JP3737950B2 - X-ray foreign object detection apparatus and defective product detection method in the apparatus - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物に対し、X線を曝射したときのX線の透過量から被検査物中の異物を検出するX線異物検出装置に関し、特に被検査物に付属する異物としての留め具の有無により不良品を正確に検出できるX線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
X線異物検出装置は、搬送ライン上を順次搬送されてくる各品種の被検査物(生肉、魚、加工食品、医薬など)にX線を曝射し、この曝射したX線の透過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入しているか否かを検出する装置である。
【0003】
図9はこの種の従来のX線異物検出装置を示す斜視図である。図示のように コンベア50上を被検査物Wが搬送されて行く途中位置にX線発生器51と、X線検出器52が対向配置される。X線発生器51は搬送中の被検査物WにX線を曝射し、X線検出器52は被検査物Wを透過したX線の透過量に応じた電気信号(X線透過データ)を出力する。図示しない処理手段はこのX線の透過量に基づき、異物の混入の有無を判断する。
【0004】
図10は、被検査物Wを示す図である。図示の例では、被検査物Wがハム、ソーセージ等であり、両端には金属製クリップSを有する状態が表示されている。通常、これらハム、ソーセージ等の被検査物Wでは、両端それぞれに(計2個)収容状態を保持するために止め用のクリップSが設けられる。このような被検査物Wを単にX線検査するとクリップSが異物として検出されてしまい装置を稼働できなくなる。
【0005】
このため、このような異物として判断されるクリップSが取り付けられた特殊な品種の被検査物Wを検査するX線異物検出装置では、被検査物W内における異物の混入の有無を判定する処理時に被検査物Wの両端のクリップSを除き、被検査物Wの内部のみの異物検出を行うようになっている。
【0006】
この不良品判定は、画像処理により実行される。画像処理部には、図示のように、被検査物Wの両端位置を想定した座標軸位置に所定範囲のマスク領域Mを予め設定し、このマスク領域Mで検出されたクリップSを異物として認識しないようにしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の不良品判定処理では、被検査物W内部の異物の有無を検出できるが、被検査物Wに対するクリップSの付属の有無を検出することができなかった。被検査物WにクリップSが付属していなければ、被検査物Wは不良品であることが明らかであるが、従来はこの不良品検出を行うことができなかった。
【0008】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、異物として検出される留め具を備えた被検査物の留め具の個数の異常と被検査物内部の異物検出を検出でき不良品の検出精度を向上できるX線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法の提供を目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明のX線異物検出装置は、異物として検出される留め具(S)が設けられた被検査物(W)にX線を曝射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するX線異物検出装置(1)において、
前記被検査物の展開後の画像上で、各エリアがそれぞれ該被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割し、該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め具の個数を予め設定した個数と比較して一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常と判断する不良判断部(17c)と、
を備えたことを特徴とする。
【0010】
また、X線透過量に基づき前記被検査物の展開後の画像上で該被検査物の留め具の位置に設けられ異物検出の領域から外すためのマスク領域(M)を設定するマスク領域設定部(17a)と、
前記被検査物上でマスク領域が設定された以外の領域における異物検出を行うために被検査物のみを抽出画像として抽出する被検査物画像抽出部(17b)とを備え、
前記不良判断部(17c)は、前記留め具の個数判断と個別に被検査物(W)内部における異物混入の有無を検出するものであり、前記マスク領域を含まない抽出画像中に異物が検出された場合、あるいは前記留め具の個数異常時のいずれかに基づき被検査物を不良品と判断する構成としても良い。
【0011】
また、前記被検査物(W)は、内容物が包装体で包装され長さ方向の両端が留め具(S1,S2)で止められた形状の略棒状体を有し、
前記不良判断部(17c)は、該被検査物の形状に対応して長さ方向で2分割したエリア(E1,E2)を設定し、各エリアにおける留め具の個数を予め設定した個数と比較して一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常と判断する構成にもできる。
【0012】
また、前記不良判断部(17c)は、前記各エリア(E1,E2)に隣接する外側の領域に補助エリア(E11,E21)を設定し、
前記留め具(S)の個数判断時に前記補助エリアにおける異物が検出された場合においても留め具の個数が異常と判断する構成としても良い。
【0013】
本発明のX線異物検出方法は、異物として検出される留め具(S)が設けられた被検査物(W)にX線を曝射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するX線異物検出方法において、
前記被検査物の展開後の画像上で各エリアがそれぞれ該被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割する段階と、
該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め具の個数を予め設定した個数と比較する段階と、
比較結果の一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常で被検査物が不良品と判断する段階とを有することを特徴とする。
【0014】
上記構成によれば、被検査物Wの展開後の画像を、被検査物Wの留め具Sの位置を含むように複数のエリアE1,E2を分割する。分割された各エリアE1,E2にはそれぞれ規定個数の留め具Sが設けられ、異物として検出される。そして、実際に異物として検出された留め具Sの個数を予めの設定個数と比較し、一致時にのみ被検査物が正常と判断する。検出された異物の個数が設定個数未満、あるいは越える個数等の不一致時には、留め具の個数が異常と判断する。
【0015】
【発明の実施の形態】
図1はX線異物検出装置の外観を示す斜視図である。
