JP2002296327A - Inspection jig and method of inspecting circuit board, and manufacturing method - Google Patents

Inspection jig and method of inspecting circuit board, and manufacturing method

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JP2002296327A
JP2002296327A JP2001101704A JP2001101704A JP2002296327A JP 2002296327 A JP2002296327 A JP 2002296327A JP 2001101704 A JP2001101704 A JP 2001101704A JP 2001101704 A JP2001101704 A JP 2001101704A JP 2002296327 A JP2002296327 A JP 2002296327A
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正登 増田
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時康 伊部
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一史 永井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently inspect a circuit board on which a component is mounted. SOLUTION: The inspection method is constituted of a first inspection jig 6, which is mounted of the fixation side 1 of an inspection apparatus and which supports a board-side connector 32, by making its insertion and pull direction to coincide with its operating direction and a second inspection jig 4, which is constituted of a jig-side connector 46 capable of being inserted and pulled with reference to the board-side connector 32, probes 41 which is brought into contact with test pads 31 and a body used to support the jig-side connector 46 and the probes 41. The inspection jig 4 sets its insertion and pull direction to a direction which coincides with the operating direction of the inspection apparatus, it movably supports the jig-side connector 46 inside a plane at right angles to the operating direction, and it supports the probes 41 in positions overlapped with the test pads 31 inside the plane which are at right angles with respect to the operating direction.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は回路基板、特にコン
ピュータマザーボードの検査に用いて好適な治具、検査
方法、及び製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a jig, an inspection method, and a manufacturing method suitable for inspecting a circuit board, in particular, a computer motherboard.

【0002】[0002]

【従来の技術】前記回路基板の製造工程にあっては、所
定の工程を経た後基板上の各回路を検査装置に接続し、
前記回路基板との間で信号を授受することにより検査が
行なわれている。
2. Description of the Related Art In a circuit board manufacturing process, after a predetermined process, each circuit on the board is connected to an inspection device.
Inspection is performed by transmitting and receiving signals to and from the circuit board.

【0003】また、マザーボードなどの回路基板にあっ
ては、キーボードやディスクドライブ等の機器が接続さ
れる場合があり、このような場合、検査プログラム上で
これらの機器の接続をシミュレーションしながら検査を
行うのみならず、回路基板に設けられたコネクタにこれ
らの機器のコネクタを実際に接続して検査を行うことが
望ましい。
On a circuit board such as a motherboard, devices such as a keyboard and a disk drive are sometimes connected. In such a case, inspection is performed while simulating the connection of these devices on an inspection program. In addition to performing the inspection, it is desirable that the connector of these devices is actually connected to the connector provided on the circuit board to perform the inspection.

【0004】[0004]

【発明が解決しょうとする課題】しかしながら、生産効
率の面から上記検査工程の省力化の要求があり、前記回
路基板側のコネクタに対する機器側のコネクタの挿抜操
作をいかに省力化するかが課題となっていた。
However, there is a demand for labor saving in the above inspection process from the viewpoint of production efficiency, and the problem is how to reduce the labor of inserting and removing the connector on the device side with respect to the connector on the circuit board side. Had become.

