JP2002197447A - 画像読み取り装置および画像読み取り方法 - Google Patents

画像読み取り装置および画像読み取り方法

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JP2002197447A JP2000391950A JP2000391950A JP2002197447A JP 2002197447 A JP2002197447 A JP 2002197447A JP 2000391950 A JP2000391950 A JP 2000391950A JP 2000391950 A JP2000391950 A JP 2000391950A JP 2002197447 A JP2002197447 A JP 2002197447A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 画像読み取り時間を短縮するとともに画質の
均一な画像を得ることができる画像読み取り装置および
画像読み取り方法を提供すること。 【解決手段】 複数の画素を一列に配置したラインセン
サ14によって撮像対象物の電子部品Pa,Pb,Pc
を撮像する際に、各電子部品について設定された画像取
込領域Aa,Ab,Acに基づいて画像信号を出力すべ
き画素を特定する画素選択情報を生成し、この画素選択
情報に基づいて電子部品を保持した移載ヘッド8のライ
ンセンサ14に対するスキャン速度Vを設定することに
より、画像読み取りの効率を向上させることができ、さ
らには設定されたスキャン速度Vに応じて、出力された
画像信号を補正するゲインGの値を補正する。これによ
り、画素の露光時間の過不足に起因する画質の変化を補
正した画像を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ラインセンサによ
って撮像対象の画像を読み取る画像読み取り装置および
画像読み取り方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品実装装置などにおいて電子部品
の位置認識を画像処理により行うための撮像手段とし
て、ラインセンサが知られている。このラインセンサは
受光量に応じた電荷を蓄える光電変換素子を備えた画素
を列状に配列したものである。ラインセンサ上に光学系
により撮像対象物の光学画像を結像させると、各画素に
は対象物の光学画像に対応する電荷が蓄えられる。そし
て各画素の電荷を電気信号として順次出力させることに
より、画素の配列方向、すなわち主走査方向の1次元画
像データを得ることができる。そして電子部品を主走査
方向と直交する副走査方法に相対移動させて得られた複
数の1次元画像データを並列させることにより、所望の
2次元画像データを求めるものである。
【0003】このラインセンサとして、従来より用いら
れているCCDラインセンサに替えて、CMOS型のラ
インセンサが用いられるようになっている。このCMO
S型のラインセンサでは、主走査方向に配列された画素
のうちの任意に設定された特定画素からのみ画像信号を
出力させることができることから、撮像視野中の画像取
込領域に対応した画素からのみ画像信号を出力させるこ
とができ、画像読み取り時間を短縮することができると
いう利点がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記CMO
S型のラインセンサで撮像を行う場合には、撮像方法の
特性に起因して以下のような問題点があった。前述のよ
うに、CMOS型のラインセンサでは、画像取込領域に
対応した画素からのみ画像信号が出力されることから、
画像取込領域の主走査方向のサイズが異なれば画像信号
を出力させるのに要する時間が異なる。このため画像読
み取りを効率よく行うためには、副走査方向の走査イン
ターバルを主走査方向のサイズに応じて変更して、でき
るだけ間断なく画像信号を出力させることが望ましい。
【0005】しかしながら、副走査方向の走査インター
バルを変更すると、ラインセンサを構成する画素が露光
される時間に長短が生じる。そしてこの露光時間のばら
つきにより、同一画像内での明度の基準が定まらず画質
の均一な画像が得られない。このように任意読み出し型
のラインセンサを用いた従来の画像読み取り装置には、
効率のよい画像読みとりを行おうとすれば画質の均一な
画像を得ることができないという問題点があった。
【0006】そこで本発明は、画像読み取り時間を短縮
するとともに画質の均一な画像を得ることができる画像
読み取り装置および画像読み取り方法を提供することを
目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の画像読み
取り装置は、複数の画素を一列に配置したカメラを撮像
対象物に対して画素の配列方向と交差する一方向に相対
的に移動させながら撮像対象の光学画像を読み取る画像
読み取り装置であって、前記撮像対象物に対して光を照
射する照明装置と、この撮像対象物をカメラに対して相
対的に移動させる相対移動機構と、前記複数の画素に個
別にアクセスして画像信号を出力させる画素選択部と、
画像信号を出力すべき画素を特定するために必要な情報
を含んだ画素選択情報を提供する画素選択情報提供手段
と、前記画素選択部を画素選択情報に基づいて制御する
ことにより所望の画素から画像信号を出力させる制御部
と、前記カメラによって撮像対象物を撮像する際の相対
