JP2002196040A - オートハンドラ及びオートハンドラの制御方法 - Google Patents
オートハンドラ及びオートハンドラの制御方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 オートハンドラに、搬送器５内の測定後の電
子部品２の有無を検知する検知手段を備え、電子部品２
のプッシャ６への付着の有無を判断し、測定ミスや分類
ミスを防止する。 【解決手段】 測定部４Ｃと乾燥室４Ｄの間に、投光器
３Ａと受光器３Ｂからなる検知器３を配置する。測定
後、搬送器５が乾燥室４Ｄに搬送され検知器３を通過す
る際に、投光器３Ａから搬送器５の各電子部品２の収容
位置に投光し、受光器３Ｂで投光した光を検知する。光
が検知されれば、収容位置に電子部品２が無いことにな
り、プッシャ６に電子部品２が付着していると判断し、
オートハンドラを停止させる。
子部品２の有無を検知する検知手段を備え、電子部品２
のプッシャ６への付着の有無を判断し、測定ミスや分類
ミスを防止する。 【解決手段】 測定部４Ｃと乾燥室４Ｄの間に、投光器
３Ａと受光器３Ｂからなる検知器３を配置する。測定
後、搬送器５が乾燥室４Ｄに搬送され検知器３を通過す
る際に、投光器３Ａから搬送器５の各電子部品２の収容
位置に投光し、受光器３Ｂで投光した光を検知する。光
が検知されれば、収容位置に電子部品２が無いことにな
り、プッシャ６に電子部品２が付着していると判断し、
オートハンドラを停止させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の電子部品を
収容する搬送器を測定部に搬送して前記電子部品を測定
するオートハンドラ及びオートハンドラの制御方法に関
する。
収容する搬送器を測定部に搬送して前記電子部品を測定
するオートハンドラ及びオートハンドラの制御方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、組立完了した電子部品を自動
的にテストシステムに供給して電気的特性を測定し、測
定結果に基づいて自動的に分類収納するオートハンドラ
が用いられる。
的にテストシステムに供給して電気的特性を測定し、測
定結果に基づいて自動的に分類収納するオートハンドラ
が用いられる。
【０００３】まず、従来技術によるオ−トハンドラの構
成を説明する。図７はオートハンドラの平面図である。
図７に示すように、オートハンドラ４は、高低温試験機
能を有し、複数の被測定電子部品２を搬送器５に収容し
循環させる。オートハンドラ４は、前記高低温試験機能
として電子部品２を加熱あるいは冷却して設定温度にす
るプレヒート部４Ｂと、設定温度になった前記電子部品
２をソケット７（図９に図示）に押圧して電気的特性を
測定する測定部４Ｃと、測定後の前記電子部品２を常温
に戻し低温試験時の着霜を防止する乾燥室４Ｄとを配置
する。また、測定される電子部品２の供給収容・搬送機
能としては、組立完了した電子部品２を収容するトレイ
を配置するローダ４Ｊと、搬送器５に装備された収容器
１に電子部品２をローダ４Ｊから移送する供給ハンド４
Ｇと、搬送器５を供給する供給部４Ａと、測定結果に基
づいて電子部品２をアンローダ４Ｋに分類収容する収容
ハンド４Ｈと、測定後分類された電子部品２を収納する
アンローダ４Ｋとをもつ。オートハンドラ４は、上記各
部と、各部の動作を制御する制御部（非図示）とを備え
る。
成を説明する。図７はオートハンドラの平面図である。
図７に示すように、オートハンドラ４は、高低温試験機
能を有し、複数の被測定電子部品２を搬送器５に収容し
循環させる。オートハンドラ４は、前記高低温試験機能
として電子部品２を加熱あるいは冷却して設定温度にす
るプレヒート部４Ｂと、設定温度になった前記電子部品
２をソケット７（図９に図示）に押圧して電気的特性を
測定する測定部４Ｃと、測定後の前記電子部品２を常温
に戻し低温試験時の着霜を防止する乾燥室４Ｄとを配置
する。また、測定される電子部品２の供給収容・搬送機
能としては、組立完了した電子部品２を収容するトレイ
を配置するローダ４Ｊと、搬送器５に装備された収容器
１に電子部品２をローダ４Ｊから移送する供給ハンド４
Ｇと、搬送器５を供給する供給部４Ａと、測定結果に基
づいて電子部品２をアンローダ４Ｋに分類収容する収容
ハンド４Ｈと、測定後分類された電子部品２を収納する
アンローダ４Ｋとをもつ。オートハンドラ４は、上記各
部と、各部の動作を制御する制御部（非図示）とを備え
る。
【０００４】図８は、搬送器５の構成図である。図８に
示すように、搬送器５は複数の収容器１を縦横に配列す
る。電子部品２を収容する収容器１は微少遊動自在に搬
送器５に組み込まれる。そして、搬送器５はオートハン
ドラ４内を循環する。図８の例では、搬送器５は収容器
１を６４個配置し、６４個の電子部品２を一括して移送
できる。収容器１は、電子部品２を載置する凹部を有
し、凹部の開口部は傾斜面を形成し電子部品２を容易に
載置する。収容器１の底面には、電子部品２がソケット
７と接触できるように、電子部品２の端子２Ａ（図９に
図示）を逃げる形で貫通穴が設けられている。
示すように、搬送器５は複数の収容器１を縦横に配列す
る。電子部品２を収容する収容器１は微少遊動自在に搬
送器５に組み込まれる。そして、搬送器５はオートハン
ドラ４内を循環する。図８の例では、搬送器５は収容器
１を６４個配置し、６４個の電子部品２を一括して移送
