JP2003047925A - 処理装置 - Google Patents

処理装置

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JP2003047925A
JP2003047925A JP2001233664A JP2001233664A JP2003047925A JP 2003047925 A JP2003047925 A JP 2003047925A JP 2001233664 A JP2001233664 A JP 2001233664A JP 2001233664 A JP2001233664 A JP 2001233664A JP 2003047925 A JP2003047925 A JP 2003047925A
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glass substrate
processing apparatus
cleaning
chucking
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JP2001233664A
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Akihide Minami
明秀 南
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Nippon Sheet Glass Co Ltd
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Nippon Sheet Glass Co Ltd
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 処理部材の搬送時間を短縮すると共に処理品
質の低下を防止することができる処理装置を提供する。 【解決手段】 処理装置は、ガラス基板を洗浄するため
の計11個の洗浄槽A〜K及びガラス基板を乾燥するた
めの1個の乾燥槽を備えており、本処理装置では、洗浄
槽にガラス基板が搬送される前に1回のみガラス基板が
チャックされ、乾燥槽からガラス基板が取り出された後
に1回のみガラス基板がアンチャックされる。即ち、各
槽間におけるガラス基板の搬送のたびにガラス基板のチ
ャック及びアンチャックは行われない。また、ガラス基
板のみが直接洗浄及び乾燥される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク、シ
リコンウェハ、レンズ又は液晶用ガラス等の洗浄に使用
される処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、磁気ディスク、シリコンウェ
ハー、レンズ又は液晶用ガラス等の洗浄に用いられてき
た処理装置は多槽バッチ方式が主流である。この方式
は、洗浄槽を数槽設けておき、1バッチ処理で複数種類
の洗浄、例えば、水による洗浄、界面活性剤による洗
浄、又は有機溶剤による洗浄等を行うものである。
【0003】この多槽バッチ方式では、ガラス基板のハ
ンドリングや搬送が必要になるが、このガラス基板のハ
ンドリング・搬送方式では、(1)ロボット式搬送機
構、(2)シリンダータクト式搬送機構、(3)アーム
式回転搬送機構の3つの機構のうちのいずれか1つが採
用されている。各機構の構成を図4(A)〜(C)に示
す。
【0004】(1)ロボット式搬送機構(図4(A)) 洗浄槽及び乾燥槽の前面又は後面にキャリアをハンドリ
ングするためのチャック機能のついたアームを保持した
自走式ロボットを走行させ、キャリアを槽間移動させる
機構である。ロボットは1台の場合もあるし、複数台の
場合もある。
【0005】(2)シリンダータクト式搬送機構(図4
(B)) 複数の洗浄糟及び乾燥槽のキャリアを一括してハンドリ
ングし、次の槽に順送りに搬送する機構で、複数のアー
ムを上下シリンダーと送り用シリンダーにて槽間移動さ
せる。上下、左右の移動には、シリンダーの他、モータ
回転によるネジ送り移動、モータとラック・ピニオンに
よる送り移動が採用されている。
【0006】(3)アーム式回転搬送機構(図4
(C)) キャリアをチャックしたアームをモータ又はロータリー
アクチュエータで回転させ、次の槽に搬送する機構であ
る。
【0007】上記(1)ロボット式搬送機構、(2)シ
リンダータクト式搬送機構及び(3)アーム式回転搬送
機構は、キャリアを槽間移動し、その移動ごとにキャリ
アをチャック及びアンチャックし、洗浄槽及び乾燥槽に