移動速度を前記画素選択情報に基づいて設定する移動速
度設定部と、この移動速度設定部で設定された移動速度
に基づいて前記相対移動機構を駆動して撮像対象物をカ
メラに対して前記一方向へ相対的に移動させる駆動制御
部とを備えた。
【0008】請求項2記載の画像読み取り装置は、請求
項1記載の画像読み取り装置であって、前記画素選択情
報は、少なくとも画素数を含む。
【0009】請求項3記載の画像読み取り装置は、請求
項1記載の画像読み取り装置であって、前記画素選択情
報は、前記画素の配列方向における画像取込領域のサイ
ズを特定可能な情報である。
【0010】請求項4記載の画像読み取り装置は、請求
項1記載の画像読み取り装置であって、前記相対移動速
度に応じて前記カメラから出力される画像信号を補正す
る補正手段を備えた。
【0011】請求項5記載の画像読み取り装置は、請求
項4記載の画像読み取り装置であって、前記補正手段
は、少なくともゲインを補正することにより画像信号を
補正する。
【0012】請求項6記載の画像読み取り装置は、請求
項1記載の画像読み取り装置であって、前記相対移動速
度に応じて前記照明装置の明るさを補正する明るさ補正
手段を備えた。
【0013】請求項7記載の画像読み取り方法は、複数
の画素を一列に配置したカメラを撮像対象物に対して画
素の配列方向と交差する一方向に相対的に移動させなが
ら撮像対象の光学画像を複数の画素に結像させ、前記複
数の画素のうち画素選択情報で特定された画素から画像
信号を出力する画像読み取り方法であって、前記画素選
択情報に基づいて前記一方向への相対移動速度を設定す
る。
【0014】請求項8記載の画像読み取り方法は、請求
項7記載の画像読み取り方法であって、前記画素選択情
報は、少なくとも画素数を含む。
【0015】請求項9記載の画像読み取り方法は、請求
項7記載の画像読み取り方法であって、前記画素選択情
報は、前記画素の配列方向における画像取込領域のサイ
ズを特定可能な情報である。
【0016】請求項10記載の画像読み取り方法は、請
求項7記載の画像読み取り方法であって、前記画素選択
情報によって特定される画素数が増えると前記相対速度
を低速にし、画素数が少なくなると高速にする。
【0017】請求項11記載の画像読み取り方法は、請
求項7記載の画像読み取り方法であって、前記相対移動
速度に応じて前記カメラから出力される画像信号を補正
する。
【0018】請求項12記載の画像読み取り方法は、請
求項11記載の画像読み取り方法であって、前記補正に
おいて、少なくともゲインを補正することにより画像信
号を補正する。
【0019】請求項13記載の画像読み取り方法は、請
求項7記載の画像読み取り方法であって、前記相対移動
速度の変更による画素の露光時間の過不足に起因する画
質の変化を少なくするために前記カメラから出力される
画像信号を補正する。
【0020】請求項14記載の画像読み取り方法は、請
求項7記載の画像読み取り方法であって、前記相対移動
速度に応じて撮像対象物を照明する照明装置の明るさを
補正する。
【0021】請求項15記載の画像読み取り方法は、請
求項14記載の画像読み取り方法であって、前記相対移
動速度の変更による画素の露光時間の過不足に起因する
画質の変化を少なくするために前記照明装置の明るさを
補正する。
【0022】本発明によれば、複数の画素を一列に配置
したカメラによって撮像対象物を撮像する際に、画像信
号を出力すべき画素を特定する画素選択情報に基づいて
撮像対象物のカメラに対する相対移動速度を設定するこ
とにより、画像読みとりの効率を向上させることがで
き、さらには設定された相対移動速度に応じて、出力さ
れた画像信号を補正、または照明装置の明るさを補正す
ることにより、画素の露光時間の過不足に起因する画質
の変化を補正した画像を得ることができる。
【0023】
【発明の実施の形態】(実施の形態1)図1は本発明の
実施の形態1の画像読み取り装置が組み込まれた電子部
品実装装置の斜視図、図2は本発明の実施の形態1の画
像読み取り装置の構成を示すブロック図、図3は本発明
の実施の形態1の画像読み取り装置のラインセンサの構
成図、図4は本発明の実施の形態1の画像読み取り装置
のラインセンサを構成する画素の構成図、図5は本発明
の実施の形態1の画像読み取り装置のラインセンサの機
能を説明するタイムチャート、図6は本発明の実施の形
態1の画像読み取り方法における選択画素数とスキャン
速度との関係を示すグラフ、図7は本発明の実施の形態
1の画像読み取り方法におけるスキャン速度とゲインと
の関係を示すグラフ、図8は本発明の実施の形態1の画
像読み取り方法のフロー図、図9は本発明の実施の形態
1の画像読み取り装置の画像取込領域とスキャン速度、
ゲインとの関係を示す図である。
【0024】まず図1を参照して電子部品実装装置につ
いて説明する。図1において、基台1の中央部にはX方
向に搬送路2が配設されている。搬送路2は基板3を搬
送し位置決めする。搬送路2の両側には電子部品を供給
する部品供給部4が配設され、それぞれの部品供給部4
には多数個のテープフィーダ5が並設されている。テー
プフィーダ5はテープに保持された電子部品を収納し、
このテープをピッチ送りすることによりピックアップ位
置に電子部品を供給する。
【0025】基台1上面の両側端部には2基のY軸テー
ブル6A,6Bが並行に配設されており、Y軸テーブル
6A,6Bには移載ヘッド8が装着されたX軸テーブル