【0005】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、回路基板の検査を省力化することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to save labor in inspecting a circuit board.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の検査用治具は、回路に接続された基板側コ
ネクタ32が表面に設けられた回路基板3と、該回路基
板がセットされると所定の方向へ動作して前記回路基板
に電気的に接続される検査装置との間に介在する検査用
治具において、前記検査装置の固定側1に搭載され、前
記基板側コネクタ32の挿抜方向を前記動作方向に一致
させて支持する第1の検査用治具6と、前記基板側コネ
クタ32に対して挿抜可能な治具側コネクタ46と、治
具側コネクタ46を支持する本体とから構成された第2
の検査用治具4とから構成されてなり、該第2の検査用
治具4は、前記治具側コネクタ46をその挿抜方向を前
記検査装置の動作方向と一致する方向へ向けて、かつ、
前記動作方向と直交する平面内で移動可能に支持するこ
とを特徴とする。また、前記回路基板3には、さらに、
検査に必要な信号を取り出すべく回路中の所定部位に接
続された導体からなるテストパッド31が設けられ、前
記第2の検査用治具4には、前記テストパッド31に接
触するプローブ41が前記本体に支持され、該第2の検
査用治具4は、前記プローブ41を、前記動作の方向と
交差する平面内で前記テストパッド31と重なる位置で
前記動作の方向へ移動自在に支持することを特徴とす
る。また、前記第1の検査用治具6には、前記テストパ
ッド31に接触するプローブ41が前記動作方向に沿っ
て移動可能に設けられたことを特徴とする。また、前記
第1および第2の検査用治具の一方には、前記操作方向
と直交する平面内で他方の検査用治具のプローブと重な
る位置に、プローブとの接触圧力を支持するサポート部
材61が設けられたことを特徴とする。また、前記第1
の治具6には、前記動作方向と直交する平面内で基板側
コネクタ32と重なる位置に、前記治具側コネクタを挿
入する際の圧力を支持するサポート部材61が設けられ
たことを特徴とする。また、前記回路基板3に設けられ
た他の基板側コネクタに挿抜可能な第2の治具側コネク
タ51と、該第2の治具側コネクタを前記他の基板側コ
ネクタに接続した状態で、前記動作方向と直交する平面
内で前記第2の検査用治具4のプローブ61と重なる位
置に配置されたテストパッド52とを有する補助回路基
板5を有することを特徴とする。また、前記サポート部
材61に代えて、前記動作方向と直交する平面内で基板
側コネクタ32と重ならない位置であって、前記基板側
コネクタ32の近傍に、補助サポート部材62を設けた
ことを特徴とする。また、前記治具側コネクタ46の先
端には、前記動作方向に対して傾斜した面46aが設け
られたことを特徴とする。さらに、回路に接続された基
板側コネクタ33が表面に設けられた回路基板3と、該
回路基板3がセットされると所定の方向へ動作して前記
回路基板3に電気的に接続される検査装置との間に介在
する検査用治具において、前記基板側コネクタ33に挿
抜可能な治具側コネクタ51と、該治具側コネクタ51
を前記基板側コネクタ33に接続した状態で、前記動作
方向と交差する平面内に配置されるテストパッド52と
を有する補助回路基板5と、前記回路基板3を支持する
第1の検査用治具6と、前記補助回路基板5のテストパ
ッド52に接触するプローブ41と、このプローブ41
を支持する本体とから構成された第2の検査用治具4と
から構成されてなり、該第2の検査用治具4は、前記プ
ローブ41を、前記動作の方向と交差する平面内で前記
テストパッド52と重なる位置で前記動作の方向へ移動
自在に支持することを特徴とする。また前記回路基板3
には、検査に必要な信号を取り出すべく回路中の所定部
位に接続された導体からなるテストパッド31がさらに
設けられ、前記第2の検査用治具4には、前記回路基板
3のテストパッド31に接触するプローブ41が前記本
体に支持され、該第2の検査用治具は、前記プローブ
を、前記動作の方向と交差する平面内で前記回路基板3
のテストパッド31と重なる位置で前記動作の方向へ移
動自在に支持することを特徴とする。また、前記回路基
板3のテストパッド31に接触するプローブ41の一部
が前記補助回路基板5のテストパッド52に接触するプ
ローブ41を兼用していることを特徴とする。また前記
第1の検査用治具には、前記回路基板3のテストパッド
31に接触するプローブ61が前記動作方向に沿って移
動可能に設けられたことを特徴とする。また前記第1お
よび第2の検査用治具4,6の一方には、前記操作方向
と交差する平面内で他方の検査用治具のプローブと重な
る位置に、プローブとの接触圧力を支持するサポート部
材61が設けられたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, an inspection jig according to the present invention comprises a circuit board 3 having a board-side connector 32 connected to a circuit provided on a surface thereof, and a circuit board having the same. Then, in a test jig interposed between the test apparatus and a test apparatus which is operated in a predetermined direction and is electrically connected to the circuit board, the test jig is mounted on the fixed side 1 of the test apparatus, and the board-side connector 32 A first inspection jig 6 supporting the insertion / removal direction of the jig in accordance with the operation direction, a jig-side connector 46 that can be inserted into / removed from the board-side connector 32, and a main body that supports the jig-side connector 46. The second consisting of
The second inspection jig 4 has the jig-side connector 46 with its insertion / removal direction oriented in a direction coinciding with the operation direction of the inspection device, and ,
It is characterized in that it is movably supported in a plane perpendicular to the operation direction. The circuit board 3 further includes:
A test pad 31 made of a conductor connected to a predetermined portion of the circuit is provided to extract a signal required for an inspection, and a probe 41 that contacts the test pad 31 is provided on the second inspection jig 4. Supported by the main body, the second inspection jig 4 supports the probe 41 movably in the direction of the operation at a position overlapping the test pad 31 in a plane intersecting the direction of the operation. It is characterized by. Further, the first inspection jig 6 is characterized in that a probe 41 that is in contact with the test pad 31 is provided so as to be movable in the operating direction. One of the first and second inspection jigs has a support member for supporting a contact pressure with the probe at a position overlapping a probe of the other inspection jig in a plane perpendicular to the operation direction. 61 is provided. In addition, the first
The jig 6 is provided with a support member 61 for supporting the pressure at the time of inserting the jig-side connector at a position overlapping the board-side connector 32 in a plane orthogonal to the operation direction. I do. Further, a second jig-side connector 51 that can be inserted into and removed from another board-side connector provided on the circuit board 3, and a state in which the second jig-side connector is connected to the other board-side connector, It is characterized by having an auxiliary circuit board 5 having a test pad 52 arranged at a position overlapping a probe 61 of the second inspection jig 4 in a plane orthogonal to the operation direction. Further, instead of the support member 61, an auxiliary support member 62 is provided in a position not overlapping with the board-side connector 32 in a plane orthogonal to the operating direction and near the board-side connector 32. And The jig-side connector 46 is provided with a surface 46a that is inclined with respect to the operation direction at the tip end. Further, a circuit board 3 having a board-side connector 33 connected to a circuit provided on a surface thereof, and an inspection which operates in a predetermined direction when the circuit board 3 is set and is electrically connected to the circuit board 3. In the inspection jig interposed between the jig-side connector 51 and the jig-side connector 51, the jig-side connector 51 can be inserted into and removed from the board-side connector 33.
A first inspection jig supporting the circuit board 3 and an auxiliary circuit board 5 having a test pad 52 disposed in a plane intersecting the operation direction with the board connected to the board-side connector 33 6, a probe 41 which comes into contact with a test pad 52 of the auxiliary circuit board 5, and a probe 41
And a second inspection jig 4 composed of a main body supporting the probe 41. The second inspection jig 4 moves the probe 41 in a plane intersecting the direction of the operation. It is characterized in that it is supported movably in the direction of the operation at a position overlapping the test pad 52. The circuit board 3
Is further provided with a test pad 31 made of a conductor connected to a predetermined portion of the circuit in order to extract a signal required for inspection. The second inspection jig 4 includes a test pad 31 of the circuit board 3. A probe 41 that contacts the circuit board 31 is supported by the main body, and the second inspection jig moves the probe to the circuit board 3 in a plane that intersects the operation direction.
And is movably supported in the direction of the operation at a position overlapping the test pad 31. Further, a part of the probe 41 that contacts the test pad 31 of the circuit board 3 also serves as the probe 41 that contacts the test pad 52 of the auxiliary circuit board 5. Further, the first inspection jig is characterized in that a probe 61 which is in contact with the test pad 31 of the circuit board 3 is provided so as to be movable along the operation direction. One of the first and second inspection jigs 4 and 6 supports a contact pressure with the probe at a position overlapping with the probe of the other inspection jig in a plane intersecting the operation direction. A support member 61 is provided.

