JP2002286906A - 反射防止方法及び反射防止構造並びに反射防止構造を有する反射防止構造体及びその製造方法 - Google Patents
反射防止方法及び反射防止構造並びに反射防止構造を有する反射防止構造体及びその製造方法Info
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Abstract
的な二次元格子を境界面に形成した場合と同等の反射防
止特性をより低コストで実現できるようにする。 【解決手段】 異なる屈折率率na,nbを有する媒質間
の境界面に、JIS B06011994で定義される凹凸
の算術平均粗さをRa、凹凸の平均間隔をSmとしたと
き、0.001μm<Ra<0.5μm、且つ、0.0
01μm<Sm<0.5μm、且つ、0.01<Ra/
Sm<2.0の関係を満たす複数の凹凸を無作為に形成
することによって反射防止構造とする。
Description
質間の境界面における反射防止技術に関し、特に、情報
技術産業分野の製品において反射防止性能を必要とする
部材に用いて好適の反射防止技術に関する。
る方法として、透明材質の表面反射を低減させる方法が
用いられている。表面反射は屈折率の異なる層間でその
屈折率差に比例して増大するので、表面反射を抑えるた
めには層間での屈折率差を小さくすることが有効であ
り、従来は以下のような反射防止方法1〜3が採用され
てきた。
りも屈折率が大きく、かつ基材よりも屈折率の小さい透
明材料をコーティングする。例えば屈折率Naを有する
媒質aから屈折率Nbを有する媒質bに垂直に光が入射
した場合の反射率は下記の数式(数1)を用いて計算す
ることができる。
たもの。 Na:媒質aの屈折率。 Nb:媒質bの屈折率。 空気中から入射する光の反射率を計算すると、Na=
1.0、Nb=1.50の場合、Rab=4%となる。こ
こで、Nb=1.30の媒質を選択してコーティングす
れば、Rab=1.7%となり反射率を低減することがで
きる。
薄く多層して各層間での反射光の干渉により打ち消し合
って反射を防止する。この無機多層膜構造の反射防止膜
を形成する具体的な方法としては、真空装置中でCaF
2,ZnS,SiO2等の無機材料を繰り返し蒸着するこ
とが知られている。例えば、文献「薄膜・光デバイス吉
田、矢島著 東京大学出版会」には、MgF2とSiO
を組み合わせた例が報告されている。
変化させる屈折率傾斜型の構造によって反射率を低減す
る。この傾斜屈折率型の反射防止膜を形成する具体的な
方法としては、ガラスをイオン交換したり、不純物を拡
散したりする方法が知られている。
従来の反射防止方法1〜3にはいずれにも以下のような
課題があった。まず、従来方法1では、屈折率が所要の
条件を満たす透明材料を選択する必要がある。ところ
が、適用できる透明材料の種類は有限であるため、基材
の材質(屈折率)によっては、うまく条件を満たすよう
な屈折率を有する透明材料を選択することができず、十
分に反射率を低減することができない虞がある。
造による各層間での反射光の干渉や屈折率の連続的な変
化によって全体の反射率を低減させるものであるので、
従来方法1よりも確実に反射率を低減することができ
る。しかしながら、従来方法2では、各層を成膜する際
に最適に設計された膜厚を保持する必要があり、煩雑な
工程が要求されるために高コストになるという課題があ
った。また、従来方法3でも、傾斜屈折率型の反射防止
膜の製造に煩雑な工程が要求されるため従来方法2と同
様に高コストになるという課題があった。
法2,3にかかる無機多層膜構造の反射防止膜或いは傾
斜屈折率型の反射防止膜は特殊な用途にしか使用するこ
とができなかった。例えば、近年の情報技術の発達に伴
って、携帯電話に代表される携帯情報端末が世間一般に
広く普及している。これら携帯情報端末の性能に対する
要求の中で、その視認性の改良は強く求められるもので
あったが、上記のように従来方法2,3にかかる反射防
止膜はそのコスト上の課題からこれら携帯情報端末に使
用することは難しかった。
方法を適用することができない製品も出現している。例
えばタッチパネル,LCD,有機電界発光素子用(有機
EL)等のように、表面に透明電極であるITOが積層
されている製品の場合、このITO上に無機や有機のコ
ーティング膜を付けてしまうと表面の導電性が損なわれ
てしまうため、表面に異なる材質をコーティングする従
来方法1〜3を適用することはできない。
ることから、近年では、比較的低いコストで実現できる
とともに、かつ、製品への適用上の制約が少ない反射防
止方法の案出が望まれていた。そこで、発明者らはこの
要望に答えるため、本発明の創案過程において、まず、
以下の反射防止方法を案出した。まず、表面に周期がΛ
の繰り返し構造を持つ格子を考える。Λがこの格子に入
射する電磁波の波長λより十分に小さい領域での電磁波
の回折現象は、有効屈折率領域での現象として古くから
研究されている。例えば、図7に示すように特に回折格
子がピラミッドのような四角錐あるいは円錐構造を持っ
た二次元格子で、Λがλに比べて十分小さい領域では、
良好な反射防止特性を有することが知られている(文献
「Y. Ono, et al, Antireflection effect in ultrahig
h spatial-frequency holographic relief gratings, A
ppl. Opt. , vol.26, no.6, pp.1142-1146,1987」、
「E. B. Grann, et al, Optimal design for antirefle
ctive tapered two-dimensional subwavelength gratin
g structure, J. Opt. Soc. Am.A, vol.12, no.2, pp.3
33-339, 1995」参照)。
ed Wave Theory(文献「M. G. Moharam et al, Diffrac
tion analysis of dielectric surface-relief grating
s, J. Opt. Soc. Am., vol.72, no.10, pp.1385-1392,
1982」、「K. Yokomori, Appl. Opt. , vol.23, no.14,
pp.2303-2310,1984」参照)等のベクトル回折計算によ
り行われるが、等価屈折率を求める有効屈折率法で議論
しても、大きな相違はないということが報告されている
(前出の文献「Y. Ono, et al, Antireflectioneffect i
n ultrahigh spatial-frequency holographic relief g
ratings, Appl. Opt. , vol.26, no.6, pp.1142-1146,1
987」参照)。
的な回折格子が異なる屈折率na,nbを有する媒質間に
