JP2003004587A - 光線路試験監視システム - Google Patents
光線路試験監視システムInfo
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- JP2003004587A JP2003004587A JP2001186934A JP2001186934A JP2003004587A JP 2003004587 A JP2003004587 A JP 2003004587A JP 2001186934 A JP2001186934 A JP 2001186934A JP 2001186934 A JP2001186934 A JP 2001186934A JP 2003004587 A JP2003004587 A JP 2003004587A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 広帯域通信システムに適応可能で、経済的な
光線路試験システムを提供すること。 【解決手段】 光伝送装置２、３を接続する光ファイバ
ケーブルの光ファイバ４に試験光を入出力する光カプラ
１０と、光伝送装置２の直前に配設され、通信光を透過
し、試験光を遮断するフィルタ１１ａと、光ファイバ４
の伝送特性を測定する測定手段と、該測定手段を制御す
る制御手段とを含む光試験装置５と、光試験装置５を遠
隔操作する操作端末とを含んで構成される光線路試験監
視システムであって、フィルタ１１ａはTb3+希土類元素
イオンをコアまたはコアとクラッドに添加した光ファイ
バ（Tb3+添加光ファイバ）で構成されている。
光線路試験システムを提供すること。 【解決手段】 光伝送装置２、３を接続する光ファイバ
ケーブルの光ファイバ４に試験光を入出力する光カプラ
１０と、光伝送装置２の直前に配設され、通信光を透過
し、試験光を遮断するフィルタ１１ａと、光ファイバ４
の伝送特性を測定する測定手段と、該測定手段を制御す
る制御手段とを含む光試験装置５と、光試験装置５を遠
隔操作する操作端末とを含んで構成される光線路試験監
視システムであって、フィルタ１１ａはTb3+希土類元素
イオンをコアまたはコアとクラッドに添加した光ファイ
バ（Tb3+添加光ファイバ）で構成されている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信サービスに
影響を与えることなく光ファイバケーブルを試験・監視
する光通信設備の光線路試験監視システムに関する。
影響を与えることなく光ファイバケーブルを試験・監視
する光通信設備の光線路試験監視システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光線路試験監視システムとして
は、特願昭６３−１８６１６９号に記載のシステムがあ
る。図２に基づいて従来の光線路試験監視システムにつ
いて説明する。図２において、１は電気通信設備を設置
する通信設備ビル、２は通信設備ビルに設置された伝送
装置、３は通信設備ビル１と異なる通信設備ビルまたは
ユーザ宅に設置された通信設備ビル１に設置された伝送
装置２に対向する伝送装置、４は伝送装置２と伝送装置
３とを接続する光ファイバ、６は設備管理センタ、７は
光線路設備のデータベース、８は光試験装置５を遠隔で
操作する操作端末である。
は、特願昭６３−１８６１６９号に記載のシステムがあ
る。図２に基づいて従来の光線路試験監視システムにつ
いて説明する。図２において、１は電気通信設備を設置
する通信設備ビル、２は通信設備ビルに設置された伝送
装置、３は通信設備ビル１と異なる通信設備ビルまたは
ユーザ宅に設置された通信設備ビル１に設置された伝送
装置２に対向する伝送装置、４は伝送装置２と伝送装置
３とを接続する光ファイバ、６は設備管理センタ、７は
光線路設備のデータベース、８は光試験装置５を遠隔で
操作する操作端末である。
【０００３】また、９は設備管理センタ６と通信設備ビ
ル７との間を接続する通信網、１４は操作端末８からの
試験指示を受け取り、また試験結果を設備センタに送信
する試験制御装置、１５は光パルス試験器（ＯＴＤ
Ｒ）、損失試験光源、心線対照光源、パワーメータの各
機能を有する光測定器、１６は試験を実施する光ファイ
バ心線を選択する心線選択装置、１７は光測定器１５と
心線選択装置１６を選択する光測定器・試験架選択装置
（ＦＴＥＳ）、５は試験制御装置１４、光測定器１５、
