JP2002288991A - 自動サンプルホールド装置及びパルス変調高周波信号発生装置 - Google Patents
自動サンプルホールド装置及びパルス変調高周波信号発生装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 パルス幅の変化に追随できるサンプルホール
ドの切替え信号を得ることにより、パルス波の正しい振
幅を検出できる自動サンプルホールド装置を得る。 【解決手段】 入力信号が存在する期間のみクロックパ
ルスを出力するクロックパルス発生部４Ａと、クロック
パルスを基準にしてサンプル指令とホールド指令とが交
互に切り替わる切替え信号を、次の切替え信号では前の
切替え信号のホールド指令に次のホールド指令が並ぶよ
うにして順次出力する切替え信号発生回路６と、切替え
信号が印加されると入力信号をサンプルホールドして出
力する２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂと、入力
信号の立ち下がり直前のクロックパルス時にホールドし
ているサンプルホールド回路の出力を入力信号の立ち下
がり以後も出力し続ける出力回路８とを備えている。
ドの切替え信号を得ることにより、パルス波の正しい振
幅を検出できる自動サンプルホールド装置を得る。 【解決手段】 入力信号が存在する期間のみクロックパ
ルスを出力するクロックパルス発生部４Ａと、クロック
パルスを基準にしてサンプル指令とホールド指令とが交
互に切り替わる切替え信号を、次の切替え信号では前の
切替え信号のホールド指令に次のホールド指令が並ぶよ
うにして順次出力する切替え信号発生回路６と、切替え
信号が印加されると入力信号をサンプルホールドして出
力する２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂと、入力
信号の立ち下がり直前のクロックパルス時にホールドし
ているサンプルホールド回路の出力を入力信号の立ち下
がり以後も出力し続ける出力回路８とを備えている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、パルス波のサンプ
ルホールドを行う自動サンプルホールド装置及びパルス
変調高周波信号発生装置に関するものである。
ルホールドを行う自動サンプルホールド装置及びパルス
変調高周波信号発生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のパルス波のサンプルホールドを行
う自動サンプルホールド装置は、パルス波のパルス幅が
一定のものであり、このため該パルス波のパルス幅内で
その立上がりから一定の時間経過後の振幅をサンプルホ
ールドすることにより、パルスの振幅を検出していた。
う自動サンプルホールド装置は、パルス波のパルス幅が
一定のものであり、このため該パルス波のパルス幅内で
その立上がりから一定の時間経過後の振幅をサンプルホ
ールドすることにより、パルスの振幅を検出していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の自動サンプルホールド装置では、入力パルス
波のパルス幅が変化する場合には、入力パルス波より少
し早く立ち下がるサンプルホールド用信号を別途入力さ
せなければならない。この際に、パルス幅が別の要因で
どれだけの幅になるか不明の場合がある。このような
時、入力パルス波の立ち下がりをいち早く検出し、サン
プルホールド回路のアクイジション時間の遅れ時間内
に、ホールドに切り換えねばならない。この時、アクイ
ジション時間の短いものを使えば、立ち下がり途中の振
幅をサンプルしてしまう危険性があり、アクイジション
時間の長いものを使えば、狭いパルス幅の急速な変化に
応答できないことになり、いずれも正確な値を得られな
い問題点がある。
うな従来の自動サンプルホールド装置では、入力パルス
波のパルス幅が変化する場合には、入力パルス波より少
し早く立ち下がるサンプルホールド用信号を別途入力さ
せなければならない。この際に、パルス幅が別の要因で
どれだけの幅になるか不明の場合がある。このような
時、入力パルス波の立ち下がりをいち早く検出し、サン
プルホールド回路のアクイジション時間の遅れ時間内
に、ホールドに切り換えねばならない。この時、アクイ
ジション時間の短いものを使えば、立ち下がり途中の振
幅をサンプルしてしまう危険性があり、アクイジション
時間の長いものを使えば、狭いパルス幅の急速な変化に
応答できないことになり、いずれも正確な値を得られな
い問題点がある。
【０００４】また、パルス変調した高周波信号の出力を
安定化するとき、パルス状の検波出力を正確に検出しな
いと、高周波レベルも正しく安定化されない。特にパル
ス幅が変化するとき、最小幅より小さいところまでをサ
ンプルする方法を使用していたが、これは必ずしも正し
い値とは言えない。
安定化するとき、パルス状の検波出力を正確に検出しな
いと、高周波レベルも正しく安定化されない。特にパル
ス幅が変化するとき、最小幅より小さいところまでをサ
ンプルする方法を使用していたが、これは必ずしも正し
い値とは言えない。
【０００５】本発明の目的は、パルス幅の変化に追随で
きるサンプルホールドの切替え信号を得ることにより、
パルス波の正しい振幅を検出できる自動サンプルホール
ド装置を提供することにある。
きるサンプルホールドの切替え信号を得ることにより、
パルス波の正しい振幅を検出できる自動サンプルホール
ド装置を提供することにある。
【０００６】本発明の他の目的は、パルス幅の変化にも
追随してサンプルホールドして高周波出力レベルを一定
に保つように制御できるパルス変調高周波信号発生装置
を提供することにある。
追随してサンプルホールドして高周波出力レベルを一定
に保つように制御できるパルス変調高周波信号発生装置
を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、入力信号のパ
ルス波をサンプルし、ホールドしてホールド値を出力す
る自動サンプルホールド装置を改良するものである。
ルス波をサンプルし、ホールドしてホールド値を出力す
る自動サンプルホールド装置を改良するものである。
【０００８】請求項１に記載の自動サンプルホールド装
置は、入力信号が存在する期間のみクロックパルスを出
力するクロックパルス発生部と、クロックパルスを基準
にしてサンプル指令とホールド指令とが交互に切り替わ
る切替え信号を、次の切替え信号では前の切替え信号の
