JP2002243640A - 濃度測定装置 - Google Patents

濃度測定装置

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JP2002243640A
JP2002243640A JP2001035012A JP2001035012A JP2002243640A JP 2002243640 A JP2002243640 A JP 2002243640A JP 2001035012 A JP2001035012 A JP 2001035012A JP 2001035012 A JP2001035012 A JP 2001035012A JP 2002243640 A JP2002243640 A JP 2002243640A
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Japan
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concentration
light
optical fiber
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liquid
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JP2001035012A
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English (en)
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Toshiro Harada
敏郎 原田
Tomoyuki Hayashi
知幸 林
Saihei Yano
宰平 矢野
Shigeo Sato
茂雄 佐藤
Tsuneo Imazu
恒夫 今津
Takahiro Sakai
隆弘 酒井
Yuzo Miyazawa
裕三 宮澤
Kinichiro Kono
謹一郎 河野
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AUTOM SYST RES KK
SHIBAURA SYSTEMS CO Ltd
Meidensha Corp
Tokyo Metropolitan Sewerage Service Corp
Organo Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Tomoe Engineering Co Ltd
Original Assignee
AUTOM SYST RES KK
SHIBAURA SYSTEMS CO Ltd
Meidensha Corp
Tokyo Metropolitan Sewerage Service Corp
Organo Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Tomoe Engineering Co Ltd
Japan Organo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高い濁質成分濃度まで高感度で測定可能で、
かつ、狭い場所や悪環境の場所にも直接濃度を検知する
センサー部を容易に設置することのできる、汚泥濃度の
測定等に好適な濃度測定装置を提供する。 【解決手段】 被測定液中の濁質成分の濃度を、被測定
液中に向けて発光されたレーザー光の拡散反射光を検知
することにより測定する装置において、少なくともレー
ザー光の発光器と受光器を有する本体部と、被測定液中
に直接レーザー光を照射し被測定液中から直接反射光を
受光する濃度検知部とを、分離して構成し、本体部と濃
度検知部を可撓性光導体で連結したことを特徴とする濃
度測定装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、下水、排水、し尿
処理などの施設から発生する汚水の汚泥濃度や、処理水
中の固形物濃度等の、被測定液中の濁質成分の濃度や濁
度を測定する装置に関し、とくにレーザー光を使用して
拡散反射方式で濁質成分の濃度を測定するようにした濃
度測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の被測定液中の濁質成分の濃度を測
定する方法として、超音波方式、赤外線方式、マイクロ
波方式、乾燥重量方式等が知られている。しかし、これ
ら各測定法においては、測定対象となる濁質成分の性状
が変化したり、その濃度変動等がある場合、乾燥重量方
式を除いて出力値が不安定になるという問題がある。不
安定な濃度情報を周辺設備あるいは機器類に伝達、入力
