JP3723136B2 - エネルギーサブトラクション処理方法および装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はエネルギーサブトラクション処理方法および装置に関し、詳細にはエネルギーサブトラクション処理のためのパラメータ変更の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、放射線写真フイルムに記録された放射線画像を光電的に読み取って画像データを得、この画像データに適切な画像処理を施した後、画像を再生記録することが種々の分野で行われている。たとえば、後の画像処理に適合するように設計されたガンマ値の低いX線フィルムを用いてX線画像を記録し、このX線画像が記録されたフィルムからX線画像を光電的に読み取って電気信号を得、この画像信号をデジタル画像データに変換し、この画像データに画像処理を施した後、コピー写真等に可視像として再生することにより、コントラスト、シャープネス、粒状性等の画質性能の良好な再生画像を得ることが行われている(特公昭61-5193 号参照)。
【0003】
また本願出願人により、放射線(X線,α線,β線,γ線,電子線,紫外線等)を照射すると、この放射線エネルギーの一部が蓄積され、その後可視光等の励起光を照射すると蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す蓄積性蛍光体(輝尽性蛍光体)を利用して、人体等の被写体の放射線画像情報を一旦シート状の蓄積性蛍光体に記録し、この蓄積性蛍光体シートをレーザー光等の励起光で走査して輝尽発光光を生ぜしめ、得られた輝尽発光光を光電的に読み取って画像データを得、この画像データに基づき被写体の放射線画像を写真感光材料等の記録材料、CRT等に可視像として出力させる放射線画像記録再生システムがすでに提案されている(特開昭55-12429号,同56-11395号,同55-163472 号,同56-104645 号,同55- 116340号等)。このシステムは、従来の銀塩写真を用いる放射線写真システムと比較して極めて広い放射線露出域にわたって画像を記録しうるという実用的な利点を有している。
【0004】
上記システムにおいて、蓄積性蛍光体シートに照射された放射線の線量等に応じて最適な読取条件で読み取って画像信号を得る前に、予め低レベルの光ビームにより蓄積性蛍光体シートを走査してこのシートに記録された放射線画像の概略を読み取る先読みを行い、この先読みにより得られた先読画像信号を分析し、その後上記シートに高レベルの光ビームを照射して走査し、この放射線画像に最適な読取条件で読み取って画像信号を得る本読みを行うように構成されたシステムが知られている。
【0005】
ここで読取条件とは、読取りにおける輝尽発光光の光量と読取装置の出力との関係に影響を与える各種の条件を総称するものであり、例えば入出力の関係を定める読取ゲイン、スケールファクタ、あるいは読取りにおける励起光のパワー等を意味するものである。
【0006】
また、この先読みを行わずに読取条件を設定するための方法が本願出願人により提案されている(特開昭55-48672号,同55-50180号,同56-11348号等)。この方法は、蓄積性蛍光体シートに放射線を照射したときにシートから発せられる瞬時発光光を検光検出器により検出し、この瞬時発光光から放射線画像の特性あるいは蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された放射線の蓄積量等の情報を得て、読取条件を決定する方法である。
【0007】
さらに、この先読みを行うシステムか先読みを行わないシステムかによらず、得られた画像信号(先読画像信号を含む)を分析し、画像信号に画像処理を施す際の最適な画像処理条件を決定するようにしたシステムもある。ここで画像処理条件とは、画像信号に基づく再生画像の階調や感度等に影響を及ぼす処理を該画像信号に施す際の各種の条件を総称するものであり、前述した先読みを行なわないシステムにおいては前述した読取条件である読取ゲイン、スケールファクタをも含むものである。この画像信号に基づいて最適な画像処理条件を決定する方法は、蓄積性蛍光体シートを用いるシステムに限られず、たとえば従来のX線フィルム等の記録シートに記録された放射線画像から画像信号を得るシステムにも適用されている(以下、本明細書中、このような読取条件および/または画像処理条件を決定するシステムをEDR(Exposure Data Recognizer)処理システムまたはEDR処理手段ということがある)。
