JP2002343518A - フラットパックicソケット - Google Patents

フラットパックicソケット

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JP2002343518A
JP2002343518A JP2001147973A JP2001147973A JP2002343518A JP 2002343518 A JP2002343518 A JP 2002343518A JP 2001147973 A JP2001147973 A JP 2001147973A JP 2001147973 A JP2001147973 A JP 2001147973A JP 2002343518 A JP2002343518 A JP 2002343518A
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JP
Japan
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socket
sets
pressing
package
flat pack
Prior art date
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Application number
JP2001147973A
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English (en)
Inventor
Takahiro Oikawa
隆宏 及川
Hideki Sato
英樹 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaichi Electronics Co Ltd
Original Assignee
Yamaichi Electronics Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 種類の異なるICパッケージの組み合わせに
対応でき、検査作業スピードが速いフラットパックIC
ソケットを提供する。 【解決手段】 フラットパックICソケットは、2組の
コンタクト列をを左右対称に有する基板と、前記基板中
央に回動自在に設けられ、表裏にICパッケージのリー
ドを前記コンタクト列に押圧挟持する2組の押えパッド
を有する押え板とを備える。前記2組のコンタクト列と
前記2組の押えパッド各々は、異なる種類のICパッケ
ージに対応していてもよいし、同一のICパッケージの
対応していてもよい。さらに、前記2組の押えパッド
は、前記押え板の窓に設けられた回転自在の押え部材に
形成されていてもよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ICパッケージ検
査用ICソケットに関し、より詳細には、1つのソケッ
トにて2種類のICパッケージを交互に測定できるよう
にしたフラットパックICソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、2種類のICパッケージを検査で
きるようにしたICソケットは、押え板の押圧部を組み
替えるか、可動押え板の押圧部を表裏に設け、該押圧部
を回転させることなどにより、ICパッケージの検査
(測定)を実行してきた(例えば、特公平7−4662
5号公報等参照)。
【0003】図3に、従来のICソケットの1例を示
す。ICソケット20は、基板21、該基板21にヒン
ジ23を介して回動自在に取り付けられている押えカバ
ー22とからなる。
【0004】基板21は、リード29を有するガルウィ
ン形ICパッケージ28を搭載する領域に配置された複
数のコンタクト24を備えている。押えカバー22に
は、窓30が形成されており、該窓30内には、ICパ
ッケージを押える押え部材25が軸26を介して前記押
えカバー22に回動自在に配置されている。
【0005】押え部材25には、図に示されるように、
ICパッケージ28のリード29をコンタクト24とで
挟持するために、一対のパッド25a、25a及び25
b、25bが上下方向で対向している面(表裏)にそれ
ぞれ設けられている。一対のパッド25a、25a及び
25b、25bは、パッド25a、25a及び25b、
25bの間の間隔(幅)wが異なるように形成されてい
る。
【0006】また、前記軸26が貫通する前記押え部材
25の軸穴32は、前記軸26との間に若干の遊びがあ
り、すなわち、該軸穴32の径が軸26の径よりも若干
大きく形成されている。なお、27は、基板21に設け
られ、該基板21に押えカバー22の自由端をロック
(係止)するためのロックレバー、31は、押え部材2
5の回動を抑制し、かつ不用意な反転を防止するため
に、前記押えカバー22の窓30に突設され、押え部材
25の側面に弾接するバネ部材である。
【0007】異なる種類(幅)のICパッケージを検査
するときは、前記バネ部材31に抗して前記押え部材2
5を回動し、前記ICパッケージの幅に相当する幅を有
するパッドにより該ICパッケージ28のリード29を
