JP2002260974A - Leak current inspecting device for electrolytic capacitor - Google Patents

Leak current inspecting device for electrolytic capacitor

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JP2002260974A
JP2002260974A JP2001054320A JP2001054320A JP2002260974A JP 2002260974 A JP2002260974 A JP 2002260974A JP 2001054320 A JP2001054320 A JP 2001054320A JP 2001054320 A JP2001054320 A JP 2001054320A JP 2002260974 A JP2002260974 A JP 2002260974A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a leak current inspecting device for an electrolytic capacitor, which can be made small on the whole without causing drop in reliability of inspection. SOLUTION: A parts feeder 1, an aging means 2, a conveying means 3, a console panel unit 4, an LC inspecting means 5, etc., are provided as a device for aging and subsequent leak current inspection. After discharging, charging is carried out by a 1st charging mechanism in the aging means 2, many capacitor elements held by a jig are taken out and charged by a 2nd charging mechanism while carried by an external conveying means 3. Then the LC inspecting means 5 measures a leak current and decides whether each carried capacitor element is normal. When the decision is made, corrections corresponding to a non-charging time are made.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電解コンデンサの
リーク電流検査装置に係り、特に、エージング処理を経
た後の電解コンデンサのリーク電流を検査する際に用い
られる検査装置を含む技術分野に属するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a leakage current inspection device for an electrolytic capacitor, and more particularly to a technical field including an inspection device used for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor after an aging process. It is.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、電解コンデンサの製造過程におい
て、製造中に生じた誘電体酸化皮膜の部分的破壊を修復
するべく、エージング処理が施される。電解コンデンサ
をエージング処理する場合、多数の電解コンデンサを治
具に保持させたまま加熱炉内に入れて加熱するととも
に、保持された電解コンデンサに所定の電圧を供給する
ことが行われる。
2. Description of the Related Art Conventionally, in the process of manufacturing an electrolytic capacitor, an aging treatment is performed to repair a partial destruction of a dielectric oxide film generated during the manufacturing. When the electrolytic capacitor is subjected to aging treatment, a large number of electrolytic capacitors are held in a jig and heated in a heating furnace, and a predetermined voltage is supplied to the held electrolytic capacitors.

【0003】このようにエージング処理が施された電解
コンデンサにおいては、漏れ電流(リーク電流)が少な
い方が望ましく、所定以上のリーク電流がある場合に
は、不良品として製品から除外する必要がある。このた
め、エージング処理が施された電解コンデンサは、リー
ク電流に関する検査(LC検査)に供される。一般に、
LC検査手段は、エージング手段の外部に設けられてい
る。エージング手段と、LC検査手段との間には、LC
検査のための充電を所定時間行うべく、コンベアが設け
られる。すなわち、エージング手段にてエージングの施
された電解コンデンサは、エージング手段内部の最終段
階において一旦放電される。次に、エージング手段外部
において、コンベアにて搬送されながら、所定時間の間
(例えば60秒間)充電される。そして、60秒間の充
電を経た後、LC検査手段においてリーク電流が検査さ
れるのである。
In such an electrolytic capacitor subjected to aging treatment, it is desirable that the leakage current (leak current) is small. If there is a leakage current exceeding a predetermined value, it must be excluded from the product as a defective product. . For this reason, the electrolytic capacitor that has been subjected to the aging process is subjected to an inspection (LC inspection) regarding a leakage current. In general,
The LC inspection means is provided outside the aging means. LC between the aging means and the LC inspection means
A conveyor is provided to perform charging for the inspection for a predetermined time. That is, the electrolytic capacitor aged by the aging means is once discharged in the final stage inside the aging means. Next, the battery is charged for a predetermined time (for example, 60 seconds) while being conveyed by a conveyor outside the aging means. Then, after charging for 60 seconds, the leakage current is inspected by the LC inspection means.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記技術で
は、所定の充電時間を確保するのに十分なコンベア長を
確保する必要がある。このため、コンベア長が長いもの
となってしまう分だけ、装置全体の大型化を招いてしま
うおそれがある。
However, in the above technology, it is necessary to secure a sufficient conveyor length to secure a predetermined charging time. For this reason, there is a possibility that the overall length of the apparatus will be increased by the length of the conveyor.

【0005】特に、コンベアが、少しずつ断続的に電解
コンデンサを搬送する構造となっている場合には、少な
くとも電解コンデンサが移送されている最中(移動中)
は充電が行われない。そのため、総合的に所定時間分の
充電を行おうとすると必然的にコンベア長が長いものと
なってしまい、結果として上記不具合が起こりやすいも
のとなってしまう。
[0005] In particular, when the conveyor has a structure in which the electrolytic capacitor is transported intermittently little by little, at least during the transfer of the electrolytic capacitor (during movement).
Does not charge. Therefore, if the charging is performed for a predetermined time comprehensively, the conveyor length is inevitably long, and as a result, the above-mentioned problem is likely to occur.

【0006】本発明は、上記各事情に鑑みてなされたも
のであり、検査に関しての信頼性の低下を招くことな
く、装置全体の小型化を図ることの可能な電解コンデン
サのリーク電流検査装置を提供することを主たる目的の
一つとしている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and provides a leakage current inspection apparatus for an electrolytic capacitor capable of reducing the size of the entire apparatus without reducing the reliability of the inspection. Providing is one of the main purposes.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段及びその効果】上記目的を
達成し得る特徴的手段について以下に説明する。また、
各手段につき、特徴的な作用及び効果を必要に応じて記
載する。
Means for Solving the Problems and Effects There will be described below characteristic means for achieving the above object. Also,
For each means, characteristic actions and effects will be described as necessary.

【0008】手段1.エージング手段にてエージング処
理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するた
めのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段
内部に設けられ、エージング及び放電の行われた電解コ
ンデンサに検査用の充電を施す第1の充電機構と、前記
エージング手段外部に設けられ、前記第1の充電機構に
て充電の施された電解コンデンサにさらに検査用の充電
を施す第2の充電機構と、前記エージング手段外部に設
けられ、前記第2の充電機構にて充電の施された電解コ
ンデンサのリーク電流を検査する検査手段とを備えたこ
とを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
Means 1. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor that has been subjected to aging processing by an aging means, wherein the leakage current inspection apparatus is provided inside the aging means, and the aging-discharged electrolytic capacitor is charged for inspection. A first charging mechanism provided outside the aging means, and a second charging mechanism for further performing an inspection charge on the electrolytic capacitor charged by the first charging mechanism; and a aging means. An inspection means provided externally for inspecting a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism.

【0009】手段1によれば、エージング手段内部にて
エージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、
エージング手段内部に設けられた第1の充電機構によっ
て、検査用の充電が施される。また、かかる電解コンデ
ンサに対し、エージング手段外部に設けられた第2の充
電機構によって、さらに検査用の充電が施される。そし
て、エージング手段外部に設けられた検査手段によっ
て、かかる電解コンデンサのリーク電流が検査される。
このように、エージング手段内部で予め充電が行われる
ことで、エージング手段外部での充電時間の短縮化を図
ることができる。従って、十分な充電時間を確保しつ
つ、少なくとも第2の充電機構の設置スペースを従来に
比べて縮小することができる。その結果、検査に関して
の信頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることがで
きる。
According to the means 1, the electrolytic capacitor which has been aged and discharged inside the aging means is
Inspection charging is performed by a first charging mechanism provided inside the aging means. Further, the electrolytic capacitor is further charged for inspection by a second charging mechanism provided outside the aging means. Then, a leakage current of the electrolytic capacitor is inspected by an inspection unit provided outside the aging unit.
In this way, by performing charging in advance inside the aging means, it is possible to reduce the charging time outside the aging means. Therefore, while ensuring a sufficient charging time, at least the installation space for the second charging mechanism can be reduced as compared with the related art. As a result, the size of the entire apparatus can be reduced while maintaining the reliability of the inspection.

【0010】手段2.エージング手段にてエージング処
理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するた
めのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段
内部に設けられ、エージング及び放電の行われた電解コ
ンデンサに検査用の充電を施す第1の充電機構と、前記
エージング手段外部に設けられ、前記第1の充電機構に
て充電の施された電解コンデンサにさらに検査用の充電
を施す第2の充電機構と、前記エージング手段外部に設
けられ、前記第2の充電機構にて充電の施された電解コ
ンデンサのリーク電流を検査する検査手段と、前記電解
コンデンサを、少なくとも前記エージング手段から前記
第2の充電機構を経由して前記検査手段へと搬送するた
めの搬送手段とを備えたことを特徴とする電解コンデン
サのリーク電流検査装置。
Means 2. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor that has been subjected to aging processing by an aging means, wherein the leakage current inspection apparatus is provided inside the aging means, and the aging-discharged electrolytic capacitor is charged for inspection. A first charging mechanism provided outside the aging means, and a second charging mechanism for further performing an inspection charge on the electrolytic capacitor charged by the first charging mechanism; and a aging means. Inspection means provided outside and inspecting a leak current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism, and the electrolytic capacitor, at least from the aging means via the second charging mechanism. A leakage current inspection device for an electrolytic capacitor, comprising: a transportation unit for transporting the battery to the inspection unit.