形成された場合、図8(a),図8(b)に示すよう
に、格子領域内の屈折率は一方の媒質の屈折率naから
他方の媒質の屈折率nbへ単調に連続的に変化する。こ
の格子領域を近似的に多層膜から構成されていると考え
ると、屈折率が単調に連続的に変化していることから、
隣り合うi番目の層とi+1番目の層との間の屈折率差
ΔnはΔn=ni+1−ni≒0と考えることができる(n
i:i番目の層の屈折率、ni+1:i+1番目の層の屈折
率)。つまり、有効屈折領域での二次元格子は、近似的
な多層膜構造によって反射防止特性を示すのである。
子を上記のような屈折率の異なる媒質間の境界面に形成
すれば、境界面における反射を効率良く防止することが
できる。そして、この周期的な二次元格子を用いた反射
防止方法によれば、従来方法のように反射防止膜等をコ
ーティングする必要がないため、表面に透明電極である
ITOが積層されている製品にも問題無く適用すること
ができると考えられる。
造の形成は、近年の半導体集積回路作成技術の発展によ
り実現された微細成型技術によって十分に可能ではある
が、現実的には、多くの手間とコストが必要となる。つ
まり、上述した周期的な二次元格子を用いた反射防止方
法では、製品への適用上の制約が少なく、かつ良好な反
射防止特性が得られるものの、比較的低いコストでの実
現という要望には現段階では十分に応えることができな
い。
もので、周期的な二次元格子を境界面に形成した場合と
同等の反射防止特性をより低コストで実現できるように
した、反射防止方法及び反射防止構造、並びに、それを
用いた反射防止構造体とその形成方法を提供することを
目的とする。
的な二次元格子に関する議論の延長として、必ずしも周
期的な構造ではなくランダムな表面微細構造でも反射防
止効果が得られる可能性があると考えた。つまり、図1
(a),図1(b)に示すように、電磁波の波長λより
も十分に小さい境界面構造を有する媒質間に電磁波が入
射した場合、有効屈折率法によりその媒質間における屈
折率は、一方の媒質の屈折率naから他方の媒質の屈折
率nbへ連続的に変化すると考えられる。この場合の屈
折率の変化は、図8に示すような周期的な構造の場合と
異なって単調な変化ではないが、この場合でも近似的に
多層膜から構成されると考えると、隣り合うi番目の層
とi+1番目の層との間では屈折率差Δn=ni+1−ni
≒0と考えることができる。したがって、このようなラ
ンダムな表面微細構造であっても、周期的な構造の場合
と同様に反射防止特性が発現すると考えられる。
面に以下の方法で凹凸を施すことにより、光の表面反射
を効果的に防止できることを見いだしここに発明を完成
した。すなわち、本発明の反射防止方法は、屈折率の異
なる媒質間の境界面における表面反射を防止する反射防
止方法であって、上記境界面に、JIS B 0601
1994で定義される凹凸の算術平均粗さをRa、凹凸の平
均間隔をSmとしたとき、0.001μm<Ra<0.
5μm、且つ、0.001μm<Sm<0.5μm、且
つ、0.01<Ra/Sm<2.0の関係を満たす複数
の凹凸を無作為に形成することを特徴としている。
形成された凹凸であっても、上記の3つの関係を満たし
ているならば、周期的な表面構造と同等の反射防止特性
を得られることができ、有効な反射防止構造として機能
する。すなわち、本発明の反射防止構造は、凹凸を有す
る粗面からなる反射防止構造であって、上記の凹凸が、
JIS B 06011994で定義される凹凸の算術平均粗
さをRa、凹凸の平均間隔をSmとしたとき、0.00
1μm<Ra<0.5μm、且つ、0.001μm<S
m<0.5μm、且つ、0.01<Ra/Sm<2.0
の関係を満たしていることを特徴としている。
射防止構造体として提供することもできる。まず、本発
明の反射防止構造体(第1の反射防止構造体)は、樹脂
ないしガラス製の基板の表面に微細成形加工が施され、
上記の微細成形加工が施された基板表面によって上記の
反射防止構造が形成されていることを特徴としている。
の反射防止構造体)は、平滑な基板の表面に透明電極が
積層され、上記透明電極の表面に現れる上記透明電極の
成分である金属もしくは金属酸化物の粒子によって上記
の反射防止構造が形成されていることを特徴としてい
る。さらに、本発明の別の反射防止構造体(第3の反射
防止構造体)は、平滑な基板の表面に樹脂もしくは無機
質の粒子を含む層が積層され、上記層の表面に現れる樹
脂もしくは無機質の粒子によって上記の反射防止構造が
形成されていることを特徴としている。なお、第2,第
3の反射防止構造体における基板には、単一の媒質から
なるもののみならず、複数の媒質が積層されたものも含
まれる。したがって、第1の反射防止構造体における樹
脂ないしガラス製の基板の表面に材質の異なる層が積層
されたものでもよい。また、ここでいう平滑とは、完全
な鏡面状態を意味するものではなく、上記凹凸のスケー
ルにおいて略平滑とみなすことができる程度であればよ
い。
上記基板がガラス転移温度150度以上の樹脂で形成さ
れていることが好ましく、特に、メタクリル系樹脂で形
成されていることが好ましい。上記メタクリル系樹脂の
中でも、特に、下記成分AないしBを単独もしくは複合
して含有してなるものがより好ましい。 成分A:構造式(I)で表される含脂環骨格ビス(メ
タ)アクリレート 成分B:構造式(II)で表されるイオウ含有(メタ)ア
クリレート 構造式(I)
ては、上記透明電極がインジウムとスズの酸化物である
ITOであることが好ましい。そして、上記金属もしく
は金属酸化物の粒子が、ITOを上記基板上にスパッタ
で成膜する際もしくは成膜後に150℃以上の温度で上
記基板を加熱することにより得られるITOの微結晶よ
りなることがより好ましい。
においては、上記平滑基板がガラス転移温度150度以
上の樹脂で形成されていることが好ましい。特に、メタ
クリル系樹脂で形成されていることが好ましい。上記メ
タクリル系樹脂の中でも、特に、下記成分AないしBを
単独もしくは複合して含有してなるものがより好まし
い。 成分A:構造式(I)で表される含脂環骨格ビス(メ
タ)アクリレート 成分B:構造式(II)で表されるイオウ含有(メタ)ア
クリレート 構造式(I)
の製造方法も提供する。まず、本発明の反射防止構造体
の製造方法(第1の製造方法)は、微細な凹凸をもつ型
の表面を樹脂ないしガラス製の基板の表面に転写するこ
とにより、上記基板の表面に上記の反射防止構造を形成
するようにしたものである。この方法によれば、上記の
第1の反射防止構造体を得ることができる。
面にある微細な凹凸は、平均粒子径が0.01μm以
上、100μm以下である微粒子を圧縮ガスと共に上記
型の表面に噴出することによって形成することができ
る。また、平均粒子径が0.01μm以上、100μm
以下である微粒子を圧縮ガス及び液体と共に上記型の表
面に噴出することによって形成されたものであってもよ