X線異物検出装置1は、搬送ラインの一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物W中(表面も含む)に混入される異物の有無を検出する。このX線異物検出装置1は、搬送部3と異物検出部4とが装置本体1a内部に設けられ、表示器7が装置本体1aの前面上部に設けられている。
【0016】
搬送部3は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物Wを搬送するもので、この実施形態における被検査物Wは、ハム、ソーセージなどであり、包装体(ビニールシート)の端部を留め具(クリップ)Sで止めることによって内容物の包装状態が維持されるものを指す。以下、この実施形態では被検査物Wが棒状のソーセージであり、X線を透過しない金属製の留め具Sが両端部にそれぞれ1個ずつ(計2個)設けられたものを例に説明する。
このクリップSは、金属やプラスチックからなり、通常のX線検出では異物として検出される材質からなる。
【0017】
搬送部3は、装置本体1aに対して水平に配置されたベルトコンベアで構成される。搬送部3は、駆動モータ6の駆動により予め設定された所定の搬送速度で搬入口3aから搬入された被検査物Wを搬出口3b側(図中搬送方向X)に向けて搬送させる。この際、被検査物Wは、長さ方向が搬送方向Xと一致するように搬送される。即ち、搬送方向の前後にクリップSが位置するよう搬送される。
【0018】
異物検出部4は、搬送される被検査物Wを搬送路途中において異物を検出するもので、搬送部3の上方に所定高さ離れて設けられるX線発生器8と、搬送部3内にX線発生器8と対向して設けられるX線検出器9を備えて構成される。
【0019】
X線発生器8は、金属製の箱体11内部に設けられる円筒状のX線管12を不図示の絶縁油により浸漬した構成であり、X線管12の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてX線を生成している。X線管12は、その長手方向が被検査物Wの搬送方向Xと直交する方向(Y方向)に設けられている。X線管12により生成されたX線は、下方のX線検出器9に向けて、長手方向に沿った不図示のスリットにより略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
【0020】
X線検出器9は、被検査物Wに対してX線が曝射されたときに、被検査物Wを透過してくるX線を検出し、この検出したX線の透過量に応じた電気信号を出力している。このX線検出器9は、搬送部3上を搬送される被検査物Wの搬送方向Xと直交するY方向に沿って設けられる。このX線検出器9には、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。
【0021】
このような構成によるX線検出器9では、被検査物Wに対してX線発生器8からX線が曝射されたときに、被検査物Wを透過してくるX線をシンチレータで受けて光に変換する。さらにシンチレータで変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオードによって受光される。そして、各フォトダイオードは、受光した光を電気信号に変換して出力する。このX線検出器9は、受けたX線の強さに対応したレベルを有した電気信号を処理手段13に出力する。
【0022】
図2は、同装置の電気的構成を示すブロック図である。
処理手段13は、CPU等及びメモリ等で構成され、X線検出器9からX線透過のデータが入力される。このX線透過のデータは図示しないA/D変換部でA/D変換された後、データメモリ14に格納される。
データメモリ14には、1ライン(Y方向)あたり上記640個のX線透過のデータが、少なくとも搬送される被検査物Wの搬送方向Xの長さ(前端Wa〜後端Wbまでの検出期間)に対応した所定ライン数(例えば480ライン)が格納される。処理手段13は、このデータに基づき被検査物Wに対する異物混入を検査処理する。
【0023】
搬送部3には被検査物Wを検出する投受光センサ等の位置検出器10が設けられる。処理手段13は、この位置検出器10の出力を受けて被検査物Wの先端が投受光位置を遮蔽した時期の出力を開始トリガとして用い、遮蔽している期間が被検査物Wの長さ(検出期間)であると判断し、データメモリ14に各被検査物W単位のX線透過のデータを取り込むようになっている。
【0024】
検査処理内容としては、被検査物Wを透過したX線の透過レベルに応じた電気信号に基づいて被検査物W中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入されているか否かの判定を行う。基本原理としては、異物によりX線が透過しない状態が生じた場合、即ち、X線透過量の値が低い場合に異物混入と判定し選別信号等を外部出力する。また、入力データを直接画像展開した画像データを画像処理部16を介して表示器7の表示部15に出力する。
【0025】
この処理手段13は、上記異物混入による不良品判定処理時に、被検査物Wに取り付けられたクリップSを異物として誤認識しないよう画像処理部16の画像処理により判断するようになっている。
不良検出部17は、クリップSを異物として検出せず、且つ、被検査物WにクリップSが規定個数取り付けられているか否かの不良品を判定する。
この不良検出部17は、画像処理部16における画像処理に関する1機能である。
【0026】
この不良検出部17は、マスク領域設定部17a、被検査物抽出部17b、不良判断部17cを有する。
マスク領域設定部17aには、被検査物WのX線透過画像上におけるクリップSの座標軸位置に所定の範囲を有するマスク領域Mを設定する。
【0027】
図3は、マスク領域Mを示す図である。
図示のように、マスク領域Mは、被検査物Wを基準としてこの被検査物Wの所定の座標軸位置上に所定の範囲を有して設定される。被検査物Wは、搬送部3の搬送時に先端が位置検出器10を遮った開始トリガの信号入力時期を基準位置RFとして画像展開される。
マスク領域Mについても、この被検査物WのX線透過画像の基準位置RFを基準としており、開始トリガの信号入力に同期して設定された座標軸位置x1、y1位置と、x2,y2位置上にそれぞれ所定範囲xL,yLを有して設定される。設定されたマスク領域Mは、所定画素数(ドット数)nを有する。
【0028】
被検査物抽出部17bは、被検査物W内部の異物判定用としてマスク領域Mを除く被検査物WのX線透過画像を抽出画像Aとして抽出する。
異物であるクリップSは、マスク領域Mに位置しており、この抽出画像AにクリップSは含まれない。これにより抽出画像AにおけるX線透過量に基づく上記処理により、収容物であるソーセージ内部のみの異物検出を行える。なお、詳細には図示しないが、表示部15等に表示される画像展開後のX線透過画像は、X線透過量に合わせて表示濃度が異なる。
また、後述するクリップSの個数検出用にマスク処理前の元の展開画像を不良判断部17cに出力する。
【0029】
不良判断部17cには、予めの設定値として、被検査物Wの長さLと、予め定めたクリップSの数nが設定記憶されている。そして、被検査物WのX線透過量に基づき、クリップSの数nがこの規定個数有るか否かで不良品判別する。
【0030】
図4は、クリップ検出時の処理内容を説明するための図である。