【0011】手段2によれば、エージング手段内部にて
エージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、
エージング手段内部に設けられた第1の充電機構によっ
て、検査用の充電が施される。また、かかる電解コンデ
ンサに対し、エージング手段外部に設けられた第2の充
電機構によって、さらに検査用の充電が施される。そし
て、エージング手段外部に設けられた検査手段によっ
て、かかる電解コンデンサのリーク電流が検査される。
ここで、電解コンデンサは、少なくともエージング手段
から第2の充電機構を経由して検査手段へと搬送手段に
よって搬送される。このように、エージング手段内部で
予め充電が行われることで、エージング手段外部での充
電時間の短縮化を図ることができる。従って、十分な充
電時間を確保しつつ、第2の充電機構の設置スペース
や、搬送スペースを従来に比べて縮小することができ
る。その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置
全体の小型化を図ることができる。
According to the means 2, for the electrolytic capacitor which has been aged and discharged inside the aging means,
Inspection charging is performed by a first charging mechanism provided inside the aging means. Further, the electrolytic capacitor is further charged for inspection by a second charging mechanism provided outside the aging means. Then, a leakage current of the electrolytic capacitor is inspected by an inspection unit provided outside the aging unit.
Here, the electrolytic capacitor is transported by the transporting means from at least the aging means to the inspection means via the second charging mechanism. In this way, by performing charging in advance inside the aging means, it is possible to reduce the charging time outside the aging means. Therefore, it is possible to reduce the installation space and the transport space of the second charging mechanism as compared with the related art while securing a sufficient charging time. As a result, the size of the entire apparatus can be reduced while maintaining the reliability of the inspection.

【0012】手段3.エージング手段にてエージング処
理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するた
めのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段
内部に設けられ、治具に対し複数個取付けられた状態で
エージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、
前記取付けられた状態のまま検査用の充電を施す第1の
充電機構と、前記第1の充電機構にて充電が施され、か
つ、前記治具から取り外された電解コンデンサを、前記
エージング手段外部において、1つずつ搬送可能な搬送
手段と、前記搬送手段にて搬送されつつある電解コンデ
ンサに対し、さらに検査用の充電を施す第2の充電機構
と、前記搬送手段にて前記第2の充電機構から搬送され
た電解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段とを
備えたことを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検
査装置。
Means 3. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor subjected to an aging process by an aging means, which is provided inside the aging means and ages and discharges in a state where a plurality of jigs are attached to the jig. For the electrolytic capacitor
A first charging mechanism for charging for inspection while being attached, and an electrolytic capacitor charged by the first charging mechanism and removed from the jig, are externally attached to the aging means. A transport unit capable of transporting one by one, a second charging mechanism for further performing a charging for inspection on the electrolytic capacitor being transported by the transport unit, and a second charging mechanism by the transport unit. An inspection means for inspecting a leakage current of the electrolytic capacitor conveyed from the mechanism.

【0013】手段3によれば、エージング手段内部に
て、治具に対し複数個取付けられた状態でエージング及
び放電の行われた電解コンデンサに対し、エージング手
段内部に設けられた第1の充電機構によって、前記取付
けられた状態のまま検査用の充電が施される。また、第
1の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具から取
り外された電解コンデンサが、エージング手段外部にお
いて、搬送手段によって1つずつ搬送させられる。さら
に、前記搬送手段にて搬送されつつある電解コンデンサ
に対し、第2の充電機構によってさらに検査用の充電が
施される。そして、搬送手段にて第2の充電機構から搬
送された電解コンデンサのリーク電流が、検査手段によ
って検査される。このように、エージング手段内部で予
め充電が行われることで、エージング手段外部での充電
時間の短縮化を図ることができる。従って、十分な充電
時間を確保しつつ、第2の充電機構の設置スペースや、
搬送スペースを従来に比べて縮小することができる。そ
の結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体の
小型化を図ることができる。
According to the means (3), the first charging mechanism provided inside the aging means is provided for the electrolytic capacitor which has been aged and discharged in a state where a plurality of jigs are attached to the jig inside the aging means. Thereby, charging for inspection is performed in the attached state. Further, the electrolytic capacitors charged by the first charging mechanism and removed from the jig are transported one by one outside the aging means by the transport means. Further, the electrolytic capacitor being conveyed by the conveying means is further charged for inspection by the second charging mechanism. Then, a leakage current of the electrolytic capacitor transported from the second charging mechanism by the transport unit is inspected by the inspection unit. In this way, by performing charging in advance inside the aging means, it is possible to reduce the charging time outside the aging means. Therefore, while securing a sufficient charging time, the installation space for the second charging mechanism,
The transport space can be reduced as compared with the conventional case. As a result, the size of the entire apparatus can be reduced while maintaining the reliability of the inspection.

【0014】手段4.前記検査手段は、前記第2の充電
機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を
測定するとともに、その測定結果に基づき良否判定を行
うよう構成されていることを特徴とする手段1乃至3の
いずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装
置。
Means 4. The inspection means is configured to measure a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism, and make a pass / fail judgment based on the measurement result. 3. The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to any one of 3.

【0015】手段4によれば、検査手段では、第2の充
電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流
が測定される。そして、その測定結果に基づき良否判定
が行われる。このため、上記各作用効果に加えて、判定
に関する信頼性の低下を招くことがないというメリット
がある。
[0015] According to the means 4, the inspection means measures the leak current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism. Then, a pass / fail judgment is made based on the measurement result. For this reason, in addition to the above-described respective effects, there is an advantage that the reliability of the determination is not reduced.

【0016】手段5.前記検査手段は、前記第2の充電
機構の直下流に設けられていることを特徴とする手段1
乃至4のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流
検査装置。
Means 5 The means (1), wherein the inspection means is provided immediately downstream of the second charging mechanism.
5. The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to any one of claims 1 to 4.

【0017】手段5によれば、検査手段が第2の充電機
構の直下流に設けられているため、第2の充電機構での
充電終了から時間間隔が空いてしまうことによるデメリ
ットを払拭することができ、検査の信頼性の低下をより
一層防止できる。
According to the means 5, since the inspection means is provided immediately downstream of the second charging mechanism, it is possible to eliminate disadvantages caused by a time interval from the end of charging by the second charging mechanism. And the reliability of the inspection can be further prevented from lowering.

【0018】手段6.エージング手段にてエージング処
理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するた
めのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段
内部に設けられ、エージング及び放電の行われた電解コ
ンデンサに検査用の充電を施す第1の充電機構と、前記
エージング手段外部に設けられ、前記第1の充電機構に
て充電の施された後、非充電期間の経過した電解コンデ
ンサにさらに検査用の充電を施す第2の充電機構と、前
記エージング手段外部に設けられ、前記第2の充電機構
にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検査
する検査手段とを備えたことを特徴とする電解コンデン
サのリーク電流検査装置。
Means 6 A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor that has been subjected to aging processing by an aging means. A second charging mechanism which is provided outside the aging means and which is charged by the first charging mechanism and which is further subjected to a non-charging period and which is further charged for inspection. A charging mechanism provided outside the aging means, and an inspection means for inspecting a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism. Inspection equipment.

【0019】手段6によれば、エージング手段内部にて
エージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、
エージング手段内部に設けられた第1の充電機構によっ
て、検査用の充電が施される。また、かかる電解コンデ
ンサに対し、非充電期間が経過した後で、エージング手
段外部に設けられた第2の充電機構によって、さらに検
査用の充電が施される。そして、エージング手段外部に
設けられた検査手段によって、かかる電解コンデンサの
リーク電流が検査される。このように、エージング手段
内部で予め充電が行われることで、エージング手段外部
での充電時間の短縮化を図ることができる。従って、十
分な充電時間を確保しつつ、少なくとも第2の充電機構
の設置スペースを従来に比べて縮小することができる。
その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体
の小型化を図ることができる。
According to the means 6, the electrolytic capacitor which has been aged and discharged inside the aging means is
Inspection charging is performed by a first charging mechanism provided inside the aging means. After the non-charging period has elapsed, the electrolytic capacitor is further charged for inspection by a second charging mechanism provided outside the aging means. Then, a leakage current of the electrolytic capacitor is inspected by an inspection unit provided outside the aging unit. In this way, by performing charging in advance inside the aging means, it is possible to reduce the charging time outside the aging means. Therefore, while ensuring a sufficient charging time, at least the installation space for the second charging mechanism can be reduced as compared with the related art.
As a result, the size of the entire apparatus can be reduced while maintaining the reliability of the inspection.

【0020】手段7.エージング手段にてエージング処
理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するた
めのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段
内部に設けられ、エージング及び放電の行われた電解コ
ンデンサに検査用の充電を施す第1の充電機構と、前記
エージング手段外部に設けられ、前記第1の充電機構に
て充電の施された後、非充電期間の経過した電解コンデ
ンサにさらに検査用の充電を施す第2の充電機構と、前
記エージング手段外部に設けられ、前記第2の充電機構
にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検査
する検査手段と、前記電解コンデンサを、少なくとも前
記エージング手段から前記第2の充電機構を経由して前
記検査手段へと搬送するための搬送手段とを備えたこと
を特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
Means 7. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor that has been subjected to aging processing by an aging means, wherein the leakage current inspection apparatus is provided inside the aging means, and the aging-discharged electrolytic capacitor is charged for inspection. A second charging mechanism which is provided outside the aging means and which is charged by the first charging mechanism and which is further subjected to a non-charging period and which is further charged for inspection. A charging mechanism, an inspection means provided outside the aging means, for inspecting a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism, and at least the And a transport unit for transporting the battery to the inspection unit via the charging mechanism of (2). Inspection equipment.

