JP2002246726A - Method for producing printed wiring board - Google Patents

Method for producing printed wiring board

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JP2002246726A
JP2002246726A JP2001043885A JP2001043885A JP2002246726A JP 2002246726 A JP2002246726 A JP 2002246726A JP 2001043885 A JP2001043885 A JP 2001043885A JP 2001043885 A JP2001043885 A JP 2001043885A JP 2002246726 A JP2002246726 A JP 2002246726A
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JP
Japan
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layer
printed wiring
wiring board
thickness
resist
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Application number
JP2001043885A
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Japanese (ja)
Inventor
Munetoshi Irisawa
宗利 入沢
Hirohito Konya
洋仁 紺谷
Kenji Hyodo
建二 兵頭
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Mitsubishi Paper Mills Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Paper Mills Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for producing a printed wiring board, in which conductors having a high etch factor can be obtained in fine circuit pattern using a subtractive method. SOLUTION: A printed wiring board is produced by forming a non-curable alkaline soluble polymer layer on a conductive substrate obtained, by forming a metal conductive layer on an electrically insulating substrate, forming a photoresist layer of 0.5-5 μm thick thereon, forming a two layer resist pattern by performing exposure of a circuit pattern and alkaline development, and then removing the metal conductive layer by etching, other than the resist pattern part.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板の
製造方法に関し、さらに詳しくは、サブトラクティブ法
によって微細で高精度な回路パターンを形成するプリン
ト配線板の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board, and more particularly, to a method for manufacturing a printed wiring board for forming a fine and highly accurate circuit pattern by a subtractive method.

【0002】[0002]

【従来の技術】プリント配線板の製造方法はサブトラク
ティブ法とアディティブ法の2つに大別される。サブト
ラクティブ法は電気絶縁性基板に銅等の金属導電層を設
けた導電性基板上にエッチングレジスト層を形成し、そ
のエッチングレジスト層で被覆されていない金属導電層
をエッチングにより取り除く方法である。アディティブ
法は電気絶縁性基板上の配線パターン部にのみ金属導電
層を形成する方法である。これら以外に配線転写法やセ
ミアディティブ法等が提案されている。その中でも、サ
ブトラクティブ法は、回路と絶縁板との接着強度が強
い、信頼性が高くコスト安、電気メッキ銅スルーホール
形成可能等の優位点があり、現在のプリント配線板製造
の主流である。そして、サブトラクティブ法にてエッチ
ングレジスト層を設ける方法としては、ドライフィルム
及び液状フォトレジスト等の感光材料による感光層を用
いた方法が一般的である。
2. Description of the Related Art A method for manufacturing a printed wiring board is roughly classified into a subtractive method and an additive method. The subtractive method is a method in which an etching resist layer is formed on a conductive substrate in which a metal conductive layer such as copper is provided on an electrically insulating substrate, and the metal conductive layer not covered with the etching resist layer is removed by etching. The additive method is a method of forming a metal conductive layer only on a wiring pattern portion on an electrically insulating substrate. Other than these, a wiring transfer method, a semi-additive method, and the like have been proposed. Among them, the subtractive method has advantages such as strong bonding strength between a circuit and an insulating plate, high reliability and low cost, and the ability to form an electroplated copper through-hole. . As a method of providing an etching resist layer by a subtractive method, a method using a photosensitive layer of a photosensitive material such as a dry film and a liquid photoresist is generally used.

【0003】さて、近年の電子機器の小型、多機能化に
伴い、機器内部に使用されるプリント配線板も高密度化
や回路パターンの微細化が進められており、サブトラク
ティブ法により、現在では導体幅が90〜130μm、
導体間隙が150〜180μmの微細パターンを有する
プリント配線板が製造されている。また、さらなる高密
度化、微細配線化が進み、70μm以下の導体幅や導体
間隙の回路が求められるようになっている。それに伴
い、パターン精度やインピーダンスの要求も高くなって
いる。
[0003] With the recent trend toward miniaturization and multi-functionality of electronic devices, the density of printed wiring boards used inside the devices and the miniaturization of circuit patterns are being promoted. Conductor width is 90 to 130 μm,
Printed wiring boards having a fine pattern with a conductor gap of 150 to 180 μm have been manufactured. Further, as the density and the wiring are further increased, a circuit having a conductor width and a conductor gap of 70 μm or less is required. As a result, requirements for pattern accuracy and impedance are also increasing.

【0004】現在最も主流のサブトラクティブ法にて、
70μm以下の導体幅や導体間隙のような微細パターン
を形成する場合、生産ラインすべての技術レベルや管理
レベルを高める必要があることはもちろんであるが、そ
の中でも露光工程とエッチング工程が大きなポイントと
なるのは確かである。例えば、露光の場合は露光装置の
光平行性またフィルムと基板の密着性が重要になってく
る。エッチングの場合は、液組成管理、基板への液吹き
付け角度や強さ等が重要になってくる。
At present, the most mainstream subtractive method is:
When forming a fine pattern such as a conductor width or a conductor gap of 70 μm or less, it is of course necessary to raise the technical level and management level of the entire production line. Among them, the exposure step and the etching step are the major points. Certainly. For example, in the case of exposure, the light parallelism of the exposure apparatus and the adhesion between the film and the substrate become important. In the case of etching, liquid composition management, liquid spray angle and strength on the substrate, and the like are important.