【0007】また本発明の検査方法は、検査に必要な信
号を取り出すべく回路中の所定部位に接続された導体か
らなるテストパッド31と、前記回路に接続された基板
側コネクタ32とが表面に設けられた回路基板3と、該
回路基板がセットされると所定の方向へ動作して前記回
路基板3に電気的に接続される検査装置との間に第1お
よび第2の検査用治具を介在させる工程と、前記第1の
検査用治具4により、前記基板側コネクタ32の挿抜方
向を前記動作方向に一致させて支持する工程と、前記基
板側コネクタ32に挿抜される治具側コネクタ46をそ
の挿抜方向を前記検査装置の動作方向と一致する方向へ
向けて、かつ、前記動作方向と直交する平面内で移動可
能に支持するとともに、前記プローブ41を、前記動作
の方向と直交する平面内で前記テストパッド31と重な
る位置で前記動作の方向へ移動自在に支持しつつ、前記
第2の検査用治具を回路基板に接近させて前記治具側コ
ネクタ46を基板側コネクタに挿入するとともに、前記
プローブ41を前記テストパッドに接触させる工程と、
前記治具側コネクタ46およびプローブ41を介して入
出力される信号により前記回路基板を検査する工程とか
らなることを特徴とする。また本発明の製造方法は、電
子部品を回路基板に取り付ける工程の後、上記方法によ
り回路基板を検査する工程を実行することを特徴とす
る。
Further, according to the inspection method of the present invention, a test pad 31 composed of a conductor connected to a predetermined portion in a circuit and a board-side connector 32 connected to the circuit are provided on a surface to extract a signal required for the inspection. First and second inspection jigs between the circuit board 3 provided and an inspection apparatus which operates in a predetermined direction when the circuit board is set and is electrically connected to the circuit board 3 A step of supporting the board-side connector 32 so that the insertion / removal direction of the board-side connector 32 coincides with the operating direction by the first inspection jig 4; The connector 46 is supported so that its insertion / removal direction is directed to a direction coinciding with the operation direction of the inspection device, and movably in a plane perpendicular to the operation direction, and the probe 41 is perpendicular to the operation direction. Do The second jig for inspection is brought close to the circuit board while being movably supported in the direction of the operation at a position overlapping the test pad 31 in the plane, and the jig-side connector 46 is inserted into the board-side connector. And contacting the probe 41 with the test pad;
Inspecting the circuit board by a signal input / output via the jig-side connector 46 and the probe 41. Further, the manufacturing method of the present invention is characterized in that, after the step of attaching the electronic component to the circuit board, the step of inspecting the circuit board by the above method is performed.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を説明する。符号1は検査装置の固定部、符号2
は移動部であって、これらは互いに接近する方向および
離れる方向へ相対移動可能に設けられている。図示例で
は、固定部1に対して移動部2が移動する構成、すなわ
ち、この検査装置は、一つの自由度の方向(図1の上下
方向)への動作によって検査を行うようになっている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Reference numeral 1 denotes a fixed part of the inspection device, and reference numeral 2
Are moving parts, which are provided so as to be relatively movable in a direction approaching and moving away from each other. In the illustrated example, the moving unit 2 moves relative to the fixed unit 1, that is, the inspection apparatus performs the inspection by operating in one direction of freedom (up and down direction in FIG. 1). .

【0009】符号3は検査対象としての回路基板、符号
4は移動部2に支持された治具、符号5は前記回路基板
に取り付けられる補助回路基板、符号6は固定部1に支
持された治具である。
Reference numeral 3 denotes a circuit board to be inspected, reference numeral 4 denotes a jig supported by the moving unit 2, reference numeral 5 denotes an auxiliary circuit board attached to the circuit board, and reference numeral 6 denotes a jig supported by the fixed unit 1. Tool.

【0010】前記回路基板3は、回路パターンが形成さ
れた基板に電子部品を実装し、はんだリフロー処理によ
って前記電子部品を回路パターンに電気的に接続するこ
とにより製造される。その表面には、検査に必要な信号
を取り出すためのテストパッド31が回路パターンの一
部として設けられるとともに、キーボード、ディスクド
ライブ等の機器との接続に用いられるコネクタ32,3
3が設けられている。図示の場合、前記治具6の上に回
路基板3を載せることにより、コネクタ32,33の挿
抜方向と検査装置の動作方向とが一致するようになって
いる。具体的には、コネクタ32,33に内蔵された電
極の方向が検査装置の動作方向と一致するように検査装
置内に支持されている。なお、前記テストパッド31
は、検査用の信号の授受のために本来の回路パターンは
別個に設けられたもののみならず、回路パターンそのも
のや実装部品のリードなど、検査のための信号が授受さ
れる全ての導体部分を含むものとする。
The circuit board 3 is manufactured by mounting an electronic component on a substrate on which a circuit pattern is formed, and electrically connecting the electronic component to the circuit pattern by a solder reflow process. On its surface, a test pad 31 for extracting a signal required for inspection is provided as a part of a circuit pattern, and connectors 32 and 3 used for connection to devices such as a keyboard and a disk drive are provided.
3 are provided. In the case shown, the circuit board 3 is placed on the jig 6 so that the insertion / removal direction of the connectors 32 and 33 and the operation direction of the inspection device match. Specifically, the electrodes incorporated in the connectors 32 and 33 are supported in the inspection apparatus such that the directions of the electrodes match the operation directions of the inspection apparatus. The test pad 31
Means that not only the original circuit pattern is provided separately for the transmission and reception of the test signal, but also all the conductor parts that receive and transmit the test signal, such as the circuit pattern itself and the leads of the mounted components. Shall be included.

【0011】前記治具4は、プラスチックなどの絶縁性
材料により構成されていて、全体として板状をなし、検
査装置の移動部2に取り付けられている。前記治具4に
は、前記テストパッド31に接触するプローブ41が移
動部2の移動方向に沿って移動自在に設けられている。
前記プローブ41は金属により構成されていて、治具4
の支持孔42内に配置されている。プローブ41には、
フランジ部43が固着されており、このフランジ部43
と前記支持孔42を塞ぐ押さえ板45との間には、圧縮
ばね44が設けられている。この結果、前記プローブ4
1は、前記テストパッド31と接触することにより、圧
縮ばね44を圧縮させながら図2の状態から図1の状態
へ上昇し、この結果、プローブ41とテストパッド31
との間に所定の接触圧力が生じるようになっている。
The jig 4 is made of an insulating material such as plastic, has a plate shape as a whole, and is attached to the moving section 2 of the inspection apparatus. The jig 4 is provided with a probe 41 that comes into contact with the test pad 31 so as to be movable along the moving direction of the moving unit 2.
The probe 41 is made of metal.
Are arranged in the support holes 42. In the probe 41,
The flange portion 43 is fixed.
A compression spring 44 is provided between the holding plate 45 and the holding plate 45 for closing the support hole 42. As a result, the probe 4
1 rises from the state shown in FIG. 2 to the state shown in FIG. 1 while compressing the compression spring 44 by coming into contact with the test pad 31. As a result, the probe 41 and the test pad 31
And a predetermined contact pressure is generated between them.

