JP3943072B2 - X-ray inspection equipment - Google Patents
X-ray inspection equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP3943072B2 JP3943072B2 JP2003366110A JP2003366110A JP3943072B2 JP 3943072 B2 JP3943072 B2 JP 3943072B2 JP 2003366110 A JP2003366110 A JP 2003366110A JP 2003366110 A JP2003366110 A JP 2003366110A JP 3943072 B2 JP3943072 B2 JP 3943072B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- area
- ray
- contents
- content
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 318
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 106
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 89
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 54
- 239000002699 waste material Substances 0.000 claims description 10
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 11
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 10
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 7
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- -1 bone Substances 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 235000019688 fish Nutrition 0.000 description 1
- 235000010746 mayonnaise Nutrition 0.000 description 1
- 239000008268 mayonnaise Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 235000020995 raw meat Nutrition 0.000 description 1
- 235000021067 refined food Nutrition 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 235000015067 sauces Nutrition 0.000 description 1
- 235000020083 shōchū Nutrition 0.000 description 1
Images
Description
本発明は、例えばトレイや容器などの収容体に内容物が収容された被検査物にX線を曝射し、このX線の曝射に伴うX線透過量に基づいて被検査物の検査を行うX線検査装置に関し、特に被検査物の内容物の欠陥を正確に検出できるX線検査装置に関する。 The present invention exposes an X-ray to an object whose contents are accommodated in a container such as a tray or a container, and inspects the object based on an X-ray transmission amount associated with the X-ray exposure. In particular, the present invention relates to an X-ray inspection apparatus that can accurately detect defects in the contents of an inspection object.
X線異物検出装置は、製品ライン上を順次搬送されてくる各品種の被検査物(例えば、生肉、魚、加工食品、医薬など)にX線を曝射し、この曝射したX線の透過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入しているか否かを検出する装置である。 The X-ray foreign object detection apparatus irradiates X-rays to inspection products of various varieties (for example, raw meat, fish, processed foods, medicines, etc.) that are sequentially transported on the product line, and It is a device that detects whether or not foreign matter such as metal, glass, stone, bone, etc. is mixed in the object to be inspected from the amount of transmission.
ところで、この種のX線異物検出装置では、例えばトレイや箱などの収容体に内容物が収容されている被検査物の場合、被検査物における異物混入の有無を判定する前処理の段階で収容体内での内容物の有無を検出して欠品(不良品)判別が行われる。 By the way, in this type of X-ray foreign object detection device, for example, in the case of an inspected object whose contents are stored in a container such as a tray or a box, at the stage of pre-processing for determining whether or not foreign objects are mixed in the inspected object. The presence / absence of contents in the container is detected to determine a missing item (defective product).
この欠品判定処理では、収容体における内容物の収容位置を想定した座標軸位置に、内容物の欠品検査を行うための欠品検査領域である欠品検出用マスク領域を予め設定し、X線曝射時のX線透過データ(被検査物に対して検出器が検出するX線検出量)に基づいて画像展開した内容物と、欠品検出用マスク領域とを重ね合わせ、欠品検出用マスク領域内に内容物が存在すればその被検査物を正常と判断し、欠品検出用マスク領域内に内容物が存在しなければその被検査物を欠品(不良品)と判断している。 In this missing item determination process, a missing item detection mask area, which is a missing item inspection area for performing a missing item inspection of the contents, is set in advance on the coordinate axis position assuming the accommodation position of the contents in the container. Detecting missing items by overlaying the contents developed on the basis of X-ray transmission data at the time of radiation exposure (X-ray detection amount detected by the detector with respect to the object to be inspected) and the mask area for missing item detection If the contents are present in the mask area, the inspection object is determined to be normal. If the contents are not present in the shortage detection mask area, the inspection object is determined to be missing (defective). ing.
しかしながら、上述した従来の欠品判定処理では、欠品検出用マスク領域内に完全に内容物が重ならなければ被検査物が欠品と判断しているため、収容体内で内容物が移動した場合、内容物が収容体に存在していても欠品と誤判断することがあった。 However, in the above-described conventional shortage determination process, if the contents do not completely overlap within the shortage detection mask area, it is determined that the object to be inspected is a shortage. In some cases, the contents were misjudged as missing parts even if the contents were present in the container.
そこで、上記問題に対処するため、本件出願人は、上記特許文献1に開示されるX異物検出装置を既に提案している。この特許文献1に開示されるX線異物検出装置では、被検査物として内容物が収容された収容体の先端位置を基準として欠品検出用マスク領域を設定し、この設定された欠品検出用マスク領域内に占める内容物の面積の割合によって欠品の有無を判断している。
上記特許文献1に開示されるX線異物検出装置によれば、収容体としての包装体やトレイがある程度剛性を有していれば、収容体の先端位置が変化しないので、収容体内の内容物の欠品を高精度に検出することができる。しかし、被検査物の搬送方向に対して収容体の先端にバラツキがある場合には、検出される収容体の先端の位置によって欠品検出用マスク領域が全体的にずれてしまい、欠品の誤判断を招くおそれがあった。
According to the X-ray foreign object detection device disclosed in
また、上記X線異物検出装置を採用して欠品検査を行うと、収容体の先端位置を基準として欠品検出用マスク領域を設定するので、トレイの移動量分だけ欠品検出用マスク領域が被検査物の搬送方向に対して全体的にずれてしまい、上記同様、欠品検出用マスク領域内に占める内容物の面積の割合が変化して誤った欠品検査を行うおそれがあった。 Further, when the missing item inspection is performed by using the X-ray foreign matter detecting device, the missing item detection mask area is set based on the position of the leading end of the container. As a result, the ratio of the area of the content occupied in the missing part detection mask area may change and the wrong missing part may be inspected. .
このX線検査装置は、トレイなどの所定の場所に収容されている商品の検査は可能であるが、本来内容物が存在しない領域(以下、不存在領域という)に対し、例えば焼売や餃子などの内容物の中身や欠片または異物などが存在していても欠陥品として検出することができなかった。 This X-ray inspection apparatus is capable of inspecting products stored in a predetermined place such as a tray, but for an area where contents are not originally present (hereinafter referred to as a non-existing area), for example, shochu and dumplings. Even if the contents, fragments, or foreign matter existed in the contents, it could not be detected as a defective product.
また、マヨネーズやソースなどといったゲル状や液体状の内容物が収容されている容器の場合、一般的に内容物の取出口が例えば金属製やプラスチック製の蓋部で保護され、更に蓋部に非透明のキャップが取り付けられている。この種の容器では、蓋部の接着が未完全であったり、蓋部の一部が剥がれたままキャップが閉められていると、内容物がキャップ内に漏れるおそれがあるが、外側からでは判別がつきにくい。このように、キャップ内で内容物が漏れている場合、従来のX線検査装置では、その被検査物を欠陥品として判別することができなかった。 In addition, in the case of containers containing gelled or liquid contents such as mayonnaise or sauce, the contents outlet is generally protected by a lid made of metal or plastic, for example. A non-transparent cap is attached. In this type of container, if the lid is incompletely bonded, or if the cap is closed with part of the lid peeled off, the contents may leak into the cap. Hard to stick. Thus, when the contents are leaking in the cap, the conventional X-ray inspection apparatus cannot determine the inspection object as a defective product.
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、不存在領域に存在している物の有無を検出して欠陥検査を行うことができるX線検査装置を提供することを第一の目的とし、さらに欠陥検査と同時に欠品検査と異物検査を同時に行うことができるX線検査装置を提供することを目的とするものである。 Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and it is a first object to provide an X-ray inspection apparatus capable of performing defect inspection by detecting the presence or absence of an object present in a non-existing region. Further, an object of the present invention is to provide an X-ray inspection apparatus capable of simultaneously performing a defect inspection and a foreign substance inspection simultaneously with a defect inspection.
請求項1記載のX線検査装置は、収容体に内容物Waが収容された被検査物WにX線を曝射し、このX線の曝射に伴うX線透過量に基づいて前記被検査物の検査を行うX線検査装置1において、
前記被検査物のX線透過量のレベルが他と違う部分があるか否かにより当該被検査物の異物の混入の有無を判別する異物判別手段19cと、
前記X線透過量に基づいて当該被検査物の内容物の領域を抽出する内容物領域抽出手段18と、該内容物領域抽出手段で抽出した領域以外の所定領域を不存在領域Nbとして設定する不存在領域設定手段15bと、前記不存在領域設定手段から設定された前記不存在領域内に不用物が存在するか否かを判断して欠陥の有無を判別する欠陥判別手段19bとを備え、
前記被検査物内の異物の混入の有無と当該被検査物の欠陥の有無とを、共に当該被検査物のX線透過量に基づいて同時に検査することを特徴とするの有無とを、共に当該被検査物のX線透過量に基づいて同時に検査することを特徴とする。
The X-ray inspection apparatus according to
A foreign matter discriminating means 19c for discriminating the presence or absence of foreign matter in the inspected object according to whether or not there is a portion where the level of the X-ray transmission amount of the inspected object is different from others
Based on the X-ray transmission amount, the content area extracting means 18 for extracting the content area of the object to be inspected, and a predetermined area other than the area extracted by the content area extracting means is set as the nonexistent area Nb. comprising a non-existing
And whether to characterized in that simultaneously tested on the basis the the presence or absence of a defect of the presence and the object to be inspected for contamination of foreign matter in the object to be inspected, both in the X-ray transmission amount of the object to be inspected, both The inspection is performed simultaneously based on the X-ray transmission amount of the inspection object .
