JPH10227620A - 半導体パッケージの端子検査装置 - Google Patents

半導体パッケージの端子検査装置

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JPH10227620A
JPH10227620A JP3057597A JP3057597A JPH10227620A JP H10227620 A JPH10227620 A JP H10227620A JP 3057597 A JP3057597 A JP 3057597A JP 3057597 A JP3057597 A JP 3057597A JP H10227620 A JPH10227620 A JP H10227620A
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JP
Japan
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illumination
ring
ball
semiconductor package
imaging
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JP3057597A
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Inventor
Takashi Kurihara
栗原  隆
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Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】端子の頂点付近のエッジパターンを鮮明かつ適
当なる大きさで得ることができ、かつ背景像とのコント
ラストが良好な端子像を得ることができ、隣接端子像が
完全に分離された撮像画像を得ることができるようにし
て、端子平坦度の検査精度を向上させる。 【解決手段】ボール状の端子が列設された半導体パッケ
ージの斜め方向から撮像する撮像手段と、斜め撮像手段
による撮像用に前記パッケージ面を照明する手段とを具
え、半導体パッケージの端子を検査する半導体パッケー
ジの端子検査装置において、斜め撮像用照明手段は、少
なくともその内周面から照明光を発生し、前記半導体パ
ッケージの上方に配設されてそのリング面が斜め撮像手
段の光軸に略直角となるように配設された半リング形状
の第1の照明と、リング形状の第2の照明とを有し、斜
め撮像手段による撮像の際に、第1及び第2の照明を同
時に点灯する点灯制御手段とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はBGAやCSPな
どの半導体パッケージのボール状端子の位置ズレ、ピッ
チ、平坦度などの各種検査項目を検査する半導体パッケ
ージの端子検査装置に関し、特に半導体パッケージの撮
像処理の際に用いる照明手法の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】BGA(Ball Grid Array)またはCS
P(Chip Size Package)と呼ばれる半導体パッケージ
(以下これらをまとめてBGAと略記する)は、半導体
パッケージの裏面にボール状のハンダバンプが2次元配
列されたものであり、BGAはこれらハンダバンプによ
ってプリント配線基板に直接ハンダ付けして実装される
ようになっている。
【0003】このBGAのようなパッケージ裏面に端子
が形成されたタイプの半導体パッケージに関して、端子
の位置ズレ、ピッチ、平坦度などを検査する際、従来
は、3角測量の原理を用いて被検査対象までの距離を測
定するレーザ変位計を用いるようにしていた。
【0004】すなわち、このレーザ変位計を用いた従来
技術では、裏面を上にして配設された上記半導体パッケ
ージの上にレーザ変位計を配置し、このレーザ変位計で
半導体パッケージの各ハンダバンプの頂上部付近を1つ
ずつ走査することで、各ハンダバンプの高さなどを計測
するようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このようなレーザ変位
計を用いた従来技術では、レーザ変位計によって各ハン
ダバンプの高さを1つずつ計測するようにしているの
で、検査に多くの時間がかかり、またハンダバンプの表
面に傷等がある場合、正確な検査測定をなし得ないとい
う問題がある。
【0006】そこで、本出願人は、特願平8−1249
53号によって上記の問題点を解決するようにしてお
り、図11にその構成を示す。
【0007】すなわち、図11において、BGA1は表
裏反転されてBGAトレイ3上に載置されており、BG
A1の上方には、ハーフミラーHMが配設され、更にそ
の上方にはカメラA用の照明5が配設されている。カメ
