JP2008309608A - Inspection apparatus - Google Patents

Inspection apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2008309608A
JP2008309608A JP2007157158A JP2007157158A JP2008309608A JP 2008309608 A JP2008309608 A JP 2008309608A JP 2007157158 A JP2007157158 A JP 2007157158A JP 2007157158 A JP2007157158 A JP 2007157158A JP 2008309608 A JP2008309608 A JP 2008309608A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
contact
flux
cam
inspected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007157158A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuhiro Tanabe
克洋 田辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2007157158A priority Critical patent/JP2008309608A/en
Publication of JP2008309608A publication Critical patent/JP2008309608A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection apparatus which can remove flux adhering to an area under inspection easily and surely and can make the condition of an area under inspection good. <P>SOLUTION: In order to vertically move a pin base 3 a plurality of times during one pivoting stroke of an operating lever 2, a gear structure comprising a driven gear 6 and a driving rotating shaft 7 and a cam member 8 which is coupled to the gear structure are provided as a driving section which is coupled to the operating lever 2. This configuration allows a contact pin provided on the pin base 3 to be brought into contact with the area under inspection a plurality of times and allows flux at the area under inspection to be surely removed. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、被検査箇所に付着したフラックスを除去するようにして検査部材を接触させ、検査対象体に対する検査を行う検査装置に関するものである。   The present invention relates to an inspection apparatus for inspecting an inspection object by bringing an inspection member into contact with each other so as to remove the flux adhering to an inspection location.

従来、電子部品が実装されたプリント基板の電気的検査において、先端形状をなす接触式のコンタクトピンを備えた検査装置を用いることが多い。コンタクトピンとしては、例えば導電材料で形成され、かつ先端形状が鋭利なニードルをスリーブに収納し、スプリングで付勢して検査対象体に移動させる構成にしたものがある。     Conventionally, in an electrical inspection of a printed circuit board on which electronic components are mounted, an inspection apparatus having a contact-type contact pin having a tip shape is often used. As the contact pin, for example, there is one in which a needle formed of a conductive material and having a sharp tip shape is accommodated in a sleeve, and is urged by a spring and moved to an inspection object.

コンタクトピンは、検査装置において、プリント基板の被検査箇所、例えば電極部あるいは電子部品のリード半田付け部などに対応して複数配列されており、検査では、各コンタクトピンのニードル先端を、プリント基板に押し当てることにより、リフローなどの実装過程で基板表面に形成されるフラックス膜を突き破るようにして除去し、ニードル先端を被検査箇所に接触させて電気的導通を得る。そして、コンタクトピンを介して得られる電気信号を検査装置内の電気回路で処理することにより、半田付け部での欠陥部分、あるいは電子部品の損傷や未マウントなどを検出するようにしている。   In the inspection apparatus, a plurality of contact pins are arranged in correspondence with the inspection target portion of the printed circuit board, for example, an electrode part or a lead soldering part of an electronic component. By pressing against the surface, the flux film formed on the surface of the substrate in the mounting process such as reflow is removed so as to break through, and the tip of the needle is brought into contact with the portion to be inspected to obtain electrical conduction. Then, an electric signal obtained through the contact pin is processed by an electric circuit in the inspection apparatus, thereby detecting a defective portion in the soldering portion or damage or unmounting of the electronic component.

特許文献１には、前記フラックス膜の除去を確実に行うためコンタクトピンの構造を工夫した発明が提案されている。
特開２００２−９０３８６号公報 Patent Document 1 proposes an invention in which the structure of the contact pin is devised in order to reliably remove the flux film.
JP 2002-90386 A

従来の前記コンタクトピンを用いた検査では、コンタクトピンにてフラックスを除去しないと導通不良にて検査エラーとなり、また、検査を繰り返すうちにフラックスがニードル先端部に付着・堆積したり、フラックスの膜厚のばらつき等によって、フラックス膜を完全に除去することができず、被検査箇所との導通不良を招いてしまうことがある。このため、検査作業においては、コンタクトピンを検査対象体に移動させてフラックスを除去してから検査を開始するようにしている。   In the conventional inspection using the contact pin, if the flux is not removed by the contact pin, an inspection error occurs due to poor conduction, and the flux adheres to and accumulates on the tip of the needle while the inspection is repeated. Due to variations in thickness, the flux film cannot be completely removed, leading to poor continuity with the location to be inspected. For this reason, in the inspection work, the inspection is started after the contact pin is moved to the inspection object to remove the flux.

