JP2002297057A - 画像表示装置及びその製造方法 - Google Patents
画像表示装置及びその製造方法Info
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Abstract
応じて使い分け、微細化及び低抵抗化を可能とし、狭額
縁化を実現することが可能な画像表示装置及びこの画像
表示装置の製造方法を提供することを目的とする。 【解決手段】表示部と額縁部を有するアレイ基板100
を備え、表示部は、複数の配線と、配線と接続された複
数の薄膜トランジスタ121とを備え、配線は、第1配
線材料によって形成された第1配線層116S、116
Dと、第1配線材料とは異なる第2配線材料によって第
1配線層上に形成された第2配線層118S、118D
とを備えている。第1配線層におけるエッジ部の下層面
とのなす角度θ1が、第2配線層における下層面とのな
す角度θ2より大きいことを特徴とする。
Description
有機エレクトロ・ルミネセンス表示装置等の画像表示装
置及びその製造方法に係り、特に、微細加工が可能で低
抵抗なアレイ基板を備えた画像表示装置及びその製造方
法に関する。
備えるとともに同一基板上の額縁部に駆動回路を備えた
駆動回路一体型液晶表示装置において、大画面化に伴な
い、配線への高速の書き込みを容易にするために配線の
低抵抗化が要求されている。
薄膜トランジスタすなわちTFTを集積して、外部回路
を省くことが可能な構成の場合、TFTの高性能化が要
求されている。しかも、回路が複雑になると、規定の額
縁部に収めるためには、TFTのサイズを小さくする必
要が生じる。また、配線も幅を細くする必要が生じるた
め、低抵抗な材料が必要となる。
い材料が存在しないため、デバイス設計が困難である。
の方法により作成した液晶表示装置では、微細化と低抵
抗化とを同時に満たす材料がなく、デバイス設計が困難
となる問題が生じる。このため、額縁部における面積の
縮小や、基板上における有効表示部の面積の拡大が困難
となる。
たものであって、その目的は、微細化に適した材料及び
低抵抗な材料を役割に応じて使い分け、微細化及び低抵
抗化を可能とし、狭額縁化を実現することが可能な画像
表示装置及びこの画像表示装置の製造方法を提供するこ
とにある。
達成するために、請求項1に記載の画像表示装置は、表
示部と額縁部を有するアレイ基板を備え、前記表示部
は、複数の配線と、前記配線と接続された複数の薄膜ト
ランジスタとを備え、前記額縁部は、前記薄膜トランジ
スタを駆動する駆動回路を備え、前記配線は、第1配線
材料によって形成された第1配線層と、前記第1配線材
料とは異なる第2配線材料によって前記第1配線層上に
形成された第2配線層とを備え、前記第1配線層におけ
るエッジ部の下層面とのなす角度が、前記第2配線層に
おける下層面とのなす角度より大きいことを特徴とす
る。
は、表示部と額縁部を有するアレイ基板を備え、前記表
示部は、複数の配線と、前記配線と接続された複数の薄
膜トランジスタとを備え、前記額縁部は、前記薄膜トラ
ンジスタを駆動する駆動回路を備えた画像表示装置の製
造方法において、前記配線を形成するにあたって、基板
上に第1配線材料からなる第1膜を成膜する工程と、前
記第1膜を異方性エッチングして第1配線層を形成する
工程と、前記第1配線層を含む基板上に前記第1配線材
料とは異なる第2配線材料からなる第2膜を成膜する工
程と、前記第2膜を等方性エッチングして前記第1配線
層上に第2配線層を形成する工程とを備えたことを特徴
とする。
びこの画像表示装置の製造方法の一実施の形態について
図面を参照して説明する。
ブマトリクス型液晶表示装置の画像を表示する表示エリ
ア(表示部)に備えられたスイッチング素子や、表示エ
リア周辺の周辺エリア(額縁部)に備えられた駆動回路
素子は、主に、nチャネル型薄膜トランジスタ及びpチ
ャネル型薄膜トランジスタによって構成されている。こ
れらの薄膜トランジスタは、半導体層としてポリシリコ
ン薄膜を備えている。
したnチャネル型薄膜トランジスタ及びpチャネル型薄
膜トランジスタを駆動回路として利用し、表示エリアに
形成したnチャネル型薄膜トランジスタを画素スイッチ
ング素子として利用した液晶表示装置の液晶表示パネル
の一例が概略的に示されている。
示装置の回路構成が概略的に示されている。
すように、アレイ基板100と、このアレイ基板100
に対向配置された対向基板200と、アレイ基板100
と対向基板200との間に配置された液晶組成物300
