JPH10232114A - 半導体パッケージの端子検査装置 - Google Patents

半導体パッケージの端子検査装置

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Publication number
JPH10232114A
JPH10232114A JP32452197A JP32452197A JPH10232114A JP H10232114 A JPH10232114 A JP H10232114A JP 32452197 A JP32452197 A JP 32452197A JP 32452197 A JP32452197 A JP 32452197A JP H10232114 A JPH10232114 A JP H10232114A
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JP
Japan
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semiconductor package
illumination
ring
light
ball
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Pending
Application number
JP32452197A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Kurihara
栗原  隆
Tomikazu Tanuki
富和 田貫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】端子の頂点付近のエッジパターンを鮮明かつ適
当なる大きさで得ることができ、かつ背景像とのコント
ラストが良好な端子像を得ることができ、さらに隣接端
子像が完全に分離された撮像画像を得ることができるよ
うにして、端子平坦度などの検査精度を向上させる。 【解決手段】ボール状の端子が列設された半導体パッケ
ージのパッケージ面を所定の仰角をもって斜め方向から
撮像する斜め撮像手段と、前記斜め撮像手段による撮像
用に前記パッケージ面を照明する斜め撮像用照明手段と
を具え、これら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半
導体パッケージの端子を検査する半導体パッケージの端
子検査装置において、前記斜め撮像用照明手段を、少な
くともその内周面から照明光を発生し、前記半導体パッ
ケージの上方に配設されそのリング面が前記斜め撮像手
段の光軸に略直角となるように配設された半リング形状
の照明とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はBGAやCSPな
どの半導体パッケージのボール状端子の位置ズレ、ピッ
チ、平坦度などの各種検査項目を検査する半導体パッケ
ージの端子検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】BGA(Ball Grid Array)またはCS
P(Chip Size Package)と呼ばれる半導体パッケージ
(以下これらをまとめてBGAと略記する)は、半導体
パッケージの裏面にボール状のハンダバンプが2次元配
列されたものであり、BGAはこれらハンダバンプによ
ってプリント配線基板に直接ハンダ付けして実装される
ようになっている。
【0003】このBGAのようなパッケージ裏面に端子
が形成されたタイプの半導体パッケージに関して、端子
の位置ズレ、ピッチ、平坦度などを検査する際、従来
は、3角測量の原理を用いて被検査対象までの距離を測
定するレーザ変位計を用いるようにしていた。
【0004】すなわち、このレーザ変位計を用いた従来
技術では、裏面を上にして配設された上記半導体パッケ
ージの上にレーザ変位計を配置し、このレーザ変位計で
半導体パッケージの各ハンダバンプの頂上部付近を1つ
ずつ走査することで、各ハンダバンプの高さなどを計測
するようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このようなレーザ変位
計を用いた従来技術では、レーザ変位計によって各ハン
ダバンプの高さを1つずつ計測するようにしているの
で、検査に多くの時間がかかり、またハンダバンプの表
面に傷等がある場合、正確な検査測定をなし得ないとい
う問題がある。
【0006】そこで、本出願人は、特願平8−1249
53号によって上記の問題点を解決するようにしてお
り、図17にその構成を示す。
【0007】すなわち、図17において、BGA1は表
裏反転されてBGAトレイ3上に載置されており、BG
A1の上方には、ハーフミラーHMが配設され、更にそ
の上方にはカメラA用の照明5が配設されている。カメ
ラAは、ハーフミラーHMを介してBGA1の裏面像を
平面図像として撮像する。BGA1の側部にはカメラB
用の照明6が設けられており、カメラBでハンダボール
(ハンダバンプ)2が配設されたBGA1の裏面を斜め
