas used in the drying processing region 13 can be reduced and the amount of drying gas used can be small, mist generated in the processing chamber is small, and therefore It is not necessary to enlarge the processing chamber to prevent the contamination of the object to be processed due to the mist.

【0067】なお、ここでは保持手段97で被処理基板
21の端部の近傍に位置する部分にアルミナ等からなる
多孔質部材97aを設けた場合について説明したが、保
持手段97が多数の孔を有するものであってもよく、あ
るいはアルミナ等からなる多孔質材料から形成してもよ
い。また、保持手段97に多数の孔が形成されている場
合には、この保持手段97に吸引機構を設けてウエット
処理液の液滴を吸引するようにしてもよい。
Although the case where the holding member 97 is provided with the porous member 97a made of alumina or the like in the portion located in the vicinity of the end portion of the substrate to be processed 21 has been described here, the holding member 97 has a large number of holes. It may be included, or may be formed from a porous material such as alumina. Further, when a large number of holes are formed in the holding means 97, a suction mechanism may be provided in the holding means 97 to suck the droplets of the wet processing liquid.

【0068】[第3の実施の形態]次に、本発明の第3
の実施形態のウエット処理装置について図13乃至図1
5を用いて説明する。第3の実施形態のウエット処理装
置201が図1乃至図3に示した第1の実施形態と異な
るところは、長尺の処理室1aに備えられた乾燥処理領
域13内に設けられるエアナイフ(乾燥機構)の構成と
一部の搬送コロの大きさが異なる点である。図13は、
第3の実施形態のウエット処理装置の処理室1aに備え
られた乾燥処理領域13を示す断面図であり、図14
は、図13のXIV−XIV線断面図であり、図15は図13
の乾燥処理領域13内に設けられた下側のエアナイフ2
13aを被処理基板21側から見たときの平面図であ
る。本実施形態の乾燥処理領域13内には、図13及び
図14に示すように被処理基板21に高圧空気(乾燥用
気体)215を吹き付けるエアナイフ(乾燥機構)21
3aが乾燥処理領域13内に搬送された被処理基板21
に対して上下方向にそれぞれ設けられている。
[Third Embodiment] Next, the third embodiment of the present invention will be described.
13 to FIG. 1 regarding the wet processing apparatus of the embodiment of FIG.
This will be described using 5. The wet processing apparatus 201 of the third embodiment is different from the first embodiment shown in FIGS. 1 to 3 in that an air knife (drying) provided in a dry processing region 13 provided in a long processing chamber 1a is used. The structure is different from the size of some of the transport rollers. Figure 13
FIG. 14 is a cross-sectional view showing a dry processing region 13 provided in the processing chamber 1a of the wet processing apparatus of the third embodiment, and FIG.
13 is a sectional view taken along line XIV-XIV in FIG. 13, and FIG.
Lower air knife 2 provided in the drying treatment area 13 of the
13a is a plan view of the substrate 13a as viewed from the substrate 21 side. FIG. In the drying processing area 13 of the present embodiment, as shown in FIGS. 13 and 14, an air knife (drying mechanism) 21 that blows high-pressure air (drying gas) 215 onto the substrate 21 to be processed.
The substrate 21 to be processed 3a is transported into the dry processing region 13.
With respect to the vertical direction.

【0069】各エアナイフ(乾燥機構)213aは、ボ
ックス状のエアナイフ本体213bと、このエアナイフ
本体213b内に高圧空気215を供給するエア供給管
213cと、このエアナイフ本体213bの被処理基板
21側に設けられたノズル口213dから構成されてい
る。エアナイフ本体213bは、図15に示すように平
面視V字形状に形成されており、頂部(V字底部)21
3fが左右方向の中央部で、かつ、乾燥処理開始側(基
板移動方向の上手側)に位置されるように形成されてい
る。また、ノズル口213dも図15に示すように平面
視V字形状に形成され、頂部(V字底部)213eが左
右方向の中央部(被処理基板21の移動方向Sと直交す
る方向の中央部、言い換えれば、被処理基板21の幅方
向に沿った方向の中央部)で、かつ、乾燥処理開始側
(基板移動方向の上手側)に位置されるように形成され
ている。そして、各エアナイフ213aは、エア供給管
213cからエアナイフ本体213b内に高圧空気21
5が供給され、ノズル口213dから高圧空気215
が、被処理基板21の表面(上側のノズル口213dか
らは被処理基板21の上面、下側のノズル口213dか
らは被処理基板21の下面)に向けて噴出されるように
構成されている。
Each air knife (drying mechanism) 213a is provided in the box-shaped air knife body 213b, the air supply pipe 213c for supplying the high pressure air 215 into the air knife body 213b, and the substrate 21 side of the air knife body 213b. The nozzle opening 213d is formed. The air knife body 213b is formed in a V-shape in plan view as shown in FIG. 15, and has a top portion (V-bottom portion) 21.
3f is formed so as to be located at the center in the left-right direction and on the drying process start side (upper side in the substrate moving direction). Further, the nozzle opening 213d is also formed in a V shape in plan view as shown in FIG. 15, and a top portion (V-shaped bottom portion) 213e is a central portion in the left-right direction (a central portion in a direction orthogonal to the moving direction S of the substrate to be processed 21). In other words, it is formed so as to be located at the central portion in the width direction of the substrate to be processed 21) and on the drying process start side (upper side in the substrate moving direction). Then, each of the air knives 213a is connected to the high pressure air 21 from the air supply pipe 213c into the air knife main body 213b.
5 is supplied to the high pressure air 215 from the nozzle opening 213d.
Are ejected toward the surface of the substrate to be processed 21 (the upper nozzle opening 213d is the upper surface of the substrate to be processed 21 and the lower nozzle opening 213d is the lower surface of the substrate to be processed 21). .

【0070】また、本実施形態では、乾燥処理領域13
内に設けられた搬送コロ25のうち下側のエアナイフ2
13a(被処理基板21の下側に設けられたエアナイフ
213a)の下側に設けられた搬送コロ25は、被処理
基板21と回転軸の間にエアナイフが入る空間を確保す
るため、他の位置に設けられた搬送コロ25よりも外径
が大きく形成されている。この外径が大きく形成された
搬送コロ25(大径の搬送コロ26)は、図15の左右
方向(被処理基板21の移動方向Sと直交する方向、言
い換えれば、被処理基板21の幅方向に沿った方向)に
複数(図面では4個)設けられている。なお、下側のエ
アナイフ213aの下側に設けられる大径の搬送コロ2
6以外の搬送コロ25も、図15の左右方向に複数設け
られている。大径の搬送コロ26と、この搬送コロ26
以外の搬送コロ25とは、外径部の移動工程が同じにな
るように(被処理基板21の移動距離が同じになるよう
に)回転軸25cの回転速度が調整される。また、これ
ら搬送コロ25、26は、処理室1a内に送り込まれた
被処理基板21が傾斜角度θで傾斜した状態で搬送でき
るように配置されていることが望ましい。上記傾斜角度
θは、0.5度乃至30度、好ましくは1度乃至15度
程度である。
Further, in this embodiment, the drying processing area 13
The lower air knife 2 of the transfer rollers 25 provided inside
The transport roller 25 provided below 13a (the air knife 213a provided below the substrate 21 to be processed) secures a space for the air knife between the substrate 21 to be processed and the rotating shaft, so that it is provided at another position. The outer diameter of the transport roller 25 is larger than that of the transport roller 25. The transfer roller 25 having a large outer diameter (the transfer roller 26 having a large diameter) is arranged in the left-right direction of FIG. A plurality (four in the drawing) are provided. It should be noted that the large-diameter transport roller 2 provided below the lower air knife 213a.
A plurality of transport rollers 25 other than 6 are also provided in the left-right direction in FIG. Large diameter transport roller 26 and this transport roller 26
The rotation speed of the rotation shaft 25c is adjusted so that the movement process of the outer diameter portion is the same as that of the other transport rollers 25 (so that the movement distance of the target substrate 21 is the same). Further, it is desirable that the transfer rollers 25 and 26 are arranged so that the substrate to be processed 21 fed into the processing chamber 1a can be transferred in a state of being inclined at an inclination angle θ. The inclination angle θ is 0.5 to 30 degrees, preferably 1 to 15 degrees.

