JP2002365031A - 管内面のスケール厚さ測定方法 - Google Patents
管内面のスケール厚さ測定方法Info
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- JP2002365031A JP2002365031A JP2001176436A JP2001176436A JP2002365031A JP 2002365031 A JP2002365031 A JP 2002365031A JP 2001176436 A JP2001176436 A JP 2001176436A JP 2001176436 A JP2001176436 A JP 2001176436A JP 2002365031 A JP2002365031 A JP 2002365031A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定管の内面に位置したスケールの厚さ
を、その凹凸等によらず、厚いときは勿論、薄いときに
も超音波探傷試験方式で測定する。 【解決手段】 超音波探触子６の受信エコーの設定され
た波形比較部分の所定のピーク値が所定範囲内か否かを
判別し、ピーク値が所定範囲外のときに、探触子６から
被測定管１の管内に、周波数を変えて超音波を再送信
し、再送超音波に基づく探触子６の受信エコーの波形比
較部分又は、送信，再送信に基づく探触子６の両受信エ
コーの波形比較部分のうちのピーク値が所定範囲に近い
一方のエコーの波形比較部分を、スケール面５の反射エ
コーとして検出し、検出した反射エコーと基準エコーと
の相対的な時間差から、スケール３の厚さを測定する。
を、その凹凸等によらず、厚いときは勿論、薄いときに
も超音波探傷試験方式で測定する。 【解決手段】 超音波探触子６の受信エコーの設定され
た波形比較部分の所定のピーク値が所定範囲内か否かを
判別し、ピーク値が所定範囲外のときに、探触子６から
被測定管１の管内に、周波数を変えて超音波を再送信
し、再送超音波に基づく探触子６の受信エコーの波形比
較部分又は、送信，再送信に基づく探触子６の両受信エ
コーの波形比較部分のうちのピーク値が所定範囲に近い
一方のエコーの波形比較部分を、スケール面５の反射エ
コーとして検出し、検出した反射エコーと基準エコーと
の相対的な時間差から、スケール３の厚さを測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、超音波探傷試験方
式の管内面のスケール厚さ測定方法に関する。
式の管内面のスケール厚さ測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、各種プラント設備のボイラ管（鋼
管）等の各種の金属管にあっては、保守・点検等によ
り、定期的又は不定期に、超音波探傷試験方式のスケー
ル厚さの測定が実施される。
管）等の各種の金属管にあっては、保守・点検等によ
り、定期的又は不定期に、超音波探傷試験方式のスケー
ル厚さの測定が実施される。
【０００３】この超音波探傷試験方式のスケール厚さの
測定は、超音波探触子として垂直探触子を用いる場合、
図５に示すように、ボイラ管等の被測定管１の外側に垂
直探傷試験用の超音波探触子２を設置し、超音波の送受
信器（図示せず）から探触子２に出力された例えば１０
ＭHzの超音波パルスを、探触子２から被測定管１の管内
に垂直（管軸に直角）に送信して行われる。
測定は、超音波探触子として垂直探触子を用いる場合、
図５に示すように、ボイラ管等の被測定管１の外側に垂
直探傷試験用の超音波探触子２を設置し、超音波の送受
信器（図示せず）から探触子２に出力された例えば１０
ＭHzの超音波パルスを、探触子２から被測定管１の管内
に垂直（管軸に直角）に送信して行われる。
【０００４】そして、この超音波パルスの送信に基づく
被測定管１からの超音波の反射エコーを探触子２により
受信し、その受信エコーを、前記の送受信器を通じてオ
シロスコープ等に画面表示する。
被測定管１からの超音波の反射エコーを探触子２により
受信し、その受信エコーを、前記の送受信器を通じてオ
シロスコープ等に画面表示する。
【０００５】このとき、被測定管１の管内面にスケール
３が付着していると、超音波の一部が管内面のスケール
３との境界面４及びスケール面５（スケール３の表面）
で管外方向に反射する。
３が付着していると、超音波の一部が管内面のスケール
３との境界面４及びスケール面５（スケール３の表面）
で管外方向に反射する。
【０００６】そして、境界面４の反射エコーをＥ1，ス
ケール面５の反射エコーをＥ2とすると、探触子２は、
最初に反射エコーＥ1 を受信し、この受信からスケール
３の厚さｄに応じた時間遅れて反射エコーＥ2を受信す
る。
ケール面５の反射エコーをＥ2とすると、探触子２は、
最初に反射エコーＥ1 を受信し、この受信からスケール
３の厚さｄに応じた時間遅れて反射エコーＥ2を受信す
る。
【０００７】なお、反射エコーＥ1 は、スケール３の厚
さｄが０のとき、換言すればスケール３が付着していな
いときの基準エコーに相当する。
さｄが０のとき、換言すればスケール３が付着していな
いときの基準エコーに相当する。
【０００８】そして、探触子２の受信エコーの波形は例
えば図６に示すようになり、図中のｅ1が反射エコーＥ1
の波形部分であり、ｅ2が反射エコーＥ2の波形部分であ
る。
えば図６に示すようになり、図中のｅ1が反射エコーＥ1
の波形部分であり、ｅ2が反射エコーＥ2の波形部分であ
る。
【０００９】図６は、スケール３の厚さｄが１００μｍ
程度以上の比較的厚い場合に、探触子２に１０ＭHzの探
触子を用いた一般的な１０ＭHz超音波探傷試験で得られ
た受信エコーの波形であり、反射エコーＥ1，Ｅ2が分離
して出現している。
程度以上の比較的厚い場合に、探触子２に１０ＭHzの探
触子を用いた一般的な１０ＭHz超音波探傷試験で得られ
た受信エコーの波形であり、反射エコーＥ1，Ｅ2が分離
して出現している。
【００１０】ところで、スケール面５の反射エコーＥ2
は、スケール３の凹凸等の形状や組成等の性状に応じた
種々の周波数成分を含む複雑な波形であり、スケール３
の厚さｄとの関係によって反射エコーＥ1 に対する時間
軸上の相対的な位置等が変化する。
は、スケール３の凹凸等の形状や組成等の性状に応じた
種々の周波数成分を含む複雑な波形であり、スケール３
の厚さｄとの関係によって反射エコーＥ1 に対する時間
軸上の相対的な位置等が変化する。
【００１１】そして、図６の受信エコーの場合は、反射