上方から撮像する。この場合、カメラAで撮像する際に
はカメラA用の照明5のみを点灯し、またカメラBで撮
像する際にはカメラB用の照明6のみを点灯する。
【0008】上記図17に示す構成では、2台のカメラ
A,Bで撮像した画像データをステレオ法によって処理
することで各ボールの3次元情報(平面位置(xy位置)
及び高さ(z位置))を得るようにしている。
【0009】ここで、上記2台のカメラA,Bの撮像画
像中でボール2の画像位置を特定する際には、通常パタ
ーンマッチング処理が用いられが、パターンマッチング
において、位置決めする対象(この場合はハンダボール
2)と背景(この場合はパッケージ基板面4)とのコン
トラストが高いほど位置の検出精度は向上する。また、
逆に、背景(パッケージ面4)からの反射光がカメラに
入ってしまうと、位置決め対象であるハンダボールとの
コントラストが低下して、位置決め精度、ひいては平坦
度(高さ)などを検査精度自体が低下してしまう。
【0010】また、一般に、BGAパッケージの基板中
にはランダムな配線パターンが走っているために、基板
からの反射光がカメラにはいる場合は、これら配線パタ
ーンからの反射光もカメラにはいることになる。このラ
ンダムな配線パターンからの反射光はパターンマッチン
グの際の外乱になり、これも位置決め精度を低下させる
原因となる。
【0011】ここで、上記図17に示す構成において、
BGA1を斜め上方から撮像するカメラB用の照明とし
ては、通常図18または図19に示すような平板状の反
射照明6が用いられていた。
【0012】これら平板照明は、プレート上に多数個の
LEDをマトリクス状に配列したもので、図18の場合
は、BGA1の斜め上方からBGA1を照明するように
している。なお、BGAやCSPの場合は、撮像対象で
ある端子(ボール)が基板のエリア内に存在し、QFP
のようにパッケージの外側に突出していないので、透過
照明は使用不可能で、どうしても反射照明を使用する必
要がある。
【0013】この図18のような斜め上方からの照明6
を用いた場合、ハンダボールの撮像像は円形の光った像
となるが、隣接したハンダボールの撮像像がつながらな
いように照明光の光量を下げると、カメラBに入射され
るハンダボールからの反射光量自体も減少することにな
り、この結果ハンダボールの撮像像は図20(a)に示す
ように、1個1個が非常に小さな像となってしまい、実
用には供さない。
【0014】また、図18において、照明6の光量を上
げてハンダボールの光る部分の像を大きくしようとする
と、カメラBからみて奥行き方向に対しても光る部分が
増大されるために、結果として、図20(b)に示すよう
に、隣接するハンダボールの像がつながってしまう。こ
のように、図18に示す照明6では、光量を増減して
も、要求されるパターンマッチングの精度を確保するこ
とができない。
【0015】次に、図19に示す技術では、BGA1を
挟んでカメラBと正対するように平板照明6を配置して
いるが、この場合には、BGA1のパッケージ基板4か
ら反射光がまともにカメラBに入射されてしまい、カメ
ラBの撮像像において背景部分(パッケージ基板4)と
ハンダボール2部分とのコントラストが低下して、これ
も要求される位置決め精度を確保することができない。
【0016】この発明はこのような実情に鑑みてなされ
たもので、端子の頂点付近のエッジパターンを鮮明かつ
適当なる大きさで得ることができ、かつ背景像とのコン
トラストが良好な端子像を得ることができ、さらに隣接
端子像が完全に分離された撮像画像を得ることができる
ようにして、端子平坦度などの検査精度を向上させる半
導体パッケージの端子検査装置を提供することを目的と
する。
【0017】
【課題を解決するための手段および作用効果】請求項1
に対応する発明では、ボール状の端子が列設された半導
体パッケージのパッケージ面を所定の仰角をもって斜め
方向から撮像する斜め撮像手段と、前記斜め撮像手段に
よる撮像用に前記パッケージ面を照明する斜め撮像用照
明手段とを具え、これら斜め撮像手段の撮像データに基
づいて半導体パッケージの端子を検査する半導体パッケ
ージの端子検査装置において、前記斜め撮像用照明手段
は、少なくともその内周面から照明光を発生し、前記半
導体パッケージの上方に配設されそのリング面が前記斜
め撮像手段の光軸に略直角となるように配設された半リ
ング形状の照明であることを特徴とする。
【0018】すなわち、半リング状照明をリングの頂上
部分とその両側にある側部領域との3つの領域に分けて
考えた場合、上記頂上部分からの光のみでは撮像した端
子像の形状はボール状端子の形をそのまま反映する略円
形となり、隣接した端子像とつながりやすくなる。ま
た、隣接した端子像がつながらないように頂上部分の照
明の光量を下げた場合は、光量が不足して、その端子像
は小さなものとなる。また、上記頂上部分の照明を強く
すると、端子像は大きくはなるが隣接した端子像とつな
がってしまう。
【0019】そこでこの発明では、半リング状に照明を
構成することにより、半導体パッケージを上記頂上部分
