JP2002243633A - 光コンピュータ画像化装置 - Google Patents
光コンピュータ画像化装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来のものに比べて簡単な装置構成で透過性
が高い低出力のレーザ光を用いて比較的厚い生体試料へ
適用可能な光コンピュータ画像化装置を提供する。 【解決手段】 光コンピュータ画像化装置は、半導体レ
ーザ励起固体レーザ、好ましくは連続発振型マイクロチ
ップレーザからなるレーザ発信器と、該レーザ発振器か
ら出力されたレーザ光の周波数を変換する光周波数変換
器と、該光周波数変換器によって周波数変換されたレー
ザ光が試料に照射された後、該試料から透過された光が
レーザ発振器に戻ることによって変調されたレーザ光を
検知する光検出器とを有し、光検出器によって検出され
た検出結果をもとに、試料中に含まれる所定物質の分布
を画像化する。
が高い低出力のレーザ光を用いて比較的厚い生体試料へ
適用可能な光コンピュータ画像化装置を提供する。 【解決手段】 光コンピュータ画像化装置は、半導体レ
ーザ励起固体レーザ、好ましくは連続発振型マイクロチ
ップレーザからなるレーザ発信器と、該レーザ発振器か
ら出力されたレーザ光の周波数を変換する光周波数変換
器と、該光周波数変換器によって周波数変換されたレー
ザ光が試料に照射された後、該試料から透過された光が
レーザ発振器に戻ることによって変調されたレーザ光を
検知する光検出器とを有し、光検出器によって検出され
た検出結果をもとに、試料中に含まれる所定物質の分布
を画像化する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体レーザ励
起固体レーザ、特に連続発振型マイクロチップレーザか
ら発振されるレーザ光を用いた光コンピュータ画像化装
置に関するものである。
起固体レーザ、特に連続発振型マイクロチップレーザか
ら発振されるレーザ光を用いた光コンピュータ画像化装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から試料の内部構造を非破壊で分析
する方法であるＸ線コンピュータ画像化装置（Ｘ線ＣＴ
装置）が知られている。例えば、医療分野では、人体に
多数の方向からＸ線を照射し、透過してきたＸ線のデー
タを元にして人体の断層を画像化する。したがって、身
体にメスをいれることなく人体深部の診断が容易にでき
る。しかし、このような装置はＸ線を用いるため、人体
の放射線被爆が問題となる。
する方法であるＸ線コンピュータ画像化装置（Ｘ線ＣＴ
装置）が知られている。例えば、医療分野では、人体に
多数の方向からＸ線を照射し、透過してきたＸ線のデー
タを元にして人体の断層を画像化する。したがって、身
体にメスをいれることなく人体深部の診断が容易にでき
る。しかし、このような装置はＸ線を用いるため、人体
の放射線被爆が問題となる。
【０００３】そこで、Ｘ線の代わりにレーザ光を用いる
光コンピュータ画像化装置（以下、光ＣＴ装置ともい
う）が開発されている。その一例を以下説明する。
光コンピュータ画像化装置（以下、光ＣＴ装置ともい
う）が開発されている。その一例を以下説明する。
【０００４】図４は、特開平２−１５０７４７号公報に
開示された従来の光ＣＴ装置の一例の概略的構成を説明
するためのブロック図である。図において、４１はレー
ザ装置、４２は偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）、４
３’，４３，４９，５０はミラー、４４は周波数変換
器、４５は試料、４６，４８，５１，５２はレンズ、４
７はアパーチャ、５３はハーフミラー、５４は光電検出
器、５６は選択レベル測定器、５７は試料台、５８は試
料台制御装置、５９はコンピュータ、６０はモニタであ
る。
開示された従来の光ＣＴ装置の一例の概略的構成を説明
するためのブロック図である。図において、４１はレー
ザ装置、４２は偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）、４
３’，４３，４９，５０はミラー、４４は周波数変換
器、４５は試料、４６，４８，５１，５２はレンズ、４
７はアパーチャ、５３はハーフミラー、５４は光電検出