エコーＥ1，Ｅ2が明瞭に分離して出現するため、オシロ
スコープ等に画面表示された波形から反射エコーＥ1 と
反射エコーＥ2とを正確に識別して読取ることができ、
反射エコーＥ1の電圧０のゼロクロス点からの最初の立
上り時刻ｔ1と、反射エコーＥ2の最初の立上り時刻ｔ2
との時間差ΔＴ（＝ｔ2−ｔ1）を求めると、この時間差
ΔＴの間に超音波がスケール３を往復することから、時
間差ΔＴと超音波のスケール３での音速Ｃとに基づき、
スケール３の厚さｄが、ｄ＝（ΔＴ×Ｃ）／２の演算か
ら求められて測定される。
エコーＥ1，Ｅ2が明瞭に分離して出現するため、オシロ
スコープ等に画面表示された波形から反射エコーＥ1 と
反射エコーＥ2とを正確に識別して読取ることができ、
反射エコーＥ1の電圧０のゼロクロス点からの最初の立
上り時刻ｔ1と、反射エコーＥ2の最初の立上り時刻ｔ2
との時間差ΔＴ（＝ｔ2−ｔ1）を求めると、この時間差
ΔＴの間に超音波がスケール３を往復することから、時
間差ΔＴと超音波のスケール３での音速Ｃとに基づき、
スケール３の厚さｄが、ｄ＝（ΔＴ×Ｃ）／２の演算か
ら求められて測定される。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】前記従来のこの種のス
ケール厚さ測定方法の場合、探触子２を通じて被測定管
１に、通常は１０ＭHzに設定された超音波のみを送信
し、探触子２の受信エコーに基づき、時間差ΔＴを求め
てスケール３の厚さｄが１０ＭHzの超音波探傷試験方式
で測定される。
ケール厚さ測定方法の場合、探触子２を通じて被測定管
１に、通常は１０ＭHzに設定された超音波のみを送信
し、探触子２の受信エコーに基づき、時間差ΔＴを求め
てスケール３の厚さｄが１０ＭHzの超音波探傷試験方式
で測定される。
【００１３】この場合、反射エコーＥ1，Ｅ2が分離する
１００μｍ程度以上の厚いスケール３については、厚さ
ｄを測定できるが、スケール３が薄い場合等には、反射
エコーＥ1，Ｅ2が連続波形又は重畳波形になり、反射エ
コーＥ1，Ｅ2の波形分離が困難になることから、時間差
ΔＴを求めることが困難であり、厚さｄの測定が行えな
い問題点がある。
１００μｍ程度以上の厚いスケール３については、厚さ
ｄを測定できるが、スケール３が薄い場合等には、反射
エコーＥ1，Ｅ2が連続波形又は重畳波形になり、反射エ
コーＥ1，Ｅ2の波形分離が困難になることから、時間差
ΔＴを求めることが困難であり、厚さｄの測定が行えな
い問題点がある。
【００１４】そして、超音波の送信周波数を高くしてス
ケール３が薄いときの反射エコーＥ 1 ，Ｅ2 の単位時間
当りの波形情報を多くし、両エコーＥ1，Ｅ2の判別を容
易にすることが考えられるが、この場合は、スケール３
の凹凸が大きい場合等に、波形情報が多くなり過ぎて反
射エコーＥ1，Ｅ2の判別が困難になり、却って、厚さｄ
の測定が行えなくなる。
ケール３が薄いときの反射エコーＥ 1 ，Ｅ2 の単位時間
当りの波形情報を多くし、両エコーＥ1，Ｅ2の判別を容
易にすることが考えられるが、この場合は、スケール３
の凹凸が大きい場合等に、波形情報が多くなり過ぎて反
射エコーＥ1，Ｅ2の判別が困難になり、却って、厚さｄ
の測定が行えなくなる。
【００１５】本発明は、被測定管の内面に付着したスケ
ールにつき、厚いときだけでなく、薄いときにも、超音
波探傷試験方式でその厚さを測定し得るようにすること
を課題とする。
ールにつき、厚いときだけでなく、薄いときにも、超音
波探傷試験方式でその厚さを測定し得るようにすること
を課題とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】前記のように構成された
本発明の管内面のスケール厚さ測定方法は、請求項１の
場合、ボイラ等の被測定管の外側に設けた超音波探触子
により、測定管の管内に超音波を送信して被測定管から
の超音波の反射エコーを受信し、被測定管の内面にスケ
ールが付着していないときの反射エコーを基準エコーと
して、探触子が受信したスケール面の反射エコーと、基
準エコーとの相対的な時間差から、被測定管の内面に付
着したスケールの厚さを測定する超音波探傷方式の管内
面のスケール厚さ測定方法であって、探触子の受信エコ
ーの設定された波形比較部分の所定のピーク値が所定範
囲内か否かを判別し、このピーク値が所定範囲外のとき
に、探触子から被測定管の管内に、周波数を変えて超音
波を再送信し、この再送信に基づく探触子の受信エコー
の波形比較部分又は、送信，再送信に基づく探触子の両
受信エコーのうちのピーク値が所定範囲に近い一方のエ
コーの波形比較部分を、スケール面の反射エコーとして
検出し、検出した反射エコーと基準エコーとの相対的な
時間差から、スケールの厚さを測定する。
本発明の管内面のスケール厚さ測定方法は、請求項１の
場合、ボイラ等の被測定管の外側に設けた超音波探触子
により、測定管の管内に超音波を送信して被測定管から
の超音波の反射エコーを受信し、被測定管の内面にスケ
ールが付着していないときの反射エコーを基準エコーと
して、探触子が受信したスケール面の反射エコーと、基
準エコーとの相対的な時間差から、被測定管の内面に付
着したスケールの厚さを測定する超音波探傷方式の管内
面のスケール厚さ測定方法であって、探触子の受信エコ
ーの設定された波形比較部分の所定のピーク値が所定範
囲内か否かを判別し、このピーク値が所定範囲外のとき
に、探触子から被測定管の管内に、周波数を変えて超音
波を再送信し、この再送信に基づく探触子の受信エコー
の波形比較部分又は、送信，再送信に基づく探触子の両
受信エコーのうちのピーク値が所定範囲に近い一方のエ
コーの波形比較部分を、スケール面の反射エコーとして
検出し、検出した反射エコーと基準エコーとの相対的な
時間差から、スケールの厚さを測定する。
【００１７】この場合、探触子の受信エコーのうちのス
ケール面の反射エコー特有の波形部分が波形比較部分に
設定され、この部分のピーク値が所定範囲内のときは、
その波形比較部分をスケール面の反射エコーとして検出
し、この反射エコーと基準エコーとの相対的な時間差か
らスケールの厚さが測定される。
ケール面の反射エコー特有の波形部分が波形比較部分に
設定され、この部分のピーク値が所定範囲内のときは、
その波形比較部分をスケール面の反射エコーとして検出
し、この反射エコーと基準エコーとの相対的な時間差か
らスケールの厚さが測定される。
【００１８】そして、超音波の送信周波数を、例えば従
来の１０ＭHzから３０ＭHzに高くすることにより、薄い
スケールついても測定できる。
