JP2002365032A - 管内面のスケール厚さ測定方法 - Google Patents
管内面のスケール厚さ測定方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定管の内面に付着したスケールの厚さ
を、超音波探傷試験方式により、スケールの形状や性状
も考慮して極めて精度よく測定する。 【解決手段】 超音波探触子６の受信エコーのうちのス
ケール面５の反射エコーとして検出されたエコー部分の
波形タイプを、予め設定した複数の波形タイプから選択
して決定し、前記エコー部分の反射エコーと、スケール
３が付着していないときの基準エコーとの前記エコー部
分の波形タイプに応じて設定された波形位置の相対的な
時間差から、スケール３の厚さを測定する。
を、超音波探傷試験方式により、スケールの形状や性状
も考慮して極めて精度よく測定する。 【解決手段】 超音波探触子６の受信エコーのうちのス
ケール面５の反射エコーとして検出されたエコー部分の
波形タイプを、予め設定した複数の波形タイプから選択
して決定し、前記エコー部分の反射エコーと、スケール
３が付着していないときの基準エコーとの前記エコー部
分の波形タイプに応じて設定された波形位置の相対的な
時間差から、スケール３の厚さを測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、超音波探傷試験方
式の管内面のスケール厚さ測定方法に関し、詳しくは、
スケールの形状や性状による反射エコーの波形の差異を
考慮した精度の高い測定に関する。
式の管内面のスケール厚さ測定方法に関し、詳しくは、
スケールの形状や性状による反射エコーの波形の差異を
考慮した精度の高い測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、各種プラント設備のボイラ管等に
あっては、保守・点検により、定期的又は不定期に、超
音波探傷試験方式のスケール厚さの測定が実施される。
あっては、保守・点検により、定期的又は不定期に、超
音波探傷試験方式のスケール厚さの測定が実施される。
【０００３】この超音波探傷試験方式のスケール厚さの
測定は、超音波探触子として垂直探触子を用いる場合、
図９に示すように、ボイラ管（鋼管）等の金属管からな
る被測定管１の外側に、この被測定管１の管面に接する
ように超音波探触子（垂直探触子）２を設け、送受信器
（図示せず）から探触子２に出力された例えば１０ＭHz
の超音波パルスを、探触子２から被測定管１の管内に垂
直（管軸に直角）に送信して行われる。
測定は、超音波探触子として垂直探触子を用いる場合、
図９に示すように、ボイラ管（鋼管）等の金属管からな
る被測定管１の外側に、この被測定管１の管面に接する
ように超音波探触子（垂直探触子）２を設け、送受信器
（図示せず）から探触子２に出力された例えば１０ＭHz
の超音波パルスを、探触子２から被測定管１の管内に垂
直（管軸に直角）に送信して行われる。
【０００４】そして、この超音波パルスの送信に基づく
被測定管１からの超音波の反射エコーを探触子２により
受信し、その受信エコーを、前記の送受信器を通じてオ
シロスコープ等に画面表示する。
被測定管１からの超音波の反射エコーを探触子２により
受信し、その受信エコーを、前記の送受信器を通じてオ
シロスコープ等に画面表示する。
【０００５】このとき、被測定管１の管内面にスケール
３が付着していると、管外から入射された超音波の一部
が、管内面のスケール３との境界面４及びスケール面５
（スケール３の表面）で管外方向に反射する。
３が付着していると、管外から入射された超音波の一部
が、管内面のスケール３との境界面４及びスケール面５
（スケール３の表面）で管外方向に反射する。
【０００６】そして、境界面４の反射エコーをＥ1，ス
ケール面５の反射エコーをＥ2とすると、探触子２は、
最初に反射エコーＥ1 を受信し、この受信からスケール
３の厚さｄに応じた時間遅れて反射エコーＥ2を受信す
る。なお、反射エコーＥ1，Ｅ2はそれぞれ反射面の境界
条件によって波形が変わる。
ケール面５の反射エコーをＥ2とすると、探触子２は、
最初に反射エコーＥ1 を受信し、この受信からスケール
３の厚さｄに応じた時間遅れて反射エコーＥ2を受信す
る。なお、反射エコーＥ1，Ｅ2はそれぞれ反射面の境界
条件によって波形が変わる。
【０００７】そして、探触子２に１０ＭHzの探触子を用
いる一般的な１０ＭHzの超音波探傷試験の場合、スケー
ル３が１００μｍ程度以上の比較的厚いときには、例え
ば図１０に示すように、探触子２の受信エコーに、反射
エコーＥ1の部分ｅ1と反射エコーＥ2の部分ｅ2とが分離
して出現する。
いる一般的な１０ＭHzの超音波探傷試験の場合、スケー
ル３が１００μｍ程度以上の比較的厚いときには、例え
ば図１０に示すように、探触子２の受信エコーに、反射
エコーＥ1の部分ｅ1と反射エコーＥ2の部分ｅ2とが分離
して出現する。
【０００８】この場合、反射エコーＥ1，Ｅ2それぞれの
最初のゼロクロス点の時刻，すなわち最初の立上りの時
刻ｔ1，ｔ2を読取り、その時間差ΔＴ（＝ｔ2−ｔ1）を
求めると、この時間差ΔＴの間に超音波がスケール３を
往復することから、時間差ΔＴと超音波のスケール３で
の音速Ｃとに基づき、スケール３の厚さｄが、ｄ＝（Δ
Ｔ×Ｃ）／２の演算から求められて測定される。
最初のゼロクロス点の時刻，すなわち最初の立上りの時
刻ｔ1，ｔ2を読取り、その時間差ΔＴ（＝ｔ2−ｔ1）を
求めると、この時間差ΔＴの間に超音波がスケール３を
往復することから、時間差ΔＴと超音波のスケール３で
の音速Ｃとに基づき、スケール３の厚さｄが、ｄ＝（Δ
Ｔ×Ｃ）／２の演算から求められて測定される。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】前記従来のこの種のス
ケール厚さ測定方法の場合、探触子２を通じて被測定管
１に送信する超音波が、通常は１０ＭHzに固定され、１
０ＭHzの探触子のみを用いてスケール３の厚さが測定さ
れる。
ケール厚さ測定方法の場合、探触子２を通じて被測定管
１に送信する超音波が、通常は１０ＭHzに固定され、１
０ＭHzの探触子のみを用いてスケール３の厚さが測定さ
れる。
【００１０】一方、被測定管１に付着するスケール３
は、被測定管毎或いはその測定部分毎に、厚さｄだけで
なく、その凹凸等の形状や組成等の性状が異なり、これ
らの差異に基づき、スケール面５での反射エコーＥ2 の
周波数成分等が異なり、探触子２の受信エコーが変化す
る。
は、被測定管毎或いはその測定部分毎に、厚さｄだけで
なく、その凹凸等の形状や組成等の性状が異なり、これ
らの差異に基づき、スケール面５での反射エコーＥ2 の
周波数成分等が異なり、探触子２の受信エコーが変化す
る。
【００１１】したがって、スケール３が厚く、本来は反
射エコーＥ1，Ｅ2が分離して出現するようなときにも、
前記の形状や性状によっては、例えば、時刻ｔ1 に対応
する時刻ｔ2 の検出が困難になってスケール３の厚さｄ
を測定できない事態が生じる。
射エコーＥ1，Ｅ2が分離して出現するようなときにも、
前記の形状や性状によっては、例えば、時刻ｔ1 に対応
する時刻ｔ2 の検出が困難になってスケール３の厚さｄ
を測定できない事態が生じる。
【００１２】また、スケール３が薄い場合、例えば図１
１に示すように、１０ＭHzの超音波探傷試験では、破線
の反射エコーＥ1と実線の反射エコーＥ2とが分離されず
に重なり、両エコーＥ1，Ｅ2が重なった波形部分ｅ1＋
ｅ2が出現し、しかも、この波形部分ｅ1＋ｅ2がスケー
ル３の形状や性状によっても変化する。
１に示すように、１０ＭHzの超音波探傷試験では、破線
の反射エコーＥ1と実線の反射エコーＥ2とが分離されず
に重なり、両エコーＥ1，Ｅ2が重なった波形部分ｅ1＋
ｅ2が出現し、しかも、この波形部分ｅ1＋ｅ2がスケー
ル３の形状や性状によっても変化する。
【００１３】この場合、反射エコーＥ1，Ｅ2の最初の立
上りの時刻ｔ1’，ｔ2’を判別し正確に読取ることは困
難であり、とくに、１００μｍ程度より薄いスケール３
が付着しているときには、１０ＭHzの探傷試験では、波
形情報が少なく、厚さｄの測定が困難である。
上りの時刻ｔ1’，ｔ2’を判別し正確に読取ることは困
難であり、とくに、１００μｍ程度より薄いスケール３
が付着しているときには、１０ＭHzの探傷試験では、波
形情報が少なく、厚さｄの測定が困難である。
【００１４】本発明は、被測定管の内面に付着したスケ
ールの形状や性状による超音波探触試験の受信エコーの
波形特性を考慮して、種々の形状，性状のスケールにつ
き、その厚さの精度の高い測定を実現することを課題と
する。
ールの形状や性状による超音波探触試験の受信エコーの
波形特性を考慮して、種々の形状，性状のスケールにつ
き、その厚さの精度の高い測定を実現することを課題と
する。