【0005】しかし、ドライフィルムレジストを使用し
て処理する場合は、レジスト膜厚が15〜75μmの高
膜厚であり、さらにポリエステルフィルム等のカバーフ
ィルムがあるため、光平行性や基板密着性の向上をはか
っても露光時の光散乱に限界があるため、レジストパタ
ーンの時点で70μm以下の微細パターンの製造は非常
に困難である。また、液状フォトポリマーの場合は、ド
ライフィルムよりは微細パターンに対して有利である
が、10μm以上の膜厚が必要となるため同様に光散乱
の問題があり、50μm以下の微細パターンを作製する
のが困難である。
However, in the case of processing using a dry film resist, since the resist film has a high film thickness of 15 to 75 μm and further has a cover film such as a polyester film, the light parallelism and the substrate adhesiveness are poor. Even if the improvement is attempted, the light scattering at the time of exposure is limited, so that it is very difficult to produce a fine pattern of 70 μm or less at the time of the resist pattern. In the case of a liquid photopolymer, it is more advantageous for a fine pattern than a dry film. However, since a film thickness of 10 μm or more is required, there is also a problem of light scattering, and a fine pattern of 50 μm or less is produced. Is difficult.

【0006】また、サブトラクティブ法の特徴の1つと
して、エッチングにおいて導体の側面方向から進行する
サイドエッチングがある。ドライフィルムや液状フォト
レジストでは回路部が硬化しているためレジスト部分に
柔軟性がなく、オーバーハングした部分の下部側にエッ
チング液が入りこみ易く、サイドエッチングが進行しや
すく、エッチファクタが大きくなる。サイドエッチング
の量を抑えるために、液組成管理、基板への液吹き付け
角度や強さ等最適なエッチング条件を整えても、エッチ
ファクタが2〜10の範囲で大きく変化し、2〜10の
範囲内でも低い値の導体線が多くなってしまう問題があ
る。安定なインピーダンスと高精度のパターンを確保す
るためには、バラツキなくエッチファクタを向上させる
必要がある。
One of the features of the subtractive method is side etching which proceeds from the side of the conductor in etching. In the case of a dry film or liquid photoresist, since the circuit portion is hardened, the resist portion has no flexibility, the etching solution easily enters the lower side of the overhang portion, the side etching easily proceeds, and the etch factor increases. Even if the optimal etching conditions such as the liquid composition management and the liquid spray angle and strength on the substrate are adjusted to suppress the amount of side etching, the etch factor greatly changes in the range of 2 to 10, and the etch factor is in the range of 2 to 10. However, there is a problem that the number of conductor wires having a low value is increased. In order to secure a stable impedance and a highly accurate pattern, it is necessary to improve the etch factor without variation.

【0007】このように、現状のサブトラクティブ法で
は、微細で高エッチファクタの導体回路を形成するのに
限界があり、それらを満足するための手段としてセミア
ディティブ法が提案され、実用化されつつある。セミア
ディティブ法とは、触媒化処理、無電解銅めっきによる
薄づけ、パターン形成、パターン銅めっき、レジスト金
属めっき、めっきレジスト剥離、エッチングの工程を経
て進行する。セミアディティブ法の場合は、通常の18
μmや35μmの銅箔厚さよりずっと薄い5〜10μm
程度銅箔の銅張積層板から出発するため、導体パターン
を形成する際に必要なエッチング深さが格段に小さくて
すむため、微細パターンのエッチングに非常に適してい
る。しかし、上記のように工程が多く手間がかかり高価
となってしまう問題と微細レジスト回路形成困難の問題
がある。
As described above, in the current subtractive method, there is a limit in forming a fine and high-etch-factor conductor circuit, and a semi-additive method has been proposed and put into practical use as a means for satisfying them. is there. The semi-additive method proceeds through steps of catalyzing treatment, thinning by electroless copper plating, pattern formation, patterned copper plating, resist metal plating, plating resist peeling, and etching. For the semi-additive method, the normal 18
5-10μm, much thinner than copper foil thickness of μm or 35μm
Starting from a copper-clad laminate of copper foil, the etching depth required for forming a conductor pattern can be significantly reduced, which is very suitable for etching a fine pattern. However, as described above, there are a problem that the number of steps is large, which is troublesome and expensive, and a problem that it is difficult to form a fine resist circuit.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、サブトラク
ティブ法によるプリント配線板の製造方法においても、
回路パターンが微細でエッチファクタの高い導体を得る
ことができるプリント配線板の製造方法を提供しようと
するものである。
The present invention also relates to a method for manufacturing a printed wiring board by a subtractive method.
An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a printed wiring board capable of obtaining a conductor having a fine circuit pattern and a high etch factor.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明者は上記問題点を
解決するため鋭意検討した結果、電気絶縁性基板に金属
導電層を設けた導電性基板上に、非硬化性のアルカリ可
溶性ポリマー層を形成し、その上にフォトレジスト層を
形成し、回路パターンを露光し、アルカリ現像を行い、
2層からなるレジストパターンを形成し、レジストパタ
ーン部以外の金属導電層をエッチング除去することによ
り、微細でエッチファクタの高い導体を持つプリント配
線板を製造できることを見出した。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have made intensive studies to solve the above problems, and as a result, have found that a non-curable alkali-soluble polymer layer is formed on a conductive substrate having a metal conductive layer provided on an electrically insulating substrate. Is formed, a photoresist layer is formed thereon, the circuit pattern is exposed, and alkali development is performed.
It has been found that a printed wiring board having a fine conductor having a high etch factor can be manufactured by forming a two-layer resist pattern and etching away the metal conductive layer other than the resist pattern portion.

【0010】また、上記フォトレジスト層の厚みが0.
5〜5μmの範囲で形成することによって、さらに微細
でエッチファクタの高い導体を持つプリント配線板を製
造できた。
Further, the thickness of the above-mentioned photoresist layer is 0.1 mm.
By forming the wiring in the range of 5 to 5 μm, a printed wiring board having a finer conductor having a higher etch factor could be manufactured.

