JP2002513470A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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JP2002513470A JP53762098A JP53762098A JP2002513470A JP 2002513470 A JP2002513470 A JP 2002513470A JP 53762098 A JP53762098 A JP 53762098A JP 53762098 A JP53762098 A JP 53762098A JP 2002513470 A JP2002513470 A JP 2002513470A
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Abstract

(57)【要約】 電子部品又は他の突出した表面又は物体上のはんだ球のような、一又はそれ以上の反射要素(12)を照らす環状照明要素(20)を有する検査システム。環状照明装置(20)は、一又はそれ以上の反射要素(12)を横断して均一な照明を付与するほぼ環状の光源(24)を備える。照明検知装置(30)は、反射像を形成するために、照明反射要素(12)から反射した光束(32)を検出する。各々の反射要素の有無、位置、ピッチ、サイズ、及び形状のような性質を特定する装置を使用する方法が述べられている。

Description

【発明の詳細な説明】 検査装置 発明の属する分野 本願発明は、環状照明装置を用いた表面及び物体の検査装置及び検査方法に関 する。発明の背景 デジタルデータ及び信号の処理技術によって、複雑な検査工程を人手をかけず に遂行するために、コンピュータをデータ処理装置として使用する技術が非常に 発達してきた。ほぼすべての種類の製品が、こうした新しいデジタルデータ及び 信号処理技術から得られた低コスト、高精度、高速の検査技術による利益を受け ている。 例えば、コンピュータ及び他の電子装置において、電子部品(チップ)間の電 気的接続は、その装置の作用にとって重要である。最近の技術革新の結果、電子 部品は小型化、複雑化しており、より狭い面積により多くの電気的接続をする必 要がある。製造工程における電子部品の検査は、電気的接点が正しく形成されて いることを確認する助けとなり、電子部品間の不良な電気的接続を防止する。 例えば半導体チップは、そのチップ及び回路板上の電気的接点の間にはんだあ るいは融剤を用いて、物理的及び電気的にプリント回路板に接続されていなけれ ばならない。電気的接点の一例として、プリント回路板上の対応する金属面ある いは金属パッドに電気的に接続されていなければならない、半導体チップ上の金 属面あるいは金属パッドが挙げられる。通常、少量のはんだあるいは融剤がパッ ド上に置かれ、加熱及びリフローされて、対応するパッドとの間に 機械的及び電気的接続が形成される。 一般的なはんだ付けの方法は、電子部品のチップあるいは基板上の金属パッド の上に置かれる、予め形成された球状はんだ球グリッドアレイ(BGA)として一 般に知られている−を用いることである。電子部品の小型化及び複雑化により、 チップをプリント回路板に電気的に接続するために、そのチップあるいは基板上 に、400個以上ものはんだ球を所定のパターンで正確に置く必要がある。はんだ 球をチップあるいは基板上の金属パッドに載せて接着する工程中に、チップとプ リント回路板の電気的接続に悪影響を与えるような多くの不良が生じ得る。 はんだ球がパッドの一つに十分に密着していない場合、チップとプリント回路 板との重要な接続ができないことになる。はんだ球の置き間違いもまた、接続不 良及び/あるいは他の隣接するはんだ球あるいは金属パッドとの電気的短絡を招 き得る。また、大きすぎるあるいは小さすぎる形成不良のはんだ球は、パッド上 の正しい位置に適切に置かれたとしても、電気的接続不良を生じ得る。 従って、はんだ球の検査は、はんだ球の適切な大きさと形を確保するとともに 、電子部品間の接続を形成する前に、はんだ球のプリント回路板上の適切なパッ ドへの正確な載置及び接着を確実なものにするために重要なのである。 検査はまた、確実な電気的接続を必要とする他の電子部品にも必要である。 従来技術による検査方法の一つは、はんだ球あるいは他の電気的接点の欠陥を 探すため、各チップ、プリント回路板、あるいは他の電子部品を人に目で見させ ることである。しかし、人による検査は、多くの時間を必要とし、不正確で、殊 に電子部品の小型化及び接続の数が増加したことを考慮すると、検査者に負担を かけるものである。 はんだ球や他の接点あるいは電子部品上の特徴を検査するのに、ビデオ装置も 使用されてきた。このような装置では、環状ライトなどのライトが検査すべき電 子部品の表面を照らす。カメラが、電子部品上のはんだ球あるいは接点か ら反射した光束を捉え、反射画像がモニタ上に表示される。 従来技術による検査装置で使用される環状ライトは、電子部品上のはんだ球に 十分な照明をすることができなかった。一つの問題は、検査される領域の周辺部 に十分な強さの光束を当てることができないため、検査されるはんだ球のうち幾 つかが照らされず、結局はんだ球の有無あるいは位置が不正確に判断される場合 に生じる。他の問題は、一個のはんだ球が部分的にしか照らされず、そのはんだ 球の実際の直径及び球状であるかどうかの正確な測定が妨げられる場合に生じる 。 他の検査装置は、チップに対して高い角度で光束を向けるため、検査されてい ない金属被覆されたパッド、基板表面、あるいは他の実質的に平らな反射面で光 束が反射してしまう。ビデオカメラにより検知された照明画像では、はんだ球を 金属パッドや他の実質的に平らな反射面から見分けるのが困難である。はんだ球 の有無及びその状態(例えば、位置、直径、及び球状であるかどうか)を調べる ために、照明画像を画像処理装置で処理し分析しなければならないのは、まさに この問題のためである。 他の環状ライトは、検査される部品の表面と平行に光束を向けるものであり、 各電子部品の全表面を十分照らすには、その電子部品に向けてあるいはその周囲 に置かれる必要がある。