7が架設されている。移載ヘッド8は、下端部に電子部
品を吸着する複数の吸着ノズル8a(図2)を備えてい
る。Y軸テーブル6A,6BおよびX軸テーブル7を駆
動することにより、移載ヘッド8は水平移動し、テープ
フィーダ5のピックアップ位置から電子部品をピックア
ップし基板3上へ移送搭載する。
【0026】搬送路2と部品供給部4の間の移載ヘッド
8の移動経路には、電子部品の画像を読み取るカメラ9
が配置されている。カメラ9は後述するように、光電変
換素子を備えた複数の画素をY方向に直列に配置したラ
インセンサを備えており、図2に示すように、カメラ9
の上方には撮像対象物に対して照明光を照射する照明装
置10が配設されている。移載ヘッド8の吸着ノズル8
aに保持された電子部品Pa,Pb,Pcを個別にカメ
ラ9上に位置させた状態で、照明装置10を点灯して下
方から電子部品Pa,Pb,Pcを照明することによ
り、電子部品Pa,Pb,Pcの光学画像が画素上に結
像される。そしてこの光学画像を電気信号に変換した画
像信号が常時出力される。照明装置10は照明制御部1
1によって制御され、照明制御部11は入出力制御部1
9から出力される照明値に基づいて、照明装置10を点
灯させる。
【0027】図2においてモータ7aはX軸テーブル7
の駆動モータであり、モータ制御部13によって制御さ
れる。すなわち、モータ制御部13は入出力制御部19
を介して伝達される速度指令や位置指令に従ってモータ
7aを制御し、送りねじ7bを回転駆動する。これによ
り、移載ヘッド8はカメラ9に対してX方向に所定の移
動パターンで移動する。
【0028】移載ヘッド8を移動させながらカメラ9に
よって電子部品Pの撮像を行うことにより、カメラ9は
電子部品Pa,Pb,Pcの走査画像を取得する。X軸
テーブル7は、撮像対象物である電子部品Pa,Pb,
Pcのカメラ9のラインセンサに対して、画素の配列方
向(Y方向)と直角に交差する一方向(X方向)に相対
移動させる相対移動機構となっている。そして得られた
走査画像を画像認識することにより電子部品Pa,P
b,Pcの識別や位置検出が行われ、電子部品Pa,P
b,Pcを基板3へ搭載する際にはこの位置検出結果に
基づいて位置ずれが補正される。
【0029】またモータ7aはエンコーダを備えてお
り、エンコーダから出力されるパルス信号をモータ制御
部13が受信することにより、移載ヘッド8の、したが
って移載ヘッド8の吸着ノズル8aに保持された撮像対
象物である電子部品Pa,Pb,Pcのカメラ9に対す
る相対位置が現在位置として検出される。
【0030】図2において、カメラ9はラインセンサ1
4,画素選択回路15、信号補正部16およびカメラ制
御部17より構成される。ラインセンサ14は、Y方向
に直列に配列された複数の画素14aを備えている。図
3に示すように、ラインセンサ14は、サンプルホール
ド部23、第1シフトゲート24、光電変換部25、第
2シフトゲート26、リセットドレイン27より構成さ
れている。図4は、ラインセンサ14を構成する画素1
4aのうちの1つを示すものであり、画素14aは、光
電変換部25の光電変換素子25a、第1及び第2シフ
トゲートのゲート素子24a,26a、サンプルホール
ド部23の蓄電素子23aより構成される。そして、各
蓄電素子23aは、画素選択回路15と接続されてい
る。
【0031】ラインセンサ14上に光学画像を結像させ
ることにより、光電変換部25の光電変換素子25aが
露光して電荷を蓄積する。第1シフトゲート24にカメ
ラ制御部17から制御信号Bが伝達されることにより、
光電変換素子25aの電荷はゲート素子24aを介して
サンプルホールド部23の蓄電素子23aに転送され
る。転送された電荷は、電荷の量に対応する電圧値とし
て保持される。新たな電荷が転送される前にサンプルホ
ールド部23に制御信号Cが伝達されることにより、保
持している電圧値はリセットされる。また第2シフトゲ
ートに制御信号Aが伝達されることにより、光電変換部
25の光電変換素子25aの電荷はゲート素子26aを
介してリセットドレイン27に排出される。これによ
り、各光電変換素子25aの電位が初期化される。
【0032】画素選択回路15は、ラインセンサ14の
複数の画素14aの中の1つを選択することにより、選
択した画素14aから画像信号を出力させる。すなわち
サンプルホールド部23の各蓄電素子23aのうち、後
述する画素選択情報に基づいて特定された画素14aか
らのみ、電圧値を画像信号として出力させる。したがっ
て画素選択回路15は複数の画素14aに個別にアクセ
スして画像信号を出力させる画素選択部となっており、
この画素選択動作はカメラ制御部17からの制御信号D
によって画素選択回路15を制御することにより行われ
る。すなわちカメラ制御部17は、前述の画素選択部を
画素選択情報に基づいて制御することにより所望の画素
から画像信号を出力させる制御部となっている。
【0033】上記ラインセンサ14の機能を図5を参照
して説明する。図5は、ラインセンサ14を構成する第
2シフトゲート26、光電変換部25、第1シフトゲー
ト24および画素選択回路15の動作状態をタイミング
チャートで示すものである。
【0034】図5(a),(c),(d),(e)は、
それぞれ制御信号A,B,C,D(図3参照)を示して
いる。制御信号A,Bに現れているステップ信号は、そ
れぞれ第2シフトゲート26、第1シフトゲート24が
開状態となるタイミングを示しており、制御信号Cは、