ホールド指令に次のホールド指令が並ぶようにして順次
出力する切替え信号発生回路と、切替え信号が交互に印
加されると入力信号を交互にサンプルホールドして出力
する２個のサンプルホールド回路と、入力信号の立ち下
がり直前のクロックパルス時にホールドしているサンプ
ルホールド回路の出力を入力信号の立ち下がり以後も出
力し続ける出力回路とを備えてなるものである。
置は、入力信号が存在する期間のみクロックパルスを出
力するクロックパルス発生部と、クロックパルスを基準
にしてサンプル指令とホールド指令とが交互に切り替わ
る切替え信号を、次の切替え信号では前の切替え信号の
ホールド指令に次のホールド指令が並ぶようにして順次
出力する切替え信号発生回路と、切替え信号が交互に印
加されると入力信号を交互にサンプルホールドして出力
する２個のサンプルホールド回路と、入力信号の立ち下
がり直前のクロックパルス時にホールドしているサンプ
ルホールド回路の出力を入力信号の立ち下がり以後も出
力し続ける出力回路とを備えてなるものである。
【０００９】このような自動サンプルホールド装置で
は、２個のサンプルホールド回路が入力信号のパルス幅
が入力されている間、入力信号のパルス波を交互にサン
プルホールドする動作を繰り返しているので、出力回路
は入力信号の立ち下がり直前のクロックパルス時にホー
ルドしているサンプルホールド回路の出力を入力信号の
立ち下がり以後も出力し続けることができ、このため入
力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立ち下が
り直前にホールドしているサンプルホールド回路の出力
を出力させることができ、パルス波の正しい振幅を検出
することができる。
は、２個のサンプルホールド回路が入力信号のパルス幅
が入力されている間、入力信号のパルス波を交互にサン
プルホールドする動作を繰り返しているので、出力回路
は入力信号の立ち下がり直前のクロックパルス時にホー
ルドしているサンプルホールド回路の出力を入力信号の
立ち下がり以後も出力し続けることができ、このため入
力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立ち下が
り直前にホールドしているサンプルホールド回路の出力
を出力させることができ、パルス波の正しい振幅を検出
することができる。
【００１０】また、請求項２に記載の自動サンプルホー
ルド装置は、入力信号が存在する期間のみクロックパル
スを出力するクロックパルス発生部と、クロックパルス
を基準にしてサンプル指令とホールド指令とをサンプル
指令の時間の方がホールド指令の時間より長くなるよう
にして交互に切り替わる切替え信号を、次の切替え信号
では前の切替え信号のホールド指令に次のホールド指令
が並ぶようにして順次出力する切替え信号発生回路と、
切替え信号が順次印加されると入力信号をそれぞれサン
プルホールドして出力するＮ個のサンプルホールド回路
と、入力信号の立ち下がり直前のクロックパルス時にホ
ールドしているサンプルホールド回路の出力を入力信号
の立ち下がり以後も出力し続ける出力回路とを備えてな
るものである。
ルド装置は、入力信号が存在する期間のみクロックパル
スを出力するクロックパルス発生部と、クロックパルス
を基準にしてサンプル指令とホールド指令とをサンプル
指令の時間の方がホールド指令の時間より長くなるよう
にして交互に切り替わる切替え信号を、次の切替え信号
では前の切替え信号のホールド指令に次のホールド指令
が並ぶようにして順次出力する切替え信号発生回路と、
切替え信号が順次印加されると入力信号をそれぞれサン
プルホールドして出力するＮ個のサンプルホールド回路
と、入力信号の立ち下がり直前のクロックパルス時にホ
ールドしているサンプルホールド回路の出力を入力信号
の立ち下がり以後も出力し続ける出力回路とを備えてな
るものである。
【００１１】このような自動サンプルホールド装置で
は、Ｎ個のサンプルホールド回路が入力信号のパルス幅
が入力されている間、入力信号のパルス波をそれぞれサ
ンプルホールドする動作を繰り返しているので、出力回
路は入力信号の立ち下がり直前のクロックパルス時にホ
ールドしているサンプルホールド回路の出力を入力信号
の立ち下がり以後も出力し続けることができ、このため
入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立ち下
がり直前にホールドしているサンプルホールド回路の出
力を出力させることができ、パルス波の正しい振幅を検
出することができる。特に、切替え信号はサンプル指令
の時間の方がホールド指令の時間より長いので、長いサ
ンプル指令時間を利用して十分に立ち上がった電圧値を
ホールドすることができる。
は、Ｎ個のサンプルホールド回路が入力信号のパルス幅
が入力されている間、入力信号のパルス波をそれぞれサ
ンプルホールドする動作を繰り返しているので、出力回
路は入力信号の立ち下がり直前のクロックパルス時にホ
ールドしているサンプルホールド回路の出力を入力信号
の立ち下がり以後も出力し続けることができ、このため
入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立ち下
がり直前にホールドしているサンプルホールド回路の出
力を出力させることができ、パルス波の正しい振幅を検
出することができる。特に、切替え信号はサンプル指令
の時間の方がホールド指令の時間より長いので、長いサ
ンプル指令時間を利用して十分に立ち上がった電圧値を
ホールドすることができる。
【００１２】次に、本発明は、高周波信号を出力する高
周波発振器と、高周波信号をパルス入力に従ってパルス
変調してパルス変調高周波信号を形成するパルス変調器
と、パルス変調高周波信号を増幅して出力する電力増幅
器と、増幅されたパルス変調高周波信号の一部を検波し
てパルス波を形成する検波器と、パルス波をサンプルホ
ールドしてサンプルホールド信号を出力する自動サンプ
ルホールド装置と、サンプルホールド信号と基準値と比
較してパルス変調高周波信号の出力レベルが一定になる
ような利得制御信号を電力増幅器に与える比較増幅器と
を備えたパルス変調高周波信号発生装置を改良するもの
である。
周波発振器と、高周波信号をパルス入力に従ってパルス
変調してパルス変調高周波信号を形成するパルス変調器
と、パルス変調高周波信号を増幅して出力する電力増幅
器と、増幅されたパルス変調高周波信号の一部を検波し
てパルス波を形成する検波器と、パルス波をサンプルホ
ールドしてサンプルホールド信号を出力する自動サンプ
