JP2002267937A - 測定光学系補正装置及び分光測光装置 - Google Patents

測定光学系補正装置及び分光測光装置

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JP2002267937A
JP2002267937A JP2001065512A JP2001065512A JP2002267937A JP 2002267937 A JP2002267937 A JP 2002267937A JP 2001065512 A JP2001065512 A JP 2001065512A JP 2001065512 A JP2001065512 A JP 2001065512A JP 2002267937 A JP2002267937 A JP 2002267937A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】顕微鏡ヘッドを移動しこれに透過照明系を追従
させたときの顕微鏡ヘッドと透過照明系との光軸の微小
なずれを検出して自動的にそのずれを補正すること。 【解決手段】カラーフィルタ3の1画素(測光部位)に
対応する位置に顕微鏡ヘッド14の光軸を位置決めする
と共に、透過照明系20を顕微鏡ヘッド14の移動に追
従させるとき、顕微鏡ヘッド14をカラーフィルタ3の
1画素(測光部位)に対して位置決めしたときの測光部
位と透過照明系20による測光部位へのスポット照明光
35の位置とのずれ量を検出し、このずれ量に従って透
過照明系20を位置補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばカラーフィ
ルタなどの測定対象物における微小範囲の測定部位に対
応する位置に鏡筒を位置決めすると共に、照明系を鏡筒
の移動に追従させて測定部位を照明するときの照明系を
位置補正する測定光学系補正装置及びこれを適用した分
光測光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばカラーフィルタは、それぞれ色相
の異なる複数の微小範囲、すなわちR(赤)、G
(緑)、B(青)からなる1画素単位(セル)の構造を
有している。このカラーフィルタに対しては、分光測光
装置により測光しようとする微小範囲、すなわち測定部
位(なお、分光測光のときは測光部位となる)のみにス
ポット照明光を照射し、その測光部位の分光透過率を測
光することが行われている。なお、測光部位のみにスポ
ット照明光を照射するのは、その測光部位の分光透過率
を高精度に測光するために行われる。
【0003】図6はかかる分光測光装置の外観構成図で
ある。ベース1上には、XYテーブル2が設けられ、こ
のXYテーブル2上にカラーフィルタ3が載置されてい
る。又、ベース1上には、フレーム4を介して観察用の
顕微鏡5が固定されると共に、この顕微鏡5の光軸上に
挿入された対物レンズに対向して透過照明系6が固定さ
れている。これら顕微鏡5と透過照明系6とは、同一の
光軸7上に合わされている。
【0004】このような構成であれば、XYテーブル2
を動作させてカラーフィルタ3の1画素(測光部位)を
顕微鏡5と透過照明系6との光軸7上に位置決めするこ
とにより、当該測光部位に対して透過照明系6によりス
ポット照明光が照射され、顕微鏡5により当該測光部位
を観察することにより分光透過率が測光される。このと
き、顕微鏡5と透過照明系6とは、同一の光軸7上に固
定されているので、図7に示すように顕微鏡5により観
察されるカラーフィルタ3の測光部位(1画素)3aの
像には、顕微鏡5に設けられた測光位置指標8内にスポ
ット照明光9が入る状態が現われる、すなわち顕微鏡5
と透過照明系6との光軸が合っている状態となってい
る。なお、測定部位3aとスポット照明光9との位置合
わせは、数μmの精度で正確に行なう必要がある。
【0005】ところで、カラーフィルタの寸法が大きく
なると、このカラーフィルタをXYテーブル2により2
軸方向に移動させるのでなく、当該カラーフィルタを一
方向のみに移送し、かつ顕微鏡ヘッドをカラーフィルタ
の移送方向とは直交する方向に移動させたりすることが
行われる。
【0006】図8は大型化したカラーフィルタに対応す
る分光測光装置の外観構成図である。ベース10上に
は、カラーフィルタ3の載置枠11が固定されている。
又、ベース10上の両側部には、それぞれレール12が
互いに平行に設けられ、これらレール12上に門型フレ
ーム13が設けられている。この門型フレーム13は、
