JP2002237482A - 真空スピンドライヤー方法及び装置 - Google Patents

真空スピンドライヤー方法及び装置

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JP2002237482A
JP2002237482A JP2001030932A JP2001030932A JP2002237482A JP 2002237482 A JP2002237482 A JP 2002237482A JP 2001030932 A JP2001030932 A JP 2001030932A JP 2001030932 A JP2001030932 A JP 2001030932A JP 2002237482 A JP2002237482 A JP 2002237482A
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dryer
rotor
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vacuum
spin dryer
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Shinichi Nagasaki
真一 長崎
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウェーハ等の基板を乾燥させるスピンドライ
ヤー方法および装置において、短時間で効率良く基板を
乾燥させること。 【解決手段】 ドライヤー内のローターにセットした基
板をローターを回転させて乾燥する方法であって、ドラ
イヤー内を徐々に減圧する工程と、ドライヤー内に不活
性ガスを断続的に導入する工程とからなるものである。
遠心力と、不活性ガスによる吹き飛ばしと、減圧とによ
る相乗効果で、水分をミスト化して効率良く除去するこ
とができ、基板の完全乾燥ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の製造
プロセスにおいて、LCD、TFT等の基板や、半導体
ウェーハ等の各種基板を洗浄後に真空状態にして乾燥さ
せるためのスピンドライヤー方法およびスピンドライヤ
ー装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体装置、例えば、BIPト
ランジスタ、MOSトランジスタ等の製造において、シ
リコン等からなるウェーハ基板上に各種薄膜を形成する
工程があり、その各プロセスにおいては各種配線(回
路)、絶縁膜、保護膜等の薄膜を成膜する前にウエット
エッチング(薬液処理)を行って、自然酸化膜および不
要な金属、有機物等の除去を行い、洗浄後に乾燥機で乾
燥するものである。その乾燥機としてスピンドライヤー
装置等が使用されている。特に、製造プロセスにおける
基板の乾燥工程は歩留まりを左右する重要な工程であ
る。
【0003】この種の一般に使用されているスピンドラ
イヤー装置としては、例えば、図5に略示した構成のも
のが従来技術として公知になっている。この従来技術の
スピンドライヤー装置は、装置本体1の内部は仕切壁2
によって上部室1aと下部室1bとに仕切られ、装置本
体1の上部は蓋部材3により施蓋される構成になってい
る。そして、上部室1aには乾燥容器、即ちドライヤー
4が設けられ、該ドライヤー4内にローター5が配設さ
れ、該ローター5は下部室1bに設置したモーター6お
よび仕切壁2を貫通して設けた駆動軸7を介して回転で
きるように構成されている。
【0004】また、装置本体1の一側面には排気用のメ
イン配管8が連通状態に取り付けられ、該メイン配管8
はオートダンパー9を介して工場内に設備してある設備
排気配管10に接続されると共に、適宜位置にドレイン
配管11が設けられている。更に、ローター5には、複
数のクレドール12が設けられており、該クレドール1
2に、洗浄後の乾燥しようとする多数枚のウェーハ等の
基板13が収納されたキャリア14をセットするもので
ある。なお、ドライヤー4の内部において対流を防止す
るために、駆動軸7には対流防止羽根15が設けられて
いる。
【0005】そして、実際の使用においては、キャリア
14をローター5のクレドール12にセットした後に蓋
部材3を閉め、モーター6を駆動させてローター5を回
転させることにより、遠心力を付与して基板13の表面
に付着している水分を弾き飛ばし、同時にオートダンパ
ー9が開になってドライヤー4内の湿気を帯びた或いは
ミストを含む空気を外部に排出してスピンドライを助成
するものである。
【0006】この動作については、例えば、所定のスイ
ッチをオンさせることにより、設定された時間に渡って
駆動され自動的にオフされるものである。なお、蓋部材
3は通気性を有するものであり、ドライヤー4内の排気
に伴ってクリンルーム内の乾燥した空気をドライヤー4