からの他に該頂上部分の両側にある前記側部領域からも
照明することにより、上記頂上部分の照明のみではボー
ル状端子用の照明としては不足する分を上記頂上部分の
両側にある側部領域からの照明によって補填するように
している。すなわち、ボール状端子の頂上付近に前記側
部領域から斜め側方から照明をした像が、半リング状照
明の頂上部分からの照明による像に追加される、この結
果撮像された像は逆U字型となり、隣接端子像とつなが
り難く分離し易くなる。
【0020】また、リング状照明のリング面が斜め撮像
手段の光軸に略直角となるように配設されているので、
半リング状照明の前記側部領域からの光は半導体パッケ
ージの基板面で反射されても斜め撮像手段に直接入射さ
れる光量は極めて少なくなる。なお、半リング状照明の
前記側部領域からボール状端子の頂上付近に入射された
光は、端子がボール状をしているので、各方向に適宜散
乱されて斜め撮像手段へも適当量入射される。
【0021】したがって、斜め撮像手段により撮像され
たボール状端子像は、背景である基板画像とのコントラ
ストが良好なものになる。
【0022】請求項10に対応する発明では、ボール状
の端子が列設された半導体パッケージのパッケージ面を
所定の仰角をもって斜め方向から撮像する斜め撮像手段
と、前記斜め撮像手段による撮像用に前記パッケージ面
を照明する斜め撮像用照明手段とを具え、これら斜め撮
像手段の撮像データに基づいて半導体パッケージの端子
を検査する半導体パッケージの端子検査装置において、
前記斜め撮像用照明手段は、少なくともその内周面から
照明光を発生し、前記半導体パッケージを囲繞するよう
に配設されてそのリング面が前記斜め撮像手段の光軸に
略直角となるように配設されたリング形状の照明である
ことを特徴とする。
【0023】かかる発明によれば、斜め撮像用照明をリ
ング状形状とし、このリング状形状の照明を半導体パッ
ケージを囲繞するように配設する。
【0024】したがって、この発明においても、先の発
明同様、隣接ボール画像と分離し易い形状である逆U字
型のボール端子像を、或る程度の面積を確保しつつ得る
ことができるようになるとともに、背景である基板画像
とボール画像とのコントラストも良好なものになる。
【0025】請求項11に対応する発明においては、ボ
ール状の端子が列設された半導体パッケージのパッケー
ジ面を所定の仰角をもって斜め方向から撮像する斜め撮
像手段と、前記斜め撮像手段による撮像用に前記パッケ
ージ面を照明する斜め撮像用照明手段と、を具え、これ
ら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半導体パッケー
ジの端子を検査する半導体パッケージの端子検査装置に
おいて、前記斜め撮像用照明手段は、そのドーム内周面
から照明光を発生し、前記半導体パッケージの上方に配
設されてその中心軸が前記斜め撮像手段の光軸に略平行
または一致するように配設されたドーム形状の照明であ
ることを特徴とする。
【0026】かかる発明によれば、斜め撮像用照明をド
ーム状形状とし、このドーム状形状の照明を半導体パッ
ケージの上方に配設する。
【0027】したがって、この発明においても、先の発
明同様、隣接ボール画像と分離し易いボール端子像を、
或る程度の面積を確保しつつ得ることができるようにな
り、また背景である基板画像とボール画像とのコントラ
ストも良好なものになる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施例を添付図
面に従って詳細に説明する。
【0029】なお、以下の実施例では、検査対象とする
半導体パッケージをBGA1とする。BGA1は、周知
のように、プリント基板を用いたLGA(Land grid ar
rey)タイプのチップキャリアであり、チップの上面側
をモールドするとともに、下面側に複数のハンダバンプ
2(以下ボールという)を格子状に形成したものであ
る。
【0030】[第1実施例]図1にこの発明の第1実施
例を示す。
【0031】図1において、BGA1は表裏反転されて
ボール2が列設されたボール面を上にしてBGAトレイ
3上に載置されている。
【0032】BGA1の上方には、BGA1のボール2
が配設された裏面を真っ直ぐ上方から撮像するためのカ
メラAが配設されている。また、BGA1の上方には、
BGAトレイ3を囲むようにリング状照明7が配設され
ており、このリング状照明7はカメラAでの撮像のとき
にのみ点灯されるカメラA用の照明である。このリング
状照明7は、通常の白色蛍光灯でもよいし、リングの内
周面に多数のLEDをマトリクス状に列設したものを用
いてもよい。
【0033】一方、BGA1の斜め上方には、BGA1
の裏面を斜め上方から撮像するカメラBが配設されてお
り、その仰角θは例えば20度前後に設定するようにし
ている。
【0034】また、カメラAとリング状照明7の間に
は、カメラB用の照明としてのアーチ状の半リング照明
8が設けられており、この半リング照明8はカメラBで
の撮像のときにのみ点灯される。この場合、この半リン