ラAは、ハーフミラーHMを介してBGA1の裏面像を
平面図像として撮像する。BGA1の側部にはカメラB
用の照明6が設けられており、カメラBでハンダボール
(ハンダバンプ)2が配設されたBGA1の裏面を斜め
上方から撮像する。この場合、カメラAで撮像する際に
はカメラA用の照明5のみを点灯し、またカメラBで撮
像する際にはカメラB用の照明6のみを点灯する。
【0008】上記図11に示す構成では、2台のカメラ
A,Bで撮像した画像データをステレオ法によって処理
することで各ボールの3次元情報(平面位置(xy位置)
及び高さ(z位置))を得るようにしている。
【0009】ここで、上記2台のカメラA,Bの撮像画
像中でボール2の画像位置を特定する際には、通常パタ
ーンマッチング処理が用いられが、パターンマッチング
において、位置決めする対象(この場合はハンダボール
2)と背景(この場合はパッケージ基板面4)とのコン
トラストが高いほど位置の検出精度は向上する。また、
逆に、背景(パッケージ面4)からの反射光がカメラに
入ってしまうと、位置決め対象であるハンダボールとの
コントラストが低下して、位置決め精度、ひいては平坦
度(高さ)などの検査精度自体が低下してしまう。
【0010】また、一般に、BGAパッケージの基板中
にはランダムな配線パターンが走っているために、基板
からの反射光がカメラにはいる場合は、これら配線パタ
ーンからの反射光もカメラにはいることになる。このラ
ンダムな配線パターンからの反射光はパターンマッチン
グの際の外乱になり、これも位置決め精度を低下させる
原因となる。
【0011】ここで、上記図11に示す構成において、
BGA1を斜め上方から撮像するカメラB用の照明とし
ては、通常図12または図13に示すような平板状の反
射照明6が用いられていた。
【0012】これら平板照明は、プレート上に多数個の
LEDをマトリクス状に配列したもので、図12の場合
は、BGA1の斜め上方からBGA1を照明するように
している。なお、BGAやCSPの場合は、撮像対象で
ある端子(ボール)が基板のエリア内に存在し、QFP
のようにパッケージの外側に突出していないので、透過
照明は使用不可能で、どうしても反射照明を使用する必
要がある。
【0013】この図12のような斜め上方からの照明6
を用いた場合、ハンダボールの撮像像は円形の光った像
となるが、隣接したハンダボールの撮像像がつながらな
いように照明光の光量を下げると、カメラBに入射され
るハンダボールからの反射光量自体も減少することにな
り、この結果ハンダボールの撮像像は図14(a)に示す
ように、1個1個が非常に小さな像となってしまい、実
用には供さない。
【0014】また、図12において、照明6の光量を上
げてハンダボールの光る部分の像を大きくしようとする
と、カメラBからみて奥行き方向に対しても光る部分が
増大されるために、結果として、図14(b)に示すよう
に、隣接するハンダボールの像がつながってしまう。こ
のように、図12に示す照明6では、光量を増減して
も、要求されるパターンマッチングの精度を確保するこ
とができない。
【0015】次に、図13に示す技術では、BGA1を
挟んでカメラBと正対するように平板照明6を配置して
いるが、この場合には、BGA1のパッケージ基板4か
ら反射光がまともにカメラBに入射されてしまい、カメ
ラBの撮像像において背景部分(パッケージ基板4)と
ハンダボール2部分とのコントラストが低下して、これ
も要求される位置決め精度を確保することができない。
【0016】この発明はこのような実情に鑑みてなされ
たもので、端子の頂点付近のエッジパターンを鮮明かつ
適当なる大きさで得ることができ、かつ背景像とのコン
トラストが良好な端子像を得ることができ、さらに隣接
端子像が完全に分離された撮像画像を得ることができる
ようにして、端子平坦度などの検査精度を向上させる半
導体パッケージの端子検査装置を提供することを目的と
する。
【0017】
【課題を解決するための手段および作用効果】第1の発
明では、ボール状の端子が列設された半導体パッケージ
のパッケージ面を所定の仰角をもって斜め方向から撮像
する斜め撮像手段と、前記斜め撮像手段による撮像用に
前記パッケージ面を照明する斜め撮像用照明手段とを具
え、これら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半導体
パッケージの端子を検査する半導体パッケージの端子検
査装置において、前記斜め撮像用照明手段は、少なくと
もその内周面から照明光を発生し、前記半導体パッケー
ジの上方に配設されてそのリング面が前記斜め撮像手段
の光軸に略直角となるように配設された半リング形状の
第1の照明と、前記半導体パッケージの上方で半導体パ
ッケージを囲むようにリング状の照明部分が配設された
リング形状の第2の照明とを有し、前記斜め撮像手段に
よる撮像の際に、前記第1及び第2の照明を同時に点灯
