JP2002353251A - 半導体素子の実装構造 - Google Patents
半導体素子の実装構造Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 インジウムの電極上への塗布量を厳密に制御
し、半導体素子を電極上に確実に固着する。また、半導
体素子が発光素子である場合に発光効率の低下や色調の
バラツキを来すことなく発光素子を電極上に固着する。 【解決手段】 めっきにより電極2の上に形成したイン
ジウム膜3で半導体素子4を固着する。半導体発光素子
の発光効率の低下や色調のバラツキを一層防止する観点
から、インジウム膜3の膜厚は5〜10μmの範囲であ
るのが好ましい。また、半導体素子4がZnSe系発光
素子であると本発明の実装構造の効果が一層奏される。
し、半導体素子を電極上に確実に固着する。また、半導
体素子が発光素子である場合に発光効率の低下や色調の
バラツキを来すことなく発光素子を電極上に固着する。 【解決手段】 めっきにより電極2の上に形成したイン
ジウム膜3で半導体素子4を固着する。半導体発光素子
の発光効率の低下や色調のバラツキを一層防止する観点
から、インジウム膜3の膜厚は5〜10μmの範囲であ
るのが好ましい。また、半導体素子4がZnSe系発光
素子であると本発明の実装構造の効果が一層奏される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体素子の実装構
造に関し、より詳細には導電性接着剤としてインジウム
を用いる半導体素子の実装構造に関するものである。
造に関し、より詳細には導電性接着剤としてインジウム
を用いる半導体素子の実装構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体素子を搭載したチップ型半導体装
置などにおいて、チップ基板上に形成された電極に半導
体素子を固着するには、導電性接着剤であるインジウム
を電極上に塗布し、そこに半導体素子を載置し、インジ
ウムを加熱溶融した後冷却固化して固着していた。図3
に従来の実装構造を示す。まず、チップ基板1に形成さ
れた電極2の表面にピン7により溶融インジウム6を塗
布する(図3(a))。電極2上に塗布された溶融イン
ジウム6はその表面張力により電極2とある角度θをな
して液滴となる(同図(b))。次に、この溶融インジ
ウム6上に半導体素子4を載置する(同図(c))。そ
して、溶融インジウム7を冷却固化させて、半導体素子
4を電極2上に実装していた(同図(d))。
置などにおいて、チップ基板上に形成された電極に半導
体素子を固着するには、導電性接着剤であるインジウム
を電極上に塗布し、そこに半導体素子を載置し、インジ
ウムを加熱溶融した後冷却固化して固着していた。図3
に従来の実装構造を示す。まず、チップ基板1に形成さ
れた電極2の表面にピン7により溶融インジウム6を塗
布する(図3(a))。電極2上に塗布された溶融イン
ジウム6はその表面張力により電極2とある角度θをな
して液滴となる(同図(b))。次に、この溶融インジ
ウム6上に半導体素子4を載置する(同図(c))。そ
して、溶融インジウム7を冷却固化させて、半導体素子
4を電極2上に実装していた(同図(d))。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の実装構造では、インジウムの電極上への塗布
量を厳密に制御することは困難であり、充分に塗布され
なかったりあるいは必要以上に塗布されることがあっ
た。また半導体素子が発光素子である場合には、インジ
ウムが必要以上に塗布されると、インジウムが半導体素
子(発光素子)4の底面のみならず側面にも付着し、発
光素子4からの光の一部が遮られて発光効率の低下が生
じる。またZnSe系発光素子などの2色発光して白色
となる発光素子では、インジウムによる光遮断で2色発
光のバランスが崩れて色調にバラツキが生じる。
うな従来の実装構造では、インジウムの電極上への塗布
量を厳密に制御することは困難であり、充分に塗布され
なかったりあるいは必要以上に塗布されることがあっ
た。また半導体素子が発光素子である場合には、インジ
ウムが必要以上に塗布されると、インジウムが半導体素
子(発光素子)4の底面のみならず側面にも付着し、発
光素子4からの光の一部が遮られて発光効率の低下が生
じる。またZnSe系発光素子などの2色発光して白色
となる発光素子では、インジウムによる光遮断で2色発
光のバランスが崩れて色調にバラツキが生じる。
【0004】本発明はこのような従来の問題に鑑みてな
されたものであり、インジウムの電極上への塗布量を厳