すると、監視システムや処理システムの誤動作を招くお
それがある。また、乾燥重量方式には、測定時間が長
い、乾燥条件の設定が必要である、測定後に廃棄物が発
生する、等の問題がある。
【0003】また、超音波方式、赤外線方式、マイクロ
波方式の濃度測定装置においては、極力出力値を安定さ
せるために、通常、測定対象物の被測定液中の粒子の量
に比例して減量する測定波の発信部と受信部が一体化さ
れた構造、つまり、一つの濃度測定装置内にこれら受発
信部が収納された構造に構成されている。このように一
体化された構造では、濃度測定装置のサイズ、とくに長
手方向の寸法が大きくなるので、設置場所が限定される
ばかりでなく、周囲のメンテナンス用スペースを広く設
計しなければならないという問題がある。とくに、設置
可能なスペースが狭い場所や、設置環境が悪い場所(た
とえば、腐食が激しい場所や雰囲気の悪い場所等)にお
いて問題が顕著になる。
【0004】一方、別の方式として、レーザー光を被測
定液中に照射し、被測定液中を透過するレーザー光の光
量を検知する透過光方式が知られている。しかしこの測
定法では、とくに濁質成分の濃度が1%以上の高濃度、
特に3%程度以上の濃度の場合、光学的に高感度で濃度
を測定することが困難であり、高精度の測定が困難であ
る。これは、濁質成分(たとえば、汚泥)の色が黒色系
等であることが多く、光を吸収してしまうことが多いの
で、光の減衰が激しくなって高感度の測定が困難になる
からである。
【0005】このような高濃度測定の場合の透過光方式
における問題を解消するためには、被測定液中に照射さ
れたレーザー光の反射光を検知する方法が有効であると
考えられる。この方法は、被測定液中に照射されたレー
ザー光の大半は、被測定液中の濁質成分に当たって拡散
し、拡散された後に反射されてくるので、拡散反射方式
とも呼ばれている。このように拡散反射光を検知するよ
うにすれば、濁質成分の色の影響を受けにくくなるの
で、比較的濁質成分濃度の高い被測定液に対しても測定
が可能になる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明の課題
は、上記のようなレーザー光の拡散反射方式における利
点に着目しつつ、前述の濃度測定装置の設置場所の制約
およびメンテナンス用スペースに関する問題等を解消す
ることにあり、高い濁質成分濃度まで高感度で測定可能
で、かつ、狭い場所や悪環境の場所にも直接濃度を検知
するセンサー部を容易に設置することのできる、汚泥濃
度の測定等に好適な濃度測定装置を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係る濃度測定装置は、被測定液中の濁質成
分の濃度を、被測定液中に向けて発光されたレーザー光
の拡散反射光を検知することにより測定する装置におい
て、少なくともレーザー光の発光器と受光器を有する本
体部と、被測定液中に直接レーザー光を照射し被測定液
中から直接反射光を受光する濃度検知部とを、分離して
構成し、本体部と濃度検知部を可撓性光導体で連結した
ことを特徴とするものからなる。
【0008】この濃度測定装置においては、測定の感度
を高めるために、とくに上記可撓性光導体が、複数のレ
ーザー光発光用光ファイバーおよびレーザー光受光用光
ファイバーを束ねて1本の可撓性ケーブルに構成されて
いることが好ましい。とくに、総数100本以上の光フ
ァイバーが束ねられていることが望ましい。
【0009】また、可撓性光導体は、可撓性チューブ内
に収容され、該チューブで被覆されたケーブル構成とす
ることが好ましい。このようにすれば、可撓性光導体
を、悪環境中に延設する場合にも、被覆チューブによっ
て保護することができる。
【0010】本体部には、発光器および受光器ととも
に、発光器に接続されたレーザー光発光回路や受光器に
接続された受光増幅回路等を収容することができる。す
なわち、可撓性光導体を介して連結される濃度検知部
(センサー部)以外の部分を、本体部として分離するの
である。
【0011】このように構成された本発明に係る濃度測
定装置においては、濃度検知部が本体部から分離されて
いるので、濃度検知部自身はごく小さく構成できる。た
とえば、レーザー光の受発光面を形成するガラス面やレ
ンズ面として、直径10〜20mm程度のもので済み、
濃度検知部の長さも、20〜30mm程度のもので済
む。このような小型の濃度検知部であれば、極めて狭い
スペースや、従来取付が困難であったような場所にも、
容易に設置できるようになる。
【0012】そして、この濃度検知部へのレーザー光の
導光、濃度検知部からの反射光の導光は、可撓性光導体
を介して本体部との間で行われる。光導体が可撓性であ
るので、本体部の設置場所や設置姿勢には特に制約はな