X軸の一方向に移動自在となっている。
【0007】この門型フレーム13には、顕微鏡ヘッド
14が設けられ、この顕微鏡ヘッド14には当該顕微鏡
ヘッド14の光軸15上に検出器(ディテクタ)16が
連結されている。又、光軸15上には、ビームスプリッ
タ17が配置され、このビームスプリッタ17の反射光
路上に撮像装置(CCDカメラ)19が設けられてい
る。これら顕微鏡ヘッド14、検出器16及び撮像装置
19は、一体的に設けられ、門型フレーム13の梁13
aに対して矢印イ方向、すなわち門型フレーム13が移
動するX軸に対して直交するY軸方向に移動自在に設け
られている。
【0008】又、顕微鏡ヘッド14の対物レンズと対向
する位置には、透過照明系20が設けられている。この
透過照明系20は、コンデンサレンズなどを備えたもの
で、スポット照明光をカラーフィルタ3に照射するもの
である。又、この透過照明系20は、門型フレーム13
の底面の例えばY軸方向に設けられたレール21上に載
せられ、上記顕微鏡ヘッド14、検出器16及び撮像装
置19のY軸方向への移動に追従して同Y軸方向(矢印
ロ方向)に移動するものとなっている。
【0009】このような構成であれば、門型フレーム1
3をX軸方向に移動させると共に、顕微鏡ヘッド14、
検出器16及び撮像装置19の一体をY軸方向に移動さ
せることにより、顕微鏡ヘッド14の光軸をカラーフィ
ルタ3における1画素(測光部位)に位置決めする。こ
れら顕微鏡ヘッド14、検出器16及び撮像装置19の
Y軸方向への移動に追従して透過照明系20が移動す
る。これにより、顕微鏡ヘッド14の光軸に対し透過照
明系20の光軸が一致し、測光部位に対して透過照明系
20によりスポット照明光9が照射される。検出器16
は、顕微鏡を通して当該測光部位の光量に応じた検出信
号を出力し、この検出信号に基づいて分光透過率が測光
される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図9に
示すように例えば顕微鏡ヘッド14が観察位置Pに位
置しているときに、顕微鏡ヘッド14に設けられた測光
位置指標8内にスポット照明光9が入って顕微鏡ヘッド
14と透過照明系20との光軸が合っていても、この観
察位置Pから顕微鏡ヘッド14を移動して観察位置P
に位置させた場合、測光位置指標8とスポット照明光
9との位置がずれて、顕微鏡ヘッド14と透過照明系2
0との光軸が微小にずれることがある。この微小なずれ
は、例えば移動機構のギアの噛み合わせなどの機械的に
生じるものであり、このずれが生じると測光部位の分光
透過率の測光結果に大きく影響する。
【0011】そこで本発明は、鏡筒を移動しこれに透過
照明系を追従させたときの顕微鏡ヘッドと透過照明系と
の光軸の微小なずれを検出して自動的にそのずれを補正
できる測定光学系補正装置を提供することを目的とす
る。
【0012】又、本発明は、顕微鏡ヘッドを移動しこれ
に透過照明系を追従させたときの顕微鏡ヘッドと透過照
明系との光軸の微小なずれを検出して自動的にそのずれ
を補正し、高精度な分光透過率の測光ができる分光測光
装置を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】請求項1記載による本発
明は、測定対象物における微小な測定部位に観察系の光
軸を位置決めすると共に、照明系の光軸を鏡筒の移動に
追従させて前記測定部位を照明する顕微鏡において、前
記鏡筒を前記測定部位に対して位置決めしたときの前記
測定部位と前記照明系による前記測定部位への照明位置
とのずれ量を検出し、このずれ量に従って前記照明系を
位置補正する補正手段を具備したことを特徴とする測定
光学系補正装置である。
【0014】請求項2記載による本発明は、観察視野内
に指標を設けた顕微鏡ヘッドと、この顕微鏡ヘッドを通
して測定対象物を撮像する撮像装置と、前記測定対象物
における微小範囲の測定部位を照明するための照明系
と、前記顕微鏡ヘッドを移動させてその光軸を前記測定
部位に位置決めすると共に、前記照明系を前記顕微鏡ヘ
ッドの移動に追従させる追従移動機構と、前記顕微鏡ヘ
ッドを前記測定部位に位置決めしたときに前記撮像装置
の撮像により得られる画像データから前記指標の位置と
前記照明系による照明光の位置とのずれ量を検出するず
れ量検出手段と、このずれ量検出手段により検出された
前記ずれ量に従って前記照明系を位置補正する補正手段
とを具備したことを特徴とする測定光学系補正装置であ
る。
【0015】請求項3記載による本発明は、請求項1又
は2記載の測定光学系補正装置において、前記照明系