サンプルホールド部23の電圧値の保持・解除のタイミ
ングを示している。
【0035】また、図5(b)は、光電変換部25の各
光電変換素子25aに蓄えられる電荷量の時間的変化を
示している。すなわち、露光時間に比例して電荷量は増
加する。図5(e)に示す制御信号Dは、画素選択回路
15によってサンプルホールド部23の蓄電素子23a
から画像信号が順次出力されるタイミングを示してお
り、最初のステップ信号から最後のステップ信号までの
時間は、当該選択画素の全てから画像信号を出力させる
のに必要な画像信号出力時間を示している。
【0036】図5(e)に示すように、制御信号Dによ
る1回の画像信号出力が終了すると(矢印(1))、制
御信号C上において保持解除信号が出され、これによ
り、サンプルホールド部23の保持状態が解除される。
この後(矢印(2))、制御信号B上において開信号が
出され、第1シフトゲート24が開状態となる。これに
より、光電変換部25の電荷がサンプルホールド部23
に転送され、そしてこの後(矢印(3))制御信号C上
において保持信号が出され、サンプルホールド部23が
再び保持状態に復帰する。これにより、転送された電荷
は電圧値としてサンプルホールド部23に保持される。
【0037】サンプルホールド部23が保持状態となっ
たならば(矢印(4))、制御信号B上において閉信号
が出され、第1シフトゲート24は再び閉状態となる。
これにより、光電変換部25は再び電荷の蓄積を開始す
る。そしてこの後(矢印(5))、制御信号A上におい
て開信号が出されると、第2シフトゲート26が開状態
になる。これにより、光電変換部25の蓄電状態がリセ
ットされ、第2シフトゲート26が再び閉状態となるタ
イミングから新たな露光時間が開始する。この露光と並
行して(矢印(6))、画素選択回路15は、画素選択
情報に基づいて出力される制御信号Dに従って、サンプ
ルホールド部23の蓄電素子23aに保持された電圧値
を画像信号として順次出力する。
【0038】図2において、ラインセンサ14の各画素
14aから画素選択動作によって出力された画像信号は
信号補正部16に送られ、ここでカメラ制御部17から
出力されるゲインなどのカメラ設定値に基づいて、画質
の補正処理が行われる。このカメラ設定値は、必要に応
じて補正が可能となっており、後述するようにカメラ設
定値補正プログラム22dを実行することにより補正さ
れたカメラ設定値が、カメラ制御部17に伝送されるよ
うになっている。
【0039】カメラ制御部17は、画素選択回路を駆動
するために必要な情報である画素選択情報を入出力制御
部19から受け取り、この画素選択情報に基づいて画素
選択回路15を制御して画素選択情報で選択された画素
14aから画像信号を出力させるとともに、画像の取り
込みが完了したことを示す取込完了信号を出力する。
【0040】信号補正部16による補正処理後の画像信
号は、画像認識部18に対して出力され取り込まれる。
画像認識部18は、カメラ制御部17が発信する取込完
了信号を受信すると、取り込まれた画像信号を部品デー
タに含まれるアルゴリズム番号で指定された認識アルゴ
リズムに従って認識処理する。
【0041】入出力制御部19は、照明制御部11、モ
ータ制御部13、カメラ制御部17、画像認識部18
と、処理・演算部20との間の信号の入出力を制御す
る。処理・演算部20は、以下に説明するデータ記憶部
21に記憶されたデータに基づいて、プログラム記憶部
22に記憶された処理プログラムを実行することによ
り、各種処理・演算を実行する。
【0042】データ記憶部21には、実装データ21a
や部品データ21bを記憶する。実装データ21aは、
部品の実装位置、実装順序やピックアップに用いられる
ノズル種類など、実装作業手順に関するデータである。
部品データ21bは、部品についての種々のデータのデ
ータベースであり、部品の形状・サイズに関するデータ
や、当該部品の認識処理に用いられるアルゴリズムに付
されたアルゴリズム番号、認識パラメータなどを含む。
【0043】またプログラム記憶部22には、取込領域
設定プログラム22a、スキャン速度設定プログラム2
2b、実装運転プログラム22c、カメラ設定値補正プ
ログラム22dが記憶されている。取込領域設定プログ
ラム22aは、部品データ中の部品のサイズや形状によ
り画像取込領域の大きさ等を設定すると共に、この情報
を画素選択情報として出力するプログラムである。すな
わち処理・演算部20は、取込領域設定プログラム22
aを実行することにより、画像信号を出力すべき画素を
特定するために必要な情報を含んだ画素選択情報を提供
する画素選択情報提供手段となっている。
【0044】スキャン速度設定プログラム22bは、画
素選択情報に基づいて移載ヘッド8の移動速度を設定す
るプログラムである。図6に示すように、移載ヘッド8
のカメラ9に対する一方向(X方向)の相対移動速度で
あるスキャン速度Vは、選択画素数N、換言すれば取込
領域の幅によって決定される。すなわちこの例では、選
択画素数N、換言すれば画像を取り込む画像取込領域の
幅方向(Y方向)のサイズを特定することが可能な情報
が画素選択情報となっている。
【0045】そして処理・演算部20は、スキャン速度
設定プログラム22bを実行することにより、カメラ9
によって撮像対象物を撮像する際の相対移動速度を画素
選択情報に基づいて設定する移動速度設定部となってい
る。またモータ制御部13は、この移動速度設定部で設