【0011】すなわち、フォトレジスト層を従来の膜厚
10μm以上より大幅に薄くすることにより、光散乱の
影響が減少し、微細パターン露光に対して有利になっ
た。また、下層が存在するためフォトレジスト層を薄く
してもエッチングレジストとして機能した。また、2層
レジストの下層は光硬化性を持たないため、オーバーハ
ングした部分がエッチング進行の経時で垂れる。そのた
め、横方向の金属エッチング液の流れが妨げられ、導体
のサイドエッチングの影響を少なくすることが可能とな
った。また、フォトレジスト層が薄くなることにより、
感度アップとレジスト剥離迅速化が副次的に可能となっ
た。
That is, by making the photoresist layer much thinner than the conventional film thickness of 10 μm or more, the influence of light scattering is reduced, which is advantageous for fine pattern exposure. Further, since the lower layer was present, even if the photoresist layer was thinned, it functioned as an etching resist. In addition, since the lower layer of the two-layer resist does not have photocurability, the overhanged portion sags as the etching proceeds. Therefore, the flow of the metal etchant in the lateral direction is hindered, and the influence of the side etching of the conductor can be reduced. Also, as the photoresist layer becomes thinner,
Increased sensitivity and quicker resist stripping were secondarily made possible.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下に、本発明のプリント配線板
の製造方法について詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be described in detail.

【0013】本発明に係わる電気絶縁性基板に金属導電
層を設けた導電性基板としては、紙基材フェノール樹脂
やガラス基材エポキシ樹脂に金属導電層として銅箔等を
張り合わせたものがその代表的なものである。これら積
層板の例は「プリント回路技術便覧」(社団法人日本プ
リント回路工業会編、1987刊行、日刊工業新聞社
刊)に記載されており、所望の積層板を使用することが
できる。
A typical example of a conductive substrate provided with a metal conductive layer on the electrically insulating substrate according to the present invention is a substrate in which a copper foil or the like is bonded as a metal conductive layer to a paper base phenol resin or a glass base epoxy resin. It is typical. Examples of these laminates are described in "Printed Circuit Technology Handbook" (edited by The Japan Printed Circuit Industries Association, 1987, published by Nikkan Kogyo Shimbun), and any desired laminates can be used.

【0014】電気絶縁性基板の厚さは60μmから3.
2mm程度であり、プリント配線板としての最終使用形
態により、その材質と厚さが選定される。薄い基板につ
いては、複数枚張り合わせてもよい。
The thickness of the electrically insulating substrate is from 60 μm to 3.
It is about 2 mm, and its material and thickness are selected according to the final use form as a printed wiring board. For a thin substrate, a plurality of thin substrates may be laminated.

【0015】金属導電層の厚さは種々の厚さのものが使
用でき、一般的には12〜35μmのものが使用されて
いるが、それよりも厚いものや薄いものも使用すること
ができる。配線密度が高くなり回路の線幅が細くなるに
つれて、金属導電層は薄いものを使用することが好まし
い。数μmの厚さのものを作製するために、表面をハー
フエッチング処理する場合もある。
Various thicknesses of the metal conductive layer can be used. In general, those having a thickness of 12 to 35 μm are used, but thicker and thinner ones can also be used. . As the wiring density increases and the line width of the circuit decreases, it is preferable to use a thinner metal conductive layer. In some cases, the surface is subjected to half-etching treatment in order to produce a product having a thickness of several μm.

【0016】金属導電層に用いる金属としては、銅、
銀、アルミニウム、ステンレス、ニクロム、及びタング
ステン等が挙げられる。
The metal used for the metal conductive layer is copper,
Silver, aluminum, stainless steel, nichrome, tungsten and the like.

【0017】本発明に係わる非硬化性のアルカリ可溶性
ポリマー層は、少なくとも非硬化性のアルカリ可溶性ポ
リマーからなり、カルボン酸基、メタクリル酸、メタク
リル酸アミド、フェノール性水酸基、スルホン酸基、ス
ルホンアミド基、スルホンイミド基、ホスホン酸基を有
する単量体を含有する共重合体、及びフェノール樹脂、
キシレン樹脂等が挙げられる。具体例としては、スチレ
ン/マレイン酸モノアルキルエステル共重合体、メタク
リル酸/メタクリル酸エステル共重合体、スチレン/メ
タクリル酸/メタクリル酸エステル共重合体、アクリル
酸/メタクリル酸エステル共重合体、メタクリル酸/メ
タクリル酸エステル/アクリル酸エステル共重合体、ス
チレン/メタクリル酸/アクリル酸エステル共重合体、
スチレン/アクリル酸/メタクリル酸エステル共重合
体、酢酸ビニル/クロトン酸共重合体、酢酸ビニル/ク
ロトン酸/メタクリル酸エステル共重合体、安息香酸ビ
ニル/アクリル酸/メタクリル酸エステル共重合体等の
スチレン、アクリル酸エステル、メタクリル酸エステ
ル、酢酸ビニル、安息香酸ビニル等と上記カルボン酸含
有単量体との共重合体等が挙げられる。これらのアルカ
リ可溶性ポリマーは単独でも、あるいは2種以上を混合
しても良い。
The non-curable alkali-soluble polymer layer according to the present invention comprises at least a non-curable alkali-soluble polymer, and includes a carboxylic acid group, methacrylic acid, methacrylamide, phenolic hydroxyl group, sulfonic acid group, and sulfonamide group. , A sulfonimide group, a copolymer containing a monomer having a phosphonic acid group, and a phenol resin,
Xylene resin and the like can be mentioned. Specific examples include styrene / maleic acid monoalkyl ester copolymer, methacrylic acid / methacrylic acid ester copolymer, styrene / methacrylic acid / methacrylic acid ester copolymer, acrylic acid / methacrylic acid ester copolymer, and methacrylic acid. / Methacrylic acid ester / acrylic acid ester copolymer, styrene / methacrylic acid / acrylic acid ester copolymer,
Styrene such as styrene / acrylic acid / methacrylic acid ester copolymer, vinyl acetate / crotonic acid copolymer, vinyl acetate / crotonic acid / methacrylic acid ester copolymer, vinyl benzoate / acrylic acid / methacrylic acid ester copolymer And copolymers of the above carboxylic acid-containing monomers with acrylic acid esters, methacrylic acid esters, vinyl acetate, vinyl benzoate and the like. These alkali-soluble polymers may be used alone or in combination of two or more.

