JP2003051616A - 発光装置 - Google Patents
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Abstract
とができると共に、チップサイズを必要以上に小さくす
ることなしに配線用のビア径を大きくして接続信頼性を
高くし、歩留りを向上させ、かつチップ(又は素子)面
積を大きくしてボンディングなどのハンドリングを容易
化してチップ(又は素子)のアライメント精度の要求仕
様を低くした画像表示装置を提供すること。 【解決手段】 GaN系半導体発光素子等の発光素子
11を樹脂に埋設してなるチップ50に、発光素子11
に接続された外部端子58、59が設けられ、かつ発光
素子11の駆動制御用の画素用トランジスタ等の駆動制
御素子55が、チップ50と少なくとも部分的に重なり
合った状態で外部端子58、59に接続されている画像
表示装置。
Description
好適な発光装置に関するものである。
ダイオード(LED)が用いられているが、例えば図1
0に示すように、LEDモジュール2を基体1上に二次
元的に配置して固定した後、各LEDモジュール2のア
ノード電極3及びカソード電極4をワイヤボンディング
やハンダ付けにより基体1上の配線に接続している。
モジュール2としてウエーハから切り出したLEDチッ
プを1画素分として使用し、例えば数十万画素の画面を
形成しているが、モジュールの占有面積が大きくてその
面密度を高められない。
ば2R(赤色発光用)、2G(緑色発光用)及び2B
(青色発光用)を基板1の面に配置し、これらを駆動制
御するための画素用トランジスタ5を同一面上の異なる
位置に接続固定し、配線(ワイヤボンディングも含
む。)6、7によって所定の制御信号等を供給してい
る。これでは、LEDモジュール2のみならず、画素用
トランジスタ5の占有面積によって画素密度が上らず、
また画素用トランジスタ5を画像領域の周辺に配置して
も、配線領域の確保等により結果的に画素密度の向上に
限度があることになる。
示装置に対し、単位面積当りの半導体発光素子の占有面
積を小さくし、また配線を単純化させ、コストを格段に
低下させた表示装置を特願2001−67238等にお
いて既に提起した。
る。)は、例えば図12に示す構造からなっている。即
ち、エポキシ樹脂からなる第1絶縁層21に埋め込んだ
GaN系半導体発光素子11を表示パネルとなる透明な
基体31の面に所定ピッチで配置して固定するが、この
場合、基体31の上面に設けられた接続用電極32−3
2間に半導体発光素子11を透明接着剤33で固定した
後、これらの全面を覆うようにエポキシ樹脂溶液を塗布
し、乾燥、加熱硬化させてエポキシ樹脂からなる第2絶
縁層34を形成する。
4の上面から、内部の半導体発光素子11の引き出し電
極18dと、基体31の上面の接続用電極32とにそれ
ぞれ至る接続孔35、36を設けると共に、第2絶縁層
34の上面からGaN系半導体発光素子11の引き出し
電極19dに至る接続孔37を設けた後、全面にアルミ
ニウムの蒸着又はスパッタリングを行い、フォトリソグ
ラフィによってパターニングし、半導体発光素子11の
後記のp電極18は導電層38を介して基体31の面上
において接続用電極32に、また後記のn電極19は導
電層39を介して第2絶縁層34の上面に導き、更にそ
れぞれ駆動制御回路に接続する。
縁層21に埋め込んだ状態で、所定間隔を置いてパネル
面となる基体31の面に配置して固定し、これらを第2
絶縁層34で覆って電極18d、19dを引き出してい
るので、表示装置の単位面積当りの半導体発光素子の占
める面積が小さくなり、また配線を単純化させ、コスト
を格段に低下させることができる。
導体発光素子11を第1絶縁層21に埋め込んで見掛け
サイズの大きい半導体発光素子11とすることによっ
て、ハンドリングを容易化できる上に、第1絶縁層21
の上面に比較的大きい面積の引き出し電極18d、19
dを設けることができるので、第2絶縁層34からの電
極の引き出しを容易に行えるという利点もある。
は、図13(A)の断面図、図13(B)の平面図に示
す構造からなっている。これを製造するには、例えば、
図示省略したサファイア基板の(0001)面に温度5
00℃でAl又はGaN等のバッファ層、続いて100
0℃でシリコンをドーピングしたn型の窒化ガリウム
(GaN:Si)層12を平板状に成長させ、更にこの
上に設けたSiO2又はSiNマスク13の開口部に1
000℃でシリコンをドーピングしたn型の窒化ガリウ
ムを結晶成長させることにより、六角錐形状のn型半導
体(GaN:Si)層14を形成する。