定された相対移動速度に基づいて相対移動機構を駆動し
て、撮像対象物をカメラ9に対して一方向(X方向)へ
相対的に移動させる駆動制御部となっている。
【0046】本実施の形態に示すラインセンサ14で
は、画素配列方向の走査に要する画像信号出力時間は、
画像出力の対象として選択された画素の数(選択画素数
N)に比例することから、画像取込領域の幅が狭いほど
画素配列方向の1回の走査時間が短い。したがって画像
取込領域の幅が狭く選択画素数Nが少ないほど、画素配
列方向と直角に交差する方向への移動速度であるスキャ
ン速度Vを高速に設定することができる。すなわちスキ
ャン速度Vと選択画素数Nとは反比例関係にあり、積N
V=C(一定値)が成立する。ここで、図6に示す上限
速度V1は、ハードウェア側の能力によって設定される
スキャン速度Vの限界速度である。
【0047】実装運転プログラム22cは、電子部品を
基板へ実装する実装動作のプログラムである。カメラ設
定値補正プログラム22dは、ラインセンサ14から出
力される画像信号の画質の変化を補正するため、ゲイン
などのカメラ設定値を補正する処理を行うプログラムで
ある。処理・演算部20によってこのプログラムを実行
することにより、図7に示すグラフに基づいて補正され
たカメラ設定値が入出力制御部19を介してカメラ制御
部17に出力される。これにより、スキャン速度Vによ
って光電変換部25の露光時間に違いが生じ、これに起
因して画質が変化する場合においても、画質の変化を少
なくする画質補正が可能となっている。
【0048】図7は、信号補正部16における信号補正
に用いられるゲインGと、スキャン速度Vとの関係を示
している。図7から判るように、スキャン速度Vとゲイ
ンGは直線関係にあり、スキャン速度Vが高くなるほど
大きなゲインGが設定されることを示している。これに
より、高スキャン速度で移載ヘッド8が移動することに
より光電変換部25の露光時間が短縮される場合にあっ
ても、信号補正部16に設定されるゲイン値をこのスキ
ャン速度に対応したゲインに設定することにより、画質
の変化を少なくすることが可能となっている。G1,G
2は、設定可能なゲインの最大値および最小値を示して
いる。すなわち信号補正部16は、カメラ9によって撮
像対象物を撮像する際の相対移動速度に応じてカメラ9
のラインセンサ14から出力される画像信号を補正する
補正手段となっている。そして、この補正手段は、少な
くともゲインを補正することにより画像信号を補正する
形態となっている。
【0049】この電子部品実装装置は上記のように構成
されており、以下電子部品実装方法について図8のフロ
ー図に沿って各図を参照しながら説明する。まず図8に
おいて、実装データ21a・部品データ21bがデータ
記憶部21から処理・演算部20に読み取られる(ST
1)。これにより実装動作が開始され、図1に示す移載
ヘッド8は、部品供給部4から電子部品をピックアップ
する(ST2)。ここでは、図9に示す3個の異なる種
類の電子部品Pa,Pb,Pcが3つの吸着ノズル8a
によってピックアップされる。そして移載ヘッド8はカ
メラ9の上方の画像読み取り開始位置へ移動する(ST
3)。
【0050】この移載ヘッド8による動作と同時並行的
に、以下の処理が行われる。まず読み取られた実装デー
タ・部品データに基づいて、取込領域設定処理が行われ
る(ST4)。ここでは、取込領域設定プログラム22
aを処理・演算部20で実行することにより、図9に示
すように移載ヘッド8によって保持された状態の各電子
部品Pa,Pb,Pcを対象として、画像取込領域A
a,Ab,Acが設定される。
【0051】図9の各画像取込領域に付記されたY方向
の数値Y1〜Y6は、ラインセンサ14の画素配列(Y
0〜Ye)における画素数に基づく数値であり、画像読
み取りにおける画像取込領域の幅、すなわち画像信号の
出力対象として選択される画素の範囲を示している。例
えば、電子部品Paを対象とした画像取込領域Aaの画
像を読み取る際には、ラインセンサ14の画素14a
(Y0〜Ye)のうち、Y1〜Y2の範囲の画素14a
からのみ画像信号を出力させる。
【0052】また各画像取込領域に対応してX軸上に設
定されたX方向の数値X1〜X9は、移載ヘッド8をX
方向に移動させる相対移動機構の機械座標系上の数値
(例えばモータ7aのエンコーダから出力されるパルス
数)で表された数値である。ここで、(X3,X4)、
(X5,X6)、(X7,X8)は、それぞれ画像取込
領域Aa,Ab、Acについての画像信号読み取りの開
始、終了のタイミングを示すものである。また、数値X
1,X2,X9は、移載ヘッド8のスキャン動作におけ
る加減速タイミングを示している。
【0053】換言すれば図9のX軸上に示すX方向の各
数値は、ラインセンサ14と移載ヘッド8とのX方向の
特定の相対位置関係に対応しており、これらの数値によ
ってラインセンサ14が水平移動中の移載ヘッド8とど
のような位置関係にあるか判別することができる。例え
ば、モータ7aのエンコーダからの位置情報(パルス信
号)が、数値X1と一致したならば、移載ヘッド8が所
定のスキャン速度を実現するために設定された減速位置
に到達したことを示している。X2は減速が完了して所
定のスキャン速度となる速度設定位置に対応した数値で
ある。
【0054】すなわち、処理・演算部20にてモータ制
御部13を介してモータ7aのエンコーダから送られる
位置情報を監視し、この位置情報が上述の各数値に一致