キャリアを浸漬して、キャリアに収容されたガラス基板
の洗浄及び乾燥を実行している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、各槽間
においてキャリアの搬送の際に、キャリアのチャック及
びアンチャックに時間を要するので、ガラス基板の搬送
に時間がかかり(現状20〜30秒)、搬送中にガラス
基板の乾燥が起こり、洗浄品質を低下させるという問題
が生じる。
【0009】また、各槽ではガラス基板を収容したキャ
リアと共に洗浄及び乾燥を実行しているので、キャリア
に付着したゴミ等により洗浄品質を低下させるという問
題が生じる。
【0010】さらに、各槽でキャリアのチャックを行う
と、そのたびにキャリアとアームのチャック機構とが擦
れ合い、パーティクル(汚染物質)が発生し、洗浄品質
を低下させるという問題が生じる。
【0011】本発明は、このような事情に鑑みなされた
ものであって、処理部材の搬送時間を短縮すると共に処
理品質の低下を防止することができる処理装置を提供す
ることを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、請求項1に記載された処理装置は、外部から処理
部材を搬入する搬入手段と、前記処理部材を外部へ搬出
する搬出手段と、前記搬入された処理部材をチャック及
びアンチャックするチャック/アンチャック手段と、前
記チャックされた処理部材に所定の処理を施す複数の処
理手段と、前記チャックされた処理部材を前記複数の処
理手段又は前記搬出手段に順次搬送する搬送手段とを備
える処理装置において、前記チャック/アンチャック手
段は、前記搬入された処理部材のチャック及びアンチャ
ックを各1回のみ実行することを特徴とする。
【0013】請求項1記載の処理装置によれば、チャッ
ク/アンチャック手段は、搬入された処理部材のチャッ
ク及びアンチャックを各1回のみ実行するので、各槽間
における処理部材の搬送のたびに処理部材のチャック及
びアンチャックが行われず、処理部材の搬送時間を短縮
することができる。従って、搬送時間短縮により装置の
稼働率の向上を図ることができる。また、搬送時間短縮
により、搬送中の処理部材の乾燥を防ぐことができるた
め、処理品質の低下を防止することができる。さらに、
処理部材のチャック及びアンチャックが繰り返し行われ
ることにより、発生するパーティクル(汚染物質)を防
止できるので、処理品質の低下を防止することができ
る。
【0014】請求項2に記載された処理装置は、請求項
1記載の処理装置において、前記所定の処理は、前記処
理部材の洗浄処理、前記処理部材の乾燥処理、前記処理
部材の研磨処理、又は前記処理部材の化学強化処理であ
ることを特徴とする。
【0015】請求項3に記載された処理装置は、請求項
1又は2記載の処理装置において、前記搬入手段と前記
搬出手段と前記複数の処理手段とが前記搬送手段を中心
とする同一円周上に配設され、且つ、前記搬入手段と前
記搬出手段とは隣接するように配設されていることを特
徴とする。
【0016】請求項3の処理装置によれば、搬入手段と
搬出手段と複数の処理手段とが搬送手段を中心とする同
一円周上に配設され、且つ、搬入手段と搬出手段とは隣
接するように配設されており、従来の処理装置のように
搬入手段と搬出手段と複数の処理手段とが直線的に一列
に配設され、しかも、搬入手段と搬出手段とが離れて配
設されていないので、装置のオペレータが一人で足りる
という効果を奏する。また、搬入手段と搬出手段と複数
の処理手段とが搬送手段を中心とする同一円周上に配設
されているので、これらが直線的に一列に配設されてい
る場合に比べ、装置をコンパクトにまとめることができ
る。
【0017】請求項4に記載された処理装置は、請求項
1乃至3のいずれか1項記載の処理装置において、前記
搬送手段は、前記搬入手段、前記搬出手段、及び前記複
数の処理手段の総数によって360度を除した角度ずつ
前記チャック/アンチャック手段を回転させるためのモ
ータを備えることを特徴とする。
【0018】請求項4の処理装置によれば、搬送手段
は、搬入手段、搬出手段、及び複数の処理手段の総数に
よって360度を除した角度ずつチャック/アンチャッ
ク手段を回転させるためのモータを備えるので、搬送の
停止位置が正確になり、搬送トラブルを生じなくなると
いう効果を奏する。
【0019】請求項5に記載された処理装置は、請求項
1乃至4のいずれか1項記載の処理装置において、前記
チャック/アンチャック手段は、前記処理部材を係止す
るための溝を備えることを特徴とする。
【0020】請求項5の処理装置によれば、チャック/
