JP2002280344A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JP2002280344A JP2001075665A JP2001075665A JP2002280344A JP 2002280344 A JP2002280344 A JP 2002280344A JP 2001075665 A JP2001075665 A JP 2001075665A JP 2001075665 A JP2001075665 A JP 2001075665A JP 2002280344 A JP2002280344 A JP 2002280344A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板に形成された回路を損傷せずに、また基
板の表面と裏面とに対して同時にスクラブ洗浄等の処理
をすることのできる基板処理装置を提供する。 【解決手段】 表面Waと裏面Wbを有する円板状の基
板Wを支持して回転させる回転支持体7と、第1の回転
軸線AX1回りを回転しながら表面Waに摺接する第1
のロール1と、第2の回転軸線AX2回りを回転しなが
ら裏面Wbに摺接する第2のロール2であって、第2の
回転軸線AX2が第1の回転軸線AX1にほぼ平行で、
且つ、基板Wを挟むように第1のロール1に対向して設
けられた、第2のロール2を備え、第1のロール1と第
2のロール2のうち少なくとも一方は、前記摺接する部
分のロールの回転軸線AX1、AX2方向の長さが基板
Wの外周部のみをカバーするように構成された基板処理
装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体デバイス形
成に用いられる基板の処理装置に関し、特に基板表面に
形成された回路を損傷することなく基板の洗浄またはエ
ッチングを行なうことのできる処理装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来から半導体基板を洗浄する洗浄装置
として、図3に示すようなスクラブ洗浄装置があった。
この装置は、被洗浄物である半導体基板Wを保持して、
回転させるスピンチャック40と、基板Wの面に平行な
軸の回りに回転するロールスポンジ41と、基板Wの被
洗浄面に洗浄液を供給する洗浄液ノズル42を有してい
る。ロールスポンジ41は、支持駆動部43によって回
転し、基板Wの表面を擦りながら洗浄する。スピンチャ
ック40は、基板Wの外周を支持しながら回転し、その
回転力が基板Wの外側面に伝達されて基板Wが回転する
ようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】以上のような従来の方
法によれば、ロールスポンジは基板の表面と裏面の全面
をスクラブ洗浄する。一方、基板表面の回路形成面に低
誘電率膜などの材質が柔らかいものなどが採用され始め
たり、回路の微細化が進み回路が非常に小さくなったた
めに、スクラブ洗浄により回路形成面が破壊される可能
性があった。一方、基板の裏面は、半導体製造工程にお
いて、真空チャックあるいは静電チャックなどが行われ
ており、パーティクルが固着してしまうが、このような
固着したパーティクルはスクラブ洗浄で除去するのが望
ましい。
【0004】そこで本発明は、基板に形成された回路を
損傷せずに、また基板の表面と裏面とに対して同時にス
クラブ洗浄等の処理をすることのできる基板処理装置を
提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に係る発明による基板処理装置は、例えば
図1に示すように、表面Waと裏面Wbを有する円板状
の基板Wを支持して回転させる回転支持体7と;第1の
回転軸線AX1回りを回転しながら表面Waに摺接する
第1のロール1と;第2の回転軸線AX2回りを回転し
ながら裏面Wbに摺接する第2のロール2であって、第
2の回転軸線AX2が第1の回転軸線AX1にほぼ平行
で、且つ、基板Wを挟むように第1のロール1に対向し
て設けられた、第2のロール2を備え;第1のロール1
と第2のロール2のうち少なくとも一方は、前記摺接す
る部分のロールの回転軸線AX1、AX2方向の長さが
基板Wの外周部のみをカバーするように構成されてい
る。
【0006】ここで基板処理とは、例えば基板の洗浄で
あるが、その他基板のエッチングであってもよい。
【0007】このように構成すると、回転支持体を備え
るので、基板を支持して回転させることができ、表面に
摺接する第1のロールと、裏面に摺接する第2のロール
を備えるので、基板の表面と裏面とを処理することがで
き、第1のロールと第2のロールのうち少なくとも一方
は、前記摺接する部分のロールの回転軸線方向の長さが