器、５６は選択レベル測定器、５７は試料台、５８は試
料台制御装置、５９はコンピュータ、６０はモニタであ
る。
【０００５】図４に示すように、従来の光ＣＴ装置は、
はじめにレーザ装置４１から射出されたレーザ光をＰＢ
Ｓ４２によって２つの光（以下、レーザ光Ｌ１及びレー
ザ光Ｌ２とする）に二分する。レーザ光Ｌ１はミラー４
３により、例えば音響光学素子等からなる周波数変換器
４４へ導かれ、Δωだけ周波数偏移され、ミラー４３’
により試料４５に照射される。試料４５を透過した散乱
レーザ光はレンズ４６によりその後側焦点位置に置かれ
たアパーチャ４７の上に集束される。アパーチャ４７を
透過した光は、アパーチャ４７の位置を前側焦点位置と
するレンズ４８により平行光束とされ、レンズ４８の開
口径とアパーチャ４７の径により決まる回折限界径の平
行光束Ｌ３に変換される。これら光学系により全方位に
散乱する光軸から外れた散乱光はカットされ、試料の光
吸収情報を帯びた直進成分のみが抽出される。
はじめにレーザ装置４１から射出されたレーザ光をＰＢ
Ｓ４２によって２つの光（以下、レーザ光Ｌ１及びレー
ザ光Ｌ２とする）に二分する。レーザ光Ｌ１はミラー４
３により、例えば音響光学素子等からなる周波数変換器
４４へ導かれ、Δωだけ周波数偏移され、ミラー４３’
により試料４５に照射される。試料４５を透過した散乱
レーザ光はレンズ４６によりその後側焦点位置に置かれ
たアパーチャ４７の上に集束される。アパーチャ４７を
透過した光は、アパーチャ４７の位置を前側焦点位置と
するレンズ４８により平行光束とされ、レンズ４８の開
口径とアパーチャ４７の径により決まる回折限界径の平
行光束Ｌ３に変換される。これら光学系により全方位に
散乱する光軸から外れた散乱光はカットされ、試料の光
吸収情報を帯びた直進成分のみが抽出される。
【０００６】同様の検出を、試料台５７をレーザ光光軸
と垂直なＸ方向に走査しながら行う。次に、試料台５７
をθの方向にΔθだけ回転させ、上述と同様にＸ方向の
走査と検出を行う。
と垂直なＸ方向に走査しながら行う。次に、試料台５７
をθの方向にΔθだけ回転させ、上述と同様にＸ方向の
走査と検出を行う。
【０００７】以上の走査をθの角度が０°〜３５０°に
わたり行う。試料台５７のＸ線走査及びθ回転は試料台
制御装置５８により行われ、その位置信号は選択レベル
測定器からの信号と共にコンピュータ５９に入力され
る。コンピュータ５９では上述の走査で得られた投影デ
ータから画像再生の計算を行い、モニタ６０上に再生像
を構成する。
わたり行う。試料台５７のＸ線走査及びθ回転は試料台
制御装置５８により行われ、その位置信号は選択レベル
測定器からの信号と共にコンピュータ５９に入力され
る。コンピュータ５９では上述の走査で得られた投影デ
ータから画像再生の計算を行い、モニタ６０上に再生像
を構成する。
【０００８】このように特開平２−１５０７４７号公報
に開示された従来の光ＣＴ装置は、ヘテロダイン計測に
もとづくものであり、レーザ光を試料に照射し、その透
過光と参照光とを光混合し、光ヘテロダイン検波により
光散乱体中を透過したレーザ光より特定方向の直進成分
のみの透過率を測定し、試料の特定物質分布の断層像を
得る。
に開示された従来の光ＣＴ装置は、ヘテロダイン計測に
もとづくものであり、レーザ光を試料に照射し、その透
過光と参照光とを光混合し、光ヘテロダイン検波により
光散乱体中を透過したレーザ光より特定方向の直進成分
のみの透過率を測定し、試料の特定物質分布の断層像を
得る。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかし、特開平２−１
５０７４７号公報に開示された従来の光ＣＴ装置は、ヘ
テロダイン計測にもとづくものなので、レーザ装置から
出射した光を２つに分割した後に２つのレーザ光を干渉
させるために２つの波面を正確に合わせなければならな
い。したがって、波面調整用レンズ系や光軸の厳密な調
整といった時間と労力とを費やす作業を必要とするとい
う解決すべき問題を有する。また、干渉したレーザ光を
検出器で直接受光するため感度が低く、比較的厚みの少
ない試料に利用範囲が限定されるという解決すべき問題
も有する。
５０７４７号公報に開示された従来の光ＣＴ装置は、ヘ
