JP2002168888A - 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 - Google Patents
非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 絶縁被覆が正帯電しているときも、精度良く
被測定電線の電位を測定する非接触電圧測定方法を得
る。 【解決手段】 絶縁被覆５が正負のいずれに帯電されて
いるかを測定する前測定工程ＳＴ２と、絶縁被覆５が正
帯電されていると測定された場合に、絶縁被覆５を絶縁
被覆摩擦材１３により摩擦し、絶縁被覆５が負帯電され
るように処理する負帯電処理工程ＳＴ４と、前測定工程
および負帯電処理工程において、負帯電された絶縁被覆
５を加熱して、絶縁被覆５の負帯電を除去する加熱処理
工程ＳＴ８と、加熱処理工程において、負帯電が除去さ
れた絶縁被覆上から被測定電線４の電位を測定する表面
電位測定工程ＳＴ１０とを備えた。
被測定電線の電位を測定する非接触電圧測定方法を得
る。 【解決手段】 絶縁被覆５が正負のいずれに帯電されて
いるかを測定する前測定工程ＳＴ２と、絶縁被覆５が正
帯電されていると測定された場合に、絶縁被覆５を絶縁
被覆摩擦材１３により摩擦し、絶縁被覆５が負帯電され
るように処理する負帯電処理工程ＳＴ４と、前測定工程
および負帯電処理工程において、負帯電された絶縁被覆
５を加熱して、絶縁被覆５の負帯電を除去する加熱処理
工程ＳＴ８と、加熱処理工程において、負帯電が除去さ
れた絶縁被覆上から被測定電線４の電位を測定する表面
電位測定工程ＳＴ１０とを備えた。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、絶縁材で被覆さ
れた被測定導体の印加電位を測定する非接触電圧測定装
置および非接触電圧測定方法に関するものである。
れた被測定導体の印加電位を測定する非接触電圧測定装
置および非接触電圧測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図１３は例えば特願２０００−３２００
６号公報に示された従来の非接触電圧測定装置を構成す
る各部分および被測定導体である被測定電線の関係を示
す概略模式図であり、図において、１は電圧検出電極
部、２は電圧検出回路部であり、３は絶縁被覆上から被
測定電線の電位を測定する表面電位検出装置である。４
は被測定電線（ケーブル）、５は被測定電線４を被覆し
ている絶縁被覆である。６は絶縁被覆５を加熱し、その
絶縁被覆５の負帯電を除去する赤外線照射素子、７は温
度センサ、８は温度制御部である。９はシールド板、１
０は電圧検出電極移動部、１１は非接触電圧測定装置で
ある。
６号公報に示された従来の非接触電圧測定装置を構成す
る各部分および被測定導体である被測定電線の関係を示
す概略模式図であり、図において、１は電圧検出電極
部、２は電圧検出回路部であり、３は絶縁被覆上から被
測定電線の電位を測定する表面電位検出装置である。４
は被測定電線（ケーブル）、５は被測定電線４を被覆し
ている絶縁被覆である。６は絶縁被覆５を加熱し、その
絶縁被覆５の負帯電を除去する赤外線照射素子、７は温
度センサ、８は温度制御部である。９はシールド板、１
０は電圧検出電極移動部、１１は非接触電圧測定装置で
ある。
【０００３】次に動作について説明する。図１３に示す
ように、絶縁被覆５により被覆された被測定電線４を非
接触電圧測定装置１１に装着した後、シールド板９を被
測定電線４にかぶせる。シールド板９は電圧検出回路部
２のアースに接続されており、このシールド板９によ
り、外来ノイズの影響が抑制されるようになっている。
次に、絶縁被覆５の加熱処理を行う。まず、電圧検出電
極部１の加熱処理時の昇温を防止するために、電圧検出
電極移動部１０により電圧検出電極部１を下降してお
く。その後、被測定電線４の加熱処理を赤外線照射素子
６により開始する。この加熱処理により絶縁被覆５が設
定温度（４５〜１００℃程度）に達したことを温度セン
サ７が検知したら、加熱処理を中止する。これらの加熱
処理は、温度制御部８において制御される。そして、電
圧検出電極移動部１０により電圧検出電極部１を測定位
置まで上昇させ、被測定電線４の印加電圧を表面電位検
出装置３により測定する。
ように、絶縁被覆５により被覆された被測定電線４を非
接触電圧測定装置１１に装着した後、シールド板９を被
測定電線４にかぶせる。シールド板９は電圧検出回路部
２のアースに接続されており、このシールド板９によ
り、外来ノイズの影響が抑制されるようになっている。
次に、絶縁被覆５の加熱処理を行う。まず、電圧検出電
極部１の加熱処理時の昇温を防止するために、電圧検出
電極移動部１０により電圧検出電極部１を下降してお
く。その後、被測定電線４の加熱処理を赤外線照射素子
６により開始する。この加熱処理により絶縁被覆５が設
定温度（４５〜１００℃程度）に達したことを温度セン
サ７が検知したら、加熱処理を中止する。これらの加熱
処理は、温度制御部８において制御される。そして、電
圧検出電極移動部１０により電圧検出電極部１を測定位
置まで上昇させ、被測定電線４の印加電圧を表面電位検
出装置３により測定する。
【０００４】このように絶縁被覆５を加熱した状態で、
被測定電線４の印可電圧を検出する理由について説明す
る。絶縁抵抗の高い絶縁被覆５をもつ被測定電線４に直
流電圧を印可すると、導体電位と絶縁被覆の帯電間で電
位が相殺される。この状態で被測定電線４の電位を表面
電位検出装置３で測定すると、誤った電位が測定される
ことになる。それに対して、絶縁被覆５を所定温度まで
温めると、絶縁被覆５に自由電子が生じ、絶縁被覆表面
の電荷を移動させ、絶縁被覆表面の電荷を減少させるこ
とができる。これは絶縁物の体積抵抗率は、温度の上昇
で減少する性質があるためであり、漏れ電流となる。し
たがって、昇温後に測定を行うと、被測定電線４の導体
電位の測定が正しく行えることになる。
被測定電線４の印可電圧を検出する理由について説明す
る。絶縁抵抗の高い絶縁被覆５をもつ被測定電線４に直
流電圧を印可すると、導体電位と絶縁被覆の帯電間で電
位が相殺される。この状態で被測定電線４の電位を表面
電位検出装置３で測定すると、誤った電位が測定される
ことになる。それに対して、絶縁被覆５を所定温度まで
温めると、絶縁被覆５に自由電子が生じ、絶縁被覆表面
の電荷を移動させ、絶縁被覆表面の電荷を減少させるこ
とができる。これは絶縁物の体積抵抗率は、温度の上昇
で減少する性質があるためであり、漏れ電流となる。し
たがって、昇温後に測定を行うと、被測定電線４の導体
電位の測定が正しく行えることになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の非接触電圧測定
装置は以上のように構成されているので、絶縁被覆５が
負帯電している場合には、加熱処理によって絶縁被覆表
面の電荷を移動させ、その負帯電を除去して、被測定電
線４の導体電位を精度良く測定することができるが、絶
縁被覆５が正帯電している場合には、その正帯電を除去
することができず、よって、被測定電線４の導体電位を
精度良く測定することができないなどの課題があった。
装置は以上のように構成されているので、絶縁被覆５が
負帯電している場合には、加熱処理によって絶縁被覆表
面の電荷を移動させ、その負帯電を除去して、被測定電
線４の導体電位を精度良く測定することができるが、絶