基板の外周部のみをカバーするように構成されているの
で、基板の少なくとも一方の面については外周部以外に
は摺接せずに処理することができる。
【0008】また請求項2に記載のように、請求項1に
記載の基板処理装置では、第1のロール1と第2のロー
ル2のうち他方は、前記摺接する部分のロールの回転軸
線方向の長さが基板Wの直径Dをカバーするように構成
されている。このように構成すると、基板の他方の面の
全体を処理することができる。
【0009】また請求項3に記載のように、又例えば図
1に示すように、請求項1または請求項2に記載の基板
処理装置では、前記一方のロール1は回転軸線方向に並
んだ1対のサブロール1a、1bを含み、該1対のサブ
ロールのそれぞれが基板Wの直径Dの両端で基板Wの外
周部に摺接するように構成されている。
【0010】さらに請求項4に記載のように、第1のロ
ール1と第2のロール2は、ロールスポンジとするとよ
い。
【0011】また請求項5に記載のように、請求項1乃
至請求項4のいずれか1項に記載の基板処理装置では、
回転支持体7は基板Wの側面に接触するスポンジ部材1
8を備えるようにしてもよい。
【0012】このように構成すると、回転支持体は基板
の側面に接触するスポンジ部材を備えるので、基板の表
面、裏面の処理に際して側面をも処理することができ
る。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して説明する。なお、各図において互い
に同一あるいは相当する部材には同一符号または類似符
号を付し、重複した説明は省略する。
【0014】図1(a)(b)は、それぞれ、本発明に
よる実施の形態であるスクラブ洗浄装置の正面図及び斜
視図である。
【0015】本スクラブ洗浄装置は、表面Waと裏面W
bを有する円板状の基板としてのウエハWの周縁部を支
持し回転させる回転支持体であるスピンチャック7を備
えている。ウエハWは、このスピンチャック7で支持さ
れて、その回転に伴い回転する。
【0016】スピンチャック7は、鉛直方向の回転軸線
回りに回転する複数本(本実施の形態では6本)のスピ
ンドル7a〜7fを備えている。スピンドル7a〜7f
は、ウエハWの外周に沿うように、ある円周上に配置さ
れている。またスピンドル7a〜7fは、ウエハWの周
囲に略等間隔に設けられている。
【0017】スピンドル7a〜7fの上端部には、ウエ
ハWの外周部を保持する駒15(図2参照)が備えられ
ている。スピンドル7a〜7fと駒15とには段差があ
り、スピンドル7a〜7fの上端部に形成された段にウ
エハWが載置されるように構成されており、駒15の回
転力がウエハWの外周面に伝達されてウエハWが回転す
るようになっている。駒15の構成は後でさらに詳細に
説明する。
【0018】スピンチャック7により支持され回転する
ウエハWの鉛直方向上方には、第1の回転軸線AX1回
りを回転する第1のロール1が備えられている。第1の
回転軸線AX1は、ウエハWの表面Waに平行である。
ロール1はウエハWの上方に延伸する回転軸1sと、回
転軸1sの両端部に取り付けられたサブロール1a、1
bとを有する。サブロール1a、1bは、それぞれ回転
軸線AX1方向の長さがL1、L2であり、洗浄しよう
とするウエハWの直径Dの両端部に接し、ウエハWの中
央部には接しないように構成されている。本実施の形態
では、L1=L2=約20mmである。そしてサブロー
ル1a、1bの、回転軸線AX1方向の中央が、ウエハ
Wの外周とほぼ一致するように、サブロール1a、1b
は、回転軸1sに取り付けられている。
【0019】サブロール1aは、回転軸1sに取り付け
られた円板状のスポンジストッパー1c、1dによりス
ポンジを挟持して構成されている。スポンジストッパー
1c、1dの直径は、取り付け状態でスポンジの外径よ
りも小さいように構成されている。サブロール1bも同
様である。また回転軸1sには、サブロール1a、1b
のスポンジ部にリンス液を供給する、内部リンス排出口
10が明けられ、後述の内部リンス供給口8に通じる内
部連通穴(不図示)が加工されている。内部リンス排出
口10から供給されるリンス液は、多孔質のスポンジを
浸透して、ウエハWに到るように構成されている。
【0020】回転軸1sの一方の端部、サブロール1b
よりも外側には、軸支持体3が備えられ、回転軸1sを
回転可能に支持している。軸支持体3には、内部リンス
供給口8が設けられ、ここにリンス供給管(不図示)が
接続されている。
【0021】回転軸1sの他方の端部、サブロール1a
よりも外側には、回転軸1sを回転するためのモータ5
が連結されている。モータ5は、不図示のブラケットに
より、軸支持体3と一体に連結されている。また、モー
タ5と軸支持体3は、不図示の上下駆動装置により、鉛