は、透過式のスポット照明であることを特徴とする。
【0016】請求項4記載による本発明は、請求項2記
載の測定光学系補正装置において、前記測定対象物を一
方向に移動させる対象物移動機構を備え、かつ前記追従
移動機構は、前記対象物移動機構による一移動方向に対
して直交する方向に前記顕微鏡ヘッドと前記照明系とを
移動させることを特徴とする。
【0017】請求項5記載による本発明は、請求項1又
は2記載の測定光学系補正装置において、前記補正手段
は、前記照明系をXY方向に微動させるXYテーブルで
あることを特徴とする。
【0018】請求項6記載による本発明は、請求項1乃
至5のうちいずれか1項記載の測定光学系補正装置を適
用し、それぞれ色相の異なる複数の微小範囲を有する前
記測定対象物の前記微小範囲にスポット照明光を照射し
て前記微小範囲の分光透過率を測光することを特徴とす
る分光測光装置である。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。なお、図8と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
【0020】図1は本発明の測定光学系補正装置を適用
した分光測光装置の全体構成図であり、図2は同装置を
上方から見た図、図3は同装置の上面図である。透過照
明系20は、追従移動機構30を構成する移動架台31
上に設けられている。この追従移動機構30は、移動架
台31を、門型フレーム13の底面の例えばY軸方向に
設けられたレール21上に移動自在に設け、これにより
透過照明系20を、顕微鏡ヘッド14、検出器16及び
撮像装置19のY軸方向への移動に追従して移動させる
ものとなっている。
【0021】透過照明系20には、Koana-Naora型光
学系が用いられている。このKoana-Naora型光学系
は、測光部位以外からの光が光学系を通る際に光学部品
の空気境界面や微小な傷、気泡、汚れなどで反射、散乱
してフレア光となり、これが測光部位からの光と加わっ
て測定誤差を招き、特に明るく広い背景に囲まれた暗く
小さな領域を測光する際にはその誤差が顕著となるた
め、この誤差を低減するために、照明側で測光域を制限
し、測光部位以外にはスポット照明光を照明しないよう
な構成としたものである。具体的には、図4に示すよう
に顕微鏡ヘッド14に設けられている対物レンズ32に
対してコンデンサレンズ33を向かい合わせて配置し、
光源34からの光をスポット照明光35としてカラーフ
ィルタ3の1画素(測光部位)に照射するものとなって
いる。
【0022】透過照明系20が設けられている移動架台
31上には、顕微鏡ヘッド14をカラーフィルタ3の1
画素(測光部位)に対応する位置に位置決めしたとき
に、撮像装置19の撮像により得られる画像データから
測光位置指標8の位置と透過照明系20によるスポット
照明光35の位置とのずれ量を補正するための補正手段
として、例えば微小XYテーブル36が設けられてい
る。すなわち、微小XYテーブル36は、移動架台31
に対して透過照明系20をX軸及びY軸方向にそれぞれ
微小な距離だけ移動させてずれ量を補正する。
【0023】上記微小XYテーブル36は、透過照明系
20をX軸及びY軸方向に微小移動させるもので、微小
XYテーブル36を駆動するための微調整用のX軸方向
のモータ37とY軸方向のモータ38とからなってい
る。
【0024】撮像装置19の出力端子には、画像メモリ
39が接続され、この画像メモリ39に撮像装置19の
撮像により得られた画像データが記憶されるようになっ
ている。
【0025】ずれ量検出部40は、画像メモリ39に記
憶された画像データを画像処理し、カラーフィルタ3の
1画素(測光部位)の中心と測光位置指標8とのずれ量
を検出する第1のずれ量検出機能を有している。
【0026】又、このずれ量検出部40は、顕微鏡ヘッ
ド14をカラーフィルタ3の1画素(測光部位)に対応
する位置に位置決めしたときに、画像メモリ39に記憶
されている画像データから測光位置指標8の位置と透過
照明系20によるスポット照明光9の位置とのずれ量を
検出する第2のずれ量検出機能を有している。
【0027】駆動部41は、ずれ量検出部40の第1の
ずれ量検出機能により検出されたカラーフィルタ3の1
画素(測光部位)の中心と測光位置指標8とのずれ量を
受け取り、このずれ量に従って門型フレーム13をX軸
方向に移動させると共に、顕微鏡ヘッド14、検出器1
6及び撮像装置19の一体をY軸方向に移動させる機能
を有している。
【0028】又、駆動部41は、ずれ量検出部40の第
