JP2002358648A - 光ディスク装置および記録パワー決定方法 - Google Patents

光ディスク装置および記録パワー決定方法

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JP2002358648A JP2002091216A JP2002091216A JP2002358648A JP 2002358648 A JP2002358648 A JP 2002358648A JP 2002091216 A JP2002091216 A JP 2002091216A JP 2002091216 A JP2002091216 A JP 2002091216A JP 2002358648 A JP2002358648 A JP 2002358648A
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衛 東海林
Shuichi Tasaka
修一 田坂
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 追記型ディスクにおいて、ユーザーデータの
記録に先だって試し記録により最適パワーを決定する際
に、確実に未記録領域と記録領域の境界を検出するため
の記録方法を提供する。 【解決手段】 光ディスクの試し記録領域において、光
スポットの進行方向を内周から外周方向とし、試し記録
領域を外周側から使用する場合に(×印のあるセクタは
記録済みセクタ)、セクタ302、303、304、3
05に試し記録を行うことにより決定した最適記録パワ
ーを用いてセクタ301に記録を行う。これにより、次
回に試し記録を行う際に、記録済みセクタを未記録セク
タと誤認識する可能性を低減できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光を光ディ
スクに照射することで情報の記録を行う光ディスク装置
における、最適な記録パワーの決定方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】光ディスクは大容量のデータを記録する
手段として盛んに開発が行われており、その中の一つ
に、有機系色素の状態変化を利用し、同一箇所に一度だ
け情報を記録することができる追記型の光ディスクがあ
る。有機系色素を記録膜に用いた光ディスクでは、最適
な光ビームの照射により、記録部の表面近傍での蒸気圧
が高くなり、その蒸気圧により溶融部が周辺に押し広げ
られることによってピットを形成している。
【0003】ところで、このような光ディスクへの記録
においては、光ビームの照射パワーを最適値にすること
が重要であり、そのために光ディスクの所定の領域で試
し記録を行う方法が広く用いられてきた。その際追記型
の光ディスクでは一度記録した領域は使用できないた
め、試し記録を行うための未記録領域を探索する必要が
あり、例えば記録領域と未記録領域の反射率差を利用
し、試し記録領域を光ビームで走査しながら反射光量を
検出することにより未記録領域を見つけていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
技術では、例えば光ピックアップの汚れ等により、記録
を行ったのにも関わらず十分な記録ができなかった領域
では、反射光量の変化が小さいため、試し記録領域の探
索の際に誤って未記録領域と判定し、試し記録を行って
しまうという課題があった。
【0005】本発明は上記課題に鑑み、追記型の光ディ
スクへの試し記録を行う際に、確実に未記録領域を検出
するための記録方法を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係る第1の記録
パワー決定方法は、光ディスクに対し情報を記録する際
の記録パワーを決定する記録パワー決定方法であって、
光ディスクの所定の領域に所定のデータを書き込む試し
記録を行うことにより記録パワーを決定し、所定の領域
に近接する領域に対し、決定した記録パワー以上のパワ
ーで記録を行う。
【0007】光ディスクにおいて光スポットの進行方向
は内周から外周へ向かう方向であってもよく、所定の領
域は、試し記録を行うために外周側の部分から使用され
てもよい。また、近接する領域は所定の領域において試
し記録が行われた部分の内周側の領域であってもよい。
【0008】光ディスクにおいて光スポットの進行方向
は内周から外周へ向かう方向であってもよく、所定の領
域は、試し記録を行なうために内周側から使用されても
よい。近接する領域は所定の領域において試し記録が行
われた部分の外周側の領域であってもよい。
【0009】光ディスクにおいて光スポットの進行方向
は外周から内周へ向かう方向であってもよく、所定の領
域は、試し記録を行なうために外周側から使用されても
よい。近接する領域は所定の領域において試し記録が行
われた部分の内周側の領域であってもよい。
【0010】光ディスクにおいて光スポットの進行方向
は外周から内周へ向かう方向であってもよく、所定の領
域は、試し記録を行なうために内周側から使用されても
よい。近接する領域は所定の領域において試し記録が行
われた部分の外周側の領域であってもよい。
【0011】また、所定の領域内のテスト記録が直前に
行なわれた領域の内側の領域及び外側の領域に、決定し
た記録パワーで記録を行ってもよい。
【0012】本発明に係る第2の記録パワー決定方法
は、光ディスクに情報を記録する際の記録パワーを決定
する方法である。その方法においては、光スポットの進
行方向を内周から外周方向とし、所定の記録領域を外周
側から使用しながら、記録パワーを決定するために試し
記録領域に所定のデータを書き込む試し記録が行われ
る。試し記録に用いる記録パワーは、所定の記録領域に
おいて所定の範囲毎に高パワー側から低パワー側に更新
される。
【0013】本発明に係る第3の記録パワー決定方法
は、光ディスクに情報を記録する際の記録パワーを決定
する方法である。その方法においては、光スポットの進
行方向を内周から外周方向とし、所定の試し記録領域を
内周側から使用しながら、記録パワーを決定するために
試し記録領域に所定のデータを書き込む試し記録が行わ
れる。試し記録に用いる記録パワーは、所定の記録領域
において所定の範囲毎に低パワー側から高パワー側に更
新される。
【0014】本発明に係る第4の記録パワー決定方法
は、光ディスクに情報を記録する際の記録パワーを決定
する方法である。その方法においては、光スポットの進
行方向を外周から内周方向とし、所定の試し記録領域を
外周側から使用しながら、記録パワーを決定するために
試し記録領域に所定のデータを書き込む試し記録が行わ
れる。試し記録に用いる記録パワーは、所定の記録領域
において所定の範囲毎に低パワー側から高パワー側に更
新される。
【0015】本発明に係る第5の記録パワー決定方法
は、光ディスクに情報を記録する際の記録パワーを決定
する方法である。その方法においては、光スポットの進
行方向を外周から内周方向とし、所定の試し記録領域を
内周側から使用しながら、記録パワーを決定するために
試し記録領域に所定のデータを書き込む試し記録が行わ
れる。試し記録に用いる記録パワーは、所定の記録領域
において所定の範囲毎に高パワー側から低パワー側に更
新される。
【0016】本発明に係る第6の記録パワー決定方法
は、光ディスクに情報を記録する際の記録パワーを決定
する方法である。その方法においては、記録パワーを決
定するために、光ディスクの所定の領域に所定のデータ
を書き込む試し記録を行い、所定の領域への試し記録中
に記録が中断した場合は、その記録が中断した所定の領
域に再度所定のパワーで記録を行う。
【0017】上記のパワー決定方法において、光ディス
クは例えば追記型のものである。
【0018】本発明に係る第1の光ディスク装置は、光