縁被覆５が正帯電している場合には、その正帯電を除去
することができず、よって、被測定電線４の導体電位を
精度良く測定することができないなどの課題があった。
【０００６】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、被測定導体を被覆する絶縁材が正
帯電しているときも、精度良く被測定導体の電位を測定
する非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法を得
ることを目的とする。
めになされたもので、被測定導体を被覆する絶縁材が正
帯電しているときも、精度良く被測定導体の電位を測定
する非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法を得
ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明に係る非接触電
圧測定装置は、被測定導体を被覆する絶縁材を負帯電に
する負帯電処理手段と、その絶縁材を加熱し負帯電を除
去する加熱処理手段と、絶縁材上から被測定導体の電位
を測定する表面電位測定手段とを備えたものである。
圧測定装置は、被測定導体を被覆する絶縁材を負帯電に
する負帯電処理手段と、その絶縁材を加熱し負帯電を除
去する加熱処理手段と、絶縁材上から被測定導体の電位
を測定する表面電位測定手段とを備えたものである。
【０００８】この発明に係る非接触電圧測定装置は、負
帯電処理手段を、絶縁材とは異なる材料によって絶縁材
を摩擦し、絶縁材を負帯電にする摩擦処理手段としたも
のである。
帯電処理手段を、絶縁材とは異なる材料によって絶縁材
を摩擦し、絶縁材を負帯電にする摩擦処理手段としたも
のである。
【０００９】この発明に係る非接触電圧測定装置は、負
帯電処理手段を、絶縁材とは異なる材料を絶縁材と接触
および非接触させ、絶縁材を負帯電にする異種材料移動
手段としたものである。
帯電処理手段を、絶縁材とは異なる材料を絶縁材と接触
および非接触させ、絶縁材を負帯電にする異種材料移動
手段としたものである。
【００１０】この発明に係る非接触電圧測定装置は、負
帯電処理手段を、絶縁材とは異なる材料を絶縁材と密着
して接触させる異種材料密着手段と、所定の剥離速度を
もって密着した異種材料を剥離し、絶縁材を負帯電にす
る異種材料剥離手段としたものである。
帯電処理手段を、絶縁材とは異なる材料を絶縁材と密着
して接触させる異種材料密着手段と、所定の剥離速度を
もって密着した異種材料を剥離し、絶縁材を負帯電にす
る異種材料剥離手段としたものである。
【００１１】この発明に係る非接触電圧測定装置は、負
帯電処理手段を、絶縁材に電子ビームを照射し、絶縁材
を負帯電にする電子ビーム照射手段としたものである。
帯電処理手段を、絶縁材に電子ビームを照射し、絶縁材
を負帯電にする電子ビーム照射手段としたものである。
【００１２】この発明に係る非接触電圧測定装置は、負
帯電処理手段を、絶縁材に電磁波を照射し、絶縁材を負
帯電にする電磁波照射手段としたものである。
帯電処理手段を、絶縁材に電磁波を照射し、絶縁材を負
帯電にする電磁波照射手段としたものである。
【００１３】この発明に係る非接触電圧測定装置は、負
帯電処理手段を、絶縁材にコロナ放電を照射し、絶縁材
を負帯電にするコロナ放電照射手段としたものである。
帯電処理手段を、絶縁材にコロナ放電を照射し、絶縁材
を負帯電にするコロナ放電照射手段としたものである。
【００１４】この発明に係る非接触電圧測定装置は、絶
縁材の材料を判別し、絶縁材の材料が負極性帯電材料で
ある場合は、負帯電処理手段による負帯電処理を省略さ
せる材料判別手段を備えたものである。
縁材の材料を判別し、絶縁材の材料が負極性帯電材料で
ある場合は、負帯電処理手段による負帯電処理を省略さ
せる材料判別手段を備えたものである。
【００１５】この発明に係る非接触電圧測定方法は、被
測定導体を被覆する絶縁材が正負のいずれに帯電されて
いるかを測定する前測定工程と、絶縁材が正帯電されて
いると測定された場合に、絶縁材が負帯電されるように
処理する負帯電処理工程と、負帯電された絶縁材を加熱
して、絶縁材の負帯電を除去する加熱処理工程と、負帯
電が除去された絶縁材上から被測定導体の電位を測定す
る表面電位測定工程とを備えたものである。
測定導体を被覆する絶縁材が正負のいずれに帯電されて
いるかを測定する前測定工程と、絶縁材が正帯電されて
いると測定された場合に、絶縁材が負帯電されるように
処理する負帯電処理工程と、負帯電された絶縁材を加熱
して、絶縁材の負帯電を除去する加熱処理工程と、負帯
電が除去された絶縁材上から被測定導体の電位を測定す
る表面電位測定工程とを備えたものである。
【００１６】この発明に係る非接触電圧測定方法は、絶
縁材の材料を判別して、絶縁材の材料が負極性帯電材料
である場合には、前測定工程および負帯電処理工程を省
略する材料判別工程を備えたものである。
縁材の材料を判別して、絶縁材の材料が負極性帯電材料
である場合には、前測定工程および負帯電処理工程を省
略する材料判別工程を備えたものである。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１による非
接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視図、図２は非接
触電圧測定装置を構成する各部分および被測定導体であ
る被測定電線の関係を示した概略模式図、図３は非接触
電圧測定装置に被測定導体である被測定電線を装着した
場合を示す概略斜視図、図４はこの発明の実施の形態１
による非接触電圧測定方法を示すフローチャート、図５
は帯電列を示す説明図である。図１から図３において、
１は電圧検出電極部、２は電圧検出回路部であり、３は
絶縁被覆上から被測定電線の電位を測定する表面電位検
出装置（表面電位測定手段）である。４は被測定電線
（ケーブル：被測定導体）、５は被測定電線４を被覆し
ている絶縁被覆（絶縁材）である。６は絶縁被覆５を加
熱し、その絶縁被覆５の負帯電を除去する赤外線照射素
子、７は温度センサ、８は温度制御部である。なお、赤
外線照射素子６、温度センサ７、および温度制御部８に
より加熱処理手段を構成する。９はシールド板、１０は
電圧検出電極移動部、１１は非接触電圧測定装置であ
る。１２は被測定電線固定治具、１３は絶縁被覆５とは
異なる材料の絶縁被覆摩擦材（摩擦処理手段）、１４は
その絶縁被覆摩擦材１３を移動することによって絶縁被
覆５を摩擦する摩擦材移動部（摩擦処理手段）であり、
絶縁被覆摩擦材１３、および摩擦材移動部１４により、
絶縁被覆５を負帯電にする負帯電処理手段を構成する。
説明する。 実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１による非
接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視図、図２は非接
触電圧測定装置を構成する各部分および被測定導体であ
る被測定電線の関係を示した概略模式図、図３は非接触
電圧測定装置に被測定導体である被測定電線を装着した
場合を示す概略斜視図、図４はこの発明の実施の形態１
による非接触電圧測定方法を示すフローチャート、図５
は帯電列を示す説明図である。図１から図３において、
１は電圧検出電極部、２は電圧検出回路部であり、３は
絶縁被覆上から被測定電線の電位を測定する表面電位検
出装置（表面電位測定手段）である。４は被測定電線