請求項2記載のX線検査装置は、請求項1のX線検査装置において、
前記欠陥判別手段19bは、前記収容体よりX線透過量が低く前記内容物Waが持つ所定の面積よりも小さい面積の物体が存在する場合、及び前記収容体よりX線透過量が低く前記内容物よりX線透過量が高い物体が存在する場合に不用物が存在すると判断して欠陥の有無を判別することを特徴とする。
The X-ray inspection apparatus according to
The defect discriminating means 19b has an X-ray transmission amount lower than that of the container, and there is an object having an area smaller than a predetermined area of the content Wa. When there is an object having an X-ray transmission higher than that of an object, it is determined that an unnecessary object is present and the presence or absence of a defect is determined.
請求項3記載のX線検査装置は、請求項1のX線検査装置において、
前記内容物Waの欠品検査を行うための前記内容物と略同等の大きさに欠品検査領域(Mを設定する欠品検査領域設定手段15aと、
前記被検査物のX線透過量から得られる前記内容物の領域と前記欠品検査領域とを重ね合わせて前記内容物の欠品の有無を判別する欠品判別手段19aとを備えたことを特徴とする。
The X-ray inspection apparatus according to
A missing part inspection area (a missing part inspection area setting means 15a for setting M) to a size substantially equal to the contents for performing the missing part inspection of the contents Wa;
A
請求項4記載のX線検査装置は、請求項3のX線検査装置において、
前記欠品検査領域設定手段15aで設定された前記欠品検査領域Mにおける前記内容物の大きさから該内容物の移動許容範囲だけ前記欠品検査領域を広げた前記欠品検査領域に対する反転領域を設定する検査領域反転処理手段21を備え、
前記検査領域反転処理手段において設定した反転領域を前記不存在領域Nbとし、前記不存在領域内に不用物が存在するか否かにより欠陥の有無を判別することを特徴とする。
The X-ray inspection apparatus according to
A reversal area for the missing part inspection area, which is obtained by expanding the missing part inspection area by the allowable movement range of the contents from the size of the contents in the missing part inspection area M set by the missing part inspection area setting means 15a. Inspection region reversing processing means 21 for setting
The inversion area set in the inspection area inversion processing means is defined as the nonexistence area Nb, and the presence or absence of a defect is determined based on whether or not an unnecessary object exists in the nonexistence area .
請求項5記載のX線検査装置は、請求項4のX線検査装置において、
前記被検査物Wの内容物WaのX線透過量と、前記被検査物の内容物の配置に応じて予め設定された基準位置検出リミット値とを比較し、最初に前記基準位置検出リミット値より小さい値を示す前記内容物のX線透過量の位置を前記収容体の先頭に位置する前記内容物の略先端位置Pと判別し、この略先端位置を基準位置として算出する検査領域基準位置算出手段20を備え、
前記欠品検査領域設定手段15aは、前記検査領域基準位置算出手段によって算出された基準位置を基準として前記欠品検査領域Mを設定することを特徴とする。
The X-ray inspection apparatus according to
The X-ray transmission amount of the contents Wa of the inspection object W is compared with a reference position detection limit value set in advance according to the arrangement of the contents of the inspection object, and first the reference position detection limit value The inspection region reference position for determining the position of the X-ray transmission amount of the contents showing a smaller value as the approximate tip position P of the contents located at the head of the container and calculating the approximate tip position as a reference position A calculating means 20 ;
The missing item inspection area setting means 15a sets the missing item inspection area M with reference to the reference position calculated by the inspection area reference position calculating means .
本発明によれば、内容物以外の領域、すなわち本来物が存在してはならない領域に不用物(例えば金属、ガラス、石、骨などの異物や内容物の破片等)が存在している場合でも欠陥品として確実に検出することが可能となり、被検査物の検査精度に対する信頼性が向上する。 According to the present invention, when there is an unnecessary object (for example, a foreign object such as metal, glass, stone, bone, or a fragment of the contents) in an area other than the contents, that is, an area where the original object should not exist. However, it can be reliably detected as a defective product, and the reliability with respect to the inspection accuracy of the inspection object is improved.
欠品検査に用いる欠品検査領域を利用し、この欠品検査領域における内容物の大きさから内容物の移動許容範囲だけ欠品検査領域を広げた欠品検査領域に対する反転領域を不存在領域として欠陥検査を行う構成とすれば、確実に存在領域と不存在領域とを区別して欠品検査と欠陥検査を行うことができる。また、不存在領域を設定する構成とすれば、内容物の大きさや形状、更には配置に応じてユーザが自由に不存在領域を設定することができ、部分的な欠陥検査も可能となり、検査の自由度が増す。 Using the shortage inspection area used for the shortage inspection, the inversion area with respect to the shortage inspection area, which has been expanded from the size of the content in this shortage inspection area by the allowable movement range of the content, is the absence area. If the configuration is such that the defect inspection is performed, it is possible to reliably perform the shortage inspection and the defect inspection while distinguishing between the existing region and the non-existing region. In addition, if the configuration is such that the nonexistence area is set, the user can freely set the nonexistence area according to the size, shape, and arrangement of the contents, and a partial defect inspection becomes possible. The degree of freedom increases.
以下、本発明に係るX線検査装置の形態を図面を参照して詳細に説明する。 Hereinafter, an X-ray inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
図1は本発明によるX線検査装置の外観を示す斜視図、図2(a)は同X線検査装置の検査対象となる内容物が包装体により包装された被検査物の概略平面図、図2(b)は同X線検査装置の検出対象となるトレイに収容された被検査物の概略平面図、図2(c)は同X線検査装置の検出対象となる内容物が液体状である被検査物の概略平面図、図3は同X線検査装置の第1形態の電気的構成を示すブロック図、図4(a)は被検査物における製品領域の一例を示す図、図4(b)は被検査物における不存在領域の一例を示す図、図4(c)は被検査物の欠陥状態の一例を示す図、図5は同X線検査装置の第2形態の電気的構成を示すブロック図、図6(a)は収容体内に被検査物が正常に収容された状態を示す図、図6(b)は被検査物が欠品状態を示す図、図6(c)は被検査物の面積比による内容物の検出物の検出状態を示す図、図7(a)は被検査物の製品位置に欠品検査領域を設定した一例を示す図、図7(b)は図7(a)の欠品検査領域を利用した不存在領域の一例を示す図、図7(c)は被検査物の欠陥状態の一例を示す図、図8は同X線検査装置の第3形態の電気的構成を示すブロック図、図9(a)は被検査物の不存在領域を設定した一例を示す図、図9(b)は被検査物の欠陥状態の一例を示す図である。 FIG. 1 is a perspective view showing an external appearance of an X-ray inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2A is a schematic plan view of an inspection object in which contents to be inspected by the X-ray inspection apparatus are wrapped by a package, FIG. 2B is a schematic plan view of an object to be inspected accommodated in a tray that is a detection target of the X-ray inspection apparatus, and FIG. 2C is a liquid content that is a detection target of the X-ray inspection apparatus. 3 is a schematic plan view of the inspection object, FIG. 3 is a block diagram showing the electrical configuration of the first form of the X-ray inspection apparatus, and FIG. 4A is a diagram showing an example of a product area in the inspection object, FIG. 4 (b) is a view showing an example of a non-existing region in the inspection object, FIG. 4 (c) is a view showing an example of a defect state of the inspection object, and FIG. 5 is an electric diagram of the second form of the X-ray inspection apparatus. FIG. 6A is a block diagram showing a general configuration, FIG. 6A is a diagram showing a state in which the object to be inspected is normally accommodated in the container, and FIG. FIG. 6 (c) is a diagram showing the detected state of the detected object according to the area ratio of the object to be inspected, and FIG. 7 (a) is a shortage inspection area set at the product position of the inspected object. FIG. 7B is a diagram showing an example of a non-existing region using the shortage inspection region of FIG. 7A, and FIG. 7C is an example of a defect state of the inspection object. FIG. 8, FIG. 8 is a block diagram showing the electrical configuration of the third embodiment of the X-ray inspection apparatus, FIG. 9 (a) is a diagram showing an example in which a non-existing area of the inspection object is set, and FIG. 9 (b) It is a figure which shows an example of the defect state of a to-be-inspected object.