2のずれ量検出機能により検出された測光位置指標8の
位置とスポット照明光9の位置とのずれ量を受け取り、
このずれ量に従ってX軸方向のモータ37とY軸方向の
モータ38とをそれぞれ駆動し、微小XYテーブル36
に搭載された透過照明系20をXY方向に微動させて測
光位置指標8の位置とスポット照明光9の位置とを合せ
る、すなわち顕微鏡ヘッド14に設けられている対物レ
ンズ32の光軸に対してコンデンサレンズ33の光軸を
一致するように合わせる機能を有している。
【0029】なお、分光測光演算装置50は、検出器1
6から出力される検出信号を入力し、この検出信号を演
算してカラーフィルタ3の1画素(測光部位)の分光透
過率を測光する機能を有するものであり、その演算装置
51及びモニタ装置52などが備えられている。
【0030】制御装置53は、分光測光装置の全体を制
御するもので、その演算装置54及びモニタ装置55な
どが備えられている。なお、演算装置54には、例え
ば、上記画像メモリ39やずれ量検出部40、駆動部4
1が備えられている。
【0031】次に、上記の如く構成された装置の作用に
ついて図5に示す補正動作のフローチャートを参照して
説明する。
【0032】先ず、ステップ#1において、顕微鏡ヘッ
ド14の光軸をカラーフィルタ3の1画素(測光部位)
に対する位置合わせが行われる。門型フレーム13がX
軸方向に移動すると共に、この門型フレーム13に対し
て顕微鏡ヘッド14、検出器16及び撮像装置19の一
体がY軸方向に移動する。このとき、顕微鏡ヘッド1
4、検出器16及び撮像装置19のY軸方向への移動に
追従して透過照明系20が移動する。
【0033】次に、顕微鏡ヘッド14がカラーフィルタ
3の1画素(測光部位)に対応する位置に到達すると、
撮像装置19は、ステップ#2において、カラーフィル
タ3の1画素(測光部位)を撮像し、その画像信号を出
力する。この画像信号は、画像メモリ39に画像データ
として取り込まれる。ずれ量検出部40は、画像メモリ
39に記憶された画像データを読み取り、カラーフィル
タ3の1画素(測光部位)を識別する。
【0034】次に、ずれ量検出部40は、ステップ#3
において、画像メモリ39に記憶された画像データを画
像処理し、カラーフィルタ3の1画素(測光部位)の中
心と測光位置指標8とのずれ量(例えばΔX,Δ
)を検出する。
【0035】次に、駆動部41は、ステップ#4におい
て、ずれ量検出部40により検出されたカラーフィルタ
3の1画素(測光部位)の中心と測光位置指標8とのず
れ量(例えばΔX,ΔY)を受け取り、このずれ量
に従って門型フレーム13をX軸方向(例えばx=ΔX
)に移動させると共に、顕微鏡ヘッド14、検出器1
6及び撮像装置19の一体をY軸方向(例えばy=ΔY
)に移動させる。
【0036】なお、このとき顕微鏡ヘッド14、検出器
16及び撮像装置19のY軸方向への移動に追従して透
過照明系20も移動する。
【0037】次に、撮像装置19は、ステップ#5にお
いて、再びカラーフィルタ3の1画素(測光部位)を撮
像し、その画像信号を出力する。この画像信号は、画像
メモリ39に画像データとして取り込まれる。ずれ量検
出部40は、画像メモリ39に記憶された画像データを
読み取り、カラーフィルタ3の1画素(測光部位)に照
明されたスポット照明光9を識別する。
【0038】次に、ずれ量検出部40は、ステップ#6
において、画像メモリ39に記憶されている画像データ
から測光位置指標8の位置と透過照明系20によるスポ
ット照明光9の位置とのずれ量(例えばΔX,Δ
)を検出する。
【0039】次に、駆動部41は、ステップ#7におい
て、ずれ量検出部40により検出された測光位置指標8
の位置とスポット照明光9の位置とのずれ量(例えばΔ
,ΔY)を受け取り、このうちずれ量(例えばΔ
)に従ってX軸方向のモータ37を駆動すると共
に、ずれ量(例えばΔY)に従ってY軸方向のモータ
38を駆動し、微小XYテーブル36を動作させて透過
照明系20をXY方向に微動させ、測光位置指標8の中
心にほぼ一致するようにスポット照明光9の位置を合せ
る、すなわち顕微鏡ヘッド14に設けられている対物レ
ンズ32の光軸に対してコンデンサレンズ33の光軸が
一致するように合わせる。
【0040】従って、図3に示すように顕微鏡ヘッド1
4が観察位置Pに位置しているときに顕微鏡ヘッド1
4に設けられた測光位置指標8内にスポット照明光9が
入って顕微鏡ヘッド14と透過照明系20との光軸が合
っており、この観察位置Pから顕微鏡ヘッド14を移
