JP2002232406A - 周波数比較器 - Google Patents
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Abstract
トレートと1/Nクロックの周波数の差を比較する周波
数比較器を提供することを目的としている。 【解決手段】 外部から入力するディジタル信号の状態
変化を検出する入力変化検出回路20と、この状態変化
が内部のクロック信号1周期中に発生する回数をカウン
トするカウンタ回路21と、該カウンタ回路21のカウ
ント値を内部のクロック信号と同期したタイミング信号
でサンプリングするサンプリング回路22と、サンプリ
ングされたカウント値を、予測されるカウント値と比較
する比較回路25とを具備して構成する。
Description
る。
ムなディジタルデータ信号だけであり、データのビット
レートに同期したクロック信号は伝送されない。しかし
ながら、受信側で受信するデータは図26に示すように
伝送の過程で歪んだ波形となるため、データのビットレ
ートに同期したクロックを用いて信号を再生する必要が
ある。図26において、送信器1から送出された送信デ
ータは、伝送路を通過する間に歪んで受信器2に到達す
る。そこで、受信器2側では、ビットレートに同期した
クロックを用いてデータを再生する。
示す。光通信用受信器10は、光/電気変換部(PD)
3と、該光/電気変換部3の出力を受ける等化増幅器4
と、該等化増幅器4の出力を受ける識別回路(DEC)
5と、該識別回路5に読み出し用のタイミングクロック
を与えるタイミング抽出回路6とで構成されている。
幅器4で増幅された受信信号は、識別回路(デコーダ)
5とタイミング抽出回路6に分配される。タイミング抽
出回路6にて抽出したクロックは、識別回路5のクロッ
ク端子に入力され、歪んだ波形を打ち直してデータを再
生する。
めには必須の回路であり、特にPLL回路(Phase
Lock Loop)は、ICへの集積化に適してい
ることから、広く用いられている。PLL回路の原理構
成図を図28に示す。PLL回路には、入力信号と内部
クロックの位相を比較する位相比較器12と、VCO
(Voltage Control Oscillat
or)11が必要である。
ロック間の位相差を検出し、その検出量に応じてVCO
11の発振周波数制御端子へ与える電圧を変えてVCO
11の発振周波数及び位相を制御し、位相固定や周波数
引き込みを実現している。
LL回路では、電源投入時のようにデータのビットレー
トとVCO11の発振周波数との間の周波数差が大きい
時に、周波数を引き込んで同期させることができない。
そこで、通常は図29に示すように、周波数差を検出す
る周波数比較器が併用される。
抽出回路6の構成を示すブロック図である。図28と同
一のものは、同一の符号を付して示す。先ず、スイッチ
SWを周波数比較器13側に倒し、入力データの周波数
とVCO11のクロック周波数とが比較され、双方の周
波数が一致するように動作する。入力データの周波数と
VCO11のクロック周波数が近づいてきたら、スイッ
チSWを位相比較器12側に倒す。
比較器13により、周波数差に応じた信号が得られ、こ
の信号でVCO11の発振周波数を制御し、周波数引き
込み範囲を広げることができる。周波数比較器13は、
実際のPLL回路には必須となっている。本発明は、こ
の周波数比較器に関するものであり、クロックの周波数
がデータのビットレートの1/N(Nは任意の自然数)
であっても動作することを特徴とする。
時分割多重方式は、1ビットの信号を短い時間パルスの
有無で実現する。従って、データの容量を大きくするた
めには、より短い時間パルス列で伝送することが必要で
あり、従来から電子回路や光デバイスの高速動作化、広
帯域化が図られてきた。しかしながら、近年、この速度
は40Gb/s以上に達しようとしており、電子回路に
求められる超高速動作に、デバイスの開発が十分には追
いついていないのが現状である。このため、周波数比較
器を含め、従来のPLL回路をそのまま適用することが