【0071】そして、下側のエアナイフ213aは、図
15に示すように搬送コロの邪魔にならないように搬送
コロ間に配置されている。詳しくは、図15に示すよう
に下側のエアナイフ213aの本体213bの左側部分
213gは、左側から1つ目と2つ目の搬送コロ26間
に配置され、右側部分213hは、右側から1つ目と2
つ目の搬送コロ26間に配置され、頂部213fは中央
の2つの搬送コロ26間の中央の延長線上の乾燥処理開
始側(基板移動方向の上手側)に設けられている。しか
もこの頂部213fは、上記中央の2つの搬送コロ26
より乾燥処理開始側(基板移動方向の上手側)に設けら
れた中央の2つの搬送コロ25より基板移動方向の下手
側に配置されている。また、この下側のエアナイフ21
3aの本体213bは、図13及び図14に示すように
搬送コロ26の回転軸25cと、被処理基板21の間に
設けられている。上下のエアナイフ213aは、これら
の間に被処理基板21が搬送されたとき、この基板21
と上側のエアナイフ213aとの距離が1〜10mm程
度であり、また、この基板21と下側のエアナイフ21
3aとの距離も1〜10程度となるように配置されてい
る。
The lower air knife 213a is arranged between the transfer rollers so as not to interfere with the transfer rollers as shown in FIG. Specifically, as shown in FIG. 15, the left side portion 213g of the main body 213b of the lower air knife 213a is arranged between the first and second conveyance rollers 26 from the left side, and the right side portion 213h is one from the right side. Eyes and 2
The top portion 213f is arranged between the second transfer rollers 26, and is provided on the extension line of the center between the two transfer rollers 26 at the center on the dry processing start side (the upper side of the substrate moving direction). Moreover, the top portion 213f is provided with the two central transport rollers 26.
It is arranged on the lower side in the substrate moving direction with respect to the two central transfer rollers 25 provided on the drying processing start side (the upper side in the substrate moving direction). Also, this lower air knife 21
As shown in FIGS. 13 and 14, the main body 213b of 3a is provided between the rotation shaft 25c of the transport roller 26 and the substrate 21 to be processed. The upper and lower air knives 213a are provided for the substrate 21 when the substrate 21 to be processed is conveyed between them.
The distance between the upper air knife 213a and the upper air knife 213a is about 1 to 10 mm.
The distance from 3a is also set to be about 1 to 10.

【0072】この第3の実施形態のウエット処理装置2
01を用いて被処理基板21にウエットエッチング処
理、洗浄処理、乾燥処理を順次施す工程は、乾燥処理以
外は先に述べた第1の実施形態のウエット処理装置1を
用いる工程と同様にして行うことができる。このウエッ
ト処理装置201を用いて乾燥処理を行うには、乾燥処
理領域13内に送り込まれた洗浄後の被処理基板21を
搬送コロ25によりこの被処理基板21が移動方向(搬
送方向)に上昇するような角度で傾斜搬送しながら上下
のエアナイフ213a、213aの各ノズル口213d
から高圧空気215を被処理基板21の両面に吹き付け
て、洗浄処理領域12内で表面に付着した洗浄液を乾燥
する。ついで、乾燥後の被処理基板21をアンローダ1
4に搬送し、この後、例えば、カセット等に収容する。
Wet processing apparatus 2 of the third embodiment
The step of sequentially performing the wet etching process, the cleaning process, and the drying process on the substrate to be processed 21 using 01 is performed in the same manner as the process using the wet processing apparatus 1 of the first embodiment described above except the drying process. be able to. In order to perform the dry processing by using the wet processing apparatus 201, the cleaned processing target substrate 21 sent into the drying processing region 13 is lifted in the moving direction (conveying direction) by the transfer roller 25. Each nozzle opening 213d of the upper and lower air knives 213a and 213a while being conveyed at an angle such that
The high-pressure air 215 is blown onto both surfaces of the substrate to be processed 21 to dry the cleaning liquid adhering to the surface in the cleaning processing region 12. Then, the substrate to be processed 21 after drying is loaded into the unloader 1
4 and then accommodated in, for example, a cassette or the like.

【0073】上記の各ノズル口213dから高圧空気2
15が吹き出される際、先に述べたように各ノズル口2
13dは平面視V字形状に形成されているので、各ノズ
ル口213dから吹き出される高圧空気215のエアー
流216は傾斜して流れることから、図15に示すよう
に、被処理基板21の移動に応じて板端面21bにおい
ては、ノズル口213dの頂部213eと対応する中央
部から両外側へのエアー流217が生じる。これにより
板端面21bに残ろうとする水滴(洗浄液)が、エアー
流217により被処理基板21の板端面21bの幅方向
の両端部側に引っ張られるように移動され、そして各端
部で水滴が集合することにより、大きな水玉になった
後、次々と各端部から離れて外方に飛ばされる。これに
より板端面21bに残ろうとする水滴を確実に取り除け
る。また、各ノズル口213dの形状をV字形としたこ
とにより、各エアナイフの前後長さ(被処理基板21の
長さ方向に沿った長さ、言い換えれば被処理基板21の
移動方向に沿った方向の長さ)を短くしたとしても、ノ
ズル口213dの被処理基板21に対する傾斜角度αを
充分に大きくでき、これにより被処理基板21が同一幅
であるとき、ノズル口213dの傾斜角度αを大きくで
き、被処理基板21の端面21dの水滴の切れを良くす
ることができ、被処理基板21の搬送速度を速くでき、
乾燥効率を向上できる。
High pressure air 2 is supplied from each of the nozzle openings 213d described above.
When 15 is blown out, as described above, each nozzle port 2
Since 13d is formed in a V shape in a plan view, the air flow 216 of the high-pressure air 215 blown out from each nozzle opening 213d flows obliquely. Therefore, as shown in FIG. Accordingly, on the plate end surface 21b, an air flow 217 is generated from the central portion corresponding to the top portion 213e of the nozzle opening 213d to both outer sides. As a result, the water droplets (cleaning liquid) that are about to remain on the plate end surface 21b are moved by the air flow 217 so as to be pulled toward both end portions in the width direction of the plate end surface 21b of the substrate 21 to be processed, and the water droplets collect at each end portion. By doing so, after it becomes a large polka dot, it separates from each end one after another and is splashed outward. As a result, it is possible to reliably remove the water droplets that are about to remain on the plate end surface 21b. Further, since each nozzle opening 213d has a V-shape, the front-rear length of each air knife (the length along the length direction of the substrate 21 to be processed, in other words, the direction along the moving direction of the substrate 21 to be processed). Even if the length is shortened, the inclination angle α of the nozzle opening 213d with respect to the substrate 21 to be processed can be made sufficiently large, so that when the processing substrate 21 has the same width, the inclination angle α of the nozzle opening 213d can be increased. It is possible to improve the breakage of water droplets on the end surface 21d of the substrate to be processed 21 and to increase the transport speed of the substrate to be processed 21,
The drying efficiency can be improved.

