JP2002243665A - X-ray foreign-body detection apparatus and method of detecting defective in the same - Google Patents

X-ray foreign-body detection apparatus and method of detecting defective in the same

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JP2002243665A
JP2002243665A JP2001034016A JP2001034016A JP2002243665A JP 2002243665 A JP2002243665 A JP 2002243665A JP 2001034016 A JP2001034016 A JP 2001034016A JP 2001034016 A JP2001034016 A JP 2001034016A JP 2002243665 A JP2002243665 A JP 2002243665A
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ray
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray foreign-body detection apparatus, with which the abnormality of the number of latches in a specimen equipped with a latch to be detected as a foreign body can be detected, with which the foreign body at the inside of the specimen can be detected and which can enhance the detection accuracy of defectives. SOLUTION: A defect determining part 17c in a defect detecting part 17 divides a development image into a front area E1 and a rear area E2 on the basis of the length of the specimen, and the number of foreign bodies in the respective areas E1, E2 is detected. If the specimen is ham or sausage, one each of a clip as the foreign body is detected in the respective areas E1, E2. When the number of clips is 0 or when two or more clips are detected, the number of clips is determined as being abnormal. A mask-region setting part 17a sets a mask region in the position of the clip, and the foreign body inside the specimen excluding the clip is detected. When the foreign body is detected or when the number of clips is abnormal, the specimen is determined to be a defective and is output.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば生肉、魚、
加工食品、医薬などの各品種の被検査物に対し、X線を
曝射したときのX線の透過量から被検査物中の異物を検
出するX線異物検出装置に関し、特に被検査物に付属す
る異物としての留め具の有無により不良品を正確に検出
できるX線異物検出装置及び該装置における不良品検出
方法に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to raw meat, fish,
The present invention relates to an X-ray foreign matter detection device that detects foreign matter in an inspected object from the amount of X-rays transmitted to the inspected object of each type, such as processed foods and pharmaceuticals, when the X-ray is irradiated. The present invention relates to an X-ray foreign matter detection device capable of accurately detecting a defective product by the presence or absence of a fastener as an attached foreign material, and a defective product detection method in the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】X線異物検出装置は、搬送ライン上を順
次搬送されてくる各品種の被検査物(生肉、魚、加工食
品、医薬など)にX線を曝射し、この曝射したX線の透
過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物
が混入しているか否かを検出する装置である。
2. Description of the Related Art X-ray foreign matter detectors irradiate X-rays to inspected objects (raw meat, fish, processed foods, pharmaceuticals, etc.) of various varieties which are sequentially conveyed on a conveyance line, and are irradiated with the X-rays. This is a device that detects whether or not a foreign substance such as metal, glass, stone, bone, or the like is mixed in the inspection object from the amount of transmitted X-rays.

【0003】図9はこの種の従来のX線異物検出装置を
示す斜視図である。図示のようにコンベア50上を被検
査物Wが搬送されて行く途中位置にX線発生器51と、
X線検出器52が対向配置される。X線発生器51は搬
送中の被検査物WにX線を曝射し、X線検出器52は被
検査物Wを透過したX線の透過量に応じた電気信号(X
線透過データ)を出力する。図示しない処理手段はこの
X線の透過量に基づき、異物の混入の有無を判断する。
FIG. 9 is a perspective view showing a conventional X-ray foreign matter detecting device of this kind. As shown in the figure, an X-ray generator 51 is provided at an intermediate position where the inspection object W is transported on the conveyor 50,
The X-ray detectors 52 are arranged to face each other. The X-ray generator 51 irradiates X-rays to the inspection object W being conveyed, and the X-ray detector 52 generates an electric signal (X) corresponding to the amount of X-rays transmitted through the inspection object W.
Line transmission data). The processing means (not shown) determines the presence or absence of foreign matter based on the amount of transmitted X-rays.

【0004】図10は、被検査物Wを示す図である。図
示の例では、被検査物Wがハム、ソーセージ等であり、
両端には金属製クリップSを有する状態が表示されてい
る。通常、これらハム、ソーセージ等の被検査物Wで
は、両端それぞれに(計2個)収容状態を保持するため
に止め用のクリップSが設けられる。このような被検査
物Wを単にX線検査するとクリップSが異物として検出
されてしまい装置を稼働できなくなる。
FIG. 10 is a diagram showing an inspection object W. In the illustrated example, the inspection object W is ham, sausage, or the like,
At both ends, a state having metal clips S is displayed. Normally, in the inspection object W such as ham and sausage, a clip S for stopping is provided at each of both ends (two in total) in order to maintain a stored state. If such an inspection object W is simply X-ray inspected, the clip S is detected as a foreign substance, and the apparatus cannot be operated.

【0005】このため、このような異物として判断され
るクリップSが取り付けられた特殊な品種の被検査物W
を検査するX線異物検出装置では、被検査物W内におけ
る異物の混入の有無を判定する処理時に被検査物Wの両
端のクリップSを除き、被検査物Wの内部のみの異物検
出を行うようになっている。
For this reason, a special kind of inspection object W to which the clip S determined as such a foreign substance is attached is attached.
In the X-ray foreign matter detection device that inspects the object, the foreign matter is detected only inside the inspected object W except for the clips S at both ends of the inspected object W during the process of determining the presence or absence of foreign matter in the inspected object W. It has become.

【0006】この不良品判定は、画像処理により実行さ
れる。画像処理部には、図示のように、被検査物Wの両
端位置を想定した座標軸位置に所定範囲のマスク領域M
を予め設定し、このマスク領域Mで検出されたクリップ
Sを異物として認識しないようにしている。
[0006] The defective product is determined by image processing. As shown in the figure, the image processing unit includes a mask area M of a predetermined range at a coordinate axis position assuming both end positions of the inspection object W.
Is set in advance, so that the clip S detected in the mask area M is not recognized as a foreign substance.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
不良品判定処理では、被検査物W内部の異物の有無を検
出できるが、被検査物Wに対するクリップSの付属の有
無を検出することができなかった。被検査物Wにクリッ
プSが付属していなければ、被検査物Wは不良品である
ことが明らかであるが、従来はこの不良品検出を行うこ
とができなかった。
However, in the conventional defective product determination process, it is possible to detect the presence / absence of foreign matter inside the inspection object W, but it is possible to detect the presence / absence of the clip S attached to the inspection object W. Did not. If the clip S is not attached to the inspection object W, it is clear that the inspection object W is a defective product, but conventionally, this defective product could not be detected.

【0008】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
のであり、異物として検出される留め具を備えた被検査
物の留め具の個数の異常と被検査物内部の異物検出を検
出でき不良品の検出精度を向上できるX線異物検出装置
及び該装置における不良品検出方法の提供を目的として
いる。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and can detect an abnormality in the number of fasteners of a test object having a fastener which is detected as a foreign substance and detection of a foreign substance inside the test object. An object of the present invention is to provide an X-ray foreign matter detection device capable of improving the detection accuracy of a defective product and a method of detecting a defective product in the device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のX線異物検出装置は、異物として検出され
る留め具(S)が設けられた被検査物(W)にX線を曝
射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過して
くるX線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検
出するX線異物検出装置(1)において、前記被検査物
の展開後の画像上で、各エリアがそれぞれ該被検査物の
留め具の位置を含む複数にエリア分割し、該分割された
各エリアで異物として検出されるべき留め具の個数を予
め設定した個数と比較して一致時にのみ被検査物が正常
であり、不一致時には留め具の個数が異常と判断する不
良判断部(17c)と、を備えたことを特徴とする。
In order to achieve the above-mentioned object, an X-ray foreign matter detection apparatus according to the present invention provides an X-ray inspection apparatus for detecting X-rays on a test object (W) provided with a fastener (S) which is detected as foreign matter. An X-ray foreign matter detection device (1) for detecting the presence or absence of a foreign matter in the inspection object from the amount of X-ray transmitted through the inspection object with the irradiation of the X-ray; On the developed image of the inspection object, each area is divided into a plurality of areas including the positions of the fasteners of the inspection object, and the number of fasteners to be detected as foreign matter in each of the divided areas. And a failure determination unit (17c) that determines that the inspected object is normal only when the numbers match, and that the number of fasteners is abnormal when the numbers do not match.

