JP2002533717A - 表面の粉塵および汚れの程度を測定するための機器および方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 本発明は、例えば、清掃品質をモニタリングするために、表面（３０）を粉塵または汚れが覆っている程度を測定するための、測定機器および方法に関し、この測定機器は、試験フィルム（３）の形態にある測定対象物が、測定されている間、この測定機器によって規定された測定ゾーン（４）において平面で保持されるホルダー（２）を備え、この試験フィルム（３）は、この表面（３０）を試験している間、この表面から任意の粉塵および汚れの粒子（３１）を採集するように意図された接着層（５）で覆われている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】 （技術分野） 本発明は、好ましくは、清掃後に清掃品質をモニタリングする目的で、表面を
粉塵および汚れが覆っている程度を測定するための測定機器および方法に関する
。

【０００２】 （発明の背景） 清掃品質（すなわち、清掃後に達成された結果をいう）のモニタリングは、伝
統的には、モニタリングが行われる屋内において、表面を粉塵および汚れが覆っ
ている程度を視覚的評価することによって行われてきた。この視覚的方法の欠点
は、結果が必然的に主観的であることであり、このことにより、清掃の品質に疑
いがもたれる場合、清掃を行った当事者と清掃サービスを購入した当事者との間
で論争が容易にもたらされる。さらに、視覚的方法は、清掃品質（例えば、学校
、託児所および病院のような、特に要求の厳しい環境において求められる）の客
観的な統計的評価に基づいていない。このような環境において、他の理由の中で
も、粉塵アレルギーの危険性を低減するために、清掃に関して厳しい要求が出さ
れている。

【０００３】 現在、清掃の結果を評価するための基準を引き上げる試みが欧州レベルで研究
されている。客観的測定法はまた、例えば、異なる清掃方法間での比較を指摘す
るために用いられ得る。現在、このような客観的測定を可能にする方法が市場で
利用可能である。公知の方法は、確実に粉塵が覆っている透明な試験フィルムを
レーザー光線が通過する目的で、特別に造られた測定機器を使用する。このフィ
ルムの光透過は、レーザー光線源から試験フィルムの反対側にあり、この試験フ
ィルムを通過した光の光度を記録する光検出器によって測定されている。しかし
、この測定機器は、最初に、粉塵がない状態の試験フィルムを通過している光に
よって較正されなければならない。次いで、粉塵および汚れが覆っている程度は
、粉塵がない試験フィルムを光が通過する際の記録された光度と、粉塵に覆われ
た試験フィルムを光が通過する際のわずかに低い光度との間の差異の関数として
示される。

【０００４】 公知の方法において使用される試験フィルムは、例えば、指紋を採取する場合
に警察当局によって使用されるものと同じ型である。このフィルムは、接着層で
覆われており、この接着層は、フィルムを使用する前には、保護フィルムによっ
て覆われている。使用の際に、この保護フィルムは剥がされ、そしてこの試験フ
ィルムは、粉塵および汚れが覆っていることが測定される表面に対して所定の圧
力で接触され、表面からの任意の粉塵および汚れの粒子はそれ自体が接着層に付
着する。次いで、このフィルムは、測定機器のホルダーに配置され、そして上記
に従って光がこのフィルムを通過する。

【０００５】 しかし、この公知の測定機器の欠点は、高性能レーザー技術を使用するので、
高価すぎて、中小企業も清掃サービスに支払いをする実際の当事者も購入できな
いことである。さらに、測定機器の重量および外形寸法（ｅｘｔｅｒｎａｌ ｄ
ｉｍｅｎｓｉｏｎ）は頻繁に使用するにはむしろ実用的ではない。公知の測定機
器のさらなる欠点は、各測定のために、個々のフィルムに関して較正しなければ
ならないことである。このことは、清掃される屋内において各測定点について測
定機器にフィルムを２回配置しなければならないことを意味する。まとめると、
この測定機器のこれらの特徴は、現在、ごく少数の特別に訓練された、従って、
高価なコンサルタントが清掃品質のモニタリングを行っているという状況をもた
らしている。

