JP2003037781A - 撮像素子の欠陥検出方法及び撮像装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 点滅性欠陥を含めたすべての画素欠陥が補償
された高性能な撮像装置を提供すること。 【解決手段】 同一の撮像条件下で得られた複数の画像
信号に基づいて撮像素子の欠陥画素アドレスを検出す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は撮像装置及び撮像装
置に備えられた撮像素子の欠陥検出に関する。

【０００２】

【従来の技術】ビデオカメラなどの撮像装置は従来より
広く利用されている。近年主として静止画を撮像記録す
る電子スチルカメラも特にディジタルカメラとして普及
するに至り、主として動画記録用であったビデオムービ
ーにおいても静止画撮影記録機能を有するようになって
きた。そして主として静止画撮影に際して使用される長
時間露光は撮像素子における電荷蓄積時間を長くするこ
とによって露光時間を長くし、これによって低照度下で
もストロボなどの補助照明を使用することなく撮影でき
るようにする技術として知られている。

【０００３】一方撮像素子においてはいわゆる暗電流の
存在などによる暗出力が存在し、これが画像信号に重畳
されるため、画質劣化を来す。この暗出力レベルが大き
い画素が存在する場合は画素欠陥と称され、その画素の
出力情報は用いず近隣の画素の出力情報を用いて情報を
補完することが広く実用されている。本明細書において
はこのような補完処理を画素欠陥の補償と称する。しば
しば使用フレームレートにおける動画駆動を前提に決め
られる所定の（例えばＮＴＳＣでは１／６０秒の、ある
いはこれに基づいて所定のマージンを見た例えば４倍マ
ージンだと１／１５秒の）標準露光時間で暗出力を評価
し、そのレベルが大きい画素については欠陥画素と見做
して前記画素欠陥補償を適用する。

【０００４】そしてさらに、画素欠陥は温度依存や経時
変化を伴うから欠陥画素の評価を工場出荷前に行うだけ
では不十分であるという点について改善をはかった技術
も特開平０６−０３８１１３号公報に公知である。すな
わちこの公開公報には、電源オン直後にアイリスを閉じ
ることで受光面を遮光し、カメラの使用に先立ってＣＣ
Ｄ暗出力を評価することで欠陥画素を検出して、欠陥補
償を行う技術が記載されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】従来技術が用いられて
きた前提として、画素欠陥とは破壊的現象と見なされて
いた。すなわち上述の温度変化や近年顕在化した後発性
欠陥の問題があるにせよ、欠陥は一度発生したら少なく
とも同じ温度条件下では消滅することは無いという技術
的前提があった。

【０００６】ところが、近年の撮像素子の多画素化とこ
れに伴う画素微細化によって従来見逃されてきた現象が
見出されるようになった。この現象を、本明細書では
「点滅性欠陥」と称する。この現象の原因（メカニズ
ム）は定かではないが、点滅性欠陥は撮像素子を同一条
件（同一温度、同一蓄積時間、遮光下）で繰り返し読み
出しを行った場合に、読み出される暗電荷レベルが極端
に増減する画素が存在するという現象である。このよう
な画素は或る時は正常画素、また或る時は白欠陥という
ようにあたかも点滅する白欠陥の如く振舞う。

【０００７】このような点滅性白欠陥については、製造
工程においてもまたカメラ装置における自己測定機能に
おいても、従来のようなただ１回の欠陥検出を行っただ
けではそのときたまたま欠陥が消灯状態にあった場合に
は検出できないから看過され、画像記録のための本撮像
時に点灯状態となり欠陥が顕在化することを防ぐことが
できないという問題があった。

【０００８】本発明の目的は、点滅性欠陥も検出可能な
欠陥検出を行うことにより、点滅性欠陥を含めたすべて
の画素欠陥が補償された高性能な撮像装置を提供するこ
とにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するために次のような手段を講じた。

【００１０】本発明に係る撮像素子の欠陥検出方法は、
同一の撮像条件下で得られた複数の画像信号に基づいて
撮像素子の欠陥画素アドレスを検出することを特徴とす
る。

【００１１】本発明に係る他の撮像素子の欠陥検出方法
は、同一の撮像条件下で得られた複数の画像信号につい
て、各画像信号毎に所定の判定基準で欠陥判定を行い、
欠陥があると判定された回数が所定回数以上の画素アド
レスを最終的な欠陥画素アドレスとして検出することを
特徴とする。ここで、記所定回数は１回であること、或
いは前記所定回数は２回であることが好ましい。