難しくなっている。
分周がある。図30に示すように、データを分周してビ
ットレートを落とすことで、信号処理には従来の技術が
適用できる。例えば、40Gb/sの信号であれば、2
分割して20Gb/sの信号、4分割して10Gb/s
の信号、16分割して2.5Gb/sの信号となり、高
速で動作する回路の部分は少なくできる。
ックの周波数がデータビットレートの1/N(Nは任意
の自然数)であっても動作するPLLが必要であり、そ
のための周波数比較器も必要になる。
ものであって、データのビットレートと1/Nクロック
の周波数の差を比較する周波数比較器を提供することを
目的としている。
理ブロック図である。図において、13は周波数比較器
である。図1において、20は外部から入力するディジ
タル信号の状態変化を検出する入力変化検出回路、21
は該入力変化検出回路20の出力を受けて、この状態変
化が内部のクロック信号1周期中に発生する回数をカウ
ントするカウンタ回路、23はVCOからの1/N(N
は任意の自然数)クロックを受けてカウンタ回路21に
リセット信号を与えるリセット信号生成回路、22は前
記カウンタ回路21のカウント値を内部のクロック信号
と同期したタイミング信号でサンプリングするサンプリ
ング回路、24は1/Nクロックの出力を受けてサンプ
リング回路22の出力をサンプリングするためのタイミ
ング信号を生成するタイミング信号生成回路、25は前
記サンプリング回路22の出力と予測値とを比較する比
較回路で、該比較回路25の出力が周波数比較信号とし
てVCOに入る(以下、同じ)。ここで、予測値とはV
COの1周期中に現れる変化点の個数をいう。
ートと1/Nクロックの周波数の差を比較することがで
きる。 (2)図2は本発明の第1の構成例を示すブロック図で
ある。図1と同一のものは、同一の符号を付して示す。
図2に示す実施の形態例は、図1に示す入力変化検出回
路20は使用せず、カウンタ回路21で直接入力信号の
立ち上がり又は立ち下がりをカウントするようにしたも
のである。
様に、データのビットレートと1/Nクロックの周波数
の差を比較することができる。 (3)図3は本発明の第2の構成例を示すブロック図で
ある。図1と同一のものは、同一の符号を付して示す。
図に示す回路は、入力変化検出回路として、クロックの
立ち下がり及び立ち上がりを検出するエッジ検出回路2
0を設けたものである。
がり及び立ち下がりを検出するので、検出数を2倍にす
ることができ、任意の数Nに対してカウンタの最上位ビ
ットのみで周波数比較を行なうことができる。
ク図である。図1と同一のものは、同一の符号を付した
ものである。この回路は、サンプリング回路として、サ
ンプリング部22aと該サンプリング部22aの出力を
アナログ信号に変換するD/A変換部22bを用いるよ
うにしたものである。
ビットレートの1/N周波数に対する内部のクロック信
号の周波数差を検出できるようになる。図5は本発明の
第4の構成例を示すブロック図である。図1と同一のも
のは、同一の符号を付して示す。この回路は、図1の周
波数比較回路にプリセット回路26を追加したものであ
る。プリセット回路26は、リセット信号生成回路23
の出力を受けて、カウンタ回路21をプリセットする。
の最上位ビットのみで周波数比較を行なうことで、予測
値の設定を不要とすることができる。図6は本発明の第
5の構成例を示すブロック図である。図1と同一のもの
は、同一の符号を付して示す。この回路は、図1の周波
数比較回路にカウンタをプリセットし、かつその値を制
御するプリセット値制御回路27を追加したものであ
る。プリセット値制御回路27は、リセット信号生成回
路23の出力を受けてカウンタ回路21をプリセットす
る。
の最上位ビットのみで周波数比較を行なうことで、予測
値の設定を不要とすることができる。
施の形態例を詳細に説明する。通常の外部入力信号はラ
ンダムなパターンであり、内部クロック1周期中の状態
変化数は刻々と変化する。しかしながら、図32に示す
ように、通常のランダム信号を長周期で見た場合には、