【０００６】 （発明の説明） この背景に対して、本発明者は、中小の清掃会社および学校および病院のよう
な清掃契約者が、この目的のために特別に適合させた測定機器を使用して、単純
かつ安価な様式で彼ら自身が清掃品質測定を行うことができるように、中小の清
掃会社の間、ならびに学校および病院のような清掃契約者の間での必要性を一致
させた。従って、本発明は、例えば、清掃品質をモニタリングするために、表面
を粉塵および汚れが覆っている程度を測定するための測定機器を利用可能とし、
この測定機器は、測定している間、試験フィルムの形態にある測定対象物が、こ
の測定機器によって規定された測定ゾーンにおいて平面に保持されるホルダーを
備え、この試験フィルムは、表面を試験している間にこの表面からの任意の粉塵
および汚れを採取するように意図された接着層で覆われる。本発明に従う測定機
器は、以下によって特徴付けられる： −斜入射光で試験フィルムの接着層を照射するように意図された光源； −この試験フィルムから反射した光の光度を記録するように意図された、光検出
器；ならびに −表面（３０）を粉塵および汚れが覆う程度を表す測定値（この測定値は、光検
出器（８）により記録された光度に基づいている）を示すように意図された、プ
ロセッサ（１４）。

【０００７】 本発明はまた、例えば、清掃品質をモニタリングするために、表面を粉塵およ
び汚れが覆っている程度を測定するための方法に関し、この方法は、以下の工程
を包含する： −第１の工程において、接着層で覆われた試験フィルムが、粉塵および汚れが覆
っている程度が測定される該表面に対して、所定の圧力で接触され、この表面か
らの任意の粉塵および汚れの粒子は、それ自体が該接着層に付着している、工程
； −次いで、この試験フィルムがこの表面からはずされ、そして少なくとも測定さ
れている間、測定機器により規定された測定ゾーンにおいて平面にこの試験フィ
ルムを保持するホルダーに配置される、工程； −光源が、斜入射光でこの試験フィルムの接着層を照射する工程； −光検出器が、試験フィルムから反射した光の光度を記録する工程； −プロセッサ（１４）が、この表面（３０）を粉塵および汚れが覆っている程度
を表す測定値を示す工程であって、この測定値が、この光検出器（８）によって
記録される光度に基づいている、工程。

【０００８】 本発明の有利な実施形態において、例えば、清掃品質をモニタリングするため
に、接着層で覆われた試験フィルムとともに、表面から反射された光を測定する
タイプの光沢計測器は、表面を粉塵および汚れが覆っている程度を測定するため
の測定機器として使用される。

【０００９】 本発明の他の特徴および利点は、以下の好適な実施形態の説明から明らかにな
る。

【００１０】 （好適な実施形態の説明） 先行技術と本発明との間の主な差異を示すために、先行技術に従う測定機器（
Ａ）を、最初に図１に示す。この測定機器（Ａ）は、ここで、試験フィルム（Ｄ
）の導入するために開口部（Ｃ）が設けられた矩形ケーシング（Ｂ）に収容され
る。簡潔には、この機器は、確実に粉塵が覆っている透明な試験フィルム（Ｄ）
を通過するレーザー光線源（Ｅ）から発生したレーザー光線によって機能し、こ
のフィルムの光透過性は、レーザー光線源（Ｅ）から試験フィルム（Ｄ）の反対
側にある光検出器（Ｆ）によって測定される。この光検出器（Ｆ）は、この試験
フィルム（Ｄ）に通過した光の強度を記録する。しかし、この測定機器（Ａ）は
、最初に、粉塵がない状態の試験フィルム（Ｄ）を通過している光によって較正
されなければならない。次いで、粉塵および汚れが覆っている程度は、粉塵がな
い試験フィルム（Ｄ）を光が通過する際に記録された光度と、粉塵に覆われた試
験フィルム（Ｄ）を光が通過する際に記録されたわずかに低い光度との間の差異
の関数として示される。

【００１１】 図２は、本発明の好適な実施形態に従う測定機器１の外観図である。この測定
機器は、概して参照番号１により示され、そしてケーシング２に収容される。こ
のケーシング２は、好ましくはプラスチックまたはアルミニウムのような軽量材
料で作製される。なぜなら、この測定機器１は、ユーザーが片手で握れるように
必要な寸法が決められるからである。測定機器１はさらに、試験フィルム３の形
態にある測定対象物が、測定機器１によって規定された測定ゾーン４において平
面に維持されることによるホルダーが設けられる。トラック１７上を動く縦方向
レール（ｌｏｎｇｉｔｕｄｉｎａｌ ｒａｉｌ）１６によって、このホルダー２
は、測定機器１の残りの部分に対して動き得る。そしてこのホルダー２は、図５
に示される第１の開口位置と図２に示される第２の閉口位置との間で押され得る
。

