JPH10123200A - Device for inspecting fine-pitch connector - Google Patents

Device for inspecting fine-pitch connector

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JPH10123200A
JPH10123200A JP8279307A JP27930796A JPH10123200A JP H10123200 A JPH10123200 A JP H10123200A JP 8279307 A JP8279307 A JP 8279307A JP 27930796 A JP27930796 A JP 27930796A JP H10123200 A JPH10123200 A JP H10123200A
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JP
Japan
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connector
board
under test
relay
conductive contact
Prior art date
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Application number
JP8279307A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaki Shimura
雅樹 志村
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Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Original Assignee
Japan Aviation Electronics Industry Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To protect a measurement cable from being damaged by improving the connection reliability between a conductive contact pin and a connector to be tested, inspecting a printed circuit board where the connector to be tested is mounted even if it is extremely dense, and improving a working efficiency when attaching or detaching a relay substrate. SOLUTION: A measurement pad 6a is formed at a relay substrate 6 where a relay connector 7 that is fitted to a connector (DUT) 2 to be tested is mounted at a sufficiently larger pitch interval than the terminal of the DUT. A conductive contact pin 3 is positioned and retained at a pin board 8 and is connected to a detector 4 by a cable 5. The DUT 2 or a sample support panel 9 that positions a printed circuit board 1 for mounting the DUT 2 and supports it is provided, a pin board 8 is moved by an elevation mechanism, and the sample support panel 9 is preferably taken in and out freely by a slide mechanism.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は微小ピッチコネク
タの検査装置に関する。
The present invention relates to an apparatus for inspecting a fine pitch connector.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】最近の
プリント基板の高密度実装化に伴ない、それに実装され
るコネクタも表面実装タイプとなり、その端子間ピッチ
が0.5mm以下のものが増加する傾向にある。プリン
ト基板に微小ピッチコネクタを面実装する際に、ピッチ
が狭くなるにつれて半田付けの難易度が上がり、半田ブ
リッジなどの半田付け不良が増加している。
2. Description of the Related Art With the recent high-density mounting of printed circuit boards, connectors mounted thereon are also of a surface mounting type, and the pitch between terminals is 0.5 mm or less. Tend to. When a micro-pitch connector is surface-mounted on a printed circuit board, the difficulty of soldering increases as the pitch decreases, and soldering defects such as solder bridges increase.

【0003】従来、微小ピッチコネクタの検査には次に
述べるような方法が行われている。 (a)図4に示すように、プリント基板1に実装された
被試験コネクタ(DUT)2のN本の端子2aにN本の
導電接触ピン3を接触させて、例えば端子2a間の導通
または遮断を試験する。端子数Nは20〜120程度で
左右に分かれて導出されている場合が多い。導電接触ピ
ン3は導通/遮断の検出器4より導出されたケーブル5
に接続される。この方法はコネクタ端子2aのピッチが
狭くなると、次のような問題がある。
Conventionally, the following method has been used for inspection of a minute pitch connector. (A) As shown in FIG. 4, N conductive contact pins 3 are brought into contact with N terminals 2 a of a connector under test (DUT) 2 mounted on a printed circuit board 1, for example, to establish continuity between terminals 2 a. Test the block. The number of terminals N is about 20 to 120 and is often derived separately on the left and right. The conductive contact pin 3 is a cable 5 derived from a conduction / interruption detector 4.
Connected to. This method has the following problem when the pitch of the connector terminals 2a becomes narrow.

【0004】 コネクタ端子2aに対して導電接触ピ
ンの必要な位置精度を確保するのが困難となり、接触の
信頼性が低下する。 導電接触ピンを細く精密加工する必要があり、コス
トが高くなる。またピンの耐久性が落ちてくる。 端子2aに盛られた半田の形状によって、ピン先端
との接触が不安定となる恐れがある。
[0004] It becomes difficult to ensure the required positional accuracy of the conductive contact pin with respect to the connector terminal 2a, and the contact reliability is reduced. It is necessary to finely process the conductive contact pins, which increases the cost. Also, the durability of the pins decreases. Depending on the shape of the solder applied to the terminal 2a, contact with the tip of the pin may be unstable.