【0074】第3の実施形態のウエット処理装置201
によれば、特に、被処理基板21の下側に設けられるエ
アナイフ213aの形状がV字形とされ、しかもこのエ
アナイフ213aは搬送コロ25、26の邪魔にならな
いように配置されており、しかもノズル口213dは搬
送コロ25、26や回転軸25cに遮られないので、被
処理基板21に付着した洗浄液をノズル口213dから
吹き出した高圧空気215により効率良く乾燥できる。
Wet processing apparatus 201 of the third embodiment
According to this, in particular, the shape of the air knife 213a provided on the lower side of the substrate to be processed 21 is V-shaped, and the air knife 213a is arranged so as not to interfere with the transfer rollers 25 and 26, and the nozzle opening Since 213d is not blocked by the transport rollers 25, 26 and the rotary shaft 25c, the cleaning liquid adhering to the substrate to be processed 21 can be efficiently dried by the high pressure air 215 blown out from the nozzle opening 213d.

【0075】[第4の実施の形態]次に、本発明の第4
の実施形態のウエット処理装置について図16乃至図1
8を用いて説明する。第4の実施形態のウエット処理装
置301が図13乃至図15に示した第3の実施形態と
異なるところは、乾燥処理領域13内に設けられるエア
ナイフ(乾燥機構)のうち下側のエアナイフの構成が異
なることと、搬送コロ25の外径を同じ大きさとした点
である。図16は、第4の実施形態のウエット処理装置
の処理室1aに備えられた乾燥処理領域13を示す断面
図であり、図17は、図16のXVII−XVII線断面図であ
り、図18は図16の乾燥処理領域13内に設けられた
下側のエアナイフ313aを被処理基板21側から見た
ときの平面図である。本実施形態の乾燥処理領域13内
には、図16及び図17に示すように乾燥処理領域13
内に搬送された被処理基板21に対して上側にエアナイ
フ(乾燥機構)213aが設けられ、下側にエアナイフ
(乾燥機構)313aが設けられている。上側のエアナ
イフ213aは第3の実施形態のものと同様の構成であ
るのでの説明を略す。
[Fourth Embodiment] Next, the fourth embodiment of the present invention will be described.
16 to FIG. 1 regarding the wet processing apparatus of the embodiment of FIG.
This will be described using 8. The wet processing apparatus 301 of the fourth embodiment is different from that of the third embodiment shown in FIGS. 13 to 15 in that the lower air knife of the air knives (drying mechanism) provided in the dry processing area 13 is configured. Is different, and the outer diameter of the transport roller 25 is the same. FIG. 16 is a cross-sectional view showing a dry processing region 13 provided in the processing chamber 1a of the wet processing apparatus of the fourth embodiment, and FIG. 17 is a cross-sectional view taken along line XVII-XVII of FIG. FIG. 17 is a plan view of the lower air knife 313a provided in the dry processing region 13 of FIG. 16 when viewed from the substrate 21 side. In the dry processing area 13 of the present embodiment, as shown in FIGS. 16 and 17, the dry processing area 13 is provided.
An air knife (drying mechanism) 213a is provided on the upper side and an air knife (drying mechanism) 313a is provided on the lower side with respect to the substrate 21 to be processed. Since the upper air knife 213a has the same configuration as that of the third embodiment, its explanation is omitted.

【0076】下側のエアナイフ(乾燥機構)313a
が、第3の実施形態のエアナイフ213aと異なるとこ
ろは、複数に分割されている点であり、詳しくは、エア
ナイフ本体313bがエアナイフ本体313b1、31
3b2、313b3に分割されている。エアナイフ本体
313b1は、ボックス状のもので、その平面形状は図
18に示すようにV字形状に形成されており、頂部(V
字底部)313fが左右方向の中央部で、かつ、乾燥処
理開始側(基板移動方向の上手側)に位置されるように
形成されている。このエアナイフ本体313b1には、
この本体313b1内に高圧空気215を供給するエア
供給管313c1が設けられ、また、この本体313b
1の被処理基板21側にはノズル口313d1が形成さ
れている。また、ノズル口313d1も図18に示すよ
うに平面視V字形状に形成され、頂部(V字底部)31
3eが左右方向の中央部(被処理基板21の移動方向S
と直交する方向の中央部、言い換えれば、被処理基板2
1の幅方向に沿った方向の中央部)で、かつ、乾燥処理
開始側(基板移動方向の上手側)に位置されるように形
成されている。
Lower air knife (drying mechanism) 313a
However, what is different from the air knife 213a of the third embodiment is that it is divided into a plurality of parts. Specifically, the air knife main body 313b is the air knife main bodies 313b1 and 31.
It is divided into 3b2 and 313b3. The air knife body 313b1 has a box shape, and its plane shape is formed in a V shape as shown in FIG.
A bottom portion) 313f is formed so as to be located at the center portion in the left-right direction and on the drying process start side (upper side in the substrate moving direction). In this air knife body 313b1,
An air supply pipe 313c1 for supplying high-pressure air 215 is provided in the main body 313b1, and the main body 313b is also provided.
A nozzle port 313d1 is formed on the No. 1 substrate 21 side. Further, the nozzle opening 313d1 is also formed in a V-shape in plan view as shown in FIG. 18, and has a top portion (V-shaped bottom portion) 31.
3e is the central portion in the left-right direction (the movement direction S of the substrate 21 to be processed).
A central portion in a direction orthogonal to the substrate 2, in other words, the substrate 2 to be processed.
It is formed so as to be located at the center portion in the width direction 1) and on the drying processing start side (the upper side in the substrate moving direction).

【0077】エアナイフ本体313b2は、ボックス状
のもので、その平面形状は図18に示すように平行四辺
形状に形成されている。このエアナイフ本体313b2
には、この本体313b2内に高圧空気215を供給す
るエア供給管313c2が設けられ、また、この本体3
13b2の被処理基板21側にノズル口313d2が形
成されている。また、ノズル口313d2も図18に示
すように平面視平行四辺形状に形成されている。エアナ
イフ本体313b3は、ボックス状のもので、その平面
形状は図18に示すように平行四辺形状に形成されてい
る。このエアナイフ本体313b3には、この本体31
3b3内に高圧空気215を供給するエア供給管313
c3が設けられ、また、この本体313b3の被処理基
板21側にノズル口313d3が形成されている。ま
た、ノズル口313d3も図18に示すように平面視平
行四辺形状に形成されている。そして、エアナイフ31
3aは、エア供給管313c1、313c2、313c
3から対応するエアナイフ本体313b1、313b
2、313b3内に高圧空気215が供給され、ノズル
口313d1、313d2、313d3からそれぞれ高
圧空気215が、被処理基板21の下面に向けて噴出さ
れるように構成されている。
The air knife main body 313b2 has a box shape, and its planar shape is a parallelogram shape as shown in FIG. This air knife body 313b2
Is provided with an air supply pipe 313c2 for supplying high-pressure air 215 into the main body 313b2.
A nozzle port 313d2 is formed on the substrate 13 side of 13b2. The nozzle opening 313d2 is also formed in a parallelogrammatic shape in plan view as shown in FIG. The air knife main body 313b3 has a box shape, and its planar shape is a parallelogram shape as shown in FIG. The air knife body 313b3 has a body 31
Air supply pipe 313 for supplying high-pressure air 215 into 3b3
c3 is provided, and a nozzle port 313d3 is formed on the processed substrate 21 side of the main body 313b3. The nozzle opening 313d3 is also formed in a parallelogrammatic shape in plan view as shown in FIG. And the air knife 31
3a is an air supply pipe 313c1, 313c2, 313c.
3 to the corresponding air knife bodies 313b1 and 313b
The high-pressure air 215 is supplied into 2, 313b3, and the high-pressure air 215 is ejected from the nozzle openings 313d1, 313d2, 313d3 toward the lower surface of the substrate 21 to be processed.

