JP2003037531A5 - - Google Patents

Claims (11)

1. 複数の制御信号の各々のための一連の非相関ディザ信号を発生し、そして、該ディザ信号を並列に全ての制御信号に適用するために形成されたディザ信号発生器と、
   前記各並列適用制御信号に対応する性能評価尺度を前記ディザシーケンスにより測定し、そして、得られた一連の性能測定値を記憶するために形成された性能測定装置と、
   前記一連の性能測定値を前記各ディザシーケンスと相関させて各制御信号に関する一連の相関出力を生成するために形成された相関器と、
   各一連の相関器出力シーケンスを積分するために形成された積分器と、
   前記制御信号値にこれらの対応するディザ信号の値を加算するか、又は前記制御信号値からこれらの対応するディザ信号の値を減算するために形成された制御信号更新デバイスとからなり、
   前記加算又は減算は対応する積分された相関器出力の値による、
   ことを特徴とする適応コントローラ。
2. 前記性能測定装置は順方向エラー訂正装置である、
   ことを特徴とする請求項１に記載の適応コントローラ。
3. 前記性能測定装置はスペクトル形状測定装置である、
   ことを特徴とする請求項１に記載の適応コントローラ。
4. 前記性能測定装置はベースバンドアイパターン測定装置である、
   ことを特徴とする請求項１に記載の適応コントローラ。
5. 通信信号を受信し、該信号を複数の部分に分割するために接続された分波器と、
   前記信号の分割部分のうちの一つを受信し、増幅するためにそれぞれ接続された複数の利得制御増幅器と、
   前記信号の増幅分割部分を結合するために接続された結合器と、
   前記結合信号を受信し、そして、エラー信号を生成するために接続された決定及びアイモニター回路と、
   前記決定及びアイモニター回路から前記エラー信号を受信し、そして、前記利得制御増幅器の利得を制御する制御信号を生成するために形成された適応コントローラとからなり、
   前記適応コントローラは、
   複数の制御信号の各々のための一連の非相関ディザ信号を発生し、そして、該ディザ信号を並列に全ての制御信号に適用するために形成されたディザ信号発生器と、
   前記各並列適用制御信号に対応する性能評価尺度を前記ディザシーケンスにより測定し、そして、得られた一連の性能測定値を記憶するために形成された性能測定装置と、
   前記一連の性能測定値を前記各ディザシーケンスと相関させて各制御信号に関する一連の相関出力を生成するために形成された相関器と、
   各一連の相関器出力シーケンスを積分するために形成された積分器と、
   前記制御信号値にこれらの対応するディザ信号の値を加算するか、又は前記制御信号値からこれらの対応するディザ信号の値を減算するために形成された制御信号更新デバイスとからなり、
   前記加算又は減算は対応する積分された相関器出力の値による、
   ことを特徴とする適応等化器。
6. 前記性能測定装置は順方向エラー訂正装置である、ことを特徴とする請求項５に記載の適応等化器。
7. 前記性能測定装置はスペクトル形状測定装置である、ことを特徴とする請求項５に記載の適応等化器。
8. 前記性能測定装置はベースバンドアイパターン測定装置である、ことを特徴とする請求項５に記載の適応等化器。
9. (A)対応する一連の非相関ディザ信号を複数の制御信号に同時に適用するステップと、
   (B)ディザ化制御信号の同時適用にそれぞれ対応するプロセスの性能を測定し、そして、前記制御信号の連続的な並列適用による性能測定を反復するステップと、
   (C)得られた一連の性能測定値を記憶するステップと、
   (D)各制御信号に関する一連の相関器出力を生成するために、前記一連の性能測定値を各ディザシーケンスと相関させるステップと、
   (E)各一連の相関器出力シーケンスを積分するステップと、
   (F)前記制御信号値にこれらの対応するディザ信号を加算するか、又は前記制御信号値からこれらの対応するディザ信号を減算するステップとからなり、
   前記加算又は減算は対応する積分された相関器出力の値による、
   ことを特徴とするプロセスの適応制御方法。
10. 前記（Ｂ）ステップは、（Ｂ１）順方向エラー訂正装置をモニターするステップからなる、ことを特徴とする請求項９に記載の適応等化方法。
11. (A)通信信号を受信し、該信号を複数の部分に分割するステップと、
    (B)前記信号の分割部分の各々を利得制御増幅器で増幅するステップと、
    (C)前記信号の増幅分割部分を結合するステップと、
    (D)前記結合信号を受信し、そして、エラー信号を生成するステップと、
    (E)前記利得制御増幅器を制御する制御信号を適応的に制御するステップとからなり、
    前記利得制御増幅器を制御する制御信号の適応制御は、
    (F)対応する一連の非相関ディザ信号を複数の制御信号に同時に適用するステップと、
    (G)ディザ化制御信号の同時適用にそれぞれ対応するプロセスの性能を測定し、そして、前記制御信号の連続的な並列適用による性能測定を反復するステップと、
    (H)得られた一連の性能測定値を記憶するステップと、
    (I)各制御信号に関する一連の相関器出力を生成するために、前記一連の性能測定値を各ディザシーケンスと相関させるステップと、
    (J)各一連の相関器出力シーケンスを積分するステップと、
    (K)前記制御信号値にこれらの対応するディザ信号を加算するか、又は前記制御信号値からこれらの対応するディザ信号を減算し、前記加算又は減算は対応する積分された相関器出力の値によるステップとにより行われる、
    ことを特徴とする適応等化方法。