【0018】非硬化とは、紫外線や熱等によって硬化し
ないことを言う。硬化とは、例えば、紫外線によって、
線状ポリマーの分子間で特定の基が化学反応を起こし、
網状結合すること等で説明できる。
"Non-cured" means that it is not cured by ultraviolet rays, heat, or the like. Curing, for example, by ultraviolet light,
Certain groups undergo a chemical reaction between the molecules of the linear polymer,
This can be explained by a net-like connection.

【0019】本発明に係わる非硬化性のアルカリ可溶性
ポリマー層の厚みは、厚すぎるとアルカリ現像工程にお
けるサイドエッチングが過剰になり線の細りが発生しや
すい、またアルカリ現像液の劣化を促進する。薄すぎる
と、エッチングレジストとして必須の耐エッチング性の
低下、および金属導電層との密着性の低下がある。よっ
て、アルカリ可溶性ポリマー層の厚みは、0.5〜20
μmが好ましく、その中でも、2〜10μmが特に好ま
しい。
If the thickness of the non-curable alkali-soluble polymer layer according to the present invention is too large, side etching in the alkali developing step becomes excessive, line thinning tends to occur, and deterioration of the alkali developing solution is promoted. If the thickness is too small, there is a reduction in etching resistance, which is essential as an etching resist, and a reduction in adhesion to a metal conductive layer. Therefore, the thickness of the alkali-soluble polymer layer is 0.5 to 20.
μm is preferable, and among them, 2 to 10 μm is particularly preferable.

【0020】本発明に係わる非硬化性のアルカリ可溶性
ポリマー層の形成は、導電性基板上に溶剤に溶解したア
ルカリ可溶性ポリマーを塗布し、加熱により溶剤を除去
することによって、所望の膜厚に形成する。塗布方法
は、ディップコート法、バーコート法、スプレーコート
法、ロールコート法、スピナーコート法、スクリーン印
刷法、電着法等により行うことができるが、所望の膜厚
を形成できれば特に限定されない。また、フォトレジス
ト層との2層同時塗布も適用できる。
The non-curable alkali-soluble polymer layer according to the present invention is formed by applying an alkali-soluble polymer dissolved in a solvent on a conductive substrate and removing the solvent by heating to form a desired thickness. I do. The coating method can be performed by a dip coating method, a bar coating method, a spray coating method, a roll coating method, a spinner coating method, a screen printing method, an electrodeposition method, or the like, but is not particularly limited as long as a desired film thickness can be formed. Further, two-layer simultaneous coating with a photoresist layer can also be applied.

【0021】本発明に係わる非硬化性のアルカリ可溶性
ポリマーに使用する溶剤としては、均一に溶解できるも
のであれば良く、具体的には、メタノール、エタノー
ル、1−プロパノール、1−メトキシ−2−プロパノー
ル等のアルコール類、THF、1,4−ジオキサン、
1,2−ジメトキシエタン、エチレングリコールモノメ
チルエーテル等のエーテル類、アセトン、メチルエチル
ケトン、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトン等
のケトン類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素
類、酢酸エチル、酢酸メチル、酢酸イソブチル等のエス
テル類、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメ
チルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド
類、ジメチルスルホキシド等が挙げられるが、これらに
限定されるものではなく、塗布方法と乾燥条件等によっ
て適当なものを選択して使用できる。塗布液の固形分濃
度についても、塗布方法と乾燥条件等によって適切な濃
度を選択できる。
The solvent used for the non-curable alkali-soluble polymer according to the present invention may be any solvent which can be uniformly dissolved, and specifically, methanol, ethanol, 1-propanol, 1-methoxy-2- Alcohols such as propanol, THF, 1,4-dioxane,
Ethers such as 1,2-dimethoxyethane and ethylene glycol monomethyl ether; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone and methyl isobutyl ketone; aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; ethyl acetate, methyl acetate, isobutyl acetate and the like And amides such as N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone, dimethyl sulfoxide, etc., but are not limited thereto, and application methods and drying conditions, etc. Can be selected and used. Regarding the solid content concentration of the coating liquid, an appropriate concentration can be selected depending on the coating method, drying conditions, and the like.

【0022】本発明に係わるフォトレジスト層に用いら
れるレジスト材としては、一般に使用されている回路形
成用液状レジストや電着塗装用レジスト等が使用可能で
あり、膜厚が薄ければドライフィルム状のものでも使用
可能となる。これらのレジスト材は、感光域、感度、露
光方式によってもネガ型もしくはポジ型の違い、後露光
や後硬膜処理が必要等、種々見られるが、本発明に於い
ては何れのレジスト材であっても適用可能である。
As the resist material used for the photoresist layer according to the present invention, a generally used liquid resist for forming a circuit or a resist for electrodeposition coating can be used. Can be used. These resist materials can be found in various ways, such as a photosensitive area, a sensitivity, a difference between a negative type and a positive type depending on an exposure method, a need for post-exposure and post-hardening treatment, and the like. Even if there is, it is applicable.

【0023】本発明に係わるフォトレジスト層の厚み
は、厚すぎると露光時の光り散乱が生じ、薄すぎると、
成膜性や耐エッチング性が低下する。よって、フォトレ
ジスト層の厚みは、0.1〜10μmが好ましく、その
中でも0.5〜5μmが特に好ましい。
If the thickness of the photoresist layer according to the present invention is too large, light scattering at the time of exposure occurs.
Film formability and etching resistance are reduced. Therefore, the thickness of the photoresist layer is preferably from 0.1 to 10 μm, and particularly preferably from 0.5 to 5 μm.