【0005】 被試験コネクタ2をプリント基板1に
半田付けする際に用いたフラックスが端子2aや周囲の
半田に付着している恐れがあるので、ピンとの良好な接
触を得るために洗浄する必要がある。 (b)他の方法では、図5に示すように、被試験コネク
タ2を実装したプリント基板1に、N本のコネクタ端子
2aとそれぞれ対応するN個の測定用パッド1aを設
け、配線パターン1bで対応する端子2aに接続する。
測定用パッド1aの間隔は、コネクタ端子2aのピッチ
間隔より充分大きく設定する。この方法は次の問題点が
ある。
Since the flux used when soldering the connector under test 2 to the printed circuit board 1 may adhere to the terminals 2 a and the surrounding solder, it is necessary to wash to obtain good contact with the pins. is there. (B) In another method, as shown in FIG. 5, on a printed circuit board 1 on which a connector under test 2 is mounted, N measuring pads 1a corresponding to N connector terminals 2a are provided, and a wiring pattern 1b is provided. To connect to the corresponding terminal 2a.
The interval between the measurement pads 1a is set sufficiently larger than the pitch interval between the connector terminals 2a. This method has the following problems.

【0006】 プリント基板1が高密度実装されると
スペースの関係で測定用パッド1aを設けられない場合
がある。 スペースの関係で測定用パッド1aを被試験コネク
タ2より可なり離さなければならない場合が生じ、配線
パターン1bの引き回しが長くなり、ノイズがのり、誤
検出の原因となる。 (c)更に他の方法では、図6に示すように検出器4よ
り導出されたケーブル5に中継基板6を接続する。中継
基板6には中継コネクタ7が実装されており、その中継
コネクタ7を被試験コネクタ2に嵌合させて検査する。
この方法は次の問題点がある。
When the printed circuit board 1 is mounted at a high density, there is a case where the measurement pad 1 a cannot be provided due to space limitations. Due to the space, there is a case where the measuring pad 1a must be considerably separated from the connector 2 to be tested, leading to a long wiring of the wiring pattern 1b, causing noise and an erroneous detection. (C) In still another method, the relay board 6 is connected to the cable 5 derived from the detector 4 as shown in FIG. A relay connector 7 is mounted on the relay board 6, and the relay connector 7 is fitted to the connector under test 2 for inspection.
This method has the following problems.

【0007】 作業者が手で直接、中継基板6を抜き
差しするので、ケーブル5が切れやすい。 中継基板6を抜き差しするとき、ケーブル5が邪魔
になり、作業がやりにくい。 この発明は上述した(a)〜(c)における従来の問
題、即ち、 (イ)導電接触ピンの位置精度が不充分となる問題。 (ロ)導電接触ピンの微小化によるコストと耐久性の問
題。 (ハ)導電接触ピンとコネクタ端子との接続の信頼性の
問題。 (ニ)被試験コネクタを実装したプリント基板に測定用
パッドを形成するスペースの問題。 (ホ)中継基板の着脱時の作業性とケーブル損傷の問
題。を解決することを目的としている。
Since the worker directly inserts and removes the relay board 6 by hand, the cable 5 is easily cut. When connecting and disconnecting the relay board 6, the cable 5 is in the way, which makes the work difficult. The present invention has the above-mentioned conventional problems in (a) to (c), namely, (a) the problem that the positional accuracy of the conductive contact pins is insufficient. (B) Cost and durability problems due to miniaturization of conductive contact pins. (C) The problem of the reliability of the connection between the conductive contact pin and the connector terminal. (D) The problem of space for forming measurement pads on the printed circuit board on which the connector under test is mounted. (E) Problems of workability and cable damage when attaching / detaching the relay board. It is intended to solve.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

