JP2002232713A - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents

画像処理装置及び画像処理方法

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JP2002232713A
JP2002232713A JP2001029382A JP2001029382A JP2002232713A JP 2002232713 A JP2002232713 A JP 2002232713A JP 2001029382 A JP2001029382 A JP 2001029382A JP 2001029382 A JP2001029382 A JP 2001029382A JP 2002232713 A JP2002232713 A JP 2002232713A
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pixel
quantization
calculating
signal
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JP2001029382A
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Inventor
Toshiyuki Takahashi
利至 高橋
Takayoshi Semasa
孝義 瀬政
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の画像処理装置は、基本的にランダムノ
イズを重畳する構成になっているため,原画像の平均輝
度が保存できずに,粒状性ノイズ(ざらつき感)等の画
質劣化を引き起こしてしまうという問題がある。 【解決手段】 入力画像信号の階調数をより高い階調数
に変換して、注目画素近傍で処理済み画素の誤差信号か
ら誤差の重みを演算して重畳し、表示デバイスの階調数
に量子化して表示デバイスへ送る。また、次画素の処理
のため、量子化誤差を計算し誤差用レジスタに格納す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は,画像表示システ
ム,具体的には入力画像の輝度を線形に表示することが
できるディジタル画像表示システムにおける画像処理方
法で、特に輪郭抑制方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】人間の視覚感度は低い輝度で感度が高
く,高い輝度では感度が低いという特性を持っている。
例えば,ある表示システムが表示できる階調の分解能が
人間の視覚感度を上回っていれば,人間は1階調の差を
認識することができないが,反対に下回っていればその
階調差を認識することができる。
【0003】例えば,テレビやパーソナルコンピュータ
等を中心に広く普及しているCRTでは,表示装置を駆動
するアナログ信号に加えられたガンマ特性やCRT自身の
もつ非線型なガンマ特性の組み合わせ,及び人間の視覚
特性から,1階調の差が輪郭として知覚されることは少
ない。
【0004】しかしながら,近年になって線形な階調表
示特性を有する新しいディジタル表示デバイスが提案さ
れている。これは,数十万個の可動マイクロミラー(DM
D:ディジタルマイクロミラーデバイス)を傾斜させて
入射する光を変調させる空間光変調器を用いた新しい投
写型ディスプレイである。この表示システムでは,その
入出力特性が線形であり表示階調の分解能が8ビットに
制限されていることから,低輝度側では人間の視覚感度
が上回ってしまい観測者は1階調の差を視覚的に認識で
きるようになる。このような場合に,輝度の低い平坦な
画像を表示すると階調が変化する領域が輪郭として知覚
され,観測者に画質劣化を感じさせることになる。
【0005】先の問題を解決するにあたって,DMDを利
用した表示システムでは,表示階調の分解能をあげるた
めに,Nビット(通常8ビット)の入力画像に対してMビ
ット(M>N;通常12〜14ビット程度)精度でCRT
を模したγ(ガンマ)補正を行っている。しかしなが
ら,最終的なディジタル表示デバイス(DMD)はやはり
N’ビット(通常8ビット)であることから,Mビット
画像をN’ビット画像に変換しなければならない。この
ような場合,プリンタ等で用いられる誤差拡散法により
量子化を行い,入力画像の持つ階調数を削減することが
有効である。
【0006】誤差拡散法は処理対象画素を量子化した際
に生じる量子化誤差を周囲の未処理の画素に拡散するこ
とで,量子化誤差を平均として0に近づけるようにする
量子化方法である。この誤差拡散法は平均誤差最小法と
区別して呼ぶ場合もあるが,処理対象画素の誤差を周囲
の画素に拡散するか,周辺の画素の誤差を集積して処理
対象画素に加算するかの違いであり,一つの画素の誤差
