JP2002209144A - 画像センサ - Google Patents
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Abstract
させる、またはピクセルサイズを減少させる。 【解決手段】 画像センサは、行と列に配列した複数の
ピクセル、それぞれが光検出器PDを備える同じ行の少
なくとも2つの隣接するピクセル5、隣接するピクセル
5を独立に選択できる行選択機構、および2つの隣接す
るピクセルのための共通の出力信号ノードと出力信号線
を有する。
Description
に関し、より詳細には、より小さいピクセルサイズまた
は増大したピクセルフィル(pixel fill)ファクタのため
の手段を提供する画像検知デバイスに関する。
は、一般的には、個々のベース上のピクセルに割り当て
られた関連する能動回路構成要素を備えた感光手段を含
む。これらの能動回路構成要素は、一般的には、ピクセ
ルリセット機能を実行するための手段、または電荷を移
動するための何らかの手段、電圧変換を実行するための
手段、または増幅に使用される回路構成要素である。A
PSデバイスは、画像の各行が選択され、それから列選
択信号を使用して読み出される方式で操作されてきた
(メモリデバイスのワードとビットの行にそれぞれ類似
する)。開示されてきた従来の技術のデバイスでは、こ
れらの構成要素のすべてが完全に単一のピクセルの境界
内に置かれている。
含めることは、そうでなければ光検出器に使用できた区
域を取ることから、ピクセルのためのフィルファクタ
(ピクセルが占める割合)を減少させる。フィルファク
タの減少は、センサの感度と飽和信号を減少させ、これ
によって、良好な画質を得るための重要な性能パラメー
タであるセンサの写真速度とダイナミックレンジに順に
悪影響が及ぶ。さらに、これらの能動回路構成要素をピ
クセル内に含めることによって、ピクセルの最小サイズ
に制限が置かれ、これは画像センサのサイズと費用に悪
影響を及ぼす。
スを構築するためには、ピクセル内の行選択トランジス
タと増幅器の他の部分に割り当てられたピクセルの区域
を最小限にするためにサブミクロンレベルのCMOSプ
ロセスを使用することが必要である。本質的に、標準的
な電荷結合素子(CCD)センサと比較して同一の解像
度と感度のAPSデバイスを実現するには、技術的によ
り進んだ、よりコストのかかるプロセスが取られる。し
かし、APSデバイスは、CCDセンサと比較して、単
一の電源操作、低消費電力、x−yアドレス指定能力、
画像ウインドー処理、および信号処理回路を効率よくオ
ンチップ集積できる機能の利点を有する。
える画像センサを提供する一つの取り組み方法は、元の
ピクセル設計の望ましい特徴と機能性を維持しながら、
完全に単一のピクセル内に必要とされる構成要素と相互
接続の数を減らすことによって、APSデバイスのフィ
ルファクタと感度を改善することである。Guidas
hによる米国特許出願番号第08/808,444号
は、この必要性を満たす手段を開示する。この事例で
は、浮動拡散、共通ドレイン増幅器、行選択トランジス
タ、リセットトランジスタが二つの行の隣接する光検出
器とトランスファゲートとの間で共有されていた。この
事例は、改善したフィルファクタを備えたピクセルを提
供するが、外部の機械シャッタを使用せずにグローバル
電子シャッタを実行する可能性を消滅させた。
と、ピクセルフィルファクタを増大させ、および/また
はピクセルサイズを減少させ、同時にグローバルシャッ
タを実現させる方法および装置については、先行技術に
は不足するものがあることは容易に明らかである。
列状に配列された複数のピクセルと、(b)光検出器を
それぞれ有し、同一の行内でに隣接する少なくとも二つ
のピクセルと、(c)隣接するピクセルを独立に選択で
きる行選択機構と、(d)二つの隣接するピクセルのた
めの共通の出力信号ノードとを備える。
技術を理解することが有益である。これに関して、いく
つかの典型的な先行技術のアクティブピクセルセンサ
(APS)およびパッシブピクセルセンサ(PPS)の
ピクセルが図1、図2および図3に示される。図1のA
PSピクセルは、フォトダイオードまたはフォトゲート
のいずれかでありうる光検出器(PD)、トランスファ
ゲート(TG)、浮動拡散(FD:フローティング・デ
ィフュージョン)、リセットゲート(RG)を備えたリ
セットトランジスタ、行選択ゲート(RSEL)を備え
た行選択トランジスタ、および信号トランジスタ(SI
G)を含む。図2のAPSピクセルは、通常はフォトダ
イオード(P)である光検出器(PD)、リセットゲー
ト(RG)を備えたリセットトランジスタ、行選択ゲー
ト(RSEL)を備えた行選択トランジスタ、および信
号トランジスタ(SIG)を含む。図3のPPSピクセ
ルは、通常はフォトダイオード(P)である光検出器
(PD)、および行選択ゲート(RSEL)を備えた行
選択トランジスタを含む。上述のAPSおよびPPSの
ピクセルの操作は当該技術分野では周知であり、本願明
細書では詳述しない。各事例において、これらの構成要
素のすべてを単一のピクセル内に含めることによって、
ピクセルのフィルファクタ、感度、および最小サイズは
減少する。
段は、行順次(row at a time)読み出し動作を利用し、
各ピクセルの代わりに2つの隣接する行ピクセルに浮動
拡散及び増幅器を提供することである。この手段は、G
uidashによる米国特許出願番号第08/808,
444号に開示された。一時に1つの行だけが読み出さ
れるので、単一の浮動拡散、リセットトランジスタ、行
選択トランジスタ、および共通ドレイン増幅器が、離れ
た行にある2つの隣接するピクセルに使用できる。しか