くなる。また、可撓性光導体の長さを適切に設定すれ
ば、本体部は、濃度検知部が悪臭等を放つ悪環境場所に
設置される場合等にあっても、それとは別の離れた良好
な環境の場所に設置できる。したがって、電子・電機機
器や光学機器を含む本体部の作動環境が良好に保たれる
とともに、本体部用のメンテナンススペースも容易に確
保される。濃度検知部については、最小の点検スペース
を確保すればよい。
【0013】さらに、本体部と濃度検知部を分離構成と
することで、装置全体の重量の大半を本体部に担わせる
ことができ、濃度検知部の設置作業が大幅に容易化さ
れ、作業の安全性も向上される。本体部の設置について
は、実質的に制約がなくなるから、何ら問題の生じる要
因はなくなる。
【0014】そして濃度測定装置全体として、高感度検
出が可能な拡散反射方式の装置に構成できるから、上記
分離構成に基づく利点を活かしつつ、高感度濃度測定装
置としての望ましい性能も同時に達成される。
【0015】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の濃度測定装置の
望ましい実施の形態について、図面を参照しながら説明
する。図1は本発明の一実施態様に係る濃度測定装置の
基本構成、図2はそれを具体的に構成した場合の一例
を、図3ないし図6は、光ファイバーの濃度検知部にお
ける各配置形態例を、図7は、濃度測定装置の濃度検知
部と本体部の配置例を、それぞれ示している。
【0016】図1において、1は濃度測定装置全体を示
しており、濃度測定装置1は、濃度検知部2と本体部3
とを有し、両者間が可撓性光導体としての、複数の光フ
ァイバーで連結されている。光ファイバーは、複数の発
光用光ファイバー4と受光用光ファイバー5が束ねられ
たものに構成され、本体部3と濃度検知部2との間を長
く延びている。
【0017】濃度検知部2の先端部は、たとえば配管6
内を臨むように取り付けられる。濃度測定装置1は、配
管6内を流れる被測定液7中の濁質成分8(たとえば、
汚泥粒子)に向けて発光されたレーザー光9の反射光1
0を検知することにより、被測定液7中の濁質成分8の
濃度を測定する、拡散反射光方式の濃度測定装置に構成
されている。
【0018】本実施態様では、レーザー発光器として、
レーザー光発光に好適な特定の波長域で強度の高いレー
ザー光を発光するレーザー発光ダイオード11(レーザ
ーダイオードと略称されることもある。)が使用され、
発振器を備えた駆動回路12によるパルス駆動により、
所定のパルスの形態でレーザー光が発光されるようにな
っている。レーザー発光ダイオード11で発光されたレ
ーザー光は、レーザー光拡散板13を介して、光ファイ
バー固定金具14で束ねられて保持された多数の発光用
光ファイバー4の入射端に入射される。レーザー光拡散
板13により、レーザー光は、均一に拡散された状態で
発光用光ファイバー4の入射端に照射される。
【0019】多数の発光用光ファイバー4と、実質的に
同数の多数の受光用光ファイバー5とが束ねられて、一
つのファイバー束にまとめられて濃度検知部2へと導入
されている。束ねられた発光用光ファイバー4および受
光用光ファイバー5は、たとえば濃度検知部2の固定金
具15内に相対位置が固定された状態で保持され、各光
ファイバーの先端面の位置が揃えられてセンサー面16
に形成されている。センサー面16からは、発光用光フ
ァイバー4中を導光され、発光用光ファイバー4の出射
端から発光されたレーザー光が被測定液7中に向けて照
射され、被測定液7中の濁質成分8に当たって拡散、反
射してきたレーザー光は、受光用光ファイバー5の入射
端に受光される。本実施態様では、このセンサー面16
におけるレーザー光の受発光は、センサー面16上に設
けたガラス板17を通して行われるようになっている。
ガラス板17の材質としては、特に限定しないが、硬く
て傷が付きにくく、化学的に安定で、耐酸性、耐アルカ
リ性、耐溶剤性に優れ熱的にも安定なサファイアガラス
が好ましい。また、このガラス板17の被測定液7側の
面を鏡面仕上げしておくと、汚泥による汚れが付着しに
くくなり、傷も付きにくくなるので、好ましい。なお、
図1には平板状のガラス板17として図示したが、この
ようなガラス板17に代えて、適当な焦点距離を有する
レンズを採用することも可能である。レンズとしては、
センサー面側が平面で、他面側を凸面に形成してレンズ
機能をもたせた平凸レンズ等が好ましい。
【0020】受光用光ファイバー5の入射端から受光さ
れたレーザー光の拡散反射光は、受光用光ファイバー5
中を導光されて、反対側の端部である出射端から出射さ
れる。受光用光ファイバー5の出射端側の端部において
も、多数の受光用光ファイバー5が光ファイバー固定金