【００１５】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、本発明の管内面のスケール厚さ測定方法は、請求
項１の場合、ボイラ等の被測定管の管外に設けた超音波
探触子により、被測定管の管内に超音波を送信して前記
被測定管からの反射エコーを受信し、被測定管の内面に
スケールが付着していないときの反射エコーを基準エコ
ーとして、探触子が受信したスケール面の反射エコーと
基準エコーとの相対的な時間差から、被測定管の内面に
付着した前記スケールの厚さを測定する超音波探傷試験
方式の管内面のスケール厚さ測定方法であって、探触子
の受信エコーのうちのスケール面の反射エコーとして検
出されたエコー部分の波形タイプを、予め設定した複数
の波形タイプから選択して決定し、前記エコー部分の反
射エコーと基準エコーとの前記エコー部分の波形タイプ
に応じて設定された波形位置の相対的な時間差から、前
記スケールの厚さを測定する。
めに、本発明の管内面のスケール厚さ測定方法は、請求
項１の場合、ボイラ等の被測定管の管外に設けた超音波
探触子により、被測定管の管内に超音波を送信して前記
被測定管からの反射エコーを受信し、被測定管の内面に
スケールが付着していないときの反射エコーを基準エコ
ーとして、探触子が受信したスケール面の反射エコーと
基準エコーとの相対的な時間差から、被測定管の内面に
付着した前記スケールの厚さを測定する超音波探傷試験
方式の管内面のスケール厚さ測定方法であって、探触子
の受信エコーのうちのスケール面の反射エコーとして検
出されたエコー部分の波形タイプを、予め設定した複数
の波形タイプから選択して決定し、前記エコー部分の反
射エコーと基準エコーとの前記エコー部分の波形タイプ
に応じて設定された波形位置の相対的な時間差から、前
記スケールの厚さを測定する。
【００１６】したがって、探触子が受信したスケール面
の反射エコーの波形特性は、被測定管の管内面に付着し
たスケールの形状や性状によって異なるが、その波形特
性に合致した波形タイプが選択されて決定される。
の反射エコーの波形特性は、被測定管の管内面に付着し
たスケールの形状や性状によって異なるが、その波形特
性に合致した波形タイプが選択されて決定される。
【００１７】そして、探触子が受信したスケール面の反
射エコーと基準エコーとにつき、決定された波形タイプ
に基いて時間差の演算に最適な波形位置が選択され、両
エコーの選択された波形位置の相対的な時間差からスケ
ールの厚さが測定される。
射エコーと基準エコーとにつき、決定された波形タイプ
に基いて時間差の演算に最適な波形位置が選択され、両
エコーの選択された波形位置の相対的な時間差からスケ
ールの厚さが測定される。
【００１８】そのため、被測定管のスケールの厚さが、
その形状や性状を考慮して精度よく測定され、このと
き、超音波の周波数を例えば従来の１０ＭHzから３０Ｍ
Hzに高くすれば、薄いスケールについても測定が行え
る。
その形状や性状を考慮して精度よく測定され、このと
き、超音波の周波数を例えば従来の１０ＭHzから３０Ｍ
Hzに高くすれば、薄いスケールについても測定が行え
る。
【００１９】また、請求項２の場合は、探触子の受信エ
コーのうちのスケール面の反射エコーとして検出された
エコー部分の波形タイプを、予め設定した複数の波形タ
イプから選択して決定し、前記エコー部分の反射エコー
の所定のピーク値が所定範囲内か否かを判別し、前記ピ
ーク値が所定範囲外のときに、探触子から被測定管の管
内に周波数を変えて超音波を再送信し、この再送信に基
づく探触子の受信エコーの前記エコー部分又は、最初の
送信及び再送信に基づく探触子の両受信エコーのうちの
前記ピーク値が所定範囲に近い一方のエコーの前記エコ
ー部分を、スケール面の反射エコーとして選択し、スケ
ール面の反射エコーとして選択した前記エコー部分の反
射エコーと基準エコーとの前記エコー部分の波形タイプ
に応じて設定された波形位置の相対的な時間差から、ス
ケールの厚さを測定する。
コーのうちのスケール面の反射エコーとして検出された
エコー部分の波形タイプを、予め設定した複数の波形タ
イプから選択して決定し、前記エコー部分の反射エコー
の所定のピーク値が所定範囲内か否かを判別し、前記ピ
ーク値が所定範囲外のときに、探触子から被測定管の管
内に周波数を変えて超音波を再送信し、この再送信に基
づく探触子の受信エコーの前記エコー部分又は、最初の
送信及び再送信に基づく探触子の両受信エコーのうちの
前記ピーク値が所定範囲に近い一方のエコーの前記エコ
ー部分を、スケール面の反射エコーとして選択し、スケ
ール面の反射エコーとして選択した前記エコー部分の反
射エコーと基準エコーとの前記エコー部分の波形タイプ
に応じて設定された波形位置の相対的な時間差から、ス
ケールの厚さを測定する。
【００２０】したがって、この場合は、探触子の受信エ
コーのうちのスケール面の反射エコーとして検出された
エコー部分の波形特性に合致した波形タイプが決定され
るとともに、前記エコー部分の所定のピーク値が所定範
囲内か否かが判別される。
コーのうちのスケール面の反射エコーとして検出された
エコー部分の波形特性に合致した波形タイプが決定され
るとともに、前記エコー部分の所定のピーク値が所定範
囲内か否かが判別される。
【００２１】そして、ピーク値が所定範囲内であれば、
そのときの前記エコー部分の反射エコーと基準エコーと
の前記エコー部分の波形タイプに基づいて設定された波
形位置の相対的な時間差から、被測定管のスケールの厚
さが測定され、このとき、超音波の周波数を、例えば従
来の１０ＭHzから３０ＭHzに高くすることにより、薄い
スケールついても、スケールの形状や性状を考慮してそ
の厚さが測定される。
そのときの前記エコー部分の反射エコーと基準エコーと
の前記エコー部分の波形タイプに基づいて設定された波
形位置の相対的な時間差から、被測定管のスケールの厚
さが測定され、このとき、超音波の周波数を、例えば従
来の１０ＭHzから３０ＭHzに高くすることにより、薄い
スケールついても、スケールの形状や性状を考慮してそ
の厚さが測定される。
【００２２】一方、スケールの凹凸等との関係で、前記
エコー部分がスケール面の反射エコーでないときは、前
記ピーク値が所定範囲から外れるため、周波数を変えて
被測定管内に超音波が再送信され、周波数を変えて超音
波探傷試験が実施される。
エコー部分がスケール面の反射エコーでないときは、前
記ピーク値が所定範囲から外れるため、周波数を変えて
被測定管内に超音波が再送信され、周波数を変えて超音
波探傷試験が実施される。
【００２３】さらに、この再送信により探触子がスケー
ル面の反射エコーとして受信したエコー部分又は、送
信，再送信で得られた探触子の両受信エコーのうちの前
記ピーク値が所定範囲に近い値になる一方の受信エコー
の前記エコー部分が、被測定管のスケール面からの反射
エコーとして選択される。
ル面の反射エコーとして受信したエコー部分又は、送
信，再送信で得られた探触子の両受信エコーのうちの前
記ピーク値が所定範囲に近い値になる一方の受信エコー
の前記エコー部分が、被測定管のスケール面からの反射
エコーとして選択される。
【００２４】そして、この反射エコーと基準エコーとに
つき、波形タイプに基づいて設定された波形位置の相対
的な時間差から、被測定管のスケールの厚さが精度よく
測定される。
つき、波形タイプに基づいて設定された波形位置の相対
的な時間差から、被測定管のスケールの厚さが精度よく
測定される。
【００２５】そのため、スケールが厚いときは勿論，薄
いときにも、その形状や性状を考慮して、請求項１の場
合より一層精度の高いスケールの厚さの測定が行える。
いときにも、その形状や性状を考慮して、請求項１の場
合より一層精度の高いスケールの厚さの測定が行える。
【００２６】さらに、請求項３の場合は、探触子の受信
エコーのうちのスケール面の反射エコーとして検出され
たエコー部分の波形タイプを、予め設定した複数の波形
タイプから選択して決定し、前記エコー部分の反射エコ
ーの所定のピーク値が所定範囲内か否かを判別し、前記
ピーク値が所定範囲外のときに、設定回数を限度とし
て、前記ピーク値が所定範囲内になるまで、探触子から
被測定管の管内に周波数を変えて超音波を再送信するこ
とをくり返し、前記ピーク値が所定範囲になったときの
探触子の受信エコーの前記エコー部分又は、探触子の各
受信エコーのうちの前記ピーク値が所定範囲に最も近い
エコーの前記エコー部分を、スケール面の反射エコーと
して選択し、スケール面の反射エコーとして選択した前
記エコー部分の反射エコーと基準エコーとの前記エコー
部分の波形タイプに応じて設定された波形位置の相対的
な時間差から、スケールの厚さを測定する。
エコーのうちのスケール面の反射エコーとして検出され
たエコー部分の波形タイプを、予め設定した複数の波形
タイプから選択して決定し、前記エコー部分の反射エコ
ーの所定のピーク値が所定範囲内か否かを判別し、前記
ピーク値が所定範囲外のときに、設定回数を限度とし
