JP2002322295A - ポリピロール類膜、その製造方法およびそれよりなる熱電材料 - Google Patents

ポリピロール類膜、その製造方法およびそれよりなる熱電材料

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(57)【要約】 【課題】 従来の有機熱電材料並みの実用可能性がある
高い熱電性能指数(ZT)を有し、かつ高い耐候性を示
すポリピロール類膜、その製造方法およびそれよりなる
熱電材料の提供。 【解決手段】 膜厚が0.42nm〜2000nmと薄
く、かつX線回折スペクトルに関して下記式 【数1】 を満足する結晶度を有することを特徴とするポリピロー
ル類膜、その製造方法およびそれよりなる熱電材料。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、熱電材料として有
用なポリピロール類膜、その製造方法およびそれよりな
る熱電材料に関する。
【0002】
【従来の技術】本発明者らは、ポリアニリン類の膜が熱
電材料として使用する可能性があることと、多層膜化や
延伸処理によりその熱電特性が向上できることを見出し
た(特願平11−126301、特願2000−148
31参照)。しかし、実用のためには、熱電特性の更な
る向上だけではなく高い耐候性も必要であることが分っ
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、従来
の有機熱電材料並みの実用可能性がある高い熱電性能指
数(ZT)を有し、かつ高い耐候性を示すポリピロール
類膜、その製造方法およびそれよりなる熱電材料を提供
する点にある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の第1は、膜厚が
0.42nm〜2000nm、好ましくは0.42nm
〜1000nm、特に好ましくは0.42nm〜480
nmと薄く、かつX線回折スペクトルに関して下記式
【数2】 を満足する結晶度を有することを特徴とするポリピロー
ル類膜に関する。本発明の第2は、50S・cm−1
上の高い導電率と2×10−5VK−1以上、好ましく
は4×10−5VK−1以上の大きなゼーペック係数お
よび300Kで無次元熱電性能指数(ZT)が0.01
以上、427Kで無次元熱電性能指数(ZT)が0.0
3以上と、従来報告されたポリアニリン類膜並みの値を
示すポリピロール類膜に関する。本発明の第3は、30
0Kで無次元熱電性能指数(ZT)が0.01以上、4
27Kで無次元熱電性能指数(ZT)が0.03以上で
ある請求項1または2記載のポリピロール類膜に関す
る。本発明の第4は、有機スルフォン酸塩類をドープし
た請求項1〜3いずれか記載のポリピロール類膜に関す
る。本発明の第5は、ピロール類と有機スルフォン酸塩
(溶液中で電流が流れるようにするための電解支持塩で
ある)を含む水溶液を用いて電解重合を行い、得られた
ポリピロール類膜をさらに追加電解処理することを特徴
とするポリピロール類膜の製造方法に関する。本発明の
第6は、請求項1〜4いずれか記載の熱電材料に関す
る。
【0005】なお、無次元熱電性能指数(ZT)は、
【数3】ZT=T×(Sσ/k) Sはゼーペック係数(VK−1)(絶対温度差1度当り
の起電力) σは導電率(10−2×S・cm−1) kは熱伝導率(Wm−1−1) Tは絶対温度 で示されるものである。
【0006】本発明における、電解重合法としては、定
電位法(電位を一定とする)、サイクリックボルンタメ
トリー法、定電流法(電流を一定とする)などがある
が、定電位法が好ましい。それは、定電位法が生産性に
優れているからである。電解重合は通常1時間以内、好
ましくは35分以内とする。これ以上長い間電解重合を
行うと電極上に品質のよいポリピロール類膜が形成され
ない。
【0007】これにひきつづいて追加電解処理を行う。
前記電解重合が電解液にピロール類と有機スルフォン酸
塩が含まれているのに対して、追加電解処理における電
解液には有機スルフォン酸塩しか含まれておらず、ピロ
ール類の重合はおこらず、ポリピロール類膜が多少追加
酸化されると思われる。追加電解処理を行うと、ポリピ
ロール類膜の導電率は処理時間の経過とともに次第に向
上し、少なくとも15%以上、好ましくは20%以上向
上する。そしてある段階、たとえば60%位向上した時
点をピークにしてその後は処理時間の経過と共に導電率
が低下の方向に向う。したがって工業的にはあらかじめ
特定の電解処理条件における最適処理時間を求めてお
き、その時間が経過したら、追加電解処理を終了するこ
とが必要である。
【0008】電解重合により得られたポリピロール類膜
は、追加電解処理をしない段階でもある程度の結晶度を
もつが、追加電解処理することにより結晶度が向上する
ことは、図3に示すXRDスペクトル図から明らかであ