とを備えている。このような液晶表示パネル10におい
て、画像を表示する表示エリア102は、アレイ基板1
00と対向基板200とを貼り合わせるシール材106
によって囲まれた領域内に形成されている。表示エリア
102内から引出された配線や駆動回路、電源供給配線
などを有する周辺エリア104は、シール材106の外
側の領域に形成されている。
図2に示すように、透明な絶縁性基板、例えば厚さが
0.7mmのガラス基板上にマトリクス状に配置された
mxn個の画素電極151、これら画素電極151の行
方向に沿って形成されたm本の走査線Y1〜Ym、これ
ら画素電極151の列方向に沿って形成されたn本の信
号線X1〜Xn、mxn個の画素電極151に対応して
走査線Y1〜Ymおよび信号線X1〜Xnの交差位置近
傍にスイッチング素子として配置されたmxn個の薄膜
トランジスタすなわち画素TFT121を有している。
また、アレイ基板100の周辺エリア104は、走査線
Y1〜Ymを駆動する走査線駆動回路18、信号線X1
〜Xnを駆動する信号線駆動回路19などを有してい
る。
シリコン薄膜を活性層とする例えばトップゲート型ポリ
シリコン薄膜トランジスタによって構成されている。す
なわち、TFT121は、ガラス基板101上のアンダ
ーコート絶縁膜111を介して配置された、チャネル領
域112C、ソース領域112S、及び、ドレイン領域
112Dを有するポリシリコン薄膜112を備えてい
る。TFT121のゲート電極114は、ゲート絶縁膜
113上に配置された走査線Yからチャネル領域112
C上に延出されている。
材料によって形成された第1電極部116D、及び、第
1配線材料とは異なる第2配線材料によって形成された
第2電極部118Dによって構成されている。第1電極
部116Dは、ゲート絶縁膜113及び第1層間絶縁膜
115を貫通してポリシリコン薄膜112のドレイン領
域112Dにコンタクトしている。第2電極部118D
は、第2層間絶縁膜130を貫通して第1電極部116
Dにコンタクトしているとともに、信号線Xと一体的に
形成されている。
料によって形成された第1電極部116S、及び、第2
配線材料によって形成された第2電極部118Sによっ
て構成されている。第1電極部116Sは、ゲート絶縁
膜113及び層間絶縁膜115を貫通してポリシリコン
薄膜112のソース領域112Sにコンタクトしてい
る。第2電極部118Sは、第2層間絶縁膜130を貫
通して第1電極部116Sにコンタクトしている。
配線を構成する第1配線材料は、第2配線材料より相対
的に抵抗率が大きく、また、ドライエッチングなどの異
方性エッチングによって微細加工可能な材料である。第
1配線は、例えば、チタン(Ti)/アルミニウム(A
l)/チタンの積層膜などによって形成される。
配線を構成する第2配線材料は、第1配線材料より相対
的に抵抗率が小さく、また、ウエットエッチングなどの
等方性エッチングによって加工される。第2配線は、例
えば、銀合金などによって形成される。
1電極部116D、116Sは、上述したように、異方
性エッチングによって加工される。このため、第1配線
におけるエッジ部の下層面とのなす角度θ1は、第2配
線、例えば第2電極部118D、118Sにおけるエッ
ジ部の下層面とのなす角度θ2より相対的に大きい。
線材料を異方性エッチングすることによって形成され
る。このため、第1配線の線幅は、第2配線の線幅より
小さくすることが可能となる。
膜130上、及び第2電極部118D、118Sなどの
配線部上に、アクリル樹脂などによって形成された有機
絶縁層131を備えている。
通してTFT121のソース電極を構成する第2電極部
118Sに電気的に接続されている。この画素電極15
1は、透明導電性部材、例えばインジウム−ティン−オ
キサイドすなわちITOによって形成されている。画素
電極151の表面は、対向基板200との間に介在され
る液晶組成物300を配向させるための配向膜160に
よって覆われている。
置された走査線駆動回路18及び信号線駆動回路19
は、nチャネル型薄膜トランジスタ及びpチャネル型薄
膜トランジスタからなる相補型の回路によって構成され
ている。これらの薄膜トランジスタは、ポリシリコン薄
膜を活性層とする例えばトップゲート型薄膜トランジス
タである。
周辺エリア104における非画素部、すなわち信号線X
及び走査線Yなどの配線パターン、TFT121などの
上には、アレイ基板100と対向基板200との間に所
定幅のギャップを形成するためのスペーサが配置されて
