JP2002176241A - 基板検査用トレイ - Google Patents
基板検査用トレイInfo
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- JP2002176241A JP2002176241A JP2000373350A JP2000373350A JP2002176241A JP 2002176241 A JP2002176241 A JP 2002176241A JP 2000373350 A JP2000373350 A JP 2000373350A JP 2000373350 A JP2000373350 A JP 2000373350A JP 2002176241 A JP2002176241 A JP 2002176241A
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- inspection
- substrate
- inspected
- circuit board
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】汎用の自動検査装置を用いて、ＢＧＡ，ＣＳ
Ｐ，ＭＣＭ等のように小さなプリント基板の端部までプ
リントパターンが形成されてガイド孔の無い基板を検査
することを可能にすること。 【解決手段】本発明にかかる基板検査用トレイ７では、
検査対象の基板の面積より大きな面積のプレートの周縁
部を除いた内側の部分に前記検査対象の基板を保持する
ための保持構造Ａを設けるとともに、前記プレートの周
縁部に検査治具に対する位置決め用のガイド孔Ｂを設け
るという手段を講じた。
Ｐ，ＭＣＭ等のように小さなプリント基板の端部までプ
リントパターンが形成されてガイド孔の無い基板を検査
することを可能にすること。 【解決手段】本発明にかかる基板検査用トレイ７では、
検査対象の基板の面積より大きな面積のプレートの周縁
部を除いた内側の部分に前記検査対象の基板を保持する
ための保持構造Ａを設けるとともに、前記プレートの周
縁部に検査治具に対する位置決め用のガイド孔Ｂを設け
るという手段を講じた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、汎用のプリント基
板検査装置を用いて、検査治具上に位置決めして搭載す
るためのガイド孔のない基板を検査する技術に関するも
のである。
板検査装置を用いて、検査治具上に位置決めして搭載す
るためのガイド孔のない基板を検査する技術に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】部品が実装される前のプリント基板を検
査するプリント基板検査装置の一例を、図１に示した。
図１に例示したプリント基板検査装置１０の略構成は、
検査対象のプリント基板を受け入れるローダ部１と、検
査前の前記プリント基板の清掃等を行う前処理部２と、
前記プリント基板の配線板の電気的な検査または画像的
な検査、もしくはその両方の検査を行う検査部３と、検
査結果に従って不良品排出部４１と良品排出部４２とに
仕分けする仕分部４と、良品排出部４２に仕分けられた
プリント基板を取り出すアンローダ部５とを備えてい
る。
査するプリント基板検査装置の一例を、図１に示した。
図１に例示したプリント基板検査装置１０の略構成は、
検査対象のプリント基板を受け入れるローダ部１と、検
査前の前記プリント基板の清掃等を行う前処理部２と、
前記プリント基板の配線板の電気的な検査または画像的
な検査、もしくはその両方の検査を行う検査部３と、検
査結果に従って不良品排出部４１と良品排出部４２とに
仕分けする仕分部４と、良品排出部４２に仕分けられた
プリント基板を取り出すアンローダ部５とを備えてい
る。
【０００３】そして、ローダ部１から受け取った検査対
象のプリント基板を検査部３まで搬送するとともに、検
査済みのプリント基板を検査結果に応じて仕分け部４に
搬送するための搬送機構６を備えている。なお、前記搬
送機構６としてはプリント基板の両側の端部を支持して
搬送するベルト式搬送機構が採用されている。
象のプリント基板を検査部３まで搬送するとともに、検
査済みのプリント基板を検査結果に応じて仕分け部４に
搬送するための搬送機構６を備えている。なお、前記搬
送機構６としてはプリント基板の両側の端部を支持して
搬送するベルト式搬送機構が採用されている。
【０００４】普通のサイズのプリント基板を検査する場
合には、従来通り、前記搬送機構６によって、プリント
基板の両側の端部を支持して搬送する。そして、前記一
枚のプリント基板の複数の同一パターンが形成されてい