【００１２】本発明に係る撮像装置の製造方法は、撮像
素子及び不揮発性メモリを備えた撮像装置に適用され、
上記の欠陥検出方法を用いて検出された欠陥画素アドレ
スの情報を、前記不揮発性メモリに記憶させることを特
徴とする。

【００１３】また、本発明に係る撮像装置は、撮像素子
と、前記撮像素子に被写体像を入力する撮像光学系と、
前記撮像素子の欠陥画素アドレス情報を欠陥データとし
て登録する不揮発性メモリと、前記不揮発性メモリに登
録された前記欠陥データに基づいて前記欠陥画素のデー
タに対して当該欠陥画素の近隣画素データによる補償処
理を行う欠陥補償手段とを備え、前記不揮発性メモリに
登録された欠陥データは、上記の撮像装置の製造方法に
よって記憶された欠陥画素アドレス情報であることを特
徴とする。

【００１４】本発明に係る他の撮像装置は、撮像素子
と、前記撮像素子に被写体像を入力する撮像光学系と、
前記撮像素子の出力に基づいて前記撮像素子の欠陥画素
アドレスの検出を実行する欠陥データ検出手段とを備
え、前記欠陥データ検出手段は、同一の撮像条件下で得
られた複数の画像信号を総合的に解析することにより前
記撮像素子の欠陥画素アドレスの検出を実行することを
特徴とする。

【００１５】上記の撮像装置において、前記欠陥判定を
各画像信号毎に所定の判定基準で行い、欠陥があると判
定された回数が所定回数以上の画素アドレスを最終的な
欠陥画素アドレスとして検出することを特徴とする。な
お、上記所定回数は１回であること、又は上記所定回数
は２回であることが好ましい。

【００１６】上記の各撮像装置において、前記欠陥デー
タ検出手段で検出された前記欠陥データに基づいて前記
欠陥画素のデータに対して当該欠陥画素の近隣画素デー
タによる補償処理を行う欠陥補償手段を有したことを特
徴とする。なお、本撮像装置において、前記撮像素子の
欠陥画素アドレス情報を欠陥データとして登録する不揮
発性メモリと、前記欠陥データの更新手段とを更に備
え、前記欠陥補償手段は、前記不揮発性メモリに登録さ
れた前記欠陥データに基づいて前記欠陥画素のデータに
対して当該欠陥画素の近隣画素データによる補償処理を
行い、前記更新手段は、前記欠陥データ検出手段によっ
て新たに検出された新規検出欠陥データの欠陥画素アド
レスのうち既に前記不揮発性メモリに登録されている欠
陥画素アドレスと重複しない欠陥画素のみを前記不揮発
性メモリに追加登録することが好ましい。

【００１７】上記の各発明において、前記同一の撮像条
件は少なくとも前記撮像素子に入力される光を遮断する
遮光条件を含むことが好ましい。

【００１８】

【発明の実施の形態】図面を参照して本発明の実施の形
態を説明する。図１は、本発明の実施形態に係る撮像装
置（電子カメラ）の概略ブロック図である。

【００１９】図１において、レンズ群１１を通過した被
写体の光学像は、ＣＣＤ等の撮像素子１２で電気信号に
変換され、撮像回路１３でアナログ画像信号に変換され
る。このアナログ画像信号はＡ／Ｄ変換器１４でデジタ
ル画像信号（以下、「画像情報」とも称する）に変換さ
れて、一旦、揮発性の内蔵メモリ２５に記憶される。こ
の内蔵メモリ２５は、高速な、例えばＳＤＲＡＭ（Ｓｙ
ｎｃｈｒｏｎｏｕｓＤｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａ
ｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）であり、後述する画像処理
用のワークエリアとしても使用される。