データの“1”か“0”かのマーク率が1/2であるこ
と、またデータが“1”→“0”又は“0”→“1”へ
変化する変化点の密度が0.5(2ビットに1回)であ
ることが保証されている。従って、長い周期で平均化し
た場合の出力レベルは図32のように予測できる。
である。入力信号は図に示すように“0”と“1”の組
み合わせであり、ビットレートがf、マーク率0.5
で、全24ビットである。立ち上がり点は24ビット中
に6ビット現れ、立ち下がり点も24ビット中に6ビッ
ト現れ、立ち上がり点と立ち下がり点の合計である変化
点は24ビット中12ビット現れる。
カウント予想値は以下の通りである。 立ち上がり点検出:N×0.25 変化点検出 :N×0.5 図7は本発明の一実施の形態例を示すブロック図であ
る。図1と同一のものは、同一の符号を付して示す。先
ず、外部からの入力信号は、入力変化検出回路20にて
状態変化を検出される。ここで、入力状態の変化とは、
例えばデータの立ち上がりや立ち下がり等のエッジの変
化をいう。続いて、カウンタ回路21にて、内部クロッ
ク(1/Nクロック)1周期毎に外部入力信号の入力状
態変化数がカウントされる。
路22によってクロックに同期した信号によりサンプリ
ングされ、クロック1周期中の入力状態変化数の値が、
クロックの1周期の時間だけ保持される。次に、比較回
路25でサンプリング値と、入力信号がランダムパター
ンであることから予測される予測値とを比較し、その差
を平均化したものが周波数比較出力となり、VCOに入
力される。
である。では入力信号の状態変化を検出する。にお
いて、(a)は時間経過を、(b)は外部入力信号を、
(c)はエッジ検出回路出力をそれぞれ示す。入力変化
検出回路20は、ここでは入力信号のエッジ(立ち上が
り及び立ち下がり)を検出するようにしているので、入
力変化検出回路20は(c)に示すようなものとなる。
にカウントしている。において、(a)は時間経過
を、(b)はエッジ検出回路(入力変化検出回路)20
の出力を、(c)はカウンタ回路21の出力を、(d)
はリセット信号生成回路23から出力されるリセット信
号をそれぞれ示す。カウンタ回路21は、ここではエッ
ジ検出回路20の出力であるパルスをカウントしてい
る。カウンタ回路21は、リセット信号が入力する度に
0にリセットされ、新たなカウントを始めるようになっ
ている。つまり、(d)に示すクロック周期でカウンタ
回路21にリセットをかけている。
ンプリングしている。において、(a)は時間経過
を、(b)はカウンタ回路21の出力を、(c)はサン
プリング回路22の出力を、(d)はタイミング信号生
成回路24の出力であるタイミング信号をそれぞれ示
す。
トレートと1/Nクロックの周波数の差を比較すること
ができる。なお、データの立ち上がりや立ち下がりを検
出するのであれば、入力信号を直接カウンタ回路21に
入力すればよく、入力変化として変化点密度を検出する
場合には、エッジ検出回路が必要である。エッジ検出回
路を用いることで検出密度が2倍になるため、予測値は
図32に示すように整数又は整数+0.5となり、任意
のNに対しカウンタの最上位ビットのみで周波数比較を
行なうことができる(詳細後述)。
波数比較器の実施の形態例を示す図で、カウント信号を
アナログ信号に変換するためにD/A変換回路を用いた
ものである。図7と同一のものは、同一の符号を付して
示す。図10はA部(入力変化検出部)の動作を示すタ
イムチャート、図11はB部(カウンタ回路)の動作を
示すタイムチャート、図12はC部(サンプリング回
路)の動作を示すタイムチャート、図13はD部(比較
回路)の動作を示すタイムチャートである。
(EXOR)ゲート20aと、ディレイ回路20bより
構成されている。入力信号とこの入力信号の遅延したも
のとの排他的論理和をとることから、入力変化検出回路
20は入力信号のエッジを必ず検出する。
(フリップフロップ)21a〜21cから構成された3
ビットのカウンタである。これらT−F/Fは、そのQ
の反転信号が次段のF/Fのクロック入力Cに入る構成
