JP2002359781A

JP2002359781A - エネルギーサブトラクション処理方法および装置

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Publication number: JP2002359781A
Application number: JP2002037583A
Authority: JP
Inventors: Ryoji Sasada; 良治笹田
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 2001-03-27
Filing date: 2002-02-15
Publication date: 2002-12-13
Anticipated expiration: 2022-02-15
Also published as: JP3723136B2

Abstract

(57)【要約】【課題】エネルギーサブトラクション処理装置におい
て、ビームハードニングの影響を低減させる。【解決手段】エネルギーサブトラクション処理のため
の予め設定されたパラメータＫａ、Ｋｂ、Ｋｃを、エネ
ルギーサブトラクション処理の対象となる両画像Ｐ１，
Ｐ２の、画像処理装置２０から入力された画像処理条件
の１つであるスケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２の比
（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）に基づいて、パラメータ変更手段
２により変更し、この変更されたパラメータＫａ′，Ｋ
ｂ′，Ｋｃ′により、画像処理（規格化処理）された画
像データＳ１′，Ｓ２′間で、エネルギーサブトラクシ
ョン処理手段４によりエネルギーサブトラクション処理
を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はエネルギーサブトラ
クション処理方法および装置に関し、詳細にはエネルギ
ーサブトラクション処理のためのパラメータ変更の改良
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、放射線写真フイルムに記録さ
れた放射線画像を光電的に読み取って画像データを得、
この画像データに適切な画像処理を施した後、画像を再
生記録することが種々の分野で行われている。たとえ
ば、後の画像処理に適合するように設計されたガンマ値
の低いＸ線フィルムを用いてＸ線画像を記録し、このＸ
線画像が記録されたフィルムからＸ線画像を光電的に読
み取って電気信号を得、この画像信号をデジタル画像デ
ータに変換し、この画像データに画像処理を施した後、
コピー写真等に可視像として再生することにより、コン
トラスト、シャープネス、粒状性等の画質性能の良好な
再生画像を得ることが行われている（特公昭61-5193 号
参照）。

【０００３】また本願出願人により、放射線（Ｘ線，α
線，β線，γ線，電子線，紫外線等）を照射すると、こ
の放射線エネルギーの一部が蓄積され、その後可視光等
の励起光を照射すると蓄積されたエネルギーに応じて輝
尽発光を示す蓄積性蛍光体（輝尽性蛍光体）を利用し
て、人体等の被写体の放射線画像情報を一旦シート状の
蓄積性蛍光体に記録し、この蓄積性蛍光体シートをレー
ザー光等の励起光で走査して輝尽発光光を生ぜしめ、得
られた輝尽発光光を光電的に読み取って画像データを
得、この画像データに基づき被写体の放射線画像を写真
感光材料等の記録材料、ＣＲＴ等に可視像として出力さ
せる放射線画像記録再生システムがすでに提案されてい
る（特開昭55-12429号，同56-11395号，同55-163472
号，同56-104645 号，同55- 116340号等）。このシステ
ムは、従来の銀塩写真を用いる放射線写真システムと比
較して極めて広い放射線露出域にわたって画像を記録し
うるという実用的な利点を有している。

【０００４】上記システムにおいて、蓄積性蛍光体シー
トに照射された放射線の線量等に応じて最適な読取条件
で読み取って画像信号を得る前に、予め低レベルの光ビ
ームにより蓄積性蛍光体シートを走査してこのシートに
記録された放射線画像の概略を読み取る先読みを行い、
この先読みにより得られた先読画像信号を分析し、その
後上記シートに高レベルの光ビームを照射して走査し、
この放射線画像に最適な読取条件で読み取って画像信号
を得る本読みを行うように構成されたシステムが知られ
ている。

【０００５】ここで読取条件とは、読取りにおける輝尽
発光光の光量と読取装置の出力との関係に影響を与える
各種の条件を総称するものであり、例えば入出力の関係
を定める読取ゲイン、スケールファクタ、あるいは読取
りにおける励起光のパワー等を意味するものである。