ディスクに情報を記録する装置において、光ディスクの
所定の領域に所定のデータを書き込む試し記録を行うこ
とにより記録パワーを決定する記録パワー決定手段と、
所定の領域に近接する領域に対し、記録パワー決定手段
により決定された記録パワー以上のパワーで記録を行う
記録手段とを備える。
【0019】本発明に係る第2の光ディスク装置は、光
ディスクに情報を記録する装置において、光スポットの
進行方向を内周から外周方向とし、所定の記録領域を外
周側から使用し、記録パワーを決定するために試し記録
領域に所定のデータを書き込む試し記録を行う手段と、
試し記録に用いる記録パワーを所定の記録領域において
所定の範囲毎に高パワー側から低パワー側に更新する手
段とを備える。
【0020】本発明に係る第3の光ディスク装置は、光
ディスクに情報を記録する光ディスク装置において、光
スポットの進行方向を内周から外周方向とし、所定の試
し記録領域を内周側から使用し、記録パワーを決定する
ために試し記録領域に所定のデータを書き込む試し記録
を行う手段と、試し記録に用いる記録パワーを所定の記
録領域において所定の範囲毎に低パワー側から高パワー
側に更新する手段とを備える。
【0021】本発明に係る第4の光ディスク装置は、光
ディスクに情報を記録する装置において、光スポットの
進行方向を外周から内周方向とし、所定の試し記録領域
を外周側から使用し、記録パワーを決定するために試し
記録領域に所定のデータを書き込む試し記録を行う手段
と、試し記録に用いる記録パワーを所定の記録領域にお
いて所定の範囲毎に低パワー側から高パワー側に更新す
る手段とを備える。
【0022】本発明に係る第5の光ディスク装置は、光
ディスクに情報を記録する装置において、光スポットの
進行方向を外周から内周方向とし、所定の試し記録領域
を内周側から使用し、記録パワーを決定するために試し
記録領域に所定のデータを書き込む試し記録を行う手段
と、試し記録に用いる記録パワーを所定の記録領域にお
いて所定の範囲毎に高パワー側から低パワー側に更新す
る手段とを備える。
【0023】本発明に係る第6の光ディスク装置は、光
ディスクに情報を記録する光ディスク装置において、記
録パワーを決定するために光ディスクの所定の領域に所
定のデータを書き込む試し記録を行う手段と、所定の領
域への試し記録中に記録が中断した場合に、その記録が
中断した前記所定の領域に再度所定のパワーで記録を行
う手段とを備える。
【0024】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態における
光ディスク装置について、図面を参照しながら説明す
る。
【0025】<1.光ディスク装置の構成>図1に本発
明の実施の形態における光ディスク装置の構成を示す。
図1において、光ディスク装置は光ディスク101に情
報を記録する装置であって、光ヘッド102、再生部1
03、再生信号品質検出部104、最適記録パワー決定
部105、記録部106、レーザ駆動回路107、記録
パワー設定部108及び試し記録領域探索部109を備
える。ここで、光ディスク101は同一箇所に一度だけ
記録することができる追記型の光ディスクである。
【0026】<2.光ディスクのデータ構造>図2は本
実施の形態における光ディスク101上に論理的に設け
られた領域を示した図である。図2に示すように、光デ
ィスク101は、ディスクタイプ等が記載されたコント
ロール領域201、データを記録するために最も適した
記録パワー(最適記録パワー)を決定するための試し記
録領域202及びデータ領域203を有する。ここで、
少なくとも試し記録領域202とデータ領域203は、
溝状のトラックがスパイラル状につながった構成となっ
ていて、そのトラックに情報が記録される。なお、トラ
ックはブロック、セクタ、フレームと呼ばれる単位から
構成され、複数のフレームから一つのセクタが構成さ
れ、複数のセクタから一つのブロックが構成される。
【0027】ブロックはエラー訂正の施された、まとま
った記録単位であり、少なくともデータ領域203では
ブロック単位で記録が行われる。本実施の形態では、試
し記録領域202において、複数の記録パワーで試し記
録を行い、セクタ単位で記録パワーを更新しているが、
記録パワーの更新タイミングはこれに限らずブロック単
位でもフレーム単位でも良い。
【0028】また、コントロール領域201には、凹凸
のピットで初期情報が記録されていても良いし、データ
領域203と同様に溝状のトラックから構成されてい
て、工場出荷前等に、データ領域203に記録するのと
同様の光学的な手段により初期情報が記録されていても
良い。
【0029】なお、本実施の形態では、試し記録領域2
02はコントロール領域201の内側に配置されるが、
試し記録領域202の位置はこれに限らず、例えばデー
タ領域203に隣接して配置されても良い。
【0030】ディスクの反りを考慮したとき、試し記録
領域202とデータ領域203の距離が近いほど反りの
程度も近くなり、より正確に記録パワーを求めることが
できる。例えば、試し記録領域202に反りがあって、
データ領域203に反りがない場合には、照射ビームは
試し記録領域202では、垂直に照射されないため、垂
直に照射された場合よりも余分な照射パワーが必要とな
る。そのような状態で決定された記録パワーはデータ領
域203ではオーバーパワーとなってしまい、正しくデ
ータを記録することができなくなる。
【0031】<3.光ディスク装置の動作>(最適記録
パワー決定動作)以下、光ディスク装置の最適記録パワ
ーを決定する際の動作について説明する。
【0032】光ディスク101が光ディスク装置に装着
され、ディスクタイプの識別や回転制御等の所定動作が
終了すると、光ヘッド102は最適記録パワーを設定す
るために、試し記録領域202に移動する。なお、最適
記録パワーの設定を行うのは、ディスク装着時に限ら
ず、例えば光ディスク装置内の温度をモニタしておい
て、記録時に所定の温度範囲に入っていない場合にも行
なうようにしても良い。
【0033】光ヘッド102が試し記録領域202に到
着し、再生を開始すると、記録マークの有無により変化
する信号111が、試し記録領域探索部109に入力さ
れる。ここで、信号111は光ディスク101からの全
反射信号の和成分であり、記録ピット部分では反射光量
が低下するため、信号強度も低下する。
【0034】試し記録領域探索部109は試し記録を行
うための未記録領域を検出する。すなわち、試し記録領
域探索部109は信号111に基き、その再生領域が未
記録領域であるか否かを判定する。具体的には、試し記
録領域探索部109は、信号111が所定量以上の領域
もしくは時間において、所定の信号レベル以上であるか
どうかを判定し、その判定結果を信号112として、最
適記録パワー決定部105に出力する。なお、試し記録
を行うことのできる未記録領域が見つからなかった場合
は、所定量だけ離れたトラックにジャンプしてそこで同
様の処理を行う。
【0035】図3は試し記録領域202を模式的に示し
た図であり、試し記録領域内の各セクタの記録状態を表
している。図3において、×印が付加されたセクタは記
録済みのセクタであることを示す。本実施の形態では、
光スポットの進行方向は内周から外周の方向とし、試し
記録領域は外周側の領域から使用されるものとする。
【0036】ここで、試し記録領域を外周側から使用す
るとは、例えば、1つの最適パワーの決定動作において
3本のトラックが使用されるとすると、1回目の最適記
録パワーの決定後に、2回目の最適記録パワーの決定を
行なう際には、1回目に使用した3本のトラックの更に
内側の3本のトラックを使用することを意味する。
【0037】試し記録を行うことのできる領域が早く見
つかるほど、早く記録パワーを決定でき、速やかにデー
タの記録に移行できることから、試し記録領域202の