グ状照明8の内周面全領域には、多数個の発光素子9
(例えばLED)がマトリクス状に列設されている。こ
の半リング状照明8が、この発明における特徴である。
【0035】かかる図1の構成によれば、カメラAによ
ってBGA1の裏面の平面像を撮像し、この撮像データ
から、各BGA1のボール2のx−y位置を求める。ま
た、必要に応じて、各ボールの直径、変形の有無等の情
報も求める。
【0036】また、カメラBでBGA1の裏面を斜め上
方から撮像することで、各ボール2の斜め方向の高さd
を求める。そして、これら各ボール2の高さデータdが
得られると、この高さデータdと予め既知であるボール
の理想半径rおよびカメラBの仰角θを用いて、各ボー
ルのz方向の高さHを演算する。
【0037】ここで、前記カメラB用の半リング照明8
であるが、その半径は、図2に示すように、少なくとも
検査対象である1つのBGAパッケージ1を上方の略1
80度方向から照明できる大きさに設定している。ま
た、この半リング照明8は、カメラBの光軸に対しその
リング面Gがほぼ直角になるように配設されている。な
お、図1の場合は、半リング状照明8のリング面Gを、
BGA1に対する正対面Jから少しずらせて配設するよ
うにしているが、これはこの場合半リング状照明8の各
LEDの照射方向をリング面にGに対し角度を付けて設
定して、BGA1の裏面を均一に照明できるようにした
ためであり、この配設位置はBGA1の上方であれば任
意の位置でよい。例えば、リング面Gを面Jに一致させ
るようにしてもよい。
【0038】図3は、かかる半リング状照明8によって
得られたカメラBによるボール2の撮像画像の一部を示
すもので、この半リング状照明によれば各ボールの頂点
付近の画像は、逆U字型のエッジパターンとして得るこ
とができる。なお、図3において、2´はボール像、4
´は基板画像である。
【0039】即ち、半リング状照明8によれば、図2に
示すように、BGA1から見て高い位置にある照明領域
A1の部分でBGA1のボール2の頂点付近を照明する
とともに、その両側のBGA1から見て低い位置にある
照明領域A2,A3の部分でBGA1を斜め側方から照
明することにより、ボール2の光る部分の面積を増大さ
せるようにして、図3に示したような逆U字型のボール
画像を得るようにしている。
【0040】すなわち、半リング状照明8の照明領域A
1の部分は基本的には先の図14に示した平板照明と同
じような作用をするが、この照明領域A1の両側に領域
A2,A3を延設して照明8を半リング状としたことに
よって、照明領域A1のみでは不足しているボール2の
光る部分の面積を増大させ(なぜならば、ボールの表面
は球状であるため側方の照明領域A2,A3からの光で
もカメラBに入射される)、かつその形状は隣接ボール
像とつながり易い円形ではなく逆U字型とするようにし
ている。
【0041】また、前記照明領域A2,A3は先の図1
5に示した平板照明と同様、BGA1から見て低い位置
にあるが、照明8を半リング状として照明領域A2,A
3からの光をBGA1のななめ側方(図1ではY方向)
から入射するようにしているので、図2に示すように、
照明領域A2,A3の光のパッケージ基板での反射光
は、殆どカメラBに入射されることはない。このため、
カメラBによって得られたボールパターンは、背景部分
であるパッケージ基板とのコントラストが大きなものと
なる。
【0042】なお、図1の場合は、カメラBの仰角θを
20゜程度に設定してカメラBを比較的低い位置に配設
するようにしたので、半リング状照明8のリング面Gを
カメラBの光軸にほぼ直角にするようにしたが、カメラ
Bの仰角θが45゜程度の場合は例外であり、リング面
GをカメラBの光軸に直角にするべきではない。なぜな
らば、カメラBの仰角θおよびリング面Gが双方とも4
5゜程度の場合は、リング状照明8の高い位置にある照
明領域A1からの光のパッケージ基板での反射光がカメ
ラBに直接入射されるようになり、基板像とボール像と
のコントラストを考えた場合、好ましくないからであ
る。
【0043】このように、図1の実施例においては、カ
メラB用の照明として、BGA1の上方にBGA1を取
り囲むようにかつそのリング面GがカメラBの光軸に直
角になるように半リング状の照明を設けるようにしたの
で、隣接ボール画像と分離し易い形状である逆U字型の
ボール頂点パターンを、或る程度の面積を確保しつつ得
ることができるようになるとともに、背景である基板画
像とボール画像とのコントラストも良好なものになる。
【0044】さらに、この実施例では、カメラA用とし
て、リング状蛍光灯7によってBGA1の裏面を360
度横方向から照明するようにしたので、BGA裏面全面
に均一な照明がなされるようになり、コントラストの良
いBGA1の平面図画像を得ることができる。
【0045】[第2実施例]図4にこの発明の第2実施
例を示す。
【0046】この第2実施例では、前述した半リング状
照明8の内周面上に、まず光拡散シート10を積層し、
さらにその上層にレンズアレイ11(例えばプリズムシ
ートやマイクロレンズアレイなど)を積層するようにし