具体的には、図示のように、被検査物Wの長さLを2等分した長さL/2を求め、被検査物Wの画像をこの2分割した中心からL/2をやや越える範囲(前方エリアE1、後方エリアE2)の画像上でのクリップSの個数(即ち、異物に相当する低いX線透過量が得られた箇所の数)を走査しながらカウントする。前方エリアE1、後方エリアE2は、それぞれ被検査物Wの中心からL/2を越えた範囲が補助エリアE11、E21として設定されている。
【0031】
カウントしたクリップ数が規定個数n有れば正常、規定個数nに満たないかあるいは多い場合に不良と判断する。上記ソーセージの例では2分割状態の各画面上でクリップS1、S2が1個づつ検出されたときにのみ正常であると判断する。
【0032】
次に、上記構成によるX線異物検出動作について説明する。
上記のように構成されるX線異物検出装置1では、被検査物Wが搬送部3の搬入口3aより搬入されると、その搬送過程において被検査物WにX線発生器8からX線が曝射される。このX線の曝射に伴って被検査物Wを透過してくるX線はX線検出器9によって検出される。
【0033】
そして、処理手段13は、X線検出器9によって検出されたX線の透過量に応じた電気信号に基づいて被検査物W中に異物が混入している否かを判定し、この判定結果から良品又は不良品を示す選別信号などを外部出力する。
具体的には、クリップSが存在するマスク領域Mを除いた範囲における被検査物WのX線透過量が異物検出用として設定した閾値以下である場合に、異物混入であると判断する。
そして、上記検査を終えた被検査物Wは、処理手段13から出力される選別信号に応じて良品と不良品とに選別される。
【0034】
また、処理手段13の画像処理部16は、X線検出器9が出力したX線透過量を示す画像データを表示部15に表示出力する。被検査物Wの平面で見た外形の状態と、この被検査物W内でのX線の透過具合を確認することができ、異物部分の表示濃度が他と異なり(濃く、あるいは周囲と他の色)で表示でき異物の混入位置を把握できるようになる。
また、「OK」,「NG」の良否判定結果や、総検査数、良品数、NG総数の検査結果を表示する。
【0035】
ここで、処理手段13は、このデータメモリ14に格納したデータを基準値と比較し、基準値を超えたデータがいずれか1つのラインに含まれている場合にNGと判断する。厳密には、基準値よりX線透過量が低い場合(異物によりX線が透過しない場合)にNGであると判断し、基準値よりX線透過量が高い場合にOKであると判断して、「NG」、あるいは「OK」の表示を行う。
【0036】
次に、上記構成における不良品検出動作(クリップの個数検出)について説明する。図5は、この不良品検出処理を示すフローチャートである。
上記異物混入の検出動作の前段階、あるいは異物検出動作と並行して不良判断部17cは被検査物WにクリップSが規定個数付属しているか否かの不良品検出を行う。処理手段13は、被検査物W内部の異物混入の有無、及びこのクリップSの規定個数の一致検出に基づき、最終的な不良品判断を行う。
【0037】
不良判断部17cには、上記の設定値として被検査物Wの長さL、クリップSの数nが設定されている(S1)。ソーセージの場合n=1として設定される(前方及び後方に1個ずつの意)。
上記のように、画像処理部16は、X線検出部9から出力されるX線透過データは被検査物のX線透過画像として画像展開しており、不良判断部17cはこの画像を取り込む(S2)。そして、取り込んだ被検査物Wの展開画像に基づき、クリップ認識処理を行う(S3)。
【0038】
先ず、展開された被検査物Wの画像を長さLに基づき、画像領域を搬送方向に沿って前後に2分割する。この際、基準位置RFを基準として搬送方向の前方L/2をやや越える範囲までを前方エリア、それ以降L/2をやや越える範囲までを後方エリアとして個別にクリップ認識する。なお、基準位置RFは、前述した如く位置検出器10が被検査物Wの先頭位置を検出した時期であり、X線透過画像における被検査物Wの先頭(一端)の位置に相当する。
【0039】
次に、不良判断部17cは、位置判定してこれら2つの前後エリアE1,E2におけるクリップSの個数をそれぞれ検出する(S4)。
まず、前方エリアE1を指定して処理実行する(S4−前方エリア)。
この前方エリアE1の範囲内においてクリップSのX線透過レベルに相当する箇所の個数をカウントする(S5)。ここでクリップSは金属製であるため、異物検出に相当するレベルがクリップSであるとして検出されることになる。
具体的には、展開画像を走査していき、異物検出レベルに相当する(X線透過量が少ない)1つのまとまった画素が、前方エリアE1における1個のクリップS1として判断しカウント数を1増加させる。
【0040】
次に、この前方エリアE1でのカウント数がクリップ数nに一致しているか否かを判断する(S7)。フローチャート上では、S5終了後S2に移行して後方エリアで同様の処理を実行する構成として記載してある。位置判定(S4)では、前方エリアE1終了によって後方エリアE2(S4ー後方エリア)側に分岐し、前方エリアE1での検出処理終了によって(S6−Yes)、前方判定を行う(S7)。
この前方判定においては、設定したクリップ数n=1であるから、前方エリアE1でのカウント数がこのn=1に一致すれば前方エリアE2でのクリップSの個数が規定個数であり正常と判断する。したがって、カウント数が0、あるいは2以上である場合には、クリップSの個数が異常であると判断する。
【0041】
この後、後方エリアE2においても前方エリアE1での処理と同様にクリップSの個数をカウントし(S8)、位置判定で前後終了後に(S4−前後終了)、後方エリアE2でのカウント数がクリップ数nに一致しているか否かを判断し(S9)、終了する。
【0042】
図6は、各種状態の被検査物Wを示す図である。図6(a)に示す如く、被検査物Wの前後のエリアE1,E2でそれぞれ1個ずつクリップSが検出されれば、この被検査物Wにおけるクリップ数が正常であると判断する。即ち、S7,S9の各処理で正常判断され、クリップSの個数に関する不良は無しとして処理手段13に出力される。なお、処理手段13は、上記マスク領域Mを用いた被検査物W内での異物混入の有無とこのクリップSの数の結果を総合して不良品判別する。上記のようにクリップ数Sが正常である場合、異物混入がなければ正常品と判断出力する。
【0043】
一方、図6(b)〜(g)はいずれも被検査物Wを不良品として判断する。
図6(b)に示す状態では、前方エリアE1でのクリップSの数が0であるため、設定値n=1と一致せず不良品と判断する。この場合、被検査物Wの前方のクリップSが欠損していると判断出力することができる。ソーセージの場合、一方のクリップSが欠損していれば不良品であることは明らかである。
【0044】
図6(c)に示す状態では、後方エリアE2でのクリップSの数が0であるため、設定値n=1と一致せず不良品と判断する。この場合、被検査物Wの後方のクリップSが欠損していると判断出力することができる。
【0045】
図6(d)に示す状態では、前方エリアE1でのクリップSの数が1であり、設定値n=1と一致して前方エリアE1は正常と判断する。しかし、後方エリアE2でのクリップSの数が2であるため、補助エリアE21での検出状態を判断する。この補助エリアE21でクリップS3が検出されたときには、不良品と判断する。この状態は、被検査物W自体には前後に1個ずつクリップS1,S2が取り付けられているものの、切断状態の部分的な他の不良被検査物WnのクリップS3が補助エリアE21で検出されたことに基づく。この不良被検査物Wnは製造工程時の不良品として生じることがあり、この不良品を検出できるようになる。