【0008】
また上記のようにX線フイルムや蓄積性蛍光体シート等を用いるシステムにおいて、記録された複数の放射線画像を読み取って複数の画像データを得た後、これらの画像データに基づいて上記放射線画像のサブトラクション処理を施すことがある。
【0009】
ここで、放射線画像のサブトラクション処理とは、互いに異なった条件で撮影された複数の放射線画像の差に対応する画像を得る処理をいい、具体的にはこれら複数の放射線画像を所定のサンプリング間隔で読み取って各放射線画像に対応する複数のデジタルの画像データを得、これら複数の画像データの各対応するサンプリング点(画素)毎に減算処理を施すことにより、放射線画像中の特定の被写体部分(以下、組織または構造物等の陰影とも称する)のみを強調または抽出した放射線画像を得る処理をいう。
【0010】
このサブトラクション処理には基本的には次の二つがある。すなわち、造影剤の注入により被写体の特定の部分(たとえば人体を被写体としたときの血管等の陰影)が強調された放射線画像から造影剤が注入されていない放射線画像を引き算(サブトラクト)することによって被写体の特定の部分(血管等の陰影)を抽出するいわゆる時間サブトラクションと、被写体の特定の部分が互いに異なるエネルギーを有する放射線に対して異なる放射線吸収率を有することを利用して、同一の被写体に対して互いに異なるエネルギーを有する放射線を照射してこれら互いに異なるエネルギーを有する各放射線による複数の放射線画像を得、これら複数の放射線画像を適当に重み付けしてその差を演算すること(下記式(1)参照)によって被写体の特定部分を抽出するいわゆるエネルギーサブトラクションとがある。本出願人も蓄積性蛍光体シートを用いたエネルギーサブトラクションについて提案している(特開昭59-83486号,特開昭60-225541号)。
【0011】
Sproc=Ka・H−Kb・L+Kc (1)
ただし、Sprocはサブトラクション処理により得られるサブトラクション画像データ、Ka,Kbは重み付け係数、Kcはバイアス成分(以下、Ka,Kb,Kcをまとめてサブトラクション処理のパラメータという)、Hはいわゆる高圧側の画像データ、Lはいわゆる低圧側の画像データをそれぞれ意味する。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記エネルギーサブトラクション処理に関し、被写体の放射線撮影を行なう際、所定のエネルギー分布を有する放射線を被写体に照射すると、例えば被写体の体厚に応じて放射線透過率が異なり、しかも低エネルギーの放射線ほど透過率が低いため、放射線が被写体を透過するにしたがって放射線のエネルギー分布が全体として高エネルギー側に偏るいわゆるビームハードニングの現象が生じることが知られている。
【0013】
例えば骨部の骨塩定量をエネルギーサブトラクション処理によって行なう場合、骨部の厚さが同一であってもこの骨部を取り囲む軟部組織の厚さが厚い場合はビームハードニングによる影響が大きいため骨部濃度が薄くなり、一方、軟部組織の厚さが薄い場合はビームハードニングによる影響が小さいため骨部濃度が濃くなる。
【0014】
このようにビームハードニングの影響の大小によって、抽出した組織の濃度が変動したのでは的確な診断に悪影響を与えることになる。特に過去に得られたエネルギーサブトラクション画像と現在得られたエネルギーサブトラクション画像とを比較する場合に、両画像間でビームハードニングの影響度合に差があれば、現在も病巣部が存在するにも拘らず、治癒したとの誤った判断がなされる虞れもある。
【0015】
またエネルギーサブトラクション画像は、放射線の被写体内部における散乱の影響を受けやすく、散乱の度合に応じてエネルギーサブトラクション画像の画質が変化する。したがってエネルギーサブトラクション画像の画質を向上させるためには放射線の被写体内部における散乱の影響も考慮する必要がある。
【0016】
そこで本出願人は、ビームハードニングを低減すべく、被写体の体厚に応じて上記サブトラクション処理のパラメータを変更するエネルギーサブトラクション処理方法を提案し(特願平8-278236号(特開平10-118056号))、さらにこの中で本出願人は、体厚と相関を有する、エネルギーサブトラクション処理の対象となる放射線画像中の所望とする組織の陰影を最適な階調で再生し得る画像処理条件(例えば、放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター(Gp)値またはラチチュード(L)値)に応じて、前記パラメータを変更することも提案している。