の振る舞いに着目すれば全く同一の処理を行っているこ
とになるため,本明細書では両者を区別しないものとす
る。
【0007】空間光変調器を用いた表示システムの輪郭
を抑制する方法として,特開平10−261080が開
示されている。このアイディアに記されている一つの方
法は,同一の表示画像でも各フレームでドットの現われ
方が異なるように誤差拡散法で処理させることにより,
時間平均として擬似的にMビットの階調を再現させよう
というものである。
【0008】図10にその構成を記しているが,ここで
はN’=Nを前提として記載されている。また,本明細
書においても,以降はN’=Nとして扱うものとする。
図10において,Mビットの入力信号は加算機101に
送られる。加算機101より出力されたMビットの信号
は分割されて上位のNビットが表示装置に送出される。
残りのMーNビットが垂直遅延メモリ102に送られ、
次の画素値を発生するのに使われる。
【0009】フィードバックされる(M−N)ビットの
誤差成分に対してランダム値の源103からのランダム
ノイズを加算器104で加算し,これを除算装置105
により“2”で除算してから加算装置101に送りMビ
ットの入力画像に加える。“2”の除算により誤差成分
と同じビット数が保たれる。加算装置101でMビット
の入力画像に誤差成分とランダムノイズの和を加えるこ
とで,非誤差成分は1ビットだけ桁上げしたりしなかっ
たりするようになる。この桁上げ動作の平均周波数が誤
差に比例するようになり擬似的にMビットの階調を表現
することができる。
【0010】また,図11は特開平10−261080
に開示されている別の実施例で,この実施例では,Mビ
ットビデオ信号が加算器101に送られる。そこで空間
ー時間ディザ信号がMビットビデオ信号に加算される。
空間ー時間ディザ信号はランダム値の源107及び時間
ディザ値の源106からの信号を加算器108で加算さ
れた和である。その結果得られるM-Nビットワードがデ
ィザ信号を形成し、このディザ信号が加算器101でM
ビットビデオ信号に加算され、その和を上位のNビット
を残して切り捨て、この結果Nビットの表示信号が得ら
れる。即ち、入力画像の下位(M−N)ビットに対し
て,時間的,かつ空間的にランダムなノイズを加算し
て,非誤差成分の最下位1ビットを桁上げしたりしなか
ったりして,擬似的にMビットの階調を表現している。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】これらの技術は基本的
にランダムノイズを重畳する構成になっているため,原
画像の平均輝度が保存できずに,粒状性ノイズ(ざらつ
き感)等の画質劣化を引き起こしてしまうという問題が
ある。
【0012】
【課題を解決するための手段】この発明に係る画像処理
装置は、入力画像信号をその画像の階調数よりも高い階
調数に変換する補正手段と、注目画素近傍で処理済み画
素の誤差の重みを補正後の画像信号に重畳する加算手段
と、加算手段により誤差の重みが重畳された画像信号を
表示デバイスの持つ階調数に量子化する量子化手段と、
量子化後の値と量子化前の値の差分により量子化誤差を
計算する誤差演算手段、注目画素ラインの前ライン誤差
信号を格納する誤差信号メモリと、誤差演算手段からの
量子化誤差を格納する誤差用レジスタと、誤差用レジス
タの量子化誤差と誤差信号メモリの前ライン誤差信号と
から注目画素近傍の誤差の重みを演算する集積誤差演算
手段とを備える。
【0013】また、この発明に係る画像処理装置は、乱
数発生手段からの乱数に基づき、注目画素近傍の複数画
素の誤差の重みを算出し、その各重み係数の総和を演算
する重み係数演算手段をさらに備え、集積誤差演算手段
は重み係数演算手段の各重み係数の総和により注目画素
近傍の誤差の重み平均を演算する構成にされ、加算手段
は注目画素近傍の誤差の重み平均を補正後の画像信号に
重畳する構成にされた。
【0014】また、この発明に係る画像処理装置は、重
み係数演算手段が、重み係数の総和が1を超えるか否か
を検出するオーバーフロー検出手段と、オーバーフロー
検出手段の検出結果により、重み係数の総和が1を超え
る時は1以下に制御するオーバーフロー制御手段とを備
える。
【0015】また、この発明に係る画像処理装置は、入
力画像の階調数よりも高い階調数に変換するγ補正手段
と、注目画素近傍で処理済み画素の誤差の重み平均をγ
補正後の画像信号に加算する加算手段と、誤差の重み平
均が重畳された画像信号を表示デバイスの持つ階調数に
量子化する量子化手段と、量子化後の値と量子化前の値
の差分により量子化誤差を計算する誤差演算手段と、注
目画素ラインの前ライン誤差信号を格納する誤差信号メ
モリと、誤差演算手段からの誤差信号を格納する誤差用
レジスタと、乱数発生手段からの乱数により、予め定め
られた重み係数を注目画素近傍のどの画素の誤差信号に
割り当てるかを制御する誤差選択制御手段と、誤差選択
