JP2002237101A

JP2002237101A - 光記録媒体

Info

Publication number: JP2002237101A
Application number: JP2001376089A
Authority: JP
Inventors: Yuki Suzuki; 夕起鈴木; Mitsugi Wakabayashi; 貢若林; Yoshihiro Noda; 善宏野田; Keiichi Ota; 圭一太田; Hideji Takeshima; 秀治竹島
Original assignee: Mitsubishi Chemical Corp
Current assignee: Mitsubishi Chemical Corp
Priority date: 2000-12-08
Filing date: 2001-12-10
Publication date: 2002-08-23

Abstract

(57)【要約】【課題】民生用ＤＶＤ−Ｒに特に適した光学記録
媒体を提供する。【解決手段】案内溝が形成された円盤状の基板上に、
有機色素を含む記録層および反射層を形成してなり、波
長６００〜７００ｎｍのレーザー光にて記録／再生を行
う光記録媒体において、プリフォーマット情報がランド
プリピットとして形成されており、該ランドプリピット
の底部における、案内溝と平行な方向の最大長が０．２
０〜０．３１μｍであることを特徴とする光記録媒体。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は有機色素を記録層と
する光記録媒体、特に民生用のＤＶＤ−Ｒに関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、光記録媒体の高密度記録のため、
記録再生用レーザー光の発振波長の短波長化が注目さ
れ、一般にＣＤ系光記録媒体に使用される波長７８０ｎ
ｍ、８３０ｎｍよりも短波長のレーザー光で記録再生可
能な光記録媒体として、波長６３０ｎｍ〜６８０ｎｍの
半導体レーザー光を記録再生に用いるＤＶＤ系光記録媒
体が開発されている。

【０００３】かかる光記録媒体としては様々なタイプが
提案されているが、その中で有機色素系光記録媒体は、
安価でプロセス上製造が容易であるという特長を有す
る。有機色素系光記録媒体に関しては、近年波長６４０
ｎｍ近傍のレーザー光にて記録再生を行う追記型光記録
媒体（ＤＶＤ―Ｒ）の3.95ＧＢ容量の規格が成立し、マ
ーク長変調方式の記録において、入射（記録用）レーザ
ー光をマルチパルス化することにより、記録マークのエ
ッジを制御する方法が確立した。また、記録装置につい
ても高密度記録に最適なシステムが実用化されている。

【０００４】しかし最近は、民生用のＤＶＤ−Ｒの要求
が高まり、より安価に供給可能な波長６６０ｎｍ〜６７
０ｎｍ近傍の半導体レーザーを用いて、波長６４０ｎｍ
近傍のレーザー光を用いた場合と同等に高密度な記録が
可能な光記録媒体が開発されつつある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】現在のＤＶＤ−Ｒにお
いては、アドレス情報などのプリフォーマット情報が基
板のランドプリピット（ＬＰＰ）として形成されてい
る。しかし例えば民生用のＤＶＤ−Ｒの場合には、従来
のＤＶＤ−Ｒと較べて波長の長い、安価なレーザーを搭
載したドライブやレコーダで記録することが多くなると
予想される。安価なドライブやレコーダは概してビーム
の集光度が低いため、信号の記録特性がランドプリピッ
トの形状、サイズに影響されやすいという傾向がある。

【０００６】また、安価なドライブやレコーダには、記
録時のチルトサーボ機構がついていないものもあると考
えられる。このようなドライブでは、光記録媒体の記録
層表面の面振れ加速度の急激な変化に追随できず、記録
特性が悪化することが予想される。民生用ＤＶＤ−Ｒに
は、このように機能を簡略化したもの等様々なドライブ
の、いずれにおいても良好に記録・再生できることが求
められる。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題の解決につき鋭
意検討した結果、本発明者は、ＬＰＰの形状や大きさを
最適化すること、および面振れ加速度を一定以下にする
ことにより、種々のドライブやレコーダに対応可能な光
記録媒体を提供できることを見いだし本発明に至った。

