JP2003045907A - 電子部品の製造方法と製造装置 - Google Patents

電子部品の製造方法と製造装置

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JP2003045907A JP2001226979A JP2001226979A JP2003045907A JP 2003045907 A JP2003045907 A JP 2003045907A JP 2001226979 A JP2001226979 A JP 2001226979A JP 2001226979 A JP2001226979 A JP 2001226979A JP 2003045907 A JP2003045907 A JP 2003045907A
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Katsuhiko Hayashi
克彦 林
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Abstract

(57)【要約】 【課題】接合用電極パッドの微細パターン化が容易とな
り、電子部品の高密度実装が可能となる電子部品の製造
方法と製造装置を提供する。 【解決手段】金属小球として0.2mm以下のサイズの
ものを用いる。金属小球1の搭載手段として、個々の金
属小球を落とし込める直径と深さの凹部4を上面に設け
た複数の貫通孔6を有する下治具2と、金属小球1の半
分以上が露出する直径と深さの凹部5を下面に設けた複
数の貫通孔7を有する上治具3とを用いる。下治具2の
各貫通孔6に吸気しながらそれぞれ金属小球1を収容す
る。下治具2に上治具3を対面させ、上治具3の貫通孔
7の空気9を吸引すると共に、下治具2の貫通孔6より
凹部4側に圧搾空気10を送って金属小球1を上治具3
の凹部5に移す。金属小球を吸着した上治具を一括搭載
する基板またはチップ部品に対面させて押し出し空気に
より金属小球を基板またはチップ部品に移す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、種々の電子機器で
使用される電子部品の製造方法と製造装置に係り、より
詳しくは、基板と該基板に半田ボール等の金属小球の溶
融により固着されるチップ部品とからなる電子部品にお
いて、金属小球の基板またはチップ部品への搭載方法と
その装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体チップ等のチップ部品上に半田バ
ンプを形成する方法としては、種々の方法が提案されて
きた。その一方法として、チップ部品の基板への搭載面
に半田ボールを搭載し、該半田ボールを溶融することに
より、半田バンプを形成するのもその一つである。
【0003】半田ボールを搭載する方法は、基本的に
は、ウエファに対してボール搭載治具等を用いて半田ボ
ールを一括で搭載する方法と、個々のボールを一個ずつ
搭載する方法がある。図5は半田ボールを一括搭載する
従来方法を説明する図である。この従来方法は、図5
(A)に示すように、ボール容器50に半田ボール1を
入れ、このボール容器50の下部に設けた空間51に図
5(B)に矢印52で示すように圧搾空気を入れ、ボー
ル容器50の底面に設けた孔53より瞬間的に圧搾空気
を入れてボール容器50内で半田ボール1を瞬間的に空
中に浮かせ、半田ボール搭載治具54側では、矢印55
で示すように空気を吸引し、これによって図5(C)に
示すように、該治具54の下面に設けた孔56に半田ボ
ール1を吸着、整列させ、この半田ボール1をウエファ
上に搭載する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来方法、装置に
よると、適用できる半田ボール1の直径はせいぜい0.
3mm程度までであり、0.2mm以下となると、各半
田ボール1は粉体的な性質を示し、半田ボールどうしが
吸着しやすくなり、図5(D)に示すように、ボール搭
載治具54側に多数の半田ボール1が付着し、個々の半
田ボール1として扱うことが困難となる。そのため、半
田ボール1を一括搭載するタイプのものでは基板への搭
載部、すなわち接合用電極パッドの微細パターン化が困
難であるという問題点がある。
【0005】本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、
接合用電極パッドの微細パターン化が容易となり、電子
部品の高密度実装が可能となる電子部品の製造方法と製