（ケーブル：被測定導体）、５は被測定電線４を被覆し
ている絶縁被覆（絶縁材）である。６は絶縁被覆５を加
熱し、その絶縁被覆５の負帯電を除去する赤外線照射素
子、７は温度センサ、８は温度制御部である。なお、赤
外線照射素子６、温度センサ７、および温度制御部８に
より加熱処理手段を構成する。９はシールド板、１０は
電圧検出電極移動部、１１は非接触電圧測定装置であ
る。１２は被測定電線固定治具、１３は絶縁被覆５とは
異なる材料の絶縁被覆摩擦材（摩擦処理手段）、１４は
その絶縁被覆摩擦材１３を移動することによって絶縁被
覆５を摩擦する摩擦材移動部（摩擦処理手段）であり、
絶縁被覆摩擦材１３、および摩擦材移動部１４により、
絶縁被覆５を負帯電にする負帯電処理手段を構成する。
【００１８】次に動作について説明する。図３に示すよ
うに、絶縁被覆５により被覆された被測定電線４を被測
定電線固定治具１２のＶ型溝部に装着した後、シールド
板９を被測定電線４にかぶせる（図４のステップＳＴ
１）。シールド板９は電圧検出回路部２のアースに接続
されており、このシールド板９により、外来ノイズの影
響が抑制されるようになっている。図３には、被測定電
線４の上面と側面の一部を覆う平板折り曲げ構造のシー
ルド板９についてのみ示したが、被測定電線４の全周を
覆う構造にしても良い。次に、絶縁被覆５の帯電が正で
あるか負であるかの判別のために、前測定を行う（図４
のステップＳＴ２，ＳＴ３：前測定工程）。下降してあ
った電圧検出電極部１を、被測定電線４のＶ型溝部の底
面である電位測定位置まで電圧検出電極移動部１０によ
り上昇させ、被測定電線４の初期状態での電位測定（前
測定）を行う（電圧検出電極部１は矢印Ａ方向に移動可
能である）。電圧検出電極部１を外部環境や加熱処理時
の昇温等から保護するために、電位測定時以外は、電圧
検出電極部１を下降しておくのが良い。
うに、絶縁被覆５により被覆された被測定電線４を被測
定電線固定治具１２のＶ型溝部に装着した後、シールド
板９を被測定電線４にかぶせる（図４のステップＳＴ
１）。シールド板９は電圧検出回路部２のアースに接続
されており、このシールド板９により、外来ノイズの影
響が抑制されるようになっている。図３には、被測定電
線４の上面と側面の一部を覆う平板折り曲げ構造のシー
ルド板９についてのみ示したが、被測定電線４の全周を
覆う構造にしても良い。次に、絶縁被覆５の帯電が正で
あるか負であるかの判別のために、前測定を行う（図４
のステップＳＴ２，ＳＴ３：前測定工程）。下降してあ
った電圧検出電極部１を、被測定電線４のＶ型溝部の底
面である電位測定位置まで電圧検出電極移動部１０によ
り上昇させ、被測定電線４の初期状態での電位測定（前
測定）を行う（電圧検出電極部１は矢印Ａ方向に移動可
能である）。電圧検出電極部１を外部環境や加熱処理時
の昇温等から保護するために、電位測定時以外は、電圧
検出電極部１を下降しておくのが良い。
【００１９】前測定によって、絶縁被覆５の帯電が正で
あった場合について説明する。正であった場合、絶縁被
覆５に負の帯電処理を行う。この実施の形態１では、絶
縁被覆摩擦材１３を絶縁被覆５に接触させて、摩擦材移
動部１４により絶縁被覆５を摩擦するものとした（絶縁
被覆摩擦材１３は矢印Ｂ方向に移動可能である）。絶縁
被覆摩擦材１３であるが、絶縁被覆５の材料に対応して
選択する必要がある。図５に帯電列を示したが、列上で
上側にある物質と下側にある物質を摩擦すると、上側は
正極性に、下側は負極性に帯電し、位置の近い物質同士
では帯電量は少なく、離れた物質同士では多くなる傾向
がある。つまり絶縁被覆５の材料よりも、帯電列におい
て上側に位置する材料で摩擦すれば、絶縁被覆５は負に
帯電する（図４のステップＳＴ４：負帯電処理工程）。
また、帯電列で離れた物質ほど、負の帯電の効果は大き
い。選択した材料にもよるが、絶縁被覆摩擦材１３によ
る摩擦（摩擦材移動部１４による絶縁被覆摩擦材１３の
往復移動）は複数回（５〜１０回程度）行うのが望まし
い。摩擦後に、被測定電線４の電位測定（再測定）を行
い、帯電が負であれば摩擦処理は終了する（図４のステ
ップＳＴ５，ＳＴ６：負帯電処理工程）。帯電が正であ
れば、帯電が負になるまで摩擦処理を繰り返し行う。帯
電が負になれば、次の加熱処理を行う。
あった場合について説明する。正であった場合、絶縁被
覆５に負の帯電処理を行う。この実施の形態１では、絶
縁被覆摩擦材１３を絶縁被覆５に接触させて、摩擦材移
動部１４により絶縁被覆５を摩擦するものとした（絶縁
被覆摩擦材１３は矢印Ｂ方向に移動可能である）。絶縁
被覆摩擦材１３であるが、絶縁被覆５の材料に対応して
選択する必要がある。図５に帯電列を示したが、列上で
上側にある物質と下側にある物質を摩擦すると、上側は
正極性に、下側は負極性に帯電し、位置の近い物質同士
では帯電量は少なく、離れた物質同士では多くなる傾向
がある。つまり絶縁被覆５の材料よりも、帯電列におい
て上側に位置する材料で摩擦すれば、絶縁被覆５は負に
帯電する（図４のステップＳＴ４：負帯電処理工程）。
また、帯電列で離れた物質ほど、負の帯電の効果は大き
い。選択した材料にもよるが、絶縁被覆摩擦材１３によ
る摩擦（摩擦材移動部１４による絶縁被覆摩擦材１３の
往復移動）は複数回（５〜１０回程度）行うのが望まし
い。摩擦後に、被測定電線４の電位測定（再測定）を行
い、帯電が負であれば摩擦処理は終了する（図４のステ
ップＳＴ５，ＳＴ６：負帯電処理工程）。帯電が正であ
れば、帯電が負になるまで摩擦処理を繰り返し行う。帯
電が負になれば、次の加熱処理を行う。
【００２０】絶縁被覆５を負に帯電する理由について説
明する。後の加熱処理において絶縁被覆５の帯電を除去
するが、正に帯電している場合、加熱処理によって帯電
除去が行われない。つまり加熱処理にて帯電除去を行う
場合、被帯電除去材（ここでは絶縁被覆５）は必ず負に
帯電していなければならない。
明する。後の加熱処理において絶縁被覆５の帯電を除去
するが、正に帯電している場合、加熱処理によって帯電
除去が行われない。つまり加熱処理にて帯電除去を行う
場合、被帯電除去材（ここでは絶縁被覆５）は必ず負に
帯電していなければならない。
【００２１】前測定において、または負の帯電処理にお
いて、絶縁被覆５が負の帯電状態であるとき、加熱処理
を行う。まず、電圧検出電極部１の加熱処理時の昇温を
防止するために、電圧検出電極移動部１０により電圧検
出電極部１を下降しておく（電圧検出電極部１は矢印Ａ
方向に移動可能である）（図４のステップＳＴ７）。そ
の後、被測定電線４の加熱処理を赤外線照射素子６によ
り開始する（図４のステップＳＴ８：加熱処理工程）。
図１には赤外線照射素子６を３つ設置しているが、１つ
でも複数個でも良い。また、Ｖ型溝部の対向面にも設置
し、両側から加熱する構成にしても良い。この加熱処理
により絶縁被覆５が設定温度（４５〜１００℃程度）に
達したことを温度センサ７が検知したら、加熱処理を中
止する（図４のステップＳＴ９：加熱処理工程）。これ
らの加熱処理は、温度制御部８において制御される。そ
して、電圧検出電極移動部１０により電圧検出電極部１
をＶ型溝部の底面である測定位置まで上昇させ、被測定
電線４の印加電圧を表面電位検出装置３により測定する
（図４のステップＳＴ１０：表面電位測定工程）。そし
て、測定されれば、その測定を終了する（図４のステッ
プＳＴ１１）。
いて、絶縁被覆５が負の帯電状態であるとき、加熱処理
を行う。まず、電圧検出電極部１の加熱処理時の昇温を