びこれに等価な傾斜面上に、成長温度を下げてInGa
Nからなる活性層15を形成し、更にこの上にマグネシ
ウムをドーピングしたp型の窒化ガリウム(GaN:M
g)層16を成長させた後、その表層部のp型(Ga
N:Mg)層16にNi/Auを蒸着して発光の反射面
ともなるp電極18を形成し、また平板状の下地部(G
aN:Si)12の上面のマスク13に開口を開け、T
i/Auを蒸着してn電極19を形成する。
1はサファイア基板から剥離した後、支持体上に設けた
第1絶縁層21中に埋め込み、これを透明支持体上に剥
離転写し、各電極18d、19dを形成する。更に、半
導体発光素子11が略中央部に位置するように、第1絶
縁層21を所定サイズでダイシングしてチップ化し、透
明支持体側からのレーザービームの照射によって接着剤
を劣化させて、半導体発光素子11を第1絶縁層21に
埋め込んだチップ40を透明支持体から分離する。この
チップ40は、上記したように透明基体31に固定した
後、第2絶縁層34を形成し、更に上記した方法で表示
装置41を作製する。なお、半導体発光素子11は、L
EDからなっているが、これ以外にも半導体レーザー等
であってもよい(以下、同様)。
けのサイズを大きくした半導体発光素子11は、引き出
し電極18d、19dを駆動回路に接続し、電流を注入
することにより、下地層12又は透明基体31の側へ青
色の光30を放射する表示装置として作動させることが
できる。
ばp型半導体とn型半導体との接合面に順方向に電流を
注入した時にキャリアである電子と正孔とが再結合して
発光するものであればよく、半導体発光素子の構成材料
は特に限定されない。このような発光性半導体材料とし
ては、青色発光用の窒化ガリウム(GaN)、緑色発光
用のリン化ガリウム(GaP)、赤色発光用のヒ化リン
化ガリウム(GaAsP)、ヒ化アルミニウムガリウム
(AlGaAs)等のガリウム系の化合物半導体、セレ
ン化亜鉛(ZnSe)、シリコンカーバイド(SiC)
等、公知の半導体であってよい。
なる化合物半導体は、有機金属化合物気相成長法(MO
CVD法)、分子線エピタキシー法(MBE法)、ハイ
ドライド気相成長法(HVPE法)などによって製造可
能であるが、ハンドリングが可能である限り、なるべく
微小な寸法形状とすることが望ましい。こうした微小な
半導体発光素子は、化合物半導体のウエーハからチップ
状に切り出すよりも、例えばサファイア基板上で化合物
半導体を選択的に結晶成長させることによって比較的容
易に得られる。この選択的な結晶成長によって、下端面
の一辺の寸法が100〜200μm程度又はそれ以下、
例えば10〜50μm程度のサイズの半導体発光素子を
得ることができる。必要によっては、結晶成長させた後
に、立体形状を調整するための加工処理を施してもよ
い。
半導体には、例えばNi/Auを蒸着してp電極を形成
し、またn型半導体には、例えばTi/Auを蒸着して
n電極を形成する。これらの電極を形成した微小な半導
体発光素子はそのまま基体面に配置して固定してもよい
が、半導体発光素子を特に微小な形状とし、上述したよ
うにその周囲を第1絶縁層で覆うことにより、見掛け上
のサイズを大にしてハンドリングを容易化することがで
きる。
導体発光素子11は、その形状によって、基体面側、即
ち半導体発光素子の下端面側への発光光の輝度を向上さ
せることが可能である。半導体発光素子11の発光領域
(活性層)からの発光のうち、発光領域から上方へ向か
う光は上端部の電極面等を反射面として下端面側へ向か
う光とし得るが、下端面に垂直な側面へ向う光は側面で
反射させても下端面へ向かう光とはなりにくいので、半
導体発光素子は下端面となす角度が45±20度の範囲
内にある傾斜面を有することが望ましい。このような傾
斜面に反射面を設けることにより、側方へ向かう発光成
分を反射させて効果的に下端面側へ向かう光とすること
ができる。
斜面であってもよい。更には、半導体発光素子が角錐形
状又は角錐台形状を有することが望ましい。角錐、角錐
台及び多角錐台にあっては、上面も反射面とすることに
より、半導体発光素子の発光を一層効果的に下端面側へ
向けることができる。ここで言う角錐又は角錐台には、
三角錐、四角錐、五角錐、六角錐から、円錐に近似した
多角錐等の各種の角錐と、それらに対応する角錐台が含
まれる。
層34等の絶縁層に使用する材料は、有機物又は無機物
の何れであってもよく、その種類、形成方法は特に限定
されないが、無機物のSiO2やSi3N4を採用する場
合には、CVD法(化学的気相成長法)や蒸着又はスパ
ッタリング法を適用するが、有機物であるエポキシ樹
脂、ポリイミド樹脂、合成ゴム等の高分子化合物を採用