【０００６】また、この先読みを行わずに読取条件を設
定するための方法が本願出願人により提案されている
（特開昭55-48672号，同55-50180号，同56-11348号
等）。この方法は、蓄積性蛍光体シートに放射線を照射
したときにシートから発せられる瞬時発光光を検光検出
器により検出し、この瞬時発光光から放射線画像の特性
あるいは蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された放射線の
蓄積量等の情報を得て、読取条件を決定する方法であ
る。

【０００７】さらに、この先読みを行うシステムか先読
みを行わないシステムかによらず、得られた画像信号
（先読画像信号を含む）を分析し、画像信号に画像処理
を施す際の最適な画像処理条件を決定するようにしたシ
ステムもある。ここで画像処理条件とは、画像信号に基
づく再生画像の階調や感度等に影響を及ぼす処理を該画
像信号に施す際の各種の条件を総称するものであり、前
述した先読みを行なわないシステムにおいては前述した
読取条件である読取ゲイン、スケールファクタをも含む
ものである。この画像信号に基づいて最適な画像処理条
件を決定する方法は、蓄積性蛍光体シートを用いるシス
テムに限られず、たとえば従来のＸ線フィルム等の記録
シートに記録された放射線画像から画像信号を得るシス
テムにも適用されている（以下、本明細書中、このよう
な読取条件および／または画像処理条件を決定するシス
テムをＥＤＲ（Exposure Data Recognizer）処理システ
ムまたはＥＤＲ処理手段ということがある）。

【０００８】また上記のようにＸ線フイルムや蓄積性蛍
光体シート等を用いるシステムにおいて、記録された複
数の放射線画像を読み取って複数の画像データを得た
後、これらの画像データに基づいて上記放射線画像のサ
ブトラクション処理を施すことがある。

【０００９】ここで、放射線画像のサブトラクション処
理とは、互いに異なった条件で撮影された複数の放射線
画像の差に対応する画像を得る処理をいい、具体的には
これら複数の放射線画像を所定のサンプリング間隔で読
み取って各放射線画像に対応する複数のデジタルの画像
データを得、これら複数の画像データの各対応するサン
プリング点（画素）毎に減算処理を施すことにより、放
射線画像中の特定の被写体部分（以下、組織または構造
物等の陰影とも称する）のみを強調または抽出した放射
線画像を得る処理をいう。

【００１０】このサブトラクション処理には基本的には
次の二つがある。すなわち、造影剤の注入により被写体
の特定の部分（たとえば人体を被写体としたときの血管
等の陰影）が強調された放射線画像から造影剤が注入さ
れていない放射線画像を引き算（サブトラクト）するこ
とによって被写体の特定の部分（血管等の陰影）を抽出
するいわゆる時間サブトラクションと、被写体の特定の
部分が互いに異なるエネルギーを有する放射線に対して
異なる放射線吸収率を有することを利用して、同一の被
写体に対して互いに異なるエネルギーを有する放射線を
照射してこれら互いに異なるエネルギーを有する各放射
線による複数の放射線画像を得、これら複数の放射線画
像を適当に重み付けしてその差を演算すること（下記式
（１）参照）によって被写体の特定部分を抽出するいわ
ゆるエネルギーサブトラクションとがある。本出願人も
蓄積性蛍光体シートを用いたエネルギーサブトラクショ
ンについて提案している（特開昭59-83486号，特開昭60
-225541号）。

【００１１】Ｓproc＝Ｋａ・Ｈ−Ｋｂ・Ｌ＋Ｋｃ（１）ただし、Ｓprocはサブトラクション処理により得られる
サブトラクション画像データ、Ｋａ，Ｋｂは重み付け係
数、Ｋｃはバイアス成分（以下、Ｋａ，Ｋｂ，Ｋｃをま
とめてサブトラクション処理のパラメータという）、Ｈ
はいわゆる高圧側の画像データ、Ｌはいわゆる低圧側の
画像データをそれぞれ意味する。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記エネル
ギーサブトラクション処理に関し、被写体の放射線撮影
を行なう際、所定のエネルギー分布を有する放射線を被
写体に照射すると、例えば被写体の体厚に応じて放射線
透過率が異なり、しかも低エネルギーの放射線ほど透過
率が低いため、放射線が被写体を透過するにしたがって
放射線のエネルギー分布が全体として高エネルギー側に
偏るいわゆるビームハードニングの現象が生じることが
知られている。