防止するために、電圧検出電極移動部１０により電圧検
出電極部１を下降しておく（電圧検出電極部１は矢印Ａ
方向に移動可能である）（図４のステップＳＴ７）。そ
の後、被測定電線４の加熱処理を赤外線照射素子６によ
り開始する（図４のステップＳＴ８：加熱処理工程）。
図１には赤外線照射素子６を３つ設置しているが、１つ
でも複数個でも良い。また、Ｖ型溝部の対向面にも設置
し、両側から加熱する構成にしても良い。この加熱処理
により絶縁被覆５が設定温度（４５〜１００℃程度）に
達したことを温度センサ７が検知したら、加熱処理を中
止する（図４のステップＳＴ９：加熱処理工程）。これ
らの加熱処理は、温度制御部８において制御される。そ
して、電圧検出電極移動部１０により電圧検出電極部１
をＶ型溝部の底面である測定位置まで上昇させ、被測定
電線４の印加電圧を表面電位検出装置３により測定する
（図４のステップＳＴ１０：表面電位測定工程）。そし
て、測定されれば、その測定を終了する（図４のステッ
プＳＴ１１）。
【００２２】このように絶縁被覆５を加熱した状態で、
被測定電線４の印可電圧を検出する理由について説明す
る。絶縁抵抗の高い絶縁被覆５をもつ被測定電線４に直
流電圧を印可すると、導体電位と絶縁被覆の帯電間で電
位が相殺される。この状態で被測定電線４の電位を表面
電位検出装置３で測定すると、誤った電位が測定される
ことになる。それに対して、絶縁被覆５を赤外線照射素
子６により所定温度まで温めると、絶縁被覆５に自由電
子が生じ、絶縁被覆表面の電荷を移動させ、絶縁被覆表
面の電荷を減少させることができる。これは絶縁物の体
積抵抗率は、温度の上昇で減少する性質があるためであ
り、漏れ電流となる。したがって、昇温後に測定を行う
と、被測定電線４の導体電位の測定が正しく行えること
になる。上記絶縁被覆表面の電荷を移動、減少させるた
めに必要な温度は、絶縁被覆５の材質により変動する
が、一般には、４５〜１００℃、好ましくは、６０〜１
００℃に設定するのが良い。
被測定電線４の印可電圧を検出する理由について説明す
る。絶縁抵抗の高い絶縁被覆５をもつ被測定電線４に直
流電圧を印可すると、導体電位と絶縁被覆の帯電間で電
位が相殺される。この状態で被測定電線４の電位を表面
電位検出装置３で測定すると、誤った電位が測定される
ことになる。それに対して、絶縁被覆５を赤外線照射素
子６により所定温度まで温めると、絶縁被覆５に自由電
子が生じ、絶縁被覆表面の電荷を移動させ、絶縁被覆表
面の電荷を減少させることができる。これは絶縁物の体
積抵抗率は、温度の上昇で減少する性質があるためであ
り、漏れ電流となる。したがって、昇温後に測定を行う
と、被測定電線４の導体電位の測定が正しく行えること
になる。上記絶縁被覆表面の電荷を移動、減少させるた
めに必要な温度は、絶縁被覆５の材質により変動する
が、一般には、４５〜１００℃、好ましくは、６０〜１
００℃に設定するのが良い。
【００２３】なお、この実施の形態１では、加熱処理手
段として、赤外線照射素子６を用いているが、これは特
に限定するものではなく、熱風吹付け、電磁誘導加熱、
または電熱線等により絶縁被覆５の昇温を行う等、絶縁
被覆５の温度を上げられるものであれば良い。また、こ
の実施の形態１では、非接触電圧測定装置内に機械式の
摩擦処理手段を収めた構成としたが、手動にて絶縁被覆
５を摩擦する構成としても良い。
段として、赤外線照射素子６を用いているが、これは特
に限定するものではなく、熱風吹付け、電磁誘導加熱、
または電熱線等により絶縁被覆５の昇温を行う等、絶縁
被覆５の温度を上げられるものであれば良い。また、こ
の実施の形態１では、非接触電圧測定装置内に機械式の
摩擦処理手段を収めた構成としたが、手動にて絶縁被覆
５を摩擦する構成としても良い。
【００２４】以上のように、この実施の形態１では、被
測定電線４を被覆する絶縁被覆５が＋（プラス）に帯電
しているときも、一旦、絶縁被覆５を−（マイナス）に
帯電させることで帯電の除去が可能となるため、精度良
く被測定電線４の電位を測定できる非接触電圧測定装置
が実現できる。また、絶縁被覆摩擦材１３および摩擦材
移動部１４により、絶縁被覆５を容易に負帯電にするこ
とができる。
測定電線４を被覆する絶縁被覆５が＋（プラス）に帯電
しているときも、一旦、絶縁被覆５を−（マイナス）に
帯電させることで帯電の除去が可能となるため、精度良
く被測定電線４の電位を測定できる非接触電圧測定装置
が実現できる。また、絶縁被覆摩擦材１３および摩擦材
移動部１４により、絶縁被覆５を容易に負帯電にするこ
とができる。
【００２５】実施の形態２．図６はこの発明の実施の形
態２による非接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視
図、図７は非接触電圧測定装置を構成する各部分および
被測定導体である被測定電線の関係を示した概略模式図
である。図６および図７において、１５は絶縁被覆５と
は異なる材料の絶縁被覆接触材、１６はその絶縁被覆接
触材１５を絶縁被覆５に接触および非接触させ、絶縁被
覆５を負帯電にする絶縁被覆接触材移動部（異種材料移
動手段）であり、絶縁被覆接触材１５および絶縁被覆接
触材移動部１６により、絶縁被覆５を負帯電にする負帯
電処理手段を構成する。なお、この実施の形態２は、実
施の形態１の絶縁被覆摩擦材１３および摩擦材移動部１
４を、絶縁被覆接触材１５および絶縁被覆接触材移動部
１６に置き換えた以外は同じであるので他の説明は省略
する。
態２による非接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視
図、図７は非接触電圧測定装置を構成する各部分および
被測定導体である被測定電線の関係を示した概略模式図
である。図６および図７において、１５は絶縁被覆５と
は異なる材料の絶縁被覆接触材、１６はその絶縁被覆接
触材１５を絶縁被覆５に接触および非接触させ、絶縁被
覆５を負帯電にする絶縁被覆接触材移動部（異種材料移
動手段）であり、絶縁被覆接触材１５および絶縁被覆接
触材移動部１６により、絶縁被覆５を負帯電にする負帯
電処理手段を構成する。なお、この実施の形態２は、実
施の形態１の絶縁被覆摩擦材１３および摩擦材移動部１
４を、絶縁被覆接触材１５および絶縁被覆接触材移動部
１６に置き換えた以外は同じであるので他の説明は省略
する。
【００２６】次に動作について説明する。実施の形態１
では、摩擦処理手段により、絶縁被覆５を負帯電処理し
ていたが、この実施の形態２では、異種材料移動手段を
設けて、いわゆる接触帯電により、絶縁被覆５を負帯電
処理するものである。被測定電線４の初期状態での電位
測定（前測定）を行い、正であった場合、絶縁被覆５に
負の帯電処理を行う。この実施の形態２では、絶縁被覆
接触材１５を絶縁被覆５に接触させた後、絶縁被覆接触
材移動部１６により絶縁被覆接触材１５を非接触にする
ものとした（絶縁被覆接触材１５は、絶縁被覆５に対し
て直角方向である矢印Ｃ方向に移動可能である）。実施
の形態１と同様に、絶縁被覆５の材料よりも、帯電列に
おいて上側に位置する材料で接触すれば、絶縁被覆５は
負に帯電する。また、帯電列で離れた物質ほど、負の帯
電の効果は大きい。
では、摩擦処理手段により、絶縁被覆５を負帯電処理し
ていたが、この実施の形態２では、異種材料移動手段を
設けて、いわゆる接触帯電により、絶縁被覆５を負帯電
処理するものである。被測定電線４の初期状態での電位
測定（前測定）を行い、正であった場合、絶縁被覆５に