造装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の電子部品の製
造方法は、金属小球を基板またはチップ部品に一括搭載
し、金属小球を溶融させて基板とチップ部品とを固着す
る電子部品の製造方法であって、前記金属小球として
0.2mm以下のサイズのものを用いることを特徴とす
る。
【0007】このように、半田ボール等の金属小球とし
て直径が0.2mm以下のサイズのものを用いることに
より、チップ部品と基板との固着に要する面積と電極パ
ッド間隔を狭くすることができ、チップ部品や基板の金
属小球搭載部のパターンを微細化することができ、電子
部品の高密度化が可能になる。
【0008】請求項2の電子部品の製造方法は、請求項
1において、前記金属小球を搭載するチップ部品が半導
体チップであることを特徴とする。
【0009】請求項3の電子部品の製造方法において、
前記半導体チップが化合物半導体チップであることを特
徴とする。
【0010】本発明は、チップ部品がシリコン等でなる
半導体チップである場合に、基板との固着のために金属
小球をチップ部品に搭載する場合のみならず、半導体チ
ップが化合物半導体チップである場合にも適用される
が、特に化合物半導体チップは物理的に脆いので、超音
波による接続が適用しにくいが、超音波を使用しない半
田バンプによる接続には極めて好適に適用できる。
【0011】請求項4の電子部品の製造方法は、金属小
球を基板またはチップ部品に一括搭載し、前記基板と前
記チップ部品とを前記金属小球の溶着により一体化する
電子部品の製造方法であって、前記金属小球の搭載手段
として、個々の金属小球を落とし込める直径と深さの凹
部を上面に設けた複数の貫通孔を有する下治具と、金属
小球の半分以上が露出する直径と深さの凹部を下面に設
けた複数の貫通孔を有する上治具とを用い、前記下治具
の各貫通孔に吸気しながら下治具の上面に金属小球を散
布することにより、各凹部に個々の金属小球を収容する
と共に、下治具の上面に残留する金属小球を除去し、前
記下治具に上治具をその各凹部の位置が合致するように
合わせて対面させ、前記上治具の貫通孔の空気を吸引す
ると共に、下治具の貫通孔より凹部側に圧搾空気を送っ
て前記下治具の凹部に収容されていた金属小球を上治具
の凹部に移し、金属小球を吸着した上治具を一括搭載す
る基板またはチップ部品に対面させて押し出し空気によ
り金属小球を前記基板またはチップ部品に移すことを特
徴とする。
【0012】このように、下治具に設けた凹部に連通す
る貫通孔を通して吸気しながら金属小球を供給すること
により、下治具の凹部に一個ずつ金属小球を確実に収容
することができる。従って、下治具の個々の凹部に対応
して下面に凹部を形成した上治具を下治具に各凹部が対
向するように対面させ、下治具の貫通孔を通しての押し
出し空気と、上治具の貫通孔を通しての吸引空気とによ
り、下治具の凹部に収容されていた個々の金属小球を上
治具の凹部に確実に移すことができ、上治具の個々の凹
部に金属小球を確実に保持しておくことができる。この
ような金属小球の確実な保持作用は、金属小球が0.2
mm以下の小さいものであっても可能であり、これによ
り金属小球の搭載部、すなわち接合用電極パッドの微細
パターン化が可能となる。
【0013】請求項5の電子部品の製造方法は、請求項
4において、金属小球を下治具の上面に散布した後、ま
たは散布すると同時に、下治具の上面の金属小球をスク
レーパにより掃くことを特徴とする。
【0014】このように、スクレーパにより、下治具の
上面を掃くことにより、上治具の個々の凹部への金属小
球の収容が、凹部以外の部分に金属小球が付着すること
なく、より確実に行われると同時に、下治具に残留する
半田ボールの除去が行える。。
【0015】請求項6の電子部品の製造方法は、請求項
4または5において、金属小球を下治具から上治具に移
す際に、下治具の凹部から金属小球を押し出す空気流量
を下治具の凹部に金属小球を吸引収容する空気流量より
多くすることを特徴とする。
【0016】下治具の凹部より金属小球を押し出す力
は、下治具の凹部へ金属小球を収容する力より大きいた
め、下治具の凹部より金属小球を押し出し空気流量を、
下治具の凹部へ金属小球を収容するために吸引する空気
流量より多くすることにより、移送が確実に行われる。
【0017】請求項7の電子部品の製造装置は、金属小
球を基板またはチップ部品に一括搭載し、前記基板と前
記チップ部品とを前記金属小球の溶着により一体化する
電子部品の製造装置であって、前記金属小球の搭載手段