【００１３】例えば骨部の骨塩定量をエネルギーサブト
ラクション処理によって行なう場合、骨部の厚さが同一
であってもこの骨部を取り囲む軟部組織の厚さが厚い場
合はビームハードニングによる影響が大きいため骨部濃
度が薄くなり、一方、軟部組織の厚さが薄い場合はビー
ムハードニングによる影響が小さいため骨部濃度が濃く
なる。

【００１４】このようにビームハードニングの影響の大
小によって、抽出した組織の濃度が変動したのでは的確
な診断に悪影響を与えることになる。特に過去に得られ
たエネルギーサブトラクション画像と現在得られたエネ
ルギーサブトラクション画像とを比較する場合に、両画
像間でビームハードニングの影響度合に差があれば、現
在も病巣部が存在するにも拘らず、治癒したとの誤った
判断がなされる虞れもある。

【００１５】またエネルギーサブトラクション画像は、
放射線の被写体内部における散乱の影響を受けやすく、
散乱の度合に応じてエネルギーサブトラクション画像の
画質が変化する。したがってエネルギーサブトラクショ
ン画像の画質を向上させるためには放射線の被写体内部
における散乱の影響も考慮する必要がある。

【００１６】そこで本出願人は、ビームハードニングを
低減すべく、被写体の体厚に応じて上記サブトラクショ
ン処理のパラメータを変更するエネルギーサブトラクシ
ョン処理方法を提案し（特願平8-278236号（特開平10-1
18056号））、さらにこの中で本出願人は、体厚と相関
を有する、エネルギーサブトラクション処理の対象とな
る放射線画像中の所望とする組織の陰影を最適な階調で
再生し得る画像処理条件（例えば、放射線画像データの
入出力比を表すスケールファクター（Ｇｐ）値またはラ
チチュード（Ｌ）値）に応じて、前記パラメータを変更
することも提案している。

【００１７】しかし、体厚はビームハードニングに影響
を与える一因であるものの、体厚によってのみビームハ
ードニングの大小を決定するものではないため、ビーム
ハードニングを十分に低減するには至っていない。

【００１８】本発明は上記事情に鑑みなされたものであ
って、放射線のビームハードニング、散乱の影響を、従
来よりも低減することを可能にしたエネルギーサブトラ
クション処理方法および装置を提供することを目的とす
るものである。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明のエネルギーサブ
トラクション処理方法は、同一の被写体を撮影したエネ
ルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数
の放射線画像データについて、対応する画素ごとに前記
放射線画像データの、所定のパラメータに基づいたサブ
トラクション処理を行なうことにより、前記放射線画像
中の所望の組織の陰影を抽出または強調するエネルギー
サブトラクション処理方法において、前記複数の放射線
画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に
基づいて、前記パラメータを変更することを特徴とする
ものである。

【００２０】ここで、所定のパラメータに基づいたエネ
ルギーサブトラクション処理とは、例えば下記式（１）
に示すものを意味する。

【００２１】Ｓproc＝Ｋａ・Ｈ−Ｋｂ・Ｌ＋Ｋｃ（１）ただし、Ｓprocはエネルギーサブトラクション処理によ
り得られるエネルギーサブトラクション画像データ、Ｋ
ａ，Ｋｂは重み付け係数、Ｋｃはバイアス成分（Ｋａ，
Ｋｂ，Ｋｃをサブトラクション処理のパラメータと総称
する）、Ｈはいわゆる高圧側の画像データ、Ｌはいわゆ
る低圧側の画像データをそれぞれ意味する。

【００２２】高圧側の画像データ、低圧側の画像データ
とは、それぞれ、他方に対して相対的に高エネルギー成
分が強調された（または、低エネルギー成分が抑制され
た）画像データ、低エネルギー成分が強調された（また
は高エネルギー成分が抑制された）画像データを意味す
るものであり、例えば、エネルギー分離フィルターを介
して２枚の蓄積性蛍光体シートを重ねるなどして、１回
の放射線照射でエネルギー分布が互いに異なるこれら２
つの画像データをそれぞれの蓄積性蛍光体シートに略同
時に記録する、いわゆる１ショットエネルギーサブトラ
クション撮影においては、被写体から遠い側に配された
蓄積性蛍光体シートからは高圧側の画像データが得ら
れ、被写体に近い側に配された蓄積性蛍光体シートから
は低圧側の画像データが得られる。