る場合には、前記搬送機構６を前記繰り返しパターンの
幅ずつ順次送りながら検査することによって、前記繰り
返しパターンの一つ分の治具でプリント基板全部を検査
することができる。
合には、従来通り、前記搬送機構６によって、プリント
基板の両側の端部を支持して搬送する。そして、前記一
枚のプリント基板の複数の同一パターンが形成されてい
る場合には、前記搬送機構６を前記繰り返しパターンの
幅ずつ順次送りながら検査することによって、前記繰り
返しパターンの一つ分の治具でプリント基板全部を検査
することができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述したよ
うな従来の検査装置では、検査治具上に基板を位置決め
するためにガイド孔が必要であり、その部分にまでプリ
ントパターンが形成されている基板の検査には不適切で
あった。特に最近の高密度化、小型化の要求によって、
ＢＧＡ，ＣＳＰ，ＭＣＭ等のように小さなプリント基板
の端部までプリントパターンが形成されておりガイド孔
の無いものが多くなってきた。従来では、このような小
型のプリント基板を検査するには専用の検査装置を用意
する必要があった。
うな従来の検査装置では、検査治具上に基板を位置決め
するためにガイド孔が必要であり、その部分にまでプリ
ントパターンが形成されている基板の検査には不適切で
あった。特に最近の高密度化、小型化の要求によって、
ＢＧＡ，ＣＳＰ，ＭＣＭ等のように小さなプリント基板
の端部までプリントパターンが形成されておりガイド孔
の無いものが多くなってきた。従来では、このような小
型のプリント基板を検査するには専用の検査装置を用意
する必要があった。
【０００６】そこで、本発明は、汎用の自動検査装置を
用いて、ＢＧＡ，ＣＳＰ，ＭＣＭ等のように小さなプリ
ント基板の端部までプリントパターンが形成されてガイ
ド孔の無い基板を検査することを可能にする技術を提供
することを目的としてなされたものである。
用いて、ＢＧＡ，ＣＳＰ，ＭＣＭ等のように小さなプリ
ント基板の端部までプリントパターンが形成されてガイ
ド孔の無い基板を検査することを可能にする技術を提供
することを目的としてなされたものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明にかかる基板検査
用トレイでは、検査対象の基板の面積より大きな面積の
プレートの周縁部を除いた内側の部分に前記検査対象の
基板を保持するための保持構造を設けるとともに、前記
プレートの周縁部に検査治具に対する位置決め用のガイ
ド孔を設けるという手段を講じた。
用トレイでは、検査対象の基板の面積より大きな面積の
プレートの周縁部を除いた内側の部分に前記検査対象の
基板を保持するための保持構造を設けるとともに、前記
プレートの周縁部に検査治具に対する位置決め用のガイ
ド孔を設けるという手段を講じた。
【０００８】また、１個片のＢＧＡ，ＣＳＰ，ＭＣＭ等
のような基板の場合は小さすぎるため、通常のベルト搬
送は困難であるが、プレートにより搬送に必要な大きさ
にできるので、ベルト式搬送機構等の従来の搬送機構を
備えた汎用のプリント基板検査装置を用いて検査できる
ようになったのである。
のような基板の場合は小さすぎるため、通常のベルト搬
送は困難であるが、プレートにより搬送に必要な大きさ
にできるので、ベルト式搬送機構等の従来の搬送機構を
備えた汎用のプリント基板検査装置を用いて検査できる
ようになったのである。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下に、本発明にかかる基板検査
用トレイに用いるプリント基板検査装置を、その実施の
形態を示した図１に基づいて詳細に説明する。
用トレイに用いるプリント基板検査装置を、その実施の
形態を示した図１に基づいて詳細に説明する。
【００１０】図１に例示したプリント基板検査装置１０
の構成は、前述したように、検査対象のプリント基板を
受け入れるローダ部１と、検査前の前記プリント基板の
清掃等を行う前処理部２と、前記プリント基板の電気的
な検査または画像的な検査、もしくはその両方の検査を
行う検査部３と、検査結果に従って不良品排出部４１と
良品排出部４２とに仕分けする仕分部４と、良品排出部
４２に仕分けられたプリント基板を取り出すアンローダ
部５とを備えている。そして、ローダ部１から受け取っ
た検査対象のプリント基板を検査部３まで搬送するとと
もに、検査済みのプリント基板を検査結果に応じて仕分
け部４に搬送するための搬送機構６を備えている。な
お、前記搬送機構６としてはプリント基板の両側の端部
を支持して搬送するベルト式搬送機構が採用されている