い。
は、上記型の表面にある微細な凹凸は、上記型の表面に
レジスト液をコーティングした後、マスクをかけて露光
し、エッチングすることによって形成することができ
る。また、無電解メッキによっても形成することができ
る。一方、上記型がガラスないし金属ないし樹脂製の型
である場合には、上記型の表面にある微細な凹凸は、平
均粒子径が0.01μm以上、100μm以下である有
機ないし無機の微粒子を溶媒可溶性の樹脂に均一に分散
させた分散液を上記型の表面に塗布した後、上記分散液
中の溶媒を除去することにより形成することもできる。
方法(第2の製造方法)は、平均粒子径が0.01μm
以上、100μm以下である微粒子を圧縮ガスと共に樹
脂ないしガラス製の基板の表面に噴出することにより、
上記基板の表面に上記の反射防止構造を形成するように
したものである。この方法によっても、上記の第1の反
射防止構造体を得ることができる。
方法(第3の製造方法)は、平均粒子径が0.01μm
以上、100μm以下である微粒子を圧縮ガス及び液体
と共に樹脂ないしガラス製の基板の表面に噴出すること
により、上記基板の表面に上記の反射防止構造を形成す
るようにしたものである。この方法によっても、上記の
第1の反射防止構造体を得ることができる。
造方法(第4の製造方法)は、酸ないしアルカリ液ない
し有機溶媒によって樹脂ないしガラス製の基板の表面を
エッチングすることにより、上記基板の表面に上記の反
射防止構造を形成するようにしたものである。この方法
によっても、上記の第1の反射防止構造体を得ることが
できる。
方法(第5の製造方法)は、平滑な基板上に透明電極を
スパッタにより成膜し、成膜中或いは成膜後に上記平滑
基板を加熱して上記透明電極中に金属もしくは金属酸化
物の粒子を生成させることにより、上記平滑基板上に上
記の反射防止構造を形成するようにしたものである。こ
の方法によれば、上記の第2の反射防止構造体を得るこ
とができる。この場合、好ましくは、ガラスないし樹脂
製の平滑な基板上にインジウムとスズの酸化物であるI
TOをスパッタにより成膜し、成膜中或いは成膜後に上
記平滑基板を150℃以上の温度で加熱してITO中に
微結晶を生成させることによって上記平滑基板上に上記
の反射防止構造を形成する。
方法(第6の製造方法)は、平均粒子径が0.01μm
以上、100μm以下である有機質ないし無機質の微粒
子を溶媒可溶性の樹脂に均一に分散させた分散液をガラ
スないし樹脂製の平滑な基板上に塗布した後、上記分散
液中の溶媒を除去することにより、上記平滑基板上に上
記の反射防止構造を形成するようにしたものである。こ
の方法によれば、上記の第3の反射防止構造体を得るこ
とができる。
ネル,有機電界発光素子,液晶表示パネル及びカラーフ
ィルタ等に用いて好適であり、具体的には、上記の第1
〜第3の反射防止構造体のいずれかを用いてタッチパネ
ル用基板,有機電界発光素子用基板,液晶表示パネル用
基板或いはカラーフィルタ等を製作することによって、
透過率が高く視認性に優れたタッチパネル,有機電界発
光素子,液晶表示パネル及びカラーフィルタ等を得るこ
とができる。
施の形態を説明する。 (イ)第1実施形態 本実施形態は、樹脂ないし無機質の粒子を平滑な基板上
にコーティングすることによって、反射防止構造体を製
造することを特徴としている。図2は、このような方法
により得られる反射防止構造体の構成と粗面の微細構造
(反射防止構造)を示す概念図である。以下、図2を用
いて本実施形態にかかる反射防止構造体の製造方法につ
いて説明する。
グ法)は、透明な樹脂製の平滑基板1上に、ガラスない
し樹脂製のビーズ(好ましくは、直径100〜1000
nmのビーズ)10を分散させたバインダー樹脂11を
含んだ溶液を塗布(コーティング)する工程と、塗布後
にバインダー樹脂11を所定の方法で硬化させる工程と
からなる。
バインダー樹脂11の種類によって好適な方法が決ま
る。例えば、アクリル樹脂やポリカーボネート樹脂など
の透明樹脂の場合には、溶媒に溶かして基板1上に塗布
した後に溶媒を乾燥させることによって硬化させる溶媒
キャスティング方法が用いられる。また、バインダー樹
脂11が透明エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂モノマーの
場合には、ビーズ10を分散させた後に平滑基板1上に
塗布し、塗布したバインダー樹脂11を加熱することに
よって硬化(熱硬化)させる方法が用いられる。さら
に、バインダー樹脂11が光硬化性のモノマーの場合に
は、ビーズ10を分散させた後に基板1上に塗布し、塗
布したバインダー樹脂11に活性光線を照射することに
よって硬化(光硬化)させる方法が用いられる。
るコーティング層2が積層され、反射防止機能を備えた
積層板(本発明の第3の反射防止構造体)3が完成す
る。ただし、このとき、ビーズ10の屈折率と、基板1
の屈折率と、コーティングで用いるバインダー樹脂11
の屈折率とは厳密に調整する必要がある。さもないとコ
ーティング層2中で屈折率差が生じ、光の反射や屈折に
よって積層板3の光線透過率が低下する虞があるからで
ある。また、コーティング層2の厚みは、表面がJIS
B 06011994で定義された凹凸の算術平均粗さRa
が0.001μm<Ra<0.5μmの範囲で、かつ凹
凸の平均間隔Smが0.001μm<Ra<0.5μm
である粗面になるように調整する。
グ層2の表面にITO9を薄く真空スパッタしてもよ
い。これにより、表面の凹凸を残したまま積層板3に導
電性を付与することが可能になる。このような積層板3
は、例えば、タッチパネル,有機電界発光素子,液晶表
示パネル及びカラーフィルタに用いて好適である。タッ
チパネル,有機電界発光素子及び液晶表示パネルは、そ
れぞれガラスもしくは樹脂製の透明基板上にITO層を
含む複数の薄膜を積層した構造であり、これら透明基板
や薄膜を通って光が外部に取り出されるようになってい
る。また、カラーフィルタもガラスもしくは樹脂製の透
明基板上に薄膜が積層される場合がある。したがって、
この積層板3をタッチパネル,有機電界発光素子及び液
晶表示パネルの基板(透明基板を含む基体)として用い
たり、カラーフィルタそのものとして用いたりすること
により、表面の反射防止構造によって反射率が抑えられ
る結果、透過率を高め視認性を向上させることが可能に
なる。
板に転写することによって、反射防止構造体を製造する
ことを特徴としている。図3は、このような方法により
得られる反射防止構造体の構成と粗面の微細構造(反射
防止構造)を示す概念図である。以下、図3を用いて本
実施形態にかかる反射防止構造の製造方法について説明
する。
方法としては、比較的簡単には例えば次の5つの方法が
挙げられる。 方法1.金属板を電解エッチングする方法。 方法2.金属板に無電解メッキする方法。 方法3.金属板の表面を微粒子(好ましくは、平均粒子