【0010】また、X線透過量に基づき前記被検査物の
展開後の画像上で該被検査物の留め具の位置に設けられ
異物検出の領域から外すためのマスク領域(M)を設定
するマスク領域設定部(17a)と、前記被検査物上で
マスク領域が設定された以外の領域における異物検出を
行うために被検査物のみを抽出画像として抽出する被検
査物画像抽出部(17b)とを備え、前記不良判断部
(17c)は、前記留め具の個数判断と個別に被検査物
(W)内部における異物混入の有無を検出するものであ
り、前記マスク領域を含まない抽出画像中に異物が検出
された場合、あるいは前記留め具の個数異常時のいずれ
かに基づき被検査物を不良品と判断する構成としても良
い。
Further, a mask area (M) which is provided at the position of the fastener of the inspection object and which is excluded from the foreign matter detection area is set on the developed image of the inspection object based on the X-ray transmission amount. A mask area setting unit (17a) and an inspection object image extraction unit (17b) for extracting only the inspection object as an extraction image in order to detect foreign matter in an area other than the mask area set on the inspection object The defect determination unit (17c) is for determining the number of the fasteners and individually detecting the presence or absence of foreign matter inside the inspection object (W). The inspection object may be determined to be defective based on the case where a foreign substance is detected on the surface or when the number of fasteners is abnormal.

【0011】また、前記被検査物(W)は、内容物が包
装体で包装され長さ方向の両端が留め具(S1,S2)
で止められた形状の略棒状体を有し、前記不良判断部
(17c)は、該被検査物の形状に対応して長さ方向で
2分割したエリア(E1,E2)を設定し、各エリアに
おける留め具の個数予め設定した個数と比較して一致時
にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個
数が異常と判断する構成にもできる。
The object to be inspected (W) is packaged in a package, and both ends in the longitudinal direction are fasteners (S1, S2).
The defect determination unit (17c) sets an area (E1, E2) that is divided into two in the length direction according to the shape of the inspection object. The number of fasteners in the area may be compared with a preset number to determine that the inspected object is normal only when they match, and that when the numbers do not match, the number of fasteners is abnormal.

【0012】また、前記不良判断部(17c)は、前記
各エリア(E1,E2)に隣接する外側の領域に補助エ
リア(E11,E21)を設定し、前記留め具(S)の
個数判断時に前記補助エリアにおける異物が検出された
場合においても留め具の個数が異常と判断する構成とし
ても良い。
The defect judging section (17c) sets auxiliary areas (E11, E21) in outer areas adjacent to the respective areas (E1, E2), and determines the number of the fasteners (S). The configuration may be such that the number of fasteners is determined to be abnormal even when a foreign object is detected in the auxiliary area.

【0013】本発明のX線異物検出方法は、異物として
検出される留め具(S)が設けられた被検査物(W)に
X線を曝射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を
透過してくるX線の透過量から前記被検査物中の異物の
有無を検出するX線異物検出方法において、前記被検査
物の展開後の画像上で各エリアがそれぞれ該被検査物の
留め具の位置を含む複数にエリア分割する段階と、該分
割された各エリアで異物として検出されるべき留め具の
個数を予め設定した個数と比較する段階と、比較結果の
一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め
具の個数が異常で被検査物が不良品と判断する段階とを
有することを特徴とする。
According to the X-ray foreign matter detection method of the present invention, an X-ray is irradiated onto an inspection object (W) provided with a fastener (S) which is detected as a foreign matter. In the X-ray foreign matter detection method for detecting the presence or absence of foreign matter in the inspection object from the transmission amount of X-rays transmitted through the inspection object, each area on the developed image of the inspection object is A step of dividing the area into a plurality of areas including the positions of the fasteners of the inspection object, a step of comparing the number of fasteners to be detected as foreign matter in each of the divided areas with a preset number, and matching the comparison results. The inspection object is normal only at the time, and when the number does not match, the number of fasteners is abnormal and the inspection object is determined to be defective.

【0014】上記構成によれば、被検査物Wの展開後の
画像を、被検査物Wの留め具Sの位置を含むように複数
のエリアE1,E2を分割する。分割された各エリアE
1,E2にはそれぞれ規定個数の留め具Sが設けられ、
異物として検出される。そして、実際に異物として検出
された留め具Sの個数を予めの設定個数と比較し、一致
時にのみ被検査物が正常と判断する。検出された異物の
個数が設定個数未満、あるいは越える個数等の不一致時
には、留め具の個数が異常と判断する。
According to the above configuration, the developed image of the inspection object W is divided into a plurality of areas E1 and E2 so as to include the position of the fastener S of the inspection object W. Each divided area E
1 and E2 are provided with a specified number of fasteners S, respectively.
Detected as foreign matter. Then, the number of the fasteners S actually detected as foreign matters is compared with a preset number, and only when the numbers match, the inspection object is determined to be normal. When the number of detected foreign objects does not match the set number, such as less than or more than the set number, it is determined that the number of fasteners is abnormal.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】図1はX線異物検出装置の外観を
示す斜視図である。X線異物検出装置1は、搬送ライン
の一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてく
る被検査物W中(表面も含む)に混入される異物の有無
を検出する。このX線異物検出装置1は、搬送部3と異
物検出部4とが装置本体1a内部に設けられ、表示器7
が装置本体1aの前面上部に設けられている。
FIG. 1 is a perspective view showing the external appearance of an X-ray foreign matter detecting device. The X-ray foreign matter detection device 1 is provided in a part of a transport line, and detects the presence or absence of foreign matter mixed in the inspection object W (including the surface) sequentially transported at a predetermined interval. In the X-ray foreign matter detection device 1, a transport unit 3 and a foreign matter detection unit 4 are provided inside a device main body 1a.
Is provided on the upper front surface of the apparatus main body 1a.

【0016】搬送部3は、例えば生肉、魚、加工食品、
医薬などの各品種の被検査物Wを搬送するもので、この
実施形態における被検査物Wは、ハム、ソーセージなど
であり、包装体(ビニールシート)の端部を留め具(ク
リップ)Sで止めることによって内容物の包装状態が維
持されるものを指す。以下、この実施形態では被検査物
Wが棒状のソーセージであり、X線を透過しない金属製
の留め具Sが両端部にそれぞれ1個ずつ(計2個)設け
られたものを例に説明する。このクリップSは、金属や
プラスチックからなり、通常のX線検出では異物として
検出される材質からなる。
The transport unit 3 includes, for example, raw meat, fish, processed food,
The test object W of each kind such as a medicine is transported. The test object W in this embodiment is a ham, a sausage, or the like, and the end of the package (vinyl sheet) is fastened with a fastener (clip) S. Stopping means that the packaged state of the contents is maintained. Hereinafter, in this embodiment, an example in which the inspection object W is a bar-shaped sausage and one metal fastener S that does not transmit X-rays is provided at each end (two in total) will be described. . The clip S is made of metal or plastic, and is made of a material that is detected as a foreign substance in normal X-ray detection.

