JP2002211923A - シリコン又はゲルマニウム化合物超電導物質とその超電導体 - Google Patents

シリコン又はゲルマニウム化合物超電導物質とその超電導体

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JP2002211923A JP2001000862A JP2001000862A JP2002211923A JP 2002211923 A JP2002211923 A JP 2002211923A JP 2001000862 A JP2001000862 A JP 2001000862A JP 2001000862 A JP2001000862 A JP 2001000862A JP 2002211923 A JP2002211923 A JP 2002211923A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高性能デバイスを作製するための新素材とし
て有望な、シリコン又はゲルマニウム化合物超電導物質
とこれを含む超電導体を提供する。 【解決手段】 組成式が、Ax(B1-yy2(0.8<x
<1.2、0<y<1、A=Ca、Sr、Ba、又はこれ
ら元素の2種以上、B=Al、Ga、In、又はこれら
元素の2種以上、C=Si、Ge、又はこれら元素の2
種)で示され、原子Bと原子Cからなるハニカム格子と
原子Aの六方格子とからなる結晶構造を有し、臨界温度
が3K以上である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この出願の発明は、シリコン
又はゲルマニウム化合物超電導物質とその超電導体に関
するものである。さらに詳しくは、この出願の発明は、
高性能デバイスを作製するための新素材として有望な、
シリコン又はゲルマニウム化合物超電導物質とこれを含
む超電導体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】コンピュータ技術を支えている演算論理
回路素子、記憶素子、光電変換素子等の半導体素子や光
通信技術を担っているレーザー素子は、一般に、シリコ
ン、ゲルマニウムやガリウム砒素等の化合物半導体を利
用して作製されている。これらの素子の性能は、主とし
て微細化技術により進展してきたが、エレクトロニクス
分野のさらなる発展には、上記半導体と相性がよく、し
かもこれまでの電子材料素材とは大きく異なる物性を示
す新素材の開発が、材料側に課せられる課題となってい
る。そのブレークスルーの一つとして、超電導特性を示
すシリコン化合物及びゲルマニウム化合物が考えられ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】これらシリコン化合物
及びゲルマニウム化合物からなる超電導体には、従来、
遷移金属を含む化合物が知られており、その多くは、臨
界温度が2K程度以下であった。また、臨界温度がこれ
より高い、アルカリ土類金属を含むシリコン化合物及び
ゲルマニウム化合物もこれまでに幾つかは報告されてい
るが、その作製は非常に複雑な工程を要し、現在の半導
体素子の作製工程と相容れない。
【0004】高性能デバイスを作製するための新素材と
しては、シリコンやゲルマニウムと相性がよいととも
に、臨界温度が3K以上であり、しかも比較的簡単に作
製することのできる超電導物質又はこれを含有する超電
導体が望まれる。
【0005】この出願の発明は、以上の通りの事情に鑑
みてなされたものであり、高性能デバイスを作製するた
めの新素材として有望な、シリコン又はゲルマニウム化
合物超電導物質とこれを含む超電導体を提供することを
目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】この出願の発明は、前述
の課題を解決するものとして、組成式が、Ax(B1-y
y2(0.8<x<1.2、0<y<1、A=Ca、Sr、B
a、又はこれら元素の2種以上、B=Al、Ga、I
n、又はこれら元素の2種以上、C=Si、Ge、又は
これら元素の2種)で示され、原子Bと原子Cからなる
ハニカム格子と原子Aの六方格子とからなる結晶構造を
有し、臨界温度が3K以上であることを特徴とするシリ