し、米国特許出願番号第08/808,444号の開示
内容は、機械シャッタを使用せずにグローバル電子シャ
ッタを実行して、センサの読み出し中の入射照明を妨ぐ
ことはできない。
の概略図が図4、図5および図6に示される。一般的
に、本実施例は、ピクセル出力ノードと出力信号線を少
なくとも2つの行が隣接するピクセル5間で共有する。
1つの行内での画像信号分離は、行ごとに2つの分離行
選択信号線、すなわち行内の1つおきのピクセルに対す
る分離行選択信号線を1つずつと、2列1組ごとに対し
て1:2の列出力信号線デマルチプレクススキームを設
けることによって達成される。
者は、他の方式も可能であり、以下に記載する方式は例
示目的のために選択されていることを理解されたい。当
業者は、2つのピクセル5のみが示されているが、各行
は複数のピクセル5を含み、隣接するピクセル5の操作
はその下に記載されることも理解されたい。図4に示さ
れる4つのトランジスタ(4T)ピクセルについては、
読み出し操作が図8に示されるような次の方式でなされ
る。図4および図8の両方を参照して、まず、RGをパ
ルスにすることによって、浮動拡散(FD)10aおよ
び10bがリセットされる。次に、SR1をパルスにす
ることによって、行選択(RSEL)1(15)が作動
され、浮動拡散(FD)1(10a)のリセットレベル
が列回路20aにより標本化され、保持される。行選択
1(15)が接続しているピクセルすなわち本実施例で
は1つおきのピクセルのすべての電気的活動を行選択1
(15)が命じることは、当業者には明らかである。そ
の後、行選択1(15)が停止され、行選択2(25)
が作動される。SR2をパルスすることによって、浮動
拡散2(10b)のリセットレベルは、列回路20bに
より標本化され、保持される。次に、TGをパルスする
ことによって、集積された信号電荷が、光検出器30か
ら浮動拡散へ転送される。SS1をパルスすることによ
って、行選択2(25)が停止され、行選択1(15)
が作動され、浮動拡散1(10a)の信号レベルが列回
路20aにより標本化され、保持される。SS2をパル
スすることによって、行選択1(15)が停止され、行
選択2(25)が作動され、浮動拡散2(10b)の信
号レベルが列回路20bによって標本化され、保持され
る。その後、列回路20a、20bの標本化され、保持
された信号の読み出しは、同一のピクセル読み出し方式
が次の行で始まる前に行われる。
ッタオペレーションを示す。図4の例は、グローバルシ
ャッタオペレーションも行うことができる。これが図9
に示される。これに関して、読み出しは、センサの各ピ
クセルにおいて、集積された信号電荷を光検出器30
a、30bから浮動拡散10a、10bへ転送すること
によって、同時に始まる。次に、SS1をパルスするこ
とによって、行選択1(15)が作動され、浮動拡散1
(10a)の信号レベルが列回路20aにより標本化
(サンプリング)され、保持される。その後、SS2を
パルスすることによって、行選択1(15)が停止さ
れ、行選択2(25)が作動され、浮動拡散2(10
b)の信号レベルが列回路20bにより標本化され、保
持される。その後、RGをパルスすることによって、読
み出されている行の浮動拡散10a、10bがリセット
される。次に、SR1をパルスすることによって、行選
択2(25)が停止され、行選択1(15)が作動さ
れ、浮動拡散1(10a)のリセットレベルが列回路2
0aにより標本化され、保持される。その後、SR2を
パルスすることによって、行選択1(15)が停止さ
れ、行選択2(25)が作動され、浮動拡散2(10
b)のリセットレベルが標本化され、保持される。列回
路20a、20bの標本化され、保持された信号の読み
出しは、同一のピクセル読み出し方式が画像センサの次
の行で始まる前に行われる。
は、図10のタイミング図に示される。所望の集積時間
の終わりには、SS1をパルスすることによって、行選
択1(15)が作動され、光検出器2(30b)の信号
レベルが列回路20aにより標本化され、保持される。
次に、SS2をパルスすることによって、行選択1(1
5)が停止され、行選択2(25)が作動され、光検出
器2(30b)の信号レベルが列回路20bにより標本
化され、保持される。次に、RGをパルスにすることに
よって、読み出されている行のすべての光検出器30
a、30bは、リセットされる。行選択2(25)を停
止し、行選択1(15)を作動させ、SR1をパルスに
することによって、光検出器1(30a)のリセットレ
ベルは、列回路20aにより標本化され、保持される。
次に、行選択1(15)を停止し、行選択2(25)を
作動させ、SR2をパルスすることによって、光検出器
2(30b)のリセットレベルは、列回路20aにより
標本化され、保持される。列回路20a、20bにより
標本化され、保持された信号の読み出しは、同一のピク
セル読み出し方式が画像センサの次の行で始まる前に行
われる。
は、図11のタイミング図に示される。所望の集積時間
の終わりには、SS1(図示せず)をパルスにすること
によって、行選択1(15)が作動され、光検出器1
(30a)の信号レベルが列回路(図示せず)により標
本化され、保持される。次に、SS2(図示せず)をパ
ルスにすることによって、行選択1(15)が停止さ
れ、行選択2(25)が作動され、光検出器2(30
b)の信号レベルが列回路(図示せず)により標本化さ
れ、保持される。標本化され、保持された信号の読み出
しは、同一のピクセル読み出し方式が画像センサの次の
行で始まる前に行われる。
力ノードと出力信号線のこの同一の概念は、読み出しの
ための特定の行を能動的に選択することによって列出力
信号線に一時読み出しがなされる特定のピクセル設計で