内に導入できるものである。また、弾き飛ばされた水分
はメイン配管8内を流下し、ドレイン配管11から外部
に排出される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、乾燥し
ようとする基板13に各種配線が形成されていて凹凸が
存在する場合、または、キャリア14と接触している部
分において、遠心力と空気の流通だけでは水分を除去で
きず、ましてや工場内に設備してある設備排気配管10
は他の設備と共用していることもあって、使用状況によ
っては排気能力が不安定になり充分に乾燥されない状況
が生じ、乾燥不充分による悪影響を及ぼし品質低下を招
くという問題点を有する。
【0008】従って、従来技術におけるスピンドライヤ
ー装置においては、短時間で効率良く基板を完全に乾燥
させることに解決しなければならない課題を有してい
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記従来技術の課題を解
決する具体的手段として本発明は、ドライヤー内のロー
ターにセットした基板をローターを回転させて乾燥する
方法であって、ドライヤー内を徐々に減圧する工程と、
ドライヤー内に不活性ガスを断続的に導入する工程とか
らなることを特徴とする真空スピンドライヤー方法、並
びに、ドライヤー内のローターにセットした基板をロー
ターを回転させて乾燥する装置であって、ドライヤー内
を徐々に減圧する排気手段と、ドライヤー内に不活性ガ
スを断続的に導入するガス供給手段とを装備しているこ
とを特徴とする真空スピンドライヤー装置を提供するも
のである。
【0010】また、本発明においては、排気手段は、真
空ポンプに連結された少なくともメイン開閉バルブを有
するメイン排気配管とスロー開閉バルブを有するスロー
バキュウム配管とからなること;ガス供給手段は、ロー
ターのセンター部分に垂下状態で配設されるブローノズ
ルと、該ブローノズルにガスを供給するガス供給管と、
ガスの供給を断続できるバルブとからなること;を付加
的な要件として含むものである。
【0011】本発明に係る真空スピンドライヤー方法お
よび装置は、ドライヤー内を徐々に減圧して真空状態に
すること、遠心力を付与して水分を振り切ること、およ
び不活性ガスを吹き付けて水分を吹き飛ばすことによ
り、水分をミスト化して外部に持ち出すことで短時間に
効率良く基板を乾燥させることができるのである。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明に係る真空スピンド
ライヤー方法および装置について好ましい実施の形態を
図面を参照して説明する。なお、理解を容易にするた
め、前記従来技術と同一部分には同一符号を付し、必要
と認められる構成部分については重複して説明する。ま
ず、図1〜図2に示した第1の実施の形態において、真
空スピンドライヤー装置は、装置本体1の内部を仕切壁
2によって上部室1aと下部室1bとに仕切り、装置本
体1の上部は通気性を有しない蓋部材3によりシール用
パッキン16を介して密閉状態に施蓋される構成になっ
ている。
【0013】装置本体1の上部室1aには乾燥容器、即
ちドライヤー4が設けられ、該ドライヤー4内にロータ
ー5が配設され、該ローター5は下部室1bに設置した
モーター6および仕切壁2を貫通して設けた駆動軸7を
介して回転できるように構成されている。そして、ロー
ター5には、図2に示したように、2個のクレドール1
2が対峙した状態で設けられており、これらクレドール
12は、少なくとも対峙している前面と背面とが開放さ
れており、各クレドール12に洗浄後の乾燥しようとす
る多数枚のウェーハ等の基板13が収納されたキャリア
14をそれぞれセットするものである。なお、ドライヤ
ー4の内部において対流を防止する目的で、駆動軸7に
は対流防止羽根15が設けられているが、これは必ずし
も必要とするものではない。
【0014】また、装置本体1に設けられているドライ
ヤー4内に窒素ガスなどの不活性ガスを供給できるガス
供給手段が設けられている。このガス供給手段は、ドラ
イヤー4の中心位置、即ち、ローター5のセンター部分
に上部から垂下した状態で配設されたブローノズル17
と、該ブローノズル17を支持しガスを供給するガス供
給管18と、該ガス供給管18の途中に設けられたガス
用バルブ19とから構成されており、前記ブローノズル
17は、所定長さの管状を呈し、一つの側面に複数個の
噴出口が直線状に設けられたものである。
【0015】この場合のガス供給手段は、回転しない装
置本体1の壁面とドライヤー4の壁面とを貫通した状態
で配設されるものであるが、蓋部材3の中心部を貫通し
た状態で設けることもできる。要するに、ローター5の
センター部分にブローノズル17を垂直状態で配設でき
れば良いのであって、ガス用バルブ19の開閉を制御し
て不活性ガスを間歇的に噴出させ、ローター5の回転に