特許文献１に記載のコンタクトピンは、前記フラックスの除去を確実に行うため、スリーブ内に収納されたニードルが軸方向に移動可能であり、このニードルにスプリングと支持コマと、傾倒姿勢を保つ傾斜コマと、スプリングおよび受けコマが配置され、ニードルの先端がプリント基板に押し当てられると、傾斜コマがニードルの動作に伴って移動し、スリーブ内壁面にガイドされ直立姿勢となり、この状態でスプリングによって受けコマの孔が、傾斜コマに突設されたピンに挿入され、密着したスプリングを介してコマ同士が衝突し、その衝撃力がニードルに付加される構成になっている。   In the contact pin described in Patent Document 1, in order to reliably remove the flux, the needle housed in the sleeve is movable in the axial direction, and the needle, the spring, the support piece, and the tilt that maintains the tilted posture When the top, the spring, and the receiving top are arranged and the tip of the needle is pressed against the printed circuit board, the inclined top moves with the movement of the needle and is guided by the inner wall surface of the sleeve to take an upright posture. A hole of the receiving piece is inserted into a pin protruding from the inclined piece, and the pieces collide with each other through a closely contacted spring, and the impact force is applied to the needle.

このように特許文献１に記載のコンタクトピンでは、ピン内部に複数の部材からなる可動構造を設けているため製造コストが増し、構造が複雑な分、製品特性のばらつきや、動作不良が生じやすいなどの課題がある。   As described above, the contact pin described in Patent Document 1 is provided with a movable structure composed of a plurality of members inside the pin, so that the manufacturing cost increases, and the product structure is likely to vary and malfunction due to the complexity of the structure. There are issues such as.

また、従来の検査工程では、例えば、図９に示すフローチャートに示すように、作業者は、被検査対象であるプリント基板を所定の位置にセットし（Ｓ１）、コンタクトピンを待機位置からプリント基板に接触させるように移動させることにより（Ｓ２）、被検査箇所のフラックスを除去し（Ｓ３）、フラックスが検査のために良好に除去されていると判断した場合（Ｓ３のＯＫ）、コンタクトピンが接触した状態で所定の検査を開始する（Ｓ４）。   Further, in the conventional inspection process, for example, as shown in the flowchart shown in FIG. 9, the operator sets the printed circuit board to be inspected at a predetermined position (S1), and the contact pin from the standby position to the printed circuit board. (S2), the flux at the location to be inspected is removed (S3), and if it is determined that the flux is removed well for inspection (OK in S3), the contact pin is A predetermined inspection is started in the contacted state (S4).

しかし、フラックスが充分除去されていないと判断した場合には（Ｓ３のＮＧ）、コンタクトピンを被検査箇所から離し（Ｓ５）、再度、コンタクトピンを待機位置からプリント基板に接触させるように移動させ（Ｓ２）、被検査箇所のフラックスを除去してから（Ｓ３）、所定の検査を開始するようにしている（Ｓ４）。   However, if it is determined that the flux has not been sufficiently removed (NG in S3), the contact pin is moved away from the location to be inspected (S5), and the contact pin is moved again from the standby position so as to contact the printed circuit board. (S2) After removing the flux at the location to be inspected (S3), a predetermined inspection is started (S4).

前記検査では、フラックスの状態によっては、コンタクトピンを何回も上下動し、その除去を確実にする必要がある。このためフラックス除去作業の分、検査時間がかかるという課題もある。   In the inspection, depending on the state of the flux, it is necessary to move the contact pin up and down several times to ensure its removal. For this reason, there is also a problem that inspection time is required for the flux removal work.

本発明の目的は、前記従来技術の課題を解決し、被検査箇所に付着したフラックスを容易かつ確実に除去することができ、被検査箇所の状態を良好にすることができる検査装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an inspection apparatus that solves the above-described problems of the prior art, can easily and reliably remove the flux adhering to the inspected location, and can improve the state of the inspected location. There is.