ランダムな領域で試し記録を行うよりも、本実施の形態
のように、試し記録領域202の内周側、もしくは外周
側から順番に使用していくことが望ましく、さらに未記
録領域を残すことなく連続して記録していくことが望ま
しい。
【0038】なお、本実施の形態では、試し記録領域2
02においてデータ領域203に近い外周側の領域から
使用している。外周側の方が内周側に比べて、ディスク
の反り状態や、記録膜の成膜状態がデータ領域203の
状態に近いことから、より正確に最適パワーを決定する
ことができる。
【0039】また、本実施の形態では、試し記録領域2
02はコントロール領域201の内周側に配置している
が、外周側に配置してもよい。試し記録領域202をデ
ータ領域203により近い位置に設定することにより、
試し記録領域202におけるディスクの反り状態や記録
膜の成膜状態がデータ領域203での状態に近づくこと
から、より正確に最適パワーを決定することができる。
【0040】すなわち、ランダムな領域で試し記録を行
う場合には、例え十分な量の未記録領域が残されている
場合でも、試し記録領域探索部109は、未記録領域の
量を毎回調べる必要があり、試し記録を行うまでに多く
の時間を要するが、内周側もしくは外周側から順番に試
し記録を行う場合には、記録領域と未記録領域の境界部
を見つければ良いので、短時間で試し記録を行う領域を
探索することができる。また、ランダムな領域で試し記
録を行う場合には、最適記録パワーを決定するのに不十
分な量の未記録領域を残すことにより、最適記録パワー
を求めることのできる回数が減少する。
【0041】図4は試し記録の手順を説明するための図
である。図4(a)は試し記録領域202の各セクタ3
01、302、…を示したものである。ここで×印のあ
るセクタ307は記録済みのセクタであり、セクタ30
7以降のセクタ(図示せず)も記録済みとする。また、
セクタ301以前のセクタは未記録であるとし、一連の
試し記録はセクタ番号が大きくなる方向に行われるもの
とする。ここでは、セクタ306以前のセクタが未記録
であることを判定し、セクタ303から試し記録を開始
する場合を説明する。図4(b)は記録部106から出
力される信号116を示す。図4(c)は、図4(a)
の各セクタに対応して設定された記録パワーの値を示
す。図4(d)は各セクタに記録されるマークの種類を
示す。
【0042】試し記録領域探索部109により試し記録
を行うための領域が検出されると、セクタ毎に記録パワ
ーを変化させながら試し記録を行う。複数の記録パワー
が予め記録パワー設定部108に設定されており、記録
部106から出力される信号116により記録パワーの
設定値が順次更新される。本実施の形態においては一例
として1回の試し記録で4種類の記録パワーで試し記録
を行うものとし、記録パワー設定部108には初期値と
して10mW、11mW、12mW、13mWが設定さ
れている(図4(c)参照)。
【0043】なお、記録パワーの初期値は、予め記録パ
ワー設定部108以外のメモリ(図示せず)に記憶され
ていても良い。また、光ディスク101のコントロール
領域201に記録されているディスクの推奨記録パワー
を基にして演算等により設定しても良い。あるいは、過
去に光ディスク101に記録した実績がある場合には、
そのときの記録パワーを基にして演算等により設定して
も良い。また、記録パワーの種類は4種類以上であって
も良い。
【0044】記録部106は、一方で所定のセクタにお
いて記録を行うための信号117をレーザ駆動回路10
7に出力し、光ヘッド102により、設定された記録パ
ワーで記録する。
【0045】レーザ駆動回路107の一例を図5に示
す。レーザ駆動回路107は再生時の電流源501と、
記録時の電流源502と、スイッチ503とを備える。
再生時には、光ヘッド102の構成要素である半導体レ
ーザ504は、電流源501で設定された再生パワーで
発光している。記録時の電流減502の電流の大きさは
信号115により設定される。スイッチ503は、Hレ
ベルの信号が入力されるとON状態となり、電流源50
1と電流源502の和電流が半導体レーザ504に流れ
る。これにより、半導体レーザ504は記録パワー設定
部108により設定された記録パワーで発光する。
【0046】次に信号117について説明する。試し記
録を行う際の信号として本実施の形態では、記録部10
6内に3T連続信号と11T連続信号が準備されている
(図4(d)参照)。3T連続信号とは基準周期をTと
したときに、3Tの間隔を置いて、3Tのピット部を記
録する、すなわち6T間隔毎に3T長さのピットを記録
するための信号である(図4(g)参照)。図4(g)
に示す信号は記録部106内で、パルス幅等の調整をさ
れて図4(h)に示す信号となる。
【0047】同様に、11T連続信号は22T間隔毎に
11T長さのピットを記録するための信号である(図4
(i)参照)。図4(i)に示す信号は記録部106内
で、マルチパルス化や各パルス幅の調整をされて図4
(j)に示す信号となる。ここで、図4(h)に示す信
号、図4(j)に示す信号409が信号117となって
レーザ駆動回路107に入力される。以上のような構成
により、連続する3T長さのピットと、それに続く、連
続する11T長さのピットが各セクタ毎に形成される。
【0048】記録が終わると、光ヘッド102の構成要
素である半導体レーザ504は再生パワーで発光し、さ
きほど記録を行ったトラックを再生し、再生信号として
光ディスク101上の記録マークの有無により変化する
信号110が再生部103に入力される。再生信号11
0は再生部103で増幅等の再生信号処理を受け、信号
111が再生信号品質検出部104に入力される。
【0049】ここで、信号111の一例を図4(e)に
示す。図4(e)は各記録パワーにおける各信号の上限
レベルと下限レベルを模式的に示したものである。上限
レベルはピット間の未記録部の反射率に依存し、下限レ
ベルはピット部の反射率に依存する。ピットが大きくな
るほど、光ビームのスポットに占めるピットの割合が増
加し、反射率が低下する。図4(e)に示すように、1
1T信号では上限レベル、下限レベルともに記録パワー
の大きさにあまり依存せず、3T信号では記録パワーが
大きくなるほど上限レベル、下限レベルともに低下す
る。
【0050】再生信号品質検出部104は信号111の
信号品質を検出し、検出結果を信号113として最適記
録パワー決定部105に入力する。本実施の形態では、
再生信号品質として、3T信号と11T信号の「アシン
メトリ値」を検出し、最適記録パワー決定部105に出
力する。
【0051】以下、図6を参照しながらアシンメトリ値
の検出方法を説明する。図6は信号111の3T信号と
11T信号を拡大したものである。アシンメトリ値Aは
以下の計算式で求めることができる。
【0052】A={(3TH+3TL)/2−(11TH
+11TL)/2)}/(11TH−11TL) ここで、3THは3T信号の上限値、3TLは3T信号の
下限値である。11THは11T信号の上限値、11TL
は11T信号の下限値である。
【0053】各記録パワーにおけるアシンメトリ値をプ
ロットしたものを図4(f)に示す。3T信号の平均レ
ベルが11T信号の平均レベルに対して、上にあるか下
にあるかで符合が逆転する。最適記録パワー決定部10
5はアシンメトリ値の符合が逆転する前後の記録パワー
の平均値を最適記録パワーとして決定する。ここでは、
符合が逆転する前後のパワーは、11mWと12mWで
あるので、符合が逆転する前後の記録パワーの平均値で
ある11.5mWを最適記録パワーとして決定する。
【0054】なお、本実施の形態では、再生信号品質検
出部104において、アシンメトリ値を検出している
が、エラーレートやジッター等を検出しても良い。最適
記録パワー決定部105は、例えば、エラーレートやジ