【００２０】画像処理回路２１は、内蔵メモリ２５に一
時記憶された画像情報の色情報の変換処理、画素数変換
などの処理を行う。そして、画像処理回路２１でのさま
ざまな画像処理を受けた画像情報は、圧縮伸長部２２で
例えばＪＰＥＧ圧縮されて、スマートメディア等の着脱
メモリ２０に記録される。

【００２１】また、撮影画像を表示する場合には、画像
処理後の画像情報は、ＬＣＤドライバ３１を経由して、
画像表示用ＬＣＤ３０に表示される。

【００２２】着脱メモリ２０に記録された画像を表示す
る場合には、着脱メモリ２０から読み出された画像情報
は圧縮伸長部２２で伸長されて、例えば、画像処理回路
２１で所定の画像処理がなされた後に、撮影の時と同様
に、画像表示用ＬＣＤ３０に画像が表示される。

【００２３】システムコントローラ４０は、フラッシュ
メモリ等の不揮発性メモリ４１から電子カメラの基本制
御プログラムを読み出して電子カメラ全体の制御を行
う。

【００２４】更に、システムコントローラ４０は、操作
部４６（図示しないレリーズボタンや十字キー等を含
む）からの入力を受け付けて、その入力に応じた制御を
行う。また、システムコントローラ４０は、図示しない
電源部を制御して電子カメラ全体の電源管理も行ってい
る。更に、システムコントローラ４０は、レンズ等駆動
回路１５を介してレンズ群１１を駆動制御する。

【００２５】本発明の実施形態の電子カメラでは、特に
レンズ群１１に含まれるシャッタと、撮像素子１２の駆
動を制御して露光（電荷蓄積）および信号の読み出しを
行い、それを撮像回路１３やＡ／Ｄ変換器１４、及び画
像処理回路２１等で処理された情報を用いて、以下で説
明する画素欠陥の検出等を行う。

【００２６】また電子カメラは画素欠陥補償手段２３を
有しており、システムコントローラ４０の指令に基づい
て、不揮発性メモリ４１（電源オフ時にも記憶保持が可
能な記憶手段）に格納されたカメラの工場出荷時に登録
された画素欠陥（以下「登録欠陥」と称する）に関する
欠陥データと、工場出荷後における詳細は後述する欠陥
検出によって検出された画素欠陥（以下「検出欠陥」と
称する）に関する欠陥データとに基づいて画素欠陥補償
処理を施す。なお、この画素欠陥補償手段２３は画像処
理回路２１に含まれていても良い。また、適所に温度セ
ンサ（図示せず）を有している。なお、電子カメラの仕
様保証上限温度は４１℃であり、また最長露出時間Ｔｍ
ａｘは５秒（５ｓ）とする。

【００２７】カメラは記録モード、再生モード、スタン
バイモードの３つの制御状態から為っており、記録モー
ドはレリーズボタンの手動操作によって発生する撮影指
令によって撮像（画像記録）を行うモードである。再生
モードは記録された画像を再生して例えば画像表示用Ｌ
ＣＤ３０に表示するためのモードである。この再生モー
ドではレリーズボタンを操作しても撮像は行われない。
従って、例えば、レリーズボタン操作で再生コマ送りが
行われるように構成しても良い。カメラには例えば記録
／再生を切り換えるためのモード切り替えスイッチが設
けられており、これにより各モードが切り替え・選択さ
れる。スタンバイモード、は主要な回路への電源を切断
して監視に必要な最低限の回路を動作させておくモード
である。カメラは操作スイッチとして電源スイッチが設
けられており、この電源スイッチの操作により、モード
切り替えスイッチの選択に応じた各モードとスタンバイ
モードとの間を移行する。また、記録モードあるいは再
生モードにあるとき、各所定時間（例えば１分と３分な
ど）全く無操作で経過した場合には自動的にスタンバイ
モードに移行する。スタンバイモードでは電源スイッチ
以外のスイッチ操作は一切受け付けないように構成され
ている。なお、レリーズボタンの操作によってもスタン
バイモードから選択されたモードに移行するようにして
も良く、スタンバイモードからの各モードへの移行のた
めの特定スイッチは任意に設定可能である。

【００２８】以下、本発明の画素欠陥の検出と補償に直
接関わる処理を中心にシステムコントローラ４０による
カメラの制御を説明する。ただし、本電子カメラにおい
てデジタル信号のレベル処理は８ビット（０〜２５５）
が適用されているものとする。また特記する部分を除い
て、常温を仮定して説明する。