本例のX線検査装置1は、製品ラインの搬送路の一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物Wの欠陥検査(被検査物Wの欠陥の有無)、欠品検査(内容物の欠品の有無)や被検査物Wの異物混入検査(被検査物W中の異物混入の有無)を行うものである。
The
特に、本例のX線検査装置1は、被検査物Wとして内容物Waが収容体に収容された場合の欠陥検査を安定して行う場合に適しており、本来内容物Waが存在しない領域(不存在領域)に不用物が存在するか否かによって欠陥の有無を検査している。ここで、本例で言う不用物としては、以下の2通りが考えられる。まず、一つは、収容体よりもX線透過量が低く、内容物が持つ所定の面積よりも小さい面積の物体(例えば金属、ガラス、石、骨などの異物や内容物の破片等)が不存在領域に存在する場合である。この場合、内容物以外に存在する異物が検出可能となる。もう一つは、収容体よりもX線透過量が低く、内容物が持つX線透過量よりも高い物体(例えば内容物の破片等)が不存在領域に存在する場合である。この場合には、特に内容物の面積を設定することなく、内容物の破片等が検出可能となる。
In particular, the
本例において、欠陥検査対象となる被検査物Wは、内容物が収容体に収容されたものである。具体的には、図2(a)に示すような被検査物Wとして内容物Waが包装体Sにより包装されたもの、図2(b)に示すような被検査物Wとして内容物WaがトレイTに収容されて包装体Sにより包装されたもの、図2(c)に示すような被検査物Wとして内容物Wbが液体状で包装体Sに収容されているものなどがある。 In this example, the inspection object W to be subjected to defect inspection is one in which the contents are accommodated in a container. Specifically, the content Wa is packaged by the package S as the inspection object W as shown in FIG. 2 (a), and the content Wa is as the inspection object W as shown in FIG. 2 (b). There are those accommodated in the tray T and packaged by the package S, and those to be inspected W as shown in FIG.
なお、本例では、包装体Sのみ又はトレイTを内包する包装体Sを収容体と称している。また、図2(a),(b)の例では、被検査物Wとして6つの内容物Waが包装体Sに収容されたものを図示しているが、内容物Waの数や大きさは収容される内容物に応じて変わるものである。 In this example, only the package S or the package S containing the tray T is referred to as a container. Moreover, in the example of FIG. 2 (a), (b), the thing in which six contents Wa were accommodated in the package S as the to-be-inspected object W is illustrated, but the number and size of the contents Wa are as follows. It changes according to the contents to be accommodated.
図1に示すX線検査装置1は、搬送部2と異物検出部3とが装置本体4内部に設けられ、表示器5が装置本体4の前面上部に設けられている。
In the
搬送部2は、内容物Waが収容体(包装体S、又は包装体SとトレイTの組み合わせ)に収容された同一品種の被検査物Wを、所定間隔をおいて順次搬送している。この搬送部2は、例えば装置本体4に対して水平に配置されたベルトコンベアで構成することができる。搬送部2は、図1に示す駆動モータ6の駆動により予め設定された所定の搬送速度で搬入口7から搬入された被検査物Wを搬出口8側(図1の搬送方向X)に向けて搬送させる。
The
検出部3は、順次搬送される被検査物Wに対してX線を曝射し、このX線の曝射に伴って被検査物Wを透過してくるX線を検出するもので、搬送部2の上方に所定高さ離れて設けられるX線発生器9と、搬送部2内にX線発生器9と対向して設けられるX線検出器10を備えて構成される。
The
X線発生器9は、金属製の箱体11内部に設けられる円筒状のX線管12を不図示の絶縁油により浸漬した構成であり、X線管12の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてX線を生成している。X線管12は、その長手方向が被検査物Wの搬送方向Xと直交する搬送幅方向(図1のY方向)に設けられている。X線管12により生成されたX線は、下方のX線検出器10に向けて、長手方向に沿った不図示のスリットにより略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
The
X線検出器10は、収容体Sに収容された被検査物Wに対してX線が曝射されたときに、被検査物Wを透過してくるX線を検出し、この検出したX線の透過量に応じた電気信号を出力している。このX線検出器10は、搬送部2上を搬送される被検査物Wの搬送方向Xと直交する搬送幅方向Yに沿って設けられる。このX線検出器10には、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。
The
次に、本発明の第1形態のX線検査装置について図3及び図4を参照しながら説明する。なお、欠陥検査対象となる被検査物Wは、内容物Waが収容体に収容されたものである。具体的には、図2(a)に示すような被検査物Wとして内容物Waが包装体Sにより包装されたもの、図2(b)に示すような被検査物Wとして内容物WaがトレイTに収容されて包装体Sにより包装されたもの、図2(c)に示すような被検査物Wとして内容物Wbが液体状で包装体Sに収容されているものなどがある。 Next, the X-ray inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In addition, the to-be-inspected object W used as a defect inspection object is what the content Wa was accommodated in the container. Specifically, the content Wa is packaged by the package S as the inspection object W as shown in FIG. 2 (a), and the content Wa is as the inspection object W as shown in FIG. 2 (b). There are those accommodated in the tray T and packaged by the package S, and those to be inspected W as shown in FIG.
図3に示すように、搬送部2の搬入口7側には、被検査物Wの通過を検出するための位置検出手段13が設けられている。この位置検出手段13は、例えば搬送部2としてのベルトコンベアの入口側に設けられる一対の投受光器からなるフォトセンサで構成される。この構成により、被検査物Wがフォトセンサの前を通過している間では位置検出手段13からオン信号が信号処理手段14にタイミング信号として入力される。
As shown in FIG. 3, position detection means 13 for detecting the passage of the inspection object W is provided on the carry-in
このような構成によるX線検出器10では、搬送部2上を搬送される被検査物Wに対してX線発生器9からX線が曝射される。そして、この被検査物WへのX線の曝射に伴って被検査物Wを透過してくるX線をシンチレータで受けて光に変換する。このシンチレータで変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオードによって受光される。そして、各フォトダイオードは、受光した光を電気信号に変換して出力する。このX線検出器10は、受けたX線の強さに対応したレベルを有した電気信号を信号処理手段14に出力する。
In the
図3において、信号処理手段14は、CPUやメモリなどを備えて構成され、位置検出手段13が被検査物Wを検出したときのオン信号をタイミング信号とし、位置検出手段13がオン信号を出力している期間が被検査物W(包装体S)の長さと判断し、X線検出器10からの電気信号(X線透過量に応じた信号)を取り込んで各種信号処理を行っている。
In FIG. 3, the
図3に示すように、信号処理手段14は、設定入力手段15、記憶手段(データメモリ)16、画像処理手段17を備えている。
As shown in FIG. 3, the
設定入力手段15は、被検査物Wとして包装体Sに収容された内容物Waの欠陥・欠品検査や異物混入検査に関する各種設定、表示に関する各種設定、各種指示を与えるためのユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成される。 The setting input means 15 is operated by a user for giving various settings relating to defect / missing item inspection and foreign matter mixing inspection of the contents Wa contained in the package S as the inspection object W, various settings relating to display, and various instructions. It consists of multiple keys and switches.
具体的に、設定入力手段15では、欠陥の有無を判別するための基準となる検出リミット値、内容物Waが持つ面積(許容範囲を含む)が設定される。また、この他、搬送部2の搬送速度の設定、欠品の有無の判別に使用する内容物の数量や面積比や内容物を判別するための基準となる内容物検出リミット値等の内容物情報、被検査物W中の異物の混入の有無を判別するための基準となる異物検出リミット値等の設定を行うことができる。
Specifically, the setting
なお、上記面積比や各検出リミット値は、内容物Waが包装体S内に占める面積の割合、包装体Sの種類、被検査物Wの品種、検出対象となる異物の種類などに応じて適宜設定可能とされている。 The area ratio and each detection limit value depend on the ratio of the area occupied by the contents Wa in the package S, the type of the package S, the type of the inspection object W, the type of foreign matter to be detected, and the like. It can be set as appropriate.
記憶手段16には、各被検査物W毎のX線透過データ(被検査物WへのX線の曝射に伴ってX線検出器10が検出するX線検出量のデータ)が格納される。このX線透過データは、X線検出器10からの電気信号を不図示のA/D変換器によりA/D変換して得られる。さらに説明すると、この記憶手段16には、1つの被検査物Wの検査を行う毎に、X線検出器10の1ライン(図1のY方向)あたり例えば640個のX線透過データが、少なくとも搬送される被検査物Wの搬送方向Xの長さ(前端から後端までの検出期間に相当)に対応した所定ライン数(480ライン)だけ格納される。
The storage means 16 stores X-ray transmission data for each inspection object W (data of X-ray detection amount detected by the
画像処理手段17は、記憶手段16に格納された1つの被検査物WのX線透過データに基づいて各種画像処理を行っている。具体的に、画像処理手段17は、X線透過データを信号処理し、この信号処理により異物が強調された濃淡レベルの画像データを表示器5に表示出力している。その際、被検査物W内の異物部分の表示濃度を背景や他の部分と異なるように濃く表示したり、異物部分以外と異なる色で表示している。これにより、包装体S内に内容物Waが収容された被検査物Wを平面で見た外形の状態と、この被検査物W内でのX線の透過具合を表示器5の表示画面上で確認することができ、異物の混入位置も把握できる。また、画像処理手段17は、「OK」,「NG」の良否判定結果や総検査数、良品数、NG総数などの検査結果を表示器5に表示出力している。
The
画像処理手段17は、図3に示すように、内容物領域抽出手段18、判別手段19を備えている。内容物領域抽出手段18は、記憶手段16に格納された1つの被検査物WのX線透過データから図4(a)に示す被検査物Wの内容物Waの領域を抽出している。この内容物Waの領域を抽出する際には、予め設定入力手段15により収容体Sと内容物Waの各X線透過量の略中間レベル付近に検出リミット値を設定しておく。一般に、内容物Waの方が収容体SよりもX線透過量が低い。従って、内容物領域抽出手段18は、記憶手段16のX線透過データと、検出リミット値とを比較し、検出リミット値より低いX線透過データを内容物のX線透過データとし、この検出リミット値より低いX線透過データの領域を内容物Waの領域として抽出している。
As shown in FIG. 3, the
判別手段19は、欠品判別手段19a、欠陥判別手段19b、異物判別手段19c、良否判別手段19dを有している。 The determination means 19 includes a shortage determination means 19a, a defect determination means 19b, a foreign matter determination means 19c, and a pass / fail determination means 19d.