【0012】前記治具4には、前記コネクタ32に対し
て挿抜されるコネクタ46が支持板47を介して取り付
けられている。この支持板47は、ボルト48を該ボル
ト48より大径のボルト孔49を通して治具4にねじ込
むことにより固定されており、この結果、支持板47
は、治具4の面方向(移動部2の移動方向と直交する平
面内)で移動可能に支持されている。また前記コネクタ
46の端部には、傾斜面46aが設けられており、この
傾斜面46aが前記コネクタ32の先端と接触すること
により、挿抜に際してコネクタ46が面方向へ移動する
ことができる。なお、前記治具6にも、治具4と同様の
プローブ41が設けられていて、前記回路基板3の下面
のテストパッド31と接触するようになっている。
A connector 46 which is inserted into and removed from the connector 32 is attached to the jig 4 via a support plate 47. The support plate 47 is fixed by screwing the bolt 48 into the jig 4 through a bolt hole 49 having a larger diameter than the bolt 48. As a result, the support plate 47 is fixed.
Are supported movably in the plane direction of the jig 4 (in a plane orthogonal to the moving direction of the moving unit 2). An inclined surface 46a is provided at an end of the connector 46, and the inclined surface 46a comes into contact with the tip of the connector 32, so that the connector 46 can move in the surface direction at the time of insertion and removal. Note that the jig 6 is also provided with a probe 41 similar to the jig 4 so as to be in contact with the test pad 31 on the lower surface of the circuit board 3.

【0013】一方、前記コネクタ33と挿抜されるコネ
クタ51は、補助回路基板5に取り付けられるもので、
例えば、前記コネクタ32より大きな挿抜力が必要であ
ったり、挿抜に際してより高い位置決め精度が必要であ
ったり、あるいは、挿抜方向が前記コネクタ32と異な
っている場合(例えば、図示していないが、挿抜方向が
横向きである場合)に使用され、その電極は、補助基板
5の上面のテストパッド52に接続されている。なお、
前記治具41に設けられたプローブ41の内、このテス
トパッド52に接触するものの先端は、回路基板3のテ
ストパッド31に接触するものより上方の位置に配置さ
れている。このような補助回路基板5を用いることによ
り、、前記コネクタ51を介して接続すべき機器との間
に長い配線を引き回すことにより、ノイズの混入などの
おそれがある場合に、検査装置を回路基板3の回路に補
助回路基板5ないしプローブ42を経由する最短経路で
接続することができる。
On the other hand, a connector 51 to be inserted into and removed from the connector 33 is attached to the auxiliary circuit board 5,
For example, when a larger insertion / extraction force than the connector 32 is required, higher positioning accuracy is required for insertion / extraction, or when the insertion / extraction direction is different from that of the connector 32 (for example, although not shown, the insertion / extraction The electrode is connected to a test pad 52 on the upper surface of the auxiliary substrate 5. In addition,
Of the probes 41 provided on the jig 41, the tip that comes into contact with the test pad 52 is located at a position higher than the one that comes into contact with the test pad 31 on the circuit board 3. The use of such an auxiliary circuit board 5 allows the inspection apparatus to be mounted on the circuit board when there is a possibility that noise may be mixed in by running long wiring between the equipment to be connected via the connector 51 and the like. 3 can be connected to the circuit 3 via the shortest path via the auxiliary circuit board 5 or the probe 42.

【0014】前記治具4,6には、前記プローブ41や
コネクタ46との接触による力を受けるためのサポート
部材61が設けられている。すなわちこのサポート部材
61のうち、治具6に設けられるものは、前記回路基板
3におけるテストパッド31、コネクタ32,33と平
面視において重なる位置に配置されていて、治具4のプ
ローブ41がテストパッド31,51に接触し、あるい
は、コネクタ46がコネクタ32に挿入されるに際し
て、図1における下向きの力による回路基板3のたわみ
を防止し、ひいては、テストパッド31等が下方へ逃げ
ることによる接触不良の発生を防止するようになってい
る。また、治具4に設けられるサポート部材61は、治
具6側のプローブ41と平面視において重なる位置に設
けられていてその接触圧を支持している。
The jigs 4 and 6 are provided with a support member 61 for receiving a force due to contact with the probe 41 and the connector 46. That is, among the support members 61, those provided on the jig 6 are arranged at positions overlapping the test pads 31 and the connectors 32 and 33 on the circuit board 3 in plan view, and the probe 41 of the jig 4 is used for the test. When contacting the pads 31, 51 or when the connector 46 is inserted into the connector 32, the bending of the circuit board 3 due to the downward force in FIG. 1 is prevented, and the contact due to the test pad 31 and the like escaping downward is thereby prevented. The occurrence of defects is prevented. The support member 61 provided on the jig 4 is provided at a position overlapping the probe 41 on the jig 6 side in plan view, and supports the contact pressure.