制御手段により割り当てられた重み係数を基に誤差信号
メモリの前ライン誤差信号と誤差用レジスタの誤差信号
から注目画素近傍の誤差の重み平均を演算する集積誤差
演算手段とを備える。
【0016】また、この発明に係る画像処理方法は、γ
補正により入力画像の階調数よりも高い階調数に変換す
る第1のステップと、注目画素近傍で処理済み画素の量
子化誤差に対する重み係数を乱数から計算する第2のス
テップと、第2のステップで計算された重み係数を基に
注目画素近傍の量子化誤差の重み平均を計算する第3の
ステップと、量子化誤差の重み平均を第1のステップで
変換後の画像信号に加算する第4のステップと、量子化
誤差の重み平均を加算した画像信号を量子化し,その結
果を表示デバイスへ転送する第5のステップと、次画素
の処理の為に量子化後の値と量子化前の値の差分により
量子化誤差を計算する第6のステップと、量子化誤差を
レジスタとメモリに格納する第7のステップとを備え
る。
【0017】また、この発明に係る画像処理方法は、γ
補正により入力画像の階調数よりも高い階調数に変換す
る第1のステップと、予め定められた重み係数を注目画
素近傍で処理済み画素のどの量子化誤差に割り当てるか
を乱数から計算する第2のステップと、第2のステップで
計算された重み係数を基に、注目画素近傍で処理済み画
素の量子化誤差の重み平均を計算する第3のステップ
と、誤差の重み平均を第1のステップで変換後の画像信
号に加算する第4のステップと、誤差の重み平均を加算
した画像信号を量子化し,その結果を表示デバイスへ転
送する第5のステップと、次画素の処理の為に量子化後
の値と量子化前の値の差分により量子化誤差を計算する
第6のステップと、量子化誤差をレジスタとメモリに格
納する第7のステップとを備える。
【0018】
【発明の実施の形態】実施の形態1.本実施の形態を表
すブロック構成図を図1に示す。図1において,1は入
力画像のγ補正を行うγ補正部,2は集積された注目画
素周辺の誤差をγ補正後の画像信号に加算する加算器,
3は加算器2から出力された画像信号を量子化する量子
化器,4は量子化器3で量子化された後の信号と量子化
前の信号の差分である誤差を計算する誤差演算部,5は
前ラインの誤差を蓄える誤差用ラインメモリ,6は誤差
用ラインメモリ5から読み出された前ラインの誤差信号
や注目ラインの既に処理された画素の誤差を一時的に蓄
える誤差用レジスタ,7は誤差用レジスタ6に格納され
ている各誤差の重み平均を演算する集積誤差演算部,8
は集積誤差演算部7で集積誤差を演算する際に各誤差信
号の重みを決定する重み係数演算部,9はランダムな重
み係数を演算するための乱数発生器である。
【0019】次に動作について図4も参照して説明す
る。まず,S1ではγ補正部1ではNビットの入力画像
に対して例えばCRTの補正を模したγ補正処理を行うこ
とによりMビット(M>N)の画像に階調の分解能を拡張
する。通常入力信号をSI,出力信号をSOとした時,γ
補正処理は,次の(式1)のように表すことができる。 SO=SI γ ・・・・ (式1)
【0020】しかしながら,この演算をH/Wで実現す
るのは困難なため(式1)をテーブルにより演算する方
法が一般的である。そのテーブルは2Nアドレス×2M
ットのメモリがあれば実現することができる。
【0021】次に,図4のS2で重み係数演算部8では
乱数発生器9からの出力に応じて各画素の重み係数(α
1〜α4)を計算する。次に,S3で集積誤差演算部7
は,重み係数演算部8からの重み係数(α1〜α4)と、
誤差用レジスタ6からの前ラインの誤差信号や注目画素
ラインの既に処理された画素の誤差により注目画素周辺
の誤差の重み平均を演算する。次に,S4で加算器2
は,集積誤差演算部7で計算された注目画素周辺の誤差
の重み平均をγ補正後の画像信号に加算する。
【0022】次に,図4のS5で量子化器3は各画素に
対して表示デバイスの階調数にあうように量子化を行い
表示デバイス(図示せず)に送信する。図4のS6で誤
差演算部4ではその時の量子化誤差の演算を行う。即
ち、量子化前の値と量子化後の値の差を演算する。
【0023】図1は,表示デバイスの階調数を2Nとし
た場合の例である。通常,量子化処理は量子化閾値を連
続する量子化代表値の中央値とし,誤差の演算を「量子
化後の値−量子化前の値」として計算する。しかしなが
ら,演算の簡略化を行うため,上位Nビットを量子化代
表値として下位(M−N)ビットをそのまま誤差信号と
してもよい。これは,量子化代表値と量子化閾値を同一
の値にしていると考えれば良いことになる。
【0024】図4のS7で各画素の誤差は次のライン処
理の為にラインメモリ5に格納されるとともに,誤差用
レジスタ6にも一時的に格納される。同時に誤差用ライ
ンメモリ5からは前ラインの誤差信号を読み出し,注目
画素近傍の誤差をレジスタ6に格納する。注目画素をX