【００２９】撮像モードにおいては、撮影に先立ってマ
ニュアル設定または測光結果に基づいて撮影に必要な露
光時間が設定される。次に本撮影の撮影指令を待機し、
指令を受けたら所定の露出制御値に基づいた露光を行
い、撮像信号を読み出して所定の信号処理を施した後に
着脱メモリ２０に記録する。その際欠陥画素については
画素欠陥補償を行う。欠陥補償後において記録に至るま
での映像信号処理は、その必要に応じて適宜使用される
公知の処理である、例えば色バランス処理、マトリクス
演算による輝度−色差信号への変換あるいはその逆変換
処理、帯域制限等による偽色除去あるいは低減処理、γ
変換に代表される各種非線型処理、各種情報圧縮処理、
等々である。

【００３０】なお、本発明に係る電子カメラにおいて、
欠陥補償は、公知の欠陥補償方法である「欠陥アドレス
が登録された画素に関しての近隣画素による補完」が採
用されているものとする。具体的には、「最近接同色画
素（同色の画素のうち、当該欠陥画素に最も近い４画
素：ＲＧＢベイヤ配列の場合を例示すればＧに関しては
斜め４方に隣接する４つのＧ画素、Ｒ（またはＢ）に関
しては上下左右の４方向で直接隣接でなく間に１つのＧ
を挟んで次に位置する各４つのＲ（またはＢ）画素）た
る４画素情報の平均値を代替適用する」ことにより欠陥
補償がなされている。

【００３１】登録欠陥として、暗黒中温度２５℃、３３
℃、４１℃のそれぞれの温度下で電子カメラの手ぶれ限
界シャッタ速度の露光時間（例示値：１／６０ｓ）の電
荷蓄積動作において測定された暗出力レベルＳが、例え
ば、 Ｓ＞５（≒２％） であるような画素のアドレスが、それぞれの温度につい
て登録されている（以下、「登録欠陥画素」と称す
る）。この登録された画素のアドレスが欠陥アドレス
（以下、「登録欠陥アドレス」と称し、このデータを
「登録欠陥データ」と称する）である。従って、Ｓ≦５
の時には非欠陥とする。このことは、少なくとも上記手
ぶれ限界シャッタ速度の露光時間（例示値１／６０ｓ）
以下の露光時間を想定したときに、本撮像時の暗出力レ
ベルを最大フルレンジ２５５の約２％までは許容すると
いうことを意味する。ここで出力レベルの約２％という
判定基準レベルは一例であって、設計時に事情に合わせ
て任意に設定し得るものであるが、上記程度の適当な値
（他に例えば約５％や約１％なども有効）を選んでおけ
ば画像に重畳される暗出力の影響の顕在化可能性は充分
低くなる。また、暗出力レベルの判定値を０％とすれば
暗出力が重畳された画素を完全に排除することが可能に
なるので、この点ではこれも一つの好適実施例として挙
げ得る。しかし、このように暗出力レベルの判定値を０
％にすることにより、僅かな暗信号の重畳のために当該
画素情報を欠陥画素であるとみなしてしまうことから、
欠陥画素数の増加により総合的な画質を低下させること
になる場合もある。従って、現実にはこれらのトレード
オフ要素を勘案して暗出力の判定レベルを設定する。

【００３２】本カメラは必要時に欠陥検出を行い、その
結果に基づき上記登録欠陥を追加更新する。欠陥検出は
次のように行われる。

【００３３】すなわちレンズ群１１に含まれるシャッタ
で撮像素子の受光面を遮光してから、その遮光状態でテ
スト撮像を行う。すなわち暗黒下で図示しないＣＣＤ駆
動回路により本カメラの最長露出時間Ｔｍａｘ（設定は
任意：ここでの例示値５ｓ）の電荷蓄積動作を行ってテ
スト撮像信号（暗出力信号）を読み出し、内蔵メモリ２
５に一旦格納する。格納された有効出力画素の全データ
に関して各出力レベルを調べて基準レベルとデジタル比
較を行うことで欠陥か否かの判定を行う。