する場合には、簡易な塗布法によって基体面が大面積の
場合にも容易に形成することができ、表示装置を低コス
ト化することが可能である。塗布による絶縁層として
は、スピンオングラス法によるガラス膜も使用し得る。
明は、上記した如き特長を有しているが、なお改善すべ
き問題点が存在することが判明した。
んだチップ(LIP)40は、これを駆動制御するため
の画素用トランジスタ(図11中のトランジスタ5に相
当するが、図示省略)と互いに異なる位置にて基体31
の同一面上に配置されているので、上述したと同様に、
画素用トランジスタの占有面積によって画素密度がそれ
程上がらないことがあり、また画素用トランジスタを画
像領域の周辺に配置しても、配線領域の確保等により結
果的に画素密度の向上に限度があることになる。
積)に制約があるため、画素用トランジスタの占有面積
によって、各チップ40のサイズを縮小させざるを得な
いことがある。このために、上記の接続孔35、37の
径(ビア径)が小さくなり、各チップ又は素子の固定
(ボンディング)時のアライメント精度を高くしなけれ
ばならず、かつ絶縁層21、34の熱膨張、収縮などに
よって応力が発生し、接続孔(ビア)35、37にスト
レスが生じ、或いは断線を引き起こす可能性がある。
とは異なる構造によってそれと同等の特長と共に画素密
度等の素子密度の向上を実現することができる上に、チ
ップサイズを必要以上に小さくすることなしに配線用の
ビア径を大きくして接続信頼性を高くし、歩留りを向上
させ、かつチップ(又は素子)面積を大きくしてボンデ
ィングなどのハンドリングを容易化し、チップ(又は素
子)のアライメント精度の要求仕様を低くした発光装
置、更には各チップ(又は素子)と画素用トランジスタ
等の駆動制御素子を配置し易い両面発光装置を提供する
ことにある。
系半導体発光素子等の発光素子を樹脂等に埋設してなる
チップに、前記発光素子に接続された外部端子が設けら
れ、かつ前記発光素子の駆動制御用の画素用トランジス
タ等の駆動制御素子が、前記チップと少なくとも部分的
に重なり合った状態で前記外部端子に接続されている、
発光装置(以下、本発明の第1の発光装置と称する。)
に係るものである。
光素子を埋設した前記チップと前記駆動制御素子とが少
なくとも部分的に重なり合っているので、これらを3次
元的に配置することができることから、チップ(又は素
子)サイズを大きくして配線用ビア径を大きくすること
が可能となり、これによって、接続信頼性が高くなり、
歩留りが向上し、かつチップ又は(素子)面積を大きく
して、ボンディングなどのハンドリング及びボンディン
グ率を向上させて歩留りを良好とし、チップ(又は素
子)のアライメント精度の要求仕様を低くすることがで
きる。
し、このチップに設けた外部端子に接続すると共に、こ
の外部端子に前記駆動制御素子を接続しているので、表
示装置の単位面積当りの前記発光素子の占める面積が小
さくなり、また配線を単純化させ、コストを格段に低下
させることができる。
子を埋め込んで見掛けサイズの大きいチップとすること
によって、ハンドリングを容易化できる。
(LED、半導体レーザー等を含む。)等の発光素子を
埋設してなるチップに、前記発光素子に接続された外部
端子が設けられ、かつ前記発光素子の駆動制御用の画素
用トランジスタ等の駆動制御素子が、前記チップよりも
小さくて前記チップに包含される状態で絶縁層上に固定
されており、前記絶縁層上に設けられた電極端子に前記
チップの前記外部端子と前記駆動制御素子とがそれぞれ
接続されている、発光装置(以下、本発明の第2の発光
装置と称する。)も提供するものである。
動制御素子が、前記発光素子を埋設した前記チップより
も小さくて、前記チップに包含される状態で前記絶縁層
上に固定されているので、前記チップと前記駆動制御素
子とを3次元的に配置できることから、本発明の第1の
発光装置と同様に、チップ(又は素子)サイズを大きく
して配線用ビア径を大きくすることが可能となり、これ
によって、接続信頼性が高くなり、歩留りが向上し、か
つチップ又は(素子)面積が大きくしてボンディングな
どのハンドリングを向上させて歩留りを良好とし、チッ
プ(又は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くす
ることができる。
し、このチップに設けた前記外部端子と前記駆動制御素
子とを前記絶縁層上の前記電極端子にそれぞれ接続して
いるので、表示装置の単位面積当りの前記発光素子の占
める面積が小さくなり、また配線を単純化させ、コスト
を格段に低下させることができる。そして、前記駆動制