【0078】また、本実施形態では、乾燥処理領域13
内に設けられた搬送コロ25の外径はいずれも同じ大き
さとされている。また、これら搬送コロ25は、処理室
1a内に送り込まれた被処理基板21が傾斜角度θで傾
斜した状態で搬送できるように配置されていることが望
ましい。上記傾斜角度θは、0.5度乃至30度、好ま
しくは1度乃至15度程度である。
Further, in this embodiment, the drying processing area 13
The outer diameters of the transport rollers 25 provided inside are the same. Further, it is desirable that the transfer rollers 25 are arranged so that the substrate to be processed 21 fed into the processing chamber 1a can be transferred in a state of being inclined at an inclination angle θ. The inclination angle θ is 0.5 to 30 degrees, preferably 1 to 15 degrees.

【0079】そして、エアナイフ本体313bは、図1
8に示すように搬送コロの邪魔にならないように搬送コ
ロ25間に配置されている。詳しくは、図18に示すよ
うにエアナイフ本体313b1は、基準となる回転軸2
5c(図17に示すエアナイフ本体213aの近傍に設
けられた回転軸25c)に対して乾燥処理開始側(基板
移動方向の上手側)設けられている。この本体313b
1の頂部313fは上記基準となる回転軸25cに設け
られた中央の2つの搬送コロ25間の中央の延長線上の
乾燥処理開始側に設けられており、しかもこの頂部31
3fは、上記基準となる回転軸25cより乾燥処理開始
側に配置された回転軸25cに設けられた中央の2つの
搬送コロ25より基板移動方向の下手側に配置されてい
る。また、本体313b1の左側部分313g1の端部
は頂部313f側よりも基板移動方向の下手側に配置さ
れるように形成されており、右側部分313h1の端部
は頂部313f側よりも基板移動方向の下手側に配置さ
れるように形成されている。
The air knife body 313b is shown in FIG.
As shown in FIG. 8, they are arranged between the transport rollers 25 so as not to interfere with the transport rollers. More specifically, as shown in FIG. 18, the air knife main body 313b1 includes a rotary shaft 2 serving as a reference.
5c (rotating shaft 25c provided in the vicinity of the air knife main body 213a shown in FIG. 17) is provided on the drying process start side (the upper side in the substrate moving direction). This body 313b
The top portion 313f of No. 1 is provided on the drying processing start side on the central extension line between the two central transport rollers 25 provided on the reference rotating shaft 25c.
3f is arranged on the lower side in the substrate moving direction with respect to the two central transfer rollers 25 provided on the rotating shaft 25c arranged on the drying processing start side of the above-described rotating shaft 25c. Further, the end portion of the left side portion 313g1 of the main body 313b1 is formed so as to be arranged on the lower side of the substrate moving direction than the top portion 313f side, and the end portion of the right side portion 313h1 is formed in the substrate moving direction rather than the top portion 313f side. It is formed so as to be arranged on the lower side.

【0080】エアナイフ本体313b2は、上記の基準
となる回転軸25cに設けられた搬送コロ25のうち右
側から1目と2つ目の搬送コロ25より基板移動方向の
下手側に配置されている。また、この本体313b2の
右側部分313h2の端部は左側部分313g2の端部
よりも基板移動方向の下手側に配置されている。エアナ
イフ本体313b3は、上記の基準となる回転軸25c
に設けられた搬送コロ25のうち左側から1目と2つ目
の搬送コロ25より基板移動方向の下手側に配置されて
いる。また、この本体313b3の左側部分313g3
の端部は右側部分313h3の端部よりも基板移動方向
の下手側に配置されている。
The air knife main body 313b2 is arranged on the lower side in the substrate moving direction with respect to the first and second transfer rollers 25 from the right side of the transfer rollers 25 provided on the reference rotating shaft 25c. The end of the right side portion 313h2 of the main body 313b2 is arranged on the lower side in the substrate moving direction than the end of the left side portion 313g2. The air knife body 313b3 has a rotary shaft 25c serving as the above reference.
It is arranged on the lower side in the substrate moving direction with respect to the first and second transfer rollers 25 from the left side of the transfer rollers 25 provided in. Also, the left side portion 313g3 of the main body 313b3
Is arranged on the lower side in the substrate moving direction than the end of the right side portion 313h3.

【0081】この第4の実施形態のウエット処理装置3
01を用いて被処理基板21にウエットエッチング処
理、洗浄処理、乾燥処理を順次施す工程は、乾燥処理以
外は先に述べた第1の実施形態のウエット処理装置1を
用いる工程と同様にして行うことができる。このウエッ
ト処理装置301を用いて乾燥処理を行うには、乾燥処
理領域13内に送り込まれた洗浄後の被処理基板21を
搬送コロ25によりこの被処理基板21が移動方向(搬
送方向)に上昇するような角度で傾斜搬送しながら上側
のエアナイフ213aのノズル口213d、下側のエア
ナイフ313aのノズル口313d1、313d2、3
13d3から高圧空気215を被処理基板21の両面に
吹き付けて、洗浄処理領域12内で表面に付着した洗浄
液を乾燥する。ついで、乾燥後の被処理基板21をアン
ローダ14に搬送し、この後、例えば、カセット等に収
容する。
Wet treatment apparatus 3 of the fourth embodiment
The step of sequentially performing the wet etching process, the cleaning process, and the drying process on the substrate to be processed 21 using 01 is performed in the same manner as the process using the wet processing apparatus 1 of the first embodiment described above except the drying process. be able to. In order to perform the drying process using the wet processing apparatus 301, the substrate to be processed 21 after cleaning, which has been sent into the drying process region 13, is lifted in the moving direction (conveying direction) by the transfer roller 25. The nozzle opening 213d of the upper air knife 213a and the nozzle openings 313d1, 313d2, 3 of the lower air knife 313a are conveyed while being inclined and conveyed at such an angle.
High-pressure air 215 is blown onto both surfaces of the substrate to be processed 21 from 13d3 to dry the cleaning liquid adhering to the surface in the cleaning processing region 12. Then, the dried substrate 21 is transported to the unloader 14 and then stored in, for example, a cassette or the like.