前記目的を達成するため、請求項１に記載の発明は、検査対象体の被検査箇所に対して、該被検査箇所に付着したフラックスを除去するようにして検査部材を接触させ、該接触状態にて前記検査対象体の検査を行う検査装置であって、前記検査部材を前記被検査箇所に対して接触させるように作動させる検査準備部材を備え、該検査準備部材の１動作ストローク中に、前記検査部材を前記被検査箇所に対して複数回接触させる構成にしたことを特徴とし、この構成によって、検査準備部材を動作させると、その１動作ストローク中に検査部材が被検査箇所に対して複数回のフラックス除去を行うことになり、検査の前段階の無駄な時間を排除することができ、確実で効率的な検査が可能になる。   In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is configured such that an inspection member is brought into contact with an inspected portion of an inspection object so as to remove flux adhered to the inspected portion, and the contact state An inspection preparation apparatus for inspecting the inspection object, comprising an inspection preparation member that operates to bring the inspection member into contact with the inspected portion, and during one operation stroke of the inspection preparation member, The inspection member is configured to contact the inspected portion a plurality of times. When the inspection preparation member is operated by this configuration, the inspection member is in contact with the inspected portion during one operation stroke. Since flux removal is performed a plurality of times, useless time in the previous stage of inspection can be eliminated, and reliable and efficient inspection becomes possible.

請求項２に記載の発明のように、前記検査準備部材として、前記検査部材を上下駆動させる歯車機構を採用することができる。   As in the invention described in claim 2, a gear mechanism that drives the inspection member up and down can be employed as the inspection preparation member.

請求項３に記載の発明のように、前記検査準備部材として、前記検査部材を上下駆動させる多角形状のカム部を有するカム機構を採用することができる。   As in the third aspect of the present invention, a cam mechanism having a polygonal cam portion that drives the inspection member up and down can be employed as the inspection preparation member.

請求項４に記載の発明のように、前記検査準備部材として、前記検査部材を上下駆動させる楕円形状のカム部を有するカム機構を採用することができる。   As described in the fourth aspect of the present invention, a cam mechanism having an elliptical cam portion that drives the inspection member up and down can be employed as the inspection preparation member.

請求項５に記載の発明のように、前記検査準備部材として、前記検査部材を上下駆動させる一部が円形をなすカム部を有するカム機構を採用することができる。   As in the fifth aspect of the present invention, a cam mechanism having a cam portion in which a part for vertically driving the inspection member forms a circular shape can be adopted as the inspection preparation member.

請求項６に記載の発明のように、前記検査準備部材として、前記検査部材を上下駆動させるクランクシャフトを採用することができる。   As in the sixth aspect of the present invention, a crankshaft that drives the inspection member up and down can be employed as the inspection preparation member.

本発明によれば、検査準備部材を動作させると、その１動作ストローク中に検査部材が被検査箇所に対して複数回接触するため、検査準備部材の始動を何回もさせることなく、複数回のフラックスの除去が行われるため、検査の前段階の無駄な時間を排除することができ、確実で効率的な検査が可能になる。   According to the present invention, when the inspection preparation member is operated, the inspection member comes into contact with the inspected portion a plurality of times during the one operation stroke. Since the flux is removed, useless time before the inspection can be eliminated, and a reliable and efficient inspection becomes possible.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図１は本発明の検査装置に係る実施形態を説明するための斜視図であり、１は検査装置本体、２は、検査装置本体１の側部に配設され、後述するカム駆動部を作動する検査準備部材としての操作レバー、３は、図２に示す構造の複数のフラックス除去手段としてのコンタクトピン４が下面に複数設置され、操作レバー２の回動軸２ａの回動と連動して上下動する検査手段としてのピンベース体である。なお、コンタクトピン４は、導電材料で形成され、かつ先端形状が鋭利なニードル状のものである。   FIG. 1 is a perspective view for explaining an embodiment of an inspection apparatus according to the present invention, wherein 1 is an inspection apparatus body, 2 is disposed on a side portion of the inspection apparatus body 1, and operates a cam drive section described later. The operation lever 3 as an inspection preparation member to be operated is provided with a plurality of contact pins 4 as a plurality of flux removing means having the structure shown in FIG. 2 on the lower surface, and in conjunction with the rotation of the rotation shaft 2a of the operation lever 2. It is a pin base body as an inspection means that moves up and down. The contact pin 4 is formed of a conductive material and has a needle shape with a sharp tip shape.