いる。
うに、透明な絶縁性基板、例えば厚さが0.7mmのガ
ラス基板201上に配設されたカラーフィルタ203を
備えている。このカラーフィルタ203は、対向基板2
00の画素電極151に対向する領域であって、赤画素
(R)領域、緑画素(G)領域、青画素(B)領域のそ
れぞれに対応する領域に配置されている。このカラーフ
ィルタ203は、例えば、各色成分の顔料を分散させた
樹脂によって形成されている。
電極151との間で電位差を形成する透明導電性部材、
例えばインジウム−ティン−オキサイドすなわちITO
によって形成された対向電極204によって覆われてい
る。また、この対向電極204の表面は、アレイ基板1
00との間に介在される液晶組成物300を配向させる
ための配向膜207によって覆われている。
00は、スペーサによって所定のギャップを形成した状
態でシール材106によって貼り合わされる。液晶層3
00は、このアレイ基板100と対向基板200との間
に形成された所定のギャップに封入される。
に対向して所定の基準電位に設定される。基板の周囲に
配置された電極転移材すなわちトランスファとしての銀
ペーストは、アレイ基板100から対向基板200へ電
圧を供給するために設けられ、対向電極204は、トラ
ンスファを介して接続された対向電極駆動回路20によ
り駆動される。
電極151、対向電極204、及びこれらの電極間に挟
持された液晶層300によって形成される。また、補助
容量Csは、液晶容量CLと電気的に並列に形成され
る。この補助容量Csは、一対の電極、すなわち、画素
電極151と同電位の補助容量電極61と、所定の電位
に設定された補助容量線52との間に形成される電位差
によって形成される。補助容量電極61は、ポリシリコ
ン薄膜によって形成され、画素電極151にコンタクト
している。また、補助容量線52は、ゲート電極114
と一体の走査線Yと同一材料によって形成されている。
アレイ基板100側のガラス基板101の外面には、偏
光板170が配置されているとともに、対向基板200
側のガラス基板201の外面には、偏光板270が配置
されている。
細加工が要求される配線部は、第1配線材料を成膜した
後、ドライエッチングなどの異方性エッチングを施すこ
とによって形成される。微細加工が要求される配線部と
しては、例えば、表示エリア102内のTFTを構成す
るドレイン電極及びソース電極の第1電極部116D及
び116S、周辺エリア104に配置された駆動回路の
TFTを構成するドレイン電極及びソース電極、及び、
これらに接続される各種配線などである。
TFTを構成する各種配線を微細加工することにより、
周辺エリア104の面積を縮小することが可能となり、
小面積に複雑な回路を集積することが可能となる。この
ため、十分な駆動性能を確保しつつ、液晶表示装置の狭
額縁化を実現することができるとともに、表示部を形成
する有効面積を拡大することが可能となる。
て、低抵抗化が要求される配線部は、第2配線材料を成
膜した後、ウエットエッチングなどの等方性エッチング
を施すことによって形成される。低抵抗化が要求される
配線部としては、例えば、表示エリア102内のTFT
を構成するドレイン電極及びソース電極の第2電極部1
18D及び118S、第2電極部118Dと一体の信号
線X、ゲート線Y、周辺エリア104における電源供給
配線などの各種配線である。
降下が許されない配線を低抵抗な材料によって形成する
ことにより、高速な駆動が可能となり、表示性能を向上
することが可能となる。
造方法、特に表示エリアにスイッチング素子としての画
素TFT(nチャネル型薄膜トランジスタ)を備えたア
レイ基板の製造方法について説明する。
01上に、プラズマCVD法により、酸化シリコン膜及
び窒化シリコン膜を堆積し、不純物の拡散を防ぐ2層構
造のアンダーコート絶縁膜111を形成する。
上に、プラズマCVD法により、非晶質半導体薄膜とし
て非晶質シリコン薄膜を50nmの膜厚で堆積する。そ
して、この非晶質シリコン薄膜が成膜されたガラス基板
を、アニール炉においてアニールすることにより、非晶
質シリコン薄膜に含まれる水素を除去する脱水素処理を
行う。
面に、例えば、エキシマレーザ光を照射して、非晶質シ
リコンを溶融し、結晶化する。これにより、ポリシリコ
ン薄膜を形成する。続いて、例えばフォトリソグラフィ
工程により、ポリシリコン薄膜を所定の形状にパターニ
ングして、薄膜トランジスタの半導体層112、及び、
補助容量電極61を形成する。