となっている。そして、これらT−F/Fの並列出力
は、それぞれサンプリング回路22に入っている。サン
プリング回路22は、3個のDタイプF/Fによりなる
サンプリング部22aと、D/A変換部22bとで構成
されている。
グ信号を与えるタイミング信号生成回路であり、アンド
ゲート24aとディレイ回路24bから構成されてい
る。VCOからの1/Nクロックは、ディレイ回路24
bに入り、このディレイ回路24bの出力と1/Nクロ
ックとのアンドがアンドゲート24aでとられるので、
その出力は、クロック周期毎に必ずパルスが出力される
ものとなる。ここでは、N=6としている。そして、ア
ンドゲート24aの出力がサンプリング部22aにラッ
チパルスとして入り、それぞれの段の前段のT−F/F
の出力をDタイプF/Fにラッチする。
ット信号生成回路としてのディレイ回路23を介してカ
ウンタ回路21の各段のT−F/Fのクリア(CLR)
入力に入るので、カウンタ回路21の出力がサンプリン
グ回路22にラッチされた後、T−F/F21a〜21
cはクリアされることになる。
出力を受ける抵抗とオペアンプUよりなる加算回路であ
る。1段目のDタイプF/Fの出力は、抵抗値4Rの抵
抗を介してオペアンプUに入り、2段目のDタイプF/
Fの出力は、抵抗値2Rの抵抗を介してオペアンプUに
入り、3段目のDタイプF/Fの出力は、抵抗値Rの抵
抗を介してオペアンプUに入っている。加算回路の帰還
抵抗の抵抗値としては、Rが用いられる。
aの出力を受けるローパスフィルタ(LPF)25bか
ら構成されている。比較器25aの他方の入力には、予
測値3が入力されている。従って、比較器25aはD/
A変換部22bの出力と予測値とを比較することにな
る。この比較器25aの出力は、ローパスフィルタ25
bによりフィルタリングされて周波数比較信号となり、
VCOに入力される。
示すタイムチャートであり、Bはカウンタ回路21の動
作を示すタイムチャートであり、CはD/A変換部22
bの動作を示すタイムチャートであり、Dはローパスフ
ィルタ25bの動作を示すタイムチャートである。
化点を検出し、1/6クロックとの周波数比較を実現す
る。入力信号のビットレートの1/6とクロック周波数
が等しい場合のタイムチャートを図14に、入力信号の
ビットレートの1/6よりもクロック周波数の方が高い
場合のタイムチャートを図15に示す。何れも、図9に
示す信号(a)〜(q)と、図14、図15に示す
(a)〜(q)はそれぞれ対応している。
データ(a)はエッジ検出回路(入力変化回路)20に
入り、エッジの存在した部分がパルスに変換された出力
(b)を得る。(b)のパルスの立ち上がりエッジ、あ
るいは立ち下がりエッジは、3ビットのカウンタ回路2
1にり計数される。カウンタの各ビット出力(c)、
(e)、(g)は、それぞれ対応するDタイプF/F2
2a〜22cに入力され、サンプリングのタイミング信
号(l)の入力により、その瞬間での各ビットの出力
(0か1か)が読み込まれる。
F/F22a〜22cの各出力(h)、(i)、(j)
は、続くD/A変換部22bにおいてアナログ信号
(n)に変換される。この(n)と予測値(o)とが比
較され、その差出力(p)とがローパスフィルタ25b
により平滑化される。このローパスフィルタ25bはD
/A変換部22bの直後に配置してもかまわない。最終
的に出力される(q)はアナログ値であるため、クロッ
ク周波数の「高い」、「等しい」、「低い」の3状態だ
けではなく、周波数差がどの程度大きいのかという情報
も得られる利点がある。
は、ディレイ回路24bとアンドゲート24aを組み合
わせた回路等が適用でき、リセット信号の生成回路23
としては、タイミング信号に僅かな遅延時間を与えるデ
ィレイ回路で実現することができる。
/6に等しい図14では、サンプリングされた出力
(n)は「33432333…」となり、平均出力
(q)は0で、周波数が等しいことが分かる。
波数の方が高い場合には、出力(n)は「231321
312141…」となり、これらカウンタ値の予測値と