図３は本実施形態におけるピンベース体を駆動する駆動部の構成図であり、５は操作レバー２の回動軸２ａに固定された駆動歯車、６は駆動歯車５に噛合する従動歯車、７は従動歯車６に固定されて共に回転する駆動回転軸、８は、駆動回転軸７に固定され、ピンベース体３を上下駆動させる複数（本例では２つを示す）の三角形状のカム部材である。   FIG. 3 is a configuration diagram of a drive unit for driving the pin base body in the present embodiment, 5 is a drive gear fixed to the rotation shaft 2 a of the operation lever 2, 6 is a driven gear meshing with the drive gear 5, and 7. Is a drive rotary shaft that is fixed to the driven gear 6 and rotates together, and 8 is a plurality of (two shown in this example) triangular cam members that are fixed to the drive rotary shaft 7 and drive the pin base body 3 up and down. It is.

本実施形態の検査装置では、被検査対象は電子部品が実装されたプリント基板であり、基板の電気的特性の検査を行うものであって、複数の各コンタクトピン４が、プリント基板の被検査箇所、例えば電極部および電子部品のリード半田付け部などに対応して、ピンベース体３に複数配列された構成になっている。   In the inspection apparatus according to the present embodiment, the object to be inspected is a printed circuit board on which electronic components are mounted, and inspects the electrical characteristics of the circuit board. The pin base body 3 has a plurality of arrangements corresponding to locations, for example, electrode portions and lead soldering portions of electronic components.

検査時の動作の概略は、被検査対象であるプリント基板を検査装置本体１上に載置し、操作レバー２を回動させ、ピンベース体３をプリント基板に対して移動させることにより、各コンタクトピン４の先端を被検査箇所に押し当て、リフローなどの実装過程で表面に形成されているフラックス膜を、コンタクトピン４の先端によって突き破るようにして除去する。これが検査準備段階である。   The outline of the operation at the time of inspection is that each printed circuit board to be inspected is placed on the inspection apparatus main body 1, the operation lever 2 is rotated, and the pin base body 3 is moved with respect to the printed circuit board. The tip of the contact pin 4 is pressed against a part to be inspected, and the flux film formed on the surface in the mounting process such as reflow is removed by breaking through the tip of the contact pin 4. This is the inspection preparation stage.

そして検査段階には、コンタクトピン４の先端がプリント基板の被検査箇所に接触しているため、コンタクトピン４を電気的に導通することによりコンタクトピン４を介して電気信号を得て、この電気信号を検査装置内の電気回路（図示せず）で処理することによって、半田付け部における欠陥部分、あるいは電子部品の損傷箇所や未マウント箇所などを検出する。   In the inspection stage, since the tip of the contact pin 4 is in contact with the part to be inspected of the printed circuit board, an electrical signal is obtained via the contact pin 4 by electrically connecting the contact pin 4, and this electrical By processing the signal with an electric circuit (not shown) in the inspection apparatus, a defective portion in the soldered portion, a damaged portion of the electronic component, an unmounted portion, or the like is detected.

本実施形態では、前記検査準備段階において、操作レバー２の１回動ストローク中にピンベース体３を複数回上下移動させ、コンタクトピン４を被検査箇所に対して複数回接触させるようにしたことが特徴である。   In the present embodiment, in the preparation stage for inspection, the pin base body 3 is moved up and down a plurality of times during one rotation stroke of the operation lever 2, and the contact pin 4 is brought into contact with the portion to be inspected a plurality of times. Is a feature.

次に、本実施形態の検査動作について、図４の本実施形態の検査動作に係るフローチャートと、図５（ａ）〜（ｃ）の本実施形態のカム駆動部における検査動作過程の説明図を参照して説明する。   Next, with respect to the inspection operation of the present embodiment, a flowchart relating to the inspection operation of the present embodiment in FIG. 4 and an explanatory diagram of the inspection operation process in the cam drive unit of the present embodiment in FIGS. The description will be given with reference.

