JP2003075500A - 巻線異常検査方法 - Google Patents
巻線異常検査方法Info
- Publication number
- JP2003075500A JP2003075500A JP2001269224A JP2001269224A JP2003075500A JP 2003075500 A JP2003075500 A JP 2003075500A JP 2001269224 A JP2001269224 A JP 2001269224A JP 2001269224 A JP2001269224 A JP 2001269224A JP 2003075500 A JP2003075500 A JP 2003075500A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- winding
- rotor
- inductance
- inspected
- stator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/34—Testing dynamo-electric machines
- G01R31/346—Testing of armature or field windings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
によりインダクタンスが変化する巻線21Uを検査対象
とし、この巻線21Uの異常をインパルス電圧試験によ
り検査する巻線異常検査方法において、インダクタンス
の変化率が最小となるようにステータ21とロータ22
とを位置決めし、この位置決め状態でインパルス電圧試
験を行う。これにより、ロータ22の位置がずれた場合
におけるインダクタンスの変化量を小さくできるので、
インパルス電圧試験における被検査巻線21Uの電圧波
形の変化のうち位置ずれに起因する変化を小さくでき
る。よって、被検査巻線21Uの異常に起因する変化を
容易に識別でき、被検査巻線21Uの異常検査の確実性
を向上できる。
Description
固定子および可動子のうち少なくとも一方に備えられた
巻線の短絡、レアー、巻数違い等の異常を、インパルス
電圧試験により検査する巻線異常検査方法に関するもの
である。
査するための試験として、特開昭57−169685号
公報等にて記載されているインパルス電圧試験が採用さ
れている。
巻線であるマスタ巻線と検査対象となる被検査巻線とに
インパルス電圧を印加し、このインパルス電圧に対する
マスタ巻線の過渡電圧の波形と被検査巻線の過渡電圧の
波形とを比較する。そして、図6(a)に示すように両
電圧波形がほぼ一致している場合には被検査巻線が正常
であると判定する。一方、図6(b)に示すように両電
圧波形が大きくずれている場合には被検査巻線が異常で
あると判定する。
置の回転子が、例えば鉄心に磁石を内蔵して構成されて
いる場合等においては、固定子と回転子との位置関係に
より巻線のインダクタンスは図3に例示するように変化
する。そして、被検査巻線の電圧波形はインダクタンス
の値に応じて変化するものであるため、被検査巻線が正
常であっても、回転子の位置が僅かにずれただけで被検
査巻線の電圧波形は変化してしまい、図6(c)に示す
ように両電圧波形が大きくずれてしまう。
線の異常に起因して両電圧波形が大きくずれている場合
と、図6(c)に示すように回転子の位置ずれに起因し
て両電圧波形が大きくずれている場合とを識別すること
が困難となる。
確実性を向上させることを目的とする。
め、請求項1に記載の発明では、磁力式駆動装置(2
0)の固定子(21)および可動子(22)のうち少な
くとも一方に備えられ、固定子(21)と可動子(2
2)との位置関係によりインダクタンスが変化する巻線
(21U)を検査対象とし、この巻線(21U)の異常
をインパルス電圧試験により検査する巻線異常検査方法
において、インダクタンスの変化率が最小となるように
固定子(21)と可動子(22)とを位置決めし、この
位置決め状態でインパルス電圧試験を行うことを特徴と
している。
た場合におけるインダクタンスの変化量を小さくできる
ので、インパルス電圧試験における巻線(21U)の電
圧波形の変化のうち位置ずれに起因する変化を小さくで
きる。よって、巻線(21U)の異常に起因する変化を
容易に識別でき、巻線(21U)の異常検査の確実性を
向上できる。
なる位置としては、インダクタンスが最大となる位置
(図3に例示するx1の位置)と、最小となる位置(図
3に例示するx2の位置)とが挙げられる。そして、x
1の位置から所定量Δxだけずれた場合と、x2の位置
から所定量Δxだけずれた場合とでは、前者の場合の方
が、位置ずれに起因する電圧波形の変化量を小さくでき
る。
いない状態の巻線(21U)のインダクタンスと、位置
ずれによるインダクタンスの変化量ΔLとの比率Rが大
きいほど、位置ずれに起因する電圧波形の変化量が大き
くなってしまうことが分かっている。そして、図3に例
示するように、x1からΔxだけずれた場合の前記比率
をR1とし、x2からΔxだけずれた場合の前記比率を