具18により束ねられた状態で保持されている。
【0021】受光用光ファイバー5の出射端から出射さ
れた拡散反射光は、本実施態様では可視光カットフィル
ター19を通して、反射光受光器としてのフォトダイオ
ード20に受光され、その光量が検知される。この可視
光カットフィルター19を配置しておくことで、外乱光
(たとえば、蛍光灯等からの外乱光)による濃度測定へ
の影響を小さく抑えることができる。フォトダイオード
20の受光量信号は、本実施態様では、増幅回路21で
増幅されることにより、濃度測定に適切な大きさの信号
として出力される。
【0022】図2は、上記のような基本構成を有する濃
度測定装置1を、とくにその本体部3を、より具体的な
構成を有する装置とした場合の一例を示している。図2
に示す濃度測定装置1においては、本体部3の本体ケー
ス22内に、安定化電源23と、レーザーダイオード駆
動回路と光フィードバック補償回路を含むレーザー光発
光回路24と、図1の増幅回路21と同等の機能を有す
る受光増幅回路25と、レーザー発光ダイオード26
と、受光用のフォトダイオード27とが設けられてお
り、本実施態様ではさらに、レーザー発光ダイオード2
6の温度補償を行うためのサーミスタ28が設けられて
いる。信号の入出力は、本体ケース22の一端に設けら
れたコネクター29を介して行われる。
【0023】レーザー発光ダイオード26からのレーザ
ー光を導光する多数の発光用光ファイバー30と、フォ
トダイオード27へ受光反射光を導光する受光用光ファ
イバー31とは、可撓性の光ファイバー保護チューブ3
2で所定の配置形態に束ねられて保持され、フレキシブ
ルな状態で長く延びる光ファイバーケーブル33として
構成され、所定の配置形態にて濃度検知部34にて先端
が揃えられてセンサー面が形成されている。濃度検知部
34は、ねじにより着脱可能なキャップ35を備え、こ
の部分に図1に示したようなガラス板17が装着されて
いる。ねじキャップ方式とすることで、必要に応じて
(たとえば、万一ガラス板等に傷付きが生じた場合等
に)簡単に交換できるようになる。また、光ファイバー
は振動によって歪みを生じ光伝導性が変化してノイズの
発生原因となることがあるので、これを防止するため
に、光ファイバー保護チューブ32に発泡性ゴム(たと
えば、発泡性シリコンゴム)を充填することにより、光
ファイバーの振動が防止されている。光ファイバー保護
チューブ32内でエポキシ樹脂やアクリル樹脂等を充填
して固定すると、樹脂の熱膨張により光ファイバーが影
響を受け、温度ドリフトの原因となるので、上記のよう
に弾力性、柔軟性が高く、熱膨張を自身の体積範囲内で
吸収可能な発泡性ゴムにより保持することが好ましい。
濃度検知部34においては、多数の極細光ファイバーが
多芯に束ねられることになるが、この部分では、たとえ
ば耐熱性等に優れた特殊のエポキシ樹脂で固定金具に接
着固定し、先端面を鏡面研磨してセンサー面に形成すれ
ばよい。
【0024】センサー面における発光用光ファイバーと
受光用光ファイバーの配置としては、図3ないし図6に
示すように種々の形態を採り得る。図3に示す配置形態
は、円形のセンサー面41において、発光用光ファイバ
ー42(白丸印)と受光用光ファイバー43(黒丸印)
が、ランダムに配置されたもので、望ましくは図3に示
すように均一に、つまり、各発光用光ファイバー42と
受光用光ファイバー43が交互に隣接するように配置さ
れるのが好ましい。このランダム配置形態が、濃度測定
のための出力特性、出力の大きさからは、最も好まし
い。
【0025】図4に示す配置形態は、センサー面41に
おいて、中央部に発光用光ファイバー42が、その周囲
に受光用光ファイバー43が同心円状に配置されたもの
である。図5に示す配置形態は、センサー面41におい
て、中央部に受光用光ファイバー43が、その周囲に発
光用光ファイバー42が同心円状に配置されたものであ
る。図6に示す配置形態は、センサー面41において、
一方の半面、つまり一方の半円部に発光用光ファイバー
42が配置され、他方の半面、つまり他方の半円部に受
光用光ファイバー43が配置されたものである。図3な
いし図6に示すいずれの配置形態においても、本発明で
目的とした十分に優れた濃度測定用の特性が得られる。
【0026】なお、図3ないし図6は模式的に示したも
のであり、センサー面における光ファイバーの総数は、
図に示したものよりもはるかに多い本数とされ、たとえ
ば、総数100〜50,000本程度の範囲内から適宜
設定される。1本1本の光ファイバーが極細光ファイバ
ーであり、単芯では光量が不足し測定が不能である場合
であっても、たとえば発光用光ファイバーを1500
本、受光用光ファイバーを1500本、合計3000本