の差分は、予測値が“3”であることから、比較器25
aの出力は、“0”、“−1”と“−2”をとり、平均
出力(q)は“−1”となり、周波数が等しくないこと
が分かる。この例では、(q)の出力は周波数差に応じ
て、−3〜+4の値を出力することができる。
ットについてサンプリングし、これらサンプリング値を
アナログ信号に変換するD/A変換部22bが必要とな
る。しかしながら、予測値によっては回路の規模を大幅
に簡略化できる可能性がある。図16に示すように、例
えば予測値が5.5の場合(N=11で入力信号のエッ
ジ検出時)、クロック周波数の高低を比較するために
は、カウンタの全てのビットを検出する必要がある。
とすると、最上位ビットのみの検出で、周波数比較が行
えるため、他のビットのカウンタや、D/A変換回路が
不要になる。予測値7.5とするためには、リセット時
にプリセット値「2」を与えればよい。ただし、図17
に示すように変化点の検出を行なっても、予測値が「整
数+0.5」となる場合と整数となる場合とがある。後
者の場合には、図21に示すようなプリセット値制御回
路を併用する必要がある。
較器の実施の形態例を示す図である。この実施の形態例
では、N=5を用いている。図9と同一のものは、同一
の符号を付して示す。図において、20はディレイ回路
20bと排他的論理和ゲート20aから構成される入力
変化検出回路、21は該入力変化検出回路20の出力を
カウントするカウンタ回路、22は該カウンタ回路21
の出力をラッチするサンプリング回路、24は該サンプ
リング回路22にサンプリング信号を与えるタイミング
信号生成回路、26はカウンタ回路21にリセット信号
を与えるリセット信号生成回路である。
(Mは自然数)である場合に適用される。リセットする
際に、適切なプリセット値を設定するプリセット回路だ
けですむ。先ず、M+0.5よりも大きい2の累乗数を
求める。この累乗数がPであったものとすると、プリセ
ット値をP−M−1にすることで、最上位ビットの予測
値は0.5となる。この回路の動作を示すタイムチャー
トを図19、図20に示す。図19は入力信号のビット
レートの1/5とクロック周波数が等しい場合のタイム
チャート、図20は入力信号のビットレートの1/5よ
りもクロック周波数の方が低い場合のタイムチャートを
示す。図18に示す回路の(a)〜(j)は、図19、
図20に示す回路の(a)〜(j)と対応している。
/5に等しい図19では、予測値M=2.5である。こ
れよりも大きい2の累乗数は4=2^(3−1)であ
り、3ビットのカウンタ構成にする。プリセット値は0
01となるので、最下位ビットカウンタのリセット信号
入力をプリセット端子とする。このようにして得られた
最上位ビットのカウンタ出力(f)は「0101010
101…」となり、平均出力(j)は0.5である。
が低い場合には、出力(f)は「01110111…」
となり、平均出力(j)はほぼ1になるため、クロック
周波数が低いことを検出することができる。
は、プリセット値制御回路が必要となる。プリセット値
制御回路としては、例えば図21に示す構成の回路が用
いられる。図21はプリセット値制御回路の実施の形態
例を示す図である。図において、28は1/Nクロック
を受けてリセット信号を生成するリセット信号生成回
路、27は該リセット信号生成回路23の出力を受ける
プリセット値制御回路である。プリセット値制御回路2
7は、T−F/F27aとアンドゲート27b、27c
より構成されている。27aはクロック入力(g)を入
力端子Cに受けるT−F/Fであり、そのQ出力(j)
はアンドゲート27cに与えられる。リセット信号生成
回路28の出力(i)はアンドゲート27bに入力され
る。アンドゲート27bの他方の入力にはT−F/F2
7aのQの反転信号(k)が入力され、アンドゲート2
7cの他方の入力には、リセット信号生成回路23の出
力(i)が入力されている。
路の動作を示すタイムチャートである。図において、
(g)は1/Nクロック、(i)はリセット信号、(j)
と(k)はT−F/F27aの出力波形を、(l)はク