【0024】また、本発明に係わるアルカリ可溶性ポリ
マー層の厚みとフォトレジスト層の厚みの関係は、レジ
ストのオーバーハング部分が垂れ易く、エッチファクタ
が高くなるという理由のため、アルカリ可溶性ポリマー
層の方がフォトレジスト層に比べ厚くすると好ましい。
Further, the relationship between the thickness of the alkali-soluble polymer layer and the thickness of the photoresist layer according to the present invention is that the overhang portion of the resist is apt to hang down and the etch factor is increased. Is preferably thicker than the photoresist layer.

【0025】本発明に係わるフォトレジスト層の形成
は、下層の非硬化性のアルカリ可溶性ポリマー層の形成
の後、レジスト組成物を重ね塗りし、加熱により溶剤を
除去することによって、所望の膜厚に形成する方法が特
に形成し易い。ここでも、塗布方法は特に限定されない
が、例を記せば、ディップコート法、バーコート法、ス
プレーコート法、ロールコート法、スピナーコート法、
スクリーン印刷法、電着法等が挙げられる。また、非硬
化性のアルカリ可溶性ポリマー層との2層同時塗布も適
用できる。フォトレジスト層にドライフィルムを適用す
る際には、ラミネーションを行う。
The photoresist layer according to the present invention is formed by forming a lower non-curable alkali-soluble polymer layer, coating the resist composition again, and removing the solvent by heating to obtain a desired film thickness. Is particularly easy to form. Again, the application method is not particularly limited, but examples include dip coating, bar coating, spray coating, roll coating, spinner coating,
A screen printing method, an electrodeposition method and the like can be mentioned. Further, two-layer simultaneous coating with a non-curable alkali-soluble polymer layer can also be applied. Lamination is performed when a dry film is applied to the photoresist layer.

【0026】本発明に係わる回路パターンの露光方法と
しては、キセノンランプ、高圧水銀灯、低圧水銀灯、超
高圧水銀灯、UV蛍光灯を光源とした反射画像露光、フ
ィルムマスクを用いた片面、両面密着露光や、UVレー
ザー光による走査露光が挙げられる。走査露光を行う場
合には、He−Neレーザー、He−Cdレーザー、ア
ルゴンレーザー、クリプトンイオンレーザー、ルビーレ
ーザー、YAGレーザー、窒素レーザー、色素レーザ
ー、エキシマレーザー等のレーザー光源を発光波長に応
じてSHG波長変換して走査露光する、あるいは液晶シ
ャッター、マイクロミラーアレイシャッターを利用した
走査露光によって露光することができる。
The circuit pattern exposure method according to the present invention includes reflection image exposure using a xenon lamp, high-pressure mercury lamp, low-pressure mercury lamp, ultra-high-pressure mercury lamp, UV fluorescent lamp as a light source, single-sided and double-sided contact exposure using a film mask, and the like. And scanning exposure with UV laser light. When performing scanning exposure, a laser light source such as a He-Ne laser, a He-Cd laser, an argon laser, a krypton ion laser, a ruby laser, a YAG laser, a nitrogen laser, a dye laser, and an excimer laser is used according to the emission wavelength. Exposure can be performed by wavelength-converted scanning exposure, or by scanning exposure using a liquid crystal shutter or a micromirror array shutter.

【0027】本発明に係わるアルカリ現像とは、アルカ
リ性水溶液を現像液として、フォトレジスト層の硬化し
なかった不要な部分を除去し、その下層のアルカリ可溶
性ポリマーも同時に除去され、2層レジストの回路パタ
ーンが形成される。現像液は、塩基性化合物を含有し、
例えばケイ酸アルカリ金属塩、アルカリ金属水酸化物、
リン酸および炭酸アルカリ金属塩、リン酸および炭酸ア
ンモニウム塩等の無機塩基性化合物、エタノールアミン
類、エチレンジアミン、プロパンジアミン類、トリエチ
レンテトラミン、モルホリン等の有機塩基性化合物等を
用いることができる。上記塩基性化合物は単独または混
合物として使用できる。一般的には、炭酸ナトリウム水
溶液等の弱アルカリ水溶液が使用されるが、本発明に於
いても同様に、使用するフォトレジスト及びアルカリ可
溶性ポリマーに見合った現像液を使用するものである。
In the alkali development according to the present invention, an unreacted portion of the photoresist layer which has not been cured is removed using an alkaline aqueous solution as a developing solution, and the underlying alkali-soluble polymer is removed at the same time. A pattern is formed. The developer contains a basic compound,
For example, alkali metal silicate, alkali metal hydroxide,
Inorganic basic compounds such as phosphoric acid and alkali metal carbonate, phosphoric acid and ammonium carbonate, and organic basic compounds such as ethanolamines, ethylenediamine, propanediamine, triethylenetetramine, and morpholine can be used. The above basic compounds can be used alone or as a mixture. Generally, a weak alkaline aqueous solution such as an aqueous sodium carbonate solution is used. Similarly, in the present invention, a developing solution suitable for the photoresist and the alkali-soluble polymer to be used is used.

【0028】本発明のプリント配線板の製造方法では、
レジストの回路パターン部以外の露出した金属導電層を
エッチングにより除去する。エッチング工程では、「プ
リント回路技術便覧」(社団法人日本プリント回路工業
会編、1987年刊行、日刊工業新聞社発行)記載の方
法等を使用することができる。エッチンング液は金属導
電層を溶解除去できるもので、また少なくともアルカリ
可溶性ポリマー層が耐性を有しているものであれば良
い。一般に金属導電層に銅層を使用する場合には塩化第
二鉄水溶液、塩化第二銅水溶液等を使用することができ
る。
In the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention,
The exposed metal conductive layer other than the circuit pattern portion of the resist is removed by etching. In the etching step, a method described in “Printed Circuit Technology Handbook” (edited by the Japan Printed Circuit Industry Association, published in 1987, published by Nikkan Kogyo Shimbun) or the like can be used. The etching solution may be any solution that can dissolve and remove the metal conductive layer and at least the alkali-soluble polymer layer has resistance. In general, when a copper layer is used as the metal conductive layer, an aqueous ferric chloride solution, an aqueous cupric chloride solution, or the like can be used.