テロダイン計測にもとづくものなので、レーザ装置から
出射した光を２つに分割した後に２つのレーザ光を干渉
させるために２つの波面を正確に合わせなければならな
い。したがって、波面調整用レンズ系や光軸の厳密な調
整といった時間と労力とを費やす作業を必要とするとい
う解決すべき問題を有する。また、干渉したレーザ光を
検出器で直接受光するため感度が低く、比較的厚みの少
ない試料に利用範囲が限定されるという解決すべき問題
も有する。
【００１０】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、従来の光ＣＴ装置より構成が簡単
で、またその操作も従来に比べて容易であり、しかも比
較的厚い生体試料への適用が可能な光コンピュータ画像
化装置を得ることを目的とする。
めになされたもので、従来の光ＣＴ装置より構成が簡単
で、またその操作も従来に比べて容易であり、しかも比
較的厚い生体試料への適用が可能な光コンピュータ画像
化装置を得ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明に係る光コンピ
ュータ画像化装置は、半導体レーザ励起固体レーザから
なるレーザ発振器と、該レーザ発振器から出力されたレ
ーザ光の周波数を変換する光周波数変換器と、前記光周
波数変換器によって周波数変換された前記レーザ光が試
料に照射された後、該試料から透過された光が前記レー
ザ発振器に戻ることによって変調されたレーザ光を検知
する光検出器とを有し、前記光検出器によって検出され
た検出結果をもとに、前記試料中に含まれる所定物質の
分布を画像化するようにしたものである。
ュータ画像化装置は、半導体レーザ励起固体レーザから
なるレーザ発振器と、該レーザ発振器から出力されたレ
ーザ光の周波数を変換する光周波数変換器と、前記光周
波数変換器によって周波数変換された前記レーザ光が試
料に照射された後、該試料から透過された光が前記レー
ザ発振器に戻ることによって変調されたレーザ光を検知
する光検出器とを有し、前記光検出器によって検出され
た検出結果をもとに、前記試料中に含まれる所定物質の
分布を画像化するようにしたものである。
【００１２】この発明に係る光コンピュータ画像化装置
は、試料を透過した光をレーザ発振器に戻す経路が設け
られ、前記レーザ発振器内で前記光が強度変調された後
に光検出器に送れるようにしたものである。
は、試料を透過した光をレーザ発振器に戻す経路が設け
られ、前記レーザ発振器内で前記光が強度変調された後
に光検出器に送れるようにしたものである。
【００１３】この発明に係る光コンピュータ画像化装置
は、前記半導体レーザ励起固体レーザを連続発振型マイ
クロチップレーザとしたものである。
は、前記半導体レーザ励起固体レーザを連続発振型マイ
クロチップレーザとしたものである。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態１．図１は、この発明の実施の形態１にもと
づく光ＣＴ装置の概略的構成を説明するためのブロック
図である。また、図２は図１の光ＣＴ装置に適用される
レーザ発振器の構成を説明するためのブロック図であ
る。図１において、１は半導体レーザ励起固体レーザ
（好ましくは連続発振型マイクロチップレーザ）からな
るレーザ発振器、２はレーザ発振器１から出射されるレ
ーザ光、３は光周波数変換器、４は伝送ミラー、５は測
定試料、６はミラー、７はビームスプリッタ、８は光検
出器、９はコンピュータである。また図２において、１
０は固体結晶、１１は集光レンズ、１２は励起用半導体
レーザ、１３は該励起用半導体レーザの電源である。
説明する。 実施の形態１．図１は、この発明の実施の形態１にもと
づく光ＣＴ装置の概略的構成を説明するためのブロック
図である。また、図２は図１の光ＣＴ装置に適用される
レーザ発振器の構成を説明するためのブロック図であ
る。図１において、１は半導体レーザ励起固体レーザ
（好ましくは連続発振型マイクロチップレーザ）からな
るレーザ発振器、２はレーザ発振器１から出射されるレ
ーザ光、３は光周波数変換器、４は伝送ミラー、５は測
定試料、６はミラー、７はビームスプリッタ、８は光検
出器、９はコンピュータである。また図２において、１
０は固体結晶、１１は集光レンズ、１２は励起用半導体