心線選択装置１６、ＦＴＥＳ１７を搭載した光試験装置
である。
ル７との間を接続する通信網、１４は操作端末８からの
試験指示を受け取り、また試験結果を設備センタに送信
する試験制御装置、１５は光パルス試験器（ＯＴＤ
Ｒ）、損失試験光源、心線対照光源、パワーメータの各
機能を有する光測定器、１６は試験を実施する光ファイ
バ心線を選択する心線選択装置、１７は光測定器１５と
心線選択装置１６を選択する光測定器・試験架選択装置
（ＦＴＥＳ）、５は試験制御装置１４、光測定器１５、
心線選択装置１６、ＦＴＥＳ１７を搭載した光試験装置
である。
【０００４】さらに、１０は試験光と通信光を合分波し
て光ファイバ４に結合させる光カプラ、１１は通信光を
透過し、試験光を遮断するフィルタ、１２は光カプラ１
０とフィルタ１１で構成される光カプラモジュール、１
３は伝送装置３の直前に設置され、通信光を透過し試験
光を遮断するとともに、開放端でのフレネル反射よりも
大きな試験光の反射を発生させるターミネーションフィ
ルタである。
て光ファイバ４に結合させる光カプラ、１１は通信光を
透過し、試験光を遮断するフィルタ、１２は光カプラ１
０とフィルタ１１で構成される光カプラモジュール、１
３は伝送装置３の直前に設置され、通信光を透過し試験
光を遮断するとともに、開放端でのフレネル反射よりも
大きな試験光の反射を発生させるターミネーションフィ
ルタである。
【０００５】図２に示した従来の光線路監視試験システ
ムを用いて障害を検知する例について説明する。まず、
設備管理センタ６にある操作端末８からデータベース７
に基づいて試験命令を光試験装置５に送出する。この命
令に従って、光試験装置５の試験制御装置１４は、光測
定器１５をＦＴＥＳ１７で選択し、光カプラの試験光入
出力ポートを収容している心線選択装置１６は、指定さ
れた光ファイバが接続された光カプラモジュール１２の
試験光入力ポートを選択する。
ムを用いて障害を検知する例について説明する。まず、
設備管理センタ６にある操作端末８からデータベース７
に基づいて試験命令を光試験装置５に送出する。この命
令に従って、光試験装置５の試験制御装置１４は、光測
定器１５をＦＴＥＳ１７で選択し、光カプラの試験光入
出力ポートを収容している心線選択装置１６は、指定さ
れた光ファイバが接続された光カプラモジュール１２の
試験光入力ポートを選択する。
【０００６】光測定器５からの試験光が、光通信サービ
スに影響を与えないように、フィルタ１１とターミネー
ションケーブル１３を伝送装置２と３の前にそれぞれ設
置されている。これにより、試験装置５から指定された
光ファイバのインサービス試験が可能となる。また、伝
送装置の故障と光ファイバ区間（光線路）での故障を切
り分けるため、ターミネーションフィルタ１３は、試験
光を開放端のフレネル反射よりも大きく反射するように
設計されている。通常、光ファイバの開放端のフレネル
反射は約−１５ｄＢである。例えばターミネーションフ
ィルタ１３の試験光の反射を−１２ｄＢ以下に設定した
場合、反射値が減少することによって光線路の故障（破
断）であることが判定できる。
スに影響を与えないように、フィルタ１１とターミネー
ションケーブル１３を伝送装置２と３の前にそれぞれ設
置されている。これにより、試験装置５から指定された
光ファイバのインサービス試験が可能となる。また、伝
送装置の故障と光ファイバ区間（光線路）での故障を切
り分けるため、ターミネーションフィルタ１３は、試験
光を開放端のフレネル反射よりも大きく反射するように
設計されている。通常、光ファイバの開放端のフレネル
反射は約−１５ｄＢである。例えばターミネーションフ
ィルタ１３の試験光の反射を−１２ｄＢ以下に設定した
場合、反射値が減少することによって光線路の故障（破
断）であることが判定できる。
【０００７】次に、インサービス試験の測定結果を示
す。このときの試験波長は1.65μｍであり、フィルタ１
１は、誘電体多層膜型光フィルタである。誘電体多層膜
は、屈折率の異なる薄い膜を幾層も石英ガラスなどに積
層した多層膜構造を形成しており、光ファイバや光コネ
クタ部分に特定の角度で挿入することによって、1.65μ
ｍの試験光のみをクラッドに反射させ、透過・遮断波長
帯域や遮断波長の反射量を調節できる。このフィルタ１
１の光学特性は、図５（ａ）に示すように、1.29μｍ〜
1.58μｍの範囲で1.０ｄＢ以下の透過損失であり、1.58
〜1.64μｍの帯域は透過損失が徐々に増加し、試験光1.