【0015】上記構成の治具4、5,6を用いた回路基
板3の検査工程は下記の通りである。 図2に示すように、移動部2を上昇させておき、治具
6を固定部1にセットし、治具4を移動部2にセットす
る。 治具6上の所定位置に回路基板3を載せる。ここに云
う所定位置とは、プローブ41が下面のテストパッド3
1に接触し、かつ、上面のテストパッド31に相当する
位置にサポート部材61が位置決めされる位置をいう。
プローブ41は、回路基板3が載せられてテストパッド
31に接触することにより、圧縮ばね44を収縮させな
がら待避する。なお、治具6と回路基板3との位置決め
のため、目印を設けたり、位置決め用の嵌合構造を設け
るようにしてもよい。 回路基板3上のコネクタ33に補助回路基板5のコネ
クタ51を挿入する。 検査装置の移動部2を下降させると、コネクタ32の
先端がコネクタ46の傾斜面46aに接触することによ
り、ボルト孔49とボルト48との寸法差の範囲でコネ
クタ46が面方向に移動し、この移動により位置合わせ
されながらコネクタ32へ挿入される。この挿入による
力は、回路基板3のコネクタ32に対応する位置に配置
されたサポート部材61に接することにより、支持され
る。
The inspection process of the circuit board 3 using the jigs 4, 5 and 6 having the above configuration is as follows. As shown in FIG. 2, the moving unit 2 is raised, the jig 6 is set on the fixed unit 1, and the jig 4 is set on the moving unit 2. The circuit board 3 is placed at a predetermined position on the jig 6. The predetermined position referred to here means that the probe 41 is connected to the test pad 3
1 and a position where the support member 61 is positioned at a position corresponding to the test pad 31 on the upper surface.
The probe 41 retracts while compressing the compression spring 44 by contacting the test pad 31 with the circuit board 3 mounted thereon. In addition, in order to position the jig 6 and the circuit board 3, a mark may be provided or a fitting structure for positioning may be provided. The connector 51 of the auxiliary circuit board 5 is inserted into the connector 33 on the circuit board 3. When the moving section 2 of the inspection device is lowered, the tip of the connector 32 comes into contact with the inclined surface 46a of the connector 46, so that the connector 46 moves in the plane direction within the range of the dimensional difference between the bolt hole 49 and the bolt 48, The connector is inserted into the connector 32 while being aligned by this movement. The force of this insertion is supported by contacting the support member 61 arranged at a position corresponding to the connector 32 on the circuit board 3.

【0016】各プローブ41は、テストパッド31お
よび52に接触するとともに、圧縮ばね44を収縮させ
ながら上昇する。なお、テストパッド52にプローブ4
1に接触することによる力は、治具6におけるコネクタ
33に対応する位置に設けられたサポート部材61によ
り支持される。 各プローブ41が接続された検査装置(検査回路)と
の間、およびコネクタ46が接続された外部機器との間
で信号を授受することにより回路基板3の検査が行われ
る。 移動部2を上昇させることにより検査が終了する。
Each probe 41 comes into contact with the test pads 31 and 52 and rises while compressing the compression spring 44. The probe 4 is connected to the test pad 52.
1 is supported by the support member 61 provided at a position corresponding to the connector 33 on the jig 6. The circuit board 3 is inspected by transmitting and receiving signals to and from an inspection device (inspection circuit) to which each probe 41 is connected and to an external device to which the connector 46 is connected. The inspection ends when the moving unit 2 is raised.

【0017】上記実施形態では、コネクタ32に対応す
る位置の治具6上にサポート部材61を設けたが、これ
に代えて図3に示すようにサポート部材62を配置して
もよい。すなわち、回路基板32におけるコネクタ32
と反対側の面(図1の下面)にテストパッドが設けられ
ていたりして、プローブを接触させることが必要な場
合、図3に示すように、コネクタ32の近傍(周囲)で
あってコネクタ32と重ならない位置にサポート部材6
2を配置するようにしてもよい。
In the above-described embodiment, the support member 61 is provided on the jig 6 at a position corresponding to the connector 32. However, a support member 62 may be arranged as shown in FIG. That is, the connector 32 on the circuit board 32
When a test pad is provided on the surface on the opposite side (the lower surface in FIG. 1) and it is necessary to bring the probe into contact therewith, as shown in FIG. Support member 6 at a position not overlapping with 32
2 may be arranged.

【0018】また、回路基板3の表裏のテストパッドの
位置が重なっていたり、極めて接近している場合にも、
同様に、反対側の面のプローブ接触箇所と重ならない位
置であってその近傍にサポート部材を配置するようにし
てもよい。
Further, even when the positions of the test pads on the front and back of the circuit board 3 overlap or are extremely close,
Similarly, the support member may be arranged at a position that does not overlap with the probe contact point on the opposite surface and in the vicinity thereof.

【0019】また、上記実施形態では、検査装置の固定
側と移動側とが一次元方向への自由度を以て相対移動し
ているが、軸を中心とする回転方向への自由度を以て相
対移動する場合にも本発明を適用することができる。こ
の場合、第2の治具4に対する支持板47の取り付けに
図示例の場合の如き移動方向と直交する平面内の各方向
への自由度のみならず、移動方向に対して種々の角度で
交差する各平面内での自由度を与えることが必要とされ
る。具体的には、支持板47と第2の治具4の間にばね
などの弾性部材を介在させることによって、支持板47
を第2の治具4に対して多方向への自由度を以て支持す
ることができる。
In the above embodiment, the fixed side and the movable side of the inspection apparatus relatively move with a degree of freedom in a one-dimensional direction, but move relatively with a degree of freedom in a rotational direction about an axis. The present invention can be applied to such cases. In this case, the attachment of the support plate 47 to the second jig 4 not only has a degree of freedom in each direction in a plane orthogonal to the moving direction as in the illustrated example, but also intersects at various angles with the moving direction. It is necessary to provide a degree of freedom in each plane. Specifically, by interposing an elastic member such as a spring between the support plate 47 and the second jig 4, the support plate 47
Can be supported on the second jig 4 with a plurality of degrees of freedom.