アンチャック手段は、処理部材を係止するための溝を備
えるので、より確実に処理部材を係止することができ
る。
【0021】請求項6に記載された処理装置は、請求項
1乃至5のいずれか1項記載の処理装置において、前記
処理部材は、内周及び外周を有するディスク状の部材で
あることを特徴とする。
【0022】請求項7に記載された処理装置は、請求項
6記載の処理装置において、前記チャック/アンチャッ
ク手段は前記搬入された処理部材の内周及び外周を挟み
込むようにチャックすることを特徴とする。
【0023】請求項7の処理装置によれば、チャック/
アンチャック手段は搬入された処理部材の内周及び外周
を挟み込むようにチャックするので、より確実に処理部
材を係止することができる。
【0024】請求項8に記載された処理装置は、請求項
1乃至7のいずれか1項記載の処理装置において、前記
処理部材は、情報記録媒体用基板であることを特徴とす
る。
【0025】請求項8の処理装置によれば、ハードディ
スクドライブ等に用いられる情報記憶媒体用のディスク
状基板を微小パーティクルの付着や洗浄工程中での処理
部材の部分的乾燥の発生を確実になくして洗浄すること
ができる。
【0026】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態に係る
処理装置の構造を図面を参照しながら説明する。
【0027】図1は、本発明の実施の形態に係る処理装
置の全体構造を示す縦断面図である。
【0028】本発明の実施の形態に係る処理装置は、略
円筒状の筐体1と、該筐体1の中心軸の底辺部27に、
インデックステーブル2を該中心軸を基軸として360
度回転可能にするインデックスモータ3と、インデック
スモータ3に設けられた回転駆動軸4と、回転駆動軸4
を円滑に回転させるベアリング5と、ベアリング5を支
持する台6と、回転駆動軸4の先端に水平に固定された
円形状の下板部材7と、下板部材7の外周縁に等間隔で
3カ所に鉛直に立てられたスライドガイド8と、各スラ
イドガイド8の上端を塞ぐように水平に固定された円形
形状の上板部材18と、スライドガイド8に沿って、鉛
直方向に上下動するスライドハウジング部材9とを備え
ている。
【0029】スライドハウジング部材9は、鍔部10
と、円筒部11と、天井部12とからなり、鍔部10に
は穴部14が等間隔に3カ所設けられており、各穴部1
4には、各スライドガイド8が貫通している。スライド
ハウジング部材9にはスライドガイド8に対して円滑に
上下動するための円筒状のリニアベアリング13が嵌め
込まれている。円筒部11の上端部には、ディスク状の
インデックステーブル2が固定されている。インデック
ステーブル2の内周縁に沿って、穴部15が等間隔に3
カ所設けられており、各穴部15には、スライドガイド
8が貫通している。スライドハウジング部材9にはスラ
イドガイド8に対して円滑に上下動するための円筒状の
リニアベアリング16が嵌め込まれている。インデック
ステーブル2の外周縁には、略コの字状のインデックス
アーム17が等間隔に14カ所設けられている。
【0030】筐体1の中央部には中心軸に沿って凹部1
9が設けられており、凹部19の底辺部22には、イン
デックステーブル昇降用モータ24が設けられている。
インデックステーブル昇降用モータ24には、筐体1の
中心軸に沿って、凹部19の底辺部22、上板部材18
及びスライドハウジング部材9の底部12を貫通するよ
うにボールスクリュー25が設けられている。また、上
板部材18には、ボールスクリュー25の回転を補助す
るベアリング23が設けられている。スライドハウジン
グ部材9の天井部12には、ボールスクリュー25と噛
み合い、ボールスクリュー25の上下動を補助するボー
ルナット26が固定されている。
【0031】筐体1の天井部21には、その外周縁に沿
って等間隔に14カ所HEPA(High Efficiency Part
iculate Air Filter)フィルター20が設けられてい
る。
【0032】また、本発明の実施の形態に係る処理装置
は、計12個の洗浄槽を備えており、その一例として洗
浄槽30を図1に示す。洗浄槽30の底部には、洗浄液
を洗浄効果をあげるための超音波振動装置31が設けら
れており、さらに、洗浄液を適宜追加するために用いら
れる洗浄路32が設けられている。洗浄路32には、タ
ンク39、ポンプ38、フィルターハウジング35、圧
力計34,36及びバルブ33,37が接続されてい
る。
【0033】また、筐体1の側面にはガラス基板の出し
入れを行うためのガラス基板出入口44が設けられてお