として、上治具と下治具とを備え、前記下治具は個々の
金属小球を落とし込める直径と深さの凹部を上面に設け
た複数の貫通孔を有し、前記上治具は、金属小球の半分
以上が露出する直径と深さの凹部を下面に設けた複数の
貫通孔を有し、前記上治具側に、前記上治具に設けた貫
通孔を通して空気を上方へ吸入する手段および下方に排
気する手段を有する空気吸排装置を備え、前記下治具側
に、前記下治具に設けた貫通孔を通して空気を下方へ吸
入する手段および上方に排気する手段を有する空気吸排
装置を備えたことを特徴とする。
【0018】このように構成した製造装置においては、
前記請求項4において述べた手順で金属小球の基板等へ
の搭載を行う。ここで、下治具に設ける凹部は金属小球
の直径より深く形成することにより、金属小球を個々の
凹部に確実に1つずつ確実に収容することができる。ま
た、上治具に設ける凹部は浅く形成することにより、空
気押し出しによる基板等への搭載が容易かつ確実に行え
る。
【0019】請求項8の電子部品の製造装置は、請求項
7において、前記下治具の凹部に金属小球を収容後に下
治具の上面を摺動させて金属小球を除去するスクレーパ
を備えたことを特徴とする。
【0020】このようにスクレーパを設け、該スクレー
パにより、下治具の上面の金属小球を除去することによ
り、上治具の個々の凹部への金属小球の収容が、凹部以
外の部分に金属小球が付着することなく、より確実に行
われ、下治具上の残留金属小球の除去も同時に行える。
【0021】請求項9の電子部品の製造装置は、請求項
7または8において、前記上下の治具の少なくとも金属
小球搭載面を黒色としたことを特徴とする。
【0022】このように、治具の少なくとも金属小球搭
載面を黒色とすることにより、半田ボールの搭載状況が
光学的に確認しやすくなる。
【0023】
【発明の実施の形態】図1は本発明による電子部品の製
造方法の一実施の形態の工程の一部を示す工程図、図2
はその残部を示す工程図である。本発明においては、図
1(A)、(B)に示す下治具2と、図1(C)、
(D)および図2(A)、(B)に示す上治具3とを用
いる。これらの下治具2、上治具3は、それぞれ凹部
4、5と、貫通孔6、7とを有する。
【0024】図3(A)は上治具3の部分断面図であ
り、上治具3の凹部5はテーパー状(球面状でもよい)
をなし、凹部5は、半田ボール1の半分以上が露出する
直径D1と深さH1を有する。好ましくはこの深さH1
は半田ボール1の直径の3分の1以下とする。Pは凹部
5および貫通孔7のピッチであり、凹部5および貫通孔
7は上治具3に一定間隔で縦横に配設される。
【0025】図3(B)は下治具2の部分断面図であ
り、下治具2の凹部4は、半田ボール1が落とし込める
(好ましくは半田ボール1全体が凹部4内に入る)直径
D2と深さH2を有する。下治具2に設ける凹部4およ
び貫通孔6も、図3(A)に示した上治具3の凹部5お
よび貫通孔7の配設パターンと同じパターンと同じピッ
チPで配設される。
【0026】このような治具2、3を用い、以下のよう
な工程により半導体チップ等への半田ボール1の搭載を
行う。まず図1(A)に示すように、下治具2上に半田
ボール1を散布する。
【0027】図4は前記半田ボール1の散布を行う方法
の一例を示す図である。この方法は、図4(A)に示す
ように、半田ボール1を入れた容器36内に散布用の棒
37を入れ、図4(B)に示すように、棒37の表面に
半田ボール1を付着させる。この付着は、半田ボール1
が小さい場合、特に直径が0.2mm以下の小粒子状で
ある場合に、自然に存在する静電気あるいは湿気のうち
の少なくともいずれかにより容易に行われる。このよう
に、半田ボール1を付着させた棒37を図4(C)に示
すように、必要に応じて棒37を回転させつつ下治具2
の表面に沿って移動させ、貫通孔4を通して矢印8で示
すように吸気(マイナスエアをかける)して凹部4に半
田ボール1を収容する。
【0028】さらに、半田ボール1の散布と同時または
散布後に、図1(B)に示すように、前記吸気8を行い
ながら、スクレーパ40を下治具2の上面において摺動
させることにより、下治具2の凹部4に洩れなく半田ボ
ール1を収容すると同時に、下治具2の上面に残留する
半田ボール1を除去する。このような下治具1上におけ
る残留半田ボール1の除去を行うことは、後述の上治具
3への凹部5以外での半田ボール1の付着を防止する上
で重要である。
【0029】このように、下治具2の凹部4に吸気しか
つスクレーパ40で下治具2の上面を摺動させながら半
田ボール1に収容すれば、半田ボール1が各凹部4にそ