65μｍでは約４０ｄＢの遮断量を有している。
す。このときの試験波長は1.65μｍであり、フィルタ１
１は、誘電体多層膜型光フィルタである。誘電体多層膜
は、屈折率の異なる薄い膜を幾層も石英ガラスなどに積
層した多層膜構造を形成しており、光ファイバや光コネ
クタ部分に特定の角度で挿入することによって、1.65μ
ｍの試験光のみをクラッドに反射させ、透過・遮断波長
帯域や遮断波長の反射量を調節できる。このフィルタ１
１の光学特性は、図５（ａ）に示すように、1.29μｍ〜
1.58μｍの範囲で1.０ｄＢ以下の透過損失であり、1.58
〜1.64μｍの帯域は透過損失が徐々に増加し、試験光1.
65μｍでは約４０ｄＢの遮断量を有している。
【０００８】ターミネーションフィルタ１３は、ファイ
バブラッググレーティング（以下ＦＢＧと称する）を用
いた光フィルタである。ＦＢＧ型光フィルタは光ファイ
バに紫外線を照射して、ファイバのコアまたはコアとク
ラッドの長手方向に、数百ｎｍ程度の周期で数万本の屈
折率の異なる格子を形成する。この屈折率変調の周期条
件がブラッグの反射条件を満たすことにより、特定波長
のみを反射させ、それ以外の波長は透過させる。ここで
用いたターミネーションフィルタ１３は図５（ｂ）に示
すように、1.65μｍ帯試験光を反射減衰量−４ｄＢで反
射し、1.29μｍ〜1.625μｍ帯の通信光を0.8ｄＢ以下で
透過する特性を有している。
バブラッググレーティング（以下ＦＢＧと称する）を用
いた光フィルタである。ＦＢＧ型光フィルタは光ファイ
バに紫外線を照射して、ファイバのコアまたはコアとク
ラッドの長手方向に、数百ｎｍ程度の周期で数万本の屈
折率の異なる格子を形成する。この屈折率変調の周期条
件がブラッグの反射条件を満たすことにより、特定波長
のみを反射させ、それ以外の波長は透過させる。ここで
用いたターミネーションフィルタ１３は図５（ｂ）に示
すように、1.65μｍ帯試験光を反射減衰量−４ｄＢで反
射し、1.29μｍ〜1.625μｍ帯の通信光を0.8ｄＢ以下で
透過する特性を有している。
【０００９】次に、図３に光ファイバ４の測定結果を示
す。図３（ａ）は正常な光ファイバ４の測定結果であ
り、ターミネーションフィルタ１３において試験光が約
−４ｄＢで反射している。図３（ｂ）は途中で光ファイ
バ４が断線し、測定した光ファイバが開放端になったと
きのＯＴＤＲ測定波形である。破断点での反射は約−１
５ｄＢであった。図３（ｂ）に示すように、ターミネー
ションフィルタ１３の反射よりも小さい反射が光ファイ
バ端に出ている場合、光ファイバ４の区間で障害が発生
していることが分かる。つまり、光ファイバ４の区間全
てを測定したＯＴＤＲ波形を解析しなくても、ターミネ
ーションフィルタ１３の反射量を基準としてすぐに判定
できるので、迅速な故障切分方法として有効である。
す。図３（ａ）は正常な光ファイバ４の測定結果であ
り、ターミネーションフィルタ１３において試験光が約
−４ｄＢで反射している。図３（ｂ）は途中で光ファイ
バ４が断線し、測定した光ファイバが開放端になったと
きのＯＴＤＲ測定波形である。破断点での反射は約−１
５ｄＢであった。図３（ｂ）に示すように、ターミネー
ションフィルタ１３の反射よりも小さい反射が光ファイ
バ端に出ている場合、光ファイバ４の区間で障害が発生
していることが分かる。つまり、光ファイバ４の区間全
てを測定したＯＴＤＲ波形を解析しなくても、ターミネ
ーションフィルタ１３の反射量を基準としてすぐに判定
できるので、迅速な故障切分方法として有効である。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】近年、ＤＷＤＭ（Dens
e Wavelength Division Multiplexing）方式では、
通信光波長帯域として1.26〜1.625μｍまで使用する場
合があり、試験光は通信光波長帯域を避けた1.65μｍ帯
を使用している。しかし、従来例の誘電体多層膜型のフ
ィルタ１１では、挿入角度の調整において所望の損失と
反射両方の特性を得るためには、0.1度以下の精度が必
要となり、製造工程に非常に微妙な調整が必要となり、
コストが割高となる。
e Wavelength Division Multiplexing）方式では、
通信光波長帯域として1.26〜1.625μｍまで使用する場
合があり、試験光は通信光波長帯域を避けた1.65μｍ帯