このタイプの環状ライトが、検査される電子部品の表面 に向けておかれた場合、その部品は、特に端部が十分には照らされないであろう 。従って、このタイプの環状ライトは、各電子部品が十分照らされるように、電 子部品毎に位置を上げ下げしなければならず、多数の電子部品を、その製造工程 中に連続して迅速に検査することはできない。 他の問題点は、多くの従来技術による視覚的検査装置が、電子部品の照明画像 を検査して、置き漏れ、置き間違い、あるいは形成不良のはんだ球などの欠陥を 探すのに、やはり人手を必要とすることである。照明画像の視覚的検査では、や はりはんだ球の大きさ及び形の正確な測定ができない。 従って、はんだ球あるいは他の反射物、反射面、あるいは反射要素を検査する ための装置及び方法であって、すべての検査される反射要素を十分に照らし、検 査されていない他のほぼ平坦な面を照らさずに、反射要素の正確な測定と検査が 可能な装置及び方法が求められている。また、迅速かつ正確に、照らされた反射 要素の有無を調べ、その位置を判断し、大きさ及び形、例えば直径及び必要であ れば、突き出た物体が球状であるかどうかなどを測定する装置及び方法が求めら れている。発明の要旨 本発明は、照明検知装置の視野内に置かれた物体の表面にある、はんだ球ある いは他の突き出た反射面あるいは反射物などの、1個以上の反射要素を検査する ための検査装置に用いられる、環状照明装置を特徴としている。この環状照明装 置は、複数の光束を発する実質的に環状の光源を備えている。光束は、視野内の 物体のほぼ平坦な面に当たる複数の光束のいずれも照明検知装置に反射しないよ うに、検査する物体を視野を横切って実質的に均等に照らず照明角度の範囲で、 その物体に対して向けられている。 実質的に環状である光源の一実施例は、発光ダイオード(LED)などの複数 の発光素子から成る。本実施例においては、物体のほぼ平坦な面に対して複数の 発光素子の夫々の中心線が所定の角度、好ましくは約4°の角度になるように発 光素子を取付けることによって、照明角度の範囲内に光束が向けられている。発 光素子の一例は、約20°から40°の範囲に広がる光束を有し、遠赤スペクトル波 長の光束を発するLEDである。また本実施例は、好ましくは、複数の発光素子 の近辺に白い表面などの光反射面を備えている。 発光素子は、好ましくは、上部取付け部及び側部取付け部を有する取付け部材 に取り付けられている。上部取付け部及び側部取付け部のどちらかあるいは両方 が反射面を有している。発光素子の近辺に散光面を設けてもよい。 他の実施例によれば、環状照明装置は、光源によって発せられた光束を角度を つけて拡散することによって、検査する物体に対して望ましい照明角度の範囲内 に光束を向けるための、実質的に環状の光源の近辺に設けられた、高透過率を有 する高散光性の散光器を備えている。この実施例によれば、光源は、好ましくは 複数の実質的に物体のほぼ平坦な面に平行な中心線を有する発光素子を備えてい る。高透過率、高散光性を有する散光器は、好ましくは、少なくとも85%の拡散 透過率を有する拡散フィルムを備えている。 また本発明は、カメラ等の視野を有する照明検知装置、物体上の1個以上の反 射要素が視野内に入るよう、所定の間隔を空けて物体を支持するための環状照明 装置の真下に置かれた物体支持面、及び視野がそこを通って検査する物体まで広 がっている開口部を形成している環状照明装置から成る検査装置を特徴としてい る。この照明検知装置は、照らされた各反射要素から反射された光束を検知し、 照らされた反射要素を表す反射画像を形成する。本検査装置は更に、反射画像を 表示するディスプレイ及び反射画像を処理する画像処理装置を含んでいる。図面の簡単な説明 本発明の上記及び他の特徴や効果は、次の図面を参照し、以下の詳細な説明を 読むことによってより理解できるであろう。 図1は、本発明による一つ以上の面あるいは物体を検査するための検査装置の 概要図である。 図2は、本発明の一実施例による検査装置及び方法において、反射要素を照明 するために用いられる環状照明装置の上面図である。 図3は、図2に示された環状照明装置の線III-IIIに沿った側断面図である。 図4は、本発明の他の実施例による環状照明装置の側断面図である。 図5は、本発明の一実施例による検査装置によって検知された反射画像の概要 図である。 図6は、本発明の一実施例により処理される一反射画像要素の概要図である。 図7は、本発明による反射画像を処理するための方法のフローチャートである 。 図8は、処理された反射画像において一反射画像要素の境界の位置を決定する ための、本発明による方法のフローチャートである。 図9は、反射画像における多数の反射画像要素を測定するための、本発明によ る方法のフローチャートである。 好ましい実施例の詳細な説明 本発明の検査システム10(明確化するために誇張斜視図で示す図1)は物品 14の上に置かれた突起状反射面又は物体12のような一個以上の反射体の検査 に用いられる。一つの例では、突起反射物体12は反射面と非反射面を有するほ ぼ平坦な面18上に配置される。物品14には典型的には金属又は他の光反射物 質から成る突起状反射物体12が並べられる。 本実施例では、本検査システムがBGAやマイクロBGA半導体パッケージ、 チップスケールパッケージ(CSP)、フレックス回路の様な電子部品のチップ又 は他の基板上の金属パッドに並べたはんだ球を検査するために用いられる。チッ プとプリント回路板の様な他の電子部品の正しい電気的接続を容易にするために 、はんだ球の位置、寸法及び形状が検査される。しかしながら、本発明は、如何 なる形の物体に如何なる配置に配列されても、突起やゆがみ、或は他の形状の表 面や物体を含む、かつそれらに限定されない、如何なる形状の反射物をも検査す ることを狙いとする。 本検査システム10は物品14上に置かれた突起状反射物体12をカバーする 視野16と、視野16を広げる開口部22となる環状照明装置20とから成 る。環状照明装置20は、光束26を発生し物品14の視野16に光束26を送 り、それにより突起した反射物体12が照明される、実質的に環状の光源24を 有する。光束26は物品14上の視野16にわたり実質的に均一な光強度と、視 野16中の全ての突起状反射物体12に実質的に均一な照明を与えることが望ま しい。