コンタクト24との間で挟持することができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のICソケットにおいては、押え部材を回転あるいは
組み替えることにより1つのソケットでその幅や厚さ等
の異なる2種類以上のICパッケージを検査することが
可能であるが、ICソケットの基板側にある部材、例え
ば、コンタクトなどはそのままである。したがって、I
Cパッケージのリードのピッチが異なるもの、あるい
は、リードが2方向に設けられているICパッケージ
(SOP)とリードが4方向に設けられているICパッ
ケージ(QFP)の両方には対応できない。
【0009】本発明の目的は、上記問題点を解消し、全
く異なる種類のICパッケージの組み合わせにも対応で
き、及び/又は、検査作業スピードが速いフラットパッ
クICソケットを提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のフラットパックICソケットは、2組のコ
ンタクト列を左右対称に有する基板と、前記基板中央に
回動自在に設けられ、表裏にICパッケージのリードを
前記コンタクト列に押圧挟持する2組の押えパッドを有
する押え板とを備えることを特徴とする。
【0011】また、前記2組のコンタクト列と前記2組
の押えパッド各々は、異なる種類のICパッケージに対
応していてもよいし、同一のICパッケージの対応して
いてもよい。
【0012】さらに、前記2組の押えパッドは、前記押
え板の窓に設けられた回転自在の押え部材に形成されて
いてもよい。
【0013】また、本発明のフラットパックICソケッ
トは、前記押え板を前記基板に係止するロックレバーを
さらに備えていることが好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施例につき、図
1を用いて説明する。図1は、上記従来例を示す図3と
同様、本発明のフラットパックICソケットを断面した
図である。なお、図1では、搭載されるICパッケージ
は省略されている。
【0015】本発明のフラットパックICソケット10
は、2種類のICパッケージを搭載できるように、該2
種類のICパッケージに対応する対称的に配置された2
つのICソケット機構10a、10bからなる。
【0016】図1に示されるように、該フラットパック
ICソケット10を構成する基板1には、該基板1の中
央部にヒンジ部3を介して押え板2が回動自在に設けら
れ、側部には、該押え板2を係止するためのロックレバ
ー7a、7bが軸6a、6bを介して回動自在に且つ左
右対称に設けられている。さらに、該基板1には、2種
類のICパッケージのリードに電気的に接触できるよう
に、そのリードに対応する2種類(2組)のコンタクト
列4a、4bが前記ヒンジ部3を境にして左右対称に配
列されている。
【0017】該コンタクト列は、図に示されるように本
実施例では左右対称に2列配列されているが、前後方向
あるいは左右前後4方向全てに配列されていてもよい。
また、コンタクト列4a、4bのコンタクト間のピッチ
や、コンタクト列4a、4b間の幅は、2種類のICパ
ッケージに対応して異なっていてもよい。
【0018】押え板2は、上記したように基板2の中央
部に回動自在に設けられるとともに、対応するICパッ
ケージのリードを対応するコンタクト列4a、4bの個
々のコンタクトに押圧接触させるために、2組の押えパ
ッド2a、2bをその表裏にそれぞれ有する。すなわ
ち、前記2組のコンタクト列4a、4bと前記2組の押
えパッド2a、2bとで前記ICパッケージのリードを
押圧挟持する。該押えパッド2a、2bは、図において
コンタクト列と同様に、紙面に垂直な方向に延びてい
る。該押えパッド2a、2bは、また、基板1に配列さ
れているコンタクト列4a、4bと同様に、搭載される
ICパッケージの幅や厚さ(高さ)に対応して、それぞ
れ異なる幅や深さを有している。
【0019】検査ボード(図示せず)上に設置されるフ
ラットパックICソケット10は、例えば、今左側のI
Cソケット機構10aに搭載されるICパッケージの測
定を行っているとする。該左側のICパッケージの測定
が終了すると、続いて、右側のICソケット機構10b
上に搭載され、待機している、左側に搭載されているI
Cパッケージとは種類が異なるICパッケージの測定を
行うために、回動自在の押え板2を右側に回動し、押え
パッド2bにより該ICパッケージのリードをコンタク
ト4bに押圧接触させ、該ICパッケージの測定を行
う。
【0020】この右側のICパッケージの測定の間に、
左側のICパッケージを交換し、待機させておく。右側
のICパッケージの測定が終了すると、続いて、左側の
ICソケット機構10aに待機しているICパッケージ
の測定を行うために、回動自在の押え板2を左側に回動
し、押えパッド2aにより該ICパッケージのリードを
コンタクト4aに押圧接触させ、該ICパッケージの測
定を行う。以下これを繰り返す。
【0021】このようにICソケットを構成することに
より、種類の異なるICパッケージを連続的に交互に測