レーザ、１３は該励起用半導体レーザの電源である。
【００１５】はじめに、レーザ発振器１を構成する半導
体レーザ励起固体レーザは、それ自身安定で高効率のレ
ーザである半導体レーザを励起光として用い、さらに安
定なレーザに仕上げたもので、発振効率も他のレーザに
比べて高く、小型で高出力、長寿命である。この実施の
形態では、半導体レーザ励起固体レーザとして連続発振
型マイクロチップレーザを用いる。連続発信型マイクロ
チップレーザは、厚さが数ｍｍ以下の固体結晶１０、例
えば厚さが数ｍｍ程度のＮｄ：ＹＡＧ、ＹＶＯ、ＬＮＰ
等からなる固体結晶１０をレーザ媒質として用い、これ
に電源１３によって駆動される励起用半導体レーザ１２
からの励起光を集光レンズ１１を介して照射することに
よってレーザ発振を起こさせる。このような連続発振型
マイクロチップレーザは、レーザ光２の波長が約１，０
００ｎｍ乃至１，５００ｎｍの範囲であり、生体透過性
が高く、高効率かつ長励起寿命で安定して発振されるも
のなので、微弱な戻り光に対する強度変調感度が非常に
高く、さらに病院内の心電図装置等に影響を及ぼさない
という特徴を有する。
体レーザ励起固体レーザは、それ自身安定で高効率のレ
ーザである半導体レーザを励起光として用い、さらに安
定なレーザに仕上げたもので、発振効率も他のレーザに
比べて高く、小型で高出力、長寿命である。この実施の
形態では、半導体レーザ励起固体レーザとして連続発振
型マイクロチップレーザを用いる。連続発信型マイクロ
チップレーザは、厚さが数ｍｍ以下の固体結晶１０、例
えば厚さが数ｍｍ程度のＮｄ：ＹＡＧ、ＹＶＯ、ＬＮＰ
等からなる固体結晶１０をレーザ媒質として用い、これ
に電源１３によって駆動される励起用半導体レーザ１２
からの励起光を集光レンズ１１を介して照射することに
よってレーザ発振を起こさせる。このような連続発振型
マイクロチップレーザは、レーザ光２の波長が約１，０
００ｎｍ乃至１，５００ｎｍの範囲であり、生体透過性
が高く、高効率かつ長励起寿命で安定して発振されるも
のなので、微弱な戻り光に対する強度変調感度が非常に
高く、さらに病院内の心電図装置等に影響を及ぼさない
という特徴を有する。
【００１６】測定試料５を透過する光は、吸収と散乱と
によって非常に強度が低くなる。したがって、光ＣＴ装
置の性能はどこまでこの微弱な光を検知できるかにかか
っている。そこで、レーザ発振器１から出射されたレー
ザ光２を光周波数変換器３によってその周波数をわずか
にずらして測定試料５に照射する。すなわち、レーザ発
振器１から出力されたレーザ光２は、光周波数変換器３
によって元の周波数（ｆ０）から僅かに波長がずれた周
波数（ｆ０＋Δｆ）のレーザ光２’となって伝送ミラー
４を介して生体組織からなる測定試料５に照射される。
測定試料５を通過した光がミラー６を介してレーザ発振
器１に戻されると、戻された光によってレーザ発振器１
内部の利得が変化し、元のレーザ光の強度が戻りの光の
強度に応じて変調される（この時、戻り光の周波数が元
のレーザ光の周波数からずれている必要がある）。変調
されたレーザ光はビームスプリッタによって光検出器８
に導かれる。
によって非常に強度が低くなる。したがって、光ＣＴ装
置の性能はどこまでこの微弱な光を検知できるかにかか
っている。そこで、レーザ発振器１から出射されたレー
ザ光２を光周波数変換器３によってその周波数をわずか
にずらして測定試料５に照射する。すなわち、レーザ発
振器１から出力されたレーザ光２は、光周波数変換器３
によって元の周波数（ｆ０）から僅かに波長がずれた周
波数（ｆ０＋Δｆ）のレーザ光２’となって伝送ミラー
４を介して生体組織からなる測定試料５に照射される。
測定試料５を通過した光がミラー６を介してレーザ発振
器１に戻されると、戻された光によってレーザ発振器１
内部の利得が変化し、元のレーザ光の強度が戻りの光の
強度に応じて変調される（この時、戻り光の周波数が元
のレーザ光の周波数からずれている必要がある）。変調
されたレーザ光はビームスプリッタによって光検出器８
に導かれる。
【００１７】このように、測定試料５を透過したレーザ
光２の光パルスの時間的強度変化が光検出器８で検出さ
れ、その検出結果は光検出器８からコンピュータ９へ送
られる。また、レーザ発振器１又は測定試料５を不図示