ッターが最小となる記録パワーを最適記録パワーと決定
することができる。
【0055】ここで、エラーレートは、記録した原信号
と再生した信号とを比較して、誤り率を求めて得られた
値であり、再生条件が等しければ、一般にエラーレート
が小さいほど正確な記録が行われている。また、ジッタ
ーは再生信号の原信号との時間的なずれのことであり、
一般にジッターが小さいほど正確な記録が行われてい
る。
【0056】また、再生信号品質検出部104は変調度
を検出してもよい。変調度は図12に示すように記録信
号が11T連続信号である場合は、次式で表される。な
お、記録信号は、3T連続信号と11T連続信号がつな
がった信号でもよく、また、ランダム信号でもよい。 変調度=(11TH−11TL)/11TH
【0057】また、再生信号品質検出部104は上記の
物理量を組み合わせて検出しても良く、アシンメトリ値
を検出することにより得られたパワーを基準にして、そ
の前後のパワーでさらに試し記録を行い、例えばジッタ
ーを検出することにより、最終的な最適記録パワーを決
定しても良い。上記の物理量を組み合わせることによ
り、より正確に最適記録パワーを決定することができ
る。
【0058】(最適記録パワー決定後の試し記録領域の
近接領域への記録)最適記録パワーが決定されると、試
し記録に使用したセクタ303、304…に近接するセ
クタ302に対し、決定した最適記録パワで信号が記録
される。このとき記録される信号は、セクタ303、3
04、305、306に記録したのと同様の3T連続信
号と11T連続信号がつながった信号でも良いし、ラン
ダム信号でも良い。
【0059】このように試し記録を行なったセクタに近
接するセクタ302に最適記録パワーで信号を記録する
ことにより、例えばセクタ303やセクタ304の記録
パワーが不足していて、次の回に試し記録を行う際に、
未記録領域検出部109が前記セクタ303、304を
誤って未記録領域と判定されるおそれがある場合でも、
セクタ302が最適な記録パワーで記録されていること
から、セクタ302を再生することにより、セクタ30
2以降(すなわち、セクタ303、304、…)が記録
済みの領域であると判定することができる。
【0060】なお、本実施の形態ではセクタ302にお
いて、最適な記録パワーで記録を行うが、最適な記録パ
ワーより大きいパワーで記録を行っても良い。
【0061】また、本実施の形態ではセクタ302のみ
に対し、最適な記録パワーでの記録を行うが、最適な記
録パワーでの記録は、セクタ302とともにその近傍の
セクタ群に対して行なっても良い。最適記録で記録する
領域が多いほど、次回に試し記録を行う際に、より確実
に未記録領域と記録領域の境界を探索することができ
る。特に、記録信号としてランダム信号を記録する場合
には、複数のセクタに記録を行うことにより、再生信号
の同期引き込みをより確実に行うことができ、より正確
にエラーレートを検出することができる。
【0062】また、本実施の形態では、試し記録を行っ
た領域の内周方向のセクタに最適記録パワーでの記録を
行ったが、最適記録パワー決定後に、試し記録を行った
領域の外周方向のセクタにも最適記録パワーで記録して
も良い。例えば、図3においてセクタ302〜305を
使用して最適記録パワーを決定後に、それらのセクタの
領域の内周と外周のセクタ301、306のそれぞれに
最適記録パワーで記録してもよい。このように試し記録
を行った領域の両側のセクタに最適記録パワーで記録す
ることにより、例えば、高い記録パワーから順に試し記
録を行った場合に、試し記録領域の後半部で低い記録パ
ワーが続くことによって、次回に試し記録を行う際に、
後半部を未記録領域と誤認識するという危険性を低減で
きるからである。
【0063】また、最適記録パワーでの記録を行った後
に、記録を行ったセクタを再生し、試し記録領域探索部
109により、記録済みであると判定できることを確認
しても良い。その際、例えばセクタ302が指紋等によ
り汚れていて、記録済みであると判定できなかった場合
には、セクタ301に再度記録を行う。このように記録
後に試し記録領域探索部109により、記録の有無を検
証することにより、次回に試し記録を行う際に、より確
実に未記録領域と記録領域の境界を探索することができ
る。
【0064】なお、本実施の形態では、試し記録を行っ
たセクタ303、304、305、306に隣接するセ
クタ302に最適な記録パワーでの記録を行うが、最適
な記録パワーでの記録は、それ以外のセクタでも良い。
例えば、セクタ301、302、303、304、30
5、306の6セクタが一つのブロックを形成している
ときに、各ブロックの所定の順番のセクタ、例えば1番
目のセクタ301に最適な記録パワーでの記録を行って
も良い。各ブロックの所定の順番のセクタに最適な記録
パワーで記録を行うことにより、他のセクタの記録状態
に関わらず、そのブロック内の所定の順番のセクタでの
記録の有無を調べれば、そのブロックが記録済みである
かどうかを速やかに判定することができる。
【0065】同様に、ディスクの所定の位相が検出でき
るときに、各トラックにおいて前記所定の位相となるセ
クタに最適記録パワーでの記録を行っても良い。例え
ば、45度の角度毎にアドレス領域を有する光ディスク
において、アドレス領域直後のセクタに最適記録パワー
での記録を行っても良い。あるいは、溝状のトラックと
溝間のトラックが1周毎につながりながらスパイラルを
構成するような光ディスクにおいて、前記溝状のトラッ
クと溝間のトラックの切り替わり直後のセクタに最適記
録パワーでの記録を行っても良い。
【0066】以上のように、アドレスフォーマットやト
ラックフォーマットの特徴により検出可能な位置に最適
記録パワーでの記録を行うことにより、その位置での記
録の有無を調べれば、近接する所定の領域が記録済みで
あるかどうかを速やかに判定することができる。
【0067】なお、上記の説明においては、スポット進
行方向に対して、低い記録パワーから順にパワーを変化
させながら試し記録を行っているが、記録パワーの変化
の設定はこれ以外でも良く、高い記録パワーから順にパ
ワーを変化させながら試し記録を行っても良い。高い記
録パワーから順に試し記録を行うことにより、例えば最
適記録パワーで後から記録したセクタ302において、
試し記録領域探索部109が誤って記録済みであると判
定できなかった場合でも、高い記録パワーにて記録した
セクタ303を記録済み領域と判定することができれ
ば、上記判定誤りの影響を最小限に抑えることができ
る。
【0068】すなわち、光スポットの進行方向が内周か
ら外周方向であり、試し記録領域を外周側から使用し、
所定の範囲毎に記録パワーを更新しながら試し記録を行
う際に、記録パワーを高パワー側から低パワー側に更新
することにより、より確実に未記録領域と記録領域の境
界を探索することができる。
【0069】次に上述した試し記録を行っても、最適記
録パワーが決定できない場合の処理方法を図7を用いて
説明する。
【0070】図7(a)〜(c)は1回目の試し記録を
行なったときのセクタ状態、記録パワー、アシンメトリ
値を示しており、図7(d)〜(f)はさらに2回目の
試し記録を行なったときのセクタ状態、記録パワー、ア
シンメトリ値を示している。図7において(a)、
(d)は試し記録領域202の各セクタの状態を示した
ものであり、×印のあるセクタは記録済みのセクタであ
る。図7(b)、(e)は各セクタに試し記録を行う際
の、各セクタを記録するパワーである。図7(c)、
(f)は記録を行った各セクタを再生したときのアシン
メトリ値をプロットしたものである。
【0071】図7(b)、(c)より、1回目の試し記
録を行った範囲ではパワー不足であることがわかる。原
因としては、光ディスク101に反りがあることや、光
ヘッド102の構成要素である対物レンズが汚れている
ことなどが考えられる。このような場合には、図7