【００３４】なお、撮影時の補償に使用されるべき欠陥
画素のアドレス（最終的な欠陥データ）は、上記登録欠
陥画素および上記の欠陥検出によって検出された欠陥画
素のデータ双方を用いて決定される。

【００３５】上記のようなテスト撮像およびこれに伴う
欠陥判定を繰り返し５回行い、１回でも欠陥と判定され
たらこの画素を最終的な欠陥として検出する。この場合
において、テスト撮像の回数は増やせば増やすほど点滅
性欠陥を看過する確率が下がるので、多いほど好ましい
が、その反面検出に長時間を要する。従って、判定（テ
スト撮像）回数はこれらの観点を考慮した上で任意に設
定することができる。

【００３６】一方、外乱ノイズなど何らかの理由で検出
系に正常画素を欠陥と判定する誤判定の可能性が有意に
存在する場合には、１回でも欠陥と判定された画素を最
終的な欠陥と見なした場合、本来正常である画素を上記
誤判定により欠陥を有するものとして誤検出するおそれ
がある。このため、テスト撮像の回数を１０回とし、２
回以上欠陥があると判定された画素のみを欠陥画素のと
して判定することが好ましい。この理由を簡単に説明す
る。

【００３７】テスト撮像の回数を５回から１０回に増や
し、判定基準を１回から２回に変えた場合でも、検出確
率は共に１／５であって、検出時間は２倍になるが、そ
の検出確率は変わらない。なお、例えば偶発的なノイズ
混入による誤検出については画素が特定されないことか
ら、例えば数１００万画素のうち同一の画素で１０回の
うち２回誤検出される確率は極めて低いものとなり事実
上０と見なせる。すなわち、判定基準を１回とした場合
には、誤検出分を欠陥画素として過剰検出するのに対
し、判定基準を２回とした場合には、このような誤検出
の確率はほぼ０とすることができる。なお、この判定基
準は、３回以上としても、２回の場合と比較した場合、
誤検出の確率は計算上の数値としては激減するものの、
事実上０と見なせるという作用効果においては実質的に
変わらず、単に検出時間が長くなるということになる。
従って、判定基準を２回とすることにより、点滅性欠陥
の検出確率は上記実施形態とほぼ同様でありながら、過
剰検出（誤検出）の確率を極めて小さくすることができ
る。

【００３８】上記では、ある１回の「欠陥検出動作」と
して「所定の複数回のテスト撮像、各回に対応する欠陥
判定、これらの判定結果による最終的な欠陥検出」が規
定されている。このような検出方法を一時検出法と呼ぶ
ことにすれば、一時検出法は （１）不揮発性メモリを必ずしも要しない。すなわち例
えば毎回のカメラ電源投入時に欠陥検出を行なって、そ
の結果を電源が切断されるまでに行なわれる毎回の撮影
における欠陥補償に適用するように構成することができ
る。 （２）カメラの製造工程（調整工程）における適用にも
好適であり、これによって検出した欠陥アドレスをカメ
ラの不揮発性メモリに書きこむことで、従来対応不可能
であった点滅性欠陥に対応したカメラを得ることができ
る。この場合には、検出時間に関する制約はカメラ本体
における自動調整機能に比較すればはるかに緩やかであ
るから、より精度の高い検出を行なうことが容易であ
る。 という特徴を有している。（１）、（２）いずれの場合
も（これらは１台のカメラに同時に採用することもでき
る）、検出に関する基本的な制御は同じである。図２に
この一時検出法を使用した場合の制御フローの例を示
す。

【００３９】一方、上記本実施形態のようにカメラ本体
の自動調整機能として具現化した場合には、「欠陥検出
動作」は必ずしも１回で完結するものではなく、各回の
検出時に過去の検出結果（中間的な判定結果を含む）を
新規検出における判定結果として再利用する、換言すれ
ば過去の情報を累積した形で今次の最終欠陥検出に利用
するように構成することも可能である。このような検出
方法を累積検出法と呼ぶことにする。