【００１２】 ホルダー２はさらに、張力をかけることなく試験フィルム３を固定するために
固定部材１０が設けられる。図２および図５に示される例示において、固定部材
１０は、リベット１１によってホルダー２に接続されたベロ状要素からなる。固
定部材１０は、もちろん、別の方法で形成され得る。試験フィルム３が、湾曲す
ることなくホルダー２に平面でぴったり接した状態におかれるように、張力をか
けることなく試験フィルム３を固定することが重要である。さもなければ、この
湾曲は、測定結果に有害な影響を及ぼす。別の実施形態（示さず）において、ホ
ルダー２は、測定機器１の台からはずれ得るように配置される。最大測定精度が
必要である場合、この測定機器１は、ホルダー２に配置されている粉塵も汚れも
ない試験フィルム３によって較正され得る。測定は、較正ボタン２０が押し下げ
られた後に行われる。このようにして、この機器は、引き続く試験および測定に
おいて使用される予定の試験フィルムに対して正確に較正され、その結果として
、測定の最大精度が達成される。しかし、較正は、測定前に必ずしも行われなけ
ればならないことはない。なぜなら、平均試験フィルムに関する、対応する較正
測定値は、測定機器１のプロセッサ１４に格納され、このプロセッサ１４は、実
際の測定前に較正が行われない場合に、この格納された較正値を使用するからで
ある。

【００１３】 試験フィルム３（図３に拡大されている）は、例えば、指紋を採取する場合に
警察当局によって使用されるものと同じ型である。このフィルム３は、接着層５
で覆われており、この接着層５は、フィルム３を使用する前には、保護フィルム
１３によって覆われている。

【００１４】 図４は、この試験フィルム３が、表面３０を試験するためにどのように使用さ
れるかを示す。保護フィルム１３が剥がされ、そして試験フィルム３は、−好ま
しくは、この目的のためおよび市販するために特別に設計されたローラー３２に
よって−表面３０に対して所定の圧力で接触され、表面３０を粉塵および汚れが
覆っている程度が測定される。表面３０からの任意の粉塵および汚れは、それ自
体が接着層５に付着する。次いで、試験フィルム３は、図５で認められ得るよう
に、接着層５を上に向けて測定機器１のホルダー２に配置され、そしてホルダー
２は、矢印１８の方向のその閉口位置（示さず）に押され、そして測定が行われ
る。

【００１５】 図２を参照すると、測定機器１がここで詳細に記載される。従って、機器１は
、斜入射光でこの試験フィルム３の接着層５を照射するように意図された光源６
を備え、この試験フィルムは、その接着層５が光源６に向かって方向付けられる
ように、測定している間、ホルダー２に配置されている。光源６は、２０度と８
０度との間、好ましくは６０度の入射角αで、試験フィルム３の接着層５を照射
するようにより正確に意図される。図２に示された例示において、入射角α＝６
０度である。

【００１６】 光学レンズ７は、光源６と測定ゾーン４との間に配置され、このレンズ７は、
試験フィルム３に衝撃を与える光線１２を平行にするように設計されている。

【００１７】 さらに、光検出器８は、試験フィルム３から反射した光の光度を記録するよう
に意図される。光学レンズ９は、測定ゾーン４と光検出器８との間に配置され、
このレンズは、光検出器８に向かって、反射角βで試験フィルム３から反射され
た光線２１を集光させるように設計される。

【００１８】 この測定機器はさらに、光検出器８に記録された光度と、所定の較正値とを比
較し、そしてこの比較に基づく測定値（この測定値は、表面３０を粉塵および汚
れが覆っている程度（図４を参照のこと）を表す）を示すように意図されたプロ
セッサ１４が設けられる。この測定値は、図５で最もよく認められ得るように、
ケーシング１５に形成されたディスプレイウインドウ２２に示される。粉塵およ
び汚れが覆っている程度は、通常、清浄な表面（すなわち、粉塵および汚れがな
い表面）に対して得られる測定値（１００％）の割合として示される。

【００１９】 本発明に従う方法は、以下の工程で行われる。 −第１の工程において、接着層５で覆われた試験フィルム３が、粉塵および汚れ
が覆っている程度が測定される表面３０に対して、所定の圧力で接触され、この
表面３０からの任意の粉塵および汚れの粒子３１は、それ自体が接着層５に付着
している、工程； −次いで、この試験フィルム３がこの表面３０から剥がされ、そして少なくとも
測定されている間、測定機器１により規定された測定ゾーン４において平面にこ
の試験フィルム３を保持するホルダー２に配置される、工程； −光源６が、斜入射光でこの試験フィルム３の接着層５を照射する工程； −光検出器８が、試験フィルム３から反射した光の光度を記録する工程；および
−プロセッサ１４が、光検出器８に記録された光度と、所定の較正値とを比較し
、そしてこの比較に基づく測定値（この測定値は、表面３０を粉塵および汚れが
覆っている程度を表す）を示す工程。