【0082】上記のノズル口313d1、313d2、
313d3から高圧空気215が吹き出される際、これ
らノズル口313d1、313d2、313d3を合わ
せたノズル口形状は略V字形に形成されているので、各
ノズル口から吹き出される高圧空気215のエアー流2
16は傾斜して流れることから、図18に示すように、
被処理基板21の移動に応じて板端面21bにおいて
は、ノズル口313d1の頂部313eと対応する中央
部から両外側へのエアー流217が生じ、これにより板
端面21bに残ろうとする水滴(洗浄液)が、エアー流
217により被処理基板21の板端面21bの幅方向の
両端部側に引っ張られるように移動され、そして各端部
で水滴が集合することにより、大きな水玉になった後、
次々と各端部から離れて外方に飛ばされる。これにより
板端面21bに残ろうとする水滴を確実に取り除ける。
また、ノズル口313d1、313d2、313d3を
合わせた形状が略V字形となるので、エアナイフ313
aの前後長さを短くしたとしても、各ノズル口の被処理
基板21に対する傾斜角度αを充分に大きくでき、これ
により被処理基板21が同一幅であるとき、各ノズル口
の傾斜角度αを大きくでき、被処理基板21の端面21
dの水滴の切れを良くすることができ、被処理基板21
の搬送速度を速くでき、乾燥効率を向上できる。
The nozzle openings 313d1, 313d2,
When the high-pressure air 215 is blown out from the nozzle opening 313d3, the nozzle opening shape combining these nozzle openings 313d1, 313d2, 313d3 is formed in a substantially V shape, so that the air flow 2 of the high-pressure air 215 blown out from each nozzle opening is increased.
Since 16 flows with an inclination, as shown in FIG.
In accordance with the movement of the substrate 21 to be processed, at the plate end face 21b, an air flow 217 is generated from the central part corresponding to the top part 313e of the nozzle opening 313d1 to both outsides, whereby water drops (cleaning liquid) that are left on the plate end face 21b. Are moved by the air flow 217 so as to be pulled toward both ends of the plate end surface 21b of the substrate 21 to be processed in the width direction, and water droplets collect at each end to form a large water drop,
One after the other, they fly away from each end and fly outward. As a result, it is possible to reliably remove the water droplets that are about to remain on the plate end surface 21b.
Further, since the combined shape of the nozzle openings 313d1, 313d2, and 313d3 is a substantially V-shape, the air knife 313
Even if the front-rear length of a is shortened, the inclination angle α of each nozzle opening with respect to the substrate 21 to be processed can be made sufficiently large, and when the processing substrate 21 has the same width, the inclination angle α of each nozzle opening is The end surface 21 of the substrate 21 to be processed can be made large.
It is possible to improve the breakability of the water droplets of d, and the substrate to be processed 21
The transport speed of can be increased and the drying efficiency can be improved.

【0083】第4の実施形態のウエット処理装置301
によれば、特に、分割されたエアナイフ本体は搬送コロ
25の邪魔にならないように配置されており、しかも各
ノズル口は搬送コロ25や回転軸25cに遮られないの
で、被処理基板21に付着した洗浄液をノズル口から吹
き出した高圧空気215により効率良く乾燥できる。
Wet processing apparatus 301 of the fourth embodiment
According to this, in particular, the divided air knife main body is arranged so as not to interfere with the transport roller 25, and the nozzle openings are not blocked by the transport roller 25 or the rotary shaft 25c, so that it adheres to the substrate 21 to be processed. The cleaning liquid thus prepared can be efficiently dried by the high pressure air 215 blown out from the nozzle port.

【0084】なお、第4の実施形態のウエット処理装置
301においては、乾燥処理領域13内に設けられる搬
送コロ25の外径が同じ大きさである場合について説明
したが、図18に示す各回転軸25cにおいて左右方向
の中央部(被処理基板21の移動方向Sと直交する方向
の中央部、言い換えれば、被処理基板21の幅方向に沿
った方向の中央部)に配置された二つの搬送コロ25の
外径を両端の搬送コロ25の外径より大径とし、さらに
各回転軸25において両端の搬送コロ25の上側には被
処理基板21の幅方向の端部を搬送コロ25との間に挟
むための上側搬送コロを設けた構成としてもよい。図1
9はこのように構成した乾燥処理室13内を示す断面図
であり、符号27(25)は大径の搬送コロであり、符
号28は上側搬送コロであり、符号28cは上側搬送コ
ロ28の回転軸である。
In the wet processing apparatus 301 of the fourth embodiment, the case where the outer diameters of the transport rollers 25 provided in the drying processing area 13 are the same has been described, but each rotation shown in FIG. Two transports arranged at the central portion in the left-right direction (the central portion in the direction orthogonal to the moving direction S of the substrate to be processed 21, in other words, the central portion along the width direction of the substrate to be processed 21) on the axis 25c. The outer diameter of the roller 25 is set to be larger than the outer diameter of the transport rollers 25 at both ends, and the end of the substrate 21 in the width direction is above the transport rollers 25 at both ends of each rotating shaft 25. A configuration may be used in which an upper conveyance roller is provided for sandwiching it. Figure 1
9 is a cross-sectional view showing the inside of the drying processing chamber 13 configured as described above, reference numeral 27 (25) is a large-diameter transfer roller, reference numeral 28 is an upper transfer roller, and reference numeral 28c is an upper transfer roller 28. It is a rotating shaft.

【0085】このような構成とすることで、洗浄後の被
処理基板21を乾燥処理領域13内に送り込むと、被処
理基板21の幅方向の両端部はそれぞれ上下の搬送コロ
25、28で挟まれ、被処理基板21の幅方向の中央部
は大径の搬送コロ27により基板21の上方に押し上げ
られるので、被処理基板21は幅方向に湾曲することと
なり、すなわち、被処理基板21の幅方向の中央部は両
端部より上方に位置することとなる。被処理基板21は
幅方向の中央部が高くなるように湾曲されていると、上
側のエアナイフ213aから高圧空気215を吹き付け
たときに、基板21に付着していた水滴(洗浄液)は基
板21の中央部から端部に停滞することなく流れるの
で、被処理基板21が湾曲されていない場合に比べて液
切れ及び乾燥効果をさらに向上できる。この場合、エア
ナイフ本体の形状も被処理基板21の湾曲された形状に
合わせて湾曲して形状にしておくのがより好ましい。上
記のように基板21の幅方向の中央部が高くなるように
湾曲させながら乾燥を行う場合、基板21とエアナイフ
との距離は第3の実施形態よりも広くしてもよい。
With this structure, when the processed substrate 21 after cleaning is fed into the dry processing region 13, both end portions in the width direction of the processed substrate 21 are sandwiched by the upper and lower transfer rollers 25 and 28, respectively. As a result, the central portion in the width direction of the substrate to be processed 21 is pushed up above the substrate 21 by the large-diameter transport roller 27, so that the substrate to be processed 21 is curved in the width direction, that is, the width of the substrate to be processed 21. The central part in the direction is located above both ends. When the substrate 21 to be processed is curved so that the central portion in the width direction becomes high, when the high-pressure air 215 is blown from the air knife 213a on the upper side, water droplets (cleaning liquid) attached to the substrate 21 are removed from the substrate 21. Since the liquid flows from the central portion to the end portion without stagnation, the liquid drainage and drying effects can be further improved as compared with the case where the substrate 21 to be processed is not curved. In this case, it is more preferable that the shape of the air knife body is also curved according to the curved shape of the substrate 21 to be processed. When drying is performed while curving the substrate 21 so that the central portion in the width direction becomes higher as described above, the distance between the substrate 21 and the air knife may be wider than that in the third embodiment.