ルホールド装置と、サンプルホールド信号と基準値と比
較してパルス変調高周波信号の出力レベルが一定になる
ような利得制御信号を電力増幅器に与える比較増幅器と
を備えたパルス変調高周波信号発生装置を改良するもの
である。
【００１３】請求項３に記載のパルス変調高周波信号発
生装置は、自動サンプルホールド装置として請求項１の
自動サンプルホールド装置を用いることを特徴とする。
生装置は、自動サンプルホールド装置として請求項１の
自動サンプルホールド装置を用いることを特徴とする。
【００１４】このようなパルス変調高周波信号発生装置
では、自動サンプルホールド装置の２個のサンプルホー
ルド回路が入力信号のパルス幅が入力されている間、入
力信号のパルス波を交互にサンプルホールドする動作を
繰り返し、出力回路が入力信号の立ち下がり直前のクロ
ックパルス時にホールドしているサンプルホールド回路
の出力を入力信号の立ち下がり以後も出力し続けるの
で、入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立
ち下がり直前にホールドしているサンプルホールド回路
の出力を出力させることができて、パルス幅が変わって
もパルス波の正しい振幅を検出することができ、高周波
出力レベルを一定に保つように制御することができる。
では、自動サンプルホールド装置の２個のサンプルホー
ルド回路が入力信号のパルス幅が入力されている間、入
力信号のパルス波を交互にサンプルホールドする動作を
繰り返し、出力回路が入力信号の立ち下がり直前のクロ
ックパルス時にホールドしているサンプルホールド回路
の出力を入力信号の立ち下がり以後も出力し続けるの
で、入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立
ち下がり直前にホールドしているサンプルホールド回路
の出力を出力させることができて、パルス幅が変わって
もパルス波の正しい振幅を検出することができ、高周波
出力レベルを一定に保つように制御することができる。
【００１５】請求項４に記載のパルス変調高周波信号発
生装置は、自動サンプルホールド装置として請求項２の
自動サンプルホールド装置を用いることを特徴とする。
生装置は、自動サンプルホールド装置として請求項２の
自動サンプルホールド装置を用いることを特徴とする。
【００１６】このようなパルス変調高周波信号発生装置
では、自動サンプルホールド装置のＮ個のサンプルホー
ルド回路が入力信号のパルス幅が入力されている間、入
力信号のパルス波をそれぞれサンプルホールドする動作
を繰り返し、出力回路が入力信号の立ち下がり直前のク
ロックパルス時にホールドしているサンプルホールド回
路の出力を入力信号の立ち下がり以後も出力し続けるの
で、入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立
ち下がり直前にホールドしているサンプルホールド回路
の出力を出力させることができ、パルス幅が変わっても
パルス波の正しい振幅を検出することができ、高周波出
力レベルを一定に保つように制御することができる。特
に、切替え信号はサンプル指令時間の方がホールド指令
時間より長いので、長いサンプル指令時間を利用して十
分に立ち上がった電圧値をホールドすることができる。
では、自動サンプルホールド装置のＮ個のサンプルホー
ルド回路が入力信号のパルス幅が入力されている間、入
力信号のパルス波をそれぞれサンプルホールドする動作
を繰り返し、出力回路が入力信号の立ち下がり直前のク
ロックパルス時にホールドしているサンプルホールド回
路の出力を入力信号の立ち下がり以後も出力し続けるの
で、入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立
ち下がり直前にホールドしているサンプルホールド回路
の出力を出力させることができ、パルス幅が変わっても
パルス波の正しい振幅を検出することができ、高周波出
力レベルを一定に保つように制御することができる。特
に、切替え信号はサンプル指令時間の方がホールド指令
時間より長いので、長いサンプル指令時間を利用して十
分に立ち上がった電圧値をホールドすることができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】図１は本発明に係る自動サンプル
ホールド装置の実施の形態の第１例を示したものであ
る。
ホールド装置の実施の形態の第１例を示したものであ
る。
【００１８】この自動サンプルホールド装置は、入力信
号が入力される入力端子１と、該入力端子１に入力され
た入力信号のパルス波が基準電源２の基準電圧を越えて
いる期間パルス状の出力を発生して入力信号のパルス幅
を検出するコンパレータよりなるパルス幅検出回路３
と、クロックパルスを出力するクロックパルス発生器４
と、パルス幅検出回路３の出力とクロックパルス発生器
４の出力が共に出されている期間パルスを出力するアン
ド回路５と、アンド回路５の出力がクロック端子に入力
されると換言すればパルス幅検出回路３から入力信号の
パルス幅が検出されている間クロックパルスがクロック
端子に入力されると該クロックパルスを基準にして同じ
時間幅でサンプル指令とホールド指令とが交互に切り替
わる切替え信号を、次の切替え信号では前の切替え信号
のホールド指令に次のホールド指令が並ぶようにして順
次出力するフリップフロップ回路よりなる切替え信号発
生回路６と、該切替え信号発生回路６から切替え信号が
順次印加されると入力信号を交互にサンプルホールドし
て出力する２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂと、
これら２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂがサンプ
ルホールドしている出力を選択して出力すると共に入力
信号のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールドし
ているサンプルホールド回路７Ａまたは７Ｂのサンプル
ホールド出力を入力信号のパルス幅の立ち下がり以後も
出力し続ける半導体スイッチよりなる出力回路８とを備
えた構造になっている。
号が入力される入力端子１と、該入力端子１に入力され
た入力信号のパルス波が基準電源２の基準電圧を越えて
いる期間パルス状の出力を発生して入力信号のパルス幅
を検出するコンパレータよりなるパルス幅検出回路３
と、クロックパルスを出力するクロックパルス発生器４