【００２０】 公知の型の携帯型光沢計測器（表面からの反射光を測定し、そして光沢数（ｇ
ｌｏｓｓ ｎｕｍｂｅｒ）の形態で測定値を示す）は、光沢測定器の測定開口部
に取り付けられた、上記の説明に従うホルダー２によって、本発明に従う測定機
器１として使用するために有利に適合され得る。このように、図１に参照される
上記の公知の機器と比較すると、測定機器は、はるかに小型かつ扱いやすくなり
、そしてまたこのような光沢測定器がかなり大きなバッチで製造されるという事
実が理由で、費用がはるかに安い。従って、本発明は、清掃品質を測定する、安
価かつ有効な方法を利用可能にする。この方法は、彼ら自身のモニタリング目的
のために清掃会社に、または学校、託児所および病院のような清掃契約者に利益
を与えるために使用され得る。

【００２１】 本発明は、上記および図面に示された例示的実施形態に限定されず、添付の特
許請求の範囲内で自由に改変され得る。例えば、ホルダー２は、旋回可能なカバ
ーとして設計され得るか、または通常、機器が使用されていないときに測定開口
部を保護する目的で上記のタイプの光沢測定器を収容する保護プレートと統合さ
れ得る。

【図面の簡単な説明】

本発明は、好適な実施形態に基づいて、および添付の図面を参照して以下に詳
細に記載される。

【図１】 図１は、先行技術に従う測定機器の図である。

【図２】 図２は、本発明に従う測定機器の図である。

【図３】 図３は、本発明に従う試験フィルムの拡大透視図である。

【図４】 図４は、試験フィルムが、粉塵および汚れが覆っている程度が測定される表面
に対してどのように押しつけられるかを示す。

【図５】 図５は、本発明の好ましい実子形態に従う測定機器の透視図を示す。ここでこ
の試験フィルムは、測定前にホルダーに配置されている。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ，ＵＧ，ＺＷ )，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ， ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ， ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，Ｃ Ｒ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＤＭ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ， ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，Ｋ Ｚ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＡ，ＭＧ ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ， ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，Ｔ Ｊ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ ，ＹＵ，ＺＡ，ＺＷ