【0021】手段7によれば、エージング手段内部にて
エージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、
エージング手段内部に設けられた第1の充電機構によっ
て、検査用の充電が施される。また、かかる電解コンデ
ンサに対し、非充電期間が経過した後、エージング手段
外部に設けられた第2の充電機構によって、さらに検査
用の充電が施される。そして、エージング手段外部に設
けられた検査手段によって、かかる電解コンデンサのリ
ーク電流が検査される。ここで、電解コンデンサは、少
なくともエージング手段から第2の充電機構を経由して
検査手段へと搬送手段によって搬送される。このよう
に、エージング手段内部で予め充電が行われることで、
エージング手段外部での充電時間の短縮化を図ることが
できる。従って、十分な充電時間を確保しつつ、第2の
充電機構の設置スペースや、搬送スペースを従来に比べ
て縮小することができる。その結果、検査に関しての信
頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができ
る。
According to the means 7, the aging and discharging of the electrolytic capacitor inside the aging means
Inspection charging is performed by a first charging mechanism provided inside the aging means. After the non-charging period has elapsed, the electrolytic capacitor is further charged for inspection by a second charging mechanism provided outside the aging means. Then, a leakage current of the electrolytic capacitor is inspected by an inspection unit provided outside the aging unit. Here, the electrolytic capacitor is transported by the transporting means from at least the aging means to the inspection means via the second charging mechanism. In this way, by being charged in advance inside the aging means,
The charging time outside the aging means can be reduced. Therefore, it is possible to reduce the installation space and the transport space of the second charging mechanism as compared with the related art while securing a sufficient charging time. As a result, the size of the entire apparatus can be reduced while maintaining the reliability of the inspection.

【0022】手段8.エージング手段にてエージング処
理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するた
めのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段
内部に設けられ、治具に対し複数個取付けられた状態で
エージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、
前記取付けられた状態のまま検査用の充電を施す第1の
充電機構と、前記第1の充電機構にて充電が施され、か
つ、前記治具から取り外された電解コンデンサを、前記
エージング手段外部において、1つずつ搬送可能な搬送
手段と、前記第1の充電機構にて充電が施されてから所
定の非充電期間が経過しており、前記搬送手段にて搬送
されつつある電解コンデンサに対し、さらに検査用の充
電を施す第2の充電機構と、前記搬送手段にて前記第2
の充電機構から搬送された電解コンデンサのリーク電流
を検査する検査手段とを備えたことを特徴とする電解コ
ンデンサのリーク電流検査装置。
Means 8 A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor subjected to an aging process by an aging means, which is provided inside the aging means and ages and discharges in a state where a plurality of jigs are attached to the jig. For the electrolytic capacitor
A first charging mechanism for charging for inspection while being attached, and an electrolytic capacitor charged by the first charging mechanism and removed from the jig, are externally attached to the aging means. In the present invention, a transporting means capable of transporting one by one, and a predetermined non-charging period has elapsed since the charging was performed by the first charging mechanism, and the electrolytic capacitor being transported by the transporting means A second charging mechanism for charging for inspection and the second charging mechanism
Inspection means for inspecting the leakage current of the electrolytic capacitor transported from the charging mechanism of (1).

【0023】手段8によれば、エージング手段内部に
て、治具に対し複数個取付けられた状態でエージング及
び放電の行われた電解コンデンサに対して、エージング
手段内部に設けられた第1の充電機構によって、前記取
付けられた状態のまま検査用の充電が施される。また、
第1の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具から
取り外された電解コンデンサが、エージング手段外部に
おいて、搬送手段によって1つずつ搬送させられる。さ
らに、前記第1の充電機構にて充電が施されてから所定
の非充電期間が経過しており、前記搬送手段にて搬送さ
れつつある電解コンデンサに対し、第2の充電機構によ
ってさらに検査用の充電が施される。そして、搬送手段
にて第2の充電機構から搬送された電解コンデンサのリ
ーク電流が、検査手段によって検査される。このよう
に、エージング手段内部で予め充電が行われることで、
エージング手段外部での充電時間の短縮化を図ることが
できる。従って、十分な充電時間を確保しつつ、第2の
充電機構の設置スペースや、搬送スペースを従来に比べ
て縮小することができる。その結果、検査に関しての信
頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができ
る。
According to the means (8), a plurality of electrolytic capacitors which have been aged and discharged in a state where a plurality of jigs are attached to the jig inside the aging means are provided with the first charging means provided inside the aging means. By the mechanism, charging for inspection is performed in the attached state. Also,
The electrolytic capacitors charged by the first charging mechanism and removed from the jig are transported one by one outside the aging means by the transport means. Further, a predetermined non-charging period has elapsed since the charging was performed by the first charging mechanism, and the electrolytic capacitor being transported by the transporting means is further inspected by the second charging mechanism. Is charged. Then, a leakage current of the electrolytic capacitor transported from the second charging mechanism by the transport unit is inspected by the inspection unit. In this way, by being charged in advance inside the aging means,
The charging time outside the aging means can be reduced. Therefore, it is possible to reduce the installation space and the transport space of the second charging mechanism as compared with the related art while securing a sufficient charging time. As a result, the size of the entire apparatus can be reduced while maintaining the reliability of the inspection.

【0024】手段9.前記検査手段は、前記第2の充電
機構の直下流に設けられていることを特徴とする手段6
乃至8のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流
検査装置。
Means 9 The means (6), wherein the inspection means is provided immediately downstream of the second charging mechanism.
9. The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to any one of claims 8 to 8.

【0025】手段9によれば、検査手段が第2の充電機
構の直下流に設けられているため、第2の充電機構での
充電終了から時間間隔が空いてしまうことによるデメリ
ットを払拭することができ、検査の信頼性の低下をより
一層防止できる。
According to the means 9, since the inspection means is provided immediately downstream of the second charging mechanism, it is possible to eliminate disadvantages caused by a time interval from the end of charging by the second charging mechanism. And the reliability of the inspection can be further prevented from lowering.

【0026】手段10.前記検査手段は、前記第2の充
電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流
を測定するとともに、その測定結果に基づき良否判定を
行うよう構成されていることを特徴とする手段6乃至9
のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装
置。
Means 10. The inspection means is configured to measure a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism, and make a pass / fail judgment based on the measurement result. 9
The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to any one of the above.

【0027】手段10によれば、検査手段では、第2の
充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電
流が測定される。そして、その測定結果に基づき良否判
定が行われる。このため、上記各作用効果に加えて、判
定に関する信頼性の低下を招くことがないというメリッ
トがある。
According to the means 10, the inspection means measures the leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism. Then, a pass / fail judgment is made based on the measurement result. For this reason, in addition to the above-described respective effects, there is an advantage that the reliability of the determination is not reduced.

【0028】手段11.前記検査手段は、前記測定結果
と、予め設定された設定値とを比較することに基づいて
良否判定を行うものであり、かつ、前記比較に先だって
前記測定結果又は設定値に対し前記非充電期間に応じた
補正を行い、その上で前記比較を行うものであることを
特徴とする手段10に記載の電解コンデンサのリーク電
流検査装置。
Means 11. The inspection unit performs a pass / fail determination based on comparing the measurement result with a preset set value, and performs the non-charging period on the measurement result or the set value prior to the comparison. 11. The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to claim 10, wherein the correction is performed according to the following, and then the comparison is performed.

【0029】手段11によれば、検査手段では、前記測
定結果と、予め設定された設定値とが比較されることに
基づいて良否判定が行われる。前記比較に先だって、測
定結果又は設定値に対し、非充電期間に応じた補正が行
われ、その上で前記比較が行われる。ここで、第2の充
電機構にて充電されるまでの非充電期間が各コンデンサ
毎に相違する場合に、検査手段での測定結果に影響が及
ぶおそれがあるが、本手段では、非充電期間に応じた補
正が行われた上で比較が行われる。そのため、各コンデ
ンサ毎に非充電期間が相違したとしても、そのことによ
る悪影響を払拭することができる。その結果、良否判定
の精度が高められることとなる。
According to the means 11, the inspection means makes a pass / fail judgment based on the comparison between the measurement result and a preset value. Prior to the comparison, the measurement result or the set value is corrected according to the non-charging period, and then the comparison is performed. Here, when the non-charging period until charging by the second charging mechanism is different for each capacitor, there is a possibility that the measurement result of the inspection unit may be affected. The comparison is performed after the correction in accordance with. Therefore, even if the non-charging period differs for each capacitor, the adverse effect caused by the difference can be eliminated. As a result, the accuracy of the pass / fail judgment is improved.

【0030】手段12.前記検査手段は、前記第2の充
電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流
を測定し、その測定結果に対し前記非充電期間に応じた
補正を行うものであることを特徴とする手段6乃至9の
いずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装
置。
Means 12. The inspection means measures a leak current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism, and performs a correction according to the measurement result in accordance with the non-charging period. The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to any one of means 6 to 9, wherein

【0031】手段12によれば、前記検査手段では、第
2の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリー
ク電流が測定される。そして、その測定結果に対し前記
非充電期間に応じた補正が行われる。このため、各コン
デンサ毎に非充電期間が相違したとしても、補正によ
り、非充電期間が相違することによる影響が払拭される
こととなり、ひいては検査精度を高めることができる。
According to the means 12, the inspection means measures the leak current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism. Then, the measurement result is corrected according to the non-charging period. For this reason, even if the non-charging period differs for each capacitor, the effect of the difference in the non-charging period is eliminated by the correction, so that the inspection accuracy can be improved.