【0046】
図6(e)に示す状態では、前方エリアE1でのクリップSの数が1であり、設定値n=1と一致して前方エリアE1は正常と判断する。また、後方エリアE2でのクリップSの数が1である。しかし、被検査物Wの長さに基づくL/2の範囲の中でのクリップS2が検出されず0である。また、補助エリアE21においてクリップS3が1個検出されている。
この状態は、被検査物W自体には前方にのみ1個のクリップS1が取り付けられているが、後方のクリップS2がなく、さらに、切断状態の部分的な他の不良被検査物Wnが同時検出された場合に起こり得る。
【0047】
図6(f)に示す状態では、前方エリアE1でのクリップSの数が2であり、また、後方エリアE2におけるクリップS2が検出されず、いずれも設定値n=1と一致しない。前方エリアE1でクリップSの個数が2であるため、補助エリアE11での検出状態を判断する。この補助エリアE11でクリップS0が検出されたときには、不良品と判断する。
【0048】
図6(g)に示す状態では、後方エリアE2におけるクリップS2の数が1であるが、前方エリアE1でのクリップSの数が2であり、設定値n=1と一致しない。前方エリアE1でクリップSの個数が2であるため、補助エリアE11での検出状態を判断する。この補助エリアE11でクリップS0が検出されたときには、不良品と判断する。
【0049】
上記の各例の如く、単一個の被検査物WのクリップSの個数に限らず、クリップSの綴じ不良等に基づき、目標とする被検査物Wの至近で他のクリップS(S0,S3)を検出した場合にも製造工程等での何らかの不良と判断する。これにより、厳密な不良品検査が行え、正常品として判断された被検査物Wの信頼性を向上できるようになる。
【0050】
なお、上記設定では、1個の被検査物Wあたり両側部に1個ずつクリップSが設けられた品種(ソーセージ)の例を用いて説明したが、1個の被検査物Wあたり両側部に2個以上のクリップSが設けられた品種の場合であっても、被検査物Wの長さを考慮して判断する構成であるため、上記同様に各状態の不良品を正確に判別できる。
【0051】
上記記実施形態では、被検査物Wの搬送方向の先端位置を位置検出器10で検出して基準位置RFを得る構成とした。これに限らず、画像処理部16での画像処理の走査時にX線透過量の変化に基づき、被検査物Wの先端位置を検出して基準位置RFを設定しても良い。この先端位置にはクリップSが設けられており、前後のX線透過量と大幅に異なる為容易にこのクリップSを検出できる。この場合、位置検出器10は不要である。
【0052】
次に、図7は、他の品種例を示す図である。
図示の被検査物Wは上記ソーセージが複数本(図示の例では4本)を単位としてさらに1つの包装体Tによって包装されたものである。
このような被検査物Wの場合には、異物検出用のマスク領域Mは包装体T内での各被検査物WのクリップSの配置位置に対応して個別に複数のマスク領域Mを設定すればよく、上記同様に異物検出できるようになる。なお、包装体T内部において各被検査物Wが搬送方向前後に移動(位置ズレ)する余裕が有る場合には、予めこの余裕量に対応して搬送方向に沿ってマスク領域Mを増大させてもよい。
【0053】
一方、クリップSの個数検出についても同様であり、図示の如く、包装体Tの長さを基準としてこれを前後に2分割したエリアでそれぞれ不良品検出すればよい。図示の例ではクリップ数n=4であり、前方エリアE1、後方エリアE2でそれぞれ4個ずつクリップSが検出されれば正常であり、いずれかでも4個未満、あるいは5個以上検出されたときに、この包装体Tの品(被検査物W)が不良品であると判断する。
【0054】
また、図8は、上記説明した被検査物W(ソーセージ)の搬送方向が異なる状態を示す図である。図示のように、搬送方向Xに対して直交するよう被検査物Wが搬送される場合がある。
この場合、各被検査物Wの基準位置RFは位置検出器10で被検査物Wの側部を基準に検出する構成とする他、画像処理部16で取り込んだ展開画像を元に上記同様に一方のクリップSに基準位置RFを設定し、異物検出用のマスク位置M、クリップ個数検出用の長さL及びエリアE1,E2を設定することもできる。便宜的に説明すれば、展開画像を90度回転させ上記同様の処理を行うのと同等である。
【0055】
【発明の効果】
本発明によれば、異物として検出される留め具を有する被検査物であっても、留め具の個数を正確に検出でき、被検査物の不良品検出の信頼性を向上できる。また、マスク領域を設定して被検査物の留め具以外の部分での異物検出が可能であり、この異物検出と、上記留め具個数の個数判断によって被検査物の不良品をより正確に検出できるようになる。
このような留め具を用いたハム、ソーセージ等の品種は、留め具の個数が異常であると包装状態が不良なことが明らかで不良品として出荷できないため、本発明により不良品検出精度の向上によって生産効率を向上できる効果が得られるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるX線異物検出装置の外観を示す斜視図。
【図2】本発明によるX線異物検出装置の電気的構成を示すブロック図。
【図3】マスク領域を示す図。
【図4】クリップ認識用のエリアを示す図。
【図5】不良品検出処理を示すフローチャート。
【図6】被検査物の各種状態を示す図。
【図7】被検査物の他の包装形態を示す図。
【図8】被検査物の他の検出状態を示す図。
【図9】X線異物検出装置の構成を示す斜視図。
【図10】クリップが設けられた被検査物を示す図。
【符号の説明】
1…X線異物検出装置、3…搬送部、8…X線発生器、9…X線検出部、13…処理手段、16…画像処理部、17…不良検出部、17a…マスク領域設定部、17b…被検査物抽出部、17c…不良判断部、E1…前方エリア、E2…後方エリア、E11、E21…補助エリア、M…マスク領域、W…被検査物。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention, for example, X-ray foreign matter for detecting foreign matter in the inspection object from the amount of X-ray transmission when X-rays are irradiated to the inspection object of various varieties such as raw meat, fish, processed food, and medicine More particularly, the present invention relates to an X-ray foreign object detection device capable of accurately detecting a defective product based on the presence or absence of a fastener as a foreign material attached to an object to be inspected, and a defective product detection method in the device.