れぞれ1個ずつ確実に収容される。すなわち、従来、微
小な半田ボール1を処理する場合には、半田ボール1同
士が付着しあわないように湿気の除去と半田ボール1の
静電気の除電処理を常に行うことが必須であったが、前
記本発明に係る搭載方法では、下治具2の凹部4にスク
レーパ40により強制的に半田ボール1を個々の状態に
するので、このような湿気や静電気の除去作業は不要と
なる。
【0030】このように、半田ボール1を凹部4に収容
した後、図1(C)に示すように、下治具2に上治具3
を、その各凹部4、5の位置が合致するように合わせて
対面させる。そして、矢印9で示すように、上治具3の
貫通孔7の空気を吸引すると共に、矢印10で示すよう
に、下治具2の貫通孔6より凹部4側に圧搾空気(プラ
スエア)を送って前記下治具2の凹部4に収容されてい
た半田ボール1を押し出し、上治具3の凹部5に移す。
【0031】ここで、下治具2の凹部4に半田ボール1
を収容する際に、半田ボール1が凹部4に吸気(マイナ
スエア)により押さえつけられた状態になり、半田ボー
ル1と凹部4とが局部的に圧着した状態となる。このた
め、凹部4より半田ボール1を押し出すために要する力
は、下治具2の凹部4に半田ボール1を収容するための
力より大きくするために、下治具2の凹部4より金属小
球を押し出す空気(矢印10で示す)の流量を、下治具
2の凹部4に半田ボール1を収容するために吸引する空
気(矢印8で示す)の流量より多くすることにより、移
送が確実に行われる。
【0032】次に、下治具2と上治具3の少なくともい
ずれか一方を移動させる。好ましくは、上治具3を下治
具2より上昇させて、図1(D)に示すように、下治具
2と上治具3とを離す。この場合、上治具3の吸気は持
続させて半田ボール1を凹部5に保持させたままとす
る。
【0033】次に、図2(A)に示すように、上治具3
の直下にチップ部品として半導体チップ(エウファ)1
1を対面させる。この場合、半導体チップ11の電極パ
ッド12には、半田フラックス13を塗布しておく。な
お、この半田フラックス13は、粘性のあるペーストタ
イプのものが好ましい。
【0034】次に、半導体チップ11の電極パッド12
に対して、半田ボール1すなわち凹部5の位置合わせを
行い、上治具3を降下させて半導体チップ11上の電極
パッド12への半田ボール1の搭載を行う。このとき、
上治具3の各凹部5の貫通孔7において、半田ボール1
が半導体チップ11上の電極パッド12に置かれた際
に、図2(B)の矢印14に示すように短時間の圧搾空
気を流して上治具3の凹部5から半田ボール1が凹部5
から確実に離れるようにする。
【0035】このような作業により、図2(B)に示す
ように、半導体チップ11上の電極パッド12上に塗布
された半田フラックス13上に半田ボール1が付着して
半導体チップ11上への半田ボール1搭載が完成する。
その後、前記半導体チップ11を熱処理することによ
り、前記半田ボール1は半導体チップ11上に確実に固
定されるか、あるいは半田バンプを形成することができ
る。
【0036】図2(C)は前記下治具2、上治具3にお
ける貫通孔6、7に対する空気の吸排を行う空気吸排装
置15、16の一例を示す構成図である。下治具2に対
する空気吸排装置15は、送風機(または圧縮機)17
と、下治具2に対する空気供給管路18に設けた開閉弁
19および流量調整弁20と、下治具2から吸気する吸
気管路21に設けた開閉弁22および流量調整弁23
と、外気から空気を取り込むための開閉弁24と、吸気
を排出するための開閉弁25とからなる。
【0037】上治具3に対する空気吸排装置16も同様
に、送風機(または圧縮機)27と、上治具3に対する
空気供給管路28に設けた開閉弁29および流量調整弁
30と、上治具3から吸気する吸気管路31に設けた開
閉弁32および流量調整弁33と、外気から空気を取り
込むための開閉弁34と、吸気を排出するための開閉弁
35とからなる。
【0038】この装置において、下治具2(上治具3)
の貫通孔6(7)に圧搾空気を送る場合は、開閉弁24
(34)と開閉弁19(29)を開け、開閉弁25(3
5)と開閉弁22(32)を閉じ、送風機(圧縮機)1
7(27)の作動により貫通孔6(7)から圧搾空気を
排出する。
【0039】一方、吸気の際には、開閉弁24(34)
と開閉弁19(29)を閉じ、開閉弁25(35)と開
閉弁22(32)を開け、送風機(圧縮機)17(2
7)の作動により貫通孔6(7)の空気を吸引する。
【0040】圧搾空気の供給の際には、流量調整弁2
0、30における流量調整により、空気流量が調整され