【０００８】すなわち本発明は、（１）案内溝が形成さ
れた円盤状の基板上に、有機色素を含む記録層および反
射層を形成してなり、波長６００〜７００ｎｍのレーザ
ー光にて記録／再生を行う光記録媒体において、プリフ
ォーマット情報がランドプリピットとして形成されてお
り、該ランドプリピットの底部における、案内溝と平行
な方向の最大長が０．２０〜０．３１μｍであることを
特徴とする光記録媒体、および（２）円盤状の基板上
に、有機色素を含む記録層および反射層を形成してなる
光記録媒体において、光記録媒体の記録層表面の、面振
れ加速度が±５ｍ/ｓ² 以内であることを特徴とする光
記録媒体に存する。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。本発明の光記録媒体は、記録用のレーザー
光を照射された部分の記録層が、該レーザー光を吸収す
ることにより昇温して有機色素の分解温度に達し、有機
色素が分解・減量して膜厚が減少するとともにその部分
の光学特性が変化した結果、戻り光の位相が変化するこ
と、これに加えて基板の流動変形の影響により、反射率
を変化させることにより記録を行い、該反射率の変化を
検出することにより再生を行うものである。

【００１０】本発明において、透明基板としてはポリカ
ーボネート、ポリメタクリレート、非晶質ポリオレフィ
ン等の樹脂等、公知のものが用いられ、トラッキングサ
ーボ用の案内溝を有している。一般に、有機色素系光記
録媒体において、基板上に設けた案内溝のトラックピッ
チと溝深さの最適範囲は、記録再生光の波長に依存す
る。

【００１１】例えば、波長６００ｎｍ〜７００ｎｍにお
ける記録再生用の光記録媒体の場合、溝深さは１００〜
１８０ｎｍが好ましく、１４０〜１８０ｎｍがより好ま
しい。また波長４００ｎｍ〜５００ｎｍにおける記録再
生用光記録媒体の場合、溝深さは８０〜１５０ｎｍが好
ましい。溝深さの下限が８０ｎｍ未満の場合、充分な記
録変調度を得ること、及び十分なプッシュプル信号が得
ることが困難になる場合があり、上限が１８０ｎｍを超
えると、転写性の維持および十分な反射率が得ることが
難しくなる傾向がある。

【００１２】本発明の光記録媒体において、アドレス情
報などのプリフォーマット情報が基板のランドプリピッ
ト（ＬＰＰ）として形成されている。例えば民生用のＤ
ＶＤ−Ｒの場合には、従来のＤＶＤ−Ｒと較べて波長の
長い、安価なレーザーを搭載したドライブやレコーダで
記録することが多い。その際には概してビームの集光度
が低いため、ランドプリピットの形状、サイズに記録特
性が影響されやすいという傾向がある。

【００１３】記録特性への影響を抑えるためには、図３
または図４中にｌ_LLPとして示した、ランドプリピット
の底部における案内溝と平行な方向の最大長が０．２０
μｍ〜０．３１μｍでなければならない。０．２０μｍ
を下回ると、ランドプリピットが小さすぎてアドレス情
報の読み取りが正しく行われず、動画が正しく記録でき
ないことがある。また０．３１μｍを越えると、大きす
ぎて記録特性に影響を及ぼし、ジッターが悪化したりや
エラーの原因になる等、記録信号品質の劣化が起こりや
すい。

【００１４】ランドプリピットの形状としては、図３ま
たは図４に示すように略円形（楕円形を含む）、鞍状、
片方が広がった橋状のものなどがありうるが、中でも図
３の（ａ）〜（ｃ）に示したような、基板のランド幅の
内側に収まる略円形であるものが好ましい。また基板の
ランド幅は、溝幅の１．３〜１．７倍であることが、十
分なランドプリピット信号強度の確保と、被記録部への
影響の緩和という観点から好ましい。

【００１５】基板のランドの幅が基板の案内溝幅の１．
３倍未満の場合、相対的に溝幅が広すぎることになり良
好な記録が困難となる傾向がある。１．７倍を越える
と、溝幅が狭すぎるためにランドプリピットがビームの
視野に入りやすく、再生時・記録時に悪影響を及ぼす可
能性がある。なお、ランドプリピットの底部と基板の案
内溝の底部が同一平面上にあると、なお好ましい。

【００１６】また、未記録の状態における記録層の溝深
さ（記録層の表面に生じる、基板の案内溝に対応する溝
部の深さ）が、同じ位置の基板の溝深さの６０〜７５％
であり、記録層の膜厚がランド部で１０〜５０ｎｍ、溝
部で８０〜１０５ｎｍであることが好ましい。特に、民
生用ＤＶＤ−Ｒは記録再生光波長が６６０〜６７０ｎｍ
程度であり、従来のＤＶＤ−Ｒ（波長６４０ｎｍ近傍）
より長波長であるため、ランド部と溝部の反射率差（ラ
ジアルコントラスト）がより小さくなった。よって、ト
ラッキングの安定のために十分なラジアルコントラスト
を得るには、記録層の溝深さがより大きい方が好ましい
からである。