る。導電率の向上という点では結晶質を多く含むことが
好ましく、完全な結晶であれば最高の導電率を示す。
【0009】結晶度の指標ともいうべき
【数4】 の意味するところは、追加電解処理前の前記式の値が約
0.4程度であったものが、0.5以上になったという
ことを示しており、これは結晶度が向上したことを示す
ものである。本発明の実施例のものでは、この数値が約
1になっており、大幅に結晶度が向上したことを示して
いる。
【0010】本発明のポリピロール類としては、下記式
のものを挙げることができる。
【化1】 式中、RとRは、水素、置換基を有することもある
アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アシル基およ
びアルコキシカルボニル基などを挙げることができる。
アルキル基としては、メチル、エチル、プロピル、ブチ
ル、sec−ブチル、tert−ブチルなどを例示する
ことができ、アリール基として、フェニル、ジフエニ
ル、トルイルなどを例示することができる。nは50以
上、このましくは100以上であり、条件によってはn
を10000程度とすることができる。
【0011】本発明で用いるドーピング剤や電解支持塩
としては、ポリピロール類に対する機能性酸塩類とく
に、トルエンスルフォン酸塩、ドデシルベンゼンスルフ
ォン酸塩、ナフタレンスルフォン酸塩、カンファースル
フォン酸塩などを挙げることができる。これらの塩は通
常アルカリ金属やアンモニウムの塩であり、とくにNa
の塩が一般的である。
【0012】
【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を説明するが、
本発明はこれにより何等限定されるものでない。
【0013】実施例1 ピロールの電解重合は、電極として平板状のITOガラ
ス電極を、対極に白金電極を用いて、0.25mol
dm−3のピロールと0.80mol dm のトル
エンスルフォン酸ナトリウムを含む水溶液中で、窒素下
に定電位800mV(vs.参考電極Ag/AgCl)
を30分かけて行った。生成した膜は、蒸留水とアセト
ニトリルで洗浄し、60℃で一晩真空乾燥した。このよ
うにしてポリピロール膜を得た。
【0014】このポリピロール膜を0.80mol d
−3のトルエンスルフォン酸ナトリウムを含む水溶液
中において、窒素下、定電位120mV(vs.参考電
極Ag/AgCl)で0.5時間、2時間、3時間、5
時間、7時間といろいろ時間を変えて電解処理を行っ
た。電解処理した膜は、蒸留水とアセトニトリルで洗浄
し、60℃で一晩真空乾燥した。このようにして図2
(A)および図3の実施例1のグラフに示すような高い
結晶度を有し、かつ図1に示す高い導電性をもつポリピ
ロール膜を得た。なお、電解重合と追加電解処理は、い
ずれも室温(27℃)、1気圧で行った。
【0015】比較例1 実施例1において、電解重合を行っただけで、ひきつづ
く電解処理を行わないポリピロール膜を比較例1とし
た。
【0016】図1は、ポリピロール膜の導電率と電解処
理時間の関係をプロット的に示したものであり、更なる
電解処理を3時間行ったときにもっとも高い導電率のポ
リピロール膜が得られることが分かる。
【0017】実施例1(電解処理時間3時間のもの)と
比較例1のポリピロール膜を走査型電子顕微鏡(SE
M)で観察すると、実施例1のポリピロール膜の方がよ
りち密であった(図2)。
【0018】また、実施例1(電解処理時間3時間のも
の)と比較例1のポリピロール膜をX線回折法(XR
D)で調べると、実施例1のポリピロール膜の方がより
結晶度が高かった(図3)。
【0019】
【発明の効果】本発明により、ポリピロール類としては
じめて、熱電材料として使用可能な高い熱電特性をもつ
ポリピロール類膜を提供できた。このポリピロール類膜
に電流を流すと、発熱するのが避けられないデバイス、
たとえばEL素子やLSIなどの冷却用膜として使用す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1で得られた膜の電解処理の時間による
導電率(σ)の変化を示すグラフである。
【図2】(A)は実施例1(電解処理3時間のもの)で
得られたポリピロール膜のSEM写真(3500倍)で
あり、(B)は比較例1のポリピロール膜のSEM写真
(500倍)である。
【図3】実施例1(電解処理3時間のもの)と比較例1
で得られたポリピロール膜のXRDスペクトルをしめ
す。図中、縦軸は強度I(単位はcounts per
second=cps)であり、横軸は回折角度(2
θ)であり、単位は度である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4F071 AA69 AA89 AF36Y AF37Y BA02 BB12 BC02 BC12 4J032 BA13 BB01 BC25 BC32 BD01