したならば、それぞれの数値に対応した特定の相対位置
関係が実現されたことが検出される。そしてこの検出結
果に応じて、各種の動作制御、例えば移載ヘッド8の動
作制御、ラインセンサ14の画像信号出力対象の選択画
素の更新などが行われる。
【0055】すなわち、部品データ中の部品形状やサイ
ズに基づいて、画像取込領域Aa,Ab,Acのそれぞ
れについて画像取込領域の幅サイズを示すY方向の数値
および画像信号取込開始・終了のタイミングを示すX方
向の数値が設定され、このようにして設定された画像取
込領域に基づいて画像信号の出力対象となる画素を選択
する画素選択情報が生成される。
【0056】次いで、スキャン速度設定処理が行われる
(ST5)。図9に示すように、(ST4)で生成され
た画素選択情報に基づいて、図6に示すグラフにしたが
って電子部品Pa,Pb,Pcについて設定された画像
取込領域Aa,Ab,Acごとに、スキャン速度が設定
される。ここで、画像取込領域Aaの幅サイズに対応す
る選択画素数はaであり、この場合には図6に示すグラ
フより最大スキャン速度に等しいV1が設定される。
【0057】また、画像取込領域Ab,Acの幅サイズ
に対応する選択画素数はそれぞれb,cであり、これら
については図6のグラフ上においてb,cにそれぞれ対
応するスキャン速度Vb,Vcが設定される。すなわ
ち、画素選択情報によって特定される選択画素数Nが増
えるとスキャン速度Vを低速にし、反対に選択画素数N
が少なくなるとスキャン速度Vを高速にする。
【0058】次にこのようにして設定されたスキャン速
度に基づき、図7に示すグラフに基づいて、カメラ設定
値(ゲイン)補正処理が行われる(ST6)。すなわ
ち、画像取込領域Aa,Ab,Acについて設定された
スキャン速度V1,Vb,Vcごとに、ゲインGがそれ
ぞれG1,Gb,Gcに設定される。
【0059】この後、上記(ST4)〜(ST6)の処
理において設定、補正されたスキャン速度、画素選択情
報、カメラ設定値(ゲイン)が出力される(ST7)。
これにより、カメラ9による画像読み取りが可能な状態
となる。そしてこの後画像読み取りが実行される(ST
8)。すなわち、各電子部品電子部品Pa,Pb,Pc
について、それぞれ(V1,G1)、(Vb,Gb)、
(Vc,Gc)のスキャン速度、ゲインの組み合わせに
よって画像読みとりが行われる。
【0060】この画像読み取りにおいては、対象とする
電子部品Pa,Pb,Pcに対応してそれぞれ画像取込
領域Aa,Ab,Acが設定され、これらの画像取込領
域Aa,Ab,Acに応じてスキャン速度V1,Vb,
Vcを設定していることから、無駄時間のない効率的な
画像読み取り処理が行われる。またスキャン速度V1,
Vb,Vcに応じて、カメラ9のラインセンサ14から
出力される画像信号を補正する信号補正部16のゲイン
を補正するようにしているので、スキャン速度Vを変更
することによる画素14aの光電変換部25の露光時間
の過不足に起因する画質の変化を少なくすることがで
き、画像認識処理の品質を安定させることができる。
【0061】画像読み取りが終了したならば、移載ヘッ
ド8は基板3の上方へ移動する(ST9)。これと並行
して、認識処理が行われる(ST10)。すなわちライ
ンセンサ14から出力され信号補正部16で補正処理さ
れた画像信号は、画像認識部18に取り込まれここで認
識処理が行われる。
【0062】次いで、部品搭載が実行される(ST1
1)。すなわち、画像認識部18による電子部品Pa,
Pb,Pcの認識結果に基づき位置ずれを補正した上
で、移載ヘッド8によって基板3上に電子部品Pa,P
b,Pcが搭載される。このとき、認識処理は画質の安
定した画像に基づいて行われていることから、画像認識
精度を安定させて実装精度を向上させることが可能とな
っている。
【0063】(実施の形態2)図10は本発明の実施の
形態2の画像読み取り装置の構成を示すブロック図、図
11は本発明の実施の形態2の画像読み取り方法におけ
るスキャン速度と照明値との関係を示すグラフ、図12
は本発明の実施の形態2の画像読み取り方法のフロー
図、図13は本発明の実施の形態2の画像読み取り装置
の画像取込領域とスキャン速度、照明値との関係を示す
図である。
【0064】図10に示す電子部品実装装置は、実施の
形態1において図2に示す電子部品実装装置と同様の装
置構成を備えている。ここで、同一要素には同一符号を
付して説明を省略する。図10において、プログラム記
憶部22には、実施の形態1と同様に、取込領域設定プ
ログラム22a、スキャン速度設定プログラム22b、
実装運転プログラム22cが記憶されており、本実施の
形態2ではカメラ設定値補正プログラム22dに替え
て、照明値補正プログラム22eが記憶されている。
【0065】照明値補正プログラム22eは、ラインセ
ンサ14から出力される画像信号の画質を均質に保つた
め、照明装置10による照明の明るさがスキャン速度に
応じた明るさとなるよう照明値を補正する処理を行うプ
ログラムであり、照明値補正プログラム22eを処理・
演算部20で実行することにより、照明制御部11が照
明装置10を点灯させる際の照明値が補正される。すな
わち処理・演算部20は、照明値補正プログラム22e
を実行することにより、カメラ9によって撮像対象物を
撮像する際の相対移動速度に応じて照明装置10の明る
さを補正する明るさ補正手段となっている。
【0066】この照明値補正処理により、図11に示す