膜を覆うように、ゲート絶縁膜113を100nmの膜
厚で形成する。
スパッタ法により、300nmの膜厚の金属膜を形成す
る。そして、フォトリソグラフィ工程により、この金属
膜をパターニングして、画素TFT121のゲート電極
114及び走査線Yを一体的に形成するとともに、補助
容量電極61との間で補助容量Csを形成する補助容量
線52を形成する。このゲート電極114と一体の走査
線Yや、補助容量線52は、相対的に低効率が小さい上
述した第2配線材料によって形成されても良いし、他の
金属材料によって形成されても良い。
ゲート絶縁膜113上に成膜された金属膜の全面にフォ
トレジストを塗布する。そして、このフォトレジスト
を、ゲート電極114の電極形状、走査線Yの配線形
状、及び補助容量線52の配線形状に対応したパターン
を有するフォトマスクを介して露光する。そして、この
フォトレジストを所定の現像液によって現像し、ゲート
電極114の形状、走査線Yの配線形状、及び補助容量
線52の配線形状に対応した部分を残すとともに他の部
分を除去して金属膜を露出させる。そして、例えばドラ
イエッチングにより、露出した金属膜をエッチングして
除去する。そして、残ったフォトレジストを除去し、所
定の形状のゲート電極114、走査線Y、及び補助容量
線52を形成する。
して、非質量分離型のイオン注入装置を用いて、半導体
層112のチャネル領域112Cを挟んだ両側に、ホス
フィンなどの不純物をドーピングする。これにより、n
チャネル型薄膜トランジスタのソース領域112S及び
ドレイン領域112Dを形成する。そして、600℃で
1時間、アニールを行い、ソース領域112S及びドレ
イン領域112Dに注入した不純物を活性化する。
極114の上に、600nmの膜厚で第1層間絶縁膜1
15を形成する。そして、この第1層間絶縁膜113及
びゲート絶縁膜113に、フォトリソグラフィ工程によ
り、半導体層112のソース領域112S及びドレイン
領域112Dまで貫通するコンタクトホール119S、
119Dを形成する。
ッタ法により、第1配線材料として、Ti/Al/Ti
の積層膜を成膜する。そして、この第1配線材料をフォ
トリソグラフィ工程によりパターニングして、コンタク
トホール119Sを介してソース領域112Sにコンタ
クトするソース電極の第1電極部116Sと、コンタク
トホール119Dを介してドレイン領域112Dにコン
タクトするドレイン電極の第1電極部116Dと、を形
成する。
第1層間絶縁膜115上に成膜された第1配線材料の全
面にフォトレジストを塗布する。そして、このフォトレ
ジストを、ソース電極及びドレイン電極の第1電極部1
16S、116Dの電極形状、微細加工が必要な各種配
線の配線形状などに対応したパターンを有するフォトマ
スクを介して露光する。そして、このフォトレジストを
所定の現像液によって現像し、電極形状や配線形状に対
応した部分を残すとともに他の部分を除去して第1配線
材料としての金属膜を露出させる。そして、異方性エッ
チング、例えばドライエッチングにより、露出した金属
膜をエッチングして除去する。そして、残ったフォトレ
ジストを除去し、所定の形状の第1電極部116S、1
16Dや、各種配線を形成する。
極部116S、116Dの上に、600nmの膜厚で窒
化シリコン膜などを成膜することにより第2層間絶縁膜
130を形成する。そして、この第2層間絶縁膜130
に、フォトリソグラフィ工程により、第1電極部116
S、116Dまで貫通するコンタクトホール120S、
120Dを形成する。
ッタ法により、第2配線材料として、銀合金膜を成膜す
る。そして、この第2配線材料をフォトリソグラフィ工
程によりパターニングして、コンタクトホール120S
を介して第1電極部116Sにコンタクトするソース電
極の第2電極部118Sと、コンタクトホール120D
を介して第1電極部116Dにコンタクトするドレイン
電極の第2電極部118Dと、このドレイン電極の第2
電極部118Dに一体の信号線Xと、を形成する。
第2層間絶縁膜130上に成膜された第2配線材料の全
面にフォトレジストを塗布する。そして、このフォトレ
ジストを、ソース電極及びドレイン電極の第2電極部1
18S、118Dの電極形状、低抵抗配線が必要な信号
線Xなどの各種配線の配線形状などに対応したパターン
を有するフォトマスクを介して露光する。そして、この
フォトレジストを所定の現像液によって現像し、電極形
状や配線形状に対応した部分を残すとともに他の部分を
除去して第2配線材料としての銀合金膜を露出させる。