を使用している。しかし、従来例の誘電体多層膜型のフ
ィルタ１１では、挿入角度の調整において所望の損失と
反射両方の特性を得るためには、0.1度以下の精度が必
要となり、製造工程に非常に微妙な調整が必要となり、
コストが割高となる。
【００１１】また、誘電体多層膜の形成において、理想
的には各層の膜厚を均一に整えるべきであるが、製造上
の膜厚の揺らぎの制御が困難であることから、フィルタ
遮断特性の立ち上がりが鈍い（（図５（ａ））。したが
って、誘電体多層膜型フィルタは上記の通信帯域に適用
することができない。一方、ＦＢＧ型フィルタはその作
成方法として、電子描画などを用いて作成した格子マス
クを用い、紫外線を干渉させて光ファイバヘ照射を行
い、誘電体多層膜型に比べて、屈折率変調の周期性がよ
く、ＦＢＧ型フィルタの遮断特性の立ち上がりは非常に
シャープである（図５（ｂ））。
的には各層の膜厚を均一に整えるべきであるが、製造上
の膜厚の揺らぎの制御が困難であることから、フィルタ
遮断特性の立ち上がりが鈍い（（図５（ａ））。したが
って、誘電体多層膜型フィルタは上記の通信帯域に適用
することができない。一方、ＦＢＧ型フィルタはその作
成方法として、電子描画などを用いて作成した格子マス
クを用い、紫外線を干渉させて光ファイバヘ照射を行
い、誘電体多層膜型に比べて、屈折率変調の周期性がよ
く、ＦＢＧ型フィルタの遮断特性の立ち上がりは非常に
シャープである（図５（ｂ））。
【００１２】そこで、光カプラモジュール１２のフィル
タ１１として、ターミネーションフィルタ１３で用いた
ＦＢＧ型フィルタを用いるとする。図４に上記の従来例
と同様に測定したＯＴＤＲ測定波形を示す。光試験装置
５の光パルス試験器（ＯＴＤＲ）から光カプラ１０を介
して光ファイバ４に入射された試験光がターミネーショ
ンフィルタ１３で反射されて、通信設備ビル１側に戻
り、さらにフィルタ１１で反射するため、図４に示すよ
うなゴースト反射が観測されるので、光ファイバ４の正
確な測定ができなくなる。
タ１１として、ターミネーションフィルタ１３で用いた
ＦＢＧ型フィルタを用いるとする。図４に上記の従来例
と同様に測定したＯＴＤＲ測定波形を示す。光試験装置
５の光パルス試験器（ＯＴＤＲ）から光カプラ１０を介
して光ファイバ４に入射された試験光がターミネーショ
ンフィルタ１３で反射されて、通信設備ビル１側に戻
り、さらにフィルタ１１で反射するため、図４に示すよ
うなゴースト反射が観測されるので、光ファイバ４の正
確な測定ができなくなる。
【００１３】したがって、フィルタ１１は通信光帯域
（1.26〜1.625μｍ）の損失が小さく、1.65μｍ帯の試
験光遮断量が大きくかつ、試験光の反射量を抑え、さら
にフィルタの遮断特性の立ち上がりが急峻である特性を
もち、ＤＷＤＭ方式に適応可能な光線路試験監視システ
ムである必要がある。本発明はこのような事情に鑑みて
なされたものであり、広帯域通信システムに適応可能
で、経済的な光線路試験システムを提供することを目的
とする。
（1.26〜1.625μｍ）の損失が小さく、1.65μｍ帯の試
験光遮断量が大きくかつ、試験光の反射量を抑え、さら
にフィルタの遮断特性の立ち上がりが急峻である特性を
もち、ＤＷＤＭ方式に適応可能な光線路試験監視システ
ムである必要がある。本発明はこのような事情に鑑みて
なされたものであり、広帯域通信システムに適応可能
で、経済的な光線路試験システムを提供することを目的
とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載の発明は、光伝送装置を接続する光
ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光
カプラと、光伝送装置の直前に配設され、通信光を透過
し、試験光を遮断するフィルタと、前記光ファイバの伝
送特性を測定する測定手段と、該測定手段を制御する制
御手段とを含む光試験装置と、該光試験装置を遠隔操作
する操作端末とを含んで構成される光線路試験監視シス
テムにおいて、前記フィルタはTb3+希土類元素イオンを
コアまたはコアとクラッドに添加した光ファイバ（以
下、Tb3+添加光ファイバと称する）で構成されたことを
特徴とする。
に、請求項1に記載の発明は、光伝送装置を接続する光
ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光