(1)請求項1の微小ピッチコネクタの検査装置には、
N(任意の整数)個の端子を有する被試験コネクタに嵌
合させる中継コネクタを実装し、その中継コネクタのN
個の端子よりそれぞれ延長された配線パターンの延長端
に測定用パッドが、被試験コネクタの端子より大きいピ
ッチ間隔で配列形成されている中継基板と、被試験コネ
クタの少くとも端子間の導通または遮断を検出する検出
器と、中継基板のN個の測定パッドにそれぞれ接触させ
るN本の導電接触ピンが位置決めされて保持され、それ
ら導電接触ピンが前記検出器に接続するケーブルに接続
されているピン・ボードと、が設けられる。
(1) The inspection apparatus for a fine pitch connector according to claim 1 includes:
A relay connector to be fitted to a connector under test having N (arbitrary integer) terminals is mounted, and N of the relay connector is
Conducting or interrupting between the relay board where the measuring pads are arranged at the pitch ends larger than the terminals of the connector under test, and the terminals at least the terminals of the connector under test And N conductive contact pins that respectively contact the N measurement pads of the relay board are positioned and held, and the conductive contact pins are connected to a cable connected to the detector.・ A board is provided.

【0009】(2)請求項2の発明では、前記(1)に
おいて、被試験コネクタまたは被試験コネクタが実装さ
れたプリント基板を位置決めして支持する試料支持盤を
設ける。 (3)請求項3の発明では、前記(1)において、ピン
・ボードを昇降させて、導電接触ピンを測定パッドに着
脱自在に接触させる昇降機構を設ける。
(2) In the invention of claim 2, in the above (1), a sample support board for positioning and supporting the connector under test or the printed circuit board on which the connector under test is mounted is provided. (3) In the invention of claim 3, in the above (1), an elevating mechanism for elevating the pin board and bringing the conductive contact pins into detachable contact with the measurement pads is provided.

【0010】(4)請求項4の発明では、前記(2)に
おいて、試料支持盤を水平方向にスライドさせるスライ
ド機構を設ける。 (5)請求項5の発明では、前記(3)において、昇降
機構は、レバーを有し、そのレバーの回動角に応じた距
離だけピン・ボードを昇降させる。
(4) In the invention of claim 4, in the above (2), a slide mechanism for sliding the sample support board in a horizontal direction is provided. (5) In the invention of claim 5, in the above (3), the lifting mechanism has a lever, and raises and lowers the pin board by a distance corresponding to the rotation angle of the lever.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】図1〜図3の実施例を参照して、
発明の実施の形態を説明する。これらの図には図4〜図
6と対応する部分に同じ符号を付けてある。この発明の
微小ピッチコネクタの検査装置には、少なくとも中継基
板6、検出器4、ピン・ボード8が含まれる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Referring to the embodiment of FIGS.
An embodiment of the invention will be described. In these figures, parts corresponding to those in FIGS. 4 to 6 are denoted by the same reference numerals. The inspection apparatus for a micro-pitch connector according to the present invention includes at least a relay board 6, a detector 4, and a pin board 8.

【0012】中継基板6にはN(任意の整数)個の端子
2aを有する被試験コネクタ2に嵌合させる中継コネク
タ7が実装され、その中継コネクタ7のN個の端子より
それぞれ延長された配線パターン6bの延長端に測定用
パッド6aが、被試験コネクタの端子2aより大きいピ
ッチ間隔dで配列形成される。検出器4は、被試験コネ
クタ2の少なくとも端子間の導通または遮断を検出でき
るように構成される。他の機能として所定の端子に試験
信号を印加し、他の端子に発生する信号を検出または測
定する機能を有する場合もある。
On the relay board 6, a relay connector 7 to be fitted to the connector under test 2 having N (arbitrary integer) terminals 2a is mounted, and wirings respectively extended from the N terminals of the relay connector 7 are provided. The measuring pads 6a are arranged at the pitch end d of the extended end of the pattern 6b at a pitch d larger than that of the terminal 2a of the connector under test. The detector 4 is configured to detect conduction or interruption between at least terminals of the connector 2 under test. Other functions may include a function of applying a test signal to a predetermined terminal and detecting or measuring a signal generated at another terminal.