程度とすることで、十分に大きな発光量および受光量が
得られる。このように光ファイバーを多数束ねた構成で
あっても、光ファイバー1本1本は極細であるので、濃
度検知部34のセンサー面の直径としては、10〜20
mmに納めることができ、キャップ35あるいは固定金
具15(図1)部分の長さも30mm以内に納めること
が可能である。
【0027】図7は、たとえば図2のように構成された
濃度測定装置1を、汚泥の濃度測定に使用する場合の配
置例を概略示したものである(第1実施例)。汚泥配管
51の管壁に、上記の小型の濃度検知部34が取り付け
られ、それとは分離された本体部3が、環境が良好で安
全な離れた場所に配置されている。濃度検知部34と本
体部3との間が、長く延びる可撓性の光ファイバーケー
ブル33によって連結されている。この光ファイバーケ
ーブル33は、内部の光ファイバーによる伝送の損失が
所定レベル以下であれば、相当長いものまで使用でき
る。光ファイバーの伝送損失は、一般に極めて小さいの
で、光ファイバーケーブル33の長さとしては、100
m程度であれば濃度測定上全く問題なく、場合によって
は数kmまで延設することも可能である。
【0028】上記のように構成された本発明に係る濃度
測定装置の作用、効果を、まずその性能面について、図
1に示した構成を参照しながら説明する。レーザー光の
拡散反射方式の濃度測定としているので、高濃度測定の
場合でも高感度での測定が可能になる。そして、多数の
発光用光ファイバー4と受光用光ファイバー5が束ねら
れて一つのセンサー面16へとまとめられているので、
1本1本の光ファイバーは細く受光光量が小さくても、
多数本を束ねることにより、トータルとしては、十分に
大きな発光量、受光量を得ることができる。その結果、
濃度測定に対し、発光、受光ともに、光量不足が生じる
ことは回避され、高感度を得るために必要かつ十分な光
量が得られることになる。より具体的には、100〜5
0,000本、とくにトータルで1000本以上、より
好ましくは3000本程度の本数とすることにより、十
分な光量が得られる。
【0029】また、多数束ねられた発光用光ファイバー
4および受光用光ファイバー5は、それぞれ極細の光フ
ァイバーからなるから、濃度測定におけるライトスパン
も極限に近くまで低減することができる。たとえば前述
の図3に示したランダム配置の形態についてみると、た
とえば光ファイバーの径が30μmの場合、互いに隣接
する発光用光ファイバーと受光用光ファイバー間のライ
トスパンは30μm程度となり、極めて小さいライトス
パンが得られる。その結果、比較的長いライトスパンを
もつ形態に比べ、光学的に濃度測定に対する高い感度が
得られることになる。感度が大幅に高められる結果、濁
質成分が低濃度である場合はもちろんのこと、1%を超
える高濃度、中でも3%を超える高濃度、さらには5%
を超える高濃度まで高感度で測定することが可能にな
る。また、高感度であるから、濁質成分の性状や濃度の
変化にも良好に追従でき、安定した高精度の濃度測定が
可能になる。
【0030】また、レーザー光の光源として、通常のL
EDではなく特定の波長域で高強度のレーザー光を発光
するレーザー発光ダイオード11を使用しているから、
他の光源に比べ、光源としても十分な強度が得られ、か
つ、優れた再現性が得られるとともに、パルス駆動の際
に目標とする周波数特性が正確に得られ、しかもシャー
プに所望の発光を行うことができる優れたパルス駆動特
性も得られる。
【0031】また、レーザー発光ダイオード11を、そ
のパルス光フィードバック方式を併用して制御すれば、
レーザーパルス光の安定化を図ることができる。半導体
レーザーダイオードの場合には、外境の温度変動に対し
光強度が大きく変動するので、温度補償を行わなければ
ならないが、レーザー発光ダイオード11の場合には、
上記光フィードバック方式だけで安定したパルス発光が
可能となる。ただし、さらなる安定化を目指す場合にお
いて、光フィードバック方式だけでは補償不足となる場
合には、サーミスタ28(図2)等による温度補償を行
えばよい。
【0032】このように、本発明に係る濃度測定装置で
は、極めて高い感度を実現でき、低濃度域から1%を超
える高濃度域、さらには3%を超える高濃度域まで、被
測定液中の濁質成分の濃度を高精度で測定することが可
能になる。
【0033】次に、本発明に係る濃度測定装置の、装
置、測定環境上等の作用、効果について、図2や図7を
参照しながら説明する。
【0034】濃度測定装置1は、濃度検知部34と本体
部3が完全に分離構成とされている。濃度検知部34
は、光ファイバーの先端を所定の配置形態に揃えたセン
サー面さえ形成できればよく、ごく小さな部材に構成で
きるから、図7に示したように、汚泥配管51等の悪環