とした場合,例えば図2に示すように近傍4画素の誤差
データをレジスタ6に格納する。
【0025】集積誤差演算部7では,図2に示すように
注目画素近傍画素の誤差信号(E1〜E4)に対してそれ
ぞれ重み(α1〜α4)を乗じて(式2)により重み平均
Aを演算する。
【0026】
【数1】
【0027】この時,αは画像の直流成分を保存するた
め次の(式3)を満足しなければならない。
【0028】
【数2】
【0029】重み係数演算部8では乱数発生器9からの
出力に応じて各画素の重み係数(α 1〜α4)を計算す
る。この時,重み係数は上記(式3)を必ず満足させな
ければならない。例えば,乱数発生器9から正の整数の
乱数(R1〜R4)が入力されるものとする。各重み係数
αnは,
【0030】
【数3】
【0031】で求めることができる。上記(式2)を実
現する集積誤差演算部7,及び(式4)を実現する重み
係数演算部8のより詳しい構成を図3に示している。図
3において,81〜84は乱数発生器9から出力される
乱数を同期信号に従って遅延させ格納するレジスタ,8
5は4つのレジスタから出力される乱数の総和を演算す
る乱数総和演算部である。71〜74は注目画素近傍の
誤差信号(E1〜E4)に重み係数として入力される乱数
(α1〜α4)を乗じる乗算器,75は重み付けされた誤
差の総和を求める重み付け誤差総和演算部,76は重み
付けされた誤差の総和を重み係数の総和で除算する除算
器である。
【0032】図3の動作について説明する。乱数発生器
9からはクロック信号などの同期信号に従って乱数が出
力され,最初にレジスタ81に格納される。次のクロッ
ク信号に同期して,レジスタ81の乱数はレジスタ82
に格納され,レジスタ81には乱数発生器9から出力さ
れる新しい乱数が格納される。このようにクロック信号
に同期して順次乱数がレジスタ81〜84に格納され
る。乱数総和演算部85では誤差の重み係数である乱数
(α1〜α4)の総和Sumが演算される。集積誤差演算部
7においては,乗算器71〜74で注目画素近傍の誤差
(E1〜E4)に重み係数(α1〜α4)を乗じ,重み付け
誤差総和演算部75では乗算器の出力である重み付けさ
れた誤差の総和を演算する。しかし,重み係数αは正の
整数で出力されることを想定しているため,除算器76
において重み付け誤差総和を乱数の総和で除算すること
によりαを1に正規化している。
【0033】以上の構成により得られた(M−N)ビッ
ト集積誤差EAは加算器2でγ補正後の画像信号に加算
される。この時,加算前の上位Nビット信号と加算後の
上位Nビット信号では階調値を0〜1変化させることが
できる。この変化の平均周波数が誤差に比例するように
なり,擬似的にMビットの階調を表現することができ
る。また,ランダムな誤差の配分をしているため各フレ
ームでのドットの現われ方が異なり,それが時間平均さ
れることで,輪郭発生や誤差拡散法特有のテクスチャを
擬似的に抑制することができる。特に,本手法はランダ
ムノイズや組織的ディザ信号を重畳していないため,原
画像の平均輝度を保存することができ,ざらつき感の無
い高品質な画像を生成することができる。
【0034】実施の形態2.実施の形態1においては,
図3からも明らかなように(式2)を実現する集積誤差
演算部7ではそれぞれ4つの乗算器と1つの除算器が必
要となる。このままH/W化を行うと回路規模が大きく
なってしまう。本実施の形態2では回路規模を低減する
ために,重み係数演算部8を次のように改良する。例え
ば,入力する乱数値(α1〜α3)を3個に制限し,残り
の一つは例えば,次の(式5)のように求めれば,(式
2)に示すEAの演算を加算器とシフト演算により実現
することができる。
【0035】 α4=16−(α1+α2+α3) ・・・ (式5) しかしながら,この場合入力する乱数値(α1〜α3)が
どのような値をとるかによって多少構成が変わる。例え
ば,乱数発生器9の出力を正の整数3ビットとした場
合,次の(式6)のようにオーバーフロー検出とその制
御を行わなければならない。
【0036】 if(α1+α2+α3>16) α3=16−(α1+α2),α4=0 else α4=16−(α1+α2+α3) ・・・ (式6)
【0037】この場合α4は最大で16の値を取り得る
5ビット幅の信号となる。図5は上記(式6)及び(式
2)の演算を行う実施の形態2の構成を表す。図5にお
いて,88はα1,α2,α3の総和が16超えているか
否かを検出するオーバーフロー検出部,89はオーバー
フロー検出器88の結果を利用してα3,α4のオーバー
フロー制御を行うオーバーフロー制御部、81から83
は乱数発生器からの出力を順次格納するレジスタ,86
はα1とα2,を加算する加算器、87はα1とα2,α3
を加算する加算器、90は加算器86の出力を16から
減算する減算器、91は加算器87の出力を16から減
算する減算器、92は減算器90の出力とレジスタ81