リア信号(CLR)を、(m)はプリセット信号を示
す。1/NのクロックはT−F/F27aに入り、1/
2分周されるが、T−F/F27aのQ出力とその反転
出力は、交互に発生し、アンドゲート27bと27cに
入るので、交互にクリア(CLR)信号とプリセット
(PR)信号とを発生し、カウンタ回路21に入力され
る。従って、カウンタ回路21の周期は、1/Nの周期
でカウント動作とクリア動作を繰り返すことになる。
ると、1/2に分周されたクロックを得る。このクロッ
クと通常のリセット信号とをアンドゲート、27b、2
7cに入力すると、その出力(l)、(m)には、リセ
ット信号が1クロック周期毎に交互に現れる。(l)、
(m)出力を、カウンタ回路21のクリア端子(CL
R)と、プリセット端子(PR)にそれぞれ接続するこ
とで、プリセット値はクロックの1周期毎に000、0
01と設定され、周波数が等しい際の最上位ビットは、
平均的には0と1を交互にとる。従って、予測値は0.
5となる。
波数比較器の実施の形態例を示す図である。図18、図
21と同一のものは、同一の符号を付して示す。この実
施の形態例は、N=6の場合を示す。また、この実施の
形態例は、図18に示す回路に図21に示すプリセット
値制御回路27を追加したものである。
ックを受けるT−FF27aと、該T−FF27aの出
力及びリセット信号生成回路26の出力を受けるアンド
ゲート27b、27cより構成されている。そして、ア
ンドゲート27bの出力は、カウンタ回路21の初段の
T−FF21aのプリセット入力端子PRに、アンドゲ
ート27cの出力は初段のT−FF21aのクリア入力
端子CLRに接続されている。
ビットレートの1/6とクロック周波数が等しい場合の
タイムチャートを図24に、入力信号のビットレートの
1/6よりもクロック周波数の方が高い場合のタイムチ
ャートを図25に示す。図23の信号(a)〜(n)
と、図24、図25の(a)〜(n)はそれぞれ対応し
ている。
/6に等しい図24では、予測値M=3である。これよ
りも大きい2の累乗数は4=2^(3−1)であり、3
ビットのカウンタ構成にする。このようにして得られた
最上位ビットのカウンタ出力(f)は「0011011
0…」となり、平均出力(n)は0.5(“H”レベル
と“L”レベルの中間値)である。
の方が高い場合には、出力(f)は「00000000
01…」となり、平均出力(n)はほぼ0になるため、
クロック周波数が高いことを検出することができる。
号の状態変化を検出する入力変化検出回路と、この状態
変化が内部のクロック信号1周期中に発生する回数をカ
ウントするカウンタ回路と、該カウンタ回路のカウント
値を内部のクロック信号と同期したタイミング信号でサ
ンプリングするサンプリング回路と、サンプリングされ
たカウント値を、予測されるカウント値と比較する比較
回路とを具備し、外部入力ディジタル信号のビットレー
トの1/N(Nは任意の自然数)周波数と比較して、内
部のクロック信号の周波数差を検出することを特徴とす
る周波数比較器。
に、パルスの立ち上がり又は立ち下がりエッジの数をカ
ウントすることを特徴とする付記1記載の周波数比較
器。 (付記3)前記入力変化検出回路としてエッジ検出回路
を用い、入力信号の状態変化として、パルスの立ち上が
り及び立ち下がりの両エッジの数をカウントすることを
特徴とする付記1記載の周波数比較器。
を、D/A変換して比較回路へアナログ出力することを
特徴とする付記1記載の周波数比較器。 (付記5)前記周波数比較器にデータをプリセットする
プリセット回路を追加し、カウンタの最上位ビットのみ
で周波数比較を行なうことを特徴とする付記1記載の周
波数比較器。
の値をプリセットし、かつその値を制御するプリセット
値制御回路を加え、カウンタの最上位ビットのみで周波
数比較を行なうことを特徴とする付記1記載の周波数比
較器。
以下の効果が得られる。 (1)請求項1記載の発明によれば、データのビットレ
ートと1/Nクロックの周波数の差を比較することがで
きる。