と、パルス幅検出回路３の出力とクロックパルス発生器
４の出力が共に出されている期間パルスを出力するアン
ド回路５と、アンド回路５の出力がクロック端子に入力
されると換言すればパルス幅検出回路３から入力信号の
パルス幅が検出されている間クロックパルスがクロック
端子に入力されると該クロックパルスを基準にして同じ
時間幅でサンプル指令とホールド指令とが交互に切り替
わる切替え信号を、次の切替え信号では前の切替え信号
のホールド指令に次のホールド指令が並ぶようにして順
次出力するフリップフロップ回路よりなる切替え信号発
生回路６と、該切替え信号発生回路６から切替え信号が
順次印加されると入力信号を交互にサンプルホールドし
て出力する２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂと、
これら２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂがサンプ
ルホールドしている出力を選択して出力すると共に入力
信号のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールドし
ているサンプルホールド回路７Ａまたは７Ｂのサンプル
ホールド出力を入力信号のパルス幅の立ち下がり以後も
出力し続ける半導体スイッチよりなる出力回路８とを備
えた構造になっている。
【００１９】この自動サンプルホールド装置において
は、入力端子１に入力信号のパルス波が入力されると、
このパルス波はコンパレータよりなるパルス幅検出回路
３にて基準電源２の基準電圧と比較され基準電圧を越え
ている期間図２（Ａ）に示すようにパルス状の出力Ｐを
発生する。一方、クロックパルス発生器４は、図２
（Ｂ）に示すようなクロックパルスＣを発生する。この
クロックパルスＣはアンド回路５に入力され、パルス状
の出力Ｐが入力されている期間該アンド回路５からクロ
ックパルスＣと同じ間隔でパルスが出力され、フリップ
フロップ回路よりなる切替え信号発生回路６のクロック
端子に入力される。切替え信号発生回路６はクロックパ
ルスを基準にして同じ時間間隔でサンプル指令とホール
ド指令とが切替わる切替え信号を、次の切替え信号では
前の切替え信号のホールド指令に次のホールド指令が並
ぶようにして２つの出力端子から順次発生する。これら
切替え信号は２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂに
順次印加され、これらサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂ
は、切替え信号が印加されると入力信号をサンプルし、
ホールドして出力する。半導体スイッチよりなる出力回
路８は、２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂがサン
プルホールドしている出力を選択して出力すると共に入
力信号のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールド
しているサンプルホールド回路７Ａまたは７Ｂのサンプ
ルホールド出力を入力信号のパルス幅の立ち下がり以後
も出力し続ける。出力回路８の出力で制御される次段の
回路は、時間幅が長い、入力信号のパルス幅の立ち下が
り直前にホールドしているホールド出力により制御され
る。
は、入力端子１に入力信号のパルス波が入力されると、
このパルス波はコンパレータよりなるパルス幅検出回路
３にて基準電源２の基準電圧と比較され基準電圧を越え
ている期間図２（Ａ）に示すようにパルス状の出力Ｐを
発生する。一方、クロックパルス発生器４は、図２
（Ｂ）に示すようなクロックパルスＣを発生する。この
クロックパルスＣはアンド回路５に入力され、パルス状
の出力Ｐが入力されている期間該アンド回路５からクロ
ックパルスＣと同じ間隔でパルスが出力され、フリップ
フロップ回路よりなる切替え信号発生回路６のクロック
端子に入力される。切替え信号発生回路６はクロックパ
ルスを基準にして同じ時間間隔でサンプル指令とホール
ド指令とが切替わる切替え信号を、次の切替え信号では
前の切替え信号のホールド指令に次のホールド指令が並
ぶようにして２つの出力端子から順次発生する。これら
切替え信号は２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂに
順次印加され、これらサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂ
は、切替え信号が印加されると入力信号をサンプルし、
ホールドして出力する。半導体スイッチよりなる出力回
路８は、２個のサンプルホールド回路７Ａ，７Ｂがサン
プルホールドしている出力を選択して出力すると共に入
力信号のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールド
しているサンプルホールド回路７Ａまたは７Ｂのサンプ
ルホールド出力を入力信号のパルス幅の立ち下がり以後
も出力し続ける。出力回路８の出力で制御される次段の
回路は、時間幅が長い、入力信号のパルス幅の立ち下が
り直前にホールドしているホールド出力により制御され
る。
【００２０】このため、この自動サンプルホールド装置
によれば、入力信号のパルス幅が変化しても、そのパル
ス幅の立ち下がり直前にサンプルホールドしてパルス波
の正しい振幅を検出することができる。
によれば、入力信号のパルス幅が変化しても、そのパル
ス幅の立ち下がり直前にサンプルホールドしてパルス波
の正しい振幅を検出することができる。
【００２１】図３は本発明に係る自動サンプルホールド
装置の実施の形態の第２例を示したものである。
装置の実施の形態の第２例を示したものである。
【００２２】この自動サンプルホールド装置において
は、切替え信号発生回路６がカウンタで構成され、サン
プルホールド回路がＮ個のサンプルホールド回路７Ａ〜
７Ｎで構成されている。切替え信号発生回路６は、パル
ス幅検出回路３から入力信号のパルス幅が検出されてい
る間クロックパルスＣを基準にして図４（Ｄ）に示すよ
うなサンプル指令Ｓとホールド指令Ｈとを、サンプル指
令の時間の方がホールド指令の時間より長くなるように
して交互に切り替わる切替え信号を、次の切替え信号で
は前の切替え信号のホールド指令Ｈに次のホールド指令
Ｈが並ぶようにして順次出力するようになっている。こ
れら切替え信号がＮ個のサンプルホールド回路７Ａ〜７
Ｎに順次印加されるようになっている。その他の構成