伴って回転している基板13に満遍なく吹き付けられる
構成であれば良いのである。
【0016】更に、装置本体1の一側面には排気手段2
0が連通状態に設けられており、該排気手段20は、主
としてメイン排気配管21と、スローバキュウム配管2
2および真空ポンプ23とから構成されており、メイン
排気配管21にはメイン開閉バルブ24が設けられ、ス
ローバキュウム配管22にはスローバキュウム開閉バル
ブ25が設けられている。
【0017】この場合のスローバキューム配管22は、
メイン排気配管21よりも細径で、メイン開閉バルブ2
4を跨ぐようにバイパス状にメイン排気配管21に連通
させた構成になっている。また、メイン排気配管21に
は、メイン開閉バルブ24の上流側に圧力スイッチ26
が設けられると共にメイン開閉バルブ24の下流側に圧
力調整バルブ27が設けられている。なお、真空ポンプ
23の排気側は工場内の設備排気配管10に接続してあ
る。
【0018】図3に第2の実施の形態を示してある。こ
の第2の実施の形態においては、基板13を枚葉毎に乾
燥させるものであり、装置本体1の内部を仕切壁2によ
って上部室1aと下部室1bとに仕切り、装置本体1の
上部は通気性を有しない蓋部材3によりシール用パッキ
ン16を介して密閉状態に施蓋される構成である点で前
記第1の実施の形態と同じである。
【0019】前記第1の実施の形態と構成上相違する点
は、装置本体1の上部室1aには中央部にチャックテー
ブル28が設けられ、該チャックテーブル28は、下部
室1bに設置したモーター6および仕切壁2を貫通して
設けた駆動軸7を介して回転できるように構成されてい
る。そして、チャックテーブル28を取り囲むようにし
て配設した山形のドレーンガイド板29が設けられ、実
質的に上部室1aがドライヤーの機能を果たすものであ
る。
【0020】また、この第2の実施の形態においても、
実質的にドライヤーの機能を果たす上部室1a内に窒素
ガスなどの不活性ガスを供給できるガス供給手段が設け
られている。このガス供給手段は、上部室1aの中心位
置、即ち、チャックテーブル28のセンター部分に向け
て噴出口が開口するブローノズル17aと、該ブローノ
ズル17aを支持しガスを供給するガス供給管18a
と、該ガス供給管18aの途中に設けられたガス用バル
ブ19aとから構成されている。
【0021】この場合のガス供給手段は、装置本体1の
壁面を貫通した状態で配設されるものであるが、蓋部材
3の中心部を貫通した状態で設けることもできる。要
は、チャックテーブル28上に載置された基板13に対
して、その中央部に不活性ガスを吹き付けられる状態で
あれば良いのであって、ガス用バルブ19aの開閉を制
御して不活性ガスを間歇的に噴出させるものである。
【0022】更に、この第2の実施の形態においても、
前記第1の実施の形態と同様に、装置本体1に対して排
気手段20が設けられている。その構成についても、メ
イン排気配管21と、スローバキュウム配管22および
真空ポンプ23とから構成され、メイン排気管21には
メイン開閉バルブ24が設けられ、スローバキュウム配
管22にはスローバキュウム開閉バルブ25が設けられ
ている。
【0023】そして、スローバキューム配管22は、メ
イン排気配管21よりも細径であること、メイン開閉バ
ルブ24を跨ぐようにバイパス状にメイン排気配管21
に連通させてあること、メイン排気配管21には、メイ
ン開閉バルブ24の上流側に圧力スイッチ26が設けら
れると共にメイン開閉バルブ24の下流側に圧力調整バ
ルブ27が設けられていること、真空ポンプ23の排気
側は工場内の設備排気配管10に接続してあることにつ
いては、同じ構成である。
【0024】そこで、本発明の真空スピンドライ方法
(作動)について、代表的な前記第1の実施の形態に基
づき、且つ動作タイミングのチャートを示す図4を参照
しながら説明する。
【0025】まず、装置本体1の蓋部材3を開けた状態
で、ローター5の各クレドール12に洗浄後の乾燥しよ
うとする多数枚のウェーハ等の基板13が収納されたキ
ャリア14をそれぞれセットして蓋部材3を気密状態に
閉める。そして、例えばスタートスイッチ等の所定のス
イッチをオンにすると、まず、スローバキュウム開閉バ
ルブ25が開き、ドライヤー4内を徐々に減圧状態にす
る。この徐々の減圧によって基板13に付着している水
分が徐々にミスト状に蒸発して外部に持ち出される。
【0026】そして、所定の時間(45秒)経過後に、
モーター6が駆動してローター5が回転すると同時にメ
イン開閉バルブ24が開き、ドライヤー4内を更に減圧
状態にすると共にローター5の回転によって基板13に
遠心力が付与され、基板13に付着している水分が弾き
飛ばされると同時にミスト化されて外部に持ち出される
のである。
【0027】メイン開閉バルブ24が開いた後の所定時
間(15秒)後にスローバキュウム開閉バルブ25が閉