る。また、吸気の際には、流量調整弁23、33におけ
る流量調整により、吸気流量が調整される。また、送風
機(または圧縮機)17、27として可変流量型のもの
を用いてこれらを制御することにより、流量を調整して
もよい。
【0041】上述のような方法、装置を用いることによ
り、静電気や湿気の影響を排除して、直径が0.1mm
から0.2mm程度の半田ボールをチップ部品や基板に
安定して搭載することが可能となる。このため、従来、
金バンプ等でしか形成できなかった小電極パッドパッド
で狭ピッチのパッド配列を有するチップ部品に対しても
半田バンプの形成が可能となる。
【0042】特に、GaAs等の化合物半導体は物理的
に脆い性質を有するので、超音波による金バンプ接続が
適用しにくいが、超音波を使用しない半田バンプによる
接続はきわめて有効である。すなわち、本発明による上
記方法、装置を用いることにより、小サイズの半田ボー
ルを搭載し、熱処理して半田バンプを形成することがで
きる。
【0043】また、治具2、3の少なくとも半田ボール
搭載面は塗装等により黒色にすることにより、搭載状況
を確認しながら全凹部4について半田ボール1が搭載さ
れたか否かの光学的確認が容易となる。
【0044】上記実施の形態においては、個別の半導体
チップ11に半田ボール1を搭載する場合について説明
したが、各半導体チップ11が一体に形成されているウ
エファであっても本発明の方法、装置は適用可能であ
り、複数の半導体チップ11上に1回のボール搭載動作
で同時搭載処理(一括搭載)ができる。特に、半導体ウ
エファ上にはきわめて多数の半導体チップが形成され、
かつそれぞれの半導体チップは多数の搭載用電極パッド
が存在するので、一括搭載は量産時にはきわめて有効で
ある。
【0045】本発明を実施する場合、金属小球として、
単なる半田ボールではなく、銅球等の金属球の周囲を半
田により覆った半田ボールを用いることができる。
【0046】
【発明の効果】請求項1、2によれば、半田ボール等の
金属小球として直径が0.2mm以下のサイズのものを
用いるので、チップ部品と基板との固着に要する面積と
電極パッド間隔を狭くすることができ、チップ部品や基
板の接合用電極パッドのパターンを微細化することがで
き、電子部品の高密度化が可能になる。
【0047】請求項3によれば、化合物半導体チップは
物理的に脆いので、超音波による接続が適用しにくい
が、本発明の方法による超音波を使用しない半田バンプ
による接続に極めて好適に適用できる。
【0048】請求項4によれば、下治具の各凹部への個
々の金属小球の収容と、上治具への移送が確実に行え
る。そしてこのような金属小球の確実な収容、移送作用
は、金属小球が0.2mm以下の小さいものであっても
可能であり、これにより金属小球の搭載部、すなわち接
合用電極パッドの微細パターン化が可能となる。
【0049】請求項5によれば、スクレーパにより、下
治具の上面の金属小球を除去するため、上治具の個々の
凹部への金属小球の収容が、静電気や湿気の除去処理を
行うことなく、凹部以外の部分の金属小球を除去しなが
ら、より確実に行なえる。
【0050】請求項6によれば、下治具の凹部より金属
小球を押し出し空気流量を、下治具の凹部へ金属小球を
収容するために吸引する空気流量より多くしたので、移
送が確実に行われる。
【0051】請求項7によれば、前記請求項4において
述べた手順で金属小球の基板等への搭載を行うことがで
きるので、金属小球を個々の凹部に確実に1つずつ確実
に収容することができる。また、上治具に設ける凹部は
浅く形成することにより、空気押し出しによる基板等へ
の搭載が容易かつ確実に行える。
【0052】請求項8によれば、前記スクレーパによ
り、下治具の上面の金属小球を除去することができ、上
治具の個々の凹部への金属小球の収容が、凹部以外の部
分に金属小球が付着することなく、より確実に行われ
る。
【0053】請求項9によれば、治具の少なくとも金属
小球搭載面を黒色としたので、黒色以外の半田ボール等
の搭載状況が光学的に確認しやすくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による電子部品の製造方法の一実施の形
態の工程の一部を断面図で示す工程図である。
【図2】図1の工程の残部を示す工程図である。
【図3】(A)は本実施の形態の上治具の凹部と半田ボ
ールとの寸法関係図、(B)は同じく下治具の凹部と半
田ボールとの寸法関係図、(C)は本発明による製造装
置の一実施の形態を示す構成図である。
【図4】(A)〜(C)は本発明の方法を実施する場合