直方向(図中矢印Aの方向)に上下移動可能に構成され
ている。
【0022】このように構成されたロール1では、サブ
ロール1a、1bは、モータ5により回転軸線AX1回
りを回転しながら、ウエハWの表面Waに摺接する。こ
のとき、サブロール1a、1bがウエハWに丁度摺接す
るように、モータ5と軸支持体3が矢印A方向に上下移
動する。スピンチャック7は6本のスピンドル7a〜7
fを備えているので、ウエハWは完全な円形状ではな
く、例えば切り欠き部であるオリエンテーションフラッ
トが形成されていても、問題無く回転支持することがで
きる。
【0023】一方、スピンチャック7により支持され回
転するウエハWの鉛直方向下方には、第1の回転軸線A
X1と平行な第2の回転軸線AX2回りを回転する第2
のロール2が備えられている。第2のロールは第1のロ
ールと協働してウエハWを挟むように、第1のロールに
対向して設けられている。ロール2はウエハWの下方に
延伸する回転軸2sと、回転軸2sのほぼ全長に渡って
取り付けられたロール本体2aを有する。ロール本体2
aは、洗浄しようとするウエハWの直径Dをカバーする
ような長さL3に形成されている。即ち、L3≧Dなる
関係がある。したがって、ロール本体2aは、ウエハW
の裏面Wbの全体に接するように構成されている。
【0024】また回転軸2sには、スポンジで形成され
たロール本体2aにリンス液を供給する、内部リンス排
出口11が明けられ、後述の内部リンス供給口9に通じ
る内部連通穴(不図示)が加工されている。内部リンス
排出口11から供給されるリンス液は、多孔質のスポン
ジを浸透して、ウエハWに到るように構成されている点
は、ロール1と同様である。
【0025】回転軸2sの一方の端部、第1のロールの
軸支持体3と同じ側には、軸支持体4が備えられ、回転
軸2sを回転可能に支持している。軸支持体4は、軸支
持体3と同様に、不図示の上下駆動装置により、鉛直方
向(図中矢印Bの方向)に上下移動可能に構成されてい
る。また軸支持体4には、内部リンス供給口9が設けら
れ、ここにリンス供給管(不図示)が接続されている。
【0026】回転軸2sの他方の端部、第1のロール用
のモータ5と同じ側には、回転軸2sを回転するための
モータ6が連結されている。モータ6は、不図示のブラ
ケットにより、軸支持体4と一体に連結されている。
【0027】このように構成されたロール2では、ロー
ル本体2aは、モータ6により回転軸線AX2回りを回
転しながら、ウエハWの裏面Wbに摺接する。このと
き、ロール本体2aがウエハWに丁度摺接するように、
モータ6と軸支持体4が矢印B方向に上下移動する点
は、第1のロールと同様である。
【0028】スピンチャック7のウエハW支持面よりも
鉛直方向上方には、ウエハWの表面Waに口を向けて洗
浄液ノズル13が設けられており、鉛直方向下方には、
ウエハWの裏面Wbに口を向けて洗浄液ノズル14が設
けられている。洗浄液ノズル13、14は、それぞれウ
エハWの表面Waと裏面Wbに洗浄液である超純水を供
給する。したがって、洗浄液はノズル13、14及びリ
ンス排出口10、11からウエハWに供給される。
【0029】図2の側面図を参照して、本実施の形態の
駒15を詳細に説明する。ここでは、スピンドル7aに
ついて説明するが、他のスピンドル7b〜7fも同じ構
造に形成されている。スピンドル7aの上端部はウエハ
Wを載置できるように平面に形成されている。その平面
上には、スピンドル7aの回転軸線を共通にする駒軸1
7(駒は各スピンドルに共通の構造であるので18aと
はせずに単に18と図示してある。15、16、17に
ついても同様)が突出して形成されている。駒軸17は
洗浄するウエハWの厚さより長く形成されている。さら
に駒軸17の上端には円板状のスポンジストッパー16
が設けられている。スピンドル7aの先端の前記平面と
スポンジストッパー16との間には円筒状の側面スポン
ジ18が挟持されて設けられている。スポンジストッパ
ー16、駒軸17、側面スポンジ18を含んで、駒15
が構成されている。
【0030】このような構造を有するスピンドル7a〜
7fの上端の平面にウエハWが載置される。次に、スピ
ンドル7a〜7fが、僅かに内側に(ウエハW側に)寄
ることにより、図2に示すように、ウエハWは側面スポ
ンジ18に食い込む。このような状態でスピンドル7a
〜7f(及び駒15)が回転すると、それに伴いウエハ
Wが回転する。
【0031】本実施の形態の洗浄装置では、ウエハW
は、回路の形成された表面Waを鉛直方向上方に向け
て、スピンチャック7に載置される。第1のロール1の
サブロール1a、1bは、ウエハWと摺接する部分の回
転軸線AX1方向の長さがウエハWの中央部分はカバー