[0002]
[Prior art]
The X-ray foreign object detection device irradiates X-rays on various types of inspection objects (raw meat, fish, processed foods, medicines, etc.) that are sequentially transported on the transport line, and the amount of transmitted X-rays. This is a device that detects whether or not a foreign object such as metal, glass, stone, or bone is mixed in the inspection object.
[0003]
FIG. 9 is a perspective view showing a conventional X-ray foreign object detection apparatus of this type. As shown in the figure, an
[0004]
FIG. 10 is a view showing the inspection object W. As shown in FIG. In the illustrated example, a state in which the inspection object W is ham, sausage, and the like and a metal clip S is displayed at both ends is displayed. Usually, in the inspected objects W such as ham and sausage, stop clips S are provided at both ends (two in total) in order to maintain the accommodation state. If such an object W is simply X-ray-inspected, the clip S is detected as a foreign object and the apparatus cannot be operated.
[0005]
For this reason, in the X-ray foreign object detection apparatus that inspects a special type of inspection object W to which the clip S determined as such a foreign object is attached, a process for determining whether or not foreign objects are mixed in the inspection object W Occasionally, the foreign matter detection only inside the inspection object W is performed except for the clips S at both ends of the inspection object W.
[0006]
This defective product determination is executed by image processing. As shown in the figure, a mask area M within a predetermined range is set in advance in the coordinate axis positions assuming both end positions of the inspection object W, and the clip S detected in the mask area M is not recognized as a foreign object. I am doing so.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the conventional defective product determination process, the presence / absence of foreign matter inside the inspection object W can be detected, but the presence / absence of attachment of the clip S to the inspection object W cannot be detected. If the clip S is not attached to the inspected object W, it is clear that the inspected object W is a defective product, but conventionally this defective product could not be detected.
[0008]
The present invention has been made in view of the above problems, and can detect an abnormality in the number of fasteners of an inspection object provided with a fastener that is detected as a foreign object and detection of a foreign object inside the inspection object. An object of the present invention is to provide an X-ray foreign object detection apparatus capable of improving detection accuracy and a defective product detection method in the apparatus.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the X-ray foreign object detection device of the present invention exposes an X-ray to an inspection object (W) provided with a fastener (S) that is detected as a foreign object, and exposes the X-ray. In the X-ray foreign object detection device (1) for detecting the presence or absence of a foreign substance in the inspection object from the amount of X-ray transmission that passes through the inspection object along with the radiation,
On the image after development of the inspection object, each area is divided into a plurality of areas each including the position of the inspection object fastener, and the number of fasteners to be detected as foreign objects in each of the divided areas A defect determination unit (17c) that determines that the object to be inspected is normal only when it matches and the number of fasteners is abnormal when they do not match,
It is provided with.
[0010]
Further, a mask area setting for setting a mask area (M) provided at the position of the fixture of the inspection object on the image after development of the inspection object based on the X-ray transmission amount and for removing from the foreign object detection area. Part (17a);
An inspection object image extraction unit (17b) for extracting only the inspection object as an extraction image in order to detect foreign matter in an area other than the mask area set on the inspection object;
The defect determination unit (17c) detects the number of the fasteners and individually detects the presence or absence of foreign matter in the inspection object (W), and detects foreign matter in the extracted image that does not include the mask area. In such a case, the inspection object may be determined as a defective product on the basis of either the case where the number of fasteners is abnormal.
[0011]
Further, the inspection object (W) has a substantially rod-like body in which the contents are wrapped in a packaging body and both ends in the length direction are fastened with fasteners (S1, S2),
The defect determination unit (17c) sets areas (E1, E2) divided in the length direction corresponding to the shape of the inspection object, and the number of fasteners in each area. The It can be configured that the object to be inspected is normal only when it matches when compared with the preset number, and the number of fasteners is determined to be abnormal when they do not match.
[0012]
In addition, the defect determination unit (17c) sets auxiliary areas (E11, E21) in an outer region adjacent to the areas (E1, E2),
A configuration may be adopted in which the number of fasteners is determined to be abnormal even when foreign matter in the auxiliary area is detected when the number of fasteners (S) is determined.
[0013]
According to the X-ray foreign matter detection method of the present invention, X-rays are exposed to an inspection object (W) provided with a fastener (S) that is detected as a foreign matter, and the inspection is performed along with the X-ray exposure. In the X-ray foreign matter detection method for detecting the presence or absence of foreign matter in the inspection object from the amount of X-rays transmitted through the object,
Each area is divided into a plurality of areas each including the position of the fastener of the inspection object on the image after development of the inspection object; and
Comparing the number of fasteners to be detected as foreign matter in each of the divided areas with a preset number;
The object to be inspected is normal only when the comparison results match, and when the numbers do not match, the number of fasteners is abnormal and the object is determined to be defective.
[0014]
According to the above configuration, the plurality of areas E <b> 1 and E <b> 2 are divided so that the developed image of the inspection object W includes the position of the fastener S of the inspection object W. A predetermined number of fasteners S are provided in each of the divided areas E1 and E2, and are detected as foreign matters. Then, the number of fasteners S actually detected as a foreign object is compared with a preset number, and it is determined that the object to be inspected is normal only when they match. When the number of detected foreign objects is less than or equal to the set number, the number of fasteners is determined to be abnormal.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a perspective view showing an external appearance of the X-ray foreign object detection device.