そして、等方性エッチング、例えばウエットエッチング
により、露出した金属膜をエッチングして除去する。そ
して、残ったフォトレジストを除去し、所定の形状の第
2電極部118S、118Dや、信号線Xなどの各種配
線を形成する。
極部118S、118Dの上に、600nmの膜厚で有
機絶縁膜131を形成する。そして、この有機絶縁膜1
31に、フォトリソグラフィ工程により、ソース電極の
第2電極部118Sまで貫通するコンタクトホール12
2Sを形成する。
法により、透明導電性部材、例えばITOを成膜する。
そして、このITOをフォトリソグラフィ工程によりパ
ターニングして、コンタクトホール122Sを介してソ
ース電極の第2電極部118Sにコンタクトした画素電
極151を形成する。
51を覆うように、基板の全面に配向膜160を形成す
る。
される。
エリア104に設けられる駆動回路として利用されるn
チャネル型薄膜トランジスタ及びpチャネル型薄膜トラ
ンジスタは、上述したように、微細加工が可能な第1配
線材料によって形成される。また、周辺エリア104に
おいて、特に配線抵抗を低減を要求されないような配線
については、微細加工可能な第1配線材料によって形成
される。
成される表示エリア102及び周辺エリア104におけ
る各種配線は、上述したソース電極及びドレイン電極の
第1電極部116S、116Dを形成する工程と同時に
形成される。
小することが可能となり、十分な駆動性能を確保しつ
つ、液晶表示装置の狭額縁化を実現することができる。
の周辺エリア104に設けられる電源供給配線は、上述
したように、低抵抗配線の形成が可能な第2配線材料に
よって形成される。また、周辺エリア104において、
特に微細加工が要求されずに低抵抗配線が要求される各
種配線については、この第2配線材料によって形成され
る。
成される表示エリア102及び周辺エリア104におけ
る各種配線は、上述したソース電極及びドレイン電極の
第2電極部118S、118Dを形成する工程と同時に
形成される。
降下が許されない配線を低抵抗な材料によって形成する
ことにより、高速な駆動が可能となり、表示性能を向上
することが可能となる。
及びこの画像表示装置の製造方法によれば、まず先に、
微細加工が容易な第1配線材料を異方性エッチング(ド
ライエッチング)することにより第1配線を形成し、そ
の後に、層間絶縁膜を隔てて第1配線材料とは異なる微
細加工の困難な且つ低抵抗な第2配線材料を等方性エッ
チング(ウエットエッチング)することにより第2配線
を形成する。
線については、第1配線材料をパターニングすることに
よって形成し、低抵抗化が要求される各種配線について
は、第2配線材料をパターニングすることによって形成
する。これにより、微細化に適した材料と低抵抗な材料
とを役割に応じて使い分け、両方の機能を兼ね備えるこ
とが可能となる。
複雑なTFT回路の実現と、信号線や電源供給配線など
の低抵抗配線を同時に実現することができる。
を液晶表示装置及びその製造方法を用いた例について説
明したが、この発明は、これに限定されるものではな
く、有機エレクトロ・ルミネッセンス表示装置などの他
の画像表示装置及びその製造方法に用いることも可能で
あることは言うまでもない。
ば、微細化に適した材料及び低抵抗な材料を役割に応じ
て使い分け、微細化及び低抵抗化を可能とし、狭額縁化
を実現することが可能な画像表示装置及びこの画像表示
装置の製造方法を提供することができる。
て製造された相補型の回路を駆動回路として利用する液
晶表示装置の液晶表示パネルの構成及び外観を概略的に
示す図である。
概略的に示す図である。
リア内における断面構造を概略的に示す断面図である。
Claims (8)
- 【請求項1】表示部と額縁部を有するアレイ基板を備
え、 前記表示部は、複数の配線と、前記配線と接続された複
数の薄膜トランジスタとを備え、 前記額縁部は、前記薄膜トランジスタを駆動する駆動回
路を備え、 前記配線は、第1配線材料によって形成された第1配線
層と、前記第1配線材料とは異なる第2配線材料によっ
て前記第1配線層上に形成された第2配線層とを備え、 前記第1配線層におけるエッジ部の下層面とのなす角度
が、前記第2配線層における下層面とのなす角度より大
きいことを特徴とする画像表示装置。 - 【請求項2】前記第2配線材料の抵抗率は、前記第1配
線材料の抵抗率より小さいことを特徴とする請求項1に
記載の画像表示装置。 - 【請求項3】前記第1配線層の線幅は、前記第2配線層