の下治具への半田ボールの供給方法の一例を示す工程図
である。
【図5】(A)〜(D)は従来の方法を説明する工程図
である。
【符号の説明】
1:半田ボール、2:下治具、3:上治具、4、5:凹
部、6、7:貫通孔、11:半導体チップ、12:電極
パッド、13:半田フラックス、15、16:空気吸排
装置、17、27:送風機(または圧縮機)、18、2
8:空気供給管路、19、22、24、25、29、3
2、34、35:開閉弁、20、30:流量調整弁、3
6:容器、37:棒、40:スクレーパ

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】金属小球を基板またはチップ部品に一括搭
    載し、金属小球を溶融させて基板とチップ部品とを固着
    する電子部品の製造方法であって、 前記金属小球として0.2mm以下のサイズのものを用
    いることを特徴とする電子部品の製造方法。
  2. 【請求項2】請求項1の電子部品の製造方法において、 前記金属小球を搭載するチップ部品が半導体チップであ
    ることを特徴とする電子部品の製造方法。
  3. 【請求項3】請求項2の電子部品の製造方法において、 前記半導体チップが化合物半導体チップであることを特
    徴とする電子部品の製造方法。
  4. 【請求項4】金属小球を基板またはチップ部品に一括搭
    載し、前記基板と前記チップ部品とを前記金属小球の溶
    着により一体化する電子部品の製造方法であって、 前記金属小球の搭載手段として、個々の金属小球を落と
    し込める直径と深さの凹部を上面に設けた複数の貫通孔
    を有する下治具と、金属小球の半分以上が露出する直径
    と深さの凹部を下面に設けた複数の貫通孔を有する上治
    具とを用い、 前記下治具の各貫通孔に吸気しながら下治具の上面に金
    属小球を散布することにより、各凹部に個々の金属小球
    を収容すると共に、下治具の上面に残留する金属小球を
    除去し、 前記下治具に上治具をその各凹部の位置が合致するよう
    に合わせて対面させ、 前記上治具の貫通孔の空気を吸引すると共に、下治具の
    貫通孔より凹部側に圧搾空気を送って前記下治具の凹部
    に収容されていた金属小球を上治具の凹部に移し、 金属小球を吸着した上治具を一括搭載する基板またはチ
    ップ部品に対面させて押し出し空気により金属小球を前
    記基板またはチップ部品に移すことを特徴とする電子部
    品の製造方法。
  5. 【請求項5】請求項4の電子部品の製造方法において、 金属小球を下治具の上面に散布した後、または散布する
    と同時に、下治具の上面の金属小球をスクレーパにより
    掃くことを特徴とする電子部品の製造方法。
  6. 【請求項6】請求項4または5の電子部品の製造方法に
    おいて、 金属小球を下治具から上治具に移す際に、下治具の凹部
    から金属小球を押し出す空気流量を下治具の凹部に金属
    小球を吸引収容する空気流量より多くすることを特徴と
    する電子部品の製造方法。
  7. 【請求項7】金属小球を基板またはチップ部品に一括搭
    載し、前記基板と前記チップ部品とを前記金属小球の溶
    着により一体化する電子部品の製造装置であって、 前記金属小球の搭載手段として、上治具と下治具とを備
    え、 前記下治具は個々の金属小球を落とし込める直径と深さ
    の凹部を上面に設けた複数の貫通孔を有し、 前記上治具は、金属小球の半分以上が露出する直径と深
    さの凹部を下面に設けた複数の貫通孔を有し、 前記上治具側に、前記上治具に設けた貫通孔を通して空
    気を上方へ吸入する手段および下方に排気する手段を有
    する空気吸排装置を備え、 前記下治具側に、前記下治具に設けた貫通孔を通して空
    気を下方へ吸入する手段および上方に排気する手段を有
    する空気吸排装置を備えたことを特徴とする電子部品の
    製造装置。
  8. 【請求項8】請求項7の電子部品の製造装置において、 前記下治具の凹部に金属小球を収容後に下治具の上面を
    摺動させて金属小球を除去するスクレーパを備えたこと
    を特徴とする電子部品の製造装置。
  9. 【請求項9】請求項7または8の電子部品の製造装置に
    おいて、 前記上下の治具の少なくとも金属小球搭載面を黒色とし
    たことを特徴とする電子部品の製造装置。
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