【0029】レジストパターンはエッチング工程後、ア
ルカリ現像で使用した現像液よりもさらにアルカリ性の
強い溶液で処理することにより除去することができる。
一般的には、水酸化ナトリウム水溶液等が使用される
が、本発明に於いても同様に、使用するフォトレジスト
及び非硬化性のアルカリ可溶性ポリマーに見合った液を
使用する。また、必要に応じてメチルエチルケトン、ジ
オキサン、メタノール、エタノール、プロパノール等を
使用することもできる。
After the etching step, the resist pattern can be removed by treating the resist pattern with a solution having a higher alkalinity than the developer used in the alkali development.
Generally, an aqueous solution of sodium hydroxide or the like is used. Similarly, in the present invention, a solution suitable for the photoresist to be used and the non-curable alkali-soluble polymer is used. If necessary, methyl ethyl ketone, dioxane, methanol, ethanol, propanol and the like can also be used.

【0030】[0030]

【実施例】以下本発明を実施例により詳説するが、本発
明はその主旨を超えない限り、下記実施例に限定される
ものではない。
EXAMPLES The present invention will be described in detail below with reference to examples, but the present invention is not limited to the following examples unless it exceeds the gist of the invention.

【0031】実施例1 両面銅張積層板(面積340mm×510mm、銅箔厚
12μm、基材厚み0.1mm、三菱ガス化学製、CC
L−E170)を使用し、表1の組成からなる塗布液を
ディップ塗布し、120℃15分間加熱乾燥して、銅張
積層板上に非硬化性のアルカリ可溶性ポリマー層を約5
μmの厚みに設けた。
Example 1 Double-sided copper-clad laminate (area 340 mm × 510 mm, copper foil thickness 12 μm, substrate thickness 0.1 mm, manufactured by Mitsubishi Gas Chemical, CC
Using L-E170), a coating solution having the composition shown in Table 1 was applied by dip coating, and dried by heating at 120 ° C. for 15 minutes to form a non-curable alkali-soluble polymer layer on a copper-clad laminate by about 5 μm.
The thickness was set to μm.

【0032】[0032]

【表1】 [Table 1]

【0033】次に、ネガ型の液状フォトレジスト(太陽
インキ製造(株)製、「PER−20」)をロールコート
装置を用いて塗布、乾燥させ、非硬化性のアルカリ可溶
性ポリマー層の上に約2μmの厚みのフォトレジスト層
を設けた。
Next, a negative type liquid photoresist (manufactured by Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd., "PER-20") is applied using a roll coater and dried to form a film on the non-curable alkali-soluble polymer layer. A photoresist layer having a thickness of about 2 μm was provided.

【0034】2層膜が形成された基板を、導体幅及び導
体間隙が30μmの回路パターンを有するマスクフィル
ムを用いて、平行光性の大きいUV露光機にて、露光を
実施した。次いで、1重量%の炭酸ナトリウム水溶液
(液温35℃)にてアルカリ現像を行うことにより、露
光部以外のフォトレジスト層とその下位の非硬化性のア
ルカリ可溶性ポリマー層を除去し、フォトマスク上で3
0μmの導体幅及び間隙の回路部分がつぶれずに再現さ
れた2層からなるレジストパターンが形成できた。
The substrate on which the two-layer film was formed was exposed with a UV exposure device having high parallel light using a mask film having a circuit pattern having a conductor width and a conductor gap of 30 μm. Next, by performing alkali development with a 1% by weight aqueous solution of sodium carbonate (solution temperature: 35 ° C.), the photoresist layer other than the exposed portion and the non-curable alkali-soluble polymer layer below it are removed, and 3
A resist pattern consisting of two layers, in which a circuit portion having a conductor width of 0 μm and a gap was reproduced without being crushed, was formed.

【0035】さらに、レジストパターンを形成した基板
を塩化第二鉄溶液(40℃、スプレー圧:3.0kg/
cm2)で処理し、レジストパターンで被覆されていな
い部分の銅層を除去した。次いで、40℃の3.0重量
%水酸化ナトリウム溶液で処理し、残存するレジスト層
を除去し、プリント配線板を得た。得られたプリント配
線板を顕微鏡で観察したところ、フォトマスク上で30
μmの導体幅及び間隙であった部分が、サイドエッチン
グ等で8μmの細りが生じ22μm導体幅、38μm導
体間隙の金属パターンとして形成できた。
Further, the substrate on which the resist pattern was formed was treated with a ferric chloride solution (40 ° C., spray pressure: 3.0 kg /
cm 2 ) to remove the copper layer in portions not covered with the resist pattern. Next, the substrate was treated with a 3.0% by weight sodium hydroxide solution at 40 ° C. to remove the remaining resist layer, thereby obtaining a printed wiring board. When the obtained printed wiring board was observed with a microscope, 30 μm was observed on the photomask.
The portion having the conductor width and gap of 8 μm was narrowed by 8 μm by side etching or the like, and was formed as a metal pattern having a conductor width of 22 μm and a conductor gap of 38 μm.