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 膜厚が0.42nm〜2000nmと薄
    く、かつX線回折スペクトルに関して下記式 【数1】 を満足する結晶度を有することを特徴とするポリピロー
    ル類膜。
  2. 【請求項2】 50S・cm−1以上の高い導電率と2
    ×10−5VK−1以上の大きなゼーベック係数を有す
    る請求項1記載のポリピロール類膜。
  3. 【請求項3】 300Kで無次元熱電性能指数(ZT)
    が0.01以上、427Kで無次元熱電性能指数(Z
    T)が0.03以上である請求項1または2記載のポリ
    ピロール類膜。
  4. 【請求項4】 有機スルフォン酸塩類をドープした請求
    項1〜3いずれか記載のポリピロール類膜。
  5. 【請求項5】 ピロール類と有機スルフォン酸塩を含む
    水溶液を用いて電解重合を行い、得られたポリピロール
    類膜をさらに追加電解処理することを特徴とするポリピ
    ロール類膜の製造方法。
  6. 【請求項6】 請求項1〜4いずれか記載の熱電材料。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63107957A (ja) * 1986-07-16 1988-05-12 クツクソン・グル−プ・ピ−エルシ− ピロ−ル単量体、ピロ−ル誘導体、それらの製造方法及びピロ−ル誘導体の共重合体
JPH0318009A (ja) * 1989-06-15 1991-01-25 Marcon Electron Co Ltd タンタル固体電解コンデンサの製造方法
JPH0371617A (ja) * 1989-08-10 1991-03-27 Nichicon Corp 固体電解コンデンサの製造方法
JPH0371618A (ja) * 1989-08-10 1991-03-27 Nichicon Corp 固体電解コンデンサの製造方法
JPH09216952A (ja) * 1996-01-08 1997-08-19 Elf Atochem Sa 伝導性ミクロフィブリルセルロースと、それを含む複合材料
JPH10306144A (ja) * 1997-05-08 1998-11-17 Toshio Kunugi ピロール系高分子フィルムまたは繊維の高感度伸縮方法
JPH11185837A (ja) * 1997-12-16 1999-07-09 Tamotsu Minami 熱再生型二次電池
JP2000323758A (ja) * 1999-05-06 2000-11-24 Science Univ Of Tokyo 有機熱電材料およびその製造方法
JP2001102258A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Nec Corp 導電性高分子膜の製造方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63107957A (ja) * 1986-07-16 1988-05-12 クツクソン・グル−プ・ピ−エルシ− ピロ−ル単量体、ピロ−ル誘導体、それらの製造方法及びピロ−ル誘導体の共重合体
JPH0318009A (ja) * 1989-06-15 1991-01-25 Marcon Electron Co Ltd タンタル固体電解コンデンサの製造方法
JPH0371617A (ja) * 1989-08-10 1991-03-27 Nichicon Corp 固体電解コンデンサの製造方法
JPH0371618A (ja) * 1989-08-10 1991-03-27 Nichicon Corp 固体電解コンデンサの製造方法
JPH09216952A (ja) * 1996-01-08 1997-08-19 Elf Atochem Sa 伝導性ミクロフィブリルセルロースと、それを含む複合材料
JPH10306144A (ja) * 1997-05-08 1998-11-17 Toshio Kunugi ピロール系高分子フィルムまたは繊維の高感度伸縮方法
JPH11185837A (ja) * 1997-12-16 1999-07-09 Tamotsu Minami 熱再生型二次電池
JP2000323758A (ja) * 1999-05-06 2000-11-24 Science Univ Of Tokyo 有機熱電材料およびその製造方法
JP2001102258A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Nec Corp 導電性高分子膜の製造方法

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