境で取付に手間がかかるような場所にも、かつ作業スペ
ースが狭い場合にあっても、簡単に取り付けることが可
能である。一旦取り付けた後には、調整機器等を有して
いないことから、頻繁なメンテナンスは不要であり、場
合によってはメンテナンスフリーとすることも可能であ
る。
【0035】また、この濃度検知部34で検知された信
号を光ファイバーケーブル33で伝送できればよく、光
ファイバーケーブル33は可撓性で比較的複雑な経路で
あっても自由に延設することができ、しかも長尺に構成
しても性能上問題ないから、濃度検知部34は、従来配
置が困難であった場所、たとえば地下貯水槽やスラリー
貯槽、汚泥の沈澱槽等に対しても所望の部位に容易に設
置することができるようになる。
【0036】一方、本体部3は、可撓性でかつ長尺の光
ファイバーケーブル33を介して上記濃度検知部34に
連結されているので、設置場所や設置姿勢に何ら制約が
ない。したがって、良好な環境の下に設置でき、光学機
器や電子・電機回路を含む本体部3を、安全で調整やメ
ンテナンスを容易に行うことのできる場所に自由に設置
することができる。したがって、本体部3の各機器や回
路の良好な作動が確実に保証され、濃度測定装置1全体
としての測定感度、性能が長期間にわたって確保され
る。
【0037】なお、図7に示した第1実施例では、濃度
検知部34と本体部3とを光ファイバーケーブル33で
直接接続したが、図8に第2実施例を示すように、光フ
ァイバーケーブル33の両端に光コネクター52a、5
2bを用い、該光コネクター52a、52bを介して濃
度検知部34と本体部3とに接続するようにしてもよ
い。このように構成すれば、現場での設置作業を低減で
きる効果がある。光コネクターは、光ファイバーケーブ
ル33のいずれか一端側のみに設ける構成とすることも
できる。
【0038】また、光ファイバーの配置に関して、作業
軽減やコスト低減をはかることも可能である。たとえ
ば、図9に示す第3実施例は、発光用光ファイバー61
と受光用光ファイバー62がランダムに配置されたラン
ダム配置部63を有する濃度検知部64を、光コネクタ
ー65を介して光ファイバーケーブル66に接続した場
合を示している。発光用光ファイバー61と受光用光フ
ァイバー62のランダム配置は、濃度検知部64内にお
けるセンサー面67側の必要最小限の短い領域のみに限
ってランダム配置部63を構成し、そこからは発光用光
ファイバー61と受光用光ファイバー62を分岐して別
々に引き出すようにしている。光ファイバーをランダム
に配置するには、別々に配置する場合に比べ、配置作業
が煩雑であり、その分製作コストも増大する。したがっ
て、図9に示すように、ランダム配置部63を極力少な
くすることにより、配置作業を軽減でき、製作コストを
低減できる。この方法は、図4〜図6に示したような同
心円状や半円配置の場合にも適用できる。
【0039】さらに、図1、2、7、8、9に示した各
態様では、濃度検知部と本体部とを1対1に対応させた
が、本発明においては、必要に応じて、異なる場所に設
置された複数の濃度検知部からの信号を一つの本体部で
検知することも可能である。たとえば、各濃度検知部か
ら本体部に並列に光ファイバーケーブルを配設するか、
あるいは一本の主光ファイバーケーブルから光セレクタ
ーを介して各濃度検知部に分岐光ファイバーケーブルを
接続し、各濃度検知部での測定波の波長を互いに異なる
波長に設定しておけば、各濃度検知部に対応した濃度測
定が可能になる。
【0040】たとえば、図10に第4実施例を示すよう
に、複数の汚泥配管71a・・・71nにそれぞれ濃度
検知部72a・・・72nを設け、各濃度検知部72a
・・・72nに光ファイバーケーブル73a・・・73
nを並列に接続し、これら光ファイバーケーブル73a
・・・73nを一つの本体部74に接続するようにする
ことができる。複数の本体部を設置する場合に比べて、
一つの本体部74で各汚泥配管71a・・・71n内の
汚泥濃度を集中管理できるので管理が容易であり、ま
た、本体部74の設置の容易化や設置スペースの低減、
本体部74の製作コストの低減をはかることもできる。
【0041】また、図11に第5実施例を示すように、
複数の汚泥配管81a・・・81nにそれぞれ濃度検知
部82a・・・82nを設け、各濃度検知部82a・・
・82nに分岐光ファイバーケーブル83a・・・83
nを並列に接続し、これら分岐光ファイバーケーブル8
3a・・・83nを光セレクター84に接続して一旦検
知光信号を集約し、光セレクター84から、1本の主光
ファイバーケーブル85、あるいは分岐光ファイバーケ
ーブルの数よりは少ない複数の主光ファイバーケーブル
を介して本体部86に接続するようにすることができ