これについては後で詳述する。概して円環状に示されているが、環状照明 装置20は楕円形又は他の類似形状でもよい。 本検査システム10は更に環状照明装置20の上に、例えば約14インチ離れ て配置されるCCDカメラの様な照明検知装置30を備える。照明検知装置30 は各突起状反射物体12から反射される光束を検知し、反射像をつくる。照明検 知装置30の一例は約640×640ピクセルの解像力を有するCCDカメラで ある;しかし本発明では照明像を検知できる他の型のカメラや装置も考えられる 。 実質的な環状光源24は、視野16の外、即ち照明検知装置30の範囲外の物 品14上の平坦な面18から、検知されない光束34を反射させる様な照明角度 で、物品14に対して光束26をおくる。好ましい光束26の照明角度は10° 以下であり、以下で詳細に述べるように、実質的な環状光源の別の実施例で示さ れる。従って、反射物体12から反射して検知された光束32が反射像を作り、 平坦面18から反射した非検知光束34は反射像には含まれない。 環状照明装置20は、例えば取り付けブラケット29を有する取り付け支持台 28に取り付けられる。取り付け支持台28及び取り付けブラケット29が環状 照明装置20を所望の位置に支持し、物品14が反射物体12と共に視野16内 に置かれるようにする。環状照明装置20の下方に位置する物体支持面27は、 反射面12が視野16に来る様に、被検査物品14を支持する。一例では、物体 支持面27は、技術的に知られているように、製造工程中の検査のために絶えず 物品14を視野16に入れるようにずらされる。或は環状照明装置20及び照明 検知装置30が検査すべき各物品14の上をずらされるか動か される。検査中、物品14及び/又は環状照明装置20と照明検知装置30を互 いに移動する場合、移動の影響を除くため、光源24としてはストロボ電源が望 ましい。 検査システム10には更に、反射像を処理し突出した各反射面12の有無、位 置、ピッチ、大きさ及び形状を含む、但しこれらに限られない、検査情報を定め るイメージプロセッサ38が備えられている。これに関しては後で詳述する。 本検査システム10は、好みにより作業者が反射像を見るためのモニタ36を 備える。このモニタ36は視覚検査及び作業者による反射物体12の整列を容易 にする。本発明はまたプリンタや記憶装置を含む、但しこれに限られない、他の 出力装置又は周辺機器を考慮している。イメージプロセッサ38により検査情報 を作業者が見るモニタ36(もし有れば)又はデジタルI/O、RS−232シ リアル通信又はイーサネットネットワークの様な他の周辺機器に伝達することが できる。 好ましい環状照明装置20の実施例(図2)には、開口部22を画定し、検査 すべき物品14の上方に取付けられた取り付け部材40が含まれる。取り付け部 材40には好ましくは取り付けブラケット29にボルト止め又は他の固定のため の一個以上の固定具受け部42が備えられる。取り付け部材40はまた光源24 の電源(明示せず)に接続するための電気コードを収納するための電気コード収 容部44を備える。実施例では物品14の照明時の移動の影響を除くためにスト ロボ電源を用いたが、本発明ではどのような電源も用いうる。 好ましい環状光源24は、実質的に環状形に取り付け部材40に取り付けられ た、発光ダイオードの様な複数個の発光素子50を備える。発光素子50の一例 には、東芝製TLRA 155BP LEDの様な、遠赤スペクトル波長(例えば 、約660nm)の光束を発し、光束広がり角度αが約26°から28°のLE Dが含まれる。CCDカメラは遠赤LEDに良く感応し、検査工程中、 周囲の光の影響が濾過され、実質的に除去される。本実施例では、約60個のこ の様なLED50が取り付け部材40の周りに環状に取り付けられる。本発明で は、視野を所望のように均一に照明できる如何なる型及び数の発光素子も採用可 能である。 実質的に環状の光源24(図3)の実施例では、各発光素子50の中心軸又は 中心線54が物品14のほぼ平坦な表面18に平行な平面52に対して角度θを なして置かれている。約4°の好ましい角度θで、物品14の平坦面18に対し 小さい照明角度(約10°以下)の光束26が得られ、その結果、平坦面18( 非反射面、反射面いずれも)は光束26を反射しない、あるいは、照明検知装置 により検知されない非検知光束34として、光束26を視野16の外へ向って反 射する。本実施例には、好ましくは各発光素子50の近傍に白ペンキ又は反射コ ーテイングを施した光反射面64が設けられ、又発光素子50のほぼ前面に散光 面66が設けられてもよく、これらにより光が散乱され、物品14に対しより均 一に光が当てられる。反射性に関する既知の光物理の原理によれば、光が反射面 に当たる場合、反射面の接線に垂直な軸から測って、反射角は進入角に等しい。 このため、発光素子50の角度θが大きすぎると、発光素子50は高い照明角度 で光束26を発し、光束26は平坦面18から照明検知装置30に向かって反射 される。 従って、発光素子50の取り付け角θを小さくすることにより、光束26の照 明角度が小さくされ、光束26は反射性金属パッドや非反射性平面の様な平坦面 18から、検知装置30に検地されない非検地光束34として視野16の外へ低 角度で反射される。他方、突起状反射物体12に当たった光束26は検知光束3 2として、開口部22を通過し照明検知装置30へ反射される。突起状反射物体 12はここで検査のため照明され、一方、平坦面18は照明も検査もされない。 本実施例では、環状照明装置20と被検査物品14の間に十分な間隙Sを残 し、一方では物品14上の全視野16にわたり均一に照明がなされるように、発 光素子50の角度θを0°より大きくするのが望ましい。環状照明装置20の面 18からの間隙Sによって、例えば製造工程中での検査時、環状照明装置20の 下で物品14を視野16の中に、又は外へ通過させることが出来る。好ましい間 隔Sは、検査工程中に環状照明装置20の下を通過する物品14の邪魔にならな い限り、できるだけ小さくし、通常、約1/4から1/2インチの範囲とする。 発光素子50は環状照明装置20の底部56に物理的に可能な限り近付るのが望 ましい。 