【0017】
しかし、体厚はビームハードニングに影響を与える一因であるものの、体厚によってのみビームハードニングの大小を決定するものではないため、ビームハードニングを十分に低減するには至っていない。
【0018】
本発明は上記事情に鑑みなされたものであって、放射線のビームハードニング、散乱の影響を、従来よりも低減することを可能にしたエネルギーサブトラクション処理方法および装置を提供することを目的とするものである。
【0019】
【課題を解決するための手段】
本発明のエネルギーサブトラクション処理方法は、同一の被写体を撮影したエネルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクション処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラクション処理方法において、
前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更することを特徴とするものである。
【0020】
ここで、所定のパラメータに基づいたエネルギーサブトラクション処理とは、例えば下記式(1)に示すものを意味する。
【0021】
Sproc=Ka・H−Kb・L+Kc (1)
ただし、Sprocはエネルギーサブトラクション処理により得られるエネルギーサブトラクション画像データ、Ka,Kbは重み付け係数、Kcはバイアス成分(Ka,Kb,Kcをサブトラクション処理のパラメータと総称する)、Hはいわゆる高圧側の画像データ、Lはいわゆる低圧側の画像データをそれぞれ意味する。
【0022】
高圧側の画像データ、低圧側の画像データとは、それぞれ、他方に対して相対的に高エネルギー成分が強調された(または、低エネルギー成分が抑制された)画像データ、低エネルギー成分が強調された(または高エネルギー成分が抑制された)画像データを意味するものであり、例えば、エネルギー分離フィルターを介して2枚の蓄積性蛍光体シートを重ねるなどして、1回の放射線照射でエネルギー分布が互いに異なるこれら2つの画像データをそれぞれの蓄積性蛍光体シートに略同時に記録する、いわゆる1ショットエネルギーサブトラクション撮影においては、被写体から遠い側に配された蓄積性蛍光体シートからは高圧側の画像データが得られ、被写体に近い側に配された蓄積性蛍光体シートからは低圧側の画像データが得られる。
【0023】
上記「主たる被写体の信号分布」とは、放射線画像全体の信号分布でもよいし、放射線画像中の一部の関心領域の信号分布でもよい。
【0024】
また、「複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更する」とは、複数の放射線画像間の信号分布の違いを表わすものに基づいてパラメータを変更することを意味するものであり、例えば、主たる被写体の信号分布の幅に基づいてパラメータを変更するものでもよいし、主たる被写体の信号分布の幅の比に基づいてパラメータを変更するものでもよい。また、これらの他、主たる被写体の信号分布を変数にした関数などに基づいてパラメータを変更するものでもよい。なお、「信号分布の幅」とは、例えば、スケールファクター値(Gp値)またはラチチュード値(L値=4/Gp)により定まるものや、濃度ヒストグラムの幅、画像全体または関心領域の最大最小濃度の差などを意味するものである。
【0025】
本発明のエネルギーサブトラクション処理装置は、上記本発明のエネルギーサブトラクション処理方法を実施するための装置であって、同一の被写体を撮影したエネルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクション処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラクション処理装置において、
前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更するパラメータ変更手段をさらに備えたことを特徴とするものである。
【0026】
また、前記パラメータ変更手段を、前記信号分布の幅に基づいて前記パラメータを変更するものとしてもよい。また、前記パラメータ変更手段を、前記信号分布の幅の比に基づいて前記パラメータを変更するものとすることもできる。