R2とすると、R1の方がR2より小さいことが以下に
証明するように明らかである。
L2/L2であり、R1とR2との差を式で示すと、
(R1−R2)=(ΔL1・L2−ΔL2・L1)/
(L1・L2)となる。ここで、ΔL1=ΔL2である
から、(R1−R2)=ΔL1・(L2−L1)/(L
1・L2)となる。そして、ΔL1>0、L1>0、L
2>0であるとともにL2<L1であるから、(R1−
R2)<0となり、R1<R2であることが証明され
る。
位置決め状態における固定子(21)と可動子(22)
との位置関係を、インダクタンスが最大となる位置に設
定すれば、位置ずれに起因する電圧波形の変化量をより
一層小さくでき、巻線(21U)の異常検査の確実性を
より一層向上できる。
定子(21)に対して回転運動する回転子(22)を可
動子とした磁力式駆動装置(20)に適用された巻線
を、検査対象となる巻線(21U)として好適である。
を内蔵した磁力式駆動装置(20)においては、回転子
(22)の磁気異方性が特に顕著になるので、固定子
(21)と回転子(22)との位置関係による巻線(2
1U)のインダクタンスの変化が大きくなる。よって、
請求項4に記載の発明のように、回転子(22)に磁石
(22b)を内蔵した磁力式駆動装置(20)に適用さ
れた巻線を、検査対象となる巻線(21U)として好適
である。
する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一
例である。
ないし図6に基づいて説明する。
機の概略構成図であり、10は、正常な巻線であるマス
タ巻線11aとマスタロータ12とからなるマスタワー
クであり、20は、検査対象である被検査巻線21Uと
被検査ロータ(回転子)22とからなる回転機(磁力式
駆動装置)である(回転機20の構造は後に詳述す
る)。
を発生する高電圧発生装置(この装置の構成は後に詳述
する)であり、高電圧発生装置30からの出力をスイッ
チ40、41により短時間に切り替えて、マスタ巻線1
1aと被検査巻線21Uとにインパルス電圧を印加す
る。
るマスタ巻線11aの過渡電圧と、印加されたインパル
ス電圧に対する被検査巻線21Uの過渡電圧との電圧差
を差増幅器50により検出する。そして、検出された電
圧差が所定の値を超えると巻線異常判定器60によりマ
スタ巻線11aと被検査巻線21Uとは電気的に異なる
状態であると判断し、被検査巻線21Uが、短絡、レア
ー、巻数違い等の異常であると判断する。
あり、回転機20のステータ(固定子)21は、磁路を
なすステータ鉄心21aと、ステータ鉄心21aに備え
られる複数のティース21bと、ティース21bに巻き
付けられた巻線21U、21V、21Wとから構成され
ている。なお、本実施形態の巻線はスター結線された三
相巻線であり、21UはU相巻線、21VはV相巻線、
21WはW相巻線を示している。
磁路をなすロータ鉄心22aと、ロータ鉄心22aに内
蔵された永久磁石22bとから構成されており、周知の
IPM(Interior Permanent Magnet)型のロータであ
る。従って、被検査ロータ22は磁気異方性を有してお
り、ステータ21とロータ22との位置関係によって、
巻線21U、21V、21WのインダクタンスLは変化
する。
Lの変化を示すものであり、インダクタンスLとロータ
位置との関係を示す特性図である。そして、図3中の符
号x1に示す被検査ロータ22の位置は、ロータ22と
ステータ21との位置関係が図4(a)に示す状態であ
るときの位置を示しており、インダクタンスの変化率が
最小であり、かつ、インダクタンスの値が最大となる位
置である。
位置は、ロータ22がx1の位置から反時計回りに90
°回転した位置を示しており、インダクタンスの変化率
が最大となる位置である。
22の位置は、ロータ22がx1の位置から反時計回り
に180°回転した位置(図4(b)に示す位置)を示
しており、インダクタンスの変化率が最小であり、か
つ、インダクタンスの値が最小となる位置である。
らΔxだけずれた場合には、インダクタンスはΔL1だ
け変化し、x2の位置からΔxだけずれた場合には、イ
ンダクタンスはΔL2だけ変化する。また、x3の位置
からΔxだけずれた場合には、インダクタンスはΔL3
だけ変化する。そして、図3から明らかなように、x1
およびx2におけるインダクタンスの変化率は最小であ
るため、インダクタンスの変化量ΔL1およびΔL2は
ΔL3に比べて極めて小さい値となる。
置30の回路構成図であり、この高電圧発生装置30
は、DC電源31、スイッチ32、コンデンサ33、3
4およびサイリスタ35から構成されている。
明すると、はじめに、インパルス試験機にマスタワーク
10および回転機20を取り付ける。そして、インダク
タンスの変化率が最小となるようにマスタステータとマ
スタロータ12とを位置決めし、また、インダクタンス
の変化率が最小となるように被検査ステータ21と被検
査ロータ22とを位置決めする。本実施形態では、図3
に示すx1の位置に各ロータ12、22を位置決めし、
インダクタンスの値が最大となるように設定している。