各発光素子50の中心線54に沿って方向付けられる光束26の中心光束領域 25は、典型的に最も高いパワーあるいは強度を有する。角度θが約0°であれ ば、中心光束領域25は物品14に対し実質的に平行に向けられるであるう。平 行な中心光束領域25が物品14から一定間隔で置かれている場合、物品14上 の視野16の端部17は、より低度のパワーあるいは強度を有する光束を受ける のみであって、視野16の端部17の近傍に位置する突起状反射物体12には十 分な照明が行き渡らない恐れがある。 中心光束領域25を物品14上の視野16の反対側、すなわち端部17に向け て方向付けることにより、実質的に等しい強度の光束が全視野16を横断して与 えられ、視野16に位置付けられた全突起状反射物体12に対し、実質的に等し い照明を与えることができる。従って、発光素子50の角度θは、中心線54か ら延びる想像線が一般に視野16の反対端部あるいは反対側17と交差するか、 あるいは重なり合うように規定されるが、平坦面18から反射される光束が検知 されてしまう程高い照明角度で光束26を向けないようにしなければならない。 実質的に環状の光源24は、発光素子50の前部から測って、例えば物品14 上の視野T6の寸法あるいは幅に対し約2.5から3倍の直径dを形成すること が好ましい。この好ましい直径dは、環状照明装置20と物品14との間 に十分な間隙Sを維持している間、中心光束領域25が低い照明角度を伴って端 部17に向けられることを許容する。一つの例としては、約2インチ×2インチ の物品14上の視野16を均等に照らすため、約5.5インチの直径が用いられ る。従って、発光素子50の角度θだけでなく環状光源24の直径dもまた、望 ましくない平坦面18への照明を防ぐと同時に、物品14が環状照明装置20の 下を通過することを許容しつつ、光束26が物品14上の視野16を横断して均 等な照明を与えることを許容する。 環状照明装置20の好ましい実施例は、更に、開口部22を形成する上部取付 け部60と該上部取付け部60から延びる側部取付け部62とを含む。該模範実 施例において、複数の発光素子50は、環状に形成され溶接された側部取付け部 62に取付けられるか、あるいは上部取付け部60に固定される。発光素子50 と側部取付け部62のどちらか一方を、角度θを設定するように曲げることがで きる。 散光面66は、上部取付け部60に取付けられた光拡散部材あるいはリングと して形成することができる。本発明は、光源から光を拡散、あるいは分散させる 他の型の面、例えば個々の発光素子50上に直接配置されるような光拡散面につ いても意図している。 白ペンキあるいは他の光反射色が施された光反射面64は、側部取付け部62 及び上部取付け部60上に設けることができる。一つの実施例では、上部取付け 部60の一部65が発光素子50を越えて延在し光反射面64を有するように、 開口部22の直径を実質的に環状の光源24の直径dの約70から80パーセン トに設定する。 図4における環状照明装置20aの別の実施例によれば、光束26は、発光素 子50aから発光された光束を拡散し角度を成して分散させる、高い透過率と高 い拡散能力を有する拡散器66aによって、所望の範囲の照明角度で物品14に 放たれる。角度を成して分散された光束26aは、平坦な反射面への照 明を防ぐと共に環状照明装置20aからの間隙Sを与える一方で、物品14上の 視野16を横断して実質的に等しい強度の光を提供する。本実施例においては、 発光素子50の角度θを省くことも可能であり、0°から8°の範囲で設定する ことが好ましい。 高い透過率と高い拡散能力を有する拡散器66aを使用する時、光反射面64 は拡散器66を越えて延在する上部取付け部60aの一部65aに設けられない 。この上部取付け部の一部65aは、黒色又は他の非反射面を有するか、あるい は完全に省かれてしまうこともできる。 高い透過率と高い拡散能力を有する拡散体66aは、約85%以上、好ましく は約88%から90%の範囲の拡散透過性を有する。高い透過性と高い拡散能力 を有する拡散体66aの一つのタイプは、3MTMにより製造されているアクリル 酸のディフュージングフィルムオールターナティブ(DFA)である。本発明は また、所望の拡散透過性と所望の角度を成して光束を分散させる能力とを提供す る他の適切な高透過性、高拡散性のフィルムについても意図している。 より大きな視野に対しては、より大きな環状照明装置を使用することができる 。よりタイトな応用として、内部光路を保護し、所望の照明角度の範囲で光束を 物体に向けるために光学通路を屈折させる円錐形の鏡と共に、より小さな環状照 明を使用することができる。 物品14上に取付けられた反射物体12のような一つ以上の反射要素を検査す るための検査システム10の使用方法は、物品14を視野16に置く段階を含む 。一連の物品14が環状照明装置20の下方の視野16を通じて連続して通過又 はスライドさせられるか、あるいは環状照明装置20が各物品14の上方でスラ イドさせられるかのどちらかである。光束26の輪は、物品14上の平坦面18 を照らすことなく、視野を横断して実質的に等しい強度の光束を与えるために、 環状照明装置20から視野16に含まれる反射要素に向けて、所 望の範囲の照明角度で放たれる。 本発明の装置並びに方法は、突起状反射物体12のような照らされた反射要素 から反射される光束を検知して、図5において示されるような、照らされた反射 要素の反射像70を作り出す。反射像は、反射物体12のような照らされた反射 要素を表している反射像要素72を含む。反射像70は、照明検知装置(カメラ )30のアナログ出力信号を、各々が像の小さな画素又はピクセルを表している 複数のデジタル信号に転換することにより得られる。反射像70を形成している デジタル信号は、その後モニター36上への表示用のアナログ信号へと転換され るか、あるいはイメージプロセッサにより処理されることができる(図1参照) 。 反射像70は、反射要素の有無、位置、大きさ及び形状を含む、但しこれらに 限られない、検査情報を決定するために処理される。