あればどれにでも適用できる。この操作は、概念的に
は、行ごとの列インタレース・サンプルホールド・オペ
レーションとして説明できる。この概念を使用した他の
例が図7に提供される。この事例では、ピクセル選択機
構は、Guidashによる1999年9月7日付で発
行された米国特許番号第5,949,061号に記載さ
れているような切替可能(スイッチ付き)電源行選択
(switched supply row select)である。この事例で
は、2つの切替可能電源信号線が各行について提供され
ている。1つの選択信号線が行のすべての奇数のピクセ
ルに適用され、1つの選択信号線が行のすべての偶数の
ピクセルに適用される。
線が少なくとも2つの隣接するピクセル間で共有される
ので、高いフィルファクタ、または従来の技術に比較し
てより小さいピクセルを提供する。このことの利点は、
図12及び13を検討することによって判明できる。図
12は、従来の技術の2つの行が隣接するピクセル間の
領域を示す。図13は、本実施例のピクセル構成を使用
して、同一の領域を示す。出力ノードと列信号線を共有
することによって省かれる一次元での区域は、次の式
(1)によって与えられ、ここで、Wcは最小のコンタ
クトサイズ、ENC1は活性領域によるコンタクトの最
小のエンクロージャ(囲み範囲)、およびISOは最小
の活性領域スペースである。
μmCMOSプロセスでは、この区域は約1.8μmで
あり、0.35μmCMOSプロセスについては、この
区域は約1.4μmである。さらに、この新アーキテク
チャは、アレイ内の隣接する金属線間の距離が増大して
いるので、より少ない列出力信号線を提供し、それゆえ
にピクセルのより大きな有効開口を作り出す。行ごとの
1つの余分の金属線が、行ごとの第2の行選択信号線を
提供するために必要であるが、2つの選択信号線が異な
った金属レベルの互いの上部に渡って通ることができる
ので、別々の出力ノード領域と出力信号線によって占め
られる区域よりもずっと少ない区域を取る。1つの余分
のタイミングと制御信号が必要であり、列ごとの2つの
追加のトランジスタが必要である。しかし、これらは画
像アレイの外にあるCMOSロジックに組み込まれてい
るので、ピクセルまたは画像アレイ区域には強い影響を
与えない。このアーキテクチャでは、行内の奇数および
偶数のピクセルの画像キャプチャの一時的置換(転位)
も行う。しかし、その時間は非常に短く、(特に行から
行への一時的な置換に比較して)、およそ数百ナノセカ
ンドのレベルであり、いかなる画像捕獲アーティファク
トも作り出さない。余分の一連のサンプル・ホールド
(SHRおよびSHSストローブ)があるので、最小ラ
イン時間は、この新しいアーキテクチャにとってはわず
かにより長く、それによって、ビデオアプリケーション
のための最大フレームレートは、斬進的に減少する。
である。
である。
である。
を示す図である。
を示す図である。
を示す図である。
を示す図である。
である。
である。
2、15 行選択1、20a 列回路、20b 列回
路、25 行選択2、30a 光検出器1、30b 光
検出器2、APS アクティブピクセルセンサ、PPS
パッシブピクセルセンサ、PD 光検出器、TG ト
ランスファゲート、FD 浮動拡散、RGリセットゲー
ト、SIG 信号トランジスタ、P フォトダイオー
ド、RSEL 行選択ゲート。
Claims (3)
- 【請求項1】 画像センサであって、 (a)行列状に配列した複数のピクセルと、 (b)光検出器をそれぞれ有し、同じ行内で隣接する少
なくとも2つのピクセルと、 (c)前記隣接するピクセルを独立に選択できる行選択
機構と、 (d)前記2つの隣接するピクセルのための共通の出力
信号ノードと、 を備えることを特徴とする画像センサ。 - 【請求項2】 請求項1に記載の画像センサであって、 前記行選択機構が、同じ行のピクセルを切り替えるため
に接続された2つの選択信号線を備えたMOSトランジ
スタであることを特徴とする画像センサ。 - 【請求項3】 請求項1に記載の画像センサであって、 前記行選択機構が、同じ行のピクセルを切り替えるため
に接続された2つの選択信号線を備えた切替可能電源で
あることを特徴とする画像センサ。
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US09/731,372 | 2000-12-06 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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EP (1) | EP1215888A3 (ja) |
JP (1) | JP4638097B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100460773B1 (ko) * | 2002-10-14 | 2004-12-09 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 필팩터가 향상된 이미지센서 및 그 구동방법 |
KR101046817B1 (ko) * | 2003-12-29 | 2011-07-06 | 크로스텍 캐피탈, 엘엘씨 | 센싱 감도를 개선하기 위한 이미지 센서 및 그 구동 방법 |
Families Citing this family (47)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7387253B1 (en) | 1996-09-03 | 2008-06-17 | Hand Held Products, Inc. | Optical reader system comprising local host processor and optical reader |