できる。収容器１は、電子部品２を載置する凹部を有
し、凹部の開口部は傾斜面を形成し電子部品２を容易に
載置する。収容器１の底面には、電子部品２がソケット
７と接触できるように、電子部品２の端子２Ａ（図９に
図示）を逃げる形で貫通穴が設けられている。
【０００５】前記測定部４Ｃは、図９に示すように、電
子部品２と通電させる接触子７Ａを備えたソケット７
と、ソケット７に電子部品２の端子２Ａが接触するよう
に電子部品２を押圧するプッシャ６と、ソケット７に接
続する図示されないＩＣテスタとから構成される。測定
部４Ｃは、電子部品２をプッシャ６でソケット７に接触
させた後、ＩＣテスタで試験し、試験結果から電子部品
２の特性を判定する。なお、ソケット７とプッシャ６
は、搬送器５に収容される電子部品２と同数備えられ、
搬送器５に配列された複数の電子部品２を一度に測定す
る。
子部品２と通電させる接触子７Ａを備えたソケット７
と、ソケット７に電子部品２の端子２Ａが接触するよう
に電子部品２を押圧するプッシャ６と、ソケット７に接
続する図示されないＩＣテスタとから構成される。測定
部４Ｃは、電子部品２をプッシャ６でソケット７に接触
させた後、ＩＣテスタで試験し、試験結果から電子部品
２の特性を判定する。なお、ソケット７とプッシャ６
は、搬送器５に収容される電子部品２と同数備えられ、
搬送器５に配列された複数の電子部品２を一度に測定す
る。
【０００６】次に、動作を説明する。供給ハンド４Ｇ
は、ローダ４Ｊの電子部品２を逐次、供給部４Ａの搬送
器５に移送する。電子部品２が満載となった搬送器５
は、プレヒート部４Ｂに移動する。プレヒート部４Ｂで
電子部品２が設定温度（高温または低温）に到達する
と、搬送器５は測定部４Ｃに移動する。
は、ローダ４Ｊの電子部品２を逐次、供給部４Ａの搬送
器５に移送する。電子部品２が満載となった搬送器５
は、プレヒート部４Ｂに移動する。プレヒート部４Ｂで
電子部品２が設定温度（高温または低温）に到達する
と、搬送器５は測定部４Ｃに移動する。
【０００７】測定部４Ｃでは、搬送器５内の電子部品２
が一括して測定される。電子部品２の測定が終了する
と、搬送器５は乾燥室４Ｄに移動する。乾燥室４Ｄで
は、搬送器５と電子部品２が加熱され、低温時の着霜を
防止する。その後、バッファ部４Ｅ、収容部４Ｆへと移
動する。収容部４Ｆでは、搬送器５内の電子部品２が前
記測定結果に基づき、収容ハンド４Ｈによって逐次、ア
ンローダ４Ｋに分類・収容される。収容部４Ｆで空とな
った搬送器５は供給部４Ａに戻る。このように、オート
ハンドラ４内では、供給部４Ａ→プレヒート部４Ｂ→測
定部４Ｃ→乾燥室４Ｄ→バッファ部４Ｅ→収容部４Ｆ→
供給部４Ａの順路で搬送器５が循環する。
が一括して測定される。電子部品２の測定が終了する
と、搬送器５は乾燥室４Ｄに移動する。乾燥室４Ｄで
は、搬送器５と電子部品２が加熱され、低温時の着霜を
防止する。その後、バッファ部４Ｅ、収容部４Ｆへと移
動する。収容部４Ｆでは、搬送器５内の電子部品２が前
記測定結果に基づき、収容ハンド４Ｈによって逐次、ア
ンローダ４Ｋに分類・収容される。収容部４Ｆで空とな
った搬送器５は供給部４Ａに戻る。このように、オート
ハンドラ４内では、供給部４Ａ→プレヒート部４Ｂ→測
定部４Ｃ→乾燥室４Ｄ→バッファ部４Ｅ→収容部４Ｆ→
供給部４Ａの順路で搬送器５が循環する。
【０００８】次に、測定部４Ｃでの動作を図９により説
明する。搬送器５（非図示）に組み込まれた収容器１が
ソケット７上に移動する（ａ）。次に、搬送器５は図示
を省略した昇降機構で下降する（ｂ）。次に、プッシャ
６は電子部品２をソケット７に押圧し、電子部品２の端
子２Ａとソケット７の接触子７Ａを接触させ、図示され
ないＩＣテスタで電子部品２の電気的特性を測定する
（ｃ）。
明する。搬送器５（非図示）に組み込まれた収容器１が
ソケット７上に移動する（ａ）。次に、搬送器５は図示
を省略した昇降機構で下降する（ｂ）。次に、プッシャ
６は電子部品２をソケット７に押圧し、電子部品２の端
子２Ａとソケット７の接触子７Ａを接触させ、図示され
ないＩＣテスタで電子部品２の電気的特性を測定する
（ｃ）。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図１０に示す
ように、時として電子部品２がプッシャ６の押圧面に付
着する状態がおきる。プッシャ６に電子部品２が付着し
た状態でプッシャ６が電子部品２を押圧すると電子部品
２とソケット７が正しく接触しない。また、プッシャ６
に電子部品２が付着したまま次回の測定に至らなくと
も、プッシャ６が測定後に上昇する際に、途中で電子部
品２が落下し、正しく元の収容位置にもどらない場合も
ある。電子部品２が正しく元の収容位置にもどらない場
合には、一つの収容位置に複数の電子部品２が存在する
こともあり、収容部４Ｆで間違った分類がされる問題が
ある。特に、近年のＢＧＡ形パッケージのＩＣは極めて
軽量であり、プッシャ６に付着する確率が高く、前記問
題への対策が望まれている。
ように、時として電子部品２がプッシャ６の押圧面に付
着する状態がおきる。プッシャ６に電子部品２が付着し
た状態でプッシャ６が電子部品２を押圧すると電子部品
２とソケット７が正しく接触しない。また、プッシャ６
に電子部品２が付着したまま次回の測定に至らなくと
も、プッシャ６が測定後に上昇する際に、途中で電子部
品２が落下し、正しく元の収容位置にもどらない場合も