カプラと、光伝送装置の直前に配設され、通信光を透過
し、試験光を遮断するフィルタと、前記光ファイバの伝
送特性を測定する測定手段と、該測定手段を制御する制
御手段とを含む光試験装置と、該光試験装置を遠隔操作
する操作端末とを含んで構成される光線路試験監視シス
テムにおいて、前記フィルタはTb3+希土類元素イオンを
コアまたはコアとクラッドに添加した光ファイバ（以
下、Tb3+添加光ファイバと称する）で構成されたことを
特徴とする。
【００１５】また、請求項２に記載の発明は、請求項１
に記載の光線路試験監視システムにおいて、Tb3+希土類
元素イオンをコアまたはコアとクラッドに添加した前記
光ファイバは、特定試験波長を反射するグレーティング
構造を有することを特徴とする。
に記載の光線路試験監視システムにおいて、Tb3+希土類
元素イオンをコアまたはコアとクラッドに添加した前記
光ファイバは、特定試験波長を反射するグレーティング
構造を有することを特徴とする。
【００１６】本発明によれば、光線路試験監視システム
において、光伝送装置間を接続する被試験対象である光
ファイバにおける光伝送装置の直前に配設されるフィル
タの特性を、試験光の遮断量が大きくかつ、試験光の反
射量を抑え、さらにフィルタの遮断特性を急峻にするこ
とによって、広帯域通信システムに適応可能で、経済的
な光線路試験システムを実現することができる。
において、光伝送装置間を接続する被試験対象である光
ファイバにおける光伝送装置の直前に配設されるフィル
タの特性を、試験光の遮断量が大きくかつ、試験光の反
射量を抑え、さらにフィルタの遮断特性を急峻にするこ
とによって、広帯域通信システムに適応可能で、経済的
な光線路試験システムを実現することができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して詳細に説明する。本発明の第１の実施の形態
に係る光線路試験監視システムの構成を図１に示す。な
お、図３に示した従来システムにおいて説明した同一符
号の構成要素は、構成が同一であるので、重複する説明
を省略する。
を参照して詳細に説明する。本発明の第１の実施の形態
に係る光線路試験監視システムの構成を図１に示す。な
お、図３に示した従来システムにおいて説明した同一符
号の構成要素は、構成が同一であるので、重複する説明
を省略する。
【００１８】同図において、本発明の実施形態に係る光
線路試験監視システムは、光伝送装置２、３を接続する
光ファイバケーブルの光ファイバ４に試験光を入出力す
る光カプラ１０と、光伝送装置２の直前に配設され、通
信光を透過し、試験光を遮断するフィルタ１１ａと、光
ファイバ４の伝送特性を測定する測定手段と、該測定手
段を制御する制御手段とを含む光試験装置５と、光試験
装置５を遠隔操作する操作端末とを含んで構成される光
線路試験監視システムであって、フィルタ１１ａはTb3+
希土類元素イオンをコアまたはコアとクラッドに添加し
た光ファイバ（Tb3+添加光ファイバ）で構成されたこと
を特徴としている。ここで、測定手段とは、図１で、省
略している光試験装置５内の光測定器１５、心線選択装
置１６及びＦＴＥＳ１７（図３参照）に相当し、制御手
段とは、図１で、省略している光試験装置５内の試験制
御装置１４（図３参照）に相当する。
線路試験監視システムは、光伝送装置２、３を接続する
光ファイバケーブルの光ファイバ４に試験光を入出力す
る光カプラ１０と、光伝送装置２の直前に配設され、通
信光を透過し、試験光を遮断するフィルタ１１ａと、光
ファイバ４の伝送特性を測定する測定手段と、該測定手
段を制御する制御手段とを含む光試験装置５と、光試験
装置５を遠隔操作する操作端末とを含んで構成される光
線路試験監視システムであって、フィルタ１１ａはTb3+
希土類元素イオンをコアまたはコアとクラッドに添加し
た光ファイバ（Tb3+添加光ファイバ）で構成されたこと
を特徴としている。ここで、測定手段とは、図１で、省
略している光試験装置５内の光測定器１５、心線選択装
置１６及びＦＴＥＳ１７（図３参照）に相当し、制御手
段とは、図１で、省略している光試験装置５内の試験制
御装置１４（図３参照）に相当する。
【００１９】光カプラモジュール１２のフィルタ１１ａ
は、Tb3+添加光ファイバであり、光カプラ１０の通信光
ポートに接続されている。Tb3+添加光ファイバは、Tb3+
の7F6→7F0の吸収帯の裾が1.65μｍまで広がり、また1.