欠品判別手段19aは、内容物領域抽出手段18により抽出された内容物Waの領域のX線透過データが設定入力手段15に入力された被検査物W毎の内容物情報(内容物の数量や面積等)を満足するか否かにより内容物が正常に収容されているか否か(欠品の有無)を判別している。欠品判別手段19aは、内容物Waの領域のX線透過データが内容物情報を満足すれば「OK」と判別し、内容物の個数が少ない等の異常が確認されて内容物情報を満足しなければ「NG(欠品)」と判別する。このときの判別結果は、判別信号(OK信号、又はNG信号)として良否判別手段19dに出力される。 The out-of-stock determination means 19a is the content information (quantity of contents) for each inspection object W in which the X-ray transmission data of the area of the content Wa extracted by the content area extraction means 18 is input to the setting input means 15. Or whether the contents are normally accommodated (whether there is a missing item) or not. The out-of-stock determination means 19a determines “OK” if the X-ray transmission data of the content Wa area satisfies the content information, and satisfies the content information by confirming an abnormality such as a small number of content. Otherwise, it is determined as “NG (out of stock)”. The discrimination result at this time is output as a discrimination signal (OK signal or NG signal) to the pass / fail discrimination means 19d.
欠陥判別手段19bでは、内容物領域抽出手段18により抽出された内容物Waの領域を存在領域Naとして認識し、この存在領域Na以外の領域を本来物が存在してはならない不存在領域Nbとして認識している。この不存在領域Nbは、例えば抽出された内容物の領域を被検査物W内で反転することにより認識することができる。そして、欠陥判別手段19bは、不存在領域Nbを認識すると、この不存在領域Nbに不用物が存在するか否かにより欠陥の有無を判別している。この不存在領域Nbに不用物が存在する例としては、例えば内容物の中身が飛び出ている状態や内容物の一部が収容体内に飛散している状態が考えられる。
In the defect discriminating means 19b, the area of the content Wa extracted by the content area extracting means 18 is recognized as an existing area Na, and an area other than the existing area Na is set as a nonexistent area Nb in which the original object should not exist. It has recognized. This non-existing area Nb can be recognized, for example, by inverting the extracted content area in the inspection object W. Then, when recognizing the nonexisting area Nb, the
欠陥判別手段19bは、不存在領域Nb内のX線透過データのX線透過量が包装体SのX線透過量よりも低く、かつ不存在領域Nb内のX線透過データによる面積が内容物Waが持つ所定の面積よりも小さい面積であれば、不存在領域Nb内に不用物が存在するものと判断し、欠陥あり「NG(欠陥)」と判別する。また、設定入力手段15から内容物Waが持つ所定の面積の設定入力がない場合には、不存在領域Nb内のX線透過データのX線透過量が包装体SのX線透過量よりも低く、かつ内容物WaのX線透過量よりも高ければ、不存在領域Nb内に不用物が存在するものと判断し、欠陥あり「NG(欠陥)」と判別する。例えば図4(c)では、不存在領域Nb(図4(b),(c)の右上がりの斜線部分)内に内容物Wa以外に不用物(例えば異物や内容物Waの破片等で、図4(c)では黒丸印で示す2箇所)が存在するので、上記判断条件が当てはまり、不存在領域Nb内に不用物が存在すると判断し、「NG(欠陥)」と判別する。このときの判別結果は、判別信号(NG信号)として良否判別手段19dに出力される。 The defect discriminating means 19b has the X-ray transmission amount of the X-ray transmission data in the non-existing region Nb lower than the X-ray transmission amount of the package S, and the area by the X-ray transmission data in the non-existing region Nb is the contents If the area is smaller than the predetermined area of Wa, it is determined that there is an unnecessary object in the non-existing region Nb, and it is determined that there is a defect “NG (defect)”. Further, when there is no setting input of the predetermined area of the content Wa from the setting input means 15, the X-ray transmission amount of the X-ray transmission data in the non-existing region Nb is larger than the X-ray transmission amount of the package S. If it is low and higher than the X-ray transmission amount of the content Wa, it is determined that an unnecessary object is present in the non-existing region Nb, and it is determined that there is a defect “NG (defect)”. For example, in FIG. 4 (c), in the non-existing area Nb (the hatched portion rising to the right in FIGS. 4 (b) and (c)) In FIG. 4C, there are two places indicated by black circles). Therefore, the above determination condition is applied, and it is determined that there is an unnecessary object in the non-existing area Nb, and “NG (defect)” is determined. The discrimination result at this time is output as a discrimination signal (NG signal) to the pass / fail discrimination means 19d.
これに対し、欠陥判別手段19bは、上記の判断条件に当てはまらず、不存在領域Nb内に不用物が存在していない場合には「OK」と判別する。例えば図4(b)では、不存在領域Nb内には不用物が存在しないので、上記判断条件が当てはまらず、不存在領域Nb内に不用物が存在しないと判断し、「OK」と判別する。このときの判別結果は、判別信号(OK信号)として良否判別手段19dに出力される。 On the other hand, the defect discriminating means 19b discriminates “OK” when the above-mentioned judgment conditions are not satisfied and there is no waste in the non-existing area Nb. For example, in FIG. 4B, since there is no waste in the non-existing area Nb, it is determined that the above judgment condition does not apply, and there is no waste in the non-existing area Nb, and “OK” is determined. . The determination result at this time is output as a determination signal (OK signal) to the pass / fail determination means 19d.
異物判別手段19cは、被検査物Wの内容物有効領域(内容物が存在してよい領域)において、X線透過データのX線透過量が他と違う部分を異物として判断している。さらに説明すると、異物判別手段19cは、記憶手段16に格納された被検査物WのX線透過データのX線透過量と、設定入力手段15により予め設定された異物検出リミット値とを比較し、X線透過量が異物検出リミット値より低いときに、その被検査物Wに異物が混入していると判断している。このときの判別結果は、判別信号(OK信号、又はNG信号)として良否判別手段19dに出力される。なお、異物検出リミット値は、被検査物W毎に適宜設定入力手段15から設定可能となっている。
The foreign matter discriminating means 19c judges a portion where the X-ray transmission amount of the X-ray transmission data is different from the other in the effective content area (the area where the content may be present) of the inspection object W. More specifically, the foreign
良否判別手段19dは、欠品判別手段19aからの判別信号、欠陥判別手段19bからの判別信号、異物判別手段19cからの判別信号に基づき、その被検査物Wが総合的に見て良品か不良品かを判別し、その判別結果として正常又は不良を示す選別信号を外部出力している。 The quality determination means 19d is based on the determination signal from the shortage determination means 19a, the determination signal from the defect determination means 19b, and the determination signal from the foreign matter determination means 19c. It is determined whether the product is a non-defective product, and a selection signal indicating normality or failure is output to the outside as the determination result.
すなわち、この良否判別手段19dでは、欠品判別手段19a、欠陥判別手段19b及び異物判別手段19cのそれぞれから正常を示す判別信号(OK信号)が入力されると、その被検査物Wに欠陥・欠品及び異物混入無しと判別し、正常を示す選別信号を外部出力する。これに対し、欠品判別手段19aから欠品を示す判別信号(NG信号)が入力されるか、欠陥判別手段19bから欠陥を示す判別信号(NG信号)が入力されるか、異物判別手段19cから異物混入を示す判別信号(NG信号)が入力されると、被検査物Wに欠陥・欠品又は異物混入有りと判別し、不良を示す選別信号を外部出力する。 That is, in this pass / fail determination means 19d, when a determination signal (OK signal) indicating normality is input from each of the missing item determination means 19a, the defect determination means 19b, and the foreign matter determination means 19c, the inspection object W is inspected for defects. It is determined that there is no missing item or foreign matter, and a sorting signal indicating normality is output externally. On the other hand, a determination signal (NG signal) indicating a shortage is input from the shortage determination means 19a, a determination signal (NG signal) indicating a defect is input from the defect determination means 19b, or a foreign matter determination means 19c. When a determination signal (NG signal) indicating contamination of foreign matter is input from, it is determined that the inspection object W is defective, missing or foreign matter is mixed, and a selection signal indicating failure is externally output.