り、ガラス基板の出し入れ時以外はガラス基板出入口4
4を塞ぐためのシャッター45が筐体1の外側側面に設
けられている。
【0034】さらに、本発明の実施の形態に係る処理装
置は、ロードコンベア50で搬送されてきた洗浄前のガ
ラス基板を筐体1の内部に取り込むためのロードアーム
40と、洗浄後のガラス基板を筐体1の内部からアンロ
ードコンベア51に移し替えるためのアンロードアーム
41と、ロードアーム40から抜き取られた洗浄前のガ
ラス基板をインデックスアーム17まで移動するロード
テーブル42と、インデックスアーム17から抜き取ら
れた洗浄後のガラス基板をアンロードアーム41まで移
動するアンロードテーブル43とを備えている。
【0035】本発明の実施の形態に係る処理装置では、
ガラス基板のチャックは、インデックスアーム17がロ
ードテーブル42にセットされたガラス基板を抜き出す
ときにのみ実行され、ガラス基板のアンチャックは、イ
ンデックスアーム17にチャックされたガラス基板をア
ンロードテーブル43にセットするときにのみ実行され
る。即ち、ガラス基板のチャック及びアンチャックは、
処理装置の出入口で各1回のみ実行される。
【0036】図2は、図1の処理装置の全体構造を示す
横断面図である。
【0037】本発明の実施の形態に係る処理装置は、同
一円周上に配設された計14個のインデックスステーシ
ョン60を備えている。12個のインデックスステーシ
ョン60には、高さ200mm×縦350mm×横20
0mmの11個の洗浄槽及び1個の乾燥槽が埋め込まれ
ており、残りの2個のインデックスステーション60に
は、ロードテーブル42とアンロードテーブル43とが
設けられている。11個の洗浄槽、1個の乾燥槽、ロー
ドテーブル42及びアンロードテーブル43は同一円周
上に配設されており、且つ、ロードテーブル42とアン
ロードテーブル43とは隣接するように配設されてい
る。これにより、従来の処理装置のようにガラス基板の
搬入口、搬出口、洗浄槽、及び乾燥槽が直線的に一列に
配設されておらず、しかも、ガラス基板の搬入口と、搬
出口とが離れて配設されていないので、処理装置のオペ
レータが一人で足りるという効果を奏する。また、11
個の洗浄槽、1個の乾燥槽、ロードテーブル42及びア
ンロードテーブル43はインデックステーブル昇降用モ
ータ24を中心として同一円周上に配設されているの
で、これらが直線的に一列に配設されている場合に比
べ、処理装置をコンパクトにまとめることができる。
【0038】同図において、洗浄槽A,Bは酸性の薬液
を収容しており、ガラス基板をこの薬液に浸漬して洗浄
を行い、洗浄槽C,Fでは純水によるシャワー洗浄を行
う。洗浄槽D,Eはアルカリ性の薬液を収容しており、
ガラス基板をこの薬液に浸漬して洗浄を行う。洗浄槽
G,H,Iは、純水を収容しており、ガラス基板に超音
波(ウルトラソニック)をかけながら洗浄を行い、洗浄
槽Jは純水を収容しており、ガラス基板に高周波(メガ
ソニック)をかけながら洗浄を行う。洗浄槽Kでは、純
水によるリンス洗浄を行う。乾燥槽Lは、IPA(イソ
プロピルアルコール)を収容しており、ガラス基板をこ
の薬液に浸漬して、引き上げることでベーパ乾燥を行
う。
【0039】図3は、図1のインデックスアーム17の
全体構造を示す斜視図である。
【0040】同図に示すように、インデックスアーム1
7は、鉛直方向に設けられた支柱部材170と、支柱部
材170の上端から半径方向外側に延びた上腕部材17
1と、上腕部材171の一端から鉛直方向下向きに延び
た下腕部材172と、下腕部材172の下端から半径方
向外側に延びたチャックシャフト173と、下腕部材1
72の概ね中央部に設けられたチャック用シリンダ17
4と、チャック用シリンダ174により上下動が制御さ
れ、チャックシャフト173に係止されたガラス基板を
鉛直方向上側から抑える、即ちチャックするチャックシ
ャフト175とを備えている。
【0041】チャックシャフト173及びチャックシャ
フト175には、ガラス基板を係止するための溝が複数
設けられている。
【0042】尚、図3では、チャックシャフト173及
びチャックシャフト175を利用してガラス基板の内周
の一点と外周の一点とを挟みこむようにしてガラス基板
を係止しているが、ガラス基板をより安定して係止する
ために、ガラス基板を抑えるチャックシャフトの数を複
数、例えば2つにしてもよい。
【0043】以上のように構成された処理装置の動作を
以下詳細に説明する。
【0044】まず、ロードコンベア50で搬送されてき
た、ガラス基板を収容しているカセットからロードアー