Claims (16)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 例えば、清掃品質をモニタリングするために、表面（３０）
   を粉塵および汚れが覆っている程度を測定するための測定機器（１）であって、
   該測定機器は、試験フィルム（３）の形態にある測定対象物が、測定されている
   間、該測定機器によって規定された測定ゾーン（４）において平面で保持される
   ホルダー（２）を備え、該試験フィルム（３）は、この表面（３０）を試験して
   いる間、この表面から任意の粉塵および汚れの粒子（３１）を採集するように意
   図された接着層（５）で覆われており、該測定機器は、以下： −斜入射光で該試験フィルム（３）の該接着層（５）を照射するように意図され
   た光源（６）； −該試験フィルム（３）から反射した光の光度を記録するように意図された、光
   検出器（８）；ならびに −表面（３０）を粉塵および汚れが覆う程度を表す測定値（該測定値は、該光検
   出器（８）により記録される光度に基づく）を示すように意図された、プロセッ
   サ（１４）、 によって特徴付けられる、測定機器。
2. 【請求項２】 前記プロセッサ（１４）が、前記光検出器（８）によって記
   録された光度と、所定の較正値とを比較し、そして該比較に基づいて、前記表面
   （３０）を粉塵および汚れが覆っている程度を表す測定値を示すように意図され
   た、請求項１に記載の測定機器。
3. 【請求項３】 請求項１に記載の測定機器（１）であって、前記光源（６）
   が、２０度と８０度との間、好ましくは６０度の入射角（α）で、前記試験フィ
   ルム（３）の前記接着層（５）を照射するように意図される点で特徴付けられる
   、測定機器。
4. 【請求項４】 請求項１〜３のいずれか１項に記載の測定機器（１）であっ
   て、測定している間、前記試験フィルム（３）の前記接着層（５）が前記光源（
   ６）に向かって方向付けられるように、前記試験フィルム（３）が前記ホルダー
   （２）に配置されている点で特徴付けられる、測定機器。
5. 【請求項５】 請求項１〜４のいずれか１項に記載の測定機器（１）であっ
   て、測定している間、前記試験フィルム（３）の前記接着層（５）が、本質的に
   平面であるように、固定部材（１０）によって前記ホルダー（２）に張力をかけ
   ることなく固定されている点で特徴付けられる、測定機器。
6. 【請求項６】 請求項１〜５のいずれか１項に記載の測定機器（１）であっ
   て、光学レンズ（７）が前記光源（６）と前記測定ゾーン（４）との間に配置さ
   れ、該レンズ（７）が前記試験フィルム（３）に衝撃を与える光線（１２）を平
   行にするように設計されている点で特徴付けられる、測定機器。
7. 【請求項７】 請求項１〜６のいずれか１項に記載の測定機器（１）であっ
   て、光学レンズ（９）が前記測定ゾーン（４）と前記光検出器（８）との間に配
   置され、該レンズが、該光検出器（８）に向かって、前記試験フィルム（３）か
   ら反射された前記光線（２１）を集光させるように設計されている点で特徴付け
   られる、測定機器。
8. 【請求項８】 請求項１〜７のいずれか１項に記載の測定機器（１）であっ
   て、前記所定の較正値が粉塵および汚れがない試験フィルム（３）についての測
   定値に対応する点で特徴付けられる、測定機器。
9. 【請求項９】 請求項１〜８のいずれか１項に記載の測定機器（１）であっ
   て、前記ホルダー（２）が、該測定機器（１）の残りの部分に対して動き得るよ
   うに配置される点で特徴付けられる、測定機器。
10. 【請求項１０】 請求項９に記載の測定機器（１）であって、前記ホルダー
    （２）が、該測定機器（１）の残りの部分からはずれ得るように配置されている
    点で特徴付けられる、測定機器。
11. 【請求項１１】 例えば、清掃品質をモニタリングするために、表面（３０
    ）を粉塵および汚れが覆っている程度を測定するための方法であって、該方法は
    、以下の工程： −第１の工程において、接着層（５）で覆われた試験フィルム（３）が、粉塵お
    よび汚れが覆っている程度が測定される該表面（３０）に対して、所定の圧力で
    接触され、該表面（３０）からの任意の粉塵および汚れの粒子（３１）は、それ
    自体が該接着層（５）に付着している、工程； −次いで、該試験フィルム（３）が該表面（３０）からはずされ、そして少なく
    とも測定されている間、前記測定機器（１）により規定された測定ゾーン（４）
    において平面に該試験フィルム（３）を保持するホルダー（２）に配置される、
    工程； ならびに以下の工程： −光源（６）が、斜入射光で該試験フィルム（３）の該接着層（５）を照射する
    工程； −光検出器（８）が、該試験フィルム（３）から反射した光の光度を記録する工
    程； −プロセッサ（１４）が該表面（３０）を粉塵および汚れが覆っている程度を表
    す測定値を示す工程であって、該測定値が、該光検出器（８）によって記録され
    る該光度に基づいている、工程、 を包含する、方法。
12. 【請求項１２】 請求項１１に記載の方法であって、前記プロセッサ（１４
    ）が、前記光検出器（８）によって記録された前記光度と、所定の較正値とを比
    較し、そして該比較に基づく測定値を示し、該測定値が、前記表面（３０）を粉
    塵および汚れが覆っている程度を示すことによって特徴付けられる、方法。
13. 【請求項１３】 請求項１１に記載の方法であって、前記光源（６）が２０
    度と８０度との間、好ましくは６０度の入射角（α）で前記試験フィルム（３）
    の前記接着層（５）を照射する点で特徴付けられる、方法。
14. 【請求項１４】 請求項１１〜１３のいずれかに記載の方法であって、測定
    する前に、前記試験フィルム（３）の前記接着層（５）が前記光源（６）に向か
    って方向付けられるように、該試験フィルム（３）が前記ホルダー（２）に配置
    されている点で特徴付けられる、方法。
15. 【請求項１５】 請求項１１〜１４のいずれかに記載の方法であって、前記
    試験フィルム（３）の前記接着層（５）が、測定している間、本質的に平面のま
    まであるように、該試験フィルム（３）が前記ホルダー（２）に張力をかけるこ
    となく固定されている点で特徴付けられる、方法。
16. 【請求項１６】 例えば、清掃品質をモニタリングするために、接着層（５
    ）で覆われた試験フィルム（３）とともに、表面（３０）を粉塵および汚れが覆
    っている程度を測定するための測定機器として、表面から反射された光を測定す
    るタイプの光沢計測器（１）の使用。