項1の場合と同様に、データのビットレートと1/Nク
ロックの周波数の差を比較することができる。 (3)請求項3記載の発明によれば、クロックの立ち上
がり及び立ち下がりを検出するので、検出数を2倍にす
ることができ、より正確な動作が可能となる。
出力をD/A変換して比較回路へアナログ出力すること
で、ディジタル信号のビットレートの1/N周波数に対
する内部のクロック信号の周波数差を検出できるように
なる。
ータをプリセットするプリセット回路を追加し、カウン
タの最上位ビットのみで周波数比較を行なうことによ
り、カウンタ回路の最上位ビットのみで周波数比較を行
なうことで、予測値の設定を不要とすることができる。
ウンタの値をプリセットするプリセット制御回路を加
え、カウンタの最上位ビットのみで周波数比較を行なう
ことにより、カウンタ回路の最上位ビットのみで周波数
比較を行なうことで、予測値の設定を不要とすることが
できる。
る。
る。
る。
る。
る。
る。
形態例を示す図である。
が等しい場合のタイムチャートである。
よりも小さい場合のタイムチャートである。
である。
の形態例を示す図である。
と等しい場合のタイムチャートである。
より大きい場合のタイムチャートである。
図である。
ャートである。
の実施の形態例を示す図である。
と等しい場合のタイムチャートである。
と等しい場合のタイムチャートである。
る。
構成を示すブロック図である。
信器構成を示す図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 外部から入力するディジタル信号の状態
変化を検出する入力変化検出回路と、 この状態変化が内部のクロック信号1周期中に発生する
回数をカウントするカウンタ回路と、 該カウンタ回路のカウント値を内部のクロック信号と同
期したタイミング信号でサンプリングするサンプリング
回路と、 サンプリングされたカウント値を、予測されるカウント
値と比較する比較回路とを具備し、 外部入力ディジタル信号のビットレートの1/N(Nは
任意の自然数)周波数と比較して、内部のクロック信号
の周波数差を検出することを特徴とする周波数比較器。 - 【請求項2】 前記入力変化検出回路の代わりに、パル
スの立ち上がり又は立ち下がりエッジの数をカウントす
ることを特徴とする請求項1記載の周波数比較器。 - 【請求項3】 前記入力変化検出回路としてエッジ検出
回路を用い、入力信号の状態変化として、パルスの立ち
上がり及び立ち下がりの両エッジの数をカウントするこ
とを特徴とする請求項1記載の周波数比較器。
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Applications Claiming Priority (1)
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JP3647753B2 JP3647753B2 (ja) | 2005-05-18 |
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Family Applications (1)
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN103716020A (zh) * | 2012-10-05 | 2014-04-09 | Ls产电株式会社 | 用于检测脉冲信号的截止频率的方法和装置 |
WO2015006898A1 (zh) * | 2013-07-15 | 2015-01-22 | 中国科学院微电子研究所 | 适用于一维缓变信号的随机采样器 |
-
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- 2001-01-30 JP JP2001021129A patent/JP3647753B2/ja not_active Expired - Fee Related
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