【００４０】累積検出法を採用した一変形例を示せば、
例えば各回のテスト撮像および欠陥判定はただ１回と
し、ｎ回目の欠陥検出においては「今回も含む過去ｎ回
（すなわち過去全て）の各回のテスト撮像およびそれに
伴う欠陥判定において２回以上欠陥と判定されたらこの
画素を最終的な欠陥とする」ようにすれば良い。この場
合、工場出荷後に後発的に発生した点滅欠陥について
は、発生直後の数回の検出において看過する可能性があ
るものの、その後の検出回数が増えるに従って、看過の
確率は限りなく０に近づく。図３（ただしＳ１４におけ
る分岐を無視したＳ１１〜Ｓ１５の制御）にこのような
方法（累積検出法１とする）の場合の制御フローを示
す。

【００４１】なお、この累積検出法１において上記した
「工場出荷後に後発的に発生した点滅欠陥について発生
直後の数回の検出において看過する可能性」があるとい
う問題を改善するには、始めの９回の検出まではただ１
回の検出によって最終的な欠陥と認定するようにすれば
良い。図３におけるＳ１４における分岐（Ｓ１６）はそ
のための処理である。（ただしこの場合、この処理が有
効な始めの９回の検出までは誤検出の危険を伴なう。）
またこの累積検出法１では、過去の全てのデータを使用
しているが、これを所定回数ｍに限って適用しても良
い。（累積検出法２とする）この場合の制御フローを図
４に示す。なお、Ｓ２４における分岐（Ｓ２６）は、累
積検出法１におけるＳ１４における分岐（Ｓ１６）と同
様の目的で適宜採否可能な処理である。

【００４２】上記した欠陥画素の検出（欠陥データの追
加登録を含む）が、カメラの制御全体の中でどのような
タイミングで行なわれるかを説明する制御の一例を図５
を参照して説明する。図５は、欠陥データの更新の流れ
を示すフローチャートである。

【００４３】まず、カメラのモードが記録モードから他
のモードへ移行しかどうか検知し（ステップＡ１）、記
録モードから他のモードへ移行した時点で欠陥画素の検
出を行う（ステップＡ４）。ここにおいて、記録モード
以外のモードとしては、例えば、再生モードやスタンバ
イモードがある。そして、欠陥画素の検出が終了した
ら、欠陥画素を追加登録する（ステップＡ５）。次に、
現在のモードが記録モードかどうか判定し（ステップＡ
２）、記録モードであれば、欠陥検出を行うことが好ま
しくないので、ステップＡ１に戻り、記録モードから他
のモードへの移行を監視する。ステップＡ２において、
記録モード以外のモードであれば、所定時間経過したか
どうか判定され（ステップＡ３）、所定時間が経過した
ら欠陥画素の検出を行い欠陥画素データの更新（アドレ
スの追加登録）を行なう（ステップＡ４）。すなわち、
このステップＡ４に相当するものが既に説明した図２〜
４の各欠陥検出制御であった訳だが、以下では特にこの
時（例えばＳ０４、Ｓ１３、Ｓ２３）に行なう欠陥アド
レスの登録に関して、補足説明する。

【００４４】上記のステップＡ４における欠陥画素の登
録は例えば次のように行われる。基本的に、検出された
欠陥画素のアドレスのうち登録欠陥と重複するものを除
去したものを、不揮発性メモリ４１に追加登録する。こ
のとき検出欠陥のデータを単純に既存の登録データと置
き換えるように構成しても良いが、欠陥画素の検出時に
おいて例えばノイズなど何らかの原因による検出ミスが
生じ、工場出荷時あるいはそれまでの経時劣化によって
欠陥であった画素を非欠陥として扱ってしまい、欠陥を
顕在化させてしまうおそれがある。これに対して本発明
においては、検出欠陥から既存の登録欠陥との重複を除
去したものを既存のデータに追加するようにしているの
で、一旦登録された欠陥が再び顕在化することを防止で
きる。

【００４５】上記のように、本発明においては、カメラ
が記録モードから記録以外のモードである再生モードや
スタンバイモードに移行する際に、欠陥画素の検出を行
うようにしている。このモードの移行時は基本的に撮影
を行わない場合であると考えられるので、欠陥画素の検
出にある程度の時間を要したとしても、タイムラグによ
る問題（すなわちシャッターチャンスを逃す等）の問題
が生じることはない。なお、この場合には、記録モード
において欠陥画素の検出・登録を行ってから、所定のモ
ードに移行することが好ましい。