(e)のように、セクタ708、709、710、30
1に、1回目よりも高いパワーで再度試し記録を行い、
続いて再生信号品質検出部104にてアシンメトリ値を
検出し、最適記録パワー決定部105にて符合が逆転す
る記録パワーが検出できたかどうかを調べる。図7
(e)、(f)に示すように符合が逆転する前後のパワ
ーは14mWと15mWであり、最適記録パワー決定部
105は、両記録パワーの平均値である14.5mWを
最適記録パワーと決定する。なお、2回目でも最適パワ
ーが決定できなかった場合には、同様の手順で3回目以
降を実施する。
【0072】なお、本実施の形態では、セクタ708、
709、710、301に1回目よりも高いパワーで再
度試し記録を行なっているが、1回目のパワー範囲と2
回目のパワー範囲の一部が重なっていても良い。1回目
と2回目で同程度のパワーで記録したセクタでは通常同
程度のアシンメトリ値が検出できることから、2つの結
果を比較することによって、ばらつきを考慮した、より
信頼性の高いアシンメトリ値を検出することができる。
【0073】なお、図8に2回目の試し記録が終了した
ときの、試し記録領域202の各セクタの記録状態を示
す。図8において×印のあるセクタは記録済みのセクタ
である。最適記録パワーが決定されると、セクタ707
とセクタ302に最適記録パワーにて記録する。このと
き記録する信号は、セクタ708、709、710、3
01に記録したのと同様の3T連続信号と11T連続信
号がつながった信号でも良いし、ランダム信号でも良
い。
【0074】セクタ707に最適記録パワーにて記録す
ることにより、例えばセクタ708やセクタ709の記
録パワーが不足していて、試し記録領域探索部109
が、それらのセクタ708、709を誤って未記録セク
タであると判定した場合でも、セクタ707には最適な
記録パワーで記録されていることから、セクタ707を
再生することにより、セクタ707以降(セクタ70
8、709、…)が記録済みの領域であると判定するこ
とができる。
【0075】さらに、セクタ302に最適記録パワーに
て記録することにより、セクタ303、304、305
やセクタ306の記録パワーが不足していて、試し記録
領域探索部109が、前記セクタを誤って未記録である
と判定した場合でも、セクタ302は最適な記録パワー
で記録されていることから、連続5セクタを再生するこ
とにより、これらの領域が記録済みの領域であると判定
することができる。
【0076】例えば、図9に示すように、1回目の試し
記録をセクタ907、908、909、910に行い、
2回目の試し記録をセクタ903、904、905、9
06に行った場合には、連続5セクタの再生では、記録
済みかどうかの判定を誤る危険性があるため、それ以上
のセクタの再生を行う必要があり、試し記録を行える領
域を探索するまでに余分な時間がかかる。この場合に、
2回目の試し記録をセクタ902、903、904、9
05に行い、セクタ901とセクタ906に最適記録パ
ワーにて記録することにより、連続5セクタを再生すれ
ば記録済みかどうかの判定が確実にできる。これによ
り、試し記録領域を探索するまでの時間を短縮すること
ができる。
【0077】以上のように、試し記録を行った領域に隣
接した領域に、その試し記録により決定された記録パワ
ーで記録を行うことにより、記録済み領域に対して、未
記録領域すなわち誤って試し記録可能な領域と判定する
のを防止することができるとともに、未記録領域を探索
するまでの時間を短縮することができる。
【0078】なお、前述の説明では、光スポットの進行
方向を内周から外周方向とし、試し記録領域を外周側か
ら使用するものとし、記録パワーを高パワーから低パワ
ーへ変化させながら、最適記録パワーを決定している。
光スポットの進行方向及び試し記録領域の使用方向につ
いての他の態様を図10に示す。なお、図10において
ケース(A)は前述した態様である。
【0079】図13、図14、図15、図16の各々
は、図10に示す各ケース(A)〜(D)を模式的に説
明した図である。図13〜図16において、最新の2回
のパワー学習において記録されたセクタに矢印が付され
ており、また、記録順に番号が付されている。ここで、
5番と10番を除き、矢印の太さは記録パワーの大きさ
を示している。すなわち、太い矢印ほど高い記録パワー
で記録されていることを示す。
【0080】ケース(A)では、スポット進行方向を内
周から外周方向とし、試し記録領域を外周側から使用す
る場合(図13参照)において、記録パワーの設定は高
パワーから低パワーに変化させながら行なう。これによ
り、光スポットが未記録領域と記録領域の境界を通過す
る直後に再生するセクタには高パワーで記録がなされる
ことになり、記録済みセクタを未記録セクタと誤認識す
る危険性を低減することができる。
【0081】さらに、ケース(A)のように、スポット
進行方向を内周から外周方向とし、試し記録領域を外周
側から使用する際に、最適記録パワーで記録を行なう領
域を試し記録領域の内周側にとることにより、光スポッ
トが未記録領域と記録領域の境界を通過する直後に再生
するセクタには最適記録パワーで記録がなされることに
なり、記録済みセクタを未記録セクタと誤認識する危険
性を低減することができる。
【0082】ケース(B)では、スポット進行方向を内
周から外周方向とし、試し記録領域を内周側から使用す
る場合(図14参照)において、記録パワーの設定を低
パワーから高パワーに変化させながら行なう。これによ
り、光スポットが記録領域と未記録領域の境界を通過す
る直前に再生するセクタには高パワーで記録がなされて
いることになり、記録済みセクタを未記録セクタと誤認
識する危険性を低減することができる。
【0083】さらにケース(B)のように、スポット進
行方向を内周から外周方向とし、試し記録領域を内周側
から使用する際に、最適記録パワーで記録する領域を試
し記録領域の外周側にとることにより、光スポットが記
録領域と未記録領域の境界を通過する直前に再生するセ
クタには最適記録パワーで記録がなされていることか
ら、記録済みセクタを未記録セクタと誤認識する危険性
を低減することができる。
【0084】ケース(C)では、スポット進行方向を外
周から内周方向とし、試し記録領域を外周側から使用す
る際に(図15参照)、記録パワー設定を低パワーから
高パワーに変化させる。これにより、光スポットが記録
領域と未記録領域の境界を通過する直前に再生するセク
タには高パワーで記録がなされていることになり、記録
済みセクタを未記録セクタと誤認識する危険性を低減す
ることができる。
【0085】さらに、ケース(C)のように、スポット
進行方向を外周から内周方向とし、試し記録領域を外周
側から使用する際に、最適記録パワーでの記録位置を試
し記録領域の内周側とすることにより、光スポットが記
録領域と未記録領域の境界を通過する直前に再生するセ
クタには最適記録パワーで記録がなされていることか
ら、記録済みセクタを未記録セクタと誤認識する危険性
を低減することができる。
【0086】ケース(D)では、スポット進行方向を外
周から内周方向とし、試し記録領域を内周側から使用す
る際(図16参照)に、記録パワー設定を高パワーから
低パワーに変化させる。これにより、光スポットが未記
録領域と記録領域の境界を通過する直後に再生するセク
タには高パワーで記録がなされていることから、記録済
みセクタを未記録セクタと誤認識する危険性を低減する
ことができる。
【0087】さらに、ケース(D)のように、スポット
進行方向を外周から内周方向とし、試し記録領域を内周
側から使用する際に、最適記録パワーでの記録位置を試
し記録領域の外周側とすることにより、光スポットが未
記録領域と記録領域の境界を通過する直後に再生するセ
クタには最適記録パワーで記録がなされていることか
ら、記録済みセクタを未記録セクタと誤認識する危険性