負の帯電処理を行う。この実施の形態２では、絶縁被覆
接触材１５を絶縁被覆５に接触させた後、絶縁被覆接触
材移動部１６により絶縁被覆接触材１５を非接触にする
ものとした（絶縁被覆接触材１５は、絶縁被覆５に対し
て直角方向である矢印Ｃ方向に移動可能である）。実施
の形態１と同様に、絶縁被覆５の材料よりも、帯電列に
おいて上側に位置する材料で接触すれば、絶縁被覆５は
負に帯電する。また、帯電列で離れた物質ほど、負の帯
電の効果は大きい。
【００２７】なお、この実施の形態２では、異種材料移
動手段による接触帯電により絶縁被覆５の負帯電処理を
行ったが、絶縁被覆５とは異なる絶縁被覆接触材を絶縁
被覆５と密着して接触させる異種材料密着手段と、ある
剥離速度をもって密着した上記絶縁被覆接触材を絶縁被
覆５から引き離して、絶縁被覆５を負帯電（いわゆる剥
離帯電）にする異種材料剥離手段とを備えるようにして
も良い。
動手段による接触帯電により絶縁被覆５の負帯電処理を
行ったが、絶縁被覆５とは異なる絶縁被覆接触材を絶縁
被覆５と密着して接触させる異種材料密着手段と、ある
剥離速度をもって密着した上記絶縁被覆接触材を絶縁被
覆５から引き離して、絶縁被覆５を負帯電（いわゆる剥
離帯電）にする異種材料剥離手段とを備えるようにして
も良い。
【００２８】以上のように、この実施の形態２では、被
測定電線４を被覆する絶縁被覆５が＋（プラス）に帯電
しているときも、一旦、絶縁被覆５を−（マイナス）に
帯電させることで帯電の除去が可能となるため、精度良
く被測定電線４の電位を測定できる非接触電圧測定装置
が実現できる。また、絶縁被覆接触材１５および絶縁被
覆接触材移動部１６からなる異種材料移動手段による接
触帯電、または異種材料密着手段および異種材料剥離手
段による剥離帯電により、絶縁被覆５を容易に負帯電に
することができる。
測定電線４を被覆する絶縁被覆５が＋（プラス）に帯電
しているときも、一旦、絶縁被覆５を−（マイナス）に
帯電させることで帯電の除去が可能となるため、精度良
く被測定電線４の電位を測定できる非接触電圧測定装置
が実現できる。また、絶縁被覆接触材１５および絶縁被
覆接触材移動部１６からなる異種材料移動手段による接
触帯電、または異種材料密着手段および異種材料剥離手
段による剥離帯電により、絶縁被覆５を容易に負帯電に
することができる。
【００２９】実施の形態３．図８はこの発明の実施の形
態３による非接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視
図、図９は非接触電圧測定装置を構成する各部分および
被測定導体である被測定電線の関係を示した概略模式図
である。図８および図９において、１７は電子ビーム照
射口（電子ビーム照射手段）、１８は電子ビーム生成部
（電子ビーム照射手段）であり、電子ビーム照射口１７
および電子ビーム生成部１８により、絶縁被覆５を負帯
電にする負帯電処理手段を構成する。なお、この実施の
形態３は、実施の形態１の絶縁被覆摩擦材１３および摩
擦材移動部１４を、電子ビーム照射口１７および電子ビ
ーム生成部１８に置き換えた以外は同じであるので他の
説明は省略する。
態３による非接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視
図、図９は非接触電圧測定装置を構成する各部分および
被測定導体である被測定電線の関係を示した概略模式図
である。図８および図９において、１７は電子ビーム照
射口（電子ビーム照射手段）、１８は電子ビーム生成部
（電子ビーム照射手段）であり、電子ビーム照射口１７
および電子ビーム生成部１８により、絶縁被覆５を負帯
電にする負帯電処理手段を構成する。なお、この実施の
形態３は、実施の形態１の絶縁被覆摩擦材１３および摩
擦材移動部１４を、電子ビーム照射口１７および電子ビ
ーム生成部１８に置き換えた以外は同じであるので他の
説明は省略する。
【００３０】次に動作について説明する。実施の形態１
では、摩擦処理手段により、絶縁被覆５を負帯電処理し
ていたが、この実施の形態３では、電子ビーム照射手段
を設けて、絶縁被覆５を負帯電処理するものである。被
測定電線４の初期状態での電位測定（前測定）を行い、
正であった場合、絶縁被覆５に負の帯電処理を行う。実
施の形態３では、電子ビーム生成部１８において生成し
た電子を、電子ビーム照射口１７から絶縁被覆５に照射
するものとした。
では、摩擦処理手段により、絶縁被覆５を負帯電処理し
ていたが、この実施の形態３では、電子ビーム照射手段
を設けて、絶縁被覆５を負帯電処理するものである。被
測定電線４の初期状態での電位測定（前測定）を行い、
正であった場合、絶縁被覆５に負の帯電処理を行う。実
施の形態３では、電子ビーム生成部１８において生成し
た電子を、電子ビーム照射口１７から絶縁被覆５に照射
するものとした。
【００３１】なお、この実施の形態３では、電子ビーム
により絶縁被覆５に負の帯電を行ったが、電磁波照射
（電磁波照射手段）、あるいはコロナ放電照射（コロナ
放電照射手段）によって、負の帯電を行っても良い。
により絶縁被覆５に負の帯電を行ったが、電磁波照射
（電磁波照射手段）、あるいはコロナ放電照射（コロナ
放電照射手段）によって、負の帯電を行っても良い。
【００３２】以上のように、この実施の形態３では、被
測定電線４を被覆する絶縁被覆５が＋（プラス）に帯電
しているときも、一旦、絶縁被覆５を−（マイナス）に
帯電させることで帯電の除去が可能となるため、精度良
く被測定電線４の電位を測定できる非接触電圧測定装置
が実現できる。また、電子ビーム照射手段、電磁波照射
手段、またはコロナ放電照射手段により、絶縁被覆５の
材料および帯電列を考慮することなく、絶縁被覆５を容
易に負帯電にすることができる。
測定電線４を被覆する絶縁被覆５が＋（プラス）に帯電
しているときも、一旦、絶縁被覆５を−（マイナス）に
帯電させることで帯電の除去が可能となるため、精度良
く被測定電線４の電位を測定できる非接触電圧測定装置
が実現できる。また、電子ビーム照射手段、電磁波照射
手段、またはコロナ放電照射手段により、絶縁被覆５の
材料および帯電列を考慮することなく、絶縁被覆５を容
易に負帯電にすることができる。
【００３３】実施の形態４．図１０はこの発明の実施の
形態４による非接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視
図、図１１は非接触電圧測定装置を構成する各部分およ
び被測定導体である被測定電線の関係を示した概略模式
図、図１２はこの発明の実施の形態４による非接触電圧
測定方法を示すフローチャートである。図１０および図
１１において、１９は絶縁被覆マーキング読取部（材料
判別手段）、２０は絶縁被覆マーキング読取部１９によ
って読み取られたマーキングに応じて負極性帯電材料で
あるか、正極性帯電材料であるか判別し、負極性帯電材
料である場合には、負帯電処理手段による負帯電処理を
省略させる絶縁被覆材料判別部（材料判別手段）であ
る。なお、その他の構成については、実施の形態１から
実施の形態３の構成と同じであるので他の説明は省略す
る。
形態４による非接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視
図、図１１は非接触電圧測定装置を構成する各部分およ
び被測定導体である被測定電線の関係を示した概略模式
図、図１２はこの発明の実施の形態４による非接触電圧