【００２３】上記「主たる被写体の信号分布」とは、放
射線画像全体の信号分布でもよいし、放射線画像中の一
部の関心領域の信号分布でもよい。

【００２４】また、「複数の放射線画像のそれぞれにつ
いての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラ
メータを変更する」とは、複数の放射線画像間の信号分
布の違いを表わすものに基づいてパラメータを変更する
ことを意味するものであり、例えば、主たる被写体の信
号分布の幅に基づいてパラメータを変更するものでもよ
いし、主たる被写体の信号分布の幅の比に基づいてパラ
メータを変更するものでもよい。また、これらの他、主
たる被写体の信号分布を変数にした関数などに基づいて
パラメータを変更するものでもよい。なお、「信号分布
の幅」とは、例えば、スケールファクター値（Ｇｐ値）
またはラチチュード値（Ｌ値＝４／Ｇｐ）により定まる
ものや、濃度ヒストグラムの幅、画像全体または関心領
域の最大最小濃度の差などを意味するものである。

【００２５】本発明のエネルギーサブトラクション処理
装置は、上記本発明のエネルギーサブトラクション処理
方法を実施するための装置であって、同一の被写体を撮
影したエネルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像
を表す複数の放射線画像データについて、対応する画素
ごとに前記放射線画像データの、所定のパラメータに基
づいたサブトラクション処理を行なうことにより、前記
放射線画像中の所望の組織の陰影を抽出または強調する
エネルギーサブトラクション処理装置において、前記複
数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の
信号分布に基づいて、前記パラメータを変更するパラメ
ータ変更手段をさらに備えたことを特徴とするものであ
る。

【００２６】また、前記パラメータ変更手段を、前記信
号分布の幅に基づいて前記パラメータを変更するものと
してもよい。また、前記パラメータ変更手段を、前記信
号分布の幅の比に基づいて前記パラメータを変更するも
のとすることもできる。

【００２７】また、上記信号分布の幅を、放射線画像デ
ータの入出力比を表すスケールファクター値またはラチ
チュード値により定まるものとしてもよい。

【００２８】なお、本発明のエネルギーサブトラクショ
ン処理方法および装置は、複数の放射線画像のそれぞれ
についての信号分布に基づいてパラメータを変更するも
のであり、複数の放射線画像のうちいずれか１つについ
ての信号分布に基づくものではない。

【００２９】

【発明の効果】本発明のエネルギーサブトラクション処
理方法、装置によれば、複数の放射線画像のそれぞれに
ついての、主たる被写体の信号分布に基づいて、サブト
ラクション処理におけるパラメータを変更するから、放
射線のビームハードニングや散乱の影響度合いに応じて
パラメータを設定することが可能になり、サブトラクシ
ョン処理における、ビームハードニング、散乱の影響
を、従来よりも低減することが可能になる。

【００３０】なお、信号分布の幅（特に、放射線画像デ
ータの入出力比を表すスケールファクター（Ｇｐ）値ま
たはラチチュード（Ｌ）値）の比に応じて、エネルギー
サブトラクション処理のパラメータを変更すれば、放射
線のビームハードニング、散乱の影響をより低減するこ
とができる。

【００３１】すなわち上記式（１）によるエネルギーサ
ブトラクション処理は、高圧画像と低圧画像の間で、骨
組織または軟組織のコントラストを一致させて差分をと
ることにより、軟組織の画像または骨組織の画像を強
調、抽出する演算であり、高圧画像と低圧画像の軟組織
や骨組織のコントラストの比は、パラメータＫａ，Ｋｂ
と直接相関があるといえる。一方、信号分布の幅の比
（特に、スケールファクター（Ｇｐ）値比やラチチュー
ド（Ｌ）値比）は、高圧画像と低圧画像のコントラスト
比を表すため、散乱線やビームハードニングの影響度合
いを含めて、パラメータと相関がある。したがって、信
号分布の幅の比に応じて、エネルギーサブトラクション
処理のパラメータを変更することにより、放射線のビー
ムハードニング、散乱の影響をより低減することができ
る。