【0086】上記の例では、乾燥処理領域13内に配置
された搬送コロのうち左右方向の中央部(被処理基板2
1の移動方向Sと直交する方向の中央部、言い換えれ
ば、被処理基板21の幅方向に沿った方向の中央部)に
配置された搬送コロ25の外径を両端の搬送コロ25の
外径より大径とし、さらに両端の搬送コロ25の上側に
は被処理基板21の幅方向の端部を搬送コロ25との間
に挟むための上側搬送コロを設けた構成とすることによ
り、乾燥処理領域13内に送り込まれた被処理基板21
を幅方向の中央部が高くなるように湾曲させながら乾燥
処理が行えるようにした場合について説明したが、第1
〜第4の実施形態のウエット処理装置のエッチング処理
領域や洗浄処理領域においてもこれら処理領域内に配置
された搬送コロ25のうち左右方向の中央部(被処理基
板21の移動方向Sと直交する方向の中央部、言い換え
れば、被処理基板21の幅方向に沿った方向の中央部)
に配置された搬送コロ25の外径を両端の搬送コロ25
の外径より大径とし、さらに両端の搬送コロ25の上側
には被処理基板21の幅方向の端部を搬送コロ25との
間に挟むための上側搬送コロを設けた構成としてもよ
い。
In the above example, the central portion in the left and right direction (the substrate 2
The outer diameter of the transport rollers 25 arranged in the central portion in the direction orthogonal to the moving direction S of 1 (in other words, the central portion in the direction along the width direction of the substrate to be processed 21) is the outer diameter of the transport rollers 25 at both ends. A larger diameter is provided, and upper side transfer rollers for sandwiching the end portion in the width direction of the substrate to be processed 21 with the transfer rollers 25 are provided above the transfer rollers 25 at both ends, thereby performing a drying process. The substrate to be processed 21 sent into the area 13
The case where the drying process can be performed while curving so that the central portion in the width direction becomes high has been described.
In the etching processing area and the cleaning processing area of the wet processing apparatus of the fourth embodiment as well, the central portion in the left-right direction of the transport rollers 25 arranged in these processing areas (which is orthogonal to the moving direction S of the substrate 21 to be processed). Direction central portion, in other words, the central portion in the direction along the width direction of the substrate 21 to be processed)
The outer diameter of the transport roller 25 arranged at
The outer diameter may be larger than the outer diameter, and upper side transfer rollers for sandwiching the end portion in the width direction of the substrate to be processed 21 between the transfer rollers 25 at both ends may be provided.

【0087】エッチング処理領域や洗浄処理領域を上記
のような構成とすることにより、これらの処理領域内を
被処理基板21を搬送してウエット処理を行う際、被処
理基板21はその長さ方向で傾斜した状態でウエット処
理されるとともに幅方向の中央部が高くなるように湾曲
させながらウエット処理されるので、被処理基板21を
傾斜させただけの状態でウエット処理する場合に比べて
ウエット処理後の処理液の液切れをさらに向上できる。
By configuring the etching processing region and the cleaning processing region as described above, when the substrate to be processed 21 is carried in these processing regions and wet processing is performed, the substrate to be processed 21 is moved in the longitudinal direction thereof. Since the wet treatment is performed in a state where the substrate 21 is tilted, and the wet treatment is performed while curving so that the central portion in the width direction becomes high, the wet treatment is performed as compared with the case where the substrate 21 to be processed is only inclined. It is possible to further improve the drainage of the subsequent processing liquid.

【0088】また、第1〜第4の実施形態においては、
ウエットエッチングと洗浄を行うウエット処理工程と、
乾燥工程を順次行うための装置に本発明を適用する場合
について説明したが、洗浄、剥離、現像、ウエットエッ
チング、メッキ、研磨等のうちの一種類以上のウエット
処理を連続して行うための装置や、さらに必要に応じて
このウエット処理後に乾燥を行うための装置や、ウエッ
ト処理工程間に乾燥工程を行うための装置に適用するこ
ともできる。また、第1〜第4の実施形態においては、
被処理物が数百mm角程度、好ましくは1〜2m角の大
型のガラス基板等の被処理基板である場合について説明
したが、半導体ウエハのように円形のものであってもよ
い。
Further, in the first to fourth embodiments,
A wet processing step of performing wet etching and cleaning,
Although the case where the present invention is applied to an apparatus for sequentially performing a drying step has been described, an apparatus for continuously performing one or more kinds of wet treatments such as cleaning, peeling, development, wet etching, plating, and polishing. Moreover, it can be applied to an apparatus for performing drying after the wet treatment or an apparatus for performing a drying step between the wet treatment steps, if necessary. In addition, in the first to fourth embodiments,
The case where the object to be processed is a large substrate such as a glass substrate having a size of several hundred mm square, preferably 1 to 2 m square, has been described, but it may have a circular shape such as a semiconductor wafer.

【0089】[0089]

【発明の効果】以上説明したように本発明のウエット処
理装置において各ウエット処理領域において被処理物が
斜めになるように配置されたものにあっては、ウエット
処理液の使用量の省液化と、ウエット処理装置の小型化
が可能であるので、ウエット処理工程に多大な設備費や
占有スペースを費やすこともなく、製造ライン等に用い
て合理的な装置とすることができ、また、大型の被処理
物のウエット処理に十分対応できる装置とすることがで
きる。また、本発明のウエット処理装置において、各ウ
エット処理領域だけでなく、乾燥処理領域においても被
処理物が斜めになるように配置されたものにあっては、
ウエット処理液の使用量だけでなく、ウエット処理工程
後の乾燥工程で使用する乾燥用気体の使用量の低減が可
能で、装置を小型化でき、ウエット処理工程や乾燥工程
に多大な設備費や占有スペースを費やすこともなく、製
造ライン等に用いて合理的にウエット処理並びに乾燥で
き、また、大型の被処理物のウエット処理、乾燥に十分
対応できる装置とすることができる。
As described above, in the wet processing apparatus of the present invention in which the objects to be processed are arranged obliquely in each wet processing area, the use amount of the wet processing liquid can be reduced. Since the wet processing apparatus can be downsized, it does not require a large amount of equipment and space for the wet processing process, and can be used as a rational apparatus in a production line, etc. The apparatus can sufficiently cope with the wet processing of the object to be processed. Further, in the wet processing apparatus of the present invention, not only in each wet processing area, but also in the dry processing area, the object to be processed is arranged obliquely,
Not only the amount of wet treatment liquid used, but also the amount of drying gas used in the drying process after the wet treatment process can be reduced, the device can be downsized, and a large amount of equipment expense is required for the wet treatment process and the drying process. The apparatus can be reasonably used in a production line or the like to rationally perform wet processing and drying without occupying an occupied space, and can sufficiently cope with wet processing and drying of a large object to be processed.

【0090】また、本発明のウエット処理装置におい
て、ウエット処理を行う処理領域において被処理物が斜
めになるように配置されているうえ、ウエット処理手段
が上記の構成の一対のノズル構成体から構成したものに
あっては、ウエット処理液の使用量をさらに少なくで
き、ウエット処理装置の小型化が可能であるので、ウエ
ット処理工程に多大な設備費や占有スペースを費やすこ
ともなく、製造ライン等に用いて合理的な装置とするこ
とができ、また、大型の被処理物のウエット処理に十分
対応できる装置とすることができる。また、本発明のウ
エット処理装置において、ウエット処理および乾燥処理
を行う処理領域において被処理物が斜めになるように配
置されているうえ、ウエット処理手段が上記の構成の一
対のノズル構成体から構成したものにあっては、ウエッ
ト処理液の使用量をさらに少なくでき、またウエット処
理工程後の乾燥工程で使用する乾燥用気体の使用量の低
減が可能で、装置を小型化でき、ウエット処理工程や乾
燥工程に多大な設備費や占有スペースを費やすこともな
く、製造ライン等に用いて合理的にウエット処理並びに
乾燥でき、また、大型の被処理物のウエット処理、乾燥
に十分対応できる装置とすることができる。
Further, in the wet processing apparatus of the present invention, the object to be processed is arranged obliquely in the processing region where the wet processing is performed, and the wet processing means is composed of the pair of nozzle constituent members having the above-mentioned structure. In this case, the amount of the wet processing liquid used can be further reduced, and the wet processing apparatus can be downsized, so that the wet processing process does not consume a large amount of equipment or occupied space, and the manufacturing line etc. It can be used as a rational device, and can be a device that can sufficiently cope with wet processing of a large object to be processed. Further, in the wet processing apparatus of the present invention, the object to be processed is arranged so as to be oblique in the processing region where the wet processing and the drying processing are performed, and the wet processing means is composed of the pair of nozzle constituent members having the above-described structure. In this case, the amount of the wet treatment liquid used can be further reduced, and the amount of the drying gas used in the drying process after the wet treatment process can be reduced, so that the apparatus can be downsized and the wet treatment process can be performed. A device that can be used reasonably for wet processing and drying in a production line, etc. without spending a large amount of equipment and occupied space for the drying process, and can sufficiently cope with wet processing and drying of a large object. can do.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の第1の実施形態のウエット処理装置
を示す概略構成図。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a wet processing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図1のウエット処理装置のウエット処理領
域、洗浄処理領域、乾燥処理領域を示す断面図。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a wet treatment area, a cleaning treatment area, and a drying treatment area of the wet treatment apparatus of FIG.