2〜1.6μｍにおいてほとんど吸収損失がないため、この
Tb3+添加光ファイバを通信光と試験光が通過すると、試
験光1.65μｍのみが遮断される。Tb3+添加光ファイバTb
3+を高濃度に添加し、またファイバ長を長くすることに
よってフィルタの遮断特性を容易に増加させ、試験光遮
断量を自在に決定することが可能である。
は、Tb3+添加光ファイバであり、光カプラ１０の通信光
ポートに接続されている。Tb3+添加光ファイバは、Tb3+
の7F6→7F0の吸収帯の裾が1.65μｍまで広がり、また1.
2〜1.6μｍにおいてほとんど吸収損失がないため、この
Tb3+添加光ファイバを通信光と試験光が通過すると、試
験光1.65μｍのみが遮断される。Tb3+添加光ファイバTb
3+を高濃度に添加し、またファイバ長を長くすることに
よってフィルタの遮断特性を容易に増加させ、試験光遮
断量を自在に決定することが可能である。
【００２０】ここで用いたフィルタ１１ａは光ファイバ
のコアにTb3+イオンを４０００ｐｐｍ添加したシングル
モードファイバであり、長さは１５ｍである。1.65μｍ
帯の損失は約２０ｄＢであり、1.26μｍ〜1.625μｍ帯
の通信光の損失は１ｄＢ以下であった（図７（ａ））。
のコアにTb3+イオンを４０００ｐｐｍ添加したシングル
モードファイバであり、長さは１５ｍである。1.65μｍ
帯の損失は約２０ｄＢであり、1.26μｍ〜1.625μｍ帯
の通信光の損失は１ｄＢ以下であった（図７（ａ））。
【００２１】上記構成からなる本実施形態に係る光線路
試験監視システムにより、1.625μｍまでを通信波長帯
域として使用しているＤＷＤＭ用通信システムが導入さ
れている光ファイバに対して、インサービス試験を行っ
ても通信に影響を与えることなく、かつ正常にＯＴＤＲ
測定波形が得られた。本実施の形態に係るフィルタ１１
ａは、光ファイバとの接続損失が少なく、またコネクタ
付け加工を施すことが容易であり、製造工程が簡易にな
ることから、安価な光線路試験監視システムを提供する
ことができる。
試験監視システムにより、1.625μｍまでを通信波長帯
域として使用しているＤＷＤＭ用通信システムが導入さ
れている光ファイバに対して、インサービス試験を行っ
ても通信に影響を与えることなく、かつ正常にＯＴＤＲ
測定波形が得られた。本実施の形態に係るフィルタ１１
ａは、光ファイバとの接続損失が少なく、またコネクタ
付け加工を施すことが容易であり、製造工程が簡易にな
ることから、安価な光線路試験監視システムを提供する
ことができる。
【００２２】次に、本発明の第２の実施の形態に係る光
線路試験監視システムについて説明する。本実施形態に
係る光線路試験監視システムが第１の実施形態に係る光
線路試験監視システムと構成上異なるのは、図８に示す
ように、第１の実施形態で説明したTb3+添加光ファイバ
にＦＢＧ構造を形成させたファイバをフィルタ１１ａに
用いた点であり、他の構成は第１の実施形態に係る光線
路試験監視システムと同一である。
線路試験監視システムについて説明する。本実施形態に
係る光線路試験監視システムが第１の実施形態に係る光
線路試験監視システムと構成上異なるのは、図８に示す
ように、第１の実施形態で説明したTb3+添加光ファイバ
にＦＢＧ構造を形成させたファイバをフィルタ１１ａに
用いた点であり、他の構成は第１の実施形態に係る光線
路試験監視システムと同一である。
【００２３】図８において、Ａは伝送装置２側のポー
ト、Ｂは光ファイバ４側のポートを示す。このフィルタ
１１ａの光学特性は、Tb3+の吸収による試験光の損失が
生じ、さらにＦＢＧで試験光は反射されるので、ポート
Ｂ−Ａ間の試験光透過損がさらに増加し、図７（ｂ）に
示すような立ち上がりが非常にシャープな遮断特性を得
ることができる。
ト、Ｂは光ファイバ４側のポートを示す。このフィルタ
１１ａの光学特性は、Tb3+の吸収による試験光の損失が
生じ、さらにＦＢＧで試験光は反射されるので、ポート
Ｂ−Ａ間の試験光透過損がさらに増加し、図７（ｂ）に
示すような立ち上がりが非常にシャープな遮断特性を得
ることができる。
【００２４】図３に示した従来の光線路試験監視システ
ムで説明したフィルタ１１にＦＢＧを用いた場合には、
ターミネーションフィルタ１３との間で多重反射が生
じ、ＯＴＤＲ測定波形上に異常な反射が見られる（図