【0017】搬送部3は、装置本体1aに対して水平に
配置されたベルトコンベアで構成される。搬送部3は、
駆動モータ6の駆動により予め設定された所定の搬送速
度で搬入口3aから搬入された被検査物Wを搬出口3b
側(図中搬送方向X)に向けて搬送させる。この際、被
検査物Wは、長さ方向が搬送方向Xと一致するように搬
送される。即ち、搬送方向の前後にクリップSが位置す
るよう搬送される。
The transport section 3 is composed of a belt conveyor arranged horizontally with respect to the apparatus main body 1a. The transport unit 3
The inspection object W carried in from the carry-in port 3a at a predetermined transfer speed set in advance by the drive of the drive motor 6 is transferred to the carry-out port 3b.
(The transport direction X in the figure). At this time, the inspection object W is transported such that the length direction coincides with the transport direction X. That is, the clip S is transported so as to be positioned before and after in the transport direction.

【0018】異物検出部4は、搬送される被検査物Wを
搬送路途中において異物を検出するもので、搬送部3の
上方に所定高さ離れて設けられるX線発生器8と、搬送
部3内にX線発生器8と対向して設けられるX線検出器
9を備えて構成される。
The foreign matter detector 4 detects foreign matter along the transport path of the inspection object W to be transported, and includes an X-ray generator 8 provided at a predetermined height above the transporter 3 and a transporter. 3 is provided with an X-ray detector 9 provided opposite to the X-ray generator 8.

【0019】X線発生器8は、金属製の箱体11内部に
設けられる円筒状のX線管12を不図示の絶縁油により
浸漬した構成であり、X線管12の陰極からの電子ビー
ムを陽極ターゲットに照射させてX線を生成している。
X線管12は、その長手方向が被検査物Wの搬送方向X
と直交する方向(Y方向)に設けられている。X線管1
2により生成されたX線は、下方のX線検出器9に向け
て、長手方向に沿った不図示のスリットにより略三角形
状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
The X-ray generator 8 has a configuration in which a cylindrical X-ray tube 12 provided inside a metal box 11 is immersed in insulating oil (not shown). Is irradiated on the anode target to generate X-rays.
The longitudinal direction of the X-ray tube 12 is the transport direction X of the inspection object W.
It is provided in a direction (Y direction) orthogonal to. X-ray tube 1
The X-rays generated by 2 are emitted toward a lower X-ray detector 9 in a substantially triangular screen shape by slits (not shown) along the longitudinal direction.

【0020】X線検出器9は、被検査物Wに対してX線
が曝射されたときに、被検査物Wを透過してくるX線を
検出し、この検出したX線の透過量に応じた電気信号を
出力している。このX線検出器9は、搬送部3上を搬送
される被検査物Wの搬送方向Xと直交するY方向に沿っ
て設けられる。このX線検出器9には、ライン状に配列
された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上
に設けられたシンチレータとを備えたアレイ状のライン
センサが用いられる。
The X-ray detector 9 detects X-rays transmitted through the inspection object W when the inspection object W is irradiated with the X-rays, and detects the transmitted amount of the detected X-rays. Output an electrical signal corresponding to. The X-ray detector 9 is provided along a Y direction orthogonal to the transport direction X of the inspection object W transported on the transport unit 3. As the X-ray detector 9, an array-type line sensor including a plurality of photodiodes arranged in a line and a scintillator provided on the photodiodes is used.

【0021】このような構成によるX線検出器9では、
被検査物Wに対してX線発生器8からX線が曝射された
ときに、被検査物Wを透過してくるX線をシンチレータ
で受けて光に変換する。さらにシンチレータで変換され
た光は、その下部に配置されるフォトダイオードによっ
て受光される。そして、各フォトダイオードは、受光し
た光を電気信号に変換して出力する。このX線検出器9
は、受けたX線の強さに対応したレベルを有した電気信
号を処理手段13に出力する。
In the X-ray detector 9 having such a configuration,
When an X-ray is emitted from the X-ray generator 8 to the inspection object W, the X-ray transmitted through the inspection object W is received by a scintillator and converted into light. Further, the light converted by the scintillator is received by a photodiode disposed below the scintillator. Each photodiode converts the received light into an electric signal and outputs the electric signal. This X-ray detector 9
Outputs to the processing means 13 an electric signal having a level corresponding to the intensity of the received X-ray.

【0022】図2は、同装置の電気的構成を示すブロッ
ク図である。処理手段13は、CPU等及びメモリ等で
構成され、X線検出器9からX線透過のデータが入力さ
れる。このX線透過のデータは図示しないA/D変換部
でA/D変換された後、データメモリ14に格納され
る。データメモリ14には、1ライン(Y方向)あたり
上記640個のX線透過のデータが、少なくとも搬送さ
れる被検査物Wの搬送方向Xの長さ(前端Wa〜後端W
bまでの検出期間)に対応した所定ライン数(例えば4
80ライン)が格納される。処理手段13は、このデー
タに基づき被検査物Wに対する異物混入を検査処理す
る。
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of the apparatus. The processing means 13 includes a CPU and the like, a memory and the like, and receives X-ray transmission data from the X-ray detector 9. The X-ray transmission data is A / D converted by an A / D converter (not shown), and then stored in the data memory 14. The data memory 14 stores at least the 640 pieces of X-ray transmission data per line (Y direction) in the transport direction X of the inspection object W to be transported (front end Wa to rear end W).
b corresponding to a predetermined number of lines (for example, 4
80 lines). The processing unit 13 performs an inspection process on the inspection object W for foreign matter contamination based on the data.

【0023】搬送部3には被検査物Wを検出する投受光
センサ等の位置検出器10が設けられる。処理手段13
は、この位置検出器10の出力を受けて被検査物Wの先
端が投受光位置を遮蔽した時期の出力を開始トリガとし
て用い、遮蔽している期間が被検査物Wの長さ(検出期
間)であると判断し、データメモリ14に各被検査物W
単位のX線透過のデータを取り込むようになっている。
The transport unit 3 is provided with a position detector 10 such as a light emitting / receiving sensor for detecting the inspection object W. Processing means 13
Receives the output of the position detector 10 and uses the output at the time when the tip of the inspection object W shields the light emitting and receiving position as a start trigger, and the shielding period is the length of the inspection object W (the detection period). ), And stores each inspection object W in the data memory 14.
X-ray transmission data of a unit is taken in.

【0024】検査処理内容としては、被検査物Wを透過
したX線の透過レベルに応じた電気信号に基づいて被検
査物W中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入され
ているか否かの判定を行う。基本原理としては、異物に
よりX線が透過しない状態が生じた場合、即ち、X線透
過量の値が低い場合に異物混入と判定し選別信号等を外
部出力する。また、入力データを直接画像展開した画像
データを画像処理部16を介して表示器7の表示部15
に出力する。
Inspection processing is performed by checking whether foreign matter such as metal, glass, stone, bone, etc. is mixed in the inspection object W based on an electric signal corresponding to the transmission level of the X-ray transmitted through the inspection object W. It determines whether or not. As a basic principle, when a state in which X-rays are not transmitted due to foreign matter occurs, that is, when the value of the amount of X-ray transmission is low, it is determined that foreign matter is mixed, and a selection signal or the like is output to the outside. The image data obtained by directly developing the input data into an image is displayed on the display unit 15 of the display 7 via the image processing unit 16.
Output to

【0025】この処理手段13は、上記異物混入による
不良品判定処理時に、被検査物Wに取り付けられたクリ
ップSを異物として誤認識しないよう画像処理部16の
画像処理により判断するようになっている。不良検出部
17は、クリップSを異物として検出せず、且つ、被検
査物WにクリップSが規定個数取り付けられているか否
かの不良品を判定する。この不良検出部17は、画像処
理部16における画像処理に関する1機能である。
The processing means 13 performs image processing by the image processing section 16 so as to prevent the clip S attached to the inspection object W from being erroneously recognized as a foreign substance at the time of the above-described defective product determining processing due to the inclusion of the foreign substance. I have. The defect detection unit 17 does not detect the clip S as a foreign substance and determines whether or not the specified number of clips S are attached to the inspection object W. The defect detection unit 17 is one function related to image processing in the image processing unit 16.