【００３２】なお、スケールファクター（Ｇｐ）値やラ
チチュード（Ｌ）値は体厚を反映したものであり、散乱
線やビームハードニングの影響度合いを直接反映したも
のではないため、パラメータとの相関は低いものと思わ
れる。すなわち、既述の特開平10-118056号による技術
は、被写体の体厚との関係から、サブトラクション処理
の対象となる画像のうち一方の画像についての画像処理
条件単独、または２つの画像の加算平均により得られた
画像についての画像処理条件に応じてパラメータを変更
するものであり、信号分布の幅の比の方がパラメータＫ
ａ，Ｋｂとの相関度合いがより大きいため、本発明のエ
ネルギーサブトラクション処理方法および装置によれ
ば、特開平10-118056号による技術よりも効果的にビー
ムハードニング、散乱の影響を低減することができる。

【００３３】

【発明の実施の形態】以下、本発明のエネルギーサブト
ラクション処理方法、装置の具体的な実施の形態につい
て、図面を用いて説明する。

【００３４】図１は本発明のエネルギーサブトラクショ
ン処理装置の一実施形態の構成を示すブロック図、図２
は放射線撮影装置の概略図、図３は放射線画像読取装置
と、画像処理装置および図１に示したエネルギーサブト
ラクション処理装置を内包する画像処理表示装置を示す
斜視図である。

【００３５】図示のエネルギーサブトラクション処理装
置１０は、エネルギーサブトラクション処理のための予
め設定されたパラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋｃが記憶された
記憶手段１と、外部の画像処理装置２０から入力された
スケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２の比（＝Ｇｐ２／Ｇ
ｐ１）に基づいてパラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋｃをそれぞ
れＫａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′に変更するパラメータ変更手
段２と、エネルギーサブトラクション処理の対象とな
る、エネルギー状態が相異なる２つの放射線画像Ｐ１，
Ｐ２（Ｐ１；高エネルギー成分が相対的に強調された画
像（以下、高圧画像という），Ｐ２；低エネルギー成分
が相対的に強調された画像（以下、低圧画像という））
をそれぞれ読み取って得られた２つの放射線画像データ
Ｓ１，Ｓ２（Ｓ１；高圧画像を読み取って得られた高圧
画像データ，Ｓ２；低圧画像を読み取って得られた低圧
画像データ）の規格化処理された画像データＳ１′，Ｓ
２′（Ｓ１′；高圧画像データを規格化処理して得られ
た規格化高圧画像データ，Ｓ２′；低圧画像データを規
格化処理して得られた規格化低圧画像データ）を記憶す
る内部メモリ３と、パラメータ変更手段２により変更さ
れたパラメータＫａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′に基づき下記式
（２）にしたがって内部メモリ３に記憶された２つの規
格化画像データＳ１′，Ｓ２′に対してサブトラクショ
ン処理を行なうエネルギーサブトラクション処理手段４
とを備えた構成である。

【００３６】Ｓproc＝Ｋａ′・Ｓ１′−Ｋｂ′・Ｓ２′＋Ｋｃ′ （２）ただし、Ｓprocはサブトラクション処理により得られる
サブトラクション画像データを意味する。

【００３７】なお、サブトラクション処理は、規格化画
像データＳ１′，Ｓ２′に対して行なうものに限らず、
規格化処理される前の画像データＳ１，Ｓ２や、規格化
画像をＧｐ値が一致するように補正した画像データＳ
１′，Ｓ２″やＳ１″，Ｓ２′ （ただし、Ｓ１″＝（Ｓ１′−５１２）×Ｇｐ２／Ｇｐ
１＋５１２，Ｓ２″＝（Ｓ２′−５１２）×Ｇｐ１／Ｇｐ２＋５１
２）に対して行なってもよい。