【0013】ピン・ボード8には、中継基板6のN個の
測定パッド6aにそれぞれ接触させるN本の導電接触ピ
ン3が位置決めされて保持され、それら導電接触ピン3
が検出器4に接続するケーブル5に接続される。コネク
タ2を検査する場合には、中継コネクタ7を被試験コネ
クタ2に嵌合させ、ピン・ボード8を中継基板6に対し
位置決めして、下降させ、N個の導電接触ピン3の先端
を対応するN個の測定用パッド6a上に接触させる。こ
の状態で、コネクタ端子2a間の導通/遮断及び必要に
応じその他の検査が行われる。
On the pin board 8, N conductive contact pins 3 to be brought into contact with the N measuring pads 6a of the relay board 6 are positioned and held.
Is connected to the cable 5 connected to the detector 4. When inspecting the connector 2, the relay connector 7 is fitted to the connector under test 2, the pin board 8 is positioned with respect to the relay board 6, and lowered, and the tips of the N conductive contact pins 3 correspond. The N measurement pads 6a to be measured. In this state, conduction / interruption between the connector terminals 2a and other inspections are performed as necessary.

【0014】図1、図2の例では、被試験コネクタ2ま
たは被試験コネクタ2が実装されたプリント基板1を位
置決めして支持する試料支持盤9が設けられている(請
求項2)。試料支持盤9は、被試験コネクタ2またはプ
リント基板1を位置決めして支持する絶縁性の基板10
と、4本のスペーサ11を介して基板10と対向して連
結された基板12とで構成される。基板12はスライド
板13上に載置され、スライド板13の両端に固定され
た逆L形のフック14のねじ15によりスライド板13
に固定される。
In the examples shown in FIGS. 1 and 2, a sample support board 9 for positioning and supporting the connector 2 to be tested or the printed circuit board 1 on which the connector 2 to be tested is mounted is provided (claim 2). The sample support board 9 includes an insulating board 10 for positioning and supporting the connector 2 or the printed board 1 to be tested.
And a substrate 12 connected to and opposed to the substrate 10 via four spacers 11. The substrate 12 is placed on a slide plate 13, and the slide plate 13 is fixed by screws 15 of an inverted L-shaped hook 14 fixed to both ends of the slide plate 13.
Fixed to

【0015】ピン・ボード8、試料支持盤9、スライド
板13等は筺体20内に収容される。筺体20は、底板
21と、左右の側板22と、上板23とで構成される。
図3に示すように、ピン・ボード8を昇降させて、導電
接触ピン3を測定用パッド6aに着脱自在に接触させる
昇降機構30が筺体20に取付けられている(請求項
3)。昇降機構30にはレバー31が含まれ、レバー3
1の回動角に応じた距離だけピン・ボード8が昇降され
るようになっている(請求項5)。
The pin board 8, the sample support board 9, the slide plate 13 and the like are housed in a housing 20. The housing 20 includes a bottom plate 21, left and right side plates 22, and an upper plate 23.
As shown in FIG. 3, an elevating mechanism 30 for elevating and lowering the pin board 8 and detachably contacting the conductive contact pins 3 with the measuring pads 6a is attached to the housing 20 (claim 3). The lifting mechanism 30 includes a lever 31, and the lever 3
The pin board 8 is moved up and down by a distance corresponding to one rotation angle (claim 5).

【0016】底板21の左右に一対のスライドユニット
40の下側の凸状レール40aが固定され、凸状レール
40aとベアリング(図示せず)を介してスライド自在
に係合された凹状レール40bがスライド板13の裏面
に固定される。試料支持盤9はスライド板13に固定さ
れているのでスライド板13と共に前方(作業者側)に
引き出し、試料の着脱を容易に行うことができる。
A lower convex rail 40a of a pair of slide units 40 is fixed to the left and right sides of the bottom plate 21, and a concave rail 40b slidably engaged with the convex rail 40a via a bearing (not shown). It is fixed to the back surface of the slide plate 13. Since the sample support board 9 is fixed to the slide plate 13, the sample support board 9 is pulled out forward (toward the operator) together with the slide plate 13, and the sample can be easily attached and detached.