が、搬送方式をベルト式に限定するものではない。
の構成は、前述したように、検査対象のプリント基板を
受け入れるローダ部１と、検査前の前記プリント基板の
清掃等を行う前処理部２と、前記プリント基板の電気的
な検査または画像的な検査、もしくはその両方の検査を
行う検査部３と、検査結果に従って不良品排出部４１と
良品排出部４２とに仕分けする仕分部４と、良品排出部
４２に仕分けられたプリント基板を取り出すアンローダ
部５とを備えている。そして、ローダ部１から受け取っ
た検査対象のプリント基板を検査部３まで搬送するとと
もに、検査済みのプリント基板を検査結果に応じて仕分
け部４に搬送するための搬送機構６を備えている。な
お、前記搬送機構６としてはプリント基板の両側の端部
を支持して搬送するベルト式搬送機構が採用されている
が、搬送方式をベルト式に限定するものではない。
【００１１】普通のサイズのプリント基板を検査する場
合には、従来通り、前記搬送機構６によって、プリント
基板の両側の端部を支持して搬送する。そして、前記一
枚のプリント基板の複数の同一パターンが形成されてい
る場合には、前記搬送機構６を前記繰り返しパターンの
幅ずつ順次送りながら検査することによって、前記繰り
返しパターンの一つ分の治具でプリント基板全部を検査
することができる。
合には、従来通り、前記搬送機構６によって、プリント
基板の両側の端部を支持して搬送する。そして、前記一
枚のプリント基板の複数の同一パターンが形成されてい
る場合には、前記搬送機構６を前記繰り返しパターンの
幅ずつ順次送りながら検査することによって、前記繰り
返しパターンの一つ分の治具でプリント基板全部を検査
することができる。
【００１２】そして、図２に示したようなＢＧＡ基板Ｐ
のように、40mm角程度の基板であって、その周縁部まで
配線パターンが形成されているような小さなプリント基
板の検査を行う場合には、図３に示した本発明にかかる
トレイを用いるのである。このＢＧＡ基板Ｐは本発明の
特許請求の範囲に記載された基板に対応するものであ
る。
のように、40mm角程度の基板であって、その周縁部まで
配線パターンが形成されているような小さなプリント基
板の検査を行う場合には、図３に示した本発明にかかる
トレイを用いるのである。このＢＧＡ基板Ｐは本発明の
特許請求の範囲に記載された基板に対応するものであ
る。
【００１３】図３に示したトレイ７は３層構造となって
いる。下層の２枚は接着されて１枚の下層プレート７１
とされ、検査対象のＢＧＡ基板をセットするための凹部
Ａと、位置決め用の複数のガイド孔Ｂが形成されてい
る。前記凹部Ａの縦横の寸法は検査対象のＢＧＡ基板Ｐ
の外寸と正確に合わされている。また、前記凹部Ａの深
さは、検査対象のＢＧＡ基板Ｐの厚みに合わされてい
る。この凹部Ａは本発明の特許請求の範囲に記載された
保持構造に対応するものである。そして、前記凹部Ａに
は、検査対象のＢＧＡ基板Ｐのセットと取り出しを容易
にするために指先を入れる切欠き部Ａ１が形成されてい
る。図３の場合には、４枚のＢＧＡ基板Ｐを同時にセッ
トできるように、前記凹部Ａが４個所設けられている。
いる。下層の２枚は接着されて１枚の下層プレート７１
とされ、検査対象のＢＧＡ基板をセットするための凹部
Ａと、位置決め用の複数のガイド孔Ｂが形成されてい
る。前記凹部Ａの縦横の寸法は検査対象のＢＧＡ基板Ｐ
の外寸と正確に合わされている。また、前記凹部Ａの深
さは、検査対象のＢＧＡ基板Ｐの厚みに合わされてい
る。この凹部Ａは本発明の特許請求の範囲に記載された
保持構造に対応するものである。そして、前記凹部Ａに
は、検査対象のＢＧＡ基板Ｐのセットと取り出しを容易
にするために指先を入れる切欠き部Ａ１が形成されてい
る。図３の場合には、４枚のＢＧＡ基板Ｐを同時にセッ
トできるように、前記凹部Ａが４個所設けられている。
【００１４】上層プレート７２には、下層プレート７１
の前記凹部Ａに対応した位置に検査用のプローブピンを
差し込むための複数の透孔Ｃが形成されている。また、
検査対象のＢＧＡ基板Ｐの中央部に形成された微細パタ
ーンを短絡させるための治具を差し込むための透孔Ｄが
形成されている。この治具としては、短絡させるものに
限らず、センサーを備えたものでも、全てプローブピン
としてもよい。さらに、下層プレート７１に形成された
位置決め用のガイド孔Ｂに対応した位置に、同様に位置
決め用の孔Ｅが形成されている。また、一方のプレート
に凸設された係合突起Ｆ１と、他方のプレートに穿設さ
れた係合透孔Ｆ２とを嵌め合わせることによって、二枚
のプレートを正確に位置合わせして一体のトレイ７とす
る。