の線幅より小さいことを特徴とする請求項1に記載の画
像表示装置。 - 【請求項4】前記アレイ基板は、前記薄膜トランジスタ
に各々接続された複数の画素電極をさらに備えると共
に、 前記アレイ基板と対向配置された対向電極を備える対向
基板と、前記画素電極と前記対向電極の間に封入された
液晶層とをさらに有することを特徴とする請求項1乃至
3のいずれか一項に記載の画像表示装置。 - 【請求項5】表示部と額縁部を有するアレイ基板を備
え、 前記表示部は、複数の配線と、前記配線と接続された複
数の薄膜トランジスタとを備え、 前記額縁部は、前記薄膜トランジスタを駆動する駆動回
路を備えた画像表示装置の製造方法において、前記配線
を形成するにあたって、 基板上に第1配線材料からなる第1膜を成膜する工程
と、 前記第1膜を異方性エッチングして第1配線層を形成す
る工程と、 前記第1配線層を含む基板上に前記第1配線材料とは異
なる第2配線材料からなる第2膜を成膜する工程と、 前記第2膜を等方性エッチングして前記第1配線層上に
第2配線層を形成する工程とを備えたことを特徴とする
画像表示装置の製造方法。 - 【請求項6】前記第2配線材料の抵抗率は、前記第1配
線材料の抵抗率より小さいことを特徴とする請求項5に
記載の画像表示装置の製造方法。 - 【請求項7】前記第1配線層の線幅は、前記第2配線層
の線幅より小さいことを特徴とする請求項5に記載の画
像表示装置の製造方法。 - 【請求項8】前記アレイ基板は、前記薄膜トランジスタ
に各々接続された複数の画素電極をさらに備えると共
に、 前記アレイ基板と対向配置された対向電極を備える対向
基板と、前記画素電極と前記対向電極の間に封入された
液晶層とをさらに有することを特徴とする請求項5乃至
7のいずれか一項に記載の画像表示装置の製造方法。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05150264A (ja) * | 1991-11-29 | 1993-06-18 | Seiko Epson Corp | ドライバ内蔵型液晶表示パネルおよびその製造方法 |
JPH07318978A (ja) * | 1994-05-20 | 1995-12-08 | Sony Corp | 表示素子用薄膜トランジスタアレイ |
JPH0926602A (ja) * | 1995-07-12 | 1997-01-28 | Sony Corp | アクティブマトリクス表示装置 |
JPH09260672A (ja) * | 1996-03-25 | 1997-10-03 | Toshiba Corp | 薄膜半導体装置及び液晶表示装置 |
JPH10260431A (ja) * | 1997-03-21 | 1998-09-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | アクティブマトリクス型液晶表示装置 |
-
2001
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05150264A (ja) * | 1991-11-29 | 1993-06-18 | Seiko Epson Corp | ドライバ内蔵型液晶表示パネルおよびその製造方法 |
JPH07318978A (ja) * | 1994-05-20 | 1995-12-08 | Sony Corp | 表示素子用薄膜トランジスタアレイ |
JPH0926602A (ja) * | 1995-07-12 | 1997-01-28 | Sony Corp | アクティブマトリクス表示装置 |
JPH09260672A (ja) * | 1996-03-25 | 1997-10-03 | Toshiba Corp | 薄膜半導体装置及び液晶表示装置 |
JPH10260431A (ja) * | 1997-03-21 | 1998-09-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | アクティブマトリクス型液晶表示装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015084034A (ja) * | 2013-10-25 | 2015-04-30 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
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