作業者は、被検査対象であるプリント基板を所定の位置にセットし（Ｓ１−１）、図５（ａ）に示すように、回動軸２ａを中心として操作レバー３を回動させる（Ｓ１−２）。この始動時には、三角形状のカム部材８は平坦面がピンベース体３に接している待機状態にある。   The operator sets the printed circuit board to be inspected at a predetermined position (S1-1), and rotates the operation lever 3 about the rotation shaft 2a as shown in FIG. 5A (S1). -2). At the time of starting, the triangular cam member 8 is in a standby state in which the flat surface is in contact with the pin base body 3.

さらに、操作レバー３を回動させると、図５（ｂ）に示すように、駆動歯車５と従動歯車６との噛合により回動力が駆動回転軸７に伝わり、駆動回転軸７と共に三角形状のカム部材８が回動して、カム部材８の頂点部にてピンベース体３を移動（例えば１〜２ｃｍ程度のストローク）させるように押圧する（Ｓ１−３）。これによってピンベース体３に設けられているコンタクトピン４が、図示しないプリント基板の被検査箇所に当接してフラックスを除去する（Ｓ１−４）。   Further, when the operation lever 3 is rotated, as shown in FIG. 5B, the rotational force is transmitted to the drive rotation shaft 7 by the meshing of the drive gear 5 and the driven gear 6, and the triangular shape is formed together with the drive rotation shaft 7. The cam member 8 rotates and is pressed so as to move the pin base body 3 at the apex of the cam member 8 (for example, a stroke of about 1 to 2 cm) (S1-3). As a result, the contact pins 4 provided on the pin base body 3 come into contact with the inspected portion of the printed circuit board (not shown) to remove the flux (S1-4).

さらに、操作レバー３を回動させると、図５（ｃ）に示すように、三角形状のカム部材８が回動し、カム部材８の平坦面がピンベース体３に接して、コンタクトピン４が被検査箇所から離れるようにピンベース体３が移動する。そして、さらに操作レバー３の回動を継続することにより、再び図５（ｂ）の状態になり、コンタクトピン４が、プリント基板の被検査箇所に再度当接する。このようにしてフラックスを確実に除去することが可能になる。   When the operation lever 3 is further rotated, as shown in FIG. 5C, the triangular cam member 8 is rotated, the flat surface of the cam member 8 is in contact with the pin base body 3, and the contact pin 4 is rotated. The pin base body 3 moves so as to move away from the location to be inspected. Further, by continuing the rotation of the operation lever 3, the state again becomes as shown in FIG. 5B, and the contact pin 4 comes into contact again with the inspected portion of the printed circuit board. In this way, the flux can be reliably removed.

本例では駆動歯車５と従動歯車６との歯数比が３対１になっており、コンタクトピン４のカム部材８による上下駆動は、操作レバー３の１回動ストロークの間で３回行われ（Ｓ１−５）、コンタクトピン４が、図示しないプリント基板の被検査箇所のフラックスをより確実かつ良好に除去することが可能になる。   In this example, the gear ratio between the drive gear 5 and the driven gear 6 is 3 to 1, and the vertical drive by the cam member 8 of the contact pin 4 is performed three times during one rotation stroke of the operation lever 3. (S1-5), the contact pins 4 can more reliably and satisfactorily remove the flux at the location to be inspected on the printed board (not shown).

そして、操作レバー３の回動ストローク終端において、コンタクトピン４が被検査箇所に接触した状態で、コンタクトピン４に導電して所定の検査を開始する（Ｓ１−６）。   Then, at the end of the rotation stroke of the operation lever 3, in a state where the contact pin 4 is in contact with the location to be inspected, a predetermined inspection is started by conducting to the contact pin 4 (S1-6).

検査後に作業者は、操作レバー３を逆方向へ回動することにより、各部が図５（ａ）に示す位置に復帰して待機状態となる。   After the inspection, the operator rotates the operation lever 3 in the reverse direction, whereby each unit returns to the position shown in FIG. 5A and enters a standby state.