の出力の何れかをオーバーフロー検出器88の結果によ
り選択する第一選択器、93は減算器91の出力と0の
何れかをオーバーフロー検出器88の結果により選択す
る第二選択器であり、これ等により重み係数演算部8を
構成する。
【0038】また、集積誤差演算部7において,71〜
74は誤差(E1〜E4)に重み係数(α1〜α4)を乗じ
る乗算器,75は重み付けされた誤差の総和を求める重
み付け誤差総和演算部,77は重み付けされた誤差の総
和を4ビット右にシフトして16の除算を行う4ビット
シフト器である。なお,図3と同一符号のブロックは同
様の機能を表すものとする。
【0039】次に動作を説明する。重み係数演算部8で
は、レジスタ81〜83から出力される3種類の乱数α
1,α2,α3の総和を加算器87で求めた後,その信号
が16を超えているか否かをオーバーフロー検出部88
で検出する。オーバーフロー制御部89ではオーバーフ
ローしている場合には, α3=16−(α1+α2),α4=0 とし,オーバーフローしていない場合には α3=α3,α4=16−(α1+α2+α3) として,α3,α4を求める。
【0040】集積誤差演算部7の乗算器71〜74で注
目画素近傍の誤差(E1〜E4)に重み係数演算部8から
の重み係数(α1〜α4)を乗じ,重み付け誤差総和演算
部75で乗算器の出力である重み付け誤差の総和を演算
する。図3と同様に,αを1に正規化するためには,重
み付け誤差総和を重み係数の総和で除算しなければなら
ないが,ここでは重み係数の総和は必ず16になること
から,図3における除算器76は図5では4ビットシフ
ト器77に置き換えている。なお,誤差と重み係数との
乗算を乗算器(71〜74)で示しているが,実際には
「加算器+シフト処理+選択器」により構成できる。
【0041】図6は一つの乗算器(E1×α1)を「加算
器+シフト処理+選択器」で行う場合の構成を表してい
る。ここで,701〜703は加算器,704と706
は1ビット左シフト器,705は2ビット左シフト器,
707は8通りの入力から1つを選択する選択器を表して
いる。ここで1ビット左シフト器は入力信号の2倍,2
ビット左シフト器は4倍の乗算と等価になる。
【0042】1ビット左シフト器704からの出力は入
力信号E1の2倍、加算器701からの出力は入力信号
1の3倍、2ビット左シフト器705からの出力は入力
信号E1の4倍、加算器702からの出力は入力信号E1
の5倍、1ビット左シフト器706からの出力は入力信
号E1の6倍、加算器703からの出力は入力信号E1
7倍となる。“0”“E1” 選択器707はα1の値に
よりE1×0〜E1×7の8通りの入力から1つを選択す
【0043】本実施の形態では,この乗算器は整数×整
数の形を取っているため,最終的に4つの誤差の重み平
均をとった後,重みを1に正規化すために4ビットシフ
ト器77で1/16の乗算を行っている。(式5)や
(式6)におけるオーバーフロー制御で16(2のべき
乗)を用いたのは最終的な正規化処理をビットシフト
(ここでは4ビットシフト)で構成できるようにするた
めで,これによりH/W構成を簡略化することができ
る。またビットシフト器は、信号線の接続を制御するだ
けで良く、特別なH/Wが必要になるわけでない。
【0044】以上のように,本実施の形態では実施の形
態1と同様に平均輝度を保存した高品質な画像を生成で
きるという効果を奏するとともに,実現するH/W規模
を少なくすることができるという効果も奏することがで
きる。
【0045】実施の形態3。先の実施の形態2で説明し
たオーバーフロー制御を次の(式7)のように行うこと
もできる。即ち,α1〜α3を3ビット幅と仮定した時,
【0046】 if(α1+α2+α3>8) α4=16−(α1+α2+α3),SH=4 else if(α1+α2+α3>16) α4=32−(α1+α2+α3),SH=5 else α4=8−(α1+α2+α3), SH=3 ・・・ (式7)
【0047】として,集積誤差演算部7のシフト処理を
上記(式7)におけるSHで制御すれば良いことにな
る。
【0048】この実施の形態の構成を図7に示す。図7
において,81から83は乱数発生器9の出力を順次格
納するレジスタ,86はα1とα2,を加算する加算器、
87はα1とα2,α3を加算する加算器、88は加算器
87の出力、即ちα1〜α3の総和に対して3種類のオー
バーフローを検出するオーバーフロー検出部,71〜7
4は誤差(E1〜E4)に重み係数(α1〜α4)を乗じる
乗算器,75は重み付けされた誤差の総和を求める重み
付け誤差総和演算部,78は重み付けされた誤差の総和
をSHビット右にシフトして除算を行うSHビットシフ
ト部である。801はオーバーフロー検出部88の出力
により、"8"、"16"、"32"の何れかを出力する選択器、
802は選択器801の出力から,加算器87の出力を
減算しα4を出力する減算器である。