【００１７】また、縦横等倍の走査電子顕微鏡（ＳＥ
Ｍ）像で見た、記録層の溝の壁面の傾斜角は、好ましく
は１０°以上である。この「記録層の溝の壁面の傾斜
角」とは、図２に示すように、記録層の溝の壁面（側
面）の延長線と、基板のランド部上に積層された記録層
表面のなす角θ_absおよびθ’_absを意味する。１０°を
下回る場合は、基板の案内溝およびランドに対応する、
記録層表面に生じる溝とランドの高低差が小さくなりす
ぎて区別しがたくなるため、トラッキングが不安定にな
り、良好な記録が行えない可能性がある。より好ましく
は２０°以上である。また好ましくは４０°以下であ
る。４０°を超える場合は、記録層の溝部の膜厚が薄い
ことになり、十分な記録変調度が得られなくなる可能性
がある。より好ましくは３０°以下である。

【００１８】なお、θ_absおよびθ’_absの測定は以下の
ように行う。まず光記録媒体を、イオンエッチング（本
発明者らは日立製作所製「日立ＦＢ−２０００Ａ」を使
用した）し、表面を出した媒体の断面を、試料角度５０
°に傾けて、ＳＥＭ（本発明者らは日立製作所製「日立
Ｓ−９００型」を使用した）にて縦横等倍（本発明者ら
は１０万倍）で記録層と反射層の界面を観察し、θ_abs
およびθ’_absを測定した。

【００１９】なお、案内溝を有する基板上に、有機色素
を含む溶液をスピンコートすることにより記録層を形成
する場合には、溶媒の乾燥や内周から外周に液が展開す
るという機構上、外周ほど膜厚が厚くなり溝が埋まりす
ぎる傾向があった。その結果、図２におけるＤ_g、即ち
案内溝に対応する記録層の溝部の膜厚（以下、単に「記
録層の溝部の膜厚」と称する）が内周から外周に向かっ
て変化するため、プッシュプル信号、記録感度などの諸
特性の媒体面内での均一性が得られず、外周で感度不足
となってエラーが大きくなり、外周での映像やデータの
品質が劣る問題があった。

【００２０】それを防ぐためには、基板の内周から外周
に向かって、案内溝の溝深さおよび／または溝幅を増加
させると良い。溝深さを内周から外周に向かって深くす
ることにより、スピンコートによる記録層の溝（基板上
の案内溝に対応する、記録層表面に生じる溝）の埋まり
すぎを解消することができる。

【００２１】また、スピンコートによる記録層の膜厚が
外周で厚くなると、記録層の溝の幅が狭くなり、記録感
度の低下が起こりやすいが、溝幅を内周から外周に向か
って広くすることにより、記録感度の低下を緩和するこ
とができる。また溝幅を広くすることにより、基板外周
部での基板の転写性の低減も緩和することができる。従
って、基板の外周部で案内溝を深くすることは、媒体面
全体での主にプッシュプルなどの未記録特性の均一性を
実現するために特に有効であり、外周で溝幅を広くする
ことは媒体面全体での記録感度の均一性及びその結果得
られるジッターの均一性、エラーレート（PIエラー）の
均一性を実現することに特に有効である。

【００２２】基板の案内溝の深さは、光学溝形状測定で
140〜155nmの範囲が好ましい。１４０ｎｍよりも浅い場
合は十分な記録変調度が得られないおそれがあり、また
十分なプッシュプルが得られにくい傾向がある。155nm
よりも深い場合には、基板成形時の溝の転写が困難とな
る傾向がある。基板の外周にあたる円の中心から半径45
mmにおける溝深さは、半径25mmにおけるよりも5〜9nm深
いことが好ましい。４５ｎｍよりも浅いと十分なプッシ
ュプルの均一性が得られないおそれがある。9nmを超え
ると、逆に深すぎるため却ってプッシュプルの均一性を
そこなう恐れがある。

【００２３】または、基板の案内溝のＡＦＭ（原子間力
顕微鏡）にて測定された溝深さが１５０〜１８０ｎｍで
あり、中心から半径５８ｍｍにおける溝深さが半径２３
ｍｍにおけるより５〜２０ｎｍ深いことが好ましい。本
発明では、この溝深さの測定に主に光学溝形状測定とAF
Mによる測定との２つの方法を導入した。光学溝形状測
定は(株)フソー電子製DGM−DVD−TII He−Cd325nmを用
いて測定した。またAFMはデジタルインスツルメンツ社
製NanoscopeIIを使用した。