る。各濃度検知部82a・・・82nでの測定波の波長
を互いに異なる波長に設定しておき、本体部86に送る
信号を光セレクター84で切り換えることにより、本体
部86で各濃度検知部に対応した濃度測定が可能にな
る。汚泥の濃度測定の頻度はそれほど高くなくてもよい
場合が多いので、このような構成を採用することによ
り、必要な濃度測定機能を確保しつつ、システム全体の
コスト低減が可能になる。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の濃度測定
装置によれば、レーザー光の拡散反射方式の利点である
濁質成分の色に影響されにくいという利点を活かしつ
つ、濃度検知部と本体部を分離構成とし、その間を可撓
性光導体で連結したので、高感度の測定性能を達成しつ
つ、従来設置が困難であった悪環境場所や作業が困難な
狭いスペースの場所であっても、小さく構成された濃度
検知部を容易に取り付けることが可能になり、かつ、比
較的大きく、光学機器や電子・電機機器を内蔵する本体
部を、安全な、環境の良好な離れた場所に設置すること
が可能になり、装置の優れた性能を長期間安定して維持
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施態様に係る濃度測定装置の概略
構成図である。
【図2】図1の装置をより具体的に構成した一例を示す
概略断面図である。
【図3】本発明に係る光ファイバーの一配置形態を示す
センサー面の概略構成図である。
【図4】本発明に係る光ファイバーの別の配置形態を示
すセンサー面の概略構成図である。
【図5】本発明に係る光ファイバーのさらに別の配置形
態を示すセンサー面の概略構成図である。
【図6】本発明に係る光ファイバーのさらに別の配置形
態を示すセンサー面の概略構成図である。
【図7】本発明に係る濃度測定装置の配置例(第1実施
例)を示す概略構成図である。
【図8】本発明に係る濃度測定装置の別の配置例(第2
実施例)を示す概略構成図である。
【図9】本発明に係る濃度測定装置の光ファイバーに関
する別の配置例(第3実施例)を示す概略構成図であ
る。
【図10】本発明に係る濃度測定装置のさらに別の配置
例(第4実施例)を示す概略構成図である。
【図11】本発明に係る濃度測定装置のさらに別の配置
例(第5実施例)を示す概略構成図である。
【符号の説明】
1 濃度測定装置 2、34 濃度検知部 3 本体部 4、30 発光用光ファイバー 5、31 受光用光ファイバー 6 配管 7 被測定液 8 濁質成分 9 発光されたレーザー光 10 レーザー光の拡散反射光 11、26 レーザー発光ダイオード 12 レーザー光の駆動回路 13 レーザー光拡散板 14、18 光ファイバー固定金具 15 固定金具 16 センサー面 17 ガラス板 19 可視光カットフィルター 20、27 フォトダイオード 21 増幅回路 22 本体ケース 23 安定化電源 24 レーザー光発光回路 25 受光増幅回路 28 サーミスタ 29 コネクター 32 光ファイバー保護チューブ 33 光ファイバーケーブル 35 キャップ 41 センサー面 42 発光用光ファイバー 43 受光用光ファイバー 51 汚泥配管 52a、52b 光コネクター 61 発光用光ファイバー 62 受光用光ファイバー 63 ランダム配置部 64 濃度検知部 65 光コネクター 66 光ファイバーケーブル 67 センサー面 71a・・・71n 汚泥配管 72a・・・72n 濃度検知部 73a・・・73n 光ファイバーケーブル 74 本体部 81a・・・81n 汚泥配管 82a・・・82n 濃度検知部 83a・・・83n 分岐光ファイバーケーブル 84 光セレクター 85 主光ファイバーケーブル 86 本体部
フロントページの続き (71)出願人 000006105 株式会社明電舎 東京都品川区大崎2丁目1番17号 (71)出願人 593117796 株式会社オートマチック・システムリサー チ 東京都千代田区岩本町1丁目10番5号 (71)出願人 500444483 芝浦システム株式会社 東京都渋谷区千駄ヶ谷5丁目32番7号 (71)出願人 500444508 宮澤 裕三 東京都新宿区西新宿2丁目8番1号 東京 都下水道局内 (72)発明者 原田 敏郎 東京都千代田区大手町2丁目6番2号 東 京都下水道サービス株式会社内 (72)発明者 林 知幸 東京都江東区新砂1丁目2番8号 オルガ ノ株式会社内 (72)発明者 矢野 宰平 東京都中央区日本橋3丁目9番2号 巴工 業株式会社内 (72)発明者 佐藤 茂雄 東京都品川区大崎2丁目1番17号 株式会 社明電舎内 (72)発明者 今津 恒夫 東京都千代田区岩本町1丁目10番5号 株 式会社オートマチック・システムリサーチ 内 (72)発明者 酒井 隆弘 東京都渋谷区千駄ヶ谷5丁目32番7号 芝 浦システム株式会社内 (72)発明者 宮澤 裕三 東京都新宿区西新宿2丁目8番1号 東京 都下水道局内 (72)発明者 河野 謹一郎 東京都新宿区西新宿2丁目8番1号 東京 都下水道局内 Fターム(参考) 2G059 AA01 BB06 EE02 GG01 JJ02 JJ11 JJ17 KK02