ている。
【0047】すなわち、BGAやCSPにおいては、テ
スト工程でテスト用触針(プローブ)と接触したりして
ボール表面に圧痕が残ったり、製造工程あるいは保存上
の問題でボール表面に微小な凹凸が形成されたりするこ
とがあり、これらの表面が滑らかではないボール表面に
LED等の指向性の高い照明を直接当てると、カメラB
で撮像されたボール画像自体に前記ボール表面の凹凸に
対応する輝点や暗点が生じてしまう。これらの輝点及び
暗点は、パターンマッチングの際に大きな悪影響を及ぼ
し、位置決め精度を低下させる1つの原因となる。
【0048】そこで、この第2の実施例においては、半
リング状照明8の内周面に光拡散用のシート10を配置
して、図5(a)(b)に示すように、照明の指向性を弱める
ようにしている。また、光拡散用シート10を配置した
場合、照明の光量が落ちるので、図5(c)に示すよう
に、光拡散用シート10の前面に一次元の集光作用を持
つレンズアレイを配置して、光量を低下させることなく
光拡散性を増すことが可能にしている。
【0049】[第3実施例]図6にこの発明の第3実施
例を示す。
【0050】この第3の実施例においては、半リング状
照明8の前方に偏光フィルタ12を配置するとともに、
カメラBの手前にも偏光フィルタ13を配設するように
している。偏光フィルタ12及び13の偏光方向は同じ
にしておく。
【0051】すなわち、BGA1のハンダボールはハン
ダ(金属)であるので、入射光を正反射する割合が多い
ので入射光の偏光状態は概ね変化しない。逆にBGA1
の基板面はポリイミドなどの有機材料で表面が構成され
ているので、入射光が吸収拡散される割合が多くなり、
偏光状態が変化することが多くなる。
【0052】したがって、半リング状照明8およびカメ
ラBの前方に同じ偏光方向をもつ偏光フィルタ12,1
3を配設すると、ハンダボール上での反射光は殆どカメ
ラBに入射されるが、基板上での拡散光は偏光フィルタ
13でカットされることになり、基板像に対するボール
像のコントラストを向上させることができる。
【0053】[第4実施例]図7にこの発明の第4実施
例を示す。
【0054】この第4の実施例においては、半リング状
照明8の前方に特定の波長の光をカットする波長選択フ
ィルタ14を配置するとともに、カメラBの手前にも波
長選択フィルタ15を配設するようにしている。
【0055】すなわち、BGA1のハンダボールはハン
ダであり銀色をしているので全ての波長の光を反射す
る。逆にBGA1の基板面は緑色や茶色など色が付いて
いることが多いので、特定の波長の光のみを反射しがち
である。
【0056】そこで、波長選択フィルタ14および15
によって、基板面から反射される特定の波長をカットす
るようにすれば、ハンダボール上での反射光は殆どカメ
ラBに入射されるが、基板上での反射光は波長選択フィ
ルタ15でカットされることになり、基板像に対するボ
ール像のコントラストを向上させることができる。
【0057】[第5実施例]図8にこの発明の第5実施
例を示す。
【0058】この第5の実施例においては、半リング状
照明8を青色とし、リング状照明7を赤色とするように
しており、カメラBの前方には赤色光をカットする(青
色光を透過する)波長選択フィルタ30を配置するとと
もに、カメラAの手前には青色光をカットする(赤色光
を透過する)波長選択フィルタ31を配設するようにし
ている。この場合、リング状照明7および半リング状照
明8は、同時に点灯される。
【0059】前述したように、半田ボール2は銀色であ
り、全ての波長の光を反射する特性を有している。これ
に対し、基板面の配線パターンは銅や金メッキが使用さ
れ、図9に示すように、特定の波長(特に長波長側)の
光に対する反射率が高い特性を有している。
【0060】図9は、銅、金、半田の各波長に対する反
射特性を示すもので、この図9によれば、青色光の場合
には銅、金に対する反射率は低くなることが判る。
【0061】したがって、半リング状照明8として青色
光を採用するようにすれば、カメラBによって得られる
撮像画像は、半田ボールの画像と基板画像のコントラス
トが向上し、かつ基板面の配線パターンに対応する画像
が取り除かれたものとなり、パターンマッチングの精度
を向上させることができる。なお、赤色光は図9に示し
たように、半田ボール、配線パターン(銅、金)の双方
に対して反射率が高いが、カメラAはBGA1を真上か
ら撮像するようにしているので、リング状照明7の照明
による配線パターンからの反射はそれほど問題とはなら
ない。
【0062】図10(a)は、赤色照明を用いた場合のカ
メラBによる撮像画像を示すもので、また図10(b)は
青色照明を用いた場合のカメラBによる撮像画像を示す
ものである。赤色照明を用いた場合は、半田ボール、配
線パターンの双方の反射率が高くなるので、配線パター
ンの画像がノイズとなって現れている。これに対し、青
色照明を用いた場合は、配線パターンに対応する画像が
取り除かれた撮像画像を得ることができる。
【0063】次に、図8の実施例によれば、半リング状