の前記凹部Ａに対応した位置に検査用のプローブピンを
差し込むための複数の透孔Ｃが形成されている。また、
検査対象のＢＧＡ基板Ｐの中央部に形成された微細パタ
ーンを短絡させるための治具を差し込むための透孔Ｄが
形成されている。この治具としては、短絡させるものに
限らず、センサーを備えたものでも、全てプローブピン
としてもよい。さらに、下層プレート７１に形成された
位置決め用のガイド孔Ｂに対応した位置に、同様に位置
決め用の孔Ｅが形成されている。また、一方のプレート
に凸設された係合突起Ｆ１と、他方のプレートに穿設さ
れた係合透孔Ｆ２とを嵌め合わせることによって、二枚
のプレートを正確に位置合わせして一体のトレイ７とす
る。
【００１５】そして、前記下層プレート７１と上層プレ
ート７２とは、例えば周囲の一辺で開閉自在に連結され
ている。
ート７２とは、例えば周囲の一辺で開閉自在に連結され
ている。
【００１６】以上のような構成のトレイ７を用いて、図
２に示したような小型のプリント基板を検査する手順を
説明する。そして、図４に示したように、検査対象のＢ
ＧＡ基板Ｐを前記凹部Ａにセットして、上層プレート７
２を閉じて開かないようにテープ等で止める。なお、図
４においては上層プレート７２は図示していない。これ
によって、小型のプリント基板Ｐが、あたかも通常の大
きさのプリント基板のようは検査セットＰ１になり、周
縁部にガイド孔が形成されている通常のプリント基板で
あるかのように取り扱うことが可能になるのである。
２に示したような小型のプリント基板を検査する手順を
説明する。そして、図４に示したように、検査対象のＢ
ＧＡ基板Ｐを前記凹部Ａにセットして、上層プレート７
２を閉じて開かないようにテープ等で止める。なお、図
４においては上層プレート７２は図示していない。これ
によって、小型のプリント基板Ｐが、あたかも通常の大
きさのプリント基板のようは検査セットＰ１になり、周
縁部にガイド孔が形成されている通常のプリント基板で
あるかのように取り扱うことが可能になるのである。
【００１７】従って、汎用の自動検査装置で図４に示し
た検査セットＰ１を自動的に検査できるのである。この
とき、治具としては、図４に示した検査セットＰ１の４
枚分の検査対象のＢＧＡ基板Ｐを全て同時に検査するこ
とのできる治具を用意する必要はなく、１枚分の検査対
象のＢＧＡ基板Ｐを検査するための大きさの治具であれ
ばよい。このような治具を用いて、搬送機構６を前記検
査対象のＢＧＡ基板Ｐの間隔と同じ間隔で順次送りなが
ら検査することによって、小さな治具で検査セットＰ１
にセットされた全ての検査対象のＢＧＡ基板Ｐを検査す
ることができるのである。これらの検査工程において、
検査セットＰ１の位置を治具の位置と合わせるために、
前記ガイド孔Ｂに差し込んだガイドピンをＸＹθテーブ
ルで微調整することによって位置決めする。
た検査セットＰ１を自動的に検査できるのである。この
とき、治具としては、図４に示した検査セットＰ１の４
枚分の検査対象のＢＧＡ基板Ｐを全て同時に検査するこ
とのできる治具を用意する必要はなく、１枚分の検査対
象のＢＧＡ基板Ｐを検査するための大きさの治具であれ
ばよい。このような治具を用いて、搬送機構６を前記検
査対象のＢＧＡ基板Ｐの間隔と同じ間隔で順次送りなが
ら検査することによって、小さな治具で検査セットＰ１
にセットされた全ての検査対象のＢＧＡ基板Ｐを検査す
ることができるのである。これらの検査工程において、
検査セットＰ１の位置を治具の位置と合わせるために、
前記ガイド孔Ｂに差し込んだガイドピンをＸＹθテーブ
ルで微調整することによって位置決めする。
【００１８】なお、前記トレイ７は３層構造に限らず、
一体成形したものでもよく、基板を保持できるものであ
れば、上層プレートも不要である。また、トレイ７は、
開閉式に限らず、スライド式やネジ止め式等種々の形態
が可能である。そして、凹部の数は４個に限らず、必要
に応じて増減することができることは言うまでもない。
例えば、縦２列横４列の凹部を設けて、同時に８枚の小
型の基板をセットできるようにしてもよい。なお、以上
の説明においては、検査用のプローブピンを差し込むた
めの複数の透孔Ｃと、微細パターンを短絡させるための
治具を差し込むための透孔Ｄとが、共に上面に形成され
ている例を示したが、これらの透孔は裏面に形成されて
いても、両面に形成されていてもよい。さらには、一方
の面には検査用のプローブピンを差し込むための複数の
透孔Ｃが形成され、他方の面には微細パターンを短絡さ
せるための治具を差し込むための透孔Ｄが形成されてい
てもよい。このように、小型の検査対象のＢＧＡ基板
を、必要最小限の大きさの治具で検査するので、位置合