【００３８】ここで外部の画像処理装置２０は、入力さ
れた各画像データＳ１，Ｓ２についてそれぞれ、画像デ
ータのレベルごとの頻度の分布を示すヒストグラムを作
成し、このヒストグラムの形状に基づいて所望とする画
像部分に対応する画像データを認識し、その画像部分を
最適な階調の可視像として再生し得るように画像データ
に対して規格化処理（ＥＤＲ処理）を行うものであり、
具体的には、高圧画像データＳ１についてその頻度分布
を表すヒストグラムを作成し、このヒストグラムに基づ
いてスケールファクターＧｐ１，ゲインＳｋ１を求め、
これらスケールファクターＧｐ１，ゲインＳｋ１に基づ
いて高圧画像データＳ１に対して規格化処理を施して規
格化高圧画像データＳ１′を得、一方、低圧画像データ
Ｓ２についてヒストグラムを作成し、このヒストグラム
に基づいてスケールファクターＧｐ２，ゲインＳｋ２を
求め、これらスケールファクターＧｐ２，ゲインＳｋ２
に基づいて低圧画像データＳ２に対して規格化処理を施
して規格化低圧画像データＳ２′を得る処理をなす（特
開平4-51229号等）。

【００３９】記憶手段１に予め記憶されているパラメー
タＫａ，Ｋｂ，Ｋｃは、標準的な体型の被写体について
の高圧画像データＳ１，Ｓ２から、例えば骨組織を消去
または抑制した、主として軟部組織からなるサブトラク
ション画像データＳprocを得るために設定されたパラメ
ータであり、パラメータ変更手段２によるパラメータＫ
ａ，Ｋｂ，Ｋｃの変更は、各パラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋ
ｃごとの、スケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２の比との
対応関係を表す、パラメータ変更手段２に記憶されてい
るルックアップテーブルを参照して新たなパラメータＫ
ａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′に置換して行なうものである。な
おこのルックアップテーブルは、スケールファクターの
比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）が大きくなるにしたがって、パ
ラメータＫａ，Ｋｂが大きくなるような特性で、かつス
ケールファクターの比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）が大きくな
るにしたがって、パラメータＫｃが小さくなるような特
性で設定されている。

【００４０】放射線撮影装置３０の放射線管３１から発
せられた放射線Ｘが被写体（人体の胸部）４０に照射さ
れる。被写体４０を透過した放射線Ｘａは、被写体４０
に近い側に配された第２の蓄積性蛍光体シート５２に照
射され、第２のシート５２に被写体４０の放射線画像Ｐ
２が蓄積記録される。なおこの放射線画像Ｐ２は、後述
する高圧画像Ｐ１に対して相対的に低エネルギー成分を
多く含むものであるため、低圧画像と称する。

【００４１】第２のシート５２を透過した放射線Ｘｂは
さらに放射線の低エネルギー成分を抑制するフィルタ５
５に到達し、放射線Ｘｂのエネルギーのうち低エネルギ
ー成分が抑制された成分（相対的に高エネルギー成分が
強調された成分）Ｘｃがフィルタ５５を透過し、この相
対的に高エネルギー成分が強調された放射線Ｘｃが第１
の蓄積性蛍光体シート５１に到達し、これにより第１の
シート５１に被写体４０の高圧画像Ｐ１が蓄積記録され
る。

【００４２】被写体４０には、サブトラクション処理を
行なうにあたって２つの放射線画像Ｐ１，Ｐ２の位置合
わせを行なうための基準となる２つのマーク４１が付さ
れている。なお上記放射線撮影装置３０は１回の撮影
（１ショット）で２つのシート５１，５２にそれぞれ放
射線画像Ｐ１，Ｐ２を略同時に蓄積記録するものである
が、中間層にエネルギー分離フィルター５５を有し両面
に蓄積性蛍光体層を備えた単一の蓄積性蛍光体シートを
用いて撮影を行なうものであってもよいし、時間的に相
前後した２つのタイミングでそれぞれ１枚ずつのシート
に撮影を行なうもの（２ショット）であってもよい。

【００４３】図２に示した放射線撮影装置３０で撮影が
行なわれた後、第１および第２の蓄積性蛍光体シート５
１，５２が一枚ずつ放射線画像読取装置６０の所定位置
にセットされる。ここでは、第１の蓄積性蛍光体シート
５１に蓄積記録された高圧画像Ｐ１の読取りの場合につ
いて説明する。