じられ、同時にガス用バルブ19が開いて窒素ガスなど
の不活性ガスを供給する。この場合に、不活性ガスは所
定時間(15秒)に渡ってブローノズル17からドライ
ヤー4内に噴射させるものであるが、この噴射は、所定
時間(15秒)間隔で間歇的に、例えば、3回行われる
のであり、その間減圧状態(略真空状態)が維持されて
ローター5が回転(略1000回転/分)していること
から、不活性ガスは一方向に噴射されているが、キャリ
ア14に収納されている基板13は一回転毎に噴射の影
響を受けるので、仮に基板13の凹部に水分があっても
不活性ガスの噴射によって排除され、遠心力とガス噴射
との相乗効果によって全体的に水分が排除されて略完全
に乾燥するのである。
【0028】その後、所定時間に渡ってローター5の回
転と減圧状態(略真空状態)とが維持された後(スター
トから180秒後)にメイン開閉バルブ24が閉じら
れ、所定時間(15秒)後に再度ガス用バルブ19を開
くと同時にローター5への通電をオフにする。ガス用バ
ルブ19が開かれることによりドライヤー4内に不活性
ガスが供給されて充満し、所定時間(45秒)後に減圧
状態が解消されると共にローター5の回転も停止するの
で、ガス用バルブ19を閉じて一乾燥工程が終了し、蓋
部材3を開けて基板13が収納されたキャリア14を取
り出すのである。
【0029】この一乾燥工程が終了する時間は略240
秒(4分)程度であり、各バルブの開閉およびローター
のオン・オフのタイミングは、予めプログラミングして
おきスタートスイッチを押すだけで自動的に一乾燥工程
を遂行できるのである。
【0030】また、第2の実施の形態における動作につ
いては、基本的に上記第1の実施の形態と同じである
が、ドライヤー4に相当する上部室1aの容積が小さい
こと、および処理される基板13が一枚であって不活性
ガスを基板13の面に直接噴射できることからして、減
圧状態にする時間が短くて済むと共に不活性ガスの噴射
回数が1〜2回程度でも充分な水分排除が可能であり、
それによって相対的な処理時間を更に60秒以上短縮す
ることができるのである。
【0031】上記した一乾燥工程において、初期のスロ
ーバキュウム開閉バルブ25を開いてドライヤー4内を
徐々に減圧することが重要なのであって、これを急激に
減圧状態にすると、水分のミスト化が激しくなり、ミス
トの状態で再付着するのを抑制しているのである。
【0032】また、排気手段20において、圧力スイッ
チ26および圧力調整バルブ27を設けてあるのは、ド
ライヤー4内が必要以上に減圧されないように安全を図
るためであり、減圧の度合いが設定された値になると圧
力スイッチ26がオンしてそれ以上に減圧されないよう
に調整しているのであり、例えば、圧力スイッチ26を
メイン開閉バルブ24と連動させておけば、メイン開閉
バルブ24が設定されたタイミングよりも数秒乃至十数
秒早めに閉じることもあり得るのである。
【0033】いずれにしても、排気手段20としてメイ
ン排気配管21とスローバキュウム配管22とを設ける
ことによってドライヤー4内を徐々に減圧して、基板1
3に付着している水分をミスト化すること、且つロータ
ー5の回転によって水分を振り切ると共に不活性ガスを
吹き付けて水分を吹き飛ばし、同時に減圧下でミスト化
されて外部に持ち出されるのであり、基板13の乾燥が
速やかに且つ短時間で遂行できるのである。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る真空
スピンドライヤー方法は、ドライヤー内のローターにセ
ットした基板をローターを回転させて乾燥する方法であ
って、ドライヤー内を徐々に減圧する工程と、ドライヤ
ー内に不活性ガスを断続的に導入する工程とからなるも
のであって、遠心力によって水分を振り切ること、およ
び不活性ガスを吹き付けて水分を吹き飛ばし、真空状態
に維持することで水分をミスト化して外部に持ち出すの
で短時間に効率良く基板を乾燥させることができるとい
う優れた効果を奏する。
【0035】また、本発明に係る真空スピンドライヤー
装置は、ドライヤー内のローターにセットした基板をロ
ーターを回転させて乾燥する装置であって、ドライヤー
内を徐々に減圧する排気手段と、ドライヤー内に不活性
ガスを断続的に導入するガス供給手段とを装備している
構成としたことにより、前記と同様に遠心力と、不活性
ガスによる吹き飛ばしと、減圧とによる相乗効果で、水
分をミスト化して効率良く除去することができ、基板の
完全乾燥ができるという優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る真空スピンド
ライヤー装置の使用状況を説明するために略示的に示し
た側断面図である。
【図2】同実施の形態に係る装置本体の蓋部材を取り外
した状況を略示的に示した平面図である。
【図3】本発明の第2の実施の形態に係る真空スピンド