【0017】ピン・ボード8と試料支持盤9との位置合
わせは、ピン・ボード8を下降させたときピン・ボード
8を保持しているガイドピン51と基板10に設けたガ
イド孔52と係合するように試料支持盤9を前後にスラ
イドさせることにより行えるが、試料支持盤9を後にス
ライドさせた時にガイドピン51とガイド孔52が常に
嵌合する位置に、ストッパーをスライド板13の適当な
位置に取付けることにより、一度セットして基板12を
ねじ15によりスライド板13とはさみこむように固定
してしまえば、常にピン・ボード8と試料支持盤9との
位置合わせは再現される。
The alignment between the pin board 8 and the sample supporting board 9 is performed by the guide pins 51 holding the pin board 8 and the guide holes 52 formed in the substrate 10 when the pin board 8 is lowered. The slide can be performed by sliding the sample support plate 9 back and forth so that the guide pins 51 and the guide holes 52 always fit when the sample support plate 9 is slid backward. If the substrate 12 is set once and fixed so as to be sandwiched between the slide plate 13 by the screws 15, the positioning between the pin board 8 and the sample support board 9 is always reproduced.

【0018】次に、ピン・ボード8の昇降機構30を図
3により説明しよう。図Aは昇降機構30のみを抽出し
て画いた原理的な正面図であり、図Bは図Aのa−a′
断面図である。レバー31の基部31aに、左右の側板
22に支承されたシャフト32の一端が固定され、シャ
フト32にアーム33の一端が固定される。従って、レ
バーを軸線Lの周りをθだけ回動させれば、シャフト3
2及びアーム33はレバー31と共にθだけ回動され
る。
Next, the lifting mechanism 30 of the pin board 8 will be described with reference to FIG. FIG. A is a front view of the principle in which only the lifting mechanism 30 is extracted, and FIG. B is aa ′ of FIG.
It is sectional drawing. One end of a shaft 32 supported by the left and right side plates 22 is fixed to a base 31 a of the lever 31, and one end of an arm 33 is fixed to the shaft 32. Therefore, if the lever is rotated around the axis L by θ, the shaft 3
2 and the arm 33 are rotated together with the lever 31 by θ.

【0019】アーム33,36,37は順次ボルト3
4,38により回動自在に連結される。アーム37の先
端がピン・ボード44、詳細にはピン・ボード44を支
持するコ字形金具50にボルト44で連結される。ヘ字
状に折れたアーム37の角部はアーム39の一端にボル
ト40で連結され、アーム39の他端は、側板22に植
たて、固定されたボルト42の周りに回動自在にとめら
れる。
The arms 33, 36, and 37 are sequentially connected with bolts 3
4, 38 are connected rotatably. The tip of the arm 37 is connected to the pin board 44, specifically, a U-shaped bracket 50 supporting the pin board 44 by a bolt 44. A corner portion of the arm 37 bent in a letter-like shape is connected to one end of an arm 39 by a bolt 40, and the other end of the arm 39 is planted on the side plate 22 and is rotatably stopped around a fixed bolt 42. Can be

【0020】昇降機構30は左右対称に配されていて、
左右のアーム37がシャフト45の両端にボルト46で
連結される。レバー31によりアーム33をシャフト3
2を中心として矢印で示す方向に回動させると、アーム
39の一端が、側板22に固定されたボルト42に係合
されているので、アーム36及び37はボルト42を中
心として矢印の方向に回動され、ピン・ボード8は下降
される。レバー31を元の位置に戻せば、アーム33,
36,37も元の位置に回動され、ピン・ボードは元の
位置に上昇される。
The lifting mechanism 30 is symmetrically arranged.
The left and right arms 37 are connected to both ends of the shaft 45 by bolts 46. Arm 33 is moved to shaft 3 by lever 31
When the arm 39 is rotated in the direction indicated by the arrow around the center 2, one end of the arm 39 is engaged with the bolt 42 fixed to the side plate 22, so that the arms 36 and 37 move in the direction of the arrow around the bolt 42. The pin board 8 is moved down. When the lever 31 is returned to the original position, the arms 33,
The pins 36 and 37 are also rotated to the original positions, and the pin board is raised to the original position.