【0049】702はオーバーフロー検出し、その結果
を利用してα4のオーバーフロー制御を行うオーバーフ
ロー制御部分である。なお,同一符号のブロックは同様
機能を表すものとする。
【0050】次に動作を説明する。レジスタ81〜83
から出力される3種類の乱数α1,α2,α3の総和を加
算器87で求めた後,オーバーフロー検出部88ではそ
の総和が8以下であればSH=3を,8より大きく16
以下であればSH=4を,16より大きければSH=5
を出力する。選択器801はオーバーフロー検出部88
の出力により、"8"、"16"、"32"の何れかを選択し、減
算器802に出力する。選択器801及び減算器802
ではオーバーフロー検出部88の出力SHに応じて,α
4を求める。 SH=3の時,α4=8−(α1+α2+α3) SH=4の時,α4=16−(α1+α2+α3) SH=5の時,α4=32−(α1+α2+α3
【0051】集積誤差演算部7の乗算器71〜74で注
目画素近傍の誤差(E1〜E4)に重み係数(α1〜α4
を乗じ,重み付け誤差総和演算部75では乗算器の出力
である重み付け誤差の総和を演算する。図3,図5と同
様に,αを1に正規化するためには,重み付け誤差総和
を重み係数の総和で除算しなければならないが,ここで
は重み係数の総和が8,16,32のいずれかになるこ
とから,図3における除算器76は先に求めたSHを利
用してSHビットシフト器78に置き換えることができ
る。なお,誤差Eと重み係数αとの乗算を乗算器(71
〜74)で示しているが,図5の場合と同様「加算器+
シフト処理+選択器」により構成できる。
【0052】以上のように,本実施の形態では実施の形
態2と同様の効果を奏することができる。
【0053】実施の形態4。本実施の形態では,予め係
数αのとる値を幾つか決めておき,その係数をどの画素
に配分するかをランダムに決定する。例えば,α1〜α4
がK1=1/8,K2=1/8,K3=2/8,K4=4/8の
いずれかをとるものとする。これらの総和は1になるの
で,(式3)は満足していることになる。図8は本実施
の形態4の主要部の構成を示す。805は誤差選択制御
部で、誤差の選択信号β1〜β4を出力する。この時,誤
差の選択信号β1〜β4をランダムに変化させるために,
乱数発生器9からの出力である乱数を利用する。集積誤
差演算部7は図示のようにそれぞれのK1〜K4に対応して
4つの乗算器(実際にはシフト処理)71〜74を用意
し,それぞれの乗算器の入力信号には選択器701〜7
04で誤差選択制御部805からの選択信号β1〜β4
よって選択されたE1〜E4のいずれかの誤差信号が入力
される。79は3ビットシフト器でαを1に正規化する
ために重み付け誤差の総和に対して3ビット右シフトを
行う。
【0054】本実施の形態でα1〜α4が上述のようにK1
=1/8,K2=1/8,K3=2/8,K4=4/8のいず
れかであるとすると、その組み合わせは全部で4×3×
2=24通りになる。また,αのセットが決まれば誤差
の選択信号βのセットも一意に決定する。またβ1〜β4
が必ず0〜3の異なる値をとらなければ,(式3)を満
足させることはできない。図8の誤差選択制御部805
ではこの24通りの組み合わせをROM等のメモリに格
納し,乱数発生器9からの0〜23の乱数の入力により
そのいずれかを選択することで,4つのβは必ず異なっ
た値をランダムに出力することができる。
【0055】例えば,この24通りの組み合わせを格納
するメモリのアドレス0にβ1=3,β2=2,β3
1,β4=0がセットされていたとする。この時,選択
器1からはE4,選択器2からはE3が,選択器3からは
2,選択器4からはE1が選択され,これはK1=α4,K
2=α3,K3=α2,K4=α1の組み合わせであることを意
味していることになる。
【0056】実施の形態3と同様に,重み付け誤差総和
演算部75では4つの重み付けされた誤差の総和を演算
し,3ビットシフト器79ではαを1に正規化するため
に重み付け誤差の総和に対して3ビット右シフトを行っ
ている。以上の構成によりランダムな誤差信号の拡散を
実現することができる。
【0057】実施の形態2〜3で述べた方法では,4つ
の参照画素であれば集積誤差演算部7の乗算器は4個必
要になる。また,実施の形態2,3では図6に示すよう
に1つの乗算器において加算器,シフト演算により0〜
7の8通りの計算をした後,選択器で一つの結果を選択
するように構成されている。ところが,本実施の形態4
を用いれば,予めαの値が決められているために乗算回
路は1通りの計算で良くなる。さらに,αの値を2のべ
き乗に定めているために加算器が不要になるため,更な
る回路規模削減が可能となる。なお,図9には本実施の
形態の処理手順をフローチャートで示しており、図4の
処理手順と異なるのはS2’の重み係数の計算方法であ
る。
【0058】以上の構成により,実施の形態1〜3と同