て、前記ピーク値が所定範囲内になるまで、探触子から
被測定管の管内に周波数を変えて超音波を再送信するこ
とをくり返し、前記ピーク値が所定範囲になったときの
探触子の受信エコーの前記エコー部分又は、探触子の各
受信エコーのうちの前記ピーク値が所定範囲に最も近い
エコーの前記エコー部分を、スケール面の反射エコーと
して選択し、スケール面の反射エコーとして選択した前
記エコー部分の反射エコーと基準エコーとの前記エコー
部分の波形タイプに応じて設定された波形位置の相対的
な時間差から、スケールの厚さを測定する。
【００２７】したがって、この場合は、検出されたエコ
ー部分の反射エコーのピーク値が所定範囲内になるま
で、設定回数を限度として、周波数を変えて被測定管の
超音波探傷試験がくり返される。
ー部分の反射エコーのピーク値が所定範囲内になるま
で、設定回数を限度として、周波数を変えて被測定管の
超音波探傷試験がくり返される。
【００２８】そして、前記ピーク値が所定範囲内になっ
たときの受信エコー又は、設定回数の超音波探傷試験で
得られた各受信エコーのうちの前記ピーク値が所定範囲
に最も近いエコーの前記エコー部分が、スケール面の反
射エコーとして選択される。
たときの受信エコー又は、設定回数の超音波探傷試験で
得られた各受信エコーのうちの前記ピーク値が所定範囲
に最も近いエコーの前記エコー部分が、スケール面の反
射エコーとして選択される。
【００２９】そして、この反射エコーと基準エコーとの
波形タイプに応じて設定された波形位置の相対的な時間
差から、請求項２の場合より、さらに一層精度よく被測
定管のスケールの厚さが測定される。
波形タイプに応じて設定された波形位置の相対的な時間
差から、請求項２の場合より、さらに一層精度よく被測
定管のスケールの厚さが測定される。
【００３０】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態につき、図１
〜図８を参照して説明する。 （第１の形態）まず、請求項１に対応する本発明の実施
の第１の形態につき、図１〜図６を参照して説明する。
図２は測定装置の構成を示し、被測定管１の外側に図５
の探触子２に対応する超音波探触子６が設けられ、この
形態にあっては、探触子６が、適当な設定周波数，例え
ば３０ＭHz又は１０ＭHzの垂直探傷試験用の探触子から
なる。
〜図８を参照して説明する。 （第１の形態）まず、請求項１に対応する本発明の実施
の第１の形態につき、図１〜図６を参照して説明する。
図２は測定装置の構成を示し、被測定管１の外側に図５
の探触子２に対応する超音波探触子６が設けられ、この
形態にあっては、探触子６が、適当な設定周波数，例え
ば３０ＭHz又は１０ＭHzの垂直探傷試験用の探触子から
なる。
【００３１】また、探触子６が接続された送受信器７は
例えば１〜２００ＭHzの超音波パルサー／レシバからな
り、後段のデジタルオシロスコープ８のトリガ起動によ
り、設定周波数の超音波パルスを探触子６に出力し、そ
のパルスを探触子６から被測定管１の管内に送信する。
例えば１〜２００ＭHzの超音波パルサー／レシバからな
り、後段のデジタルオシロスコープ８のトリガ起動によ
り、設定周波数の超音波パルスを探触子６に出力し、そ
のパルスを探触子６から被測定管１の管内に送信する。
【００３２】そして、探触子６が受信した超音波は送受
信器７を介してオシロスコープ８に送られ、このオシロ
スコープ８に受信エコーの波形が画面表示される。
信器７を介してオシロスコープ８に送られ、このオシロ
スコープ８に受信エコーの波形が画面表示される。
【００３３】さらに、この形態にあっては、オシロスコ
ープ８の受信エコーの波形から、スケール３の厚さｄを
自動測定するため、オシロスコープ８の受信エコーのデ
ータがコンピュータ構成の解析演算装置９に取込まれ、
この装置９が設定された解析演算プログラムに従って厚
さｄを演算し、測定する。
ープ８の受信エコーの波形から、スケール３の厚さｄを
自動測定するため、オシロスコープ８の受信エコーのデ
ータがコンピュータ構成の解析演算装置９に取込まれ、
この装置９が設定された解析演算プログラムに従って厚
さｄを演算し、測定する。
【００３４】そして、測定結果が表示装置１０に画面表
示されるとともに、プリンタ１１によりプリントアウト
される。
示されるとともに、プリンタ１１によりプリントアウト
される。
【００３５】つぎに、測定手順について、説明する。ま
ず、スケール３が付着する前の被測定管１又は被測定管
１と同等の未使用管を対比試験管（以下ＲＢ管という）
とし、このＲＢ管につき、図２の装置で反射エコーを事
前測定する。
ず、スケール３が付着する前の被測定管１又は被測定管
１と同等の未使用管を対比試験管（以下ＲＢ管という）
とし、このＲＢ管につき、図２の装置で反射エコーを事
前測定する。
【００３６】このとき、ＲＢ管はスケールが付着してい
ないため、超音波が送信されると、その管内面におい
て、図２の境界面４の反射エコーＥ1 に相当する反射エ
コーが生じ、この反射エコーが、基準エコーとして探触
子６に受信され、送受信器７からオシロスコープ８を介
して解析演算装置９に送られ、この装置９に基準エコー
の波形データとして収集される。
ないため、超音波が送信されると、その管内面におい
て、図２の境界面４の反射エコーＥ1 に相当する反射エ
コーが生じ、この反射エコーが、基準エコーとして探触
子６に受信され、送受信器７からオシロスコープ８を介
して解析演算装置９に送られ、この装置９に基準エコー
の波形データとして収集される。
【００３７】一方、被測定管１についての探触子６の受
信エコーに含まれるスケール面５での反射エコーＥ
2 は、スケール３の形状や性状によって波形の特徴が異
なるが、スケール３が付着した種々のボイラ管等につい
て実験したところ、基準エコーと比較した波形の特徴か
ら、つぎの３波形タイプに大別して分類できることが判
明した。
信エコーに含まれるスケール面５での反射エコーＥ
2 は、スケール３の形状や性状によって波形の特徴が異
なるが、スケール３が付着した種々のボイラ管等につい
て実験したところ、基準エコーと比較した波形の特徴か
ら、つぎの３波形タイプに大別して分類できることが判
明した。
【００３８】すなわち、スケール３が付着した種々のボ
イラ管等につき、図３に示すように、スケール３が付着
していないときの破線のＲＢ管についての基準エコーの
各ゼロクロス点を、最初の立上りから順に、波形位置＜
０＞，＜１＞，＜２＞，＜３＞，…とし、波形位置＜０
＞より前の同じ間隔の波形位置を、波形位置＜０＞から
順に、＜−１＞，＜−２＞，…とし、この基準エコー
と、スケール３が付着したときの実線の被測定管１の反
射エコーＥ２（以下供試体エコーという）とを、波形位
置が合うように重ねて比較したところ、スケール３の形
状や性状の違いに基づき、供試体エコーは図４，図５，
図６に示す波形タイプＩ，II，III に大別される。
イラ管等につき、図３に示すように、スケール３が付着
していないときの破線のＲＢ管についての基準エコーの
各ゼロクロス点を、最初の立上りから順に、波形位置＜
０＞，＜１＞，＜２＞，＜３＞，…とし、波形位置＜０
＞より前の同じ間隔の波形位置を、波形位置＜０＞から
順に、＜−１＞，＜−２＞，…とし、この基準エコー
と、スケール３が付着したときの実線の被測定管１の反
射エコーＥ２（以下供試体エコーという）とを、波形位
置が合うように重ねて比較したところ、スケール３の形
状や性状の違いに基づき、供試体エコーは図４，図５，
図６に示す波形タイプＩ，II，III に大別される。
【００３９】なお、各波形位置は、具体的には、図３の
レベルＶｍａｘ1，Ｖｍａｘ2の大きなピーク値の前，後
のゼロクロス点を波形位置＜２＞，＜３＞として定めら
れる。
レベルＶｍａｘ1，Ｖｍａｘ2の大きなピーク値の前，後
のゼロクロス点を波形位置＜２＞，＜３＞として定めら
れる。
【００４０】そして、図４の波形タイプＩの供試体エコ
ーは、波形位置＜０＞から立上り、波形位置＜０＞〜＜
２＞間の波形が基準エコーと同じ波形変化を示すエコー
であり、このタイプのエコーが得られたときは、供試体
エコーの波形位置＜０＞〜＜２＞のゼロクロス点間の時
間ＴX1と、基準エコーの同じ波形位置＜０＞〜＜２＞の
ゼロクロス点間の時間ＴR1との差ＴX1−ＴR1から時間差
ΔＴが精度よく求まる。
ーは、波形位置＜０＞から立上り、波形位置＜０＞〜＜
２＞間の波形が基準エコーと同じ波形変化を示すエコー
であり、このタイプのエコーが得られたときは、供試体
エコーの波形位置＜０＞〜＜２＞のゼロクロス点間の時
間ＴX1と、基準エコーの同じ波形位置＜０＞〜＜２＞の
ゼロクロス点間の時間ＴR1との差ＴX1−ＴR1から時間差
ΔＴが精度よく求まる。
【００４１】また、図５の波形タイプIIの供試体エコー
は、波形位置＜０＞から立上るが、波形位置＜０＞〜＜
１＞のピーク値が基準エコーのピーク値の１／４以下に