定することが可能となるとともに、種類の異なるICパ
ッケージの組み合わせを変えた該ICソケットを検査ボ
ード上に多数設けることにより、全ての種類のICパッ
ケージの測定に対応できる。
【0022】また、ICソケット上の2つのICソケッ
ト機構を同じ設定(ピッチや接触位置など)にすること
により、同じICパッケージを交互に測定することも可
能であり、測定スピードも上がる。
【0023】図2に本発明の第2の実施例を示す。第2
の実施例であるフラットパックICソケット10は、上
記第1の実施例において、図3に示される従来例と同様
に、押え板2に窓8を設け、該窓8内に軸9を介して回
動自在に押え部材5を備えている。
【0024】押え部材5には、その表裏に押えパッド5
a、5bが形成され、さらに幅あるいは高さの異なるI
Cパッケージに対応できるようにしてある。このように
構成することにより、第1の実施例に比べて幅や深さの
異なるICソケット機構を別途形成する必要がなくなり
スペースが少なくて済む。
【0025】
【発明の効果】本発明のフラットパックICソケット
は、以上述べたような構成を備えることにより、1つの
ICソケットでピッチ、接触位置など全てが異なるIC
パッケージが測定可能である。また、ICソケット機構
をヒンジ部を中心に対称位置に2つ備え、中央に取り付
けた押え板を前記ヒンジ部周りに回転させることによ
り、異なるICパッケージを交互に測定可能である。さ
らに、従来例のように押え板(押え部材)を取り替えあ
るいは回動切り替えする必要がなく、その測定作業のス
ピードも速まる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のフラットパックICソケットである第
1実施例の断面図及びその動作を説明するための図であ
る。
【図2】本発明のフラットパックICソケットである第
1実施例の断面図及びその動作を説明するための図であ
る。
【図3】従来のICソケットの断面図である。
【符号の説明】 1、21 基板 2 押え板 2a、2b、5a、5b、25a、25b 押えパッド 3 ヒンジ部 4a、4b、24 コンタクト 5、25 押え部材 6a、6b (ロックレバー用)軸 7a、7b、27 ロックレバー 8、30 窓 9、26 (押え部材用)軸 10 フラットパックICソケット 20 ICソケット(従来例) 22 押えカバー 23 ヒンジ 28 ICパッケージ 29 (ICパッケージの)リード 31 バネ部材 32 軸穴
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E021 FA05 FA09 FA20 FB03 FC31 HB01 5E024 CA09 CB04

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2組のコンタクト列を左右対称に有する
    基板と、 前記基板中央に回動自在に設けられ、表裏にICパッケ
    ージのリードを前記コンタクト列に押圧挟持する2組の
    押えパッドを有する押え板と、 を備えることを特徴とするフラットパックICソケッ
    ト。
  2. 【請求項2】 前記2組のコンタクト列と前記2組の押
    えパッド各々は、異なる種類のICパッケージに対応す
    ることを特徴とする請求項1に記載のフラットパックI
    Cソケット。
  3. 【請求項3】 前記2組のコンタクト列と前記2組の押
    えパッド各々は、同一のICパッケージに対応すること
    を特徴とする請求項1に記載のフラットパックICソケ
    ット。
  4. 【請求項4】 前記2組の押えパッドは、前記押え板の
    窓に設けられた回転自在の押え部材に形成されているこ
    とを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のフラ
    ットパックICソケット。
  5. 【請求項5】 前記押え板を前記基板に係止するロック
    レバーを、さらに備えていることを特徴とする請求項1
    乃至4のいずれかに記載のフラットパックICソケッ
    ト。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7893702B2 (en) 2008-01-07 2011-02-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for testing semiconductor device package and multilevel pusher thereof
CN104134896A (zh) * 2014-08-04 2014-11-05 江苏中寰卫星导航通信有限公司 一种户外用卫星数据接头
WO2017199937A1 (ja) * 2016-05-20 2017-11-23 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
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