する点灯制御手段と、を備えるようにしている。
【0018】まず、第1の照明である半リング状照明を
リングの頂上部分とその両側にある側部領域との3つの
領域に分けて考えた場合、上記頂上部分からの光のみで
は撮像した端子像の形状はボール状端子の形をそのまま
反映する略円形となり、隣接した端子像とつながりやす
くなる。また、隣接した端子像がつながらないように頂
上部分の照明の光量を下げた場合は、光量が不足して、
その端子像は小さなものとなる。また、上記頂上部分の
照明を強くすると、端子像は大きくはなるが隣接した端
子像とつながってしまう。
【0019】そこで第1の発明では、第1の照明を半リ
ング状に照明を構成することにより、半導体パッケージ
を上記頂上部分からの他に該頂上部分の両側にある前記
側部領域からも照明することにより、上記頂上部分の照
明のみではボール状端子用の照明としては不足する分を
上記頂上部分の両側にある側部領域からの照明によって
補填するようにしている。すなわち、ボール状端子の頂
上付近に前記側部領域から斜め側方から照明をした像
が、半リング状照明の頂上部分からの照明による像に追
加される、この結果、第1の照明のみを点灯して撮像を
行った場合は、撮像された像は略U字型となり、隣接端
子像とつながり難く分離し易くなる。
【0020】また、リング状照明のリング面は斜め撮像
手段の光軸に略直角となるように配設されているので、
半リング状照明の前記側部領域からの光は半導体パッケ
ージの基板面で反射されても斜め撮像手段に直接入射さ
れる光量は極めて少なくなる。一方、半リング状照明の
前記側部領域からボール状端子の頂上付近に入射された
光は、端子がボール状をしているので、各方向に適宜散
乱されて斜め撮像手段へも適当量入射される。
【0021】したがって、斜め撮像手段により撮像され
たボール状端子像は、背景である基板画像とのコントラ
ストが良好なものになる。
【0022】上記第1の照明のみによる撮像によれば、
ボール状端子の表面形状が滑らかである場合には、前述
した理由で、隣接端子像とつながり難く分離し易い、逆
U字型のボール状端子像を背景像とのコントラストが良
好な状態で得ることができる。
【0023】しかし、上記第1の照明手段のみでは、ボ
ール状端子の表面形状が滑らかでない場合には、そのボ
ール状端子表面の凹部が影として逆U字型のボール端子
像に反映されてしまい、光った像としてのボール端子像
の面積が小さくなると共に、結果的にその形状も様々に
変動することになる。
【0024】そこで、第1の発明では、斜め撮像手段用
の照明として、上記第1の照明である半リング状の照明
の他に、半導体パッケージの上方で半導体パッケージを
囲むようにリング状の照明部分が配設されたリング形状
の第2の照明を追加することにより、各ボールに対して
360゜横方向から光が照射されるようにし、これによ
りボール表面の凹凸によって発生した輝点や暗点をなく
すと共に、各ボールパターンの面積を隣接したボール像
とつながらない程度に増大させるようにしている。
【0025】したがって、この第1の発明によれば、ボ
ール状端子の表面形状が滑らかでない場合においても、
端子の頂点付近のエッジパターンを鮮明かつ適当なる大
きさで得ることができ、また背景像とのコントラストが
良好な端子像を得ることができ、さらに隣接端子像が完
全に分離された撮像画像を得ることができ、これにより
端子平坦度などの検査精度を従来に比べ大幅に向上させ
ることができる。
【0026】第2の発明では、ボール状の端子が列設さ
れた半導体パッケージのパッケージ面を所定の仰角をも
って斜め方向から撮像する斜め撮像手段と、前記斜め撮
像手段による撮像用に前記パッケージ面を照明する斜め
撮像用照明手段とを具え、これら斜め撮像手段の撮像デ
ータに基づいて半導体パッケージの端子を検査する半導
体パッケージの端子検査装置において、前記斜め撮像用
照明手段は、少なくともその内周面から照明光を発生
し、前記半導体パッケージを囲繞するように配設されて
そのリング面が前記斜め撮像手段の光軸に略直角となる
ように配設されたリング形状の第1の照明と、前記半導
体パッケージの上方で半導体パッケージを囲むようにリ
ング状の照明部分が配設されたリング形状の第2の照明
とを有し、前記斜め撮像手段による撮像の際に、前記第
1及び第2の照明を同時に点灯する点灯制御手段と、を
備えるようにしている。
【0027】かかる第2の発明によれば、先の第1の発
明では半リング形状であった第1の照明を完全なリング
状形状とし、このリング状形状の照明を半導体パッケー
ジを囲繞するように配設しかつそのリング面が前記斜め
撮像手段の光軸に略直角となるように配設するようにし
ている。第2の照明については、先の第1の発明と同
様、半導体パッケージの上方で半導体パッケージを囲む
ように配設されたリング状照明を用い、撮像の際にはこ