【0026】この不良検出部17は、マスク領域設定部
17a、被検査物抽出部17b、不良判断部17cを有
する。マスク領域設定部17aには、被検査物WのX線
透過画像上におけるクリップSの座標軸位置に所定の範
囲を有するマスク領域Mを設定する。
The failure detecting section 17 has a mask area setting section 17a, an inspection object extracting section 17b, and a failure determining section 17c. In the mask area setting unit 17a, a mask area M having a predetermined range at the coordinate axis position of the clip S on the X-ray transmission image of the inspection object W is set.

【0027】図3は、マスク領域Mを示す図である。図
示のように、マスク領域Mは、被検査物Wを基準として
この被検査物Wの所定の座標軸位置上に所定の範囲を有
して設定される。被検査物Wは、搬送部3の搬送時に先
端が位置検出器10を遮った開始トリガの信号入力時期
を基準位置RFとして画像展開される。マスク領域Mに
ついても、この被検査物WのX線透過画像の基準位置R
Fを基準としており、開始トリガの信号入力に同期して
設定された座標軸位置x1、y1位置と、x2,y2位
置上にそれぞれ所定範囲xL,yLを有して設定され
る。設定されたマスク領域Mは、所定画素数(ドット
数)nを有する。
FIG. 3 is a diagram showing the mask area M. As shown in the drawing, the mask area M is set with a predetermined range on a predetermined coordinate axis position of the inspection object W with respect to the inspection object W. The inspection object W is image-developed with the signal input timing of the start trigger whose leading end blocks the position detector 10 during the transport of the transport unit 3 as the reference position RF. Also for the mask area M, the reference position R of the X-ray transmission image of the inspection object W
F is set as a reference, and is set to have predetermined ranges xL, yL on the coordinate axis positions x1, y1 and x2, y2, respectively, which are set in synchronization with the start trigger signal input. The set mask area M has a predetermined number of pixels (number of dots) n.

【0028】被検査物抽出部17bは、被検査物W内部
の異物判定用としてマスク領域Mを除く被検査物WのX
線透過画像を抽出画像Aとして抽出する。異物であるク
リップSは、マスク領域Mに位置しており、この抽出画
像AにクリップSは含まれない。これにより抽出画像A
におけるX線透過量に基づく上記処理により、収容物で
あるソーセージ内部のみの異物検出を行える。なお、詳
細には図示しないが、表示部15等に表示される画像展
開後のX線透過画像は、X線透過量に合わせて表示濃度
が異なる。また、後述するクリップSの個数検出用にマ
スク処理前の元の展開画像を不良判断部17cに出力す
る。
The inspected object extraction unit 17b determines the X of the inspected object W excluding the mask area M for determining foreign matter inside the inspected object W.
A line transmission image is extracted as an extraction image A. The clip S, which is a foreign substance, is located in the mask area M, and the extracted image A does not include the clip S. Thus, the extracted image A
By the above-described processing based on the amount of X-ray transmission in, it is possible to detect a foreign substance only inside the sausage which is a contained object. Although not shown in detail, the developed X-ray transmission image displayed on the display unit 15 or the like has a different display density according to the amount of X-ray transmission. Further, the original developed image before the mask processing is output to the defect determining unit 17c for detecting the number of clips S described later.

【0029】不良判断部17cには、予めの設定値とし
て、被検査物Wの長さLと、予め定めたクリップSの数
nが設定記憶されている。そして、被検査物WのX線透
過量に基づき、クリップSの数nがこの規定個数有るか
否かで不良品判別する。
The defect determining unit 17c stores, as preset values, a length L of the inspection object W and a predetermined number n of clips S. Then, based on the amount of X-ray transmission of the inspection object W, a defective product is determined based on whether or not the number n of the clips S is the specified number.

【0030】図4は、クリップ検出時の処理内容を説明
するための図である。具体的には、図示のように、被検
査物Wの長さLを2等分した長さL/2を求め、被検査
物Wの画像をこの2分割した中心からL/2をやや越え
る範囲(前方エリアE1、後方エリアE2)の画像上で
のクリップSの個数(即ち、異物に相当する低いX線透
過量が得られた箇所の数)を走査しながらカウントす
る。前方エリアE1、後方エリアE2は、それぞれ被検
査物Wの中心からL/2を越えた範囲が補助エリアE1
1、E21として設定されている。
FIG. 4 is a diagram for explaining the processing contents when a clip is detected. More specifically, as shown in the drawing, a length L / 2 obtained by dividing the length L of the inspection object W into two equal parts is obtained, and the image of the inspection object W slightly exceeds L / 2 from the center of the two divisions. Counting is performed while scanning the number of clips S (that is, the number of locations where a low X-ray transmission amount corresponding to foreign matter is obtained) on the images in the range (front area E1, rear area E2). Each of the front area E1 and the rear area E2 has a range exceeding L / 2 from the center of the object W to be inspected.
1, E21.

【0031】カウントしたクリップ数が規定個数n有れ
ば正常、規定個数nに満たないかあるいは多い場合に不
良と判断する。上記ソーセージの例では2分割状態の各
画面上でクリップS1、S2が1個づつ検出されたとき
にのみ正常であると判断する。
If the counted number of clips is the specified number n, it is determined to be normal, and if the counted number is less than or larger than the specified number n, it is determined to be defective. In the example of the sausage, it is determined that the image is normal only when the clips S1 and S2 are detected one by one on each of the two divided screens.

【0032】次に、上記構成によるX線異物検出動作に
ついて説明する。上記のように構成されるX線異物検出
装置1では、被検査物Wが搬送部3の搬入口3aより搬
入されると、その搬送過程において被検査物WにX線発
生器8からX線が曝射される。このX線の曝射に伴って
被検査物Wを透過してくるX線はX線検出器9によって
検出される。
Next, the X-ray foreign substance detecting operation according to the above configuration will be described. In the X-ray foreign matter detection device 1 configured as described above, when the inspection object W is carried in from the carry-in entrance 3a of the transport unit 3, the X-ray generator 8 sends the inspection object W to the inspection object W in the transportation process. Is exposed. X-rays that pass through the inspection object W with the X-ray exposure are detected by the X-ray detector 9.

【0033】そして、処理手段13は、X線検出器9に
よって検出されたX線の透過量に応じた電気信号に基づ
いて被検査物W中に異物が混入している否かを判定し、
この判定結果から良品又は不良品を示す選別信号などを
外部出力する。具体的には、クリップSが存在するマス
ク領域Mを除いて範囲における被検査物WのX線透過量
が異物検出用として設定した閾値以下である場合に、異
物混入であると判断する。そして、上記検査を終えた被
検査物Wは、処理手段13から出力される選別信号に応
じて良品と不良品とに選別される。
Then, the processing means 13 determines whether or not foreign matter has entered the inspection object W based on the electric signal corresponding to the amount of transmission of the X-rays detected by the X-ray detector 9,
From this determination result, a selection signal indicating a non-defective or defective product is output to the outside. Specifically, when the X-ray transmission amount of the inspection object W in the range excluding the mask region M where the clip S exists is equal to or less than the threshold set for detecting foreign matter, it is determined that foreign matter has been mixed. Then, the inspection object W that has completed the inspection is sorted into non-defective products and defective products according to the sorting signal output from the processing unit 13.