【0021】上述のように、この例では昇降機構30は
リンク機構によって構成されているが、しかしボールね
じやカムなど他の機構で構成することもできる。ピン・
ボード8の昇降をスムーズに行うために、コ字形金具5
0は左右2箇所においてベアリング54を介して、ガイ
ド用のシャフト56に昇降自在に嵌合される。シャフト
56の上端及び下端は上板23及び底板21にそれぞれ
固定される。
As described above, the lifting mechanism 30 is constituted by a link mechanism in this example, but may be constituted by other mechanisms such as a ball screw and a cam. pin·
In order to move the board 8 up and down smoothly,
Numeral 0 is fitted to a guide shaft 56 via bearings 54 at two right and left positions so as to be able to move up and down. The upper end and the lower end of the shaft 56 are fixed to the upper plate 23 and the bottom plate 21, respectively.

【0022】[0022]

【発明の効果】 この発明では、従来例(a)のよう
に導電接触ピン3を直接コネクタ端子2aに接触させる
のではなく、中継基板6の測定用パッド6a(コネクタ
端子2aよりはるかに大形で、ピッチ間隔もコネクタ端
子のそれより大幅に拡大されている)に接触させればよ
いので、必要な位置精度を容易に確保できる。
According to the present invention, instead of the conductive contact pin 3 being directly in contact with the connector terminal 2a as in the conventional example (a), the measuring pad 6a (much larger than the connector terminal 2a) of the relay board 6 is used. In this case, the pitch interval is much larger than that of the connector terminal), so that the required positional accuracy can be easily secured.

【0023】 と同様の理由から、導電接触ピン3
を従来例(a)のように細く精密加工する必要がなく、
比較的太く大形でよいので、安価で、堅牢なものが容易
に得られる。 と同様の理由から、コネクタ端子2aに半田が盛
られていても或いはフラックスが付着していても導電接
触ピンの接触に何の不都合も生じない。
For the same reason as described above, the conductive contact pins 3
Does not need to be finely processed precisely as in the conventional example (a).
Since it may be relatively thick and large, an inexpensive and robust product can be easily obtained. For the same reason as described above, even if solder is applied to the connector terminal 2a or flux is attached, no inconvenience occurs in contact of the conductive contact pins.

【0024】 測定用パッドは、従来例(b)のよう
に被試験コネクタ2を実装したプリント基板1ではなく
中継基板6に形成するので、プリント基板1が高密度実
装であっても、何の不都合もない。またスペースの関係
で測定用パッド6aを被試験コネクタ2より異常に離し
たたために、ノイズにより誤検出すると言った問題も生
じない。
Since the measurement pads are formed on the relay board 6 instead of the printed board 1 on which the connector under test 2 is mounted as in the conventional example (b), even if the printed board 1 is mounted at high density, No inconvenience. In addition, since the measuring pad 6a is abnormally separated from the connector under test 2 due to space, there is no problem of erroneous detection due to noise.

【0025】 この発明では、被試験コネクタ2に結
合させる中継基板6には従来例(c)のように検出器と
接続するケーブル5は接続されていないので、中継基板
6の着脱によってケーブル5が切断されたり、ケーブル
5があるために着脱の作業性が悪いと言った問題はな
い。
In the present invention, since the cable 5 for connecting to the detector is not connected to the relay board 6 to be connected to the connector under test 2 as in the conventional example (c), the cable 5 is attached and detached by attaching and removing the relay board 6. There is no problem that the workability of attachment / detachment is poor due to disconnection or the presence of the cable 5.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】Aはこの発明の要部を示す原理的な正面図、B
はAの中継基板6の平面図。
FIG. 1A is a front view showing a principal part of the present invention, and FIG.
3 is a plan view of the relay board 6 of FIG.