【００２４】光学溝形状測定による溝深さと、ＡＦＭ測
定による溝深さの値が異なることがあるが、これは主
に、測定している部分が微妙に異なることに起因する。
図６に示すように、ＡＦＭにて溝深さを計測する場合
は、隣り合うランドの最も高い部分（凸に湾曲している
場合は凸部の頂部）と溝部の底の部分の高低差ｂ_sub2を
計測しており、光学溝形状測定では、ランド部の湾曲部
の開始点と溝部の底の部分の高低差ｂ_sub1を計測してい
ると考えられる。よって、ランド部の湾曲の高さの分だ
け、ＡＦＭの測定の方が光学溝形状測定よりも溝深さが
大きい値となりやすい。

【００２５】従って本発明の光記録媒体においては、基
板の案内溝の光学溝形状測定での深さが１４０〜１５５
ｎｍであり、中心から半径４５ｍｍにおける溝深さは半
径２５ｍｍにおけるより５〜９ｎｍ深いか、或いは、基
板の案内溝のＡＦＭにて測定された溝深さが１５０〜１
８０ｎｍであり、中心から半径５８ｍｍにおける溝深さ
が半径２３ｍｍにおけるより１０〜２０ｎｍ深いことが
好ましい。

【００２６】または、光学溝形状測定による溝深さにつ
いては、ある位置ｘにおける溝深さの値に対する、位置
ｘより２７０００トラック外側の位置ｙにおける溝深さ
の値が１．００倍を超えて１．０７倍以下であることが
好ましく、１．０２倍以上１．０７倍以下であればより
好ましい。ＡＦＭを用いた測定による溝深さの場合、最
内周における溝深さの値に対して、最外周における溝深
さの値が１．００倍を超えて１．１３倍以下であること
が好ましく、１．０３倍以上１．１３倍以下であればよ
り好ましい。

【００２７】また、感度など記録特性の媒体面内の均一
性を確保するためには、基板の案内溝の光学溝形状測定
による溝幅（半値幅）が0.28μm〜0.31μm、より好まし
くは0.29μm〜0.31μmであることが好ましい。溝幅が0.
28μm未満の場合には溝幅が狭すぎるため記録層のジッ
ターのマージンが狭く、良好な特性が得られない場合が
ある。また0.31μmを超えると広すぎるため、記録信号
の再生波形の長さ方向の歪みが大きすぎて、良好なジッ
ター特性が得られない可能性がある。

【００２８】さらに、中心から半径４５ｍｍにおける溝
幅が半径２５ｍｍにおけるより０．００３〜０．０１０
μｍ広いことが好ましい。溝幅の増加分が0.003μｍを
下回ると、外周に向かっての感度の均一性が得られ難
い。また0.01μmを超えると、広くなりすぎてジッター
特性の均一性がそこなわれる恐れがある。また、ある位
置ｘにおける溝幅の値に対する、位置ｘより２７０００
トラック外側の位置ｙにおける溝幅の値が１．００倍を
超えて１．０４倍以下であることが好ましく、１．０１
倍以上１．０４倍以下であればより好ましい。

【００２９】尚、プッシュプルの均一性については、DV
D−Rの規格書（ver.1.0）ではユーザーゾーン全域にお
いて15％以下となっているが、本発明ではより厳しい基
準として、中心から半径２３〜５７ｍｍの領域で10％以
下を好ましい範囲とした。記録特性に関しては、様々な
設計思想のドライブ、レコーダに充分対応できる特性と
して、マージンをみて、２３〜57.5ｍｍまでのジッター
は8.4％以下、記録感度の目安となるアシンメトリー（a
symmetry）は5％以下、PIエラーは（最大値）100以下を
好ましい範囲とした。

【００３０】なお、本発明の如く、基板の案内溝の溝深
さを外周に向かって深くする方法としては、例えばフォ
トレジスト法により、案内溝を透明樹脂基板上に形成す
る工程において、ガラス原盤にスピンコートするフォト
レジストの膜厚を内周から外周へ変化させる（厚くす
る）方法が挙げられる。また、溝幅を外周に向かって広
くする方法としては、ガラス原盤上に塗布したフォトレ
ジスト層を露光する際の、レーザー光のパワーを内周か
ら外周へ変化させる方法が挙げられる。