れら第1および第2の照明を同時に点灯するようにして
いる。
【0028】したがって、この第2の発明においても、
先の第1の発明と同様、ボール状端子の表面形状が滑ら
かでない場合においても、隣接ボール画像と分離し易い
形状であるボール端子像を、或る程度の面積を確保しつ
つ得ることができるようになるとともに、背景である基
板画像とボール画像とのコントラストも良好なものにな
る。
【0029】第3の発明では、ボール状の端子が列設さ
れた半導体パッケージのパッケージ面を所定の仰角をも
って斜め方向から撮像する斜め撮像手段と、前記斜め撮
像手段による撮像用に前記パッケージ面を照明する斜め
撮像用照明手段とを具え、これら斜め撮像手段の撮像デ
ータに基づいて半導体パッケージの端子を検査する半導
体パッケージの端子検査装置において、前記斜め撮像用
照明手段は、少なくともその内周面から照明光を発生
し、前記半導体パッケージの上方に配設されてそのリン
グ面が前記斜め撮像手段の光軸に略直角となるように配
設された半リング形状の第1の照明と、前記半導体パッ
ケージを略真上から照明する第2の照明とを有し、前記
斜め撮像手段による撮像の際に、前記第1及び第2の照
明を同時に点灯する点灯制御手段と、を備えるようにし
ている。
【0030】かかる第3の発明によれば、第1の照明は
先の第1の発明と同様、半リング状とし、第2の照明を
半導体パッケージをほぼ真上から照明する平板照明とす
るようにしており、撮像の際にはこれら第1および第2
の照明を同時に点灯するようにしている。
【0031】この第3の発明によれば、第2の照明は半
導体パッケージをほぼ真上から照明するようにしている
ので、撮像によって得られたボール状端子像は、第1の
照明のみを点灯することによって得られるボール状端子
像に比べ、その面積がさらに増加されたものとなる。
【0032】したがって、第3発明においても、先の第
1又は第2の発明同様、ボール状端子の表面形状が滑ら
かでない場合においても、隣接ボール画像と分離し易い
形状であるボール端子像を、或る程度の面積を確保しつ
つ得ることができるようになるとともに、背景である基
板画像とボール画像とのコントラストも良好なものにな
る。
【0033】第4の発明では、ボール状の端子が列設さ
れた半導体パッケージのパッケージ面を所定の仰角をも
って斜め方向から撮像する斜め撮像手段と、前記斜め撮
像手段による撮像用に前記パッケージ面を照明する斜め
撮像用照明手段とを具え、これら斜め撮像手段の撮像デ
ータに基づいて半導体パッケージの端子を検査する半導
体パッケージの端子検査装置において、前記斜め撮像用
照明手段は、少なくともその内周面から照明光を発生
し、前記半導体パッケージを囲繞するように配設されて
そのリング面が前記斜め撮像手段の光軸に略直角となる
ように配設されたリング形状の第1の照明と、前記半導
体パッケージを略真上から照明する第2の照明とを有
し、前記斜め撮像手段による撮像の際に、前記第1及び
第2の照明を同時に点灯する点灯制御手段と、を備える
ようにしている。
【0034】かかる第4の発明によれば、第1の照明は
先の第2の発明と同様、完全リング状とし、第2の照明
を半導体パッケージをほぼ真上から照明するようにして
おり、撮像の際にはこれら第1および第2の照明を同時
に点灯する。
【0035】この第4の発明によれば、第2の照明は半
導体パッケージをほぼ真上から照明するようにしている
ので、撮像によって得られたボール状端子像は、第1の
照明のみを点灯することによって得られるボール状端子
像に比べ、その面積がさらに増加されたものとなる。
【0036】したがって、第4発明においても、先の第
1又は第2又は第3の発明同様、ボール状端子の表面形
状が滑らかでない場合においても、隣接ボール画像と分
離し易い形状であるボール端子像を、或る程度の面積を
確保しつつ得ることができるようになるとともに、背景
である基板画像とボール画像とのコントラストも良好な
ものになる。
【0037】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施例を添付図
面に従って詳細に説明する。
【0038】なお、以下の実施例では、検査対象とする
半導体パッケージをBGA1とする。BGA1は、周知
のように、プリント基板を用いたLGA(Land grid ar
rey)タイプのチップキャリアであり、チップの上面側
をモールドするとともに、下面側に複数のハンダバンプ
2(以下ボールという)を格子状に形成したものであ
る。
【0039】[第1実施例]図1にこの発明の第1実施
例を示す。
【0040】図1において、BGA1は表裏反転されて
ボール2が列設されたボール面を上にしてBGAトレイ
3上に載置されている。
【0041】BGA1の上方には、BGA1のボール2
が配設された裏面を真っ直ぐ上方から撮像するためのカ
メラAが配設されている。また、BGA1の上方には、