本発明の限定を意図しない 模範的装置並びに方法において、検査システム10は、半導体チップのような電 子構成要素上のソルダパッド上に取付けられたはんだ球の配列を検査するために 用いられる。反射像70において、各はんだ球は、図6のドーナツ形あるいは環 状の形状を有する反射像要素72として現れる。はんだ球の配列に関する検査情 報は、配列における各はんだ球の有無、各はんだ球の位置、はんだ球間のピッチ 、奇形のはんだ球、各はんだ球の直径、並びに各はんだ球の真円度を含むが、こ れらに限定されない。 本発明はまた、図7における反射像要素72のパターンを含む反射像70を処 理する方法100を特徴とする。反射像を処理する方法は、反射像70における 反射像要素72のパターンを検出する段階110と、反射像要素のパターンにお ける各反射像要素72に輪郭を適合させる段階120と、反射像70によって表 された反射要素に関する検査情報を決定する段階130とを含む。 反射像要素72のパターンを検出する段階110としての一つの方法は、反射 像要素72のグループを識別すること、例えば反射像要素72の外側の列あ るいはグループを囲むウィンドウ75(図5)を作ることによる。その後、グル ープにおける各反射像要素72の外縁76の位置が検出される。一本以上の線7 4は、パターンを検出しそのパターンにおける各反射像要素72の“予測される ”位置を決定するために、各反射像要素72の外縁76に適合されている(図5 参照)。模範実施例は像要素72の長方形の格子を示しているが、本発明ではま た、円形あるいは他のパターンの反射像要素の位置検出についても意図されてい る。円形パターンでは、円になって形成された像要素の外縁の位置が検出され、 円形適合アルゴリズムが用いられて、円が外縁に適合されパターンが検出される 。 反射像を検出するための別の方法は、反射像70における反射像要素72に対 して、所定の位置に取付けられた参照マーク又は基準マーク73の位置を検出す ることによる。反射像を検出する更なる方法は、周知のパターンの型又はひな型 と反射像とを相互に関連させることによる。 一旦反射像70のパターンが検出されると、段階120として、例えば各々の 予測される位置に各反射像要素72を囲むウィンドウ78を作り(図6参照)、 反射像要素72の縁76に点76a〜76dを置くことによって、輪郭77が各 反射像要素に対し適合される。円形あるいは環状の形状を有する反射像要素72 に対しては、点76a〜76dのうち少なくとも三点が円形輪郭77と適合する ことが必要であり、点76a〜76dの四点が輪郭77及び対応する反射要素の 真円度を決定するために必要とされる。点76a〜76dは、円形輪郭77を適 合させる、あるいは規定するために用いられる。好ましい実施例においては、八 つ以上の点が位置づけられ、その点の位置が反射要素の大きさ並びに円形具合を 正確に決定する円形適合アルゴリズムに提供される。 図8における、例えば各反射像要素72の縁上の外縁76又は四つの点76a 〜76dの位置を検出するための好ましい方法200は、反射像70における反 射光の強度レベルに対応したグレースケール値を有する複数のピクセルに 反射像70を分割する段階210を含む。一つの例では、各ピクセルは、最も暗 いピクセルとしてグレースケール値0、及び最も明るいピクセルとしてグレース ケール値255を備えた八つのビットによって表される。一連のピクセルは、ウ ィンドウ75内の各反射像要素72に対して調べられる。 ベクトル79a〜79dは、点76a〜76dを見つけるために用いられる。 ベクトル79a〜79dは、像要素72の予測される位置を横断するように位置 付けられる。各ベクトル79a〜79dの通路に沿って、段階220として、各 ピクセルの両側のピクセル間でグレースケール値を識別することにより、各ピク セルでの強度のグラジエントが決定される。段階230として、最高グラジエン ト(すなわち、最も暗いピクセルからもっとも明るいピクセルへの最も急で大き な変化)の点の位置が示され、反射像要素72の縁76に対応させられる。好ま しい方法は、各反射像72に対して最も高いグラジエントを選択し、その最も高 いグラジエントに楕円を適合させる段階を含む。楕円の頂点は、サブピクセル精 度をもって位置決めされるべき縁に対応し、それによって各反射像要素72によ って表される反射面の寸法並びに形状のより正確な算定が可能となる。 上述の方法は、縁76に沿って線74を合致させることにより決定される(図 5参照)反射像要素72の予測された位置に従って、反射像要素72を処理する ものであるため、付加されたはんだ球あるいは他の反射面に対応して余分のある いは付加的反射像要素72aが検知される可能性はない。本画像処理方法は、更 に、図9における反射像要素72の数を決定するための方法300を含む。予測 される位置においてのみでなく、全反射像70における反射像要素72の数を決 定することによって、はんだ球あるいは他の反射面の有無を容易に判断すること ができる。 段階310として、反射像要素72の数は、反射像70における光の強度に対 応するグレースケール値を有する複数のピクセルに反射像70を分割するこ とにより決定される。その後、段階320として、閾値を上回るグレースケール 値を有するピクセルグループの位置が検出され、段階330として、(反射像要 素72の数に対応する)ピクセルグループの数が数えられる。反射像要素72の 数を決定することによって、欠落したり、誤って取付けられたり、余分に存在し ているはんだ球や他の反射物体のような反射要素の決定が可能となる。本発明の 画像処理方法はまた、検査情報測定値を従来単位で表したり、拡大や遠近感の誤 差や他の効果を修正することを許容するために行われることができる校正工程を 含む。校正処理は、周知の大きさのターゲット、例えばターゲット上の周知のサ イズと周知の位置とを有するドットの配列を測定することを含む。イメージプロ セッサにより決定されるターゲットイメージの座標とターゲット上のドットの周 知位置の座標との間の関係は、ピクセルと従来単位との間の相互関係を決定する ために計算される。本方法はまた、光学上の拡大によってもたらされる誤差を説 明するための、校正ターゲットに対する検査されている部分の高度修正について も意図している。 