【0027】
また、上記信号分布の幅を、放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター値またはラチチュード値により定まるものとしてもよい。
【0028】
なお、本発明のエネルギーサブトラクション処理方法および装置は、複数の放射線画像のそれぞれについての信号分布に基づいてパラメータを変更するものであり、複数の放射線画像のうちいずれか1つについての信号分布に基づくものではない。
【0029】
【発明の効果】
本発明のエネルギーサブトラクション処理方法、装置によれば、複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、サブトラクション処理におけるパラメータを変更するから、放射線のビームハードニングや散乱の影響度合いに応じてパラメータを設定することが可能になり、サブトラクション処理における、ビームハードニング、散乱の影響を、従来よりも低減することが可能になる。
【0030】
なお、信号分布の幅(特に、放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター(Gp)値またはラチチュード(L)値)の比に応じて、エネルギーサブトラクション処理のパラメータを変更すれば、放射線のビームハードニング、散乱の影響をより低減することができる。
【0031】
すなわち上記式(1)によるエネルギーサブトラクション処理は、高圧画像と低圧画像の間で、骨組織または軟組織のコントラストを一致させて差分をとることにより、軟組織の画像または骨組織の画像を強調、抽出する演算であり、高圧画像と低圧画像の軟組織や骨組織のコントラストの比は、パラメータKa,Kbと直接相関があるといえる。一方、信号分布の幅の比(特に、スケールファクター(Gp)値比やラチチュード(L)値比)は、高圧画像と低圧画像のコントラスト比を表すため、散乱線やビームハードニングの影響度合いを含めて、パラメータと相関がある。したがって、信号分布の幅の比に応じて、エネルギーサブトラクション処理のパラメータを変更することにより、放射線のビームハードニング、散乱の影響をより低減することができる。
【0032】
なお、スケールファクター(Gp)値やラチチュード(L)値は体厚を反映したものであり、散乱線やビームハードニングの影響度合いを直接反映したものではないため、パラメータとの相関は低いものと思われる。すなわち、既述の特開平10-118056号による技術は、被写体の体厚との関係から、サブトラクション処理の対象となる画像のうち一方の画像についての画像処理条件単独、または2つの画像の加算平均により得られた画像についての画像処理条件に応じてパラメータを変更するものであり、信号分布の幅の比の方がパラメータKa,Kbとの相関度合いがより大きいため、本発明のエネルギーサブトラクション処理方法および装置によれば、特開平10-118056号による技術よりも効果的にビームハードニング、散乱の影響を低減することができる。
【0033】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のエネルギーサブトラクション処理方法、装置の具体的な実施の形態について、図面を用いて説明する。
【0034】
図1は本発明のエネルギーサブトラクション処理装置の一実施形態の構成を示すブロック図、図2は放射線撮影装置の概略図、図3は放射線画像読取装置と、画像処理装置および図1に示したエネルギーサブトラクション処理装置を内包する画像処理表示装置を示す斜視図である。
【0035】
図示のエネルギーサブトラクション処理装置10は、エネルギーサブトラクション処理のための予め設定されたパラメータKa,Kb,Kcが記憶された記憶手段1と、外部の画像処理装置20から入力されたスケールファクターGp1,Gp2の比(=Gp2/Gp1)に基づいてパラメータKa,Kb,KcをそれぞれKa′,Kb′,Kc′に変更するパラメータ変更手段2と、エネルギーサブトラクション処理の対象となる、エネルギー状態が相異なる2つの放射線画像P1,P2(P1;高エネルギー成分が相対的に強調された画像(以下、高圧画像という),P2;低エネルギー成分が相対的に強調された画像(以下、低圧画像という))をそれぞれ読み取って得られた2つの放射線画像データS1,S2(S1;高圧画像を読み取って得られた高圧画像データ,S2;低圧画像を読み取って得られた低圧画像データ)の規格化処理された画像データS1′,S2′(S1′;高圧画像データを規格化処理して得られた規格化高圧画像データ,S2′;低圧画像データを規格化処理して得られた規格化低圧画像データ)を記憶する内部メモリ3と、パラメータ変更手段2により変更されたパラメータKa′,Kb′,Kc′に基づき下記式(2)にしたがって内部メモリ3に記憶された2つの規格化画像データS1′,S2′に対してサブトラクション処理を行なうエネルギーサブトラクション処理手段4とを備えた構成である。