【００４４】所定位置にセットされた、高圧画像Ｐ１が
蓄積記録された蓄積性蛍光体シート５１は、図示しない
駆動手段により駆動されるエンドレスベルト等のシート
搬送手段６１により、矢印Ｙ方向に搬送（副走査）され
る。一方、レーザ光源６２から発せられた光ビームＬは
モータ６３により駆動され矢印Ｒ方向に高速回転する回
転多面鏡６４によって反射偏向され、ｆθレンズ等の集
束レンズ６５を通過した後、ミラー６６により光路を変
えて蓄積性蛍光体シート５１に入射し、副走査の方向
（矢印Ｙ方向）に略直交する矢印Ｘ方向に主走査する。
蓄積性蛍光体シート５１の、光ビームＬが照射された箇
所からは、蓄積記録されている高圧画像Ｐ１に応じた光
量の輝尽発光光Ｍ１が発せられ、この輝尽発光光Ｍ１は
光ガイド６７によって導かれ、フォトマルチプライヤ
（光電子増倍管）６８によって光電的に検出される。

【００４５】フォトマルチプライヤ６８から出力された
アナログ信号Ａ１は、ログアンプ６９で対数的に増幅さ
れた後、Ａ／Ｄ変換器７０に入力され、サンプリングさ
れてデジタルの高圧画像データＳ１が得られる。この高
圧画像データＳ１は画像処理装置２０内の内部メモリ
（図示せず）に一旦記憶される。

【００４６】画像処理表示装置８０は、画像処理装置２
０およびサブトラクション処理装置１０を内包するもの
であり、画像信号に対して各種の画像処理を施すもので
あり、種々の指示等を入力するキーボード８１、指示の
ための補助情報や画像データに基づく可視画像を表示す
るＣＲＴディスプレイ８２、並びに画像処理装置２０、
サブトラクション処理装置１０およびその他の演算機能
を備えた本体部８３が備えられている。

【００４７】次に上記と同様にして、第２の蓄積性蛍光
体シート５２に蓄積記録された低圧画像Ｐ２を表わす低
圧画像データＳ２が得られ、この低圧画像データＳ２も
画像処理装置２０内の内部メモリに一旦記憶される。

【００４８】画像処理装置は内部メモリに記憶された各
画像データＳ１，Ｓ２についてそれぞれ規格化処理を施
して規格化画像データＳ１′，Ｓ２′を得、その過程で
スケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２を得る。

【００４９】規格化画像データＳ１′，Ｓ２′は、サブ
トラクション処理装置１０内の内部メモリ３に一旦記憶
される。一方、各スケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２は
パラメータ変更手段２に入力される。パラメータ変更手
段２は入力されたスケールファクターＧｐ１，Ｇｐ２の
比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）を算出し、記憶されているルッ
クアップテーブルを参照して、この比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ
１）に応じた新たなパラメータＫａ′，Ｋｂ′，Ｋｃ′
を求め、記憶手段１から読み出されたパラメータＫａ，
Ｋｂ，Ｋｃをこの新たなパラメータＫａ′，Ｋｂ′，Ｋ
ｃ′に置換して、サブトラクション処理手段４に入力す
る。

【００５０】サブトラクション処理手段４には、内部メ
モリ３から、規格化高圧画像データＳ１′および規格化
低圧画像データＳ２′が入力され、パラメータ変更手段
２から入力された新たなパラメータＫａ′，Ｋｂ′，Ｋ
ｃ′を用いた上記式（２）にしたがって、サブトラクシ
ョン画像データＳprocを算出する。

【００５１】このように算出されたサブトラクション画
像データＳprocは、散乱線やビームハードニングの影響
度合いをも含めた内容となる、高圧画像と低圧画像のコ
ントラスト比を表すスケールファクター値比、に応じて
パラメータを変更するため、従来よりも有効に放射線の
ビームハードニング、散乱の影響が低減されたものとな
る。

【００５２】そして得られたサブトラクション画像デー
タＳprocは、ＣＲＴ８２に入力され、ビームハードニン
グの影響が十分に低減された診断性能の高い可視像であ
るサブトラクション画像Ｐprocとして再生され、画像読
影および診断に供される。