【0020】なお、本発明の適用対象たる回路基板は、
上記実施形態のマザーボードに限定されるものではな
く、基板上の回路と検査装置とをコネクタを介して接続
することが必要な各種回路基板に適用することができる
のはもちろんである。
The circuit board to which the present invention is applied is:
It is needless to say that the present invention is not limited to the motherboard of the above-described embodiment, but can be applied to various circuit boards that require a circuit on the board and an inspection device to be connected via a connector.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば下記の効果を奏する。検査装置の固定側に基板側
コネクタの挿抜方向を前記動作方向に一致させて支持す
る第1の検査用治具と、前記基板側コネクタに対して挿
抜可能な治具側コネクタと、前記テストパッドに接触す
るプローブと、これら治具側コネクタ及びプローブを支
持する本体とから構成された第2の検査用治具とから構
成され、該第2の検査用治具は、前記治具側コネクタを
その挿抜方向を前記検査装置の動作方向と一致する方向
へ向けて、かつ、前記動作方向と直交する平面内で移動
可能に支持するとともに、プローブが動作方向と直交す
る平面内で前記テストパッドと重なる位置で前記動作の
方向へ移動自在に支持されているので、検査装置の動作
とともに、プローブをテストパッドに接触させて検査装
置との間で所定の信号の授受を行うことができ、同時
に、治具側コネクタを基板側コネクタに挿入して、回路
基板を外部機器等に接続した状態として検査を行うこと
ができる。また、第1の検査用治具においても、テスト
パッドに接触するプローブが前記動作方向に沿って移動
可能に設けられているので、回路基板の裏面にテストパ
ッドが存在する場合であっても、これを載せることによ
ってプローブをテストパッドに接触させることができ
る。また、前記検査用治具のいずれかには、前記操作方
向と直交する平面内で他方のプローブと重なる位置に、
プローブとの接触圧力を支持するサポート部材が設けら
れているので、プローブの接触による力を受けて、これ
らの間の接触圧を所定の大きさ以上に維持して、電気的
接続を確実にすることができる。また、前記第1の治具
には、前記動作方向と直交する平面内で基板側コネクタ
と重なる位置に、前記治具側コネクタを挿入する際の圧
力を支持するサポート部材が設けられているので、コネ
クタの挿入に際して回路基板を支持して、そのたわみを
防止しつつ、確実に基板側のコネクタに挿入させること
ができる。 また、回路基板に設けられた他の基板側コ
ネクタに挿抜可能な第2の治具側コネクタと、該第2の
治具側コネクタを前記他の基板側コネクタに接続した状
態で、前記動作方向と直交する平面内で前記第2の検査
用治具のプローブと重なる位置に配置されたテストパッ
ドとを有する補助回路基板を設けることにより、検査装
置の動作とともにコネクタの挿抜ができない場合であっ
ても、コネクタにプローブを接触させることにより検査
に必要な信号を授受することができる。また、検査装置
の動作方向と直交する平面内で基板側コネクタと重なら
ない位置であって基板側コネクタの近傍に、補助サポー
ト部材を設けることにより、コネクタの裏側にテストパ
ッドなどが存在している場合であっても、挿抜に際して
加わる力を支持することができる。また、治具側コネク
タの先端には、前記動作方向に対して傾斜した面が設け
られているので、基板側のコネクタの先端が接触するこ
とにより、治具側コネクタが面方向へ移動して位置合わ
せされる。また、このような動作とともに行われる検査
を回路基板への実装工程の後で行うことにより、コンピ
ュータマザーボードなどの回路基板の製造効率を高める
ことができるという効果を奏する。
As apparent from the above description, the present invention has the following effects. A first inspection jig for supporting the insertion / removal direction of the board-side connector on the fixed side of the inspection apparatus in accordance with the operation direction, a jig-side connector insertable / removable to / from the board-side connector, and the test pad And a second inspection jig composed of a jig-side connector and a main body that supports the probe, and the second inspection jig is provided with the jig-side connector. The insertion / extraction direction is directed to a direction coinciding with the operation direction of the inspection device, and is movably supported in a plane perpendicular to the operation direction, and the probe is connected to the test pad in a plane perpendicular to the operation direction. Since the probe is movably supported in the direction of the operation at the overlapping position, the probe can be brought into contact with the test pad to transmit and receive a predetermined signal to and from the inspection device together with the operation of the inspection device. At the same time, the jig-side connector is inserted into the board-side connector can be inspected in a state of connecting the circuit board to an external device or the like. Also, in the first inspection jig, since the probe in contact with the test pad is provided so as to be movable along the operation direction, even if the test pad is present on the back surface of the circuit board, By mounting this, the probe can be brought into contact with the test pad. Further, in any of the inspection jigs, at a position overlapping with the other probe in a plane orthogonal to the operation direction,
Since the support member for supporting the contact pressure with the probe is provided, the support member receives the force due to the contact of the probe, maintains the contact pressure between them at a predetermined level or more, and ensures electrical connection. be able to. Further, since the first jig is provided with a support member for supporting the pressure at the time of inserting the jig-side connector at a position overlapping the board-side connector in a plane orthogonal to the operation direction. When the connector is inserted, the circuit board is supported, so that the circuit board can be surely inserted into the connector on the board side while preventing bending. Further, a second jig-side connector that can be inserted into and removed from another board-side connector provided on the circuit board, and the operation direction in a state where the second jig-side connector is connected to the other board-side connector. By providing an auxiliary circuit board having a test pad arranged at a position overlapping with the probe of the second inspection jig in a plane perpendicular to the plane of the second inspection jig. Also, by contacting the probe with the connector, signals necessary for the inspection can be transmitted and received. In addition, a test pad or the like is present on the back side of the connector by providing an auxiliary support member in a position not overlapping with the board side connector in a plane orthogonal to the operation direction of the inspection device and near the board side connector. Even in this case, the force applied at the time of insertion and removal can be supported. Also, since the end of the jig-side connector is provided with a surface inclined with respect to the operation direction, the jig-side connector moves in the surface direction when the end of the board-side connector comes into contact. Aligned. Further, by performing the inspection performed together with such an operation after the mounting step on the circuit board, there is an effect that the manufacturing efficiency of a circuit board such as a computer motherboard can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施形態の断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view of one embodiment of the present invention.

【図2】 図1の装置の作動前の状態の断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of the device of FIG. 1 before operation.

【図3】 本発明の他の実施形態の平面図である。FIG. 3 is a plan view of another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検査装置(固定部) 2 検査装置(移動部)
3 回路基板 4 (第2の)治具 5 補助基板
6 (第1の)治具3 1 テストパッド 32 コネクタ
33 コネクタ 41 プローブ 42 支持孔
44 圧縮ばね 46 コネクタ 46a 傾斜面
47 支持板 48 ボルト 49 ボルト孔
51 コネクタ 52 テストパッド 61 サポート部材
62 サポート部材
1 inspection equipment (fixed part) 2 inspection equipment (moving part)
3 circuit board 4 (second) jig 5 auxiliary board
6 (first) jig 3 1 test pad 32 connector
33 Connector 41 Probe 42 Support hole
44 Compression spring 46 Connector 46a Inclined surface
47 Support plate 48 Bolt 49 Bolt hole
51 connector 52 test pad 61 support member
62 Support members