照明8を青色とし、リング状照明7を赤色とし、各カメ
ラA,Bの手前に一方の照明光を遮断する波長選択フィ
ルタ30、31を設けるようにしているので、2つの照
明7,8を同時に点灯して両カメラA,Bでの同時撮像
処理を行うことができるようになり、BGA検査処理を
高速化することができる。なお、リング状照明7は、青
色以外の光であれば、赤色に限るわけでなく、他の任意
の色の光を採用するようにしてもよい。
【0064】なお、上記図8の実施例では、半リング状
照明8として青色領域の波長の光を採用するようにした
が、ボール状端子の材質における反射率が基板面の材質
における反射率より高い領域の波長の光であれば青色領
域以外の光を用いるようにしてもよい。また、リング状
照明7は赤色に限らず、半リング状照明8に使用してい
る波長領域以外の波長を使用するようにすればよい。し
たがって、波長選択フィルタ30としては、リング状照
明7で使用されている波長域の光を遮断する波長選択特
性を持たせるようにすればよく、また波長選択フィルタ
31としては、半リング状照明8で使用されている波長
域の光を遮断する波長選択特性を持たせるようにすれば
よい。
【0065】次に、図8の実施例では、半リング状照明
8を各列毎に個別点灯可能なようにしている。すなわ
ち、この場合、半リング状照明8は、リングの内周面に
多数の青色LEDをマトリクス状に列設しているが、こ
れら複数列のLEDを各列毎に個別点灯可能なようにす
る。例えば、図8においては、9−a、9ーb,9ー
c,9ーdの4列を有するようにしているが、これらを
列毎に個別点灯可能なようにしている。
【0066】すなわち、半田ボールの反射光量は、半田
ボールの表面状態やボールの径の違いによって大きく異
なるが、ある特定の反射光量を想定してカメラBの画像
増幅部のゲインを決めると、反射光量の大きなボールを
撮像した場合、カメラBのダイナミックレンジを超えて
画像信号が飽和してしまい、半田ボールの撮像データの
S/N比が劣化するという不具合が発生する。
【0067】そこで、図8の実施例では、半リング状照
明8を各列毎に個別点灯可能なようにし、ボール径の大
きな反射光量の多い半田ボールや表面状態が滑らかな反
射率の高い半田ボールの場合は、点灯する列数を減らし
て画像信号の飽和を防止し、逆にボール径の小さな反射
光量の少ない半田ボールや表面状態が荒れていて反射率
の低い半田ボールの場合は、点灯する列数を増やして反
射光量の低下を防ぐことでS/N比の低下を防ぐように
している。このため、この実施例では半田ボールの表面
状態やボール径に左右されずに、良好な検査精度を確保
することができるようになる。なお、画像信号をダイナ
ミックレンジ内に収める手法としては、他に、カメラの
レンズに可変絞りを入れてこれを調整する、CCDカメ
ラの増幅部のゲインを調整する、半リング状照明8の光
量自体をアナログ的に調整するなどがある。
【0068】次に、図8の実施例においては、リング状
照明7は7ーa、7ーbの2列にしており、より深い角
度でBGA1を照射できるようにしている。リング状照
明7はリングの内周面に多数のLEDを2列に列設して
いるが、各列のLEDを列毎に個別点灯可能なようにし
ている。
【0069】すなわち、BGAやCSPの検査を行う際
には、BGA/CSP1は図11(a)に示すようなリブ
35を有するトレイ36上に載置されることが多いが、
図1の実施例のように、リング状照明7を1列としてB
GA/CSP1に対し浅い角度でしか光を入射できない
ような構成の場合、リブ35の存在が、図11(b)に示
すようにリング状照明7の照明を遮って、BGA/CS
P1のパッケージ周辺部に影37を形成しまう。このた
め、カメラAによって得られたBGA/CSP1の撮像
画像のパッケージ周辺部のボール像としては、他の中央
部のボール像(ほぼ円形)とは異なった変形したもので
得られ、パターンマッチング精度を低下させる原因とな
っていた。
【0070】そこで、この図8の実施例では、リング状
照明7は7ーa、7ーbの2列にし、これら2列を列毎
に個別点灯可能なようにしている。すなわち、トレイ3
6のリブ35の影が問題とならない場合は、浅い角度の
照明である7ーb列のみを点灯し、リブ35の影が問題
となる場合は、7−a列のみもしくは7−aおよび7ー
b列の双方を点灯する。これにより、図11(c)に示す
ように、リブの影の影響が撮像画像に現れなくなり、パ
ターンマッチング精度を向上させることができる。
【0071】なお、リング状照明7を3列以上にするよ
うにしてもよい。
【0072】[第6実施例]図12にこの発明の第6実
施例を示す。
【0073】前述した各実施例においては、カメラB用
の照明8を半リング状としたが、これはBGA1を保持
している面より下側の領域がBGA1の搬送装置などの
ためのエリア用に確保しなくてはならないことを考慮し
たためである。
【0074】この第6実施例においては、BGA1の下
側の領域が自由に使用できる場合を想定しており、この
場合はカメラB用の照明として、完全なリング状の照明
17を用いるようにしている。
【0075】この第6実施例においても、先の図8に示