動して観察位置Pに位置させた場合、本発明装置であ
れば、測光位置指標8とスポット照明光9との位置ずれ
が生ぜず、観察位置P においても測光位置指標8内に
スポット照明光9が入って顕微鏡ヘッド14と透過照明
系20との光軸が合うものとなる。
【0041】以上のような透過照明系20の補正動作が
終了すると、測光部位に対して透過照明系20によりス
ポット照明光9が照射され、測光部位(カラーフィルタ
3の1画素)を透過した光は対物レンズを通して検出器
16に導かれる。この光を受光した検出器16は、当該
測光部位を透過した光量に応じた検出信号を出力する。
分光測光演算装置50は、検出器16から出力される検
出信号を入力し、この検出信号を演算してカラーフィル
タ3の1画素(測光部位)の分光透過率を測光する。
【0042】このように上記一実施の形態においては、
カラーフィルタ3の1画素(測光部位)に対応する位置
に顕微鏡ヘッド14の光軸(対物レンズ32の光軸)を
位置決めすると共に、透過照明系20を顕微鏡ヘッド1
4の移動に追従させるとき、顕微鏡ヘッド14の光軸を
カラーフィルタ3の1画素(測光部位)に対して位置決
めしたときの測光部位と透過照明系20による測光部位
へのスポット照明光35の位置とのずれ量を検出し、こ
のずれ量に従って透過照明系20を位置補正するように
したので、顕微鏡ヘッド14を移動しこれに透過照明系
20を追従させたときの顕微鏡ヘッド14と透過照明系
20との光軸の微小なずれを検出して自動的にそのずれ
を補正し、高精度な分光透過率の測光ができる。
【0043】特に、上記装置のようなカラーフィルタ3
の寸法が大きくなると、このカラーフィルタ3をXYテ
ーブル2により2軸方向に移動させるのでなく、当該カ
ラーフィルタ3を一方向のみに移送し、かつ顕微鏡ヘッ
ド14をカラーフィルタ3の移送方向とは直交する方向
に移動させる場合には有効である。
【0044】なお、本発明は、上記一実施の形態に限定
されるものでなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない
範囲で種々に変形することが可能である。
【0045】さらに、上記実施形態には、種々の段階の
発明が含まれており、開示されている複数の構成要件に
おける適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施形態に示されている全構成要件から幾
つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとす
る課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で
述べられている効果が得られる場合には、この構成要件
が削除された構成が発明として抽出できる。
【0046】例えば、本発明装置は、分光測光装置に適
用するに限らず、透過照明光を測定対象の微小な測定部
位に照射し、この測定部位を顕微鏡を通して拡大観察す
るような装置の全てに対して適用できることは言うまで
もない。
【0047】又、上記分光測光装置のようなカラーフィ
ルタ3を一方向のみに移送し、かつ顕微鏡ヘッド14を
カラーフィルタ3の移送方向とは直交する方向に移動さ
せる機構に限らず、顕微鏡ヘッド14をXY軸の2軸方
向に移動させる機構にも適用できる。
【0048】又、顕微鏡ヘッドには、延長リレー鏡筒の
先端に取付けられた対物レンズも含み延長リレー鏡筒の
対物レンズを門型アーム等に沿って一方向に直線移動さ
せることも可能である。
【0049】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、顕
微鏡ヘッドと透過照明系との光軸の微小なずれを検出し
て自動的にずれを補正できる測定光学系補正装置を提供
できる。
【0050】又、本発明は、顕微鏡ヘッドと透過照明系
との光軸の微小なずれを検出して自動的にずれを補正
し、高精度な分光透過率の測光ができる分光測光装置を
提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる測定光学系補正装置を適用した
分光測光装置の一実施の形態を示す全体構成図。
【図2】本発明に係わる測定光学系補正装置を適用した
分光測光装置の一実施の形態を上方から見た図。
【図3】本発明に係わる測定光学系補正装置を適用した
分光測光装置の一実施の形態の正面図。
【図4】本発明に係わる測定光学系補正装置の一実施の
形態における透過照明系(Koana-Naora型光学系)の
具体的な構成図。
【図5】本発明に係わる測定光学系補正装置を適用した