密に制御し、半導体素子を電極上に確実に実装すること
をその目的とするものである。
されたものであり、インジウムの電極上への塗布量を厳
密に制御し、半導体素子を電極上に確実に実装すること
をその目的とするものである。
【0005】また本発明の目的は、半導体素子が発光素
子である場合に、発光効率の低下や色調のバラツキを来
すことなく発光素子を電極上に固着することにある。
子である場合に、発光効率の低下や色調のバラツキを来
すことなく発光素子を電極上に固着することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
本発明の実装構造は、めっきにより電極上に形成したイ
ンジウム膜で半導体素子を固着する構成とした。
本発明の実装構造は、めっきにより電極上に形成したイ
ンジウム膜で半導体素子を固着する構成とした。
【0007】ここで、発光素子の発光効率の低下や色調
のバラツキを一層防止する観点から、前記インジウム膜
の膜厚は5〜10μmの範囲であるのが好ましい。
のバラツキを一層防止する観点から、前記インジウム膜
の膜厚は5〜10μmの範囲であるのが好ましい。
【0008】また、本発明の実装構造の効果を充分に得
るには、半導体素子がZnSe系発光素子であるのが望
ましい。
るには、半導体素子がZnSe系発光素子であるのが望
ましい。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明者は、インジウムの電極上
への塗布量を厳密に制御でき、且つ半導体素子を電極上
に確実に実装できないか鋭意検討を重ねた結果、導電性
接着剤であるインジウムをめっきにより薄膜状に電極上
に形成し、この薄膜上に半導体素子を固着すればよいこ
とを見出し本発明をなすに至った。
への塗布量を厳密に制御でき、且つ半導体素子を電極上
に確実に実装できないか鋭意検討を重ねた結果、導電性
接着剤であるインジウムをめっきにより薄膜状に電極上
に形成し、この薄膜上に半導体素子を固着すればよいこ
とを見出し本発明をなすに至った。
【0010】図1に、本発明の実装構造の一例を示す工
程図を示す。同図(a)において、インジウム膜3を形
成しない部分をマスク部材Mでまず覆う。そして、めっ
きによりインジウム膜3を形成する(同図(b))。こ
こで用いるめっきの方法としては特に限定はなく、イン
ジウム膜3を形成できる従来公知のめっき方法を用いる
ことができる。例えば、電気めっきや無電解めっき、溶
融めっき等を用いることができるが、後述するような膜
厚を効率的に得るにはこの中でも電気めっきが好まし
い。
程図を示す。同図(a)において、インジウム膜3を形
成しない部分をマスク部材Mでまず覆う。そして、めっ
きによりインジウム膜3を形成する(同図(b))。こ
こで用いるめっきの方法としては特に限定はなく、イン
ジウム膜3を形成できる従来公知のめっき方法を用いる
ことができる。例えば、電気めっきや無電解めっき、溶
融めっき等を用いることができるが、後述するような膜
厚を効率的に得るにはこの中でも電気めっきが好まし
い。
【0011】電気めっきの条件としては特に限定はな
く、得たい膜厚などから適宜決定すればよい。例えば、
電解液としてメタンスルホン酸インジウムを主成分とし
たもの、温度は常温、電解液pHは1.5〜3.0、陰
極電流密度は0.5〜5A/dm2といった条件が挙げ
られる。
く、得たい膜厚などから適宜決定すればよい。例えば、
電解液としてメタンスルホン酸インジウムを主成分とし
たもの、温度は常温、電解液pHは1.5〜3.0、陰
極電流密度は0.5〜5A/dm2といった条件が挙げ
られる。
【0012】形成するインジウム膜3の膜厚は、半導体
素子の種類や大きさ等から適宜決定すればよいが、生産
性を向上させると共に発光素子の発光効率の低下や色調
のバラツキを抑えるためには5〜10μmの範囲が好ま
しい。膜厚が5μmより薄いと、充分な接着効果が得ら
れないおそれがあり、他方10μmより厚いと発光素子
の発光効率の低下や色調のバラツキが生じるおそれがあ
るからである。
素子の種類や大きさ等から適宜決定すればよいが、生産
性を向上させると共に発光素子の発光効率の低下や色調
のバラツキを抑えるためには5〜10μmの範囲が好ま
しい。膜厚が5μmより薄いと、充分な接着効果が得ら
れないおそれがあり、他方10μmより厚いと発光素子
の発光効率の低下や色調のバラツキが生じるおそれがあ
るからである。
【0013】また、インジウム膜の平面形状は、固着さ
せる半導体素子の固着面形状に合わせて適宜決定すれば
よい。また、インジウム膜の面積は半導体素子の固着面