グラフに基づいて補正された照明値が出力される。これ
により、スキャン速度の差によって光電変換部25の露
光時間の違いが生じ、これに起因して画質が変化する場
合においても、画質の変化を少なくする画質補正が可能
となっている。
【0067】図11は、照明制御部11に対して出力さ
れる照明値Lとスキャン速度Vとの関係を示している。
図11から判るように、スキャン速度Vと照明値Lは直
線関係にあり、スキャン速度Vが高くなるほど大きな照
明値Lが設定されることを示している。これにより、高
スキャン速度で移載ヘッド8が移動することにより露光
時間が短縮される場合にあっても、照明制御部11に対
して出力される照明値をこのスキャン速度に対応した照
明値に設定することにより、画質の変化を少なくするこ
とが可能となっている。L1,L2は、それぞれ設定可
能なゲインの最大値および最大値を示している。
【0068】この電子部品実装装置は上記のように構成
されており、以下電子部品実装方法について図12のフ
ロー図に沿って各図を参照しながら説明する。図12に
おいて、(ST21)〜(ST25)は、実施の形態1
の図8に示す(ST1)〜(ST5)と同様である。す
なわち移載ヘッド8に保持された電子部品Pa,Pb,
Pcについて設定された画像取込領域Aa,Ab,Ac
ごとに、それぞれV1,Vb,Vcのスキャン速度が設
定される。
【0069】次にこのようにして設定されたスキャン速
度に基づき、図11に示すグラフに基づいてそれぞれ照
明値補正処理が行われる(ST26)。すなわち、画像
取込領域Aa,Ab,Acについて、それぞれ照明値が
L1,Lb,Lcに設定される。この後、上記(ST2
4)〜(ST26)の処理において設定され、また補正
されたスキャン速度、画素選択情報、照明値が出力され
る(ST27)。これにより、カメラ9による画像読み
取りが可能な状態となる。
【0070】そしてこの後画像読み取りが実行される
(ST28)。すなわち、各電子部品電子部品Pa,P
b,Pcについて、それぞれ(V1,L1)、(Vb,
Lb)、(Vc,Lc)のスキャン速度、照明値の組み
合わせによって画像読み取りが行われる。そしてこの
後、実施の形態1の(ST9)〜(ST11)と同様
に、認識処理、部品搭載が行われる。
【0071】この画像読み取りにおいては、実施の形態
1と同様に画像取込領域Aa,Ab,Acに応じてスキ
ャン速度V1,Vb,Vcを設定していることから、無
駄時間のない効率的な画像読み取り処理が行われる。ま
たスキャン速度V1,Vb,Vcに応じて撮像時に電子
部品を照明する照明装置の照明値をL1,Lb,Lcに
補正するようにしているので、スキャン速度Vを変更す
ることによる画素14aの光電変換部25の露光時間の
過不足に起因する画質の変化を少なくすることができ
る。すなわちスキャン速度を変更することによる露光時
間の過不足が撮像時の照明光の光量調整によって補わ
れ、光電変換素子に蓄電される電荷量が均一化される。
したがって取得画像の画質のばらつきを少なくして、画
像認識処理品質を安定させることができる。
【0072】なお上記実施の形態1,2では、画像読み
取り装置を電子部品実装装置に組み込んだ例について説
明したが、この画像読み取り装置は電子部品実装装置以
外の組立装置や各種検査機等、画像を読み取る全ての装
置に対して適用可能である。
【0073】
【発明の効果】本発明によれば、複数の画素を一列に配
置したカメラによって撮像対象物を撮像する際に、画像
信号を出力すべき画素を特定する画素選択情報に基づい
て撮像対象物のカメラに対する相対移動速度を設定する
ようにしたので、画像読みとりの効率を向上させること
ができ、さらには設定された相対移動速度に応じて、出
力された画像信号を補正、または照明装置の明るさを補
正するようにしたので、画素の露光時間の過不足に起因
する画質の変化を補正した画像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1の画像読み取り装置が組
み込まれた電子部品実装装置の斜視図
【図2】本発明の実施の形態1の画像読み取り装置の構
成を示すブロック図
【図3】本発明の実施の形態1の画像読み取り装置のラ
インセンサの構成図
【図4】本発明の実施の形態1の画像読み取り装置のラ
インセンサを構成する画素の構成図
【図5】本発明の実施の形態1の画像読み取り装置のラ
インセンサの機能を説明するタイムチャート
【図6】本発明の実施の形態1の画像読み取り方法にお
ける選択画素数とスキャン速度との関係を示すグラフ
【図7】本発明の実施の形態1の画像読み取り方法にお
けるスキャン速度とゲインとの関係を示すグラフ
【図8】本発明の実施の形態1の画像読み取り方法のフ
ロー図
【図9】本発明の実施の形態1の画像読み取り装置の画
像取込領域とスキャン速度、ゲインとの関係を示す図
【図10】本発明の実施の形態2の画像読み取り装置の
構成を示すブロック図
【図11】本発明の実施の形態2の画像読み取り方法に
おけるスキャン速度と照明値との関係を示すグラフ
【図12】本発明の実施の形態2の画像読み取り方法の
フロー図
【図13】本発明の実施の形態2の画像読み取り装置の
画像取込領域とスキャン速度、照明値との関係を示す図
【符号の説明】