径が0.01μm以上、100μm以下の微粒子)を含
む圧縮空気でブラスト処理するサンドブラスト方法。
が0.01μm以上、100μm以下の微粒子)を液体
に懸濁させて圧縮空気でブラスト処理するウェットブラ
スト方法。 方法5.金属やガラスなどの表面をバイス等で削り凹凸
を作る方法。 なお、いずれの方法においても、型4の表面がJIS
B 06011994で定義された凹凸の算術平均粗さRa
が0.001μm<Ra<0.5μmの範囲で、かつ凹
凸の平均間隔Smが0.001μm<Ra<0.5μm
である粗面になるように製作する。
転写することによって表面に凹凸を備えた樹脂基板(反
射防止構造体)5を形成することができる。そして、こ
の型4の表面形状の転写方法には、例えば次の4つの方
法が挙げられる。 方法1.上記のいずれかの方法で作成した型4を室温も
しくは必要に応じて加熱し、そこに平滑な面を持った透
明樹脂基板5を所定圧力で押しつけることにより、型4
の表面形状を樹脂基板5に転写させる方法(プレス
法)。
型4を射出成型機に取り付け、射出成形により溶融した
透明樹脂を射出して型4から脱型することにより、型4
の表面の形状転写した樹脂基板5を形成する方法(射出
成形法)。 方法3.上記のいずれかの方法で作成した型4を所定の
厚みになるようにスペーサをかませて平滑な板と対向さ
せ、その空隙に熱硬化性の透明樹脂モノマーないしオリ
ゴマーを重合開始剤とともに注入した後に加熱硬化させ
ることにより、型4の表面形状を転写した樹脂基板5を
形成する方法(加熱硬化法)。
型4を所定の厚みになるようにスペーサをかませてガラ
スなどの平滑な透明板と対向させ、その空隙に光硬化性
の透明樹脂モノマーないしオリゴマーを重合開始剤とと
もに注入した後に紫外線などの活性光線を照射して硬化
させることにより、型4の表面形状を転写した樹脂基板
5を形成する方法(光硬化法)。
基板5を形成する材料(樹脂)の性質により決まる。こ
のうち光硬化法は、透明性と耐熱性、及び製造工程の短
時間化において特に有利である。このようにして作られ
た樹脂基板5は、タッチパネルや有機電界発光素子や液
晶表示パネルの透明基板として用いたり、カラーフィル
タそのものとして用いたりするのに好適であり、表面の
反射防止構造によって反射率が抑えられる結果、透過率
を高め視認性を向上させることが可能になる。
態においてコーティング層の形成に用いた方法を適用し
てもよい。すなわち、微粒子(好ましくは、平均粒子径
が0.01μm以上、100μm以下の微粒子)をバイ
ンダー樹脂中に均一に分散させて平板(ガラス,金属,
樹脂のいずれでも可)の表面に塗布した後、バインダー
樹脂中の溶媒を除去することによって平板表面に微細な
凹凸を形成させて型4とする。
属酸化物の粒子を成長させることによって、反射防止構
造体を製造することを特徴としている。図4は、このよ
うな方法により得られる反射防止構造体の構成と粗面の
微細構造(反射防止構造)を示す概念図である。以下、
図4を用いて本実施形態にかかる反射防止構造の製造方
法について説明する。
ンジウムとスズの酸化物であるITO8を用い、このI
TO8の表面を粒子化することによって凹凸を生じさせ
ている。具体的には、透明な樹脂基板1上に数百Å、好
ましくは200〜300Åの厚みのITO8を100℃
でスパッタ法により成膜し、このITO8を数百度、好
ましくは150〜200℃で加熱する。これによりIT
O8の結晶化に伴う微粒子化が生じ、本発明の目的とす
る範囲内にある100〜1000Åの微細な凹凸が表面
に形成される。
るITO8の層が積層され、反射防止機能を備えた積層
板(本発明の第3の反射防止構造体)7が完成する。こ
のような積層板7は、第1実施形態と同様に、タッチパ
ネル,有機電界発光素子,液晶表示パネルの基板として
用いたり、カラーフィルタとして用いたりするのに好適
であり、表面の反射防止構造によって反射率が抑えられ
る結果、透過率を高め視認性を向上させることが可能に
なる。なお、上記の加熱処理はスパッタ成膜と同時に行
うことも可能である。また、ITO8を成膜した後、プ
ラズマ処理などの物理的手法もしくはアルカリ処理など
の化学的手法により表面を粗面化して凹凸を形成しても
よい。
(透明樹脂)としては特別な制約はないが、以下に述べ
る樹脂を用いるのが望ましい。透明高分子の例として
は、多価アクリレート,多価メタクリレート,モノアク
リレート,モノメタクリレートから選ばれるモノマーか
ら重合して得られるアクリル系樹脂,あるいはポリカー
ボネート系樹脂,エポキシ系樹脂,または環状ポリオレ
フィン系樹脂が好適に用いられる。
明な重合体を形成するものが低複屈折性から好適に用い
られる。特に限定されないが、一般には、(メタ)アク
リレート系化合物が適している。その中でも、トリエチ
レングリコールジ(メタ)アクリレート,ヘキサンジオ
ールジ(メタ)アクリレート,2,2−ビス〔4−(メ
タ)アクリロイルオキシフェニル〕プロパン,2,2−
ビス〔4−(2−(メタ)アクリロイルオキシエトキ
シ)フェニルプロパン,ビス(オキシメチル)トリシク
ロ〔5.2.1.02,6〕デカン=ジメタクリレート,
p−ビス〔β−(メタ)アクリロイルオキシエチルチ
オ〕キシリレン,4,4′−ビス〔β−(メタ)アクリ
ロイルオキシエチルチオ〕ジフェニルスルホン,トリメ
チロールプロパントリ(メタ)アクリレート,ウレタン
アクリレート,エポキシアクリレート等の多官能(メ
タ)アクリレート類,及びこれらのモノマーと共重合可
能な単官能モノマーとの混合物,又はこれらの多官能
(メタ)アクリレート化合物と付加重合可能なポリチオ
ールとの混合物があげられる。
(メタ)アクリレート,ベンジル(メタ)アクリレー
ト,ポリチオールとしては、例えばペンタエリスリトー
ルテトラキス(β−チオプロピオネート),トリス〔2
−(β−チオプロピオニルオキシ)エチル〕トリイソシ
アヌレート等が挙げられる。単官能モノマーを用いて
も、単一分子内に複数の官能を有する多官能モノマーを
用いても良いが多官能モノマーが好適に用いられる。中
でも二官能性(メタ)アクリレートが好適に用いられ
る。
に、下記成分AないしBを単独もしくは複合して含有し
て樹脂が好適に用いられる。成分Aは、上記の構造式
(I)で示される脂環式炭化水素骨格ビス(メタ)アク
リレートである.構造式(I)で示される脂環式炭化水
素骨格ビス(メタ)アクリレート化合物の具体例として
は、ビス(ヒドロキシメチル)トリシクロ[5.2.
1.02,6]デカン=ジアクリレート,ビス(ヒドロキ
シメチル)トリシクロ[5.2.1.02,6]デカン=
ジメタクリレート,ビス(ヒドロキシメチル)トリシク
ロ[2.2.1.02,6]デカン=アクリレートメタク
リレート及びこれらの混合物,ビス(ヒドロキシメチ
ル)ペンタシクロ[6.5.1.13,6.02,7.
09,13]ペンタデカン=ジアクリレート,ビス(ヒドロ
キシメチル)ペンタシクロ[6.5.1.13,6.