分光測光装置の一実施の形態の補正動作のフローチャー
ト。
【図6】従来の分光測光装置の外観構成図。
【図7】同装置により観察されるカラーフィルタ上の測
定部位の測光位置指標とスポット照明光との位置決め関
係を示す図。
【図8】大型のカラーフィルタに対する従来の分光測光
装置の外観構成図。
【図9】同装置による顕微鏡ヘッドと透過照明系との光
軸の微小なずれを示す図。
【符号の説明】
3:カラーフィルタ 10:ベース 11:載置枠 12:レール 13:門型フレーム 14:顕微鏡ヘッド 16:検出器(ディテクタ) 17:ビームスプリッタ 18:ビームスプリッタ 19:撮像装置(CCDカメラ) 20:透過照明系 21:レール 30:追従移動機構 32:対物レンズ 33:コンデンサレンズ 34:光源 36:微小XYテーブル 37,38:モータ 39:画像メモリ 40:ずれ量検出部 41:駆動部 50:分光測光演算装置 51:演算装置 52:モニタ装置 53:制御装置 54:演算装置 55:モニタ装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02B 21/36 G02B 21/36 Fターム(参考) 2F065 AA03 AA07 AA19 BB27 DD04 DD09 FF01 FF04 FF23 HH04 HH13 HH15 JJ03 JJ09 JJ26 LL04 LL22 LL30 MM03 NN03 PP12 PP24 QQ00 QQ03 QQ24 QQ25 SS13 TT02 UU05 UU07 2G059 AA02 AA05 BB08 BB10 BB15 DD13 EE01 FF01 FF03 GG00 JJ01 JJ11 KK01 KK04 MM01 MM05 MM10 MM14 PP04 2H052 AC05 AD19 AD34 AD36 AF07 AF14 AF25

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定対象物における微小な測定部位に観
    察系の光軸を位置決めすると共に、照明系の光軸を鏡筒
    の移動に追従させて前記測定部位を照明する顕微鏡にお
    いて、 前記鏡筒を前記測定部位に対して位置決めしたときの前
    記測定部位と前記照明系による前記測定部位への照明位
    置とのずれ量を検出し、このずれ量に従って前記照明系
    を位置補正する補正手段、を具備したことを特徴とする
    測定光学系補正装置。
  2. 【請求項2】 観察視野内に指標を設けた顕微鏡ヘッド
    と、 この顕微鏡ヘッドを通して測定対象物を撮像する撮像装
    置と、 前記測定対象物における微小範囲の測定部位を照明する
    ための照明系と、 前記顕微鏡ヘッドを移動させてその光軸を前記測定部位
    に位置決めすると共に、前記照明系を前記顕微鏡ヘッド
    の移動に追従させる追従移動機構と、 前記顕微鏡ヘッドを前記測定部位に位置決めしたときに
    前記撮像装置の撮像により得られる画像データから前記
    指標の位置と前記照明系による照明光の位置とのずれ量
    を検出するずれ量検出手段と、 このずれ量検出手段により検出された前記ずれ量に従っ
    て前記照明系を位置補正する補正手段と、を具備したこ
    とを特徴とする測定光学系補正装置。
  3. 【請求項3】 前記照明系は、透過式のスポット照明で
    あることを特徴とする請求項1又は2記載の測定光学系
    補正装置。
  4. 【請求項4】 前記測定対象物を一方向に移動させる対
    象物移動機構を備え、かつ前記追従移動機構は、前記対
    象物移動機構による一移動方向に対して直交する方向に
    前記顕微鏡ヘッドと前記照明系とを移動させることを特
    徴とする請求項2記載の測定光学系補正装置。
  5. 【請求項5】 前記補正手段は、前記照明系をXY方向
    に微動させるXYテーブルであることを特徴とする請求
    項1又は2記載の測定光学系補正装置。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至5のうちいずれか1項記載
    の測定光学系補正装置を適用し、それぞれ色相の異なる
    複数の微小範囲を有する前記測定対象物の前記微小範囲
    にスポット照明光を照射して前記微小範囲の分光透過率
    を測光することを特徴とする分光測光装置。
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