上で説明された環状照明装置20と共に用いられる反射像70を処理するため の本方法は、電子構成要素又は他の物体上に存在するはんだ球の直径や円形度合 をより正確に決定することを可能にする。高拡散能力の拡散体を用いて、あるい は円錐形の鏡を用いて、例えば光源24を角度θで設定することにより、光束を 所望の範囲の照明角度で放つことにより、最高グラジエントの点がはんだ球の真 直径の周知の割合、例えば約70%に対応するように、各はんだ球の頂面の一部 に照明を当てることができる。また、光束を所望の範囲の照明角度で放つことに より、ソルダパッドあるいは他の概して平坦な面領域の照明が最高グラジエント の決定を妨げることを防ぐこともできる。 本発明の環状照明装置が反射像を処理するための本方法と共に用いられる時、 検査の間に得られた測定値は高度の正確さと繰返し性を有する。しかしながら、 本発明は、本環状照明装置を反射像を処理するための他の方法と共に用いるこ とや、反射像を処理するための本方法を別の型の照明装置と共に用いることにつ いても意図している。 従って、本発明により、物体上のはんだ球、突起、貫入、逸脱、すかし角及び 他の反射要素のような、一つ以上の面又は物体を正確に検査し測定する検査装置 及び方法が提供される。該検査装置及び方法によって、物体又は電子構成要素上 の平坦な、あるいは望ましくない面にまで照明を当ててしまうという心配なしに 、検査されるべく面又は物体の全てに均等に照明を当てることができる。該検査 方法はまた、個々の反射要素又ははんだ球の大きさや形状をより正確に測定する 画像処理方法も含む。 通常の技術を有する当業者による変形及び置換は、以下に続く請求項による限 定を除いては何ら限定されるものではない本発明の範囲内であるとみなされる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,IT,L U,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF ,CG,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE, SN,TD,TG),AP(GH,KE,LS,MW,S D,SZ,UG,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG ,KZ,MD,RU,TJ,TM),AL,AM,AT ,AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,CA, CH,CN,CU,CZ,DE,DK,EE,ES,F I,GB,GE,GH,HU,IL,IS,JP,KE ,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS, LT,LU,LV,MD,MG,MK,MN,MW,M X,NO,NZ,PL,PT,RO,RU,SD,SE ,SG,SI,SK,SL,TJ,TM,TR,TT, UA,UG,UZ,VN,YU,ZW (72)発明者 チョウィナルド,ジョン アメリカ合衆国 ニューハンプシャー州 03045,ゴッフスタウン,ギンガードライ ブ 53 (72)発明者 シュール,ジョージ アメリカ合衆国 ケンタッキー州 41075, フォートトーマス,タワープレイス 115

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.照明検知装置の視野に配置され、被検査物品のほぼ平坦な表面に取付けられ た複数の反射要素を照らすための環状照明装置において、 該環状照明装置は、 予め定められた直径を有するほぼ環状の光源であって、複数の光束を発生する 光源と、 前記ほぼ環状の光源によって発せられた前記複数の光束を、前記物品の前記ほ ぼ平坦な表面に対して、照明の角度範囲で前記視野にある前記物品へ方向づける 手段と、 を備え、 前記照明の角度範囲で方向づけられた前記光束は、前記被検査物品の前記ほぼ 平坦な表面に当たった前記複数の光束のいずれも、前記照明検知装置に反射しな いように、前記視野を横断して被検査物品上の前記複数の反射要素にほぼ均一な 照明を行うことを特徴とする照明装置。 2.前記ほぼ環状の光源が複数の発光素子を含み、 前記複数の発光素子の各々の中心線が、前記被検査物品の前記ほぼ平坦な表面 に対して予め定められた角度で配置されるように、前記照明の角度範囲において 前記複数の光束を方向づける手段が、前記物品のほぼ平坦な表面に平行な平面に 対して、前記予め定められた角度で取付けられた前記複数の発光素子を含むこと を特徴とする請求項1記載の環状照明装置。 3.前記発光素子により発せられた前記光束の少なくともいくつかを反射するた めに、前記複数の発光素子に近接した光反射面を、さらに含むことを特徴とする 請求項2記載の環状照明装置。 4.前記光反射面が、前記発光素子に近接した白い面を含むことを特徴とする請 求項3記載の環状照明装置。 5.前記複数の発光素子が、ほぼ環状に取付けられる取付け部材を、さらに含む ことを特徴とする請求項2記載の環状照明装置。 6.前記取付け部材が、上部取付け部及び側部取付け部を含み、前記複数の発光 素子が前記上部取付け部と前記側部取付け部の少なくとも一つに配置され、前記 上部取付け部と前記側部取付け部の少なくとも一つが光反射面を有することを特 徴とする請求項5記載の環状照明装置。 7.前記複数の発光素子が発光ダイオード(LED)であることを特徴とする請 求項2記載の環状照明装置。 8.前記複数のLEDの各々が、約20°〜40°の範囲で広がる光束を発生す ることを特徴とする請求項7記載の環状照明装置。 9.前記複数のLEDの各々が、遠赤スペクトル波長を有する光束を発すること を特徴とする請求項7記載の環状照明装置。 10.発光素子の前記予め定められた角度が約4°であることを特徴とする請求 項2記載の環状照明装置。 11.前記ほぼ環状の光源の前記予め定められた直径が、前記被検査物品の前記 視野の大きさの約2 1/2〜3倍の範囲であることを特徴とする請求項1記載 の環状照明装置。 12.さらに、前記複数の発光素子に近接した光拡散面を含むことを特徴とする 請求項2記載の環状照明装置。 13.