表示器5の表示画面には、判別手段19の判別結果に基づいて被検査物Wを平面視したX線透過画像(異物などが強調表示されるようにX線透過データを信号処理したもの)、「OK」や「NG」の良否判定結果、総検査数、良品数、NG総数などの検査結果が設定入力手段15からの所定のキー操作に基づいて表示される。
On the display screen of the
上記構成のX線検査装置1を用いて包装体Sに収容された被検査物Wの各種検査を行う場合には、信号処理手段14において以下の処理が実行される。まず、検査対象となる被検査物Wの内容物に応じて最適な検出リミット値を設定入力手段15から予め入力しておく。
When performing various inspections of the inspection object W accommodated in the package S using the
搬送部2上を搬送される被検査物WにX線が曝射されると、このX線の曝射に伴うX線透過データが記憶手段16に格納される。次に、内容物抽出手段18は、全体のX線透過データから被検査物Wの内容物Waのみの領域を抽出する。
When X-rays are exposed to the inspection object W transported on the
その後、欠品判別手段19aは、設定入力手段15から予め設定された被検査物Wの内容物情報を読み出し、内容物Waの領域内のX線透過データが内容物情報を満足するか否か判別する。すなわち、欠品判別手段19aは、内容物Waの領域内に内容物Waが正常に収容されているか否かにより欠品の有無を判別する。また、欠陥判別手段19bでは、内容物領域抽出手段18により抽出された内容物Waの領域以外の領域を不存在領域Nbと認識し、この不存在領域Nb内に不用物が存在するか否かにより欠陥の有無を判別する。
Thereafter, the
ところで、本例のX線検査装置1では、上述した被検査物Wの欠陥・欠品検査とともに、被検査物WにX線を曝射したときのX線透過量から被検査物W中の異物混入の有無の検査も行われる。
By the way, in the
被検査物W中の異物混入の有無を検査する場合には、記憶手段16に記憶されたX線透過データと、設定入力手段15により予め設定された異物検出リミット値とを比較する。そして、X線透過データのX線透過量が異物検出リミット値より小さいときに、その被検査物Wに異物が混入していると判断する。
When inspecting the presence or absence of foreign matter in the inspected object W, the X-ray transmission data stored in the
このように、上述した第1形態のX線検査装置では、被検査物WのX線透過データから内容物の領域を抽出し、この内容物の領域以外の領域を不存在領域Nbとして認識し、この不存在領域Nb内に不用物が存在しているか否かにより被検査物Wの欠陥検査を行う。また、この欠陥検査と同時に、欠品検査と異物混入検査を行っている。 Thus, in the X-ray inspection apparatus according to the first embodiment described above, the content area is extracted from the X-ray transmission data of the inspection object W, and the area other than the content area is recognized as the nonexistence area Nb. The defect inspection of the inspection object W is performed depending on whether or not an unnecessary object is present in the non-existing area Nb. Simultaneously with this defect inspection, a shortage inspection and a foreign matter contamination inspection are performed.
次に、第2形態のX線検査装置について図5乃至図7を参照しながら説明する。なお、図5のブロック構成図において、第1形態と同一の構成要件については同一番号を付し、その説明を省略する。 Next, an X-ray inspection apparatus according to a second embodiment will be described with reference to FIGS. In the block configuration diagram of FIG. 5, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
第2形態のX線検査装置において、欠品検査対象となる被検査物Wは、内容物が収容体に収容されたものであり、正常な状態で内容物が収容体内で予め設定入力手段15から設定される許容移動範囲以上の移動が無いものとしている。具体的には、図2(b)に示すような被検査物Wとして内容物WaがトレイT上に並べられて包装体Sにより包装されたもの、図2(c)に示すような被検査物Wとして内容物Wbが液体状で包装体Sに収容されているものなどがある。 In the X-ray inspection apparatus according to the second embodiment, the inspected object W to be inspected for shortage is one in which the contents are stored in the container, and the contents are set in advance in the container in the normal state. It is assumed that there is no movement beyond the allowable movement range set from Specifically, the content Wa is arranged on the tray T and packaged by the package S as the inspection object W as shown in FIG. 2B, and the inspection object as shown in FIG. As the item W, there is one in which the content Wb is in a liquid state and is accommodated in the package S.
図5に示すように、第2形態のX線検査装置1は、第1形態の構成要件に加えて、設定入力手段15が更に欠品検査領域設定手段15aを備え、画像処理手段17が更に検査領域基準位置算出手段20と検査領域反転処理手段21を備えて構成されている。
As shown in FIG. 5, in the
欠品検査領域設定手段15aは、被検査物Wとして包装体Sに収容された内容物Waの欠品検査を行う際に、収容体内の内容物Waの大きさ、形状、配置に応じて被検査物W毎に予め記憶された複数種類の欠品検査領域Mから検査対象となる被検査物Wの内容物Waに適合する欠品検査領域Mを選択設定している。この欠品検査領域Mは、図6(a),図7(a)に示すように、最初の内容物Waの略先端位置Pを基準として、座標軸位置x,y及び範囲xL,yLを設定することにより選択設定され、欠品検査領域M以外の領域が欠品検査に対する非検査領域M1となる。図6(a)に示すように、欠品検査領域Mは、基準位置を基準とし、座標軸位置x,yが被検査物Wの対応する各内容物Waのほぼ中心に位置し、範囲xL,yLが内容物Waと略同等の大きさ(図6(a)の例では、内容物Waより若干大きい大きさ)に設定される。なお、欠品検査に対する非検査領域M1は、その部分が覆い隠されてX線透過データの信号処理が行われない領域である。これに対し、欠品検査領域Mは、その部分が覆い隠されることなくX線透過データの信号処理が行われる領域である。
When the shortage inspection of the content Wa contained in the package S as the inspection object W is performed, the shortage inspection
上記設定項目の座標軸位置x,y及び範囲xL,yLは、例えば検査を行う前の初期設定時に実際に被検査物Wを搬送部2で搬送させて設定することができる。例えば収容体内に欠品なく収容した被検査物Wをサンプルとして複数用意し、搬送部2で搬送させながら上記設定項目を変化させて「OK」と判別されるか確認する。その際、座標軸位置x,yを収容体内で各所に移動させ、また、範囲xL,yLを変化させて全てのサンプルで「OK」と判別されるか確認する。そして、上記設定項目に加え、面積比Bを可変させて全てのサンプルで「OK」となったときの値を最良の設定とする。なお、上記設定を行う際には、収容体に内容物を収容しない状態のサンプルについて全て「NG」と判別されるか確認しておく。
The coordinate axis positions x and y and the ranges xL and yL of the setting items can be set by actually transporting the object W to be inspected by the
検査領域基準位置算出手段20は、被検査物WへのX線の曝射時に得られる被検査物Wの内容物WaのX線透過量と、被検査物Wの内容物Waの配置に応じて予め設定された基準位置検出リミット値とを比較し、最初に基準位置検出リミット値より小さい値を示す内容物WaのX線透過量の位置を収容体(包装体S又はトレイTを内包する包装体S)の先頭に位置する内容物Waの略先端位置と判別し、この略先端位置を基準位置として算出している。 The inspection area reference position calculation means 20 responds to the X-ray transmission amount of the contents Wa of the inspection object W obtained when the inspection object W is exposed to X-rays and the arrangement of the contents Wa of the inspection object W. The reference position detection limit value set in advance is compared, and the position of the X-ray transmission amount of the content Wa showing a value smaller than the reference position detection limit value is contained in the container (including the package S or the tray T). It is determined that the content Wa is located at the front end of the package S), and the approximate front end position is calculated as the reference position.
さらに説明すると、この検査領域基準位置算出手段20では、内容物領域抽出手段18によって抽出された被検査物Wの内容物Waのみの領域のX線透過データが入力されると、このX線透過データの各ライン(搬送方向Xと直交する搬送幅方向Y)毎のX線透過量と、予め設定入力手段15で設定された基準位置検出リミット値とを比較する。そして、ライン毎のX線透過量のうち最初に基準位置検出リミット値より小さい値を示す位置を内容物Waの先頭位置と判断し、その位置を基準位置として算出している。
More specifically, when the X-ray transmission data of the region of only the content Wa of the inspection object W extracted by the content
検査領域反転処理手段21は、欠品検査領域設定手段15aから設定された欠品検査領域Mに対し、内容物Waの大きさから内容物Waの移動許容範囲だけ欠品検査領域Mを広げて被検査物W内を反転させた欠品検査領域Mに対する反転領域を不存在領域Nb(欠陥検査領域)としている。検査領域反転処理手段21により欠品検査領域Mが反転処理されると、内容物Waの大きさから内容物Waの移動許容範囲だけ広げた領域が覆い隠されて信号処理されない欠陥検査に対する非検査領域M2となり、この覆い隠された非検査領域M2以外の部分の領域(欠陥検査領域Mb)が不存在領域Nbとなる。なお、欠陥検査に対する非検査領域M2は、その部分が覆い隠されてX線透過データの信号処理が行われない領域である。これに対し、欠陥検査領域Mb(不存在領域Nb)は、その部分が覆い隠されることなくX線透過データの信号処理が行われる領域である。 The inspection area reversal processing means 21 expands the missing part inspection area M from the size of the contents Wa by the allowable movement range of the contents Wa with respect to the missing part inspection area M set by the missing part inspection area setting means 15a. An inversion area with respect to the missing part inspection area M that is inverted in the inspection object W is defined as a nonexistence area Nb (defect inspection area). When the shortage inspection area M is reversed by the inspection area reversal processing means 21, a non-inspection for a defect inspection in which the area widened by the movement allowable range of the content Wa from the size of the content Wa is covered and not signal-processed. An area M2 is formed, and an area (defect inspection area Mb) other than the covered non-inspection area M2 becomes a non-existing area Nb. Note that the non-inspection area M2 for defect inspection is an area where the portion is covered and X-ray transmission data signal processing is not performed. On the other hand, the defect inspection area Mb (non-existence area Nb) is an area where the signal processing of the X-ray transmission data is performed without covering the portion.