は、図１に示す第１例の自動サンプルホールド装置と同
様に構成されている。
は、切替え信号発生回路６がカウンタで構成され、サン
プルホールド回路がＮ個のサンプルホールド回路７Ａ〜
７Ｎで構成されている。切替え信号発生回路６は、パル
ス幅検出回路３から入力信号のパルス幅が検出されてい
る間クロックパルスＣを基準にして図４（Ｄ）に示すよ
うなサンプル指令Ｓとホールド指令Ｈとを、サンプル指
令の時間の方がホールド指令の時間より長くなるように
して交互に切り替わる切替え信号を、次の切替え信号で
は前の切替え信号のホールド指令Ｈに次のホールド指令
Ｈが並ぶようにして順次出力するようになっている。こ
れら切替え信号がＮ個のサンプルホールド回路７Ａ〜７
Ｎに順次印加されるようになっている。その他の構成
は、図１に示す第１例の自動サンプルホールド装置と同
様に構成されている。
【００２３】この第２例の自動サンプルホールド装置の
動作を、図４（Ａ）〜（Ｆ）を参照して説明する。この
図４では、サンプルホールド回路が４個の場合で示して
いる。 図４（Ａ）は時間目盛りを示している。この時
間目盛りの１目盛りは、例えば１μｓ程度の時間幅であ
る。
動作を、図４（Ａ）〜（Ｆ）を参照して説明する。この
図４では、サンプルホールド回路が４個の場合で示して
いる。 図４（Ａ）は時間目盛りを示している。この時
間目盛りの１目盛りは、例えば１μｓ程度の時間幅であ
る。
【００２４】図４（Ｂ）は入力信号のパルス波形を示し
ている。
ている。
【００２５】図４（Ｃ）はアンド回路５を通過した出力
パルス（クロックパルス）を示している。
パルス（クロックパルス）を示している。
【００２６】図４（Ｄ）は切替え信号発生回路６が、ア
ンド回路５のゲート後の出力パルスを基準にして出力す
る＃１〜＃４の切替え信号であって、これら切替え信号
はサンプル指令Ｓとホールド指令Ｈとが、サンプル指令
Ｓの時間の方がホールド指令Ｈの時間より長くなるよう
にして交互に切り替わり、次の切替え信号では前の切替
え信号のホールド指令Ｈに次のホールド指令Ｈが並ぶよ
うにして順次出力されるようになっている。
ンド回路５のゲート後の出力パルスを基準にして出力す
る＃１〜＃４の切替え信号であって、これら切替え信号
はサンプル指令Ｓとホールド指令Ｈとが、サンプル指令
Ｓの時間の方がホールド指令Ｈの時間より長くなるよう
にして交互に切り替わり、次の切替え信号では前の切替
え信号のホールド指令Ｈに次のホールド指令Ｈが並ぶよ
うにして順次出力されるようになっている。
【００２７】図４（Ｅ）は＃１〜＃４のサンプルホール
ド回路７Ａ〜７Ｄのサンプルホールド出力を示してい
る。これら＃１〜＃４のサンプルホールド出力は、図４
（Ｄ）に示す対応した＃１〜＃４の切替え信号のホール
ド指令Ｈ時に一定に出力がホールドされている。ただ
し、本例では＃３のサンプルホールド回路７Ｃが、図４
（Ｂ）に示す入力信号のパルス幅の立ち下がり直前にサ
ンプルホールドしているサンプルホールド出力を該入力
信号のパルス幅の立ち下がり以後も出力し続けるように
なっている。
ド回路７Ａ〜７Ｄのサンプルホールド出力を示してい
る。これら＃１〜＃４のサンプルホールド出力は、図４
（Ｄ）に示す対応した＃１〜＃４の切替え信号のホール
ド指令Ｈ時に一定に出力がホールドされている。ただ
し、本例では＃３のサンプルホールド回路７Ｃが、図４
（Ｂ）に示す入力信号のパルス幅の立ち下がり直前にサ
ンプルホールドしているサンプルホールド出力を該入力
信号のパルス幅の立ち下がり以後も出力し続けるように
なっている。
【００２８】図４（Ｆ）は出力回路８の出力を示してい
る。この出力回路８の出力は、＃１〜＃４のサンプルホ
ールド回路７Ａ〜７Ｄがホールドしている出力を順次選
択して出力していて、入力信号のパルス幅の立ち下がり
直前にサンプルホールドしているサンプルホールド出力
が最後に連続して出力されるようになっている。
る。この出力回路８の出力は、＃１〜＃４のサンプルホ
ールド回路７Ａ〜７Ｄがホールドしている出力を順次選
択して出力していて、入力信号のパルス幅の立ち下がり
直前にサンプルホールドしているサンプルホールド出力
が最後に連続して出力されるようになっている。
【００２９】このため、入力信号のパルス幅が変化して
も、そのパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールド
してパルス波の正しい振幅を検出することができる。特
に、切替え信号はサンプル指令Ｓの時間の方がホールド
指令Ｈの時間より長いので、長いサンプル指令時間Ｓｔ
を利用して十分に立ち上がった電圧値をホールドして出
力することができる。
も、そのパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールド
してパルス波の正しい振幅を検出することができる。特
に、切替え信号はサンプル指令Ｓの時間の方がホールド
指令Ｈの時間より長いので、長いサンプル指令時間Ｓｔ
を利用して十分に立ち上がった電圧値をホールドして出
力することができる。
【００３０】図１に示す自動サンプルホールド装置との
違いは、アクイジション時間の長いサンプルホールド回
路７Ａ〜７Ｎを使用しても、高速のクロックパルス発生
器４を使用して、より立ち下がりに近い時点の振幅を検
出できる点にある。
違いは、アクイジション時間の長いサンプルホールド回
路７Ａ〜７Ｎを使用しても、高速のクロックパルス発生
器４を使用して、より立ち下がりに近い時点の振幅を検
出できる点にある。
【００３１】図５は前述した自動サンプルホールド装置
を組み込んだパルス変調高周波信号発生装置の一例を示
したものである。
を組み込んだパルス変調高周波信号発生装置の一例を示
したものである。
【００３２】このパルス変調高周波信号発生装置は、高
周波信号を出力する高周波発振器９と、該高周波発振器
９から出力される高周波信号を入力端子１０からのパル
ス入力に従ってパルス変調してパルス変調高周波信号を
形成するパルス変調器１１と、このパルス変調高周波信
号を増幅して出力する電力増幅器１２と、増幅されたパ
ルス変調高周波信号の一部を方向性結合器１３の箇所で
フィードバックして検波してパルス波を形成する検波器
１４と、該検波器１４から出力されるパルス波をサンプ
ルホールドしてサンプルホールド信号を出力する自動サ
ンプルホールド装置１５と、該自動サンプルホールド装
置１５から出力されるサンプルホールド信号と基準値と
比較してパルス変調高周波信号の出力レベルが一定にな
るような利得制御信号を電力増幅器１２に与える比較増
幅器１６とを備えた構成になっている。このようなパル
ス変調高周波信号発生装置では、自動サンプルホールド
装置１５として図１に示す自動サンプルホールド装置、
或いは図３に示す自動サンプルホールド装置を用いる。
周波信号を出力する高周波発振器９と、該高周波発振器
９から出力される高周波信号を入力端子１０からのパル
ス入力に従ってパルス変調してパルス変調高周波信号を
形成するパルス変調器１１と、このパルス変調高周波信
号を増幅して出力する電力増幅器１２と、増幅されたパ
ルス変調高周波信号の一部を方向性結合器１３の箇所で
フィードバックして検波してパルス波を形成する検波器
１４と、該検波器１４から出力されるパルス波をサンプ
ルホールドしてサンプルホールド信号を出力する自動サ
ンプルホールド装置１５と、該自動サンプルホールド装
置１５から出力されるサンプルホールド信号と基準値と
比較してパルス変調高周波信号の出力レベルが一定にな
るような利得制御信号を電力増幅器１２に与える比較増
幅器１６とを備えた構成になっている。このようなパル
ス変調高周波信号発生装置では、自動サンプルホールド
装置１５として図１に示す自動サンプルホールド装置、
或いは図３に示す自動サンプルホールド装置を用いる。
【００３３】図１に示す自動サンプルホールド装置１５
を用いたパルス変調高周波信号発生装置では、２個のサ
ンプルホールド回路７Ａ，７Ｂが入力信号のパルス幅が
入力されている間、順次印加される切替え信号でサンプ
ルホールド動作をそれぞれ繰り返し、入力信号のパルス
幅の立ち下がり直前にサンプルホールドしているサンプ
ルホールド回路のサンプルホールド出力を出力回路８が
最終出力として連続して出力するので、入力信号のパル
ス幅が変化してもそのパルス幅の立ち下がり直前にサン
プルホールドしてパルス波の正しい振幅を検出すること
ができ、パルス幅の変化にも追随してサンプルホールド
して高周波出力レベルを一定に保つように制御すること
ができる。
を用いたパルス変調高周波信号発生装置では、２個のサ
ンプルホールド回路７Ａ，７Ｂが入力信号のパルス幅が
入力されている間、順次印加される切替え信号でサンプ
ルホールド動作をそれぞれ繰り返し、入力信号のパルス
幅の立ち下がり直前にサンプルホールドしているサンプ
ルホールド回路のサンプルホールド出力を出力回路８が
最終出力として連続して出力するので、入力信号のパル
ス幅が変化してもそのパルス幅の立ち下がり直前にサン
プルホールドしてパルス波の正しい振幅を検出すること
ができ、パルス幅の変化にも追随してサンプルホールド
して高周波出力レベルを一定に保つように制御すること
ができる。
【００３４】図３に示す自動サンプルホールド装置１５
を用いたパルス変調高周波信号発生装置では、Ｎ個のサ
ンプルホールド回路７Ａ〜７Ｎが入力信号のパルス幅が
入力されている間、順次印加される切替え信号でサンプ
ルホールド動作を繰り返し、入力信号のパルス幅の立ち
下がり直前にサンプルホールドしているサンプルホール
ド回路のサンプルホールド出力を出力回路８が最終出力
として連続して出力するので、パルス幅が変化してもそ
のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールドしてパ
ルス波の正しい振幅を検出することができ、パルス幅の
変化にも追随してサンプルホールドして高周波出力レベ
ルを一定に保つように制御することができる。特に、切
替え信号はサンプル指令の時間の方がホールド指令の時
間より長いので、長いサンプル指令の時間を利用して十
分に立ち上がった電圧値をホールドすることができる。
を用いたパルス変調高周波信号発生装置では、Ｎ個のサ
ンプルホールド回路７Ａ〜７Ｎが入力信号のパルス幅が
入力されている間、順次印加される切替え信号でサンプ
ルホールド動作を繰り返し、入力信号のパルス幅の立ち
下がり直前にサンプルホールドしているサンプルホール
ド回路のサンプルホールド出力を出力回路８が最終出力
として連続して出力するので、パルス幅が変化してもそ
のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールドしてパ
ルス波の正しい振幅を検出することができ、パルス幅の
変化にも追随してサンプルホールドして高周波出力レベ
ルを一定に保つように制御することができる。特に、切
替え信号はサンプル指令の時間の方がホールド指令の時
間より長いので、長いサンプル指令の時間を利用して十
分に立ち上がった電圧値をホールドすることができる。
【００３５】このパルス変調高周波信号発生装置では、
自動サンプルホールド装置１５の出力を出力電力監視用
出力として利用することもできる。
自動サンプルホールド装置１５の出力を出力電力監視用
出力として利用することもできる。
【００３６】上記例では、出力回路８は各サンプルホー
ルド回路のホールド時の出力を順次出力し、最後に入力
信号のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールドし
ているサンプルホールド回路のサンプルホールド出力を
最終出力として連続して出力する構造になっていたが、
各サンプルホールド回路のホールド時の各出力は有効な
サンプルホールド出力ではないので、これをカットして
入力信号のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホール
ドしているサンプルホールド回路のサンプルホールド出
力のみを出力する構成にすることもできる。
ルド回路のホールド時の出力を順次出力し、最後に入力
信号のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホールドし
ているサンプルホールド回路のサンプルホールド出力を
最終出力として連続して出力する構造になっていたが、
各サンプルホールド回路のホールド時の各出力は有効な
サンプルホールド出力ではないので、これをカットして
入力信号のパルス幅の立ち下がり直前にサンプルホール
ドしているサンプルホールド回路のサンプルホールド出
力のみを出力する構成にすることもできる。
【００３７】また、図１及び図３では、パルス幅検出回
路３とクロックパルス発生器４とアンド回路５とを一体
化して、入力信号が存在する期間のみクロックパルスを
出力するクロックパルス発生部４Ａを構成することもで
きる。
路３とクロックパルス発生器４とアンド回路５とを一体
化して、入力信号が存在する期間のみクロックパルスを
出力するクロックパルス発生部４Ａを構成することもで
きる。
【００３８】
【発明の効果】請求項１に記載の自動サンプルホールド
装置は、２個のサンプルホールド回路が入力信号のパル
ス幅が入力されている間、入力信号のパルス波を交互に
サンプルホールドする動作を繰り返しているので、出力
回路は入力信号の立ち下がり直前のクロックパルス時に
ホールドしているサンプルホールド回路の出力を入力信
号の立ち下がり以後も出力し続けることができ、このた
め入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立ち
下がり直前にホールドしているサンプルホールド回路の
出力を出力させることができ、パルス波の正しい振幅を
検出することができる。
装置は、２個のサンプルホールド回路が入力信号のパル
ス幅が入力されている間、入力信号のパルス波を交互に
サンプルホールドする動作を繰り返しているので、出力
回路は入力信号の立ち下がり直前のクロックパルス時に
ホールドしているサンプルホールド回路の出力を入力信
号の立ち下がり以後も出力し続けることができ、このた
め入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅の立ち
下がり直前にホールドしているサンプルホールド回路の
出力を出力させることができ、パルス波の正しい振幅を
検出することができる。
【００３９】また、請求項２に記載の自動サンプルホー
ルド装置は、Ｎ個のサンプルホールド回路が入力信号の
パルス幅が入力されている間、入力信号のパルス波をそ
れぞれサンプルホールドする動作を繰り返しているの
で、出力回路は入力信号の立ち下がり直前のクロックパ
ルス時にホールドしているサンプルホールド回路の出力
を入力信号の立ち下がり以後も出力し続けることがで
き、このため入力信号のパルス幅が変化してもそのパル
ス幅の立ち下がり直前にホールドしているサンプルホー
ルド回路の出力を出力させることができ、パルス波の正
しい振幅を検出することができる。特に、切替え信号は
サンプル指令の時間の方がホールド指令の時間より長い
ので、長いサンプル指令時間を利用して十分に立ち上が
った電圧値をホールドすることができる。
ルド装置は、Ｎ個のサンプルホールド回路が入力信号の
パルス幅が入力されている間、入力信号のパルス波をそ
れぞれサンプルホールドする動作を繰り返しているの
で、出力回路は入力信号の立ち下がり直前のクロックパ
ルス時にホールドしているサンプルホールド回路の出力
を入力信号の立ち下がり以後も出力し続けることがで
き、このため入力信号のパルス幅が変化してもそのパル
ス幅の立ち下がり直前にホールドしているサンプルホー
ルド回路の出力を出力させることができ、パルス波の正
しい振幅を検出することができる。特に、切替え信号は
サンプル指令の時間の方がホールド指令の時間より長い
ので、長いサンプル指令時間を利用して十分に立ち上が
った電圧値をホールドすることができる。
【００４０】請求項３に記載のパルス変調高周波信号発
生装置では、自動サンプルホールド装置の２個のサンプ
ルホールド回路が入力信号のパルス幅が入力されている
間、入力信号のパルス波を交互にサンプルホールドする
動作を繰り返し、出力回路が入力信号の立ち下がり直前
のクロックパルス時にホールドしているサンプルホール
ド回路の出力を入力信号の立ち下がり以後も出力し続け
るので、入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅
の立ち下がり直前にホールドしているサンプルホールド
回路の出力を出力させることができて、パルス幅が変わ
ってもパルス波の正しい振幅を検出することができ、高
周波出力レベルを一定に保つように制御することができ
る。
生装置では、自動サンプルホールド装置の２個のサンプ
ルホールド回路が入力信号のパルス幅が入力されている
間、入力信号のパルス波を交互にサンプルホールドする
動作を繰り返し、出力回路が入力信号の立ち下がり直前
のクロックパルス時にホールドしているサンプルホール
ド回路の出力を入力信号の立ち下がり以後も出力し続け
るので、入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス幅
の立ち下がり直前にホールドしているサンプルホールド
回路の出力を出力させることができて、パルス幅が変わ
ってもパルス波の正しい振幅を検出することができ、高
周波出力レベルを一定に保つように制御することができ
る。
【００４１】請求項４に記載のパルス変調高周波信号発
生装置は、自動サンプルホールド装置のＮ個のサンプル
ホールド回路が入力信号のパルス幅が入力されている
間、入力信号のパルス波をそれぞれサンプルホールドす
る動作を繰り返し、出力回路が入力信号の立ち下がり直
前のクロックパルス時にホールドしているサンプルホー
ルド回路の出力を入力信号の立ち下がり以後も出力し続
けるので、入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス
幅の立ち下がり直前にホールドしているサンプルホール
ド回路の出力を出力させることができ、パルス幅が変わ
ってもパルス波の正しい振幅を検出することができ、高
周波出力レベルを一定に保つように制御することができ
る。特に、切替え信号はサンプル指令時間の方がホール
ド指令時間より長いので、長いサンプル指令時間を利用
して十分に立ち上がった電圧値をホールドすることがで
きる。
生装置は、自動サンプルホールド装置のＮ個のサンプル
ホールド回路が入力信号のパルス幅が入力されている
間、入力信号のパルス波をそれぞれサンプルホールドす
る動作を繰り返し、出力回路が入力信号の立ち下がり直
前のクロックパルス時にホールドしているサンプルホー
ルド回路の出力を入力信号の立ち下がり以後も出力し続
けるので、入力信号のパルス幅が変化してもそのパルス
幅の立ち下がり直前にホールドしているサンプルホール
ド回路の出力を出力させることができ、パルス幅が変わ
ってもパルス波の正しい振幅を検出することができ、高
周波出力レベルを一定に保つように制御することができ
る。特に、切替え信号はサンプル指令時間の方がホール
ド指令時間より長いので、長いサンプル指令時間を利用
して十分に立ち上がった電圧値をホールドすることがで
きる。
【図１】本発明に係る自動サンプルホールド装置の実施
の形態の第１例を示したブロック図である。
の形態の第１例を示したブロック図である。
【図２】（Ａ）（Ｂ）は第１例のパルス波出力とクロッ
クパルスとの関係を示す波形図である。
クパルスとの関係を示す波形図である。