御素子は微小サイズにできるため、前記発光素子からの
発光光は前記チップ側からだけでなく、前記絶縁層側か
らも導出でき、画像表示面を両側に有する両面画像表示
装置を提供することができ、タイリングし易い構造を形
成することができる。
を埋め込んで見掛けサイズの大きいチップとすることに
よって、ハンドリングを容易化できる。
は、前記駆動制御素子が、フェイスアップ又はフェイス
ダウン方式で前記チップと重なり合って接続されていて
よい。
制御素子が固定され、この上に前記チップが接続固定さ
れていると、このチップの側から発光光を取り出せて、
画像表示面とすることができ、かつ前記チップのリペア
(修理)等が容易となり、また基板上に前記チップが固
定され、この上に前記駆動制御素子が接続固定されてい
ると、前記基板側からも発光光を取り出せて、画像表示
面とすることができる。後者の場合は、前記基板を透光
性の材質で形成する。
発光素子と前記駆動制御素子とが互いに重なり合わない
位置に配置されていると、前記絶縁層を透光性にするこ
とによって、チップ側及び絶縁層側(特に駆動回路基板
側)の双方からそれぞれ発光光を取り出すことができ、
かつ前記チップと前記駆動制御素子との位置決め(又は
タイリング)も容易となる。
端子と前記チップの前記外部端子との接続位置とは異な
る位置に固定され、前記電極端子にワイヤ等の導体によ
って接続されてよい。
が固定され、この上方に前記チップが配置されている
と、前記チップのリペア(修理)等が容易となる。ま
た、前記絶縁層上に前記チップが固定され、この上方に
前記駆動制御素子が配置されていてよい。
置のいずれにおいても、前記駆動制御素子又は前記チッ
プの少なくとも側面が絶縁層によって覆われ、この絶縁
層上に前記駆動制御素子又は前記チップと接続された配
線が延設されているのがよい。
子を用いる場合、これらをそれぞれ埋設した複数のチッ
プが、前記駆動制御素子と重なり合った状態で並置若し
くは積層され、前記駆動制御素子にそれぞれ接続されて
いると、複数のチップを位置ずれしないで配置すること
ができ、マルチカラー又はフルカラーの画像表示用とし
て好適となる。
導体等からなるLED、半導体レーザー等の半導体発光
素子であって、透光性のある樹脂中に埋設されるのがよ
い。
は、画像表示装置又は光源装置として構成されることが
できる。
参照下に具体的に説明する。
スチック製等の駆動回路基板(配線基板)51に画素制
御用の駆動トランジスタ55をダイボンディング材60
によってフェイスアップでダイボンディングし、その上
に絶縁層61を形成して積層配線を施し、各パッド6
2、63、64をそれぞれ形成する。これらのパッドは
いずれも再配線用として形成され、図2に示すように、
信号線(p電極)用のパッド62、アドレス線又は電源
線又はグランド線用のパッド63、n電極用のパッド6
4とする。トランジスタ55の周囲は絶縁層65によっ
て囲み、この上に各パッド62、63から延設されて複
数のトランジスタ同士を接続するライン66、67、6
8、69をそれぞれ形成する。
埋め込まれている樹脂からなるチップ50をフェイスダ
ウンで駆動トランジスタ55に重なり合うように接続す
る。この場合、樹脂のチップ50には、バンプ70、7
1が形成されており、これらを駆動トランジスタ55の
パッド62、64に接続する。この接続は、ACF(異
方性導電フィルム)接続や超音波接合により行ってもよ
い。この接続後は、アンダーフィル材72で封止してよ
い。なお、チップ50を仮接合した時に、半導体発光素
子11に駆動トランジスタ55から電流を供給して発光
光80を発生させ、その点灯チェックを行い、不良のチ
ップのリペアをアンダーフィル材72の充填前に行うこ
とができるが、これは、チップ50を駆動トランジスタ
55上に配置しているので容易に行える。
(赤色)用の半導体発光素子11R、G(緑色)用の半
導体発光素子11G、B(青色)用の半導体発光素子1
1Bをそれぞれ埋設した各樹脂チップ50R、50G、
50Bを共通の画素制御用駆動トランジスタ55上に平
面的に並置した状態を示している。
(ユニット)82の多数個を共通の基板(図示せず)上
にマトリクス状に配列した画像表示装置81を示す(但
し、上記した絶縁層65、アンダーフィル材72等は図
示省略している)。
プロセスフローによって製造可能である。
13に示した如くエポキシ樹脂からなる第1絶縁層21
に埋め込んだGaN系半導体発光素子11を表示パネル
となる透明な基体31の面に所定ピッチで配置して固定
する。この場合、基体31の上面に半導体発光素子11
を透明接着剤33で固定する。
縁層21を介して引き出しp電極18d、引き出しn電