を低減することができる。
【0088】なお、図10に示した各態様においては、
光スポット進行方向と試し記録領域の使用方向に応じ
て、記録パワーと、最適記録パワーで記録される領域の
位置との双方を規定しているが、どちらか一方だけを規
定しても上記と同様の効果を奏する。
【0089】次に試し記録を行っている途中で記録が中
断した場合の処理について、図11を用いて説明する。
図11は光ディスク上の試し記録領域202を模式的に
示した図であり、同時に各セクタの記録状態も表してい
る。×印のあるセクタは記録済みのセクタである。本実
施の形態では、スポット進行方向は内周から外周の方向
とし、試し記録は外周側から行うものとする(ケース
(A)に対応)。
【0090】図11を参照し、1回目の試し記録におい
て、セクタ1103、1104、1105、1106に
記録する際に、例えば外乱によりサーボが外れ、セクタ
1103、1104の2つのセクタにしか記録ができて
いない。このとき、セクタ1103の更に内側のセクタ
1102、1101…においてもう一度試し記録をやり
直す前に、セクタ1105とセクタ1106に、予め設
定されている記録パワーで再度信号の記録を行う。この
ときの記録信号としては、セクタ1103、1104に
記録したのと同様の信号でも良いし、任意のダミーデー
タでも良い。
【0091】このように所定領域への試し記録中に記録
が中断した際に、中断のため記録ができなかった領域に
再記録を行うことにより、記録領域を連続させることが
でき、誤って試し記録可能な領域と判定するのを防止す
ることができる。
【0092】なお、本実施の形態では、記録中断により
記録できなかったセクタへの再記録は予め決められてい
た記録パワーで行っているが、この記録パワーは例えば
1回目の記録における最大パワーにする。最大パワーと
することにより、未記録領域検出部109において、よ
り確実に記録領域であると判別することができる。
【0093】また、記録の中断があった場合において、
更に内側のセクタ1102、1101…への2回目の試
し記録を行い、最適記録パワーを決定した後に、1回目
の試し記録において中断により記録できなかったセクタ
1105、1106に対して最適記録パワーで再記録し
ても良い。これにより、未記録領域検出部109におい
て、より確実に未記録領域と記録領域とを判別すること
ができる。
【0094】なお、本実施の形態では、記録中断のため
記録ができなかったセクタ1105と1106に再記録
を行っているが、再記録はセクタ1103、1104、
1105、1106に行っても良い。
【0095】なお、セクタの途中で記録が中断され、セ
クタの一部分にしか記録が行なわれなかった場合であっ
ても、そのセクタの記録部分を再生したときに記録領域
であることが判別できれば、その記録が中断されたセク
タの残りの未記録領域に対しては、再記録を行なわなく
てもよい。
【0096】なお、本実施の形態では、追記型の光ディ
スクについて説明したが、書き換え型の光ディスクにお
いても同様であり、例えば、記録中断により記録できな
かったセクタへの再記録を行っても良い。特に1回目の
記録と2回目以降の記録で記録性能が異なる場合には、
再記録を行うことにより、試し記録領域の記録性能を揃
えることができる。
【0097】書き換え型の光ディスクにおいて、試し記
録を行った領域に隣接した領域に、その試し記録により
決定した記録パワーで記録を行うことにより、少なくと
も1回目の記録では、記録領域と未記録領域の境界を明
確にすることができ、1回目の記録と2回目以降の記録
が混ざったセクタで試し記録を行うことが防止でき、正
確に最適な記録パワーを求めることができる。
【0098】同様に、書き換え型の光ディスクにおい
て、例えば光スポットの進行方向を内周から外周方向と
し、試し記録領域を外周側から使用し、所定の範囲毎に
記録パワーを更新しながら試し記録を行う際に、記録パ
ワーを高パワー側から低パワー側に更新しながら行なう
ことにより、より確実に未記録領域と記録領域の境界を
探索することができ、少なくとも1回目の記録では、記
録領域と未記録領域の境界を明確にすることができ、1
回目の記録と2回目以降の記録が混ざったセクタで試し
記録を行うことが防止でき、正確に最適な記録パワーを
求めることができる。
【0099】(多層光ディスクへの適用)上記の説明で
は、記録層が一層しかない単層ディスクにおける最適記
録パワーの決定方法について説明したが、以下に複数の
記録層を有する多層光ディスクに適用する場合を説明す
る。
【0100】図17は、読み出し光の入射面が同一であ
る二層の情報記録面を有する光ディスクの各層及び各層
に設けられた領域を説明した図である。同図に示すよう
に、光ディスク101bは、第1の基板1701、第1
の記録層1702、接着樹脂1703、第2の記録層1
704、第2の基板1705を含む。光ディスク101
bにはクランプ穴1706が設けられている。第1の記
録層1702には、試し記録領域1707、コントロー
ル領域1708、データ領域1709が設けられてい
る。第2の記録層1704には、試し記録領域171
0、コントロール領域1711、データ領域1712が
設けられている。
【0101】第1の基板1701及び第2の基板170
5はそれぞれ、第1の記録層1702及び第2の記録層
1704を保護するものであり、ポリカーボネート樹脂
等で形成される。第1の記録層1702のコントロール
領域1708は再生専用領域を有し、第1の記録層17
02に記録する際の照射パワー情報等が記録されてい
る。同様に第2の記録層1704のコントロール領域1
711も再生専用領域を有し、第2の記録層1704に
記録する際の照射パワー情報等が記録される。
【0102】図18は、多層光ディスク101bにおけ
る光スポットの進行方向、試し記録領域の使用方向、パ
ワーの変化方向等に関する種々の態様を示したテーブル
である。図19〜図26は、図18に示す各態様(a)
〜(h)をそれぞれ模式的に説明した図である。図19
〜図26において、最新の2回のパワー学習において記
録されたセクタに矢印が付され、また、記録順に番号が
付されている。ここで、5番と10番を除き、矢印の太
さは記録パワーの大きさを示している。すなわち、太い
矢印ほど高い記録パワーで記録されている。なお、試し
記録は、第1及び第2の記録層のいずれの層から開始し
てもよい。
【0103】図19〜図22に示す態様すなわちケース
(A)〜(D)では、第1の記録層と第2の記録層とで
光スポットの進行方向が同じであり、例えば、第1の記
録層は内周から外周に向かって記録が行なわれ、第2の
記録層も内周から外周へ向かって記録が行われる。図2
3〜図26の態様すなわちケース(E)〜(H)では、
第1の記録層と第2の記録層で光スポットの進行方向が
逆であり、例えば、第1の記録層は内周から外周に向か
って記録され、第2の記録層は外周から内周へ向かって
記録される。
【0104】以上のように構成することにより、多層光
ディスクにおいて、特に、2つの記録層に亘って連続デ
ータを記録する際の記録層の切替え時に光ピックアップ
が外周から内週まで戻る必要がないという効果を奏す
る。
【0105】
【発明の効果】本発明によれば、試し記録を行った領域
に近接した領域に、試し記録により決定した記録パワー
以上のパワーで記録を行う。これにより、記録済み領域
を未記録領域と誤認することが防止でき、確実に未記録
領域を検出できるとともに、未記録領域の探索時間を短
縮することができ、記録処理における高速化が可能とな
る。
【0106】また、例えば、光スポットの進行方向を内
周から外周方向とし、試し記録領域を外周側から使用
し、所定の範囲毎に記録パワーを更新しながら試し記録
を行う際に、記録パワーを高パワー側から低パワー側に
更新することにより、より確実に未記録領域と記録領域