わせも容易となり、微細な配線パターンの検査も容易に
なる。
一体成形したものでもよく、基板を保持できるものであ
れば、上層プレートも不要である。また、トレイ７は、
開閉式に限らず、スライド式やネジ止め式等種々の形態
が可能である。そして、凹部の数は４個に限らず、必要
に応じて増減することができることは言うまでもない。
例えば、縦２列横４列の凹部を設けて、同時に８枚の小
型の基板をセットできるようにしてもよい。なお、以上
の説明においては、検査用のプローブピンを差し込むた
めの複数の透孔Ｃと、微細パターンを短絡させるための
治具を差し込むための透孔Ｄとが、共に上面に形成され
ている例を示したが、これらの透孔は裏面に形成されて
いても、両面に形成されていてもよい。さらには、一方
の面には検査用のプローブピンを差し込むための複数の
透孔Ｃが形成され、他方の面には微細パターンを短絡さ
せるための治具を差し込むための透孔Ｄが形成されてい
てもよい。このように、小型の検査対象のＢＧＡ基板
を、必要最小限の大きさの治具で検査するので、位置合
わせも容易となり、微細な配線パターンの検査も容易に
なる。
【００１９】
【発明の効果】本発明の基板検査用トレイを用いること
により、汎用のプリント基板検査装置を用いて、ＢＧＡ
等のように小型であって、ガイド孔が設けられていない
基板を検査することが可能になったのである。従って、
専用の検査機を必要としないので低コストで検査するこ
とができるようになった。また、本発明の基板検査用ト
レイに複数の同一仕様の基板をセットすることによっ
て、必要最小限の大きさの治具で検査可能となったの
で、治具のコストも抑制できるという効果が得られる。
により、汎用のプリント基板検査装置を用いて、ＢＧＡ
等のように小型であって、ガイド孔が設けられていない
基板を検査することが可能になったのである。従って、
専用の検査機を必要としないので低コストで検査するこ
とができるようになった。また、本発明の基板検査用ト
レイに複数の同一仕様の基板をセットすることによっ
て、必要最小限の大きさの治具で検査可能となったの
で、治具のコストも抑制できるという効果が得られる。
【図１】本発明の基板検査用トレイを用いるプリント基
板検査装置の構成図である。
板検査装置の構成図である。
【図２】本発明の基板検査用トレイに用いる検査対象の
ＢＧＡ基板の例である。
ＢＧＡ基板の例である。
【図３】本発明の基板検査用トレイの斜視図である。
【図４】前記基板検査用トレイに検査対象のＢＧＡ基板
をセットした状態の平面図である。
をセットした状態の平面図である。
１０ プリント基板検査装置 ２ 前処理部 ３ 検査部 ４ 仕分部 ５ アンローダ部 ６ 搬送機構 ７ 基板検査用トレイ ７１ 上層プレート ７２ 下層プレート Ａ 凹部 Ｂ ガイド孔
Claims (1)
- 【請求項１】検査対象の基板の面積より大きな面積のプ
レートの周縁部を除いた内側の部分に前記検査対象の基
板を保持するための保持構造を設けるとともに、前記プ
レートの周縁部に検査治具に対する位置決め用のガイド
孔を設けたことを特徴とする基板検査用トレイ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000373350A JP2002176241A (ja) | 2000-12-07 | 2000-12-07 | 基板検査用トレイ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000373350A JP2002176241A (ja) | 2000-12-07 | 2000-12-07 | 基板検査用トレイ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002176241A true JP2002176241A (ja) | 2002-06-21 |
Family
ID=18842755
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000373350A Pending JP2002176241A (ja) | 2000-12-07 | 2000-12-07 | 基板検査用トレイ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002176241A (ja) |
-
2000
- 2000-12-07 JP JP2000373350A patent/JP2002176241A/ja active Pending
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