前記照明の角度範囲における前記複数の光束を方向づける手段が、前記ほ ぼ環状の光源によって発せられた前記複数の光束を角度をなして拡散するために 、前記ほぼ環状の光源に近接して取付けられた高透過性及び高拡散性を有する拡 散器を含むことを特徴とする請求項1記載の環状照明装置。 14.前記ほぼ環状の光源が複数の発光素子を含み、前記発光素子の中心線が、 被検査物品のほぼ平坦な表面にほぼ平行であることを特徴とする請求項13記載 の環状照明装置。 15.前記高透過性及び高拡散性を有する拡散器が、少なくとも85%の拡散透 過性を有する拡散フィルムを含むことを特徴とする請求項14記載の環状照明装 置。 16.前記複数の反射要素が、電子部品に配置されるはんだ球の配列であること を特徴とする請求項1記載の環状照明装置。 17.照明検知装置の視野に配置され、被検査物品のほぼ平坦な表面に取付けら れた複数の反射要素を照らすための環状照明装置において、 該環状照明装置は、 予め定められた直径を有するほぼ環状の光源であって、複数の光束を発生する 光源を有し、 前記ほぼ環状の光源は、 該ほぼ環状の光源によって発せられた前記複数の光束を、前記物品の前記ほぼ 平坦な表面に対して、照明の角度範囲で前記視野にある前記物品へ方向づけるた めに、前記物品の前記ほぼ平坦な表面に平行な平面に対して予め定められた角度 で取付けられた複数の発光素子を含み、 前記照明の角度範囲において方向づけられた前記光束は、前記被検査物品の前 記ほぼ平坦な表面に当たった前記複数の光束のいずれも、前記照明検知装置に反 射しないように、前記視野を横断して被検査物品上の前記複数の反射要素の照明 を行うことを特徴とする照明装置。 18.照明検知装置の視野内に配置され、被検査物品のほぼ平坦な表面に取付け られた複数の反射要素を照らすための環状照明装置において、 該環状照明装置は、 予め定められた直径を有するほぼ環状の光源であって、複数の光束を発生する 光源と、 前記照明の角度範囲における前記複数の光束を方向づける手段が、前記ほぼ環 状の光源によって発せられた前記複数の光束を角度をなして拡散するために、前 記ほぼ環状の光源に近接して配置され、前記ほぼ環状の光源によって発せられた 前記複数の光束を、前記物品の前記ほぼ平坦な表面に対して、照明の角度範囲で 前記視野にある前記物品へ方向づける高透過性及び高拡散性を有する拡散器と、 を備え、 前記照明の角度範囲において方向づけられた前記光束は、被検査物品の前記ほ ぼ平坦な表面に当たった前記複数の光束のいずれも、前記照明検知装置に反射し ないように、前記視野を横断して被検査物品上にある前記複数の反射要素の照明 を行うことを特徴とする照明装置。 19.被検査物品のほぼ平坦な表面に取付けられた複数の反射要素を検査するた めの検査システムにおいて、該検査システムは、 間隙を規定する環状照明装置であって、該環状照明装置は、被検査物品へ方向 付けられる複数の光束を発生するためのほぼ環状の光源を含み、前記複数の光束 が被検査物品上の前記複数の反射要素にほぼ均一な照明を付与する照明装置と、 前記物品上の前記複数の反射要素が前記視野に位置するように、前記環状照明 装置から所定の間隔をあけて前記物品を支持する、前記環状照明装置の下に取付 けられた物品支持面と、 前記環状照明装置の前記間隙に近接して配置され、視野を有する照明検知装置 であって、前記各々の照明反射要素から前記照明検知装置に反射した光束が、前 記照明検知装置によって検出され、被検査物品のほぼ平坦な表面に当たった光束 が、前記照明検知装置により検出されないように、前記視野において各々の照明 反射要素から反射した光束を検出し、前記複数の反射要素の各々の反射像を形成 する照明検知装置と、 を備えたことを特徴とする検査システム。 20.前記物品支持面が、前記環状照明装置の下の複数の前記物品を、連続的に 動かすことを特徴とする請求項19記載の検査システム。 21.さらに、前記少なくとも一つの反射要素の前記反射像を映すディスプレイ を含むことを特徴とする請求項19記載の検査システム。 22.さらに、前記少なくとも一つの反射要素の前記反射像を演算するイメージ プロセッサを含むことを特徴とする請求項19記載の検査システム。 23.前記複数の反射要素が、電子部品上に取付けられたはんだ球の配列を含む ことを特徴とする請求項19記載の検査システム。 24.前記照明検知装置が、各々のはんだ球の存否、各々のはんだ球の位置、は んだ球間のピッチ、奇形のはんだ球、各々のはんだ球の直径、及び各々のはんだ 球の真円度の、少なくとも一つを検出することを特徴とする請求項23記載の検 査システム。 25.前記照明検知装置は、ビデオカメラを含むことを特徴とする請求項19記 載の検査システム。 26.照明検知装置の視野に配置され、被検査物品のほぼ平坦な表面に取付けら れた複数の反射要素を照らすための環状照明装置において、 該環状照明装置は、 予め定められた直径を有するほぼ環状の光源であって、複数の光束を発生する ための複数の発光素子を含み、該複数の発光素子の各々の中心線が、前記被検査 物品の前記ほぼ平坦な表面に対して予め定められた角度で配置されるように、前 記複数の発行要素が、前記物品のほぼ平坦な表面に平行な平面に対して前記予め 定められた角度で取付けられた光源と、 前記発光素子により発せられた前記複数の光束の少なくともいくつかを反射さ せるために、前記複数の発光素子の各々の背面にまんべんなく取付けられた光反 射面と、 前記検出領域内における前記物品へ方向付けられた前記複数の光束として、前 記複数の光束の少なくともいくつかを拡散させるために、前記複数の発光素子の 各々の前方にまんべんなく取付けられた光拡散面と、 を備え、 前記複数の光束は、前記物品上の前記複数の反射要素が同時に照らされ、被検 査物品の前記ほぼ平坦な表面に当たった前記複数の光束のどれもが、前記照明検 知装置に反射しないように、前記物品の前記ほぼ平坦な表面に対して照明の角度 範囲にある前記視野の前記物品に方向付けられたことを特徴とする環状照明装置 。 27.前記光反射面が、前記発光素子に近接した白い表面を含むことを特徴とす る請求項26記載の環状照明装置。 28.