【図3】 第1の実施形態のウエット処理装置の乾燥処
理領域に備えられるエアナイフのその他の例を示す図。
FIG. 3 is a diagram showing another example of the air knife provided in the dry processing region of the wet processing apparatus of the first embodiment.

【図4】 本発明の第2の実施形態のウエット処理装置
を示す概略構成図。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing a wet processing apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図5】 図4のウエット処理装置の処理領域を示す断
面図。
5 is a sectional view showing a processing region of the wet processing apparatus shown in FIG.

【図6】 図5の処理領域に備えられた一対のプッシュ
・プル型ノズルの構成を示す拡大断面図。
6 is an enlarged cross-sectional view showing a configuration of a pair of push-pull type nozzles provided in the processing region of FIG.

【図7】 図5乃至図6のプッシュ・プル型ノズルの被
処理基板側から見た図。
FIG. 7 is a view of the push-pull type nozzle of FIGS. 5 to 6 as viewed from the substrate side.

【図8】 第2の実施形態のウエット処理装置の乾燥処
理領域に備えられるエアナイフのその他の例を示す図。
FIG. 8 is a diagram showing another example of the air knife provided in the dry processing region of the wet processing apparatus according to the second embodiment.

【図9】 第2の実施形態のウエット処理装置に備えら
れたノズル移動手段(ノズル構成体・被処理物相対移動
手段)を示す平面図。
FIG. 9 is a plan view showing a nozzle moving unit (nozzle constituting member / processed object relative moving unit) provided in the wet processing apparatus of the second embodiment.

【図10】 実施形態の処理室内に備えられた多孔質部
材が設けられた保持手段を示す平面図。
FIG. 10 is a plan view showing a holding means provided with a porous member provided in the processing chamber of the embodiment.

【図11】 従来のウエット処理装置の例を示す概略構
成図。
FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing an example of a conventional wet processing apparatus.

【図12】 図11のウエット処理装置の洗浄槽、乾燥
槽、アンローダを示示す図。
12 is a view showing a cleaning tank, a drying tank, and an unloader of the wet processing apparatus of FIG.

【図13】 第3の実施形態のウエット処理装置の処理
室に備えられた乾燥処理領域を示す断面図。
FIG. 13 is a cross-sectional view showing a drying processing region provided in a processing chamber of the wet processing apparatus according to the third embodiment.

【図14】 図13のXIV−XIV線断面図。14 is a sectional view taken along line XIV-XIV in FIG.

【図15】 図13の乾燥処理領域内に設けられた下側
のエアナイフを被処理基板側から見たときの平面図。
FIG. 15 is a plan view of the lower air knife provided in the dry processing area of FIG. 13 when viewed from the substrate side.

【図16】 第4の実施形態のウエット処理装置の処理
室に備えられた乾燥処理領域を示す断面図。
FIG. 16 is a cross-sectional view showing a drying processing region provided in a processing chamber of the wet processing apparatus according to the fourth embodiment.

【図17】 図16のXVII−XVII線断面図。17 is a sectional view taken along line XVII-XVII of FIG.

【図18】 図16の乾燥処理領域内に設けられた下側
のエアナイフを被処理基板側から見たときの平面図。
FIG. 18 is a plan view of the lower air knife provided in the dry processing area of FIG. 16 when viewed from the substrate side.

【図19】 本実施形態の乾燥処理室内に設けられた搬
送コロの他の例を示す断面図。
FIG. 19 is a cross-sectional view showing another example of the transfer rollers provided in the drying processing chamber of the present embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,31,201,301・・・ウエット処理装置、1
a,31a・・・処理室、11・・・エッチング処理領域(ウ
エット処理領域)、11a,12a・・・シャワーノズル
(ウエット処理手段)12・・・洗浄処理領域(ウエット
処理領域)、13・・・乾燥処理領域、13a,23a,
43,83,213a,313a・・・エアナイフ(乾燥
機構)、21・・・被処理基板(被処理物)、25、2
6、27・・・搬送コロ(搬送機構)、32・・・処理領域、
41、42・・・プッシュ・プル型ノズル(ウエット処理
手段)、50・・・エッチング液(ウエット処理液)、5
1a・・・導入口、51b・・・第1の開口部、51・・・導入
通路、52a・・・排出口、52b・・・第2の開口部、52
・・・排出通路、70・・・洗浄液(ウエット処理液)92・・
・ラックベース、93・・・リニアガイド、94・・・スライ
ダ、95・・・支柱、96・・・モータ、97・・・保持手段、
97a・・・多孔質部材、98・・・ホルダ支持板、θ・・・傾
斜角度、S・・・搬送方向(移動方向)、a・・・距離、b・・
・幅。
1, 31, 201, 301 ... Wet processing device, 1
a, 31a ... Processing chamber, 11 ... Etching processing area (wet processing area), 11a, 12a ... Shower nozzle (wet processing means) 12 ... Cleaning processing area (wet processing area), 13. ..Drying processing areas, 13a, 23a,
43, 83, 213a, 313a ... Air knife (drying mechanism), 21 ... Processing substrate (processing object), 25, 2
6, 27 ... Transport rollers (transport mechanism), 32 ... Processing area,
41, 42 ... Push-pull type nozzle (wet processing means), 50 ... Etching solution (wet processing solution), 5
1a ... Inlet port, 51b ... First opening part, 51 ... Inlet passage, 52a ... Outlet port, 52b ... Second opening part, 52
... Discharge passage, 70 ... Cleaning liquid (wet processing liquid) 92 ...
-Rack base, 93 ... Linear guide, 94 ... Slider, 95 ... Support, 96 ... Motor, 97 ... Holding means,
97a ... Porous member, 98 ... Holder support plate, θ ... Inclination angle, S ... Transport direction (moving direction), a ... Distance, b ...
·width.