BGAトレイ3を囲むようにリング状照明7が配設され
ている。このリング状照明7は後述するように、カメラ
Aでの撮像のときとカメラBでの撮像のときの双方で点
灯される。このリング状照明7は、通常の白色蛍光灯で
もよいし、リングの内周面に多数のLEDをマトリクス
状に列設したものを用いてもよい。
【0042】一方、BGA1の斜め上方には、BGA1
の裏面を斜め上方から撮像するカメラBが配設されてお
り、その仰角θは例えば20度前後に設定するようにし
ている。
【0043】また、カメラAとリング状照明7の間に
は、カメラB用の照明としてのアーチ状の半リング照明
8が設けられており、この半リング照明8はカメラBで
の撮像のときにのみ点灯される。この場合、この半リン
グ状照明8の内周面全領域には、多数個の発光素子9
(例えばLED)がマトリクス状に列設されている。
【0044】図2は、図1に示した構成の動作手順を示
すもので、図1の構成によれば、カメラAによる撮像を
行う際には、リング照明7を点灯し、半リング照明8は
消灯しておく(ステップ100、110)。そして、カ
メラAによってBGA1の裏面の平面像を撮像し、この
撮像データを画像処理することにより、各BGA1のボ
ール2のx−y位置を求める。また、必要に応じて、各
ボールの直径、変形の有無等の情報も求める(ステップ
120、130、140)。
【0045】一方、カメラBによる撮像を行う際には、
リング照明7および半リング照明8の双方を点灯する
(ステップ150)。この点が本発明の特徴である。
【0046】そして、この状態で、BGA1の裏面を斜
め上方から撮像し、その撮像データを画像処理すること
で、各ボール2の斜め方向の高さdを求める。そして、
これら各ボール2の高さデータdが得られると、この高
さデータdと予め既知であるボールの理想半径rおよび
カメラBの仰角θを用いて、各ボールのz方向の高さH
を演算する(ステップ160、170、140)。
【0047】ここで、半リング照明8であるが、その半
径は、図3に示すように、少なくとも検査対象である1
つのBGAパッケージ1を上方の略180度方向から照
明できる大きさに設定している。また、この半リング照
明8は、カメラBの光軸に対しそのリング面Gがほぼ直
角になるように配設されている。なお、図1の場合は、
半リング状照明8のリング面Gを、BGA1に対する正
対面Jから少しずらせて配設するようにしているが、こ
れはこの場合半リング状照明8の各LEDの照射方向を
リング面にGに対し角度を付けて設定して、BGA1の
裏面を均一に照明できるようにしたためであり、この配
設位置はBGA1の上方であれば任意の位置でよい。例
えば、リング面Gを面Jに一致させるようにしてもよ
い。
【0048】図4は、かかる半リング状照明8のみを点
灯した場合に得られたカメラBによるボール2の撮像画
像の一部を示すもので、この半リング状照明によれば各
ボールの頂点付近の画像は、逆U字型のエッジパターン
として得ることができる。なお、図4において、2´は
ボール像、4´は基板画像である。
【0049】即ち、半リング状照明8によれば、図3に
示すように、BGA1から見て高い位置にある照明領域
A1の部分でBGA1のボール2の頂点付近を照明する
とともに、その両側のBGA1から見て低い位置にある
照明領域A2,A3の部分でBGA1を斜め側方から照
明することにより、ボール2の光る部分の面積を増大さ
せるようにして、図4に示したような逆U字型のボール
画像を得るようにしている。
【0050】すなわち、半リング状照明8の照明領域A
1の部分は基本的には先の図12に示した平板照明と同
じような作用をするが、この照明領域A1の両側に領域
A2,A3を延設して照明8を半リング状としたことに
よって、照明領域A1のみでは不足しているボール2の
光る部分の面積を増大させ(なぜならば、ボールの表面
は球状であるため側方の照明領域A2,A3からの光で
もカメラBに入射される)、かつその形状は隣接ボール
像とつながり易い円形ではなく逆U字型とするようにし
ている。
【0051】また、前記照明領域A2,A3は先の図1
3に示した平板照明と同様、BGA1から見て低い位置
にあるが、照明8を半リング状として照明領域A2,A
3からの光をBGA1のななめ側方(図1ではY方向)
から入射するようにしているので、図3に示すように、
照明領域A2,A3の光のパッケージ基板での反射光
は、殆どカメラBに入射されることはない。このため、
カメラBによって得られたボールパターンは、背景部分
であるパッケージ基板とのコントラストが大きなものと
なる。
【0052】なお、図1の場合は、カメラBの仰角θを
20゜程度に設定してカメラBを比較的低い位置に配設
するようにしたので、半リング状照明8のリング面Gを
カメラBの光軸にほぼ直角にするようにしたが、カメラ
Bの仰角θが45゜程度の場合は例外であり、リング面