【0032】手段13.前記第1の充電機構による充電
時間は、前記第2の充電機構による充電時間よりも長い
ことを特徴とする請求項1乃至12のいずれかに記載の
電解コンデンサのリーク電流検査装置。
Means 13 13. The leakage current inspection apparatus for an electrolytic capacitor according to claim 1, wherein a charging time by the first charging mechanism is longer than a charging time by the second charging mechanism.

【0033】手段13によれば、エージング手段外部に
おいて行われる充電時間を比較的短いものとすることが
できる。そのため、十分な充電時間を確保しつつ、第2
の充電機構の設置スペース等を従来に比べて縮小するこ
とができる。その結果、検査に関しての信頼性を保持し
つつ装置全体の小型化を図ることができる。
According to the means 13, the charging time performed outside the aging means can be made relatively short. Therefore, while securing sufficient charging time,
The installation space and the like of the charging mechanism can be reduced as compared with the related art. As a result, the size of the entire apparatus can be reduced while maintaining the reliability of the inspection.

【0034】[0034]

【発明の実施の形態】以下、一実施の形態について、図
1乃至図9を参照しつつ説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment will be described below with reference to FIGS.

【0035】図1,2に示すように、本実施の形態にお
いてはエージング処理及びその後のリーク電流検査に関
する装置として、パーツフィーダ1、エージング手段
2、搬送手段3、操作パネルユニット4及びLC検査手
段5等が設けられている。
As shown in FIGS. 1 and 2, in the present embodiment, parts feeder 1, aging means 2, transport means 3, operation panel unit 4, and LC inspection means are used as devices relating to aging processing and subsequent leakage current inspection. 5 and the like are provided.

【0036】パーツフィーダ1には、電解コンデンサを
構成するコンデンサ素子6(図4等参照)が多く貯留さ
れており、エージング処理前のコンデンサ素子6は、こ
のパーツフィーダ1から搬送手段3によってエージング
手段2の方へと搬送されるようになっている。搬送手段
3は、コンベアによって構成され、前記コンデンサ素子
6を1つずつ間欠的に移送可能となっている。また、エ
ージング手段2によってエージング処理等の施されたコ
ンデンサ素子6は、今度は搬送手段3によってLC検査
手段5の方へと搬送されるようになっている。そして、
LC検査手段5では、搬送されてくる各コンデンサ素子
6に関し、リーク電流の測定及び良否判定が行われるよ
うになっている。なお、操作パネルユニット4には、各
種入力スイッチ等が設けられ、該スイッチ等の操作に基
づいてコンデンサ素子6等に関するデータ(数量、容
量、型式)等が入力されるようになっている。
A large number of capacitor elements 6 (see FIG. 4 and the like) constituting an electrolytic capacitor are stored in the parts feeder 1. The capacitor elements 6 before the aging process are transferred from the parts feeder 1 to the aging means by the conveying means 3. 2 is conveyed. The conveying means 3 is constituted by a conveyor, and is capable of intermittently transferring the capacitor elements 6 one by one. The capacitor element 6 subjected to the aging process or the like by the aging means 2 is transported by the transport means 3 to the LC inspection means 5. And
The LC inspection means 5 measures the leakage current and determines the quality of each conveyed capacitor element 6. The operation panel unit 4 is provided with various input switches and the like, and data (quantity, capacity, model) and the like regarding the capacitor element 6 and the like are input based on the operation of the switches and the like.

【0037】ここで、エージング手段2の基本構成につ
いて説明する。図3,4に示すように、本実施の形態に
おけるエージング手段2は、コンデンサ素子6を加熱す
るための加熱機構12及びコンデンサ素子6を回転させ
つつ送るための送り機構13を備えている。送り機構1
3は軸受14を備えており、軸受14には、回転軸15
が回転可能に支持されている。回転軸15には前記コン
デンサ素子6を保持するための治具17を搬送するため
のホイール状の回転体18が二対所定間隔を隔てて取付
けられている。回転体18は、図示しない駆動モータが
回転することにより、所定速度で回転させられるように
なっている。
Here, the basic configuration of the aging means 2 will be described. As shown in FIGS. 3 and 4, the aging means 2 in the present embodiment includes a heating mechanism 12 for heating the capacitor element 6 and a feeding mechanism 13 for rotating and feeding the capacitor element 6. Feed mechanism 1
3 is provided with a bearing 14, and the bearing 14 has a rotating shaft 15
Are rotatably supported. A wheel-like rotating body 18 for transporting a jig 17 for holding the capacitor element 6 is attached to the rotating shaft 15 at two predetermined intervals. The rotating body 18 is configured to be rotated at a predetermined speed by rotating a drive motor (not shown).

【0038】各回転体18の外周には、凹部(図示略)
及び凸部20が歯車状に交互に形成されている。回転体
18には各凸部20ごとに一対の位置決めピン21が取
付けられている。前記対の回転体18の外周には、長尺
状の治具17が、複数個(例えば60〜100個程度:
本実施の形態では80個)所定間隔を隔てて取付けられ
るようになっている。該治具17は、回転体18の各凸
部20に対し取付けられるようになっており、前記位置
決めピン21と係合して位置決めするためのホルダ26
と、凸部20両側にてホルダ26に取付けられ、かつ、
回転体18間に延びる長板状の絶縁板27とを有してい
る。本実施の形態では、1個の治具17あたり、例えば
60個のコンデンサ素子6が一斉に保持されるようにな
っている。
A concave portion (not shown) is provided on the outer periphery of each rotating body 18.
And the projections 20 are formed alternately in a gear shape. A pair of positioning pins 21 are attached to the rotating body 18 for each projection 20. A plurality of long jigs 17 (for example, about 60 to 100) are provided on the outer circumference of the pair of rotating bodies 18.
(80 in the present embodiment). The jig 17 is adapted to be attached to each of the projections 20 of the rotating body 18, and a holder 26 for engaging with the positioning pin 21 for positioning.
And are attached to the holder 26 on both sides of the convex portion 20, and
A long insulating plate 27 extending between the rotating bodies 18. In the present embodiment, for example, 60 capacitor elements 6 are simultaneously held per one jig 17.

【0039】上記構成下においては、治具17がコンデ
ンサ素子6の供給位置にきたとき、図示しないカム機構
が作動させられて、コンデンサ素子6の供給が可能な状
態となる。また、コンデンサ素子6が供給された後にお
いては、コンデンサ素子6の保持と、前記コンデンサ素
子6への電気的導通とが併せて図られるようになってい
る。
In the above configuration, when the jig 17 reaches the supply position of the capacitor element 6, a cam mechanism (not shown) is operated, and the supply of the capacitor element 6 is enabled. After the capacitor element 6 is supplied, the holding of the capacitor element 6 and the electrical conduction to the capacitor element 6 are achieved together.

【0040】治具17の移送経路の外周には、約270
度にわたって被うハウジング41が設けられている。こ
のハウジング41は、治具17の移送経路の外周を環状
に囲み、かつ、外部から隔てられている。ハウジング4
1の内面には断熱材が設けられており、また、軸受14
に取付けられた円板状のフレーム42により回転軸15
と同心状に支えられている。また、ハウジング41の円
周方向の一端縁側には、図示しない送風機が設けられて
おり、これにより、エージング中のコンデンサ素子6等
が加熱されるようになっている。
On the outer circumference of the transfer path of the jig 17, about 270
A housing 41 is provided which covers over time. The housing 41 annularly surrounds the outer circumference of the transfer path of the jig 17 and is separated from the outside. Housing 4
A heat insulating material is provided on the inner surface of the bearing 1.
The rotating shaft 15 is provided by a disc-shaped frame 42 attached to the
It is supported concentrically. Further, a blower (not shown) is provided at one circumferential end of the housing 41 so that the capacitor element 6 and the like during aging are heated.

【0041】次に、本実施の形態におけるエージング手
段2の基本的動作について簡単に説明する。送り機構1
3において、回転体18は、所定方向に間欠回転され
る。そして、回転体18の外周に取付けられた治具17
が所定位置にきたとき、該治具17に保持された多数の
コンデンサ素子6の取出しと、治具17への新たなコン
デンサ素子6の供給とが図示しない供給取出手段によっ
て行われる。一方、ハウジング41内では、加熱された
熱風が送風機により循環される。このため、治具17に
保持されたコンデンサ素子6は、治具17とともに所定
方向に移動しつつ、熱風により加熱される。そして、こ
の間、治具17を介して所定の電圧が供給され、エージ
ング処理が施されるようになっている。
Next, the basic operation of the aging means 2 in this embodiment will be briefly described. Feed mechanism 1
In 3, the rotating body 18 is intermittently rotated in a predetermined direction. The jig 17 attached to the outer periphery of the rotating body 18
Is reached at a predetermined position, the removal of a large number of capacitor elements 6 held by the jig 17 and the supply of new capacitor elements 6 to the jig 17 are performed by a supply / extraction unit (not shown). On the other hand, in the housing 41, the heated hot air is circulated by the blower. Therefore, the capacitor element 6 held by the jig 17 is heated by the hot air while moving in a predetermined direction together with the jig 17. During this time, a predetermined voltage is supplied via the jig 17 to perform an aging process.