【0034】また、処理手段13の画像処理部16は、
X線検出器9が出力したX線透過量を示す画像データを
表示部15に表示出力する。被検査物Wの平面で見た外
形の状態と、この被検査物W内でのX線の透過具合を確
認することができ、異物部分の表示濃度が他と異なり
(濃く、あるいは周囲と他の色)で表示でき異物の混入
位置を把握できるようになる。また、「OK」,「N
G」の良否判定結果や、総検査数、良品数、NG総数の
検査結果を表示する。
The image processing section 16 of the processing means 13
Image data indicating the amount of X-ray transmission output from the X-ray detector 9 is displayed and output on the display unit 15. It is possible to confirm the state of the external shape of the inspected object W as viewed on a plane and the degree of transmission of X-rays within the inspected object W, and the display density of the foreign matter portion differs from the others (higher or different from the surroundings). ) Can be displayed. "OK", "N
G ”, and the inspection results of the total number of inspections, the number of non-defective products, and the total number of NGs are displayed.

【0035】ここで、処理手段13は、このデータメモ
リ14に格納したデータを基準値と比較し、基準値を超
えたデータがいずれか1つのラインに含まれている場合
にNGと判断する。厳密には、基準値よりX線透過量が
低い場合(異物によりX線が透過しない場合)にNGで
あると判断し、基準値よりX線透過量が高い場合にOK
であると判断して、「NG」、あるいは「OK」の表示
を行う。
Here, the processing means 13 compares the data stored in the data memory 14 with a reference value, and determines that the data exceeding the reference value is NG if any one of the lines includes the data. Strictly, when the X-ray transmission amount is lower than the reference value (when X-rays are not transmitted due to foreign matter), it is determined to be NG, and when the X-ray transmission amount is higher than the reference value, OK is determined.
Is determined, "NG" or "OK" is displayed.

【0036】次に、上記構成における不良品検出動作
(クリップの個数検出)について説明する。図5は、こ
の不良品検出処理を示すフローチャートである。上記異
物混入の検出動作の前段階、あるいは異物検出動作と並
行して不良判断部17cは被検査物WにクリップSが規
定個数付属しているか否かの不良品検出を行う。処理手
段13は、被検査物W内部の異物混入の有無、及びこの
クリップSの規定個数の一致検出に基づき、最終的な不
良品判断を行う。
Next, the operation of detecting a defective product (detection of the number of clips) in the above configuration will be described. FIG. 5 is a flowchart showing the defective product detection processing. Prior to the foreign matter detection operation, or in parallel with the foreign matter detection operation, the defect determination unit 17c detects a defective product as to whether the inspection object W has a specified number of clips S attached thereto. The processing unit 13 makes a final defective determination based on the presence or absence of foreign matter in the inspection object W and the detection of coincidence of the specified number of clips S.

【0037】不良判断部17cには、上記の設定値とし
て被検査物Wの長さL、クリップSの数nが設定されて
いる(S1)。ソーセージの場合n=1として設定され
る(前方及び後方に1個ずつの意)。上記のように、画
像処理部16は、X線検出部9から出力されるX線透過
データは被検査物のX線透過画像として画像展開してお
り、不良判断部17cはこの画像を取り込む(S2)。
そして、取り込んだ被検査物Wの展開画像に基づき、ク
リップ認識処理を行う(S3)。
The length L of the inspection object W and the number n of the clips S are set as the above set values in the defect judging section 17c (S1). In the case of sausage, it is set as n = 1 (one for forward and backward). As described above, the image processing unit 16 develops the X-ray transmission data output from the X-ray detection unit 9 as an X-ray transmission image of the inspection object, and the defect determination unit 17c captures this image ( S2).
Then, a clip recognition process is performed based on the captured developed image of the inspection object W (S3).

【0038】先ず、展開された被検査物Wの画像を長さ
Lに基づき、画像領域を搬送方向に沿って前後に2分割
する。この際、基準位置RFを基準として搬送方向の前
方L/2をやや越える範囲までを前方エリア、それ以降
L/2をやや越える範囲までを後方エリアとして個別に
クリップ認識する。なお、基準位置RFは、前述した如
く位置検出器10が被検査物Wの先頭位置を検出した時
期であり、X線透過画像における被検査物Wの先頭(一
端)の位置に相当する。
First, based on the length L, the developed image of the inspection object W is divided into two front and rear portions along the transport direction. At this time, the clip is individually recognized as a front area up to a range slightly beyond L / 2 in the transport direction based on the reference position RF as a front area, and a rear area up to a range slightly beyond L / 2 thereafter. The reference position RF is the time when the position detector 10 detects the head position of the inspection object W as described above, and corresponds to the position of the head (one end) of the inspection object W in the X-ray transmission image.

【0039】次に、不良判断部17cは、位置判定して
これら2つの前後エリアE1,E2におけるクリップS
の個数をそれぞれ検出する(S4)。まず、前方エリア
E1を指定して処理実行する(S4−前方エリア)。こ
の前方エリアE1の範囲内においてクリップSのX線透
過レベルに相当する箇所の個数をカウントする(S
5)。ここでクリップSは金属製であるため、異物検出
に相当するレベルがクリップSであるとして検出される
ことになる。具体的には、展開画像を走査していき、異
物検出レベルに相当する(X線透過量が少ない)1つの
まとまった画素が、前方エリアE1における1個のクリ
ップS1として判断しカウント数を1増加させる。
Next, the defect judging section 17c judges the position and determines whether or not the clip S in these two front and rear areas E1 and E2.
Are detected (S4). First, the process is executed by designating the front area E1 (S4-front area). The number of locations corresponding to the X-ray transmission level of the clip S in the range of the front area E1 is counted (S
5). Here, since the clip S is made of metal, a level corresponding to foreign matter detection is detected as the clip S. More specifically, the developed image is scanned, and a group of pixels corresponding to the foreign matter detection level (the amount of X-ray transmission is small) is determined as one clip S1 in the front area E1, and the count is 1 increase.

【0040】次に、この前方エリアE1でのカウント数
がクリップ数nに一致しているか否かを判断する(S
7)。フローチャート上では、S5終了後S2に移行し
て後方エリアで同様の処理を実行する構成として記載し
てある。位置判定(S4)では、前方エリアE1終了に
よって後方エリアE2(S4ー後方エリア)側に分岐
し、前方エリアE1での検出処理終了によって(S6−
Yes)、前方判定を行う(S7)。この前方判定にお
いては、設定したクリップ数n=1であるから、前方エ
リアE1でのカウント数がこのn=1に一致すれば前方
エリアE2でのクリップSの個数が規定個数であり正常
と判断する。したがって、カウント数が0、あるいは2
以上である場合には、クリップSの個数が異常であると
判断する。
Next, it is determined whether or not the count number in the front area E1 matches the clip number n (S).
7). In the flowchart, it is described that the process proceeds to S2 after the end of S5 and the same processing is executed in the rear area. In the position determination (S4), the vehicle branches to the rear area E2 (S4-rear area) by ending the front area E1, and (S6--) by ending the detection processing in the front area E1.
Yes), a forward determination is made (S7). In this forward determination, since the set number of clips n = 1, if the count number in the front area E1 matches this n = 1, the number of clips S in the front area E2 is the specified number and is determined to be normal. I do. Therefore, the count number is 0 or 2
In the case above, it is determined that the number of clips S is abnormal.