様に平均輝度を保存した高品質な画像を生成できるとい
う効果を奏することができるとともに,実施の形態2,
3に比べさらなる回路規模削減が可能になるという効果
を奏することができる。
【0059】なお,本実施の形態の誤差選択制御部80
5は,メモリによって構成されることを述べているがこ
れに限ったものではない。例えば,(0〜3)を出力す
る乱数発生器1,(0〜2)を出力する乱数発生器2,
(0〜1)を出力する乱数発生器3を用意し,乱数発生
器1からの出力と重複しない様に,乱数発生器2の出力
を制御するようにし,同様に乱数発生器1,2の出力と
重複しない様に,乱数発生器2の出力を制御加工するこ
とでも,4つのβは必ず異なった値をランダムに出力す
ることが可能となる。
【0060】また,上記実施の形態1〜4では注目画素
周辺4画素を参照する形としているが,これに限ったも
のではなく,4画素以上またはそれ以下でも同様の効果
を奏することができる。また,発生させる乱数を3ビッ
トとして説明しているが,これに限ったものではなく,
3ビット以上またはそれ以下でも同様の効果を奏するこ
とができる。
【0061】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、輪郭発
生や誤差拡散法特有のテクスチャを擬似的に抑制するこ
とができる。特に,本手法はランダムノイズや組織的デ
ィザ信号を重畳していないため,原画像の平均輝度を保
存することができ,ざらつき感の無い高品質な画像を生
成することができる。
【0062】また、ランダムな誤差の配分をしているた
め各フレームでのドットの現われ方が異なり,それが時
間平均されることで,輪郭発生や誤差拡散法特有のテク
スチャを擬似的にさらに抑制することができる。
【0063】また、重み係数の総和が1になるように制
御することで、平均輝度を保存した高品質な画像を生成
できるという効果を奏するとともに,実現するH/W規
模を少なくすることができるという効果も奏することが
できる。
【0064】乱数発生手段からの乱数により、予め定め
られた重み係数を注目画素近傍のどの画素の誤差信号に
割り当てるかを制御する誤差選択制御手段を備えること
により、平均輝度を保存した高品質な画像を生成できる
という効果を奏することができるとともに,実現するH
/W規模を少なくすることができ、回路規模削減が可能
になるという効果を奏することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1を表すブロック構成
図。
【図2】 注目画素近傍画素の誤差信号の説明図。
【図3】 図1における集積誤差演算部と重み係数演算
部の詳細構成図。
【図4】 実施の形態1における処理手順のフローチャ
ート。
【図5】 実施の形態2の集積誤差演算部と重み係数演
算部の詳細構成図。
【図6】 乗算器の他の構成例を示す構成図。
【図7】 実施の形態3の集積誤差演算部と重み係数演
算部のブロック構成図。
【図8】 実施の形態4を表す主要部のブロック構成
図。
【図9】 実施の形態4における処理手順のフローチャ
ート。
【図10】 従来の表示システムの輪郭抑制方法を行う
装置の構成図。
【図11】 従来の表示システムの輪郭を抑制する別の
装置の構成図。
【符号の説明】
1:γ補正部、2:加算器,3:量子化器,4:誤差演
算部,5:誤差用ラインメモリ,6:誤差用レジスタ,
7:集積誤差演算部,8:重み係数演算部,9:乱数発
生器、71〜74:乗算器,75:重み付け誤差総和演
算部,76:除算器、78:SHビットシフト器、7
9:3ビットシフト器、81〜84:レジスタ,85:
乱数総和演算部、88:オーバーフロー検出部,89:
オーバーフロー制御部、86,87:加算器、90,9
1:減算器、92:第一選択器、93:第二選択器、7
01〜704:選択器、805:誤差選択制御部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 5/202 H04N 5/66 A 5/66 1/40 B Fターム(参考) 5B057 AA20 BA29 BA30 CA08 CA12 CA16 CB07 CB12 CB16 CC01 CE13 CH01 CH08 CH09 CH11 CH18 5C021 PA66 PA67 PA80 PA87 XA34 5C058 AA18 BA07 BA13 BA33 BB14 5C077 LL17 LL19 MP01 NN13 NN14 PP15 PP43 PP47 PP48 PQ08 PQ12 PQ18 PQ22 RR08 TT10 5C080 AA17 DD03 EE29 JJ02 JJ07

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 各画素が所定の階調数を持つ表示デバイ
    スにより表示する画像信号を制御する画像処理装置にお