02,7.09,13]ペンタデカン=ジメタクリレート,ビ
ス(ヒドロキシメチル)ペンタシクロ[6.5.1.1
3,6.02,7.09,13]ペンタデカン=アクリレートメタ
クリレート及びこれらの混合物等が挙げられる。これら
のトリシクロデカン化合物及びペンタシクロデカン化合
物は、群内及び(又は)群間で2種以上併用してもよ
い。
イオウ含有(メタ)アクリレートは芳香族基と硫黄原子
を含む組成物である。構造式(II)で示されるイオウ含
有(メタ)アクリレートを具体的に例示すれば、p−ビ
ス(β−(メタ)アクリロイルオキシエチルチオ)キシ
レン,m−ビス(β−(メタ)アクリロイルオキシエチ
ルチオ)キシレン,α,α’−ビス(β−(メタ)アク
リロイルオキシエチルチオ)−2,3,5,6−テトラ
クロロ−p−キシレン,4,4’−ジ(β−(メタ)ア
クリロイルオキシエトキシ)ジフェニルスルフィド,
4,4’−ジ(β−(メタ)アクリロイルオキシエトキ
シエトキシ)ジフェニルスルホン,4,4’−ジ(β−
(メタ)アクリロイルオキシエチルチオ)ジフェニルス
ルフィド,4,4’−ジ(β−(メタ)アクリロイルオ
キシエチルチオ)ジフェニルスルホン,4,4’−ジ
(β−(メタ)アクリロイルオキシエチルチオ)ジフェ
ニルケトン,2,4’−ジ(β−(メタ)アクリロイル
オキシエチルチオ)ジフェニルケトン,4,4’−ジ
(β−(メタ)アクリロイルオキシエチルチオ)−3,
3’,5,5’−テトタブロモジフェニルケトン,β,
β’−ビス(p−(メタ)アクリロイルオキシフェニル
チオ)ジエチルエーテル,β,β’−ビス(p−(メ
タ)アクリロイルオキシフェニルチオ)ジエチルチオエ
ーテル等があげられる。中でも4,4−ビス(β−メタ
クリロイルオキシエチルチオ)ジフェニルスルホンは高
屈折率を有し好適に用いられる。
は上述の実施形態に限定されるものではない。例えば、
反射防止構造体の製造方法としては、平滑な透明基板の
表面に直接サンドブラスト方法やウェットブラスト方法
にて凹凸を形成してもよい。酸,アルカリないし有機溶
媒にて平滑な透明基板の表面をエッチングして凹凸を形
成してもよい。
体の用途は、上述の実施形態で例示したもののみなら
ず、境界面における表面反射の防止が要求される用途全
般に広く適用することができる。
明する。 <実施例1>本実施例では、ビス(ヒドロキシメチル)
トリシクロ[5.2.1.02.6]デカン=ジメタクリ
レート94部、ビス(ヒドロキシメチル)トリシクロ
[5.2.1.02.6]デカン=モノメタクリレート6
部のアクリレート組成物にペンタエリスリトールテトラ
キス(β−チオプロピオネート)6部、光開始剤として
2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィ
ンオキシド(BASF社製「ルシリンTPO」)0.1
部、ベンゾフェノン0.1部を均一に撹拌混合した後、
脱泡して組成物を得た。
リコン板をスペーサとしてかました光学研磨したガラス
の型に注液し、ガラス面より距離40cm離して上下に
配置した出力80W/cmのメタルハライドランプの間
にて5分間紫外線を照射した。そして、紫外線照射後に
脱型し、160℃で1時間加熱して硬化物(両方の面が
平滑な樹脂基材)を得た。この樹脂基材の片面に、スパ
ッタ装置(徳田製作所;CFS−4ES)にてITOを
180℃で成膜した。その後、この積層体を180℃の
熱風オーブンで2時間加熱して表面にITO結晶を生じ
させた。
(AFM セイコー電子工業製;SPA300/SPI
3700)で観察した。ITO膜の厚みは200Åであ
り,Raは0.053μm,Smは0.17μmであっ
た。得られた導電性積層体の表面抵抗値は500Ω/□
であった。この積層体を100℃で3時間加熱しても光
線透過率に変化は無く、耐熱性の良い安定なITO付き
基板を得た。
るために、凹凸の付いた面側から光線を入射し、各波長
における光線透過率を下記の数式(数2)にて計算し
た。測定には島津製作所製の自記分光光度計UV−31
00Sを使用した。
5中に線aで示すとおりである。この結果から、後に述
べる比較例に比べて表面の反射が低く抑えられているた
め、光線透過率が向上していることが確認できる。 <実施例2>本実施例では、ビス(ヒドロキシメチル)
トリシクロ[5.2.1.02.6]デカン=ジメタクリ
レート100部、光開始剤として2,4,6−トリメチ
ルベンゾイルジフェニルホスフィンオキシド(BASF
社製「ルシリンTPO」)0.05部、ベンゾフェノン
0.05部を均一に攪拌混合した後、脱泡して組成物を
得た。
と光学研磨したガラスとを一組とし、スペーサとして厚
さ1.0mmのシリコン板を用いて1.0mmの空隙を
開けて対向させた型に上記の組成物を注液し、ガラス面
より距離40cm上にある出力80W/cmのメタルハ
ライドランプの下にて10分間紫外線を照射した。そし
て、紫外線の照射後に脱型し、160℃で1時間加熱し
て硬化物を得た。
で光線透過率と表面粗度を測定した。表面粗度はRa=
0.041μm,Sm=0.25μmであった。このサ
ンプルの光線透過率を各波長において測定した結果を図
6中に線aで示す。後に述べる比較例に比べて表面の反
射が低く抑えられているため、光線透過率が向上してい
ることが確認できる。
研磨したガラス2枚をシリコンゴムのスペーサを挟んで
対面させ、その間に実施例2記載の組成物を注入してU
V光下で硬化させて硬化物を作成した。そして、この硬
化物の光線透過率と表面粗度を実施例1記載の方法で測
定した。このサンプルの光線透過率を各波長において測
定した結果を図5中に線bで示す。また、表面粗度はR
a=0.007μm,Sm=0.3μmであった。
ITO付き基板のかわりに表面を光学研磨したガラス2
枚を一組とした型を用いた。他の方法は実施例2記載の
通りである。このようにして得られたサンプルを実施例
1記載の方法で光線透過率と表面粗度を測定した。この
サンプルの光線透過率を各波長において測定した結果を
図6中に線bで示す。また、表面粗度はRa=0.00
65μm,Sm=0.42μmであった。
方法及び反射防止構造によれば、表面に反射防止膜など
をコーティングすることなしに表面反射を防止すること
が可能であり、且つ、周期的な二次元格子に比較して低
コストで高い反射防止効果を得ることができる。特に、
本発明の反射防止構造を備えた反射防止構造体をタッチ
パネル用基板,有機電界発光素子用基板,液晶表示パネ
ル用基板或いはカラーフィルタ等に備えた場合には、表
面の反射防止構造によって反射率が抑えられる結果、透
過率を高め視認性を向上させることが可能になる。
(a)は本発明にかかる表面構造の断面図、(b)は媒
質中の屈折率変化を膜厚方向Zに対して示す図である。
の構成を示す概略図である。
の構成を示す概略図である。
の構成を示す概略図である。
して示す図である。
して示す図である。
明するための図であり、(a)は周期的な二次元格子の
断面図、(b)は媒質中の屈折率変化を膜厚方向Zに対
して示す図である。
Claims (27)
- 【請求項1】 屈折率の異なる媒質間の境界面における
表面反射を防止する反射防止方法であって、 上記境界面に、JIS B 06011994で定義される凹
凸の算術平均粗さをRa、凹凸の平均間隔をSmとした
とき、0.001μm<Ra<0.5μm、且つ、0.