【0041】この後、後方エリアE2においても前方エ
リアE1での処理と同様にクリップSの個数をカウント
し(S8)、位置判定で前後終了後に(S4−前後終
了)、後方エリアE2でのカウント数がクリップ数nに
一致しているか否かを判断し(S9)、終了する。
Thereafter, also in the rear area E2, the number of clips S is counted in the same manner as in the processing in the front area E1 (S8). It is determined whether or not the number matches the number of clips n (S9), and the process ends.

【0042】図6は、各種状態の被検査物Wを示す図で
ある。図6(a)に示す如く、被検査物Wの前後のエリ
アE1,E2でそれぞれ1個ずつクリップSが検出され
れば、この被検査物Wにおけるクリップ数が正常である
と判断する。即ち、S7,S9の各処理で正常判断さ
れ、クリップSの個数に関する不良は無しとして処理手
段13に出力される。なお、処理手段13は、上記マス
ク領域Mを用いた被検査物W内での異物混入の有無とこ
のクリップSの数の結果を総合して不良品判別する。上
記のようにクリップ数Sが正常である場合、異物混入が
なければ正常品と判断出力する。
FIG. 6 is a view showing the inspection object W in various states. As shown in FIG. 6A, if one clip S is detected in each of the areas E1 and E2 before and after the inspection object W, it is determined that the number of clips in the inspection object W is normal. That is, normality is determined in each of the processes S7 and S9, and is output to the processing unit 13 as there is no defect regarding the number of clips S. The processing means 13 determines a defective product based on the result of the presence / absence of foreign matter in the inspection object W using the mask area M and the number of the clips S. As described above, if the number of clips S is normal, if there is no foreign substance, it is determined and output as a normal product.

【0043】一方、図6(b)〜(g)はいずれも被検
査物Wを不良品として判断する。図6(b)に示す状態
では、前方エリアE1でのクリップSの数が0であるた
め、設定値n=1と一致せず不良品と判断する。この場
合、被検査物Wの前方のクリップSが欠損していると判
断出力することができる。ソーセージの場合、一方のク
リップSが欠損していれば不良品であることは明らかで
ある。
On the other hand, in FIGS. 6B to 6G, the inspected object W is determined to be defective. In the state shown in FIG. 6B, since the number of clips S in the front area E1 is 0, it does not match the set value n = 1 and is determined to be defective. In this case, it is possible to determine and output that the clip S in front of the inspection object W is missing. In the case of sausage, if one of the clips S is missing, it is obvious that the clip is defective.

【0044】図6(c)に示す状態では、後方エリアE
2でのクリップSの数が0であるため、設定値n=1と
一致せず不良品と判断する。この場合、被検査物Wの後
方のクリップSが欠損していると判断出力することがで
きる。
In the state shown in FIG. 6C, the rear area E
Since the number of clips S at 2 is 0, it does not match the set value n = 1 and is determined to be defective. In this case, it is possible to determine and output that the clip S behind the inspection object W is missing.

【0045】図6(d)に示す状態では、前方エリアE
1でのクリップSの数が1であり、設定値n=1と一致
して前方エリアE1は正常と判断する。しかし、後方エ
リアE2でのクリップSの数が2であるため、補助エリ
アE21での検出状態を判断する。この補助エリアE2
1でクリップS3が検出されたときには、不良品と判断
する。この状態は、被検査物W自体には前後に1個ずつ
クリップS1,S2が取り付けられているものの、切断
状態の部分的な他の不良被検査物WnのクリップS3が
補助エリアE21で検出されたことに基づく。この不良
非検査物Wnは製造工程時の不良品として生じることが
あり、この不良品を検出できるようになる。
In the state shown in FIG. 6D, the front area E
The number of clips S at 1 is 1, and it matches the set value n = 1, so that the front area E1 is determined to be normal. However, since the number of clips S in the rear area E2 is 2, the detection state in the auxiliary area E21 is determined. This auxiliary area E2
When the clip S3 is detected in step 1, it is determined to be defective. In this state, although the clips S1 and S2 are attached one by one to the front and back of the inspection object W itself, the clip S3 of another defective inspection object Wn in a cut state is detected in the auxiliary area E21. Based on that. The defective non-inspection object Wn may occur as a defective product in a manufacturing process, and this defective product can be detected.

【0046】図6(e)に示す状態では、前方エリアE
1でのクリップSの数が1であり、設定値n=1と一致
して前方エリアE1は正常と判断する。また、後方エリ
アE2でのクリップSの数が1である。しかし、被検査
物Wの長さに基づくL/2の範囲の中でのクリップS2
が検出されず0である。また、補助エリアE21におい
てクリップS3が1個検出されている。この状態は、被
検査物W自体には前方にのみ1個のクリップS1が取り
付けられているが、後方のクリップS2がなく、さら
に、切断状態の部分的な他の不良被検査物Wnが同時検
出された場合に起こり得る。
In the state shown in FIG.
The number of clips S at 1 is 1, and it matches the set value n = 1, so that the front area E1 is determined to be normal. The number of clips S in the rear area E2 is one. However, the clip S2 within the range of L / 2 based on the length of the inspection object W
Is not detected and is 0. Also, one clip S3 is detected in the auxiliary area E21. In this state, although one clip S1 is attached only to the front of the inspection object W itself, there is no rear clip S2, and further, another defective inspection object Wn in the cut state is simultaneously detected. It can happen if detected.

【0047】図6(f)に示す状態では、前方エリアE
1でのクリップSの数が2であり、また、後方エリアE
2におけるクリップS2が検出されず、いずれも設定値
n=1と一致しない。前方エリアE1でクリップSの個
数が2であるため、補助エリアE11での検出状態を判
断する。この補助エリアE11でクリップS0が検出さ
れたときには、不良品と判断する。
In the state shown in FIG.
1, the number of clips S is 2, and the rear area E
2, no clip S2 is detected, and none of them matches the set value n = 1. Since the number of clips S is 2 in the front area E1, the detection state in the auxiliary area E11 is determined. When the clip S0 is detected in the auxiliary area E11, it is determined that the clip is defective.

【0048】図6(g)に示す状態では、後方エリアE
2におけるクリップS2の数が1であるが、前方エリア
E1でのクリップSの数が2であり、設定値n=1と一
致しない。前方エリアE1でクリップSの個数が2であ
るため、補助エリアE11での検出状態を判断する。こ
の補助エリアE11でクリップS0が検出されたときに
は、不良品と判断する。
In the state shown in FIG. 6G, the rear area E
Although the number of clips S2 in 2 is 1, the number of clips S in the front area E1 is 2 and does not match the set value n = 1. Since the number of clips S is 2 in the front area E1, the detection state in the auxiliary area E11 is determined. When the clip S0 is detected in the auxiliary area E11, it is determined that the clip is defective.

【0049】上記の各例の如く、単一個の被検査物Wの
クリップSの個数に限らず、クリップSの綴じ不良等に
基づき、目標とする被検査物Wの至近で他のクリップS
(S0,S3)を検出した場合にも製造工程等での何ら
かの不良と判断する。これにより、厳密な不良品検査が
行え、正常品として判断された被検査物Wの信頼性を向
上できるようになる。
As in the above examples, the number of clips S on a single inspection object W is not limited to the number of clips S, and other clips S near the target inspection object W may be determined based on the binding failure of the clip S or the like.
Even when (S0, S3) is detected, it is determined that there is some defect in the manufacturing process or the like. Accordingly, a strict defective product inspection can be performed, and the reliability of the inspection object W determined as a normal product can be improved.