コン又はゲルマニウム化合物超電導物質(請求項1)を
提供する。
【0007】またこの出願の発明は、請求項1記載の超
電導物質を含有することを特徴とする超電導体(請求項
2)を提供する。
【0008】以下、実施例を示しつつ、この出願の発明
のシリコン又はゲルマニウム化合物超電導物質とその超
電導体についてさらに詳しく説明する。
【0009】
【発明の実施の形態】この出願の発明のシリコン又はゲ
ルマニウム化合物超電導物質は、前記の通り、組成式
が、Ax(B1-yy2(0.8<x<1.2、0<y<1、A
=Ca、Sr、Ba、又はこれら元素の2種以上、B=
Al、Ga、In、又はこれら元素の2種以上、C=S
i、Ge、又はこれら元素の2種)で示され、原子Bと
原子Cからなるハニカム格子と原子Aの六方格子とから
なる結晶構造を有し、臨界温度が3K以上である。
【0010】前記組成式において、原子Aは周期律表の
2族元素、原子Bは13族元素、原子Cは14族元素に
それぞれ属している。同族元素では、周期律表の第4周
期にある元素を第3周期若しくは第5周期に置換して
も、得られる化合物の結晶構造はほぼ保たれることが期
待される。電子構造は、価電子数と結晶構造に大きく影
響されるが、価電子数が同じで(つまり、同族元素で置
換した場合には価電子数は変わらない)、結晶構造が同
じ場合、電子構造はほとんど同一となり、したがって、
得られる化合物の超電導特性はほぼ同一であると期待さ
れる。また、原子AをSr1-zCaz、原子BをGaをG
1-zInz、原子CをSi1-zGez(いずれにおいても
z<<1)と2種元素の混合物に、また、原子A及びB
については3種元素の混合物としても、やはり電子構造
に大きな変化はないと考えられ、各元素が1種のときと
同様の超電導特性が得られると期待される。
【0011】この出願の発明のシリコン又はゲルマニウ
ム化合物超電導物質は、金属であり、アーク溶解法等に
より作製することができる。たとえば、原子A、原子
B、及び原子Cをx:2(1-y):2yのモル比に配合し、ア
ルゴン雰囲気下でアーク溶解することにより、単相又は
混合物として作製される。混合物として作製される場合
には、前記所定組成を有する相のみをたとえば浮遊帯域
溶融法を適用するなどして取り出し、使用することがで
きる。また、混合物は、前記超電導物質を含有する超電
導体としてそのまま使用することも可能である。
【0012】この出願の発明のシリコン又はゲルマニウ
ム化合物超電導物質とその超電導体は、このように、ア
ーク溶解法のような比較的簡単な方法により作製可能で
あるため、たとえば分子線エピタキシー法を適用し、薄
膜の作製が有望視される。素子化の可能性が示唆され
る。
【0013】この出願の発明のシリコン又はゲルマニウ
ム化合物超電導物質の結晶構造は、図1に示したよう
に、原子Bと原子Cからなるハニカム格子と原子Aの六
方格子とからなる。この結晶構造は、粉末X線回折及び
電子顕微鏡観察により確認される。
【0014】このように、この出願の発明のシリコン又
はゲルマニウム化合物超電導物質とその超電導体は、構
成元素にシリコン又はゲルマニウムの少なくともいずれ
か一方を有することから、前述の半導体素子やレーザー
素子に利用されている化合物半導体との相性がよいと考
えられる。しかも比較的簡単な方法により作製可能であ
り、臨界温度が3K以上であることから、この出願の発
明のシリコン又はゲルマニウム化合物超電導物質とその
超電導体は、エレクトロニクス分野のさらなる発展を担
う高性能デバイスに有望な新素材となり得ると期待され
る。
【0015】
【実施例】(実施例1)モル比1:1のSrSi2とG
aをアルゴン雰囲気下でアーク溶解した。得られた化合
物は、組成式Sr8Ga10Si36で示される化合物と組
成式Sr(Ga0 .37Si0.632で示される化合物の混
合物であった。次いで、アルゴン雰囲気下で浮遊帯域溶
融法を適用し、上記混合物からSr(Ga0.37
0.632で示される化合物のみを取り出した。このS
r(Ga0.37Si0.632で示される化合物の粉末X線
回折パターン、高分解能電子顕微鏡像は、図2、図3に
それぞれ示した通りであった。これらの粉末X線回折パ
ターン及び高分解能電子顕微鏡像より、得られたSr