ム40でガラス基板のみを抜き出し、該抜き出されたガ
ラス基板をロードテーブル42にセットする。
【0045】ロードテーブル42はガラス基板がセット
されると、インデックスアーム17によって該ガラス基
板をチャックできる位置まで装置の中心方向に移動す
る。ロードテーブル42の移動が完了すると、インデッ
クスアーム17が該ガラス基板をチャックし、インデッ
クステーブル昇降用モータ24が図2の紙面上で反時計
回りに回転し、インデックスアーム17を一旦上昇させ
る。次いで、インデックスモータ3が図2の紙面上で時
計回りに回転し、上昇したインデックスアーム17を洗
浄槽Aの略直上位置まで回転させる。このとき、インデ
ックスモータ3は約25.7度(≒360度/14)ず
つ回転する。これは、11個の洗浄槽、1個の乾燥槽、
ロードテーブル42及びアンロードテーブル43が同一
円周上に配設されており、これらの総数に応じてインデ
ックスモータ3を回転させるためである。その後、イン
デックステーブル昇降用モータ24が図2の紙面上で時
計回りに回転し、インデックスアーム17を下降させ、
ガラス基板を洗浄槽Aの薬液に浸漬して洗浄を行う。
【0046】各洗浄槽での洗浄時間は約90秒であり、
インデックスアーム17の上昇、回転及び下降にかかる
時間は、合計約5秒である。従来の各槽間におけるガラ
ス基板の搬送は、約20〜30秒かかっていたが、本実
施の形態に係る処理装置では約5秒に短縮される。これ
は、本実施の形態に係る処理装置では、各槽間における
ガラス基板の搬送のたびにガラス基板をチャック及びア
ンチャックする必要がないためである。
【0047】インデックスアーム17が洗浄槽Aでガラ
ス基板を洗浄している間に、次のインデックスアーム1
7が次のガラス基板をチャックする。即ち、隣り合う2
つのインデックスアーム17があるときに、前のインデ
ックスアーム17が洗浄槽Aでガラス基板を洗浄してい
る間に、後のインデックスアーム17が次のガラス基板
をチャックし、インデックスアームの上昇、回転及び下
降は、前後のインデックスアーム17で全て同期して行
われる。
【0048】洗浄槽Aでの洗浄が完了すると、再び、イ
ンデックステーブル昇降用モータ24が図2の紙面上で
反時計回りに回転し、インデックスアーム17を一旦上
昇させる。次いで、インデックスモータ3が図2の紙面
上で時計回りに回転し、上昇したインデックスアーム1
7を洗浄槽Bの略直上位置まで回転させる。その後、イ
ンデックステーブル昇降用モータ24が図2の紙面上で
時計回りに回転し、インデックスアーム17を下降さ
せ、ガラス基板を洗浄槽Bの薬液に浸漬して洗浄を行
う。
【0049】以上の様な動作を14個のインデックスア
ーム17で連続的に実行することで、洗浄槽A〜K及び
乾燥槽Lでのガラス基板の洗浄処理及び乾燥処理を完了
する。
【0050】乾燥槽Lでの乾燥が完了すると、乾燥後の
ガラス基板がアンチャックされ、アンロードテーブル4
3にガラス基板がセットされる。アンロードテーブル4
3はガラス基板がセットされると、アンロードアーム4
1によって該ガラス基板をアンロードコンベア51上の
カセットに移し替すことができる位置まで移動する。
【0051】アンロードテーブル43の移動が完了する
と、アンロードアーム41でガラス基板を取り出し、ア
ンロードコンベア50で搬送されてきた空のカセットに
該ガラス基板を収容し、本実施の形態に係る処理装置で
の一連の処理動作は終了する。
【0052】上述したように、本実施の形態によれば、
各槽間におけるガラス基板の搬送のたびにガラス基板の
チャック及びアンチャックが行われないので、ガラス基
板の搬送時間を短縮することができる。従って、搬送時
間の短縮により装置の稼働率の向上を図ることができ
る。また、搬送時間の短縮により、搬送中の処理部材の
乾燥を防ぐことができるため、洗浄品質の低下を防止す
ることができる。また、各槽間搬送で搬送ミスがなくな
り、クラッシュ等による汚染がなくなり、洗浄品質の低
下を防止することができる。さらに、ガラス基板のチャ
ック及びアンチャックが繰り返し行われることにより、
発生するパーティクル(汚染物質)を防止できるので、
洗浄品質の低下を防止することができる。また、キャリ
アを使用せずに、直接ガラス基板の洗浄及び乾燥を実行
しているので、洗浄品質の低下を防止することができ
る。さらに、各槽でのガラス基板のチャック位置及びア
ンチャック位置の精度を確保する必要がなくなるため、
搬送機構のメンテナンスが容易になる。また、チャック
位置及びアンチャック位置のずれを検知するセンサー等
が不要になる。