具体的には、先ず、DC電源31に接続されたスイッチ
32を一時的にONして、コンデンサ33を充電した
後、スイッチ32をOFFする。次に、サイリスタ34
をONすると、スイッチ40がONとなるように切り替
えられている状態において、コンデンサ33に充電され
た電気がコンデンサ34およびマスタ巻線11aに流
れ、マスタ巻線11aが有するインダクタンスL1とコ
ンデンサ34とが共振し、マスタ巻線11aの両端には
1000V〜3000Vの高電圧が印可される。
り替えられている状態においても同様にして、被検査巻
線21Uが有するインダクタンスL1とコンデンサ34
とが共振し、被検査巻線21Uの両端には1000V〜
3000Vの高電圧が印可される。そして、マスタ巻線
11aに印加された高電圧に対する過渡電圧の波形は、
図6の実線に示すように振動する波形となり、被検査巻
線21Uに印加された高電圧に対する過渡電圧の波形
は、図6の点線に示すように振動する波形となる。
ータ22がx1の位置からずれていない場合において、
被検査巻線21Uがレアー等の異常を有しない正常な状
態である場合には、図6(a)に示すように、マスタ巻
線11aの電圧波形と被検査巻線21Uの電圧波形とは
ほぼ一致することとなる。従って、差増幅器50により
検出される電圧差が所定の値に比べて非常に小さい値と
なり、巻線異常判定器60により被検査巻線21Uは正
常であると判断される。
態である場合には、図6(b)に示すように、マスタ巻
線11aの電圧波形と被検査巻線21Uの電圧波形とは
大きくずれることとなる。従って、差増幅器50により
検出される電圧差が所定の値を超える大きい値となり、
巻線異常判定器60により被検査巻線21Uは異常であ
ると判断される。
した後、V相巻線21VおよびW相巻線21も、U相巻
線21Uと同様の手順により検査する。
置決めをx3の位置に設定すると、仮に被検査ロータ2
2がx3の位置からΔxだけずれると、インダクタンス
の変化量は非常に大きい変化量ΔL3となってしまう。
従って、被検査巻線21Uが正常であっても図7に示す
ような電圧波形となり、図6(b)に示すように被検査
巻線21Uの異常に起因して両電圧波形が大きくずれて
いる場合と、図7に示すように被検査ロータ22の位置
ずれに起因して両電圧波形が大きくずれている場合とを
識別することが困難となる。
タ12、22の位置決めを、インダクタンスの変化率が
最小となる位置x1に設定しているので、仮に被検査ロ
ータ22がx1の位置からΔxだけずれてしまっても、
インダクタンスの変化量L1はΔL3に比べて非常に小
さい値となる。よって、被検査巻線21Uの異常に起因
する電圧波形のずれを容易に識別でき、巻線の異常検査
の確実性を向上できる。
査巻線21Uのインダクタンスと、位置ずれによるイン
ダクタンスの変化量ΔLとの比率Rが大きいほど、位置
ずれに起因する電圧波形の変化量が大きくなってしま
う。そして、x1からΔxだけずれた場合の前記比率を
R1とし、x2からΔxだけずれた場合の前記比率をR
2とすると、R1の方がR2より小さい。
2、22の位置決めを、インダクタンスの値が最大とな
る位置x1に設定すれば、x2に設定した場合に比べ
て、位置ずれに起因する電圧波形の変化量を小さくで
き、より一層巻線の異常検査の確実性を向上できる。
ステータ21とロータ22との位置関係により巻線21
UのインダクタンスLが変化する回転機20の巻線21
Uであれば、本発明の検査方法を適用できる。従って、
上記実施形態では、IPM型のロータ22を備える回転
機20の巻線21Uを試験対象としているが、例えば、
SPM(Surface Permanent Magnet)型のロータ22の
巻線をも試験対象にできる。
に巻線を備えた回転機20を適用対象としているが、ロ
ータ22側に巻線を備えた回転機20を適用対象として
も、本発明の検査方法を適用できる。
磁手段として、巻線を用いた回転機20を適用対象とし
ており、このような回転機としては周知の巻線同期モー
タ、巻線型誘導モータ等が挙げられるが、ロータ22の
励磁手段として、磁石を用いた回転機20(例えば、周
知の永久磁石モータ、ブラシレスモータ等)を適用対象
としても、本発明の検査方法を適用できる。
nce)回転機等のように磁気異方性が大きい回転機であ
るほど、固定子と回転子との位置関係による巻線のイン
ダクタンス変化は大きく、従来の検査方法では巻線異常
検査の確実性を著しく損なうこととなる。よって、SR
のように磁気異方性が大きい回転機に本発明の検査方法
を適用して好適である。
として、ロータ22を可動子とした回転機20を適用対
象しているが、本発明はこれに限られることなく、可動
子が直線的に運動する磁力式駆動装置(例えば、周知の
電磁リレースイッチ、リニアモータ等)を適用対象とし
ても、本発明の検査方法を適用できる。
ッサのモータとして適用された回転機20の巻線の検査
に適用して好適である。
の概略構成図である。
ータ位置との関係を示す特性図である。
あり、(a)は図3のx1に示す位置関係の平面図であ
り、(b)は図3のx3に示す位置関係の平面図であ
る。
の回路構成図である。
関係を示す特性図であり、(a)は巻線正常時における