来の１０ＭHzから３０ＭHzに高くすることにより、薄い
スケールついても測定できる。
【００１９】一方、被測定管に付着したスケールの凹凸
等との関係で、受信エコーの波形比較部分のピーク値
が、所定範囲から外れると、探触子から周波数の異なる
超音波が再送信され、周波数を変えて被測定管が超音波
探傷試験される。
等との関係で、受信エコーの波形比較部分のピーク値
が、所定範囲から外れると、探触子から周波数の異なる
超音波が再送信され、周波数を変えて被測定管が超音波
探傷試験される。
【００２０】そして、再送信に基づく探触子の受信エコ
ーの波形比較部分又は、送信，再送信の２回の超音波の
送信に基づく探触子の受信エコーのうちのピーク値が所
定範囲に近い一方のエコーの波形比較部分を、スケール
面の反射エコーとして検出することにより、検出した反
射エコーと基準エコーとの相対的な時間差から、最初の
送信では測定困難であったスケールの厚さも測定でき
る。
ーの波形比較部分又は、送信，再送信の２回の超音波の
送信に基づく探触子の受信エコーのうちのピーク値が所
定範囲に近い一方のエコーの波形比較部分を、スケール
面の反射エコーとして検出することにより、検出した反
射エコーと基準エコーとの相対的な時間差から、最初の
送信では測定困難であったスケールの厚さも測定でき
る。
【００２１】そのため、被測定管に付着したスケールの
厚さが、その凹凸等によらず、厚いときは勿論薄いとき
にも、精度よく測定される。
厚さが、その凹凸等によらず、厚いときは勿論薄いとき
にも、精度よく測定される。
【００２２】また、請求項２の場合、探触子の受信エコ
ーの設定された波形比較部分の所定のピーク値が所定範
囲内か否かを判別し、ピーク値が所定範囲外のときに、
設定回数を限度として、ピーク値が所定範囲内になるま
で探触子から被測定管の管内に周波数を変えて超音波を
再送信することをくり返し、ピーク値が所定範囲内にな
ったときの探触子の受信エコーの波形比較部分又は、探
触子の各受信エコーの波形比較部分のうちのピーク値が
所定範囲に最も近いエコーの波形比較部分を、スケール
面の反射エコーとして検出し、検出した反射エコーと基
準エコーとの相対的な時間差から、スケールの厚さを測
定する。
ーの設定された波形比較部分の所定のピーク値が所定範
囲内か否かを判別し、ピーク値が所定範囲外のときに、
設定回数を限度として、ピーク値が所定範囲内になるま
で探触子から被測定管の管内に周波数を変えて超音波を
再送信することをくり返し、ピーク値が所定範囲内にな
ったときの探触子の受信エコーの波形比較部分又は、探
触子の各受信エコーの波形比較部分のうちのピーク値が
所定範囲に最も近いエコーの波形比較部分を、スケール
面の反射エコーとして検出し、検出した反射エコーと基
準エコーとの相対的な時間差から、スケールの厚さを測
定する。
【００２３】したがって、最初の超音波の送信に基づく
探触子の受信エコーの波形比較部分のピーク値が所定範
囲から外れたときに、ピーク値が所定範囲内になるま
で、所定回数を上限として、送信周波数を変えて超音波
探傷試験がくり返される。
探触子の受信エコーの波形比較部分のピーク値が所定範
囲から外れたときに、ピーク値が所定範囲内になるま
で、所定回数を上限として、送信周波数を変えて超音波
探傷試験がくり返される。
【００２４】そして、前記ピーク値が所定範囲内になっ
たときは、そのときの受信エコーの波形比較部分がスケ
ール面の反射エコーとして検出され、超音波の再送信を
設定回数くり返しても前記ピーク値が所定範囲内になら
なかったときは、各受信エコーのうちの前記ピーク値が
所定範囲に最も近いエコーの波形比較部分がスケール面
の反射エコーとして検出されるため、被測定管に付着し
たスケールの厚さが、その凹凸等によらず、請求項１の
場合より一層精度よく測定される。
たときは、そのときの受信エコーの波形比較部分がスケ
ール面の反射エコーとして検出され、超音波の再送信を
設定回数くり返しても前記ピーク値が所定範囲内になら
なかったときは、各受信エコーのうちの前記ピーク値が
所定範囲に最も近いエコーの波形比較部分がスケール面
の反射エコーとして検出されるため、被測定管に付着し
たスケールの厚さが、その凹凸等によらず、請求項１の
場合より一層精度よく測定される。
【００２５】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態につき、図１
〜図４を参照して説明する。 （１形態）まず、請求項１に対応する本発明の実施の１
形態につき、図１〜図３を参照して説明する。図２は測
定装置の構成を示し、薄いスケールの測定に適合するよ
うに、図５の探触子２に対応する超音波探触子６は、最
初に３０ＭHzのものが用いられ、再送信のときに１０Ｍ
Hzのものに取換えられる。
〜図４を参照して説明する。 （１形態）まず、請求項１に対応する本発明の実施の１
形態につき、図１〜図３を参照して説明する。図２は測
定装置の構成を示し、薄いスケールの測定に適合するよ
うに、図５の探触子２に対応する超音波探触子６は、最
初に３０ＭHzのものが用いられ、再送信のときに１０Ｍ
Hzのものに取換えられる。
【００２６】そして、探触子６が接続された送受信器７
は例えば１〜２００ＭHzの超音波パルサー／レシバから
なり、後段のデジタルオシロスコープ８のトリガ起動に
より、設定周波数の超音波パルスを探触子６に出力し、
そのパルスを探触子６から被測定管１の管内に送信す
る。
は例えば１〜２００ＭHzの超音波パルサー／レシバから
なり、後段のデジタルオシロスコープ８のトリガ起動に
より、設定周波数の超音波パルスを探触子６に出力し、
そのパルスを探触子６から被測定管１の管内に送信す
る。
【００２７】また、探触子６が受信した超音波は送受信
器７を介してオシロスコープ８に送られ、このオシロス
コープ８に受信エコーの波形が画面表示される。
器７を介してオシロスコープ８に送られ、このオシロス
コープ８に受信エコーの波形が画面表示される。
【００２８】さらに、この形態にあっては、オシロスコ
ープ８の受信エコーの波形から、スケール３の厚さｄを
自動測定するため、オシロスコープ８の受信エコーのデ
ータがコンピュータ構成の解析演算装置９に取込まれ、
この装置９が設定された解析演算プログラムにしたがっ
て厚さｄを演算し、測定する。
ープ８の受信エコーの波形から、スケール３の厚さｄを
自動測定するため、オシロスコープ８の受信エコーのデ
ータがコンピュータ構成の解析演算装置９に取込まれ、
この装置９が設定された解析演算プログラムにしたがっ
て厚さｄを演算し、測定する。
【００２９】そして、測定結果が表示装置１０に画面表
示されるとともに、プリンタ１１によりプリントアウト
される。
示されるとともに、プリンタ１１によりプリントアウト
される。
【００３０】つぎに、測定手順について、説明する。ま
ず、スケール３が付着する前の被測定管１又は被測定管
１と同等の未使用管を対比試験管（以下ＲＢ管という）
とし、このＲＢ管につき、図２の装置で反射エコーを事
前測定する。
ず、スケール３が付着する前の被測定管１又は被測定管
１と同等の未使用管を対比試験管（以下ＲＢ管という）
とし、このＲＢ管につき、図２の装置で反射エコーを事
前測定する。
【００３１】このとき、ＲＢ管はスケールが付着してい
ないため、超音波が送信されると、その管内面におい
て、図２の境界面４でのみ反射エコーが生じ、この反射
エコーが基準エコーとして探触子６に受信され、送受信
器７からオシロスコープ８を介して解析演算装置９に送
られ、この装置９に基準エコーの波形データとして収集
される。
ないため、超音波が送信されると、その管内面におい
て、図２の境界面４でのみ反射エコーが生じ、この反射
エコーが基準エコーとして探触子６に受信され、送受信
器７からオシロスコープ８を介して解析演算装置９に送
られ、この装置９に基準エコーの波形データとして収集
される。
【００３２】なお、ＲＢ管についての測定は、探触子６
が３０ＭHz，１０ＭHzそれぞれの場合について行われ、
解析演算装置９に、３０ＭHzの超音波の基準エコーの波
形データと、１０ＭHzの超音波の基準エコーの波形デー
タとが収集される。
が３０ＭHz，１０ＭHzそれぞれの場合について行われ、
解析演算装置９に、３０ＭHzの超音波の基準エコーの波
形データと、１０ＭHzの超音波の基準エコーの波形デー
タとが収集される。
【００３３】つぎに、保守・点検等の際に、図１の手順
で被測定管１の測定を行う。最初は探触子６を３０ＭHz
探触子とし、この３０ＭHzの探触子６を被測定管１の外
側に設ける。
で被測定管１の測定を行う。最初は探触子６を３０ＭHz
探触子とし、この３０ＭHzの探触子６を被測定管１の外
側に設ける。
【００３４】そして、探触子６の受信のレベルが最も大
きくなるように、オシロスコープ８の表示画面をみなが
ら探触子６の位置を調整し、探触子６の位置が決まる
と、図１のステップＳ1 の３０ＭHzでの測定を実施す
る。
きくなるように、オシロスコープ８の表示画面をみなが
ら探触子６の位置を調整し、探触子６の位置が決まる
と、図１のステップＳ1 の３０ＭHzでの測定を実施す
る。
【００３５】このとき、３０ＭHz出力に設定された送受
信器７は、作業者の釦操作等に基づく前記のトリガ起動
により３０ＭHzの超音波パルスを出力し、このパルスが
探触子６から被測定管１に送信される。
信器７は、作業者の釦操作等に基づく前記のトリガ起動
により３０ＭHzの超音波パルスを出力し、このパルスが
探触子６から被測定管１に送信される。
【００３６】そして、被測定管１の境界面４，スケール
面５の反射エコーＥ1，Ｅ2が、探触子６に受信され、送
受信器７を介してオシロスコープ８に送られ、オシロス
コープ８に、例えば図６のような受信エコーの波形が画
面表示される。
面５の反射エコーＥ1，Ｅ2が、探触子６に受信され、送
受信器７を介してオシロスコープ８に送られ、オシロス
コープ８に、例えば図６のような受信エコーの波形が画
面表示される。
【００３７】この受信エコーの波形は、図６の反射エコ
ーＥ1の波形部分ｅ1と反射エコーＥ 2の波形部分ｅ2とを
含み、オシロスコープ８に画面表示された受信エコーの
波形に基づき、作業者は、反射エコーＥ1，Ｅ2が分離し
ているか、連続又は重畳しているか等を判別し、小さな
２個のピーク値の間に大きなピーク値が存在する反射エ
コーＥ2 特有の波形部分を、波形比較部分に決定して解
析演算装置９に設定する。
ーＥ1の波形部分ｅ1と反射エコーＥ 2の波形部分ｅ2とを
含み、オシロスコープ８に画面表示された受信エコーの
波形に基づき、作業者は、反射エコーＥ1，Ｅ2が分離し
ているか、連続又は重畳しているか等を判別し、小さな
２個のピーク値の間に大きなピーク値が存在する反射エ
コーＥ2 特有の波形部分を、波形比較部分に決定して解
析演算装置９に設定する。
【００３８】この波形比較部分につき、図３に示すよう
に、破線の基準エコーの相当部分の各ゼロクロス点の位
置を順にＰ0，Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3，Ｐ4 ，…とし、これに実
線の本波形比較部分を重ねると、種々のボイラ管等につ
いての実験から、この波形比較部分が良好な反射エコー
Ｅ2 であれば、Ｐ2〜Ｐ3の所定波形位置αの大きなピー
ク値（ピーク電圧）Ｖｍａｘ2 が、基準エコーの同じ波
形位置Ｐ2〜Ｐ3のピーク値Ｖｍａｘ1の１／２（５０
％）よりは大きく、ピーク値Ｖｍａｘ1の１．３〜１．
５倍（１３０％〜１５０％）よりは小さい値になること
が判明した。
に、破線の基準エコーの相当部分の各ゼロクロス点の位
置を順にＰ0，Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3，Ｐ4 ，…とし、これに実
線の本波形比較部分を重ねると、種々のボイラ管等につ
いての実験から、この波形比較部分が良好な反射エコー
Ｅ2 であれば、Ｐ2〜Ｐ3の所定波形位置αの大きなピー
ク値（ピーク電圧）Ｖｍａｘ2 が、基準エコーの同じ波
形位置Ｐ2〜Ｐ3のピーク値Ｖｍａｘ1の１／２（５０
％）よりは大きく、ピーク値Ｖｍａｘ1の１．３〜１．
５倍（１３０％〜１５０％）よりは小さい値になること
が判明した。
【００３９】そこで、ピーク値Ｖｍａｘ1の５０％をし
きい値ＶL，ピーク値Ｖｍａｘ1 の例えば１４０％をし
きい値ＶHとし、ピーク値Ｖｍａｘ2につき、ＶL＜Ｖｍ
ａｘ2＜ＶH を、スケール３の厚さｄの測定に好適な所
定範囲とする。
きい値ＶL，ピーク値Ｖｍａｘ1 の例えば１４０％をし
きい値ＶHとし、ピーク値Ｖｍａｘ2につき、ＶL＜Ｖｍ
ａｘ2＜ＶH を、スケール３の厚さｄの測定に好適な所
定範囲とする。
【００４０】そして、作業者により、オシロスコープ８
に画面表示された受信エコーから波形比較部分のピーク
値Ｖｍａｘ2を読取り、この値Ｖｍａｘ2が前記の所定範
囲内か否かを判別してもよいが、この形態においては、
解析演算装置９により読取って自動判別する。
に画面表示された受信エコーから波形比較部分のピーク
値Ｖｍａｘ2を読取り、この値Ｖｍａｘ2が前記の所定範
囲内か否かを判別してもよいが、この形態においては、
解析演算装置９により読取って自動判別する。
【００４１】この場合、オシロスコープ８の受信エコー
の波形データが、解析演算装置９に取込まれて収集され
る。
の波形データが、解析演算装置９に取込まれて収集され
る。
【００４２】この装置９は、図１のステップＳ2 によ
り、収集した波形データから指定された受信エコーの波
形比較部分のデータを抽出し、この部分のＰ2〜Ｐ3の波
形位置のピーク値Ｖｍａｘ2と、しきい値ＶL、ＶHとを
比較し、ピーク値Ｖｍａｘ2がＶ L＜Ｖｍａｘ2＜ＶHか否
かを判別する。
り、収集した波形データから指定された受信エコーの波
形比較部分のデータを抽出し、この部分のＰ2〜Ｐ3の波
形位置のピーク値Ｖｍａｘ2と、しきい値ＶL、ＶHとを
比較し、ピーク値Ｖｍａｘ2がＶ L＜Ｖｍａｘ2＜ＶHか否
かを判別する。
【００４３】そして、ＶL＜Ｖｍａｘ2＜ＶHでピーク値
Ｖｍａｘ2が所定範囲内であれば、ステップＳ3 に移行
し、解析演算装置９はその検出部分をスケール面５の反
射エコーＥ2 として検出し、この３０ＭHzの反射エコー
と、基準エコーとにつき、例えば、それぞれの超音波パ
ルスの送信タイミングを基準にした指定のゼロクロス点
の相対的な時間差を求め、この時間差をΔＴとして、ｄ
＝（ΔＴ×Ｃ）／２の演算を実行し、スケール３の厚さ
ｄを自動的に求めて測定する。
Ｖｍａｘ2が所定範囲内であれば、ステップＳ3 に移行
し、解析演算装置９はその検出部分をスケール面５の反
射エコーＥ2 として検出し、この３０ＭHzの反射エコー
と、基準エコーとにつき、例えば、それぞれの超音波パ
ルスの送信タイミングを基準にした指定のゼロクロス点
の相対的な時間差を求め、この時間差をΔＴとして、ｄ
＝（ΔＴ×Ｃ）／２の演算を実行し、スケール３の厚さ
ｄを自動的に求めて測定する。
【００４４】そして、ステップＳ4 により、測定結果の
厚さｄを、表示装置１０に表示し、プリンタ１１により
プリントアウトし、測定を終了する。
厚さｄを、表示装置１０に表示し、プリンタ１１により
プリントアウトし、測定を終了する。
【００４５】一方、ステップＳ2 の判別により、Ｖｍａ
ｘ2≦ＶL又はＶｍａｘ2≧ＶHになり、ピーク値Ｖｍａｘ
2 が所定範囲から外れるときは、解析演算装置９は、ス
ケール３の凹凸等との関係でピーク値Ｖｍａｘ2 が所定
範囲から外れている旨を表示装置１０に画面表示する。
ｘ2≦ＶL又はＶｍａｘ2≧ＶHになり、ピーク値Ｖｍａｘ
2 が所定範囲から外れるときは、解析演算装置９は、ス
ケール３の凹凸等との関係でピーク値Ｖｍａｘ2 が所定
範囲から外れている旨を表示装置１０に画面表示する。
【００４６】そして、最初の３０ＭHzの超音波探傷試験
により、スケール３の厚さｄが２０μｍ程度と薄いとき
にも、その波形比較部分からスケール３の厚さｄを測定
できることが確かめられた。
により、スケール３の厚さｄが２０μｍ程度と薄いとき
にも、その波形比較部分からスケール３の厚さｄを測定
できることが確かめられた。
【００４７】しかし、スケール３の凹凸が大きくなる等
すると、受信エコーの波形情報が多くなり過ぎたりして
ピーク値Ｖｍａｘ2 を正確に読取ることが困難になり、
読取ったピーク値Ｖｍａｘ2が所定範囲から外れる。
すると、受信エコーの波形情報が多くなり過ぎたりして
ピーク値Ｖｍａｘ2 を正確に読取ることが困難になり、
読取ったピーク値Ｖｍａｘ2が所定範囲から外れる。
【００４８】そこで、読取ったピーク値Ｖｍａｘ2 が所
定範囲から外れると、表示装置１０の画面表示に基づ
き、作業者が探触子６を１０ＭHzの探触子に取換え、ス
テップＳ5 により、送受信器７から１０ＭHzの超音波パ
ルスを出力し、１０ＭHzの超音波パルスを被測定管１の
管内に再送信し、周波数を変えて超音波探傷試験をやり
直し、その受信波形を探触子６，送受信器７を介してオ
シロスコープ８に画面表示する。
定範囲から外れると、表示装置１０の画面表示に基づ
き、作業者が探触子６を１０ＭHzの探触子に取換え、ス
テップＳ5 により、送受信器７から１０ＭHzの超音波パ
ルスを出力し、１０ＭHzの超音波パルスを被測定管１の
管内に再送信し、周波数を変えて超音波探傷試験をやり
直し、その受信波形を探触子６，送受信器７を介してオ
シロスコープ８に画面表示する。
【００４９】そして、ステップＳ6 により、オシロスコ
ープ８に画面表示された受信エコーの波形に基づき、解
析演算装置９は、１０ＭHzの受信エコーと基準エコーと
につき、ステップＳ3 と同様にして指定されたゼロクロ
ス点の時間差を求め、この時間差からスケール３の厚さ
ｄを自動的に求めて測定し、ステップＳ7 により、測定
結果を表示し、プリントアウトする。
ープ８に画面表示された受信エコーの波形に基づき、解
析演算装置９は、１０ＭHzの受信エコーと基準エコーと
につき、ステップＳ3 と同様にして指定されたゼロクロ
ス点の時間差を求め、この時間差からスケール３の厚さ
ｄを自動的に求めて測定し、ステップＳ7 により、測定
結果を表示し、プリントアウトする。
【００５０】したがって、スケール３の凹凸等が大き
く、最初の３０ＭHzの超音波探傷試験で誤検出するおそ
れがあるボイラ管等については、超音波を１０ＭHzに変
えて探傷試験することにより、受信エコーの波形比較部
分から、スケール面５の反射エコーＥ2 が正確に検出さ
れ、スケール３の厚さｄが精度よく測定される。
く、最初の３０ＭHzの超音波探傷試験で誤検出するおそ
れがあるボイラ管等については、超音波を１０ＭHzに変
えて探傷試験することにより、受信エコーの波形比較部
分から、スケール面５の反射エコーＥ2 が正確に検出さ
れ、スケール３の厚さｄが精度よく測定される。
【００５１】ところで、ステップＳ6 において、１０Ｍ
Hz試験の受信エコーについても、ステップＳ2と同様の
判別を実行し、その結果、ピーク値Ｖｍａｘ2が所定範
囲から外れるときは、３０ＭHz試験の受信エコーと、１
０ＭHz試験の受信エコーとにつき、所定範囲に近い一方
のエコーを選択し、選択した受信エコーから、ステップ
Ｓ3 又はステップＳ6 の手法でスケール３の厚さｄを測
定してもよい。
Hz試験の受信エコーについても、ステップＳ2と同様の
判別を実行し、その結果、ピーク値Ｖｍａｘ2が所定範
囲から外れるときは、３０ＭHz試験の受信エコーと、１
０ＭHz試験の受信エコーとにつき、所定範囲に近い一方
のエコーを選択し、選択した受信エコーから、ステップ
Ｓ3 又はステップＳ6 の手法でスケール３の厚さｄを測
定してもよい。
【００５２】（他の形態）つぎに、請求項２に対応する
本発明の実施の他の形態につき、図４を参照して説明す
る。前記１形態にあっては、超音波探傷周波数を３０Ｍ
Hzから１０ＭHzに１回だけ変えて測定したが、この形態
にあっては、超音波探傷試験の周波数を、設定回数を上
限として、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内になるまで
変えて測定する。
本発明の実施の他の形態につき、図４を参照して説明す
る。前記１形態にあっては、超音波探傷周波数を３０Ｍ
Hzから１０ＭHzに１回だけ変えて測定したが、この形態
にあっては、超音波探傷試験の周波数を、設定回数を上
限として、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内になるまで
変えて測定する。
【００５３】この場合の装置構成は図２と同様であり、
図４の手順で被測定管１のスケール３の厚さｄが測定さ
れる。
図４の手順で被測定管１のスケール３の厚さｄが測定さ
れる。
【００５４】すなわち、この形態の場合、超音波探傷試
験周波数を、例えば３０ＭHzの初期周波数から、探傷結
果に応じて、最大Ｎ回変える。
験周波数を、例えば３０ＭHzの初期周波数から、探傷結
果に応じて、最大Ｎ回変える。
【００５５】この場合、ＲＢ管に各周波数の超音波探傷
試験を施し、それぞれの周波数での基準エコーを事前測
定し、解析演算装置９にそれぞれのデータを収集する。
試験を施し、それぞれの周波数での基準エコーを事前測
定し、解析演算装置９にそれぞれのデータを収集する。
【００５６】つぎに、保守・点検等の際、図４のステッ
プＱ1 により、最初は探触子６に３０ＭHzのものを用い
て、３０ＭHzで超音波探傷試験を実施する。
プＱ1 により、最初は探触子６に３０ＭHzのものを用い
て、３０ＭHzで超音波探傷試験を実施する。
【００５７】そして、オシロスコープ８に得られた受信
エコーに基づき、ステップＱ2 により、解析演算装置９
がピーク値Ｖｍａｘ2について、図１のステップＳ2と同
様の判別を行う。
エコーに基づき、ステップＱ2 により、解析演算装置９
がピーク値Ｖｍａｘ2について、図１のステップＳ2と同
様の判別を行う。
【００５８】この判別により、ピーク値Ｖｍａｘ2がＶL
＜Ｖｍａｘ2＜ＶHの所定範囲内であれば、ステップＱ3
により、その受信エコーと，基準エコーと時間差に基づ
き、解析演算装置９が図１のステップＳ3 と同様にして
スケール３の厚さｄを演算し、測定する。
＜Ｖｍａｘ2＜ＶHの所定範囲内であれば、ステップＱ3
により、その受信エコーと，基準エコーと時間差に基づ
き、解析演算装置９が図１のステップＳ3 と同様にして
スケール３の厚さｄを演算し、測定する。
【００５９】さらに、ステップＱ4により図１のステッ
プＳ4と同様にして、測定結果を表示し、プリントアウ
トする。
プＳ4と同様にして、測定結果を表示し、プリントアウ
トする。
【００６０】一方、ステップＱ2の判別において、スケ
ール３の凹凸等でピーク値Ｖｍａｘ2が所定範囲外にな
るときは、ステップＱ5 により、解析演算装置９は試験
周波数を設定回数（Ｎ回）変更したか否かを判別し、変
更回数が設定回数以下であれば、表示装置１０がつぎの
周波数での超音波探傷試験への案内を表示する。
ール３の凹凸等でピーク値Ｖｍａｘ2が所定範囲外にな
るときは、ステップＱ5 により、解析演算装置９は試験
周波数を設定回数（Ｎ回）変更したか否かを判別し、変
更回数が設定回数以下であれば、表示装置１０がつぎの
周波数での超音波探傷試験への案内を表示する。
【００６１】この表示に基づき、作業者が探触子６をつ
ぎの周波数のものに取換え、ステップＱ6 により、その
周波数の超音波を被測定管１に再送信して超音波探傷試
験を行う。
ぎの周波数のものに取換え、ステップＱ6 により、その
周波数の超音波を被測定管１に再送信して超音波探傷試
験を行う。
【００６２】さらに、この探傷試験で得られた受信エコ
ーに基づいてステップＱ2 の判別を行い、設定回数を上
限回数として、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内になる
まで、ステップＱ2からステップＱ5，Ｑ6を介してステ
ップＱ2に戻るループの処理をくり返し、周波数を変え
て被測定管１の超音波探傷試験をくり返す。
ーに基づいてステップＱ2 の判別を行い、設定回数を上
限回数として、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内になる
まで、ステップＱ2からステップＱ5，Ｑ6を介してステ
ップＱ2に戻るループの処理をくり返し、周波数を変え
て被測定管１の超音波探傷試験をくり返す。
【００６３】そして、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内
になると、そのときの受信エコーと、基準エコーとに基
づき、ステップＱ3 によってスケール３の厚さｄを測定
し、ステップＱ4 によってその結果を表示し、プリント
アウトする。
になると、そのときの受信エコーと、基準エコーとに基
づき、ステップＱ3 によってスケール３の厚さｄを測定
し、ステップＱ4 によってその結果を表示し、プリント
アウトする。
【００６４】また、超音波の周波数を設定回数変更して
もピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内にならないときは、
ステップＱ5からステップＱ7に移行し、解析演算装置９
により、各周波数の受信エコーのうちのピーク値Ｖｍａ
ｘ2 が最も所定範囲に近いエコーを検出し、その周波数
の探傷結果を選択する。
もピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内にならないときは、
ステップＱ5からステップＱ7に移行し、解析演算装置９
により、各周波数の受信エコーのうちのピーク値Ｖｍａ
ｘ2 が最も所定範囲に近いエコーを検出し、その周波数
の探傷結果を選択する。
【００６５】さらに、ステップＱ8 に移行し、選択した
探傷結果の受信エコーと、基準エコーとに基づき、ステ
ップＱ3 と同様にしてスケール３の厚さｄを測定し、ス
テップＱ9により、ステップＱ4と同様にして測定結果を
表示し、プリントアウトする。
探傷結果の受信エコーと、基準エコーとに基づき、ステ
ップＱ3 と同様にしてスケール３の厚さｄを測定し、ス
テップＱ9により、ステップＱ4と同様にして測定結果を
表示し、プリントアウトする。
【００６６】この場合、周波数が異なる超音波の送信を
くり返し、スケール３の凹凸等に応じた最適周波数の超
音波探傷試験でその厚さｄが測定されるため、スケール
３の凹凸等によらず、スケール３が厚いときは勿論、薄
いときにも、確実に厚さｄの測定が行える。
くり返し、スケール３の凹凸等に応じた最適周波数の超
音波探傷試験でその厚さｄが測定されるため、スケール
３の凹凸等によらず、スケール３が厚いときは勿論、薄
いときにも、確実に厚さｄの測定が行える。
【００６７】ところで、前記両形態においては、探触子
６を垂直探傷試験用の探触子として説明したが、例え
ば、探触子６を送信側と受信側の２個の探触子からなる
斜角探傷試験用の探触子とし、いわゆるＶ透過法の超音
波探傷試験で測定する場合等にも、本発明を同様に適用
できるのは勿論である。
６を垂直探傷試験用の探触子として説明したが、例え
ば、探触子６を送信側と受信側の２個の探触子からなる
斜角探傷試験用の探触子とし、いわゆるＶ透過法の超音
波探傷試験で測定する場合等にも、本発明を同様に適用
できるのは勿論である。
【００６８】また、受信エコーの波形比較部分は、大き
なピーク値を有するスケール面５の反射エコーＥ2 特有
の波形位置の部分であればよく、図３のＰ2〜Ｐ3のゼロ
クロス点を含む適当な範囲であればよく、しきい値
ＶH，ＶL等も探傷試験の種類等に応じて適当に設定すれ
ばよい。
なピーク値を有するスケール面５の反射エコーＥ2 特有
の波形位置の部分であればよく、図３のＰ2〜Ｐ3のゼロ
クロス点を含む適当な範囲であればよく、しきい値
ＶH，ＶL等も探傷試験の種類等に応じて適当に設定すれ
ばよい。
【００６９】さらに、超音波の送信周波数は３０ＭHz，
１０ＭHzに限るものではなく、例えば、最初に、３０Ｍ
Hzより高い周波数で測定してもよい。
１０ＭHzに限るものではなく、例えば、最初に、３０Ｍ
Hzより高い周波数で測定してもよい。
【００７０】
【発明の効果】本発明は、以下に記載する効果を奏す
る。まず、請求項１の場合は、探触子６の受信エコーの
うちのスケール面５の反射エコーＥ2 特有の波形部分が
波形比較部分に設定され、この部分の所定のピーク値が
所定範囲内のときは、そのときのスケール面５の反射エ
コーと基準エコーとの相対的な時間差からスケールの厚
さが測定され、このとき、超音波の周波数を、例えば従
来の１０ＭHzから３０ＭHzに高くすることで、１０ＭHz
では測定困難な薄いスケール３ついてもその厚さｄを測
定することができる。
る。まず、請求項１の場合は、探触子６の受信エコーの
うちのスケール面５の反射エコーＥ2 特有の波形部分が
波形比較部分に設定され、この部分の所定のピーク値が
所定範囲内のときは、そのときのスケール面５の反射エ
コーと基準エコーとの相対的な時間差からスケールの厚
さが測定され、このとき、超音波の周波数を、例えば従
来の１０ＭHzから３０ＭHzに高くすることで、１０ＭHz
では測定困難な薄いスケール３ついてもその厚さｄを測
定することができる。
【００７１】一方、被測定管１の内面に付着したスケー
ル３の凹凸等との関係で、受信エコーの波形比較部分の
所定のピーク値が所定範囲から外れたときは、探触子６
から周波数の異なる超音波を再送信し、周波数を変えて
被測定管１を超音波探傷試験し、再送信に基づく探触子
６の受信エコーの波形比較部分又は、２回の超音波の送
信に基づく探触子６の受信エコーの波形比較部分のうち
のピーク値が所定範囲に近い一方のエコーの波形比較部
分を、スケール面５の反射エコーＥ2 として検出し、検
出した反射エコーと基準エコーとの相対的な時間差か
ら、スケール３の厚さｄを測定することができる。
ル３の凹凸等との関係で、受信エコーの波形比較部分の
所定のピーク値が所定範囲から外れたときは、探触子６
から周波数の異なる超音波を再送信し、周波数を変えて
被測定管１を超音波探傷試験し、再送信に基づく探触子
６の受信エコーの波形比較部分又は、２回の超音波の送
信に基づく探触子６の受信エコーの波形比較部分のうち
のピーク値が所定範囲に近い一方のエコーの波形比較部
分を、スケール面５の反射エコーＥ2 として検出し、検
出した反射エコーと基準エコーとの相対的な時間差か
ら、スケール３の厚さｄを測定することができる。
【００７２】したがって、被測定管１の内面に付着した
スケール３の厚さｄを、その凹凸等によらず、スケール
３が厚いときは勿論、薄いときにも、超音波探傷試験方
式で精度よく測定することができる。
スケール３の厚さｄを、その凹凸等によらず、スケール
３が厚いときは勿論、薄いときにも、超音波探傷試験方
式で精度よく測定することができる。
【００７３】そして、この測定の結果に基づき、ボイラ
管等のスケール付着範囲の分布酸洗時期の適切な管理等
が行え、ボイラ管等の保守・管理のコスト低減及び適正
化等に著しい効果を奏する。
管等のスケール付着範囲の分布酸洗時期の適切な管理等
が行え、ボイラ管等の保守・管理のコスト低減及び適正
化等に著しい効果を奏する。
【００７４】また、請求項２の場合は、最初の超音波の
送信に基づく探触子６の受信エコーの波形比較部分の所
定のピーク値が所定範囲から外れたときに、ピーク値が
所定範囲になるまで、設定回数を限度として、周波数を
変えて超音波探傷試験をくり返し、前記ピーク値が所定
範囲内になったときは、その受信エコーの波形比較部分
をスケール面５の反射エコーとして検出し、ならなかっ
たときは、各受信エコーのうちの前記ピーク値が所定範
囲に最も近いエコーの波形比較部分をスケール面５の反
射エコーＥ2 として検出したため、検出した反射エコー
と基準エコーとの相対的な時間差から、被測定管１に付
着したスケール３の厚さｄを、その凹凸等によらず、請
求項１の場合より一層確実に測定できる。
送信に基づく探触子６の受信エコーの波形比較部分の所
定のピーク値が所定範囲から外れたときに、ピーク値が
所定範囲になるまで、設定回数を限度として、周波数を
変えて超音波探傷試験をくり返し、前記ピーク値が所定
範囲内になったときは、その受信エコーの波形比較部分
をスケール面５の反射エコーとして検出し、ならなかっ
たときは、各受信エコーのうちの前記ピーク値が所定範
囲に最も近いエコーの波形比較部分をスケール面５の反
射エコーＥ2 として検出したため、検出した反射エコー
と基準エコーとの相対的な時間差から、被測定管１に付
着したスケール３の厚さｄを、その凹凸等によらず、請
求項１の場合より一層確実に測定できる。
【図１】本発明の実施の１形態の測定手順のフローチャ
ートである。
ートである。
【図２】本発明の実施の１形態の測定装置の説明図であ
る。
る。
【図３】図２の測定装置の波形処理の説明図である。
【図４】本発明の実施の他の形態の測定手順のフローチ
ャートである。
ャートである。
【図５】従来例の測定説明図である。
【図６】図５の受信エコーの１例の波形図である。
１ 被測定管 ２，６ 超音波探触子 ３ スケール ５ スケール面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤田 洋 大阪市北区中之島３丁目３番22号 関西電 力株式会社内 (72)発明者 井川 広之 大阪市北区茶屋町18番21号 株式会社日本 アーム内 (72)発明者 中山 吉晴 大阪市大正区鶴町２丁目15番26号 株式会 社ニチゾウテック内 Ｆターム(参考） 2F068 AA28 BB09 CC16 DD12 FF02 FF12 FF14 FF25 GG01 HH01 QQ42 2G047 AB01 AC02 BC18 GF11 GF21 GG24 GG33 GH04
Claims (2)
- 【請求項１】 ボイラ等の被測定管の外側に設けた超音
波探触子により、前記被測定管の管内に超音波を送信し
て前記被測定管からの超音波の反射エコーを受信し、 前記被測定管の内面にスケールが付着していないときの
反射エコーを基準エコーとして、前記探触子が受信した
スケール面の反射エコーと、前記基準エコーとの相対的
な時間差から、前記被測定管の内面に付着した前記スケ
ールの厚さを測定する超音波探傷試験方式の管内面のス
ケール厚さ測定方法であって、 前記探触子の受信エコーの設定された波形比較部分の所
定のピーク値が所定範囲内か否かを判別し、 前記ピーク値が前記所定範囲外のときに、前記探触子か
ら前記被測定管の管内に、周波数を変えて超音波を再送
信し、 該再送信に基づく前記探触子の受信エコーの前記波形比
較部分又は、前記送信，前記再送信に基づく前記探触子
の両受信エコーのうちの前記ピーク値が前記所定範囲に
近い一方のエコーの前記波形比較部分を、前記スケール
面の反射エコーとして検出し、 検出した反射エコーと前記基準エコーとの相対的な時間
差から、前記スケールの厚さを測定することを特徴とす
る管内面のスケール厚さ測定方法。 - 【請求項２】 ボイラ等の被測定管の外側に設けた超音
波探触子により、前記被測定管の管内に超音波を送信し
て前記被測定管からの反射エコーを受信し、 前記被測定管の内面にスケールが付着していないときの
反射エコーを基準エコーとして、前記探触子が受信した
スケール面の反射エコーと前記基準エコーとの相対的な
時間差から、前記被測定管の内面に付着した前記スケー
ルの厚さを測定する超音波探傷試験方式の管内面のスケ
ール厚さ測定方法であって、 前記探触子の受信エコーの設定された波形比較部分の所
定のピーク値が所定範囲内か否かを判別し、 前記ピーク値が前記所定範囲外のときに、設定回数を限
度として、前記ピーク値が前記所定範囲内になるまで前
記探触子から前記被測定管の管内に周波数を変えて超音
波を再送信することをくり返し、 前記ピーク値が前記所定範囲内になったときの前記探触
子の受信エコーの前記波形比較部分又は、前記探触子の
各受信エコーのうちの前記ピーク値が前記所定範囲に最
も近いエコーの前記波形比較部分を、前記スケール面の
反射エコーとして検出し、 検出した反射エコーと基準エコーとの相対的な時間差か
ら、前記スケールの厚さを測定することを特徴とする管
内面のスケール厚さ測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001176436A JP2002365031A (ja) | 2001-06-12 | 2001-06-12 | 管内面のスケール厚さ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001176436A JP2002365031A (ja) | 2001-06-12 | 2001-06-12 | 管内面のスケール厚さ測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002365031A true JP2002365031A (ja) | 2002-12-18 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001176436A Pending JP2002365031A (ja) | 2001-06-12 | 2001-06-12 | 管内面のスケール厚さ測定方法 |
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| Country | Link |
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012157922A2 (ko) * | 2011-05-16 | 2012-11-22 | 주식회사 에이앤디코퍼레이션 | 유체 디스펜스 시스템의 유량 및 이상동작 검출 방법 |
| CN112805594A (zh) * | 2018-10-29 | 2021-05-14 | 古野电气株式会社 | 物标计测装置及物标计测方法 |
| CN113267562A (zh) * | 2021-05-19 | 2021-08-17 | 复旦大学 | 冶金材料水浸超声波检测中干扰气泡的去除方法 |
-
2001
- 2001-06-12 JP JP2001176436A patent/JP2002365031A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012157922A2 (ko) * | 2011-05-16 | 2012-11-22 | 주식회사 에이앤디코퍼레이션 | 유체 디스펜스 시스템의 유량 및 이상동작 검출 방법 |
| WO2012157922A3 (ko) * | 2011-05-16 | 2013-01-24 | 주식회사 에이앤디코퍼레이션 | 유체 디스펜스 시스템의 유량 및 이상동작 검출 방법 |
| CN112805594A (zh) * | 2018-10-29 | 2021-05-14 | 古野电气株式会社 | 物标计测装置及物标计测方法 |
| CN112805594B (zh) * | 2018-10-29 | 2024-05-28 | 古野电气株式会社 | 物标计测装置及物标计测方法 |
| CN113267562A (zh) * | 2021-05-19 | 2021-08-17 | 复旦大学 | 冶金材料水浸超声波检测中干扰气泡的去除方法 |
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