した実施例で採用した各種技術を採用するようにしても
よい。すなわち、リング状照明17を青色にしてもよい
し、リング状照明17、7を同時点灯できるようにカメ
ラA,Bの手前に波長選択フィルタを配置するようにし
てもよい。また、リング状照明7を2列〜複数列にする
ようにしてもよい。
【0076】[第7実施例]図13〜図16にこの発明
の第7実施例を示す。
【0077】この第7実施例においては、カメラB用の
照明として、図13(a)(b)に示すようなドーム型の照明
20を採用するようにしている。
【0078】このドーム型照明20の内側面には、多数
のLED21が縦横に列設されており(図13の場合は
便宜上簡略化して3列とした)、このドーム型照明20
は、例えば図14に示すような位置及び角度に配置され
る。
【0079】すなわち、このドーム型照明20は、カメ
ラBの光軸に対しその中心軸がほぼ平行またはほぼ一致
するように配設されている。なお、図14の場合は、ド
ーム型照明20を、BGA1(またはBGAトレイ3)
を完全に囲繞できる位置からずらせて配置しているが、
この配置位置は任意である。
【0080】ドーム型照明20の頂部には、BGA1で
の反射光をカメラBに導光するための孔22が形成され
ている。
【0081】ここで、このドーム型照明20は、複数
(この場合は3列)の同心円状のLED列で構成されて
いるが、該照明20は点灯するLEDを列単位に任意に
切り換えることができるようになっており、これにより
BGA1のボールの形状や基板の反射特性などに応じて
最適な照明条件を試行錯誤で選択することができる。
【0082】図14は、全ての列のLEDを点灯した場
合であり、この場合はボールの表面が滑らかでない場合
に有効であり、あらゆる方向から照明を当てることによ
り無影照明に近い効果が得られ、ボールを安定して光ら
せることができる。
【0083】図15は、ドームの最下層列である第1列
目の照明21−1のみを点灯した場合であり、基板配線
パターンからの反射光が比較的小さい場合に有効な照明
となる。すなわちこの場合は、基板での反射光が直接カ
メラBに入射される照明となるため、反射率が高い基板
を持つBGA1に対しては不向きとなる。
【0084】図16は、ドームの最上層列である第3列
目の照明21−3のみを点灯した場合であり、基板での
反射光は直接カメラBには入射されないために、基板配
線パターン化らの反射光が大きな場合でも有効な照明と
なる。なお、この場合は、基板からの反射光のみならず
ボールでの反射光もカメラBに入射されにくいので、ボ
ールの高さ情報も得にくいという問題も有している。
【0085】なお、上記図13〜図16に示す実施例に
おいて、1列単位ではなく、2〜n列単位にLEDを分
割点灯するようにしても良い。さらに、ドームの円周方
向を複数のブロックに分割し、これら分割したブロック
単位にLEDを分割点灯させるようにしても良い。ま
た、ドーム状照明20を青色にしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1実施例を示す図。
【図2】第1実施例の作用を説明するための図。
【図3】第1実施例により得られるボール撮影像を示す
図。
【図4】この発明の第2実施例を示す図。
【図5】第2実施例の作用を説明す為の図。
【図6】この発明の第3実施例を示す図。
【図7】この発明の第4実施例を示す図。
【図8】この発明の第5実施例を示す図。
【図9】半田、金、銅の反射特性を示す図。
【図10】赤色光を照明した場合と青色光を照明した場
合の撮像画像のディスプレイ上に表示した中間調画像を
それぞれ示す図。
【図11】第5実施例を説明するための図。
【図12】この発明の第6実施例を示す図。
【図13】この発明の第7実施例を示す図。
【図14】第7実施例の動作例を示す図。
【図15】第7実施例の他の動作例を示す図。
【図16】第7実施例の更に別の動作例を示す図。
【図17】先行技術を示す図。
【図18】先行技術による照明の一例を示す図。
【図19】先行技術による照明の他の一例を示す図。
【図20】先行技術によるボール撮影像を示す図。
【符号の説明】
1…BGA 2…ハンダバンプ(ボール) 3…B
GAトレイ 4…基板面 5,7…カメラA用照明 6…カメ
ラB用照明 A,B…カメラ 8…半リング状照明 9…LED 10…光拡散層 11…レンズアレイ 12,13
…偏光フィルタ 14,15…波長選択フィルタ 17…リング状照明 20…ドーム状照明 21…LED列 22…孔 30、31…波長選択フィルタ

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ボール状の端子が列設された半導体パッケ
    ージのパッケージ面を所定の仰角をもって斜め方向から
    撮像する斜め撮像手段と、 前記斜め撮像手段による撮像用に前記パッケージ面を照
    明する斜め撮像用照明手段と、 を具え、これら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半