欠品判別手段19aは、図7(a)に示すように、欠品検査領域設定手段15aから設定された欠品検査領域Mに内容物Waが存在するか否かにより被検査物Wの欠品の有無を判別している。
As shown in FIG. 7 (a), the missing
例えば図6(a)は欠品検査領域Mと、内容物Waの領域を重ね合わせた状態を示している。図6(a)の例では、欠品検査領域Mに内容物Waの領域の全てが含まれるので、包装体S内に内容物Waが正常に収容されていると判断し、「OK」と判別する。このときの判別結果は、判別信号(OK信号)として良否判別手段19dに出力される。 For example, FIG. 6A shows a state where the shortage inspection area M and the area of the contents Wa are overlapped. In the example of FIG. 6 (a), since the shortage inspection area M includes the entire area of the content Wa, it is determined that the content Wa is normally accommodated in the package S, and “OK” is displayed. Determine. The determination result at this time is output as a determination signal (OK signal) to the pass / fail determination means 19d.
図6(b)の例では、欠品検査領域Mと、内容物Waの領域を重ね合わせた状態において、欠品検査領域Mに内容物Waの領域が含まれないので、包装体S内に内容物Waが正常に収容されていないと判断し、「NG(欠品)」と判別する。このときの判別結果は、判別信号(NG信号)として良否判別手段19dに出力される。 In the example of FIG. 6B, in the state where the shortage inspection area M and the content Wa area are overlapped, the shortage inspection area M does not include the content Wa area. It is determined that the content Wa is not normally stored, and “NG (out of stock)” is determined. The discrimination result at this time is output as a discrimination signal (NG signal) to the pass / fail discrimination means 19d.
図6(c)の例では、欠品検査領域Mと、内容物Waの領域を重ね合わせた状態において、内容物Waの領域の大半(図示の例では略90%)が欠品検査領域Mに重なり、欠品検査領域M全体には含まれない状態である。この場合、設定入力手段15により面積比Bとして80%が設定されていれば、欠品判別手段19aは、包装体S内に内容物Waが正常に収容されていると判断し、「OK」と判別する。このときの判別結果は、判別信号(OK信号)として良否判別手段19dに出力される。
In the example of FIG. 6C, in the state where the shortage inspection area M and the content Wa area are overlapped, the majority of the content Wa area (approximately 90% in the illustrated example) is the shortage inspection area M. And is not included in the entire shortage inspection area M. In this case, if 80% is set as the area ratio B by the setting
欠陥判別手段19bでは、検査領域反転処理手段21による反転処理後の不存在領域Nb(欠陥検査領域Mb)内に不用物が存在する否かにより被検査物Wの欠陥の有無を判別している。欠陥判別手段19bは、不存在領域Nb内のX線透過データのX線透過量が包装体SのX線透過量よりも低く、かつ不存在領域Nb内のX線透過データによる面積が内容物Waが持つ所定の面積よりも小さい面積であれば、不存在領域Nb内に不用物が存在するものと判断し、欠陥あり「NG(欠陥)」と判別する。また、設定入力手段15から内容物Waが持つ所定の面積の設定入力がない場合には、不存在領域Nb内のX線透過データのX線透過量が包装体SのX線透過量よりも低く、かつ内容物WaのX線透過量よりも高ければ、不存在領域Nb内に不用物が存在するものと判断し、欠陥あり「NG(欠陥)」と判別する。例えば図7(c)では、検査領域反転処理手段21による反転処理後の不存在領域Nb内には内容物Wa以外に不用物(例えば異物や内容物Waの破片等で、図7(c)では2箇所)が存在するので、上記判断条件が当てはまり、不存在領域Nb内に不用物が存在すると判断し、「NG(欠陥)」と判別する。このときの判別結果は、判別信号(NG信号)として良否判別手段19dに出力される。 The defect discriminating means 19b discriminates whether or not there is a defect in the inspection object W depending on whether or not an unnecessary object exists in the nonexistent area Nb (defect inspection area Mb) after the reversal processing by the inspection area reversing processing means 21. . The defect discriminating means 19b has the X-ray transmission amount of the X-ray transmission data in the non-existing region Nb lower than the X-ray transmission amount of the package S, and the area by the X-ray transmission data in the non-existing region Nb is the contents If the area is smaller than the predetermined area of Wa, it is determined that there is an unnecessary object in the non-existing region Nb, and it is determined that there is a defect “NG (defect)”. Further, when there is no setting input of the predetermined area of the content Wa from the setting input means 15, the X-ray transmission amount of the X-ray transmission data in the non-existing region Nb is larger than the X-ray transmission amount of the package S. If it is low and higher than the X-ray transmission amount of the content Wa, it is determined that an unnecessary object is present in the non-existing region Nb, and it is determined that there is a defect “NG (defect)”. For example, in FIG. 7C, in the non-existing area Nb after the reversing process by the inspection area reversing processing means 21, there are unnecessary objects (for example, foreign matters or fragments of the content Wa, etc.) in addition to the contents Wa. Therefore, it is determined that an unnecessary object is present in the non-existing area Nb, and “NG (defect)” is determined. The discrimination result at this time is output as a discrimination signal (NG signal) to the pass / fail discrimination means 19d.
これに対し、欠陥判別手段19bは、上記の判断条件に当てはまらず、不存在領域Nb内に不用物が存在していない場合には「OK」と判別する。例えば図7(b)では、検査領域反転処理手段21による反転処理後の不存在領域Nb内には内容物Waのみが存在するので、上記判断条件が当てはまらず、検査領域反転処理手段21による反転処理後の不存在領域Nb内に不用物が存在しないと判断し、「OK」と判別する。このときの判別結果は、判別信号(OK信号)として良否判別手段19dに出力される。 On the other hand, the defect discriminating means 19b discriminates “OK” when the above-mentioned judgment conditions are not satisfied and there is no waste in the non-existing area Nb. For example, in FIG. 7B, only the contents Wa are present in the nonexistent area Nb after the reversal processing by the inspection area reversal processing means 21, so that the above judgment condition does not apply, and the reversal by the inspection area reversal processing means 21 is performed. It is determined that there is no waste in the non-existing area Nb after processing, and “OK” is determined. The determination result at this time is output as a determination signal (OK signal) to the pass / fail determination means 19d.
ところで、本例のX線検査装置1では、上述した被検査物Wの欠陥・欠品検査とともに、被検査物WにX線を曝射したときのX線透過量から被検査物W中の異物混入の有無の検査も行われる。
By the way, in the
被検査物W中の異物混入の有無を検査する場合には、記憶手段16に記憶されたX線透過データのX線透過量と、設定入力手段15により予め設定された異物検出リミット値とを比較する。そして、X線透過データのX線透過量が異物検出リミット値より小さいときに、その被検査物Wに異物が混入していると判断する。 When inspecting the presence or absence of foreign matter in the inspection object W, the X-ray transmission amount of the X-ray transmission data stored in the storage means 16 and the foreign substance detection limit value preset by the setting input means 15 are obtained. Compare. When the X-ray transmission amount of the X-ray transmission data is smaller than the foreign object detection limit value, it is determined that the foreign object is mixed in the inspection object W.
このように、上述した第2形態のX線検査装置では、欠品検査領域Mにおける内容物Waの大きさから内容物Waの移動許容範囲だけ欠品検査領域Mを広げて被検査物W内を反転させた欠品検査領域Mに対する反転領域(覆い隠されない領域)を不存在領域Nbとし、この不存在領域Nb内に不用物が存在しているか否かにより被検査物Wの欠陥の有無を検査する。また、この欠陥検査と同時に、欠品検査と異物混入検査を行っている。 As described above, in the X-ray inspection apparatus of the second embodiment described above, the shortage inspection area M is widened by the allowable movement range of the content Wa from the size of the content Wa in the shortage inspection area M. The inversion area (the area that is not covered) with respect to the shortage inspection area M that is inverted is defined as a non-existence area Nb, and whether there is a defect in the inspection object W depending on whether or not an unnecessary object exists in the non-existence area Nb. Inspect. Simultaneously with this defect inspection, a shortage inspection and a foreign matter contamination inspection are performed.
次に、第3形態のX線検査装置について図8及び図9を参照しながら説明する。なお、図8のブロック構成図において、第1又は2形態と同一の構成要件については同一番号を付し、その説明を省略する。 Next, an X-ray inspection apparatus according to a third embodiment will be described with reference to FIGS. In the block configuration diagram of FIG. 8, the same components as those in the first or second embodiment are given the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
第3形態のX線検査装置において、欠品検査対象となる被検査物Wは、内容物Waが収容体に収容されたものである。具体的には、図2(a)に示すような被検査物Wとして内容物Waが包装体Sにより包装されたもの、図2(b)に示すような被検査物Wとして内容物WaがトレイTに収容されて包装体Sにより包装されたもの、図2(c)に示すような被検査物Wとして内容物Wbが液体状で包装体Sに収容されているものなどがある。 In the X-ray inspection apparatus according to the third embodiment, the inspected object W to be inspected for shortage is one in which the content Wa is accommodated in a container. Specifically, the content Wa is packaged by the package S as the inspection object W as shown in FIG. 2 (a), and the content Wa is as the inspection object W as shown in FIG. 2 (b). There are those accommodated in the tray T and packaged by the package S, and those to be inspected W as shown in FIG.