GをカメラBの光軸に直角にするべきではない。なぜな
らば、カメラBの仰角θおよびリング面Gが双方とも4
5゜程度の場合は、リング状照明8の高い位置にある照
明領域A1からの光のパッケージ基板での反射光がカメ
ラBに直接入射されるようになり、基板像とボール像と
のコントラストを考えた場合、好ましくないからであ
る。
【0053】図5は、半リング状照明8およびリング状
照明7を同時点灯とした場合に得られたカメラBによる
ボール2の撮像画像の一部を示すもので、この場合のボ
ールの撮像画像は、リング状照明7を追加したことによ
って、先の図4に示す半リング状照明8のみの場合の撮
像画像に比べ、そのボール像2´は面積が増加し、また
形状は卵形状となっている。なお、図5において、各ボ
ール像2´に形成されている影の部分25はボール2の
頂点からカメラB側に位置する一部領域に対応する。
【0054】半リング状照明8のみによる撮像によれ
ば、ボール2の表面形状が滑らかである場合には、前述
した理由で、隣接端子像とつながり難く分離し易い、逆
U字型のボール端子像を背景像とのコントラストが良好
な状態で得ることができる。
【0055】しかし、半リング状照明8のみによれば、
ボール2の表面形状が滑らかでない場合には、そのボー
ル2の表面の凹部が影として逆U字型のボール端子像に
反映されてしまい、光った像としてのボール端子像の面
積が小さくなり、結果的にその形状もボール表面の凹凸
に応じて様々に変動することになる。
【0056】すなわち、BGAやCSPにおいては、テ
スト工程でテスト用触針(プローブ)と接触したりして
ボール表面に圧痕が残ったり、製造工程あるいは保存上
の問題でボール表面に微小な凹凸が形成されたりするこ
とがあり、これらの表面が滑らかではないボール表面に
LED等の指向性の高い照明を直接当てると、カメラB
で撮像されたボール画像自体に前記ボール表面の凹凸に
対応する輝点や暗点が生じてしまう。これらの輝点及び
暗点は、パターンマッチングの際に大きな悪影響を及ぼ
し、位置決め精度を低下させる1つの原因となる。
【0057】そこでこの実施例では、半リング状の照明
8の他に、BGA1の上方でBGA1を囲むように配設
されたリング状照明7による照明を追加し、撮像の際に
は上記半リング状照明8およびリング状照明7を同時点
灯することにより、各ボールに対して360゜の横方向
からも光が照射されるようにし、これによりボール表面
の凹凸によって発生した輝点や暗点をなくすと共に、各
ボール像の撮像面積を隣接したボール像とつながらない
程度に増大させるようにしている。
【0058】したがって、この第1の実施例によれば、
ボールの表面形状が滑らかでない場合においても、ボー
ルの頂点付近のエッジパターンを鮮明かつ適当なる大き
さで得ることができ、また背景像とのコントラストが良
好な端子像を得ることができ、さらに隣接端子像が完全
に分離された撮像画像を得ることができ。
【0059】さらに、この実施例では、リング状照明7
は、カメラA用の照明とカメラB用の照明として共用さ
れるので、装置構成をコンパクト且つ安価にできる利点
も有している。
【0060】[第2実施例]図6にこの発明の第2実施
例を示す。
【0061】前述した第1の実施例においては、カメラ
B用の照明8を半リング状としたが、これはBGA1を
保持している面より下側の領域がBGA1の搬送装置な
どのためのエリア用に確保しなくてはならないことを考
慮したためである。
【0062】この第2実施例においては、BGA1の下
側の領域が自由に使用できる場合を想定しており、この
場合はカメラB用の照明として、完全なリング状の照明
17を用いるようにしている。
【0063】もう一方のリング状照明7は、先の第1の
実施例と同様、BGAトレイ3を囲むようにBGA1の
上方に配設されている。
【0064】この第2の実施例においても、カメラAで
の撮像の際にはリング状照明7のみを点灯し、カメラB
での撮像の際にはリング状照明7およびリング状照明1
7を同時点灯する。
【0065】この第2の実施例によって得られるカメラ
Bの撮像画像は先の図5に示した第1の実施例のものと
基本的に同じである。
【0066】[第3実施例]図7にこの発明の第3実施
例を示す。
【0067】この第3実施例においては、先の第2の実
施例の構成に対し、上部平板照明20をさらに追加する
ようにしており、この上部平板照明20によってBGA
1をほぼ真上から均一に照明できるようにしている。す
なわちこの場合、上部照明20は、高周波蛍光灯照明2
1と、その前方で照明21の指向性を弱めるための光拡
散板22とで構成され、一様な光をもってBGA1を上
方から照明する。
【0068】図8は、図7に示した構成の動作手順を示
すもので、図7の構成によれば、カメラAによる撮像を
行う際には、リング照明7を点灯し、リング照明17お
よび上方照明20は消灯しておく(ステップ200、2