【0053】本実施の形態では、洗浄槽で酸性の薬液、
アルカリ性の薬液、及び純水等による洗浄を行ったが、
超音波洗浄、メガソニック洗浄、炭化水素系溶剤洗浄、
アルコール系溶剤洗浄、ブラシ洗浄、高圧水噴射洗浄、
又はプラズマ洗浄等を行ってもよい。
【0054】また、乾燥槽では、温風乾燥、温純水引き
上げ乾燥、アルコール系溶媒ベーパ乾燥、エアーナイフ
乾燥、スピンドライヤー、赤外線加熱乾燥、又はマイク
ロ波加熱乾燥等を行ってもよい。
【0055】また、本実施の形態では、処理装置が計1
4個のインデックスステーションと、11個の洗浄槽
と、1個の乾燥槽とを備えているが、各個数はこれらに
限られるものではない。
【0056】また、本実施の形態において、各洗浄槽及
び乾燥槽をユニット化しておき、各インデックスステー
ションに出し入れできる構造としてもよい。このように
することで、各槽の仕様変更、例えば使用薬液の変更、
槽の順番の変更も容易に行うことができる。
【0057】さらに、処理装置内部に設置されているイ
ンデックスモータ3やインデックステーブル昇降用モー
タ24等の駆動部を点検するために点検用扉を設置した
インデックスステーションを設置してもよい。
【0058】また、本実施の形態では、処理装置でガラ
ス基板の洗浄や乾燥を実行したが、ガラス基板にかぎら
ず、シリコンウェハ、レンズ又は液晶用ガラス等であっ
てもよい。
【0059】さらに、本実施の形態では、処理装置でガ
ラス基板の洗浄や乾燥を実行したが、洗浄液の代わり
に、ガラス基板を研磨処理又は化学強化処理するための
薬液を用いることでガラス基板の研磨処理又は化学強化
処理をすることができる。尚、化学強化処理とは、ガラ
ス基板中にカリウムイオン及びナトリウムイオンを含有
させてガラス基板を強化する処理である。
【0060】また、本実施の形態では、11個の洗浄
槽、1個の乾燥槽、ロードテーブル42及びアンロード
テーブル43はインデックステーブル昇降用モータ24
を中心として同一円周上に配設されているので、インデ
ックスモータ3は25.7度(≒360度/14)ずつ
回転したが、インデックスモータ3が、洗浄槽、乾燥
槽、ロードテーブル及びアンロードテーブルの総数によ
って360度を除した角度ずつ回転するようにしてもよ
い。これにより、搬送の停止位置が正確になり、搬送ト
ラブルを生じなくなるという効果を奏する。
【0061】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、請求項1の
処理装置によれば、チャック/アンチャック手段は、搬
入された処理部材のチャック及びアンチャックを各1回
のみ実行するので、各槽間における処理部材の搬送のた
びに処理部材のチャック及びアンチャックが行われず、
処理部材の搬送時間を短縮することができる。従って、
搬送時間短縮により装置の稼働率の向上を図ることがで
きる。また、搬送時間短縮により、搬送中の処理部材の
乾燥を防ぐことができるため、処理品質の低下を防止す
ることができる。さらに、処理部材のチャック及びアン
チャックが繰り返し行われることにより、発生するパー
ティクル(汚染物質)を防止できるので、処理品質の低
下を防止することができる。
【0062】請求項3の処理装置によれば、搬入手段と
搬出手段と複数の処理手段とが搬送手段を中心とする同
一円周上に配設され、且つ、搬入手段と搬出手段とは隣
接するように配設されており、従来の処理装置のように
搬入手段と搬出手段と複数の処理手段とが直線的に一列
に配設され、しかも、搬入手段と搬出手段とが離れて配
設されていないので、装置のオペレータが一人で足りる
という効果を奏する。また、搬入手段と搬出手段と複数
の処理手段とが搬送手段を中心とする同一円周上に配設
されているので、これらが直線的に一列に配設されてい
る場合に比べ、装置をコンパクトにまとめることができ
る。
【0063】請求項4の処理装置によれば、搬送手段
は、搬入手段、搬出手段、及び複数の処理手段の総数に
よって360度を除した角度ずつチャック/アンチャッ
ク手段を回転させるためのモータを備えるので、搬送の
停止位置が正確になり、搬送トラブルを生じなくなると
いう効果を奏する。
【0064】請求項5の処理装置によれば、チャック/
アンチャック手段は、処理部材を係止するための溝を備
えるので、より確実に処理部材を係止することができ
る。
【0065】請求項7の処理装置によれば、チャック/
アンチャック手段は搬入された処理部材の内周及び外周
を挟み込むようにチャックするので、より確実に処理部
材を係止することができる。
【0066】請求項8の処理装置によれば、ハードディ