図8に示すように、第3形態のX線検査装置は、第2形態のX線検査装置が備えた検査領域反転処理手段21の構成を省き、設定入力手段15が更に不存在領域設定手段15bを備えて構成されている。 As shown in FIG. 8, in the X-ray inspection apparatus of the third form, the configuration of the inspection area inversion processing means 21 provided in the X-ray inspection apparatus of the second form is omitted, and the setting input means 15 is further set to the nonexistence area setting means. 15b.
不存在領域設定手段15bは、被検査物WのX線透過データを用い、不用物の有無を検出するための不存在領域Nbを、本来内容物Waが存在してはならない領域において任意に設定している。 The nonexistence area setting means 15b arbitrarily sets the nonexistence area Nb for detecting the presence / absence of an unnecessary object in the area where the content Wa should not exist by using the X-ray transmission data of the inspection object W. is doing.
図9に示すように、被検査物Wは、予め設定入力手段15から設定される移動許容範囲以上に内容物が移動しないようにトレイTに仕切りを設けてある。図9(a)に示すように、この被検査物Wの内容物が存在しない位置、すなわち本来内容物が存在してはならない位置に対し、ユーザが不存在領域Nbを設定する。そして、設定された不存在領域Nb内に不用物が存在するか否かにより被検査物Wの欠陥の有無を判別している。すなわち、欠陥判別手段19bは、不存在領域Nb内のX線透過データのX線透過量が包装体SのX線透過量よりも低く、かつ不存在領域Nb内のX線透過データによる面積が内容物Waが持つ所定の面積よりも小さい面積であれば、不存在領域Nb内に不用物が存在するものと判断し、欠陥あり「NG(欠陥)」と判別する。また、設定入力手段15から内容物Waが持つ所定の面積の設定入力がない場合には、不存在領域Nb内のX線透過データのX線透過量が包装体SのX線透過量よりも低く、かつ内容物WaのX線透過量よりも高ければ、不存在領域Nb内に不用物が存在するものと判断し、欠陥あり「NG(欠陥)」と判別する。 As shown in FIG. 9, the inspection object W is provided with a partition on the tray T so that the contents do not move beyond a movement allowable range set in advance from the setting input means 15. As shown in FIG. 9A, the user sets a non-existence area Nb at a position where the contents of the inspection object W do not exist, that is, a position where the contents should not originally exist. The presence / absence of a defect in the inspection object W is determined based on whether or not an unnecessary object is present in the set non-existence area Nb. That is, the defect discriminating means 19b has the X-ray transmission amount of the X-ray transmission data in the non-existing region Nb lower than the X-ray transmission amount of the package S and the area by the X-ray transmission data in the non-existing region Nb. If the area is smaller than a predetermined area of the content Wa, it is determined that an unnecessary object exists in the non-existing region Nb, and it is determined that there is a defect “NG (defect)”. Further, when there is no setting input of the predetermined area of the content Wa from the setting input means 15, the X-ray transmission amount of the X-ray transmission data in the non-existing region Nb is larger than the X-ray transmission amount of the package S. If it is low and higher than the X-ray transmission amount of the content Wa, it is determined that an unnecessary object is present in the non-existing region Nb, and it is determined that there is a defect “NG (defect)”.
これに対し、欠陥判別手段19bは、上記の判断条件に当てはまらず、不存在領域Nb内に不用物が存在していない場合には「OK」と判別する。このときの判別結果は、判別信号(OK信号、又はNG信号)として良否判別手段19dに出力される。なお、この欠陥検査と同時に、被検査物Wの欠品検査と被検査物W中の異物混入の有無の検査も行われる。 On the other hand, the defect discriminating means 19b discriminates “OK” when the above-mentioned judgment conditions are not satisfied and there is no waste in the non-existing area Nb. The discrimination result at this time is output as a discrimination signal (OK signal or NG signal) to the pass / fail discrimination means 19d. At the same time as the defect inspection, a missing item inspection of the inspection object W and an inspection for the presence or absence of foreign matter in the inspection object W are also performed.
このように、上述した第3形態のX線検査装置では、記憶手段16に記憶されている被検査物W全体のX線透過データにおいて、本来内容物が存在してはならない領域に対し、不存在領域設定手段15bより不存在領域Nbを設定し、この不存在領域Nb内に不用物が存在するか否かにより被検査物Wの欠陥の有無を検査する。また、この欠陥検査と同時に、欠品検査と異物混入検査を行っている。
As described above, in the X-ray inspection apparatus of the third embodiment described above, in the X-ray transmission data of the entire inspection object W stored in the
以上説明したように、本例の第1乃至第3形態のX線検査装置は、不存在領域Nb内に不用物が存在しているか否かにより被検査物Wの欠陥の有無を判別している。これにより、内容物以外の領域、すなわち本来物が存在してはならない領域に不用物(異物や内容物の破片等)が存在している場合でも欠陥品として確実に検出することが可能となり、被検査物の検査精度に対する信頼性が向上する。 As described above, the X-ray inspection apparatus according to the first to third embodiments of the present example determines whether or not there is a defect in the inspection object W depending on whether or not there is an unnecessary object in the non-existing region Nb. Yes. This makes it possible to reliably detect a defective product even when there is an unnecessary object (such as a foreign object or a fragment of the content) in a region other than the content, that is, a region where the original product should not exist. Reliability for inspection accuracy of the inspection object is improved.
そして、第1形態のX線検査装置においては、内容物の領域以外の領域を不存在領域Nbとして認識するので、特別に領域設定をする必要がなく、設定の容易化が図れ、正確に内容物の欠陥を検出することができる。これにより、消費者に対して高品質の商品を提供することができる。 In the X-ray inspection apparatus according to the first embodiment, since the region other than the content region is recognized as the non-existing region Nb, it is not necessary to set the region specially, the setting can be facilitated, and the content can be accurately performed. It is possible to detect an object defect. Thereby, a high quality product can be provided to consumers.
また、第2形態のX線検査装置においては、内容物の移動許容範囲と欠品検査領域を設定すれば、欠品検査領域における内容物の大きさから内容物の移動許容範囲だけ欠品検査領域を広げた欠品検査領域に対する反転領域を不存在領域として欠陥検査が行えるので、本来物が存在してよい存在領域Naと、物が存在してはならない不存在領域Nbとを確実に区別できる。これにより、検査精度が向上し商品の信頼度が向上する。 In addition, in the X-ray inspection apparatus of the second embodiment, if the content movement allowable range and the shortage inspection area are set, the shortage inspection is performed only for the content movement allowable range from the size of the content in the shortage inspection area. Since the defect inspection can be performed with the inversion area for the shortage inspection area expanded as an absence area, it is possible to reliably distinguish between the existence area Na where the object originally exists and the absence area Nb where the object should not exist. it can. Thereby, inspection accuracy improves and the reliability of goods improves.
さらに、第3形態のX線検査装置においては、内容物の大きさや形状、更には配置に応じてユーザが自由に不存在領域Nbを設定することができ、部分的な欠陥検査が行え、検査の自由度が増す。 Furthermore, in the X-ray inspection apparatus of the third form, the user can freely set the nonexistence area Nb according to the size and shape of the contents, and also the arrangement, and a partial defect inspection can be performed. The degree of freedom increases.
ところで、本例では、説明の便宜上、内容物Waの領域の判別、内容物Waの欠品の有無判別、被検査物Wの欠陥の有無判別、異物混入の有無判別を行うにあたって、記憶手段16に格納されたX線透過データのX線透過量と設定入力手段15から入力される検出リミット値とを比較しているが、異物等が強調されるべく、X線検出器10から記憶手段16に格納されたX線透過データを信号処理して濃度レベルに変換した濃度データをX線透過データに代えて用いてもよい。この場合、検出リミット値との上下比較がX線透過データとは反対の関係になる。
By the way, in this example, for convenience of explanation, the storage means 16 is used to determine the area of the content Wa, determine whether there is a missing part of the content Wa, determine whether there is a defect in the inspection object W, and determine whether foreign matter is mixed. The X-ray transmission amount stored in the X-ray transmission data is compared with the detection limit value input from the setting input means 15, but from the
1 X線検査装置
15a 欠品検査領域設定手段
15b 不存在領域設定手段
19a 欠品判別手段
19b 欠陥判別手段
19c 異物判別手段
Na 存在領域
Nb 不存在領域
W 被検査物
Wa 内容物
M 欠品検査領域
Mb 欠陥検査領域
M1 欠品検査に対する非検査領域
M2 欠陥検査に対する非検査領域
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記被検査物のX線透過量のレベルが他と違う部分があるか否かにより当該被検査物の異物の混入の有無を判別する異物判別手段(19c)と、
前記X線透過量に基づいて当該被検査物の内容物の領域を抽出する内容物領域抽出手段(18)と、該内容物領域抽出手段で抽出した領域以外の所定領域を不存在領域(Nb)として設定する不存在領域設定手段(15b)と、前記不存在領域設定手段から設定された前記不存在領域内に不用物が存在するか否かを判断して欠陥の有無を判別する欠陥判別手段(19b)とを備え、
前記被検査物内の異物の混入の有無と当該被検査物の欠陥の有無とを、共に当該被検査物のX線透過量に基づいて同時に検査することを特徴とするX線検査装置。 X-rays are irradiated to the inspection object (W) in which the contents (Wa) are stored in the container, and the inspection object is inspected based on the X-ray transmission amount accompanying the X-ray exposure. In the line inspection device (1),
A foreign matter discriminating means (19c) for discriminating the presence or absence of foreign matter in the inspected object according to whether or not there is a part where the X-ray transmission amount level of the inspected object is different from others ;
Content area extraction means (18) for extracting the content area of the object to be inspected based on the X-ray transmission amount, and a predetermined area other than the area extracted by the content area extraction means as non-existence areas (Nb the absence region setting means (15b) to be set as), the defect determination for determining presence or absence of a defect to determine whether waste material is present in the absence region setting means sets from the said absence region and means (19b),
An X-ray inspection apparatus characterized by simultaneously inspecting the presence or absence of foreign matter in the inspection object and the presence or absence of a defect of the inspection object based on the X-ray transmission amount of the inspection object.