US7270273B2 (en) * | 2001-01-22 | 2007-09-18 | Hand Held Products, Inc. | Optical reader having partial frame operating mode |
US7268924B2 (en) | 2001-01-22 | 2007-09-11 | Hand Held Products, Inc. | Optical reader having reduced parameter determination delay |
ATE335246T1 (de) * | 2001-01-22 | 2006-08-15 | Hand Held Prod Inc | Optischer leser mit teilbild-ausschnitt-funktion |
US7331523B2 (en) | 2001-07-13 | 2008-02-19 | Hand Held Products, Inc. | Adaptive optical image reader |
JP4681774B2 (ja) * | 2001-08-30 | 2011-05-11 | キヤノン株式会社 | 撮像素子、その撮像素子を用いた撮像装置、及びその撮像装置を用いた撮像システム |
US7489352B2 (en) * | 2002-11-15 | 2009-02-10 | Micron Technology, Inc. | Wide dynamic range pinned photodiode active pixel sensor (APS) |
CN100362854C (zh) | 2003-02-13 | 2008-01-16 | 松下电器产业株式会社 | 固体摄像装置、其驱动方法及使用它的照相机 |
US7332786B2 (en) * | 2003-11-26 | 2008-02-19 | Micron Technology, Inc. | Anti-blooming storage pixel |
US7542085B2 (en) * | 2003-11-26 | 2009-06-02 | Aptina Imaging Corporation | Image sensor with a capacitive storage node linked to transfer gate |
US20050128327A1 (en) * | 2003-12-10 | 2005-06-16 | Bencuya Selim S. | Device and method for image sensing |
JP2006093263A (ja) * | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Seiko Epson Corp | 固体撮像装置及びその駆動方法 |
WO2006098954A2 (en) | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Hand Held Products, Inc. | Digital picture taking optical reader having hybrid monochrome and color image sensor array |
US7568628B2 (en) * | 2005-03-11 | 2009-08-04 | Hand Held Products, Inc. | Bar code reading device with global electronic shutter control |
US7780089B2 (en) | 2005-06-03 | 2010-08-24 | Hand Held Products, Inc. | Digital picture taking optical reader having hybrid monochrome and color image sensor array |
EP1856653B1 (en) | 2005-03-11 | 2015-07-29 | Hand Held Products, Inc. | Bar code reading device with global electronic shutter control |
US7611060B2 (en) * | 2005-03-11 | 2009-11-03 | Hand Held Products, Inc. | System and method to automatically focus an image reader |
US20060255381A1 (en) * | 2005-05-10 | 2006-11-16 | Micron Technology, Inc. | Pixel with gate contacts over active region and method of forming same |
US7446357B2 (en) * | 2005-05-11 | 2008-11-04 | Micron Technology, Inc. | Split trunk pixel layout |
US7830437B2 (en) * | 2005-05-11 | 2010-11-09 | Aptina Imaging Corp. | High fill factor multi-way shared pixel |