【００３１】溝の深さや溝幅は、スタンパー製造の容易
性という観点からは、媒体最内周から最外周までほぼ一
定の割合で変化（増加）するほうがより好ましいが、増
加割合は一定でなくともよく、またある程度内周からあ
る程度外周まで等であってもよい。例えば内周部から中
周部まではほぼ一定の溝深さまたは溝幅であり、中周部
から外周部にかけてのみ溝深さまたは溝幅を増加させて
もよい。また、内周部から中周部までは徐々に溝深さま
たは溝幅を増加させ、中周部から外周部にかけては溝深
さまたは溝幅がほぼ一定としてもよい。

【００３２】後者の例につき、更に具体的に例を挙げて
説明する。基板上の案内溝形成領域の内、最内周を位置
ａ、位置ａから半径方向に６３％外周寄りの部分を位置
ｂ、最外周を位置ｃとする。光学溝形状測定による溝深
さは、位置ａにおける値に対して位置ｂにおける値は
１．００〜１．０７倍が好ましく、１．０２〜１．０７
倍がより好ましく、位置ｂにおける値に対して位置ｃに
おける値は０．９５〜１．０１倍が好ましい。なお、位
置ａにおける値に対する位置ｂにおける値が１．００倍
（即ち同じ深さ）の場合は、位置ｂにおける値に対する
位置ｃにおける値は１．００倍を超えて１．０１倍以下
が好ましい。

【００３３】これは、転写が過度になり、案内溝の壁面
の形状がイレギュラーになるため、記録特性が劣化する
場合があるからである。記録層は通常、有機色素および
必要に応じて各種添加剤等を溶媒に溶かして得られる溶
液を、基板上にスピンコートすることにより得られる。
この溶媒としては、有機色素および任意の各種添加剤を
高濃度に溶解し、かつ基板を浸食しないものが好まし
い。例えば沸点が１００〜１５０℃であり炭素数が３以
上のフッ素系アルコール、すなわち、１Ｈ，１Ｈ，３Ｈ
−テトラフルオロプロパノール、１Ｈ，１Ｈ，５Ｈ−オ
クタフルオロペンタノール、１Ｈ，１Ｈ，３Ｈ−ヘキサ
フルオロブタノール等が好ましく用いられる。沸点が１
００℃未満の場合には、スピンコート時に溶媒が速く気
化するため、媒体の半径４０ｍｍより外周側に塗布液が
行きつかず、半径方向の膜厚分布が大きくなる傾向があ
り、良好な特性が得られない場合がある。また、沸点が
１５０℃を越える場合には、蒸発に時間がかかる上に、
記録層中に溶媒が残留しやすく、良好な記録ジッターが
得られない場合がある。

【００３４】記録層の屈折率ｎは通常２. ０〜３. ０、
好ましくは２. ３〜２. ６であり、消衰係数ｋは０. ０
３〜０. １０が好ましい。特に記録感度向上の点から
は、記録再生光波長でのｋが０. ０８〜０. １０と、比
較的大きくなるような有機色素が好ましい。なお、本発
明での記録層のｎ、ｋの測定は以下の方法により行うこ
とができる。鏡面レプリカに、盤面のおよそ半分の領域
をカバーするように有機色素を含む記録層形成用溶液を
置き、スピンコートし、この記録層の一部に反射層をス
パッタする。記録層形成部分と未形成部分との段差を、
３次元表面粗さ計（キヤノン（株）製ＺＹＧＯ：Ｍａｘ
ｉｍ５８００）で測定して膜厚を求める。反射層の付い
ていない記録層において日本分光製自動波長スキャンエ
リプソメータ（ＭＥＬ−３０Ｓ型）で多入射角測定後、
前述の膜厚を参考に集束状況のよいｎ、ｋを求め、それ
を求める光学定数ｎ、ｋとする。

【００３５】有機色素の例としては、上記基本物性の条
件を満たす色素ならば、シアニン系、フタロシアニン
系、含金アゾ系等、どんな骨格の色素でも良いが、特に
含金属アゾ色素が好ましい。また、色素の分解時の発熱
量を低減させるため、あるいは記録感度の向上のため
に、記録層中に昇華性の化合物、あるいは分解時に吸熱
する化合物を対色素重量で３〜２０％程度含有してもよ
い。このような化合物としては、例えば低分子量のシア
ニン色素やチオフェン系化合物、（金属キレート化して
いない）アゾ色素などが挙げられる。