５）が、本発明ではＦＢＧによる試験光の反射はTb3+添
加光ファイバに吸収されるため、その問題は生じない。
このことにより本実施形態に係る光線路試験監視システ
ムでは、広帯域な波長を用いる通信システムに適応する
ことができる。
ムで説明したフィルタ１１にＦＢＧを用いた場合には、
ターミネーションフィルタ１３との間で多重反射が生
じ、ＯＴＤＲ測定波形上に異常な反射が見られる（図
５）が、本発明ではＦＢＧによる試験光の反射はTb3+添
加光ファイバに吸収されるため、その問題は生じない。
このことにより本実施形態に係る光線路試験監視システ
ムでは、広帯域な波長を用いる通信システムに適応する
ことができる。
【００２５】本発明の第１、第２の実施形態に係る光線
路試験監視システムにおけるフィルタ１１ａは図２に示
した局内ケーブル１８にフィルタ１１ｂ（フィルタ１１
ａと同一構成のフィルタ）を設けても同様の効果が得ら
れた。以上、本発明の第１、第２の実施の形態に係る光
線路試験監視システムのフィルタ１１ａ（１１ｂ）の特
性を、光ファイバとの結合が容易で、試験光の遮断量が
大きくかつ、試験光の反射量を抑え、さらにフィルタの
遮断特性を急峻にすることによって、広帯域通信システ
ムに適応可能で、経済的な光線路試験監視システムを実
現することができる。
路試験監視システムにおけるフィルタ１１ａは図２に示
した局内ケーブル１８にフィルタ１１ｂ（フィルタ１１
ａと同一構成のフィルタ）を設けても同様の効果が得ら
れた。以上、本発明の第１、第２の実施の形態に係る光
線路試験監視システムのフィルタ１１ａ（１１ｂ）の特
性を、光ファイバとの結合が容易で、試験光の遮断量が
大きくかつ、試験光の反射量を抑え、さらにフィルタの
遮断特性を急峻にすることによって、広帯域通信システ
ムに適応可能で、経済的な光線路試験監視システムを実
現することができる。
【００２６】
【発明の効果】本発明によれば、光線路試験監視システ
ムにおいて、光伝送装置間を接続する被試験対象である
光ファイバにおける光伝送装置の直前に配設されるフィ
ルタの特性を、光ファイバとの結合が容易で、試験光の
遮断量が大きくかつ、試験光の反射量を抑え、さらにフ
ィルタの遮断特性を急峻にすることによって、広帯域通
信システムに適応可能で、経済的な光線路試験監視シス
テムを実現することができる。
ムにおいて、光伝送装置間を接続する被試験対象である
光ファイバにおける光伝送装置の直前に配設されるフィ
ルタの特性を、光ファイバとの結合が容易で、試験光の
遮断量が大きくかつ、試験光の反射量を抑え、さらにフ
ィルタの遮断特性を急峻にすることによって、広帯域通
信システムに適応可能で、経済的な光線路試験監視シス
テムを実現することができる。
【図１】 本発明の実施の形態に係る光線路試験監視シ
ステムの構成の一例を示すブロック図。
ステムの構成の一例を示すブロック図。
【図２】 本発明の実施の形態に係る光線路試験監視シ
ステムの構成の他の例を示すブロック図。
ステムの構成の他の例を示すブロック図。
【図３】 従来の光線路試験監視システムの構成を示す
ブロック図。
ブロック図。
【図４】 光ファイバのＯＴＤＲ測定波形の一例を示す
波形図。
波形図。
【図５】 光ファイバのＯＴＤＲ測定波形の他の例を示
す波形図。
す波形図。
【図６】 従来の光線路試験監視システムに設けられて
いるフィルタの特性を示す特性図。
いるフィルタの特性を示す特性図。
【図７】 本発明の実施形態に係る光線路試験監視シス
テムに設けられているフィルタの特性を示す特性図。
テムに設けられているフィルタの特性を示す特性図。
【図８】 本発明の実施形態に係る光線路試験監視シス
テムにおける光カプラの構成を示す図。
テムにおける光カプラの構成を示す図。
１ 通信設備ビル
２、３ 伝送装置
４ 光ファイバ
５ 光試験装置
６ 設備管理センタ
７ データベース
８ 操作端末
９ 通信網
１０ 光カプラ
１１、１１ａ、１１ｂ フィルタ
１２ 光カプラモジュール
１３ ターミネーションフィルタ
１４ 試験制御装置
１５ 光測定器
１６ 心線選択装置
１７ ＦＴＥＳ
１８ 局内ケーブル
Claims (2)
- 【請求項１】 光伝送装置を接続する光ファイバケーブ
ルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラと、光伝
送装置の直前に配設され、通信光を透過し、試験光を遮