特性図、(b)は巻線異常時における特性図、(c)は
ロータ位置ずれ時における特性図である。
…被検査巻線。
Claims (4)
- 【請求項1】 磁力式駆動装置(20)の固定子(2
1)および可動子(22)のうち少なくとも一方に備え
られ、前記固定子(21)と前記可動子(22)との位
置関係によりインダクタンスが変化する巻線(21U)
を検査対象とし、 この巻線(21U)の異常をインパルス電圧試験により
検査する巻線異常検査方法において、 前記インダクタンスの変化率が最小となるように前記固
定子(21)と前記可動子(22)とを位置決めし、こ
の位置決め状態で前記インパルス電圧試験を行うことを
特徴とする巻線異常検査方法。 - 【請求項2】 前記位置決め状態における前記固定子
(21)と前記可動子(22)との位置関係を、前記イ
ンダクタンスが最大となる位置に設定したことを特徴と
する請求項1に記載の巻線異常検査方法。 - 【請求項3】 検査対象となる前記巻線(21U)は、
前記固定子(21)に対して回転運動する回転子(2
2)を前記可動子とした前記磁力式駆動装置(20)に
適用された巻線であることを特徴とする請求項1または
2に記載の巻線異常検査方法。 - 【請求項4】 検査対象となる前記巻線(21U)は、
前記回転子(22)に磁石(22b)を内蔵した前記磁
力式駆動装置(20)に適用された巻線であることを特
徴とする請求項3に記載の巻線異常検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001269224A JP4561019B2 (ja) | 2001-09-05 | 2001-09-05 | 巻線異常検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001269224A JP4561019B2 (ja) | 2001-09-05 | 2001-09-05 | 巻線異常検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003075500A true JP2003075500A (ja) | 2003-03-12 |
JP4561019B2 JP4561019B2 (ja) | 2010-10-13 |
Family
ID=19095083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001269224A Expired - Fee Related JP4561019B2 (ja) | 2001-09-05 | 2001-09-05 | 巻線異常検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4561019B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005227271A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-08-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電動機用コイル試験方法および装置 |
WO2009041305A1 (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-02 | Daikin Industries, Ltd. | ステータコイル絶縁試験装置および試験方法 |
JP2011033356A (ja) * | 2009-07-29 | 2011-02-17 | Sanyo Denki Co Ltd | モータの状況検査方法及びモータ特性検査装置 |
KR200458113Y1 (ko) | 2009-11-26 | 2012-01-19 | 삼성전자서비스 주식회사 | 세탁기용 브러시리스 모터의 다기능 테스터기 |
JP2014025753A (ja) * | 2012-07-25 | 2014-02-06 | Toshiba Industrial Products Manufacturing Corp | 車載回転電機の劣化診断装置および劣化診断方法 |
RU2523730C2 (ru) * | 2012-10-01 | 2014-07-20 | Евгений Петрович Бессуднов | Способ обнаружения витковых замыканий в обмотке вращающегося якоря коллекторной электрической машины с уравнительными соединениями |
EP2910961A1 (de) * | 2014-02-24 | 2015-08-26 | GMC-I Gossen-Metrawatt GmbH | Verfahren und Messeinheit zur Ermittlung von Wicklungsfehiern in Elektrogeräten |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57169685A (en) * | 1981-04-13 | 1982-10-19 | Toshiba Corp | Layer testing method for coil for armature winding |
