JP2002322295A - ポリピロール類膜、その製造方法およびそれよりなる熱電材料 - Google Patents
ポリピロール類膜、その製造方法およびそれよりなる熱電材料Info
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Abstract
高い熱電性能指数(ZT)を有し、かつ高い耐候性を示
すポリピロール類膜、その製造方法およびそれよりなる
熱電材料の提供。 【解決手段】 膜厚が0.42nm〜2000nmと薄
く、かつX線回折スペクトルに関して下記式 【数1】 を満足する結晶度を有することを特徴とするポリピロー
ル類膜、その製造方法およびそれよりなる熱電材料。
Description
用なポリピロール類膜、その製造方法およびそれよりな
る熱電材料に関する。
電材料として使用する可能性があることと、多層膜化や
延伸処理によりその熱電特性が向上できることを見出し
た(特願平11−126301、特願2000−148
31参照)。しかし、実用のためには、熱電特性の更な
る向上だけではなく高い耐候性も必要であることが分っ
た。
の有機熱電材料並みの実用可能性がある高い熱電性能指
数(ZT)を有し、かつ高い耐候性を示すポリピロール
類膜、その製造方法およびそれよりなる熱電材料を提供
する点にある。
0.42nm〜2000nm、好ましくは0.42nm
〜1000nm、特に好ましくは0.42nm〜480
nmと薄く、かつX線回折スペクトルに関して下記式
ル類膜に関する。本発明の第2は、50S・cm−1以
上の高い導電率と2×10−5VK−1以上、好ましく
は4×10−5VK−1以上の大きなゼーペック係数お
よび300Kで無次元熱電性能指数(ZT)が0.01
以上、427Kで無次元熱電性能指数(ZT)が0.0
3以上と、従来報告されたポリアニリン類膜並みの値を
示すポリピロール類膜に関する。本発明の第3は、30
0Kで無次元熱電性能指数(ZT)が0.01以上、4
27Kで無次元熱電性能指数(ZT)が0.03以上で
ある請求項1または2記載のポリピロール類膜に関す
る。本発明の第4は、有機スルフォン酸塩類をドープし
た請求項1〜3いずれか記載のポリピロール類膜に関す
る。本発明の第5は、ピロール類と有機スルフォン酸塩
(溶液中で電流が流れるようにするための電解支持塩で
ある)を含む水溶液を用いて電解重合を行い、得られた
ポリピロール類膜をさらに追加電解処理することを特徴
とするポリピロール類膜の製造方法に関する。本発明の
第6は、請求項1〜4いずれか記載の熱電材料に関す
る。
の起電力) σは導電率(10−2×S・cm−1) kは熱伝導率(Wm−1K−1) Tは絶対温度 で示されるものである。
電位法(電位を一定とする)、サイクリックボルンタメ
トリー法、定電流法(電流を一定とする)などがある
が、定電位法が好ましい。それは、定電位法が生産性に
優れているからである。電解重合は通常1時間以内、好
ましくは35分以内とする。これ以上長い間電解重合を
行うと電極上に品質のよいポリピロール類膜が形成され
ない。
前記電解重合が電解液にピロール類と有機スルフォン酸
塩が含まれているのに対して、追加電解処理における電
解液には有機スルフォン酸塩しか含まれておらず、ピロ
ール類の重合はおこらず、ポリピロール類膜が多少追加
酸化されると思われる。追加電解処理を行うと、ポリピ
ロール類膜の導電率は処理時間の経過とともに次第に向
上し、少なくとも15%以上、好ましくは20%以上向
上する。そしてある段階、たとえば60%位向上した時
点をピークにしてその後は処理時間の経過と共に導電率
が低下の方向に向う。したがって工業的にはあらかじめ
特定の電解処理条件における最適処理時間を求めてお
き、その時間が経過したら、追加電解処理を終了するこ
とが必要である。
は、追加電解処理をしない段階でもある程度の結晶度を
もつが、追加電解処理することにより結晶度が向上する
ことは、図3に示すXRDスペクトル図から明らかであ
る。導電率の向上という点では結晶質を多く含むことが
好ましく、完全な結晶であれば最高の導電率を示す。
0.4程度であったものが、0.5以上になったという
ことを示しており、これは結晶度が向上したことを示す
ものである。本発明の実施例のものでは、この数値が約