ある。電子部品２が正しく元の収容位置にもどらない場
合には、一つの収容位置に複数の電子部品２が存在する
こともあり、収容部４Ｆで間違った分類がされる問題が
ある。特に、近年のＢＧＡ形パッケージのＩＣは極めて
軽量であり、プッシャ６に付着する確率が高く、前記問
題への対策が望まれている。
【００１０】本発明の課題は、搬送器５内の測定後の電
子部品２の有無を検知する機構を設け、前述のプッシャ
６への電子部品２の付着の有無を判断し、測定ミスや分
類ミスが無く的確に電子部品２を選別することである。
子部品２の有無を検知する機構を設け、前述のプッシャ
６への電子部品２の付着の有無を判断し、測定ミスや分
類ミスが無く的確に電子部品２を選別することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、請求項１記載の発明は、複数の電子部品を収容す
る搬送器を測定部に搬送して前記電子部品を測定するオ
ートハンドラであって、前記電子部品の測定後に前記搬
送器の各電子部品の収容位置における電子部品の有無を
検知する電子部品検知手段（検知器３）を備えることを
特徴とする。
めに、請求項１記載の発明は、複数の電子部品を収容す
る搬送器を測定部に搬送して前記電子部品を測定するオ
ートハンドラであって、前記電子部品の測定後に前記搬
送器の各電子部品の収容位置における電子部品の有無を
検知する電子部品検知手段（検知器３）を備えることを
特徴とする。
【００１２】請求項１記載の発明によると、前記電子部
品検知手段により測定後に前記搬送器の各電子部品の収
容位置における電子部品の有無を検知する。電子部品が
検知されなければ、該当する収容位置の電子部品がプッ
シャに付着状態になっている、あるいは途中まで付着し
ていて落下し元の収容位置に戻っていないと判断でき
る。したがって、プッシャへの電子部品の付着に係る測
定ミスや分類ミスを防止できる。
品検知手段により測定後に前記搬送器の各電子部品の収
容位置における電子部品の有無を検知する。電子部品が
検知されなければ、該当する収容位置の電子部品がプッ
シャに付着状態になっている、あるいは途中まで付着し
ていて落下し元の収容位置に戻っていないと判断でき
る。したがって、プッシャへの電子部品の付着に係る測
定ミスや分類ミスを防止できる。
【００１３】請求項２記載の発明は、請求項１記載のオ
ートハンドラであって、前記電子部品検知手段は、前記
電子部品の測定が終了した搬送器の電子部品収容位置に
投光する投光手段（投光器３Ａ）と、該投光手段から投
光される光もしくは投光されて反射する光を受光する受
光手段（受光器３Ｂ）とを備え、前記受光手段に受光さ
れる光の強度により電子部品の有無を検知することを特
徴とする。
ートハンドラであって、前記電子部品検知手段は、前記
電子部品の測定が終了した搬送器の電子部品収容位置に
投光する投光手段（投光器３Ａ）と、該投光手段から投
光される光もしくは投光されて反射する光を受光する受
光手段（受光器３Ｂ）とを備え、前記受光手段に受光さ
れる光の強度により電子部品の有無を検知することを特
徴とする。
【００１４】請求項２記載の発明によると、請求項１と
同様の効果を奏するとともに、前記投光手段の光路上に
配置される受光手段が、投光手段からの光もしくは電子
部品からの反射光の有無あるいは受光する光の強度を測
定する。例えば、電子部品が搬送器に収容されていれ
ば、投光される光は電子部品に妨げられ受光手段では測
定されない。したがって、受光手段で投光手段から投光
される光の強度を検知することで電子部品の有無を確認
できる。また、非接触検知なので、移動体の劣化がない
という効果もある。さらに、例えば前記投光手段はレー
ザ照射器や発光ダイオードなどの発光体であり、また受
光手段もＣＣＤ素子またはフォトトランジスタなど受光
する光の強度を出力する受光体で、安価に検知手段を実
現できる。なお、電子部品に反射する光を測定する場合
は、受光器で測定される電子部品に反射する光りの強度
と、電子部品が収容されない状態の収容器に反射する光
りの強度とを比較して検知しても良い。
同様の効果を奏するとともに、前記投光手段の光路上に
配置される受光手段が、投光手段からの光もしくは電子
部品からの反射光の有無あるいは受光する光の強度を測
定する。例えば、電子部品が搬送器に収容されていれ
ば、投光される光は電子部品に妨げられ受光手段では測
定されない。したがって、受光手段で投光手段から投光
される光の強度を検知することで電子部品の有無を確認
できる。また、非接触検知なので、移動体の劣化がない
という効果もある。さらに、例えば前記投光手段はレー
ザ照射器や発光ダイオードなどの発光体であり、また受
光手段もＣＣＤ素子またはフォトトランジスタなど受光
する光の強度を出力する受光体で、安価に検知手段を実
現できる。なお、電子部品に反射する光を測定する場合
は、受光器で測定される電子部品に反射する光りの強度
と、電子部品が収容されない状態の収容器に反射する光
りの強度とを比較して検知しても良い。
【００１５】請求項３記載の発明は、請求項１または２
記載のオートハンドラであって、前記電子部品検知手段
が前記搬送器の測定部からの搬出経路上に配置されるこ
とを特徴とする。
記載のオートハンドラであって、前記電子部品検知手段
が前記搬送器の測定部からの搬出経路上に配置されるこ
とを特徴とする。
【００１６】請求項３記載の発明によれば、請求項１ま
たは２と同様の効果を奏するとともに、測定部以降の搬
