JP2002186610A - Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線透視検査装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線透視検査装置Info
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
- A61B6/548—Remote control of the apparatus or devices
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 Ｘ線ＣＴ装置及びＸ線透視検査装置に関し、
被検体の投影データを高信頼性で収集・蓄積可能なこと
を課題とする。 【解決手段】 被検体１００を挟んで相対向するＸ線管
４０及びＸ線検出器アレイ７０を備え、該Ｘ線検出器ア
レイから収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層
像を再構成するＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線検出器アレ
イ７０の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応する
投影データを生成し、これらを収集・送出するデータ収
集手段１と、データ収集手段から送られる投影データを
メモリに記憶するデータ蓄積手段２とを備え、前記デー
タ収集手段１はビュー当たりの投影データ（ラインデー
タ）を識別可能なタイミング信号ＶＧを送出すると共
に、前記データ蓄積手段２は受信したタイミング信号Ｖ
Ｇに基づきメモリの次の記憶開始アドレスを所定のアド
レスに更新する。
被検体の投影データを高信頼性で収集・蓄積可能なこと
を課題とする。 【解決手段】 被検体１００を挟んで相対向するＸ線管
４０及びＸ線検出器アレイ７０を備え、該Ｘ線検出器ア
レイから収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層
像を再構成するＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線検出器アレ
イ７０の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応する
投影データを生成し、これらを収集・送出するデータ収
集手段１と、データ収集手段から送られる投影データを
メモリに記憶するデータ蓄積手段２とを備え、前記デー
タ収集手段１はビュー当たりの投影データ（ラインデー
タ）を識別可能なタイミング信号ＶＧを送出すると共
に、前記データ蓄積手段２は受信したタイミング信号Ｖ
Ｇに基づきメモリの次の記憶開始アドレスを所定のアド
レスに更新する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＸ線ＣＴ装置及びＸ
線透視検査装置に関し、更に詳しくは、被検体を挟んで
相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、該Ｘ線検出器
から収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を
再構成するＸ線ＣＴ装置並びに同投影データに基づき被
検体の透視検査を行なうＸ線透視検査装置に関する。
線透視検査装置に関し、更に詳しくは、被検体を挟んで
相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、該Ｘ線検出器
から収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を
再構成するＸ線ＣＴ装置並びに同投影データに基づき被
検体の透視検査を行なうＸ線透視検査装置に関する。
【０００２】Ｘ線ＣＴ装置は、被検体の断層面をＸ線透
視した全方向（全ビュー）からの各投影データ（ライン
データ）を注目する各点につき全方向から重ね合わせる
（バックプロジェクションする）ことでＣＴ断層像を再
構成する基本原理に基づいている。従って、画像再構成
の際には全ビューのラインデータを全方向から正確にバ
ックプロジェクションする必要がある。
視した全方向（全ビュー）からの各投影データ（ライン
データ）を注目する各点につき全方向から重ね合わせる
（バックプロジェクションする）ことでＣＴ断層像を再
構成する基本原理に基づいている。従って、画像再構成
の際には全ビューのラインデータを全方向から正確にバ
ックプロジェクションする必要がある。
【０００３】また、ラインセンサ型のＸ線透視検査装置
（ラインセンサ型Ｘ線ＴＶ装置等）では、ラインセンサ
で得た各投影データ（ラインデータ）を２次元的に並べ
て透視画像の２次元解析を行なっており、もし１ライン
（１ビュー）でも投影データがずれると、画像が検出器
ラインと垂直な方向に不連続となり、自動画像認識を行
なっている場合は、欠陥部誤検出の恐れがある。従っ
て、上記いずれの場合もラインデータが正確に収集さ
れ、かつ蓄積される必要がある。
（ラインセンサ型Ｘ線ＴＶ装置等）では、ラインセンサ
で得た各投影データ（ラインデータ）を２次元的に並べ
て透視画像の２次元解析を行なっており、もし１ライン
（１ビュー）でも投影データがずれると、画像が検出器
ラインと垂直な方向に不連続となり、自動画像認識を行
なっている場合は、欠陥部誤検出の恐れがある。従っ
て、上記いずれの場合もラインデータが正確に収集さ
れ、かつ蓄積される必要がある。
【０００４】
【従来の技術】図７，図８は従来技術を説明する図
（１），（２）で、図７は従来のＸ線ＣＴ装置の要部構
成図を示している。図において、３０はＸ線ファンビー
ムにより被検体のアキシャル（Ａxial）／ヘリカル（Ｈ
erical）スキャン・読取を行う走査ガントリ、４０は回
転陽極型のＸ線管、５０はＸ線の体（ｚ）軸方向の曝射
範囲を制限するコリメータ、１００は被検体、２０は被
検体１００を載せて体軸方向に移動させる撮影テーブ
ル、７０は多数（ｎ＝１０００程度）のＸ線検出器素子
が円弧状の例えば一列に配列されているＸ線検出器（シ
ングルディテクタ）、８０'はＸ線検出器７０の検出信
号から投影データを生成・収集するデータ収集部（ＤＡ
Ｓ）、１０はユーザが操作する遠隔の操作コンソール、
１５’はデータ収集部８０’からの投影データを蓄積す
るデータ収集バッファ、１１はＸ線ＣＴ装置の主制御・
処理（スキャン制御，ＣＴ断層像再構成処理等）を行う