極19dを形成し、更に図5(3)に示すように、全面
を覆うようにエポキシ樹脂溶液を塗布し、乾燥、加熱硬
化させてエポキシ樹脂からなる第2の絶縁層34を形成
する。
示すように、第2絶縁層34の上面から、内部の半導体
発光素子11の引き出し電極18dと、引き出し電極1
9dとにそれぞれ至る接続孔35、37を設けた後、全
面にアルミニウムの蒸着又はスパッタリングを行い、フ
ォトリソグラフィによってパターニングし、半導体発光
素子11のp電極18は外部端子(パッド)58に、ま
たn電極19は外部端子(パッド)59に導く。
続端子58、59に例えばはんだバンプ70、71を付
着させ、更に図1に示したように、基板51上に固定さ
れた駆動トランジスタ55のパッド62、64に対しフ
ェイスダウンで接合し、両者を接続固定して、発光単位
82を作製する。
縁層21、第2絶縁層34等の絶縁層の構成材料や形成
方法、形状、構造等は、図12及び図13で述べたもの
と同様であるのがよいが、異なるものであってもよい。
半導体発光素子11を埋設した樹脂チップ50を駆動ト
ランジスタ55上に重ね合せて接続しているので、これ
らを3次元的に配置することができることから、駆動ト
ランジスタ55の占有面積を実質的になくし、これに対
応して画素密度を向上させると共に、各チップ50のサ
イズを大きくしても高画素密度を保持できることにな
る。
(ビア径)を大きくすることができるので、各電極18
d、19dと外部端子58、59との接続信頼性が高く
なり、歩留りが向上する。そして、チップ又は(素子)
面積を大きくして、ボンディングなどのハンドリング及
びボンディング率を向上させて歩留りを良好とし、チッ
プ(又は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くす
ることができる。
ップ化し、このチップ50に設けた外部端子58、59
に接続すると共に、これらの外部端子に駆動トランジス
タ55を接続しているので、表示装置の単位面積当りの
発光素子11の占める面積が小さくなり、また配線を単
純化させ、コストを格段に低下させることができる。そ
して、微小な寸法形状とした発光素子11を埋め込んで
見掛けサイズの大きいチップ50とすることによって、
ハンドリングを容易化できる。
の上部に存在するため、アンダーフィル材72の充填前
に発光素子11の点灯チェックを行って不良のチップを
容易にリペアすることができ、製品の信頼性を向上させ
ることができる。
示した構造とは異なって、半導体発光素子11を埋設し
た樹脂チップ50と、これを駆動する駆動トランジスタ
55とを上下逆にし、前者を下段(透明基板51側)、
後者を上段側としている。
1からの発光光80を透明な基板51を通して導出で
き、基板51の面を画像表示面とすることができる。そ
の他は上述の第1の実施の形態と同様であるので、同等
の効果を得ることができる。但し、ボンディング材60
は樹脂チップ50の固定に用い、絶縁層72はアンダー
フィル材と同等の機能をなし、この上に配線層66を形
成してよい。
示した構造とは異なって、各色用の樹脂チップ50R、
50G、50Bを平面的に並置せずに、これらを駆動ト
ランジスタ55上で重ね合せると共に、各半導体発光素
子11R、11G、11Bの位置を互いにずらせてい
る。なお、各素子の引き出し電極と駆動トランジスタ5
5との接続は、赤色用の素子11Rについてのみ図示し
たが、他の緑色用及び青色用の素子11G及び11Bに
ついては図示省略した接続孔を介して行うことができ、
例えば各チップを通して形成した接続孔のスルーホール
めっき、及び最下方のチップの底面に設けた外部端子を
介して行える。
11R、11G、11Bからの発光光80R、80G、
80Bをそれぞれ上方へ導出でき、コンパクトで小型の
フルカラー用の画像表示装置を得ることができる。ま
た、各チップは同一位置で重ね合せるため、位置ずれが
なく、高画質化が可能となる。その他は上述の第1の実
施の形態と同様であるので、同等の効果を得ることがで
きる。
び図2に示した構造とは異なって、半導体発光素子11
を埋設した樹脂チップ50と比べて駆動トランジスタ5
5を微小なサイズに作製し、透明基板51上に設けた透
明な絶縁層90(但し、これは必ずしも設けることを要
しない。)上の電極パッド63上に、各色に共通の微小
駆動トランジスタ55をボンディングしており、更に絶
縁層90上の電極パッド62、64に対し例えばワイヤ
91によりワイヤボンディングしている。なお、図9で
は、簡略化のためにチップ間を結ぶ各信号線は図示省略
している。
55を微小化し、半導体発光素子11を埋設したチップ