の境界を探索することができる。
【0107】また、所定領域への試し記録中に記録が中
断した際に、中断した領域を含む所定領域に再度記録を
行うことにより、記録領域を連続させることができ、誤
って試し記録済み領域を、試し記録可能な領域(すなわ
ち未記録領域)であると判定するのを防止することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る光ディスク装置のブロック図
【図2】 光ディスク上に論理的に設けられた領域を示
す図
【図3】 試し記録領域と、その領域内の各セクタの記
録状態を示した図
【図4】 (a)試し記録領域の各セクタ、(b)記録
部の出力信号、(c)各セクタに対する試し記録のため
の記録パワーの値、(d)各セクタに記録されるマーク
の種類、(e)再生部の出力信号、(f)アシンメトリ
値、(g)3T連続信号、(h)パルス幅調整された3
T連続信号、(i)11T連続信号、及び(j)パルス
幅調整された11T連続信号をそれぞれ示した図
【図5】 レーザ駆動回路のブロック図
【図6】 アシンメトリの検出方法を説明するための図
【図7】 (a)〜(c)は1回目の試し記録を行なっ
たときのセクタ、記録パワー、アシンメトリ値をそれぞ
れ示し、(d)〜(f)はさらに2回目の試し記録を行
なったときのセクタ、記録パワー、アシンメトリ値をそ
れぞれ示した図
【図8】 2回目の試し記録が終了した状態における、
試し記録領域のセクタの記録状態を示した図
【図9】 試し記録領域の記録状態を示した図
【図10】 光ディスクにおける光スポットの進行方向
及び試し記録領域の使用方向についての種々の態様を示
したテーブル
【図11】 光ディスク上の試し記録領域を模式的に示
した図
【図12】 再生信号品質検出部で検出される変調度を
説明するための図
【図13】 光ディスクにおける光スポットの進行方向
及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を説明
した図
【図14】 光ディスクにおける光スポットの進行方向
及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を説明
した図
【図15】 光ディスクにおける光スポットの進行方向
及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を説明
した図
【図16】 光ディスクにおける光スポットの進行方向
及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を説明
した図
【図17】 多層光ディスクの構成を示した図
【図18】 多層光ディスクにおける光スポットの進行
方向及び試し記録領域の使用方向についての種々の態様
を示したテーブル
【図19】 多層光ディスクにおける光スポットの進行
方向及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を
説明した図
【図20】 多層光ディスクにおける光スポットの進行
方向及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を
説明した図
【図21】 多層光ディスクにおける光スポットの進行
方向及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を
説明した図
【図22】 多層光ディスクにおける光スポットの進行
方向及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を
説明した図
【図23】 多層光ディスクにおける光スポットの進行
方向及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を
説明した図
【図24】 多層光ディスクにおける光スポットの進行
方向及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を
説明した図
【図25】 多層光ディスクにおける光スポットの進行
方向及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を
説明した図
【図26】 多層光ディスクにおける光スポットの進行
方向及び試し記録領域の使用方向についての一の態様を
説明した図
【符号の説明】
101 光ディスク(一つの記録層) 101b 多層光ディスク(複数の記録層) 102 光ヘッド 103 再生部 104 再生信号品質検出部 105 最適記録パワー決定部 106 記録部 107 レーザ駆動回路 108 記録パワー設定部 109 試し記録領域探索部 201 コントロール領域 202 試し記録領域 203 データ領域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊神 栄一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 小石 健二 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5D090 AA01 BB04 CC01 CC16 EE01 FF32 HH01 JJ12 KK03 LL08 5D119 AA23 BA01 BB03 DA01 EC09 HA19 HA45

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ディスクに対し情報を記録する際の記
    録パワーを決定する記録パワー決定方法において、 光ディスクの所定の領域に所定のデータを書き込む試し
    記録を行うことにより記録パワーを決定し、 前記所定の領域に近接する領域に対し、前記決定した記
    録パワー以上のパワーで記録を行うことを特徴とする記
    録パワー決定方法。
  2. 【請求項2】 前記光ディスクにおいて光スポットの進
    行方向は内周から外周へ向かう方向であり、前記所定の
    領域は、前記試し記録を行うために外周側の部分から使
    用され、 前記近接する領域は前記所定の領域において試し記録が
    行われた部分の内周側の領域であることを特徴とする請
    求項1記載の記録パワー決定方法。
  3. 【請求項3】 前記光ディスクにおいて光スポットの進
    行方向は内周から外周へ向かう方向であり、前記所定の
    領域は、前記試し記録を行なうために内周側から使用さ
    れ、 前記近接する領域は前記所定の領域において試し記録が
    行われた部分の外周側の領域であることを特徴とする請
    求項1記載の記録パワー決定方法。
  4. 【請求項4】 前記光ディスクにおいて光スポットの進
    行方向は外周から内周へ向かう方向であり、前記所定の
    領域は、前記試し記録を行なうために外周側から使用さ
    れ、 前記近接する領域は前記所定の領域において試し記録が
    行われた部分の内周側の領域であることを特徴とする請
    求項1記載の記録パワー決定方法。
  5. 【請求項5】 前記光ディスクにおいて光スポットの進
    行方向は外周から内周へ向かう方向であり、前記所定の
    領域は、前記試し記録を行なうために内周側から使用さ
    れ、 前記近接する領域は前記所定の領域において試し記録が
    行われた部分の外周側の領域であることを特徴とする請
    求項1記載の記録パワー決定方法。
  6. 【請求項6】 前記所定の領域内のテスト記録が直前に
    行なわれた領域の内側の及び外側の領域に、決定した記
    録パワーで記録を行うことを特徴とする請求項1記載の
    記録パワー決定方法。
  7. 【請求項7】 光ディスクに情報を記録する際の記録パ
    ワーを決定する方法であって、 光スポットの進行方向を内周から外周方向とし、所定の