中央処理装置である。なお、図中の（ｘ，ｙ，ｚ）は装
置に固定された直交座標系、（Ｘ，Ｙ，Ｚ）はＸ線検出
系（走査ガントリ３０）に固定された直交座標系を夫々
表す。ここで、ｚ＝Ｚである。
（１），（２）で、図７は従来のＸ線ＣＴ装置の要部構
成図を示している。図において、３０はＸ線ファンビー
ムにより被検体のアキシャル（Ａxial）／ヘリカル（Ｈ
erical）スキャン・読取を行う走査ガントリ、４０は回
転陽極型のＸ線管、５０はＸ線の体（ｚ）軸方向の曝射
範囲を制限するコリメータ、１００は被検体、２０は被
検体１００を載せて体軸方向に移動させる撮影テーブ
ル、７０は多数（ｎ＝１０００程度）のＸ線検出器素子
が円弧状の例えば一列に配列されているＸ線検出器（シ
ングルディテクタ）、８０'はＸ線検出器７０の検出信
号から投影データを生成・収集するデータ収集部（ＤＡ
Ｓ）、１０はユーザが操作する遠隔の操作コンソール、
１５’はデータ収集部８０’からの投影データを蓄積す
るデータ収集バッファ、１１はＸ線ＣＴ装置の主制御・
処理（スキャン制御，ＣＴ断層像再構成処理等）を行う
中央処理装置である。なお、図中の（ｘ，ｙ，ｚ）は装
置に固定された直交座標系、（Ｘ，Ｙ，Ｚ）はＸ線検出
系（走査ガントリ３０）に固定された直交座標系を夫々
表す。ここで、ｚ＝Ｚである。
【０００５】動作の概要を言うと、Ｘ線管４０からのＸ
線ファンビームは被検体１００を透過して対向するＸ線
検出器７０に一斉に入射する。データ収集部８０’はＸ
線検出器７０の各検出信号を積分及びＡ／Ｄ変換して投
影データｇ(Ｘ，θ)を生成し、これらを収集する。ここ
で、ＸはＸ線検出器７０のチャネル（ＣＨ）方向の座標
（１〜ｎ）、θは走査ガントリ３０の回転角（ビュー
角）を夫々表す。更に、走査ガントリ３０が僅かに回転
した各ビューで上記同様の投影を行い、こうして走査ガ
ントリ１回転分（１０００ビュー程度）の投影データを
収集し、これらをケーブル２２を介して遠隔のデータ収
集バッファ１５’に蓄積する。更に、アキシャル／ヘリ
カルスキャン方式に従って撮影テーブル２０を体軸方向
に間欠的／連続的に移動させ、こうして所要撮像領域に
ついての全投影データを収集し、蓄積する。そして、中
央処理装置１１は、得られた全投影データに基づき被検
体１００のＣＴ断層像を再構成（Back Projection）
し、不図示の表示装置に表示する。
線ファンビームは被検体１００を透過して対向するＸ線
検出器７０に一斉に入射する。データ収集部８０’はＸ
線検出器７０の各検出信号を積分及びＡ／Ｄ変換して投
影データｇ(Ｘ，θ)を生成し、これらを収集する。ここ
で、ＸはＸ線検出器７０のチャネル（ＣＨ）方向の座標
（１〜ｎ）、θは走査ガントリ３０の回転角（ビュー
角）を夫々表す。更に、走査ガントリ３０が僅かに回転
した各ビューで上記同様の投影を行い、こうして走査ガ
ントリ１回転分（１０００ビュー程度）の投影データを
収集し、これらをケーブル２２を介して遠隔のデータ収
集バッファ１５’に蓄積する。更に、アキシャル／ヘリ
カルスキャン方式に従って撮影テーブル２０を体軸方向
に間欠的／連続的に移動させ、こうして所要撮像領域に
ついての全投影データを収集し、蓄積する。そして、中
央処理装置１１は、得られた全投影データに基づき被検
体１００のＣＴ断層像を再構成（Back Projection）
し、不図示の表示装置に表示する。
【０００６】図８（Ａ）に上記投影処理のイメージ図を
示す。今、走査ガントリ３０の回転角＝θiとすると、
被検体１００のＸ線吸収係数分布ｆ(ｘ，ｙ）について
の投影データg(Ｘ，θi)は（１）式で与えられる。
示す。今、走査ガントリ３０の回転角＝θiとすると、
被検体１００のＸ線吸収係数分布ｆ(ｘ，ｙ）について
の投影データg(Ｘ，θi)は（１）式で与えられる。
【０００７】
【数１】
【０００８】走査ガントリ３０の回転角＝θjとする時
の投影データg(Ｘ，θj)についても同様である。
の投影データg(Ｘ，θj)についても同様である。
【０００９】図８（Ｂ）に上記逆投影処理のイメージ図
を示す。逆投影処理は、被検体１００上の着目点(ｘ，
ｙ)を通過する全投影データg(Ｘ，θ)を全方向から逆投
影し、これらを重ね合わせることでＸ線吸収係数分布ｐ
(ｘ，ｙ）｛≒ｆ(ｘ，ｙ）｝を推定する。即ち、この逆
投影法により再構成される着目点(ｘ，ｙ)の断層像は
（２）式で与えられる。
を示す。逆投影処理は、被検体１００上の着目点(ｘ，
ｙ)を通過する全投影データg(Ｘ，θ)を全方向から逆投
影し、これらを重ね合わせることでＸ線吸収係数分布ｐ
(ｘ，ｙ）｛≒ｆ(ｘ，ｙ）｝を推定する。即ち、この逆
投影法により再構成される着目点(ｘ，ｙ)の断層像は
（２）式で与えられる。
【００１０】
【数２】
【００１１】従って、正しい再構成画像を得るために
は、全ビューのラインデータg(Ｘ，θ)を全方向から正
確にバックプロジェクションする必要がある。
は、全ビューのラインデータg(Ｘ，θ)を全方向から正
確にバックプロジェクションする必要がある。
【００１２】図７に戻り、挿入図（ａ）に従来のデータ
収集部８０’とデータ収集バッファ１５’間におけるデ
ータ転送・蓄積方式のタイミングチャートを示す。従来
は、１トータルスキャン分又はガントリ１回転分の全投
影データＳＤＴをクロック信号ＤＣＫに同期させて一挙
（バースト的）に転送していた。
収集部８０’とデータ収集バッファ１５’間におけるデ
ータ転送・蓄積方式のタイミングチャートを示す。従来
は、１トータルスキャン分又はガントリ１回転分の全投
影データＳＤＴをクロック信号ＤＣＫに同期させて一挙
（バースト的）に転送していた。
【００１３】挿入図（ｂ）にデータ収集バッファ１５’
における投影データＳＤＴの記憶態様を示す。上記デー
タ転送・蓄積が正しく行われた場合は、図示の如く、中
央処理装置１１は１ライン（１ビュー）当たりのアドレ
ス間隔から各ラインデータｉ，ｊ等の先頭アドレスを正
しく認識可能であり、よって全ラインデータを全方向か
ら正しくバックプロジェクションできる。
における投影データＳＤＴの記憶態様を示す。上記デー
タ転送・蓄積が正しく行われた場合は、図示の如く、中
央処理装置１１は１ライン（１ビュー）当たりのアドレ
ス間隔から各ラインデータｉ，ｊ等の先頭アドレスを正
しく認識可能であり、よって全ラインデータを全方向か
ら正しくバックプロジェクションできる。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、高エネルギ
ーのＸ線を曝射するようなＸ線ＣＴ装置では、所謂Ｘ線
放電等によるノイズの発生も少なくなく、このために上
記データ収集・蓄積動作に少なからず悪影響を与える。
ーのＸ線を曝射するようなＸ線ＣＴ装置では、所謂Ｘ線
放電等によるノイズの発生も少なくなく、このために上
記データ収集・蓄積動作に少なからず悪影響を与える。
【００１５】挿入図（ｃ）はデータ転送途中のクロック
信号ＤＣＫの一部がノイズ等により失われた場合を示し
ている。例えばビューｋのクロック信号ＤＣＫの一部が
途中で失われると、続くビュー（ｋ＋１）以降の各ライ
ンデータは図示の如く夫々詰まった位相で蓄積されてし
まい、この場合の中央処理装置１１は、位相のずれたラ
インデータを抽出して全方向からバックプロジェクショ
ンを行うことになる。その結果、図８（Ｂ）に示す如
く、例えばビューｊの投影データｇ（Ｘ，θj）はＸ軸
（矢印ａ）方向にずれた位相で逆投影されることとな
り、アーチファクトの原因（最悪の場合は撮影のやり直
し）となっていた。また、図示しないが、逆にクロック
信号ＤＣＫの一部がノイズ等により増える場合もあり、
この場合も上記同様の結果となっていた。
信号ＤＣＫの一部がノイズ等により失われた場合を示し
ている。例えばビューｋのクロック信号ＤＣＫの一部が
途中で失われると、続くビュー（ｋ＋１）以降の各ライ
ンデータは図示の如く夫々詰まった位相で蓄積されてし
まい、この場合の中央処理装置１１は、位相のずれたラ
インデータを抽出して全方向からバックプロジェクショ
ンを行うことになる。その結果、図８（Ｂ）に示す如
く、例えばビューｊの投影データｇ（Ｘ，θj）はＸ軸
（矢印ａ）方向にずれた位相で逆投影されることとな
り、アーチファクトの原因（最悪の場合は撮影のやり直
し）となっていた。また、図示しないが、逆にクロック
信号ＤＣＫの一部がノイズ等により増える場合もあり、
この場合も上記同様の結果となっていた。
【００１６】なお、上記の問題は、ラインセンサ型のＸ
線透視検査装置でも同様に発生し、もし途中で１ライン
（１ビュー）でも投影データがずれると、各ラインデー
タの並び方は、例えば図７（ｃ）に示す如くなってしま
い、画像の２次元解析を誤ってしまうことになる。
線透視検査装置でも同様に発生し、もし途中で１ライン
（１ビュー）でも投影データがずれると、各ラインデー
タの並び方は、例えば図７（ｃ）に示す如くなってしま
い、画像の２次元解析を誤ってしまうことになる。
【００１７】本発明は上記従来技術の問題点に鑑みなさ
れたもので、その目的とする所は、被検体の投影データ
を高信頼性で収集・蓄積可能なＸ線ＣＴ装置及びＸ線透
視検査装置を提供することにある。
れたもので、その目的とする所は、被検体の投影データ
を高信頼性で収集・蓄積可能なＸ線ＣＴ装置及びＸ線透
視検査装置を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】上記の課題は例えば図１
の構成により解決される。即ち、本発明（１）のＸ線Ｃ
Ｔ装置は、被検体１００を挟んで相対向するＸ線管４０
及びＸ線検出器７０を備え、該Ｘ線検出器から収集した
投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ
線ＣＴ装置において、Ｘ線検出器７０の各検出信号を積
分・Ａ／Ｄ変換して各対応する投影データを生成し、こ
れらを収集・送出するデータ収集手段１と、データ収集
手段から送られる投影データをメモリに記憶するデータ
蓄積手段２とを備え、前記データ収集手段１は１ビュー
当たりの投影データ（ラインデータ）を識別可能なタイ
ミング信号ＶＧを送出すると共に、前記データ蓄積手段
２は受信したタイミング信号ＶＧに基づきメモリの次の
記憶開始アドレスを所定のアドレスに更新するものであ
る。
の構成により解決される。即ち、本発明（１）のＸ線Ｃ
Ｔ装置は、被検体１００を挟んで相対向するＸ線管４０
及びＸ線検出器７０を備え、該Ｘ線検出器から収集した
投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ
線ＣＴ装置において、Ｘ線検出器７０の各検出信号を積
分・Ａ／Ｄ変換して各対応する投影データを生成し、こ
れらを収集・送出するデータ収集手段１と、データ収集
手段から送られる投影データをメモリに記憶するデータ
蓄積手段２とを備え、前記データ収集手段１は１ビュー
当たりの投影データ（ラインデータ）を識別可能なタイ
ミング信号ＶＧを送出すると共に、前記データ蓄積手段
２は受信したタイミング信号ＶＧに基づきメモリの次の
記憶開始アドレスを所定のアドレスに更新するものであ
る。
【００１９】図１において、データ収集手段１は１ビュ
ー当たりの各投影データ（ラインデータ）を識別可能な
タイミング信号ＶＧを送出すると共に、データ蓄積手段
２は受信したタイミング信号ＶＧ（例えばＶＧの各立ち
上がり）に基づきメモリの次の記憶開始アドレスを各所
定のアドレスＶＡＤ１，ＶＡＤ２，ＶＡＤ３，…等に更
新する。
ー当たりの各投影データ（ラインデータ）を識別可能な
タイミング信号ＶＧを送出すると共に、データ蓄積手段
２は受信したタイミング信号ＶＧ（例えばＶＧの各立ち
上がり）に基づきメモリの次の記憶開始アドレスを各所
定のアドレスＶＡＤ１，ＶＡＤ２，ＶＡＤ３，…等に更
新する。
【００２０】従って、例えばビュー２のデータ転送途中
にクロック信号ＤＣＫの一部が失われたとしても、続く
ビュー３の投影データは、これとは関係無く該ビュー３
の記憶開始アドレスＶＡＤ３からデータ書込を開始され
るため、従来のような蓄積投影データの位相ずれは生じ
得ない。又はビュー２のデータ転送途中にクロック信号
ＤＣＫの一部が増えたとしても、続くビュー３の投影デ
ータは、これとは関係無く該ビュー３の記憶開始アドレ
スＶＡＤ３から上書きされるため、従来のような蓄積投
影データの位相ずれは生じ得ない。従って、本発明
（１）によれば、被検体の投影データを高信頼性で収集
・蓄積可能となる。
にクロック信号ＤＣＫの一部が失われたとしても、続く
ビュー３の投影データは、これとは関係無く該ビュー３
の記憶開始アドレスＶＡＤ３からデータ書込を開始され
るため、従来のような蓄積投影データの位相ずれは生じ
得ない。又はビュー２のデータ転送途中にクロック信号
ＤＣＫの一部が増えたとしても、続くビュー３の投影デ
ータは、これとは関係無く該ビュー３の記憶開始アドレ
スＶＡＤ３から上書きされるため、従来のような蓄積投
影データの位相ずれは生じ得ない。従って、本発明
（１）によれば、被検体の投影データを高信頼性で収集
・蓄積可能となる。
【００２１】また本発明（２）のＸ線透視検査装置は、
被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備
え、該Ｘ線検出器から収集した投影データに基づき被検
体の透視検査を行なうＸ線透視検査装置において、Ｘ線
検出器の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応する
投影データを生成し、これらを収集・送出するデータ収
集手段と、データ収集手段から送られる投影データをメ
モリに記憶するデータ蓄積手段とを備え、前記データ収
集手段は１ビュー当たりの投影データを識別可能なタイ
ミング信号を送出すると共に、前記データ蓄積手段は受
信したタイミング信号に基づきメモリの次の記憶開始ア
ドレスを所定のアドレスに更新するものである。
被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備
え、該Ｘ線検出器から収集した投影データに基づき被検
体の透視検査を行なうＸ線透視検査装置において、Ｘ線
検出器の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応する
投影データを生成し、これらを収集・送出するデータ収
集手段と、データ収集手段から送られる投影データをメ
モリに記憶するデータ蓄積手段とを備え、前記データ収
集手段は１ビュー当たりの投影データを識別可能なタイ
ミング信号を送出すると共に、前記データ蓄積手段は受
信したタイミング信号に基づきメモリの次の記憶開始ア
ドレスを所定のアドレスに更新するものである。
【００２２】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
好適なる実施の形態を詳細に説明する。なお、全図を通
して同一符号は同一又は相当部分を示すものとする。図
２は実施の形態によるＸ線ＣＴ装置の要部構成図で、本
発明に係るラインデータ収集・蓄積方式のＸ線ＣＴ装置
への適用例を示している。図において、１０は操作コン
ソール、２０は撮影テーブル、３０は走査ガントリであ
る。
好適なる実施の形態を詳細に説明する。なお、全図を通
して同一符号は同一又は相当部分を示すものとする。図
２は実施の形態によるＸ線ＣＴ装置の要部構成図で、本
発明に係るラインデータ収集・蓄積方式のＸ線ＣＴ装置
への適用例を示している。図において、１０は操作コン
ソール、２０は撮影テーブル、３０は走査ガントリであ
る。
【００２３】走査ガントリ３０において、４０は回転陽
極型のＸ線管、４１はＸ線管４０の管電圧ｋＶ，管電流
ｍＡ，曝射時間Ｓｅｃ等を制御するＸ線制御部、５０は
Ｘ線の体軸方向の曝射範囲を制限するコリメータ、５１
はコリメータ制御部、７０は多数（ｎ＝１０００程度）
のＸ線検出器が円弧状の例えば一列に配列されているＸ
線検出器、８０はＸ線検出器の検出データ（投影デー
タ）を生成・収集するデータ収集部（図１のデータ収集
手段１に相当）、６０は走査ガントリ３０を被検体体軸
の回りに回転させる回転制御部である。
極型のＸ線管、４１はＸ線管４０の管電圧ｋＶ，管電流
ｍＡ，曝射時間Ｓｅｃ等を制御するＸ線制御部、５０は
Ｘ線の体軸方向の曝射範囲を制限するコリメータ、５１
はコリメータ制御部、７０は多数（ｎ＝１０００程度）
のＸ線検出器が円弧状の例えば一列に配列されているＸ
線検出器、８０はＸ線検出器の検出データ（投影デー
タ）を生成・収集するデータ収集部（図１のデータ収集
手段１に相当）、６０は走査ガントリ３０を被検体体軸
の回りに回転させる回転制御部である。
【００２４】操作コンソール１０において、１１はＸ線
ＣＴ装置の主制御・処理（スキャン計画処理，スキャン
制御，ＣＴ断層像再構成処理等）を行う中央処理装置、
１１ａはそのＣＰＵ、１１ｂはＣＰＵ１１ａが使用する
主メモリ（ＭＥＭ）、１２はキーボードやマウス等を含
む入力装置、１３はスキャン計画画面やスキャン結果の
ＣＴ断層像等を表示するための表示装置（ＣＲＴ）、１
４はＣＰＵ１１ａと走査ガントリ３０や撮影テーブル２
０との間で制御信号Ｃやモニタ信号ＳＤのやり取りを行
う制御インタフェース、１５はデータ収集部８０からの
投影データを蓄積するデータ収集バッファ（図１のデー
タ蓄積手段２に相当）、１６はＸ線ＣＴ装置の運用に必
要な各種データやアプリケーションプログラム等を記憶
している二次記憶装置（ディスク等）、１７はＣＰＵ１
１ａの共通バス（ＣＢ）である。
ＣＴ装置の主制御・処理（スキャン計画処理，スキャン
制御，ＣＴ断層像再構成処理等）を行う中央処理装置、
１１ａはそのＣＰＵ、１１ｂはＣＰＵ１１ａが使用する
主メモリ（ＭＥＭ）、１２はキーボードやマウス等を含
む入力装置、１３はスキャン計画画面やスキャン結果の
ＣＴ断層像等を表示するための表示装置（ＣＲＴ）、１
４はＣＰＵ１１ａと走査ガントリ３０や撮影テーブル２
０との間で制御信号Ｃやモニタ信号ＳＤのやり取りを行
う制御インタフェース、１５はデータ収集部８０からの
投影データを蓄積するデータ収集バッファ（図１のデー
タ蓄積手段２に相当）、１６はＸ線ＣＴ装置の運用に必
要な各種データやアプリケーションプログラム等を記憶
している二次記憶装置（ディスク等）、１７はＣＰＵ１
１ａの共通バス（ＣＢ）である。
【００２５】図３は実施の形態によるデータ収集・蓄積
方式の構成を示す図で、図において、８０はデータ収集
部、８１1〜８１ｎはミラータイプの積分器、ＳＨ１〜
ＳＨｎはサンプルホールド回路、８２は信号マルチプレ
クサ（ＭＰＸ）、８３はＡ／Ｄ変換器、８４はタイミン
グ生成部（ＴＧ）、８５は後述のデータ収集バッファ１
５に接続するインタフェース（ＤＡＳＩＦ）、２２は接
続ケーブル、１５はデータ収集バッファ、９１は投影デ
ータを一時的に記憶するためのＲＡＭ、９２は後述のビ
ューカウンタＶＣＴＲのビュー番号をＲＡＭ９１の記憶
開始アドレス（上位ビット）に変換するためのＲＯＭ、
９３はの加算器、９４はＣＰＵ１１ａの共通バスＣＢに
接続するインタフェース（ＣＢＩＦ）、ＥＤはエッジ検
出部、ＦＦはフリップフロップ、ＡはＡＮＤゲート回
路、ＶＣＴＲはビューカウンタ、ＤＣＴＲはデータカウ
ンタである。
方式の構成を示す図で、図において、８０はデータ収集
部、８１1〜８１ｎはミラータイプの積分器、ＳＨ１〜
ＳＨｎはサンプルホールド回路、８２は信号マルチプレ
クサ（ＭＰＸ）、８３はＡ／Ｄ変換器、８４はタイミン
グ生成部（ＴＧ）、８５は後述のデータ収集バッファ１
５に接続するインタフェース（ＤＡＳＩＦ）、２２は接
続ケーブル、１５はデータ収集バッファ、９１は投影デ
ータを一時的に記憶するためのＲＡＭ、９２は後述のビ
ューカウンタＶＣＴＲのビュー番号をＲＡＭ９１の記憶
開始アドレス（上位ビット）に変換するためのＲＯＭ、
９３はの加算器、９４はＣＰＵ１１ａの共通バスＣＢに
接続するインタフェース（ＣＢＩＦ）、ＥＤはエッジ検
出部、ＦＦはフリップフロップ、ＡはＡＮＤゲート回
路、ＶＣＴＲはビューカウンタ、ＤＣＴＲはデータカウ
ンタである。
【００２６】データ収集部８０において、不図示のＸ線
管４０からのファンビームは被検体１００を透過してＸ
線検出器７０に一斉に入射する。今、チャネルＣＨ１の
信号検出処理に着目すると、Ｘ線検出器は入射Ｘ線ビー
ム強度に応じた電流信号を出力し、積分器８１1 は入力
の電流信号を所定時間積分し、サンプルホールド回路Ｓ
Ｈ１はその出力を所定のタイミングでサンプルホールド
する。他のチャネルＣＨ２〜ＣＨｎの各信号検出処理に
ついても同様である。
管４０からのファンビームは被検体１００を透過してＸ
線検出器７０に一斉に入射する。今、チャネルＣＨ１の
信号検出処理に着目すると、Ｘ線検出器は入射Ｘ線ビー
ム強度に応じた電流信号を出力し、積分器８１1 は入力
の電流信号を所定時間積分し、サンプルホールド回路Ｓ
Ｈ１はその出力を所定のタイミングでサンプルホールド
する。他のチャネルＣＨ２〜ＣＨｎの各信号検出処理に
ついても同様である。
【００２７】更に、信号マルチプレクサ８２はサンプル
ホールド回路ＳＨ１〜ＳＨｎの各サンプル出力を高速で
スキャンし、Ａ／Ｄ変換器８３は信号マルチプレクサ８
２の各出力を高速でＡ／Ｄ変換する。こうして得られた
一連の投影データは所定のフレーム転送フォーマットで
データ収集バッファ１５に転送される。
ホールド回路ＳＨ１〜ＳＨｎの各サンプル出力を高速で
スキャンし、Ａ／Ｄ変換器８３は信号マルチプレクサ８
２の各出力を高速でＡ／Ｄ変換する。こうして得られた
一連の投影データは所定のフレーム転送フォーマットで
データ収集バッファ１５に転送される。
【００２８】図４に一例のフレーム転送フォーマットを
示す。ここで、信号ＳＧはスキャンゲート信号であり、
被検体１００の全投影データを転送する間（例えばスキ
ャン開始からスキャン終了までの間）ＯＮの信号であ
る。また信号ＶＧはビューゲート信号であり、ビュー毎
の投影データ転送に同期してＯＮとなる信号である。ビ
ュー毎とは、アキシャル／ヘリカルスキャンの場合は走
査ガントリ３０の単位回転角度（即ち、ラインデータ）
毎を意味し、また走査ガントリ３０の回転を固定して行
うスカウトスキャンでは体軸方向の単位ピッチ（即ち、
ラインデータ）毎を意味する。更に、信号ＳＤＴは投影
データの信号、また信号ＣＬＫは投影データをサンプリ
ングするためのクロック信号である。
示す。ここで、信号ＳＧはスキャンゲート信号であり、
被検体１００の全投影データを転送する間（例えばスキ
ャン開始からスキャン終了までの間）ＯＮの信号であ
る。また信号ＶＧはビューゲート信号であり、ビュー毎
の投影データ転送に同期してＯＮとなる信号である。ビ
ュー毎とは、アキシャル／ヘリカルスキャンの場合は走
査ガントリ３０の単位回転角度（即ち、ラインデータ）
毎を意味し、また走査ガントリ３０の回転を固定して行
うスカウトスキャンでは体軸方向の単位ピッチ（即ち、
ラインデータ）毎を意味する。更に、信号ＳＤＴは投影
データの信号、また信号ＣＬＫは投影データをサンプリ
ングするためのクロック信号である。
【００２９】図３に戻り、上記各信号はケーブル２２を
介し、遠隔のデータ収集バッファ１５に転送される。デ
ータ収集バッファ１５において、エッジ検出部ＥＤ１は
スキャンゲート信号ＳＧの立ち上がりを検出してスキャ
ン開始パルスＳＰを生成し、またエッジ検出部ＥＤ２は
各ビューゲート信号ＶＧの立ち上がりを検出してビュー
開始パルスＶＰを生成する。
介し、遠隔のデータ収集バッファ１５に転送される。デ
ータ収集バッファ１５において、エッジ検出部ＥＤ１は
スキャンゲート信号ＳＧの立ち上がりを検出してスキャ
ン開始パルスＳＰを生成し、またエッジ検出部ＥＤ２は
各ビューゲート信号ＶＧの立ち上がりを検出してビュー
開始パルスＶＰを生成する。
【００３０】更に、ビューカウンタＶＣＴＲはスキャン
開始パルスＳＰによりリセット（初期化）され、その後
は各ビュー開始パルスＶＰによりカウントアップされ
る。そして、そのカウント出力はＲＯＭ９２で各ビュー
番号対応のデータ書込開始上位アドレスＶＡＤに変換さ
れる。一方、データカウンタＤＣＴＲは各ビュー開始パ
ルスＶＰによりリセット（初期化）され、その後は各ク
ロック信号ＤＣＫによりカウントアップされ、データ書
込のための下位アドレスＤＡＤを生成する。上記上位ア
ドレスＶＡＤと下位アドレスＤＡＤとは加算器９３で加
算され、ＲＡＭ９１のアドレス端子ＷＡＤに加えられ
る。そして、入力の各投影データＳＤＴは入力の各クロ
ック信号ＤＣＫによりＲＡＭ９１に順次書き込まれる。
更に、このＲＡＭ９１の蓄積データは、インタフェース
９４を介してＣＰＵ１１ａにより読み出される。
開始パルスＳＰによりリセット（初期化）され、その後
は各ビュー開始パルスＶＰによりカウントアップされ
る。そして、そのカウント出力はＲＯＭ９２で各ビュー
番号対応のデータ書込開始上位アドレスＶＡＤに変換さ
れる。一方、データカウンタＤＣＴＲは各ビュー開始パ
ルスＶＰによりリセット（初期化）され、その後は各ク
ロック信号ＤＣＫによりカウントアップされ、データ書
込のための下位アドレスＤＡＤを生成する。上記上位ア
ドレスＶＡＤと下位アドレスＤＡＤとは加算器９３で加
算され、ＲＡＭ９１のアドレス端子ＷＡＤに加えられ
る。そして、入力の各投影データＳＤＴは入力の各クロ
ック信号ＤＣＫによりＲＡＭ９１に順次書き込まれる。
更に、このＲＡＭ９１の蓄積データは、インタフェース
９４を介してＣＰＵ１１ａにより読み出される。
【００３１】図４は実施の形態によるデータ収集・蓄積
方式の動作タイミングチャートで、上記図３の構成に対
応する動作を示している。ビューカウンタＶＣＴＲはス
キャン開始パルスＳＰによりＶＣＴＲ＝０にリセットさ
れ、その後は各ビュー開始パルスＶＰによりＶＣＴＲ＝
１〜ｍとカウントアップされる。これに伴いデータ書込
開始上位アドレスＶＡＤ＝ＶＡＤ０〜ＶＡＤｍに更新さ
れる。
方式の動作タイミングチャートで、上記図３の構成に対
応する動作を示している。ビューカウンタＶＣＴＲはス
キャン開始パルスＳＰによりＶＣＴＲ＝０にリセットさ
れ、その後は各ビュー開始パルスＶＰによりＶＣＴＲ＝
１〜ｍとカウントアップされる。これに伴いデータ書込
開始上位アドレスＶＡＤ＝ＶＡＤ０〜ＶＡＤｍに更新さ
れる。
【００３２】この場合に、今、ビュー２でクロック信号
ＤＣＫａの一部が図示の如く欠けたとすると、データカ
ウンタＤＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがショートする結
果、そのデータ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２＋ＤＡ
Ｄ）はビュー２の最終書込アドレスにまで到達し得な
い。しかし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書
込開始上位アドレスは、このような障害のあるクロック
信号ＤＣＫａとは関係無く、ビュー３の開始パルスＶＰ
によりＶＡＤ３に更新（初期化）される結果、ビュー３
のデータは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝Ｖ
ＡＤ３＋０）から正しくデータ書込開始される。
ＤＣＫａの一部が図示の如く欠けたとすると、データカ
ウンタＤＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがショートする結
果、そのデータ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２＋ＤＡ
Ｄ）はビュー２の最終書込アドレスにまで到達し得な
い。しかし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書
込開始上位アドレスは、このような障害のあるクロック
信号ＤＣＫａとは関係無く、ビュー３の開始パルスＶＰ
によりＶＡＤ３に更新（初期化）される結果、ビュー３
のデータは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝Ｖ
ＡＤ３＋０）から正しくデータ書込開始される。
【００３３】又は、ビュー２でクロック信号ＤＣＫｂの
一部が図示の如く増加したとすると、データカウンタＤ
ＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがオーバーする結果、その
データ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２＋ＤＡＤ）は次
のビュー３の書込アドレスにまで食い込んでしまう。し
かし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書込開始
上位アドレスは、このような障害のあるクロック信号Ｄ
ＣＫｂとは関係無く、ビュー３の開始パルスＶＰにより
ＶＡＤ３に更新（初期化）される結果、ビュー３のデー
タは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ３
＋０）から正しく上書きされる。
一部が図示の如く増加したとすると、データカウンタＤ
ＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがオーバーする結果、その
データ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２＋ＤＡＤ）は次
のビュー３の書込アドレスにまで食い込んでしまう。し
かし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書込開始
上位アドレスは、このような障害のあるクロック信号Ｄ
ＣＫｂとは関係無く、ビュー３の開始パルスＶＰにより
ＶＡＤ３に更新（初期化）される結果、ビュー３のデー
タは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ３
＋０）から正しく上書きされる。
【００３４】図５は他の実施の形態によるデータ収集・
蓄積方式の動作タイミングチャートで、各ビューのデー
タ書込開始上位アドレスＶＡＤをビューゲート信号ＶＧ
の各立下りエッジに同期して更新する場合を示してい
る。なお、その構成を図示しないが、図５のタイミング
チャートから容易に実現できる。図５において、ビュー
カウンタＶＣＴＲはスキャン開始パルスＳＰによりＶＣ
ＴＲ＝０にリセットされ、その後はビューゲート信号Ｖ
Ｇの各立下りエッジを検出した各ビュー終了パルスＶＰ
によりＶＣＴＲ＝１〜ｍとカウントアップされる。これ
に伴いデータ書込開始上位アドレスＶＡＤ＝ＶＡＤ０〜
ＶＡＤｍに更新される。
蓄積方式の動作タイミングチャートで、各ビューのデー
タ書込開始上位アドレスＶＡＤをビューゲート信号ＶＧ
の各立下りエッジに同期して更新する場合を示してい
る。なお、その構成を図示しないが、図５のタイミング
チャートから容易に実現できる。図５において、ビュー
カウンタＶＣＴＲはスキャン開始パルスＳＰによりＶＣ
ＴＲ＝０にリセットされ、その後はビューゲート信号Ｖ
Ｇの各立下りエッジを検出した各ビュー終了パルスＶＰ
によりＶＣＴＲ＝１〜ｍとカウントアップされる。これ
に伴いデータ書込開始上位アドレスＶＡＤ＝ＶＡＤ０〜
ＶＡＤｍに更新される。
【００３５】この場合に、今、ビュー２でクロック信号
ＤＣＫａの一部が図示の如く欠けたとすると、データカ
ウンタＤＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがショートする結
果、そのデータ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ１＋ＤＡ
Ｄ）はビュー２の最終書込アドレスにまで到達し得な
い。しかし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書
込開始上位アドレスは、このような障害のあるクロック
信号ＤＣＫａとは関係無く、ビュー２の終了パルスＶＰ
によりＶＡＤ２に更新（初期化）される結果、ビュー３
のデータは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝Ｖ
ＡＤ２＋０）から正しくデータ書込開始される。
ＤＣＫａの一部が図示の如く欠けたとすると、データカ
ウンタＤＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがショートする結
果、そのデータ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ１＋ＤＡ
Ｄ）はビュー２の最終書込アドレスにまで到達し得な
い。しかし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書
込開始上位アドレスは、このような障害のあるクロック
信号ＤＣＫａとは関係無く、ビュー２の終了パルスＶＰ
によりＶＡＤ２に更新（初期化）される結果、ビュー３
のデータは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝Ｖ
ＡＤ２＋０）から正しくデータ書込開始される。
【００３６】又は、ビュー２でクロック信号ＤＣＫｂの
一部が図示の如く増加したとすると、データカウンタＤ
ＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがオーバーする結果、その
データ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ１＋ＤＡＤ）は次
のビュー３の書込アドレスにまで食い込んでしまう。し
かし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書込開始
上位アドレスは、このような障害のあるクロック信号Ｄ
ＣＫｂとは関係無く、ビュー２の終了パルスＶＰにより
ＶＡＤ２に更新（初期化）される結果、ビュー３のデー
タは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２
＋０）から正しく上書きされる。従って、本実施の形態
によれば、被検体１００の投影データを高信頼性で収集
・蓄積可能となる。
一部が図示の如く増加したとすると、データカウンタＤ
ＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがオーバーする結果、その
データ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ１＋ＤＡＤ）は次
のビュー３の書込アドレスにまで食い込んでしまう。し
かし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書込開始
上位アドレスは、このような障害のあるクロック信号Ｄ
ＣＫｂとは関係無く、ビュー２の終了パルスＶＰにより
ＶＡＤ２に更新（初期化）される結果、ビュー３のデー
タは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２
＋０）から正しく上書きされる。従って、本実施の形態
によれば、被検体１００の投影データを高信頼性で収集
・蓄積可能となる。
【００３７】図６は実施の形態によるラインセンサ型Ｘ
線ＴＶ装置（Ｘ線透視検査装置）の要部構成図で、本発
明に係るラインデータ収集・蓄積方式のラインセンサ型
Ｘ線ＴＶ装置への適用例を示している。図において、Ｘ
線管４０からのＸ線ファンビームＸＬＦＢはベルトコン
ベア２００等により一定速度で搬送される検査対象物
（被検体）１００’を透過して対向するＸ線検出器７０
に一斉に入射する。データ収集部８０はＸ線検出器７０
の各検出信号を積分及びＡ／Ｄ変換して投影データｇ
（Ｘ，θ)を生成し、これらを収集する。ここで、Ｘは
Ｘ線検出器７０のチャネル（ＣＨ）方向の座標、θはビ
ュー角（撮影中は固定）を夫々表す。更に、被検体１０
０’が僅かに搬送された各ビューで上記同様の投影を行
い、こうして被検体１００’についての各ラインデータ
を収集し、これらをデータ収集バッファ１５に蓄積す
る。
線ＴＶ装置（Ｘ線透視検査装置）の要部構成図で、本発
明に係るラインデータ収集・蓄積方式のラインセンサ型
Ｘ線ＴＶ装置への適用例を示している。図において、Ｘ
線管４０からのＸ線ファンビームＸＬＦＢはベルトコン
ベア２００等により一定速度で搬送される検査対象物
（被検体）１００’を透過して対向するＸ線検出器７０
に一斉に入射する。データ収集部８０はＸ線検出器７０
の各検出信号を積分及びＡ／Ｄ変換して投影データｇ
（Ｘ，θ)を生成し、これらを収集する。ここで、Ｘは
Ｘ線検出器７０のチャネル（ＣＨ）方向の座標、θはビ
ュー角（撮影中は固定）を夫々表す。更に、被検体１０
０’が僅かに搬送された各ビューで上記同様の投影を行
い、こうして被検体１００’についての各ラインデータ
を収集し、これらをデータ収集バッファ１５に蓄積す
る。
【００３８】このデータ収集部８０及びデータ収集バッ
ファ１５は、例えば上記図３に示した如く構成されてお
り、よってＸ線曝射に起因する放電ノイズ等が発生して
も、データ収集バッファ１５における各蓄積ラインデー
タの間に位相のずれは生じ得ない。従って、本実施の形
態においても、検査対象物（被検体）１００’の投影デ
ータを高信頼性で収集・蓄積可能となる。
ファ１５は、例えば上記図３に示した如く構成されてお
り、よってＸ線曝射に起因する放電ノイズ等が発生して
も、データ収集バッファ１５における各蓄積ラインデー
タの間に位相のずれは生じ得ない。従って、本実施の形
態においても、検査対象物（被検体）１００’の投影デ
ータを高信頼性で収集・蓄積可能となる。
【００３９】更に、ＣＰＵ（不図示）により構成される
画像処理装置１１０は、データ収集バッファ１５の蓄積
データをもとに被検体１００’の透視映像をＴＶモニタ
１１１に表示すると共に、該蓄積データをもとに透視映
像の画像解析をリアルタイムに行う。そして、自動判定
部１１２は、画像処理装置１１０による画像解析結果の
特徴情報と本装置が予め保持する欠陥部等の特徴情報と
を比較し、欠陥の存在が認識された場合は、その旨を警
報発生部１１３にリアルタイムで出力する。
画像処理装置１１０は、データ収集バッファ１５の蓄積
データをもとに被検体１００’の透視映像をＴＶモニタ
１１１に表示すると共に、該蓄積データをもとに透視映
像の画像解析をリアルタイムに行う。そして、自動判定
部１１２は、画像処理装置１１０による画像解析結果の
特徴情報と本装置が予め保持する欠陥部等の特徴情報と
を比較し、欠陥の存在が認識された場合は、その旨を警
報発生部１１３にリアルタイムで出力する。
【００４０】なお、上記実施の形態ではＸ線の一列検出
器７０を備えるＸ線ＣＴ装置やＸ線透視検査装置への適
用例を述べたが、これに限らない。本発明は多数のＸ線
検出器が円弧状の複数列に配列されている多列検出器を
備えるＸ線ＣＴ装置やＸ線透視検査装置にも適用でき
る。
器７０を備えるＸ線ＣＴ装置やＸ線透視検査装置への適