図６（ａ）〜（ｃ）は本実施形態のカム駆動部の第１変形例を示し、その構成と検査動作過程を示す説明図である。なお、以下の説明において、既に説明した部材と同一部材には同一符号を付して詳しい説明は省略する。   6A to 6C are explanatory views showing a first modification of the cam drive unit of the present embodiment, showing its configuration and the inspection operation process. In the following description, the same members as those already described are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

第１変形例が図５（ａ）〜（ｃ）に示すカム駆動部の構成と異なる点は、カム部材１０を楕円形状にした点である。本変形例におけるコンタクトピン４による被検査箇所のフラックス除去動作は、図５（ａ）〜（ｃ）に示す三角形状のカム部材８を設置してなるカム駆動部と同様にして行われる。   The first modification is different from the configuration of the cam drive unit shown in FIGS. 5A to 5C in that the cam member 10 has an elliptical shape. The flux removal operation at the location to be inspected by the contact pin 4 in the present modification is performed in the same manner as the cam drive unit in which the triangular cam member 8 shown in FIGS. 5 (a) to 5 (c) is installed.

図７（ａ）〜（ｃ）は本実施形態のカム駆動部の第２変形例を示し、その構成と検査動作過程を示す説明図である。   FIGS. 7A to 7C are explanatory views showing a second modification of the cam drive unit of the present embodiment and showing its configuration and inspection operation process.

第２変形例はカム部材１１を扇形状にしている点が、前記カム駆動部と異なるが他の構成は同様であって、本変形例におけるコンタクトピン４による被検査箇所のフラックス除去動作は、図５（ａ）〜（ｃ）に示すカム駆動部と同様にして行われる。   The second modified example is different from the cam drive unit in that the cam member 11 has a fan shape, but the other configuration is the same, and the flux removal operation at the location to be inspected by the contact pin 4 in this modified example is as follows. This is performed in the same manner as the cam driving unit shown in FIGS.

図８（ａ）〜（ｃ）は本実施形態のカム駆動部の第３変形例を示し、その構成と検査動作過程を示す説明図である。第３変形例では、上述したカム駆動部のカム部材に代えてクランク機構を用いている。   FIGS. 8A to 8C are explanatory views showing a third modification of the cam drive unit of the present embodiment, showing its configuration and the inspection operation process. In the third modification, a crank mechanism is used in place of the cam member of the cam drive unit described above.

図８（ａ）〜（ｃ）において、１２は駆動回転軸７に一端部が固定されているクランクシャフト、１３はクランクシャフト１２の他端部に回動可能に連結されている連結レバー、１４は上下方向に溝１５が形成されているガイド部材、１６は、連結レバー１３に設けられて、ガイド部材１４の溝１５に挿入されているガイドピン、１７は、ピンベース体３から垂下して、対向するガイド部材１４間に遊嵌されているベース体作動部である。   8A to 8C, reference numeral 12 denotes a crankshaft whose one end is fixed to the drive rotating shaft 7, reference numeral 13 denotes a connecting lever that is rotatably connected to the other end of the crankshaft 12, Is a guide member in which a groove 15 is formed in the vertical direction, 16 is a guide pin provided in the groove 15 of the guide member 14 provided on the coupling lever 13, and 17 is suspended from the pin base body 3. The base body operating portion is loosely fitted between the opposing guide members 14.

本変形例では、操作レバー３を回動させると、クランクシャフト１２と連結レバー１３とによって回動が上下動に変換され、ガイド部材１４に案内されて連結レバー１３がベース体作動部１７を押圧する構造になっている。前記上下動のタイミングは、前記カム駆動部による場合と同様に行われる。   In this modification, when the operation lever 3 is rotated, the rotation is converted into vertical movement by the crankshaft 12 and the connecting lever 13, and the guide lever 14 guides the connecting lever 13 to press the base body operating portion 17. It has a structure to do. The timing of the vertical movement is performed in the same manner as in the case of the cam driving unit.

なお、ガイド部材１４の上下部に緩衝材を設置すれば、前記上下動端において衝撃を緩衝し振動の発生を抑制することができ、円滑な動作が行われるようになる。   In addition, if a buffer material is installed in the upper and lower parts of the guide member 14, an impact can be buffered in the up-and-down moving end, generation | occurrence | production of a vibration can be suppressed, and smooth operation comes to be performed.