の手段を用いて２次元もしくは３次元的に移動させるこ
とでレーザ光２を測定試料５に対して様々な角度から照
射する。照射されたレーザ光は測定試料５を透過するこ
とによって光検出器８によって検出され、その検出結果
がさらにコンピュータ９に送られて測定試料５中の所定
物質の濃度分布を画像化したＣＴ画像が形成される。
光２の光パルスの時間的強度変化が光検出器８で検出さ
れ、その検出結果は光検出器８からコンピュータ９へ送
られる。また、レーザ発振器１又は測定試料５を不図示
の手段を用いて２次元もしくは３次元的に移動させるこ
とでレーザ光２を測定試料５に対して様々な角度から照
射する。照射されたレーザ光は測定試料５を透過するこ
とによって光検出器８によって検出され、その検出結果
がさらにコンピュータ９に送られて測定試料５中の所定
物質の濃度分布を画像化したＣＴ画像が形成される。
【００１８】以上のように、この実施の形態１によれ
ば、生体組織に対する透過性が優れた低出力の連続発振
型マイクロチップレーザを用い、また干渉法ではないた
め波面調節用レンズ系や光軸の調節といった作業を必要
とせず、さらにほんの僅かな光がレーザ発振器１に戻る
だけでレーザ強度が大きく変調するので、従来のものに
比べて簡単な装置構成で透過性が高い低出力のレーザ光
を用いて比較的厚い生体試料への適用が可能な光ＣＴ装
置を提供することが可能となる。
ば、生体組織に対する透過性が優れた低出力の連続発振
型マイクロチップレーザを用い、また干渉法ではないた
め波面調節用レンズ系や光軸の調節といった作業を必要
とせず、さらにほんの僅かな光がレーザ発振器１に戻る
だけでレーザ強度が大きく変調するので、従来のものに
比べて簡単な装置構成で透過性が高い低出力のレーザ光
を用いて比較的厚い生体試料への適用が可能な光ＣＴ装
置を提供することが可能となる。
【００１９】実施の形態２．図３は、この発明の実施の
形態２にもとづく光ＣＴ装置の概略的構成を説明するた
めのブロック図である。図において、１は連続発振マイ
クロチップレーザからなるレーザ発振器、２はレーザ発
振器１から出射されるレーザ光、３は光周波数変換器、
５は測定試料、６はミラー、７はビームスプリッタ、８
は光検出器、９はコンピュータである。
形態２にもとづく光ＣＴ装置の概略的構成を説明するた
めのブロック図である。図において、１は連続発振マイ
クロチップレーザからなるレーザ発振器、２はレーザ発
振器１から出射されるレーザ光、３は光周波数変換器、
５は測定試料、６はミラー、７はビームスプリッタ、８
は光検出器、９はコンピュータである。
【００２０】この実施に形態では、実施の形態１と同様
に、レーザ発振器１から出力されたレーザ光２は、光周
波数変換器３によって元の周波数（ｆ０）から僅かに波
長がずれた周波数（ｆ０＋Δｆ）のレーザ光２’となっ
て生体組織からなる測定試料５に照射される。測定試料
５を通過した光はミラー６を介して再び測定試料５を透
過してレーザ発振器１に戻される。戻されたレーザ光に
よってレーザ発振器１内部の利得が変化し、元のレーザ
光の強度が大きく変調される。変調されたレーザ光は再
レーザ発振器１から出力されてビームスプリッタ７によ
って光検出器８に導かれる。
に、レーザ発振器１から出力されたレーザ光２は、光周
波数変換器３によって元の周波数（ｆ０）から僅かに波
長がずれた周波数（ｆ０＋Δｆ）のレーザ光２’となっ
て生体組織からなる測定試料５に照射される。測定試料
５を通過した光はミラー６を介して再び測定試料５を透
過してレーザ発振器１に戻される。戻されたレーザ光に
よってレーザ発振器１内部の利得が変化し、元のレーザ
光の強度が大きく変調される。変調されたレーザ光は再
レーザ発振器１から出力されてビームスプリッタ７によ
って光検出器８に導かれる。
【００２１】このように、測定試料５を透過したレーザ
光２の光パルスの時間的強度変化が光検出器８で検出さ
れ、その検出結果は光検出器８からコンピュータ９へ送
られる。また、レーザ発振器１又は測定試料を不図示の
手段を用いて２次元もしくは３次元的に移動させること
でレーザ光２を測定試料５に対して様々な角度から照射
する。照射されたレーザ光は測定試料５を透過して光検
出器８によって検出され、その検出結果がさらにコンピ
ュータ９に送られて測定試料５中の所定物質の濃度分布