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被処理物のウエット処理のための処理液
を被処理物に向けて供給するウエット処理手段が設けら
れた複数のウエット処理領域が備えられた処理室内に被
処理物を搬送してウエット処理を順次行うウエット処理
装置であって、前記処理室内に前記被処理物を傾斜した
状態で搬送する傾斜搬送機構が設けられたことを特徴と
するウエット処理装置。
1. An object to be processed is transported into a processing chamber provided with a plurality of wet processing areas provided with a wet processing means for supplying a processing liquid for the wet processing of the object to be processed toward the object to be processed. A wet processing apparatus that sequentially performs wet processing by means of an inclined transfer mechanism that transfers the workpiece in an inclined state in the processing chamber.
【請求項2】 被処理物のウエット処理のための処理液
を被処理物に向けて供給するウエット処理手段が設けら
れた複数のウエット処理領域と、ウエット処理された被
処理物を乾燥させる乾燥機構が設けられた乾燥処理領域
とが備えられた処理室内に被処理物を搬送してウエット
処理、乾燥処理を順次行うウエット処理装置であって、
前記処理室内に前記被処理物を傾斜した状態で搬送させ
る傾斜搬送機構が設けられたことを特徴とするウエット
処理装置。
2. A plurality of wet treatment areas provided with a wet treatment means for supplying a treatment liquid for the wet treatment of the object to be treated toward the object to be treated, and a drying process for drying the object treated to be wet. A wet processing apparatus for carrying out a wet processing by sequentially transporting an object to be processed into a processing chamber provided with a drying processing area provided with a mechanism,
A wet processing apparatus, wherein an inclined transfer mechanism for transferring the object to be processed in an inclined state is provided in the processing chamber.
【請求項3】 被処理物のウエット処理のための処理液
を被処理物に向けて供給する複数のウエット処理手段が
設けられた処理領域が備えられた処理室内に被処理物を
搬送してウエット処理を順次行うウエット処理装置であ
って、 前記処理室内に前記被処理物を傾斜した状態で搬送させ
る傾斜搬送機構が設けられ、前記複数のウエット処理手
段のうち少なくも一つは、一端にウエット処理液を導入
するための導入口を有する導入通路と一端にウエット処
理後のウエット処理液をウエット処理の系外に排出する
ための排出通路とが形成され、該導入通路と該排出通路
とをそれぞれの他端において被処理物に向けて開口する
開口部を設けてなる一対のノズル構成体から構成され、
これらノズル構成体は前記開口部が設けられた側同士が
隙間を隔てて対向配置され、該対向部間に前記被処理物
が搬送されてウエット処理を行うものであることを特徴
とするウエット処理装置。
3. An object to be processed is conveyed into a processing chamber provided with a processing region provided with a plurality of wet processing means for supplying a processing liquid for the wet processing of the object to be processed toward the object to be processed. A wet processing apparatus for sequentially performing wet processing, wherein an inclined transfer mechanism for transferring the object to be processed in an inclined state is provided in the processing chamber, and at least one of the plurality of wet processing means has one end. An introduction passage having an introduction port for introducing the wet treatment liquid and a discharge passage for discharging the wet treatment liquid after the wet treatment to the outside of the wet treatment system are formed at one end, the introduction passage and the discharge passage. At the other end of each of which is composed of a pair of nozzle constituents provided with an opening opening toward the object to be processed,
These nozzle structures are arranged such that the sides provided with the openings are opposed to each other with a gap therebetween, and the object to be processed is conveyed between the opposed parts to perform a wet process. apparatus.
【請求項4】 被処理物のウエット処理のための処理液
を被処理物に向けて供給する複数のウエット処理手段
と、ウエット処理された被処理物を乾燥させる乾燥機構
とが設けられた処理領域が備えられた処理室内に被処理
物を搬送してウエット処理、乾燥処理を順次行うウエッ
ト処理装置であって、 前記処理室内に前記被処理物を傾斜した状態で搬送させ
る傾斜搬送機構が設けられ、前記複数のウエット処理手
段のうち少なくとも一つは、一端にウエット処理液を導
入するための導入口を有する導入通路と一端にウエット
処理後のウエット処理液をウエット処理の系外に排出す
るための排出通路とが形成され、該導入通路と該排出通
路とをそれぞれの他端において被処理物に向けて開口す
る開口部を設けてなる一対のノズル構成体から構成さ
れ、これらノズル構成体は前記開口部が設けられた側同
士が隙間を隔てて対向配置され、該対向部間に前記被処
理物が搬送されてウエット処理を行うものであることを
特徴とするウエット処理装置。
4. A treatment provided with a plurality of wet treatment means for supplying a treatment liquid for wet treatment of an object to be treated toward the object to be treated, and a drying mechanism for drying the wet treated object. A wet processing apparatus for sequentially carrying out a wet process and a drying process by carrying an object to be processed into a processing chamber provided with an area, wherein an inclined transfer mechanism for carrying the object to be processed in an inclined state is provided in the processing chamber. At least one of the plurality of wet treatment means discharges the wet treatment liquid after the wet treatment to an introduction passage having an introduction port for introducing the wet treatment liquid at one end and to the outside of the wet treatment system at one end. And a discharge passage for forming the discharge passage, and the other end of each of the introduction passage and the discharge passage is provided with an opening that opens toward the object to be processed. The nozzle structure is arranged such that the sides provided with the openings are opposed to each other with a gap therebetween, and the object to be processed is conveyed between the opposed parts to perform a wet process. Processing equipment.
【請求項5】 前記一対のノズル構成体の対向部間の距
離をa、ノズル構成体の開口部を有する側で、被処理物
の搬送方向に沿った方向の幅をb、これらノズル構成体
の対向部間に搬送される被処理物の傾斜角度をθとした
とき、0<θ<arctan(a/b)なる条件を満たすこと
を特徴とする請求項3又は4に記載のウエット処理装
置。
5. The distance between the facing portions of the pair of nozzle constituents is a, the width of the nozzle constituent on the side having the opening is b in the direction along the conveyance direction of the workpiece, and these nozzle constituents are The wet processing apparatus according to claim 3 or 4, wherein a condition of 0 <θ <arctan (a / b) is satisfied, where θ is an inclination angle of the object to be processed that is conveyed between the facing portions. .
【請求項6】 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の
ウエット処理装置において、前記傾斜搬送機構は、前記
処理室内を移動する被処理物の移動方向に被処理物が上
昇する角度で傾斜搬送するものであることを特徴とする
ウエット処理装置。
6. The wet processing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the tilted transfer mechanism is at an angle at which the object to be processed rises in a moving direction of the object to be processed moving in the processing chamber. A wet processing apparatus characterized in that it is conveyed in an inclined manner.
【請求項7】 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の
ウエット処理装置において、前記乾燥機構は移動可能な
ものであることを特徴とするウエット処理装置。
7. The wet processing apparatus according to claim 1, wherein the drying mechanism is movable.
【請求項8】 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の
ウエット処理装置において、前記処理室内に被処理物を
保持する保持手段が設けられ、該保持手段で前記被処理
物の端部の近傍に位置する部分には多孔質部材が被処理
物の端部に接触あるいは非接触で設けられたことを特徴
とするウエット処理装置。
8. The wet processing apparatus according to any one of claims 1 to 7, further comprising: holding means for holding an object to be processed in the processing chamber, wherein the holding means has an end portion of the object to be processed. A wet treatment apparatus, wherein a porous member is provided in a portion located in the vicinity of the contact member in contact with or not in contact with an end portion of the object to be processed.
【請求項9】 請求項3乃至5のいずれか一項に記載の
ウエット処理装置において、前記一対のノズル構成体
と、被処理物の被処理面に沿って前記一対のノズル構成
体と前記被処理物とを相対移動させることにより前記被
処理物の被処理面全域を処理するためのノズル構成体・
被処理物相対移動手段とを有することを特徴とするウエ
ット処理装置。
9. The wet processing apparatus according to claim 3, wherein the pair of nozzle constituents and the pair of nozzle constituents and the object to be processed are arranged along a surface to be processed of the object to be processed. A nozzle structure for processing the entire surface of the object to be processed by relatively moving the object to be processed.
A wet processing apparatus comprising: a relative movement means for an object to be processed.
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