【図2】この発明の要部を示す斜視図。FIG. 2 is a perspective view showing a main part of the present invention.

【図3】図2の昇降機構30を示す図で、Aは原理的な
正面図、BはAのa−a′断面図。
3 is a view showing the lifting mechanism 30 of FIG. 2, wherein A is a front view in principle, and B is a sectional view taken along the line aa ′ of A. FIG.

【図4】従来の微小ピッチコネクタの検査装置の原理的
な正面図。
FIG. 4 is a schematic front view of a conventional inspection apparatus for a fine pitch connector.

【図5】微小ピッチコネクタを検査するために、測定用
パッドを設けた、プリント基板の一例を示す平面図。
FIG. 5 is a plan view showing an example of a printed circuit board provided with measurement pads for inspecting a minute pitch connector.

【図6】従来の微小ピッチコネクタの検査装置の他の例
を示す原理的な正面図。
FIG. 6 is a principle front view showing another example of a conventional inspection device for a fine pitch connector.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 N(任意の整数)個の端子を有する被試
験コネクタに嵌合させる中継コネクタを実装し、その中
継コネクタのN個の端子よりそれぞれ延長された配線パ
ターンの延長端に測定用パッドが、被試験コネクタの端
子より大きいピッチ間隔で配列形成されている中継基板
と、 被試験コネクタの少くとも端子間の導通または遮断を検
出する検出器と、 前記中継基板のN個の測定パッドにそれぞれ接触させる
N本の導電接触ピンが位置決めされて保持され、それら
導電接触ピンが前記検出器に接続するケーブルに接続さ
れているピン・ボードと、を具備することを特徴とする
微小ピッチコネクタの検査装置。
A relay connector to be fitted to a connector under test having N (arbitrary integer) terminals is mounted on an extension end of a wiring pattern extended from each of the N terminals of the relay connector. A relay board in which pads are arranged at a pitch larger than a terminal of the connector under test; a detector for detecting conduction or interruption between at least terminals of the connector under test; and N measurement pads of the relay board A pin board in which N conductive contact pins to be respectively brought into contact with each other are positioned and held, and the conductive contact pins are connected to a cable connected to the detector. Inspection equipment.
【請求項2】 請求項1において、被試験コネクタまた
は被試験コネクタが実装されたプリント基板を位置決め
して支持する試料支持盤を具備することを特徴とする微
小ピッチコネクタの検査装置。
2. The micropitch connector inspection apparatus according to claim 1, further comprising a sample support board for positioning and supporting the connector under test or the printed circuit board on which the connector under test is mounted.
【請求項3】 請求項1において、前記ピン・ボードを
昇降させて、前記導電接触ピンを前記測定パッドに着脱
自在に接触させる昇降機構を具備することを特徴とする
微小ピッチコネクタの検査装置。
3. The fine pitch connector inspection device according to claim 1, further comprising an elevating mechanism for elevating the pin board and bringing the conductive contact pins into detachable contact with the measurement pad.
【請求項4】 請求項2において、前記試料支持盤を水
平方向にスライドさせるスライド機構を有することを特
徴とする微小ピッチコネクタの検査装置。
4. The inspection apparatus for a micro-pitch connector according to claim 2, further comprising a slide mechanism for sliding the sample support board in a horizontal direction.
【請求項5】 請求項3において、前記昇降機構は、レ
バーを有し、そのレバーの回動角に応じた距離だけ前記
ピン・ボードを昇降させることを特徴とする微小ピッチ
コネクタの検査装置。
5. The inspection apparatus according to claim 3, wherein the lifting mechanism has a lever, and moves the pin board up and down by a distance corresponding to a rotation angle of the lever.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002296327A (en) * 2001-03-30 2002-10-09 Nec Corp Inspection jig and method of inspecting circuit board, and manufacturing method
JP2013137886A (en) * 2011-12-28 2013-07-11 Disco Abrasive Syst Ltd Wiring inspection tool for cable set
JP2020118608A (en) * 2019-01-25 2020-08-06 株式会社村田製作所 measuring device

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