送器の搬送経路上に前記検知手段を配置するので、搬送
器は移動中に検知手段を通過する。従って、搬送器を検
知手段へ別途移動したり、検知のために停止させること
なく、インデックスタイムを増すことなく電子部品の有
無を検知できる。
たは２と同様の効果を奏するとともに、測定部以降の搬
送器の搬送経路上に前記検知手段を配置するので、搬送
器は移動中に検知手段を通過する。従って、搬送器を検
知手段へ別途移動したり、検知のために停止させること
なく、インデックスタイムを増すことなく電子部品の有
無を検知できる。
【００１７】請求項４記載の発明は、請求項３記載のオ
ートハンドラであって、前記搬送器に前記電子部品は複
数列に配列されて収容され、かつ、前記電子部品の列の
方向が前記搬送器の前記測定部からの搬出方向に沿い、
前記電子部品検知手段が前記搬出経路上の前記搬送器の
前記電子部品の各列の通過位置毎にそれそれ対応して配
置されていることを特徴とする。
ートハンドラであって、前記搬送器に前記電子部品は複
数列に配列されて収容され、かつ、前記電子部品の列の
方向が前記搬送器の前記測定部からの搬出方向に沿い、
前記電子部品検知手段が前記搬出経路上の前記搬送器の
前記電子部品の各列の通過位置毎にそれそれ対応して配
置されていることを特徴とする。
【００１８】請求項４記載の発明によれば、請求項３と
同様の効果を奏するとともに、搬送器に複数の電子部品
を複数列に収容して列の方向を搬送方向に揃える。そし
て、電子部品検知手段を前記電子部品の各列の通過位置
に対応して配置する。よって、搬送器内の電子部品は、
搬送器の移動中に検知手段を通過する際に列ごとに順次
有無を検知される。従って、一度により多くの電子部品
が測定可能となり、かつ、インデックスタイムを増すこ
となく電子部品の有無を検知できる。
同様の効果を奏するとともに、搬送器に複数の電子部品
を複数列に収容して列の方向を搬送方向に揃える。そし
て、電子部品検知手段を前記電子部品の各列の通過位置
に対応して配置する。よって、搬送器内の電子部品は、
搬送器の移動中に検知手段を通過する際に列ごとに順次
有無を検知される。従って、一度により多くの電子部品
が測定可能となり、かつ、インデックスタイムを増すこ
となく電子部品の有無を検知できる。
【００１９】請求項５記載の発明は、請求項１〜４のい
ずれか一つに記載のオートハンドラの制御方法であっ
て、前記搬送器に収容される電子部品の測定が終了した
後に、前記搬送器の各電子部品の収容位置における電子
部品の有無を前記電子部品検知手段で検知し、電子部品
が無い収容位置がある場合にオートハンドラを停止する
ことを特徴とする。
ずれか一つに記載のオートハンドラの制御方法であっ
て、前記搬送器に収容される電子部品の測定が終了した
後に、前記搬送器の各電子部品の収容位置における電子
部品の有無を前記電子部品検知手段で検知し、電子部品
が無い収容位置がある場合にオートハンドラを停止する
ことを特徴とする。
【００２０】請求項５記載の発明によれば、前記電子部
品検知手段により電子部品の測定後に前記搬送器の各電
子部品の収容位置における電子部品の有無を検知する。
電子部品が検知されなければ、該当する収容位置の電子
部品がプッシャに付着した状態になっている、あるいは
途中まで貼り付いて落下し元の収容位置に戻っていない
と判断し、オートハンドラを停止する。従って、プッシ
ャへの電子部品の付着に係る測定ミスや分類ミスを防止
できる。
品検知手段により電子部品の測定後に前記搬送器の各電
子部品の収容位置における電子部品の有無を検知する。
電子部品が検知されなければ、該当する収容位置の電子
部品がプッシャに付着した状態になっている、あるいは
途中まで貼り付いて落下し元の収容位置に戻っていない
と判断し、オートハンドラを停止する。従って、プッシ
ャへの電子部品の付着に係る測定ミスや分類ミスを防止
できる。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
１〜図６を参照して詳細に説明する。なお、前述の従来
技術と同じ構成要素には同番号の符号を付け、重複する
説明は省略する。
１〜図６を参照して詳細に説明する。なお、前述の従来
技術と同じ構成要素には同番号の符号を付け、重複する
説明は省略する。
【００２２】まず、構成を説明する。図１に示すよう
に、オートハンドラ４は、高低温試験機能を有し、複数
の電子部品２を搬送器５に収容し循環させる。オートハ
ンドラ４は、前記高低温試験機能としてプレヒート部４
Ｂと、測定部４Ｃと、測定後の前記搬送器５の各電子部
品２の収容位置における電子部品２の有無を検知する電
子部品検知手段である検知器３と、乾燥室４Ｄとを備え
る。また、電子部品２の供給収容・搬送機能として、ロ
ーダ４Ｊと、供給ハンド４Ｇと、供給部４Ａと、収容ハ
ンド４Ｈと、アンローダ４Ｋとをもつ。オートハンドラ
４は、上記各部と各部の動作を制御する内蔵される制御
部（非図示）とを備え、基本的には従来のオートハンド
ラと同様の構成であるが、測定部４Ｃと乾燥室４Ｄの間
に検知器３を追加したことを特徴とする。
に、オートハンドラ４は、高低温試験機能を有し、複数
の電子部品２を搬送器５に収容し循環させる。オートハ
ンドラ４は、前記高低温試験機能としてプレヒート部４
Ｂと、測定部４Ｃと、測定後の前記搬送器５の各電子部
品２の収容位置における電子部品２の有無を検知する電
子部品検知手段である検知器３と、乾燥室４Ｄとを備え