The X-ray foreign
[0016]
The
The clip S is made of metal or plastic, and is made of a material that is detected as a foreign object in normal X-ray detection.
[0017]
The
[0018]
The foreign matter detection unit 4 detects foreign matter in the middle of the transport path of the workpiece W to be transported, and an
[0019]
The
[0020]
The
[0021]
In the
[0022]
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of the apparatus.
The processing means 13 is constituted by a CPU and the like and a memory and the like, and X-ray transmission data is input from the
In the
[0023]
The
[0024]
The contents of the inspection process include whether or not foreign matter such as metal, glass, stone, or bone is mixed in the inspection object W based on an electrical signal corresponding to the transmission level of X-rays transmitted through the inspection object W. Make a decision. As a basic principle, when a state where X-rays do not transmit due to foreign matter occurs, that is, when the value of the amount of X-ray transmission is low, it is determined that foreign matter is mixed and a selection signal or the like is output to the outside. Further, the image data obtained by directly developing the input data is output to the
[0025]
The processing means 13 is configured to perform image processing by the
The
The
[0026]
The
In the mask
[0027]
FIG. 3 is a diagram showing the mask region M. As shown in FIG.
As shown in the figure, the mask area M is set with a predetermined range on a predetermined coordinate axis position of the inspection object W with reference to the inspection object W. The inspection object W is developed using the signal input timing of the start trigger whose tip is blocked by the
The mask region M is also based on the reference position RF of the X-ray transmission image of the inspection object W, and is on the coordinate axis positions x1, y1 and x2, y2 positions set in synchronization with the start trigger signal input. Are set with predetermined ranges xL and yL, respectively. The set mask area M has a predetermined number of pixels (number of dots) n.
[0028]
The inspection
The clip S that is a foreign object is located in the mask area M, and the clip S is not included in the extracted image A. Thereby, the foreign substance detection only in the inside of the sausage which is a storage thing can be performed by the said process based on the X-ray transmission amount in the extraction image A. Although not shown in detail, the X-ray transmission image after image expansion displayed on the
Further, the original developed image before the mask process is output to the
[0029]
In the
[0030]
FIG. 4 is a diagram for explaining the processing content when a clip is detected.
Specifically, as shown in the figure, a length L / 2 obtained by dividing the length L of the inspection object W into two is obtained, and the image of the inspection object W slightly exceeds L / 2 from the center of the two divisions. The number of clips S on the image in the range (the front area E1 and the rear area E2) (that is, the number of places where a low X-ray transmission amount corresponding to a foreign substance is obtained) is counted while scanning. In the front area E1 and the rear area E2, ranges exceeding L / 2 from the center of the inspection object W are set as auxiliary areas E11 and E21, respectively.
[0031]
If the number of clips counted is the specified number n, it is determined to be normal, and if it is less than or greater than the specified number n, it is determined to be defective. In the example of the sausage, it is determined that the clip is normal only when the clips S1 and S2 are detected one by one on each screen divided into two.
[0032]
Next, an X-ray foreign object detection operation with the above configuration will be described.
In the X-ray foreign
[0033]
Then, the processing means 13 determines whether or not foreign matter is mixed in the inspection object W based on an electric signal corresponding to the amount of X-ray transmission detected by the
Specifically, except for the mask area M where the clip S exists The When the X-ray transmission amount of the inspection object W in the range is equal to or less than the threshold set for detecting foreign matter, it is determined that foreign matter is mixed.
Then, the inspection object W that has been subjected to the inspection is sorted into a non-defective product and a defective product according to a sorting signal output from the processing means 13.
[0034]
Further, the
Also, the pass / fail judgment results of “OK” and “NG”, and the inspection results of the total number of inspections, the number of non-defective products, and the total number of NG are displayed.
[0035]
Here, the processing means 13 compares the data stored in the
[0036]
Next, a defective product detection operation (detection of the number of clips) in the above configuration will be described. FIG. 5 is a flowchart showing the defective product detection process.
In parallel with the foreign object detection operation or in parallel with the foreign object detection operation, the
[0037]
In the
As described above, the
[0038]
First, based on the length L, the developed image of the inspection object W is divided into two parts in the front and rear along the conveyance direction. At this time, the clip is individually recognized as a front area up to a range slightly beyond the front L / 2 in the transport direction with the reference position RF as a reference, and as a rear area up to a range slightly beyond L / 2 thereafter. The reference position RF is a time when the
[0039]
Next, the
First, the process is executed by designating the front area E1 (S4-front area).
The number of locations corresponding to the X-ray transmission level of the clip S within the range of the front area E1 is counted (S5). Here, since the clip S is made of metal, the level corresponding to the foreign object detection is detected as the clip S.
Specifically, the developed image is scanned, and a single pixel corresponding to the foreign object detection level (low X-ray transmission amount) is determined as one clip S1 in the front area E1, and the count number is 1. increase.
[0040]
Next, it is determined whether or not the count number in the front area E1 matches the clip number n (S7). In the flowchart, it is described as a configuration in which the process proceeds to S2 after S5 ends and the same processing is executed in the rear area. In the position determination (S4), branching to the rear area E2 (S4-rear area) side by the end of the front area E1, and forward determination is performed by the end of the detection process in the front area E1 (S6-Yes) (S7).
In this forward determination, since the set number of clips n = 1, if the count number in the front area E1 matches this n = 1, it is determined that the number of clips S in the front area E2 is the specified number and is normal. To do. Therefore, when the count number is 0 or 2 or more, it is determined that the number of clips S is abnormal.
[0041]
Thereafter, in the rear area E2, the number of clips S is counted in the same manner as the processing in the front area E1 (S8). After the front and rear ends in the position determination (S4-end before and after), the count number in the rear area E2 is clipped. It is determined whether or not the number n matches (S9), and the process ends.