JPS608760A (ja) * | 1983-06-29 | 1985-01-17 | Yuniki Eng:Kk | 各種コイルの判定装置 |
JPH07191085A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 巻線絶縁試験方法 |
JP2000275310A (ja) * | 1999-01-19 | 2000-10-06 | Denso Corp | ステータの検査方法及び検査装置 |
JP2001074802A (ja) * | 1999-09-06 | 2001-03-23 | Mitsubishi Electric Corp | 回転電機の部分放電検出方法 |
JP2001215253A (ja) * | 2000-02-02 | 2001-08-10 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | コイルのレアーショート試験方法 |
-
2001
- 2001-09-05 JP JP2001269224A patent/JP4561019B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57169685A (en) * | 1981-04-13 | 1982-10-19 | Toshiba Corp | Layer testing method for coil for armature winding |
JPS608760A (ja) * | 1983-06-29 | 1985-01-17 | Yuniki Eng:Kk | 各種コイルの判定装置 |
JPH07191085A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 巻線絶縁試験方法 |
JP2000275310A (ja) * | 1999-01-19 | 2000-10-06 | Denso Corp | ステータの検査方法及び検査装置 |
JP2001074802A (ja) * | 1999-09-06 | 2001-03-23 | Mitsubishi Electric Corp | 回転電機の部分放電検出方法 |
JP2001215253A (ja) * | 2000-02-02 | 2001-08-10 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | コイルのレアーショート試験方法 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005227271A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-08-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電動機用コイル試験方法および装置 |
JP4504799B2 (ja) * | 2003-12-16 | 2010-07-14 | パナソニック株式会社 | 電動機用コイル試験方法および装置 |
WO2009041305A1 (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-02 | Daikin Industries, Ltd. | ステータコイル絶縁試験装置および試験方法 |
JP2009085626A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-23 | Daikin Ind Ltd | ステータコイル絶縁試験装置および試験方法 |
JP4552989B2 (ja) * | 2007-09-27 | 2010-09-29 | ダイキン工業株式会社 | ステータコイル絶縁試験装置および試験方法 |
JP2011033356A (ja) * | 2009-07-29 | 2011-02-17 | Sanyo Denki Co Ltd | モータの状況検査方法及びモータ特性検査装置 |
KR200458113Y1 (ko) | 2009-11-26 | 2012-01-19 | 삼성전자서비스 주식회사 | 세탁기용 브러시리스 모터의 다기능 테스터기 |
JP2014025753A (ja) * | 2012-07-25 | 2014-02-06 | Toshiba Industrial Products Manufacturing Corp | 車載回転電機の劣化診断装置および劣化診断方法 |
RU2523730C2 (ru) * | 2012-10-01 | 2014-07-20 | Евгений Петрович Бессуднов | Способ обнаружения витковых замыканий в обмотке вращающегося якоря коллекторной электрической машины с уравнительными соединениями |