る。また、電子部品２の供給収容・搬送機能として、ロ
ーダ４Ｊと、供給ハンド４Ｇと、供給部４Ａと、収容ハ
ンド４Ｈと、アンローダ４Ｋとをもつ。オートハンドラ
４は、上記各部と各部の動作を制御する内蔵される制御
部（非図示）とを備え、基本的には従来のオートハンド
ラと同様の構成であるが、測定部４Ｃと乾燥室４Ｄの間
に検知器３を追加したことを特徴とする。
【００２３】前記検知器３は、搬送器５内の各電子部品
２の収容位置への投光手段である投光器３Ａと、投光さ
れる光を感知する受光手段である受光器３Ｂとを一組と
して複数組を配置する。前記組数は、前記搬送器５に収
容される電子部品２の配列において、搬送器５が測定部
４Ｃから搬出される方向と平面直交する方向の一列あた
りの電子部品２の数に対応し、搬送経路上の前記電子部
品の各列の通過位置毎にそれぞれ対応して配列される。
図１の例では４組が配置されている。また、図３に示す
ように、各組においてそれぞれの投光器３Ａと受光器３
Ｂは、搬送器５を上下から挟むように投光器３Ａの光軸
上に対向配置され、検知器３全体としては、測定部４Ｃ
と乾燥室４Ｄへの搬送器５の搬出経路上に、投光器３Ａ
・受光器３Ｂの組列が搬送器５の搬出される方向と直交
するように設置される。ここで、投光器３Ａは、レーザ
発振器など光を発するものであれば良く、発光ダイオー
ドなどが耐久性に優れ、また安価で好ましい。受光器３
Ｂは、ＣＣＤ素子あるいはフォトトランジスタなど光を
受けて出力を得られるものであれば良く、受光の有無を
出力できれば十分なので安価な感光素子で構わない。
２の収容位置への投光手段である投光器３Ａと、投光さ
れる光を感知する受光手段である受光器３Ｂとを一組と
して複数組を配置する。前記組数は、前記搬送器５に収
容される電子部品２の配列において、搬送器５が測定部
４Ｃから搬出される方向と平面直交する方向の一列あた
りの電子部品２の数に対応し、搬送経路上の前記電子部
品の各列の通過位置毎にそれぞれ対応して配列される。
図１の例では４組が配置されている。また、図３に示す
ように、各組においてそれぞれの投光器３Ａと受光器３
Ｂは、搬送器５を上下から挟むように投光器３Ａの光軸
上に対向配置され、検知器３全体としては、測定部４Ｃ
と乾燥室４Ｄへの搬送器５の搬出経路上に、投光器３Ａ
・受光器３Ｂの組列が搬送器５の搬出される方向と直交
するように設置される。ここで、投光器３Ａは、レーザ
発振器など光を発するものであれば良く、発光ダイオー
ドなどが耐久性に優れ、また安価で好ましい。受光器３
Ｂは、ＣＣＤ素子あるいはフォトトランジスタなど光を
受けて出力を得られるものであれば良く、受光の有無を
出力できれば十分なので安価な感光素子で構わない。
【００２４】前記制御部は、演算処理するＣＰＵと、動
作制御に関わる各種データや前記検知器３による電子部
品２の有無の検知結果が格納されるＲＡＭと、動作プロ
グラムを記憶するＲＯＭと、各種表示を行うＣＲＴ等を
備え、各部の動作を制御する。
作制御に関わる各種データや前記検知器３による電子部
品２の有無の検知結果が格納されるＲＡＭと、動作プロ
グラムを記憶するＲＯＭと、各種表示を行うＣＲＴ等を
備え、各部の動作を制御する。
【００２５】次に、図６を参照しながら動作を説明す
る。供給ハンド４Ｇは、ローダ４Ｊに収容されている複
数の電子部品２を逐次、供給部４Ａの搬送器５に移送す
る。電子部品２が満杯となった搬送器５は、プレヒート
部４Ｂに搬送される。プレヒート部４Ｂで電子部品２が
設定温度（高温または低温）に到達すると、搬送器５は
測定部４Ｃに移動する。
る。供給ハンド４Ｇは、ローダ４Ｊに収容されている複
数の電子部品２を逐次、供給部４Ａの搬送器５に移送す
る。電子部品２が満杯となった搬送器５は、プレヒート
部４Ｂに搬送される。プレヒート部４Ｂで電子部品２が
設定温度（高温または低温）に到達すると、搬送器５は
測定部４Ｃに移動する。
【００２６】測定部４Ｃでは、従来と同様に各ソケット
７の上方に搬送器５が搬送される。搬送器５は昇降機構
によりソケット７上に下降する。この際、ソケット７と
搬送器５は位置決めピン７Ｂにより電子部品２を正しい
位置に導く。次に、プッシャ６が同じく昇降機構により
下降し、電子部品２を上方よりソケット７に向けて押圧
し、電子部品２の端子２Ａとソケット７の接触子７Ａを
接触させる。電子部品２は、図示されないＩＣテスタで
電気的特性が測定される。測定終了後、プッシャ６及び
搬送器５はもとの位置に上昇し、測定部４Ｃでの動作を
完了する。測定終了時に、前述のようにプッシャ６に電
子部品２が付着する状態が発生すると、収容器１には電
子部品２は存在しないことになる。搬送器５は電子部品
２が入っていない状態で乾燥室４Ｄに搬送される。
７の上方に搬送器５が搬送される。搬送器５は昇降機構
によりソケット７上に下降する。この際、ソケット７と
搬送器５は位置決めピン７Ｂにより電子部品２を正しい
位置に導く。次に、プッシャ６が同じく昇降機構により
下降し、電子部品２を上方よりソケット７に向けて押圧
し、電子部品２の端子２Ａとソケット７の接触子７Ａを
接触させる。電子部品２は、図示されないＩＣテスタで
電気的特性が測定される。測定終了後、プッシャ６及び
搬送器５はもとの位置に上昇し、測定部４Ｃでの動作を
完了する。測定終了時に、前述のようにプッシャ６に電
子部品２が付着する状態が発生すると、収容器１には電
子部品２は存在しないことになる。搬送器５は電子部品
２が入っていない状態で乾燥室４Ｄに搬送される。
【００２７】次に、図６のフローチャートを援用して動
作説明を続ける。測定部４Ｃと乾燥室４Ｄの間の搬送経
路には検知器３が設けられ、図４に示すように、搬送器
５が検知位置に到達する（Ｓ１）。検知位置に到達する
列から順に、投光器３Ａから収容器１内の電子部品２に
光を投光する。図２に示すように、対象となる収容器１
に電子部品２が収容されていれば、投光器３Ａからの光
は電子部品２によって妨げられ受光器３Ｂでは測定され
ない。逆に、投光器３Ａからの光が受光器３Ｂで測定さ
れる場合は、何らかの理由で測定後に電子部品２が収容
器１されていないことになる。従って、受光器３Ｂの測
定結果から測定後の電子部品２の有無を検知できる（Ｓ
２）。検知結果の情報は、前記制御部内のＲＡＭに格納
される（Ｓ３）。搬送器５に測定すべき列がある場合は
（Ｓ４）、図５に示すように次の列を測定する（Ｓ
５）。上記測定動作は、順次搬送方向に沿って列ごと
に、全ての電子部品２の収容位置において行なわれる。
作説明を続ける。測定部４Ｃと乾燥室４Ｄの間の搬送経
路には検知器３が設けられ、図４に示すように、搬送器
５が検知位置に到達する（Ｓ１）。検知位置に到達する
列から順に、投光器３Ａから収容器１内の電子部品２に
光を投光する。図２に示すように、対象となる収容器１
に電子部品２が収容されていれば、投光器３Ａからの光
は電子部品２によって妨げられ受光器３Ｂでは測定され
ない。逆に、投光器３Ａからの光が受光器３Ｂで測定さ
れる場合は、何らかの理由で測定後に電子部品２が収容
器１されていないことになる。従って、受光器３Ｂの測
定結果から測定後の電子部品２の有無を検知できる（Ｓ
２）。検知結果の情報は、前記制御部内のＲＡＭに格納
される（Ｓ３）。搬送器５に測定すべき列がある場合は
（Ｓ４）、図５に示すように次の列を測定する（Ｓ
５）。上記測定動作は、順次搬送方向に沿って列ごと
に、全ての電子部品２の収容位置において行なわれる。
【００２８】搬送器５が検知器３を通過し、乾燥室４Ｄ
に搬送される（Ｓ６）。ここで、前記制御部は前記ＲＡ
Ｍから検知結果を読込み（Ｓ７）、受光器３Ｂに受光し
た反応がある場合すなわち光の検出結果がある場合は
（Ｓ８）、オートハンドラ４を一旦停止し（Ｓ９）、警
報を表示する（Ｓ１０）。検出結果が無い場合は、全て
の収容位置に電子部品２があると判断し、測定部４Ｃで
は次の搬送器５に対して動作を続行する。
に搬送される（Ｓ６）。ここで、前記制御部は前記ＲＡ
Ｍから検知結果を読込み（Ｓ７）、受光器３Ｂに受光し
た反応がある場合すなわち光の検出結果がある場合は
（Ｓ８）、オートハンドラ４を一旦停止し（Ｓ９）、警
報を表示する（Ｓ１０）。検出結果が無い場合は、全て
の収容位置に電子部品２があると判断し、測定部４Ｃで
は次の搬送器５に対して動作を続行する。
【００２９】乾燥室４Ｄに入った搬送器５は、加熱され
低温時の着霜を防止する。その後、バッファ部４Ｅ、収
容部４Ｆへと移動する。収容部４Ｆでは、収容ハンド４
Ｇが、前記測定結果に基づいて搬送器５内の電子部品２
を逐次アンローダ４Ｋに分類・収容する。収容部４Ｆで
空となった搬送器５は、供給部４Ａに移動する。このよ
うに、オートハンドラ内では、供給部４Ａ→プレヒート
部４Ｂ→測定部４Ｃ→乾燥室４Ｄ→バッファ部４Ｅ→収
容部４Ｆ→供給部４Ａの順路で搬送器５が循環する。
低温時の着霜を防止する。その後、バッファ部４Ｅ、収
容部４Ｆへと移動する。収容部４Ｆでは、収容ハンド４
Ｇが、前記測定結果に基づいて搬送器５内の電子部品２
を逐次アンローダ４Ｋに分類・収容する。収容部４Ｆで
空となった搬送器５は、供給部４Ａに移動する。このよ
うに、オートハンドラ内では、供給部４Ａ→プレヒート
部４Ｂ→測定部４Ｃ→乾燥室４Ｄ→バッファ部４Ｅ→収
容部４Ｆ→供給部４Ａの順路で搬送器５が循環する。
【００３０】なお、以上の実施の形態においては、電子
部品２の検知手段を投光器３Ａと受光器３Ｂにより構成
したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例え
ば、距離センサにより電子部品２の収容位置までの距離
の違いから検知しても良い。あるいは、ＣＣＤカメラ等
の撮像装置で撮影し、電子部品２の輪郭線の抽出や、電
子部品２と搬送器５の表面色の差から検知しても良い。
部品２の検知手段を投光器３Ａと受光器３Ｂにより構成
したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例え
ば、距離センサにより電子部品２の収容位置までの距離
の違いから検知しても良い。あるいは、ＣＣＤカメラ等
の撮像装置で撮影し、電子部品２の輪郭線の抽出や、電
子部品２と搬送器５の表面色の差から検知しても良い。
【００３１】また、投光器３Ａと受光器３Ｂの関係も一
対一に限らず、例えば投光器３Ａをラインセンサのよう
な一つの長尺の発光体とし、各電子部品２の収容位置ご
とに受光器３Ｂを配置しても良い。その他、検知器３の
配置場所、検知器３の光軸の設定方向、数量等について
も適宜に変更可能である。
対一に限らず、例えば投光器３Ａをラインセンサのよう
な一つの長尺の発光体とし、各電子部品２の収容位置ご
とに受光器３Ｂを配置しても良い。その他、検知器３の
配置場所、検知器３の光軸の設定方向、数量等について
も適宜に変更可能である。
【００３２】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、前記検知
器により測定後に前記搬送器の各電子部品の収容位置に
おける電子部品の有無を検知するので、該当する収容位
置の電子部品が無ければ、電子部品が測定後にプッシャ
に付着した状態か、途中まで付着し、元の収容位置に戻
っていないと判断できる。
器により測定後に前記搬送器の各電子部品の収容位置に
おける電子部品の有無を検知するので、該当する収容位
置の電子部品が無ければ、電子部品が測定後にプッシャ
に付着した状態か、途中まで付着し、元の収容位置に戻
っていないと判断できる。
【００３３】請求項２記載の発明によれば、請求項１と
同様の効果を奏するとともに、投光器から搬送器の電子
部品の収容位置に投光し、前記投光器の光路上に配置さ
れる受光器が受光の有無あるいは受光する光の強度を測
定するので、非接触で電子部品の有無を検知できる。
同様の効果を奏するとともに、投光器から搬送器の電子
部品の収容位置に投光し、前記投光器の光路上に配置さ
れる受光器が受光の有無あるいは受光する光の強度を測
定するので、非接触で電子部品の有無を検知できる。
【００３４】請求項３記載の発明によれば、請求項１ま
たは２と同様の効果を奏するとともに、測定部以降の搬
送器の搬送経路上に前記検知器を配置するので、搬送器
を移動中させながら検知器を通過させて電子部品の有無
を検知できる。したがって、インデックスタイムを増す
ことがない。
たは２と同様の効果を奏するとともに、測定部以降の搬
送器の搬送経路上に前記検知器を配置するので、搬送器
を移動中させながら検知器を通過させて電子部品の有無
を検知できる。したがって、インデックスタイムを増す
ことがない。
【００３５】請求項４記載の発明によれば、請求項３と
同様の効果を奏するとともに、搬送器に複数の電子部品
を複数列に配列して列の方向を搬送方向に揃え、加えて
前記検知器を前記電子部品の通過位置に対応して配置す
るので、搬送器の移動中に検知器を通過する際に列ごと
に順次電子部品の有無を検知できる。したがって、一度
により多くの電子部品が測定可能となり、かつ、インデ
ックスタイムを増すことなく電子部品の有無を検知でき
る。
同様の効果を奏するとともに、搬送器に複数の電子部品
を複数列に配列して列の方向を搬送方向に揃え、加えて
前記検知器を前記電子部品の通過位置に対応して配置す
るので、搬送器の移動中に検知器を通過する際に列ごと
に順次電子部品の有無を検知できる。したがって、一度
により多くの電子部品が測定可能となり、かつ、インデ
ックスタイムを増すことなく電子部品の有無を検知でき
る。
【００３６】請求項５記載の発明によれば、前記検知器
により測定後に前記搬送器の各電子部品の収容位置にお
ける電子部品の有無を検知する。電子部品が検知されな
ければ、該当する収容位置の電子部品がプッシャに付着
した状態になっている、あるいは途中まで付着して元の
収容位置に戻っていないと判断しオートハンドラを停止
するので、プッシャへの電子部品の付着に係る測定ミス
や分類ミスを防止できる。
により測定後に前記搬送器の各電子部品の収容位置にお
ける電子部品の有無を検知する。電子部品が検知されな
ければ、該当する収容位置の電子部品がプッシャに付着
した状態になっている、あるいは途中まで付着して元の
収容位置に戻っていないと判断しオートハンドラを停止
するので、プッシャへの電子部品の付着に係る測定ミス
や分類ミスを防止できる。
【図１】本発明を適用した一実施の形態のオートハンド
ラを示す概略平面図である。
ラを示す概略平面図である。
【図２】前記オートハンドラの検知器を示す概略断面図
である。
である。
【図３】前記オートハンドラの検知器の配置を示す概略
平面図である。
平面図である。
【図４】前記オートハンドラが、搬送器の１列目の電子
部品の有無を検知している状態を示す要部概略平面図で
ある。
部品の有無を検知している状態を示す要部概略平面図で
ある。
【図５】前記オートハンドラが、搬送器の２列目の電子
部品の有無を検知している状態を示す要部概略平面図で
ある。
部品の有無を検知している状態を示す要部概略平面図で
ある。
【図６】前記オートハンドラの検知器の動作を説明する
流れ図である。
流れ図である。
【図７】従来のオートハンドラを示す概略平面図であ
る。
る。
【図８】搬送器の（ａ）平面図（ｂ）横断面図（ｃ）縦
断面図である。
断面図である。
【図９】オートハンドラの測定手順を説明する、測定部
の概略断面図である。
の概略断面図である。
【図１０】電子部品がプッシャに貼り付いた状態の測定
を説明する、オートハンドラの測定部の概略断面図であ
る。
を説明する、オートハンドラの測定部の概略断面図であ
る。
１ 収容器 ２ 電子部品 ３ 検知器 ３Ａ 投光器 ３Ｂ 受光器 ４ オートハンドラ ４Ａ 供給部 ４Ｂ プレヒート部 ４Ｃ 測定部 ４Ｄ 乾燥室 ４Ｆ 収容部 ５ 搬送器 ６ プッシャ ７ ソケット
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G003 AA07 AD03 AD09 AF05 AF06 AG01 AG11 AG12 AG13 AG14 AG16 AH07 3F022 AA08 EE05 FF24 GG03 HH01 KK18 MM59 MM61 NN38 PP06 QQ13
Claims (5)
- 【請求項１】 複数の電子部品を収容する搬送器を測定
部に搬送して前記電子部品を測定するオートハンドラで