なってその間の波形が基準エコーの波形から崩れた波形
になるエコーであり、このタイプのエコーが得られたと
きは、供試体エコーの波形位置＜１＞〜＜２＞のゼロク
ロス点間の時間ＴX2と、基準エコーの同じ波形位置＜１
＞〜＜２＞のゼロクロス点間の時間ＴR2との差ＴX2−Ｔ
R2から時間差ΔＴが求まる。
は、波形位置＜０＞から立上るが、波形位置＜０＞〜＜
１＞のピーク値が基準エコーのピーク値の１／４以下に
なってその間の波形が基準エコーの波形から崩れた波形
になるエコーであり、このタイプのエコーが得られたと
きは、供試体エコーの波形位置＜１＞〜＜２＞のゼロク
ロス点間の時間ＴX2と、基準エコーの同じ波形位置＜１
＞〜＜２＞のゼロクロス点間の時間ＴR2との差ＴX2−Ｔ
R2から時間差ΔＴが求まる。
【００４２】さらに、図６の波形タイプIII の供試体エ
コーは、波形位置＜０＞より前の波形位置＜−２＞から
立上り、波形位置＜０＞より前に波形が存在してこの位
置＜０＞より前の波形が基準エコーから分離したエコー
であり、このタイプのエコーが得られたときは、供試体
エコーの波形位置＜−２＞〜＜２＞のゼロクロス点間の
時間ＴX3と、基準エコーの波形位置＜０＞〜＜２＞のゼ
ロクロス点間の時間Ｔ R3との差ＴX3−ＴR3から時間差Δ
Ｔが求まる。
コーは、波形位置＜０＞より前の波形位置＜−２＞から
立上り、波形位置＜０＞より前に波形が存在してこの位
置＜０＞より前の波形が基準エコーから分離したエコー
であり、このタイプのエコーが得られたときは、供試体
エコーの波形位置＜−２＞〜＜２＞のゼロクロス点間の
時間ＴX3と、基準エコーの波形位置＜０＞〜＜２＞のゼ
ロクロス点間の時間Ｔ R3との差ＴX3−ＴR3から時間差Δ
Ｔが求まる。
【００４３】そこで、保守・点検等の際に、図１の手順
で被測定管１の測定を行う。まず、図１のステップＳ1
により探触子６を被測定管１の外側に設け、受信レベル
が最も大きくなるように、オシロスコープ８の表示画面
をみながら探触子６の位置を調整する。
で被測定管１の測定を行う。まず、図１のステップＳ1
により探触子６を被測定管１の外側に設け、受信レベル
が最も大きくなるように、オシロスコープ８の表示画面
をみながら探触子６の位置を調整する。
【００４４】そして、探触子６の位置が決まると、ステ
ップＳ2 の超音波探傷試験の測定を実施し、作業者の釦
操作等に基づく前記のトリガ起動により、送受信器７か
ら設定周波数の超音波パルスを出力し、このパルスを探
触子６から被測定管１に送信する。
ップＳ2 の超音波探傷試験の測定を実施し、作業者の釦
操作等に基づく前記のトリガ起動により、送受信器７か
ら設定周波数の超音波パルスを出力し、このパルスを探
触子６から被測定管１に送信する。
【００４５】そして、被測定管１の境界面４，スケール
面５の反射エコーＥ1，Ｅ2を探触子６により受信し、送
受信器７を介してオシロスコープ８に例えば図１０のよ
うな受信エコーの波形を画面表示するとともに、受信エ
コーのデータを解析演算装置９に収集する。
面５の反射エコーＥ1，Ｅ2を探触子６により受信し、送
受信器７を介してオシロスコープ８に例えば図１０のよ
うな受信エコーの波形を画面表示するとともに、受信エ
コーのデータを解析演算装置９に収集する。
【００４６】このとき、受信エコーの波形は、図１０の
反射エコーＥ1の波形部分ｅ1と反射エコーＥ2の波形部
分ｅ2とを含む。
反射エコーＥ1の波形部分ｅ1と反射エコーＥ2の波形部
分ｅ2とを含む。
【００４７】そして、図１のステップＳ3 に移行し、オ
シロスコープ８に画面表示された受信エコーの波形に基
づき、作業者は、反射エコーＥ1，Ｅ2が分離している
か、連続又は重畳しているか等を判別し、小さなピーク
値間に大きなピーク値が存在する反射エコーＥ2 の特徴
的な波形部分を、前記の供試体エコーとして検出する。
シロスコープ８に画面表示された受信エコーの波形に基
づき、作業者は、反射エコーＥ1，Ｅ2が分離している
か、連続又は重畳しているか等を判別し、小さなピーク
値間に大きなピーク値が存在する反射エコーＥ2 の特徴
的な波形部分を、前記の供試体エコーとして検出する。
【００４８】さらに、オシロスコープ８の供試体エコー
の表示に、オシロスコープ８に蓄積されている同じ周波
数の基準エコーを呼出して重ね、その表示位置を、両エ
コーの波形位置＜２＞〜＜３＞のピーク値が重なるよう
に調整する。
の表示に、オシロスコープ８に蓄積されている同じ周波
数の基準エコーを呼出して重ね、その表示位置を、両エ
コーの波形位置＜２＞〜＜３＞のピーク値が重なるよう
に調整する。
【００４９】そして、オシロスコープ８に重ねて表示さ
れた供試体エコーと基準エコーとの波形位置＜−２＞〜
＜６＞を特定し、ステップＳ4，Ｓ5により、供試体エコ
ーの波形タイプを選択して設定する。
れた供試体エコーと基準エコーとの波形位置＜−２＞〜
＜６＞を特定し、ステップＳ4，Ｓ5により、供試体エコ
ーの波形タイプを選択して設定する。
【００５０】すなわち、作業者は、波形位置＜０＞より
前に供試体エコーの立上りがあれば、供試体エコーを波
形タイプIIIとする。
前に供試体エコーの立上りがあれば、供試体エコーを波
形タイプIIIとする。
【００５１】また、波形位置＜０＞より前に供試体体エ
コーの立上りがなければ、波形位置＜０＞〜＜１＞の供
試体エコーのピーク値が基準エコーの同じ波形位置＜０
＞〜＜１＞のピーク値の１／４より小さいときに、供試
体エコーを波形タイプIIとし、波形位置＜０＞〜＜１＞
の供試体エコーのピーク値が基準エコー＜０＞〜＜１＞
のピーク値の１／４以上のときに、供試体エコーを波形
タイプＩとする。
コーの立上りがなければ、波形位置＜０＞〜＜１＞の供
試体エコーのピーク値が基準エコーの同じ波形位置＜０
＞〜＜１＞のピーク値の１／４より小さいときに、供試
体エコーを波形タイプIIとし、波形位置＜０＞〜＜１＞
の供試体エコーのピーク値が基準エコー＜０＞〜＜１＞
のピーク値の１／４以上のときに、供試体エコーを波形
タイプＩとする。
【００５２】さらに、この波形タイプの決定に基づいて
スケール３の厚さｄを自動測定するため、作業者はキー
ボード操作，マウス操作等により、供試体エコーの波形
部分の指定信号及び決定した波形タイプの選択信号を解
析演算装置９に与える。
スケール３の厚さｄを自動測定するため、作業者はキー
ボード操作，マウス操作等により、供試体エコーの波形
部分の指定信号及び決定した波形タイプの選択信号を解
析演算装置９に与える。
【００５３】この装置９は、前記の選択信号が入力され
ると、解析演算プログラムを実行し、図１のステップＳ
7，Ｓ8により供試体エコーの波形タイプを識別する。
ると、解析演算プログラムを実行し、図１のステップＳ
7，Ｓ8により供試体エコーの波形タイプを識別する。
【００５４】さらに、前記の指定信号により、受信エコ
ーのうちの供試体エコーの部分を判別し、この部分の波
形タイプに基づき、時間差ΔＴの基準に好適な波形位置
を、図４の波形位置＜０＞〜＜２＞，図５の波形位置＜
１＞〜＜２＞又は、図６の波形位置＜−２＞〜＜２＞に
決定する。
ーのうちの供試体エコーの部分を判別し、この部分の波
形タイプに基づき、時間差ΔＴの基準に好適な波形位置
を、図４の波形位置＜０＞〜＜２＞，図５の波形位置＜
１＞〜＜２＞又は、図６の波形位置＜−２＞〜＜２＞に
決定する。
【００５５】そして、波形タイプＩのときは、波形位置
＜０＞〜＜２＞の決定に基づき、ステップＳ9 により、
相対的な時間差ΔＴを、ΔＴ＝ＴX1−ＴR1の演算から求
め、時間差ΔＴと予め設定された音速Ｃとにより、ｄ＝
（ΔＴ×Ｃ）／２の演算からスケール３の厚さｄを求め
て測定する。
＜０＞〜＜２＞の決定に基づき、ステップＳ9 により、
相対的な時間差ΔＴを、ΔＴ＝ＴX1−ＴR1の演算から求
め、時間差ΔＴと予め設定された音速Ｃとにより、ｄ＝
（ΔＴ×Ｃ）／２の演算からスケール３の厚さｄを求め
て測定する。
【００５６】また、波形タイプIIのときは、波形位置＜
１＞〜＜２＞の決定に基づき、ステップＳ10により、時
間差ΔＴを、ΔＴ＝ＴX2−ＴR2の演算から求め、スケー
ル３の厚さｄ（＝（ΔＴ×Ｃ）／２）を求めて測定す
る。
１＞〜＜２＞の決定に基づき、ステップＳ10により、時
間差ΔＴを、ΔＴ＝ＴX2−ＴR2の演算から求め、スケー
ル３の厚さｄ（＝（ΔＴ×Ｃ）／２）を求めて測定す
る。
【００５７】同様に、波形タイプIII のときは、波形位
置＜−２＞〜＜２＞の決定に基づき、ステップＳ11によ
り、時間差ΔＴを、ΔＴ＝ＴX2−ＴR3の演算から求め、
スケール３の厚さｄ（＝（ΔＴ×Ｃ）／２）を求めて測
定する。
置＜−２＞〜＜２＞の決定に基づき、ステップＳ11によ
り、時間差ΔＴを、ΔＴ＝ＴX2−ＴR3の演算から求め、
スケール３の厚さｄ（＝（ΔＴ×Ｃ）／２）を求めて測
定する。
【００５８】そして、ステップＳ9 ，Ｓ10又はＳ11から
ステップＳ12に移行し、測定結果の厚さｄを、表示装置