本発明は、検査箇所に付着したフラックスを除去するようにして検査部材を接触させ、被検査対象体の検査を行う検査装置に適用され、特に、プリント基板の電気的検査に検査用コンタクトピンを使用する検査装置に実施して有効である。   The present invention is applied to an inspection apparatus for inspecting an object to be inspected by contacting an inspection member so as to remove the flux adhering to the inspection location, and in particular, an inspection contact pin is used for electrical inspection of a printed circuit board. It is effective when applied to the inspection equipment used.

本発明の検査装置に係る実施形態を説明するための斜視図The perspective view for demonstrating embodiment which concerns on the inspection apparatus of this invention 本実施形態にて使用されるコンタクトピンの要部を示す図The figure which shows the principal part of the contact pin used in this embodiment 本実施形態におけるピンベース体を駆動する駆動部の構成図Configuration diagram of a drive unit for driving the pin base body in the present embodiment 本実施形態の検査動作に係るフローチャートFlow chart according to the inspection operation of this embodiment （ａ）〜（ｃ）は本実施形態のカム駆動部における検査動作過程の説明図(A)-(c) is explanatory drawing of the test | inspection operation | movement process in the cam drive part of this embodiment. （ａ）〜（ｃ）は本実施形態のカム駆動部の第１変形例における構成と検査動作過程を示す説明図(A)-(c) is explanatory drawing which shows the structure and test | inspection operation | movement process in the 1st modification of the cam drive part of this embodiment. （ａ）〜（ｃ）は本実施形態のカム駆動部の第２変形例における構成と検査動作過程を示す説明図(A)-(c) is explanatory drawing which shows the structure and test | inspection operation | movement process in the 2nd modification of the cam drive part of this embodiment. （ａ）〜（ｃ）は本実施形態のカム駆動部の第３変形例における構成と検査動作過程を示す説明図(A)-(c) is explanatory drawing which shows the structure and test | inspection operation | movement process in the 3rd modification of the cam drive part of this embodiment. 従来のコンタクトピンによる検査工程を説明するためのフローチャートFlow chart for explaining a conventional inspection process using contact pins

符号の説明Explanation of symbols

１ 検査装置本体
２ 操作レバー
２ａ 回動軸
３ ピンベース体
４ コンタクトピン
５ 駆動歯車
６ 従動歯車
７ 駆動回転軸
８ 三角形状のカム部材
１０ 楕円形状のカム部材
１１ 扇形状のカム部材
１２ クランクシャフト
１３ 連結レバー
１４ ガイド部材
１５ 溝
１６ ガイドピン
１７ ベース体作動部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection apparatus main body 2 Operation lever 2a Rotating shaft 3 Pin base body 4 Contact pin 5 Driving gear 6 Driven gear 7 Driving rotating shaft 8 Triangular cam member 10 Elliptical cam member 11 Fan-shaped cam member 12 Crankshaft 13 Connecting lever 14 Guide member 15 Groove 16 Guide pin 17 Base body operating part

Claims (6)

検査対象体の被検査箇所に対して、該被検査箇所に付着したフラックスを除去するようにして検査部材を接触させ、該接触状態にて前記検査対象体の検査を行う検査装置であって、
前記検査部材を前記被検査箇所に対して接触させるように作動させる検査準備部材を備え、該検査準備部材の１動作ストローク中に、前記検査部材を前記被検査箇所に対して複数回接触させる構成にしたことを特徴とする検査装置。 An inspection apparatus that inspects the inspection object in the contact state by contacting the inspection member so as to remove the flux adhering to the inspection object with respect to the inspection object of the inspection object,
An inspection preparation member that operates to bring the inspection member into contact with the inspection location, and the inspection member contacts the inspection location multiple times during one operation stroke of the inspection preparation member Inspection device characterized by that. 前記検査準備部材に、前記検査部材を上下駆動させる歯車機構を設置したことを特徴とする請求項１記載の検査装置。   The inspection apparatus according to claim 1, wherein a gear mechanism that vertically drives the inspection member is installed on the inspection preparation member. 前記検査準備部材に、前記検査部材を上下駆動させる多角形状のカム部を有するカム機構を設置したことを特徴とする請求項１記載の検査装置。   The inspection apparatus according to claim 1, wherein a cam mechanism having a polygonal cam portion that drives the inspection member up and down is installed on the inspection preparation member. 前記検査準備部材に、前記検査部材を上下駆動させる楕円形状のカム部を有するカム機構を設置したことを特徴とする請求項１記載の検査装置。   The inspection apparatus according to claim 1, wherein a cam mechanism having an elliptical cam portion that drives the inspection member up and down is installed on the inspection preparation member. 前記検査準備部材に、前記検査部材を上下駆動させる一部が円形をなすカム部を有するカム機構を設置したことを特徴とする請求項１記載の検査装置。   The inspection apparatus according to claim 1, wherein a cam mechanism having a cam portion in which a part of the inspection preparation member that drives the inspection member up and down is circular is installed on the inspection preparation member. 前記検査準備部材に、前記検査部材を上下駆動させるクランクシャフトを設置したことを特徴とする請求項１記載の検査装置。   The inspection apparatus according to claim 1, wherein a crankshaft for vertically driving the inspection member is installed on the inspection preparation member.
JP2007157158A 2007-06-14 2007-06-14 Inspection apparatus Pending JP2008309608A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007157158A JP2008309608A (en) 2007-06-14 2007-06-14 Inspection apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007157158A JP2008309608A (en) 2007-06-14 2007-06-14 Inspection apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008309608A true JP2008309608A (en) 2008-12-25