50よりも小さくてチップ50に包含される状態で絶縁
層90上に固定し、かつ駆動トランジスタ55を各色用
のチップに共通として各パッドに接続しているので、チ
ップ50と駆動トランジスタ55とを3次元的に配置で
きることから、上述した第1の実施の形態と同様に、駆
動トランジスタ55の占有面積を実質的になくし、これ
に対応して画素密度を向上させると共に、各チップ50
のサイズを大きくしても高画素密度を保持できることに
なる。
(ビア径)を大きくすることができるので、各電極18
d、19dと外部端子58、59との接続信頼性が高く
なり、歩留りが向上する。かつチップ又は(素子)面積
を大きくしてボンディングなどのハンドリング及びボン
ディング率を向上させて歩留りを良好とし、チップ(又
は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くすること
ができる。
ップ化し、このチップ50に設けた外部端子58、59
と駆動トランジスタ55とを絶縁層90上の電極端子6
2、64にそれぞれ接続しているので、表示装置の単位
面積当りの発光素子11の占める面積が小さくなり、ま
た配線を単純化させ、コストを格段に低下させることが
できる。そして、駆動トランジスタ55は微小サイズで
あるため、発光素子11からの発光光はチップ50側か
らだけでなく、透明基板51側からも導出でき、画像表
示面を両側に有する両面画像表示装置を提供することが
でき、タイリングし易い構造を形成することができる。
を埋め込んで見掛けサイズの大きいチップ50とするこ
とによって、ハンドリングを容易化でき、またチップ5
0が上部に存在することから、不良なチップのリペアも
容易となる。
術的思想に基づいて更に変形が可能である。
ジスタ55とは完全に重なり合うのが望ましいが、部分
的に重なり合った状態であっても、上述した効果は得る
ことができる。
発光素子に対し位置をずらしてトランジスタを配置すれ
ばよいので、その配置は任意であってよい。また、各色
用のチップを平面的に並置する以外にも積み重ねるよう
にしてもよい。
に関するものであるが、これ以外にも光源装置としても
適用することができる。
光装置によれば、発光素子を埋設したチップと駆動制御
素子とが少なくとも部分的に重なり合っているので、こ
れらを3次元的に配置することができることから、チッ
プ(又は素子)サイズを大きくして配線用ビア径を大き
くすることが可能となり、これによって接続信頼性が高
くなり、歩留りが向上し、かつチップ又は(素子)面積
を大きくしてボンディングなどのハンドリング及びボン
ディング率を向上させて歩留りを良好とし、チップ(又
は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くすること
ができる。
このチップに設けた外部端子に接続すると共に、この外
部端子に駆動制御素子を接続しているので、表示装置の
単位面積当りの発光素子の占める面積が小さくなり、ま
た配線を単純化させ、コストを格段に低下させることが
できる。
埋め込んで見掛けサイズの大きいチップとすることによ
って、ハンドリングを容易化できる。
駆動制御素子が、発光素子を埋設した前記チップよりも
小さくて前記チップに包含される状態で絶縁層上に固定
されているので、チップと駆動制御素子とを3次元的に
配置できることから、本発明の第1の発光装置と同様
に、チップ(又は素子)サイズを大きくして配線用ビア
径を大きくすることが可能となり、これによって、接続
信頼性が高くなり、歩留りが向上し、かつチップ又は
(素子)面積を大きくしてボンディングなどのハンドリ
ングを向上させて歩留りを良好とし、チップ(又は素
子)のアライメント精度の要求仕様を低くすることがで
きる。
し、このチップに設けた外部端子と駆動制御素子とを絶
縁層上の電極端子にそれぞれ接続しているので、表示装
置の単位面積当りの発光素子の占める面積が小さくな
り、また配線を単純化させ、コストを格段に低下させる
ことができる。そして、駆動制御素子は微小サイズにで
きるため、発光素子からの発光光は前記チップ側からだ
けでなく、絶縁層側からも導出でき、画像表示面を両側
に有する両面画像表示装置を提供することができ、タイ
リングし易い構造を形成することができる。
を埋め込んで見掛けサイズの大きいチップとすることに
よって、ハンドリングを容易化できる。
部断面図(図2のI−I線断面図)である。
る。
次示す要部概略断面図である。
次示す要部概略断面図である。
部断面図である。
部断面図である。
部断面図(図9のVIII−VIII線断面図)である。
る。
(A)とその平面図(B)である。