10)。そして、カメラAによってBGA1の裏面の平
面像を撮像し、この撮像データを画像処理することによ
り、各種の検査項目を測定する(ステップ220、23
0、240)。
【0069】一方、カメラBによる撮像を行う際には、
リング照明17および上方照明20の双方を点灯し、リ
ング状照明7は消灯しておく(ステップ250)。
【0070】そして、この状態で、BGA1の裏面をカ
メラBによって斜め上方から撮像し、その撮像データを
画像処理することで、各種の検査項目を計測する(ステ
ップ260、270、240)。
【0071】図9は、リング状照明17および上方照明
20を同時点灯とした場合に得られたカメラBによるボ
ール2の撮像画像の一部を示すもので、この場合のボー
ルの撮像画像は、BGA1をほぼ真上から照らす上方照
明20を追加したことによって、先の図4に示す半リン
グ状照明8のみの場合の撮像画像に比べ、そのボール像
2´は面積が増加し、また形状も逆U字型を膨らませた
ような形状となっている。
【0072】このようにこの実施例では、リング状照明
17の他に、BGA1の上方でBGA1を上方から均一
に照射する上方照明20を追加し、カメラBによる撮像
の際には上記リング状照明17および上方照明20を同
時点灯することにより、各ボールに対して上方からも均
一に光が照射されるようにし、これによりボール表面の
凹凸によって発生した輝点や暗点をなくすと共に、各ボ
ール像の撮像面積を隣接したボール像とつながらない程
度に増大させてパターンマッチング精度を向上させるよ
うにしている。
【0073】したがって、この実施例によれば、ボール
の表面形状が滑らかでない場合においても、ボールの頂
点付近のエッジパターンを鮮明かつ適当なる大きさで得
ることができ、また背景像とのコントラストが良好な端
子像を得ることができ、さらに隣接端子像が完全に分離
された撮像画像を得ることができる。
【0074】[第4実施例]図10にこの発明の第4実
施例を示す。
【0075】この第4実施例においては、先の第1の実
施例の構成に対し、上部照明20をさらに追加するよう
にしており、カメラBによる撮像の際には半リング状照
明8と上方照明20を同時に点灯して、半リング状照明
8の他に、上部照明20によってBGA1をほぼ真上か
ら均一に照明できるようにしている。
【0076】なお、第3及び第4実施例で用いた上方照
明20であるが、BGA1をほぼ真上から均一に照らす
ものであれば、蛍光灯以外の他の任意の照明を用いるよ
うにしてもよい。例えば、LEDを多数個格子状に配列
したLEDアレイの前面に光拡散シートを配置し、さら
にその前面に一次元の集光作用を持つレンズアレイを配
置して、LEDアレイの光量を低下させることなく光拡
散性を増すようにした照明を用いるようにしてもよい。
また、上方照明20はBGA1をほぼ真上から均一に照
らすものであれば、平板状に限るものでもない。また、
上記上方照明として適宜の光源からの光が光反射率のよ
い天井で反射された光を利用する間接照明方式を用いる
ようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1実施例を示す図。
【図2】第1実施例の動作を説明するためのフローチャ
ート図。
【図3】第1実施例の作用を説明するための図。
【図4】第1実施例の半リング状照明のみによって得ら
れるボール撮影像を示す図。
【図5】第1実施例により得られるボール撮影像を示す
図。
【図6】この発明の第2実施例を示す図。
【図7】この発明の第3実施例を示す図。
【図8】第3実施例の動作を説明するためのフローチャ
ート図。
【図9】第3実施例により得られるボール撮影像を示す
図。
【図10】この発明の第4実施例を示す図。
【図11】先行技術を示す図。
【図12】先行技術による照明の一例を示す図。
【図13】先行技術による照明の他の一例を示す図。
【図14】先行技術によるボール撮影像を示す図。
【符号の説明】
1…BGA 2…ハンダバンプ(ボール) 3…BGAトレイ 4…基板面 5,7…カメラA用照明 6…カメラB用照明 A,B…カメラ 8…半リング状照明 9…LED 17…リング状照明

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ボール状の端子が列設された半導体パッケ
    ージのパッケージ面を所定の仰角をもって斜め方向から
    撮像する斜め撮像手段と、 前記斜め撮像手段による撮像用に前記パッケージ面を照
    明する斜め撮像用照明手段と、 を具え、これら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半
    導体パッケージの端子を検査する半導体パッケージの端
    子検査装置において、 前記斜め撮像用照明手段は、 少なくともその内周面から照明光を発生し、前記半導体