１０に表示し、プリンタ１１によりプリントアウトし、
測定を終了する。
ステップＳ12に移行し、測定結果の厚さｄを、表示装置
１０に表示し、プリンタ１１によりプリントアウトし、
測定を終了する。
【００５９】したがって、この形態の場合、被測定管１
のスケール３の形状や性状による探触子６の受信エコー
の波形特性にしたがって、受信エコーの波形タイプを判
別して分類し、この分類に基づき、スケール３の形状や
性状を考慮した精度の高いスケール３の厚さｄの測定が
行え、そのとき、３０ＭHzの接触子を用いることによ
り、従来より薄いスケール３についても、その厚さｄの
測定が行える。
のスケール３の形状や性状による探触子６の受信エコー
の波形特性にしたがって、受信エコーの波形タイプを判
別して分類し、この分類に基づき、スケール３の形状や
性状を考慮した精度の高いスケール３の厚さｄの測定が
行え、そのとき、３０ＭHzの接触子を用いることによ
り、従来より薄いスケール３についても、その厚さｄの
測定が行える。
【００６０】（第２の形態）つぎに、請求項２に対応す
る本発明の実施の第２の形態につき、図７を参照して説
明する。この形態においては、スケール３の凹凸等の程
度によらず、スケール３が厚いときにも、薄いときに
も、精度の高い厚さｄの測定が行えるようにするため、
スケール３の状態に応じて探傷試験の周波数を変える。
る本発明の実施の第２の形態につき、図７を参照して説
明する。この形態においては、スケール３の凹凸等の程
度によらず、スケール３が厚いときにも、薄いときに
も、精度の高い厚さｄの測定が行えるようにするため、
スケール３の状態に応じて探傷試験の周波数を変える。
【００６１】すなわち、従来からの１０ＭHzの超音波探
傷試験では、１００μｍ程度より薄いスケールに対する
反射エコーの情報が少なく、その厚みを測定することは
困難であり、超音波探傷試験の周波数を、薄いスケール
の測定に好適な例えば３０ＭHzに高くすると、反射エコ
ーの情報量が多くなり過ぎ、スケール３の凹凸等が大き
い場合等の測定が困難になる。
傷試験では、１００μｍ程度より薄いスケールに対する
反射エコーの情報が少なく、その厚みを測定することは
困難であり、超音波探傷試験の周波数を、薄いスケール
の測定に好適な例えば３０ＭHzに高くすると、反射エコ
ーの情報量が多くなり過ぎ、スケール３の凹凸等が大き
い場合等の測定が困難になる。
【００６２】そこで、この形態にあっては、図２の測定
装置により、最初に３０ＭHzの超音波探傷試験を実施
し、その後、必要に応じて１０ＭHzの超音波探傷試験を
実施する。
装置により、最初に３０ＭHzの超音波探傷試験を実施
し、その後、必要に応じて１０ＭHzの超音波探傷試験を
実施する。
【００６３】この場合、探触子６を、試験周波数の変更
により、３０ＭHz垂直探傷試験用の探触子から１０ＭHz
の垂直探傷試験の探触子に取換える。
により、３０ＭHz垂直探傷試験用の探触子から１０ＭHz
の垂直探傷試験の探触子に取換える。
【００６４】また、基準エコーについては、ＲＢ管の事
前測定により、３０ＭHzの試験波形と、１０ＭHzの試験
波形とをオシロスコープ８に蓄積記憶し、それらの波形
データを解析演算装置９に収集する。
前測定により、３０ＭHzの試験波形と、１０ＭHzの試験
波形とをオシロスコープ８に蓄積記憶し、それらの波形
データを解析演算装置９に収集する。
【００６５】そして、保守・点検の際に、被測定管１に
つき、図７の測定手順でスケール３の厚さｄが測定され
る。
つき、図７の測定手順でスケール３の厚さｄが測定され
る。
【００６６】すなわち、最初は３０ＭHzの超音波探傷試
験を行うため、ステップＱ1 により、探触子６を、３０
ＭHzの垂直探傷試験用の探触子とし、この探触子６を被
測定管１の外側に設ける。
験を行うため、ステップＱ1 により、探触子６を、３０
ＭHzの垂直探傷試験用の探触子とし、この探触子６を被
測定管１の外側に設ける。
【００６７】そして、ステップＱ2〜Ｑ6により、図１の
ステップＳ2〜Ｓ6と同様にして３０ＭHzの超音波探傷試
験を実施し、その結果から供試体エコーの波形タイプを
決定し、その選択信号及び供試体エコーのエコー部分の
指定信号を解析演算装置９に与える。
ステップＳ2〜Ｓ6と同様にして３０ＭHzの超音波探傷試
験を実施し、その結果から供試体エコーの波形タイプを
決定し、その選択信号及び供試体エコーのエコー部分の
指定信号を解析演算装置９に与える。
【００６８】このとき、解析演算装置９は、ステップＱ
7，Ｑ8により、図１のステップＳ7，Ｓ8と同様にして、
波形タイプを識別した後、ステップＱ9を介してステッ
プＱ 10のピーク値Ｖｍａｘ2の判別を行う。
7，Ｑ8により、図１のステップＳ7，Ｓ8と同様にして、
波形タイプを識別した後、ステップＱ9を介してステッ
プＱ 10のピーク値Ｖｍａｘ2の判別を行う。
【００６９】そして、スケール面５の反射エコーとして
検出された供試体エコーがスケール面５の反射エコーで
あれば、図３に示した波形位置＜２＞〜＜３＞のピーク
値Ｖｍａｘ2は、基準エコーの同じ波形位置＜２＞〜＜
３＞のピーク値Ｖｍａｘ1に対して、ピーク値Ｖｍａｘ
1 の１／２（５０％）よりは大きく、ピーク値Ｖｍａｘ
1 の１．３〜１．５倍（１３０％〜１５０％）よりは小
さくなることが、種々のボイラ管等の実験から判別し
た。
検出された供試体エコーがスケール面５の反射エコーで
あれば、図３に示した波形位置＜２＞〜＜３＞のピーク
値Ｖｍａｘ2は、基準エコーの同じ波形位置＜２＞〜＜
３＞のピーク値Ｖｍａｘ1に対して、ピーク値Ｖｍａｘ
1 の１／２（５０％）よりは大きく、ピーク値Ｖｍａｘ
1 の１．３〜１．５倍（１３０％〜１５０％）よりは小
さくなることが、種々のボイラ管等の実験から判別し
た。
【００７０】そこで、解析演算装置９は、ステップＱ10
により、指定されたエコー部分を供試体エコーとし、ピ
ーク値Ｖｍａｘ1の５０％をしきい値ＶL，ピーク値Ｖｍ
ａｘ 1の例えば１４０％をしきい値ＶHとして、ピーク値
Ｖｍａｘ2がＶL≧Ｖｍａｘ2，Ｖｍａｘ2≧ＶHの所定範
囲外か否かを判別する。
により、指定されたエコー部分を供試体エコーとし、ピ
ーク値Ｖｍａｘ1の５０％をしきい値ＶL，ピーク値Ｖｍ
ａｘ 1の例えば１４０％をしきい値ＶHとして、ピーク値
Ｖｍａｘ2がＶL≧Ｖｍａｘ2，Ｖｍａｘ2≧ＶHの所定範
囲外か否かを判別する。
【００７１】そして、ピーク値Ｖｍａｘ2がＶL＜Ｖｍａ
ｘ2＜ＶHの厚さｄの測定に好適な所定範囲内であれば、
ステップＱ10からステップＱ11に移行し、解析演算装置
９は３０ＭHzの超音波探傷試験で得られた供試体エコー
及び基準エコーにつき、供試体エコーの波形タイプに応
じた波形位置の時間差から、時間差ΔＴを求め、ｄ＝
（ΔＴ×Ｃ）／２の演算を実行してスケール３の厚さｄ
を自動的に求めて測定する。
ｘ2＜ＶHの厚さｄの測定に好適な所定範囲内であれば、
ステップＱ10からステップＱ11に移行し、解析演算装置
９は３０ＭHzの超音波探傷試験で得られた供試体エコー
及び基準エコーにつき、供試体エコーの波形タイプに応
じた波形位置の時間差から、時間差ΔＴを求め、ｄ＝
（ΔＴ×Ｃ）／２の演算を実行してスケール３の厚さｄ
を自動的に求めて測定する。
【００７２】すなわち、波形タイプＩであれば、図１の
ステップＳ9 の演算と同様の演算により、スケール３の
厚さｄを求めて測定し、波形タイプII，III であれば、
図１のステップＳ10，Ｓ11の演算と同様の演算により、
スケール３の厚さｄを求めて測定する。
ステップＳ9 の演算と同様の演算により、スケール３の
厚さｄを求めて測定し、波形タイプII，III であれば、
図１のステップＳ10，Ｓ11の演算と同様の演算により、
スケール３の厚さｄを求めて測定する。
【００７３】なお、実際にはスケール３の音速Ｃを鋼の
音速とほぼ同じであるとし、ステップＱ11により、ｄ＝
ΔＴ×２．９５の演算からスケール３の厚さｄを求めて
測定する。
音速とほぼ同じであるとし、ステップＱ11により、ｄ＝
ΔＴ×２．９５の演算からスケール３の厚さｄを求めて
測定する。
【００７４】そして、ステップＱ12により、測定結果の
厚さｄを、表示装置１０に表示し、プリンタ１１により
プリントアウトし、測定を終了する。
厚さｄを、表示装置１０に表示し、プリンタ１１により
プリントアウトし、測定を終了する。
【００７５】一方、ステップＱ10の判別により、Ｖｍａ
ｘ2≦ＶL又はＶｍａｘ2≧ＶHになり、ピーク値Ｖｍａｘ
2 が所定範囲から外れるときは、スケール３の凹凸等と
の関係から、供試体エコーがスケール面５の反射エコー
でないおそれがあることから、解析演算装置９は、例え
ばピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲から外れている旨を表
示装置１０に画面表示する。
ｘ2≦ＶL又はＶｍａｘ2≧ＶHになり、ピーク値Ｖｍａｘ
2 が所定範囲から外れるときは、スケール３の凹凸等と