面積の1.1〜1.5倍の範囲が好ましい。インジウム
膜の面積が半導体素子の固着面面積の1.1倍よりも小
さいと、半導体素子を充分に固着できないおそれがあ
り、他方1.5倍よりも大きいと半導体素子の固着に寄
与しない無駄なインジウム膜部分が多くなるからであ
る。
せる半導体素子の固着面形状に合わせて適宜決定すれば
よい。また、インジウム膜の面積は半導体素子の固着面
面積の1.1〜1.5倍の範囲が好ましい。インジウム
膜の面積が半導体素子の固着面面積の1.1倍よりも小
さいと、半導体素子を充分に固着できないおそれがあ
り、他方1.5倍よりも大きいと半導体素子の固着に寄
与しない無駄なインジウム膜部分が多くなるからであ
る。
【0014】同図(c)において、電極2上に形成した
インジウム膜3に半導体素子4を載置する。ここで、用
いる半導体素子4としては特に限定はなく、従来公知の
半導体素子、例えば発光素子や受光素子、複合素子など
を用いることができる。特に半導体素子が発光素子の場
合には、素子側面に必要以上のインジウムが付着するこ
とがない本発明の実装構造をより有効に適用できる。さ
らには、発光素子の中でもZnSe系発光素子の場合に
特に有効に本発明の実装構造を適用できる。ここで、Z
nSe系発光素子とは、自己励起光の中心をドープした
ZeSe基板の上に、ZnSe系薄膜をエピタキシャル
成長させ、LED素子として薄膜を青色発光させ、この
青色光を基板通過させて黄色や黄緑色の自己励起発光さ
せ、この両光を混色して白色を出す発光素子をいう。
インジウム膜3に半導体素子4を載置する。ここで、用
いる半導体素子4としては特に限定はなく、従来公知の
半導体素子、例えば発光素子や受光素子、複合素子など
を用いることができる。特に半導体素子が発光素子の場
合には、素子側面に必要以上のインジウムが付着するこ
とがない本発明の実装構造をより有効に適用できる。さ
らには、発光素子の中でもZnSe系発光素子の場合に
特に有効に本発明の実装構造を適用できる。ここで、Z
nSe系発光素子とは、自己励起光の中心をドープした
ZeSe基板の上に、ZnSe系薄膜をエピタキシャル
成長させ、LED素子として薄膜を青色発光させ、この
青色光を基板通過させて黄色や黄緑色の自己励起発光さ
せ、この両光を混色して白色を出す発光素子をいう。
【0015】そして次にインジウム膜3の溶融・固化に
よって半導体素子を電極上に固着する(同図(d))。
インジウム膜による固着方法としては加熱、超音波振動
あるいはカム等による機械的振動(いわゆるスクラブ)
による固着が挙げられる。
よって半導体素子を電極上に固着する(同図(d))。
インジウム膜による固着方法としては加熱、超音波振動
あるいはカム等による機械的振動(いわゆるスクラブ)
による固着が挙げられる。
【0016】加熱による固着の場合には、約200℃程
度まで加熱してインジウム膜3を溶融させた後、冷却固
化させて半導体素子4を電極2上に固着する。例えばリ
フロー炉にチップ型半導体装置を入れて半導体素子4を
固着していた従来の固着方法がここでもそのまま使用で
きる。
度まで加熱してインジウム膜3を溶融させた後、冷却固
化させて半導体素子4を電極2上に固着する。例えばリ
フロー炉にチップ型半導体装置を入れて半導体素子4を
固着していた従来の固着方法がここでもそのまま使用で
きる。
【0017】超音波振動およびスクラブによる固着の場
合には、金線ワイヤのセカンドボンディングの際に従来
から用いられている固着条件がここでも採用できる。半
導体素子4および電極2のいずれか一方又は双方を振動
させればよく、振動方向は水平方向、垂直方向のいずれ
でも構わない。
合には、金線ワイヤのセカンドボンディングの際に従来
から用いられている固着条件がここでも採用できる。半
導体素子4および電極2のいずれか一方又は双方を振動
させればよく、振動方向は水平方向、垂直方向のいずれ
でも構わない。
【0018】図2に、超音波振動により半導体素子4を
電極2上に固着する方法の一実施態様を示す。電極2の
表面に形成されたインジウム膜3上に半導体素子4を載
せる(図2(a))。そして、半導体素子4の上面を超
音波ホーン5で押圧し、超音波ホーン5を超音波振動さ
せる。超音波ホーン5からの振動は、半導体素子4のみ
ならず、半導体素子4を介して半導体素子底面および側
底部のインジウム膜3に伝わり、半導体素子4およびイ
ンジウム膜3、そして電極2を激しく超音波振動させる
(同図(b))。この超音波振動による摩擦熱でインジ
ウム膜3が溶融し半導体素子4は電極2上に固着される
(同図(c))。なお図2では、半導体素子4の上面に
超音波ホーン5を接触させているが、半導体素子4の側