を画像化すＣＴ画像が形成される。
光２の光パルスの時間的強度変化が光検出器８で検出さ
れ、その検出結果は光検出器８からコンピュータ９へ送
られる。また、レーザ発振器１又は測定試料を不図示の
手段を用いて２次元もしくは３次元的に移動させること
でレーザ光２を測定試料５に対して様々な角度から照射
する。照射されたレーザ光は測定試料５を透過して光検
出器８によって検出され、その検出結果がさらにコンピ
ュータ９に送られて測定試料５中の所定物質の濃度分布
を画像化すＣＴ画像が形成される。
【００２２】以上のように、この実施の形態２によれ
ば、実施例１と同様の効果に加えて、測定試料５を透過
したレーザ光２が再び測定試料５を透過するので、伝送
ミラーを必要とせず、装置全体の構成を簡略化すること
が可能となる。
ば、実施例１と同様の効果に加えて、測定試料５を透過
したレーザ光２が再び測定試料５を透過するので、伝送
ミラーを必要とせず、装置全体の構成を簡略化すること
が可能となる。
【００２３】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、半導
体レーザ励起固体レーザからなるレーザ発振器と、該レ
ーザ発振器から出力されたレーザ光の周波数を変換する
光周波数変換器と、前記光周波数変換器によって周波数
変換された前記レーザ光が試料に照射された後、該試料
から透過された光が前記レーザ発振器に戻ることによっ
て変調されたレーザ光を検知する光検出器とを有し、前
記光検出器によって検出された検出結果をもとに、前記
試料中に含まれる所定物質の分布を画像化するようにし
たものなので、従来のものに比べて簡単な装置構成で透
過性が高い低出力のレーザ光を用いて比較的厚い生体試
料への適用を図ることができる効果がある。
体レーザ励起固体レーザからなるレーザ発振器と、該レ
ーザ発振器から出力されたレーザ光の周波数を変換する
光周波数変換器と、前記光周波数変換器によって周波数
変換された前記レーザ光が試料に照射された後、該試料
から透過された光が前記レーザ発振器に戻ることによっ
て変調されたレーザ光を検知する光検出器とを有し、前
記光検出器によって検出された検出結果をもとに、前記
試料中に含まれる所定物質の分布を画像化するようにし
たものなので、従来のものに比べて簡単な装置構成で透
過性が高い低出力のレーザ光を用いて比較的厚い生体試
料への適用を図ることができる効果がある。
【００２４】この発明によれば、試料を透過した光をレ
ーザ発振器に戻す経路が設けられ、前記レーザ発振器内
で前記光が強度変調された後に光検出器に送られるよう
にしたものなので、レーザ発振器外部での強度変調に比
べて大きく変調することが可能であるという効果があ
る。
ーザ発振器に戻す経路が設けられ、前記レーザ発振器内
で前記光が強度変調された後に光検出器に送られるよう
にしたものなので、レーザ発振器外部での強度変調に比
べて大きく変調することが可能であるという効果があ
る。
【００２５】この発明によれば、連続発振型マイクロチ
ップレーザを用いることで、他のレーザに比べて微弱光
に対する変調感度が非常に大きいという効果がある。
ップレーザを用いることで、他のレーザに比べて微弱光
に対する変調感度が非常に大きいという効果がある。
【図１】本発明にもとづく光コンピュータ画像化装置の
一例の概略的構成を説明するためのブロック図である。
一例の概略的構成を説明するためのブロック図である。
【図２】本発明にもとづく光コンピュータ画像化装置に
適用されるレーザ発振器の一例を説明するためのブロッ
ク図である。
適用されるレーザ発振器の一例を説明するためのブロッ
ク図である。
【図３】本発明にもとづく光コンピュータ画像化装置の
別の例の概略的構成を説明するためのブロック図であ
る。
別の例の概略的構成を説明するためのブロック図であ
る。
【図４】従来の光コンピュータ画像化装置の一例の概略
的構成を説明するためのブロック図である。
的構成を説明するためのブロック図である。