1になっており、大幅に結晶度が向上したことを示して
いる。
のものを挙げることができる。
アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アシル基およ
びアルコキシカルボニル基などを挙げることができる。
アルキル基としては、メチル、エチル、プロピル、ブチ
ル、sec−ブチル、tert−ブチルなどを例示する
ことができ、アリール基として、フェニル、ジフエニ
ル、トルイルなどを例示することができる。nは50以
上、このましくは100以上であり、条件によってはn
を10000程度とすることができる。
としては、ポリピロール類に対する機能性酸塩類とく
に、トルエンスルフォン酸塩、ドデシルベンゼンスルフ
ォン酸塩、ナフタレンスルフォン酸塩、カンファースル
フォン酸塩などを挙げることができる。これらの塩は通
常アルカリ金属やアンモニウムの塩であり、とくにNa
の塩が一般的である。
本発明はこれにより何等限定されるものでない。
ス電極を、対極に白金電極を用いて、0.25mol
dm−3のピロールと0.80mol dm− 3のトル
エンスルフォン酸ナトリウムを含む水溶液中で、窒素下
に定電位800mV(vs.参考電極Ag/AgCl)
を30分かけて行った。生成した膜は、蒸留水とアセト
ニトリルで洗浄し、60℃で一晩真空乾燥した。このよ
うにしてポリピロール膜を得た。
m−3のトルエンスルフォン酸ナトリウムを含む水溶液
中において、窒素下、定電位120mV(vs.参考電
極Ag/AgCl)で0.5時間、2時間、3時間、5
時間、7時間といろいろ時間を変えて電解処理を行っ
た。電解処理した膜は、蒸留水とアセトニトリルで洗浄
し、60℃で一晩真空乾燥した。このようにして図2
(A)および図3の実施例1のグラフに示すような高い
結晶度を有し、かつ図1に示す高い導電性をもつポリピ
ロール膜を得た。なお、電解重合と追加電解処理は、い
ずれも室温(27℃)、1気圧で行った。
く電解処理を行わないポリピロール膜を比較例1とし
た。
理時間の関係をプロット的に示したものであり、更なる
電解処理を3時間行ったときにもっとも高い導電率のポ
リピロール膜が得られることが分かる。
比較例1のポリピロール膜を走査型電子顕微鏡(SE
M)で観察すると、実施例1のポリピロール膜の方がよ
りち密であった(図2)。
の)と比較例1のポリピロール膜をX線回折法(XR
D)で調べると、実施例1のポリピロール膜の方がより
結晶度が高かった(図3)。
じめて、熱電材料として使用可能な高い熱電特性をもつ
ポリピロール類膜を提供できた。このポリピロール類膜
に電流を流すと、発熱するのが避けられないデバイス、
たとえばEL素子やLSIなどの冷却用膜として使用す
ることができる。
導電率(σ)の変化を示すグラフである。
得られたポリピロール膜のSEM写真(3500倍)で
あり、(B)は比較例1のポリピロール膜のSEM写真
(500倍)である。
で得られたポリピロール膜のXRDスペクトルをしめ
す。図中、縦軸は強度I(単位はcounts per
second=cps)であり、横軸は回折角度(2
θ)であり、単位は度である。
Claims (6)
- 【請求項1】 膜厚が0.42nm〜2000nmと薄
く、かつX線回折スペクトルに関して下記式 【数1】 を満足する結晶度を有することを特徴とするポリピロー
ル類膜。 - 【請求項2】 50S・cm−1以上の高い導電率と2
×10−5VK−1以上の大きなゼーベック係数を有す
る請求項1記載のポリピロール類膜。 - 【請求項3】 300Kで無次元熱電性能指数(ZT)
が0.01以上、427Kで無次元熱電性能指数(Z
T)が0.03以上である請求項1または2記載のポリ
ピロール類膜。 - 【請求項4】 有機スルフォン酸塩類をドープした請求
項1〜3いずれか記載のポリピロール類膜。 - 【請求項5】 ピロール類と有機スルフォン酸塩を含む
水溶液を用いて電解重合を行い、得られたポリピロール
類膜をさらに追加電解処理することを特徴とするポリピ
ロール類膜の製造方法。 - 【請求項6】 請求項1〜4いずれか記載の熱電材料。
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