【0036】実施例2 両面銅張積層板(面積340mm×510mm、銅箔厚
12μm、基材厚み0.1mm、三菱ガス化学製、CC
L−E170)を使用し、表1の組成からなる塗布液を
ディップ塗布し、120℃15分間加熱乾燥して、銅張
積層板上に非硬化性のアルカリ可溶性ポリマー層を約3
〜10μmの厚みとしたものを数枚作製した。
Example 2 Double-sided copper-clad laminate (area 340 mm × 510 mm, copper foil thickness 12 μm, substrate thickness 0.1 mm, Mitsubishi Gas Chemical, CC
Using LE-E170), a coating solution having the composition shown in Table 1 was applied by dip coating, and dried by heating at 120 ° C. for 15 minutes to form a non-curable alkali-soluble polymer layer on a copper-clad laminate by about 3 μm.
Several sheets having a thickness of 10 to 10 μm were produced.

【0037】次に、ネガ型の液状フォトレジスト(太陽
インキ製造(株)製、「PER−20」)をロールコート
装置を用いて塗布、乾燥させ、非硬化性のアルカリ可溶
性ポリマー層の上に約0.1、0.5、3.0、5.
0、8、0μmの5通りの厚みのフォトレジスト層を非
硬化性のアルカリ溶解性ポリマー層の厚みより薄くなる
ように設けた。
Next, a negative type liquid photoresist (manufactured by Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd., "PER-20") is applied using a roll coater and dried to form a film on the non-curable alkali-soluble polymer layer. About 0.1, 0.5, 3.0, 5,.
Photoresist layers having five different thicknesses of 0, 8, and 0 μm were provided so as to be thinner than the thickness of the non-curable alkali-soluble polymer layer.

【0038】2層膜が形成された基板を、導体幅及び導
体間隙が20〜130μmの回路パターンを有するマス
クフィルムを用いて、平行光性の大きいUV露光機に
て、露光を実施した。次いで、1重量%の炭酸ナトリウ
ム水溶液(液温35℃)にて露光部以外のフォトレジス
ト層とその下位の非硬化性のアルカリ可溶性ポリマー層
が除去されるまで処理し、アルカリ現像を終了した。
The substrate on which the two-layer film was formed was exposed using a mask exposure film having a circuit pattern having a conductor width and a conductor gap of 20 to 130 μm by a UV exposing machine having high parallel light. Subsequently, the photoresist layer was treated with a 1% by weight aqueous solution of sodium carbonate (solution temperature: 35 ° C.) until the photoresist layer other than the exposed portion and the non-curable alkali-soluble polymer layer thereunder were removed, and the alkaline development was completed.

【0039】さらに、レジストパターンを形成した基板
を塩化第二鉄溶液(40℃、スプレー圧:3.0kg/
cm2)で処理し、レジストパターンで被覆されていな
い部分の銅層を除去した。次いで、40℃の3.0重量
%水酸化ナトリウム溶液で処理し、残存するレジスト層
を除去し、プリント配線板を得た。得られたプリント配
線板を顕微鏡で観察し、導体幅及び導体間隙の再現性を
確認したところ、表2のような結果となった。また、作
製したそれぞれについて、導体回路の断面観察を実施
し、エッチファクタの値を測定したところ、表2に示し
た範囲であった。
Further, the substrate on which the resist pattern was formed was treated with a ferric chloride solution (40 ° C., spray pressure: 3.0 kg /
cm 2 ) to remove the copper layer in portions not covered with the resist pattern. Next, the substrate was treated with a 3.0% by weight sodium hydroxide solution at 40 ° C. to remove the remaining resist layer, thereby obtaining a printed wiring board. Observation of the obtained printed wiring board with a microscope to confirm the reproducibility of the conductor width and the conductor gap resulted in the results shown in Table 2. In addition, for each of the fabricated products, the cross-section of the conductor circuit was observed and the value of the etch factor was measured.

【0040】[0040]

【表2】 [Table 2]

【0041】表2に示すごとく、フォトレジスト層の厚
みが0.5〜5.0μmの範囲内では、70μm以下の
導体幅及び導体間隙の回路を良好に作製することができ
た。フォトレジスト層の膜厚が8.0μmのものに関し
ては、70μm以下の微細パターンは得られなかった
が、良好なエッチング特性が得られ、100μm以上で
エッチファクタの大きい良好な回路が得られている。フ
ォトレジスト層厚みが0.5μmより小さい場合でも、
ファインパターンは得られないものの、エッチファクタ
の非常大きい導体が作製可能であった。
As shown in Table 2, when the thickness of the photoresist layer was in the range of 0.5 to 5.0 μm, a circuit having a conductor width and a conductor gap of 70 μm or less was successfully produced. With respect to the photoresist layer having a thickness of 8.0 μm, a fine pattern of 70 μm or less was not obtained, but good etching characteristics were obtained, and a good circuit having a large etch factor was obtained at 100 μm or more. . Even when the photoresist layer thickness is smaller than 0.5 μm,
Although a fine pattern was not obtained, a conductor having a very large etch factor could be produced.

【0042】比較例1 両面銅張積層板(面積340mm×510mm、銅箔厚
12μm、基材厚み0.1mm、三菱ガス化学製、CC
L−E170)を使用し、非硬化性のアルカリ可溶性ポ
リマー層を下層に設けることなく、ネガ型の液状フォト
レジスト(太陽インキ製造(株)製、「PER−20」)
をロールコート装置を用いて塗布、乾燥させ、約5、1
0μmの厚みのフォトレジスト層を設けた。
Comparative Example 1 Double-sided copper-clad laminate (area 340 mm × 510 mm, copper foil thickness 12 μm, substrate thickness 0.1 mm, manufactured by Mitsubishi Gas Chemical, CC
LE-170), and without providing a non-curable alkali-soluble polymer layer as a lower layer, a negative-type liquid photoresist (“PER-20” manufactured by Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd.)
Is applied using a roll coater and dried, and about 5, 1
A photoresist layer having a thickness of 0 μm was provided.