    パッケージの上方に配設されてそのリング面が前記斜め
    撮像手段の光軸に略直角となるように配設された半リン
    グ形状の第1の照明と、 前記半導体パッケージの上方で半導体パッケージを囲む
    ようにリング状の照明部分が配設されたリング形状の第
    2の照明と、 を有し、 前記斜め撮像手段による撮像の際に、前記第1及び第2
    の照明を同時に点灯する点灯制御手段と、 を備えるようにしたことを特徴とする半導体パッケージ
    の端子検査装置。
  2. 【請求項2】ボール状の端子が列設された半導体パッケ
    ージのパッケージ面を所定の仰角をもって斜め方向から
    撮像する斜め撮像手段と、 前記斜め撮像手段による撮像用に前記パッケージ面を照
    明する斜め撮像用照明手段と、 を具え、これら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半
    導体パッケージの端子を検査する半導体パッケージの端
    子検査装置において、 前記斜め撮像用照明手段は、 少なくともその内周面から照明光を発生し、前記半導体
    パッケージを囲繞するように配設されてそのリング面が
    前記斜め撮像手段の光軸に略直角となるように配設され
    たリング形状の第1の照明と、 前記半導体パッケージの上方で半導体パッケージを囲む
    ようにリング状の照明部分が配設されたリング形状の第
    2の照明と、 を有し、 前記斜め撮像手段による撮像の際に、前記第1及び第2
    の照明を同時に点灯する点灯制御手段と、 を備えるようにしたことを特徴とする半導体パッケージ
    の端子検査装置。
  3. 【請求項3】ボール状の端子が列設された半導体パッケ
    ージのパッケージ面を所定の仰角をもって斜め方向から
    撮像する斜め撮像手段と、 前記斜め撮像手段による撮像用に前記パッケージ面を照
    明する斜め撮像用照明手段と、 を具え、これら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半
    導体パッケージの端子を検査する半導体パッケージの端
    子検査装置において、 前記斜め撮像用照明手段は、 少なくともその内周面から照明光を発生し、前記半導体
    パッケージの上方に配設されてそのリング面が前記斜め
    撮像手段の光軸に略直角となるように配設された半リン
    グ形状の第1の照明と、 前記半導体パッケージのパッケージ面を略真上から照明
    する第2の照明と、 を有し、 前記斜め撮像手段による撮像の際に、前記第1及び第2
    の照明を同時に点灯する点灯制御手段と、 を備えるようにしたことを特徴とする半導体パッケージ
    の端子検査装置。
  4. 【請求項4】前記第2の照明の前面に光拡散手段を配置
    するようにしたことを特徴とする請求項3記載の半導体
    パッケージの端子検査装置。
  5. 【請求項5】ボール状の端子が列設された半導体パッケ
    ージのパッケージ面を所定の仰角をもって斜め方向から
    撮像する斜め撮像手段と、 前記斜め撮像手段による撮像用に前記パッケージ面を照
    明する斜め撮像用照明手段と、 を具え、これら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半
    導体パッケージの端子を検査する半導体パッケージの端
    子検査装置において、 前記斜め撮像用照明手段は、 少なくともその内周面から照明光を発生し、前記半導体
    パッケージを囲繞するように配設されてそのリング面が
    前記斜め撮像手段の光軸に略直角となるように配設され
    たリング形状の第1の照明と、 前記半導体パッケージを略真上から照明する平板形状の
    第2の照明と、 を有し、 前記斜め撮像手段による撮像の際に、前記第1及び第2
    の照明を同時に点灯する点灯制御手段と、 を備えるようにしたことを特徴とする半導体パッケージ
    の端子検査装置。
  6. 【請求項6】前記第2の照明の前面に光拡散手段を配置
    するようにしたことを特徴とする請求項5記載の半導体
    パッケージの端子検査装置。
JP3057597A 1997-02-14 1997-02-14 半導体パッケージの端子検査装置 Pending JPH10227620A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1310013C (zh) * 2003-10-17 2007-04-11 日立比亚机械股份有限公司 凸起形状测量装置及其方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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