【0036】
Sproc=Ka′・S1′−Kb′・S2′+Kc′ (2)
ただし、Sprocはサブトラクション処理により得られるサブトラクション画像データを意味する。
【0037】
なお、サブトラクション処理は、規格化画像データS1′,S2′に対して行なうものに限らず、規格化処理される前の画像データS1,S2や、規格化画像をGp値が一致するように補正した画像データS1′,S2″やS1″,S2′
(ただし、S1″=(S1′−512)×Gp2/Gp1+512,
S2″=(S2′−512)×Gp1/Gp2+512)
に対して行なってもよい。
【0038】
ここで外部の画像処理装置20は、入力された各画像データS1,S2についてそれぞれ、画像データのレベルごとの頻度の分布を示すヒストグラムを作成し、このヒストグラムの形状に基づいて所望とする画像部分に対応する画像データを認識し、その画像部分を最適な階調の可視像として再生し得るように画像データに対して規格化処理(EDR処理)を行うものであり、具体的には、高圧画像データS1についてその頻度分布を表すヒストグラムを作成し、このヒストグラムに基づいてスケールファクターGp1,ゲインSk1を求め、これらスケールファクターGp1,ゲインSk1に基づいて高圧画像データS1に対して規格化処理を施して規格化高圧画像データS1′を得、一方、低圧画像データS2についてヒストグラムを作成し、このヒストグラムに基づいてスケールファクターGp2,ゲインSk2を求め、これらスケールファクターGp2,ゲインSk2に基づいて低圧画像データS2に対して規格化処理を施して規格化低圧画像データS2′を得る処理をなす(特開平4-51229号等)。
【0039】
記憶手段1に予め記憶されているパラメータKa,Kb,Kcは、標準的な体型の被写体についての高圧画像データS1,S2から、例えば骨組織を消去または抑制した、主として軟部組織からなるサブトラクション画像データSprocを得るために設定されたパラメータであり、パラメータ変更手段2によるパラメータKa,Kb,Kcの変更は、各パラメータKa,Kb,Kcごとの、スケールファクターGp1,Gp2の比との対応関係を表す、パラメータ変更手段2に記憶されているルックアップテーブルを参照して新たなパラメータKa′,Kb′,Kc′に置換して行なうものである。なおこのルックアップテーブルは、スケールファクターの比(=Gp2/Gp1)が大きくなるにしたがって、パラメータKa,Kbが大きくなるような特性で、かつスケールファクターの比(=Gp2/Gp1)が大きくなるにしたがって、パラメータKcが小さくなるような特性で設定されている。
【0040】
放射線撮影装置30の放射線管31から発せられた放射線Xが被写体(人体の胸部)40に照射される。被写体40を透過した放射線Xaは、被写体40に近い側に配された第2の蓄積性蛍光体シート52に照射され、第2のシート52に被写体40の放射線画像P2が蓄積記録される。なおこの放射線画像P2は、後述する高圧画像P1に対して相対的に低エネルギー成分を多く含むものであるため、低圧画像と称する。
【0041】
第2のシート52を透過した放射線Xbはさらに放射線の低エネルギー成分を抑制するフィルタ55に到達し、放射線Xbのエネルギーのうち低エネルギー成分が抑制された成分(相対的に高エネルギー成分が強調された成分)Xcがフィルタ55を透過し、この相対的に高エネルギー成分が強調された放射線Xcが第1の蓄積性蛍光体シート51に到達し、これにより第1のシート51に被写体40の高圧画像P1が蓄積記録される。
【0042】