Family

ID=40237346

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007157158A Pending JP2008309608A (en) 2007-06-14 2007-06-14 Inspection apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008309608A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112462106A (en) * 2020-11-29 2021-03-09 法特迪精密科技（苏州）有限公司 Probe adapter and socket matching method for synchronous test or similar synchronous test
CN112462105A (en) * 2020-11-29 2021-03-09 法特迪精密科技（苏州）有限公司 Probe adaptor and socket structure for synchronous or quasi-synchronous test and key structure
CN113625018A (en) * 2020-11-29 2021-11-09 法特迪精密科技（苏州）有限公司 Probe structure

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112462106A (en) * 2020-11-29 2021-03-09 法特迪精密科技（苏州）有限公司 Probe adapter and socket matching method for synchronous test or similar synchronous test
CN112462105A (en) * 2020-11-29 2021-03-09 法特迪精密科技（苏州）有限公司 Probe adaptor and socket structure for synchronous or quasi-synchronous test and key structure
CN112462105B (en) * 2020-11-29 2021-07-30 法特迪精密科技（苏州）有限公司 Probe adaptor and socket structure for synchronous or quasi-synchronous test and key structure
CN113625018A (en) * 2020-11-29 2021-11-09 法特迪精密科技（苏州）有限公司 Probe structure
CN113625018B (en) * 2020-11-29 2022-05-06 法特迪精密科技（苏州）有限公司 Probe structure

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2004132971A (en) Probe card
JP2009211816A (en) Printed circuit board, electronic equipment, and connector
JP2007285882A (en) Board inspection contact, tool, and system
KR20090093738A (en) Contact probe
JP2008309608A (en) Inspection apparatus
KR20140080166A (en) Pcb substrate inspection device
KR200447630Y1 (en) Inspection machine of surface mounting board
JP2005300409A (en) Inspection unit
JP2013008628A (en) Inspection socket of semiconductor device
JP2005265806A (en) Fixture for shearing test
KR101318184B1 (en) Auto clinching device
JP2000031222A (en) Burn-in inspection jig
KR101192209B1 (en) The fixture for circuit board inspection
KR101000456B1 (en) Probe unit with easy maintenance
JP2007071537A (en) Device and method for inspecting printed circuit board
JP2011106980A (en) Probe card
JP2005310950A (en) Manufacturing method of electric conductive pattern in printed circuit board and manufacturing device
JP2002296327A (en) Inspection jig and method of inspecting circuit board, and manufacturing method
JP3418720B2 (en) Substrate inspection device and substrate inspection method
JP2008039639A (en) Measurement probe of contact type
JP2007263630A (en) Inspection tool and inspection unit for printed circuit board
KR100624143B1 (en) A probe apparatus of resistance inspection for printed circuit board
JP2009156860A (en) Inspection apparatus
JP2012237656A (en) Device for fixing substrate to be inspected
JP2001305190A (en) Inspection device of electronic circuit board