【0050】なお、上記設定では、1個の被検査物Wあ
たり両側部に1個ずつクリップSが設けられた品種(ソ
ーセージ)の例を用いて説明したが、1個の被検査物W
あたり両側部に2個以上のクリップSが設けられた品種
の場合であっても、被検査物Wの長さを考慮して判断す
る構成であるため、上記同様に各状態の不良品を正確に
判別できる。
In the above setting, the description has been made using an example of a kind (sausage) in which one clip S is provided on each side of one inspection object W, but one inspection object W
Even in the case of a type having two or more clips S provided on both sides thereof, the determination is made in consideration of the length of the inspection object W, so that defective products in each state can be accurately determined in the same manner as described above. Can be determined.

【0051】上記記実施形態では、被検査物Wの搬送方
向の先端位置を位置検出器10で検出して基準位置RF
を得る構成とした。これに限らず、画像処理部16での
画像処理の走査時にX線透過量の変化に基づき、被検査
物Wの先端位置を検出して基準位置RFを設定しても良
い。この先端位置にはクリップSが設けられており、前
後のX線透過量と大幅に異なる為容易にこのクリップS
を検出できる。この場合、位置検出器10は不要であ
る。
In the above embodiment, the position of the tip end of the inspection object W in the transport direction is detected by the position detector 10 and the reference position RF is detected.
Was obtained. However, the present invention is not limited thereto, and the reference position RF may be set by detecting the leading end position of the inspection object W based on a change in the amount of X-ray transmission during image processing scanning by the image processing unit 16. A clip S is provided at this tip position, and since the amount of X-ray transmission before and after is significantly different, the clip S
Can be detected. In this case, the position detector 10 is unnecessary.

【0052】次に、図7は、他の品種例を示す図であ
る。図示の被検査物Wは上記ソーセージが複数本(図示
の例では4本)を単位としてさらに1つの包装体Tによ
って包装されたものである。このような被検査物Wの場
合には、異物検出用のマスク領域Mは包装体T内での各
被検査物WのクリップSの配置位置に対応して個別に複
数のマスク領域Mを設定すればよく、上記同様に異物検
出できるようになる。なお、包装体T内部において各被
検査物Wが搬送方向前後に移動(位置ズレ)する余裕が
有る場合には、予めこの余裕量に対応して搬送方向に沿
ってマスク領域Mを増大させてもよい。
Next, FIG. 7 is a diagram showing another example of a product type. The inspection object W shown in the figure is a package in which the above-mentioned sausage is further packaged in a single package T in units of a plurality (four in the example shown). In the case of such an inspection object W, a plurality of mask regions M are individually set in the mask region M for detecting foreign matter in accordance with the arrangement position of the clips S of each inspection object W in the package T. Then, foreign substances can be detected in the same manner as described above. If there is room for each inspection object W to move back and forth (shift) in the transport direction inside the package T, the mask area M is increased along the transport direction in advance corresponding to this margin. Is also good.

【0053】一方、クリップSの個数検出についても同
様であり、図示の如く、包装体Tの長さを基準としてこ
れを前後に2分割したエリアでそれぞれ不良品検出すれ
ばよい。図示の例ではクリップ数n=4であり、前方エ
リアE1、後方エリアE2でそれぞれ4個ずつクリップ
Sが検出されれば正常であり、いずれかでも4個未満、
あるいは5個以上検出されたときに、この包装体Tの品
(被検査物W)が不良品であると判断する。
On the other hand, the same applies to the detection of the number of clips S. As shown in the figure, defective products may be detected in the area divided into two parts before and after the length of the package T. In the illustrated example, the number of clips is n = 4. If four clips S are detected in each of the front area E1 and the rear area E2, it is normal.
Alternatively, when five or more pieces are detected, it is determined that the product (inspection object W) of the package T is defective.

【0054】また、図8は、上記説明した被検査物W
(ソーセージ)の搬送方向が異なる状態を示す図であ
る。図示のように、搬送方向Xに対して直交するよう被
検査物Wが搬送される場合がある。この場合、各被検査
物Wの基準位置RFは位置検出器10で被検査物Wの側
部を基準に検出する構成とする他、画像処理部16で取
り込んだ展開画像を元に上記同様に一方のクリップSに
基準位置RFを設定し、異物検出用のマスク位置M、ク
リップ個数検出用の長さL及びエリアE1,E2を設定
することもできる。便宜的に説明すれば、展開画像を9
0度回転させ上記同様の処理を行うのと同等である。
FIG. 8 shows the inspection object W described above.
It is a figure showing the state where the conveyance direction of (sausage) differs. As illustrated, the inspection object W may be transported so as to be orthogonal to the transport direction X. In this case, the reference position RF of each inspection object W is detected by the position detector 10 based on the side portion of the inspection object W, and the same as described above based on the developed image captured by the image processing unit 16. The reference position RF can be set for one of the clips S, and the mask position M for detecting foreign matter, the length L for detecting the number of clips, and the areas E1 and E2 can also be set. For convenience, the developed image is 9
It is the same as rotating by 0 degrees and performing the same processing as above.

【0055】[0055]

【発明の効果】本発明によれば、異物として検出される
留め具を有する被検査物であっても、留め具の個数を正
確に検出でき、被検査物の不良品検出の信頼性を向上で
きる。また、マスク領域を設定して被検査物の留め具以
外の部分での異物検出が可能であり、この異物検出と、
上記留め具個数の個数判断によって被検査物の不良品を
より正確に検出できるようになる。このような留め具を
用いたハム、ソーセージ等の品種は、留め具の個数が異
常であると包装状態が不良なことが明らかで不良品とし
て出荷できないため、本発明により不良品検出精度の向
上によって生産効率を向上できる効果が得られるように
なる。
According to the present invention, the number of fasteners can be accurately detected even for a test object having a fastener which is detected as a foreign substance, and the reliability of defective product detection of the test object is improved. it can. In addition, it is possible to set a mask area to detect foreign matter in a portion other than the fastener of the inspection object.
By determining the number of the fasteners, a defective product to be inspected can be detected more accurately. Varieties of ham, sausage, and the like using such fasteners are not able to be shipped as defective because the number of fasteners is abnormal and the packaging state is obviously poor. As a result, the effect of improving the production efficiency can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるX線異物検出装置の外観を示す斜
視図。
FIG. 1 is a perspective view showing an external appearance of an X-ray foreign matter detection device according to the present invention.

【図2】本発明によるX線異物検出装置の電気的構成を
示すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of the X-ray foreign matter detection device according to the present invention.

【図3】マスク領域を示す図。FIG. 3 is a view showing a mask region.

【図4】クリップ認識用のエリアを示す図。FIG. 4 is a diagram showing an area for clip recognition.

【図5】不良品検出処理を示すフローチャート。FIG. 5 is a flowchart showing a defective product detection process.

【図6】被検査物の各種状態を示す図。FIG. 6 is a view showing various states of an inspection object.

【図7】被検査物の他の包装形態を示す図。FIG. 7 is a diagram showing another packaging form of the inspection object.

【図8】被検査物の他の検出状態を示す図。FIG. 8 is a diagram showing another detection state of the inspection object.

【図9】X線異物検出装置の構成を示す斜視図。FIG. 9 is a perspective view showing a configuration of an X-ray foreign matter detection device.

【図10】クリップが設けられた被検査物を示す図。FIG. 10 is a diagram showing an inspection object provided with a clip.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…X線異物検出装置、3…搬送部、8…X線発生器、
9…X線検出部、13…処理手段、16…画像処理部、
17…不良検出部、17a…マスク領域設定部、17b
…被検査物抽出部、17c…不良判断部、E1…前方エ
リア、E2…後方エリア、E11、E21…補助エリ
ア、M…マスク領域、W…被検査物。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... X-ray foreign substance detection device, 3 ... conveyance part, 8 ... X-ray generator,
9: X-ray detection unit, 13: processing means, 16: image processing unit,
17: defect detection unit, 17a: mask area setting unit, 17b
... Inspection object extraction unit, 17c Failure determination unit, E1 front area, E2 rear area, E11, E21 auxiliary area, M mask area, W inspection object.