被写体40には、サブトラクション処理を行なうにあたって2つの放射線画像P1,P2の位置合わせを行なうための基準となる2つのマーク41が付されている。なお上記放射線撮影装置30は1回の撮影(1ショット)で2つのシート51,52にそれぞれ放射線画像P1,P2を略同時に蓄積記録するものであるが、中間層にエネルギー分離フィルター55を有し両面に蓄積性蛍光体層を備えた単一の蓄積性蛍光体シートを用いて撮影を行なうものであってもよいし、時間的に相前後した2つのタイミングでそれぞれ1枚ずつのシートに撮影を行なうもの(2ショット)であってもよい。
【0043】
図2に示した放射線撮影装置30で撮影が行なわれた後、第1および第2の蓄積性蛍光体シート51,52が一枚ずつ放射線画像読取装置60の所定位置にセットされる。ここでは、第1の蓄積性蛍光体シート51に蓄積記録された高圧画像P1の読取りの場合について説明する。
【0044】
所定位置にセットされた、高圧画像P1が蓄積記録された蓄積性蛍光体シート51は、図示しない駆動手段により駆動されるエンドレスベルト等のシート搬送手段61により、矢印Y方向に搬送(副走査)される。一方、レーザ光源62から発せられた光ビームLはモータ63により駆動され矢印R方向に高速回転する回転多面鏡64によって反射偏向され、fθレンズ等の集束レンズ65を通過した後、ミラー66により光路を変えて蓄積性蛍光体シート51に入射し、副走査の方向(矢印Y方向)に略直交する矢印X方向に主走査する。蓄積性蛍光体シート51の、光ビームLが照射された箇所からは、蓄積記録されている高圧画像P1に応じた光量の輝尽発光光M1が発せられ、この輝尽発光光M1は光ガイド67によって導かれ、フォトマルチプライヤ(光電子増倍管)68によって光電的に検出される。
【0045】
フォトマルチプライヤ68から出力されたアナログ信号A1は、ログアンプ69で対数的に増幅された後、A/D変換器70に入力され、サンプリングされてデジタルの高圧画像データS1が得られる。この高圧画像データS1は画像処理装置20内の内部メモリ(図示せず)に一旦記憶される。
【0046】
画像処理表示装置80は、画像処理装置20およびサブトラクション処理装置10を内包するものであり、画像信号に対して各種の画像処理を施すものであり、種々の指示等を入力するキーボード81、指示のための補助情報や画像データに基づく可視画像を表示するCRTディスプレイ82、並びに画像処理装置20、サブトラクション処理装置10およびその他の演算機能を備えた本体部83が備えられている。
【0047】
次に上記と同様にして、第2の蓄積性蛍光体シート52に蓄積記録された低圧画像P2を表わす低圧画像データS2が得られ、この低圧画像データS2も画像処理装置20内の内部メモリに一旦記憶される。
【0048】
画像処理装置は内部メモリに記憶された各画像データS1,S2についてそれぞれ規格化処理を施して規格化画像データS1′,S2′を得、その過程でスケールファクターGp1,Gp2を得る。
【0049】
規格化画像データS1′,S2′は、サブトラクション処理装置10内の内部メモリ3に一旦記憶される。一方、各スケールファクターGp1,Gp2はパラメータ変更手段2に入力される。パラメータ変更手段2は入力されたスケールファクターGp1,Gp2の比(=Gp2/Gp1)を算出し、記憶されているルックアップテーブルを参照して、この比(=Gp2/Gp1)に応じた新たなパラメータKa′,Kb′,Kc′を求め、記憶手段1から読み出されたパラメータKa,Kb,Kcをこの新たなパラメータKa′,Kb′,Kc′に置換して、サブトラクション処理手段4に入力する。
【0050】
サブトラクション処理手段4には、内部メモリ3から、規格化高圧画像データS1′および規格化低圧画像データS2′が入力され、パラメータ変更手段2から入力された新たなパラメータKa′,Kb′,Kc′を用いた上記式(2)にしたがって、サブトラクション画像データSprocを算出する。
【0051】
このように算出されたサブトラクション画像データSprocは、散乱線やビームハードニングの影響度合いをも含めた内容となる、高圧画像と低圧画像のコントラスト比を表すスケールファクター値比、に応じてパラメータを変更するため、従来よりも有効に放射線のビームハードニング、散乱の影響が低減されたものとなる。
【0052】
そして得られたサブトラクション画像データSprocは、CRT82に入力され、ビームハードニングの影響が十分に低減された診断性能の高い可視像であるサブトラクション画像Pprocとして再生され、画像読影および診断に供される。
【0053】
なお、本実施形態のエネルギーサブトラクション処理装置は、パラメータ変更手段2が、エネルギーサブトラクション処理の対象となる2つの画像のスケールファクター比(=Gp2/Gp1)に応じて、エネルギーサブトラクション処理のパラメータを変更するものとしたが、本発明のエネルギーサブトラクション処理方法、装置は、この態様に限定されるものではなく、エネルギーサブトラクション処理の対象となる2つの画像の、特にコントラストに関する画像処理条件の比に応じてパラメータを変更するものであれば、如何なるものであってもよく、例えば、ラチチュード値(L値=4/Gp)の比に応じてパラメータを変更するものなどを適用することもできる。ラチチュードの比(=L2/L1、L1;高圧画像についてのラチチュード,L2;低圧画像についてのラチチュード)に応じてパラメータを変更する場合は、このラチチュードの比(=L2/L1)が小さくなるにしたがって、パラメータKa,Kbを大きくし、かつパラメータKcを小さくするように、パラメータを変更するものとすればよい。
【0054】
なお、上記実施形態においては、スケールファクターの比(=Gp2/Gp1)が大きくなるにしたがって、パラメータKa,Kbを大きく、パラメータKcを小さくする形態を示したが、スケールファクターの比とパラメータKa,Kb,Kcの関係はこの形態に限るものではない。
【0055】
なお、処理対象の複数の放射線画像データを得る方式は、上記のような蓄積性蛍光体シートを走査する方式に限られるものではなく、固体検出器を用いる方式などでもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のエネルギーサブトラクション処理装置の一実施形態の構成を示すブロック図
【図2】放射線撮影装置の概略図
【図3】放射線画像読取装置と画像処理表示装置を示す図
【符号の説明】
1 記憶手段
2 パラメータ変更手段
3 内部メモリ
4 サブトラクション処理手段
10 エネルギーサブトラクション処理装置
20 画像処理装置
30 放射線撮影装置
40 被写体
51,52 蓄積性蛍光体シート
82 CRT

Claims (8)

  1. 同一の被写体を撮影したエネルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクション処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラクション処理方法において、
    前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更することを特徴とするエネルギーサブトラクション処理方法。
  2. 前記パラメータを、前記信号分布の幅に基づいて変更することを特徴とする請求項1記載のエネルギーサブトラクション処理方法。
  3. 前記パラメータを、前記信号分布の幅の比に基づいて変更することを特徴とする請求項2記載のエネルギーサブトラクション処理方法。
  4. 前記信号分布の幅が、前記放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター値またはラチチュード値により定まるものであることを特徴とする請求項2または3記載のエネルギーサブトラクション処理方法。
  5. 同一の被写体を撮影したエネルギー状態の互いに異なる複数の放射線画像を表す複数の放射線画像データについて、対応する画素ごとに前記放射線画像データの、所定のパラメータに基づいたサブトラクション処理を行なうことにより、前記放射線画像中の所望の組織の陰影を抽出または強調するエネルギーサブトラクション処理装置において、
    前記複数の放射線画像のそれぞれについての、主たる被写体の信号分布に基づいて、前記パラメータを変更するパラメータ変更手段をさらに備えたことを特徴とするエネルギーサブトラクション処理装置。
  6. 前記パラメータ変更手段が、前記信号分布の幅に基づいて前記パラメータを変更するものであることを特徴とする請求項5記載のエネルギーサブトラクション処理装置。
  7. 前記パラメータ変更手段が、前記信号分布の幅の比に基づいて前記パラメータを変更するものであることを特徴とする請求項6記載のエネルギーサブトラクション処理装置。
  8. 前記信号分布の幅が、前記放射線画像データの入出力比を表すスケールファクター値またはラチチュード値により定まるものであることを特徴とする請求項6または7記載のエネルギーサブトラクション処理装置。
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