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊部 時康 新潟県柏崎市大字安田7546番地 新潟日本 電気株式会社内 (72)発明者 永井 一史 新潟県柏崎市大字安田7546番地 新潟日本 電気株式会社内 Fターム(参考) 2G011 AA14 AB01 AC06 AC14 AE01 AF06 2G014 AA01 AB01 AB59 AC09 2G132 AA20 AF04 AJ04 AL03 AL11 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Tokiyasu Ibe 7546 Yasuda, Niigata Nippon Electric Co., Ltd. Niigata Nippon Electric Co., Ltd. F term (reference) 2G011 AA14 AB01 AC06 AC14 AE01 AF06 2G014 AA01 AB01 AB59 AC09 2G132 AA20 AF04 AJ04 AL03 AL11

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回路に接続された基板側コネクタが表面
に設けられた回路基板と、該回路基板がセットされると
所定の方向へ動作して前記回路基板に電気的に接続され
る検査装置との間に介在する検査用治具において、 前記検査装置の固定側に搭載され、前記基板側コネクタ
の挿抜方向を前記動作方向に一致させて支持する第1の
検査用治具と、 前記基板側コネクタに対して挿抜可能な治具側コネクタ
と、この治具側コネクタを支持する本体とから構成され
た第2の検査用治具とから構成されてなり、 該第2の検査用治具は、前記治具側コネクタをその挿抜
方向を前記検査装置の動作方向と一致する方向へ向け
て、かつ、前記動作方向と交差する平面内で移動可能に
支持することを特徴とする検査用治具。
1. A circuit board having a board-side connector connected to a circuit provided on a surface thereof, and an inspection apparatus which operates in a predetermined direction when the circuit board is set to be electrically connected to the circuit board. A first inspection jig mounted on the fixed side of the inspection device and supporting the insertion / removal direction of the board-side connector in accordance with the operation direction; and A second inspection jig comprising a jig-side connector that can be inserted into and withdrawn from the side connector, and a main body that supports the jig-side connector. The second inspection jig Is a jig for inspection, characterized in that the jig-side connector is supported so that its insertion / removal direction is oriented in a direction coinciding with the operation direction of the inspection device and is movable in a plane intersecting the operation direction. Utensils.
【請求項2】 前記回路基板には、検査に必要な信号を
取り出すべく回路中の所定部位に接続された導体からな
るテストパッドがさらに設けられ、 前記第2の検査用治具には、前記テストパッドに接触す
るプローブが前記本体に支持され、該第2の検査用治具
は、前記プローブを、前記動作の方向と交差する平面内
で前記テストパッドと重なる位置で前記動作の方向へ移
動自在に支持することを特徴とする請求項1記載の検査
用治具。
2. The circuit board is further provided with a test pad made of a conductor connected to a predetermined portion of the circuit in order to extract a signal required for an inspection. A probe that contacts a test pad is supported by the main body, and the second inspection jig moves the probe in the direction of the operation at a position overlapping the test pad in a plane that intersects the direction of the operation. The inspection jig according to claim 1, wherein the inspection jig is freely supported.
【請求項3】 前記第1の検査用治具には、前記テスト
パッドに接触するプローブが前記動作方向に沿って移動
可能に設けられたことを特徴とする請求項2に記載の検
査用治具
3. The inspection jig according to claim 2, wherein a probe contacting the test pad is provided on the first inspection jig so as to be movable in the operating direction. Ingredient
【請求項4】 前記第1および第2の検査用治具の一方
には、前記操作方向と交差する平面内で他方の検査用治
具のプローブと重なる位置に、プローブとの接触圧力を
支持するサポート部材が設けられたことを特徴とする請
求項3に記載の検査用治具。
4. One of the first and second inspection jigs supports a contact pressure with a probe at a position overlapping with a probe of the other inspection jig in a plane intersecting the operation direction. The inspection jig according to claim 3, wherein a support member is provided.
【請求項5】 前記第1の治具には、前記動作方向と交
差する平面内で基板側コネクタと重なる位置に、前記治
具側コネクタを挿入する際の圧力を支持するサポート部
材が設けられたことを特徴とする請求項1ないし4のい
ずれかに記載の検査用治具。
5. A support member for supporting a pressure when inserting the jig-side connector is provided at a position overlapping with the board-side connector in a plane intersecting the operation direction, in the first jig. The inspection jig according to any one of claims 1 to 4, wherein:
【請求項6】 前記回路基板に設けられた他の基板側コ
ネクタに挿抜可能な第2の治具側コネクタと、該第2の
治具側コネクタを前記他の基板側コネクタに接続した状
態で、前記動作方向と交差する平面内で前記第2の検査
用治具のプローブと重なる位置に配置されたテストパッ
ドとを有する補助回路基板を有することを特徴とする請
求項1ないし5のいずれかに記載の検査用治具。
6. A second jig-side connector that can be inserted into and removed from another board-side connector provided on the circuit board, and a state in which the second jig-side connector is connected to the other board-side connector. 6. An auxiliary circuit board having a test pad disposed at a position overlapping a probe of the second inspection jig in a plane intersecting the operation direction. Inspection jig described in.
【請求項7】 前記第1の治具には、前記動作方向と交
差する平面内で基板側コネクタと重なる位置に、前記治
具側コネクタを挿入する際の圧力を支持するサポート部
材が設けられたことを特徴とする請求項1ないし6のい
ずれかに記載の検査用治具。
7. The first jig is provided with a support member for supporting a pressure when inserting the jig-side connector at a position overlapping the board-side connector in a plane intersecting the operation direction. The inspection jig according to any one of claims 1 to 6, wherein:
【請求項8】 請求項7のサポート部材に代えて、前記
動作方向と交差する平面内で基板側コネクタと重ならな
い位置であって、前記基板側コネクタの近傍に、補助サ
ポート部材を設けたことを特徴とする請求項1ないし6
のいずれかに記載の検査用治具。
8. An auxiliary support member is provided instead of the support member according to claim 7, at a position not overlapping with the board-side connector in a plane intersecting the operating direction and near the board-side connector. 7. The method according to claim 1, wherein
The inspection jig according to any one of the above.
【請求項9】 前記治具側コネクタの先端には、前記動
作方向に対して傾斜した面が設けられたことを特徴とす
る請求項1ないし8のいずれかに記載の検査用治具。