スクドライブ等に用いられる情報記憶媒体用のディスク
状基板を微小パーティクルの付着や洗浄工程中での処理
部材の部分的乾燥の発生を確実になくして洗浄すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る処理装置の全体構造
を示す縦断面図である。
【図2】本発明の実施の形態に係る処理装置の全体構造
を示す横断面図である。
【図3】図1のインデックスアーム17の全体構造を示
す斜視図である。
【図4】従来の処理装置で採用されているガラス基板の
ハンドリング・搬送方式の機構を示す図であり、(A)
はロボット式搬送機構を示し、(B)はシリンダータク
ト式搬送機構を示し、(C)アーム式回転搬送機構を示
す。
【符号の説明】
1 筐体 2 インデックステーブル 3 インデックスモータ 8 スライドガイド 17 インデックスアーム 24 インデックステーブル昇降用モータ 40 ロードアーム 41 アンロードアーム 42 ロードテーブル 43 アンロードテーブル 173,175 チャックシャフト
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02F 1/13 101 G02F 1/13 101 G11B 5/84 G11B 5/84 Z H01L 21/304 648 H01L 21/304 648B 21/68 21/68 A Fターム(参考) 2H088 FA17 FA21 FA24 FA30 3B116 AA01 AB23 AB32 AB42 BB02 BB21 CC03 CD33 3C007 AS05 AS24 DS05 ES02 ET08 EU17 EV07 HS12 NS12 5D112 AA02 BA03 GA03 GA08 GA26 5F031 CA02 CA05 FA01 FA02 FA09 GA12 GA19 GA30 GA47 GA54 HA73 LA09 MA04 MA09 MA23 PA02 PA30

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部から処理部材を搬入する搬入手段
    と、前記処理部材を外部へ搬出する搬出手段と、前記搬
    入された処理部材をチャック及びアンチャックするチャ
    ック/アンチャック手段と、前記チャックされた処理部
    材に所定の処理を施す複数の処理手段と、前記チャック
    された処理部材を前記複数の処理手段又は前記搬出手段
    に順次搬送する搬送手段とを備える処理装置において、 前記チャック/アンチャック手段は、前記搬入された処
    理部材のチャック及びアンチャックを各1回のみ実行す
    ることを特徴とする処理装置。
  2. 【請求項2】 前記所定の処理は、前記処理部材の洗浄
    処理、前記処理部材の乾燥処理、前記処理部材の研磨処
    理、又は前記処理部材の化学強化処理であることを特徴
    とする請求項1記載の処理装置。
  3. 【請求項3】 前記搬入手段と前記搬出手段と前記複数
    の処理手段とが前記搬送手段を中心とする同一円周上に
    配設され、且つ、前記搬入手段と前記搬出手段とは隣接
    するように配設されていることを特徴とする請求項1又
    は2記載の処理装置。
  4. 【請求項4】 前記搬送手段は、前記搬入手段、前記搬
    出手段、及び前記複数の処理手段の総数によって360
    度を除した角度ずつ前記チャック/アンチャック手段を
    回転させるためのモータを備えることを特徴とする請求
    項1乃至3のいずれか1項記載の処理装置。
  5. 【請求項5】 前記チャック/アンチャック手段は、前
    記処理部材を係止するための溝を備えることを特徴とす
    る請求項1乃至4のいずれか1項記載の処理装置。
  6. 【請求項6】 前記処理部材は、内周及び外周を有する
    ディスク状の部材であることを特徴とする請求項1乃至
    5のいずれか1項記載の処理装置。
  7. 【請求項7】 前記チャック/アンチャック手段は前記
    搬入された処理部材の内周及び外周を挟み込むようにチ
    ャックすることを特徴とする請求項6記載の処理装置。
  8. 【請求項8】 前記処理部材は、情報記録媒体用基板で
    あることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項記
    載の処理装置。
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