[0042]
FIG. 6 is a diagram illustrating the inspection object W in various states. As shown in FIG. 6A, if one clip S is detected in each of the areas E1 and E2 before and after the inspection object W, it is determined that the number of clips in the inspection object W is normal. That is, it is judged normal in each process of S7 and S9, and is output to the processing means 13 as no defect regarding the number of clips S. The processing means 13 determines defective products by comprehensively determining whether foreign matter is mixed in the inspection object W using the mask area M and the result of the number of clips S. When the number of clips S is normal as described above, it is determined that the product is a normal product if no foreign matter is mixed.
[0043]
On the other hand, in all of FIGS. 6B to 6G, the inspection object W is determined as a defective product.
In the state shown in FIG. 6B, since the number of clips S in the front area E1 is 0, the set value n = 1 does not match and it is determined as a defective product. In this case, it can be determined and output that the clip S in front of the object W is missing. In the case of sausage, if one clip S is missing, it is clear that it is a defective product.
[0044]
In the state shown in FIG. 6C, since the number of clips S in the rear area E2 is 0, it does not coincide with the set value n = 1 and is determined as a defective product. In this case, it can be determined that the clip S behind the object W is missing.
[0045]
In the state shown in FIG. 6D, the number of clips S in the front area E1 is 1, and the front area E1 is determined to be normal because it matches the set value n = 1. However, since the number of clips S in the rear area E2 is 2, the detection state in the auxiliary area E21 is determined. When the clip S3 is detected in the auxiliary area E21, it is determined as a defective product. In this state, although the clips S1 and S2 are attached one after the other on the inspection object W itself, a clip S3 of another defective inspection object Wn partially cut is detected in the auxiliary area E21. Based on that. This defect Covered The inspection object Wn may occur as a defective product during the manufacturing process, and this defective product can be detected.
[0046]
In the state shown in FIG. 6 (e), the number of clips S in the front area E1 is 1, and the front area E1 is determined to be normal because it matches the set value n = 1. Further, the number of clips S in the rear area E2 is one. However, the clip S2 in the range of L / 2 based on the length of the inspection object W is not detected and is zero. One clip S3 is detected in the auxiliary area E21.
In this state, one clip S1 is attached only to the front side of the inspection object W itself, but there is no rear clip S2, and another partially defective inspection object Wn in a cut state is simultaneously present. Can occur if detected.
[0047]
In the state shown in FIG. 6F, the number of clips S in the front area E1 is 2, and the clip S2 in the rear area E2 is not detected, and none of them matches the set value n = 1. Since the number of clips S is 2 in the front area E1, the detection state in the auxiliary area E11 is determined. When the clip S0 is detected in the auxiliary area E11, it is determined as a defective product.
[0048]
In the state shown in FIG. 6G, the number of clips S2 in the rear area E2 is 1, but the number of clips S in the front area E1 is 2, which does not match the set value n = 1. Since the number of clips S is 2 in the front area E1, the detection state in the auxiliary area E11 is determined. When the clip S0 is detected in the auxiliary area E11, it is determined as a defective product.
[0049]
As in the above examples, not only the number of clips S of a single inspection object W but also other clips S (S0, S3) close to the target inspection object W based on the binding failure of the clip S or the like. ) Is also detected as a defect in the manufacturing process. Thereby, a strict defective product inspection can be performed, and the reliability of the inspection object W determined as a normal product can be improved.
[0050]
In the above setting, an example of a variety (sausage) in which one clip S is provided on each side of each inspection object W has been described. Even in the case of a product type having two or more clips S, it is determined in consideration of the length of the inspection object W, so that defective products in each state can be accurately determined as described above.
[0051]
In the embodiment described above, the reference position RF is obtained by detecting the tip position of the inspection object W in the transport direction with the
[0052]
Next, FIG. 7 is a figure which shows the example of another kind.
The object to be inspected W is a product in which a plurality of the sausages (4 in the illustrated example) are packaged by one package T in units of four.
In the case of such an object to be inspected W, a plurality of mask areas M are set individually corresponding to the positions of the clips S of the objects to be inspected W in the package T for the foreign substance detection mask area M. As a result, foreign matter can be detected as described above. In addition, when there is an allowance for each inspection object W to move back and forth in the transport direction (position shift) within the package T, the mask region M is increased in advance along the transport direction in correspondence with the surplus amount. Also good.
[0053]
On the other hand, the same applies to the detection of the number of clips S, and as shown in the figure, defective products may be detected in areas divided into two parts in the front and rear directions based on the length of the package T. In the example shown in the figure, the number of clips is n = 4, and it is normal if four clips S are detected in each of the front area E1 and the rear area E2, and any of them is less than four or when five or more are detected. In addition, it is determined that the product (inspected object W) of the package T is a defective product.
[0054]
Moreover, FIG. 8 is a figure which shows the state from which the conveyance direction of the to-be-inspected W (sausage) demonstrated above differs. As illustrated, the inspection object W may be transported so as to be orthogonal to the transport direction X.
In this case, the reference position RF of each inspection object W is detected by the
[0055]
【The invention's effect】
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, even if it is a to-be-inspected object which has a fastener detected as a foreign material, the number of fasteners can be detected correctly and the reliability of the defect detection of a to-be-inspected object can be improved. In addition, it is possible to detect foreign matters at parts other than the fasteners of the inspection object by setting the mask area. By detecting this foreign matter and judging the number of the above-mentioned fasteners, defective products of the inspection object can be detected more accurately. become able to.
Since varieties such as ham and sausage using such fasteners have an abnormal number of fasteners, the packaging state is clearly defective and cannot be shipped as defective products. As a result, the production efficiency can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing an external appearance of an X-ray foreign object detection device according to the present invention.
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of an X-ray foreign object detection device according to the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing a mask region.
FIG. 4 is a diagram showing an area for clip recognition.
FIG. 5 is a flowchart showing defective product detection processing;
FIG. 6 is a diagram showing various states of an inspection object.
FIG. 7 is a view showing another packaging form of the inspection object.
FIG. 8 is a diagram showing another detection state of the inspection object.
FIG. 9 is a perspective view showing a configuration of an X-ray foreign object detection device.