【００３６】反射層は、記録層を透過したレーザー光を
効率良く反射する金属膜が好ましい。通常光学的記録に
用いられている記録再生光の波長領域、すなわち４００
ｎｍ〜７００ｎｍで反射率が低下しないためには、記録
再生波長±５ｎｍの波長領域における光の屈折率が０．
１〜１. ５、消衰係数ｋが３〜８であるものが好まし
い。特に屈折率が０. １〜０. ２、消衰係数が３〜５で
ある場合は、高反射率が得られるためより好ましい。

【００３７】尚、金属反射層のスパッタの際には、界面
酸素量を極力低くしておく必要がある。なぜならば、酸
素の存在により、熱分解時の挙動が大きく変化する色素
が多数あるからである。金属反射層の材料として好まし
くは、金あるいは白金族の元素を０.１at%〜１at%含む
銀合金、あるいはアルミ合金、銅合金である。かかる合
金ターゲットを用いて形成されたスパッター膜は、その
膜強度（記録時の内圧の高まりに対抗する力があるた
め、過度の変形が抑制されるという性質）が銀よりも大
きいということから、記録のパワーマージン、耐環境性
が確保されるので好ましい。

【００３８】反射層の膜厚は、通常４０ｎｍ〜２００ｎ
ｍ程度である。また、銀、アルミニウム、銅および多く
の銀、アルミ、銅合金のスパッター膜には、高温高湿度
環境テストにおいて数十ｎｍの粒界が発生し、更に該粒
径の成長が見られることがあり、それがアーカイバルの
特性（記録部のライフ特性）に悪い影響をもたらす。そ
の粒界の生成、成長を抑制する手段としては、スパッタ
ー時の到達真空度を従来よりも１０倍以上良くするこ
と、あるいは、Ｈ、Ｂ、Ｃ、Ｎのように金属原子のあい
だに入り込むことができ浸入固溶体を形成する原子やＣ
ｏ、Ｍｎ、Ｃｒ、Ｇｄ、Ｔｉ、Ｍｇなど動きやすい比較
的低原子量の原子を第四添加元素として添加すること等
が挙げられる。なお、かかる粒界は断面形状ＳＥＭ、あ
るいは、媒体を破壊して金属反射層を記録層との界面で
はがして得た面をＳＥＭにて観察することにより見いだ
される。

【００３９】本発明の光記録媒体においては、記録部に
おける金属反射層の穴の発生を防止したり、変形の非対
称性を抑制する効果を有するために、反射層の上に保護
層を積層した方が良い。保護層は紫外線硬化樹脂にて形
成されることが好ましい。また、通常は、該保護層の膜
厚を１μｍ以上、好ましくは３μｍ以上にして、酸素に
よる硬化抑制等がおこらないようにする。

【００４０】さらに、上述してきた、基板上に少なくと
も記録層および反射層を設けたものと、もう１枚の基板
あるいは基板上に任意の層を有する基板を貼りあわせ
て、光記録媒体としてもよい。貼りあわせには、カチオ
ン系遅延硬化型紫外線硬化樹脂、あるいは粘度３０〜８
００ｃｐｓのラジカル型瞬間硬化型紫外線硬化樹脂であ
る接着剤を用いるとよい。該接着剤に形成される接着剤
層の厚みに、特に制限はないが、通常１０〜２０μｍ程
度である。貼りあわせる相手である「任意の層を有する
基板」とは、上述してきた、基板上に少なくとも記録層
および反射層を設けたもの（すなわち同じもの）であっ
てもよいし、基板上にアルミニウム等の金属反射層と保
護層を積層した媒体でも良く、特に制限はないが、貼り
合わせた後の記録再生面のトラック方向に対して接線方
向のチルト角が０. ３度以下となるように、両方の面の
反りを合わせることが好ましい。

【００４１】また、貼り合わせの際の中心出し、及び、
基板そのものの偏心には十分注意が必要で、貼り合わせ
後の偏心量が２０μｍ以下になるように十分小さくする
とよい。上記範囲を越える場合、極めて高精度の調整が
なされるピックアップ（チルトサーボ機構を有するドラ
イブ）を用いなければ、良好なジッター値が得られない
可能性があり、その結果、エラーレートが劣ることにな
るおそれがある。