１ レーザ発振器 ２ レーザ光 ３ 光周波数変換器 ４ 伝送ミラー ５ 測定試料 ６ ミラー ７ ビームスプリッタ ８ 光検出器 ９ コンピュータ １０ 固体結晶 １１ 集光レンズ １２ 励起用半導体レーザ １３ 電源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G059 AA05 BB12 EE01 FF02 GG01 GG08 GG09 HH01 JJ13 JJ22 JJ30 KK01 LL01 5F072 AB02 AB20 JJ20 KK15 KK30 PP07 QQ01 RR01 YY01
Claims (3)
- 【請求項１】 半導体レーザ励起固体レーザからなるレ
ーザ発振器と、 該レーザ発振器から出力されたレーザ光の周波数を変換
する光周波数変換器と、 前記光周波数変換器によって周波数変換された前記レー
ザ光が試料に照射された後、該試料から透過された光が
前記レーザ発振器に戻ることによって変調されたレーザ
光を検知する光検出器とを有し、 前記光検出器によって検出された検出結果をもとに、前
記試料中に含まれる所定物質の分布を画像化することを
特徴とする光コンピュータ画像化装置。 - 【請求項２】 試料を透過した光をレーザ発振器に戻す
経路が設けられ、前記レーザ発振器内で前記光が強度変
調された後に光検出器に送られることを特徴とする請求
項１に記載の光コンピュータ画像化装置。 - 【請求項３】 前記半導体レーザ励起固体レーザが連続
発振型マイクロチップレーザであることを特徴とする請
求項１又は請求項２記載の光コンピュータ画像化装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001034420A JP2002243633A (ja) | 2001-02-09 | 2001-02-09 | 光コンピュータ画像化装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001034420A JP2002243633A (ja) | 2001-02-09 | 2001-02-09 | 光コンピュータ画像化装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002243633A true JP2002243633A (ja) | 2002-08-28 |
Family
ID=18898033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001034420A Pending JP2002243633A (ja) | 2001-02-09 | 2001-02-09 | 光コンピュータ画像化装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002243633A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005537476A (ja) * | 2002-08-30 | 2005-12-08 | メディカル リサーチ カウンシル | 光学投影断層撮影 |
-
2001
- 2001-02-09 JP JP2001034420A patent/JP2002243633A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005537476A (ja) * | 2002-08-30 | 2005-12-08 | メディカル リサーチ カウンシル | 光学投影断層撮影 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20070427 |
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| A521 | Written amendment |
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|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20070710 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
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| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20071018 |