    試し記録領域を外周側から使用しながら、前記記録パワ
    ーを決定するために前記試し記録領域に所定のデータを
    書き込む試し記録を行い、 前記試し記録に用いる記録パワーを前記所定の記録領域
    において所定の範囲毎に高パワー側から低パワー側に更
    新することを特徴とする記録パワー決定方法。
  8. 【請求項8】 光ディスクに情報を記録する際の記録パ
    ワーを決定する方法であって、 光スポットの進行方向を内周から外周方向とし、所定の
    試し記録領域を内周側から使用しながら、前記記録パワ
    ーを決定するために前記試し記録領域に所定のデータを
    書き込む試し記録を行い、 前記試し記録に用いる記録パワーを前記所定の記録領域
    において所定の範囲毎に低パワー側から高パワー側に更
    新することを特徴とする記録パワー決定方法。
  9. 【請求項9】 光ディスクに情報を記録する際の記録パ
    ワーを決定する方法であって、 光スポットの進行方向を外周から内周方向とし、所定の
    試し記録領域を外周側から使用しながら、前記記録パワ
    ーを決定するために前記試し記録領域に所定のデータを
    書き込む試し記録を行い、 前記試し記録に用いる記録パワーを前記所定の記録領域
    において所定の範囲毎に低パワー側から高パワー側に更
    新することを特徴とする記録パワー決定方法。
  10. 【請求項10】 光ディスクに情報を記録する際の記録
    パワーを決定する方法であって、 光スポットの進行方向を外周から内周方向とし、所定の
    試し記録領域を内周側から使用しながら、前記記録パワ
    ーを決定するために前記試し記録領域に所定のデータを
    書き込む試し記録を行い、 前記試し記録に用いる記録パワーを前記所定の記録領域
    において所定の範囲毎に高パワー側から低パワー側に更
    新することを特徴とする記録パワー決定方法。
  11. 【請求項11】 光ディスクに情報を記録する際の記録
    パワーを決定する方法であって、 前記記録パワーを決定するために、光ディスクの所定の
    領域に所定のデータを書き込む試し記録を行い、 前記所定の領域への試し記録中に記録が中断した場合
    に、その記録が中断した前記所定の領域に再度所定のパ
    ワーで記録を行うことを特徴とする記録パワー決定方
    法。
  12. 【請求項12】 光ディスクは追記型であることを特徴
    とする請求項1から11のいずれか1つに記載の記録パ
    ワー決定方法。
  13. 【請求項13】 光ディスクに情報を記録する光ディス
    ク装置において、 光ディスクの所定の領域に所定のデータを書き込む試し
    記録を行うことにより記録パワーを決定する記録パワー
    決定手段と、 前記所定の領域に近接する領域に対し、前記記録パワー
    決定手段により決定された記録パワー以上のパワーで記
    録を行う記録手段とを備えたことを特徴とする光ディス
    ク装置。
  14. 【請求項14】 前記光ディスクにおいて光スポットの
    進行方向は内周から外周へ向かう方向であり、前記所定
    の領域は、前記試し記録を行うために外周側の部分から
    使用され、 前記近接する領域は前記所定の領域において試し記録が
    行われた部分の内周側の領域であることを特徴とする請
    求項13記載の光ディスク装置。
  15. 【請求項15】 前記光ディスクにおいて光スポットの
    進行方向は内周から外周へ向かう方向であり、前記所定
    の領域は、前記試し記録を行なうために内周側から使用
    され、 前記近接する領域は前記所定の領域において試し記録が
    行われた部分の外周側の領域であることを特徴とする請
    求項13記載の光ディスク装置。
  16. 【請求項16】 前記光ディスクにおいて光スポットの
    進行方向は外周から内周へ向かう方向であり、前記所定
    の領域は、前記試し記録を行なうために外周側から使用
    され、 前記近接する領域は前記所定の領域において試し記録が
    行われた部分の内周側の領域であることを特徴とする請
    求項13記載の光ディスク装置。
  17. 【請求項17】 前記光ディスクにおいて光スポットの
    進行方向は外周から内周へ向かう方向であり、前記所定
    の領域は、前記試し記録を行なうために内周側から使用
    され、 前記近接する領域は前記所定の領域において試し記録が
    行われた部分の外周側の領域であることを特徴とする請
    求項13記載の光ディスク装置。
  18. 【請求項18】 前記所定の領域内のテスト記録が直前
    に行なわれた領域の内側及び外側の領域に、決定した記
    録パワーで記録を行うことを特徴とする請求項13記載
    の光ディスク装置。
  19. 【請求項19】 光ディスクに情報を記録する光ディス
    ク装置において、 光スポットの進行方向を内周から外周方向とし、所定の
    試し記録領域を外周側から使用し、記録パワーを決定す
    るために前記試し記録領域に所定のデータを書き込む試
    し記録を行う手段と、 前記試し記録に用いる記録パワーを前記所定の記録領域
    において所定の範囲毎に高パワー側から低パワー側に更
    新する手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装
    置。
  20. 【請求項20】 光ディスクに情報を記録する光ディス
    ク装置において、 光スポットの進行方向を内周から外周方向とし、前記所
    定の試し記録領域を内周側から使用し、記録パワーを決
    定するために前記試し記録領域に所定のデータを書き込
    む試し記録を行う手段と、 前記試し記録に用いる記録パワーを前記所定の記録領域
    において所定の範囲毎に低パワー側から高パワー側に更
    新する手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装
    置。
  21. 【請求項21】 光ディスクに情報を記録する光ディス
    ク装置において、 光スポットの進行方向を外周から内周方向とし、前記所
    定の試し記録領域を外周側から使用し、記録パワーを決
    定するために前記試し記録領域に所定のデータを書き込
    む試し記録を行う手段と、 前記試し記録に用いる記録パワーを前記所定の記録領域
    において所定の範囲毎に低パワー側から高パワー側に更
    新する手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装
    置。
  22. 【請求項22】 光ディスクに情報を記録する光ディス
    ク装置において、 光スポットの進行方向を外周から内周方向とし、前記所
    定の試し記録領域を内周側から使用し、記録パワーを決
    定するために前記試し記録領域に所定のデータを書き込
    む試し記録を行う手段と、 前記試し記録に用いる記録パワーを前記所定の記録領域
    において所定の範囲毎に高パワー側から低パワー側に更
    新する手段とを備えることを特徴とする光ディスク装
    置。
  23. 【請求項23】 光ディスクに情報を記録する光ディス
    ク装置において、 記録パワーを決定するために光ディスクの所定の領域に
    所定のデータを書き込む試し記録を行う手段と、 前記所定の領域への試し記録中に記録が中断した場合
    に、その記録が中断した前記所定の領域に再度所定のパ
    ワーで記録を行う手段とを備えたことを特徴とする光デ
    ィスク装置。
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