面あるいは基板1の底面や側面に超音波ホーン5を接触
させて超音波振動させても構わない。
電極2上に固着する方法の一実施態様を示す。電極2の
表面に形成されたインジウム膜3上に半導体素子4を載
せる(図2(a))。そして、半導体素子4の上面を超
音波ホーン5で押圧し、超音波ホーン5を超音波振動さ
せる。超音波ホーン5からの振動は、半導体素子4のみ
ならず、半導体素子4を介して半導体素子底面および側
底部のインジウム膜3に伝わり、半導体素子4およびイ
ンジウム膜3、そして電極2を激しく超音波振動させる
(同図(b))。この超音波振動による摩擦熱でインジ
ウム膜3が溶融し半導体素子4は電極2上に固着される
(同図(c))。なお図2では、半導体素子4の上面に
超音波ホーン5を接触させているが、半導体素子4の側
面あるいは基板1の底面や側面に超音波ホーン5を接触
させて超音波振動させても構わない。
【0019】前記の加熱および超音波振動のいずれの方
法でも実使用上問題のない水準で半導体素子を電極上に
固着できるが、より迅速且つ強固に固着するには、超音
波振動又はスクラブにより半導体素子を電極に固着した
後、約200〜250℃に加熱してエージングを行うこ
とが推奨される。
法でも実使用上問題のない水準で半導体素子を電極上に
固着できるが、より迅速且つ強固に固着するには、超音
波振動又はスクラブにより半導体素子を電極に固着した
後、約200〜250℃に加熱してエージングを行うこ
とが推奨される。
【0020】
【発明の効果】本発明の実装構造では、めっきにより電
極上に形成したインジウム膜で半導体素子を固着する構
成としたので、インジウムの電極上への塗布量を厳密に
制御でき、半導体素子を電極上に確実に実装できる。ま
た、電極上の所定位置にインジウム膜を形成した基板を
予め作製しておき、この基板に半導体素子を実装する場
合には、従来のような半導体素子の実装時にインジウム
を塗布する工程は不要となるので半導体実装工程におけ
る作業効率が向上する。
極上に形成したインジウム膜で半導体素子を固着する構
成としたので、インジウムの電極上への塗布量を厳密に
制御でき、半導体素子を電極上に確実に実装できる。ま
た、電極上の所定位置にインジウム膜を形成した基板を
予め作製しておき、この基板に半導体素子を実装する場
合には、従来のような半導体素子の実装時にインジウム
を塗布する工程は不要となるので半導体実装工程におけ
る作業効率が向上する。
【0021】また、インジウム膜の膜厚を5〜10μm
の範囲にすると、半導体素子が発光素子である場合に発
光効率の低下や色調のバラツキを一層防止でき、さらに
は発光素子がZnSe系発光素子である場合にはその効
果がより一層奏される。
の範囲にすると、半導体素子が発光素子である場合に発
光効率の低下や色調のバラツキを一層防止でき、さらに
は発光素子がZnSe系発光素子である場合にはその効
果がより一層奏される。
【図1】 本発明の実装構造の一例を示す工程図であ
る。
る。
【図2】 超音波振動によるインジウム膜の溶融を説明
する図である。
する図である。
【図3】 従来の実装構造を示す工程図である。
1 チップ基板 2 電極 3 インジウム膜 4 半導体素子 5 超音波ホーン 6 溶融インジウム 7 ピン
Claims (3)
- 【請求項1】 めっきにより電極上に形成したインジウ
ム膜で半導体素子を固着することを特徴とする半導体素
子の実装構造。 - 【請求項2】 前記インジウム膜の膜厚が5〜10μm
の範囲である請求項1記載の実装構造。 - 【請求項3】 前記半導体素子がZnSe系発光素子で
ある請求項1又は2記載の実装構造。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001151836A JP2002353251A (ja) | 2001-05-22 | 2001-05-22 | 半導体素子の実装構造 |
US10/150,977 US6686607B2 (en) | 2001-05-22 | 2002-05-21 | Structure and method for mounting a semiconductor element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001151836A JP2002353251A (ja) | 2001-05-22 | 2001-05-22 | 半導体素子の実装構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002353251A true JP2002353251A (ja) | 2002-12-06 |