9. The inspection jig according to claim 1, wherein a surface inclined with respect to the operation direction is provided at a tip of the jig-side connector.
【請求項10】 回路に接続された基板側コネクタが表
面に設けられた回路基板と、該回路基板がセットされる
と所定の方向へ動作して前記回路基板に電気的に接続さ
れる検査装置との間に介在する検査用治具において、 前記基板側コネクタに挿抜可能な治具側コネクタと、該
治具側コネクタを前記基板側コネクタに接続した状態
で、前記動作方向と交差する平面内に配置されるテスト
パッドとを有する補助回路基板と、 前記回路基板を支持する第1の検査用治具と、 前記補助回路基板のテストパッドに接触するプローブ
と、このプローブを支持する本体とから構成された第2
の検査用治具とから構成されてなり、 該第2の検査用治具は、前記プローブを、前記動作の方
向と交差する平面内で前記テストパッドと重なる位置で
前記動作の方向へ移動自在に支持することを特徴とする
検査用治具。
10. A circuit board provided with a board-side connector connected to a circuit on a surface thereof, and an inspection apparatus which operates in a predetermined direction when the circuit board is set and is electrically connected to the circuit board. A jig-side connector that can be inserted into and withdrawn from the board-side connector, and a jig-side connector connected to the board-side connector in a plane intersecting the operating direction. An auxiliary circuit board having a test pad disposed on a first inspection jig supporting the circuit board; a probe contacting a test pad of the auxiliary circuit board; and a main body supporting the probe. Composed second
The second inspection jig is capable of moving the probe in the direction of the operation at a position overlapping the test pad in a plane intersecting the direction of the operation. An inspection jig characterized by being supported by
【請求項11】 前記回路基板には、検査に必要な信号
を取り出すべく回路中の所定部位に接続された導体から
なるテストパッドがさらに設けられ、 前記第2の検査用治具には、前記回路基板のテストパッ
ドに接触するプローブが前記本体に支持され、該第2の
検査用治具は、前記プローブを、前記動作の方向と交差
する平面内で前記回路基板のテストパッドと重なる位置
で前記動作の方向へ移動自在に支持することを特徴とす
る請求項10に記載の検査用治具。
11. The circuit board is further provided with a test pad made of a conductor connected to a predetermined portion of the circuit in order to extract a signal required for an inspection. A probe in contact with a test pad of the circuit board is supported by the main body, and the second inspection jig moves the probe at a position overlapping the test pad of the circuit board in a plane intersecting the direction of the operation. The inspection jig according to claim 10, wherein the inspection jig is movably supported in the direction of the operation.
【請求項12】 前記回路基板のテストパッドに接触す
るプローブの一部が前記補助回路基板のテストパッドに
接触するプローブを兼用していることを特徴とする請求
項11に記載の検査用治具。
12. The inspection jig according to claim 11, wherein a part of the probe that contacts the test pad of the circuit board also serves as a probe that contacts the test pad of the auxiliary circuit board. .
【請求項13】 前記第1の検査用治具には、前記回路
基板のテストパッドに接触するプローブが前記動作方向
に沿って移動可能に設けられたことを特徴とする請求項
11または12に記載の検査用治具
13. The apparatus according to claim 11, wherein a probe that contacts a test pad of the circuit board is provided on the first inspection jig so as to be movable in the operating direction. Inspection jig described
【請求項14】 前記第1および第2の検査用治具の一
方には、前記操作方向と交差する平面内で他方の検査用
治具のプローブと重なる位置に、プローブとの接触圧力
を支持するサポート部材が設けられたことを特徴とする
請求項13に記載の検査用治具。
14. One of the first and second inspection jigs supports a contact pressure with a probe at a position overlapping a probe of the other inspection jig in a plane intersecting the operation direction. The inspection jig according to claim 13, wherein a support member is provided.
【請求項15】 検査に必要な信号を取り出すべく回路
中の所定部位に接続された導体からなるテストパッド
と、前記回路に接続された基板側コネクタとが表面に設
けられた回路基板と、該回路基板がセットされると所定
の方向へ動作して前記回路基板に電気的に接続される検
査装置との間に第1および第2の検査用治具を介在させ
る工程と、 前記第1の検査用治具により、前記基板側コネクタの挿
抜方向を前記動作方向に一致させて支持する工程と、 前記基板側コネクタに挿抜される治具側コネクタをその
挿抜方向を前記検査装置の動作方向と一致する方向へ向
けて、かつ、前記動作方向と直交する平面内で移動可能
に支持するとともに、前記プローブを、前記動作の方向
と直交する平面内で前記テストパッドと重なる位置で前
記動作の方向へ移動自在に支持しつつ、前記第2の検査
用治具を回路基板に接近させて前記治具側コネクタを基
板側コネクタに挿入するとともに、前記プローブを前記
テストパッドに接触させる工程と、 前記治具側コネクタおよびプローブを介して入出力され
る信号により前記回路基板を検査する工程とからなるこ
とを特徴とする回路基板の検査方法。
15. A circuit board having on its surface a test pad made of a conductor connected to a predetermined portion of a circuit for extracting a signal required for inspection, and a board-side connector connected to the circuit. A step of operating in a predetermined direction when the circuit board is set and interposing first and second inspection jigs between the circuit board and an inspection apparatus electrically connected to the circuit board; A step of supporting the board-side connector so that the insertion / removal direction of the board-side connector coincides with the operation direction by an inspection jig; and The probe is movably supported in a plane orthogonal to the operation direction in the same direction, and the probe is moved in a position overlapping the test pad in a plane orthogonal to the operation direction. Moving the second inspection jig close to a circuit board, inserting the jig-side connector into the board-side connector, and bringing the probe into contact with the test pad while movably supporting the probe. Inspecting the circuit board with a signal input / output via a jig-side connector and a probe.
【請求項16】 電子部品を回路基板に取り付ける工程
の後、請求項15記載の方法により回路基板を検査する
工程を実行することを特徴とする回路基板の製造方法。
16. A method for manufacturing a circuit board, comprising the step of inspecting the circuit board by the method according to claim 15, after the step of attaching the electronic component to the circuit board.
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