【００４６】本発明は、上記の発明の実施の形態に限定
されるものではない。上記の実施形態においては、記録
モードから記録モード以外のモードへ移行する際や、記
録モード以外のモードにおいて所定時間経過時点で欠陥
画素の検出を行うようにしたが、記録モード以外のモー
ド間の移行（例えば、再生モードからスタンバイモード
への移行やその逆）の場合に欠陥画素の検出を行うよう
にしても良い。

【００４７】また、工場出荷時（あるいはこれに類する
所定時）に登録されたデータである初期登録データを基
準にして、検出欠陥データのうち初期登録データと異な
るものだけを初期登録データに毎回追加するようにして
も良い。これにより、非欠陥画素を欠陥画素と誤検出し
た場合にも、その結果が蓄積されることを防止できると
ともに、少なくとも初期登録データに関しては誤検出に
よって欠陥画素が非欠陥画素として顕在化することを防
止できるという効果を有している。

【００４８】なお、上記実施例で用いているＡ／Ｄ変換
器の量子化レベルについて、現実には、Ａ／Ｄ変換器の
ハードウェアの有する誤差特性の存在や、仮にそれが無
いとしても原理的に最小量子化レベル付近においては量
子化誤差は相対的には１００％にも相当することを考慮
すれば、上記実施例に関して実際の量子化に用いるＡ／
Ｄ変換器は画像処理系の量子化ビット数（実施例では８
ビット）よりも多い例えば１０ビットあるいは１２ビッ
ト程度（それ以上でも良い）のものを使用することがよ
り好ましく、これによって上記各演算式の演算に際して
誤差の影響を充分低減することができる。

【００４９】また、上記の実施形態では欠陥検出後に検
出欠陥の追加登録を行うようにしているが、これに限ら
ず検出欠陥の追加登録は欠陥画素の検出以後の任意の時
点で実行しても良く、記録モードに設定される以前の任
意の時点とすることが好ましい。

【００５０】上記の実施形態では記録モードから他のモ
ードへの移行時に毎回データの更新を行っているが、モ
ードの移行時毎でなく、例えば所定の数回毎に実行する
ようにしても良い。この場合データの更新回数が減るの
で消費電力を節約できる効果がある。

【００５１】更に、上記の実施形態では、遮光手段を用
いた欠陥検出によりいわゆる白欠陥のみを対象としてい
るが、撮像面への白色光（リファレンス光）の付与手段
を用いた欠陥検出によればいわゆる黒欠陥を含めて対象
とすることができる。

【００５２】本発明は、上記の発明の実施の形態に限定
されるものではない。本発明の要旨を変更しない範囲で
種々変形して実施できるのは勿論である。

【００５３】

【発明の効果】本発明によれば、テスト撮影を複数回行
い、所定の判定基準によって、欠陥画素を特定するよう
にしたので、点滅性欠陥を看過することなく撮影画像に
おいて欠陥が顕在化することがない。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施形態に係る撮像装置の概略ブロ
ック図。

【図２】 一時検出法による欠陥検出の流れを示すフロ
ーチャート。

【図３】 累積検出法１による欠陥検出の流れを示すフ
ローチャート。

【図４】 累積検出法２による欠陥検出の流れを示すフ
ローチャート。

【図５】 欠陥データの更新の流れを示すフローチャー
ト。

【符号の説明】

１１…レンズ群 １２…撮像素子 １３…撮像回路 １４…Ｄ変換器 １５…レンズ等駆動回路 ２０…着脱メモリ ２１…画像処理回路 ２２…圧縮伸長部 ２３…画素欠陥補償手段 ２５…内蔵メモリ ３０…画像表示用ＬＣＤ ３１…ＬＣＤドライバ ４０…システムコントローラ ４１…不揮発性メモリ ４６…操作部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木島 貴行 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内 Ｆターム(参考） 4M118 AA07 AB01 BA08 FA06 GC08 5C024 AX01 CX23 CX24 CX26 CX33 CY44 CY47 DX07 GX03 GY01 HX57