【0043】さらに、導体幅及び導体間隙が20〜13
0μmの回路パターンを有するマスクフィルムを用い
て、平行光性の大きいUV露光機にて、露光を実施し
た。次いで、1重量%の炭酸ナトリウム水溶液(液温3
5℃)にて露光部以外のフォトレジスト層が除去される
まで処理し、アルカリ現像を終了した。
Further, the conductor width and the conductor gap are 20 to 13
Using a mask film having a circuit pattern of 0 μm, exposure was performed with a UV exposure machine having high parallel light. Then, a 1% by weight aqueous solution of sodium carbonate (liquid temperature 3
(5 ° C.) until the photoresist layer other than the exposed portions was removed, and the alkaline development was terminated.

【0044】さらに、レジストパターンを形成した基板
を塩化第二鉄溶液(40℃、スプレー圧:3.0kg/
cm2)で処理し、レジストパターンで被覆されていな
い部分の銅層を除去した。次いで、40℃の3.0重量
%水酸化ナトリウム溶液で処理し、残存するレジスト層
を除去し、プリント配線板を得た。
Further, the substrate on which the resist pattern was formed was treated with a ferric chloride solution (40 ° C., spray pressure: 3.0 kg /
cm 2 ) to remove the copper layer in portions not covered with the resist pattern. Next, the substrate was treated with a 3.0% by weight sodium hydroxide solution at 40 ° C. to remove the remaining resist layer, thereby obtaining a printed wiring board.

【0045】約5μmの膜厚で形成したものは、断線、
クワレ、ピンホールの欠陥や銅箔とレジスト層の剥がれ
等が多発し、エッチングレジストとして機能していない
ことが分かった。10μmの膜厚にて形成したものに関
しては、良好にアルカリ現像およびエッチングが終了
し、回路形成されたので、顕微鏡で観察し、導体幅およ
び導体間隙の再現性を確認した。その結果、80μm以
下の導体は、つぶれや線の飛びが生じており、90μm
以下の回路は良好に製造できなかった。
Those formed with a film thickness of about 5 μm are
Mulling, defects in pinholes, peeling of the copper foil and the resist layer, etc. occurred frequently, and it was found that they did not function as an etching resist. With respect to the film formed with a film thickness of 10 μm, alkali development and etching were successfully completed, and a circuit was formed. Therefore, the circuit was observed with a microscope to confirm the reproducibility of the conductor width and the conductor gap. As a result, the conductor of 80 μm or less has collapsed or jumped lines,
The following circuits could not be successfully manufactured.

【0046】また、10μmのレジスト膜厚にて得られ
た導体回路の断面観察を実施し、エッチファクタの値を
測定した結果1〜9であり、エッチファクタの値のバラ
ツキが大きく、平均値を定めると3であり、2層レジス
トした場合の表2に記したエッチファクタの値に比べ、
極端に小さい値である。
The cross-section of the conductor circuit obtained with a resist film thickness of 10 μm was observed, and the values of the etch factors were measured. The results were 1 to 9. The variation in the values of the etch factors was large. It is 3 when determined, compared to the value of the etch factor described in Table 2 when two layers of resist are used.
It is an extremely small value.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上説明したごとく、本発明のプリント
配線板の製造方法では、サブトラクティブ法であって
も、導電性基板上に、非硬化性のアルカリ可溶性ポリマ
ー層を形成し、その上に0.5〜5μmの範囲の厚みで
フォトレジスト層を形成し、回路パターンを露光し、ア
ルカリ現像を行い、2層からなるレジストパターンを形
成し、レジストパターン部以外の金属導電層をエッチン
グ除去することで、回路パターンが微細でエッチファク
タの高い導体のプリント配線板を製造できるという秀逸
な効果をもたらす。
As described above, in the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention, a non-curable alkali-soluble polymer layer is formed on a conductive substrate, even if the subtractive method is used. A photoresist layer having a thickness in the range of 0.5 to 5 μm is formed, a circuit pattern is exposed, alkali development is performed, a two-layer resist pattern is formed, and a metal conductive layer other than the resist pattern portion is removed by etching. This has an excellent effect that a printed circuit board having a conductor having a fine circuit pattern and a high etch factor can be manufactured.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H025 AA02 AA14 AB15 AC01 AD01 DA30 DA40 FA17 FA40 5E339 AB02 AD03 BC01 BC02 BC03 BD11 BE13 CC01 CC02 CD01 CE11 CE19 CF16 CF17 CG04 DD03 DD04 GG02  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H025 AA02 AA14 AB15 AC01 AD01 DA30 DA40 FA17 FA40 5E339 AB02 AD03 BC01 BC02 BC03 BD11 BE13 CC01 CC02 CD01 CE11 CE19 CF16 CF17 CG04 DD03 DD04 GG02

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電気絶縁性基板に金属導電層を設けた導
電性基板上に、非硬化性のアルカリ可溶性ポリマー層を
形成し、その上にフォトレジスト層を形成し、回路パタ
ーンを露光し、アルカリ現像を行い、2層からなるレジ
ストパターンを形成し、レジストパターン部以外の金属
導電層をエッチング除去することを特徴とする、プリン
ト配線板の製造方法。
1. A non-curable alkali-soluble polymer layer is formed on a conductive substrate provided with a metal conductive layer on an electrically insulating substrate, a photoresist layer is formed thereon, and a circuit pattern is exposed. A method for manufacturing a printed wiring board, comprising: performing alkali development to form a two-layer resist pattern, and etching away a metal conductive layer other than the resist pattern portion.
【請求項2】 上記フォトレジスト層の厚みが0.5〜
5μmの範囲である請求項1記載のプリント配線板の製
造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the photoresist layer has a thickness of 0.5 to 0.5.
The method for producing a printed wiring board according to claim 1, wherein the thickness is in a range of 5 µm.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008071936A (en) * 2006-09-14 2008-03-27 Asahi Kasei Chemicals Corp Resist-pattern forming method
JP2008166391A (en) * 2006-12-27 2008-07-17 Tdk Corp Method of forming conductor pattern and electronic component

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