US7770799B2 (en) | 2005-06-03 | 2010-08-10 | Hand Held Products, Inc. | Optical reader having reduced specular reflection read failures |
US7728896B2 (en) * | 2005-07-12 | 2010-06-01 | Micron Technology, Inc. | Dual conversion gain gate and capacitor and HDR combination |
US7468532B2 (en) * | 2005-07-12 | 2008-12-23 | Aptina Imaging Corporation | Method and apparatus providing capacitor on an electrode of an imager photosensor |
US7432540B2 (en) * | 2005-08-01 | 2008-10-07 | Micron Technology, Inc. | Dual conversion gain gate and capacitor combination |
US20070035649A1 (en) * | 2005-08-10 | 2007-02-15 | Micron Technology, Inc. | Image pixel reset through dual conversion gain gate |
US7511323B2 (en) * | 2005-08-11 | 2009-03-31 | Aptina Imaging Corporation | Pixel cells in a honeycomb arrangement |
US20070040922A1 (en) * | 2005-08-22 | 2007-02-22 | Micron Technology, Inc. | HDR/AB on multi-way shared pixels |
US7804117B2 (en) * | 2005-08-24 | 2010-09-28 | Aptina Imaging Corporation | Capacitor over red pixel |
US7800146B2 (en) * | 2005-08-26 | 2010-09-21 | Aptina Imaging Corporation | Implanted isolation region for imager pixels |
US7244918B2 (en) * | 2005-08-30 | 2007-07-17 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus providing a two-way shared storage gate on a four-way shared pixel |
US7714917B2 (en) * | 2005-08-30 | 2010-05-11 | Aptina Imaging Corporation | Method and apparatus providing a two-way shared storage gate on a four-way shared pixel |
US7679041B2 (en) * | 2006-02-13 | 2010-03-16 | Ge Inspection Technologies, Lp | Electronic imaging device with photosensor arrays |
US7608873B2 (en) * | 2006-04-27 | 2009-10-27 | Aptina Imaging Corporation | Buried-gated photodiode device and method for configuring and operating same |
JP2008011298A (ja) * | 2006-06-30 | 2008-01-17 | Fujitsu Ltd | 固体撮像装置及びその制御方法 |
US8026966B2 (en) | 2006-08-29 | 2011-09-27 | Micron Technology, Inc. | Method, apparatus and system providing a storage gate pixel with high dynamic range |
US7852519B2 (en) | 2007-02-05 | 2010-12-14 | Hand Held Products, Inc. | Dual-tasking decoder for improved symbol reading |
US20090272881A1 (en) * | 2008-05-05 | 2009-11-05 | Xiangli Li | Apparatus, method, and system providing pixel having increased fill factor |
US8031247B2 (en) * | 2008-08-20 | 2011-10-04 | Aptina Imaging Corporation | Method and apparatus providing an imager with a shared power supply and readout line for pixels |
US8628015B2 (en) | 2008-10-31 | 2014-01-14 | Hand Held Products, Inc. | Indicia reading terminal including frame quality evaluation processing |