    導体パッケージの端子を検査する半導体パッケージの端
    子検査装置において、 前記斜め撮像用照明手段は、少なくともその内周面から
    照明光を発生し、前記半導体パッケージの上方に配設さ
    れてそのリング面が前記斜め撮像手段の光軸に略直角と
    なるように配設された半リング形状の照明であることを
    特徴とする半導体パッケージの端子検査装置。
  2. 【請求項2】前記半リング形状照明は、半円筒状である
    請求項1記載の半導体パッケージの端子検査装置。
  3. 【請求項3】前記半リング形状照明の内周面に、光拡散
    層を配設するようにしたことを特徴とする請求項1記載
    の半導体パッケージの端子検査装置。
  4. 【請求項4】前記光拡散層上にレンズアレイ層を配設す
    るようにしたことを特徴とする請求項1記載の半導体パ
    ッケージの端子検査装置。
  5. 【請求項5】前記半リング形状照明から半導体パッケー
    ジまでの光路上に第1の偏光光学手段を配設すると共
    に、前記半導体パッケージから斜め撮像手段までの光路
    上に前記第1の偏光光学手段の偏光方向と同じ偏光方向
    を有する第2の偏光光学手段を配設するようにしたこと
    を特徴とする請求項1記載の半導体パッケージの端子検
    査装置。
  6. 【請求項6】前記半導体パッケージから斜め撮像手段ま
    での光路上に、前記半導体パッケージの基板面での反射
    光に対応する波長の光のみをカットする波長選択光学手
    段を配設するようにしたことを特徴とする請求項1記載
    の半導体パッケージの端子検査装置。
  7. 【請求項7】前記半リング形状照明から半導体パッケー
    ジまでの光路上および前記半導体パッケージから斜め撮
    像手段までの光路上に、前記半導体パッケージの基板面
    での反射光に対応する波長の光のみをカットする波長選
    択光学手段を配設するようにしたことを特徴とする請求
    項1記載の半導体パッケージの端子検査装置。
  8. 【請求項8】前記半リング形状照明として、前記ボール
    状端子の材質における反射率が基板面の材質における反
    射率より高い領域の波長を使用するようにしたことを特
    徴とする請求項1記載の半導体パッケージの端子検査装
    置。
  9. 【請求項9】半導体パッケージのパッケージ面の平面像
    を撮像する平面像撮像手段と、 前記平面像撮像手段による撮像用に前記パッケージ面を
    照明する前記半リング形状照明に使用している波長領域
    以外の波長を使用している平面像撮像用照明手段と、 前記半導体パッケージから前記斜め撮像手段までの光路
    上に設けられて前記平面像撮像用照明手段からの光を遮
    断する第1のフィルタ手段と、 前記半導体パッケージから前記平面像撮像手段までの光
    路上に設けられて、前記半リング形状照明に使用してい
    る波長領域の光を遮断する第2のフィルタ手段と、 前記斜め撮像用および平面像撮像用照明手段を同時に点
    灯し、斜め撮像手段及び平面像撮像手段の撮像データに
    基づいて半導体パッケージの端子を検査する制御手段
    と、 を更に備えるようにしたことを特徴とする請求項8記載
    の半導体パッケージの端子検査装置。
  10. 【請求項10】ボール状の端子が列設された半導体パッ
    ケージのパッケージ面を所定の仰角をもって斜め方向か
    ら撮像する斜め撮像手段と、 前記斜め撮像手段による撮像用に前記パッケージ面を照
    明する斜め撮像用照明手段と、 を具え、これら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半
    導体パッケージの端子を検査する半導体パッケージの端
    子検査装置において、 前記斜め撮像用照明手段は、少なくともその内周面から
    照明光を発生し、前記半導体パッケージを囲繞するよう
    に配設されてそのリング面が前記斜め撮像手段の光軸に
    略直角となるように配設されたリング形状の照明である
    ことを特徴とする半導体パッケージの端子検査装置。
  11. 【請求項11】ボール状の端子が列設された半導体パッ
    ケージのパッケージ面を所定の仰角をもって斜め方向か
    ら撮像する斜め撮像手段と、 前記斜め撮像手段による撮像用に前記パッケージ面を照
    明する斜め撮像用照明手段と、 を具え、これら斜め撮像手段の撮像データに基づいて半
    導体パッケージの端子を検査する半導体パッケージの端
    子検査装置において、 前記斜め撮像用照明手段は、そのドーム内周面から照明
    光を発生し、前記半導体パッケージの上方に配設されて
    その中心軸が前記斜め撮像手段の光軸に略平行または一
    致するように配設されたドーム形状の照明であることを
    特徴とする半導体パッケージの端子検査装置。
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