測定方法を示すフローチャートである。図１０および図
１１において、１９は絶縁被覆マーキング読取部（材料
判別手段）、２０は絶縁被覆マーキング読取部１９によ
って読み取られたマーキングに応じて負極性帯電材料で
あるか、正極性帯電材料であるか判別し、負極性帯電材
料である場合には、負帯電処理手段による負帯電処理を
省略させる絶縁被覆材料判別部（材料判別手段）であ
る。なお、その他の構成については、実施の形態１から
実施の形態３の構成と同じであるので他の説明は省略す
る。
【００３４】次に動作について説明する。被測定電線４
を本装置に装着し、被測定電線表面にマーキングされた
ケーブル型名、メーカー等の情報を、絶縁被覆マーキン
グ読取装置１９を用いて読み込む。読み込んだ情報から
絶縁被覆材料判別部２０において、まず、装着した被測
定電線４の絶縁被覆材料が何であるかを識別し（図１２
のステップＳＴ２１：材料判別工程）、その材料が正極
性帯電材料であるか、負極性帯電材料であるか、または
不明であるか判別する（図１２のステップＳＴ２２：材
料判別工程）。ここで正極性帯電材料とは、図５の帯電
列において上位に位置し、本装置の使用環境下において
正極にしか帯電することのない材料のことである。負極
性帯電材料はその逆であり、正極、負極いずれの場合も
考えられる材料においては、不明と判断する。正極性、
または不明と判断した場合、実施の形態１から３と同様
に前測定工程（図１２のステップＳＴ２）を開始し、以
下の手順は同様であるため省略する。負極性と判断した
場合、前測定工程、負帯電処理工程は必要ないため、加
熱処理工程（図１２のステップＳＴ８）以降の処理に進
み、以降の処理は、実施の形態１から３と同様のため省
略する。
を本装置に装着し、被測定電線表面にマーキングされた
ケーブル型名、メーカー等の情報を、絶縁被覆マーキン
グ読取装置１９を用いて読み込む。読み込んだ情報から
絶縁被覆材料判別部２０において、まず、装着した被測
定電線４の絶縁被覆材料が何であるかを識別し（図１２
のステップＳＴ２１：材料判別工程）、その材料が正極
性帯電材料であるか、負極性帯電材料であるか、または
不明であるか判別する（図１２のステップＳＴ２２：材
料判別工程）。ここで正極性帯電材料とは、図５の帯電
列において上位に位置し、本装置の使用環境下において
正極にしか帯電することのない材料のことである。負極
性帯電材料はその逆であり、正極、負極いずれの場合も
考えられる材料においては、不明と判断する。正極性、
または不明と判断した場合、実施の形態１から３と同様
に前測定工程（図１２のステップＳＴ２）を開始し、以
下の手順は同様であるため省略する。負極性と判断した
場合、前測定工程、負帯電処理工程は必要ないため、加
熱処理工程（図１２のステップＳＴ８）以降の処理に進
み、以降の処理は、実施の形態１から３と同様のため省
略する。
【００３５】なお、この実施の形態４では、材料判別手
段、負帯電処理手段を設けたが、前もって被測定電線４
の絶縁被覆材料が負極性帯電材料であるとわかっている
場合に限り、従来の装置の使用が可能であることは明ら
かである。
段、負帯電処理手段を設けたが、前もって被測定電線４
の絶縁被覆材料が負極性帯電材料であるとわかっている
場合に限り、従来の装置の使用が可能であることは明ら
かである。
【００３６】以上のように、この実施の形態４では、被
測定電線４を被覆する絶縁被覆５が＋（プラス）に帯電
しているときも、一旦、絶縁被覆５を−（マイナス）に
帯電させることで帯電の除去が可能となるため、精度良
く被測定電線４の電位を測定できる非接触電圧測定装置
が実現できる。また、材料判別手段により絶縁被覆５の
材料が負極性帯電材料であると判別された場合に、負帯
電処理手段による負帯電処理を省略させることができ、
被測定電線４の電位測定の短縮化を図ることができる。
さらに、材料判別工程により絶縁被覆５の材料が負極性
帯電材料であると判別された場合に、前測定工程および
負帯電処理工程を省略させることができ、被測定電線４
の電位測定の短縮化を図ることができる。
測定電線４を被覆する絶縁被覆５が＋（プラス）に帯電
しているときも、一旦、絶縁被覆５を−（マイナス）に
帯電させることで帯電の除去が可能となるため、精度良
く被測定電線４の電位を測定できる非接触電圧測定装置
が実現できる。また、材料判別手段により絶縁被覆５の
材料が負極性帯電材料であると判別された場合に、負帯
電処理手段による負帯電処理を省略させることができ、
被測定電線４の電位測定の短縮化を図ることができる。
さらに、材料判別工程により絶縁被覆５の材料が負極性
帯電材料であると判別された場合に、前測定工程および
負帯電処理工程を省略させることができ、被測定電線４
の電位測定の短縮化を図ることができる。
【００３７】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、被測
定導体を被覆する絶縁材を負帯電にする負帯電処理手段
と、その絶縁材を加熱し負帯電を除去する加熱処理手段
と、絶縁材上から被測定導体の電位を測定する表面電位
測定手段とを備えるように構成したので、被測定導体を
被覆する絶縁材が正帯電しているときも、一旦、絶縁材
を負帯電させることで加熱処理手段による帯電の除去が
可能となるため、表面電位測定手段により精度良く被測
定導体の電位を測定することができる効果がある。
定導体を被覆する絶縁材を負帯電にする負帯電処理手段
と、その絶縁材を加熱し負帯電を除去する加熱処理手段
と、絶縁材上から被測定導体の電位を測定する表面電位
測定手段とを備えるように構成したので、被測定導体を
被覆する絶縁材が正帯電しているときも、一旦、絶縁材
を負帯電させることで加熱処理手段による帯電の除去が
可能となるため、表面電位測定手段により精度良く被測
定導体の電位を測定することができる効果がある。
【００３８】この発明によれば、負帯電処理手段を、絶
縁材とは異なる材料によって絶縁材を摩擦し、絶縁材を
負帯電にする摩擦処理手段とするように構成したので、
被測定導体を被覆する絶縁材が正帯電しているときも、
摩擦処理手段によって、絶縁材を容易に負帯電させるこ
とができる効果がある。
縁材とは異なる材料によって絶縁材を摩擦し、絶縁材を
負帯電にする摩擦処理手段とするように構成したので、
被測定導体を被覆する絶縁材が正帯電しているときも、
摩擦処理手段によって、絶縁材を容易に負帯電させるこ
とができる効果がある。
【００３９】この発明によれば、負帯電処理手段を、絶
縁材とは異なる材料を絶縁材と接触および非接触させ、
絶縁材を負帯電にする異種材料移動手段とするように構
成したので、被測定導体を被覆する絶縁材が正帯電して
いるときも、異種材料移動手段によって、絶縁材を容易
に負帯電させることができる効果がある。
縁材とは異なる材料を絶縁材と接触および非接触させ、
絶縁材を負帯電にする異種材料移動手段とするように構
成したので、被測定導体を被覆する絶縁材が正帯電して
いるときも、異種材料移動手段によって、絶縁材を容易
に負帯電させることができる効果がある。
【００４０】この発明によれば、負帯電処理手段を、絶
縁材とは異なる材料を絶縁材と密着して接触させる異種
材料密着手段と、所定の剥離速度をもって密着した異種
材料を剥離し、絶縁材を負帯電にする異種材料剥離手段
とするように構成したので、被測定導体を被覆する絶縁
材が正帯電しているときも、異種材料密着手段および異
種材料剥離手段によって、絶縁材を容易に負帯電させる
ことができる効果がある。