断するフィルタと、前記光ファイバの伝送特性を測定す
る測定手段と、該測定手段を制御する制御手段とを含む
光試験装置と、該光試験装置を遠隔操作する操作端末と
を含んで構成される光線路試験監視システムにおいて、
前記フィルタはTb3+希土類元素イオンをコアまたはコア
とクラッドに添加した光ファイバで構成されたことを特
徴とする光線路試験監視システム。 - 【請求項２】 Tb3+希土類元素イオンをコアまたはコア
とクラッドに添加した前記光ファイバは、特定試験波長
を反射するグレーティング構造を有することを特徴とす
る請求項１に記載の光線路試験監視システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001186934A JP2003004587A (ja) | 2001-06-20 | 2001-06-20 | 光線路試験監視システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001186934A JP2003004587A (ja) | 2001-06-20 | 2001-06-20 | 光線路試験監視システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003004587A true JP2003004587A (ja) | 2003-01-08 |
Family
ID=19026302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001186934A Pending JP2003004587A (ja) | 2001-06-20 | 2001-06-20 | 光線路試験監視システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003004587A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008139271A (ja) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光心線特定装置及び光心線特定方法 |
| JP2008309958A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバの終端状態判定方法 |
| CN109951225A (zh) * | 2019-03-19 | 2019-06-28 | 济南益豪环保技术有限公司 | 一种集成多样化网路传输性能测试装置及测试方法 |
-
2001
- 2001-06-20 JP JP2001186934A patent/JP2003004587A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008139271A (ja) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光心線特定装置及び光心線特定方法 |
| JP2008309958A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバの終端状態判定方法 |
| CN109951225A (zh) * | 2019-03-19 | 2019-06-28 | 济南益豪环保技术有限公司 | 一种集成多样化网路传输性能测试装置及测试方法 |
| CN109951225B (zh) * | 2019-03-19 | 2022-08-02 | 济南益豪环保技术有限公司 | 一种集成多样化网路传输性能测试装置及测试方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20040109 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050725 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050802 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051003 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060808 |