の関係から、供試体エコーがスケール面５の反射エコー
でないおそれがあることから、解析演算装置９は、例え
ばピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲から外れている旨を表
示装置１０に画面表示する。
【００７６】このとき、表示装置１０の画面表示に基づ
き、ステップＱ10からステップＱ13に移行し、作業者が
探触子６を１０ＭHzの探触子に取換えてセットし直す。
き、ステップＱ10からステップＱ13に移行し、作業者が
探触子６を１０ＭHzの探触子に取換えてセットし直す。
【００７７】そして、ステップＱ2 に戻り、探触子６か
ら被測定管１の管内に１０ＭHzの超音波を再送信し、１
０ＭHzの超音波探傷試験を実施し、その測定結果に基づ
き、ステップＱ3，Ｑ4，Ｑ5によって波形タイプの決定
をやり直し、ステップＱ6により、決定した波形タイプ
の選択信号を解析演算装置９に供給する。
ら被測定管１の管内に１０ＭHzの超音波を再送信し、１
０ＭHzの超音波探傷試験を実施し、その測定結果に基づ
き、ステップＱ3，Ｑ4，Ｑ5によって波形タイプの決定
をやり直し、ステップＱ6により、決定した波形タイプ
の選択信号を解析演算装置９に供給する。
【００７８】さらに、解析演算装置９により、ステップ
Ｑ7，Ｑ8で波形タイプを識別した後、ステップＱ9 を介
してステップＱ14に移行し、１０ＭHzの超音波探傷試験
で得られた供試体エコー及び基準エコーにつき、ステッ
プＱ11と同様にして、波形タイプに応じた演算からスケ
ール３の厚さｄを自動的に求めて測定する。
Ｑ7，Ｑ8で波形タイプを識別した後、ステップＱ9 を介
してステップＱ14に移行し、１０ＭHzの超音波探傷試験
で得られた供試体エコー及び基準エコーにつき、ステッ
プＱ11と同様にして、波形タイプに応じた演算からスケ
ール３の厚さｄを自動的に求めて測定する。
【００７９】そして、ステップＱ15により、ステップＱ
12と同様の表示，プリントアウトを行って測定を終了す
る。
12と同様の表示，プリントアウトを行って測定を終了す
る。
【００８０】したがって、この形態の場合は、スケール
３の凹凸等との関係に応じて超音波探傷試験の周波数を
３０ＭHzから１０ＭHzに変えることにより、スケール３
の凹凸等の程度によらず、スケール３が厚いときにも、
薄いときにも、その形状や性状を考慮した一層精度の高
い厚さｄの測定が行える。
３の凹凸等との関係に応じて超音波探傷試験の周波数を
３０ＭHzから１０ＭHzに変えることにより、スケール３
の凹凸等の程度によらず、スケール３が厚いときにも、
薄いときにも、その形状や性状を考慮した一層精度の高
い厚さｄの測定が行える。
【００８１】そして、スケール３の厚さｄが１０μｍ〜
１３０μｍの多数の被測定管１について実測したとこ
ろ、スケール３の凹凸等によらず、従来の１０ＭHz試験
のみでは測定できなかった、厚さｄが２０μｍの極めて
薄いスケール３の測定も極めて精度よく行えることが確
かめられた。
１３０μｍの多数の被測定管１について実測したとこ
ろ、スケール３の凹凸等によらず、従来の１０ＭHz試験
のみでは測定できなかった、厚さｄが２０μｍの極めて
薄いスケール３の測定も極めて精度よく行えることが確
かめられた。
【００８２】ところで、ステップＱ14において、１０Ｍ
Hzの探傷試験の受信エコーについてもステップＱ10と同
様の判別を実行し、所定範囲から外れるときは、３０Ｍ
Hzの受信エコーと、１０ＭHzの受信エコーとにつき、ピ
ーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲に近い一方のエコーを選択
し、選択した受信エコーの供試体エコーから、ステップ
Ｑ11又はステップＱ14の手法でスケール３の厚さｄを測
定してもよい。
Hzの探傷試験の受信エコーについてもステップＱ10と同
様の判別を実行し、所定範囲から外れるときは、３０Ｍ
Hzの受信エコーと、１０ＭHzの受信エコーとにつき、ピ
ーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲に近い一方のエコーを選択
し、選択した受信エコーの供試体エコーから、ステップ
Ｑ11又はステップＱ14の手法でスケール３の厚さｄを測
定してもよい。
【００８３】（第３の形態）つぎに、請求項３に対応す
る本発明の実施の第３の形態につき、図８を参照して説
明する。前記第２の形態にあっては、超音波探傷周波数
を３０ＭHzから１０ＭHzに１回だけ変えて測定したが、
この形態にあっては、超音波探傷試験の周波数を、設定
回数を上限として、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内に
なるまで変えて測定する。
る本発明の実施の第３の形態につき、図８を参照して説
明する。前記第２の形態にあっては、超音波探傷周波数
を３０ＭHzから１０ＭHzに１回だけ変えて測定したが、
この形態にあっては、超音波探傷試験の周波数を、設定
回数を上限として、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内に
なるまで変えて測定する。
【００８４】この場合の装置構成も図２と同様であり、
図８の手順で被測定管１のスケール３の厚さｄが測定さ
れる。
図８の手順で被測定管１のスケール３の厚さｄが測定さ
れる。
【００８５】すなわち、この形態の場合、超音波探傷試
験周波数を、例えば３０ＭHzの初期周波数から、探傷状
況に応じて、最大Ｎ回変えるため、事前に、ＲＢ管に各
周波数の超音波探傷試験を施し、それぞれの周波数での
基準エコーを事前測定し、解析演算装置９にそれぞれの
データを収集する。
験周波数を、例えば３０ＭHzの初期周波数から、探傷状
況に応じて、最大Ｎ回変えるため、事前に、ＲＢ管に各
周波数の超音波探傷試験を施し、それぞれの周波数での
基準エコーを事前測定し、解析演算装置９にそれぞれの
データを収集する。
【００８６】つぎに、保守・点検等の際、図８のステッ
プＲ1 により、探触子６として、最初に３０ＭHzの接触
子をセットし、ステップＲ2 により、３０ＭHzで超音波
探傷試験を実施する。
プＲ1 により、探触子６として、最初に３０ＭHzの接触
子をセットし、ステップＲ2 により、３０ＭHzで超音波
探傷試験を実施する。
【００８７】そして、ステップＲ3〜Ｒ6は図７のステッ
プＱ3〜Ｑ6と同様であり、ステップＲ3〜Ｒ6により試験
結果の供試体エコーの波形タイプを決定し、その選択信
号及び供試体エコーの波形部分の指定信号を解析演算装
置９に与える。
プＱ3〜Ｑ6と同様であり、ステップＲ3〜Ｒ6により試験
結果の供試体エコーの波形タイプを決定し、その選択信
号及び供試体エコーの波形部分の指定信号を解析演算装
置９に与える。
【００８８】そして、解析演算装置９は図７のステップ
Ｑ7，Ｑ8に対応するステップＲ7 ，Ｒ8 により、選択信
号から波形タイプを識別し、図７のステップＱ10に相当
するステップＲ9により、ピーク値Ｖｍａｘ2の判別を行
う。
Ｑ7，Ｑ8に対応するステップＲ7 ，Ｒ8 により、選択信
号から波形タイプを識別し、図７のステップＱ10に相当
するステップＲ9により、ピーク値Ｖｍａｘ2の判別を行
う。
【００８９】このとき、ピーク値Ｖｍａｘ2がＶL＜Ｖｍ
ａｘ2＜ＶHの所定範囲内であれば、ステップＲ10によ
り、その供試体エコーと，基準エコーと基づき、解析演
算装置９が図５のステップＱ11，Ｑ14と同様にしてスケ
ール３の厚さｄを演算し、測定する。
ａｘ2＜ＶHの所定範囲内であれば、ステップＲ10によ
り、その供試体エコーと，基準エコーと基づき、解析演
算装置９が図５のステップＱ11，Ｑ14と同様にしてスケ
ール３の厚さｄを演算し、測定する。
【００９０】さらに、ステップＲ11により、測定結果を
表示し、プリントアウトして測定を終了する。
表示し、プリントアウトして測定を終了する。
【００９１】一方、ステップＲ9の判別により、ピーク
値Ｖｍａｘ2が所定範囲外であれば、ステップＲ12によ
り、解析演算装置９は超音波周波数を設定回数（Ｎ回）
変更したか否かを判別し、変更回数が設定回数以下であ
れば、表示装置１０がつぎの周波数での超音波探傷試験
への案内を表示する。
値Ｖｍａｘ2が所定範囲外であれば、ステップＲ12によ
り、解析演算装置９は超音波周波数を設定回数（Ｎ回）
変更したか否かを判別し、変更回数が設定回数以下であ
れば、表示装置１０がつぎの周波数での超音波探傷試験
への案内を表示する。
【００９２】この表示に基づき、ステップＲ13により、
作業者が探触子６をつぎの周波数のものに取換えてセッ
トし直す。
作業者が探触子６をつぎの周波数のものに取換えてセッ
トし直す。
【００９３】そして、ステップＲ2 に戻り、その周波数
の超音波を被測定管１に再送信し、周波数を変えて超音
波探傷試験をくり返す。
の超音波を被測定管１に再送信し、周波数を変えて超音
波探傷試験をくり返す。