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 同一の撮像条件下で得られた複数の画像
   信号に基づいて撮像素子の欠陥画素アドレスを検出する
   ことを特徴とする撮像素子の欠陥検出方法。
2. 【請求項２】 同一の撮像条件下で得られた複数の画像
   信号について、各画像信号毎に所定の判定基準で欠陥判
   定を行い、 欠陥があると判定された回数が所定回数以上の画素アド
   レスを最終的な欠陥画素アドレスとして検出することを
   特徴とする撮像素子の欠陥検出方法。
3. 【請求項３】 請求項２に記載の撮像素子の欠陥検出方
   法において、前記所定回数は１回であることを特徴とす
   る撮像素子の欠陥検出方法。
4. 【請求項４】 請求項２に記載の撮像素子の欠陥検出方
   法において、前記所定回数は２回であることを特徴とす
   る撮像素子の欠陥検出方法。
5. 【請求項５】 撮像素子及び不揮発性メモリを備えた撮
   像装置の製造方法において、 請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の欠陥検出
   方法を用いて検出された欠陥画素アドレスの情報を、前
   記不揮発性メモリに記憶させることを特徴とする撮像装
   置の製造方法。
6. 【請求項６】 撮像素子と、前記撮像素子に被写体像を
   入力する撮像光学系と、前記撮像素子の欠陥画素アドレ
   ス情報を欠陥データとして登録する不揮発性メモリと、
   前記不揮発性メモリに登録された前記欠陥データに基づ
   いて前記欠陥画素のデータに対して当該欠陥画素の近隣
   画素データによる補償処理を行う欠陥補償手段とを備
   え、 前記不揮発性メモリに登録された欠陥データは請求項５
   に記載の撮像装置の製造方法によって記憶された欠陥画
   素アドレス情報であることを特徴とする撮像装置。
7. 【請求項７】 撮像素子と、前記撮像素子に被写体像を
   入力する撮像光学系と、前記撮像素子の出力に基づいて
   前記撮像素子の欠陥画素アドレスの検出を実行する欠陥
   データ検出手段とを備え、 前記欠陥データ検出手段は、同一の撮像条件下で得られ
   た複数の画像信号を総合的に解析することにより前記撮
   像素子の欠陥画素アドレスの検出を実行することを特徴
   とする撮像装置。
8. 【請求項８】 請求項７に記載の撮像装置において、前
   記欠陥判定を各画像信号毎に所定の判定基準で行い、 欠陥があると判定された回数が所定回数以上の画素アド
   レスを最終的な欠陥画素アドレスとして検出することを
   特徴とする撮像装置。
9. 【請求項９】 請求項８に記載の撮像装置において、上
   記所定回数は１回であることを特徴とする撮像装置。
10. 【請求項１０】 請求項８に記載の撮像装置において、
    上記所定回数は２回であることを特徴とする撮像装置。
11. 【請求項１１】 請求項７から請求項１０のいずれか１
    項に記載の撮像装置において、前記欠陥データ検出手段
    で検出された前記欠陥データに基づいて前記欠陥画素の
    データに対して当該欠陥画素の近隣画素データによる補
    償処理を行う欠陥補償手段を有したことを特徴とする撮
    像装置。
12. 【請求項１２】 請求項１１に記載の撮像装置におい
    て、前記撮像素子の欠陥画素アドレス情報を欠陥データ
    として登録する不揮発性メモリと、前記欠陥データの更
    新手段とを更に備え、 前記欠陥補償手段は、前記不揮発性メモリに登録された
    前記欠陥データに基づいて前記欠陥画素のデータに対し
    て当該欠陥画素の近隣画素データによる補償処理を行
    い、 前記更新手段は、前記欠陥データ検出手段によって新た
    に検出された新規検出欠陥データの欠陥画素アドレスの
    うち既に前記不揮発性メモリに登録されている欠陥画素
    アドレスと重複しない欠陥画素のみを前記不揮発性メモ
    リに追加登録することを特徴とする撮像装置。
13. 【請求項１３】 前記同一の撮像条件は少なくとも前記
    撮像素子に入力される光を遮断する遮光条件を含むこと
    を特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか１項に記載
    の欠陥検出方法、請求項５に記載の撮像装置の製造方
    法、又は請求項６〜請求項１２のいずれか１項に記載の
    撮像装置。