しp電極、19…n電極、19d…引き出しn電極、2
1…第1絶縁層、31…透明基体、33…透明接着剤、
34…第2絶縁層、50、50R、50G、50B…L
ED入り樹脂チップ、51…基板、55…駆動トランジ
スタ、58、59…外部端子、60…ダイボンディング
材、61、65…絶縁層、62、62R、62G、62
B、63、63R、63G、63B、64、64R、6
4G、64B…パッド、70、71…バンプ、72…ア
ンダーフィル材、80、80R、80G、80B…発光
光、82…発光単位(ユニット)、90…絶縁層、91
…ワイヤ
Claims (19)
- 【請求項1】 発光素子を埋設してなるチップに、前記
発光素子に接続された外部端子が設けられ、かつ前記発
光素子の駆動制御用の駆動制御素子が、前記チップと少
なくとも部分的に重なり合った状態で前記外部端子に接
続されている、発光装置。 - 【請求項2】 前記駆動制御素子が、フェイスアップ又
はフェイスダウン方式で前記チップと重なり合って接続
されている、請求項1に記載した発光装置。 - 【請求項3】 基板上に前記駆動制御素子が固定され、
この上に前記チップが接続固定されている、請求項1に
記載した発光装置。 - 【請求項4】 基板上に前記チップが固定され、この上
に前記駆動制御素子が接続固定されている、請求項1に
記載した発光装置。 - 【請求項5】 前記基板が透光性を有している、請求項
4に記載した発光装置。 - 【請求項6】 前記駆動制御素子又は前記チップの少な
くとも側面が絶縁層によって覆われ、この絶縁層上に前
記駆動制御素子又は前記チップと接続された配線が延設
されている、請求項3〜5のいずれか1項に記載した発
光装置。 - 【請求項7】 互いに異なる発光色を生じる発光素子を
それぞれ埋設した複数のチップが、前記駆動制御素子と
重なり合った状態で並置若しくは積層され、前記駆動制
御素子にそれぞれ接続されている、請求項1に記載した
発光装置。 - 【請求項8】 前記発光素子が窒化ガリウム系半導体等
からなる半導体発光素子であって、透光性のある樹脂中
に埋設されている、請求項1に記載した発光装置。 - 【請求項9】 画像表示装置又は光源装置として構成さ
れている、請求項1に記載した発光装置。 - 【請求項10】 発光素子を埋設してなるチップに、前
記発光素子に接続された外部端子が設けられ、かつ前記
発光素子の駆動制御用の駆動制御素子が、前記チップよ
りも小さくて前記チップに包含される状態で絶縁層上に
固定されており、前記絶縁層上に設けられた電極端子に
前記チップの前記外部端子と前記駆動制御素子とがそれ
ぞれ接続されている、発光装置。 - 【請求項11】 前記発光素子と前記駆動制御素子とが
互いに重なり合わない位置に配置されている、請求項1
0に記載した発光装置。 - 【請求項12】 前記駆動制御素子が、前記電極端子と
前記チップの前記外部端子との接続位置とは異なる位置
に固定され、前記電極端子に導体によって接続されてい
る、請求項10に記載した発光装置。 - 【請求項13】 前記絶縁層上に前記駆動制御素子が固
定され、この上方に前記チップが配置されている、請求
項10に記載した発光装置。 - 【請求項14】 前記絶縁層上に前記チップが固定さ
れ、この上方に前記駆動制御素子が配置されている、請
求項10に記載した発光装置。 - 【請求項15】 前記絶縁層が透光性を有している、請
求項13又は14に記載した発光装置。 - 【請求項16】 前記駆動制御素子又は前記チップの少
なくとも側面が絶縁物によって覆われ、前記絶縁層上に
前記駆動制御素子又は前記チップと接続された配線が延
設されている、請求項13〜15のいずれか1項に記載
した発光装置。 - 【請求項17】 互いに異なる発光色を生じる発光素子
をそれぞれ埋設した複数のチップが、前記駆動制御素子
と重なり合った状態で並置若しくは積層され、前記駆動
制御素子にそれぞれ接続されている、請求項10に記載
した発光装置。 - 【請求項18】 前記発光素子が窒化ガリウム系半導体
等からなる半導体発光素子であって、透光性のある樹脂
中に埋設されている、請求項10に記載した発光装置。 - 【請求項19】 画像表示装置又は光源装置として構成
されている、請求項10に記載した発光装置。
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001235793A JP3659407B2 (ja) | 2001-08-03 | 2001-08-03 | 発光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003051616A true JP2003051616A (ja) | 2003-02-21 |