【００９４】そして、ステップＲ2〜Ｒ6により波形タイ
プを判別してその選択信号を解析演算装置９に供給し、
この装置９により、ステップＲ7，Ｒ8で波形タイプを決
定し直した後、ステップＲ9により、ピーク値Ｖｍａｘ2
が前記の所定範囲内か否かを判別する。
プを判別してその選択信号を解析演算装置９に供給し、
この装置９により、ステップＲ7，Ｒ8で波形タイプを決
定し直した後、ステップＲ9により、ピーク値Ｖｍａｘ2
が前記の所定範囲内か否かを判別する。
【００９５】さらに、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲外
になるときは、ステップＲ12に移行し、設定回数（Ｎ
回）を上限値として、ステップＲ13を介してステップＲ
2 に戻り、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内になるま
で、ステップＲ2からステップＲ9，Ｒ12，Ｒ13を介して
ステップＲ2 に戻るループ処理をくり返し、周波数を順
に変えて被測定管１の超音波探傷試験をくり返す。
になるときは、ステップＲ12に移行し、設定回数（Ｎ
回）を上限値として、ステップＲ13を介してステップＲ
2 に戻り、ピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内になるま
で、ステップＲ2からステップＲ9，Ｒ12，Ｒ13を介して
ステップＲ2 に戻るループ処理をくり返し、周波数を順
に変えて被測定管１の超音波探傷試験をくり返す。
【００９６】そして、ピーク値Ｖｍａｘ2が所定範囲内
になると、ステップＲ9からステップＲ10に移行し、そ
のときの試験結果の供試体エコーと基準エコーとに基づ
き、ステップＲ10によってスケール３の厚さｄを演算し
て測定し、ステップＲ11によってその結果を表示し、プ
リントアウトする。
になると、ステップＲ9からステップＲ10に移行し、そ
のときの試験結果の供試体エコーと基準エコーとに基づ
き、ステップＲ10によってスケール３の厚さｄを演算し
て測定し、ステップＲ11によってその結果を表示し、プ
リントアウトする。
【００９７】また、超音波の周波数を設定回数変更して
もピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内にならないときは、
ステップＲ12からステップＲ14に移行し、解析演算装置
９は、各周波数の試験で得られた供試体エコーのうちの
ピーク値Ｖｍａｘ2 が最も所定範囲に近いものを検出
し、その探傷結果を選択する。
もピーク値Ｖｍａｘ2 が所定範囲内にならないときは、
ステップＲ12からステップＲ14に移行し、解析演算装置
９は、各周波数の試験で得られた供試体エコーのうちの
ピーク値Ｖｍａｘ2 が最も所定範囲に近いものを検出
し、その探傷結果を選択する。
【００９８】さらに、ステップＲ15に移行し、選択した
探傷結果の供試体エコーと基準エコーとに基づき、ステ
ップＲ10と同様にしてスケール３の厚さｄを測定し、ス
テップＲ16により、ステップＲ11と同様にして測定結果
を表示し、プリントアウトする。
探傷結果の供試体エコーと基準エコーとに基づき、ステ
ップＲ10と同様にしてスケール３の厚さｄを測定し、ス
テップＲ16により、ステップＲ11と同様にして測定結果
を表示し、プリントアウトする。
【００９９】この場合、周波数が異なる超音波の再送信
をくり返し、スケール３の厚さｄ等に応じた最適周波数
の超音波探傷試験の結果に基づき、波形タイプを判別し
てスケール３の厚さｄが測定されるため、さらに一層精
度の高い測定が行える。
をくり返し、スケール３の厚さｄ等に応じた最適周波数
の超音波探傷試験の結果に基づき、波形タイプを判別し
てスケール３の厚さｄが測定されるため、さらに一層精
度の高い測定が行える。
【０１００】ところで、前記各形態においては、探触子
６を垂直探傷試験用の探触子として説明したが、例え
ば、探触子６を送信側と受信側の２個の探触子からなる
斜角探傷試験用の探触子とし、いわゆるＶ透過法の超音
波探傷試験で測定する場合等にも、本発明を同様に適用
できるのは勿論である。
６を垂直探傷試験用の探触子として説明したが、例え
ば、探触子６を送信側と受信側の２個の探触子からなる
斜角探傷試験用の探触子とし、いわゆるＶ透過法の超音
波探傷試験で測定する場合等にも、本発明を同様に適用
できるのは勿論である。
【０１０１】また、波形タイプをタイプＩ，II，III の
３タイプとしたが、測定精度の一層向上等を図るため、
波形タイプをさらに細く分類してもよい。
３タイプとしたが、測定精度の一層向上等を図るため、
波形タイプをさらに細く分類してもよい。
【０１０２】さらに、送信する超音波の周波数やしきい
値ＶH、ＶLの大きさ等は、実験等に基づいて適当に設定
してよいのは勿論である。
値ＶH、ＶLの大きさ等は、実験等に基づいて適当に設定
してよいのは勿論である。
【０１０３】
【発明の効果】本発明は、以下に記載する効果を奏す
る。まず、請求項１の場合は、超音波探触子６の受信エ
コーのうちのスケール面５の反射エコーとして検出され
たエコー部分につき、被測定管１の内面に付着したスケ
ール３の形状や性状によるスケール面５の反射エコーの
波形特性を考慮して複数の波形タイプのいずれかに分類
して決定することができる。
る。まず、請求項１の場合は、超音波探触子６の受信エ
コーのうちのスケール面５の反射エコーとして検出され
たエコー部分につき、被測定管１の内面に付着したスケ
ール３の形状や性状によるスケール面５の反射エコーの
波形特性を考慮して複数の波形タイプのいずれかに分類
して決定することができる。
【０１０４】そして、前記のエコー部分の反射エコーと
スケール３が付着してないときの基準エコーとにつき、
決定した波形タイプに応じて設定された時間差からスケ
ール３の厚さｄを測定したため、スケール３の厚さｄ
を、その形状や性状を考慮して精度よく測定することが
でき、この測定結果に基づき、ボイラ等等のスケール付
着範囲の分布酸洗時期の適切な管理等が行え、ボイラ管
等の保守・管理のコスト低減及び適正化等を図ることが
できる。
スケール３が付着してないときの基準エコーとにつき、
決定した波形タイプに応じて設定された時間差からスケ
ール３の厚さｄを測定したため、スケール３の厚さｄ
を、その形状や性状を考慮して精度よく測定することが
でき、この測定結果に基づき、ボイラ等等のスケール付
着範囲の分布酸洗時期の適切な管理等が行え、ボイラ管
等の保守・管理のコスト低減及び適正化等を図ることが
できる。
【０１０５】つぎに、請求項２の場合は、超音波探触子
６の受信エコーのスケール面５の反射エコーとして検出
されたエコー部分の波形タイプを決定した後、このエコ
ー部分の反射エコーの所定のピーク値が所定範囲内か否
かを判別し、そのエコー部分の反射エコーが、スケール
３の凹凸等との関係でスケール面５の反射エコーでない
おそれがあるときに、周波数を変えて被測定管１の超音
波探傷試験を再実施することができる。
６の受信エコーのスケール面５の反射エコーとして検出
されたエコー部分の波形タイプを決定した後、このエコ
ー部分の反射エコーの所定のピーク値が所定範囲内か否
かを判別し、そのエコー部分の反射エコーが、スケール
３の凹凸等との関係でスケール面５の反射エコーでない
おそれがあるときに、周波数を変えて被測定管１の超音
波探傷試験を再実施することができる。
【０１０６】そして、再実施された探傷試験の受信エコ
ーのうちのスケール面５の反射エコーとして検出された
エコー部分又は、２回の探傷試験の受信エコーのうちの
前記ピーク値が所定範囲に近い一方のエコーの前記エコ
ー部分の反射エコーをスケール面５の反射エコーとして
選択し、この反射エコーと基準エコーとの相対的な時間
差からスケール３の厚さｄを測定したため、スケール３
の凹凸等の程度によらず、形状や性状を考慮した極めて
精度の高い測定を行うことができ、従来の１０ＭHz探傷
試験のみでは不可能であった１００μｍ程度より薄いス
ケール３についても、その凹凸等の程度によらず、厚さ
ｄの極めて精度の高い測定を行うことができ、ボイラ管
等の保守・管理のコスト低減及び適正化等を請求項１の
場合より一層図ることができる。
ーのうちのスケール面５の反射エコーとして検出された
エコー部分又は、２回の探傷試験の受信エコーのうちの
前記ピーク値が所定範囲に近い一方のエコーの前記エコ
ー部分の反射エコーをスケール面５の反射エコーとして
選択し、この反射エコーと基準エコーとの相対的な時間
差からスケール３の厚さｄを測定したため、スケール３
の凹凸等の程度によらず、形状や性状を考慮した極めて
精度の高い測定を行うことができ、従来の１０ＭHz探傷
試験のみでは不可能であった１００μｍ程度より薄いス
ケール３についても、その凹凸等の程度によらず、厚さ
ｄの極めて精度の高い測定を行うことができ、ボイラ管
等の保守・管理のコスト低減及び適正化等を請求項１の
場合より一層図ることができる。