EP2910961A1 (de) * | 2014-02-24 | 2015-08-26 | GMC-I Gossen-Metrawatt GmbH | Verfahren und Messeinheit zur Ermittlung von Wicklungsfehiern in Elektrogeräten |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4561019B2 (ja) | 2010-10-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100215534B1 (ko) | 2고정자 유도 동기 전동기 | |
Nakashima et al. | Sensorless initial rotor position estimation of surface permanent-magnet synchronous motor | |
US6765321B2 (en) | Three-phase toroidal coil type permanent magnet electric rotating machine | |
US8330318B2 (en) | Rotating electrical machine and method for manufacturing the same | |
US9543876B2 (en) | Three phase flux switching generator in a three stage wound field synchronous machine | |
US8913353B2 (en) | Method and system for detecting fault of serial coil type permanent magnet motor | |
EP2741417A2 (en) | Method and system for detecting a fault in the stator windings of a permanent magnet motor (PMSM) | |
JPH0847224A (ja) | 単相切り替え式反作用電動機、及びその始動方法 | |
CN111247736B (zh) | 防止电机中的永磁体消磁的系统和方法 | |
US6519833B2 (en) | Method of magnetizing permanent magnet motor | |
JP7205104B2 (ja) | 制御装置及び車両駆動システム | |
KR20030020372A (ko) | 무브러시 직류 드라이브 | |
JP2001037186A (ja) | 永久磁石電動機 | |
US6903477B2 (en) | Induction machine with motor and generator operation modes | |
JP2003075500A (ja) | 巻線異常検査方法 | |
JP6393843B1 (ja) | スイッチトリラクタンスモータ | |
CN108288938A (zh) | 压缩机和制冷设备 | |
JP3711749B2 (ja) | 永久磁石式同期電動機及びその制御方法 | |
AU766315B2 (en) | Electrical machine with large number of poles | |
Ullah et al. | A novel hybrid excited machine with H-type modular stator and consequent pole PM rotor | |
JP2002291216A (ja) | 単極回転電気機械 | |
JP3531563B2 (ja) | ブラシレスモータ制御装置およびブラシレスモータ制御方法並びに圧縮機 | |
JP4088847B2 (ja) | ブラシレスモータの固定子巻線 | |
JPH01103143A (ja) | 自励ブラシレス同期発電機 | |
JP2005006400A (ja) | モータ駆動機構 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071017 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100316 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100510 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100706 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100719 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |