JPH0346070B2 - - Google Patents
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- JPH0346070B2 JPH0346070B2 JP60223254A JP22325485A JPH0346070B2 JP H0346070 B2 JPH0346070 B2 JP H0346070B2 JP 60223254 A JP60223254 A JP 60223254A JP 22325485 A JP22325485 A JP 22325485A JP H0346070 B2 JPH0346070 B2 JP H0346070B2
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 13
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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Landscapes
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、各種産業用プラント機器および構造
物などの材料欠陥を超音波を用いて非破壊的に検
査する装置、とくに金属材料内部のクリープ損傷
を精度よく検出し得る超音波探傷装置に関するも
のである。
物などの材料欠陥を超音波を用いて非破壊的に検
査する装置、とくに金属材料内部のクリープ損傷
を精度よく検出し得る超音波探傷装置に関するも
のである。
各種産業プラントの安全性、信頼性、経済性を
向上させるため、稼動中のプラントを構成する機
器、構造物などを非破壊検査し余寿命を予測する
上で重要な役割を果たしてきた従来の超音波探傷
装置は、第6図ないし第8図に示すように探触子
aから被検査材bの板厚方向に超音波cを入射
し、被検査材底面dから反射したエコーe,f、
(eは第1回目のエコー、fは第2回目のエコー)
が現われる時間差gおよび振幅差hを計測装置i
を用いてそれぞれ測定し、プラント稼動前、すな
わち新材について同じ検査を行つて得られた時間
差および振幅差のデータg′,h′を用いて音速変化
量g−g′および減衰率変化量h,h′を求め、これ
らの変化量の大きさとクリープ損傷量の対応関係
からクリープの進行状態を把握し、機器などの安
全性を確認するようにしていた。なお、第7図
中、符号jは入射される送信波の電気信号を示
す。
向上させるため、稼動中のプラントを構成する機
器、構造物などを非破壊検査し余寿命を予測する
上で重要な役割を果たしてきた従来の超音波探傷
装置は、第6図ないし第8図に示すように探触子
aから被検査材bの板厚方向に超音波cを入射
し、被検査材底面dから反射したエコーe,f、
(eは第1回目のエコー、fは第2回目のエコー)
が現われる時間差gおよび振幅差hを計測装置i
を用いてそれぞれ測定し、プラント稼動前、すな
わち新材について同じ検査を行つて得られた時間
差および振幅差のデータg′,h′を用いて音速変化
量g−g′および減衰率変化量h,h′を求め、これ
らの変化量の大きさとクリープ損傷量の対応関係
からクリープの進行状態を把握し、機器などの安
全性を確認するようにしていた。なお、第7図
中、符号jは入射される送信波の電気信号を示
す。
しかし、前述の測定方法によると第8図に示す
ように被検査材底面dに腐食または孔食kが発生
し板厚が不同になつた場合その影響がエコーe,
fに強く現われ音速変化量および減衰率変化量の
測定、すなわちクリープ損傷量の推定を困難にす
るなどの問題点があつた。
ように被検査材底面dに腐食または孔食kが発生
し板厚が不同になつた場合その影響がエコーe,
fに強く現われ音速変化量および減衰率変化量の
測定、すなわちクリープ損傷量の推定を困難にす
るなどの問題点があつた。
本発明は、前述の問題点を解決するためになし
たもので、その目的は、探触子を介して超音波を
発信および受信する超音波送受信器と、該超音波
送受信器から送られた電気信号のうちから一部の
電気信号を取り出すゲート回路と、該ゲート回路
から送られた電気信号をデジタル信号に変換する
A/D変換器と、該A/D変換器から送られたデ
ジタル信号を周波数分析する演算器と、種々のク
リープ量に対応するデジタル波形を記憶した記憶
器と、前記演算器から送られたデジタル波形と前
記記憶器から取り出したデジタル波形を比較する
比較器とを備え、前記ゲート回路のゲート間隔
を、被検査材から反射した第1回目のエコーを受
取つた時点に先行させて設定した超音波探傷装置
によつて達成される。
たもので、その目的は、探触子を介して超音波を
発信および受信する超音波送受信器と、該超音波
送受信器から送られた電気信号のうちから一部の
電気信号を取り出すゲート回路と、該ゲート回路
から送られた電気信号をデジタル信号に変換する
A/D変換器と、該A/D変換器から送られたデ
ジタル信号を周波数分析する演算器と、種々のク
リープ量に対応するデジタル波形を記憶した記憶
器と、前記演算器から送られたデジタル波形と前
記記憶器から取り出したデジタル波形を比較する
比較器とを備え、前記ゲート回路のゲート間隔
を、被検査材から反射した第1回目のエコーを受
取つた時点に先行させて設定した超音波探傷装置
によつて達成される。
材料内部の微小欠陥によつて散乱・反射した音
波をノイズとして検出し、クリープ損傷量との対
応関係からクリープの進行状況を把握するので、
材料の腐食、偏肉などによる悪影響を受けること
がない。
波をノイズとして検出し、クリープ損傷量との対
応関係からクリープの進行状況を把握するので、
材料の腐食、偏肉などによる悪影響を受けること
がない。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。第1図及び第2図は本発明の一実施例を示す
もので、図中、1は被検査材、2は探触子、3は
超音波送受信器、4は超音波送受信器3から送ら
れた、増幅した反射波の電気信号を所定のタイミ
ングで且つ所定の経過時間、すなわち第1回目の
エコーの電気信号m(第2図参照)が現われる時
点7よりt+Δtだけ先行する時点6とΔtだけ先
行する時点6の間をゲート間隔とするノイズ採取
用ゲート回路、8はゲート回路4が取り出した電
気信号をデジタル信号に変換するA/D変換器
で、小さな振幅をもつ数多くの信号の集団である
ノイズ波形を精度よくデジタル化するためサンプ
リング点数を2048点と多くとれるようにしてい
る。9はデジタル化された波形を周波数分析しそ
の結果を記憶器10および比較器12に送ると共
にすでに記憶されているデジタル波形を記憶器1
0から取り出して比較器12に送る演算器、13
は比較した結果をCRT画面上に画像表示するモ
ニタである。
る。第1図及び第2図は本発明の一実施例を示す
もので、図中、1は被検査材、2は探触子、3は
超音波送受信器、4は超音波送受信器3から送ら
れた、増幅した反射波の電気信号を所定のタイミ
ングで且つ所定の経過時間、すなわち第1回目の
エコーの電気信号m(第2図参照)が現われる時
点7よりt+Δtだけ先行する時点6とΔtだけ先
行する時点6の間をゲート間隔とするノイズ採取
用ゲート回路、8はゲート回路4が取り出した電
気信号をデジタル信号に変換するA/D変換器
で、小さな振幅をもつ数多くの信号の集団である
ノイズ波形を精度よくデジタル化するためサンプ
リング点数を2048点と多くとれるようにしてい
る。9はデジタル化された波形を周波数分析しそ
の結果を記憶器10および比較器12に送ると共
にすでに記憶されているデジタル波形を記憶器1
0から取り出して比較器12に送る演算器、13
は比較した結果をCRT画面上に画像表示するモ
ニタである。
次に、本装置の作動について説明する。被検査
材1に探触子2を当てると超音波は被検査材1表
面に垂直に伝わつていく。このとき、超音波が結
晶の粒界に当たるとそのエネルギーの一部が散乱
され、探触子2へ戻つてきてノイズ(後方散乱イ
イズ)として現れる。超音波が被検査材1の裏面
(底面)まで到達すると、底面によつて反射して
被検査材1表面まで戻つてくる。ここでその一部
は探触子2内に伝わり第1回目底面エコーとして
観察され、残りは表面で反射して、被検査材1内
部に再び伝わつていき、同様な過程を繰り返す。
いま、内部微小欠陥14(ヘアクラツクまたはキ
ヤビイテイなど)が存在する被検査材1に超音波
信号nが入射すると、この信号nの一部は結晶の
粒界並びに内部微小欠陥14によつて散乱・反射
し、また、残りは被検査材底面15で反射し、こ
れらは探触子2を通つて電気信号に変換され超音
波送受信器3に送られる。超音波送受信器3は、
第2図に示すように前記散乱・反射した音波pを
ノイズとして観測される電気信号qに、また底面
15で反射した音波rをエコーとして観測される
電気信号m,sにそれぞれ増幅してゲート回路4
に送る。
材1に探触子2を当てると超音波は被検査材1表
面に垂直に伝わつていく。このとき、超音波が結
晶の粒界に当たるとそのエネルギーの一部が散乱
され、探触子2へ戻つてきてノイズ(後方散乱イ
イズ)として現れる。超音波が被検査材1の裏面
(底面)まで到達すると、底面によつて反射して
被検査材1表面まで戻つてくる。ここでその一部
は探触子2内に伝わり第1回目底面エコーとして
観察され、残りは表面で反射して、被検査材1内
部に再び伝わつていき、同様な過程を繰り返す。
いま、内部微小欠陥14(ヘアクラツクまたはキ
ヤビイテイなど)が存在する被検査材1に超音波
信号nが入射すると、この信号nの一部は結晶の
粒界並びに内部微小欠陥14によつて散乱・反射
し、また、残りは被検査材底面15で反射し、こ
れらは探触子2を通つて電気信号に変換され超音
波送受信器3に送られる。超音波送受信器3は、
第2図に示すように前記散乱・反射した音波pを
ノイズとして観測される電気信号qに、また底面
15で反射した音波rをエコーとして観測される
電気信号m,sにそれぞれ増幅してゲート回路4
に送る。
ゲート回路4は受け取つた各信号q,m,sの
うちゲート間隔tの間に受け取つた信号qすなわ
ちノイズ分だけを取り出してA/D変換器8に送
る。A/D変換器8は小さな振幅をもつ小さな波
形の集団からなるノイズ信号を正確にデジタル化
するためサンプリング間隔0.1〜1nsで2048ポイン
トデジタル化してこのデジタル化されたノイズ波
形を演算器9に送り、演算器9は受け取つたノイ
ズを周波数分析する。
うちゲート間隔tの間に受け取つた信号qすなわ
ちノイズ分だけを取り出してA/D変換器8に送
る。A/D変換器8は小さな振幅をもつ小さな波
形の集団からなるノイズ信号を正確にデジタル化
するためサンプリング間隔0.1〜1nsで2048ポイン
トデジタル化してこのデジタル化されたノイズ波
形を演算器9に送り、演算器9は受け取つたノイ
ズを周波数分析する。
一方、記憶器10には、一例として第3図a,
bに示されるように、被検査材1が健全な状態
(新材)および種々のクリープ損傷状態にあると
きに同じタイミングで採取し且つ周波数分析した
デジタル波形が標本として記憶されており、比較
器12は、この標本と検出波形を一つ一つ比較し
て検出波形に近似する標本を選び出し、この標本
と検出波形をモニタ13に画像表示し、検査員は
波形の類似の程度を観察して被検査材1のクリー
プ損傷量を数量的に把握する。なお、比較器12
には図示しない警報装置が設けてあり、検出波形
が“しきい値”で規定した波形を逸脱した際に警
報を発する。
bに示されるように、被検査材1が健全な状態
(新材)および種々のクリープ損傷状態にあると
きに同じタイミングで採取し且つ周波数分析した
デジタル波形が標本として記憶されており、比較
器12は、この標本と検出波形を一つ一つ比較し
て検出波形に近似する標本を選び出し、この標本
と検出波形をモニタ13に画像表示し、検査員は
波形の類似の程度を観察して被検査材1のクリー
プ損傷量を数量的に把握する。なお、比較器12
には図示しない警報装置が設けてあり、検出波形
が“しきい値”で規定した波形を逸脱した際に警
報を発する。
前述したように、被検査材1がクリープ損傷を
受け、結晶粒界に内部微小欠陥14が発生してく
ると、超音波はこれらによつても散乱され、結果
として後方散乱ノイズが増加してくるが、以上の
ノイズは底面エコーが現れる以前に探触子2に戻
つてくる。従つて、必ず底面からのエコーより前
の信号を採取しなければならないが、第2回目、
第3回目と反射回数が増えるに従つて、超音波エ
ネルギが減少していくので、第1回目のエコー信
号より先行するものを採取している。
受け、結晶粒界に内部微小欠陥14が発生してく
ると、超音波はこれらによつても散乱され、結果
として後方散乱ノイズが増加してくるが、以上の
ノイズは底面エコーが現れる以前に探触子2に戻
つてくる。従つて、必ず底面からのエコーより前
の信号を採取しなければならないが、第2回目、
第3回目と反射回数が増えるに従つて、超音波エ
ネルギが減少していくので、第1回目のエコー信
号より先行するものを採取している。
第4回目は、周波数分析して求めたノイズ値と
ステンレス鋼SUS321クリープ破断材の微小き裂
面積率との関係を示すものであり、クリープ損傷
が累積し微小き裂(1結晶粒程度)が増してくる
と、ノイズ値が増加する。この図から、ノイズ値
を計測することによりクリープ損傷量が推定でき
る。
ステンレス鋼SUS321クリープ破断材の微小き裂
面積率との関係を示すものであり、クリープ損傷
が累積し微小き裂(1結晶粒程度)が増してくる
と、ノイズ値が増加する。この図から、ノイズ値
を計測することによりクリープ損傷量が推定でき
る。
また、第5図a,b図にクリープ損傷を受けた
ボイラ主蒸気管を本装置で計測した結果を示す。
図中、き裂位置と矢印した箇所にはわれが発くし
ており、その両サイドは微小き裂が発生している
部分である。本装置で求めたノイズ値は、われの
箇所で大きな値を示し、その位置から離れるにし
たがつて減少していき、健全部である計測位置P
1およびP8でノイズ値は最小となつている。
ボイラ主蒸気管を本装置で計測した結果を示す。
図中、き裂位置と矢印した箇所にはわれが発くし
ており、その両サイドは微小き裂が発生している
部分である。本装置で求めたノイズ値は、われの
箇所で大きな値を示し、その位置から離れるにし
たがつて減少していき、健全部である計測位置P
1およびP8でノイズ値は最小となつている。
なお、本発明は前述の実施例にのみ限定される
ものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の変更を加え得ることは勿論である。
ものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の変更を加え得ることは勿論である。
以上に述べたごとく、本発明は次の優れた効果
を発揮する。
を発揮する。
(i) 材料内部の微小欠陥によつて散乱、反射する
音波をノイズとして検出するので、腐食などに
よる板厚変化の影響を受けることなく、クリー
プ損傷量を正確に把握することができる。
音波をノイズとして検出するので、腐食などに
よる板厚変化の影響を受けることなく、クリー
プ損傷量を正確に把握することができる。
(ii) 第(i)項と同じ理由により本装置は厚肉材料の
検査にも幅広く適用することができる。
検査にも幅広く適用することができる。
第1図および第2図は本発明の実施例を示し、
第1図は本装置のブロツク線図、第2図は本装置
による測定原理を示す説明図、第3図a,bは新
材とクリープ破断材(鋳鋼)のノイズを周波数分
析したデジタル波形の一例を示す線図、第4図は
周波数分析して求めたノイズ値とステンレス鋼
SUS321クリープ破断材の微小き裂面積率との関
係を示す線図、第5図a,bはクリープ損傷を受
けたSUS316鋼主蒸気管のノイズ分析結果を示す
説明図、第6図ないし第8図は従来の装置の測定
原理の説明図である。 図中、1は被検査材、2は探触子、3は超音波
送受信器、4はゲート回路、8はA/D変換器、
9は演算器、10は記憶器、12は比較器を示
す。
第1図は本装置のブロツク線図、第2図は本装置
による測定原理を示す説明図、第3図a,bは新
材とクリープ破断材(鋳鋼)のノイズを周波数分
析したデジタル波形の一例を示す線図、第4図は
周波数分析して求めたノイズ値とステンレス鋼
SUS321クリープ破断材の微小き裂面積率との関
係を示す線図、第5図a,bはクリープ損傷を受
けたSUS316鋼主蒸気管のノイズ分析結果を示す
説明図、第6図ないし第8図は従来の装置の測定
原理の説明図である。 図中、1は被検査材、2は探触子、3は超音波
送受信器、4はゲート回路、8はA/D変換器、
9は演算器、10は記憶器、12は比較器を示
す。
Claims (1)
- 1 探触子を介して超音波を発信および受信する
超音波送受信器と、該超音波送受信器から送られ
た電気信号のうちから一部の電気信号を取り出す
ゲート回路と、該ゲート回路から送られた電気信
号をデジタル信号に変換するA/D変換器と、該
A/D変換器から送られたデジタル信号を周波数
分析する演算器と、種々のクリープ量に対応する
デジタル波形を記憶した記憶器と、前記演算器か
ら送られたデジタル波形と前記記憶器から取り出
したデジタル波形を比較する比較器とを備え、前
記ゲート回路のゲート間隔を、被検査材から反射
した第1回目のエコーを受取つた時点に先行させ
て設定したことを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60223254A JPS6282350A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60223254A JPS6282350A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6282350A JPS6282350A (ja) | 1987-04-15 |
| JPH0346070B2 true JPH0346070B2 (ja) | 1991-07-15 |
Family
ID=16795214
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60223254A Granted JPS6282350A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6282350A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010243375A (ja) * | 2009-04-08 | 2010-10-28 | National Maritime Research Institute | 進展亀裂検出方法、装置およびプログラム |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4538928B2 (ja) * | 2000-09-12 | 2010-09-08 | 住友金属工業株式会社 | 結晶粒度異常判定装置および結晶粒度異常判定方法 |
| DE10123237B4 (de) * | 2001-05-12 | 2005-11-17 | Eads Deutschland Gmbh | Zerstörungsfreie Ultraschall-Prüfmethode zur Schadensdetektion, sowie Prüfeinrichtung zur Durchführung derselben |
| CA2647004C (en) * | 2006-03-24 | 2013-02-12 | Ihi Corporation | Defect inspection apparatus and defect inspection method |
| JP5055163B2 (ja) * | 2008-02-27 | 2012-10-24 | 三菱重工業株式会社 | クリープ損傷の評価方法 |
| JP6555801B2 (ja) * | 2015-03-30 | 2019-08-07 | 株式会社ケー・エフ・シー | コンクリート構造物の取付物のメンテナンス方法 |
| JP7261093B2 (ja) * | 2019-06-06 | 2023-04-19 | 一般財団法人電力中央研究所 | 金属溶接部の損傷評価装置 |
| CN110702042B (zh) * | 2019-10-15 | 2021-07-02 | 河海大学常州校区 | 一种超声脉冲回波测厚中信号混叠条件下的厚度估算方法 |
-
1985
- 1985-10-07 JP JP60223254A patent/JPS6282350A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010243375A (ja) * | 2009-04-08 | 2010-10-28 | National Maritime Research Institute | 進展亀裂検出方法、装置およびプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6282350A (ja) | 1987-04-15 |
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