【0042】本実施の形態では、電源電圧のそれぞれ異
なる複数種類の電源が用意されており、エージング手段
2内においては前記治具17の移動に伴って、供給され
る電圧が徐々に増大するようになっている。但し、図5
に示すように、エージングの最終段階においては、エー
ジングが完了した後、所定地点から当該治具17に関し
て放電が開始され、一旦完全な放電が行われるようにな
っている。
In this embodiment, a plurality of types of power supplies having different power supply voltages are prepared, and the supplied voltage is gradually increased in the aging means 2 as the jig 17 moves. It has become. However, FIG.
As shown in (2), in the final stage of aging, after the aging is completed, the discharge of the jig 17 starts from a predetermined point, and complete discharge is performed once.

【0043】さて、本実施の形態では、前記エージング
手段2内において、前記放電が行われた後、LC検査用
の充電が予め所定時間(例えば50秒間)行われるよう
になっている。すなわち、エージング手段2内部には、
前記放電領域よりも後段側において第1の充電機構51
が設けられている。
In the present embodiment, after the discharging is performed in the aging means 2, charging for LC inspection is performed in advance for a predetermined time (for example, 50 seconds). That is, inside the aging means 2,
The first charging mechanism 51 at a stage subsequent to the discharge region
Is provided.

【0044】また、エージング手段2のハウジング41
終端(出口)に治具17が到達した時点で、該治具17
に保持された多数のコンデンサ素子6が取出され、搬送
手段3によって搬送されるようになっている。搬送手段
3の途中には、前記出口から搬送経路の湾曲した部分
(図5の左側部分:例えば10ポジション分)を隔てる
ようにして、第2の充電機構52が設けられている。該
第2の充電機構52においては、コンデンサ素子6が1
ポジションずつ間欠的に移送されながら、所定時間ずつ
の充電が行われるようになっている。本実施の形態で
は、1ポジションの移動時間が例えば約0.5秒に設定
され、各ポジションでの充電が約0.5秒間ずつ行われ
るようになっている。なお、前記LC検査手段5は、第
2の充電機構52の直下流に設けられており、第2の充
電機構52による充電が完了した後、速やかにLC検査
手段5による検査(測定及び良否判定)が行われるよう
になっている。
The housing 41 of the aging means 2
When the jig 17 reaches the end (exit), the jig 17
Are taken out and transported by the transporting means 3. A second charging mechanism 52 is provided in the middle of the transport means 3 so as to separate a curved portion of the transport path (the left portion in FIG. 5: for example, 10 positions) from the outlet. In the second charging mechanism 52, the capacitor element 6
While being transferred intermittently by position, charging is performed at predetermined time intervals. In the present embodiment, the movement time of one position is set to, for example, about 0.5 seconds, and charging at each position is performed for about 0.5 seconds. Note that the LC inspection means 5 is provided immediately downstream of the second charging mechanism 52, and immediately after the charging by the second charging mechanism 52 is completed, the inspection (measurement and pass / fail judgment) by the LC inspection means 5 is performed. ) Is performed.

【0045】前記搬送に先だって、前記治具17からは
一度に60個のコンデンサ素子6が取り出されることと
なるが、先頭側のコンデンサ素子6と、終端側のコンデ
ンサ素子6とでは、前記出口から第2の充電機構52に
達するまでの時間(非充電時間)に差異が生じることと
なる。つまり、先頭側のコンデンサ素子6は、前記10
ポジション分の非充電期間(10秒程度)を経て比較的
速やかに第2の充電機構52へと到達する。これに対
し、終端側のコンデンサ素子6は、前記先頭側のコンデ
ンサ素子6よりも59個分だけ遅れて(70秒程度を経
て)第2の充電機構52へと到達することとなるのであ
る。
Prior to the transport, 60 capacitor elements 6 are taken out of the jig 17 at a time. However, the leading capacitor element 6 and the terminating capacitor element 6 are removed from the outlet at the same time. A difference occurs in the time required to reach the second charging mechanism 52 (non-charging time). That is, the top capacitor element 6 is
Reaching the second charging mechanism 52 relatively quickly after a non-charging period (about 10 seconds) for the position. On the other hand, the capacitor element 6 on the terminal side arrives at the second charging mechanism 52 with a delay of 59 pieces (after about 70 seconds) from the capacitor element 6 on the head side.

【0046】そこで、本実施の形態では、先頭側(1番
目)から終端側(60番目)までのコンデンサ素子6に
つき、前記非充電時間の差異により生じる影響を考慮し
て、該影響を相殺した上でコンデンサ素子6のリーク電
流に関する良否判定を行うようにしている。より詳しく
は、予め検査対象となるコンデンサ素子6につき、非充
電時間の差異による影響を実験的に測定しておき、その
影響を補正値として、検査に際しての測定値(実測値)
に対し補正を加えることとしているのである。
Therefore, in the present embodiment, the influence of the difference in the non-charging time for the capacitor elements 6 from the first side (first) to the last side (60th) is considered in consideration of the influence. Above, the pass / fail judgment regarding the leakage current of the capacitor element 6 is performed. More specifically, the influence of the difference in the non-charging time is experimentally measured for the capacitor element 6 to be inspected in advance, and the measured value (actually measured value) at the time of the inspection is set as the correction value.
Is to be corrected.

【0047】ここで、補正値の設定について説明する。
例えば、図6(a),(b)は上記非充電時間の存在を
考慮した上で、コンデンサ素子6に所定の充電を行うべ
く構成された回路図である。同図に示すように、本回路
構成においては、第1〜第3のタイマリレーTR1〜T
R3が設けられている。第1のタイマリレーTR1は、
エージング時の充電(第1の充電機構51による充電)
を想定して設けられているものであって、完全に放電さ
れているコンデンサ素子6に対し所定時間(ここでは5
0秒)の充電を許容するためのものである。この第1の
タイマリレーTR1は、コンデンサ素子6に対して正特
性サーミスタPOを介して設けられており、通常オン状
態となっているいわゆるb接点と、オンディレータイプ
のソレノイドとを備えている。そして、該タイマリレー
TR1は、充電開始(図7のタイミングt1)から前記
所定時間(50秒)が経過すると(タイムアップする
と)、ソレノイドが励磁されb接点がオフ状態とされる
(図7のタイミングt2)。これにより、第1の充電機
構51での充電に相当する充電(第1の充電)が終了さ
せられる。
Here, the setting of the correction value will be described.
For example, FIGS. 6A and 6B are circuit diagrams configured to perform predetermined charging of the capacitor element 6 in consideration of the existence of the non-charging time. As shown in the figure, in this circuit configuration, first to third timer relays TR1 to TR
R3 is provided. The first timer relay TR1 is
Charging during aging (charging by the first charging mechanism 51)
Is provided for a predetermined time (here, 5
0 second). The first timer relay TR1 is provided to the capacitor element 6 via a positive temperature coefficient thermistor PO, and includes a so-called b contact which is normally turned on, and an on-delay type solenoid. When the predetermined time (50 seconds) elapses (time-up) from the start of charging (timing t1 in FIG. 7), the timer relay TR1 excites the solenoid to turn off the contact b (see FIG. 7). Timing t2). Thereby, the charging (first charging) corresponding to the charging by the first charging mechanism 51 is terminated.

【0048】また、第2のタイマリレーTR2は、非充
電状態での搬送を想定して設けられているものであっ
て、充電を禁止するためのものである。この第2のタイ
マリレーTR2は、コンデンサ素子6に対して抵抗RE
を介して設けられており、通常オフ状態となっているい
わゆるa接点及び後述する第3のタイマリレーTR3の
オフディレータイプのソレノイドを消磁させるためのb
接点と、オンディレータイプのソレノイドとを備えてい
る。また、第2のタイマリレーTR2は、第3のタイマ
リレーTR3が接続されてなるアンプAPに対し接続さ
れている。かかる第2のタイマリレーTR2は、前記第
1のタイマリレーTR1と同時に計時が開始される(タ
イミングt1)。そして、前記所定時間(50秒)に前
記非充電時間(10秒〜70秒;可変時間)を加算した
時間が経過すると(図7のタイミングt3)、第2のタ
イマリレーTR2のa接点が通電オン状態とされる。こ
れにより、抵抗RE、アンプAPを介して充電が許容さ
れるようになっている。
The second timer relay TR2 is provided for transport in a non-charging state, and prohibits charging. This second timer relay TR2 connects the resistance RE to the capacitor element 6.
And a b for demagnetizing an off-delay type solenoid of a third timer relay TR3, which will be described later, which is normally turned off.
It has a contact and an on-delay type solenoid. The second timer relay TR2 is connected to the amplifier AP to which the third timer relay TR3 is connected. The second timer relay TR2 starts timing at the same time as the first timer relay TR1 (timing t1). Then, when a time obtained by adding the non-charging time (10 seconds to 70 seconds; variable time) to the predetermined time (50 seconds) elapses (timing t3 in FIG. 7), the contact a of the second timer relay TR2 is turned on. It is turned on. Thereby, charging via the resistor RE and the amplifier AP is allowed.