【図３】本発明に係る自動サンプルホールド装置の実施
の形態の第２例を示したブロック図である。
の形態の第２例を示したブロック図である。
【図４】（Ａ）〜（Ｆ）は第２例の動作を示す波形図で
ある。
ある。
【図５】本発明に係るパルス変調高周波信号発生装置の
実施の形態の一例を示したブロック図である。
実施の形態の一例を示したブロック図である。
１ 入力端子 ２ 基準電源 ３ パルス幅検出回路 ４ クロックパルス発生器 ４Ａ クロックパルス発生部 ５ アンド回路 ６ 切替え信号発生回路 ７Ａ〜７Ｎ サンプルホールド回路 ８ 出力回路 ９ 高周波発振器 １０ 入力端子 １１ パルス変調器 １２ 電力増幅器 １３ 方向性結合器 １４ 検波器 １５ 自動サンプルホールド装置 １６ 比較増幅器
Claims (4)
- 【請求項１】 入力信号のパルス波をサンプル、ホール
ドしてホールド値を出力する自動サンプルホールド装置
において、 前記入力信号が存在する期間のみクロックパルスを出力
するクロックパルス発生部と、前記クロックパルスを基
準にしてサンプル指令とホールド指令とが交互に切り替
わる切替え信号を、次の切替え信号では前の切替え信号
のホールド指令に次のホールド指令が並ぶようにして順
次出力する切替え信号発生回路と、前記切替え信号が交
互に印加されると前記入力信号を交互にサンプルホール
ドして出力する２個のサンプルホールド回路と、前記入
力信号の立ち下がり直前の前記クロックパルス時にホー
ルドしている前記サンプルホールド回路の出力を前記入
力信号の立ち下がり以後も出力し続ける出力回路とを備
えてなる自動サンプルホールド装置。 - 【請求項２】 入力信号のパルス波をサンプルし、ホー
ルドしてホールド値を出力する自動サンプルホールド装
置において、 前記入力信号が存在する期間のみクロックパルスを出力
するクロックパルス発生部と、前記クロックパルスを基
準にしてサンプル指令とホールド指令とを前記サンプル
指令の時間の方が前記ホールド指令の時間より長くなる
ようにして交互に切り替わる切替え信号を、次の切替え
信号では前の切替え信号のホールド指令に次のホールド
指令が並ぶようにして順次出力する切替え信号発生回路
と、前記切替え信号が順次印加されると前記入力信号を
それぞれサンプルホールドして出力するＮ個のサンプル
ホールド回路と、前記入力信号の立ち下がり直前の前記
クロックパルス時にホールドしている前記サンプルホー
ルド回路の出力を前記入力信号の立ち下がり以後も出力
し続ける出力回路とを備えてなる自動サンプルホールド
装置。 - 【請求項３】 高周波信号を出力する高周波発振器と、
前記高周波信号をパルス入力に従ってパルス変調してパ
ルス変調高周波信号を形成するパルス変調器と、前記パ
ルス変調高周波信号を増幅して出力する電力増幅器と、
増幅されたパルス変調高周波信号の一部を検波してパル
ス波を形成する検波器と、前記パルス波をサンプルホー
ルドしてサンプルホールド信号を出力する自動サンプル
ホールド装置と、前記サンプルホールド信号と基準値と
比較して前記パルス変調高周波信号の出力レベルが一定
になるような利得制御信号を前記電力増幅器に与える比
較増幅器とを備えたパルス変調高周波信号発生装置にお
いて、 前記自動サンプルホールド装置として請求項１の前記自
動サンプルホールド装置を用いることを特徴とするパル
ス変調高周波信号発生装置。 - 【請求項４】 高周波信号を出力する高周波発振器と、
前記高周波信号をパルス入力に従ってパルス変調してパ
ルス変調高周波信号を形成するパルス変調器と、前記パ
ルス変調高周波信号を増幅して出力する電力増幅器と、
増幅されたパルス変調高周波信号の一部を検波してパル
ス波を形成する検波器と、前記パルス波をサンプルホー
ルドしてサンプルホールド信号を出力する自動サンプル
ホールド装置と、前記サンプルホールド信号と基準値と
比較して前記パルス変調高周波信号の出力レベルが一定
になるような利得制御信号を前記電力増幅器に与える比
較増幅器とを備えたパルス変調高周波信号発生装置にお
いて、 前記自動サンプルホールド装置として請求項２の前記自
動サンプルホールド装置を用いることを特徴とするパル
ス変調高周波信号発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001089592A JP4754704B2 (ja) | 2001-03-27 | 2001-03-27 | 自動サンプルホールド装置及びパルス変調高周波信号発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001089592A JP4754704B2 (ja) | 2001-03-27 | 2001-03-27 | 自動サンプルホールド装置及びパルス変調高周波信号発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002288991A true JP2002288991A (ja) | 2002-10-04 |
| JP4754704B2 JP4754704B2 (ja) | 2011-08-24 |
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ID=18944504
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001089592A Expired - Fee Related JP4754704B2 (ja) | 2001-03-27 | 2001-03-27 | 自動サンプルホールド装置及びパルス変調高周波信号発生装置 |
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|---|---|
| JP (1) | JP4754704B2 (ja) |
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| JPS6186900U (ja) * | 1984-11-13 | 1986-06-06 | ||
| JPH0242300U (ja) * | 1988-09-14 | 1990-03-23 |
-
2001
- 2001-03-27 JP JP2001089592A patent/JP4754704B2/ja not_active Expired - Fee Related
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