ライヤー装置の使用状況を説明するために略示的に示し
た側断面図である。
【図4】本発明に係る真空スピンドライヤー装置の動作
状況(方法)を示すタイムチャート図である。
【図5】従来例のスピンドライヤー装置の使用状況を説
明するために略示的に示した側断面図である。
【符号の説明】
1 装置本体、 1a 上部室、 1b 下部室、 2
仕切壁、3 蓋部材、 4 ドライヤー(乾燥容
器)、 5 ローター、6 モーター、 7 駆動軸、
12 クレドール、 13 基板、14 キャリア、
15 対流防止羽根、 16 シール用パッキン、1
7、17a ブローノズル、 18、18a ガス供給
管、19、19a ガス用バルブ、 20 排気手段、
21 メイン排気配管、22 スローバキュウム配
管、 23 真空ポンプ、24 メイン開閉バルブ、
25 スローバキュウム開閉バルブ、26 圧力スイッ
チ、 27 圧力調整バルブ、 28 チャックテーブ
ル、29 ドレーンガイド板。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) F26B 9/06 F26B 9/06 A 21/14 21/14

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ドライヤー内のローターにセットした基
    板をローターを回転させて乾燥する方法であって、 ドライヤー内を徐々に減圧する工程と、 ドライヤー内に不活性ガスを断続的に導入する工程とか
    らなることを特徴とする真空スピンドライヤー方法。
  2. 【請求項2】 ドライヤー内のローターにセットした基
    板をローターを回転させて乾燥する装置であって、 ドライヤー内を徐々に減圧する排気手段と、 ドライヤー内に不活性ガスを断続的に導入するガス供給
    手段とを装備していることを特徴とする真空スピンドラ
    イヤー装置。
  3. 【請求項3】 排気手段は、 真空ポンプに連結された少なくともメイン開閉バルブを
    有するメイン排気配管とスロー開閉バルブを有するスロ
    ーバキュウム配管とからなることを特徴とする請求項2
    に記載の真空スピンドライヤー装置。
  4. 【請求項4】 ガス供給手段は、 ローターのセンター部分に垂下状態で配設されるブロー
    ノズルと、該ブローノズルにガスを供給するガス供給管
    と、ガスの供給を断続できるバルブとからなることを特
    徴とする請求項2に記載の真空スピンドライヤー装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004079808A1 (ja) * 2003-03-04 2004-09-16 Tokyo Electron Limited 基板の処理システム及び半導体装置の製造方法
JP2008091920A (ja) * 2007-10-01 2008-04-17 Tadahiro Omi 基板の処理システム
KR101322906B1 (ko) 2012-04-20 2013-11-28 (주)미리내텍코리아 유리섬유를 이용한 파이프 커버 보온 단열재의 로터리 고주파 건조장치
CN111928585A (zh) * 2020-08-12 2020-11-13 河海大学 一种真空干燥箱
CN115574559A (zh) * 2022-11-21 2023-01-06 南京同皓干燥设备有限公司 一种基于多源数据分析的真空低温脉动智能干燥系统

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004079808A1 (ja) * 2003-03-04 2004-09-16 Tokyo Electron Limited 基板の処理システム及び半導体装置の製造方法
CN100447975C (zh) * 2003-03-04 2008-12-31 东京毅力科创株式会社 衬底处理系统以及半导体器件的制造方法
JP2008091920A (ja) * 2007-10-01 2008-04-17 Tadahiro Omi 基板の処理システム
KR101322906B1 (ko) 2012-04-20 2013-11-28 (주)미리내텍코리아 유리섬유를 이용한 파이프 커버 보온 단열재의 로터리 고주파 건조장치
CN111928585A (zh) * 2020-08-12 2020-11-13 河海大学 一种真空干燥箱
CN115574559A (zh) * 2022-11-21 2023-01-06 南京同皓干燥设备有限公司 一种基于多源数据分析的真空低温脉动智能干燥系统
CN115574559B (zh) * 2022-11-21 2023-03-24 南京同皓干燥设备有限公司 一种基于多源数据分析的真空低温脉动智能干燥系统

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