【0049】すなわち、第3のタイマリレーTR3は、
第2の充電機構52による充電を想定して設けられてい
るものであって、コンデンサ素子6に対し所定時間(こ
こでは10秒)の充電を許容するものである。この第3
のタイマリレーTR3は、上述したようにアンプAPに
対応して設けられており、通常オフ状態となっているい
わゆるa接点と、オフディレータイプのソレノイドとを
備えている。かかる第3のタイマリレーTR3では、前
記第2のタイマリレーTR2のタイムアップに基づきソ
レノイドの入力がオフ状態とされ(タイミングt3)、
計時が開始される。そして、前記所定時間(10秒)が
経過した時点でa接点がオフ状態とされ(図7のタイミ
ングt4)、これにより、測定が行われる。
That is, the third timer relay TR3
This is provided assuming charging by the second charging mechanism 52, and allows the capacitor element 6 to be charged for a predetermined time (here, 10 seconds). This third
The timer relay TR3 is provided corresponding to the amplifier AP as described above, and includes a so-called a contact which is normally in an off state, and an off-delay type solenoid. In the third timer relay TR3, the input of the solenoid is turned off based on the time-up of the second timer relay TR2 (timing t3),
Timing starts. When the predetermined time (10 seconds) elapses, the contact a is turned off (timing t4 in FIG. 7), whereby the measurement is performed.

【0050】本実施の形態では、第2の充電が終了させ
られた直後において、該当するコンデンサ素子6のリー
ク電流が、それぞれ異なる非充電時間につきそれぞれ測
定される。そして、かかる測定が同一又は同タイプのコ
ンデンサ素子6につき複数回繰り返される。これによ
り、10秒から70秒までの間のそれぞれ異なる非充電
時間に対応するリーク電流のデータが得られる。そし
て、各データに基づき、補正値が決定されるのである。
In the present embodiment, immediately after the end of the second charging, the leakage current of the corresponding capacitor element 6 is measured for each different non-charging time. Then, such measurement is repeated a plurality of times for the same or the same type of capacitor element 6. As a result, leak current data corresponding to different non-charging times from 10 seconds to 70 seconds can be obtained. Then, a correction value is determined based on each data.

【0051】補正値の決定の方法については何ら限定さ
れるのではないが、例えば次のように決定することがで
きる。すなわち、非充電時間が10秒のときのデータの
平均値に対し、非充電時間がそれよりも増大するのに伴
ってデータの平均値が減少するような場合には、その減
少分に見合った補正値(例えば正の値)とされる。一
方、非充電時間が10秒よりも増大するのに伴ってデー
タの平均値が増大するような場合には、その増大分に見
合った補正値(例えば負の値)とされる。
The method of determining the correction value is not particularly limited, but can be determined as follows, for example. That is, when the average value of the data decreases as the non-charge time increases with respect to the average value of the data when the non-charge time is 10 seconds, the decrease is commensurate with the decrease. It is a correction value (for example, a positive value). On the other hand, when the average value of the data increases as the non-charge time increases more than 10 seconds, a correction value (for example, a negative value) commensurate with the increase is used.

【0052】次に、上記のように構成されてなる装置を
用いて、コンデンサ素子6のリーク電流を測定し、検査
するに際しての工程、及び、作用効果について説明す
る。
Next, the steps and effects of measuring and inspecting the leakage current of the capacitor element 6 using the apparatus configured as described above will be described.

【0053】エージング手段2内において、放電が行わ
れた後、図8に示すように、第1の充電機構51におけ
る充電が所定時間(50秒間;T2−T1)行われる。
尚、この間、リーク電流の値Iは、充電の進行に伴って
減少してゆく(図9(a),(b)におけるタイミング
T1からT2の間)。
After discharging is performed in the aging means 2, charging in the first charging mechanism 51 is performed for a predetermined time (50 seconds; T2-T1) as shown in FIG.
During this time, the value I of the leak current decreases as charging proceeds (between timings T1 and T2 in FIGS. 9A and 9B).

【0054】次に、エージング手段2のハウジング41
終端(出口)に治具17が到達した時点で、該治具17
に保持された多数のコンデンサ素子6が取出され、搬送
手段3によって搬送される。そして、10秒〜70秒の
非充電期間(T3−T2;T3は可変)を経て(ここで
はコンデンサ素子6の取出しから搬送開始までの期間は
便宜上考慮に入れていない)、第2の充電機構52へと
供給される。該第2の充電機構52においては、コンデ
ンサ素子6が1ポジションずつ間欠的に移送されなが
ら、所定時間ずつの充電が行われる。尚、この間、リー
ク電流の値Iは、充電の進行に伴って再度減少してゆく
(図9(a),(b)におけるタイミングT3aからT
4aの間又はタイミングT3bからT4bの間)。そし
て、第2の充電機構52において合計約10秒間(T4
−T3)の充電が行われた後、LC検査手段5へと搬送
される。
Next, the housing 41 of the aging means 2
When the jig 17 reaches the end (exit), the jig 17
Are taken out and transported by the transporting means 3. Then, after a non-charging period (T3-T2; T3 is variable) of 10 seconds to 70 seconds (the period from the removal of the capacitor element 6 to the start of transport is not taken into account for convenience), the second charging mechanism 52. In the second charging mechanism 52, while the capacitor element 6 is intermittently transferred one position at a time, charging is performed for a predetermined time. During this time, the value I of the leak current decreases again as the charging proceeds (from the timing T3a to the timing T3a in FIGS. 9A and 9B).
4a or between timings T3b and T4b). Then, a total of about 10 seconds (T4
After the charging of -T3) is performed, it is transported to the LC inspection means 5.

【0055】LC検査手段5では、搬送されてくる各コ
ンデンサ素子6に関し、リーク電流の測定及び良否判定
が行われる。すなわち、LC検査手段5において、所定
のコンデンサ素子6について測定されたリーク電流の測
定値が「A」であったとする。ここで、LC検査手段5
では、当該コンデンサ素子6が何番目のものであったか
が判断され(1番目から60番目のいずれかが判断さ
れ)、その判断結果に応じて補正値αが決定される。さ
らに、前記測定値たる「A」に対し補正値αが加算(又
は減算)された値(補正後の値)が、予め定められた設
定値Cと比較される。そして、補正後の値が設定値より
も小さい場合には良品と判定され次工程へと搬送され
る。一方、補正後の値が設定値以上の場合には不良品と
判定され、製品から除外される。
In the LC inspection means 5, the leakage current is measured and the quality of each capacitor element 6 is determined. That is, it is assumed that the measured value of the leak current measured by the LC inspection means 5 for the predetermined capacitor element 6 is “A”. Here, LC inspection means 5
Then, the order of the capacitor element 6 is determined (any one of the first to the 60th is determined), and the correction value α is determined according to the determination result. Further, a value (corrected value) obtained by adding (or subtracting) the correction value α to the measured value “A” is compared with a predetermined set value C. If the corrected value is smaller than the set value, it is determined to be non-defective and transported to the next step. On the other hand, if the corrected value is equal to or larger than the set value, it is determined to be defective and is excluded from the product.

【0056】このように、本実施の形態によれば、エー
ジング手段2の内部で予め充電を行う構成としている。
このため、エージング手段2外部での充電時間の短縮化
を図ることができる。従って、十分な充電時間を確保し
つつ、第2の充電機構51の設置スペースや、搬送手段
3のスペースを、従来に比べて縮小することができる。
その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体
の小型化を図ることができる。
As described above, according to the present embodiment, charging is performed in advance inside the aging means 2.
Therefore, the charging time outside the aging means 2 can be reduced. Therefore, the space for installing the second charging mechanism 51 and the space for the transporting means 3 can be reduced as compared with the conventional one while securing a sufficient charging time.
As a result, the size of the entire apparatus can be reduced while maintaining the reliability of the inspection.

【0057】また一方で、本実施の形態では、エージン
グ手段2の外部においてLC検査手段5を設けることと
している。ここで、エージング手段の内部で検査を行う
場合には、一度に多数の(例えば60個の)コンデンサ
素子のリーク電流の測定を行わなければならず、そのた
めの回路が著しく複雑となってしまう。これに対し、本
実施の形態では、エージング手段2の外部において1つ
ずつ測定するため、回路構成を簡素なものとすることが
できるというメリットがある。
On the other hand, in the present embodiment, the LC inspection means 5 is provided outside the aging means 2. Here, when the inspection is performed inside the aging means, the leakage current of a large number (for example, 60) of the capacitor elements must be measured at a time, and the circuit for the measurement is extremely complicated. On the other hand, in the present embodiment, since the measurement is performed one by one outside the aging means 2, there is an advantage that the circuit configuration can be simplified.

【0058】さらに、本実施の形態では、LC検査手段
5において、測定値と、予め設定された設定値とが比較
されることに基づいて良否判定が行われるのであるが、
当該比較に先だって、測定値に対し、非充電期間に応じ
た補正が行われる。そして、そのような補正が行われた
上で前記比較が行われる。ここで、第2の充電機構52
にて充電が開始されるまでの非充電期間が、本実施の形
態の如く各コンデンサ素子6毎に相違すると、実際の測
定値に影響が及ぶおそれがある。これに対し、本実施の
形態では、非充電期間に応じた補正が行われた上で比較
が行われる。そのため、各コンデンサ素子6毎に非充電
期間が相違したとしても、当該相違による悪影響を払拭
することができる。その結果、良否判定の精度を高める
ことができる。
Further, in the present embodiment, the LC inspection means 5 makes a pass / fail judgment based on a comparison between the measured value and a preset set value.
Prior to the comparison, the measured value is corrected according to the non-charging period. Then, after such correction is performed, the comparison is performed. Here, the second charging mechanism 52
If the non-charging period before the charging is started differs for each capacitor element 6 as in the present embodiment, the actual measured value may be affected. On the other hand, in the present embodiment, the comparison is performed after performing the correction according to the non-charging period. Therefore, even if the non-charging period differs for each capacitor element 6, the adverse effect due to the difference can be eliminated. As a result, the accuracy of the pass / fail judgment can be improved.