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Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 異物として検出される留め具(S)が設
けられた被検査物(W)にX線を曝射し、このX線の曝
射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量か
ら前記被検査物中の異物の有無を検出するX線異物検出
装置(1)において、 前記被検査物の展開後の画像上で、各エリアがそれぞれ
該被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割し、
該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め
具の個数を予め設定した個数と比較して一致時にのみ被
検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常
と判断する不良判断部(17c)と、を備えたことを特
徴とするX線異物検出装置。
An X-ray is irradiated on an inspection object (W) provided with a fastener (S) detected as a foreign substance, and the X-ray is transmitted through the inspection object with the X-ray exposure. In an X-ray foreign matter detection device (1) for detecting the presence or absence of foreign matter in the inspection object from the amount of transmitted X-rays, each area on the developed image of the inspection object is Divide the area into multiple including the position of the fastener,
The number of fasteners to be detected as a foreign substance in each of the divided areas is compared with a preset number, and the inspection object is normal only when they match, and when the numbers do not match, the number of fasteners is determined to be abnormal. (17c), an X-ray foreign matter detector.
【請求項2】 X線透過量に基づき前記被検査物の展開
後の画像上で該被検査物の留め具の位置に設けられ異物
検出の領域から外すためのマスク領域(M)を設定する
マスク領域設定部(17a)と、前記被検査物上でマス
ク領域が設定された以外の領域における異物検出を行う
ために被検査物のみを抽出画像として抽出する被検査物
画像抽出部(17b)とを備え、 前記不良判断部(1
7c)は、前記留め具の個数判断と個別に被検査物
(W)内部における異物混入の有無を検出するものであ
り、前記マスク領域を含まない抽出画像中に異物が検出
された場合、あるいは前記留め具の個数異常時のいずれ
かに基づき被検査物を不良品と判断する請求項1記載の
X線異物検出装置。
2. A mask area (M) which is provided at a position of a fastener of the inspection object on the developed image of the inspection object and is excluded from a foreign substance detection area based on the amount of X-ray transmission. A mask area setting unit (17a) and an inspection object image extraction unit (17b) for extracting only the inspection object as an extraction image in order to detect foreign matter in an area other than the mask area set on the inspection object And the defect determination unit (1)
7c) is for judging the number of the fasteners and individually detecting the presence or absence of foreign matter in the inspection object (W). If foreign matter is detected in the extracted image not including the mask area, or 2. The X-ray foreign matter detection device according to claim 1, wherein the inspection object is determined to be defective based on any of the abnormalities of the number of the fasteners.
【請求項3】 前記被検査物(W)は、内容物が包装体
で包装され長さ方向の両端が留め具(S1,S2)で止
められた形状の略棒状体を有し、 前記不良判断部(17c)は、該被検査物の形状に対応
して長さ方向で2分割したエリア(E1,E2)を設定
し、各エリアにおける留め具の個数予め設定した個数と
比較して一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時
には留め具の個数が異常と判断する請求項1,2のいず
れか一つに記載のX線異物検出装置。
3. The object to be inspected (W) has a substantially rod-like shape whose contents are wrapped in a package and both ends in the length direction are fastened by fasteners (S1, S2). The determining unit (17c) sets areas (E1, E2) divided into two in the length direction corresponding to the shape of the inspection object, and compares the number of fasteners in each area with a preset number to match. The X-ray foreign matter detection device according to any one of claims 1 and 2, wherein the inspection object is normal only when the inspection is performed, and the number of fasteners is determined to be abnormal when the inspection objects do not match.
【請求項4】 前記不良判断部(17c)は、前記各エ
リア(E1,E2)に隣接する外側の領域に補助エリア
(E11,E21)を設定し、 前記留め具(S)の個数判断時に前記補助エリアにおけ
る異物が検出された場合においても留め具の個数が異常
と判断する請求項1〜3のいずれか一つに記載のX線異
物検出装置。
4. The defect determining section (17c) sets auxiliary areas (E11, E21) in outer areas adjacent to the respective areas (E1, E2), and determines the number of the fasteners (S). The X-ray foreign matter detection device according to any one of claims 1 to 3, wherein the number of fasteners is determined to be abnormal even when foreign matter is detected in the auxiliary area.
【請求項5】 異物として検出される留め具(S)が設
けられた被検査物(W)にX線を曝射し、このX線の曝
射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量か
ら前記被検査物中の異物の有無を検出するX線異物検出
方法において、 前記被検査物の展開後の画像上で各エリアがそれぞれ該
被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割する段
階と、 該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め
具の個数を予め設定した個数と比較する段階と、 比較結果の一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致
時には留め具の個数が異常で被検査物が不良品と判断す
る段階とを有することを特徴とするX線異物検出方法。
5. An X-ray is irradiated onto an inspection object (W) provided with a fastener (S) detected as a foreign substance, and the X-ray is transmitted through the inspection object along with the X-ray exposure. In the X-ray foreign matter detection method for detecting the presence or absence of foreign matter in the inspection object from the amount of transmitted X-rays, each area on the image after development of the inspection object is a position of a fastener of the inspection object. And a step of comparing the number of fasteners to be detected as foreign substances in each of the divided areas with a preset number, and determining that the inspection object is normal only when the comparison results match. And a step of judging that the inspected object is defective because the number of fasteners is abnormal when there is a mismatch.
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005003480A (en) * 2003-06-11 2005-01-06 Ishida Co Ltd X-ray examination apparatus
JP2005024453A (en) * 2003-07-04 2005-01-27 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection device
JP2005024549A (en) * 2003-06-09 2005-01-27 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection device
JP2005106640A (en) * 2003-09-30 2005-04-21 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection device
JP2005127962A (en) * 2003-10-27 2005-05-19 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection system
JP2006308315A (en) * 2005-04-26 2006-11-09 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray foreign matter detector
JP2007147661A (en) * 2007-03-16 2007-06-14 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection system
JP2010169508A (en) * 2009-01-22 2010-08-05 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection device
JP2019086367A (en) * 2017-11-06 2019-06-06 アンリツインフィビス株式会社 X-ray inspection device and x-ray inspection method
EP3702764A3 (en) * 2019-03-01 2020-10-07 WIPOTEC GmbH Test device

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005024549A (en) * 2003-06-09 2005-01-27 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection device
JP2005003480A (en) * 2003-06-11 2005-01-06 Ishida Co Ltd X-ray examination apparatus
JP2005024453A (en) * 2003-07-04 2005-01-27 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection device
JP2005106640A (en) * 2003-09-30 2005-04-21 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection device
JP2005127962A (en) * 2003-10-27 2005-05-19 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection system
JP2006308315A (en) * 2005-04-26 2006-11-09 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray foreign matter detector
JP2007147661A (en) * 2007-03-16 2007-06-14 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection system
JP2010169508A (en) * 2009-01-22 2010-08-05 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray inspection device
JP2019086367A (en) * 2017-11-06 2019-06-06 アンリツインフィビス株式会社 X-ray inspection device and x-ray inspection method
EP3702764A3 (en) * 2019-03-01 2020-10-07 WIPOTEC GmbH Test device
US11726229B2 (en) 2019-03-01 2023-08-15 Wipotec Gmbh Test device for irradiating products on a conveyor route

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