せずウエハWの外周部をカバーするように構成されてい
るので、ロールは回路部分をスクラブすることなく、回
路の形成されていないウエハWの表面Waの周辺部及び
裏面Wbの洗浄を行なうことができ、また側面スポンジ
18により、ウエハWの側面が洗浄される。
【0032】なお、本実施の形態では、第1のロール1
を一対のサブロールを備える構造とし、第2のロールを
ウエハWの全長をカバーする構造としたが、逆に第1の
ロールを全長カバー型とし、第2のロールをサブロール
型としてもよい。ただしこのときは、第2のロールに回
路の形成されたウエハ面を洗浄させるのがよい。
【0033】以上説明した構造を有する洗浄装置でウエ
ハを洗浄する方法を説明する。本発明は、例えばCVD
後に裏面、側面、表面の周縁部をエッチングしたウエハ
のエッチング部の洗浄の際に特に有用である。またウエ
ハには低誘電率膜などの材質の柔らかいものを膜付けす
ることがあるが、そのようなウエハの裏面の洗浄などに
も有用である。
【0034】先ず予備洗浄工程で、図示しない洗浄装置
によりウエハWを水平に保持して、ノズルからウエハ表
面に超純水等の洗浄液を吹き付け、半導体ウエハWの表
面のパーティクルを洗い流すのが望ましい。このとき、
ウエハWを回転してもよいし、また超純水をウエハ面に
吹き付ける方法としては、ノズルから高圧の超純水を噴
射させてもよいし、キャビテーションを有する超純水を
噴射させてもよいし、超音波の振動エネルギーを与えた
超純水を吹き付けてもよく、またはこれらを組み合わせ
てもよい。
【0035】次の洗浄工程で、以上説明した本発明の実
施の形態である洗浄装置を用いる。すなわち、ウエハW
を本洗浄装置に搬送し、スピンチャック7の上に載置す
る。次に、ウエハWの側面を、側面スポンジ18に食い
込ませる。
【0036】次にスピンドル7a〜7fの回転を開始す
る。即ち、ウエハWの回転を開始する。続けて、表裏面
ロールスポンジ(ロールブラシ)を回転させ、回転する
ロールスポンジを、上下方向の移動によりウエハWに接
触させる。
【0037】上記構成のスクラブ洗浄装置において、ス
ピンドル7a〜7fは駒15をウエハWの周縁部に押し
つけ、回転させることにより、ウエハWを回転させる
が、図中、6個の駒15のうち2個が回転力をウエハW
に与え、他の駒はウエハWの回転を受けるベアリングの
働きをするようにしてもよい。但し回転力を与える駒の
数は適宜選べばよく、全ての駒15に回転力を与えるよ
うにしてもよい。
【0038】図1(b)の斜視図に示すように、スピン
ドル7aは上方から見て時計方向(図中矢印R1方向)
に回転しているので、ウエハWは反時計方向(図中矢印
R2方向)に回転する。またウエハの表面Waを洗浄す
る第1のロール1は、軸支持体3とは反対の方向から見
たとき時計方向(図中矢印R3方向)に回転し、裏面W
bを洗浄する第2のロール2は、反時計方向(図中矢印
R4方向)に回転している。
【0039】本装置では、表面のサブロール1a、1b
のロールスポンジの幅を調節することにより、又一対の
サブロール1a、1b回転軸1s上への取り付け位置を
調節することにより、ウエハ表面Waの周辺部の洗浄幅
を制御できる。
【0040】ウエハWを回転させながら、ロールスポン
ジ(ブラシ)内部から洗浄液(純水や薬液)を少量供給
し、スポンジに洗浄液を含ませてウエハWを洗浄する。
また、ノズル13、14から洗浄液をウエハWに供給し
て洗浄してもよい。このとき、回路形成面にノズル13
から純水を供給すると、回路を保護することができる。
【0041】洗浄が終了したら、ロール1、2を退避さ
せる。その後、ウエハWの回転を停止し、不図示のロボ
ットハンドによって、洗浄装置の外部に搬送する。
【0042】本実施の形態の洗浄装置では、第1のロー
ル1と第2のロール2とを、ウエハWの表面と裏面とに
対向して設けたので、ウエハWを両面から押すことにな
り、ロールの押しつけによるウエハWの変形を抑えるこ
とができる。
【0043】ロールスポンジの材料としては、例えばP
VA(ポリビニルアルコール)が適している。PVAを
原料としてこれにアルデヒド類を縮合して製造するPV
At(ポリビニルアセタール)、中でもPVF(ポリビ
ニルホルマール)を用いるのが好ましい。この材料は、
親水性に優れ、微細な連続気孔により、吸水性と保水性
を有し、被洗浄物を傷つけず、また凹凸面にも追従して
吸水むらがない。その他、PPS、PTFEなど耐薬品
性があり、また金属溶出のない材料を不職布状にしたも
のが、強固な汚れ、例えば熱がかかって固着したもの等
には有用である。
【0044】サブロール1a、1bの幅は、約20mm
としたが、処理するウエハWのサイズ、回路形成面の大
きさ(又は回路の形成されていない周辺部の幅)により
適宜定めればよい。但し、典型的には、20mm以下と