あって、 前記電子部品の測定後に前記搬送器の各電子部品の収容
位置における電子部品の有無を検知する電子部品検知手
段を備えることを特徴とするオートハンドラ。 - 【請求項２】 請求項１記載のオートハンドラにおい
て、 前記電子部品検知手段は、前記電子部品の測定が終了し
た搬送器の電子部品収容位置に投光する投光手段と、該
投光手段から投光される光もしくは投光されて反射する
光を受光する受光手段とを備え、前記受光手段に受光さ
れる光の強度により電子部品の有無を検知することを特
徴とするオートハンドラ。 - 【請求項３】 請求項１または２記載のオートハンドラ
において、 前記電子部品検知手段が前記搬送器の測定部からの搬出
経路上に配置されることを特徴とするオートハンドラ。 - 【請求項４】 請求項３記載のオートハンドラにおい
て、 前記搬送器に前記電子部品は複数列に配列されて収容さ
れ、かつ、前記電子部品の列の方向が前記搬送器の前記
測定部からの搬出方向に沿い、 前記電子部品検知手段が前記搬出経路上の前記搬送器の
前記電子部品の各列の通過位置毎にぞれそれ対応して配
置されていることを特徴とするオートハンドラ。 - 【請求項５】 請求項１〜４のいずれか一つに記載のオ
ートハンドラの制御方法であって、 前記搬送器に収容される電子部品の測定が終了した後
に、前記搬送器の各電子部品の収容位置における電子部
品の有無を前記電子部品検知手段で検知し、 電子部品が無い収容位置がある場合にオートハンドラを
停止することを特徴とするオートハンドラの制御方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000392810A JP2002196040A (ja) | 2000-12-25 | 2000-12-25 | オートハンドラ及びオートハンドラの制御方法 |
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| KR1020010084206A KR20020053001A (ko) | 2000-12-25 | 2001-12-24 | 오토핸들러 및 오토핸들러의 제어방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000392810A JP2002196040A (ja) | 2000-12-25 | 2000-12-25 | オートハンドラ及びオートハンドラの制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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Family
ID=18858738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000392810A Pending JP2002196040A (ja) | 2000-12-25 | 2000-12-25 | オートハンドラ及びオートハンドラの制御方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
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| JP (1) | JP2002196040A (ja) |
| KR (1) | KR20020053001A (ja) |
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| JP2007120986A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Daishinku Corp | 圧電振動デバイスの温度試験装置 |
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| WO2016147535A1 (ja) * | 2015-03-16 | 2016-09-22 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置、電子部品検査装置、結露あるいは着霜の検査用試験片、および結露あるいは着霜の検査方法 |
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| WO2020129691A1 (ja) * | 2018-12-20 | 2020-06-25 | 株式会社ダイフク | 移動棚装置（ｍｏｖａｂｌｅ ｓｈｅｌｆ ｄｅｖｉｃｅ） |
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|---|---|---|---|---|
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2000
- 2000-12-25 JP JP2000392810A patent/JP2002196040A/ja active Pending
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- 2001-11-30 US US09/996,814 patent/US20020079468A1/en not_active Abandoned
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