JP3659407B2 JP3659407B2 (ja) | 2005-06-15 |
Family
ID=19067181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001235793A Expired - Lifetime JP3659407B2 (ja) | 2001-08-03 | 2001-08-03 | 発光装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
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US (1) | US7289089B2 (ja) |
JP (1) | JP3659407B2 (ja) |
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US10598317B2 (en) | 2005-12-16 | 2020-03-24 | Nichia Corporation | Light emitting device |
US10801676B2 (en) | 2005-12-16 | 2020-10-13 | Nichia Corporation | Light emitting device |
US11421829B2 (en) | 2005-12-16 | 2022-08-23 | Nichia Corporation | Light emitting device |
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JP7003032B2 (ja) | 2015-11-26 | 2022-01-20 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | 照明フェイスプレート及びこのような照明フェイスプレートの製造方法 |
JP2022025143A (ja) * | 2015-11-26 | 2022-02-09 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | 照明フェイスプレート及びこのような照明フェイスプレートの製造方法 |
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JP7209051B2 (ja) | 2016-09-12 | 2023-01-19 | ソウル セミコンダクター カンパニー リミテッド | ディスプレイ装置 |
US11796857B2 (en) | 2016-09-12 | 2023-10-24 | Seoul Semiconductor Co., Ltd. | Display apparatus |
JP2019086773A (ja) * | 2017-11-03 | 2019-06-06 | 世憲 曾 | 画素ユニット、画素アレイ、マルチメディア装置及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030025657A1 (en) | 2003-02-06 |
US7289089B2 (en) | 2007-10-30 |
JP3659407B2 (ja) | 2005-06-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040809 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080325 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090325 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100325 Year of fee payment: 5 |
|
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100325 Year of fee payment: 5 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120325 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130325 Year of fee payment: 8 |
|
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