US20100316291A1 (en) * | 2009-06-11 | 2010-12-16 | Shulan Deng | Imaging terminal having data compression |
US8587595B2 (en) | 2009-10-01 | 2013-11-19 | Hand Held Products, Inc. | Low power multi-core decoder system and method |
JP5709404B2 (ja) * | 2010-05-10 | 2015-04-30 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法 |
KR101728713B1 (ko) * | 2010-10-08 | 2017-04-21 | (주) 지안 | 넓은 동적범위를 갖는 씨모스 이미지 센서 및 이미지 센싱 방법 |
US8629926B2 (en) | 2011-11-04 | 2014-01-14 | Honeywell International, Inc. | Imaging apparatus comprising image sensor array having shared global shutter circuitry |
DE102015003134B4 (de) * | 2014-04-01 | 2017-04-06 | Viimagic Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Global-Shutter Pixel und Korrekturverfahren |
US9526468B2 (en) | 2014-09-09 | 2016-12-27 | General Electric Company | Multiple frame acquisition for exposure control in X-ray medical imagers |
US10165213B2 (en) * | 2015-11-16 | 2018-12-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Image sensor including pixel circuits |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9505305D0 (en) * | 1995-03-16 | 1995-05-03 | Philips Electronics Uk Ltd | Electronic devices comprising an array |
JP2000512804A (ja) * | 1996-05-08 | 2000-09-26 | 1294339 オンタリオ インコーポレーテッド | 放射線画像用高精細度フラット・パネル |
US5949061A (en) | 1997-02-27 | 1999-09-07 | Eastman Kodak Company | Active pixel sensor with switched supply row select |
US6160281A (en) * | 1997-02-28 | 2000-12-12 | Eastman Kodak Company | Active pixel sensor with inter-pixel function sharing |
US6246042B1 (en) * | 1998-01-08 | 2001-06-12 | Intel Corporation | Layout of active pixels having shared signal lines |
US6977684B1 (en) * | 1998-04-30 | 2005-12-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Arrangement of circuits in pixels, each circuit shared by a plurality of pixels, in image sensing apparatus |
-
2000
- 2000-12-06 US US09/731,372 patent/US6552323B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-11-22 EP EP01204461A patent/EP1215888A3/en not_active Withdrawn
- 2001-11-30 JP JP2001366817A patent/JP4638097B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100460773B1 (ko) * | 2002-10-14 | 2004-12-09 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 필팩터가 향상된 이미지센서 및 그 구동방법 |
KR101046817B1 (ko) * | 2003-12-29 | 2011-07-06 | 크로스텍 캐피탈, 엘엘씨 | 센싱 감도를 개선하기 위한 이미지 센서 및 그 구동 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US20020066849A1 (en) | 2002-06-06 |
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