    いて,入力画像信号をその画像の階調数よりも高い階調
    数に変換する補正手段、 注目画素近傍で処理済み画素の誤差の重みを補正後の画
    像信号に重畳する加算手段、 加算手段により誤差の重みが重畳された画像信号を表示
    デバイスの持つ階調数に量子化する量子化手段、 量子化後の値と量子化前の値の差分により量子化誤差を
    計算する誤差演算手段、 注目画素ラインの前ライン誤差信号を格納する誤差信号
    メモリ、 誤差演算手段からの量子化誤差を格納する誤差用レジス
    タ、 誤差用レジスタの量子化誤差と誤差信号メモリの前ライ
    ン誤差信号とから注目画素近傍の誤差の重みを演算する
    集積誤差演算手段、とを備えることを特徴とする画像処
    理装置
  2. 【請求項2】 乱数発生手段からの乱数に基づき、注目
    画素近傍の複数画素の誤差の重みを算出し、その各重み
    係数の総和を演算する重み係数演算手段をさらに備え、 集積誤差演算手段は重み係数演算手段の各重み係数の総
    和により注目画素近傍の誤差の重み平均を演算する構成
    にされ、 加算手段は注目画素近傍の誤差の重み平均を補正後の画
    像信号に重畳する構成にされたことを特徴とする請求項
    1記載の画像処理装置。
  3. 【請求項3】 重み係数演算手段は、重み係数の総和が
    1を超えるか否かを検出するオーバーフロー検出手段
    と、オーバーフロー検出手段の検出結果により、重み係
    数の総和が1を超える時は1以下に制御するオーバーフ
    ロー制御手段とを備えることを特徴とする請求項2記載
    の画像処理装置。
  4. 【請求項4】 画素あたり所定の階調数を持つ表示デバ
    イスで表示する画像信号を処理する画像処理装置におい
    て,入力画像の階調数よりも高い階調数に変換するγ補
    正手段、 注目画素近傍で処理済み画素の誤差の重み平均をγ補正
    後の画像信号に加算する加算手段、 誤差の重み平均が重畳された画像信号を表示デバイスの
    持つ階調数に量子化する量子化手段、 量子化後の値と量子化前の値の差分により量子化誤差を
    計算する誤差演算手段、 注目画素ラインの前ライン誤差信号を格納する誤差信号
    メモリ、 誤差演算手段からの誤差信号を格納する誤差用レジス
    タ、 乱数発生手段からの乱数により、予め定められた重み係
    数を注目画素近傍のどの画素の誤差信号に割り当てるか
    を制御する誤差選択制御手段、 誤差選択制御手段により割り当てられた重み係数を基に
    誤差信号メモリの前ライン誤差信号と誤差用レジスタの
    誤差信号から注目画素近傍の誤差の重み平均を演算する
    集積誤差演算手段を備えることを特徴とする画像処理装
    置。
  5. 【請求項5】 画素あたり所定の階調数を持つ表示デバ
    イスで表示する画像信号を処理する画像処理方法におい
    て,γ補正により入力画像の階調数よりも高い階調数に
    変換する第1のステップ、 注目画素近傍で処理済み画素の量子化誤差に対する重み
    係数を乱数から計算する第2のステップ、 第2のステップで計算された重み係数を基に注目画素近
    傍の量子化誤差の重み平均を計算する第3のステップ、 量子化誤差の重み平均を第1のステップで変換後の画像
    信号に加算する第4のステップ、 量子化誤差の重み平均を加算した画像信号を量子化し,
    その結果を表示デバイスへ転送する第5のステップ、 次画素の処理の為に量子化後の値と量子化前の値の差分
    により量子化誤差を計算する第6のステップ、 量子化誤差をレジスタとメモリに格納する第7のステッ
    プを備えることを特徴とする画像処理方法。
  6. 【請求項6】 画素あたり所定の階調数を持つ表示デバ
    イスで表示する画像信号を処理する画像処理方法におい
    て,γ補正により入力画像の階調数よりも高い階調数に
    変換する第1のステップ、 予め定められた重み係数を注目画素近傍で処理済み画素
    のどの量子化誤差に割り当てるかを乱数から計算する第
    2のステップ、 第2のステップで計算された重み係数を基に、注目画素
    近傍で処理済み画素の量子化誤差の重み平均を計算する
    第3のステップ、 誤差の重み平均を第1のステップで変換後の画像信号に
    加算する第4のステップ、 誤差の重み平均を加算した画像信号を量子化し,その結
    果を表示デバイスへ転送する第5のステップ、 次画素の処理の為に量子化後の値と量子化前の値の差分
    により量子化誤差を計算する第6のステップ、 量子化誤差をレジスタとメモリに格納する第7のステッ
    プを備えることを特徴とする画像処理方法。
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