(Ga0.37Si0.632で示される化合物は、Ga原子
とSi原子からなるハニカム格子とSr原子の六方格子
からなる図1に示したような結晶構造を有することが確
認された。
【0016】また、このSr(Ga0.37Si0.632
示される化合物は金属であり、図4に示した臨界温度の
測定結果から臨界温度3.5Kの超電導物質であることも
確認された。 (実施例2)モル比4:3:5のSr、Ga、及びSi
をアルゴン雰囲気下でアーク溶解した。得られた化合物
は、光学顕微鏡観察及び粉末X線回折からほぼ単相であ
ることが確認された。粉末X線回折パターンは図5に示
した通りである。単相部分の組成は、Srが31.4at%、
Gaが25.6at%、Siが43.0at%であり、実施例1の化合
物の組成式Sr(Ga0.37Si0.632にほぼ一致して
いた。この単相部分の化合物の結晶構造は、実施例1の
化合物の結晶構造と同様に、Ga原子とSi原子からな
るハニカム格子とSr原子の六方格子からなることがX
線回折から確認された。 (実施例3)モル比4:3:5のBa、Ga、及びSi
をアルゴン雰囲気下でアーク溶解した。得られた化合物
は、X線回折及び光学顕微鏡観察からほぼ単相であるこ
とが確認された。単相部分の組成は、Baが34.0at%、
Gaが25.5at%、Siが40.5at%であり、組成式はBa
1.03(Ga0.39Si0.612と示される。この単相部分
の化合物の結晶構造は、実施例1の化合物の結晶構造と
同様に、Ga原子とSi原子からなるハニカム格子とB
a原子の六方格子からなることがX線回折から確認され
た。また、得られた化合物は、金属であり、臨界温度4.
2Kを示した。
【0017】この出願の発明は、以上の実施例によって
限定されることはない。具体的な組成及び組成比、ま
た、作製方法及び作製条件等の細部については様々な態
様が可能であることは言うまでもない。
【0018】
【発明の効果】以上詳しく説明した通り、この出願の発
明によって、金属素材であり、半導体素子やレーザー素
子と相性がよく、作製が比較的容易で、臨界温度3K以
上のシリコン又はゲルマニウム化合物超電導物質とこれ
を含む超電導体が提供される。高性能デバイスを作製す
るための新素材として有望視される。
【図面の簡単な説明】
【図1】この出願の発明のシリコン又はゲルマニウム化
合物超電導物質の結晶構造の概要を示した模式図であ
る。
【図2】実施例1で得られたSr(Ga0.37Si0.63
2で示される化合物の粉末X線回折パターンである。
【図3】実施例1で得られたSr(Ga0.37Si0.63
2で示される化合物の図面に代る高分解能電子顕微鏡像
である。図中(a)が[110]方向からの高分解能電子顕微鏡
像であり、(b)は[001]方向からの 高分解能電子顕微鏡
像である。
【図4】実施例1で得られたSr(Ga0.37Si0.63
2で示される化合物の臨界温度測定の結果を示した相関
図である。
【図5】実施例2で得られたSr0.92(Ga0.37Si
0.632で示される化合物の粉末X線回折パターンであ
る。
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C22C 28/00 C22C 28/00 B H01L 39/12 ZAA H01L 39/12 ZAAC

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 組成式が、Ax(B1-yy2(0.8<x
    <1.2、0<y<1、A=Ca、Sr、Ba、又はこれ
    ら元素の2種以上、B=Al、Ga、In、又はこれら
    元素の2種以上、C=Si、Ge、又はこれら元素の2
    種)で示され、原子Bと原子Cからなるハニカム格子と
    原子Aの六方格子とからなる結晶構造を有し、臨界温度
    が3K以上であることを特徴とするシリコン又はゲルマ
    ニウム化合物超電導物質。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の超電導物質を含有するこ
    とを特徴とする超電導体。
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