【0059】特に、1つの治具17に対し多数のコンデ
ンサ素子6が取り付けられてエージング処理が行われる
場合には、一度に多数のコンデンサ素子6が導出され、
これらを搬送しつつ充電する必要がある。そして、この
ように多数のコンデンサ素子6がエージング処理される
ような場合には、非充電時間の差異も大きくなる傾向に
ある。これに対し、本実施の形態の補正は、前記差異の
影響を払拭できるという点で、極めて有効となる。
In particular, when a large number of capacitor elements 6 are attached to one jig 17 and an aging process is performed, many capacitor elements 6 are led out at once,
It is necessary to charge them while carrying them. When a large number of capacitor elements 6 are subjected to the aging process, the difference in the non-charging time tends to increase. On the other hand, the correction according to the present embodiment is extremely effective in that the influence of the difference can be eliminated.

【0060】尚、上述した実施の形態の記載内容に限定
されることなく、例えば次のように実施してもよい。
The present invention is not limited to the above-described embodiment, but may be implemented, for example, as follows.

【0061】(a)上記実施の形態では、第1の充電機
構51による充電時間を50秒とし、第2の充電機構5
2による充電時間を10秒とし、トータル充電時間が6
0秒となるようにした。このように第1の充電機構51
による充電を比較的長く設定することで、第2の充電機
構52での充電のためのスペースを短く(縮小)でき
る。
(A) In the above embodiment, the charging time by the first charging mechanism 51 is set to 50 seconds, and the second charging mechanism 5
2 is 10 seconds, and the total charging time is 6 seconds.
It was set to 0 seconds. Thus, the first charging mechanism 51
By setting the charging by a relatively long time, the space for charging in the second charging mechanism 52 can be shortened (reduced).

【0062】これに対し、トータル充電時間は60秒に
限定されるものではなく、例えば30秒であっても、4
0秒或いは50秒であってもよい。また、60秒よりも
長い時間充電を行うこととしてもよい。さらに、第1の
充電機構51による充電時間よりも、第2の充電機構5
2での充電時間を長く設定することとしてもよい。
On the other hand, the total charging time is not limited to 60 seconds.
It may be 0 seconds or 50 seconds. Alternatively, charging may be performed for a time longer than 60 seconds. Furthermore, the charging time of the second charging mechanism 5 is longer than the charging time of the first charging mechanism 51.
The charging time in Step 2 may be set longer.

【0063】(b)上記実施の形態では、予め検査対象
となるコンデンサ素子6につき、非充電時間の差異によ
る影響を実験的に測定しておき、その影響を補正値とし
て、検査に際しての測定値(実測値)に対し補正を加え
ることとしている。これに対し、実際の装置レベルでの
影響を経験的に測定しておき、その影響を考慮して補正
値を設定することとしてもよい。
(B) In the above embodiment, the influence of the difference in the non-charging time is experimentally measured for the capacitor element 6 to be inspected in advance, and the measured value at the time of inspection is determined by using the effect as a correction value. (Measured value) is to be corrected. On the other hand, the effect at the actual device level may be measured empirically, and the correction value may be set in consideration of the effect.

【0064】(c)搬送手段3による搬送は、間欠的な
ものでなくともよい。従って、搬送手段3は、コンデン
サ素子6を連続的に移送するよう構成されていてもよ
い。
(C) The transport by the transport means 3 need not be intermittent. Therefore, the transporting means 3 may be configured to continuously transport the capacitor element 6.

【0065】(d)上記実施の形態では、搬送手段3の
湾曲状の搬送路を考慮して、10ポジション分の非充電
部分を設けることとしているが、かかる空きポジション
を設けることなく、エージング手段2の出口近傍に第2
の充電機構52を設けるような構成としてもよい。
(D) In the above-described embodiment, the non-charging portion for 10 positions is provided in consideration of the curved transport path of the transport means 3, but the aging means is provided without providing such an empty position. 2 near exit 2
The charging mechanism 52 may be provided.

【0066】(e)検査に際し、上記実施の形態のよう
な補正を行わない場合があってもよい。
(E) At the time of inspection, there may be cases where correction as in the above embodiment is not performed.

【0067】(f)上記実施の形態では、LC検査手段
5において、測定及び良否判定を行うこととしている。
これに代えて、測定のみを行うこととしてもよい。ま
た、良否判定に代えて、コンデンサ素子6毎にリーク電
流の測定値(補正をしてもしなくてもよい)を複数段階
にランク付けすることとしてもよい。
(F) In the above embodiment, the LC inspection means 5 performs the measurement and the pass / fail judgment.
Instead, only the measurement may be performed. Further, instead of the pass / fail judgment, the measured value of the leakage current (which may or may not be corrected) for each capacitor element 6 may be ranked in a plurality of stages.

【0068】(g)エージング手段2において、治具1
7を回転体18に取付けることで搬送する場合に具体化
しているが、必ずしも回転体18である必要はない。例
えば、治具17をチェーン(ワイヤやベルトでもよい)
等の巡回移動する無端条体に所定の間隔を隔てて取付け
ることで搬送するようにしてもよい。また、加熱装置を
直線状としても差し支えない。すなわち、加熱装置や搬
送装置の形状や仕様については、上記実施の形態のもの
に何ら限定されるものではない。
(G) In the aging means 2, the jig 1
Although the embodiment is embodied in the case of transporting by attaching the rotating member 18 to the rotating body 18, the rotating body 18 is not necessarily required. For example, the jig 17 is a chain (a wire or a belt may be used).
Alternatively, it may be conveyed by being attached at a predetermined interval to an endless strip that moves circularly. Further, the heating device may be linear. That is, the shapes and specifications of the heating device and the transfer device are not limited to those in the above-described embodiment.

【0069】(h)保持される治具17の数や、治具1
7に保持されるコンデンサ素子6の数は、上記実施の形
態のものに限定されるものではない。
(H) The number of jigs 17 held and the number of jigs 1
The number of capacitor elements 6 held in 7 is not limited to that of the above embodiment.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】一実施の形態におけるエージング処理及びその
後のリーク電流検査に関する装置等を示す図であって、
(a)は平面図、(b)は正面図である。
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus and the like relating to an aging process and a subsequent leak current inspection in one embodiment,
(A) is a plan view and (b) is a front view.

【図2】エージング処理及びその後のリーク電流検査に
関する装置等を示す側面図である。
FIG. 2 is a side view showing an apparatus and the like relating to an aging process and a subsequent leak current inspection.

【図3】エージング手段の構成を示す断面図である。FIG. 3 is a sectional view showing a configuration of an aging unit.

【図4】エージング手段に位置する治具等を示す部分断
面図である。
FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing a jig and the like located at an aging means.

【図5】エージング処理及びその後のリーク電流検査に
至るまでの流れを示す模式図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing a flow up to an aging process and a subsequent leak current inspection.

【図6】(a),(b)は補正値を設定するために用い
られる回路構成を示す図である。
FIGS. 6A and 6B are diagrams showing a circuit configuration used for setting a correction value.

【図7】時間の経過に対するタイマリレーの動作(計
時)を示すタイミングチャートである。
FIG. 7 is a timing chart showing the operation (time measurement) of a timer relay with the passage of time.

【図8】時間の経過に対する第1の充電機構、第2の充
電機構等の作動状況を説明するためのタイミングチャー
トである。
FIG. 8 is a timing chart for explaining operation states of a first charging mechanism, a second charging mechanism, and the like with the passage of time.

【図9】(a),(b)は、非充電時間の相違するコン
デンサ素子に関する時間の経過に対するリーク電流の関
係の例を示すグラフである。
FIGS. 9A and 9B are graphs showing examples of the relationship between the leakage current and the passage of time for capacitor elements having different non-charge times.

【符号の説明】 2…エージング手段、3…搬送手段、5…LC検査手
段、6…電解コンデンサとしてのコンデンサ素子、17
…治具、51…第1の充電機構、52…第2の充電機
構。
[Description of Signs] 2 ... Aging means, 3 ... Conveying means, 5 ... LC inspection means, 6 ... Capacitor element as electrolytic capacitor, 17
... Jig, 51 ... First charging mechanism, 52 ... Second charging mechanism.