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定液中の濁質成分の濃度を、被測定
    液中に向けて発光されたレーザー光の拡散反射光を検知
    することにより測定する装置において、少なくともレー
    ザー光の発光器と受光器を有する本体部と、被測定液中
    に直接レーザー光を照射し被測定液中から直接反射光を
    受光する濃度検知部とを、分離して構成し、本体部と濃
    度検知部を可撓性光導体で連結したことを特徴とする濃
    度測定装置。
  2. 【請求項2】 可撓性光導体が、複数のレーザー光発光
    用光ファイバーおよびレーザー光受光用光ファイバーを
    束ねたものからなる、請求項1の濃度測定装置。
  3. 【請求項3】 可撓性光導体が、可撓性チューブ内に収
    容されている、請求項1または2の濃度測定装置。
  4. 【請求項4】 本体部が、前記発光器に接続されたレー
    ザー光発光回路と、前記受光器に接続された受光増幅回
    路を有する、請求項1ないし3のいずれかに記載の濃度
    測定装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002098637A (ja) * 2000-09-22 2002-04-05 Tokyoto Gesuido Service Kk 濃度測定装置
KR101850252B1 (ko) * 2017-09-21 2018-06-01 김민정 광학밀도 분석계

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57190254A (en) * 1981-05-20 1982-11-22 Inoue Japax Res Inc Probe for turbidity gauge
JPH01165936A (ja) * 1987-12-22 1989-06-29 Meidensha Corp 懸濁物濃度検出装置
JPH02173553A (ja) * 1988-12-26 1990-07-05 Agency Of Ind Science & Technol 高濃度濁度測定法ならびに測定装置
JPH0547850U (ja) * 1991-11-29 1993-06-25 株式会社島津製作所 濁度計
JPH06138032A (ja) * 1992-10-23 1994-05-20 Hitachi Cable Ltd 高感度光反射センサ
JPH08261928A (ja) * 1995-03-17 1996-10-11 Aretsuku Denshi Kk 濁度検出器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57190254A (en) * 1981-05-20 1982-11-22 Inoue Japax Res Inc Probe for turbidity gauge
JPH01165936A (ja) * 1987-12-22 1989-06-29 Meidensha Corp 懸濁物濃度検出装置
JPH02173553A (ja) * 1988-12-26 1990-07-05 Agency Of Ind Science & Technol 高濃度濁度測定法ならびに測定装置
JPH0547850U (ja) * 1991-11-29 1993-06-25 株式会社島津製作所 濁度計
JPH06138032A (ja) * 1992-10-23 1994-05-20 Hitachi Cable Ltd 高感度光反射センサ
JPH08261928A (ja) * 1995-03-17 1996-10-11 Aretsuku Denshi Kk 濁度検出器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002098637A (ja) * 2000-09-22 2002-04-05 Tokyoto Gesuido Service Kk 濃度測定装置
KR101850252B1 (ko) * 2017-09-21 2018-06-01 김민정 광학밀도 분석계

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