するのが好ましい。
【0045】以上の実施の形態では、第1のロールは一
対のサブロール1a、1bを備えるものとして説明した
が、これに限らず、サブロール1aを1個だけを備える
ものとしてもよい。この場合でも、ウエハの表面Waの
回路には摺接せずに、周辺部を洗浄することができる。
また第2のロールでは、L3≧Dとしたが、これに限ら
ずL3はウエハの直径Dよりは小さく、その半径よりは
大きく構成してもよい。特にサブロール1aが1個だけ
のときは、そのサブロール1aに対向させて、第2のロ
ールはウエハの半径をカバーするようにするとよい。
【0046】以上の実施の形態では、洗浄装置として説
明したが、洗浄液の代わりにエッチング液を用いて、基
板処理装置としてのスクラブエッチング装置として構成
することもできる。このときも、前述のように、ノズル
13から純水を基板表面に供給して、回路面をエッチン
グ液から保護しながらエッチングするため、基板の表面
に形成された回路を傷つけることなく、基板の周辺部、
側面部、裏面をエッチングして、不要な銅等の付着物を
除去することができる。この装置で公知のエッチング液
をリンスすることにより、エッチング薬液の使用量を、
従来の同種の装置と比較して半分以下にすることができ
た。また側面スポンジあるいは表面スポンジの幅によっ
て、基板表面の周辺部のエッチング幅を調節することが
できた。
【0047】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、回転支
持体を備えるので、基板を支持して回転させることがで
き、表面に摺接する第1のロールと、裏面に摺接する第
2のロールを備えるので、基板の表面と裏面とを処理す
ることができ、第1のロールと第2のロールのうち少な
くとも一方は、前記摺接する部分のロールの回転軸線方
向の長さが基板の外周部のみをカバーするように構成さ
れているので、基板の少なくとも一方の面については外
摺部以外に摺接せずに処理することができる基板処理装
置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態である基板洗浄装置の正面
図と斜視図である。
【図2】図1の洗浄装置で用いるスピンチャックのスピ
ンドルの先端部と駒を説明する部分側面図である。
【図3】従来のスクラブ洗浄装置を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 第1のロール 2 第2のロール 3、4 軸支持体 5、6 モータ 7 スピンチャック 15 駒
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3B116 AA03 AB33 BA08 BA12 BB21 BB83 CC01 3B201 AA03 AB33 BA08 BA12 BB21 BB83 BB92 BB93 CC01

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面と裏面を有する円板状の基板を支持
    して回転させる回転支持体と;第1の回転軸線回りを回
    転しながら前記表面に摺接する第1のロールと;第2の
    回転軸線回りを回転しながら前記裏面に摺接する第2の
    ロールであって、前記第2の回転軸線が前記第1の回転
    軸線にほぼ平行で、且つ、前記基板を挟むように前記第
    1のロールに対向して設けられた、第2のロールを備
    え;前記第1のロールと第2のロールのうち少なくとも
    一方は、前記摺接する部分のロールの回転軸線方向の長
    さが前記基板の外周部のみをカバーするように構成され
    た;基板処理装置。
  2. 【請求項2】 前記第1のロールと第2のロールのうち
    他方は、前記摺接する部分のロールの回転軸線方向の長
    さが前記基板の直径をカバーするように構成された;請
    求項1に記載の基板処理装置。
  3. 【請求項3】 前記一方のロールは回転軸線方向に並ん
    だ1対のサブロールを含み、該1対のサブロールのそれ
    ぞれが前記基板の直径の両端で前記基板の外周部に摺接
    するように構成された、請求項1または請求項2に記載
    の基板処理装置。
  4. 【請求項4】 前記第1のロールと第2のロールは、ロ
    ールスポンジである、請求項1乃至請求項3のいずれか
    1項に記載の基板処理装置。
  5. 【請求項5】 前記回転支持体は前記基板の側面に接触
    するスポンジ部材を備える、請求項1乃至請求項4のい
    ずれか1項に記載の基板処理装置。
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