7 X軸テーブル 7a モータ 8 移載ヘッド 9 カメラ 10 照明装置 11 照明制御部 13 モータ制御部 14 ラインセンサ 14a 画素 15 画素選択回路 16 信号補正部 17 カメラ制御部 18 画像認識部 20 処理・演算部 22a 取込領域設定プログラム 22b スキャン速度設定プログラム 22d カメラ設定値補正プログラム 22e 照明値補正プログラム
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 13/08 H05K 13/08 P Fターム(参考) 5B047 AA12 AB02 BA01 BB02 BC14 CA05 CA08 CA15 CA19 CB04 DA01 DC09 5E313 AA03 AA15 CC04 DD33 EE02 EE03 EE24 FF31

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の画素を一列に配置したカメラを撮像
    対象物に対して画素の配列方向と交差する一方向に相対
    的に移動させながら撮像対象の光学画像を読み取る画像
    読み取り装置であって、前記撮像対象物に対して光を照
    射する照明装置と、この撮像対象物をカメラに対して相
    対的に移動させる相対移動機構と、前記複数の画素に個
    別にアクセスして画像信号を出力させる画素選択部と、
    画像信号を出力すべき画素を特定するために必要な情報
    を含んだ画素選択情報を提供する画素選択情報提供手段
    と、前記画素選択部を画素選択情報に基づいて制御する
    ことにより所望の画素から画像信号を出力させる制御部
    と、前記カメラによって撮像対象物を撮像する際の相対
    移動速度を前記画素選択情報に基づいて設定する移動速
    度設定部と、この移動速度設定部で設定された移動速度
    に基づいて前記相対移動機構を駆動して撮像対象物をカ
    メラに対して前記一方向へ相対的に移動させる駆動制御
    部とを備えたことを特徴とする画像読み取り装置。
  2. 【請求項2】前記画素選択情報は、少なくとも画素数を
    含むことを特徴とする請求項1記載の画像読み取り装
    置。
  3. 【請求項3】前記画素選択情報は、前記画素の配列方向
    における画像取込領域のサイズを特定可能な情報である
    ことを特徴とする請求項1記載の画像読み取り装置。
  4. 【請求項4】前記相対移動速度に応じて前記カメラから
    出力される画像信号を補正する補正手段を備えたことを
    特徴とする請求項1記載の画像読み取り装置。
  5. 【請求項5】前記補正手段は、少なくともゲインを補正
    することにより画像信号を補正することを特徴とする請
    求項4記載の画像読み取り装置。
  6. 【請求項6】前記相対移動速度に応じて前記照明装置の
    明るさを補正する明るさ補正手段を備えたことを特徴と
    する請求項1記載の画像読み取り装置。
  7. 【請求項7】複数の画素を一列に配置したカメラを撮像
    対象物に対して画素の配列方向と交差する一方向に相対
    的に移動させながら撮像対象の光学画像を複数の画素に
    結像させ、前記複数の画素のうち画素選択情報で特定さ
    れた画素から画像信号を出力する画像読み取り方法であ
    って、前記画素選択情報に基づいて前記一方向への相対
    移動速度を設定することを特徴とする画像読み取り方
    法。
  8. 【請求項8】前記画素選択情報は、少なくとも画素数を
    含むことを特徴とする請求項7記載の画像読み取り方
    法。
  9. 【請求項9】前記画素選択情報は、前記画素の配列方向
    における画像取込領域のサイズを特定可能な情報である
    ことを特徴とする請求項7記載の画像読み取り方法。
  10. 【請求項10】前記画素選択情報によって特定される画
    素数が増えると前記相対速度を低速にし、画素数が少な
    くなると高速にすることを特徴とする請求項7記載の画
    像読み取り方法。
  11. 【請求項11】前記相対移動速度に応じて前記カメラか
    ら出力される画像信号を補正することを特徴とする請求
    項7記載の画像読み取り方法。
  12. 【請求項12】前記補正において、少なくともゲインを
    補正することを特徴とする請求項11記載の画像読み取
    り方法。
  13. 【請求項13】前記相対移動速度の変更による画素の露
    光時間の過不足に起因する画質の変化を少なくするため
    に前記カメラから出力される画像信号を補正することを
    特徴とする請求項11記載の画像読み取り方法。
  14. 【請求項14】前記相対移動速度に応じて撮像対象物を
    照明する照明装置の明るさを補正することを特徴とする
    請求項7記載の画像読み取り装置。
  15. 【請求項15】前記相対移動速度の変更による画素の露
    光時間の過不足に起因する画質の変化を少なくするため
    に前記照明装置の明るさを補正することを特徴とする請
    求項14記載の画像読み取り方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011009665A (ja) * 2009-06-29 2011-01-13 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd 電子部品装着装置

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