さらに、取付け部材を含み、前記複数の発光素子がほぼ環状に前記取付け 部材に配置されていることを特徴とする請求項26記載の環状照明装置。 29.前記取付け部材が、上部取付け部及び側部取付け部を含み、前記複数の発 光素子が前記上部取付け部と前記側部取付け部の少なくとも一つに配置され、前 記上部取付け部と前記側部取付け部の少なくとも一つが光反射面を有することを 特徴とする請求項28記載の環状照明装置。 30.前記複数の発光素子が発光ダイオード(LED)であることを特徴とする 請求項26記載の環状照明装置。 31.前記複数のLEDの各々が、約20°〜40°の範囲で広がる光束を発生 することを特徴とする請求項30記載の環状照明装置。 32.前記複数のLEDの各々が、遠赤スペクトル波長を有する光束を発するこ とを特徴とする請求項30記載の環状照明装置。 33.前記発光素子の前記予め定められた角度が4°であることを特徴とする請 求項26記載の環状照明装置。 34.前記ほぼ環状の光源の前記予め定められた直径が、前記被検査物品の前記 視野の大きさの2 1/2〜3倍の範囲であることを特徴とする請求項26記載 の環状照明装置。 35.さらに、前記複数の反射要素が、電子部品上に取付けられたはんだ球の配 列であることを特徴とする請求項26記載の環状照明装置。 36.前記複数の光束の各々の中心光束領域が、前記視野を越えて前記被検査物 品の前記視野の反対側の端部へ方向づけられように、前記予め定められた直径と 前記予め定められた角度が規定されていることを特徴とする請求項26記載の環 状照明装置。 37.照明検知装置の視野に配置され、被検査物品のほぼ平坦な表面に取付けら れた複数の反射要素を照らすための環状照明装置において、 該環状照明装置は、予め定められた直径を有するほぼ環状の光源であって、複 数の光束を発生する光源を有し、 前記ほぼ環状の光源は、 該ほぼ環状の光源によって発せられた前記複数の光束を前記視野の前記物品へ 方向付けるために、前記物品の前記ほぼ平坦な表面に平行な平面に対して、予め 定められた角度で配置した複数の発光素子を有し、 前記複数の光束が前記ほぼ平坦な表面から前記照明検知装置に反射せずに、前 記被検査物品の前記視野で前記複数の反射要素にほぼ均等な照明を付与する ように、前記複数の光束の各々の中心光束領域が前記視野を横断して前記被検査 物品上の前記視野の反対側の端部に方向付けられるように、前記予め定められた 直径と予め定められた角度が規定されていることを特徴とする環状照明装置。 38.前記予め定められた角度が4°であることを特徴とする請求項37記載の 環状照明装置。 39.前記予め定められた直径が、前記被検査物品の前記視野の大きさの約2 1/2〜3倍であることを特徴とする請求項38記載の環状照明装置。 40.さらに、前記発光素子により発せられた前記光束の少なくともいくつかを 反射するために、前記複数の発光素子の各々の背面にまんべんなく取付けられた 光反射面を有することを特徴とする請求項37記載の環状照明装置。 41.さらに、前記複数の光源が前記視野内の前記物品へ方向付けられるように 、前記複数の光束の少なくともいくつかを拡散させるために、前記複数の発光素 子の各々の前方にまんべんなく取付けられた光拡散面を含むことを特徴とする請 求項40記載の環状照明装置。 42.前記光反射面が、前記発光素子に近接した白い面を含むことを特徴とする 請求項41記載の環状照明装置。 43.前記複数の発光素子が発光ダイオード(LED)であることを特徴とする 請求項37記載の環状照明装置。 44.前記複数のLEDの各々が、約20°〜40°の範囲で広がる光束を発生 することを特徴とする請求項43記載の環状照明装置。 45.前記複数のLEDの各々が、遠赤スペクトル波長を有する光束を発するこ とを特徴とする請求項44記載の環状照明装置。 46.照明検知装置の視野に配置され、被検査物品のほぼ平坦な表面に取付けら れた少なくとも一つの反射要素を照らすための環状照明装置において、 該環状照明装置は、 各々約20°〜40°の範囲で広がる複数の光束を発生し、遠赤スペクトル波 長を有する複数の発光ダイオード(LED)を含むほぼ環状の光源を有し、 前記複数のLEDの各々が、前記物品の前記ほぼ平坦な表面に平行な平面に対 して予め定められた4°の角度で配置され、被検査物品の前記視野の大きさの2 .5〜3倍の予め定められた直径を有するリングを形成する光源と、 前記LEDにより発せられた前記光束の少なくともいくつかを反射するために 、前記複数のLEDの各々の背面にまんべんなく取付けられた光反射面と、 前記視野内の前記物品へ方向付けられる複数の光束として、前記光束の少なく ともいくつかを拡散させるために、前記複数のLEDの各々の前方にまんべんな く取付けられた光拡散面と、 を備えたことを特徴とする環状照明装置。 47.ほぼ平坦な表面に取付けられた複数の反射要素を有する物品を照らす方法 であって、該方法は、 前記複数の反射要素を有する前記物品を、照明検知装置の視野内の環状照明装 置の下に配置する工程と、 前記複数の光束の各々の中央の光束領域が、前記視野を横断して前記被検査 物品の前記視野の反対側の端部に方向付けられるように、前記環状照明装置を使 用して複数の光束を前記物品に方向付ける工程と、 を有し、 前記複数の光束は、前記光が前記複数の反射要素の各々から前記照明検知装置 へ反射され、前記光が前記照明検知装置から離れた前記ほぼ平坦な表面から反射 するように、前記被検査物品に対してある照明の角度で、前記被検査物品に方向 付けられることを特徴とする方法。 48.前記物品が前記ほぼ平坦な表面を有する基板と、その上に取付けられた複 数の丸い反射要素を有することを特徴とする請求項47記載の方法。 49.前記照明の角度が4°であることを特徴とする請求項47記載の方法。 50.前記環状照明装置の直径が、前記被検査物品の前記視野の大きさの2.5 〜3倍であることを特徴とする請求項49記載の方法。 51.前記複数の光束の各々が、20°〜40°の範囲で広がることを特徴とす る請求項36記載の方法。 52.前記複数の光束の各々が、遠赤スペクトル波長を有することを特徴とする 請求項36記載の方法。
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