縁材とは異なる材料を絶縁材と密着して接触させる異種
材料密着手段と、所定の剥離速度をもって密着した異種
材料を剥離し、絶縁材を負帯電にする異種材料剥離手段
とするように構成したので、被測定導体を被覆する絶縁
材が正帯電しているときも、異種材料密着手段および異
種材料剥離手段によって、絶縁材を容易に負帯電させる
ことができる効果がある。
【００４１】この発明によれば、負帯電処理手段を、絶
縁材に電子ビームを照射し、絶縁材を負帯電にする電子
ビーム照射手段とするように構成したので、被測定導体
を被覆する絶縁材が正帯電しているときも、電子ビーム
照射手段によって、絶縁材の帯電列を考慮することな
く、絶縁材を容易に負帯電させることができる効果があ
る。
縁材に電子ビームを照射し、絶縁材を負帯電にする電子
ビーム照射手段とするように構成したので、被測定導体
を被覆する絶縁材が正帯電しているときも、電子ビーム
照射手段によって、絶縁材の帯電列を考慮することな
く、絶縁材を容易に負帯電させることができる効果があ
る。
【００４２】この発明によれば、負帯電処理手段を、絶
縁材に電磁波を照射し、絶縁材を負帯電にする電磁波照
射手段とするように構成したので、被測定導体を被覆す
る絶縁材が正帯電しているときも、電磁波照射手段によ
って、絶縁材の帯電列を考慮することなく、絶縁材を容
易に負帯電させることができる効果がある。
縁材に電磁波を照射し、絶縁材を負帯電にする電磁波照
射手段とするように構成したので、被測定導体を被覆す
る絶縁材が正帯電しているときも、電磁波照射手段によ
って、絶縁材の帯電列を考慮することなく、絶縁材を容
易に負帯電させることができる効果がある。
【００４３】この発明によれば、負帯電処理手段を、絶
縁材にコロナ放電を照射し、絶縁材を負帯電にするコロ
ナ放電照射手段とするように構成したので、被測定導体
を被覆する絶縁材が正帯電しているときも、コロナ放電
照射手段によって、絶縁材の帯電列を考慮することな
く、絶縁材を容易に負帯電させることができる効果があ
る。
縁材にコロナ放電を照射し、絶縁材を負帯電にするコロ
ナ放電照射手段とするように構成したので、被測定導体
を被覆する絶縁材が正帯電しているときも、コロナ放電
照射手段によって、絶縁材の帯電列を考慮することな
く、絶縁材を容易に負帯電させることができる効果があ
る。
【００４４】この発明によれば、絶縁材の材料を判別
し、絶縁材の材料が負極性帯電材料である場合は、負帯
電処理手段による負帯電処理を省略させる材料判別手段
を備えるように構成したので、材料判別手段により絶縁
材の材料が負極性帯電材料であると判別された場合に、
負帯電処理手段による負帯電処理を省略させることがで
き、被測定導体の電位測定の短縮化を図ることができる
効果がある。
し、絶縁材の材料が負極性帯電材料である場合は、負帯
電処理手段による負帯電処理を省略させる材料判別手段
を備えるように構成したので、材料判別手段により絶縁
材の材料が負極性帯電材料であると判別された場合に、
負帯電処理手段による負帯電処理を省略させることがで
き、被測定導体の電位測定の短縮化を図ることができる
効果がある。
【００４５】この発明によれば、被測定導体を被覆する
絶縁材が正負のいずれに帯電されているかを測定する前
測定工程と、絶縁材が正帯電されていると測定された場
合に、絶縁材が負帯電されるように処理する負帯電処理
工程と、負帯電された絶縁材を加熱して、絶縁材の負帯
電を除去する加熱処理工程と、負帯電が除去された絶縁
材上から被測定導体の電位を測定する表面電位測定工程
とを備えるように構成したので、被測定導体を被覆する
絶縁材が正帯電しているときも、一旦、絶縁材を負帯電
させることで加熱処理工程による帯電の除去が可能とな
るため、表面電位測定工程により精度良く被測定導体の
電位を測定することができる効果がある。
絶縁材が正負のいずれに帯電されているかを測定する前
測定工程と、絶縁材が正帯電されていると測定された場
合に、絶縁材が負帯電されるように処理する負帯電処理
工程と、負帯電された絶縁材を加熱して、絶縁材の負帯
電を除去する加熱処理工程と、負帯電が除去された絶縁
材上から被測定導体の電位を測定する表面電位測定工程
とを備えるように構成したので、被測定導体を被覆する
絶縁材が正帯電しているときも、一旦、絶縁材を負帯電
させることで加熱処理工程による帯電の除去が可能とな
るため、表面電位測定工程により精度良く被測定導体の
電位を測定することができる効果がある。
【００４６】この発明によれば、絶縁材の材料を判別し
て、絶縁材の材料が負極性帯電材料である場合には、前
測定工程および負帯電処理工程を省略する材料判別工程
を備えるように構成したので、材料判別工程により絶縁
材の材料が負極性帯電材料であると判別された場合に、
前測定工程および負帯電処理工程を省略させることがで
き、被測定導体の電位測定の短縮化を図ることができる
効果がある。
て、絶縁材の材料が負極性帯電材料である場合には、前
測定工程および負帯電処理工程を省略する材料判別工程
を備えるように構成したので、材料判別工程により絶縁
材の材料が負極性帯電材料であると判別された場合に、
前測定工程および負帯電処理工程を省略させることがで
き、被測定導体の電位測定の短縮化を図ることができる
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】 この発明の実施の形態１による非接触電圧測
定装置の構成を示す概略斜視図である。
定装置の構成を示す概略斜視図である。
【図２】 この発明の実施の形態１による非接触電圧測
定装置を構成する各部分および被測定導体である被測定
電線の関係を示した概略模式図である。
定装置を構成する各部分および被測定導体である被測定
電線の関係を示した概略模式図である。
【図３】 非接触電圧測定装置に被測定導体である被測
定電線を装着した場合を示す概略斜視図である。
定電線を装着した場合を示す概略斜視図である。
【図４】 この発明の実施の形態１による非接触電圧測
定方法を示すフローチャートである。
定方法を示すフローチャートである。
【図５】 帯電列を示す説明図である。
【図６】 この発明の実施の形態２による非接触電圧測
定装置の構成を示す概略斜視図である。
定装置の構成を示す概略斜視図である。
【図７】 この発明の実施の形態２による非接触電圧測
定装置を構成する各部分および被測定導体である被測定
電線の関係を示した概略模式図である。
定装置を構成する各部分および被測定導体である被測定
電線の関係を示した概略模式図である。
【図８】 この発明の実施の形態３による非接触電圧測
定装置の構成を示す概略斜視図である。
定装置の構成を示す概略斜視図である。
【図９】 この発明の実施の形態３による非接触電圧測
定装置を構成する各部分および被測定導体である被測定
電線の関係を示した概略模式図である。
定装置を構成する各部分および被測定導体である被測定
電線の関係を示した概略模式図である。
【図１０】 この発明の実施の形態４による非接触電圧
測定装置の構成を示す概略斜視図である。
測定装置の構成を示す概略斜視図である。
【図１１】 この発明の実施の形態４による非接触電圧
測定装置を構成する各部分および被測定導体である被測
定電線の関係を示した概略模式図である。
測定装置を構成する各部分および被測定導体である被測
定電線の関係を示した概略模式図である。
【図１２】 この発明の実施の形態４による非接触電圧
測定方法を示すフローチャートである。