【００５３】なお、本実施形態のエネルギーサブトラク
ション処理装置は、パラメータ変更手段２が、エネルギ
ーサブトラクション処理の対象となる２つの画像のスケ
ールファクター比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）に応じて、エネ
ルギーサブトラクション処理のパラメータを変更するも
のとしたが、本発明のエネルギーサブトラクション処理
方法、装置は、この態様に限定されるものではなく、エ
ネルギーサブトラクション処理の対象となる２つの画像
の、特にコントラストに関する画像処理条件の比に応じ
てパラメータを変更するものであれば、如何なるもので
あってもよく、例えば、ラチチュード値（Ｌ値＝４／Ｇ
ｐ）の比に応じてパラメータを変更するものなどを適用
することもできる。ラチチュードの比（＝Ｌ２／Ｌ１、
Ｌ１；高圧画像についてのラチチュード，Ｌ２；低圧画
像についてのラチチュード）に応じてパラメータを変更
する場合は、このラチチュードの比（＝Ｌ２／Ｌ１）が
小さくなるにしたがって、パラメータＫａ，Ｋｂを大き
くし、かつパラメータＫｃを小さくするように、パラメ
ータを変更するものとすればよい。

【００５４】なお、上記実施形態においては、スケール
ファクターの比（＝Ｇｐ２／Ｇｐ１）が大きくなるにし
たがって、パラメータＫａ，Ｋｂを大きく、パラメータ
Ｋｃを小さくする形態を示したが、スケールファクター
の比とパラメータＫａ，Ｋｂ，Ｋｃの関係はこの形態に
限るものではない。

【００５５】なお、処理対象の複数の放射線画像データ
を得る方式は、上記のような蓄積性蛍光体シートを走査
する方式に限られるものではなく、固体検出器を用いる
方式などでもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のエネルギーサブトラクション処理装置
の一実施形態の構成を示すブロック図

【図２】放射線撮影装置の概略図

【図３】放射線画像読取装置と画像処理表示装置を示す
図

【符号の説明】

１記憶手段２パラメータ変更手段３内部メモリ４サブトラクション処理手段 10 エネルギーサブトラクション処理装置 20 画像処理装置 30 放射線撮影装置 40 被写体 51,52 蓄積性蛍光体シート 82 ＣＲＴ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続きＦターム(参考） 4C093 AA28 CA07 CA13 EA07 EB05 FC24 FC26 FD12 FF08 FF19 FF34 5B057 AA08 BA03 BA30 CA02 CA08 CA12 CA16 CB02 CB08 CB12 CB16 CE03 CE08 DA17 DB02 DB05 DB09 DC22 DC32

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】同一の被写体を撮影したエネルギー状態
の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画
像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像
データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクショ
ン処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の
組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラク
ション処理方法において、前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被
写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更する
ことを特徴とするエネルギーサブトラクション処理方
法。
【請求項２】前記パラメータを、前記信号分布の幅に
基づいて変更することを特徴とする請求項１記載のエネ
ルギーサブトラクション処理方法。
【請求項３】前記パラメータを、前記信号分布の幅の
比に基づいて変更することを特徴とする請求項２記載の
エネルギーサブトラクション処理方法。
【請求項４】前記信号分布の幅が、前記放射線画像デ
ータの入出力比を表すスケールファクター値またはラチ
チュード値により定まるものであることを特徴とする請
求項２または３記載のエネルギーサブトラクション処理
方法。
【請求項５】同一の被写体を撮影したエネルギー状態
の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画
像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像
データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクショ
ン処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の
組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラク
ション処理装置において、前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被
写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更する
パラメータ変更手段をさらに備えたことを特徴とするエ
ネルギーサブトラクション処理装置。
【請求項６】前記パラメータ変更手段が、前記信号分
布の幅に基づいて前記パラメータを変更するものである
ことを特徴とする請求項５記載のエネルギーサブトラク
ション処理装置。
【請求項７】前記パラメータ変更手段が、前記信号分
布の幅の比に基づいて前記パラメータを変更するもので
あることを特徴とする請求項６記載のエネルギーサブト
ラクション処理装置。
【請求項８】前記信号分布の幅が、前記放射線画像デ
ータの入出力比を表すスケールファクター値またはラチ
チュード値により定まるものであることを特徴とする請
求項６または７記載のエネルギーサブトラクション処理
装置。