001μm<Sm<0.5μm、且つ、0.01<Ra
/Sm<2.0の関係を満たす複数の凹凸を無作為に形
成することを特徴とする、反射防止方法。 - 【請求項2】 凹凸を有する粗面からなる反射防止構造
であって、 上記の凹凸が、JIS B 06011994で定義される凹
凸の算術平均粗さをRa、凹凸の平均間隔をSmとした
とき、0.001μm<Ra<0.5μm、且つ、0.
001μm<Sm<0.5μm、且つ、0.01<Ra
/Sm<2.0の関係を満たしていることを特徴とす
る、反射防止構造。 - 【請求項3】 樹脂ないしガラス製の基板の表面に微細
成形加工が施され、上記の微細成形加工が施された表面
によって請求項2記載の反射防止構造が形成されている
ことを特徴とする、反射防止構造体。 - 【請求項4】 平滑な基板の表面に透明電極が積層さ
れ、上記透明電極の表面に現れる上記透明電極の成分で
ある金属もしくは金属酸化物の粒子によって請求項2記
載の反射防止構造が形成されていることを特徴とする、
反射防止構造体。 - 【請求項5】 平滑な基板の表面に樹脂もしくは無機質
の粒子を含む層が積層され、上記層の表面に現れる樹脂
もしくは無機質の粒子によって請求項2記載の反射防止
構造が形成されていることを特徴とする、反射防止構造
体。 - 【請求項6】 上記基板がガラス転移温度150度以上
の樹脂で形成されていることを特徴とする、請求項3記
載の反射防止構造体。 - 【請求項7】 上記の樹脂がメタクリル系樹脂であるこ
とを特徴とする、請求項6記載の反射防止構造体。 - 【請求項8】 上記メタクリル系樹脂が下記成分Aない
しBを単独もしくは複合して含有してなることを特徴と
する、請求項7記載の反射防止構造体。 成分A:構造式(I)で表される含脂環骨格ビス(メ
タ)アクリレート 成分B:構造式(II)で表されるイオウ含有(メタ)ア
クリレート 構造式(I) 【化1】 構造式(II) 【化2】 - 【請求項9】 上記透明電極がインジウムとスズの酸化
物であるITOであることを特徴とする、請求項4記載
の反射防止構造体。 - 【請求項10】 上記金属もしくは金属酸化物の粒子
が、ITOを上記基板上にスパッタで成膜する際もしく
は成膜後に150℃以上の温度で上記基板を加熱するこ
とにより得られるITOの微結晶よりなることを特徴と
する、請求項9記載の反射防止構造体。 - 【請求項11】 上記平滑基板がガラス転移温度150
度以上の樹脂で形成されていることを特徴とする、請求
項4又は5記載の反射防止構造体。 - 【請求項12】 上記の樹脂がメタクリル系樹脂である
ことを特徴とする、請求項11記載の反射防止構造体。 - 【請求項13】 上記メタクリル系樹脂が下記成分Aな
いしBを単独もしくは複合して含有してなることを特徴
とする請求項12記載の反射防止構造体。 成分A:構造式(I)で表される含脂環骨格ビス(メ
タ)アクリレート 成分B:構造式(II)で表されるイオウ含有(メタ)ア
クリレート 構造式(I) 【化3】 構造式(II) 【化4】 - 【請求項14】 微細な凹凸をもつ型の表面を樹脂ない
しガラス製の基板の表面に転写することにより、上記基
板の表面に請求項2記載の反射防止構造を形成すること
を特徴とする、反射防止構造体の製造方法。 - 【請求項15】 平均粒子径が0.01μm以上、10
0μm以下である微粒子を圧縮ガスと共に樹脂ないしガ
ラス製の基板の表面に噴出することにより、上記基板の
表面に請求項2記載の反射防止構造を形成することを特
徴とする、反射防止構造体の製造方法。 - 【請求項16】 平均粒子径が0.01μm以上、10
0μm以下である微粒子を圧縮ガス及び液体と共に樹脂
ないしガラス製の基板の表面に噴出することにより、上
記基板の表面に請求項2記載の反射防止構造を形成する
ことを特徴とする、反射防止構造体の製造方法。 - 【請求項17】 酸ないしアルカリ液ないし有機溶媒に
よって樹脂ないしガラス製の基板の表面をエッチングす
ることにより、上記基板の表面に請求項2記載の反射防
止構造を形成することを特徴とする、反射防止構造体の
製造方法。 - 【請求項18】 上記型の表面にある微細な凹凸が、平
均粒子径が0.01μm以上、100μm以下である微
粒子を圧縮ガスと共に上記型の表面に噴出することによ
って形成されたものであることを特徴とする、請求項1
4記載の反射防止構造体の製造方法。 - 【請求項19】 上記型の表面にある微細な凹凸が、平
均粒子径が0.01μm以上、100μm以下である微
粒子を圧縮ガス及び液体と共に上記型の表面に噴出する
ことによって形成されたものであることを特徴とする、
請求項14記載の反射防止構造体の製造方法。 - 【請求項20】 上記型が金属製の型であり、上記型の
表面にある微細な凹凸が、上記型の表面にレジスト液を
コーティングした後、マスクをかけて露光し、エッチン
グすることによって形成されたものであることを特徴と
する、請求項14記載の反射防止構造体の製造方法。 - 【請求項21】 上記型がガラスないし金属ないし樹脂
製の型であり、上記型の表面にある微細な凹凸が、平均
粒子径が0.01μm以上、100μm以下である有機
ないし無機の微粒子を溶媒可溶性の樹脂に均一に分散さ
せた分散液を上記型の表面に塗布した後、上記分散液中
の溶媒を除去することにより形成されたものであること
を特徴とする、請求項14記載の反射防止構造体の製造
方法。 - 【請求項22】 平滑な基板上に透明電極をスパッタに
より成膜し、成膜中或いは成膜後に上記平滑基板を加熱
して上記透明電極中に金属もしくは金属酸化物の粒子を
生成させることにより、上記平滑基板上に請求項2記載
の反射防止構造を形成することを特徴とする、反射防止
構造体の製造方法。 - 【請求項23】 平均粒子径が0.01μm以上、10
0μm以下である有機質ないし無機質の微粒子を溶媒可
溶性の樹脂に均一に分散させた分散液をガラスないし樹
脂製の平滑な基板上に塗布した後、上記分散液中の溶媒
を除去することにより、上記平滑基板上に請求項2記載
の反射防止構造を形成することを特徴とする、反射防止
構造体の製造方法。 - 【請求項24】 請求項3〜13のいずれかの項に記載
の反射防止構造体を備えたことを特徴とする、タッチパ
ネル用基板。 - 【請求項25】 請求項3〜13のいずれかの項に記載
の反射防止構造体を備えたことを特徴とする、有機電界
発光素子用基板。 - 【請求項26】 請求項3〜13のいずれかの項に記載
の反射防止構造体を備えたことを特徴とする、液晶表示
パネル用基板。 - 【請求項27】 請求項3〜13のいずれかの項に記載
の反射防止構造体を備えたことを特徴とする、カラーフ
ィルタ。
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Related Child Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2006175421A Division JP2006343758A (ja) | 2006-06-26 | 2006-06-26 | 反射防止方法及び反射防止構造並びに反射防止構造を有する反射防止構造体及びその製造方法 |
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---|---|
JP (1) | JP2002286906A (ja) |
Cited By (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005010572A1 (ja) * | 2003-07-24 | 2005-02-03 | Zeon Corporation | 反射防止成形品及びその製造方法 |
JP2005031538A (ja) * | 2003-07-10 | 2005-02-03 | Olympus Corp | 反射防止面付光学素子、反射防止面付光学素子を持つ光学系、反射防止面付光学素子を持つ光学系を備えた光学機器 |
JP2006505395A (ja) * | 2002-11-06 | 2006-02-16 | デーエスエム アイピー アセッツ ベー. ヴェー. | 反射防止特性を有する、機械的に耐久性のある単層コーティングの調製 |
JPWO2004086389A1 (ja) * | 2003-03-27 | 2006-06-29 | 農工大ティー・エル・オー株式会社 | 波面収差補正装置及びこれを備えた光ピックアップ装置 |
JP2006179495A (ja) * | 2003-10-06 | 2006-07-06 | Omron Corp | 面光源装置及び表示装置 |
CN1296184C (zh) * | 2003-06-30 | 2007-01-24 | 日本电产三协株式会社 | 格子形成方法、模具、成形品及模具制造用的掩膜构件的制造方法 |
JP2007101888A (ja) * | 2005-10-04 | 2007-04-19 | Sekisui Chem Co Ltd | 反射防止性組成物、及び反射防止フィルム |
JP2007514975A (ja) * | 2003-12-17 | 2007-06-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | ディスプレイ装置 |
JP2007277065A (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | Uchu Kankyo Kogaku Kenkyusho:Kk | 金型、光学レンズ、光学機器及び金型製造方法 |
CN101071183A (zh) * | 2006-05-10 | 2007-11-14 | 王子制纸株式会社 | 凹凸形状形成片及其制造方法、防反射体、相位差板、工序片原版以及光学元件的制造方法 |
JP2007304467A (ja) * | 2006-05-15 | 2007-11-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 反射防止構造体及びそれを備えた光学装置 |
JP2008076571A (ja) * | 2006-09-19 | 2008-04-03 | Seiko Epson Corp | ホログラム基板、ホログラム基板の製造方法、および、画像投影装置 |
US7736551B2 (en) | 2006-05-10 | 2010-06-15 | Oji Paper Co., Ltd. | Corrugated pattern forming sheet and method for manufacturing the same, and method for manufacturing antireflector, retardation plate, original process sheet plate, and optical element |
JP2010134137A (ja) * | 2008-12-04 | 2010-06-17 | Fujifilm Corp | カラーフィルタ及びその製造方法、並びに液晶表示装置 |
JP2010135786A (ja) * | 2008-12-03 | 2010-06-17 | Samsung Led Co Ltd | 半導体発光素子及びその製造方法 |
US7835080B2 (en) | 2004-12-03 | 2010-11-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Antireflective member, optical element, display device, method of making stamper and method of making antireflective member using the stamper |
US7843120B2 (en) | 2007-11-15 | 2010-11-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Screen structure, display panel and electronic equipment using the same, and method of manufacturing the same |
JP2012083723A (ja) * | 2010-09-15 | 2012-04-26 | Toray Ind Inc | 反射防止部材 |
JP2012514239A (ja) * | 2008-12-30 | 2012-06-21 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ナノ構造化物品及びナノ構造化物品の作製方法 |
WO2012086649A1 (ja) * | 2010-12-20 | 2012-06-28 | シチズンホールディングス株式会社 | 液晶素子 |
JPWO2011027909A1 (ja) * | 2009-09-02 | 2013-02-04 | デクセリアルズ株式会社 | 導電性光学素子、タッチパネル、情報入力装置、表示装置、太陽電池、および導電性光学素子作製用原盤 |
JP2013101963A (ja) * | 2006-05-31 | 2013-05-23 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
CN104122612A (zh) * | 2007-02-21 | 2014-10-29 | 王子控股株式会社 | 凹凸图案形成片及其制造方法 |
US9158040B2 (en) | 2012-09-28 | 2015-10-13 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Anti-reflection article |
US9312412B2 (en) | 2008-02-29 | 2016-04-12 | Arkema Inc. | High efficiency photovoltaic modules |
US9427894B2 (en) | 2012-09-28 | 2016-08-30 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Anti-reflection article |
US9435916B2 (en) | 2008-12-30 | 2016-09-06 | 3M Innovative Properties Company | Antireflective articles and methods of making the same |
JP2021062512A (ja) * | 2019-10-11 | 2021-04-22 | 東洋インキScホールディングス株式会社 | 積層体、及びその製造方法 |
CN113675226A (zh) * | 2020-05-15 | 2021-11-19 | 豪威科技股份有限公司 | 具有杂散光减少的有源像素设备组件及其涂层的制造方法 |
JP7392485B2 (ja) | 2020-01-17 | 2023-12-06 | 東洋インキScホールディングス株式会社 | 積層体、及びその製造方法 |
JP7508779B2 (ja) | 2017-12-06 | 2024-07-02 | Toppanホールディングス株式会社 | 固体撮像素子およびその製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11292568A (ja) * | 1997-12-09 | 1999-10-26 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 反射防止ガラス板、その製造方法および反射防止膜用被覆組成物 |
-
2001
- 2001-03-23 JP JP2001086069A patent/JP2002286906A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11292568A (ja) * | 1997-12-09 | 1999-10-26 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 反射防止ガラス板、その製造方法および反射防止膜用被覆組成物 |
Cited By (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006505395A (ja) * | 2002-11-06 | 2006-02-16 | デーエスエム アイピー アセッツ ベー. ヴェー. | 反射防止特性を有する、機械的に耐久性のある単層コーティングの調製 |
JPWO2004086389A1 (ja) * | 2003-03-27 | 2006-06-29 | 農工大ティー・エル・オー株式会社 | 波面収差補正装置及びこれを備えた光ピックアップ装置 |
CN1296184C (zh) * | 2003-06-30 | 2007-01-24 | 日本电产三协株式会社 | 格子形成方法、模具、成形品及模具制造用的掩膜构件的制造方法 |
JP2005031538A (ja) * | 2003-07-10 | 2005-02-03 | Olympus Corp | 反射防止面付光学素子、反射防止面付光学素子を持つ光学系、反射防止面付光学素子を持つ光学系を備えた光学機器 |
WO2005010572A1 (ja) * | 2003-07-24 | 2005-02-03 | Zeon Corporation | 反射防止成形品及びその製造方法 |
JP4577210B2 (ja) * | 2003-10-06 | 2010-11-10 | オムロン株式会社 | 面光源装置及び表示装置 |
JP2006179495A (ja) * | 2003-10-06 | 2006-07-06 | Omron Corp | 面光源装置及び表示装置 |
JP2007514975A (ja) * | 2003-12-17 | 2007-06-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | ディスプレイ装置 |
US9429686B2 (en) | 2004-12-03 | 2016-08-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Antireflective member, optical element, display device, method of making stamper and method of making antireflective member using the stamper |
US8262382B2 (en) | 2004-12-03 | 2012-09-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Antireflective member, optical element, display device, method of making stamper and method of making antireflective member using the stamper |
US7835080B2 (en) | 2004-12-03 | 2010-11-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Antireflective member, optical element, display device, method of making stamper and method of making antireflective member using the stamper |
US8431004B2 (en) | 2004-12-03 | 2013-04-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Antireflective member, optical element, display device, method of making stamper and method of making antireflective member using the stamper |
JP2007101888A (ja) * | 2005-10-04 | 2007-04-19 | Sekisui Chem Co Ltd | 反射防止性組成物、及び反射防止フィルム |
JP2007277065A (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | Uchu Kankyo Kogaku Kenkyusho:Kk | 金型、光学レンズ、光学機器及び金型製造方法 |
CN102109623B (zh) * | 2006-05-10 | 2013-10-30 | 王子控股株式会社 | 凹凸形状形成片及其制造方法、防反射体、相位差板、工序片原版以及光学元件的制造方法 |
CN101071183A (zh) * | 2006-05-10 | 2007-11-14 | 王子制纸株式会社 | 凹凸形状形成片及其制造方法、防反射体、相位差板、工序片原版以及光学元件的制造方法 |
US7736551B2 (en) | 2006-05-10 | 2010-06-15 | Oji Paper Co., Ltd. | Corrugated pattern forming sheet and method for manufacturing the same, and method for manufacturing antireflector, retardation plate, original process sheet plate, and optical element |
US8896923B2 (en) | 2006-05-10 | 2014-11-25 | Oji Holdings Corporation | Corrugated pattern forming sheet, and methods for manufacturing antireflector, retardation plate, original process sheet plate, and optical element |
JP2007304467A (ja) * | 2006-05-15 | 2007-11-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 反射防止構造体及びそれを備えた光学装置 |
US8023190B2 (en) | 2006-05-15 | 2011-09-20 | Panasonic Corporation | Antireflection structure and optical device including the same |
JP2013101963A (ja) * | 2006-05-31 | 2013-05-23 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
US8723768B2 (en) | 2006-05-31 | 2014-05-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
JP2008076571A (ja) * | 2006-09-19 | 2008-04-03 | Seiko Epson Corp | ホログラム基板、ホログラム基板の製造方法、および、画像投影装置 |
CN104122612A (zh) * | 2007-02-21 | 2014-10-29 | 王子控股株式会社 | 凹凸图案形成片及其制造方法 |
CN104122612B (zh) * | 2007-02-21 | 2017-04-12 | 王子控股株式会社 | 凹凸图案形成片及其制造方法 |
US7843120B2 (en) | 2007-11-15 | 2010-11-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Screen structure, display panel and electronic equipment using the same, and method of manufacturing the same |
US9312412B2 (en) | 2008-02-29 | 2016-04-12 | Arkema Inc. | High efficiency photovoltaic modules |
KR101518858B1 (ko) * | 2008-12-03 | 2015-05-13 | 삼성전자주식회사 | 반도체 발광소자 및 그 제조방법 |
US8664020B2 (en) | 2008-12-03 | 2014-03-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same |
JP2010135786A (ja) * | 2008-12-03 | 2010-06-17 | Samsung Led Co Ltd | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JP2010134137A (ja) * | 2008-12-04 | 2010-06-17 | Fujifilm Corp | カラーフィルタ及びその製造方法、並びに液晶表示装置 |
JP2012514239A (ja) * | 2008-12-30 | 2012-06-21 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ナノ構造化物品及びナノ構造化物品の作製方法 |
US9939557B2 (en) | 2008-12-30 | 2018-04-10 | 3M Innovative Properties Company | Antireflective articles and methods of making the same |
US9908772B2 (en) | 2008-12-30 | 2018-03-06 | 3M Innovative Properties Company | Nanostructured articles and methods of making nanostructured articles |
US9435916B2 (en) | 2008-12-30 | 2016-09-06 | 3M Innovative Properties Company | Antireflective articles and methods of making the same |
JPWO2011027909A1 (ja) * | 2009-09-02 | 2013-02-04 | デクセリアルズ株式会社 | 導電性光学素子、タッチパネル、情報入力装置、表示装置、太陽電池、および導電性光学素子作製用原盤 |
JP2012083723A (ja) * | 2010-09-15 | 2012-04-26 | Toray Ind Inc | 反射防止部材 |
US9104072B2 (en) | 2010-12-20 | 2015-08-11 | Citizen Holdings Co., Ltd. | Liquid crystal device |
WO2012086649A1 (ja) * | 2010-12-20 | 2012-06-28 | シチズンホールディングス株式会社 | 液晶素子 |
US9427894B2 (en) | 2012-09-28 | 2016-08-30 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Anti-reflection article |
US9158040B2 (en) | 2012-09-28 | 2015-10-13 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Anti-reflection article |
JP7508779B2 (ja) | 2017-12-06 | 2024-07-02 | Toppanホールディングス株式会社 | 固体撮像素子およびその製造方法 |
JP2021062512A (ja) * | 2019-10-11 | 2021-04-22 | 東洋インキScホールディングス株式会社 | 積層体、及びその製造方法 |
JP7294048B2 (ja) | 2019-10-11 | 2023-06-20 | 東洋インキScホールディングス株式会社 | 積層体、及びその製造方法 |
JP7392485B2 (ja) | 2020-01-17 | 2023-12-06 | 東洋インキScホールディングス株式会社 | 積層体、及びその製造方法 |
CN113675226A (zh) * | 2020-05-15 | 2021-11-19 | 豪威科技股份有限公司 | 具有杂散光减少的有源像素设备组件及其涂层的制造方法 |
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