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 エージング手段にてエージング処理が施
された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリ
ーク電流検査装置であって、 前記エージング手段内部に設けられ、エージング及び放
電の行われた電解コンデンサに検査用の充電を施す第1
の充電機構と、 前記エージング手段外部に設けられ、前記第1の充電機
構にて充電の施された電解コンデンサにさらに検査用の
充電を施す第2の充電機構と、 前記エージング手段外部に設けられ、前記第2の充電機
構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検
査する検査手段とを備えたことを特徴とする電解コンデ
ンサのリーク電流検査装置。
1. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor subjected to aging processing by an aging means, wherein the electrolytic capacitor is provided inside the aging means and has been aged and discharged. Charging for inspection first
A second charging mechanism that is provided outside the aging means and further charges the electrolytic capacitor charged by the first charging mechanism for inspection; and a second charging mechanism provided outside the aging means. An inspection means for inspecting a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism.
【請求項2】 エージング手段にてエージング処理が施
された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリ
ーク電流検査装置であって、 前記エージング手段内部に設けられ、エージング及び放
電の行われた電解コンデンサに検査用の充電を施す第1
の充電機構と、 前記エージング手段外部に設けられ、前記第1の充電機
構にて充電の施された電解コンデンサにさらに検査用の
充電を施す第2の充電機構と、 前記エージング手段外部に設けられ、前記第2の充電機
構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検
査する検査手段と、 前記電解コンデンサを、少なくとも前記エージング手段
から前記第2の充電機構を経由して前記検査手段へと搬
送するための搬送手段とを備えたことを特徴とする電解
コンデンサのリーク電流検査装置。
2. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor subjected to aging processing by an aging means, wherein the electrolytic capacitor is provided inside the aging means and has been subjected to aging and discharge. Charging for inspection first
A second charging mechanism that is provided outside the aging means and further charges the electrolytic capacitor charged by the first charging mechanism for inspection; and a second charging mechanism provided outside the aging means. Inspection means for inspecting the leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism; and at least the aging means to the electrolytic means from the aging means to the inspection means via the second charging mechanism. And a carrying means for carrying the battery.
【請求項3】 エージング手段にてエージング処理が施
された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリ
ーク電流検査装置であって、 前記エージング手段内部に設けられ、治具に対し複数個
取付けられた状態でエージング及び放電の行われた電解
コンデンサに対し、前記取付けられた状態のまま検査用
の充電を施す第1の充電機構と、 前記第1の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具
から取り外された電解コンデンサを、前記エージング手
段外部において、1つずつ搬送可能な搬送手段と、 前記搬送手段にて搬送されつつある電解コンデンサに対
し、さらに検査用の充電を施す第2の充電機構と、 前記搬送手段にて前記第2の充電機構から搬送された電
解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段とを備え
たことを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装
置。
3. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor subjected to aging processing by an aging means, wherein the leakage current inspection apparatus is provided inside the aging means and is attached to a jig. A first charging mechanism for performing an inspection charge on the electrolytic capacitor subjected to aging and discharging in the state in the attached state, and charging is performed by the first charging mechanism, and The electrolytic capacitor removed from the jig is transported one by one outside the aging unit, and the electrolytic capacitor being transported by the transport unit is further charged for inspection. A charging mechanism; and an inspection unit configured to inspect a leakage current of the electrolytic capacitor transported from the second charging mechanism by the transport unit. Leakage current test device of the electrolytic capacitor.
【請求項4】 前記検査手段は、前記第2の充電機構に
て充電の施された電解コンデンサのリーク電流を測定す
るとともに、その測定結果に基づき良否判定を行うよう
構成されていることを特徴とする請求項1乃至3のいず
れかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
4. The inspection means is configured to measure a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism, and make a pass / fail judgment based on the measurement result. The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to any one of claims 1 to 3.
【請求項5】 前記検査手段は、前記第2の充電機構の
直下流に設けられていることを特徴とする請求項1乃至
4のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査
装置。
5. The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to claim 1, wherein the inspection unit is provided immediately downstream of the second charging mechanism.
【請求項6】 エージング手段にてエージング処理が施
された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリ
ーク電流検査装置であって、 前記エージング手段内部に設けられ、エージング及び放
電の行われた電解コンデンサに検査用の充電を施す第1
の充電機構と、 前記エージング手段外部に設けられ、前記第1の充電機
構にて充電の施された後、非充電期間の経過した電解コ
ンデンサにさらに検査用の充電を施す第2の充電機構
と、 前記エージング手段外部に設けられ、前記第2の充電機
構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検
査する検査手段とを備えたことを特徴とする電解コンデ
ンサのリーク電流検査装置。
6. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor subjected to an aging process by an aging means, wherein the electrolytic capacitor is provided inside the aging means and has been subjected to aging and discharging. Charging for inspection first
And a second charging mechanism that is provided outside the aging means and is charged by the first charging mechanism, and further performs an inspection charge on the electrolytic capacitor after a non-charging period. An inspection means provided outside the aging means for inspecting a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism.
【請求項7】 エージング手段にてエージング処理が施
された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリ
ーク電流検査装置であって、 前記エージング手段内部に設けられ、エージング及び放
電の行われた電解コンデンサに検査用の充電を施す第1
の充電機構と、 前記エージング手段外部に設けられ、前記第1の充電機
構にて充電の施された後、非充電期間の経過した電解コ
ンデンサにさらに検査用の充電を施す第2の充電機構
と、 前記エージング手段外部に設けられ、前記第2の充電機
構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検
査する検査手段と、 前記電解コンデンサを、少なくとも前記エージング手段
から前記第2の充電機構を経由して前記検査手段へと搬
送するための搬送手段とを備えたことを特徴とする電解
コンデンサのリーク電流検査装置。
7. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor subjected to an aging process by an aging means, wherein the electrolytic capacitor is provided inside the aging means and has been subjected to aging and discharging. Charging for inspection first
And a second charging mechanism that is provided outside the aging means and is charged by the first charging mechanism, and further performs an inspection charge on the electrolytic capacitor after a non-charging period. An inspection means provided outside the aging means for inspecting a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism; and the electrolytic capacitor is provided at least from the aging means to the second charging mechanism. And a transport unit for transporting the battery to the inspection unit via the inspection unit.
【請求項8】 エージング手段にてエージング処理が施
された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリ
ーク電流検査装置であって、 前記エージング手段内部に設けられ、治具に対し複数個
取付けられた状態でエージング及び放電の行われた電解
コンデンサに対し、前記取付けられた状態のまま検査用
の充電を施す第1の充電機構と、 前記第1の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具
から取り外された電解コンデンサを、前記エージング手
段外部において、1つずつ搬送可能な搬送手段と、 前記第1の充電機構にて充電が施されてから所定の非充
電期間が経過しており、前記搬送手段にて搬送されつつ
ある電解コンデンサに対し、さらに検査用の充電を施す
第2の充電機構と、 前記搬送手段にて前記第2の充電機構から搬送された電
解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段とを備え
たことを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装
置。
8. A leakage current inspection device for inspecting a leakage current of an electrolytic capacitor subjected to aging processing by an aging means, wherein the leakage current inspection apparatus is provided inside the aging means and is attached to a jig. A first charging mechanism for performing an inspection charge on the electrolytic capacitor subjected to aging and discharging in the state in the attached state, and charging is performed by the first charging mechanism, and A predetermined non-charging period has elapsed since the electrolytic capacitor removed from the jig was transported one by one outside the aging device and transported by the first charging mechanism. A second charging mechanism for further charging the electrolytic capacitor being conveyed by the conveyance means for inspection, and a second charging mechanism conveyed from the second charging mechanism by the conveyance means. Leakage current test device of the electrolytic capacitor, characterized in that a test means for testing the leakage current of the electrolytic capacitor.
【請求項9】 前記検査手段は、前記第2の充電機構の
直下流に設けられていることを特徴とする請求項6乃至
8のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査
装置。
9. An apparatus according to claim 6, wherein said inspection means is provided immediately downstream of said second charging mechanism.
【請求項10】 前記検査手段は、前記第2の充電機構
にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を測定
するとともに、その測定結果に基づき良否判定を行うよ
う構成されていることを特徴とする請求項6乃至9のい
ずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
10. The inspection means is configured to measure a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism, and make a pass / fail judgment based on the measurement result. The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to any one of claims 6 to 9, wherein
【請求項11】 前記検査手段は、前記測定結果と、予
め設定された設定値とを比較することに基づいて良否判
定を行うものであり、かつ、前記比較に先だって前記測
定結果又は設定値に対し前記非充電期間に応じた補正を
行い、その上で前記比較を行うものであることを特徴と
する請求項10に記載の電解コンデンサのリーク電流検
査装置。
11. The inspection means performs a pass / fail judgment based on comparing the measurement result with a preset setting value, and performs the measurement result or the setting value prior to the comparison. The leak current inspection apparatus for an electrolytic capacitor according to claim 10, wherein the correction is performed according to the non-charging period, and then the comparison is performed.
【請求項12】 前記検査手段は、前記第2の充電機構
にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を測定
し、その測定結果に対し前記非充電期間に応じた補正を
行うものであることを特徴とする請求項6乃至9のいず
れかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
12. The inspection means measures a leakage current of the electrolytic capacitor charged by the second charging mechanism, and performs a correction according to the measurement result according to the non-charging period. The leakage current inspection device for an electrolytic capacitor according to any one of claims 6 to 9, wherein:
【請求項13】 前記第1の充電機構による充電時間
は、前記第2の充電機構による充電時間よりも長いこと
を特徴とする請求項1乃至12のいずれかに記載の電解
コンデンサのリーク電流検査装置。
13. The leak current inspection of an electrolytic capacitor according to claim 1, wherein a charging time by the first charging mechanism is longer than a charging time by the second charging mechanism. apparatus.
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