前記被検査物のX線透過量から得られる前記内容物の領域と前記欠品検査領域とを重ね合わせて前記内容物の欠品の有無を判別する欠品判別手段(19a)とを備えたことを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。 A shortage inspection area setting means (15a) for setting a shortage inspection area (M) in a size substantially equal to the contents for performing a shortage inspection of the contents (Wa);
A missing item determining means (19a) for determining the presence or absence of a missing item of the content by superimposing the missing item inspection region and the content region obtained from the X-ray transmission amount of the inspection object; The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
前記検査領域反転処理手段において設定した反転領域を前記不存在領域(Nb)とし、前記不存在領域内に不用物が存在するか否かにより欠陥の有無を判別することを特徴とする請求項3記載のX線検査装置。 The missing item inspection in which the missing item inspection area is expanded by the allowable movement range of the contents from the size of the contents in the missing item inspection area (M) set by the missing item inspection area setting means (15a). An inspection area inversion processing means (21) for setting an inversion area with respect to the area;
Claim 3, wherein the the test area inversion processing means the absence region inversion region set in (Nb), to determine the presence or absence of a defect based on whether waste material is present in the absence region The X-ray inspection apparatus described.
前記欠品検査領域設定手段(15a)は、前記検査領域基準位置算出手段によって算出された基準位置を基準として前記欠品検査領域(M)を設定することを特徴とする請求項4記載のX線検査装置。 The X-ray transmission amount of the contents (Wa) of the inspection object (W) is compared with a reference position detection limit value set in advance according to the arrangement of the contents of the inspection object, and the reference The position of the X-ray transmission amount of the content showing a value smaller than the position detection limit value is determined as the approximate tip position (P) of the content located at the head of the container, and the substantially tip position is used as a reference position. An inspection area reference position calculating means (20) for calculating,
The X of claim 4, wherein the missing part inspection area setting means (15a) sets the missing part inspection area (M) with reference to the reference position calculated by the inspection area reference position calculating means. Line inspection device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003366110A JP3943072B2 (en) | 2003-10-27 | 2003-10-27 | X-ray inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003366110A JP3943072B2 (en) | 2003-10-27 | 2003-10-27 | X-ray inspection equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005127962A JP2005127962A (en) | 2005-05-19 |
JP3943072B2 true JP3943072B2 (en) | 2007-07-11 |
Family
ID=34644553
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003366110A Expired - Lifetime JP3943072B2 (en) | 2003-10-27 | 2003-10-27 | X-ray inspection equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3943072B2 (en) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4742782B2 (en) * | 2005-09-28 | 2011-08-10 | 株式会社島津製作所 | X-ray inspection equipment |
JP2007199058A (en) * | 2005-12-28 | 2007-08-09 | Sapporo Breweries Ltd | X-ray inspection apparatus |
WO2009041393A1 (en) * | 2007-09-26 | 2009-04-02 | Ishida Co., Ltd. | Examination apparatus |
JP5336758B2 (en) * | 2008-04-23 | 2013-11-06 | 株式会社イシダ | X-ray inspection equipment |
JP5933199B2 (en) * | 2011-07-07 | 2016-06-08 | アンリツインフィビス株式会社 | X-ray inspection equipment |
JP5864404B2 (en) * | 2012-12-07 | 2016-02-17 | 株式会社イシダ | X-ray inspection equipment |
JP6151031B2 (en) * | 2013-01-24 | 2017-06-21 | アンリツインフィビス株式会社 | X-ray inspection equipment |
KR101321378B1 (en) * | 2013-04-10 | 2013-10-23 | (주)자비스 | Mobile devices x-ray inspection method |
JP6920988B2 (en) * | 2015-03-20 | 2021-08-18 | 株式会社イシダ | Inspection equipment |
JP6796052B2 (en) * | 2017-11-06 | 2020-12-02 | アンリツインフィビス株式会社 | X-ray inspection equipment and X-ray inspection method |
JP6763064B1 (en) * | 2019-06-11 | 2020-09-30 | Ckd株式会社 | Inspection equipment and packaging manufacturing equipment |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6114592A (en) * | 1984-06-30 | 1986-01-22 | Toshiba Corp | Deciding device for contents |
JPH09159770A (en) * | 1995-12-12 | 1997-06-20 | Sutabitsuku:Kk | Method and device for detecting additional article |
JP3704540B2 (en) * | 1995-12-28 | 2005-10-12 | ビーンズユー株式会社 | Device for inspecting biting of packaged object in sealing part of packing sheet and method |
JPH09292351A (en) * | 1996-04-26 | 1997-11-11 | Toshiba Fa Syst Eng Kk | Radiographic examination device |
JP2000135268A (en) * | 1998-08-26 | 2000-05-16 | Yuyama Seisakusho:Kk | Tablet testing device |
JP2000309312A (en) * | 1999-02-22 | 2000-11-07 | Tsutsumi Yotaro | Packaged article |
JP3494977B2 (en) * | 2000-09-26 | 2004-02-09 | 株式会社イシダ | X-ray inspection equipment |
JP3742561B2 (en) * | 2001-01-19 | 2006-02-08 | 株式会社ニチレイフーズ | X-ray image inspection system and X-ray image inspection method |
JP3875842B2 (en) * | 2001-02-02 | 2007-01-31 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray foreign object detection apparatus and defective product detection method in the apparatus |
JP3737950B2 (en) * | 2001-02-09 | 2006-01-25 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray foreign object detection apparatus and defective product detection method in the apparatus |
JP3656566B2 (en) * | 2001-04-17 | 2005-06-08 | 株式会社島津製作所 | Radiation inspection equipment |
JP3618701B2 (en) * | 2001-08-29 | 2005-02-09 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray foreign object detection device |
JP3828781B2 (en) * | 2001-10-31 | 2006-10-04 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray foreign object detection device |
JP3888623B2 (en) * | 2002-06-25 | 2007-03-07 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray foreign matter detection method and X-ray foreign matter detection device |
JP3943099B2 (en) * | 2003-06-09 | 2007-07-11 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray inspection equipment |
JP2005003480A (en) * | 2003-06-11 | 2005-01-06 | Ishida Co Ltd | X-ray examination apparatus |
JP3860144B2 (en) * | 2003-07-04 | 2006-12-20 | アンリツ産機システム株式会社 | X-ray inspection equipment |
-
2003
- 2003-10-27 JP JP2003366110A patent/JP3943072B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005127962A (en) | 2005-05-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5739230B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
KR20210126163A (en) | Inspection device | |
JP3943099B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
JP3943072B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
KR102387529B1 (en) | inspection device | |
JP3875842B2 (en) | X-ray foreign object detection apparatus and defective product detection method in the apparatus | |
JP3828781B2 (en) | X-ray foreign object detection device | |
JP3860154B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
JP2006505787A (en) | Device for inspecting filled containers with X-rays and devices using the same | |
JP5243008B2 (en) | X-ray foreign object detection device | |
JP3618701B2 (en) | X-ray foreign object detection device | |
JP3917129B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
JP2007199058A (en) | X-ray inspection apparatus | |
JP3737950B2 (en) | X-ray foreign object detection apparatus and defective product detection method in the apparatus | |
JP3756751B2 (en) | X-ray foreign object detection device | |
JP3860144B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
WO2019235022A1 (en) | Inspection device | |
JP6412076B2 (en) | Inspection equipment | |
JP4170366B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
EP4220142A1 (en) | X-ray inspection device and x-ray inspection method | |
JP3955559B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
JP2018059845A (en) | X-ray inspection device and x-ray inspection method | |
JP2008175691A (en) | X-ray inspection apparatus and inspection method | |
JP4020711B2 (en) | X-ray foreign object detection device and X-ray foreign object detection method | |
EP4224153A1 (en) | X-ray inspection apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060919 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060926 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061122 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061219 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070216 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070320 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070404 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3943072 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110413 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120413 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130413 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130413 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140413 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |