JP2000342574A - Ｘ線画像補正方法およびｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線画像補正方法およびｘ線ｃｔ装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被検査体の表面の特に直線部でＸ線ビームが
散乱されることに起因するアーチファクトを抑制する。 【解決手段】 Ｘ線ＣＴ装置で撮影した補正対象画像中
の像輪郭の直線成分分布に応じてＸ線散乱重みデータを
生成し（Ｓ４）、該Ｘ線散乱重みデータに基づいて前記
補正対象画像をＸ線散乱補正した画像を得る（Ｓ５，Ｓ
６）。 【効果】 Ｘ線散乱度の大小に応じて補正された、アー
チファクトのない、高品位の画像が得られる。
散乱されることに起因するアーチファクトを抑制する。 【解決手段】 Ｘ線ＣＴ装置で撮影した補正対象画像中
の像輪郭の直線成分分布に応じてＸ線散乱重みデータを
生成し（Ｓ４）、該Ｘ線散乱重みデータに基づいて前記
補正対象画像をＸ線散乱補正した画像を得る（Ｓ５，Ｓ
６）。 【効果】 Ｘ線散乱度の大小に応じて補正された、アー
チファクトのない、高品位の画像が得られる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線画像補正方法
およびＸ線ＣＴ（Ｃomputer Tomography）装置に関し、
更に詳しくは、被検査体の表面、特に平担部（断層像上
での直線的部分）でＸ線ビームが散乱されることに起因
するアーチファクトを抑制することができるＸ線画像補
正方法およびＸ線ＣＴ装置に関する。
およびＸ線ＣＴ（Ｃomputer Tomography）装置に関し、
更に詳しくは、被検査体の表面、特に平担部（断層像上
での直線的部分）でＸ線ビームが散乱されることに起因
するアーチファクトを抑制することができるＸ線画像補
正方法およびＸ線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＸ線ＣＴ装置では、被検査体の表
面でＸ線ビームが散乱されることによる影響を補正する
ことは特に行っていない。
面でＸ線ビームが散乱されることによる影響を補正する
ことは特に行っていない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】図１３は、従来のＸ線
ＣＴ装置で得られた断層像の模式図である。断層像中に
アーチファクト（偽像）Ａｆを生じている。これは、断
層像上での直線部Ｌｎ（被検査体の表面の平面部分）で
のＸ線散乱の影響によるものである。特に産業用Ｘ線Ｃ
Ｔ装置では、被検査体の表面の平坦部分（断層像上では
直線的部分）でのＸ線の散乱が大きく、アーチファクト
の原因になっていた。そこで、本発明の目的は、被検査
体の表面、特に平坦部（断層像上での直線的部分）でＸ
線ビームが散乱されることに起因するアーチファクトを
抑制することができるＸ線画像補正方法およびＸ線ＣＴ
装置を提供することにある。
ＣＴ装置で得られた断層像の模式図である。断層像中に
アーチファクト（偽像）Ａｆを生じている。これは、断
層像上での直線部Ｌｎ（被検査体の表面の平面部分）で
のＸ線散乱の影響によるものである。特に産業用Ｘ線Ｃ
Ｔ装置では、被検査体の表面の平坦部分（断層像上では
直線的部分）でのＸ線の散乱が大きく、アーチファクト
の原因になっていた。そこで、本発明の目的は、被検査
体の表面、特に平坦部（断層像上での直線的部分）でＸ
線ビームが散乱されることに起因するアーチファクトを
抑制することができるＸ線画像補正方法およびＸ線ＣＴ
装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、Ｘ線ＣＴ装置で撮影した補正対象画像中の像輪郭の
直線成分分布に応じてＸ線散乱重みデータを生成し、該
Ｘ線散乱重みデータに基づいて前記補正対象画像をＸ線
散乱補正した画像を得ることを特徴とするＸ線画像補正
方法を提供する。被検査体の輪郭の直線部でのＸ線散乱
の影響は、直線成分分布が小さければ（例えば直線部が
短い部分なら）小さく、直線成分分布が大きければ（例
えば直線部が長い部分なら）大きい。そこで、上記第１
の観点のＸ線画像補正方法では、像輪郭の直線成分分布
に応じたＸ線散乱重みデータを生成し、これに基づいて
Ｘ線散乱補正を行う。これにより、Ｘ線散乱度の大小に
応じて補正された、アーチファクトのない、高品位の画
像が得られる。
は、Ｘ線ＣＴ装置で撮影した補正対象画像中の像輪郭の
直線成分分布に応じてＸ線散乱重みデータを生成し、該
Ｘ線散乱重みデータに基づいて前記補正対象画像をＸ線
散乱補正した画像を得ることを特徴とするＸ線画像補正
方法を提供する。被検査体の輪郭の直線部でのＸ線散乱
の影響は、直線成分分布が小さければ（例えば直線部が
短い部分なら）小さく、直線成分分布が大きければ（例
えば直線部が長い部分なら）大きい。そこで、上記第１
の観点のＸ線画像補正方法では、像輪郭の直線成分分布
に応じたＸ線散乱重みデータを生成し、これに基づいて
Ｘ線散乱補正を行う。これにより、Ｘ線散乱度の大小に
応じて補正された、アーチファクトのない、高品位の画
像が得られる。
【０００５】第２の観点では、本発明は、Ｘ線ビームを
放射するＸ線ビーム放射手段と、Ｘ線ビームを検出する
Ｘ線検出手段と、前記Ｘ線ビームを被検査体に対して相
対的に回転させる回転駆動手段と、前記Ｘ線検出手段で
得たデータに前処理を施す前処理手段と、前処理データ
から補正対象画像を生成すると共に散乱補正データから
画像を生成する再構成手段と、前記補正対象画像中の像
輪郭の直線成分分布に応じてＸ線散乱重みデータを生成
し該Ｘ線散乱重みデータに基づいて前記前処理データに
Ｘ線散乱補正を施し前記散乱補正データを生成するＸ線
散乱補正手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装
置を提供する。上記第２の観点のＸ線ＣＴ装置では、前
記第１の観点のＸ線画像補正方法を好適に実施できる。
放射するＸ線ビーム放射手段と、Ｘ線ビームを検出する
Ｘ線検出手段と、前記Ｘ線ビームを被検査体に対して相
対的に回転させる回転駆動手段と、前記Ｘ線検出手段で
得たデータに前処理を施す前処理手段と、前処理データ
から補正対象画像を生成すると共に散乱補正データから
画像を生成する再構成手段と、前記補正対象画像中の像
輪郭の直線成分分布に応じてＸ線散乱重みデータを生成
し該Ｘ線散乱重みデータに基づいて前記前処理データに
Ｘ線散乱補正を施し前記散乱補正データを生成するＸ線
散乱補正手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装
置を提供する。上記第２の観点のＸ線ＣＴ装置では、前
記第１の観点のＸ線画像補正方法を好適に実施できる。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明の実施
の形態を説明する。なお、これにより本発明が限定され
るものではない。図１は、この発明の一実施形態にかか
るＸ線ＣＴ装置１００の構成ブロック図である。このＸ
線ＣＴ装置１００は、操作コンソール１と、撮影テーブ
ル１０と、走査ガントリ２０とを具備している。前記操
作コンソール１は、操作者の指示入力や情報入力などを
受け付ける入力装置２と、本発明にかかるＣＴイメージ
ング処理などを実行する制御を行う中央処理装置３と、
制御信号などを前記撮影テーブル１０や前記走査ガント
リ２０とやり取りする制御インタフェース４と、走査ガ
ントリ２０で取得したＸ線線量データを収集するデータ
収集バッファ５と、前記ＣＴイメージング処理により得
た断層像を表示するＣＲＴ６と、プログラムやデータや
断層像を記憶する記憶装置７とを具備している。前記撮
影テーブル１０は、被検査体を乗せて体軸方向に移動さ
せ、被検査体の位置決めを行う。前記走査ガントリ２０
は、Ｘ線を放射するＸ線管２１と、放射するＸ線線量を
制御するＸ線コントローラ２２と、前記Ｘ線管２１から
放射されコリメータによりファンビームに整形されたＸ
線ビームを多チャネルで検出するＸ線検出器２７と、デ
ータ収集部２８と、被検査体の体軸の回りにＸ線管２１
などを回転させる回転コントローラ２９とを具備してい
る。
の形態を説明する。なお、これにより本発明が限定され
るものではない。図１は、この発明の一実施形態にかか
るＸ線ＣＴ装置１００の構成ブロック図である。このＸ
線ＣＴ装置１００は、操作コンソール１と、撮影テーブ
ル１０と、走査ガントリ２０とを具備している。前記操
作コンソール１は、操作者の指示入力や情報入力などを
受け付ける入力装置２と、本発明にかかるＣＴイメージ
ング処理などを実行する制御を行う中央処理装置３と、
制御信号などを前記撮影テーブル１０や前記走査ガント
リ２０とやり取りする制御インタフェース４と、走査ガ
ントリ２０で取得したＸ線線量データを収集するデータ
収集バッファ５と、前記ＣＴイメージング処理により得
た断層像を表示するＣＲＴ６と、プログラムやデータや
断層像を記憶する記憶装置７とを具備している。前記撮
影テーブル１０は、被検査体を乗せて体軸方向に移動さ
せ、被検査体の位置決めを行う。前記走査ガントリ２０
は、Ｘ線を放射するＸ線管２１と、放射するＸ線線量を
制御するＸ線コントローラ２２と、前記Ｘ線管２１から
放射されコリメータによりファンビームに整形されたＸ
線ビームを多チャネルで検出するＸ線検出器２７と、デ
ータ収集部２８と、被検査体の体軸の回りにＸ線管２１
などを回転させる回転コントローラ２９とを具備してい
る。
【０００７】図２は、上記Ｘ線ＣＴ装置１００で実行さ
れるＣＴイメージング処理のフロー図である。ステップ
Ｓ１では、被検査体を撮影テーブル８に乗せ、被検査体
の検査する位置をＸ線ファンビームの面に合わせるよう
に移動して位置決めし、被検査体の回りにＸ線管２１お
よびＸ線検出器２７などを回転させ、各ビューで且つＸ
線検出器２７の各チャネルで被検査体を透過したＸ線を
検出し、得られたＸ線透過データをデータ収集部２８に
収集する。また、収集したＸ線透過データをデータ収集
バッファ５へ送る。
れるＣＴイメージング処理のフロー図である。ステップ
Ｓ１では、被検査体を撮影テーブル８に乗せ、被検査体
の検査する位置をＸ線ファンビームの面に合わせるよう
に移動して位置決めし、被検査体の回りにＸ線管２１お
よびＸ線検出器２７などを回転させ、各ビューで且つＸ
線検出器２７の各チャネルで被検査体を透過したＸ線を
検出し、得られたＸ線透過データをデータ収集部２８に
収集する。また、収集したＸ線透過データをデータ収集
バッファ５へ送る。
【０００８】ステップＳ２では、中央処理装置３は、Ｘ
線透過データに対して前処理を施し、前処理データとす
る。すなわち、Ｘ線透過データおよびＸ線線量データに
対し各チャンネルごとのオフセットデータを減算し（オ
フセット補正）、対数変換し、Ｘ線線量検出器により得
られたＸ線線量データからＸ線透過データを減算し（Ｘ
線線量補正）、次いでＸ線検出器２７の各チャンネルご
との感度補正データを減算し（Ｘ線感度補正）、前処理
データを得る。図４は、前処理データの概念図である。
前処理データは、ch-view 空間に前処理したＸ線透過デ
ータを配列したデータである。
線透過データに対して前処理を施し、前処理データとす
る。すなわち、Ｘ線透過データおよびＸ線線量データに
対し各チャンネルごとのオフセットデータを減算し（オ
フセット補正）、対数変換し、Ｘ線線量検出器により得
られたＸ線線量データからＸ線透過データを減算し（Ｘ
線線量補正）、次いでＸ線検出器２７の各チャンネルご
との感度補正データを減算し（Ｘ線感度補正）、前処理
データを得る。図４は、前処理データの概念図である。
前処理データは、ch-view 空間に前処理したＸ線透過デ
ータを配列したデータである。
【０００９】ステップＳ３では、前処理データに対して
フィルタ関数を重畳し、逆投影して、補正対象画像を得
る。図５は、補正対象画像の概念図である。補正対象画
像は、ｘ-ｙ 空間の画像である。補正対象画像では、直
線部Ｌｎ（被検査体の表面の平坦部）でのＸ線散乱の影
響によるアーチファクトＡｆが生じている。
フィルタ関数を重畳し、逆投影して、補正対象画像を得
る。図５は、補正対象画像の概念図である。補正対象画
像は、ｘ-ｙ 空間の画像である。補正対象画像では、直
線部Ｌｎ（被検査体の表面の平坦部）でのＸ線散乱の影
響によるアーチファクトＡｆが生じている。
【００１０】ステップＳ４では、補正対象画像からＸ線
散乱重みデータを作成する。このＸ線散乱重みデータ作
成処理については、図３を参照して後述する。図６は、
Ｘ線散乱重みデータの概念図である。Ｘ線散乱重みデー
タは、ch-view 空間に補正用の重みを配列したデータで
ある。
散乱重みデータを作成する。このＸ線散乱重みデータ作
成処理については、図３を参照して後述する。図６は、
Ｘ線散乱重みデータの概念図である。Ｘ線散乱重みデー
タは、ch-view 空間に補正用の重みを配列したデータで
ある。
【００１１】ステップＳ５では、前処理データ（図４）
とＸ線散乱重みデータ（図６）とを乗算し、散乱補正デ
ータを得る。ステップＳ６では、散乱補正データに対し
てフィルタ関数を重畳し、逆投影して、断層像を得る。
図７は、得られた断層像の概念図である。この断層像で
は、図１３に示す従来の断層像にあったアーチファクト
Ａｆが抑制されている。
とＸ線散乱重みデータ（図６）とを乗算し、散乱補正デ
ータを得る。ステップＳ６では、散乱補正データに対し
てフィルタ関数を重畳し、逆投影して、断層像を得る。
図７は、得られた断層像の概念図である。この断層像で
は、図１３に示す従来の断層像にあったアーチファクト
Ａｆが抑制されている。
【００１２】図３は、Ｘ線散乱重みデータ作成処理（図
２のステップＳ４）のフロー図である。ステップＲ１で
は、空気と被検査体の間の閾値（例えばＣＴ値“−５０
０”）で補正対象画像を２値化し、２値化画像を作成す
る。ステップＲ２では、２値化画像中の領域を抽出し、
面積の小さい領域（例えば画素数が“３”以下の領域）
はノイズとして除去する。図５のアーチファクトＡｆは
この段階で除去される。ステップＲ３では、ノイズを除
去した後に残った領域の輪郭を抽出し、輪郭画像を作成
する。図８は、輪郭画像の概念図である。
２のステップＳ４）のフロー図である。ステップＲ１で
は、空気と被検査体の間の閾値（例えばＣＴ値“−５０
０”）で補正対象画像を２値化し、２値化画像を作成す
る。ステップＲ２では、２値化画像中の領域を抽出し、
面積の小さい領域（例えば画素数が“３”以下の領域）
はノイズとして除去する。図５のアーチファクトＡｆは
この段階で除去される。ステップＲ３では、ノイズを除
去した後に残った領域の輪郭を抽出し、輪郭画像を作成
する。図８は、輪郭画像の概念図である。
【００１３】ステップＲ４では、輪郭画像に対して０〜
１８０°方向の直線成分を抽出するＨough変換を施し、
ｄ−θ画像を作成する。Ｈough変換については「コンピ
ュータ画像処理入門：総研出版」に記載がある。図９
は、ｄ−θ画像の概念図である。
１８０°方向の直線成分を抽出するＨough変換を施し、
ｄ−θ画像を作成する。Ｈough変換については「コンピ
ュータ画像処理入門：総研出版」に記載がある。図９
は、ｄ−θ画像の概念図である。
【００１４】ステップＲ５では、ｄ−θ画像を平滑化
し、次にｄ−θ画像の濃度値をＸ線散乱度推定値に変換
し、Ｘ線散乱度推定画像を作成する。例えば、２次元平
滑化フィルタ（例えば係数が全て“０.０１”でサイズ
が１０×１０）をｄ−θ画像に重畳し、次に図１０に示
す如き参照テーブルによる参照テーブルデータ変換関数
を用いてｄ−θ画像の濃度値をＸ線散乱度推定値に変換
する。なお、図１０のデータ変換関数は、ｄ−θ画像の
濃度値が各直線成分分布の大きさ言い換えれば各直線部
の長さに比例するので、例えば長さ５ｃｍに相当する濃
度値Ｌ以下ではＸ線散乱が無視できるとし、例えば長さ
１０ｃｍに相当する濃度値Ｈ以上ではＸ線散乱が飽和す
るとし、濃度値Ｌと濃度値Ｈの間ではＸ線散乱が濃度値
に比例する、として作成した関数である。Ｘ線散乱度推
定値“１”は、Ｘ線散乱の影響がないことを意味する。
飽和するＸ線散乱度推定値“Ｋ”は、例えば“１.５”
である。図１１は、Ｘ線散乱度推定画像の概念図であ
る。
し、次にｄ−θ画像の濃度値をＸ線散乱度推定値に変換
し、Ｘ線散乱度推定画像を作成する。例えば、２次元平
滑化フィルタ（例えば係数が全て“０.０１”でサイズ
が１０×１０）をｄ−θ画像に重畳し、次に図１０に示
す如き参照テーブルによる参照テーブルデータ変換関数
を用いてｄ−θ画像の濃度値をＸ線散乱度推定値に変換
する。なお、図１０のデータ変換関数は、ｄ−θ画像の
濃度値が各直線成分分布の大きさ言い換えれば各直線部
の長さに比例するので、例えば長さ５ｃｍに相当する濃
度値Ｌ以下ではＸ線散乱が無視できるとし、例えば長さ
１０ｃｍに相当する濃度値Ｈ以上ではＸ線散乱が飽和す
るとし、濃度値Ｌと濃度値Ｈの間ではＸ線散乱が濃度値
に比例する、として作成した関数である。Ｘ線散乱度推
定値“１”は、Ｘ線散乱の影響がないことを意味する。
飽和するＸ線散乱度推定値“Ｋ”は、例えば“１.５”
である。図１１は、Ｘ線散乱度推定画像の概念図であ
る。
【００１５】ステップＲ６では、図４の前処理データに
対応させて図１１のＸ線散乱度推定画像を変形し、図６
に示す如きＸ線散乱重みデータを作成する。ここで、直
線成分分布に応じて各ビュー方向のＸ線散乱重みデータ
を作成するようにする。図１２は、図４の前処理データ
と図１１のＸ線散乱度推定画像の対応を示す説明図であ
る。ｘ−ｙ空間における一つの直線Ｎを想定するとき、
この直線Ｎに対応する（ch,view）があり、同時に、こ
の直線Ｎに対応する（ｄ,θ）がある。よって、ｄ−θ
空間のＸ線散乱度推定画像をch−view空間に対応するよ
うに変形可能である。
対応させて図１１のＸ線散乱度推定画像を変形し、図６
に示す如きＸ線散乱重みデータを作成する。ここで、直
線成分分布に応じて各ビュー方向のＸ線散乱重みデータ
を作成するようにする。図１２は、図４の前処理データ
と図１１のＸ線散乱度推定画像の対応を示す説明図であ
る。ｘ−ｙ空間における一つの直線Ｎを想定するとき、
この直線Ｎに対応する（ch,view）があり、同時に、こ
の直線Ｎに対応する（ｄ,θ）がある。よって、ｄ−θ
空間のＸ線散乱度推定画像をch−view空間に対応するよ
うに変形可能である。
【００１６】以上のＸ線ＣＴ装置１００によれば、被検
査体の表面の特に平坦部（断層像上での直線的部分）で
Ｘ線ビームが散乱されることに起因するアーチファクト
を抑制した高品位の断層像が得られる。
査体の表面の特に平坦部（断層像上での直線的部分）で
Ｘ線ビームが散乱されることに起因するアーチファクト
を抑制した高品位の断層像が得られる。
【００１７】他の実施形態としては、図３のステップＲ
３の代わりに、「操作者に領域を指定させ、指定された
領域だけの輪郭画像を作成する」ステップを用いるもの
が挙げられる。この場合、操作者の手間はかかるが、全
ての領域の輪郭についてＨough変換を施すよりも処理時
間を短縮できる。あるいは、誤差の少ないＸ線散乱補正
を行える。
３の代わりに、「操作者に領域を指定させ、指定された
領域だけの輪郭画像を作成する」ステップを用いるもの
が挙げられる。この場合、操作者の手間はかかるが、全
ての領域の輪郭についてＨough変換を施すよりも処理時
間を短縮できる。あるいは、誤差の少ないＸ線散乱補正
を行える。
【００１８】本発明は、上述のようなＲ−Ｒ方式のＸ線
ＣＴ装置だけでなく、Ｘ線ビームを被検査体に対して相
対的に横切る直線移動させ直線移動後に相対的に回転さ
せるＴ−Ｒ方式のＸ線ＣＴ装置にも適用できる。また、
Ｘ線管を用いたＸ線ＣＴ装置だけでなく、線型加速器を
用いたＸ線ＣＴ装置にも適用できる。
ＣＴ装置だけでなく、Ｘ線ビームを被検査体に対して相
対的に横切る直線移動させ直線移動後に相対的に回転さ
せるＴ−Ｒ方式のＸ線ＣＴ装置にも適用できる。また、
Ｘ線管を用いたＸ線ＣＴ装置だけでなく、線型加速器を
用いたＸ線ＣＴ装置にも適用できる。
【００１９】
【発明の効果】本発明のＸ線画像補正方法およびＸ線Ｃ
Ｔ装置によれば、被検査体の表面の特に平坦部（断層像
上での直線的部分）でＸ線ビームが散乱されることに起
因するアーチファクトを抑制した高品位の断層像を得る
ことが出来る。
Ｔ装置によれば、被検査体の表面の特に平坦部（断層像
上での直線的部分）でＸ線ビームが散乱されることに起
因するアーチファクトを抑制した高品位の断層像を得る
ことが出来る。
【図１】本発明の一実施形態にかかるＸ線ＣＴ装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】図１のＸ線ＣＴ装置によるＣＴイメージング処