【００４２】また、記録面の面振れ加速度は±５m/s²以
内が好ましい。この範囲外である場合、例えば民生用Ｄ
ＶＤ−Ｒ用のドライブやレコーダでの、十分な記録特性
マージンが得られないおそれがある。特に、記録時のチ
ルトサーボ機構が簡略化されたような装置を用いる場合
には、面振れ加速度の急激な変化に追従できず、記録波
形に局所的な歪みが発生し、その結果ジッターやエラー
が悪化するおそれがある。面振れ加速度は、層中へのご
み、気泡の混入による保護層や接着層の膜厚むら、樹脂
製基板の成形時における金型との樹脂のかみあいの具合
などによって増加する。

【００４３】接着剤として、粘度３０ｃｐｓ〜３００ｃ
ｐｓであるラジカル型瞬間硬化型の紫外線硬化樹脂を用
い、該接着剤硬化後の接着剤層における空隙の最大長が
１０μｍ以下となるよう貼り合わされていると、耐衝撃
性が向上するため、接着強度の面で好ましい。これは、
例えば媒体の製造にかかわる情報等をレーザーで光学的
バーコードとして形成する場合に好ましい。特に、貼り
合わせ後に、上記レーザー光を照射して光学的バーコー
ドを形成する場合には、最大長が１０μｍを越える空隙
が接着剤層中に存在すると、バーコード部にその接着層
の構造が浮き出て、信号品質を低下させる恐れがある。

【００４４】

〔実施例１〜６および比較例１〜５〕

＜光記録媒体の製造例＞厚さ０．５９〜０．６１ｍｍの
射出成形ポリカーボネート基板上に、トラックピッチが
０．７４μｍ、溝深さが１５０ｎｍ、溝幅とランド幅の
比が表１に示す通りである案内溝を形成した。このラン
ド部に、形状およびトラック方向の最大長が表１記載の
通りであるランドプリピット（ＬＰＰ）を設けた。

【００４５】この基板上に、含金属アゾ色素の１．７ｗ
ｔ％オクタフルオロペンタノール溶液をスピンコート
し、９０℃で３０分乾燥した。この状態での記録層の吸
収スペクトル（紫外可視分光光度計にて測定）の吸収極
大（最大吸収波長）は５９８ｎｍであった。該記録層上
に、Ａｇを９７atom%以上含む銀合金をスパッタして反
射層を形成し、その上に紫外線硬化樹脂（大日本インキ
ＳＤ−３１８）を膜厚６μｍの厚さにスピンコートし
て、保護層を形成した。

【００４６】該保護層上に、カチオン系遅延型紫外線硬
化樹脂をメッシュ（３００）のスクリーンで塗布し、ダ
ミー基板（上記と同じ射出成形ポリカーボネート基板上
に、金属膜を設けたもの）の金属面を貼りあわせ、光記
録媒体を形成した。＜光記録媒体の評価例＞得られた光記録媒体に、波長６
５７ｎｍ（NA=0.65）の半導体レーザーを搭載した評価
機（パルステック社製「DDU-1000」）を用い、ボトムジ
ッターが最良の値となる記録レーザーパワーで、記録線
速度３．５ｍ/ｓ（１倍速）にて、ＥＦＭプラス（８−
１６）変調方式のランダム信号を記録した。

【００４７】記録後の媒体を、波長６４７ｎｍ（NA=0.6
0）の半導体レーザーを搭載したＲＯＭ再生検査機
（（株）シバソク製「ＬＭ２２０Ａ」）で再生し、ＰＩ
エラーを測定した。結果を表１に示す。記録レーザー光
のパワーは上記各実施例および比較例のいずれにおいて
も７．８〜８．４ｍＷであり、ジッターは実施例１〜６
で６．５％〜７．５％、比較例１〜５でいずれも８％前
後であった。

【００４８】なお記録層の膜厚はランド部で３０ｎｍ、
溝部で９５ｎｍであり、面振れ加速度はいずれも２〜４
ｍ/ｓ²であった。

【００４９】

【表１】〔実施例７〜８、比較例６〜７〕外周の保護コートに意
図的に凸部を形成した他は実施例１と同様に光記録媒体
を作成し、面振れ加速度が各々表２に示す値である光記
録媒体を得た。これら各媒体に対し、実施例１〜６と同
様に、ジッターが最良となる記録条件（すなわちボトム
ジッターが最良となる記録パワー）にて記録を行い、同
じ記録用評価機で再生して調べた。評価結果を表２に示
す。チルトサーボのない記録評価機で記録再生したにも
かかわらず、実施例７〜８では８％以下という良好なジ
ッター値を示した。一方、比較例６〜７では明らかに記
録波形に歪みが発生し、そのためにジッターが悪化し
た。実施例１で用いたものと同じ、波長６４７ｎｍの半
導体レーザーを用いたＲＯＭ検査機で再生し測定したエ
ラーも、比較例ではかなり悪化が見られた。