Family
ID=18996605
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001151836A Pending JP2002353251A (ja) | 2001-05-22 | 2001-05-22 | 半導体素子の実装構造 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6686607B2 (ja) |
JP (1) | JP2002353251A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017534178A (ja) * | 2014-10-31 | 2017-11-16 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 非磁性パッケージおよび製造方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9029200B2 (en) | 2010-07-15 | 2015-05-12 | Infineon Technologies Austria Ag | Method for manufacturing semiconductor devices having a metallisation layer |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2652072B2 (ja) * | 1990-02-26 | 1997-09-10 | キヤノン株式会社 | 遮光層の形成方法 |
US5818072A (en) * | 1992-05-12 | 1998-10-06 | North Carolina State University | Integrated heterostructure of group II-VI semiconductor materials including epitaxial ohmic contact and method of fabricating same |
JP3258764B2 (ja) * | 1993-06-01 | 2002-02-18 | 三菱電機株式会社 | 樹脂封止型半導体装置の製造方法ならびに外部引出用電極およびその製造方法 |
US5384267A (en) * | 1993-10-19 | 1995-01-24 | Texas Instruments Incorporated | Method of forming infrared detector by hydrogen plasma etching to form refractory metal interconnects |
KR0181615B1 (ko) * | 1995-01-30 | 1999-04-15 | 모리시다 요이치 | 반도체 장치의 실장체, 그 실장방법 및 실장용 밀봉재 |
JP3201957B2 (ja) * | 1996-06-27 | 2001-08-27 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 金属バンプ、金属バンプの製造方法、接続構造体 |
DE19747846A1 (de) * | 1997-10-30 | 1999-05-06 | Daimler Benz Ag | Bauelement und Verfahren zum Herstellen des Bauelements |
-
2001
- 2001-05-22 JP JP2001151836A patent/JP2002353251A/ja active Pending
-
2002
- 2002-05-21 US US10/150,977 patent/US6686607B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017534178A (ja) * | 2014-10-31 | 2017-11-16 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 非磁性パッケージおよび製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020175331A1 (en) | 2002-11-28 |
US6686607B2 (en) | 2004-02-03 |
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