理のフロー図である。
理のフロー図である。
【図３】図１のＸ線ＣＴ装置によるＸ線散乱重みデータ
作成処理のフロー図である。
作成処理のフロー図である。
【図４】前処理データの概念図である。
【図５】補正対象画像の概念図である。
【図６】Ｘ線散乱重みデータの概念図である。
【図７】断層像の概念図である。
【図８】輪郭画像の概念図である。
【図９】ｄ−θ画像の概念図である。
【図１０】データ変換関数の例示図である。
【図１１】Ｘ線散乱度推定画像の概念図である。
【図１２】ch-view空間とｄ−θ空間の対応を示す説明
図である。
図である。
【図１３】従来の断層像の概念図である。
１００ Ｘ線ＣＴ装置 ２１ Ｘ線管 ２７ Ｘ線検出器 ２９ 回転コントローラ ３ 中央処理装置 Ｌｎ 直線部 Ａｆ アーチファクト
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線ＣＴ装置で撮影した補正対象画像中
の像輪郭の直線成分分布に応じてＸ線散乱重みデータを
生成し、該Ｘ線散乱重みデータに基づいて前記補正対象
画像をＸ線散乱補正した画像を得ることを特徴とするＸ
線画像補正方法。 - 【請求項２】 Ｘ線ビームを放射するＸ線ビーム放射手
段と、Ｘ線ビームを検出するＸ線検出手段と、前記Ｘ線
ビームを被検査体に対して相対的に回転させる回転駆動
手段と、前記Ｘ線検出手段で得たデータに前処理を施す
前処理手段と、前処理データから補正対象画像を生成す
ると共に散乱補正データから画像を生成する再構成手段
と、前記補正対象画像中の像輪郭の直線成分分布に応じ
てＸ線散乱重みデータを生成し該Ｘ線散乱重みデータに
基づいて前記前処理データにＸ線散乱補正を施し前記散
乱補正データを生成するＸ線散乱補正手段とを具備した
ことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11153597A JP2000342574A (ja) | 1999-06-01 | 1999-06-01 | Ｘ線画像補正方法およびｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11153597A JP2000342574A (ja) | 1999-06-01 | 1999-06-01 | Ｘ線画像補正方法およびｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000342574A true JP2000342574A (ja) | 2000-12-12 |
Family
ID=15565977
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11153597A Ceased JP2000342574A (ja) | 1999-06-01 | 1999-06-01 | Ｘ線画像補正方法およびｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000342574A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002186610A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-07-02 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線透視検査装置 |
-
1999
- 1999-06-01 JP JP11153597A patent/JP2000342574A/ja not_active Ceased
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002186610A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-07-02 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線透視検査装置 |
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