測定方法を示すフローチャートである。
【図１３】 従来の非接触電圧測定装置を構成する各部
分および被測定導体である被測定電線の関係を示す概略
模式図である。
分および被測定導体である被測定電線の関係を示す概略
模式図である。
１ 電圧検出電極部、２ 電圧検出回路部、３ 表面電
位検出装置（表面電位測定手段）、４ 被測定電線（被
測定導体）、５ 絶縁被覆（絶縁材）、６ 赤外線照射
素子（加熱処理手段）、７ 温度センサ（加熱処理手
段）、８ 温度制御部（加熱処理手段）、９ シールド
板、１０ 電圧検出電極移動部、１１ 非接触電圧測定
装置、１２ 被測定電線固定治具、１３ 絶縁被覆摩擦
材（摩擦処理手段）、１４ 摩擦材移動部（摩擦処理手
段）、１５ 絶縁被覆接触材、１６絶縁被覆接触材移動
部（異種材料移動手段）、１７ 電子ビーム照射口（電
子ビーム照射手段）、１８ 電子ビーム生成部（電子ビ
ーム照射手段）、１９ 絶縁被覆マーキング読取部（材
料判別手段）、２０ 絶縁被覆材料判別部（材料判別手
段）、ＳＴ２，ＳＴ３ 前測定工程、ＳＴ４〜ＳＴ６
負帯電処理工程、ＳＴ８，ＳＴ９ 加熱処理工程、ＳＴ
１０ 表面電位測定工程、ＳＴ２１，ＳＴ２２ 材料判
別工程。
位検出装置（表面電位測定手段）、４ 被測定電線（被
測定導体）、５ 絶縁被覆（絶縁材）、６ 赤外線照射
素子（加熱処理手段）、７ 温度センサ（加熱処理手
段）、８ 温度制御部（加熱処理手段）、９ シールド
板、１０ 電圧検出電極移動部、１１ 非接触電圧測定
装置、１２ 被測定電線固定治具、１３ 絶縁被覆摩擦
材（摩擦処理手段）、１４ 摩擦材移動部（摩擦処理手
段）、１５ 絶縁被覆接触材、１６絶縁被覆接触材移動
部（異種材料移動手段）、１７ 電子ビーム照射口（電
子ビーム照射手段）、１８ 電子ビーム生成部（電子ビ
ーム照射手段）、１９ 絶縁被覆マーキング読取部（材
料判別手段）、２０ 絶縁被覆材料判別部（材料判別手
段）、ＳＴ２，ＳＴ３ 前測定工程、ＳＴ４〜ＳＴ６
負帯電処理工程、ＳＴ８，ＳＴ９ 加熱処理工程、ＳＴ
１０ 表面電位測定工程、ＳＴ２１，ＳＴ２２ 材料判
別工程。
Claims (10)
- 【請求項１】 被測定導体を被覆する絶縁材を負帯電に
する負帯電処理手段と、上記被測定導体を被覆する絶縁
材を加熱し、その絶縁材の負帯電を除去する加熱処理手
段と、上記絶縁材上から上記被測定導体の電位を測定す
る表面電位測定手段とを備えた非接触電圧測定装置。 - 【請求項２】 負帯電処理手段は、絶縁材とは異なる材
料によって絶縁材を摩擦し、絶縁材を負帯電にする摩擦
処理手段であることを特徴とする請求項１記載の非接触
電圧測定装置。 - 【請求項３】 負帯電処理手段は、絶縁材とは異なる材
料を絶縁材と接触および非接触させ、絶縁材を負帯電に
する異種材料移動手段であることを特徴とする請求項１
記載の非接触電圧測定装置。 - 【請求項４】 負帯電処理手段は、絶縁材とは異なる材
料を絶縁材と密着して接触させる異種材料密着手段と、
所定の剥離速度をもって密着した上記異種材料を剥離
し、絶縁材を負帯電にする異種材料剥離手段とを備えた
ことを特徴とする請求項１記載の非接触電圧測定装置。 - 【請求項５】 負帯電処理手段は、絶縁材に電子ビーム
を照射し、絶縁材を負帯電にする電子ビーム照射手段で
あることを特徴とする請求項１記載の非接触電圧測定装
置。 - 【請求項６】 負帯電処理手段は、絶縁材に電磁波を照
射し、絶縁材を負帯電にする電磁波照射手段であること
を特徴とする請求項１記載の非接触電圧測定装置。 - 【請求項７】 負帯電処理手段は、絶縁材にコロナ放電
を照射し、絶縁材を負帯電にするコロナ放電照射手段で
あることを特徴とする請求項１記載の非接触電圧測定装
置。 - 【請求項８】 絶縁材の材料を判別し、絶縁材の材料が
負極性帯電材料である場合は、負帯電処理手段による負
帯電処理を省略させる材料判別手段を備えたことを特徴
とする請求項１記載の非接触電圧測定装置。 - 【請求項９】 被測定導体を被覆する絶縁材が正帯電さ
れているか、または、負帯電されているかを測定する前
測定工程と、上記前測定工程において、上記絶縁材が正
帯電されていると測定された場合に、その絶縁材が負帯
電されるように処理する負帯電処理工程と、上記前測定
工程および上記負帯電処理工程において、負帯電された
上記絶縁材を加熱して、その絶縁材の負帯電を除去する
加熱処理工程と、上記加熱処理工程において、負帯電が
除去された上記絶縁材上から上記被測定導体の電位を測
定する表面電位測定工程とを備えた非接触電圧測定方
法。 - 【請求項１０】 絶縁材の材料を判別して、絶縁材の材
料が負極性帯電材料である場合には、前測定工程および
負帯電処理工程を省略する材料判別工程を備えたことを
特徴とする請求項９記載の非接触電圧測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000367690A JP3706019B2 (ja) | 2000-12-01 | 2000-12-01 | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000367690A JP3706019B2 (ja) | 2000-12-01 | 2000-12-01 | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002168888A true JP2002168888A (ja) | 2002-06-14 |
| JP3706019B2 JP3706019B2 (ja) | 2005-10-12 |
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ID=18838071
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP2000367690A Expired - Fee Related JP3706019B2 (ja) | 2000-12-01 | 2000-12-01 | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3706019B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115616302A (zh) * | 2022-09-27 | 2023-01-17 | 国网江苏省电力有限公司南通供电分公司 | 一种直流导线绝缘层电荷电势聚集与检测方法及装置 |
-
2000
- 2000-12-01 JP JP2000367690A patent/JP3706019B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115616302A (zh) * | 2022-09-27 | 2023-01-17 | 国网江苏省电力有限公司南通供电分公司 | 一种直流导线绝缘层电荷电势聚集与检测方法及装置 |
| CN115616302B (zh) * | 2022-09-27 | 2024-02-13 | 国网江苏省电力有限公司南通供电分公司 | 一种直流导线绝缘层电荷电势聚集与检测方法及装置 |
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| JP3706019B2 (ja) | 2005-10-12 |
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