【００５０】

【表２】

【００５１】

【発明の効果】本発明によれば、ドライブ、レコーダ−
マージンの広い、また、高速記録用途でも良好な記録特
性を有する民生用のＤＶＤ―Ｒ記録媒体の提供が可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光記録媒体の構成の一例を説明す
る、要部拡大断面図である。

【図２】同光記録媒体における、膜厚や角度等を説明
する要部拡大断面図である。

【図３】同光記録媒体における、ランドプリピットの
形状の例および最大長を説明する図である。

【図４】同光記録媒体における、ランドプリピットの
形状の例および最大長を説明する図である。

【図５】同光記録媒体への記録に用いる５Ｔマーク長
に相当する出射パルスを表す図である。

【図６】同光記録媒体における、光学溝形状測定およ
びＡＦＭを用いた測定による溝深さを説明する図であ
る。

【符号の説明】

１基板２記録層３反射層４保護層５案内溝（溝部）６ランド部７ランドプリピットＷ_g 基板の案内溝の溝幅（半値幅）Ｗ_l 基板の案内溝のランド幅Ｐトラックピッチｄ_sub 基板の案内溝の溝深さｄ_sub1 光学溝形状測定による、基板の案内溝の溝深
さｄ_sub2 ＡＦＭにて観測される、基板の案内溝の溝深
さｄ_abs 記録層の溝深さＤ_g 記録層の溝部の膜厚Ｄ_l 記録層のランド部の膜厚 θ_abs，θ’_abs 記録層の溝の壁面の傾斜角ｌ_LPP ランドプリピットの底部における、案内溝と
平行な方向の最大長

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考）Ｇ１１Ｂ 7/24 ５６３Ｇ１１Ｂ 7/24 ５６３Ｄ５６５５６５Ａ５６５Ｄ 7/007 7/007 (72)発明者野田善宏神奈川県横浜市青葉区鴨志田町1000番地三菱化学株式会社内 (72)発明者太田圭一岡山県倉敷市潮通３−10 三菱化学株式会社内 (72)発明者竹島秀治神奈川県横浜市青葉区鴨志田町1000番地三菱化学株式会社内Ｆターム(参考） 5D029 JA04 JB28 JB36 JB47 WA27 WB14 WB21 WC08 WC10 WD11 5D090 AA01 BB07 DD02 GG27

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】案内溝が形成された円盤状の基板上に、
有機色素を含む記録層および反射層を形成してなり、波
長６００〜７００ｎｍのレーザー光にて記録／再生を行
う光記録媒体において、プリフォーマット情報がランド
プリピットとして形成されており、該ランドプリピット
の底部における、案内溝と平行な方向の最大長が０．２
０〜０．３１μｍであることを特徴とする光記録媒体。
【請求項２】案内溝の、光学溝形状測定による溝幅が
０．２８〜０．３１μｍであることを特徴とする、請求
項１記載の光記録媒体。
【請求項３】ランドプリピットが、基板のランド幅内
に収まる略円形であることを特徴とする、請求項１また
は２記載の光記録媒体。
【請求項４】基板のランド幅が溝幅の１．３〜１．７
倍である、請求項１ないし３のいずれかに記載の光記録
媒体。
【請求項５】未記録の状態における記録層の溝深さ
が、同じ位置の基板の溝深さの６０〜７５％であり、記
録層の膜厚がランド部で１０〜５０ｎｍ、溝部で８０〜
１０５ｎｍであることを特徴とする、請求項１ないし４
のいずれかに記載の光記録媒体。
【請求項６】縦横等倍の走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）像
で見た、記録層の溝の壁面の傾斜角が１０〜４０°であ
ることを特徴とする、請求項１ないし５のいずれかに記
載の光記録媒体。
【請求項７】光記録媒体の記録層表面の、面振れ加速
度が±５ｍ/ｓ² 以内であることを特徴とする、請求項
１ないし６のいずれかに記載の光記録媒体。
【請求項８】円盤状の基板上に、有機色素を含む記録
層および反射層を形成してなる光記録媒体において、光
記録媒体の記録層表面の、面振れ加速度が±５ｍ/ｓ²
以内であることを特徴とする光記録媒体。