FIG. 10 is a diagram showing an inspection object provided with a clip.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記被検査物の展開後の画像上で、各エリアがそれぞれ該被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割し、該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め具の個数を予め設定した個数と比較して一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常と判断する不良判断部(17c)と、
を備えたことを特徴とするX線異物検出装置。X-rays are exposed to an inspection object (W) provided with a fastener (S) that is detected as a foreign object, and transmission of the X-rays transmitted through the inspection object with the exposure of the X-rays. In the X-ray foreign matter detection device (1) for detecting the presence or absence of foreign matter in the inspection object from the quantity,
On the image after development of the inspection object, each area is divided into a plurality of areas each including the position of the inspection object fastener, and the number of fasteners to be detected as foreign objects in each of the divided areas A defect determination unit (17c) that determines that the object to be inspected is normal only when it matches and the number of fasteners is abnormal when they do not match,
An X-ray foreign matter detection apparatus comprising:
前記被検査物上でマスク領域が設定された以外の領域における異物検出を行うために被検査物のみを抽出画像として抽出する被検査物画像抽出部(17b)とを備え、 前記不良判断部(17c)は、前記留め具の個数判断と個別に被検査物(W)内部における異物混入の有無を検出するものであり、前記マスク領域を含まない抽出画像中に異物が検出された場合、あるいは前記留め具の個数異常時のいずれかに基づき被検査物を不良品と判断する請求項1記載のX線異物検出装置。A mask area setting unit for setting a mask area (M) that is provided at the position of the fixture of the inspection object on the image after development of the inspection object based on the amount of X-ray transmission and for removing from the foreign object detection area ( 17a)
An inspection object image extraction unit (17b) that extracts only the inspection object as an extraction image in order to detect foreign matter in an area other than the mask area set on the inspection object; 17c) detects the number of fasteners and individually detects the presence or absence of foreign matter in the inspection object (W). When foreign matter is detected in the extracted image not including the mask region, or The X-ray foreign material detection apparatus according to claim 1, wherein the inspection object is determined as a defective product based on any of the cases where the number of fasteners is abnormal.
前記不良判断部(17c)は、該被検査物の形状に対応して長さ方向で2分割したエリア(E1,E2)を設定し、各エリアにおける留め具の個数を予め設定した個数と比較して一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常と判断する請求項1,2のいずれか一つに記載のX線異物検出装置。The object to be inspected (W) has a substantially rod-like body in which the contents are wrapped in a packaging body and both ends in the length direction are fastened with fasteners (S1, S2),
The defect determination unit (17c) sets areas (E1, E2) divided into two in the length direction corresponding to the shape of the inspection object, and compares the number of fasteners in each area with a preset number. The X-ray foreign object detection device according to claim 1, wherein the object to be inspected is normal only when they match, and the number of fasteners is determined to be abnormal when they do not match.
前記留め具(S)の個数判断時に前記補助エリアにおける異物が検出された場合においても留め具の個数が異常と判断する請求項1〜3のいずれか一つに記載のX線異物検出装置。The defect determination unit (17c) sets auxiliary areas (E11, E21) in an outer region adjacent to the areas (E1, E2),
The X-ray foreign material detection apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the number of fasteners is determined to be abnormal even when a foreign material in the auxiliary area is detected at the time of determining the number of the fasteners (S).
前記被検査物の展開後の画像上で各エリアがそれぞれ該被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割する段階と、
該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め具の個数を予め設定した個数と比較する段階と、
比較結果の一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常で被検査物が不良品と判断する段階とを有することを特徴とするX線異物検出方法。X-rays are exposed to an inspection object (W) provided with a fastener (S) that is detected as a foreign object, and transmission of the X-rays transmitted through the inspection object with the exposure of the X-rays. In the X-ray foreign matter detection method for detecting the presence or absence of foreign matter in the inspection object from the amount,
Each area is divided into a plurality of areas each including the position of the fastener of the inspection object on the image after development of the inspection object; and
Comparing the number of fasteners to be detected as foreign matter in each of the divided areas with a preset number;
An X-ray foreign object detection method comprising: determining whether an object to be inspected is normal only when the comparison results match, and determining that the object to be inspected is defective because the number of fasteners is abnormal when they do not match.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001034016A JP3737950B2 (en) | 2001-02-09 | 2001-02-09 | X-ray foreign object detection apparatus and defective product detection method in the apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001034016A JP3737950B2 (en) | 2001-02-09 | 2001-02-09 | X-ray foreign object detection apparatus and defective product detection method in the apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002243665A JP2002243665A (en) | 2002-08-28 |
JP3737950B2 true JP3737950B2 (en) | 2006-01-25 |
Family
ID=18897691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001034016A Expired - Lifetime JP3737950B2 (en) | 2001-02-09 | 2001-02-09 | X-ray foreign object detection apparatus and defective product detection method in the apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3737950B2 (en) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3943099B2 (en) * | 2003-06-09 | 2007-07-11 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray inspection equipment |
JP2005003480A (en) * | 2003-06-11 | 2005-01-06 | Ishida Co Ltd | X-ray examination apparatus |
JP3860144B2 (en) * | 2003-07-04 | 2006-12-20 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray inspection equipment |
JP3955559B2 (en) * | 2003-09-30 | 2007-08-08 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray inspection equipment |
JP3943072B2 (en) * | 2003-10-27 | 2007-07-11 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray inspection equipment |
JP4230473B2 (en) * | 2005-04-26 | 2009-02-25 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray foreign object detection device |
JP4170366B2 (en) * | 2007-03-16 | 2008-10-22 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray inspection equipment |
JP5400401B2 (en) * | 2009-01-22 | 2014-01-29 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray inspection equipment |
JP6796052B2 (en) * | 2017-11-06 | 2020-12-02 | アンリツインフィビス株式会社 | X-ray inspection equipment and X-ray inspection method |
DE102019105309A1 (en) | 2019-03-01 | 2020-09-03 | Wipotec Gmbh | Testing device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091104 Year of fee payment: 4 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091104 Year of fee payment: 4 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111104 Year of fee payment: 6 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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S533 | Written request for registration of change of name |
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