【０１０７】さらに、請求項３の場合は、前記の検出さ
れたエコー部分の波形タイプの決定後、そのエコー部分
の反射エコーの所定のピーク値が、所定範囲内になるま
で、設定回数を上限回数として、周波数を変えて被測定
管１の超音波探傷試験がくり返される。
れたエコー部分の波形タイプの決定後、そのエコー部分
の反射エコーの所定のピーク値が、所定範囲内になるま
で、設定回数を上限回数として、周波数を変えて被測定
管１の超音波探傷試験がくり返される。
【０１０８】そして、前記ピーク値が所定範囲内になっ
たときのエコー部分の反射エコー又は、前記ピーク値が
所定範囲内に最も近くなるエコー部分の反射エコーをス
ケール面５の反射エコーとし、この反射エコーと基準エ
コーとの相対的な時間差からスケール３の厚さｄを測定
したため、請求項２の場合よりさらに一層精度よくスケ
ール３の厚さｄを測定することができる。
たときのエコー部分の反射エコー又は、前記ピーク値が
所定範囲内に最も近くなるエコー部分の反射エコーをス
ケール面５の反射エコーとし、この反射エコーと基準エ
コーとの相対的な時間差からスケール３の厚さｄを測定
したため、請求項２の場合よりさらに一層精度よくスケ
ール３の厚さｄを測定することができる。
【図１】本発明の実施の第１の形態の測定手順のフロー
チャートである。
チャートである。
【図２】本発明の実施の第１の形態の測定装置の説明図
である。
である。
【図３】図２の波形処理の説明図である。
【図４】図２の受信エコーの波形タイプＩの波形図であ
る。
る。
【図５】図２の受信エコーの波形タイプIIの波形図であ
る。
る。
【図６】図２の受信エコーの波形タイプIIIの波形図で
ある。
ある。
【図７】本発明の実施の第２の形態の測定手順のフロー
チャートである。
チャートである。
【図８】本発明の実施の第３の形態の測定手順のフロー
チャートである。
チャートである。
【図９】従来例の測定説明図である。
【図１０】図９の受信エコーの１例の波形図である。
【図１１】図９の受信エコーの他の例の波形図である。
１ 被測定管 ２，６ 超音波探触子 ３ スケール ５ スケール面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤田 洋 大阪市北区中之島３丁目３番22号 関西電 力株式会社内 (72)発明者 井川 広之 大阪市北区茶屋町18番21号 株式会社日本 アーム内 (72)発明者 中山 吉晴 大阪市大正区鶴町２丁目15番26号 株式会 社ニチゾウテック内 Ｆターム(参考） 2F068 AA28 BB09 CC16 DD12 DD13 FF03 FF12 FF25 GG01 HH01 QQ18 QQ45 2G047 AA07 AB01 BA03 BC18 CA01 EA10 GF21 GG24 GG27 GG28 GG30 GG32
Claims (3)
- 【請求項１】 ボイラ等の被測定管の管外に設けた超音
波探触子により、前記被測定管の管内に超音波を送信し
て前記被測定管からの反射エコーを受信し、 前記被測定管の内面にスケールが付着していないときの
反射エコーを基準エコーとして、前記探触子が受信した
スケール面の反射エコーと前記基準エコーとの相対的な
時間差から、前記被測定管の内面に付着した前記スケー
ルの厚さを測定する超音波探傷試験方式の管内面のスケ
ール厚さ測定方法であって、 前記探触子の受信エコーのうちの前記スケール面の反射
エコーとして検出されたエコー部分の波形タイプを、予
め設定した複数の波形タイプから選択して決定し、 前記エコー部分の反射エコーと前記基準エコーとの前記
エコー部分の波形タイプに応じて設定された波形位置の
相対的な時間差から、前記スケールの厚さを測定するこ
とを特徴とする管内面のスケール厚さ測定方法。 - 【請求項２】ボイラ等の被測定管の管外に設けた超音波
探触子により、前記被測定管の管内に超音波を送波して
前記被測定管からの反射エコーを受信し、 前記被測定管の内面にスケールが付着していないときの
反射エコーを基準エコーとして、前記探触子が受信した
スケール面の反射エコーと前記基準エコーとの相対的な
時間差から、前記被測定管の内面に付着した前記スケー
ルの厚さを測定する超音波探傷試験方式の管内面のスケ
ール厚さ測定方法であって、 前記探触子の受信エコーのうちの前記スケール面の反射
エコーとして検出されたエコー部分の波形タイプを、予
め設定した複数の波形タイプから選択して決定し、 前記エコー部分の反射エコーの所定のピーク値が所定範
囲内か否かを判別し、 前記ピーク値が前記所定範囲外のときに、 前記探触子から前記被測定管の管内に周波数を変えて超
音波を再送信し、 該再送信に基づく前記探触子の受信エコーの前記エコー
部分又は、最初の送信及び前記再送信に基づく前記探触
子の両受信エコーのうちの前記ピーク値が前記所定範囲
に近い一方のエコーの前記エコー部分を、前記スケール
面の反射エコーとして選択し、 選択した前記エコー部分の反射エコーと前記基準エコー
との前記エコー部分の波形タイプに応じて設定された波
形位置の相対的な時間差から、前記スケールの厚さを測
定することを特徴とする管内面のスケール厚さ測定方
法。 - 【請求項３】 ボイラ等の被測定管の管外に設けた超音
波探触子により、前記被測定管の管内に超音波を送信し
て前記被測定管からの反射エコーを受信し、 前記被測定管の内面にスケールが付着していないときの
反射エコーを基準エコーとして、前記探触子が受信した
スケール面の反射エコーと前記基準エコーとの相対的な
時間差から、前記被測定管の内面に付着した前記スケー
ルの厚さを測定する超音波探傷試験方式の管内面のスケ
ール厚さ測定方法において、 前記探触子の受信エコーのうちの前記スケール面の反射
エコーとして検出されたエコー部分の波形タイプを、予
め設定した複数の波形タイプから選択して決定し、 前記エコー部分の反射エコーの所定のピーク値が所定範
囲内か否かを判別し、 前記ピーク値が前記所定範囲外のときに、 設定回数を限度として、前記ピーク値が前記所定範囲内
になるまで、前記探触子から前記被測定管の管内に周波
数を変えて超音波を再送信することをくり返し、 前記ピーク値が前記所定範囲になったときの前記探触子
の受信エコーの前記エコー部分又は、前記探触子の各受
信エコーのうちの前記ピーク値が前記所定範囲に最も近
いエコーの前記エコー部分を、前記スケール面の反射エ
コーとして選択し、 前記スケール面の反射エコーとして選択した前記エコー
部分の反射エコーと前記基準エコーとの前記エコー部分
の波形タイプに応じて設定された波形位置の相対的な時
間差から、前記スケールの厚さを測定することを特徴と
する管内面のスケール厚さ測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001176437A JP2002365032A (ja) | 2001-06-12 | 2001-06-12 | 管内面のスケール厚さ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001176437A JP2002365032A (ja) | 2001-06-12 | 2001-06-12 | 管内面のスケール厚さ測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002365032A true JP2002365032A (ja) | 2002-12-18 |
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ID=19017423
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|---|---|---|---|
| JP2001176437A Pending JP2002365032A (ja) | 2001-06-12 | 2001-06-12 | 管内面のスケール厚さ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002365032A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101819032A (zh) * | 2010-04-23 | 2010-09-01 | 北京工业大学 | 基于sh波的工业锅炉水垢厚度检测系统及方法 |
-
2001
- 2001-06-12 JP JP2001176437A patent/JP2002365032A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101819032A (zh) * | 2010-04-23 | 2010-09-01 | 北京工业大学 | 基于sh波的工业锅炉水垢厚度检测系统及方法 |
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