用例を述べたが、これに限らない。本発明は多数のＸ線
検出器が円弧状の複数列に配列されている多列検出器を
備えるＸ線ＣＴ装置やＸ線透視検査装置にも適用でき
る。
【００４１】また、上記実施の形態において、ケーブル
２２に転送されるデータＳＤＴはビットシリアルでも、
ビットパラレルでも良い。いずれにしても、必要ならシ
リアル−パラレル変換器、パラレルーシリアル変換器が
設けられる。またケーブル２２の素材は、ツイスト線や
同軸ケーブルの他、光ファイバでも良い。
２２に転送されるデータＳＤＴはビットシリアルでも、
ビットパラレルでも良い。いずれにしても、必要ならシ
リアル−パラレル変換器、パラレルーシリアル変換器が
設けられる。またケーブル２２の素材は、ツイスト線や
同軸ケーブルの他、光ファイバでも良い。
【００４２】また、上記本発明に好適なる複数の実施の
形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部
の構成、制御、処理及びこれらの組み合わせの様々な変
更が行えることは言うまでも無い。
形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部
の構成、制御、処理及びこれらの組み合わせの様々な変
更が行えることは言うまでも無い。
【００４３】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、被検体
の投影データを高信頼性で収集・蓄積可能となり、よっ
て被検体のＣＴ断層像を正しく再生できる。又は被検体
（検査対象物）の透視検査（画像解析）を正しく行え
る。従って、Ｘ線ＣＴ装置並びにＸ線透視検査装置の信
頼性向上に寄与するところが極めて大きい。
の投影データを高信頼性で収集・蓄積可能となり、よっ
て被検体のＣＴ断層像を正しく再生できる。又は被検体
（検査対象物）の透視検査（画像解析）を正しく行え
る。従って、Ｘ線ＣＴ装置並びにＸ線透視検査装置の信
頼性向上に寄与するところが極めて大きい。
【図１】本発明の原理を説明する図である。
【図２】実施の形態によるＸ線ＣＴ装置の要部構成図で
ある。
ある。
【図３】実施の形態によるデータ収集・蓄積方式の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図４】実施の形態によるデータ収集・蓄積方式の動作
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
【図５】他の実施の形態によるデータ収集・蓄積方式の
動作タイミングチャートである。
動作タイミングチャートである。
【図６】実施の形態によるラインセンサ型Ｘ線ＴＶ装置
の要部構成図である。
の要部構成図である。
【図７】従来技術を説明する図（１）である。
【図８】従来技術を説明する図（２）である。
１５ データ収集バッファ ２２ 接続ケーブル ８０ データ収集部（ＤＡＳ） ８１1〜８１ｎ 積分器 ８２ 信号マルチプレクサ（ＭＰＸ） ８３ Ａ／Ｄ変換器 ８４ タイミング生成部（ＴＧ） ８５ インタフェース（ＤＡＳＩＦ） ９１ ＲＡＭ ９２ ＲＯＭ ９３ 加算器 ９４ インタフェース（ＣＢＩＦ） Ａ ＡＮＤゲート回路 ＤＣＴＲ データカウンタ ＥＤ エッジ検出部 ＦＦ フリップフロップ ＳＨ１〜ＳＨｎ サンプルホールド回路 ＶＣＴＲ ビューカウンタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西出 明彦 東京都日野市旭が丘４丁目７番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 Ｆターム(参考） 4C093 AA22 BA03 CA35 FA33 FA43 FC01 FC30
Claims (2)
- 【請求項１】 被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ
線検出器を備え、該Ｘ線検出器から収集した投影データ
に基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置
において、 Ｘ線検出器の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応
する投影データを生成し、これらを収集・送出するデー
タ収集手段と、 データ収集手段から送られる投影データをメモリに記憶
するデータ蓄積手段とを備え、 前記データ収集手段は１ビュー当たりの投影データを識
別可能なタイミング信号を送出すると共に、前記データ
蓄積手段は受信したタイミング信号に基づきメモリの次
の記憶開始アドレスを所定のアドレスに更新することを
特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項２】 被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ
線検出器を備え、該Ｘ線検出器から収集した投影データ
に基づき被検体の透視検査を行なうＸ線透視検査装置に
おいて、 Ｘ線検出器の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応
する投影データを生成し、これらを収集・送出するデー
タ収集手段と、 データ収集手段から送られる投影データをメモリに記憶
するデータ蓄積手段とを備え、 前記データ収集手段は１ビュー当たりの投影データを識
別可能なタイミング信号を送出すると共に、前記データ
蓄積手段は受信したタイミング信号に基づきメモリの次
の記憶開始アドレスを所定のアドレスに更新することを
特徴とするＸ線透視検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000380794A JP4549522B2 (ja) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線透視検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000380794A JP4549522B2 (ja) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線透視検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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